【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、いわゆる相変化型の光ディスクについての記録技術に係り、特に、記録電力を自動的に設定し、情報記録をするための光記録媒体についての電力設定技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
書換可能な光記録媒体として、アモルファス（amorphous ）−結晶間の状態変化の可逆性を利用した相変化型の光ディスクが研究されている。
【０００３】
相変化型光ディスクは、Ｔｅ等のカルコゲナイド（chalcogenide）系の記録材料を使用する。これら記録材料は、光ビーム等の照射により昇温すると、結晶が気化又は液化する。気体状態又は液体状態となった記録材料を急冷すると、アモルファス状態となる。結晶状態（消去状態）とアモルファス状態（記録状態）とでは、光の反射率が異なるため、結晶状態をデジタルデータの「１」と「０」とに対応させることができる。すなわち、相変化型の光ディスクでは、光ビームを利用した記録材料の一部加熱融解と急冷とによりアモルファスビットを形成し、情報記録を行っている。
【０００４】
ところで、相変化型光ディスクは、記録材料により融解する温度等が異なるため、アモルファスビットを形成するために照射する光ビームのパワー（電力）がディスクの種類毎に異なっている。従来、これら多様な相変化型光ディスクに情報を記録するために、光ディスクの一部、例えば、コントロールトラックやリードインエリアに、その光ディスクにとって最適なレーザパワーをコード化して記録していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、相変化型光ディスクは、上記のように、室温から加熱し除熱した結果としてアモルファスビットを形成するため、周囲温度が変化すると、最適なレーザパワーも変化してしまうという問題がある。
【０００６】
また、相変化型光ディスクは同一の記録材料を使用していても、個々のディスク毎に微妙に特性が異なる場合が多い。このため、レーザパワーを一律に加えたのでは、個々のディスクにとって、必ずしも最適のレーザパワーが照射されるとは言えない場合が多かった。
【０００７】
すなわち、従来のように、同種の光ディスクに対し一律なレーザパワーを供給していたのでは、周囲の環境の変化や、ディスク毎に記録再生特性が変化すること等の影響によって、安定した情報記録が行えないという不都合を生じていたのである。
【０００８】
そこで、本願発明は、記録媒体毎、環境毎に最適な条件で情報を記録する光記録媒体の電力設定方法及び装置のために適する時間軸変動分抽出装置を提供することを課題とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
図１に本発明の時間軸変動分抽出装置を有する電力設定装置の原理説明図を示す。図１は、所定の光記録媒体に対し、所定の消去電力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情報消去を行う試験消去手段Ｐe 、ＳＷe と、試験消去手段Ｐe 、ＳＷe によって消去した光記録媒体上の領域から情報を再生する試験再生手段Ｐp と、試験再生手段Ｐp によって再生されたＲＦ信号のうち情報が消去され且つＲＦ信号の最小レベルを検出するＲＦレベル検出手段３１と、ＲＦレベル検出手段３１により検出された最小レベルに対応する供給電力を、情報消去のために最適な消去電力として設定する消去電力設定手段３２とを備えて構成される。
【００１０】
ＲＦレベル検出手段３１は、ＲＦ信号の最大レベルを検出し、消去電力設定手段３２は、ＲＦ信号の最大レベルに対応する供給電力と、ＲＦ信号の最小レベルに対応する供給電力と、に基づいて、光記録媒体の記録電力を設定する。
【００１１】
また、所定の光記録媒体に対し、所定の記録電力範囲に亘って供給電力を変化させて試験的な情報記録を行う試験記録手段Ｐw 、ＳＷw と、試験記録手段Ｐw 、ＳＷw によって記録した光記録媒体上の領域から情報を再生する試験再生手段Ｐp と、試験再生手段Ｐp によって再生されたＲＦ信号の時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出手段３０と、抽出した時間軸変動分が最小となる供給電力を、情報記録のために最適な記録電力として設定する電力設定手段３２と、を備えて構成される。
【００１２】
請求項１に記載の発明は、異なるピット長を有するピットから再生した情報が複数混在するパルス信号から所定のピット長を有する抽出対象のピット情報についての時間軸変動分を抽出する時間軸変動分抽出装置において、パルス信号から所定の論理の変化をするピット情報の一端のエッジを検出し、抽出対象のピット情報が正規のピット長を有すると仮定した場合におけるピット情報の他端のエッジのタイミングを基準時刻としたとき、基準時刻の前後にわたり所定期間だけ有効状態となるウインドウパルスを生成するウインドウ生成手段と、ウインドウ生成手段から供給されたウインドウパルスが有効になった時から積分を開始する積分手段と、ピット情報の他端のタイミングでホールド信号を生成するホールドタイミング生成手段と、ホールドタイミング生成手段の供給するホールド信号によって積分手段から出力されるウインドウパルスの積分信号の電圧値をホールドするホールド手段と、を備えて構成される。
【００１３】
【作用】
請求項１に記載の発明によれば、ウインドウ生成手段は、パルス信号から所定の論理の変化（例えば、立上がりエッジ又は立下がりエッジ）を検出する。抽出対象となるピット情報が正規のピット長（例えば、３Ｔ：Ｔは所定の時間）を有すると仮定した場合における、当該ピット情報の他端のエッジのタイミングを基準時刻（３Ｔ）を認識する。この基準時刻は、時間軸変動分（ジッタ）の多少によらず一定時刻である。そして、基準時刻の前後にわたり所定期間だけ有効状態となるウインドウパルスを生成する。例えば、抽出対象となるピット情報のピット長を３Ｔとすると、ウインドウパルスは、例えば、２．６Ｔ〜３．４Ｔの間有効状態となるパルスである。このウインドウパルスにより、抽出対象となるピット情報のみ（３Ｔ）が抽出され、例えば、２Ｔ、４Ｔ、５Ｔ等の他のピット長のピット情報が排除される。
【００１４】
一方、積分手段は、ウインドウパルスが有効になった時（２．６Ｔ）から積分を開始する。ホールドタイミング生成手段が出力するホールド信号は、入力されている当該ピット情報の他端のエッジのタイミングに相当する。ホールド信号のタイミングはピット情報の他端の位置、すなわち、時間軸変動分（ジッタ）の多少に比例して変化する。
【００１５】
したがって、ホールド電圧は、時間軸変動分の多少に比例して変化するので、ホールドした電圧値に基づいて、ピット情報の有する時間軸変動分が抽出できる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
本発明の装置に係る好適な実施例を図面を参照して説明する。
（Ｉ）第１実施例
▲１▼ 構成の説明
図２に、本第１実施例の電力設定装置を示す。
【００１７】
図２に示すように、本実施例の電力設定装置１００は、通常の相変化型光ディスクに対する記録再生装置をその主要部とする。但し、ジッタ測定装置４（請求項の時間軸変動分抽出手段に相当）及びＲＦボトム検出装置５（請求項のＲＦレベル検出手段に相当）が存在する点で異なる。
【００１８】
ピックアップ装置２は、相変化型光ディスクＤＫに対し、供給される供給電力に対応する強度の光ビームを照射し、ディスクＤＫにより反射した戻り光の強さに比例した電気信号に変換する。再生ヘッド３は、ピックアップ装置２のサーボに必要なトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号等を生成し、サーボ回路７に供給する。また、ＲＦ信号を生成する。
【００１９】
ジッタ測定装置４は、例えば、請求項１に記載した時間軸変動分抽出装置を適用でき、ＲＦ信号に含まれるピット情報について、時間軸変動分（ジッタ成分）を抽出する。ジッタ測定装置の詳細については第３実施例で説明する。
【００２０】
