JP3636560B2 - Test method for optical line monitoring system - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光線路監視システムの試験方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図6は、光線路監視システムを示す。
図6中符号1は光試験装置(OPT部)、2は心線選択装置、3は光源、4は光パワーメータ(OPM)、5は光パルス試験器(OTDR:Optical Time Domain Reflectometer)、6は光スイッチ、7は光部品収納ケース、8は試験光線路、9は通信光線路である。
光線路監視システムは、光試験装置1と、心線選択装置2とを備えて構成される。光試験装置1と心線選択装置2との間は試験光配線8によって光接続され、心線選択装置2は内蔵した光部品収納ケース7にて通信光線路9と接続される。
光試験装置1は光源3と、光パワーメータ4と、光パルス試験器5とを装備し、これら光源3、光パワーメータ4、光パルス試験器5を2本の試験光配線8、8と接続している。
なお、通信光線路9は、光ファイバ等から構成された光配線である。
【0003】
心線選択装置2は光スイッチ6と光部品収納ケース7とを備えている。
光スイッチ6は、1あるいは複数の光部品収納ケース7に対応し、例えば2000本の単心の光ファイバ11に対して、試験光配線8、8を選択的に接続する。具体的には、光スイッチ6はメカニカル方式のファイバ突き合わせ型スイッチであり、2本の試験光配線8、8のそれぞれの端末に設けた単心光ファイバを可動ヘッド12に搭載し、該可動ヘッド12を図示しないパルスモータで駆動して目的位置に正確に位置決めすることで、光ファイバ配列台6a上に配列させた目的の光ファイバ11、11とそれぞれ接続する。なお、可動ヘッド12、12の制御は光スイッチ6内蔵のCPUによりなされる。
光部品収納ケース7は、光スイッチ6から引き出された単心あるいは多心の光ファイバ11aと、この光ファイバ11aの途中に介在させた光合分波器10(光カプラ)とを収納し、光ファイバ11aと通信光線路9とを光コネクタ13を介して接続する。また、光部品収納ケース7は、図示していない伝送装置側の光線路が接続される接続用ポート14を有し、この接続用ポート14を介して通信光線路9や光ファイバ11aを伝送装置側の光線路と接続する。
なお、試験光配線8と光ファイバ11、11aとは、光試験装置1と心線選択装置2内の他の光部品とともに試験光線路を構成する。
【0004】
この光線路監視システムでは、光スイッチ6にて目的の光ファイバ8、11同士を接続することで、目的の通信光線路9と光試験装置1とが接続される。そして、光源3から試験光配線8に入射した試験光を、光スイッチ6、光部品収納ケース7を介して通信光線路9へ入射し、この逆順で光試験装置1に帰還した反射光を光パルス試験器5で観測することで、周知の光パルス試験を行う。試験光波長としては、通信光波長である1.31μm、あるいは通信光とは異なる波長としては例えば1.55μmや1.65μmを用いることが一般的である。
【0005】
ところで、光線路監視システム自体の光線路に異常があると通信光線路の光パルス試験が無意味になってしまうため、近年では、光線路監視システムの試験方法が提案されている。
この試験方法の一例としては、まず、図6中符号15の測定ポートと、16の確認ポートの2個のポートを光スイッチ6に確保し、これら測定ポート15と確認ポート16とをループバック用光ファイバ17で接続する。そして、光スイッチ6を駆動させて測定ポート15と確認ポート16とに試験光配線8、8をそれぞれ接続した後、光源6から試験光配線8に入射した試験光をループバック用光ファイバ17を介して光パワーメータ4へ帰還させることで、光試験装置1から光スイッチ6までの試験光配線8、8の確認と、光スイッチ6まわりの配線確認、光スイッチ6の動作確認を行う。すなわち、光パワーメータ4で帰還した試験光の強度を基準値と比較し、光パルス試験器5で試験光の入射から帰還までの時間(距離)から試験光配線8および通信光線路9の異常を観測し、両観測データを照合することで異常の有無を確認している。
なお、この試験方法では、2本の試験光配線8とループバック用光ファイバ17とを通って入射試験光が光試験装置1に帰還されるようにすれば良いので、ループバック用光ファイバ17の取り付け位置は自由であり、例えば、光部品収納ケース7にて光ファイバ11aに取り付けることも可能である。この場合、測定ポートと確認ポートとを光部品収納ケース7に設置する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記のような光線路監視システムの試験方法の場合、光パワーメータ4が高価であるため、光線路監視システムのコストが上昇するといった問題があった。なお、光パワーメータ4は、この試験においてループバックされた試験光強度を基準値と比較することだけに機能し、通信光線路9のパルス試験等の他の試験には利用されないため、ループバック光用の光パワーメータ4を設置しないで安価で実施できる試験方法の開発が求められていた。
