JP3638697B2

JP3638697B2 - Driver IC output resistance measuring instrument

Info

Publication number: JP3638697B2
Application number: JP02732996A
Authority: JP
Inventors: 眞人長島; 喜雄長門; 宗範小野
Original assignee: Advantest Corp
Current assignee: Advantest Corp
Priority date: 1996-01-22
Filing date: 1996-01-22
Publication date: 2005-04-13
Anticipated expiration: 2016-01-22
Also published as: TW315417B; CN1115565C; KR100248918B1; KR970059759A; JPH09196998A; CN1164649A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えばＬＣＤ（液晶）ドライバＩＣやバブルジェットプリンタドライバＩＣのような多数出力ピンを有するドライバＩＣの出力抵抗を測定する出力抵抗測定器に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図３に多数ピンを有するドライバＩＣ１０の一例を示す。ピン数は種類により異なるが、１６０ピンから３００ピンの物が多い。電源端子Ｖ_DDやＶ_EEに電圧電源を接続し、グランド端子ＧＮＤを接地してＩＣを駆動させる。複数の入力端子ＩＮｉ（ｉ＝１〜ｎ）には、外部からの制御信号により出力ピン名とその出力電圧が指令される。例えば、出力電圧値は８ビットの信号で２５６階調で指令される。多数の出力ピンＯＵＴｉ（ｉ＝１〜ｍ）からはその指令された出力ピンから指定された一定電圧値を外部の負荷に供給する。
【０００３】
この多数ピンを有するドライバＩＣ（以下「ＤＵＴ」という）１０の多数の出力ピンＯＵＴｉは、制御信号により指令された電圧電流を正しく負荷に供給しなければならない。そして出力抵抗もスペック通りである必要がある。そこで従来からＤＵＴ１０の製造過程や製造後あるいは受入検査で、個々のＤＵＴ１０の出力電圧、出力電流や出力抵抗の測定をして、そのＤＵＴ１０の良否を検査している。
【０００４】
図４に従来の検査の方式を示す。
ＤＣ測定ユニット１５は定電流源を内蔵する電圧測定器である。そして任意値の定電流をスイッチを通して吐き出すことも吸い込むこともできるので、ＤＵＴ１０の出力電圧Ｖ_Oも出力電流Ｉ_Lも、また出力抵抗Ｒ_Oも測定することができる。出力抵抗Ｒ_Oは出力電圧値Ｖ_Oと負荷電圧値Ｖ_Mの差電圧を負荷電流値Ｉ_Lで除した値である。数式で示すと、Ｒ_O＝（Ｖ_O−Ｖ_M）／Ｉ_Lとなる。負荷電圧値Ｖ_Mは電圧測定器で測定する。
【０００５】
図４（Ａ）は、ＤＵＴ１０の多数の出力ピンＯＵＴｉの出力電圧を電流印加電圧測定モードで、１つのＤＣ測定ユニット１５でもって、１ピンづつ切替ながら試験するという方法である。ＤＣ測定ユニット１５が１つであるので、安価であるが、測定時間が掛かり過ぎて遅すぎる。
【０００６】
図４（Ｂ）は、ＤＣ測定ユニット１５をＮｃｈ（チャンネル）分設けてＮｃｈを電流印加電圧測定モードでもって同時に測定し、Ｎピン毎に切り替えて測定するものである。測定時間は図４（Ａ）に比べて１／Ｎとなるが、ＮｃｈのＤＣ測定ユニット１５ｊ（ｊ＝１〜Ｎ）を必要とするので高価となる。
【０００７】
図４（Ｃ）は、ＤＵＴ１０の全出力ピンＯＵＴｉ（ｉ＝１〜ｍ）分のＤＣ測定ユニット１５ｉを有して電流印加電圧測定モードで全出力ピンＯＵＴｉを一度で試験するものである。よって、測定時間は非常に高速になるが、ＤＣ測定ユニット１５を全出力ピンＯＵＴｉ分設けるので価格も非常に高価となる。
【０００８】
図４（Ｄ）は、ＤＵＴ１０の全出力ピンＯＵＴｉ（ｉ＝１〜ｍ）に対してそれぞれ接続するプログラマブルロードＰＬ２０ｉを用意し、ＤＵＴ１０のそれぞれの出力ピンは高速スキャナ１６のそれぞれの入力端子に接続される。ＤＵＴ１０への印加電流はＰＬ２０ｉが行い、電圧測定は高速スキャナ１６を通して１台の電圧測定器１７で行う。電圧測定器１７側には電流が流れないために高速スキャナを使用できるのである。この方式は比較的高速に試験でき、しかも比較的安価である。
【０００９】
プログラマブルロードＰＬ２０は図５に示しているように、ダイオードブリッジと、ＩＬＬとＩＬＨの２つの定電流源と、ＶＴのスレッショルド電圧源で構成されている。ダイオードブリッジであるからＤＵＴ１０に接続されている一端ａの電圧はＶＴに接続されている他端ｂの電圧と等しい。従ってスレショルド電圧源ＶＴの電圧を可変することにより、ＤＵＴ１０側の一端ａの電圧を可変することができる。
