JP3636492B2 - 可飽和吸収体により受動スイッチングする自己配列したモノリシック固体マイクロレーザー及びその製法 - Google Patents

可飽和吸収体により受動スイッチングする自己配列したモノリシック固体マイクロレーザー及びその製法 Download PDF

Info

Publication number
JP3636492B2
JP3636492B2 JP27956494A JP27956494A JP3636492B2 JP 3636492 B2 JP3636492 B2 JP 3636492B2 JP 27956494 A JP27956494 A JP 27956494A JP 27956494 A JP27956494 A JP 27956494A JP 3636492 B2 JP3636492 B2 JP 3636492B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
saturable absorber
cavity
microlaser
laser cavity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP27956494A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07183608A (ja
Inventor
アンジ・モルヴァ
ジャン−ジャック・オウベール
ジャン・マルティ
ジャン−ミッシェル・ノンジ
Original Assignee
コミツサリア タ レネルジー アトミーク
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by コミツサリア タ レネルジー アトミーク filed Critical コミツサリア タ レネルジー アトミーク
Publication of JPH07183608A publication Critical patent/JPH07183608A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3636492B2 publication Critical patent/JP3636492B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/11Mode locking; Q-switching; Other giant-pulse techniques, e.g. cavity dumping
    • H01S3/1123Q-switching
    • H01S3/113Q-switching using intracavity saturable absorbers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/35Non-linear optics
    • G02F1/3523Non-linear absorption changing by light, e.g. bleaching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/02Constructional details
    • H01S3/025Constructional details of solid state lasers, e.g. housings or mountings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/05Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
    • H01S3/06Construction or shape of active medium
    • H01S3/0602Crystal lasers or glass lasers
    • H01S3/0604Crystal lasers or glass lasers in the form of a plate or disc
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/05Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
    • H01S3/06Construction or shape of active medium
    • H01S3/0602Crystal lasers or glass lasers
    • H01S3/0615Shape of end-face
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/05Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
    • H01S3/06Construction or shape of active medium
    • H01S3/0627Construction or shape of active medium the resonator being monolithic, e.g. microlaser
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/09Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping
    • H01S3/091Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping
    • H01S3/094Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light
    • H01S3/094049Guiding of the pump light
    • H01S3/094053Fibre coupled pump, e.g. delivering pump light using a fibre or a fibre bundle
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/09Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping
    • H01S3/091Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping
    • H01S3/094Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light
    • H01S3/094084Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light with pump light recycling, i.e. with reinjection of the unused pump light, e.g. by reflectors or circulators
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/09Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping
    • H01S3/091Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping
    • H01S3/094Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light
    • H01S3/0941Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light of a laser diode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/1601Solid materials characterised by an active (lasing) ion
    • H01S3/1603Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth
    • H01S3/1608Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth erbium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/1601Solid materials characterised by an active (lasing) ion
    • H01S3/1603Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth
    • H01S3/161Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth holmium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/1601Solid materials characterised by an active (lasing) ion
    • H01S3/1603Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth
    • H01S3/1611Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth neodymium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/1601Solid materials characterised by an active (lasing) ion
    • H01S3/1603Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth
    • H01S3/1616Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth thulium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/1601Solid materials characterised by an active (lasing) ion
    • H01S3/1603Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth
    • H01S3/1618Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth ytterbium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/1631Solid materials characterised by a crystal matrix aluminate
    • H01S3/1635LaMgAl11O19 (LNA, Lanthanum Magnesium Hexaluminate)
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/164Solid materials characterised by a crystal matrix garnet
    • H01S3/1643YAG
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/1645Solid materials characterised by a crystal matrix halide
    • H01S3/1653YLiF4(YLF, LYF)
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/1655Solid materials characterised by a crystal matrix silicate
    • H01S3/1661Y2SiO5 [YSO]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/1671Solid materials characterised by a crystal matrix vanadate, niobate, tantalate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/1671Solid materials characterised by a crystal matrix vanadate, niobate, tantalate
    • H01S3/1673YVO4 [YVO]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Lasers (AREA)