また、前記光線路監視システムでは、1心の通信光線路9に対して2心の試験光線路が必要となることに鑑みて、光スイッチ6や光部品収納ケース7に2ポートを確保する必要があり、これにより、例えば、光スイッチ6の対応心数の増加やコンパクト化の妨げになるといった問題が生じていた。伝送装置側の光パルス試験が不要である場合には、光部品収納ケース7では伝送装置側の光線路の試験用ポートを省略できるはずであるが、このポートをループバック用に残しておく必要があるため、光部品収納ケース7を小型化できないといった不満があった。
【0007】
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたもので、
(1)光スイッチや光部品収納ケースに確保すべき試験ポートの数が減少するため、光スイッチの対応心数の増大やコンパクト化が可能になる、
(2)光パワーメータが不要となるため、コンパクト化、低コスト化できる
(3)試験部品が簡便であるので、試験を低コスト化できる
(4)試験部品の光線路への取り付けが容易であり、光パルス試験装置から目的の範囲の試験光線路を簡便に試験することができる、
(5)通信光線路の試験にも利用することができる
光線路監視システムの試験方法を提供することを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前記課題を解決するため、試験光を試験光線路に入射して該試験光線路と接続した通信光線路に入射し、該試験光が試験光線路あるいは通信光線路で反射した反射光を観測して試験光線路および通信光線路の異常を検出する光パルス試験器と、複数の通信用光線路に対して前記試験光線路を選択的に切替可能に接続する心線選択装置とを備えた光線路監視システムの試験方法であって、試験光線路に設けた試験ポートに反射手段を設けて反射端を構成した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第1の工程と、試験ポートに反射防止手段を付け替えて無反射端あるいは低反射端を構成した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第2の工程とを備えてなり、第1、第2の工程のいずれか一方を先行して実施した後、他方を実施することを特徴とする光線路監視システムの試験方法を前記課題の解決手段とした。
【0009】
試験ポートを設ける試験光線路としては、光パルス試験器と心選択装置の全ての試験光線路が採用可能である。これにより、従来のように光スイッチに試験ポートを確保する必要が無くなり、光スイッチの対応心数の増大や、コンパクト化が可能になる。また、試験ポートは、試験光線路の光ファイバ部分に設けることが好ましく、この光ファイバは単心、多心のいずれであっても良い。
反射手段としては、全反射膜や、光ファイバグレーティング等の各種構成の採用が可能である。また、試験光線路端末の周囲に空間を形成することにより、反射端を形成する構成も採用可能である。
反射防止手段としては、例えばコアレス光ファイバや、光吸収膜等や、フィルタ部を通過する試験光波長帯域のみ反射を防止する光アイソレータ等の各種構成の採用が可能である。また、反射防止手段としては、試験光を吸収する構成である必要は無く、例えば、半径を小さく巻いた光ファイバ等によって試験光の損失を大きくした構成等も採用可能である。
【0010】
第1、第2の工程は、同一波長の試験光で実施することが好ましい。また、第1、第2の工程の実施順は、どちらが先でも良い。
試験光波長としては、例えば1.31μmや1.55μm、1.65μm等が採用される。
また、本発明の光線路監視システムの試験方法によれば、第1、第2の工程で試験光の通過と反射とを光パルス試験器で観測することで、試験光をループバックさせること無く試験光線路の異常を検出できるので、ループバック光を受光するための光パワーメータが不要になる。
【0011】
本発明の光線路監視システムの試験方法では、請求項2に記載したように、試験光を試験光線路に入射して該試験光線路と接続した通信光線路に入射し、該試験光が試験光線路あるいは通信光線路で反射した反射光を観測して試験光線路および通信光線路の異常を検出する光パルス試験器と、複数の通信用光線路に対して前記試験光線路を選択的に切替可能に接続する心線選択装置とを備えた光線路監視システムの試験方法であって、反射手段により反射端を構成する全反射ポートと、反射防止手段により無反射端あるいは低反射端を構成する無反射ポートとを備える試験部品を、複数の試験光線路が接続されてなる試験ポートに接続して、該試験ポートの試験光線路に全反射ポートと無反射ポートのいずれか一方を接続した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第3の工程と、第3の工程の完了後、試験部品を付け替えて試験光線路に接続する全反射ポートと無反射ポートとを交換した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第4の工程とを備えてなる構成も採用可能である。
【0012】