ＲＦボトム検出装置５は、ＲＦ信号の信号波形のうち下側のピーク（＝信号レベルの極小値：以下「ボトム」という。）の電圧レベルを検出し、ボトムレベルＳr として出力する。
【００２１】
位置情報検出装置６は、ＲＦ信号に基づいてディスクの半径方向についてのピックアップ装置２の位置を検出する。サーボ回路７は、トラッキングサーボ、フォーカスサーボ、スピンドルサーボ等の種々のサーボを行う。レーザーパワー制御装置８は、マイクロコンピュータ１の制御に基づいて、消去電力Ｐe 、記録電力Ｐw 、再生電力Ｐp をそれぞれピックアップ装置２のレーザダイオードに供給する。エンコーダ９は、デジタル音声信号をデジタル変調し、デコーダ１０は、ＲＦ信号を復号しデジタル音声信号に変換する。
【００２２】
図３に、実施例で使用する相変化型光ディスクＤＫの構造を示す。図３（Ａ）は光ディスクの断面図である。通常の情報の記録再生はプログラムエリアにおいて行われる。本実施例の電力設定のための試験は、リードインエリアの内側に存在する電力設定領域ＰＣＡ（Power Calibration Area）において行われる。
【００２３】
図３（Ｂ）は電力設定領域ＰＣＡの拡大図である。電力設定領域ＰＣＡは１００のカウントエリアＣ１〜Ｃ１００と、１０のテストエリアＴ１〜Ｔ１０とに分けられる。カウントエリアは、当該光ディスクに書き換えを行った回数を記録する。テストエリアは、試験的な記録のための分割領域である。
▲２▼ 動作の説明
次に、本第１実施例の動作を図４にフローチャートを参照して説明する。
【００２４】
本実施例では、装着された相変化型光ディスクＤＫのために最適な消去電力及び一応の記録電力を設定するために粗調整を行う（図４（Ａ））。粗調整後、最適な記録電力を設定するために微調整を行う（図４（Ｂ））。
【００２５】
粗調整（図４（Ａ））粗調整では、まず、カウントエリアを検索し、Ｃ１からＣ１００までの領域のうち、未記録領域を探す（ステップＳ１）。
【００２６】
記録済みのカウントエリアが存在しない場合は（ステップＳ２：ＮＯ）、未記録用の電力設定を行う。これについては、第２実施例で説明する。記録済みのカウントエリアが存在する場合には（ステップＳ２：ＹＥＳ）、ステップＳ３以降の処理を行う。ここでは、ＣＮまでが記録済み、Ｃ（Ｎ＋１）以降が未記録状態であると仮定する。
【００２７】
カウントエリアの番号と、使用すべきテストエリアの番号とは対応関係にあるため、ステップＳ３において、検索できたカウントエリア番号Ｎからテストエリア番号ｊを算出する。例えば、カウントエリアの番号Ｎを、Ｎ＝１００ｘ＋１０ｙ＋ｚで表現したとき、テストエリア番号ｊは、ｊ＝９ｘ＋ｙ＋１と表現される。
【００２８】
次に、ＲＦ信号が検出される記録済みのプログラムエリア内の領域（任意の領域）を検索し（ステップＳ４）、再生される情報Ｗp を所定のメモリ等に記憶する（ステップＳ５）。
【００２９】
最適な消去電力を設定するために、マイクロコンピュータ１は、情報Ｗp が記録されていた領域を試験的に消去する（ステップＳ６）。このとき、マイクロコンピュータ１は、図５（Ａ）に示すように、レーザパワー制御装置８を制御して、消去電力Ｐe を段階的に変化させる。消去電力Ｐe は、例えば、１フレーム（＝１３．３ｍｓ）の周期毎に、３ステップ（最大供給電力３０ステップに分割した場合）ずつ増加させる。
【００３０】
消去後、ステップＳ７において、情報Ｗp が記録されていた領域を試験的に再生する。このときにＲＦボトム検出装置５にて検出されるＲＦ信号のボトムレベルＳr は、図５（Ｂ）のような波形となる。
【００３１】
相変化型光ディスクは、例えば周期３Ｔ〜１１Ｔのようなピット長に対応するパルス幅の波形で情報が記録される。記録時に用いる電力の相違により、ＲＦ信号の変調度が異なる。記録（消去）に用いた電力の多少にしたがってＲＦ信号のボトムレベルが変動する。ＲＦ信号の残留成分のレベルが最小（黒の部分）で、かつ、ＲＦ信号のボトムレベル（直流電圧値）が最も高くなるときの電力を必要消去電力Ｐe （standard）と呼ぶ。また、ＲＦ信号の残留成分のレベルが最小で、かつ、ＲＦ信号のボトムレベルが最小となるときの電力をＰe （mod.max ）とする。ボトムレベルが最小になるときは変調度が最も高く、情報を記録するために供給する電力として適する。ボトムレベルが最大になるときは反射率が最も高く、情報を消去するために供給する電力として適する。
【００３２】
図５（Ｂ）によれば、消去電力のステップが１５（以下、括弧書きの中にステップを記載して、Ｐe （１５）と表現する）までは、消去電力が不足していたため、ＲＦ信号の残留成分（黒の部分）が検出されている。Ｐe （１８）以上の供給電力で、ＲＦ信号の残留成分のレベルは最小になる。Ｐe （１８）にて最大のＲＦ信号のボトムレベルが検出され、これが必要消去電力Ｐe （standard）となる。Ｐe （２７）で最小のＲＦ信号のボトムレベルが検出され、これが最も変調度の高い電力Ｐe （mod.max ）となる。
【００３３】
ステップＳ８において、マイクロコンピュータ１は、ボトムレベルＳr が最大を示すときの位置を、位置情報検出装置６から供給されている位置情報を参照して認識する。この位置を消去した際に使用した電力値より、必要消去電力Ｐe （standard）（＝Ｐe （１８））を特定する。また、マイクロコンピュータ１は、検出信号Ｓr が最小のボトムレベルを示すときの電力を同様の手順で認識し、Ｐe （mod.max ）（＝Ｐe （２７））を特定する。
【００３４】
ところで、実際にマイクロコンピュータ１が把握すべき記録電力Ｐw は、一定レベルの消去電力Ｐe に加算される電力である（図１参照）。そこで、マイクロコンピュータ１は式（１）にしたがって、最も変調度が高くなると想定される記録電力Ｐw （mod.max ）を算出する。
【００３５】
Ｐe （standard）（必要消去電力）＋Ｐw （mod.max ）（求めるべき記録電力）
＝Ｐe （mod.max ）（最大変調時の消去電力）（１）
上記のように、粗調整を行うことにより、一度の消去動作によって消去電力と記録電力とを求めることができるので、最適な電力を設定するのに要する時間を短縮できる。
【００３６】
微調整（図４（Ｂ））
微調整では、まず、ステップＳ３において算出されたｊを用いて、テストエリアＴj の領域の開始点を検索する（ステップＳ１０）。
【００３７】
ステップＳ１１において、一定の周期（例えば、１フレーム＝１３．３ｍｓ）毎に、記録条件を変化させて試験的な情報記録を行う。例えば、図６のように、消去電力Ｐe を３段階、記録電力Ｐw を３段階、記録波形を５種類というように条件を変更する。
【００３８】
図６において、フレーム１〜１６までの区間では、消去電力Ｐe として粗調整で求めた必要消去電力Ｐe （standard）を供給する。一つの記録波形に対し、記録電力Ｐw を、粗調整で求めたＰe （mod.max ）を中心（＝Ｐw （ｋ））に、前後１ステップ（Ｐw （ｋ−１）、Ｐw （ｋ＋１））ずつ変化させる。記録波形は、図８に示すように、Ｉ〜Ｖまでの５パターンを用意する。
【００３９】
パターンを変化させる理由について述べる。相変化型光ディスクでは、温度上昇とその温度の除熱により、結晶状態を変化させて、ピットを形成する。実際に形成したいピットと同一のピット長の波形を記録波形としても、光ディスクの表面に広がる温度分布により最終的に形成される結晶の形状は、記録波形と異なるものになる。実験的な探求から、結晶状態が変化する領域が光スポットの領域より広がることが知られている。実際に光ディスクに形成すべきピット（３Ｔ〜１１Ｔ）の形状に対し、ピット情報の先頭部分Ｂについては、実際に記録したいピットの先頭位置を通過する時間よりも遅い時間に記録電力を立上げる。後尾部分Ａについては、実際に記録したピットの後尾位置を通過するよりも早い時間に記録電力を立下げる。記録電力の立上がり、立下がりのタイミングについても、光ディスクの固体差、種類毎の差が存在する。
【００４０】
このため、本実施例では、記録電力の立下がりのタイミングＡについて、５通りに変化させ、最も好適なピットが得られる記録波形を選択する。さて、記録終了後、再度このテストエリアＴj の先頭部分を検索し（ステップＳ１２）、試験的な再生を行ってジッタ測定装置４から供給されるジッタの大きさを測定する（ステップＳ１３）。