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、固体マイクロレーザーに関し、前記マイクロレーザー用キャビティおよび前記キャビティの製法に関する。
【0002】
このマイクロレーザーの主な利点(本明細書の最後に挙げた参考文献1及び2参照)は、多重層の積層体をなすその構造であって、その本質的な特性を構成しているものである。活性レーザー媒質は、150〜1000μmの限定された厚みを有する低次元(数mm2)の物質より構成され、その上には誘電体キャビティ鏡(dielectric cavity mirrors)が直接堆積されている。この活性媒質は、III−Vレーザーダイオードによって励起することができるが、このダイオードは、マイクロレーザー上に直接ハイブリッド化されているか、あるいは光ファイバによって結合されている。マイクロ電子工学の手法を用いた集団生産の可能性は、前記マイクロレーザーの極めて低コストでの大量生産を保証するものである。
【0003】
マイクロレーザーには、自動車産業、環境、科学的計測、遠隔測定法に渡る様々な分野において数多くの応用がある。
既知のマイクロレーザーは、一般的に数ダースmWのパワーを持つ連続放出を有する。しかしながら、前述の応用のほとんどで、平均パワーが数ダースmWであり、10-8〜10-9秒間に数kWのピークパワー(瞬間電力)が要求されている。固体レーザーにおいては、周波数10〜104Hzのパルスモードにて作動させることによって、そのような高いピークパワーレベルを得ることが可能である。こうした目的のために、公知のスイッチングプロセス、例えば、Q−スイッチによるもの(明細書の最後に挙げた参考文献3)が利用されている。
【0004】
より具体的には、レーザーのキャビティのスイッチングは、励起エネルギーがゲイン材料の励起レベルに貯蔵される間のある一定の時間、レーザー効果を妨げる時間変動性の損失をキャビティに加えることからなる。これらの損失はある瞬間に突然減少し、したがって蓄積したエネルギーを非常に短時間のうちに放出し(ジャイアントパルス)、このため高いピークパワーが得られる。
【0005】
いわゆる能動スイッチングの場合は、損失の値は使用者によって外部から制御される(例えば、ビームの経路あるいはその偏光状態のいずれかを変化させる、キャビティ内電気−光学的あるいは音響−光学的の型の回転キャビティ鏡)。貯蔵時間、キャビティ開放時間、及び反復速度は個別に選択することができる。しかしながら、このことが、これに合ったエレクトロニクスを要求するので、レーザーシステムをかなり複雑なものとしているのである。
【0006】
いわゆる受動スイッチングの場合は、可変損失はキャビティに可飽和吸収(SA)として知られる物質の形で導入され、これはレーザー波長と低いパワー密度において高い吸収体であり、前記密度がある臨界値を越えると実質的に透明になるが、これはSAの飽和強度と呼ばれている。
特に、固体可飽和吸収体(明細書の最後に挙げた参考文献4および5)あるいは可飽和吸収体高分子(明細書の最後に挙げた参考文献7および8)を用いた受動的スイッチングは、既に実施されている。
【0007】
既知の可飽和吸収体は、多くの場合、吸収をもたらす有機分子を含んでいる。これらの物質は一般的に液状またはプラスチックの形態であり、それゆえ光学的特性に劣り、劣化が非常に速く、レーザーフラックス(laser flux)に対する抵抗が乏しい(参考文献3)。
固体物質もまた、可飽和吸収体として用いられる。これらの固体物質は結晶成長によって得られ、Cr4+(参考文献5)あるいはEr3+(参考文献6)のような可飽和吸収体イオンがドープされている。
ある場合には、結晶成長によって得られた同じ物質(例えば、YAG)が、同時に活性レーザーイオン(例えば、Nd)および可飽和吸収体イオン(例えば、Cr)を含有している(参考文献4)。
【0008】
このような可飽和吸収体の補助を受けて受動スイッチングされた既知のレーザーにおいては、レーザーキャビティ内部として下記の配置が提案されている。
【0009】
1.第一の配置は図1(a)に示されており、符号1はレーザーキャビティを、2は活性レーザー材料を、3は可飽和吸収体を、4、5はキャビティの入射鏡および出射鏡を示すものである(参考文献3)。一方の端にある可飽和吸収体3と、他方にあるキャビティ1の他の要素との間には、全く接触がない。
この種の装置においては、キャビティの要素を光学的に配列することが必要である。さらにまた、レーザーが使用される際には光学的セッティングが必要であろう。
【0010】
2.図1(b)および図1(c)に示される配置においては、光学的接着剤6(参考文献7)の補助を得て可飽和吸収体3と、鏡4(図1b)あるいは活性レーザー物質2(図1c)との間で接触を確実なものとしている。しかしながら、この接着剤は、接着剤と接着された材料との境界面において剰余吸収率および屈折率の差を導く。さらにまた、接着された要素間に起こり得る平行性の欠陥もまた、レーザーキャビティ中の損失の原因となりうる。
【0011】
3.図1(d)および1(e)は、第三の可能な配置(参考文献4)を示しており、2は同じく活性レーザー物質を示すが、それは活性レーザーイオンと可飽和吸収イオンとが共ドープされている。すなわちこのとき同じ物質が活性媒質および可飽和吸収体として働くのである。よって、レーザー物質と可飽和吸収体の特性を個別に調節することは不可能である。
媒質の厚みは、レーザーモードの構造に影響を与えると同様に、可飽和吸収体の吸収および活性レーザーイオンの吸収の両方にも影響を与える。
【0012】
さらにまた、活性レーザーイオンおよび可飽和吸収体の吸収係数は、それらのイオンの濃度と直接関連しており、これらイオンは結晶成長の間に絶対的に固定され、その後は変更することができない。すなわち、各レーザー配置各々について新たな結晶を製造せねばならない。
最後に、レーザー作用のため及び可飽和吸収体としての両方に同じイオン(例えば、Er)を用いて受動スイッチングされるレーザーの場合、この共ドープ法を用いることは不可能である。それは、同じイオンが、活性イオンとしてあるいは可飽和吸収イオンとして働くには、その濃度が非常にかけ離れているからである。可飽和吸収体とするためには、その濃度は活性レーザー物質とするためよりも極めて高くなければならない。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
本発明はマイクロレーザー用の固体活性物質を有する新規なレーザーキャビティに関するものであり、前述の種々の問題を解決することを可能にするものである。本発明はまた、前記マイクロレーザーキャビティの製法に関するもので、同様に、それを組込んだマイクロレーザーに関するものである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
上記の問題を取り除くために、本発明は、マイクロレーザーの活性材料上に、可飽和吸収体を薄膜の形態で直接堆積することを提案するものである。
より具体的には、本発明は、固体活性媒質と、可飽和吸収体と、入射鏡あるいは入力鏡および出射鏡あるいは出力鏡とを有し、この可飽和吸収体が固体活性媒質上に直接堆積された可飽和吸収体材料の薄膜であることを特徴とするマイクロレーザー用のキャビティである。
【0015】
本発明の主要な利点の一つは、層あるいは膜の多重体からなる、スイッチングされるマイクロレーザー(あるいはマイクロ光学と連携したマイクロレーザーから成るレーザーマイクロシステム)の構造にあり、低コストの集団的生産の実現性を保つことを可能にするものである。この多層構造は、連続マイクロレーザー用に進歩しているような簡便な集団的生産の方法、即ちマイクロレーザーの低コストを損うものではない。これは、自己配列した(self-aligned)、モノリシックの、受動スイッチングされるマイクロレーザー(何らの光学的セッティングなしの)を製造することを可能にし、また、これはデレギュレート(deregulate)され得ない。この構造は接着の操作も複雑な配列の操作も全く要求しない。
【0016】