前記試験部品は、いわゆる光ファイバテープ心線等の多心光ファイバに接続するか、複数本の光ファイバを集合して一括して接続する。また、試験部品としては、多心光コネクタを利用して、この光コネクタのフェルールやハウジングに反射手段や反射防止手段を組み込んで全反射ポート、無反射ポートを形成した構成であることが好ましく、特に着脱自在な多心光コネクタを利用した構成であることがより好ましい。光コネクタとしては、例えばJIS C 5981に制定されるプラスチック製多心光コネクタ(いわゆるMT形光コネクタ:Mechanically Transferable)等の各種光コネクタの採用が可能である。これにより、試験光線路に設置された多心のコネクタ接続部を試験ポートして試験部品を接続し、この試験ポートに試験部品を付け替えて、試験光線路に接続する全反射ポートと無反射ポートとを交換するだけで、第3、第4の工程を簡便に実施することができる。前記プラスチック製多心光コネクタを利用した試験部品では、同一の試験部品を向きを反転させて接続し直すだけで試験光線路に接続する全反射ポートと無反射ポートとを交換することができ、作業性が大幅に向上する。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下本発明の光線路監視システムの実施の形態を、図1から図4を参照して説明する。
図1は、本発明に係る光線路監視システムの試験方法を適用する光線路監視システムを示す。
なお、図中図6と同一の構成部分には同一の符号を付し、その説明を簡略化す
る。
図1において、本発明に係る光線路監視システムは、光パルス試験器20(OTDR)と、心線選択装置21とを備えて構成されている。光パルス試験器20は、試験光配線8に試験光を入射する光源(図示せず)を内蔵している。この光パルス試験器20には試験光配線8を一本接続している。この試験光配線8は、心線選択装置21の光スイッチ22にて可動ヘッド22aに支持され、該可動ヘッド22aを駆動することで、光ファイバ配列台22bに配列支持した多数本の光ファイバ23に対して選択的に接続される。前記光ファイバ23は多心光ファイバ24に変換して光スイッチ22外に引き出され、光部品収納ケース25に収納した多心光ファイバ26と多心光コネクタ27を介して切替可能に接続される。この多心光コネクタ27は、光線路監視システムの試験の際に試験ポートとして使用する。多心光ファイバ26は光コネクタ28を介して通信光線路9と接続される。多心光ファイバ26の途中には光カプラ29を介在させている。また、光部品収納ケース25は、伝送装置側の図示しない光線路が接続される接続用ポート30を有している。
本実施の形態では、多心光ファイバ24、26はいずれも8心光ファイバテープ心線であり、多心光コネクタ27はJIS C 5981に制定されるプラスチック製多心光コネクタ(いわゆるMT形光コネクタ:Mechanically Transferable)であり、多心光ファイバ24、26を切替可能に接続する。
なお、光ファイバ23は、多心、単心のいずれであってもよい。
【0014】
図2は、本実施の形態に係る試験部品31を示す。この試験部品31は、JIS C 5981に制定されるプラスチック製多心光コネクタのフェルールを利用したものであり、プラスチック製のフェルール本体32と、4個の反射防止手段33(コアレス光ファイバ)とを備えている。本実施の形態では、フェルール本体32の前記多心光コネクタ27と突き合わせ接続される接合端面34には合計8個の光ファイバ挿入穴35を開口し、これら光ファイバ挿入穴35に一つおきに反射防止手段33を固定している。これにより、接合端面34では、光ファイバ挿入穴35に反射防止手段33を固定してなる無反射ポート31aと、何も入っていない空の光ファイバ挿入穴35である全反射ポート31bとが交互に形成される。全反射ポート31bは全反射膜を組み込むこと等によっても得られるが、空の光ファイバ挿入穴35を適用する場合には、この光ファイバ挿入穴35が請求項1記載の反射手段として機能している。また、試験部品31は多心光コネクタ27で使用するガイドピン36が嵌合されるガイドピン穴37を有している。したがって、試験部品31と多心光コネクタ27とは、双方のガイドピン穴37、38にガイドピン36を嵌合することで位置決めされる。そして、この状態で接合端面34、39同士を接合して図示しないクランプバネで突き合わせ力を確保することで、多心光コネクタ37によって成端された裸ファイバ24aに各反射防止手段33が接続される。前記裸ファイバ24aは、光スイッチ22から多心光コネクタ27までの試験光配線を構成している。
【0015】
次に、本実施の形態の光線路監視システムの試験方法を説明する。
[第1の手順]まず、試験部品31を組み立て、選択した多心光コネクタ27を試験ポートとして試験部品31を接続し、無反射ポート31aおよび全反射ポート31bを多心光コネクタ27の裸ファイバ24aにそれぞれ接続する。
[第2の手順]次に、光パルス試験装置20から波長1.55μmの試験光を試験光配線8に入射して光パルス試験器20で反射光を観測する。各試験光線路の試験は、光スイッチ22を駆動して、前記多心光コネクタ27に係る8本の裸ファイバ24aに対して試験光配線8の接続を切り替えつつ試験光を各裸ファイバ24aに順に入射して行う。
[第3の手順]第2の手順の完了後、試験部品31を付け替えて試験光配線8に接続する無反射ポート31aと全反射ポート31bとを交換した後、光パルス試験器20から試験光配線8に、再び波長1.55μmの試験光を入射して光パルス試験器20で反射光を観測する。この時、多心光コネクタ27から取り外した試験部品31の向きを反転させて、再度、多心光コネクタ27と接続するだけで、無反射ポート31aと全反射ポート31bとを極めて簡便に交換することができる。なお、第2、第3の手順は、請求項1記載の第1、第2の工程、並びに請求項2記載の第3、第4の工程に相当する。
【0016】