【００４１】
図７に、ジッタ測定装置４からマイクロコンピュータ１に供給されるジッタ成分の大きさに対応する電圧値Ｓj の変化を示す。当図は、図６の記録電力の変化に対応するものである。
【００４２】
ジッタ成分は小さい程、理想的なピットに近い形状で結晶状態の変化が行われていることを示す。ピットの形状は、最終的には、消去電力Ｐe 、記録電力Ｐw及び記録波形という記録条件と、記録対象の光ディスクが有する特性との関係によって定まる。図７のジッタの変化は、これら記録条件を微小に変化させた際に得られる全ての組合せについて、当該光ディスクに形成されたピットの形状に対応している。
【００４３】
したがって、これらジッタ成分の最も小さいフレームにおける記録条件の組合せが、当該光ディスクについて最適な条件である。図７では、フレーム２４の条件、すなわち、消去電力Ｐe はＰe （standard＋１）（＝Ｐe （１９））、記録電力ＰｗはＰw （ｋ＋１）、記録波形はパターンＩＩＩからなる組み合わせた最適な条件として把握できる（ステップＳ１４）。
【００４４】
マイクロコンピュータ１は、把握された記録条件を当該光ディスクの現在の記録条件として設定し、この条件によりステップＳ５で記憶した情報Ｗp を対応する領域に書き込む（ステップＳ１５）。最後に、カウントエリアＣ（Ｎ＋１）に、Ｎ＋１回書き換えた旨の情報を記録し、微調整を終了する（ステップＳ１６）。
【００４５】
上記の如く本第１実施例によれば、粗調整により大体の記録条件が特定され、微調整でさらに最適な記録条件が特定されるので、相変化型光ディスクについて固体差、種類の差が生じ、周囲の温度が変化しても、最適な記録条件を設定できる。
（ＩＩ）第２実施例
第１実施例では、既に何らかの情報が記録された光ディスクを設定対象としたが、本第２実施例は情報が全く記録されていない光ディスクに対する設定手順を開示する。
【００４６】
本第２実施例は、第１実施例と全く同様の構成の元、第１実施例の粗調整（図４（Ａ））の変形例を示す。したがって、図４（Ａ）において、記録済みエリアが存在しないと判断された場合（ステップＳ２：ＮＯ）以降の処理（Ｃ）に関する。
【００４７】
第２実施例の処理を図９のフローチャートに示す。光ディスクに記録済みのエリアが存在しない場合（ステップＳ２：ＮＯ）、最初のテストエリアＴ1 の先頭部分が検索される（ステップＳ２０）。
【００４８】
ステップＳ２１で、消去電力を変化（掃引）させながらテストエリアＴ1 を消去する。図５（Ａ）と同等に、掃引する消去電力Ｐe は、階段状に電力が増加していくように変化させる。
【００４９】
テストエリアＴ1 の消去が終了した後、再度このテストエリアＴ1 を再生する（ステップＳ２２）。本実施例は第１実施例（図５（Ｂ）参照）と異なり、ＲＦ信号の残留成分が存在しない（図１０（Ａ）参照）。そこで、ＲＦレベル検出装置５により検出される検出レベルＳr が最小になるときの電力を、最も変調度が高くなる電力Ｐe （mod.max ）（＝Ｐe （２７））として設定する。
【００５０】
ステップＳ２３にて、最も変調度が高くなる電力Ｐe （mod.max ）を使用して、再度テストエリアＴ1 を均一に消去する（図１０（Ｂ）参照）。再度、テストエリアＴ1 を検索し（ステップＳ２４）、第１実施例のステップＳ６と同様に、消去電力を変化（掃引）させながら、テストエリアＴ1 を消去する（ステップＳ２５）。このときの消去電力Ｐe の変化は図５（Ａ）と同等のものとなる。
【００５１】
ステップＳ２６にて、再度、テストエリアＴ1 を再生し、ＲＦレベル検出装置５により検出レベルを検出する。図１０（Ｃ）に、この検出レベルの変化を示す。これより、最も反射率の高くなる（検出レベルが最大になる）電力を必要消去電力Ｐe （standard）（＝Ｐe（１８））として認識する。
【００５２】
ステップＳ２７にて、マイクロコンピュータ１は、式（１）（第１実施例参照）に基づく演算で、最も変調度が高くなる記録電力Ｐw （mod.max ）を算出し、設定すべき記録電力とする。
【００５３】
以上で本実施例の粗調整が終了するので、第１実施例で説明した微調整を行う。上記の如く本第２実施例によれば、未記録の相変化型光ディスクであっても、粗調整が行える。
（ＩＩＩ）第３実施例
本第３実施例は請求項１に記載の発明に関し、第１実施例で使用したジッタ測定装置に適する。
▲１▼ 構成の説明
図１１に、本第３実施例のジッタ測定装置を示す。
【００５４】
本ジッタ測定装置は、光ディスク等から再生されるＲＦ信号のうち、特定のピット幅についてのジッタの量をホールドした直流電圧値として出力する機能を有する。マイクロコンピュータ１は、本ジッタ測定装置４から供給される直流電圧値の大きさを、ジッタの多少にそのまま対応させて、信号の評価が行える。
【００５５】
波形整形回路２０は、例えば、アナログ信号であるＲＦ信号（Ａ）を所定のしきい値（Ａ）をコンパレータによって比較し、立上がり、立下がりの急峻なパルス波形（Ｂ）に整形する。
【００５６】
ウインドウ生成回路２１は、波形整形されたパルス波形（Ｂ）のエッジから、ワンショットマルチバイブレータ等を利用して、絶対的な所定時間経過後から所定期間有効状態となるウインドウパルス（Ｃ）を生成する。検出すべきエッジは、ＲＦ信号に含まれるピット情報のうち、ジッタを測定しようとする所定のピット情報（例えば、３Ｔパルス）の先頭部分に対応するエッジである。
【００５７】
積分回路２２は、ウインドウパルスの最初のエッジから積分を開始し、時間の経過に比例して増加（又は減少）する電流値を出力する。積分値は、ウインドウパルスが有効でなくなると、リセットされる。
【００５８】
ホールドタイミング生成回路２３は、パルス波形の後尾部分のエッジでホールド信号を出力する。他のピット長を有するピット情報のエッジでホールド信号が生成されぬように、ウインドウパルスの有効期間のみ動作するように禁則処理を行う。禁則処理のためには、ウインドウパルスの他、カウンタにより別途生成したウインドウパルス等を使用してもよい。
【００５９】
ホールド回路２４は、このホールド信号により積分回路２２から出力された積分電圧をホールドする。
▲２▼ 動作の説明
図１２は、図１１に示した構成の各部分の波形を示したものである。
【００６０】
本図では、検出対象となるピット長が３Ｔである場合を示す。ピット長として、ピット情報のうち最も短い３Ｔのピット情報を採用した理由は、ピット長が短い程、ジッタの影響が相対的に大きく作用するためである。
【００６１】
ＲＦ信号に含まれるピット情報が理想的なピット長を有している場合、波形整形回路２０の出力（Ｂ）は３Ｔのパルス幅を有する。ジッタの測定対象となるピット情報の後尾部分のエッジは、ジッタの存在によりその位置が多少変動する。そのため、ジッタによりエッジ位置が変動しても、確実にウインドウパルスの有効範囲にこのエッジが入るよう、ウインドウパルスの幅を設定する。一方、測定対象外のピット情報のエッジが検出されたのでは、誤った測定がされてしまう。そこで、一種類のピット長を有するピットについてのパルスのエッジのみが、ジッタの有無にかかわらず検出できるようなパルス幅が必要となる。
【００６２】
例えば、本実施例では、図１３（Ａ）（Ｂ）に示すように、３Ｔ〜１１Ｔのピット長を有するピット列の再生情報から、３Ｔのピット長を有するピットについてのピット情報のみを検出する。ウインドウパルス生成回路２１が生成するウインドウパルス（Ｃ）は、２．６Ｔ〜３．４Ｔの間有効状態（ここでは、Ｌレベル）となるものとし、他のピット長のパルスを排除する。
【００６３】
積分回路２２は、ウインドウパルス（Ｃ）の立下がりエッジからウインドウパルスが有効状態（Ｌレベル）の間、積分を続ける。ホールドタイミング回路２３により、ピット情報の立下がりエッジに対応するタイミングである。
【００６４】
ジッタによりピット情報の立下がりエッジの位置が変動すると、ホールド信号が発生する時刻は、３Ｔの基準時刻の前後に変動する。一方の積分回路２２の積分出力は立上がりエッジのみに影響を受ける。したがって、例えば、図１３（Ｅ）に示すように、ピット情報のピット長が正確に３Ｔならば、ホールド信号の位置はｔA となりホールド回路２４の出力はαとなる（（Ｆ）参照）。（Ｃ）のようにピット長が標準より短く、時刻ｔB で立下がるならば積分出力はβとなり、（Ｄ）のようにピット長が標準より長く、時刻ｔC で立下がるならば積分出力はγとなる。