“共ドープ(codoped)”レーザーと比較して、本発明のマイクロレーザーの他の利点は、活性媒質が可飽和吸収体から分離されていることであるが、その2つの媒質の接着が避けられ、しかもモノリシック構造が維持されていることである。したがって、(層の堆積の間に、あるいは層の堆積に続く機械的な厚みの減縮による)厚みの調整、及び二つの媒質中のイオンの濃度とを独立に調整することが可能であり、一方前記分離の結果として、同一のイオン(例えば、Er)が活性イオンとして、また可飽和吸収体として、異なる濃度で使用されるスイッチングされるレーザーが製造できる。
【0017】
基本となるレーザー材料は、以下より選択することができる。
3Al512(または“YAG”)、
LaMoAl1112(または“LMA”)、
2SiO5(または“YSO”)、
GdVO4
YVO4
YLiF4(または“YLF”)、あるいは他の既知の物質であって、
ネオジム(Nd)、エルビウム(Er)、イッテルビウム(Yb)、ツリウム(Tm)、ホルミウム(Ho)のイオンによってドーピングされ、あるいはEr+Yb(エルビウム+イッテルビウム)あるいはTm+Ho(ツリウム+ホルミウム)を共ドーピングされ、あるいは他の既知のイオンによりドーピングされている。
【0018】
本発明の第1の好ましい実施態様によれば、薄膜は高分子溶媒に溶解した有機染料によって構成されている。特に、その有機染料は、ビス(4−ジエチルアミノジチオベンジル)ニッケル、あるいは、ビス(4−ジメチルアミノジチオベンジル)ニッケルより選択され、溶媒はポリメタクリル酸メチル(PMMA)、ポリビニルアルコール、ポリ酢酸ビニル、ポリスチレン等の溶液である。
【0019】
本発明の第2の好ましい実施態様によれば、薄膜は、液相エピタキシーによって堆積させることができる。特に、薄膜は液相エピタキシーによって堆積され可能であり、その薄膜は、Cr4+あるいはEr3+イオンでドープされた固体活性媒質と同一の基礎材料より構成される。
【0020】
液相エピタキシーするためには、基板と同一の基礎材料、あるいは少なくとも結晶構造(格子)が基板として用いた材料のそれに類似した材料を用いることが必要である。Cr4+ドーピングは1.06μmのレーザーに用いられ、Er3+ドーピングは1.5μmのレーザーに用いられる。
【0021】
本発明の2つの可能性(高分子あるいはエピタキシー膜)の間での、利点及び欠点を以下に挙げる。
高分子に関しては、任意のレーザー材料上に堆積することが可能であるが、エピタキシー膜の場合よりも破壊障壁が低く、より低いエネルギーレベルにて操作を行なう必要がある。さらにまた、レーザー物質と高分子との屈折率の差異は、二つの媒質の間に光学的界面をもたらす。
【0022】
エピタキシー膜に関しては、破壊障壁はレーザー材料のそれと同程度に高い。しかしながら、これまで説明したように、エピタキシーは同じ材料上に(例えば、YAG上のYAG)、あるいは堆積された材料のそれに近い結晶構造(格子)を有する材料上でのみ実施が可能である。このことは応用の範囲を限定するものである。しかしながら、二つの媒質の間に光学的界面が形成されるのを避けるために、エピタキシー膜の屈折率を活性レーザー媒質(エピタキシー基板としてはたらく)のそれに適合させることは可能である。このエピタキシー膜もまた、基板と同等の特性を有する。
【0023】
いずれの場合も、活性材料及び可飽和吸収体の膜の間には、接着は全くない。したがって、剰余吸収、屈折率の差異、また考えられる平行性の欠陥に関連した問題は生じない。
【0024】
薄膜(高分子あるいはエピタキシー膜)では、可飽和吸収体の膜あるいは層の厚みは、固体可飽和吸収体の場合よりも格段に小さい。即ち、数ミクロン(1〜10μm)の高分子膜あるいは百ミクロン(1〜500μm)のエピタキシー膜が、レーザーの作動に適切な吸収係数を得るのに充分である。したがって、このように限定された厚み結果として、モノリシックマイクロレーザーは全体に小さな寸法となる。
【0025】
本発明により提供される別の可能性によれば、これまでに述べたマイクロレーザーキャビティは、第2の可飽和吸収体膜を有する。
完全なレーザーキャビティを得るために、入力面上に誘電体多重層の堆積により製造される二色鏡が、出口面上の、SA層の上に同様の方法で製造される出射鏡が提供される。
また、レーザー材料上に直接エッチングされたマイクロレンズ・アレーを、レーザー材料の上、入射鏡を形成する誘電体多重層の下に提供することも可能である。
【0026】
本発明はまた、これまで説明した型のキャビティ及び活性固体媒質に対する光学的励起手段を有するマイクロレーザーに関する。好ましくは、励起手段は少なくとも一つのレーザーダイオードからなる。
マイクロレーザーを構成する前記の要素は全て、アセンブリ箱、ケース、機械的支持体中に一体化することができる。あるいはまた、マイクロレーザーキャビティを収容した第1のケース、光学的励起手段を収容した第2のケース、及びその2つのケース間の光ファイバ型光学的接続とを有することも可能である。
【0027】
本発明は前述のレーザーマイクロキャビティの製法にも関連する。この製法は以下の段階を含む:
固体活性媒質を構成する材料の、予め決定した厚みでの、コンディショニング段階、及び、可飽和吸収体薄膜を上記の段階により製造された材料の一方の面あるいは両方の面上に直接形成する段階。
【0028】
上記製法の第1の好ましい実施態様によれば、薄膜はワーラー(Whirler)で堆積される。これは、高分子溶媒に溶解した有機染料より形成されるのが望ましい。
有機染料は、ビス(4−ジエチルアミノジチオベンジル)ニッケル、あるいはビス(4−ジメチルアミノジチオベンジル)ニッケルから選択され、溶媒は、ポリメタクリル酸メチル(PMMA)か、ポリビニルアルコールか、ポリ酢酸ビニルか、ポリスチレンの溶液とする。
【0029】
この製法は、単純な製造段階のみを用い、レーザーマイクロキャビティの低コストでの大量生産の可能性を提供するものである。再度、キャビティ要素の光学的配列は全く必要ない。
【0030】
この製法の他の好ましい実施態様によれば、薄膜は液相エピタキシーにより堆積される。
薄膜は活性レーザー媒質のそれと同一の基礎材料から形成され、前記基礎材料はCr4+あるいはEr3+でドープされている。それゆえ、その上に堆積される材料に類似した結晶構造(格子)をもつ材料を用いれば充分である。
【0031】
この実施態様は、先に述べた実施態様と同様の、簡単で、経済的で、いかなる配列も接着も必要としないという利点をもたらす。
【0032】
好ましくは、上記の製法には、レーザー材料の表面にマイクロレンズ。アレーを直接形成する補足段階を加えることができる。特に、前記マイクロレンズはレーザー材料上で直接エッチングすることができる。
最後に、誘電体多重層を堆積することによって、キャビティの入射または入力鏡および出射または出力鏡を形成する段階を提供することも可能である。
これら二つの補足段階は、決してこの製法の簡潔さを減ずるものでなく、経済性を低下させるものでもない。
【0033】
以下に、本発明の実施例と添付した図面を参照して本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はそれらに限定されるものではない。
【0034】
本発明は、固体活性媒質と、前記媒質に薄膜状に直接堆積された可飽和吸収体とを有するマイクロレーザーキャビティに関する。前記構造の好適な実施態様は、図2(a)に示されており、活性媒質8と可飽和吸収体薄膜12とが、レーザーキャビティを閉鎖する2枚の鏡14および15の間に配されている。符号10は、キャビティ全体を示している。
【0035】
従来の方法では、活性材料8を形成する材料が、1.06μm近辺のレーザー放出のためにネオジム(Nd)を用いてドープされる。その材料は、例えば次の材料の中から選択され得る:YAG(Y3Al512)、LMA(LaMgAl1119)、YVO4、YSO(Y2SiO5)、YLF(YLiF4)、またはGdVO4。この選択は、次の基準によって調節されるが、応用によっても変わる。
【0036】
以下に示すように、レーザーキャビティ1は光学的に励起されるが、好ましくは一つ以上のレーザーダイオードを用いて光学的に励起される。そのため第一の基準は、励起波長における吸収係数が高いことである(例えば、1mmより小さい限られた材料の厚さを維持したまま、励起効率を増加させるための800nm近辺でのIII−Vレーザーダイオード放出)。