以下、この光線路監視システムの試験方法の作用および効果を説明する。まず、第2の手順にて、無反射ポート31aと接続した裸ファイバ24aに係る試験光線路の試験について説明する。第2の手順にて、この試験光線路にフレネル反射が確認されたなら(図3参照)、この試験光線路の途中に断線等の異常が存在することが判明する。しかしながら、フレネル反射が確認されない場合(図4参照)では、この試験光線路が正常であることは断定できない。すなわち、光ファイバの潰れ等による無反射性(光吸収性)の異常が存在する場合には、入射した試験光がこの異常箇所で吸収され光パルス試験装置20で反射光が受光されない可能性があるため、異常が無い場合と区別が付かないためである。第3の手順では、この試験光線路は今度は全反射ポート31bと接続されることになる。ここで、試験を実施した結果、第2の手順では異常が検出されていない試験光線路にフレネル反射が確認できた(図3参照)なら異常が無いことが判明するが、逆に、フレネル反射が確認できない場合(図4参照)では、無反射性の異常がこの試験光線路の途中に存在することが判明する。
【0017】
一方、第2の手順にて全反射ポート31bと接続した裸ファイバ24aに係る試験光線路について説明すると、第2の手順にて、この試験光線路にフレネル反射が確認されない場合(図4参照)では、前述の無反射性の異常の存在が判明する。しかしながら、フレネル反射が確認された場合(図3参照)では、試験光線路の途中の断線や損傷やコネクタ接続部での接続不良等による反射光を拾っている可能性が有り、この反射光と試験光線路端末(裸ファイバ24a先端)からの正規の反射光との区別が付かないため、試験光線路が正常であることを断定することは出来ない。
この試験光線路に関して第3の手順を実施した結果、第2の手順にて異常が検出されていない試験光線路にフレネル反射が確認できない(図4参照)なら異常が無いことが判明するが、フレネル反射が確認できた(図3参照)なら断線や接続不良等の異常が途中に存在することが判明する。
【0018】
この光線路監視システムの試験方法によれば、第1の手順の後、第2、第3の手順を連続して実施することで、光パルス試験装置20から裸ファイバ24a先端までの試験光線路の異常箇所を確実に検出することができ、光線路監視システムの信頼性を向上することができる。
また、1ポートで試験を実施できるので、別途試験用のポートを設ける必要が無く、試験光線路に試験部品31を接続するだけで簡便に試験を実施することができる。これにより、図1に示すように、光スイッチ22に試験用のポートを確保する必要が無くなり、光スイッチ22の容積に対する光ファイバ23の実装密度を向上することができるので、光スイッチ22の対応心数の増加や、コンパクト化が可能になる。また、伝送装置側の光線路の試験を省略する場合には、光部品収納ケース7に設ける試験光線路用のポートも一つで済むため、光部品収納ケース7の小型化、低コスト化が可能になる(図1参照)。
また、光パワーメータを使用すること無く試験を行うことができるので、試験を低コスト化することができ、光線路監視システム自体の小型化、低コスト化も可能になる。
【0019】
多心光コネクタ27に着脱可能な光コネクタフェルールを利用して組み立てた試験部品31を、試験光線路の途中に介在された多心光コネクタ27に着脱するだけで試験を実施することができるので、光線路監視システムの試験の作業性が大幅に向上する。すなわち、試験部品31を取り付けるために試験光線路を切断したり、接続用ポートを試験光線路に組み立てる必要が無いので、試験部品31は極めて短時間で試験光線路に取り付けることができる。また、試験部品31を反転させるだけで、第2、第3の手順を連続して実施できるので、作業性が大幅に向上して、試験時間を短縮することができる。
また、この試験部品31を利用したことで、複数(本実施の形態では8心)の試験光線路の試験を連続して効率良く実施することができ、試験時間を一層短縮することができる。
ループバック用の試験光線路を必要としないので、試験を容易に実施することができる。
試験部品31は、多心光コネクタ27に対して着脱が容易であるので、試験後の撤去も極めて短時間で行うことができ、通信光線路の試験等の他の作業に与える影響が少ない。
【0020】
なお、試験部品は、図2に示した構成に限定されず、各種構成の採用が可能である。図2の試験部品31では、反転して多心光コネクタ27と再度接続した際に、試験光線路に接続する無反射ポート31aと全反射ポート31bとが丁度入れ替わる構成であれば良く、例えば、図2において、左側の4つの光ファイバ挿入穴35に無反射ポート31aを形成し、残りの4つの光ファイバ挿入穴35に全反射ポート31bを形成した構成等も採用可能である。また、4心用の多心光コネクタに試験部品31aを装着すると、4心光ファイバテープ心線からなる試験光線路を試験することもできる。試験部品は、4心用のフェルール本体の全ての光ファイバ挿入穴にコアレス光ファイバを固定した構成も採用可能である。この試験部品は、8心用である多心光コネクタ27に装着した際に、多心光コネクタ27側の裸ファイバ24aに各コアレス光ファイバを接続して無反射ポートとして機能させ、かつコアレス光ファイバが接続されない裸ファイバ24aの周囲に空間を形成して全反射ポートとして機能させる。この試験部品では、多心光コネクタ27に対して装着位置を移動することで、試験光線路に対する無反射ポートと全反射ポートとの接続を切り替えることができる。
【0021】