【００１０】
ＤＵＴ１０の出力レベルを、仮にＨ（ハイ）レベルＶOHと、Ｌ（ロウ）レベルＶOLとし、ＶＴの電圧値をその中間値、つまりＶＴ＝（ＶOH＋ＶOL）／２、に設定すると、ＤＵＴ１０の出力レベルがＨレベルのときには出力ピンから負荷電流ＩＬＨがＰＬ２０に流れ出る。逆に出力レベレがＬレベルのときにはＰＬ２０側からＤＵＴ１０側に負荷電流ＩＬＬが流れ込む。負荷電流ＩＬＨ及びＩＬＬはスペックシート中の値を選択し一定負荷電流ＩＬＨあるいはＩＬＬを流している。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
従来のドライバＩＣの出力抵抗の測定方式は、上述のように、図４（Ａ）から図４（Ｄ）のものであった。どの測定方式でも出力抵抗の測定はでき、その値はＤＵＴの種類によって異なるが約３００Ωから数キロΩであって、一般的に数百Ω程度である。ところが、それぞれの測定方式での測定値には再現性があるが、方式を変更するとその測定値が異なることが多かった。
【００１２】
測定方法は、いずれも全ての出力ピンＯＵＴｉから一定電圧を出力するようにしてスイッチで切り替えて測定したり、同時測定を行っている。出力抵抗値の測定方式による測定値の差は±１００Ω程度もあった。これでは出力抵抗値に測定方式を付記する必要があり、不便であり、しかも不正確である。
【００１３】
その原因はＤＵＴ１０の種類や設計にもよるが、各出力ピンの電源と出力抵抗が独立したものではなく、出力部門のいくつかのブロック内では相互に関連を持ち、干渉していることが判明した。ここで干渉とは、インダクタンスやキャパシタンスによる電磁誘導等の干渉のみではなく、分圧抵抗回路等の繋がり方による干渉が大きいと判断される。そして、上述の測定方式では図４（Ａ）の方式が出力ピン間で干渉が無く、正しく測定できることが判った。従って、図４（Ｂ）から図４（Ｄ）までの測定方式では測定値に補正値を付加する必要があった。
【００１４】
この発明は、従来測定方式を検討し、図４（Ａ）の測定結果と同じ値を得るために図４（Ｄ）の方式を改良し、出力ピン間の干渉を無くし、高精度に、高速にしかも比較的安価に構成できるドライバＩＣの出力抵抗測定器を提供するものである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は従来測定方式の図４（Ｄ）の回路方式を検討し、実験を重ね、高速スキャナを利用して電圧測定器は１台で、高精度に、比較的高速で測定できるようにしたものである。
【００１６】
この回路方式は、ＤＵＴ内部の電流の干渉を打ち消すようにプログラマブルロードＰＬのスレッショルド電圧源を２系統設けるようにし、１系統のスレッショルド電圧ＶＴ１はＤＵＴの出力電圧よりも一定電圧高くし、他の系統のＶＴ２は逆に一定電圧低くし、そのＶＴ１とＶＴ２の電圧系のＰＬをＤＵＴの出力ピンの配列に交互に、あるいは２つ毎に、あるいは３つ毎に配列設置して、ＰＬからＤＵＴ内部に電流を流し込みあるいは引き込んでＤＵＴ内部の電流の干渉を打ち消すようにした。
【００１７】
ＤＵＴ内部の回路構成は種類により、あるいは製造会社により設計が異なっている。ＤＵＴ内部の電圧源と出力ピンとが１対１に対応して出力抵抗が一定の場合もあるが、出力ピンをいくつかのブロックに分割し１ブロックで１つの電圧源の電圧を分圧して複数の出力ピンに対応しているのものが多い。回路方式はさまざまである。従って、どのような回路方式であっても再現性のある測定値を求めるには、ＤＵＴ内部の電流バランスをとるのがよい。
【００１８】
そこで、出力抵抗の測定において、ＤＵＴから一定の電流を引き出し、また同量の電流を与えてやるとＤＵＴ内部の電流分布に干渉が生ぜず、正確な出力抵抗測定ができることがわかった。これも１ブロック毎に同量の電流の出し入れがあるのが望ましい。そこでＤＵＴの出力ピンの配列順に、交互に出し入れを行うか、２ピン毎に行うか、あるいは複数ピン毎に行ってもよいが、１ブロックの出力ピン数が不明確であるので、１ピン毎に交互に行うのが望ましい。
【００１９】
【発明の実施の形態】
第１の発明は、ＤＵＴの各出力ピンＯＵＴｉ（ｉ＝１〜ｍ）に対応する入力端子を有する高速スキャナと、その高速スキャナの各入力端子の電圧を順次測定する電圧測定器と、上記ＤＵＴの各出力ピンＯＵＴｉと上記高速スキャナの各入力端子にそれぞれ設置された２系統のプログラムロードＰＬ群で構成されている。
【００２０】
その２系統のプログラムロードＰＬ群とは、スレッショルド電圧源の電圧がＤＵＴの出力電圧よりも一定電圧高いＶＴ１群と一定電圧低いＶＴ２群の２系統の電圧を設定できるプログラムロードＰＬ群である。そして、一定電圧高いＶＴ１群からは一定負荷電流をＰＬからＤＵＴに流し込む。また一定電圧低いＶＴ２群はＤＵＴから一定負荷電流を吸い込む。ＤＵＴが流し出す負荷電流と吸い込む負荷電流が等しいとＤＵＴ内部では電流のバランスがとれて、干渉は無くなる。従来のＰＬのスレッショルド電圧源は、ＤＵＴのＨレベルとＬレベルの中間にしかスレショルド電圧を設定できなかったので全ピンからの電流の垂れ流しか吸い込みしかできずに干渉を生じていたのである。