【００６５】
出力の増加と、時間軸変動分（ジッタ成分）の量は比例しているので、マイクロコンピュータ１により、このホールド回路２４の出力を判定すれば、ジッタの有無、または、ジッタの量が直接認識できる。
【００６６】
上記の如く本第３実施例によれば、第１、第２実施例で説明した電力設定装置に適するジッタ測定装置を提供できる。また、本装置は、電力測定装置に適用可能である他、複数のパルス幅を含む情報のなかから特定のパルス幅を有するパルス信号についてのジッタを測定するのに適する。
（ＩＶ）その他の変形例
本発明の上記実施例に限らず種々の変形が可能である。
【００６７】
例えば、本発明を適用する光記録媒体は、相変化型の光ディスクに限定するものではなく、ＩＣカードのような形状を有していてもよい。すなわち、記録媒体の形状を問わず、消去電力、記録電力、又は記録波形等の諸条件が変化する記録媒体であれば、本発明を適用可能である。
【００６８】
【発明の効果】
請求項１に記載の発明によれば、複数のピット長についてのピット情報が混在するパルス信号から、特定のピット長を有するピット情報についての時間軸変動成分が正確に抽出できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を有する電力設定装置の原理説明図である。
【図２】実施例の電力設定装置の構成図である。
【図３】実施例に使用する相変化型光ディスクの構造を示す説明図である。
【図４】第１実施例の記録電力設定の処理を示すフローチャートである。
【図５】第１実施例の消去電力の設定を示す説明図である。
【図６】第１実施例の記録波形図である。
【図７】第１実施例の再生波形図である。
【図８】記録波形のパターン例である。
【図９】第２実施例の記録電力設定の処理を示すフローチャートである。
【図１０】第２実施例の消去電力の設定を示す説明図である。
【図１１】第３実施例のジッタ測定装置の構成図である。
【図１２】ジッタ測定装置の各部の波形である。
【図１３】ジッタ検出の説明図である。
【符号の説明】
１…マイクロコンピュータ
２…ピックアップ装置
３…再生ヘッド
４…ジッタ測定装置
５…ＲＦボトム検出装置
６…位置情報検出装置
７…サーボ回路
２０…波形整形回路
２１…ウインドウ生成回路
２２…積分回路
２３…ホールドタイミング生成回路
２４…ホールド回路
３０…時間軸変動分抽出手段
３１…ＲＦレベル検出手段
３２…電力設定手段[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a recording technique for a so-called phase change type optical disc, and more particularly to a power setting technique for an optical recording medium for automatically setting recording power and recording information.
[0002]
[Prior art]
As a rewritable optical recording medium, a phase change type optical disk utilizing reversibility of an amorphous-crystal state change has been studied.
[0003]
The phase change optical disc uses a chalcogenide-based recording material such as Te. When these recording materials are heated by irradiation with a light beam or the like, the crystals are vaporized or liquefied. When the recording material in a gaseous state or a liquid state is rapidly cooled, it becomes an amorphous state. Since the reflectance of light differs between the crystalline state (erased state) and the amorphous state (recorded state), the crystalline state can correspond to “1” and “0” of the digital data. That is, in a phase change type optical disc, information recording is performed by forming amorphous bits by partial heating and melting and rapid cooling of a recording material using a light beam.
[0004]
By the way, the phase change type optical disc has a different melting temperature depending on the recording material. Therefore, the power (power) of the light beam irradiated to form the amorphous bit differs depending on the type of the disc. Conventionally, in order to record information on these various phase change optical discs, a laser power optimum for the optical disc is coded and recorded on a part of the optical disc, for example, a control track or a lead-in area.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, as described above, since the phase change type optical disc forms an amorphous bit as a result of heating from room temperature and removing heat, there is a problem that when the ambient temperature changes, the optimum laser power also changes.
[0006]
Further, even if the same recording material is used for the phase change type optical disk, the characteristics are often slightly different for each individual disk. For this reason, when the laser power is uniformly applied, it cannot be said that the optimum laser power is necessarily irradiated for each disk.
[0007]
In other words, if a uniform laser power is supplied to the same type of optical disc as in the past, stable information recording is possible due to changes in the surrounding environment and changes in recording / reproduction characteristics for each disc. The problem was that it could not be done.