図5は、試験部品の別態様を示す。この試験部品40は、図2に示したフェルール本体32の全ての光ファイバ挿入穴35にコアレス光ファイバ33を固定し、半数のコアレス光ファイバ33のフェルール本体32後方(図5中右奥)に引き出された端部に金蒸着膜等からなる反射手段41を備えている。この試験部品40は、反射手段41が設けられたコアレス光ファイバ33を全反射ポート42として多心光コネクタ27の裸ファイバ24aに接続するようになっている。全反射ポート42を構成する4本のコアレス光ファイバ33は、これらコアレス光ファイバ33を同一被覆材中に一体的に固定したテープ心線を構成しており、このテープ心線の端部を単心に切り分けた部分を光ファイバ挿入穴35に固定している。一方、全反射ポート42を構成しない4本のコアレス光ファイバ33も、これらコアレス光ファイバ33を一体的に固定してなるテープ心線を構成しており、このテープ心線の端部を単心に切り分けた部分を光ファイバ挿入穴35に固定している。なお、反射手段41を設けていないコアレス光ファイバ33を無反射ポート31aとして機能させることは図2の試験部品31と同じである。この試験部品40によれば、コアレス光ファイバ33をフェルール本体32に組み込む工程が在来品の多心光コネクタと同様になるため、簡便に効率良く組み立てることができる。
【0022】
JIS C 5981に制定されるプラスチック製多心光コネクタのフェルールを利用した試験部品は、試験光線路のコネクタ接続箇所に同じタイプの多心光コネクタを使用するだけで試験光線路の随所に接続することが可能になり、これにより試験光線路全線を効率良く試験することができる。例えば、図1に示す光コネクタ28に、試験部品と接続可能な多心光コネクタを使用した場合には、光部品収納ケース25内の試験光線路も含んで、試験光線路の全線に試験を実施することができる。また、長大な試験光線路を試験する場合、この試験光線路の途中に試験部品を付け替えて順次光パルス試験装置に近付きながら試験を繰り返し実施すると、異常箇所の確定等が容易になる。
【0023】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の光線路監視システムの試験方法によれば、以下のような優れた効果を奏する。
(1)試験光線路の適宜箇所に設けた試験ポートに、試験光線路に入射した試験光の反射端を構成する反射手段と、無反射端あるいは低反射端を構成する反射防止手段とを付け替えるだけで試験を実施できるので、簡便かつ低コストで光線路監視システムに試験を実施することができる。
(2)(1)の結果、心線選択装置の光スイッチに試験ポートを確保する必要が無くなるので、光スイッチの対応心数の増加や、コンパクト化が可能になる。
(3)ループバック光用の光パワーメータを使用すること無く試験を行うことができるので、試験を低コスト化することができ、光線路監視システム自体の小型化、低コスト化も可能になる。
(4)第1、第2の工程のいずれか一方、第3、第4の工程の内の第3の工程を先行して実施した後、第1、第2の工程の他方あるいは第4の工程を実施することで、試験光線路の断線以外の各種異常をも確実に検出することができるので、試験の信頼性が向上する。
(5)(4)の結果、光線路監視システムによる通信光線路の試験の信頼性が向上する。
(6)光ループバック用の試験光線路を必要としないので、試験を容易に実施することができる。
(7)(1)の結果、伝送装置側の光線路の試験を省略する場合には、光部品収納ケースに形成する試験用のポートを減少することができ、光部品収納ケースの小型化、低コスト化が可能になる。
【0024】
請求項2記載の光線路監視システムによれば、複数の試験光線路が接続されてなる試験ポートに試験部品を接続して試験を行うので、複数の試験光線路の試験を連続して効率良く実施することができ、試験時間を一層短縮することができるといった優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の光線路監視システムの試験方法を適用する光線路監視システムの一例を示す平面図である。
【図2】 本発明の光線路監視システムの試験方法で使用する試験部品の一例を示す斜視図である。
【図3】 光パルス試験器で観測される時間(距離)と試験光の光損失量(受光強度)との関係を示す図であって、フレネル反射を示す。
【図4】 光パルス試験器で観測される時間(距離)と試験光の光損失量(受光強度)との関係を示す図であって、フレネル反射が観測されない状態を示す。
【図5】 試験部品の別態様を示す斜視図である。
【図6】 従来例の光線路監視システムの試験方法に係る光線路監視システムを示す平面図である。
【符号の説明】
8…試験光線路(試験光配線)、9…通信光線路、20…光パルス試験器(OTDR)、21…心線選択装置、23…試験光線路(単心光ファイバ)、24…試験光線路(多心光ファイバ)、26…試験光線路(多心光ファイバ)、27…試験ポート(多心光コネクタ)、31…試験部品、31a…無全反射ポート、31b…全反射ポート、33…反射防止手段(コアレス光ファイバ)、35…反射手段(光ファイバ挿入穴)、40…試験部品、41…反射手段(金蒸着膜)、42…全反射ポート。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a test method for an optical line monitoring system.