【００２１】
第２の発明は、第１の発明におけるスレッショルド電圧源の配列をＶＴ１とＶＴ２とを交互に配列した構成に限定したＰＬ群で成っている。ＤＵＴの設計がどうなっているのか、いくつのブロックに分けられているのか一般にはわからない。そこでＶＴ１とＶＴ２とを１つ置きに交互に配列する構成がＤＵＴ内部の電流バランスをとるのにもっとも良い構成である。
【００２２】
第３の発明は、ＤＵＴのカタログで２種類以上の異なる出力抵抗を有するＤＵＴの出力抵抗の測定器である。電位差が同じであって抵抗値が異なると、その抵抗に流れる電流値は抵抗値に反比例して変化するには公知である。従って出力抵抗値が異なる出力段を有するＤＵＴの測定ではＰＬの定電流源も２系統以上の定電流源を有する必要がある。以下実施例について説明する。
【００２３】
【実施例】
図１には本発明の一実施例の構成図を、図２には他の実施例の構成図を示す。図４、図５と対応する部分には同一符号を付す。
図１について説明する。ＤＵＴ１０の出力段は電圧源１１ｉ（ｉ＝１〜ｍ）から出力抵抗１２ｉを通して出力ピンに接続されている。各出力ピンはそれぞれ高速スキャナ１６の入力端子と接続され、高速スキャナ１６では各入力端子の電圧をスキャンしてその電圧値を電圧測定器１７で順次読み込んでいる。
【００２４】
複数のプログラマブルロード２０ｉは、ＤＵＴ１０の出力ピンと高速スキャナ１６の入力端子の間にそれぞれ設置されて接続されている。プログラマブルロード２０の構成は前述の図５の通りである。そしてスレッショルド電圧源ＶＴはＶＴ１群とＶＴ２群とがあり、図１においてはＶＴ１とＶＴ２とがＤＵＴ１０の出力ピンの配列に対して交互に設置されている。従って、ＶＴ１のＰＬ２０からはＤＵＴ１０側に一定負荷電流が流れ出し、ＶＴ２のＰＬ２０には一定負荷電流が流れ込む。
【００２５】
ＤＵＴ１０において、吸い込む一定負荷電流と吐き出す一定負荷電流が同量であると、ＤＵＴ１０内部において電流バランスがとれて、干渉が無くなり、出力抵抗値は高精度に、再現性よく、高速に測定することができる。
【００２６】
図２には、カタログ上で２種類以上の異なる出力抵抗を有するＤＵＴ１０の測定の構成図を示す。図１と異なる点は、プログラマブルロードＰＬ２０の定電流源を２系統有することである。つまり、ＩＬＬ１とＩＬＨ１の組の定電流源を有するＰＬ２０とＩＬＬ２とＩＬＨ２との組の定電流源を有するＰＬ２０とが存在し、ＤＵＴ１０の出力抵抗が異なっても適切な一定負荷電流を供給することができる構成となっている。
【００２７】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、この発明は、ＬＣＤドライバＩＣやバブルジェットプリンタドライバＩＣのように多数ピンを有するドライバＩＣの出力抵抗を測定する測定器において、高精度に、再現性がよく、比較的高速に、比較的安価に構成することができる。
【００２８】
従って、テストコストも安価にでき、しかも益々出力ピン数が多くなっている現状において、その利用価値は高く、技術的効果は大である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例の構成図である。
【図２】本発明の他の実施例の構成図である。
【図３】ＤＵＴ１０を説明するための一例のＤＵＴ１０の外観図である。
【図４】図４（Ａ）から図４（Ｄ）は、従来のＤＵＴ１０の出力抵抗を測定するための構成図である。
【図５】ＰＬ２０の一例の構成図である。
【符号の説明】
１０ＤＵＴ（多数ピンを有するドライバＩＣ）
１１ｉ電圧源
１２ｉ出力抵抗
１５ｉＤＣ測定ユニット
１６高速スキャナ
１７電圧測定器
２０ｉＰＬ（プログラマブルロード）
ＶＴスレッショルド電圧源[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an output resistance measuring instrument for measuring the output resistance of a driver IC having a large number of output pins such as an LCD (liquid crystal) driver IC and a bubble jet printer driver IC.
[0002]
[Prior art]