【0037】
レーザーダイオードの波長安定性の問題を処理し、よってレーザー励起ダイオードの選択および電気的調節を簡単化するために、約800nmでの励起波長における吸収帯が広いこと。
【0038】
高い出力レベルと効率とを得るために、誘導放出の有効断面が大きいこと。
単一周波数レーザーを簡単に得るためのに、放出帯の幅が限られていること、または逆に、周波数可変レーザー放出を得るために、放出帯が広いこと。
【0039】
材料の加工を簡易にし、励起の吸収による発熱の良好な消費に不利になる熱効果を制限するために、加工熱的特性が良好であること(前記過剰熱はレーザーのエネルギー効率による)。
【0040】
高度のエネルギー貯蔵のために、励起状態での寿命が長いこと、または速い切り替え速度のために寿命が短いこと。
一つのレーザー結晶で最大数のマイクロレーザーを同時に集団的に作成することが可能であるために寸法が大きいこと。
【0041】
一般的に、既知のどの材料も、これらの基準の全てを同時に満足するものはない。しかしながら、既知の材料の中で、マイクロレーザーの操作に最も適したもの(数百マイクロ秒の匹敵する寿命期間を有する)は以下の通りである。
YVO4は、高い係数と、広い吸収帯と、良好で効果的な断面とを有しているが、その熱伝導性は乏しく、小さい寸法のもののみしか得られず、壊れやすい。
YAGは、平均的な吸収係数と誘導放出有効断面とを有するが、その放出および吸収帯の幅が小さい。しかし、大寸法と良好な温度伝導性とで有用であり、ネオジム(Nd)でドープされ、最も知られた固体レーザー材料であり、かつ現在最も広く用いられている。
LMAは、低い吸収係数と有効断面、広い放出および吸収帯を提供し、大きな寸法を有するが、温度伝導性が乏しい。
【0042】
他の波長での放出のために、異なる材料とドーパントが選択される。一般に、活性イオンが以下から選択される。
1.06μm近辺での放出にはNd、
1.5μm近辺での放出にはErまたはエルビウムーイッテルビウムEr+Ybの共ドーピング、
2μm近辺での放出にはTmまたはHoまたはツリウム-ホルミウムの共ドーピング。
【0043】
他の決定的なパラメーターは、活性媒質2の厚さeである。さらに詳しくは、図3(a)と3(b)とに示されており、一方は幅eのレーザー増幅媒質2であり、他方は増幅媒質のファブリーーペロット(Fabry-Perot)モードのスペクトル分布図を示している。このスペクトル分布図では、モードの周囲はゲインバンドを示し、dgはゲインバンドの幅を、dvはモードの間隔を示している。縦軸は任意の単位での強度がプロットされ、一方横軸は周波数の目盛りである。
【0044】
厚さeは、マイクロレーザーの特性を調節する。一方、厚さが増すほど励起ビームの吸収が強くなる。従って、I0を入射面での投射励起の強度とし、aを吸収係数であるとすると、厚さeに吸収される強度は次式によって与えられる。
吸収されるI=I0(1−e-ae
【0045】
一方、ファブリーーペロットキャビティの縦方向モードの総数は、厚さにより増加し、もし縦方向の単一モードレーザーを製造することを望むなら、前記厚さは小さくなければならない。従って、厚さeの平面ー平面ファブリーーペロットキャビティでは、二つのファブリーーペロットモードの間の自由なスペクトル周期dvは、次式によって与えられる:
dv=c/2e
但しcは光速である。もし、dgが材料の(レーザー放出の)ゲインバンドの幅であれば、モードの総数Nは次式によって与えられる。
N=dg/dv
【0046】
従って、与えられた材料(aおよびdgが与えられている)にとっては、eが増加したときに励起吸収が増加するが、Nも同様に増加してしまう。単一周波数レーザーについて、一般的に、最小厚さはN=1とするように選ばれ、前記厚さが100μmより大きいと与えられる。単一モードを与える典型的な厚さは以下の通りである。
YAG L=750μm、
YVO4 L=500μm、
LMA L=150μm。
実際は、厚さeは、100μmと5mmの間で連続的に変化する。
【0047】
可飽和吸収体12(図2(a)および2(b))は、薄層または薄膜状である。二つの型の薄膜が使用され得る、すなわち可飽和吸収体の分子を含む高分子である。典型的に、1.06μmでのマイクロレーザーには、可飽和吸収体としてビス(4−ジエチルアミノジチオベンジル)ニッケルまたはBDN(コダック、CAS番号51449-18-4)のような有機色素を、クロロベンゼンに6重量%のポリメタクリル酸メチル(PMMA)を含有する溶液中に含むものを使用することができる。
【0048】
ポリビニルアルコール、ポリ酢酸ビニルまたはポリスチレンのような他の高分子は、PMMAの代わりにそれぞれの溶媒中で使用され得る。
また、ビス(4−ジメチルアミノジチオベンジル)ニッケルまたはBDN(コダック、CAS番号38465-55-3)を色素として使用することも可能である。
また、その色素は、シリカゲルに取り込ませたり、高分子鎖にグラフトさせることができる。
【0049】
ジチエンの多数の他の金属複合体が、色素として使用され得る(参考文献8と9が明細書の最後に与えられている)。
その方法は、1.06μm以外の波長で作動するレーザーをスイッチングするためにも使用され得る。例えば、1.5μm近辺で放出するエルビウムまたはEr+Yb複合体をドープされたレーザーは、テトラエチル-オクタヒドロテトラアザペンタペンージチオレートーニッケルを用いてスイッチングされる(参考文献9)。この型の溶液は、ワーラーを用いてレーザー材料に直接堆積される(以下の調製工程参照)。これによって、厚さが約1〜5μmの薄膜が得られる。
【0050】
他のタイプの薄膜は、液相エピキタシー(LPE)によって、レーザー材料に直接、または同じ堆積(同じ材料、同じドーピング、同じ特性)、より一般的な用語では、LPEによって得られうる膜を与えることのできる他の工程によって堆積される。LPE調製工程は、以下に記載されるが、固体活性媒質によって構成された基板1上に、厚さ1〜500μmの間の薄膜を得ることを可能にする。それは、固体活性媒質(例えばYAG)の基礎材料と同様の基礎材料によって構成されるが、それに可飽和吸収体特性を与えるイオンがドープされており、例えば1.06μmレーザーにはCr4+、または1.5μmレーザーにはEr3+がドープされている。
【0051】
従って、ドーパントのタイプは、スイッチングが望まれるレーザーに合わせられ、そのためエピタキシーによる膜は、前記レーザーの放出波長における可飽和吸収を有する。それゆえ、活性レーザー材料および可飽和吸収体薄膜は、同じ結晶構造を有し、前記二つの媒質の結晶および光学的特性に影響を与えるドーパントによる違いだけを有する。二つのケースにおける薄膜の特性は、非常に重要な点で異なる。
【0052】
従って、破壊障壁は、各々の薄膜のタイプに対して決定される。レーザーキャビティにおけるあるパワー密度を越えて、可飽和吸収体薄膜を破壊することが可能である。破壊障壁と呼ばれるこの限界パワー密度は、LPEー堆積薄膜のケースより、有機色素を用いたポリマーのケースにおいてより低くなる。第1のケースでは、その結果として、第二のものに比べて、キャビティにおいてより低いエネルギーで作動する必要がある。
【0053】
加えて、一方のケースでは、レーザー材料8とポリマー12との屈折率差は、二つの媒質の間に光学的界面をもたらす。他のケースでは、同じ材料にLPEを行なう(例えば、YAG上にYAG、ドーピングのみが異なる)ことができるのみで、適用の範囲を制限するが、エピタキシーによる薄膜の屈折率を、エピタキシー基板として適する活性レーザー媒質のそれに調整することを可能にし、それゆえ二つの媒質の間の光学的界面の形成を避ける。
【0054】
最後に、薄膜の性質はレーザーパルスの時間形に影響する。エピキタシーによる薄膜のケースでは、不純物を含むイオン(Cr4+、Er3+)は、約1マイクロ秒のかなり長い崩壊時間を有するのに対し、ポリマーに溶かされた有機色素のケースでは、色素の崩壊時間が非常に短い(〜1ns)。これらの特性は、予定された使用により薄膜の選択を明らかに調節する。