[0002]
[Prior art]
FIG. 6 shows an optical line monitoring system.
In FIG. 6, reference numeral 1 is an optical test apparatus (OPT section), 2 is a core wire selection apparatus, 3 is a light source, 4 is an optical power meter (OPM), 5 is an optical pulse tester (OTDR: Optical Time Domain Reflectometer), 6 Is an optical switch, 7 is an optical component storage case, 8 is a test optical line, and 9 is a communication optical line.
The optical line monitoring system includes an optical test apparatus 1 and a
The optical test apparatus 1 includes a
The communication
[0003]
The
The optical switch 6 corresponds to one or a plurality of optical
The optical
The test optical wiring 8 and the optical fibers 11 and 11a constitute a test optical line together with other optical components in the optical test apparatus 1 and the
[0004]
In this optical line monitoring system, the target optical fibers 8 and 11 are connected to each other by the optical switch 6 so that the target communication
[0005]
By the way, since an optical pulse test of a communication optical line becomes meaningless if there is an abnormality in the optical line of the optical line monitoring system itself, in recent years, a test method for an optical line monitoring system has been proposed.
As an example of this test method, first, two ports of the
In this test method, the incident test light may be fed back to the optical test apparatus 1 through the two test optical wirings 8 and the loop back optical fiber 17, so that the loop back optical fiber 17 is used. Can be attached to the optical fiber 11a by the optical
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in the test method of the optical line monitoring system as described above, there is a problem that the cost of the optical line monitoring system increases because the optical power meter 4 is expensive. The optical power meter 4 functions only to compare the test light intensity looped back in this test with a reference value, and is not used for other tests such as a pulse test of the communication
In addition, in the optical line monitoring system, it is necessary to secure two ports in the optical switch 6 and the optical
[0007]
The present invention has been made in view of the above problems,
(1) Since the number of test ports to be secured in the optical switch and the optical component storage case is reduced, the number of optical switch cores can be increased and the size can be reduced.
(2) Since an optical power meter is not required, the size and cost can be reduced.
(3) Since test parts are simple, the test cost can be reduced.
(4) It is easy to attach the test part to the optical line, and the test optical line in the target range can be easily tested from the optical pulse test device.
(5) It can also be used for testing optical communication lines.
An object of the present invention is to provide a test method for an optical line monitoring system.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problem, the present invention makes a test light incident on a test optical line and enters a communication optical line connected to the test optical line, and the test light is reflected by the test optical line or the communication optical line. An optical pulse tester for observing light to detect abnormalities in the test optical line and the communication optical line; and a core selection device for selectively connecting the test optical line to a plurality of communication optical lines A test method for an optical line monitoring system comprising: a test port provided in a test optical line, a reflecting means is provided to configure a reflection end, and a test light is incident on the test optical line from an optical pulse tester. The first step of observing the reflected light and the anti-reflection end at the test port are replaced with a non-reflection end or a low reflection end, and then the test light is incident on the test optical line from the optical pulse tester and the reflected light is reflected. A second step of observing, the first, After performing in advance one of the second step, the test method for optical line monitoring system which comprises carrying out the other was solutions of the problems.
[0009]
As the test optical line provided with the test port, all the test optical lines of the optical pulse tester and the heart selection device can be adopted. As a result, it is not necessary to secure a test port in the optical switch as in the prior art, and the number of optical switches that can be handled is increased and the optical switch can be made compact. The test port is preferably provided in the optical fiber portion of the test optical line, and this optical fiber may be either a single core or a multi-core.
As the reflection means, various configurations such as a total reflection film and an optical fiber grating can be employed. Moreover, the structure which forms a reflective end by forming space around a test optical line terminal is also employable.
As the reflection preventing means, various configurations such as a coreless optical fiber, a light absorption film, and an optical isolator that prevents reflection only in the test light wavelength band that passes through the filter unit can be employed. Further, the antireflection means does not need to have a configuration that absorbs the test light. For example, a configuration in which the loss of the test light is increased by an optical fiber wound with a small radius can be employed.
[0010]
The first and second steps are preferably performed with test light having the same wavelength. In addition, the order of execution of the first and second steps may be either first.
As the test light wavelength, for example, 1.31 μm, 1.55 μm, 1.65 μm, or the like is employed.
Further, according to the test method of the optical line monitoring system of the present invention, the test light is observed and passed by the optical pulse tester in the first and second steps, and the test light is not looped back. Since an abnormality in the test optical line can be detected, an optical power meter for receiving loopback light is not necessary.