[0008]
Accordingly, it is an object of the present invention to provide a time-axis fluctuation extracting apparatus suitable for an optical recording medium power setting method and apparatus for recording information under optimum conditions for each recording medium and for each environment.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
FIG. 1 is a diagram for explaining the principle of a power setting device having a time-axis fluctuation extracting device according to the present invention. FIG. 1 shows an example in which test erasure means Pe and SWe and test erasure means Pe and SWe erase test information by changing supply power over a predetermined erasing power range for a predetermined optical recording medium. Test reproduction means Pp for reproducing information from the area on the optical recording medium, RF level detection means 31 for detecting the minimum level of the RF signal, in which information is erased from the RF signal reproduced by the test reproduction means Pp, and RF It comprises an erasing power setting means 32 for setting the supply power corresponding to the minimum level detected by the level detection means 31 as the optimum erasing power for erasing information.
[0010]
The RF level detecting means 31 detects the maximum level of the RF signal, and the erasing power setting means 32 is based on the supply power corresponding to the maximum level of the RF signal and the supply power corresponding to the minimum level of the RF signal. The recording power of the optical recording medium is set.
[0011]
Further, optical recording recorded by test recording means Pw and SWw for performing test information recording on a predetermined optical recording medium by changing supply power over a predetermined recording power range, and test recording means Pw and SWw. Test reproduction means Pp for reproducing information from the area on the medium, time axis fluctuation extraction means 30 for extracting the time axis fluctuation of the RF signal reproduced by the test reproduction means Pp, and the extracted time axis fluctuation is minimized. Power setting means 32 for setting the supplied power as the optimum recording power for information recording.
[0012]
According to the first aspect of the present invention, the time-axis fluctuation component for extracting the time-axis fluctuation component of the extraction target pit information having a predetermined pit length from a pulse signal in which a plurality of pieces of information reproduced from pits having different pit lengths are mixed In the extraction device, the timing of the edge of the other end of the pit information when the edge of one end of the pit information having a predetermined logic change is detected from the pulse signal and it is assumed that the pit information to be extracted has a normal pit length Is a window generation means for generating a window pulse that is valid for a predetermined period before and after the reference time, and an integration that starts integration when the window pulse supplied from the window generation means becomes valid Means, and a hold timing generating means for generating a hold signal at the timing of the other end of the pit information, Configured with a hold means for holding a voltage value of the integrated signal of the window pulses output from the integrating means by the hold signal supplied by chromatography field timing generating means.