FIG. 3 shows an example of a driver IC 10 having a large number of pins. Although the number of pins varies depending on the type, the number of pins is 160 to 300. A voltage power supply is connected to the power supply terminals V _DD and V _EE , and the ground terminal GND is grounded to drive the IC. The plurality of input terminals INi (i = 1 to n) are instructed by the output pin name and its output voltage by an external control signal. For example, the output voltage value is an 8-bit signal and is commanded in 256 gradations. A number of output pins OUTi (i = 1 to m) supply a constant voltage value designated by the commanded output pin to an external load.
[0003]
A large number of output pins OUTi of the driver IC (hereinafter referred to as “DUT”) 10 having the large number of pins must correctly supply the voltage and current commanded by the control signal to the load. And the output resistance needs to be as specified. Therefore, conventionally, the DUT 10 is inspected for quality by measuring the output voltage, output current, and output resistance of each DUT 10 in the manufacturing process of the DUT 10, after manufacturing, or in acceptance inspection.
[0004]
FIG. 4 shows a conventional inspection method.
The DC measurement unit 15 is a voltage measurement device incorporating a constant current source. Since a constant current of an arbitrary value can be discharged or sucked through the switch, the output voltage V _{O, the} output current I _L , and the output resistance R _{O of} the DUT 10 can be measured. Output resistance R _O is a value obtained by dividing the differential voltage between the output voltage value V _O and the load voltage V _M at the load current I _L. When expressed by a mathematical formula, R _O = (V _O −V _M ) / I _L. Load voltage value V _M is measured by the voltage measuring device.
[0005]
FIG. 4A shows a method in which the output voltages of a large number of output pins OUTi of the DUT 10 are tested while switching one by one with one DC measurement unit 15 in the current applied voltage measurement mode. Since there is one DC measurement unit 15, it is inexpensive, but it takes too much measurement time and is too slow.