[0011]
In the test method of the optical line monitoring system of the present invention, as described in
[0012]
The test component is connected to a multi-core optical fiber such as a so-called optical fiber ribbon, or a plurality of optical fibers are assembled and connected together. In addition, as a test part, using a multi-fiber optical connector, a reflection means and an antireflection means are incorporated in the ferrule and housing of this optical connector, No reflection A configuration in which a port is formed is preferable, and a configuration using a detachable multi-fiber optical connector is particularly preferable. As the optical connector, for example, various optical connectors such as a plastic multi-fiber optical connector (so-called MT type optical connector: Mechanically Transferable) established in JIS C 5981 can be used. As a result, a multi-connector connector installed in the test optical line is connected to the test port by connecting the test part to the test port, and the test part is replaced with the total reflection port connected to the test optical line. No reflection The third and fourth steps can be performed simply by exchanging the port. In the test part using the plastic multi-fiber optical connector, a total reflection port that connects to the test optical line simply by reversing the direction of the same test part and reconnecting No reflection The port can be exchanged, and workability is greatly improved.
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of an optical line monitoring system according to the present invention will be described below with reference to FIGS.
FIG. 1 shows an optical line monitoring system to which an optical line monitoring system test method according to the present invention is applied.
In the figure, the same components as those in FIG. 6 are denoted by the same reference numerals, and the description will be simplified.
The
In FIG. 1, the optical line monitoring system according to the present invention includes an optical pulse tester 20 (OTDR) and a
In this embodiment, each of the multi-fiber
The
[0014]
FIG. 2 shows a
[0015]
Next, a test method for the optical line monitoring system according to the present embodiment will be described.
[First Procedure] First, the
[Second Procedure] Next, test light having a wavelength of 1.55 μm is incident on the test optical wiring 8 from the optical
[Third Procedure] After completion of the second procedure, the
[0016]
The operation and effect of this optical line monitoring system test method will be described below. First, in the second procedure, No reflection A test of the test optical line related to the bare fiber 24a connected to the port 31a will be described. If Fresnel reflection is confirmed in the test optical line in the second procedure (see FIG. 3), it is found that an abnormality such as a disconnection exists in the test optical line. However, when Fresnel reflection is not confirmed (see FIG. 4), it cannot be determined that the test optical line is normal. That is, when there is a non-reflective (light-absorbing) abnormality due to an optical fiber crushing or the like, there is a possibility that the incident test light is absorbed at this abnormal part and the reflected light is not received by the optical
[0017]
On the other hand, the test optical line related to the bare fiber 24a connected to the total reflection port 31b in the second procedure will be described. When the Fresnel reflection is not confirmed in the test optical line in the second procedure (see FIG. 4). Then, the existence of the above-mentioned non-reflective abnormality is revealed. However, when Fresnel reflection is confirmed (see FIG. 3), there is a possibility that the reflected light is picked up due to disconnection or damage in the middle of the test optical line or poor connection at the connector connection portion. Since it cannot be distinguished from the regular reflected light from the test optical line terminal (the end of the bare fiber 24a), it cannot be determined that the test optical line is normal.
As a result of performing the third procedure for this test optical line, it is found that there is no abnormality if Fresnel reflection cannot be confirmed in the test optical line in which no abnormality is detected in the second procedure (see FIG. 4). If the Fresnel reflection can be confirmed (see FIG. 3), it is found that an abnormality such as disconnection or poor connection exists in the middle.
[0018]
According to the test method of the optical line monitoring system, the test optical line from the optical
Further, since the test can be carried out with one port, it is not necessary to provide a separate test port, and the test can be carried out simply by connecting the
In addition, since the test can be performed without using an optical power meter, the cost of the test can be reduced, and the optical line monitoring system itself can be reduced in size and cost.
[0019]
Since the
In addition, by using this
Since a test optical line for loopback is not required, the test can be easily performed.
Since the
[0020]
The test part is not limited to the configuration shown in FIG. 2, and various configurations can be adopted. In the
[0021]
FIG. 5 shows another embodiment of the test part. In this
[0022]
Test parts using a ferrule of a plastic multi-fiber optical connector established in JIS C 5981 can be connected to various locations of the test optical line simply by using the same type of multi-fiber optical connector at the connector connection position of the test optical line. As a result, the entire test optical line can be efficiently tested. For example, FIG. When a multi-fiber optical connector that can be connected to a test component is used as the
[0023]
【The invention's effect】
As explained above, The present invention According to the optical line monitoring system test method, the following excellent effects are obtained.
(1) Test simply by replacing the reflection means that constitutes the reflection end of the test light incident on the test optical line and the antireflection means that constitutes the non-reflection end or the low reflection end at the test port provided at an appropriate location on the test optical line. Therefore, the test can be performed on the optical line monitoring system easily and at low cost.
(2) (1) As a result, since it is not necessary to secure a test port in the optical switch of the core selection device, it is possible to increase the number of supporting cores of the optical switch and to make it compact.