[0013]
[Action]
According to the first aspect of the present invention, the window generating means detects a predetermined logic change (for example, a rising edge or a falling edge) from the pulse signal. When it is assumed that the pit information to be extracted has a normal pit length (for example, 3T: T is a predetermined time), the timing of the other edge of the pit information is recognized as the reference time (3T). This reference time is a fixed time regardless of the amount of time axis fluctuation (jitter). Then, a window pulse that is valid for a predetermined period before and after the reference time is generated. For example, if the pit length of the pit information to be extracted is 3T, the window pulse is a pulse that is in a valid state between 2.6T and 3.4T, for example. By this window pulse, only the pit information to be extracted (3T) is extracted, and for example, pit information of other pit lengths such as 2T, 4T, and 5T is excluded.
[0014]
On the other hand, the integration means starts integration from when the window pulse becomes valid (2.6T). The hold signal output by the hold timing generation means corresponds to the timing of the edge at the other end of the input pit information. The timing of the hold signal changes in proportion to the position of the other end of the pit information, that is, the amount of time axis fluctuation (jitter).
[0015]
Therefore, since the hold voltage changes in proportion to the amount of time axis fluctuation, the time axis fluctuation amount of the pit information can be extracted based on the held voltage value.
[0016]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
A preferred embodiment of the apparatus of the present invention will be described with reference to the drawings.
( I) First embodiment
(1) Description of configuration FIG. 2 shows a power setting apparatus according to the first embodiment.
[0017]
As shown in FIG. 2, the power setting apparatus 100 of the present embodiment has a recording / reproducing apparatus for a normal phase change optical disc as its main part. However, there is a difference in that there is a jitter measuring device 4 (corresponding to the time axis fluctuation extracting means in the claims) and an RF bottom detecting device 5 (corresponding to the RF level detecting means in the claims).
[0018]
The pickup device 2 irradiates the phase change type optical disc DK with a light beam having an intensity corresponding to the supplied power to be supplied, and converts it into an electric signal proportional to the intensity of the return light reflected by the disc DK. The reproducing head 3 generates a tracking error signal, a focus error signal, and the like necessary for the servo of the pickup device 2 and supplies them to the servo circuit 7. In addition, an RF signal is generated.
[0019]
For example, the jitter measuring device 4 can apply the time axis variation extracting device described in claim 1, and extracts the time axis variation (jitter component) from the pit information included in the RF signal. Details of the jitter measuring apparatus will be described in a third embodiment.
[0020]
The RF bottom detector 5 detects the voltage level of the lower peak (= minimum value of the signal level: hereinafter referred to as “bottom”) in the signal waveform of the RF signal, and outputs it as the bottom level Sr.
[0021]
The position information detection device 6 detects the position of the pickup device 2 in the radial direction of the disk based on the RF signal. The servo circuit 7 performs various servos such as tracking servo, focus servo, and spindle servo. The laser power control device 8 supplies the erasing power Pe, the recording power Pw, and the reproduction power Pp to the laser diode of the pickup device 2 based on the control of the microcomputer 1. The encoder 9 digitally modulates the digital audio signal, and the decoder 10 decodes the RF signal and converts it into a digital audio signal.
[0022]
FIG. 3 shows the structure of the phase change optical disk DK used in the embodiment. FIG. 3A is a cross-sectional view of the optical disc. Normal recording / reproduction of information is performed in the program area. The test for power setting of this embodiment is performed in a power setting area PCA (Power Calibration Area) existing inside the lead-in area.
[0023]
FIG. 3B is an enlarged view of the power setting area PCA. The power setting area PCA is divided into 100 count areas C1 to C100 and 10 test areas T1 to T10. The count area records the number of times rewriting is performed on the optical disc. The test area is a divided area for trial recording.
(2) Description of operation Next, the operation of the first embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG.
[0024]
In this embodiment, coarse adjustment is performed in order to set the optimum erasing power and temporary recording power for the mounted phase change optical disk DK (FIG. 4A). After the coarse adjustment, fine adjustment is performed to set the optimum recording power (FIG. 4B).
[0025]
Coarse adjustment (FIG. 4A) In the coarse adjustment, first, a count area is searched, and an unrecorded area is searched for among the areas from C1 to C100 (step S1).
[0026]
If there is no recorded count area (step S2: NO), unrecorded power is set. This will be described in the second embodiment. If there is a recorded count area (step S2: YES), the processing after step S3 is performed. Here, it is assumed that up to CN has been recorded and that after C (N + 1) is in an unrecorded state.
[0027]
Since the number of the count area and the number of the test area to be used are in a correspondence relationship, in step S3, the test area number j is calculated from the retrieved count area number N. For example, when the count area number N is expressed as N = 100x + 10y + z, the test area number j is expressed as j = 9x + y + 1.
[0028]
Next, an area (arbitrary area) in the recorded program area where the RF signal is detected is searched (step S4), and the reproduced information Wp is stored in a predetermined memory or the like (step S5).
[0029]
In order to set an optimum erasing power, the microcomputer 1 erases the area where the information Wp was recorded on a trial basis (step S6). At this time, as shown in FIG. 5A, the microcomputer 1 controls the laser power control device 8 to change the erasing power Pe stepwise. The erasing power Pe is increased by, for example, 3 steps (when the maximum power supply is divided into 30 steps) every 1 frame (= 13.3 ms) period.
[0030]
After erasing, in step S7, the area where the information Wp is recorded is reproduced as a test. At this time, the bottom level Sr of the RF signal detected by the RF bottom detector 5 has a waveform as shown in FIG.
[0031]
In the phase change type optical disc, information is recorded with a waveform having a pulse width corresponding to a pit length such as a period of 3T to 11T. The degree of modulation of the RF signal varies depending on the difference in power used during recording. The bottom level of the RF signal varies according to the amount of power used for recording (erasing). The power when the level of the residual component of the RF signal is the minimum (black part) and the bottom level (DC voltage value) of the RF signal is the highest is called the necessary erasing power Pe (standard). Also, let Pe (mod.max) be the power when the level of the residual component of the RF signal is minimum and the bottom level of the RF signal is minimum. When the bottom level is minimized, the degree of modulation is the highest, and it is suitable as power to be supplied for recording information. When the bottom level is maximized, the reflectance is the highest, and it is suitable as power to be supplied for erasing information.
[0032]
According to FIG. 5B, the erasing power is insufficient until the erasing power step is 15 (hereinafter referred to as Pe (15) by describing the step in parentheses). The residual component (black part) is detected. With a supply power of Pe (18) or higher, the level of the residual component of the RF signal is minimized. The bottom level of the maximum RF signal is detected at Pe (18), and this becomes the necessary erasing power Pe (standard). The bottom level of the minimum RF signal is detected at Pe (27), and this becomes the power Pe (mod.max) with the highest degree of modulation.