[0006]
In FIG. 4B, DC measurement units 15 are provided for N channels (channels), N channels are simultaneously measured in the current application voltage measurement mode, and measurement is performed by switching every N pins. The measurement time is 1 / N compared to FIG. 4A, but is expensive because it requires Nch DC measurement units 15j (j = 1 to N).
[0007]
FIG. 4C shows the DC output unit OUTi (i = 1 to m) corresponding to all the output pins OUTi (i = 1 to m) of the DUT 10 and tests all the output pins OUTi at a time in the current application voltage measurement mode. Therefore, although the measurement time becomes very fast, the DC measurement unit 15 is provided for all the output pins OUTi, so that the price is very expensive.
[0008]
In FIG. 4D, a programmable load PL20i is prepared for connection to all output pins OUTi (i = 1 to m) of the DUT 10, and each output pin of the DUT 10 is connected to each input terminal of the high-speed scanner 16. Is done. The applied current to the DUT 10 is performed by the PL 20 i and the voltage measurement is performed by the single voltage measuring device 17 through the high-speed scanner 16. Since no current flows on the voltage measuring instrument 17 side, a high-speed scanner can be used. This method can be tested relatively quickly and is relatively inexpensive.
[0009]
As shown in FIG. 5, the programmable load PL20 includes a diode bridge, two constant current sources ILL and ILH, and a VT threshold voltage source. Since it is a diode bridge, the voltage at one end a connected to the DUT 10 is equal to the voltage at the other end b connected to VT. Therefore, by varying the voltage of the threshold voltage source VT, the voltage at one end a on the DUT 10 side can be varied.
[0010]
If the output level of the DUT 10 is temporarily set to the H (high) level VOH and the L (low) level VOL, and the voltage value of the VT is set to an intermediate value thereof, that is, VT = (VOH + VOL) / 2, the output level of the DUT 10 is When it is at the H level, the load current ILH flows out from the output pin to PL20. Conversely, when the output level is at the L level, the load current ILL flows from the PL 20 side to the DUT 10 side. As the load currents ILH and ILL, values in the spec sheet are selected and a constant load current ILH or ILL is passed.
[0011]
[Problems to be solved by the invention]
As described above, the conventional method for measuring the output resistance of the driver IC is that shown in FIGS. 4 (A) to 4 (D). The output resistance can be measured by any measurement method, and the value varies depending on the type of DUT, but is about 300Ω to several kiloΩ, and generally about several hundreds Ω. However, the measured values in each measurement method are reproducible, but the measured values often differ when the method is changed.
[0012]
In any of the measurement methods, a constant voltage is output from all the output pins OUTi, and measurement is performed by switching with a switch, or simultaneous measurement is performed. The difference in the measured value according to the output resistance measurement method was about ± 100Ω. In this case, it is necessary to add a measurement method to the output resistance value, which is inconvenient and inaccurate.
[0013]
The cause depends on the type and design of DUT10, but the power supply and output resistance of each output pin are not independent, and it is found that some blocks in the output department are related to each other and interfere with each other. did. Here, the interference is determined not only to be interference such as electromagnetic induction due to inductance or capacitance, but also to be large due to the way of connecting the voltage dividing resistor circuit or the like. In the measurement method described above, it was found that the method of FIG. 4A can be measured correctly without interference between the output pins. Therefore, in the measurement method from FIG. 4B to FIG. 4D, it is necessary to add a correction value to the measurement value.
[0014]
The present invention examines the conventional measurement method, improves the method of FIG. 4D in order to obtain the same value as the measurement result of FIG. 4A, eliminates interference between output pins, and has high accuracy and high speed. In addition, an output resistance measuring device for a driver IC that can be configured at a relatively low cost is provided.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention examined the circuit method of FIG. 4D of the conventional measurement method, repeated experiments, and made a high-speed scanner to compare one voltage measuring device with high accuracy. It can be measured at high speed.
[0016]
In this circuit system, two threshold voltage sources of the programmable load PL are provided so as to cancel the interference of the current in the DUT, the threshold voltage VT1 of one system is set higher than the output voltage of the DUT, and other systems On the other hand, the VT2 of the VT1 is lowered by a constant voltage, and the PL of the voltage system of the VT1 and VT2 is arranged alternately in the arrangement of the output pins of the DUT, every two or every three, and the PL to the DUT In order to cancel the interference of the current inside the DUT by supplying or drawing a current into the DUT.