【0055】
発明の他の実施態様によれば、図4(a)に図示したように、活性レーザー材料8の両側に可飽和吸収薄膜12、22を堆積することが可能であり、より多くの励起ビームを吸収することが可能であるが、前記ビームが入射する側に配された薄膜は、励起ビームによるグレーターウェア(greater wear)を受けやすい。符号14および15は、キャビティの入射鏡および出射鏡を示している。
【0056】
任意にそして図5(a)に示すように、従来の方法(明細書の最後の参考文献10)によって、シリカのような透明な材料から作られたマイクロレンズ16のアレーを形成すること、またはレーザー材料8の表面上に類似したものを形成することが可能である。マイクロレンズの典型的な寸法は、百〜数百ミクロンの直径、かつ数百マイクロメーター〜数ミリメーターの湾曲半径である。
【0057】
これらのマイクロレンズは、二番目、すなわち可飽和吸収薄膜22の入射面に存在するケースである図2(b)または4(b)に示された凹みのある平面型の“安定した”キャビティ(平面−平面キャビティは安定ではない)を製造するために使用される。光学的励起の場合において、それらは励起ビームの集光をも可能にする。
【0058】
完全なレーザーキャビティを製造するために、その可飽和吸収体または薄膜または複数の薄膜を有する活性媒質が二枚の鏡14、15の間に配されている。既知の工程によって堆積された入射鏡は、好ましくは、レーザーの波長において最大の反射性(100%にできるだけ近い)を有し、かつ励起波長(一般に、Ndドープされた材料では約800nm、Erドープされた材料では980nmおよびTmドープされた材料には780nm)において最高(>80%)の透過を有する二色鏡がよい。出射鏡も二色型のものであるが、数パーセントのレーザービームの通過を許容する。従って、レーザーキャビティは、図2(a)、2(b)および4(a)、4(b)の通りの構造で得られる。
【0059】
そのような構造の利点は、直ちに現れるものであり、その理由としては、活性媒質が活性レーザーイオンと可飽和吸収体イオンとを共ドープした構造に関連した問題を避ける一方、異なる要素の光学的配列に時間を必要とせず、かつ光学的接着も全く取り入れないからである。
キャビティのこのタイプの励起は、好ましくは、光学的励起である。従って、III−Vレーザーダイオードは、特にマイクロレーザーキャビティの励起に適している。
【0060】
図6(a)に示すように、マイクロレーザーキャビティ18は、励起レーザーダイオード20を受けるために、メカニカルボックスまたはケース17に設置され得る。符号21は、パルスされたレーザービームを示している。図6(b)に示された実施態様の通りに、二つの分離したケース17-1と17-2とを有することも可能であり、一方はマイクロレーザーキャビティ18を受けるためであり、もう一方は励起レーザーダイオード20を受けるためであって、二つのケースは、それぞれの箱(25-1、25-2)に備えつけられたコネクターにより光ファイバー23によって接続されている。
【0061】
本発明は、前述のタイプのマイクロレーザーキャビティの製造工程にも関連する。
この工程は、7つの連続する段階を含んでいる。
1)第一の段階は、活性レーザー材料の選択からなる。異なる可能な材料(YVO4、YAG、LMA等)および専門家にこれらの材料の中から選択することを可能にする異なる基準の記述は既に前述されている。
2)第二段階(図7参照)は、レーザー結晶31の調節段階であり、方向が定められ、かつ0.5〜5mmの間の厚さの薄板に切断される(32、33、34、35)。
【0062】
3)第三段階は、薄板の研磨およびつや出しを含み、二つの目的を有している。即ち一方は、切断操作の原因による表面冷却ワーキングコーティングを除去すること、もう一方は、ラ薄板の厚さを、マイクロレーザーの設計明細書よりわずかに大きなレベルにすることであり、従って、前述したように、活性媒質の厚さは重要な基準であり、マイクロレーザーの特性を調節するものである。
最終厚近くまで研磨された薄板は、光学特性を有する両表面のつや出しが行われる。切断、研磨およびつや出しは、既知の機械を用いた既知の工程で行われる。
4)薄い可飽和吸収体薄膜を調製および堆積する段階。上述したように、本発明による製造工程の二つの好ましい実施態様に相当する、二つのタイプの堆積がなされ得る。
【0063】
a)堆積の第1の型:高分子に溶解した可飽和吸収体有機色素の堆積。
典型的に、1.06μmで作動するマイクロレーザーの対して、可飽和吸収体として使用可能なのものは、ポリメタクリル酸メチル溶液中の、ビス(4−ジエチルアミノジチオベンジル)ニッケルまたはBDN(コダック、CAS番号51449−18−4)のような有機色素である。
【0064】
この目的のために、6重量%のポリメタクリル酸メチル(ポリサイエンス平均重量)を含むクロロベンゼン(プロラボ(Prolabo))溶液を24時間撹拌して調整した。引き続き、0.2重量%のBDNを加え、さらに2時間撹拌した。次に、溶液をろ過し、基板の出射面(二色鏡を有する入射面の反対)に滴状に堆積させ、さらに遠心、円運動を使用した。この目的のために、ワーラー、即ち、リソグラフィ操作で使用される樹脂を堆積させるためのマイクロエレクトロニクスで使用されるような標準的な装置を使用することができる。研磨工程による微量不純物のすべては、予め基板から取り除かれた。それは、2000r.p.m.で20秒間、次に5000r.p.m.で30秒間回転された。さらに、膜を70℃オーブン中で2時間乾燥させた。
【0065】
これにより、3%の活性分子(BDN)を含み、その飽和に先立つ1.06μmにおける光学密度が0.13(74%の伝達)である厚さ1μmの膜が与えられる。そのような可飽和吸収体は10nsに近い緩和時間を持ち、1MW/cm2に近い強度で飽和する。
【0066】
高分子の濃度パラメータ、その分子量またはその溶媒、あるいは色素比率、及びワーラーの回転速度を変えることにより、可飽和吸収体のパフォーマンス特性を調整することができる。得られた典型的な内訳は以下の通りである。
膜厚:1から5μm
分子の密度:5から10重量%
色素:BDN、mm=685g
ガラス転移:Tg=78℃
1.06μmでの吸収:10から70%
飽和速度:90%
有効断面積:10-16cm2
緩和時間:2から15ns
飽和強度:0.1から1MW/cm2
膜の不均一性:1cm2で<5%
分極速度:<10-5
800nsでの損失:<1%
反復振動数:10−10,000Hz
光安定性:108
堆積方法:ワーラー
【0067】
ポリビニルアルコール、ポリ酢酸ビニル、またはポリスチレンのような他の高分子の、それら個々の溶媒中のものが、PMMAの代わりに使用することができる。ビス(4−ジメチルアミノジチオベンジル)ニッケルまたはBDN(コダック、CAS番号38465−55−3)を、色素として使用することもできる。
色素は、シリカゲルに取り込むこともできるし、高分子鎖にグラフトさせることもできる。
他の波長に対しては、他の多くのジチエン金属錯体を色素として使用することができる(参考文献8及び9)。
【0068】
この方法は、1.06μm以外の波長で作動するスイッチング・レーザーにも使用することができる。例えば、1.5μm周辺で放出するErまたはEr+Ybレーザー(ErまたはEr+Ybをドープした材料で、活性イオンはErである)は、テトラエチルオクタヒドロテトラアザペンタフェン−ジチオレート−ニッケルでスイッチングされる(参考文献9)。
【0069】
b)堆積の第二の型:液相エピタキシー(LPE)による膜の堆積
可飽和吸収体、即ちSA膜は、堆積された基板を、適宜に選択された過飽和溶液に浸漬することにより得られる。前記溶液即ちエピタキシー・バスは、溶媒と、最終的な材料を形成する異なった要素からなる溶質の混合物である。基板と膜とは同じ結晶構造を有し、膜の結晶性と光学特性に影響を与えるドーパントのみが異なっている。Nd、ER、及びYbのような活性イオンは材料を増幅し、他のイオン(Cr、Er)はSA特性を与え、さらに他のイオンは材料の屈折率または結晶格子を変化させるために使用される(例えば、Ga、Ge、Lu等)。従って、製造される膜の特性を制御することが可能である。