[0033]
In step S8, the microcomputer 1 recognizes the position when the bottom level Sr is maximum with reference to the position information supplied from the position information detecting device 6. The required erasing power Pe (standard) (= Pe (18)) is specified from the power value used when erasing this position. Further, the microcomputer 1 recognizes the power when the detection signal Sr indicates the minimum bottom level in the same procedure, and specifies Pe (mod.max) (= Pe (27)).
[0034]
Incidentally, the recording power Pw to be actually grasped by the microcomputer 1 is a power added to the erasing power Pe at a certain level (see FIG. 1). Therefore, the microcomputer 1 calculates the recording power Pw (mod.max) that is assumed to have the highest degree of modulation according to the equation (1).
[0035]
Pe (standard) (required erasing power) + Pw (mod.max) (recording power to be obtained)
= Pe (mod.max) (Erasing power at maximum modulation) (1)
As described above, by performing rough adjustment, the erasing power and the recording power can be obtained by a single erasing operation, so that the time required to set the optimum power can be shortened.
[0036]
Fine adjustment (Fig. 4 (B))
In the fine adjustment, first, the starting point of the area of the test area Tj is searched using j calculated in step S3 (step S10).
[0037]
In step S11, trial information recording is performed by changing the recording condition at regular intervals (for example, 1 frame = 13.3 ms). For example, as shown in FIG. 6, the conditions are changed so that the erasing power Pe has three levels, the recording power Pw has three levels, and the recording waveforms have five types.
[0038]
In FIG. 6, in the section from frames 1 to 16, the necessary erasing power Pe (standard) obtained by the coarse adjustment is supplied as the erasing power Pe. For one recording waveform, the recording power Pw is centered on Pe (mod.max) obtained by coarse adjustment (= Pw (k)) and one step before and after (Pw (k-1), Pw (k + 1)) Change it step by step. As shown in FIG. 8, five patterns from I to V are prepared as recording waveforms.
[0039]
The reason for changing the pattern will be described. In the phase change type optical disc, the crystal state is changed by increasing the temperature and removing the temperature to form pits. Even if the waveform having the same pit length as the pit to be actually formed is used as the recording waveform, the shape of the crystal finally formed differs from the recording waveform due to the temperature distribution spreading on the surface of the optical disc. From experimental exploration, it is known that the region where the crystalline state changes is wider than the region of the light spot. With respect to the shape of the pits (3T to 11T) to be actually formed on the optical disc, the recording power is raised at a time later than the time of passing the head position of the pit to be actually recorded for the head portion B of the pit information. For the tail portion A, the recording power is lowered at a time earlier than passing the tail position of the actually recorded pit. Regarding the rise and fall timings of the recording power, there are individual differences of optical disks and differences for each type.
[0040]
For this reason, in this embodiment, the recording waveform at which the most suitable pit is obtained is selected by changing the recording power fall timing A in five ways. After the end of recording, the head portion of the test area Tj is searched again (step S12), and the size of the jitter supplied from the jitter measuring device 4 is measured by performing a trial reproduction (step S13).
[0041]
FIG. 7 shows a change in the voltage value Sj corresponding to the magnitude of the jitter component supplied from the jitter measuring device 4 to the microcomputer 1. This figure corresponds to the change in the recording power in FIG.
[0042]
The smaller the jitter component, the more the crystal state is changed in a shape close to an ideal pit. The shape of the pit is finally determined by the relationship between the recording conditions such as the erasing power Pe, the recording power Pw, and the recording waveform, and the characteristics of the optical disc to be recorded. The change in jitter in FIG. 7 corresponds to the shape of pits formed on the optical disc for all combinations obtained when the recording conditions are changed minutely.
[0043]
Therefore, a combination of recording conditions in a frame having the smallest jitter component is the optimum condition for the optical disc. In FIG. 7, the conditions of the frame 24, ie, the erasing power Pe is Pe (standard + 1) (= Pe (19)), the recording power Pw is Pw (k + 1), and the recording waveform is grasped as an optimal condition combining pattern III. Yes (step S14).
[0044]
The microcomputer 1 sets the recognized recording condition as the current recording condition of the optical disc, and writes the information Wp stored in step S5 in the corresponding area under this condition (step S15). Finally, information indicating that the data has been rewritten N + 1 times is recorded in the count area C (N + 1), and fine adjustment is finished (step S16).
[0045]
As described above, according to the first embodiment, roughly recording conditions are specified by coarse adjustment, and more optimal recording conditions are specified by fine adjustment. Therefore, there are differences in solids and types of phase change optical discs. Even if the ambient temperature changes, optimum recording conditions can be set.
(II) Second embodiment In the first embodiment, an optical disc on which some information has already been recorded is set, but in the second embodiment, a procedure for setting an optical disc on which no information is recorded is used. Disclose.
[0046]
The second embodiment shows a modification of the coarse adjustment (FIG. 4A) of the first embodiment under the same configuration as the first embodiment. Therefore, in FIG. 4A, the process (C) after the case where it is determined that there is no recorded area (step S2: NO).
[0047]
The processing of the second embodiment is shown in the flowchart of FIG. If there is no recorded area on the optical disc (step S2: NO), the head portion of the first test area T1 is searched (step S20).
[0048]
In step S21, the test area T1 is erased while changing (sweeping) the erase power. As in FIG. 5A, the erasing power Pe to be swept is changed so that the power increases stepwise.
[0049]
After erasing the test area T1, the test area T1 is reproduced again (step S22). Unlike the first embodiment (see FIG. 5B), this embodiment has no residual component of the RF signal (see FIG. 10A). Therefore, the power when the detection level Sr detected by the RF level detection device 5 is minimized is set as the power Pe (mod.max) (= Pe (27)) with the highest degree of modulation.
[0050]
In step S23, the test area T1 is again erased uniformly using the power Pe (mod.max) having the highest modulation degree (see FIG. 10B). The test area T1 is searched again (step S24), and the test area T1 is erased while changing (sweeping) the erasing power as in step S6 of the first embodiment (step S25). The change in the erasing power Pe at this time is equivalent to that shown in FIG.
[0051]
In step S26, the test area T1 is reproduced again, and the detection level is detected by the RF level detector 5. FIG. 10C shows the change in the detection level. From this, the power with the highest reflectance (maximum detection level) is recognized as the necessary erasing power Pe (standard) (= Pe (18)).
[0052]
In step S27, the microcomputer 1 calculates the recording power Pw (mod.max) at which the degree of modulation becomes the highest by the calculation based on the formula (1) (see the first embodiment), and sets the recording power to be set. To do.