[0017]
The circuit configuration inside the DUT differs depending on the type or the manufacturer. There may be a case where the output resistance is constant with one-to-one correspondence between the voltage source and the output pin inside the DUT, but the output pin is divided into several blocks, and the voltage of one voltage source is divided into a plurality of blocks. Many of them correspond to the output pins. There are various circuit systems. Therefore, in order to obtain a reproducible measurement value with any circuit system, it is preferable to balance the current inside the DUT.
[0018]
Therefore, it was found that when a constant current is drawn from the DUT and the same amount of current is applied in the measurement of the output resistance, no interference occurs in the current distribution inside the DUT, and an accurate output resistance measurement can be performed. It is also desirable that the same amount of current be taken in and out of each block. Therefore, the DUT output pins may be alternately put in and out, every two pins, or every plural pins. However, since the number of output pins in one block is unclear, every pin. It is desirable to carry out alternately.
[0019]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
According to a first aspect of the present invention, there is provided a high speed scanner having an input terminal corresponding to each output pin OUTi (i = 1 to m) of the DUT, a voltage measuring device for sequentially measuring a voltage at each input terminal of the high speed scanner, and the DUT Each of the output pins OUTi and two program load PL groups respectively installed at the input terminals of the high-speed scanner.
[0020]
The two systems of program load PL groups are program load PL groups in which the voltage of the threshold voltage source can be set to two systems of voltage VT1 and VT2 which are higher than the DUT output voltage by a certain voltage. A constant load current flows from the PL to the DUT from the VT1 group having a constant voltage higher. Further, the VT2 group having a constant voltage lowers the constant load current from the DUT. If the load current flowing out by the DUT is equal to the load current sucked in, the current is balanced inside the DUT and there is no interference. Since the threshold voltage source of the conventional PL can set the threshold voltage only between the H level and the L level of the DUT, it can only absorb the drooping current from all the pins and cause interference.
[0021]
The second invention consists of a PL group in which the arrangement of the threshold voltage source in the first invention is limited to a configuration in which VT1 and VT2 are alternately arranged. Generally, it is not known how the DUT is designed and how many blocks it is divided into. Therefore, a configuration in which VT1 and VT2 are alternately arranged alternately is the best configuration for balancing the current in the DUT.
[0022]
A third invention is a DUT output resistance measuring instrument having two or more different output resistances in the DUT catalog. It is known that when the potential difference is the same and the resistance value is different, the value of the current flowing through the resistance varies inversely with the resistance value. Therefore, in the measurement of a DUT having output stages having different output resistance values, the PL constant current source must also have two or more constant current sources. Examples will be described below.
[0023]
【Example】
FIG. 1 shows a configuration diagram of one embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows a configuration diagram of another embodiment. Parts corresponding to those in FIGS. 4 and 5 are denoted by the same reference numerals.
With reference to FIG. The output stage of the DUT 10 is connected to the output pin from the voltage source 11i (i = 1 to m) through the output resistor 12i. Each output pin is connected to an input terminal of the high-speed scanner 16, and the high-speed scanner 16 scans the voltage of each input terminal and sequentially reads the voltage value by the voltage measuring device 17.
[0024]
The plurality of programmable loads 20 i are respectively installed and connected between the output pins of the DUT 10 and the input terminals of the high-speed scanner 16. The configuration of the programmable load 20 is as shown in FIG. The threshold voltage source VT includes a VT1 group and a VT2 group. In FIG. 1, VT1 and VT2 are alternately provided with respect to the arrangement of output pins of the DUT 10. Therefore, a constant load current flows from the PL20 of the VT1 to the DUT10 side, and a constant load current flows into the PL20 of the VT2.
[0025]
In the DUT 10, if the constant load current to be sucked in and the constant load current to be discharged are the same amount, the current balance in the DUT 10 can be balanced, there is no interference, and the output resistance value can be measured with high accuracy, high reproducibility, and high speed. it can.