【0070】
この方法は、単結晶の形で、液層エピタキシーによって製造可能な材料(基板の製造)にも適用できる。これは、上記の材料を活性レーザー媒質:Y31512(YAG)、Y2SiO5(YSO)、YVO4、YLiF4(YLF)またはGdVO4の基礎材料とした場合である。バスの組成(溶液及び置換体の選択)、異なった酸化物の溶質における濃度、実験的成長条件(温度範囲、作動モード等)は、各材料について、できる限り良好な結晶特性を有する膜を得るように調整される。
【0071】
ガーネット(YAG)の場合、選ばれた溶媒はPbO/B23混合物であり、溶質は、ガーネット相を安定させるために、過剰のAl23からなる。そして、溶質/溶媒比率は、約1000℃での成長が得られるように計算された。
【0072】
バス組成、温度、及び堆積時間の関数として、厚さ(1<e<200μm)及び膜中のドーパント濃度が調整できる。膜の成長は一定温度で起こり、これにより膜の厚さにおいて均一なドーパント濃度を得ることが可能になる。基板は、交互のまたは一方向の回転運動をなし、良好な厚さの均一さを導く。
【0073】
活性レーザー材料の一方の表面を、バスの表面部に浸漬させるか、あるいは、これを両方の面に適用し、レーザー材料全体をバス中に浸漬するかによって、1枚または2枚のSA膜を備えた基板(図2a、2b、4a、4b)を製造することができる。
得られたエピタキシー成長した面は、おそらくエピタキシー工程によって生じる凸凹を取り除くため、及び、その膜の厚さを、マイクロレーザーの作動のために設定された厚さにするために再研磨することができる。
【0074】
5)入射鏡の堆積段階。
二色鏡は、商業的に入手可能な周知の方法である誘電体多重層の堆積によって得られる。段階5(入射鏡堆積)は、SA高分子が堆積される場合は、段階4の前または後に行われてよいが、高温で行われ、鏡を破壊する可能性のある液相エピタキシーの場合は、段階4の後に行われなければならない。
【0075】
6)膜上での出射鏡の堆積段階
段階5)でなされたものと同じ方法を使用する。
7)マイクロレーザー・チップを得るための薄板切断段階(図8参照)。
【0076】
数mm2の断面を持つレーザー・チップを得るために、鏡、可飽和吸収体、及び活性レーザー媒質、及び任意にマイクロレンズを有するプレート36が、(マイクロエレクトロニクスのSiチップ切断用に使用される型の)ダイヤモンド・ソーによって切り出される(図8の、プレート36上のラインは切断ラインを表している)。
【0077】
段階3)で得られた研磨された薄板の一方または他方の表面上に、マイクロレンズ・アレーを製造することが望まれるならば、段階4)の前に補足的段階を使用できる。
前記補足的段階の好ましい実施態様は、昨今マイクロエレクトロニクスにおいて使用されている方法を用いて、レーザー材料上にマイクロレンズを直接エッチングすることからなる。
この段階の他の実施態様は、第1に他の材料上に前記マイクロレンズを製造し(光官能性樹脂、シリカ等)、次にそれらをレーザー材料8の研磨面と(光学的接着剤11でのボンディングまたはフェース・トゥ・フェース接触によって)ハイブリッド化する(図5b)。
【0078】
上述の製造方法は、自動車のような分野の応用に不可欠な、マイクロレーザーの低コストでの大量生産の可能性を提供する。
さらに、そのようにして製造されたマイクロレーザーは、上述したような利点を有する。即ち、モノリシックであり、すなわち柔軟に使用でき、光学的セッティングまたはアライメントを必要としない。なぜならば、モノリシック製造工程は、レーザーの自己配列(self-alignment)をさせるからである。
【0079】
マイクロレーザーの工業的に可能な応用の中で、レーザー遠隔計測法、レーザー加工及びマイクロマシニング、パワー・レーザー用レーザー注入、Heマグネトメトリ(magnetometry)、不純物検出、科学及び医学装置を挙げることとができる。
【0080】
さらに、マイクロレーザーとマイクロ光学技術(マイクロレンズ)とを組み合わせることにより、大量生産と低コストの利点は維持したままで、マイクロレンズのパフォーマンス特性(安定したキャビティ、ポンプ集中)の改善、次のような特別な応用に対する光マイクロシステムの製造を可能にする。即ち、2Dアレー(光学的アドレッサブルな)の製造、マイクロ−リダー(micro-lider)(風速、汚染、等の遠隔検出)、自動車用の障害物検知、レーザー遠隔計測法、低コストでコンパクトなレーザー加工機械である。
【0081】
これらの応用のうちいのくつか、特に加工、マイクロ−リダー、障害物検地、及び遠隔計測法は、高いピーク・パワー、従って、スイッチされた操作を必要とする。本発明のマイクロレーザーは、そのような応用に非常に適している。
【0082】
本明細書中で引用した参考文献は以下の通りである。
1.N. Mermilliod, et al., Appl. Phys. Letters 59(27), 3519 (1991).
2.J.J. Zayhowski, The Lincoln Laboratory Journal 3(3), 427 (1990).
3.W. Koechner "Solid State Laser Engineering", Springer-Verlag 1988.
4.Shouhuan Zhou, et al., Optics Letters 18(7), 511 (1993).
5.I.J. Miller, et al., Advanced Solid State Lasers conf., Santa Fe 1992.
6.K. Spariosu, et al., Appl. Phys. Letters 62(22), 2763 (1993).
7.R. Wisnieff, et al., Laser Cartridge Concept Development Study, Final report. Army electronics command, Fort Monmouth, NJ, report No: 1294-R-0018; ECOM-74-0376-F, April 1976.8.K.H. Drexhage, et al., Optics Communications 10(1), 19 (1974).
9.Mueller-Westerhoff, Mol. Cryst. Liq. Cryst. 183, 291 (1990).
10.A. Eda, et al., CLEO'92, paper CWG33, p.282 (Conf. on Laser and Electro-optics, Anaheim, USA, May 1992).
【図面の簡単な説明】
【図1】 (a)から(e)は、従来の技術によるレーザーマイクロキャビティの可能な変形を示す図である。
【図2】 可飽和吸収体を備えた、平板−平板・モード(a)及び凹み平板(b)の、本発明によるマイクロレーザー・キャビティを示す図である。
【図3】 厚さeのプレーン−プレーン・ファブリー−ペロット・キャビティにおけるモードの分布を示す図である。
【図4】 2枚の可飽和吸収体を備えた、平板−平板・モード(a)及び凹み平板(b)の、本発明によるマイクロレーザー・キャビティを示す図である。
【図5】 活性レーザー材料のエッチングにより直接堆積した(a)、または、まず他の材料上に堆積し、次いでレーザー材料の研磨面にハイブリッド化した(b)マイクロレンズ・アレーを示す図である。
【図6】 光学的励起手段を備えた本発明のマイクロレーザーを示す図であり、異なる要素は各支持容器に支持されている。
【図7】 本発明のレーザー・マイクロキャビティの製造方法の段階を示す図である。
【図8】 マイクロレーザー・チップを、レーザー材料(任意にマイクロレンズを備えた)の多層膜、可飽和吸収体、及び鏡からなる薄板に切り出す工程を示す図である。
【符号の説明】
1…レーザーキャビテイ、2…活性レーザー材料、3…可飽和吸収体、8…活性媒質、10…マイクロレーザーキャビティ、12…可飽和吸収体、14…入射鏡、15…出射鏡、17…容器、18…マイクロレーザーキャビティ、20…励起レーザーダイオード、21…レーザービーム、23…光ファイバ