[0053]
Since the rough adjustment of the present embodiment is completed as described above, the fine adjustment described in the first embodiment is performed. As described above, according to the second embodiment, coarse adjustment can be performed even with an unrecorded phase change type optical disc.
(III) Third embodiment The third embodiment relates to the invention described in claim 1, and is suitable for the jitter measuring apparatus used in the first embodiment.
(1) Description of configuration FIG. 11 shows a jitter measuring apparatus according to the third embodiment.
[0054]
This jitter measuring apparatus has a function of outputting a DC voltage value holding the amount of jitter for a specific pit width in an RF signal reproduced from an optical disk or the like. The microcomputer 1 can evaluate the signal by directly matching the magnitude of the DC voltage value supplied from the jitter measuring apparatus 4 to the jitter.
[0055]
For example, the waveform shaping circuit 20 compares an RF signal (A), which is an analog signal, with a predetermined threshold value (A) by a comparator and shapes the pulse waveform (B) with a steep rise and fall.
[0056]
The window generation circuit 21 generates a window pulse (C) that is valid for a predetermined period after the elapse of an absolute predetermined time from the edge of the waveform-shaped pulse waveform (B) using a one-shot multivibrator or the like. To do. The edge to be detected is an edge corresponding to a head portion of predetermined pit information (for example, 3T pulse) for which jitter is to be measured among pit information included in the RF signal.
[0057]
The integration circuit 22 starts integration from the first edge of the window pulse and outputs a current value that increases (or decreases) in proportion to the passage of time. The integral value is reset when the window pulse is no longer valid.
[0058]
The hold timing generation circuit 23 outputs a hold signal at the trailing edge of the pulse waveform. In order to prevent a hold signal from being generated at an edge of pit information having another pit length, a prohibition process is performed so that the window pulse operates only during a valid period. For the prohibition process, a window pulse or the like separately generated by a counter may be used in addition to the window pulse.
[0059]
The hold circuit 24 holds the integrated voltage output from the integrating circuit 22 by this hold signal.
{Circle around (2)} Description of operation FIG. 12 shows waveforms of respective portions of the configuration shown in FIG. 11.
[0060]
This figure shows a case where the pit length to be detected is 3T. The reason why the shortest 3T pit information is adopted as the pit length is that the shorter the pit length, the greater the influence of jitter.
[0061]
When the pit information included in the RF signal has an ideal pit length, the output (B) of the waveform shaping circuit 20 has a pulse width of 3T. The position of the tail edge of the pit information to be measured for jitter slightly varies due to the presence of jitter. Therefore, even if the edge position fluctuates due to jitter, the width of the window pulse is set so that the edge surely enters the effective range of the window pulse. On the other hand, if an edge of pit information that is not a measurement target is detected, erroneous measurement is performed. Therefore, a pulse width is required so that only the edge of the pulse for a pit having one type of pit length can be detected regardless of the presence or absence of jitter.
[0062]
For example, in this embodiment, as shown in FIGS. 13A and 13B, only pit information for pits having a pit length of 3T is detected from reproduction information of a pit row having a pit length of 3T to 11T. . The window pulse (C) generated by the window pulse generation circuit 21 is assumed to be in a valid state (here, L level) for 2.6T to 3.4T, and pulses having other pit lengths are excluded.
[0063]
The integration circuit 22 continues integration from the falling edge of the window pulse (C) while the window pulse is in an effective state (L level). This is the timing corresponding to the falling edge of the pit information by the hold timing circuit 23.
[0064]
When the position of the falling edge of the pit information fluctuates due to jitter, the time at which the hold signal is generated fluctuates before and after the 3T reference time. The integration output of one integration circuit 22 is affected only by the rising edge. Therefore, for example, as shown in FIG. 13E, if the pit length of the pit information is exactly 3T, the position of the hold signal is tA and the output of the hold circuit 24 is α (see (F)). If the pit length is shorter than the standard and falls at time tB as shown in (C), the integrated output becomes β. If the pit length is longer than the standard and falls at time tC as shown in (D), the integrated output becomes γ. It becomes.
[0065]
Since the increase in output is proportional to the amount of time axis fluctuation (jitter component), if the microcomputer 1 determines the output of the hold circuit 24, the presence or absence of jitter or the amount of jitter is directly recognized. it can.
[0066]
As described above, according to the third embodiment, it is possible to provide a jitter measuring apparatus suitable for the power setting apparatus described in the first and second embodiments. In addition to being applicable to a power measuring apparatus, the present apparatus is suitable for measuring jitter of a pulse signal having a specific pulse width from information including a plurality of pulse widths.
(IV) Other modifications The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications are possible.
[0067]
For example, the optical recording medium to which the present invention is applied is not limited to a phase change type optical disc, and may have a shape like an IC card. That is, the present invention can be applied to any recording medium in which various conditions such as erasing power, recording power, or recording waveform change regardless of the shape of the recording medium.
[0068]
【The invention's effect】
According to the first aspect of the present invention, the time axis fluctuation component for the pit information having a specific pit length can be accurately extracted from the pulse signal in which the pit information for a plurality of pit lengths is mixed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of a power setting device having the present invention.
FIG. 2 is a configuration diagram of a power setting device according to an embodiment.
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a structure of a phase change optical disc used in an example.
FIG. 4 is a flowchart illustrating a recording power setting process according to the first embodiment.
FIG. 5 is an explanatory diagram showing setting of erasing power according to the first embodiment;
FIG. 6 is a recording waveform diagram of the first embodiment.
FIG. 7 is a reproduction waveform diagram of the first embodiment.
FIG. 8 is a pattern example of a recording waveform.
FIG. 9 is a flowchart illustrating a recording power setting process according to the second embodiment.
FIG. 10 is an explanatory diagram illustrating setting of erasing power according to the second embodiment.
FIG. 11 is a configuration diagram of a jitter measuring apparatus according to a third embodiment.
FIG. 12 is a waveform of each part of the jitter measuring apparatus.
FIG. 13 is an explanatory diagram of jitter detection.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Microcomputer 2 ... Pickup apparatus 3 ... Reproducing head 4 ... Jitter measuring apparatus 5 ... RF bottom detection apparatus 6 ... Position information detection apparatus 7 ... Servo circuit 20 ... Waveform shaping circuit 21 ... Window generation circuit 22 ... Integration circuit 23 ... Hold Timing generation circuit 24 ... hold circuit 30 ... time axis fluctuation extraction means 31 ... RF level detection means 32 ... power setting means