[0026]
FIG. 2 shows a configuration diagram of the measurement of the DUT 10 having two or more different output resistances on the catalog. The difference from FIG. 1 is that it has two constant current sources of programmable load PL20. That is, there is a PL20 having a constant current source of ILL1 and ILH1 and a PL20 having a constant current source of ILL2 and ILH2, and an appropriate constant load current is supplied even if the output resistance of the DUT 10 is different. It has a configuration that can.
[0027]
【The invention's effect】
As described above in detail, the present invention is highly accurate and reproducible in a measuring instrument that measures the output resistance of a driver IC having a large number of pins such as an LCD driver IC or a bubble jet printer driver IC. Can be constructed at a relatively low cost.
[0028]
Therefore, in the present situation where the test cost can be reduced and the number of output pins is increasing more and more, the utility value is high and the technical effect is great.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a configuration diagram of another embodiment of the present invention.
FIG. 3 is an external view of an example DUT 10 for explaining the DUT 10;
4A to 4D are configuration diagrams for measuring the output resistance of a conventional DUT 10. FIG.
FIG. 5 is a configuration diagram of an example of PL20.
[Explanation of symbols]
10 DUT (driver IC with multiple pins)
11i Voltage source 12i Output resistance 15i DC measurement unit 16 High-speed scanner 17 Voltage measurement device 20i PL (programmable load)
VT threshold voltage source

Claims

多数出力ピンを有するドライバＩＣであるＤＵＴ（１０）の直流特性を測定する出力抵抗測定器において、
ＤＵＴ（１０）の各出力ピンＯＵＴｉにそれぞれ接続する入力端子を有する高速スキャナ（１６）と、
上記高速スキャナ（１６）の各入力端子の電圧を順次測定する電圧測定器（１７）と、
上記ＤＵＴ（１０）の各出力ピンＯＵＴｉと上記高速スキャナ（１６）の各入力端子との間にそれぞれ設置され、スレッショルド電圧がＤＵＴ（１０）の出力電圧よりも一定電圧高い電圧を設定できるスレッショルド電圧源ＶＴ１群と一定電圧低い電圧を設定できるスレッショルド電圧源ＶＴ２群との２系統の電圧を設定できるプログラムロードＰＬ（２０ｉ）群と、
を具備することを特徴とするドライバＩＣの出力抵抗測定器。In an output resistance measuring instrument that measures the DC characteristics of a DUT (10) that is a driver IC having multiple output pins,
A high-speed scanner (16) having an input terminal connected to each output pin OUTi of the DUT (10);
A voltage measuring device (17) for sequentially measuring the voltage at each input terminal of the high-speed scanner (16);
A threshold voltage that is installed between each output pin OUTi of the DUT (10) and each input terminal of the high-speed scanner (16), and whose threshold voltage can be set higher than the output voltage of the DUT (10). A program load PL (20i) group capable of setting two systems of voltages, ie, a source voltage VT1 group and a threshold voltage source VT2 group capable of setting a constant voltage lower voltage;
An output resistance measuring instrument for a driver IC, comprising:

請求項１記載のプログラムロードＰＬ（２０ｉ）群は、スレッショルド電圧源ＶＴ１とＶＴ２とがＤＵＴ１０の各出力ピンＯＵＴｉの配列順に交互に配列されている２系統のプログラムロードＰＬ（２０ｉ）群であることを特徴とするドライバＩＣの出力抵抗測定器。The program load PL (20i) group according to claim 1 is a two-system program load PL (20i) group in which the threshold voltage sources VT1 and VT2 are alternately arranged in the order of arrangement of the output pins OUTi of the DUT 10. A driver IC output resistance measuring device characterized by the above.

請求項１記載のプログラムロードＰＬ（２０ｉ）群は、定電流源ＩＬＬ及びＩＬＨが出力電流の異なる２系統（ＩＬＬ１、ＩＬＨ１とＩＬＬ２、ＩＬＨ２）以上の定電流源を有しているプログラムロードＰＬ（２０ｉ）群であることを特徴とするドライバＩＣの出力抵抗測定器。The program load PL (20i) group according to claim 1, wherein the constant current sources ILL and ILH have two or more constant current sources (ILL1, ILH1 and ILL2, ILH2) having different output currents. 20i) The output resistance measuring instrument of the driver IC, which is a group.