Claims (20)

  1. 固体活性媒質、可飽和吸収体、入射鏡及び出射鏡を有し、その可飽和吸収体が、前記固体活性媒質上に直接堆積された可飽和吸収体材料の薄膜であり、前記可飽和吸収体材料薄膜は、溶液から形成され、可飽和吸収体の分子を含んだ高分子から構成されているか、又は有機色素を含んだシリカゲルから構成されていることを特徴とするマイクロレーザー用レーザーキャビティ。
  2. 前記固体活性媒質が、ネオジム(Nd)、エルビウム(Er)、ツリウム(Tm)、ホルミウム(Ho)のイオンで、またはエルビウム及びイッテルビウム(Er+Yb)の共ドープ、あるいはツリウム及びホルミウム(Tm+Ho)の共ドープを伴ってドープされた、Y3Al512、LaMgA1119、YVO、Y2SiO5、YLiF4またはGdVO4から選ばれた基礎材料からなることを特徴とする請求項1記載のレーザーキャビティ。
  3. 前記薄膜が、高分子溶媒中に溶解した有機色素から形成されることを特徴とする請求項1または2記載のレーザーキャビティ。
  4. 前記有機色素が、ビス(4−ジエチルアミノジチオベンジル)ニッケルまたはビス(4−ジメチルアミノジチオベンジル)ニッケルから選ばれ、前記溶媒が、ポリメタクリル酸メチル(PMMA)、ポリビニルアルコール、ポリ酢酸ビニルまたはポリスチレンの溶液であることを特徴とする請求項3記載のレーザーキャビティ。
  5. 前記レーザーキャビティが、第2の可飽和吸収体膜を有していることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載のレーザーキャビティ。
  6. 固体活性媒質上に直接形成されたマイクロレンズ・アレーを備えたことを特徴とする請求項1記載のレーザーキャビティ。
  7. 前記入射鏡及び出射鏡が二色鏡であることを特徴とする請求項1記載のレーザーキャビティ。
  8. 請求項1記載のレーザーキャビティと、そのキャビティを励起するための光学的手段とからなることを特徴とするマイクロレーザー。
  9. 前記励起手段が、少なくともひとつのレーザーダイオードであることを特徴とする請求項記載のマイクロレーザー。
  10. 前記レーザーキャビティ及び前記光学的励起手段が、同じ容器内に取り付けられたことを特徴とする請求項またはのいずれかに記載のマイクロレーザー。
  11. 前記レーザーキャビティ及び前記光学的励起手段が、異なる容器に取り付けられ、それぞれの容器内にあり、その2つの容器が光ファイバで連結されたことを特徴とする請求項またはのいずれかに記載のマイクロレーザー。
  12. 予め決められた厚さの材料で、固体活性媒質を形成する調整段階と、その先行段階に従って調整した材料の一方の面に可飽和吸収体膜を直接形成する段階とからなり、前記可飽和吸収体材料薄膜は、溶液から形成され、可飽和吸収体の分子を含んだ高分子から構成されているか、又は有機色素を含んだシリカゲルから構成されていることを特徴とする請求項1からのいずれかに記載のレーザーキャビティの製法。
  13. 前記薄膜がワーラーで堆積されることを特徴とする請求項12記載の製法。
  14. 前記薄膜が高分子溶媒に溶解した有機色素から形成されることを特徴とする請求項12又は13のいずれかに記載の製法。
  15. 前記有機色素が、ビス(4−ジエチルアミノジチオベンジル)ニッケルまたはビス(4−ジメチルアミノジチオベンジル)ニッケルから選ばれ、前記溶媒が、ポリメタクリル酸メチル(PMMA)、ポリビニルアルコール、ポリ酢酸ビニルまたはポリスチレンの溶液であることを特徴とする請求項14記載の製法。
  16. 前記固体活性媒質が、ネオジム(Nd)、エルビウム(Er)、ツリウム(Tm)、ホルミウム(Ho)のイオンで、またはエルビウム及びイッテルビウム(Er+Yb)の共ドープ、あるいはツリウム及びホルミウム(Tm+Ho)の共ドープを伴ってドープされた、Y3Al512、LaMgA1119、YVO、Y2SiO5、YLiF4またはGdVO4から選ばれた基礎材料からなることを特徴とする請求項12から15のいずれかに記載の製法。
  17. 第2の可飽和吸収体膜が前記活性レーザー材料の他方の面に堆積されることを特徴とする請求項12から16のいずれかに記載の製法。
  18. 前記レーザー材料上に、微小レンズ・アレーを直接形成する補足段階を備えることを特徴とする請求項17記載の製法。
  19. 前記微小レンズ・アレーが,前記活性レーザー材料上で直接エッチングされることを特徴とする請求項18記載の製法。
  20. 誘電体多層体の堆積によりキャビティの入射鏡及び出射鏡を形成することを特徴とする請求項12から19のいずれかに記載の製法。
JP27956494A 1993-11-15 1994-11-14 可飽和吸収体により受動スイッチングする自己配列したモノリシック固体マイクロレーザー及びその製法 Expired - Fee Related JP3636492B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9313564A FR2712742B1 (fr) 1993-11-15 1993-11-15 Microlaser solide, monolithique, autoaligné, à déclenchement passif par absorbant saturable et son procédé de fabrication.
FR9313564 1993-11-15