(3) Since the test can be performed without using an optical power meter for loopback light, the cost of the test can be reduced, and the optical line monitoring system itself can be reduced in size and cost.
(4) First, second One of the processes , The third step of the third and fourth steps After carrying out in advance, Of the first and second steps The other Or the fourth step By performing the above, various abnormalities other than the disconnection of the test optical line can be reliably detected, so that the reliability of the test is improved.
(5) (4) As a result, the reliability of the test of the communication optical line by the optical line monitoring system is improved.
(6) Since a test optical line for optical loopback is not required, the test can be easily performed.
(7) (1) As a result, when the optical line test on the transmission device side is omitted, the number of test ports formed in the optical component storage case can be reduced, and the optical component storage case can be reduced in size and cost. Become.
[0024]
According to the optical line monitoring system according to
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing an example of an optical line monitoring system to which an optical line monitoring system test method of the present invention is applied.
FIG. 2 is a perspective view showing an example of a test part used in the test method of the optical line monitoring system of the present invention.
FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the time (distance) observed by an optical pulse tester and the amount of light loss (light reception intensity) of test light, showing Fresnel reflection.
FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the time (distance) observed with an optical pulse tester and the amount of light loss (light receiving intensity) of test light, showing a state in which no Fresnel reflection is observed.
FIG. 5 is a perspective view showing another embodiment of a test part.
FIG. 6 is a plan view showing an optical line monitoring system according to a test method for a conventional optical line monitoring system.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 8 ... Test optical line (test optical wiring), 9 ... Communication optical line, 20 ... Optical pulse tester (OTDR), 21 ... Core wire selection apparatus, 23 ... Test optical line (single-core optical fiber), 24 ... Test light beam Path (multi-fiber optical fiber), 26 ... test optical line (multi-fiber optical fiber), 27 ... test port (multi-fiber optical connector), 31 ... test part, 31a ... non-total reflection port, 31b ... total reflection port, 33 ... antireflection means (coreless optical fiber), 35 ... reflection means (optical fiber insertion hole), 40 ... test part, 41 ... reflection means (gold vapor deposition film), 42 ... total reflection port.
Claims (2)
試験光線路に設けた試験ポート(27)に反射手段(35、41)を設けて反射端を構成した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第1の工程と、試験ポートに反射防止手段(33)を付け替えて無反射端あるいは低反射端を構成した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第2の工程とを備えてなり、第1、第2の工程のいずれか一方を先行して実施した後、他方を実施することを特徴とする光線路監視システムの試験方法。The test light enters the test optical line (8, 23, 24, 26) and enters the communication optical line (9) connected to the test optical line, and the test light is reflected by the test optical line or the communication optical line. An optical pulse tester (20) for observing the reflected light to detect an abnormality in the test optical line and the communication optical line, and a core for selectively switching the test optical line to a plurality of communication optical lines A test method for an optical line monitoring system comprising a line selection device (21),
After the reflection means (35, 41) are provided in the test port (27) provided in the test optical line to configure the reflection end, the test light is incident on the test optical line from the optical pulse tester and the reflected light is observed. The first step is to change the antireflection means (33) to the test port and configure the non-reflection end or the low reflection end, and then enter the test light from the optical pulse tester into the test optical line and observe the reflected light. A test method for an optical line monitoring system, wherein the first step and the second step are performed in advance, and then the other step is performed.
反射手段により反射端を構成する全反射ポート(31b、42)と、反射防止手段により無反射端あるいは低反射端を構成する無反射ポート(31a)とを備える試験部品(31、40)を、複数の試験光線路が接続されてなる試験ポートに接続して、該試験ポートの試験光線路に全反射ポートと無反射ポートのいずれか一方を接続した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第3の工程と、第3の工程の完了後、試験部品を付け替えて試験光線路に接続する全反射ポートと無反射ポートとを交換した後、光パルス試験器から試験光線路に試験光を入射して反射光を観測する第4の工程とを備えてなることを特徴とする光線路監視システムの試験方法。 The test light enters the test optical line (8, 23, 24, 26) and enters the communication optical line (9) connected to the test optical line, and the test light is reflected by the test optical line or the communication optical line. An optical pulse tester (20) for observing the reflected light to detect an abnormality in the test optical line and the communication optical line, and a core for selectively switching the test optical line to a plurality of communication optical lines A test method for an optical line monitoring system comprising a line selection device (21),
A test part (31, 40) comprising a total reflection port (31b, 42) constituting a reflection end by a reflection means and a non-reflection port (31a) constituting a non -reflection end or a low reflection end by an anti-reflection means, Connect to a test port consisting of a plurality of test optical lines, connect either the total reflection port or non-reflection port to the test optical line of the test port, and then connect the optical pulse tester to the test optical line. After the third step of entering the test light and observing the reflected light, and after the completion of the third step, the test part is replaced and the total reflection port connected to the test optical line is exchanged with the non-reflection port. And a fourth step of observing the reflected light by injecting the test light from the pulse tester into the test optical line.
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