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07183608A JPH07183608A (ja) 1995-07-21
JP3636492B2 true JP3636492B2 (ja) 2005-04-06

Family

ID=9452835

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27956494A Expired - Fee Related JP3636492B2 (ja) 1993-11-15 1994-11-14 可飽和吸収体により受動スイッチングする自己配列したモノリシック固体マイクロレーザー及びその製法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5495494A (ja)
EP (1) EP0653824B1 (ja)
JP (1) JP3636492B2 (ja)
DE (1) DE69428567T2 (ja)
FR (1) FR2712742B1 (ja)

Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2725279B1 (fr) * 1994-10-04 1996-10-25 Commissariat Energie Atomique Dispositif de telemetrie comportant un microlaser
US5732100A (en) * 1995-01-24 1998-03-24 Commissariat A L'energie Atomique Cavity for a solid microlaser having an optimized efficiency, microlaser using it and its production process
FR2734096B1 (fr) * 1995-05-12 1997-06-06 Commissariat Energie Atomique Cavite microlaser et microlaser solide impulsionnel a declenchement passif et a commande externe
FR2734094B1 (fr) * 1995-05-12 1997-06-06 Commissariat Energie Atomique Emetteur infrarouge monolithique a semi-conducteur pompe par un microlaser solide declenche
FR2734092B1 (fr) * 1995-05-12 1997-06-06 Commissariat Energie Atomique Microlaser monolithique declenche et materiau non lineaire intracavite
FR2736217B1 (fr) * 1995-06-27 1997-08-08 Commissariat Energie Atomique Cavite microlaser et microlaser solide impulsionnel a declenchement actif par micromodulateur
US5802083A (en) * 1995-12-11 1998-09-01 Milton Birnbaum Saturable absorber Q-switches for 2-μm lasers
FR2745668B1 (fr) * 1996-03-01 1998-04-17 Commissariat Energie Atomique Dispositif de mesure precise de la duree d'un intervalle de temps
FR2747192B1 (fr) * 1996-04-04 1998-04-30 Commissariat Energie Atomique Dispositif de detection de gaz a distance comportant un microlaser
FR2747802B1 (fr) * 1996-04-18 1998-05-15 Commissariat Energie Atomique Microdispositif optomecanique, et application a un microdeflecteur optomecanique
FR2750539B1 (fr) * 1996-06-28 1998-07-24 Commissariat Energie Atomique Materiaux laser et microlasers a fortes concentrations en ions actifs, et procedes de fabrication
FR2751467B1 (fr) * 1996-07-17 1998-10-02 Commissariat Energie Atomique Procede d'assemblage de deux structures et dispositif obtenu par le procede. applications aux microlasers
FR2751795B1 (fr) * 1996-07-26 1998-08-28 Commissariat Energie Atomique Cavite microlaser et microlaser a selection de mode, et procedes de fabrication
FR2751796B1 (fr) * 1996-07-26 1998-08-28 Commissariat Energie Atomique Microlaser soilde, a pompage optique par laser semi-conducteur a cavite verticale
FR2754114B1 (fr) * 1996-09-30 1998-10-30 Commissariat Energie Atomique Microlaser solide a declenchement electrooptique a electrodes independantes, et procede de realisation
FR2754400A1 (fr) * 1996-10-07 1998-04-10 Commissariat Energie Atomique Microlaser solide couple dans une fibre et procede de realisation
USRE38489E1 (en) * 1997-01-30 2004-04-06 Commissariat A L'energie Atomique Solid microlaser passively switched by a saturable absorber and its production process
FR2758915B1 (fr) * 1997-01-30 1999-03-05 Commissariat Energie Atomique Microlaser solide declenche passivement par absorbant saturable et son procede de fabrication
FR2765687B1 (fr) * 1997-07-07 1999-07-30 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'analyse raman comprenant un microlaser
FR2771222B1 (fr) 1997-11-14 1999-12-17 Commissariat Energie Atomique Realisation d'emetteurs hyperfrequences et applications aux radars et aux telecommunications
FR2771107B1 (fr) * 1997-11-18 1999-12-10 Commissariat Energie Atomique Procede de preparation par croissance par epitaxie en phase liquide de couches monocristallines d'aluminate de lanthane et de magnesium (lma) et composants optiques comprenant ces couches
FR2773000B1 (fr) * 1997-12-24 2000-05-12 Commissariat Energie Atomique Cavite laser a declenchement passif a polarisation controlee, microlaser comprenant cette cavite, et procede de fabrication de ce microlaser
US6072815A (en) * 1998-02-27 2000-06-06 Litton Systems, Inc. Microlaser submount assembly and associates packaging method
US6240113B1 (en) 1998-02-27 2001-05-29 Litton Systems, Inc. Microlaser-based electro-optic system and associated fabrication method
US6057871A (en) * 1998-07-10 2000-05-02 Litton Systems, Inc. Laser marking system and associated microlaser apparatus
FR2783977B1 (fr) * 1998-09-29 2000-11-03 Commissariat Energie Atomique Microlaser a pompage module et procede de codage-decodage de l'emission d'un tel microlaser
FR2784194A1 (fr) * 1998-10-01 2000-04-07 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'imagerie utilisant un ensemble de microlasers et procede de fabrication de ceux-ci
FR2787269B1 (fr) 1998-12-11 2001-03-02 Aerospatiale Procede de mise en oeuvre d'une unite de service de trafic air
US6888871B1 (en) 2000-07-12 2005-05-03 Princeton Optronics, Inc. VCSEL and VCSEL array having integrated microlenses for use in a semiconductor laser pumped solid state laser system
US6490081B1 (en) 2000-07-28 2002-12-03 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Method of amplifying optical signals using doped materials with extremely broad bandwidths
US6778563B2 (en) * 2001-06-05 2004-08-17 Cobolt Ab Q-switched laser
US7065121B2 (en) 2001-07-24 2006-06-20 Gsi Group Ltd. Waveguide architecture, waveguide devices for laser processing and beam control, and laser processing applications
US6738396B2 (en) 2001-07-24 2004-05-18 Gsi Lumonics Ltd. Laser based material processing methods and scalable architecture for material processing
WO2004034523A2 (en) * 2002-10-04 2004-04-22 Spectra Systems Corporation Monolithic, side-pumped, passively q-switched solid-state laser
JP2004296706A (ja) * 2003-03-26 2004-10-21 Sony Corp 光共振器及びレーザ発振器
FR2885743B1 (fr) * 2005-05-10 2009-07-10 Commissariat Energie Atomique Dispositif de pompage optique
US7822077B2 (en) * 2007-09-13 2010-10-26 Northrop Grumman Systems Corporation Thulium doped fiber configuration for enhanced high power operation
JP5587578B2 (ja) * 2008-09-26 2014-09-10 ギガフォトン株式会社 極端紫外光源装置およびパルスレーザ装置
WO2010145855A1 (en) 2009-06-15 2010-12-23 Pantec Biosolutions Ag Monolithic, side pumped solid-state laser and method for operating the same
WO2010145802A1 (en) 2009-06-15 2010-12-23 Pantec Biosolutions Ag A monolithic, side pumped solid-state laser and applications thereof
DE102010050860A1 (de) * 2010-03-31 2011-10-06 Innolight Innovative Laser Und Systemstechnik Gmbh Mikrokristall-Laser zur Erzeugung von Laserpulsen
EP2577818B1 (de) * 2010-05-28 2020-07-15 Daniel Kopf Ultrakurzpuls-mikrochiplaser, halbleiterlaser, lasersystem und pumpverfahren für dünne lasermedien
US9014228B1 (en) * 2010-07-08 2015-04-21 Clemson University Research Foundation Hydrothermal growth of heterogeneous single crystals for solid state laser applications
US9493887B1 (en) 2010-07-08 2016-11-15 Clemson University Research Foundation Heterogeneous single vanadate based crystals for Q-switched lasers and microlasers and method for forming same
US9711928B2 (en) 2012-06-22 2017-07-18 Clemson University Research Foundation Single crystals with internal doping with laser ions prepared by a hydrothermal method
US9469915B2 (en) 2012-06-22 2016-10-18 Clemson University Research Foundation Hydrothermal growth of heterogeneous single crystals exhibiting amplified spontaneous emission suppression
US8948220B2 (en) 2012-12-18 2015-02-03 Coherent Gmbh Wavelength-stabilized microcrystal laser
US10156025B2 (en) 2015-05-04 2018-12-18 University Of South Carolina Monolithic heterogeneous single crystals with multiple regimes for solid state laser applications
US10998689B2 (en) * 2018-01-19 2021-05-04 Shailendhar Saraf Systems, apparatus, and methods for producing ultra stable, single-frequency, single-transverse-mode coherent light in solid-state lasers
CN109217091A (zh) * 2018-10-10 2019-01-15 山东大学 一种基于钕掺杂钒酸钇与磷酸钛氧钾胶合晶体的单片集成绿光脉冲激光器及制备
WO2021106757A1 (ja) * 2019-11-28 2021-06-03 ソニー株式会社 レーザ素子、レーザ素子の製造方法、レーザ装置およびレーザ増幅素子
EP4257573A3 (en) * 2020-09-08 2023-12-27 Trieye Ltd. Novel passively q-switched laser

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3270291A (en) * 1962-10-22 1966-08-30 Rca Corp Laser control device using a saturable absorber
GB1566716A (en) * 1977-03-15 1980-05-08 Gen Electric Co Ltd Laser resonators and their manufacture
US4191931A (en) * 1978-02-06 1980-03-04 Sanders Associates, Inc. Cooled laser q-switch
US5119382A (en) * 1990-12-24 1992-06-02 Mcdonnell Douglas Corporation Tetravalent chromium doped passive Q-switch
US5278855A (en) * 1992-05-11 1994-01-11 At&T Bell Laboratories Broadband semiconductor saturable absorber

Also Published As

Publication number Publication date
DE69428567T2 (de) 2002-06-27
FR2712742B1 (fr) 1995-12-15
DE69428567D1 (de) 2001-11-15
EP0653824A1 (fr) 1995-05-17
JPH07183608A (ja) 1995-07-21
US5495494A (en) 1996-02-27
EP0653824B1 (fr) 2001-10-10
FR2712742A1 (fr) 1995-05-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3636492B2 (ja) 可飽和吸収体により受動スイッチングする自己配列したモノリシック固体マイクロレーザー及びその製法
US5754333A (en) Microlaser-pumped monolithic optical parametric oscillator
JP3782847B2 (ja) スイッチング型一体式マイクロレーザーおよびキャビティ内非線形材料
JP3636491B2 (ja) 可飽和吸収体により受動スイッチングするレーザーキャビティ及びそのキャビティを有するレーザー
US6023479A (en) Solid microlaser passively switched by a saturable absorber and its production process
US5933444A (en) Monolithic semiconductor infrared emitter pumped by a switched solid microlaser
US7149231B2 (en) Monolithic, side-pumped, passively Q-switched solid-state laser
US5222092A (en) Laser dye impregnated silica sol-gel monoliths
US5844932A (en) Microlaser cavity and externally controlled, passive switching, solid pulsed microlaser
Philipps et al. Diode-pumped erbium-ytterbium-glass laser passively Q-switched with a PbS semiconductor quantum-dot doped glass
US20080267244A1 (en) Wagon wheel optical cavity and laser
US6014393A (en) Laser materials and microlasers having high active ion concentrations, and production processes
US6973115B1 (en) Passive Q-switched microlaser with controlled polarization
US5559823A (en) Laser with controllable beam direction
USRE38489E1 (en) Solid microlaser passively switched by a saturable absorber and its production process
US5381428A (en) Tunable ytterbium-doped solid state laser
JPH1084157A (ja) モード選択機能付マイクロレーザーキャビティおよびマイクロレーザーならびにその製造方法
JPH11243247A (ja) ランタン・マグネシウムアルミナート(lma)の単結晶層、それらの液相エピタキシャル成長による成長プロセス及びそれらの単結晶の層を含む光学的部品
Fromzel et al. Efficiency and tuning of the erbium-doped glass lasers
JP2007507084A (ja) 固体レーザー媒質
Philipps et al. Diode-pumped erbium-ytterbium-glass laser passively Q-switched with a PbS semiconductor quantum-dot doped glass
JPH09202698A (ja) レーザ材料の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040525

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20040729

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20040803

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041124

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041221

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050105

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100114

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120114

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees