JP3632849B2

JP3632849B2 - Test writing recording control method and test writing recording control device

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Publication number: JP3632849B2
Application number: JP2001390771A
Authority: JP
Inventors: 寛藤
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 2001-12-25
Filing date: 2001-12-25
Publication date: 2005-03-23
Anticipated expiration: 2020-03-23
Also published as: JP2002237041A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ビームにより情報が記録される光磁気ディスク等の光記録媒体に対し、最適な記録条件を求めるための試し書き記録制御方法および試し書き記録制御装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
第１の従来例として特開平５−２６６４７６に開示された情報記憶装置があった。この例では半導体レーザーのパワーをＰＨとＰＬの２値で変調する方法を開示しており、ＰＨとＰＬの関係をあらかじめ決めておき（ＰＨ＋αＰＬ＝一定）、半導体レーザの出射パワーをフィードバックすることによって記録パワーの制御を行っていた。ところが、この方法では、半導体レーザーの出射パワーを一定に制御することはできても、記録媒体上での記録状態をフィードバックしていないため、記録媒体まで含めた実際の記録条件の制御ができないという問題点を有していた。
【０００３】
第２の従来例としてＪ．Ｍａｇｎ．Ｓｏｃ．Ｊａｐ．，Ｖｏｌ．１５，ＳｕｐｐｌｅｍｅｎｔＮｏ．Ｓ１（１９９１），ＰＰ３９５−３９８に開示された記録制御方法があった。この方法では、記録光パルスのエッジの位置をパルスの種類毎に制御することにより、最適な記録マークを記録していた。ところが、この方法では、記録マークの形状が涙型の形状となり、マークの前方と後方で再生波形が異なるため、正確なデータが再生できないという問題点を有していた。
【０００４】
この問題点を解決するために第３の従来例である試し書き記録制御方法がある。試し書き記録制御方法とは、光磁気ディスクに所定のデータを仮に記録し、記録されたデータを読み出すことにより最適なレーザーパワーを設定する方法のことである。電子情報通信学会技報ＭＲ９２−６２（１９９１−１１），ｐ，１３〜１８あるいは１９９２年電子情報通信学会秋季大会予稿ｃ−３４２，ｐ，５〜２１に開示された光磁気ディスクの試し書き記録制御方法を図３１に基づいて説明する。
【０００５】
この方法では、まず、光磁気ディスクに最短マーク繰り返しパターンＸの記録マーク１６と、最長マーク繰り返しパターンＹの記録マーク１７を記録する。それから、記録マーク１６，１７を読み出し、最短マーク繰り返しパターンＸに対応した再生信号Ｗの平均電圧Ｖ１と、最長マーク繰り返しパターンＹに対応した再生信号Ｗの平均電圧Ｖ２との電圧差ΔＶを求める。
【０００６】
この電圧差ΔＶがゼロになるように、光ビームのパワーを制御して記録を行うことにより、正確な記録を行うことができる。
【０００７】
また、レーザーパワーＰｗをＰａｓに比例して変化させており（Ｐｗ＝２×Ｐａｓ）、第１の従来例と同様に２値のパワー値の関係をあらかじめ決めていた。また、記録光パルスをさらに細分化して、一つの記録マークを多数の記録パルスで記録することによって、涙型の形状の記録マークになることを防止していた。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記第３の従来例の構成では、正確に熱干渉を一定にすることは困難であるという第１の問題点を有している。
【０００９】
ここで、熱干渉とは、ある記録マークを記録したときの熱が隣の記録マークを記録するときに影響を与えることである。
【００１０】
マークの長さやマークとマークとの間の長さが異なると、熱干渉の大きさも異なり、マークの長さがばらつくため所定の大きさのマークが記録できなくなる。
【００１１】
最短マーク繰り返しパターンＸの記録マーク１６・１６間における熱干渉は、再生信号Ｗの上下変動（レベル変動）を引き起こす。もう一方の最長マーク１７・１７間における熱干渉はマークとマークとの間が長いため生じない。このため、熱干渉によって平均電圧Ｖ１は変動するが、平均電圧Ｖ２は変動しない。すなわち、上述の第３の従来例の構成では最短マーク繰り返しパターンＸのみの熱干渉は最適化できるが、その他のマークについては全く最適化できなかった。これらの電圧差ΔＶからすべての熱干渉を正確に知ることは困難であり、電圧差ΔＶがゼロになっても、すべての熱干渉が一定になるとは限らないという問題点を有している。つまり最短マーク繰り返しパターンＸの熱干渉を最適化することによって再生デューティーは最適になるが、その他の熱干渉は最適にはならないという問題点があった。
【００１２】
また第２の問題点は、以下のとおりである。あらかじめ２値のレーザーパワーの関係を決めておくと一次元だけのパワー値の調整しかできない。しかし周囲温度が変わったり記録媒体の感度が変化すると、２値のレーザーパワーの関係（ＰＨ＋αＰＬ＝一定またはＰｗ＝２×Ｐａｓ）も変化し、２次元のパワー値の調整が必要である。つまり２値のレーザーパワーを独立に制御していないため、調整範囲が狭く、最適な記録パワーを求めることが困難であった。これは、光パワー値だけに限らず、記録パルスのエッジの位置も固定しており、光パワー値とエッジ（あるいはエッジ間隔およびエッジ周期）を含めた、複数の記録変数に対しても、独立に制御できないという問題点があった。
【００１３】
また第３の問題点は以下のとおりである。試し書きによって誤って記録再生情報を破壊する恐れがある。これを防ぐためには、試し書き専用の試し書き領域を新たに設け、情報記録再生領域と区別する必要がある。また試し書きは周囲温度の変化や、記録媒体の差し替え等による感度の変化のたび毎に行う必要があるため、前記試し書き領域は書き換え回数が極端に多くなることが予想される。例えば、３分毎に一回の試し書きを行うと仮定すると、約６年間で１０⁶回の書き換えを行うことになり、記録媒体の書き換えの保証回数を越えることが予想でき、以後試し書きが行えなくなるという問題点が発生する。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る試し書き記録制御方法は、上記第２の問題点を解決するために、複数の記録変数によって記録パルスを発生させて光記録媒体に記録を行い、前記複数の記録変数をそれぞれ最適化するための試し書き記録制御方法であって、前記複数の記録変数どうしの相対関係を求め、さらにこれらの相対関係をすべて満足する前記複数の記録変数の最適値を求めて、最適な記録条件とすることを特徴としている。
【００１５】
本発明に係る試し書き記録制御装置は、上記第２の問題点を解決するために、複数の記録変数によって記録パルスを発生させて光記録媒体に記録を行い、前記複数の記録変数をそれぞれ最適化するための試し書き記録制御装置であって、前記複数の記録変数どうしの相対関係を求める相対関係決定手段と、前記複数の相対関係をすべて満足する前記複数の記録変数の最適値を求める最適値決定手段を具備し、前記最適値決定手段によって決定された前記複数の記録変数の最適値を最適な記録条件とすることを特徴としている。
【００１６】
本発明に係る試し書き記録制御装置は、相対関係決定手段は第１記録パターンが孤立マークパターンからなり、第２記録パターンが繰り返しマークパターンからなり、第３記録パターンが孤立非マークパターンからなり、それぞれのパターンに対応する再生信号の部分のレベルを検出し、上記レベルを比較することにより、記録変数の相対関係を決定する手段であることを特徴としている。
【００１７】
本発明に係る試し書き記録制御装置は、上記第２の問題点を解決するために、上記の試し書き記録制御装置であって、複数の記録変数は第１パワー値と第２パワー値の２つのパワーからなり、相対関係決定手段は記録マークのデューティーが最適となる時の前記第１パワー値と第２パワー値との第１相対関係を求めるデューティー条件決定手段と、記録マーク相互の熱干渉が最適となる時の前記第１パワー値と第２パワー値との第２相対関係を求める熱干渉条件決定手段からなり、最適値決定手段は前記第１相対関係と第２相対関係を同時に満足する第１パワー値及び第２のパワー値を求める最適値決定手段からなり、該最適値決定手段によって決定された前記第１パワー値と第２パワー値を最適なパワー値とすることを特徴としている。
【００１８】
本発明に係る試し書き記録制御装置は、上記第２の問題点を解決するために、上記の試し書き記録制御装置であって、相対関係決定手段は複数の記録変数と同数の連立方程式を求める連立方程式決定手段からなり、最適値決定手段は前記連立方程式の解を求める計算手段からなり、該計算手段によって決定された前記複数の記録変数の最適値を最適な記録条件とすることを特徴としている。
【００１９】
また、上記の試し書き記録制御方法及び試し書き記録制御装置に好適な光記録媒体は、上記第３の問題点を解決するために、光ビームを照射して記録再生を行う光記録媒体において、情報記録領域以外の試し書き記録領域であって、所定期間あるいは所定動作毎に光記録媒体に試し書きを行うための複数の試し書き領域を具備し、前記試し書き記録領域への試し書き回数が記録媒体の書き換え保証回数以下となることを特徴としている。
【００２０】
上記の試し書き記録制御方法及び試し書き記録制御装置に好適な光記録媒体は、上記第３の問題点を解決するために、光ビームを照射して記録再生を行う光記録媒体において、情報を記録する情報記録領域と区別して、所定期間あるいは所定動作毎に試し書きを行う試し書き領域を、試し書き回数が記録媒体の書き換え保証回数以下となるべく複数具備することを特徴としている。
【００２１】
上記の試し書き記録制御方法及び試し書き記録制御装置に好適な光記録媒体は、上記第３の問題点を解決するために、光ビームを照射して記録再生を行う光記録媒体において、情報を記録する情報記録領域と区別して、所定期間あるいは所定動作毎に試し書きを行う試し書き領域を複数具備し、記録媒体の書き換え保証回数以下の試し書き性能を備えることを特徴としている。
【００２２】
上記の試し書き記録制御方法及び試し書き記録制御装置に好適な光記録媒体は、上記第３の問題点を解決するために、光ビームを照射して記録再生を行う光記録媒体において、情報を記録する情報記録領域と区別し、記録媒体の書き換え保証回数以下であって、所定期間あるいは所定動作毎に試し書きを行う試し書き領域を具備することを特徴としている。
【００２３】
以下、本発明の作用を記載する。
【００２４】
本発明に係る試し書き記録制御方法の構成によれば、記録変数の相対関係を求め、これらをすべて満足する前記複数の変数の解を求めるので、複数の変数と同次元の空間まで調整範囲を拡張できる。したがって、周囲温度の変化や記録媒体の記録感度が変化しても、常に複数の変数をそれぞれ独立に最適値に設定することが可能となる。
【００２５】
本発明に係る試し書き記録制御装置の構成によれば、上記の試し書き記録制御方法を採用した試し書き記録制御装置を実現できる。
【００２６】
本発明に係る試し書き記録制御装置の構成によれば、簡単な記録パターンを使用ことにより、記録変数の相対関係を求めることが可能となる。
【００２７】
本発明に係る試し書き記録制御装置の構成によれば、記録変が２つのパワー値からなり、上記の試し書き記録制御装置を簡単な構成で実現できる。
【００２８】
また、上記の試し書き記録制御方法及び試し書き記録制御装置に好適な光記録媒体の構成によれば、所定期間あるいは所定動作毎に光記録媒体に試し書きを行うための試し書き領域を備えている。したがって試し書きによって誤って記録再生情報破壊を防止できる。また、複数の試し書き記録領域を備えているため、一つの試し書き領域あたりの試し書き回数を減らすことができ、記録媒体の書き換え保証回数以下に減じることができるため、試し書きの信頼性を向上させることが可能となる。
【００２９】
【発明の実施の形態】
本発明の第１の実施例について図１ないし図５に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００３０】
本実施例の試し書き記録制御装置は、図１に示すように、半導体レーザー２３と、レベル差Δｖ（後述する）が最小になるように、孤立マークパターンｘ（第２記録パターン）及び繰り返しマークパターンｙ（第１記録パターン）に対応した記録信号ｚを半導体レーザー２３に出力する繰り返し・孤立パターン発生手段４とを備えている。
【００３１】
半導体レーザー２３は、記録信号ｚに応じた強度及びパルス長の光ビームａを光磁気ディスク２４（光記録媒体）に照射し、これより、図２に示すように、孤立マークパターンｘの記録マーク５・・・および繰り返しマークパターンｙの記録マーク６・・・を光磁気ディスクに記録する。ここで、孤立マークパターンｘとは、互いに離れた記録マーク５・・・のように、熱干渉に影響されにくいパターンであり、繰り返しマークパターンｙとは、互いに近接した記録マーク６・・・のように、熱干渉に影響されやすいパターンである。
【００３２】
試し書き記録制御装置は、さらに、光磁気ディスク２４からの反射光ｂを受光し、光電変換することにより、再生信号ｗを出力するフォトディテクター２２と、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗの部分のピークレベルｖ１を検出する繰り返しパターンレベル検出手段（第１のレベル検出手段）と、孤立マークパターンｘに対応する再生信号ｗの部分のピークレベルｖ２を検出する孤立パターンレベル検出手段２（第２レベル検出手段）と、ピークレベルｖ１とｖ２とのレベル差Δｖを上記の繰り返し・孤立パターン発生手段４に出力する比較手段３とを備えている。
【００３３】
さて、繰り返しマークパターンｙとは、光磁気ディスクの第１記録状態（例えば紙面上方Ｓ極）である第１微小領域（記録マーク６と６に挟まれた非マーク）と第２記録状態（例えば紙面上方Ｎ極）であって光ビーム径よりも短い第２微小領域（記録マーク６・・・）との組み合わせからなる第１記録パターンである。ここで光ビーム径と第２微小領域の長さの相対関係は、第２微小領域（記録マーク６・・・）からの再生波形ｗのレベルｖ１が飽和しない条件であり、つまり記録マーク６が光ビーム径よりも短い場合である。なお、長くなるとレベルｖ１は飽和してしまう。飽和するまでは、記録条件（例えばレーザパワー）の変化に対して、敏感にレベル変化を生じさせることができるが、飽和してしまうと、記録条件をいくら変化させてもレベルの変動が生じなくなり、記録マーク状態を検出できなくなる。このため、再生波形のレベルが飽和しない条件が必要となる。
【００３４】
また、孤立マークパターンｘとは、光磁気ディスクの第１記録状態（例えば紙面上方Ｓ極）であって第１微小領域よりも長い第３微小領域（記録マーク５と５に挟まれた非マーク）と第２状態（例えば紙面上方Ｎ極）であって光ビーム径よりも短い第２微小領域（記録マーク５・・・）との組み合わせからなる第２記録パターンである。記録マーク６と６に挟まれた非マークは、記録マーク５と５に挟まれた非マークよりも短いため、記録マーク６・・・は記録マーク５・・・に比べて互いに熱干渉を受けやすい。
【００３５】
上記の構成において、同一強度および同一パルス長の光ビームａを光磁気ディスク２４に照射することにより、記録マーク５・・・および記録マーク６・・・を記録した場合、熱干渉を受けやすい記録マーク６・・・は、図２に実線で示されているように、熱干渉を受けにくい記録マーク５・・・より大きくなる。このため、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗの部分のピークレベルｖ１は、孤立マークパターンｘに対応する再生信号ｗの部分のピークレベルｖ２よりも大きくなる。したがって、レベル差Δｖが発生する。
【００３６】
これに対し、記録マーク５・・・および記録マーク６・・・を記録したとき、記録マーク５・５間の熱干渉と、記録マーク６・６間の熱干渉とが同一であったか、あるいは、いずれの熱干渉も発生しなかった場合、記録マーク６・・・は、図２に破線で示されているように、記録マーク５・・・と同じ大きさになる。このため、ピークレベルｖ１とｖ２は等しくなる。したがって、レベル差Δｖはゼロとなる。
【００３７】
以上より、繰り返し・孤立パターン発生手段４によって、レベル差Δｖが最小となるように、光ビームの強度およびパルス長を設定することにより、同一熱干渉の下で情報を記録するための記録条件を設定できる。これにより、情報を正確に記録することが可能になる。
【００３８】
ＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）を用いると、記録条件を変化させながら、上記Δｖの変化を測定し、自動的に試し書き記録制御を行うことが可能である。
【００３９】
なお、レベル差Δｖは、熱干渉によるだけでなく、光学伝達特性（ＯＴＦ）によっても発生することがある。この場合、トータルのレベル差Δｖは次式で表される。
Δｖ＝Δｖ（ＯＴＦ）＋Δｖ（ｔｈｅｒｍａｌ）
ここで、Δｖ（ＯＴＦ）は光学伝達特性によるレベル差であり、Δｖ（ｔｈｅｒｍａｌ）は熱干渉によるレベル差である。
【００４０】
Δｖ（ＯＴＦ）がある場合、レベル差Δｖはゼロとはならないが、レベル差Δｖが最小になるとき、上記の場合と同様に、熱干渉が同一になる。つまり、本実施例の試し書き記録制御装置によれば、Δｖ（ＯＴＦ）の有無に関わらず、同一熱干渉の下で情報を記録するための記録条件を設定できる。これにより、情報を正確に記録することが可能になる。
【００４１】
以上の実施例では、ピークレベルｖ１とｖ２とのレベル差Δｖが最小になる記録条件を設定したが、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗの部分の極小レベルｖ３と、ピークレベルｖ２とのレベル差（＝ｖ２−ｖ３）が最大となるように記録条件を設定することもできる。
【００４２】
上記の試し書き記録制御装置の繰り返しパターンレベル検出手段１、孤立パターンレベル検出手段２には、具体的には例えば、図３に示すように、エンベロープ検波手段７、エンベロープ検波手段８を用いることができ、比較手段３には、減算器９を用いることができる。
【００４３】
エンベロープ検波手段７、８は、詳細には例えば、図４に示すように、ピークホールド回路２５とサンプルホールド回路２６とにより構成される。ピークホールド回路２５は、抵抗２７、ダイオード２８、コンデンサー２９およびバッファ３０からなっており、サンプルホールド回路２６は、スイッチ３１、コンデンサー３２およびバッファ３３からなっている。ピークホールド回路２５で得られたピークレベルｖ１，ｖ２は、タイミング信号ｈでスイッチ３１をオン・オフ制御することにより取り出され得る。
【００４４】
また、上記試し書き記録制御装置の繰り返しパターンレベル検出手段１、孤立パターンレベル検出手段２には、図５に示すように、再生信号ｗのピーク毎にタイミング信号ｔを発生するタイミング発生手段１０と、タイミング信号ｔに基づいて再生信号ｗをＡ／Ｄ（アナログ／ディジタル）変換することにより、再生信号ｗのピークレベルｖ１，ｖ２，を取り出すＡ／Ｄコンバーター１１とを用いることができ、比較手段３には、タイミング信号ｔに基づいてピークレベルｖ１，ｖ２，からレベル差Δｖ（＝ｖ１−ｖ２）を算出して出力するプロセッサー１２を用いることができる。
【００４５】
タイミング発生手段１０は、例えば再生信号ｗから同期クロックを取り出すためのＰＬＬ回路（フェーズ・ロックト・ループ）と復調器とで容易に構成され得る。
【００４６】
本発明の第２の実施例について図６に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施例の図面に示した部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略する。
【００４７】
本実施例の試し書き記録制御装置は、図６に示すように、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗの部分の平均レベルｖ１’を検出する平均化手段１３（第１のレベル検出手段）と、孤立マークパターンｘに対応する再生信号ｗの部分の平均レベルｖ２’を検出する平均化手段１４（第２のレベル検出手段）と、平均レベルｖ１’，ｖ２’からレベル差Δｖ’（＝ｖ１’−ｖ２’）を求め出力する減算器１５（比較手段）とを備えている。
【００４８】
平均化手段１３、１４は、詳細には例えば、図７に示すように、ローパスフィルタ３４とサンプルホールド回路３５とにより構成される。ローパスフィルタ３４は、抵抗３６、コンデンサー３７およびバッファ３８からなっており、サンプルホールド回路３５は、スイッチ３９、コンデンサー４０およびバッファ４１からなっている。ローパスフィルタ３４で得られた平均レベルｖ１’，ｖ２’は、タイミング信号ｈでスイッチ３９をオン・オフ制御することにより取り出され得る。
【００４９】
上記の構成において、レベル差ｖ’が最小となるように、光ビームａの強度およびパルス長を設定することにより、同一熱干渉の下での情報を記録するための記録条件を設定できる。これにより、情報を正確に記録することが可能になる。
【００５０】
以上の実施例において、光磁気ディスク２４には情報記録領域とは別に試し書き専用の記録領域を設けることが好ましい。この試し書き専用の記録領域を用いて記録条件の設定を行えば、情報記録領域の情報を破壊する恐れがなくなる。また、以上の実施例では、光記録媒体として光磁気ディスク２４を挙げて本発明の試し書き記録制御装置および試し書き記録制御方法を説明したが、これに限定されることなく、相変化型の光ディスクや追記型の光ディスク等、光ビームａを照射したときに発生する熱を利用して情報の記録を行う光記録媒体あるいは情報記録再生装置に対し、本発明を広く応用できる。
【００５１】
本発明の第３の実施例について図８に基づいて説明すれば、以下の通りである。孤立非マークパターンｘ’の記録マーク５’・・・および繰り返し非マークパターンｙ’の記録マーク６’・・・を光磁気ディスクに記録する。つまり、図２で示した記録パターンに対して、記録マークと非マークを全く入れ替えたパターンである。ここで、孤立非マークパターンｘ’とは、互いに離れた長い記録マーク５’・・・のように、熱干渉に大きく影響されるパターンであり、繰り返し非マークパターンｙ’とは、互いに近接した記録マーク６’・・・のように、熱干渉に少し影響されやすいパターンである。
【００５２】
言い換えると、繰り返し非マークパターンｙ’とは、光磁気ディスクの第１記録状態（例えば紙面上方Ｎ極）である第１微小領域（記録マーク６’・・・）と第２記録状態（例えば紙面上方Ｓ極）であって光ビーム径よりも短い第２微小領域（記録マーク６’と６’に挟まれた非マーク）との組み合わせからなる第１記録パターンである。ここで光ビーム径と第２微小領域の長さの相対関係は、第２微小領域（記録マーク６’と６’に挟まれた非マーク）からの再生波形ｗの下方レベルｖ１”が飽和しない条件であり、つまりが記録マーク６’と６’に挟まれた非マークが光ビーム径よりも短い場合である。なお、長くなるとレベルｖ１”は飽和する。また、孤立非マークパターンｘ’とは、光磁気ディスクの第１記録状態（例えば紙面上方Ｎ極）であって第１微小領域よりも長い第３微小領域（記録マーク５’・・・）と第２状態（例えば紙面上方Ｓ極）であって光ビーム径よりも短い第２微小領域（記録マーク５’と５’に挟まれた非マーク）との組み合わせからなる第２記録パターンである。記録マーク５’・・・は記録マーク６’・・・に比べて長いため、蓄積した熱量も多く、熱干渉も大きくなる。したがって、記録マーク５’と５’に挟まれた非マークは、記録マーク６’と６’に挟まれた非マークよりもさらに短くなりやすい。
【００５３】
上記の構成において、の光ビームａを光磁気ディスク２４に照射することにより、記録マーク５’・・・および記録マーク６’・・・を記録した場合、熱干渉を大きく受けやすい記録マーク５’・・・は、実線で示されているように、熱干渉を少し受けやすい記録マーク６’・・・より大きくなる。このため、繰り返し非マークパターンｙ’に対応する再生信号ｗの部分の下方ピークレベルｖ１”は、孤立非マークパターンｘ’に対応する再生信号ｗの部分の下方ピークレベルｖ２”よりも大きくなる。したがって、レベル差Δｖ”が発生する。
【００５４】
これに対し、記録マーク５’・・・および記録マーク６’・・・を記録したとき、記録マーク５’・５’間の熱干渉と、記録マーク６’・６’間の熱干渉とが同一であったか、あるいは、いずれの熱干渉も発生しなかった場合、記録マーク５’・・・は、破線で示されているように、記録マーク６’・・・と同じ大きさになる。このため、ピークレベルｖ１”とｖ２”は等しくなる。したがって、レベル差Δｖ”はゼロとなる。
【００５５】
以上より、図１における繰り返し・孤立パターン発生手段４から繰り返し非マークパターンｙ’と・孤立非マークパターンｘ’を発生させることによって、レベル差Δｖ”が最小となるように、光ビームの強度およびパルス長を設定することにより、同一熱干渉の下で情報を記録するための記録条件を設定できる。これにより、情報を正確に記録することが可能になる。
【００５６】
上記の試し書き記録制御装置の繰り返しパターンレベル検出手段１、孤立パターンレベル検出手段２には、図４に示したエンベロープ検波手段７、エンベロープ検波手段８を図９に示す回路で置き換えるだけでよい。
【００５７】
エンベロープ検波手段７、８は、ピークホールド回路４２とサンプルホールド回路２６とにより構成される。ピークホールド回路４２は、抵抗４３、ダイオード４４、コンデンサー４５およびバッファ４６からなっており、サンプルホールド回路２６は、スイッチ３１、コンデンサー３２およびバッファ３３からなっている。ピークホールド回路４２で得られたピークレベルｖ１，ｖ２は、タイミング信号ｈでスイッチ３１をオン・オフ制御することにより取り出され得る。ピークホールド回路４２と図４に示したピークホールド回路２５の違いは、ダイオード４４とダイオード２８の向きが逆である点だけである。
【００５８】
なお、図２において（図３においても）、繰り返して記録するパターンに限定する必要はなく、記録マーク（または非マーク）の長さは同一にしておくが、非マーク（または記録マーク）の長さが異なる２つのパターンを記録すればよい。たとえば、記録マークと非マークを一つあるいは２つづつ組にして記録してもよい。
【００５９】
本発明の実施例４について図１０ないし図１７に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００６０】
図１０に示す試し書き制御装置は、説明を簡単にするために複数の記録変数として後述する２つのパワー値ＰｂとＰｐを使用し、これらの和（または差）によって光記録パワーを発生させて光記録媒体に試し書きを行い、ＰｂとＰｐをそれぞれ最適化するための試し書き記録制御装置の例である。２つのパワー値Ｐｂ、Ｐｐの最適化のために、お互いの相対関係を求めることにより最適化することができる。ただし、相対関係がただ一つの場合は、Ｐｂ、Ｐｐの相対値は決定できるが、絶対値を決定できないという問題点がある。したがって、この場合は２つの相対関係を求め、これらを同時に満足させることによってＰｂ、Ｐｐの絶対値を求めることが可能となる。これは、多数の変数を含む連立方程式の解法と同じ意味をもつ。つまり、複数の変数の場合は複数の方程式があれば解が求まるわけである。なお、パワー値が３つ以上の場合でも、解を求めるために必要な数の相対関係を求めれば同様に絶対値を決定できることは言うまでもない。説明の都合上、以下には２つのパワー値の最適化を例に挙げ、記録マークのデューティー条件と熱干渉条件の２つの相対関係によって、絶対値を最適化する例を示す。
【００６１】
図１０において、熱干渉条件決定手段４９、光学ヘッド４７及び光磁気ディスク４８は図１の試し書き記録制御装置とほぼ同一の構成である。異なる点は再生信号のデューティーが最適となる条件を決定するためのデューティー条件決定手段５０と、最適値決定手段５１を付加した点である。
【００６２】
すなわち、熱干渉条件決定手段４９は、例えば図１で示した繰り返しパターンレベル検出手段１、孤立パターンレベル検出手段２、比較手段３および繰り返し・孤立パターン発生手段４で構成している。図１０において、記録信号ｚを光学ヘッド４７へ送出し、光学ヘッド４７内には、図１１に示すレーザ駆動回路５２と図１で示した半導体レーザ２３およびフォトディテクタ２２を備えている。
【００６３】
図１１に示す半導体レーザ駆動回路５２において、記録信号ｚを波形変換回路５３に入力し、後述するバイアス分パワーＰｂを得るための波形と、パルス分パワーＰｐを得るための波形に変換する。これらを電流発生回路５４と５５に信号を送出し、それぞれ２つの電流ＩｂとＩｐを発生させる。電流Ｉｂ、Ｉｐを加算器５６により加算することで、半導体レーザ２３の駆動電流Ｉｗを得る。これによって半導体レーザ２３は、バイアス分パワーＰｂとパルス分パワーＰｐの和である記録パワーＰｗを出射できる。
【００６４】
図１２は半導体レーザ２３から出射する記録パルス波形の一実施例を示す図である。図に示すように記録パワーＰｗは、バイアス分パワーＰｂとパルス分パワーＰｐの２つの和である。なお、これ以外にＰｗからＰｂを差し引いた２つのパワー値の差としてもよい。変調方式として、一般によく知られている（１，７）ＲＬＬ方式を用い、記録１．３３Ｔ〜５．３３Ｔまでの７種類の記録波形を使用する。
【００６５】
図に１０において、このようにして得た光ビームａを光学ヘッド４７から出射し、光磁気ディスク４８に試し書きを行い、反射光ｂを光学ヘッド内のフォトディテクター２２により光電変換することにより、再生信号ｗを出力する。その他は図１と同一部分の説明は省略する。
【００６６】
さて、デューティー条件決定手段５０は再生信号ｗのデューティーが最適化どうかを決定する手段である。最適値決定手段５１は、上記熱干渉条件決定手段４９の出力とデューティー条件決定手段５０の出力とによって、２つの条件を同時に満足するパワー値ＰｂとＰｐを求める。
【００６７】
デューティー条件決定手段５０と熱干渉条件決定手段４９を、３つの記録パターン発生手段と３つの記録パターンレベル検出手段によって置き換えることにより、お互いに回路を兼用することができる。
【００６８】
図１３はこの点について、改めて分かりやすく説明するために、要部のみ示した図である。第１記録パターン発生手段５７と第２記録パターン発生手段５８と第３記録パターン発生手段５９から発生させた記録信号ｚ１、ｚ２、ｚ３を光磁気ディスク４８に記録する。図１４を用いて各パターンの記録マーク及び再生波形を示す。第１記録パターンは、図２に示す孤立マークパターンｘであり、１．３３Ｔの記録マークと４Ｔの非マークの組み合わせである。第２記録パターンは、図２の繰り返しマークパターンｙであるが、図８に示した繰り返し非マークパターンｙ’でもよい。１．３３Ｔの記録マークと１．３３Ｔの非マークの組み合わせである。第３記録パターンは図８に示した孤立非マークパターンｘ’であり、４Ｔの記録マークと１．３３Ｔの非マークの組み合わせである。
【００６９】
各パターンにおける再生波形のピークレベルおよびボトムレベルは図１５に示すレベル検出手段によって検出することができる。再生信号ｗを第１パターンレベル検出手段６０のエンベロープ検波手段６６、６７、第２パターンレベル検出手段６１のエンベロープ検波手段６８、６９、第３パターンレベル検出手段６２のエンベロープ検波手段７０、７１に入力する。これらのエンベロープ検波手段６６ないし７１にはタイミング発生手段６５から検出タイミング信号を送る。エンベロープ検波手段６６、６７によって、図１４の示す第１パターンのピークレベルｖ２とボトムレベルｖ４を検出する。エンベロープ検波手段６８、６９によって第２パターンのピークレベルｖ１とボトムレベルｖ３を検出する。エンベロープ検波手段７０、７１によって第３パターンのピークレベルｖ５とボトムレベルｖ６を検出する。
【００７０】
ボトムレベルｖ３，ｖ４をデューティー条件決定手段６３における減算手段７２に入力し、Δｖｄ−を得る。ピークレベルｖ５、ｖ１をデューティー条件決定手段６３における減算手段７３に入力し、Δｖｄ＋を得る。図１４においてデューティーが等しい場合はΔｖｄ＋がΔｖｄ−が等しくなるため、図１５においてΔｖｄ＋とΔｖｄ−を減算手段７４に入力し、その出力であるΔｖｄがゼロになる条件をデューティーの最適条件とすることができる。
【００７１】
ピークレベルｖ１、ｖ２を熱干渉条件決定手段６４における減算手段７５に入力し、Δｖｔ＋を出力する。図１４において熱干渉が最適となる条件を、ｖ１とｖ２が等しい時とおくと、Δｖｔ＋がゼロになる。デューティー条件Δｖｄ＝０と、熱干渉条件Δｖｔ＋＝０を同時に満足するＰｂとＰｐを求めるための動作の流れ図を図１６に示す。Ｐｂを初期値Ｐｂ（ｍｉｎ）に設定する（ｓ１）。Ｐｐを初期値Ｐｐ（ｍｉｎ）に設定する（ｓ２）。第１パターン、第２パターン、第３パターンを光磁気ディスクに記録する（ｓ３）。各パターンの再生波形レベルｖ１ないしｖ６を検出する（ｓ４）。Δｖｄ＝０により、デューティーが最適化どうか判断する（ｓ５）。最適であれば（ｓ６）へ進み、そうでなければ（ｓ８）に進む。さらにΔｖｔ＋＝０により、熱干渉が最適化どうか判断する（ｓ６）。最適であれば（ｓ７）へ進み、そうでなければ（ｓ８）に進む。最適でない場合は、Ｐｐが動作範囲を越えないように最大値Ｐｐ（ｍａｘ）と比較する（ｓ８）。越えていれば（ｓ１０）に進み、そうでなければ（ｓ９）に進む。越えていない場合は、Ｐｐに増加分ΔＰｐを加え（ｓ９）、再び（ｓ３）へ戻る。一方、越えていればＰｂが動作範囲を越えないように最大値Ｐｂ（ｍａｘ）と比較する（ｓ１０）。越えていれば（ｓ１２）に進み、そうでなければ（ｓ１１）に進む。越えていない場合は、Ｐｂに増加分ΔＰｂを加え（ｓ１１）、再び（ｓ３）へ戻る。なお、越えていれば最適値はなく、動作を終了する（ｓ１２）。こうして、Ｐｐ、Ｐｂを少しずつ増加させながら、デューティー条件と熱干渉条件を同時に満足するときのＰｂ、Ｐｐを最適値と決定する（ｓ７）。
【００７２】
図１７は、このようにしてＰｐとＰｂを最適化した実例である。デューティー条件を満足する（Ｐｂ，Ｐｐ）の組み合わせを５点、熱干渉条件を満足する（Ｐｂ，Ｐｐ）の組み合わせを３点測定した。どちらの条件においても（Ｐｂ，Ｐｐ）は直線上に乗っている。その交点であるＡ１点は（Ｐｂ，Ｐｐ）＝（４ｍＷ，２．６ｍＷ）となり、同時に２つの条件を満足する最適値を決定することができた。
【００７３】
本発明の実施例５のレベル検出方法について図１８及び、図１４、図１５に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、実施例４と共通で使用できる構成要素については説明を省略する。
【００７４】
図１５において、同様にΔｖｄがゼロになる条件をデューティーの最適条件とする。
【００７５】
ボトムレベルｖ６、ｖ３を熱干渉条件決定手段６４における減算手段７６に入力し、Δｖｔ−を出力する。図１４において熱干渉が最適となる条件を、ｖ６とｖ３が等しい時とおくと、Δｖｔ−がゼロになる。
【００７６】
図１８は、このようにしてＰｐとＰｂを最適化した実例である。デューティー条件を満足する（Ｐｂ，Ｐｐ）の組み合わせを５点、熱干渉条件を満足する（Ｐｂ，Ｐｐ）の組み合わせを３点測定した。どちらの条件においても（Ｐｂ，Ｐｐ）は直線上に乗っている。その交点であるＡ２点は（Ｐｂ，Ｐｐ）＝（１ｍＷ，６．５ｍＷ）となり、同時に２つの条件を満足する最適値を決定することができた。
【００７７】
本発明の実施例６のレベル検出方法について図１９及び、図１４、図１５に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、実施例４及び５と共通で使用できる構成要素については説明を省略する。
【００７８】
図１５において、同様にΔｖｄがゼロになる条件をデューティーの最適条件とする。
【００７９】
実施例４と実施例５において、図１５におけるΔｖｔ＋か、又はΔｖｔ−のどちらか一方のみがゼロになる時を熱干渉の最適条件とした。しかし、図１４においてΔｖｔ＋とΔｖｔ−が等しいときの方が、熱干渉を各パターンに均等に生じさせることができるため、より正確に熱干渉条件を最適化することができる。
【００８０】
図１５においてΔｖｔ＋とΔｖｔ−を熱干渉条件決定手段６４における減算手段７７に入力し、Δｖｔを出力する。熱干渉の条件をΔｖｔがゼロになる条件とすると、Δｖｔ＋とΔｖｔ−が等しくなり、より正確に熱干渉条件を最適化することができる。
【００８１】
図１９は、このようにしてＰｐとＰｂを最適化した実例である。デューティー条件を満足する（Ｐｂ，Ｐｐ）の組み合わせを６点、熱干渉条件を満足する（Ｐｂ，Ｐｐ）の組み合わせを５点測定した。どちらの条件においても（Ｐｂ，Ｐｐ）は直線上に乗っている。その交点であるＡ点は（Ｐｂ，Ｐｐ）＝（３．４ｍＷ，３．７ｍＷ）となり、同時に２つの条件を満足する最適値を決定することができた。
【００８２】
本発明の実施例７のレベル検出方法について図２０に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、実施例４ないし６と共通で使用できる構成要素については説明を省略する。
【００８３】
再生波形レベルｖ１ないしｖ６をアナログスイッチ７８にそれぞれ入力し、タイミング発生手段６５から送られてくるタイミング信号ｔ’によってｖ１ないしｖ６の中の１つを順次選択しながら、Ａ／Ｄコンバータ７９に入力する。変換したディジタル信号をＣＰＵ８０に入力し、図１５と同様にΔｖｄおよびΔｖｔ＋、Δｖｔ−、Δｖｔを検出することが可能である。
【００８４】
本発明の実施例８の記録パターンについて図２１に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、実施例４ないし７と共通で使用できる構成要素については説明を省略する。
【００８５】
第１記録パターンは、孤立マークパターンであり、２Ｔの記録マークと５．３３Ｔの非マークの組み合わせである。第２記録パターンは、繰り返しマークパターンであり、２Ｔの記録マークと２Ｔの非マークの組み合わせである。第３記録パターンは孤立非マークパターンであり、５．３３Ｔの記録マークと２Ｔの非マークの組み合わせである。これらのパターンにより同様に最適化を行うことが可能である本発明の実施例９の記録パターンについて図２２に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、実施例４ないし７と共通で使用できる構成要素については説明を省略する。
【００８６】
各パターンは、長さのみ異なる繰り返しパターンである。第１記録パターンは、１．３３Ｔの記録マークと非マークの組み合わせである。第２記録パターンは、２Ｔの記録マークと非マークの組み合わせである。第３記録パターンは、５．３３Ｔの記録マークと非マークの組み合わせである。第１パターンからピークレベルｖ７とボトムレベルｖ８を検出し、第２パターンからピークレベルｖ９とボトムレベルｖ１０を検出し、第３パターンからピークレベルｖ１１とボトムレベルｖ１２を検出する。Δｖｄα（＝ｖ１１−ｖ７）とΔｖｄβ（＝ｖ８−ｖ１２）が等しくなる条件をデューティー条件とする。Δｖｔα（＝ｖ９−ｖ７）とΔｖｔβ（＝ｖ８−ｖ１０）が等しくなる条件を熱干渉条件とする。
【００８７】
図２３は、このようにしてＰｐとＰｂを最適化した実例である。デューティー条件を満足する（Ｐｂ，Ｐｐ）の組み合わせを６点、熱干渉条件を満足する（Ｐｂ，Ｐｐ）の組み合わせを６点測定した。どちらの条件においても（Ｐｂ，Ｐｐ）は直線上に乗っている。その交点であるＡ３点は（Ｐｂ，Ｐｐ）＝（３．４ｍＷ，３．５ｍＷ）となり、同時に２つの条件を満足する最適値を決定することができた。
【００８８】
本発明の実施例１０について図２４ないし２６に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００８９】
これまでの方法では、ＰｐとＰｂをそれぞれ少しずつ変化させながら条件を最適化するため、テスト回数が非常に多く、最適化するまでにかなりの時間が必要である。そこで以下に、テスト回数を削減した高速の最適化方法について説明する。
【００９０】
これまで図１７、図１８、図１９、図２３に示したように、デューティー条件と熱干渉条件は共に直線上に乗っている。したがって、この２つの直線の方程式を求め、次に連立方程式を解いてＰｂとＰｐを最適化することにより、高速に最適化が可能となる。デューティー条件の方程式を算出するために、デューティー条件を満足する２つの測定サンプル点が必要となり、熱干渉条件の方程式を算出するために、熱干渉条件を満足する２つの測定サンプル点が必要である。つまり合計４つのサンプル点を求めるだけで、２つの方程式が算出でき、さらにはどちらの条件も満足する最適条件を決定することが可能となる。
【００９１】
図２４において、再生信号ｗを、デューティー条件決定手段６３におけるサンプル点検出手段８１と、熱干渉条件決定手段６４におけるサンプル点検出手段８２に入力する。サンプル点検出手段８１からは、図２５におけるデューティー条件を満足する２つのサンプル点（Ｘ１，Ｙ１４）、（Ｘ２，Ｙ２）を検出する。サンプル点検出手段８２からは、図２５における熱干渉条件を満足する２つのサンプル点（Ｘ１，Ｙ６）、（Ｘ２，Ｙ１０）を検出する。図２４において、（Ｘ１，Ｙ１４）、（Ｘ２，Ｙ２）を方程式算出手段８３に入力し、図２５におけるデューティー条件ラインと等価である方程式Ａ・Ｐｂ＋Ｂ・Ｐｐ＋Ｃ＝０を算出する。図２４において、（Ｘ１，Ｙ６）、（Ｘ２，Ｙ１０）を方程式算出手段８４に入力し、図２５における熱干渉条件ラインと等価である方程式Ｄ・Ｐｂ＋Ｅ・Ｐｐ＋Ｆ＝０を算出する。この２つの方程式を最適値決定手段５１における連立方程式計算手段８５に入力し、図２５における交点を求めることによって、最適値を決定することが可能となる。
【００９２】
動作流れ図について図２６に基づいて説明すれば、以下の通りである。ＰｂをＸ１に設定する（ｓ１０１）。Ｐｐを初期値Ｙ１に設定する（ｓ１０２）。第１パターン、第２パターン、第３パターンを光磁気ディスクに記録する（ｓ１０３）。各パターンの再生波形レベルｖ１ないしｖ６を検出する（ｓ１０４）。デューティーが最適かどうか（Δｖｄ＝０）判断する（ｓ１０５）。最適であれば（ｓ１０７）へ進み、そのときのＰｂとＰｐを記憶する。そうでなければ、（ｓ１０６）へ進み、熱干渉が最適かどうか（Δｖｔ＝０）判断する（ｓ１０６）。最適であれば（ｓ１０７）へ進み、そのときのＰｂとＰｐを記憶する。そうでなければ、４つのサンプル点が検出できたか判断する（ｓ１０８）。サンプル点の検出が終わればデューティー条件の方程式を算出する（ｓ１１０）。そうでなければ、つぎのＰｐをＹ２に設定し（ｓ１０３）へ進むことによって、順にパワーＰｐを変えて動作を繰り返す。Ｐｐが図２５に示すＹ１〜Ｙ１６まで進んだならば、ＰｂをＸ２に変えて、再びＰｐをＹ１〜Ｙ１６まで変化させながら繰り返す。このようにして、例えばＰｂの値をＸ１とＸ２のみに限定できるため、テストの回数を大幅に削減できる。デューティー条件の方程式を算出したら、熱干渉条件の方程式を算出する（ｓ１１１）。連立方程式から交点を求めることにより、最適値を決定する（ｓ１１２）。
【００９３】
本発明の実施例１１について図２７ないし２９に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００９４】
実施例１１までは、デューティー条件と熱干渉条件が共に直線上に乗っている場合について説明してきたが、そうでない場合もあったり、また詳細にはわずかな曲線になっている場合もある。本実施例はこのような場合でもＰｂとＰｐを最適化できる方法を説明する。
【００９５】
図２７において、再生信号ｗをデューティー条件決定手段８６と、熱干渉条件決定手段８７に入力する。デューティー条件決定手段８６では、図２８においてまずＰｂを固定しておきＰｐを変化させて記録しながら、デューティー条件ライン上のＤ１を検出する。熱干渉条件決定手段８７では、図２８における熱干渉条件ライン上のＴ１を検出する。図２７における中点算出手段８８は、デューティー条件最適点Ｄ１と熱干渉条件最適点Ｔ１との中点Ｍ１を算出する。
【００９６】
今度は、中点Ｍ１におけるＰｐを固定しておき、Ｐｂを変化させて記録しながら、デューティー条件ライン上のＤ２を検出し、熱干渉条件ライン上のＴ２を検出する。同様にＤ２とＴ２との中点Ｍ２を算出する。
【００９７】
同様にこれを繰り返して行くと、中点Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３、Ｍ４・・・は、しだいにデューティー条件ラインと熱干渉条件ラインの交点に近づいて行き、最適値を決定することが可能となる。
【００９８】
動作流れ図について図２９に基づいて説明すれば、以下の通りである。Ｐｂを固定する（ｓ２０１）。Ｐｐを変化させる（ｓ２０２）。第１パターン、第２パターン、第３パターンを光磁気ディスクに記録する（ｓ２０３）。各パターンの再生波形レベルを検出する（ｓ２０４）。デューティー最適条件を満たすかどうか判断し（ｓ２０５）、（ｓ２０２）に戻ってこれを繰り返しながら、Ｄ１を決定する。同様に熱干渉最適条件を満たすＴ１を決定する（ｓ２０６）。中点Ｍ１を算出する（ｓ２０７）。Ｐｐを固定する（ｓ２０８）。Ｐｂを変化させる（ｓ２０９）。第１パターン、第２パターン、第３パターンを光磁気ディスクに記録する（ｓ２１０）。各パターンの再生波形レベルを検出する（ｓ２１１）。デューティー最適条件を満たすかどうか判断し（ｓ２１２）、（ｓ２０９）に戻ってこれを繰り返しながら、デューティー最適条件を満たすＤ２を決定する。同様に熱干渉最適条件を満たすＴ２を決定する（ｓ２１３）。中点Ｍ２を算出する（ｓ２１４）。再び（２０１）へ戻る。これを繰り返して行くと、中点Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３、Ｍ４・・・は、しだいにデューティー条件ラインと熱干渉条件ラインの交点に近づいて行き、最適値を決定することが可能となる。
【００９９】
尚、上述の従来例では記録変数が２つのパワー値Ｐｂ、Ｐｐからなる例を示したが、これに限らず３つ以上の変数を用いた場合でも同様である。また、記録パワーに限らず記録パルスの長さ、幅（あるいはパルスの間隔及び周期）を記録変数とした場合でも同様である。図２５に示したように、例えば２変数の場合は２つの直線の交点が２つの相対関係をすべて満足する点となるが、３変数の場合は必ずしも３つの直線が１点で交差するとは限らない。そのため、３つの直線からの距離が平均で一番近くなる点を最適点とすれば、３つの相対関係を平均的に満足するすることが可能である。４つ以上の変数の場合も同様となる。
【０１００】
また、光パワーＰｂ、Ｐｐについて最適化した例を示したが、これに限らず半導体レーザの駆動電流Ｉｂ、Ｉｐを最適化しても同様である。なぜなら、図１１に示すとおり、光パワーＰｂ、Ｐｐは半導体レーザ駆動電流Ｉｂ、Ｉｐと１対１に対応しているからである。
【０１０１】
以上の実施例において、光磁気ディスク２４には情報記録領域とは別に試し書き専用の記録領域を設けることが好ましい。この試し書き専用の記録領域を用いて記録条件の設定を行えば、情報記録領域の情報を破壊する恐れがなくなる。
【０１０２】
本発明の実施例１２の光記録媒体について図３０に基づいて説明すれば、以下の通りである。これまでの実施例で示したように、１回のパワーの最適化を行うための試し書きの回数は１回だけではなく、複数回となる。したがって、年月の経過と共に試し書きの累積回数は増加して行く。特に複数のパワー値の最適化には、さらに多くの試し書きが必要であり、書き換え保証回数への到達が心配される。そこで、図３０に示す光磁気ディスク８９は、例えば内周にトラック単位で第１試し書き領域９０、第２試し書き領域９１、第３試し書き領域９２を配置している。前期トラックはスパイラル状あるいは同心円状に形成されている。この領域は情報記録領域９７とは区別しておき、情報の記録は禁止しておく。このように複数の試し書き領域を配置することによって、書き換え回数を複数の領域へ分散させる事ができ、寿命を確保することが可能となる。なお、トラック単位での複数の試し書き領域に限定する必要はなく、例えばセクタ単位の複数の試し書き領域を配置してもよい。また、外周にも試し書き領域９３、９４、９５を配置してもよい。
【０１０３】
以上の実施例では、光記録媒体として光磁気ディスク２４を挙げて本発明の試し書き記録制御装置および試し書き記録制御方法を説明したが、これに限定されることなく、相変化型の光ディスクや追記型の光ディスク等、光ビームａを照射したときに発生する熱を利用して情報の記録を行う光記録媒体あるいは情報記録再生装置に対し、本発明を広く応用できる。
【０１０４】
また図２、図８、図１４、図２１、図２２における繰り返しマーク、繰り返し非マーク、孤立マーク、孤立非マークの数は図のとおり限定する必要は無く、多くても少なくても熱干渉あるいはデューティーを検出できる数であれば良いことは言うまでもない。
【０１０５】
実施例１では、図２に示すように短い記録マークのみの記録を行うため、半導体レーザの記録パルス照射時間を削減できる。従って頻繁に試し書きを行う場合でも半導体レーザの劣化を抑えることが可能となり、寿命を長くすることができる。また記録マークの大きさの変動は波形のピークレベルの変動に敏感に現れる。従ってエンベロープ検波手段により再生信号波形のピークを検出することによって、感度良く熱干渉を検出可能である。
【０１０６】
実施例２では図６に示すように平均化手段によってレベルを検出するため、記録媒体上の傷やゴミによるスパイクノイズが多い場合にエンベロープ検波手段に比べて誤検出を抑えることが可能である。
【０１０７】
実施例３では図８に示すように、長い記録マークを記録するため、レーザービームの照射時間が長く、熱干渉をより大きく発生させることができる。したがって記録マークが短い場合に比べて、感度良く熱干渉を検出することが可能である。
【０１０８】
実施例４では図１４に示すように、ピークレベルｖ１〜ｖ６の６つのレベルのうち、ｖ１〜ｖ５の５つのレベルを検出すれば良いので、構成を簡略化することが可能である。
【０１０９】
同様に実施例５では、図１４に示すようにピークレベルｖ１〜ｖ６の６つのレベルのうち、ｖ１、ｖ３〜ｖ５の５つのレベルを検出すれば良いので、構成を簡略化することが可能である。
【０１１０】
実施例６では図１９に示すように、デューティー最適条件ラインと熱干渉最適条件ラインが図１７および図１８に比べて深く交差するため、精度良く交点を求めることが可能である。
【０１１１】
実施例７では図２０に示すように、それぞれのピークレベルをすべて一旦Ａ／Ｄ変換した後、ＣＰＵを用いてレベル差を算出するため、構成を簡素化できる。
【０１１２】
実施例８では図２１に示すように、図１４の１．３３Ｔ記録マークおよび非マークを、２Ｔの記録マーク及び非マークに置き換えるため、ＯＴＦによる波形レベルの減少を抑えることができ、より正確に熱干渉を検出することができる。
【０１１３】
実施例９では図２２に示すように、波形パターンが、図１４および図２１における波形パターンに比べて直流成分を持たないため、回路のＣ結合によるレベル変動が無く、より正確にピークレベルを検出することができる。
【０１１４】
実施例１０では、図２４における方程式算出手段８３、８４および連立方程式計算手段８５をＣＰＵによって代用できるため、構成を簡素化することが可能である。
【０１１５】
実施例１１では、図２８に示すようにＭ１、Ｍ２・・・を順に求めるため、しだいに最適点Ａ点に近づける。したがって中点を求める回数を増やすことにより、精度を向上させることが可能である。
【０１１６】
実施例１２では、図３０における試し書き領域の数を増やせば増やすほど、記録媒体の感度むらによる検出誤差を平均化できるため、より精度よく最適パワーを決定することが可能である。
【０１１７】
【発明の効果】
本発明に係る試し書き記録制御方法は、上記第２の問題点を解決するために、複数の記録変数によって記録パルスを発生させて光記録媒体に記録を行い、前記複数の記録変数をそれぞれ最適化するための試し書き記録制御方法であって、前記複数の記録変数どうしの相対関係を該記録変数の種類と同数だけ求め、さらにこれらの相対関係をすべて満足する前記複数の記録変数を求めて、最適な記録変数とすることを特徴としている。
【０１１８】
これによれば、記録変数（例えばパワー値）の種類と同数の該相対関係を求め、これらをすべて満足する前記複数の記録変数を求めるので、複数の記録変数と同次元の空間まで調整範囲を拡張できる。したがって、周囲温度の変化や記録媒体の記録感度が変化しても、常に複数の記録変数をそれぞれ独立に最適値に設定することが可能となる。
【０１１９】
本発明に係る試し書き記録制御装置は、上記第２の問題点を解決するために、複数の記録変数によって記録パルスを発生させて光記録媒体に記録を行い、前記複数の記録変数をそれぞれ最適化するための試し書き記録制御装置であって、前記複数の記録変数どうしの相対関係を該記録変数の種類と同数だけ求める相対関係決定手段と、前記複数の相対関係をすべて満足する前記複数の記録変数を求める最適値決定手段を具備し、前記最適値決定手段によって決定された前記複数の記録変数の最適値を最適な記録条件とすることを特徴としている。
【０１２０】
これによれば、上記の試し書き記録制御方法を採用した試し書き記録制御装置を実現できる。
【０１２１】
本発明に係る試し書き記録制御装置は、相対関係決定手段は第１記録パターンが孤立マークパターンからなり、第２記録パターンが繰り返しマークパターンからなり、第３記録パターンが孤立非マークパターンからなり、それぞれのパターンに対応する再生信号の部分のレベルを検出し、上記レベルを比較することにより、記録変数の相対関係を決定する手段であることを特徴としている。
【０１２２】
これによれば、簡単な記録パターンを使用ことにより、記録変数の相対関係を求めることが可能となる。
【０１２３】
本発明に係る試し書き記録制御装置は、上記第２の問題点を解決するために、上記の試し書き記録制御装置であって、複数の記録変数は第１パワー値と第２パワー値の２つのパワーからなり、相対関係決定手段は記録マークのデューティーが最適となる時の前記第１パワー値と第２パワー値との第１相対関係を求めるデューティー条件決定手段と、記録マーク相互の熱干渉が最適となる時の前記第１パワー値と第２パワー値との第２相対関係を求める熱干渉条件決定手段からなり、最適値決定手段は前記第１相対関係と第２相対関係を同時に満足する第１パワー値及び第２のパワー値を求める最適値決定手段からなり、該最適値決定手段によって決定された前記第１パワー値と第２パワー値を最適なパワー値とすることを特徴としている。
【０１２４】
これによれば、上記の試し書き記録制御装置を簡単な構成で実現できる。
【０１２５】
本発明に係る試し書き記録制御装置は、上記第２の問題点を解決するために、上記の試し書き記録制御装置であって、相対関係決定手段は複数の記録変数と同数の連立方程式を求める連立方程式決定手段からなり、最適値決定手段は前記連立方程式の解を求める計算手段からなり、該計算手段によって決定された前記複数の記録変数の最適値を最適な記録条件とすることを特徴としている。
【０１２６】
これによれば、上記の試し書き記録制御装置を簡単な構成で実現できる。
【０１２７】
また、上記の試し書き記録制御方法及び試し書き記録制御装置に好適な光記録媒体は、上記第３の問題点を解決するために、光ビームを照射して記録再生を行う光記録媒体において、情報記録領域以外の試し書き記録領域であって、所定期間あるいは所定動作毎に光記録媒体に試し書きを行うための複数の試し書き領域を具備し、前記試し書き記録領域への試し書き回数が記録媒体の書き換え保証回数以下となることを特徴としている。
【０１２８】
上記の試し書き記録制御方法及び試し書き記録制御装置に好適な光記録媒体は、上記第３の問題点を解決するために、光ビームを照射して記録再生を行う光記録媒体において、情報を記録する情報記録領域と区別して、所定期間あるいは所定動作毎に試し書きを行う試し書き領域を、試し書き回数が記録媒体の書き換え保証回数以下となるべく複数具備することを特徴としている。
【０１２９】
上記の試し書き記録制御方法及び試し書き記録制御装置に好適な光記録媒体は、上記第３の問題点を解決するために、光ビームを照射して記録再生を行う光記録媒体において、情報を記録する情報記録領域と区別して、所定期間あるいは所定動作毎に試し書きを行う試し書き領域を複数具備し、記録媒体の書き換え保証回数以下の試し書き性能を備えることを特徴としている。
【０１３０】
上記の試し書き記録制御方法及び試し書き記録制御装置に好適な光記録媒体は、上記第３の問題点を解決するために、光ビームを照射して記録再生を行う光記録媒体において、情報を記録する情報記録領域と区別し、記録媒体の書き換え保証回数以下であって、所定期間あるいは所定動作毎に試し書きを行う試し書き領域を具備することを特徴としている。
【０１３１】
これによれば、所定期間あるいは所定動作毎に光記録媒体に試し書きを行うための試し書き領域を備えている。したがって試し書きによって誤って記録再生情報破壊を防止できる。また、複数の試し書き記録領域を備えているため、一つの試し書き領域あたりの試し書き回数を減らすことができ、記録媒体の書き換え保証回数以下に減じることができるため、試し書きの信頼性を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施例における試し書き記録制御装置を示す図である。
【図２】図１の試し書き記録制御装置の動作を示すための説明図である。
【図３】図１の試し書き記録制御装置の具体例を示すためのブロック図である。
【図４】図３の試し書き記録制御装置の詳細を示す回路図である。
【図５】図１の試し書き記録制御装置の他の具体例を示すブロック図である。
【図６】本発明の第２の実施例における試し書き記録制御装置を示す図である。
【図７】図６の試し書き記録制御装置の詳細を示す回路図である。
【図８】本発明の第３の実施例における試し書き記録制御装置を示す図である。
【図９】図９の試し書き記録制御装置の詳細を示す回路図である。
【図１０】本発明の第４の実施例における試し書き記録制御装置を示す図である。
【図１１】図１０における半導体レーザ駆動回路を説明する図である
【図１２】図１１における記録波形を説明する図である。
【図１３】図１０における試し書き記録制御装置の詳細なブロックを説明する図である。
【図１４】図１０の試し書き記録制御装置の動作を示すための説明図である。
【図１５】図１３の試し書き記録制御装置の詳細を示す回路図である。
【図１６】図１３の試し書き記録制御装置の動作の流れを示す図である。
【図１７】図１３の試し書き記録制御装置によって最適化したパワーの実測値を示す図である。
【図１８】本発明の第５の実施例における試し書き記録制御装置の動作を説明する図である。
【図１９】本発明の第６の実施例における試し書き記録制御装置の動作を説明する図である。
【図２０】本発明の第７の実施例における試し書き記録制御装置を示す図である。
【図２１】本発明の第８の実施例における試し書き記録制御装置の動作を説明する図である。
【図２２】本発明の第９の実施例における試し書き記録制御装置の動作を説明する図である。
【図２３】図２２の試し書き記録制御装置によって最適化したパワーの実測値を示す図である。
【図２４】第１０の実施例における試し書き記録制御装置の詳細なブロックを説明する図である。
【図２５】図２４における試し書き記録制御装置の動作を説明する図である。
【図２６】図２５の試し書き記録制御装置の動作の流れを示す図である。
【図２７】第１１の実施例における試し書き記録制御装置の詳細なブロックを説明する図である。
【図２８】図２７における試し書き記録制御装置の動作を説明する図である。
【図２９】図２８の試し書き記録制御装置の動作の流れを示す図である。
【図３０】第１２の実施例における光記録媒体を説明する図である。
【図３１】従来の試し書き記録制御装置の動作を示すための説明図である。
【符号の説明】
１繰り返しパターンレベル検出手段
２孤立パターンレベル検出手段
３比較手段
４繰り返し・孤立パターン発生手段
５記録マーク
６記録マーク
７エンベロープ検波手段
８エンベロープ検波手段
９減算手段
１０タイミング発生手段
１１Ａ／Ｄコンバータ
１２プロセッサ
１３平均化手段
１４平均化手段
１５減算手段
２４光磁気ディスク
４９熱干渉条件決定手段
５０デューティー条件決定手段
５１最適値決定手段
５７第１パターン発生手段
５８第２パターン発生手段
５９第３パターン発生手段
６０第１パターンレベル検出手段
６１第２パターンレベル検出手段
６２第３パターンレベル検出手段[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a trial writing recording control method and a trial writing recording control apparatus for obtaining optimum recording conditions for an optical recording medium such as a magneto-optical disk on which information is recorded by a light beam.
[0002]
[Prior art]
As a first conventional example, there is an information storage device disclosed in JP-A-5-266476. In this example, a method for modulating the power of a semiconductor laser with a binary value of PH and PL is disclosed. The relationship between PH and PL is determined in advance (PH + αPL = constant), and the output power of the semiconductor laser is fed back. The recording power was controlled. However, in this method, even though the emission power of the semiconductor laser can be controlled to be constant, the recording state on the recording medium is not fed back, so that the actual recording conditions including the recording medium cannot be controlled. Had problems.
[0003]
As a second conventional example, J. Org. Magn. Soc. Jap. , Vol. 15, Supplement No. There was a recording control method disclosed in S1 (1991), PP 395-398. In this method, an optimum recording mark is recorded by controlling the position of the edge of the recording light pulse for each type of pulse. However, this method has a problem that the shape of the recording mark is a teardrop shape, and the reproduction waveform is different between the front and rear of the mark, so that accurate data cannot be reproduced.
[0004]
In order to solve this problem, there is a test writing recording control method which is a third conventional example. The trial writing recording control method is a method of setting optimum laser power by temporarily recording predetermined data on a magneto-optical disk and reading the recorded data. Prototype recording of magneto-optical disk disclosed in IEICE Technical Report MR92-62 (19911-11), p, 13-18, or 1992 IEICE Autumn Conference Proceedings c-342, p, 5-21 A control method will be described with reference to FIG.
[0005]
In this method, first, the recording mark 16 of the shortest mark repetition pattern X and the recording mark 17 of the longest mark repetition pattern Y are recorded on the magneto-optical disk. Then, the recording marks 16 and 17 are read, and a voltage difference ΔV between the average voltage V1 of the reproduction signal W corresponding to the shortest mark repetition pattern X and the average voltage V2 of the reproduction signal W corresponding to the longest mark repetition pattern Y is obtained.
[0006]
Accurate recording can be performed by controlling the light beam power so that the voltage difference ΔV becomes zero.
[0007]
Further, the laser power Pw is changed in proportion to Pas (Pw = 2 × Pas), and the relationship between the binary power values is determined in advance as in the first conventional example. Further, by further subdividing the recording light pulse and recording one recording mark with a large number of recording pulses, it has been prevented that the recording mark has a teardrop shape.
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
However, the configuration of the third conventional example has the first problem that it is difficult to accurately make the thermal interference constant.
[0009]
Here, the thermal interference means that heat when recording a certain recording mark affects when recording an adjacent recording mark.
[0010]
If the length of the mark and the length between the marks are different, the magnitude of the thermal interference is also different, and the mark length varies, so that a mark having a predetermined size cannot be recorded.
[0011]
The thermal interference between the recording marks 16 and 16 of the shortest mark repetition pattern X causes the reproduction signal W to fluctuate up and down (level fluctuation). Thermal interference between the other longest marks 17 and 17 does not occur because the distance between the marks is long. For this reason, the average voltage V1 varies due to thermal interference, but the average voltage V2 does not vary. That is, in the configuration of the third conventional example described above, the thermal interference of only the shortest mark repeating pattern X can be optimized, but the other marks cannot be optimized at all. It is difficult to accurately know all the thermal interferences from these voltage differences ΔV, and there is a problem that even if the voltage difference ΔV becomes zero, all the thermal interferences are not always constant. That is, the reproduction duty is optimized by optimizing the thermal interference of the shortest mark repeating pattern X, but there is a problem that other thermal interference is not optimal.
[0012]
The second problem is as follows. If the relationship between binary laser powers is determined in advance, only one-dimensional power values can be adjusted. However, when the ambient temperature changes or the sensitivity of the recording medium changes, the binary laser power relationship (PH + αPL = constant or Pw = 2 × Pas) also changes, and two-dimensional power values need to be adjusted. That is, since the binary laser power is not controlled independently, the adjustment range is narrow and it is difficult to obtain the optimum recording power. This is not limited to the optical power value, but the position of the edge of the recording pulse is also fixed, and independent of multiple recording variables including the optical power value and the edge (or edge interval and edge period). There was a problem that it could not be controlled.
[0013]
The third problem is as follows. There is a risk that recording / reproducing information may be accidentally destroyed by trial writing. In order to prevent this, it is necessary to newly provide a trial writing area dedicated to trial writing and distinguish it from the information recording / reproducing area. Further, since the test writing needs to be performed every time the ambient temperature changes or the sensitivity changes due to the replacement of the recording medium, it is expected that the number of rewrites in the test writing area will be extremely large. For example, assuming that a trial writing is performed once every 3 minutes, 10 trials will take place in about 6 years. ⁶ The number of times of rewriting is to be performed, and it can be expected that the guaranteed number of times of rewriting of the recording medium will be exceeded.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
The present invention In order to solve the second problem, the test writing recording control method according to the above embodiment generates a recording pulse by a plurality of recording variables, performs recording on an optical recording medium, and optimizes the plurality of recording variables, respectively. A test writing recording control method for obtaining a relative relationship between the plurality of recording variables, further obtaining an optimum value of the plurality of recording variables satisfying all of the relative relationships, and obtaining an optimum recording condition. It is characterized by that.
[0015]
The present invention In order to solve the second problem, the trial writing recording control apparatus according to the above embodiment generates a recording pulse by a plurality of recording variables, performs recording on the optical recording medium, and optimizes the plurality of recording variables, respectively. And a relative relationship determining means for obtaining a relative relationship among the plurality of recording variables, and an optimum value determining for obtaining an optimum value of the plurality of recording variables satisfying all of the plurality of relative relationships. And an optimum value of the plurality of recording variables determined by the optimum value determining means is set as an optimum recording condition.
[0016]
The present invention In the test writing recording control device according to the first aspect, the relative relationship determining means includes a first recording pattern consisting of an isolated mark pattern, a second recording pattern consisting of a repeated mark pattern, and a third recording pattern consisting of an isolated non-mark pattern. It is a means for determining the relative relationship of recording variables by detecting the level of the portion of the reproduction signal corresponding to the pattern and comparing the levels.
[0017]
The present invention In order to solve the second problem, the test writing recording control apparatus according to the above The plurality of recording variables are composed of two powers, ie, a first power value and a second power value, and the relative relationship determining means is the first power when the duty of the recording mark is optimum. A duty condition determining means for obtaining a first relative relationship between the value and the second power value, and a second relative relationship between the first power value and the second power value when the thermal interference between the recording marks is optimal. The optimum value determining means comprises optimum value determining means for obtaining a first power value and a second power value satisfying the first relative relationship and the second relative relationship at the same time. The first power value and the second power value determined by the means are set as optimum power values.
[0018]
The present invention In order to solve the second problem, the test writing recording control apparatus according to the above The relative relationship determination means comprises simultaneous equation determination means for obtaining the same number of simultaneous equations as a plurality of recording variables, and the optimum value determination means comprises calculation means for obtaining a solution of the simultaneous equations, It is characterized in that the optimum values of the plurality of recording variables determined by the calculating means are set as optimum recording conditions.
[0019]
Also suitable for the trial writing recording control method and the trial writing recording control device described above. In order to solve the third problem, the optical recording medium is a test writing recording area other than the information recording area in the optical recording medium that performs recording and reproduction by irradiating a light beam, and has a predetermined period or a predetermined operation. A plurality of trial writing areas for performing trial writing on the optical recording medium are provided for each, and the number of trial writings to the trial writing recording area is equal to or less than the guaranteed number of rewriting of the recording medium.
[0020]
Suitable for the above-described test writing recording control method and test writing recording control device In order to solve the third problem, an optical recording medium is an optical recording medium that performs recording and reproduction by irradiating a light beam, and distinguishes it from an information recording area in which information is recorded. A plurality of test writing areas for performing test writing are provided as many as possible so that the number of test writings is equal to or less than the guaranteed number of rewrites of the recording medium.
[0021]
Suitable for the above-described test writing recording control method and test writing recording control device In order to solve the third problem, an optical recording medium is an optical recording medium that performs recording and reproduction by irradiating a light beam, and distinguishes it from an information recording area in which information is recorded. A plurality of test writing areas for performing test writing are provided, and test writing performance equal to or less than the guaranteed number of rewrites of the recording medium is provided.
[0022]
Suitable for the above-described test writing recording control method and test writing recording control device In order to solve the third problem, the optical recording medium is an optical recording medium that performs recording and reproduction by irradiating a light beam. In this case, a test writing area for performing test writing for a predetermined period or every predetermined operation is provided.
[0023]
The operation of the present invention will be described below.
[0024]
Test writing recording control method according to the present invention According to the configuration, since the relative relationship between the recording variables is obtained and the solutions of the plurality of variables satisfying all of them are obtained, the adjustment range can be expanded to a space having the same dimension as the plurality of variables. Therefore, even when the ambient temperature changes or the recording sensitivity of the recording medium changes, it is possible to always set a plurality of variables independently to the optimum values.
[0025]
Test writing recording control apparatus according to the present invention According to the configuration of the above Thus, it is possible to realize a trial writing recording control apparatus adopting the trial writing recording control method.
[0026]
Test writing recording control apparatus according to the present invention With this configuration, it is possible to obtain the relative relationship of the recording variables by using a simple recording pattern.
[0027]
Test writing recording control apparatus according to the present invention According to the configuration, the recording variation consists of two power values, the above The trial writing recording control apparatus can be realized with a simple configuration.
[0028]
An optical recording medium suitable for the trial writing recording control method and the trial writing recording control apparatus described above. According to the configuration, the test writing area for performing test writing on the optical recording medium for a predetermined period or every predetermined operation is provided. Therefore, it is possible to prevent the recording / reproducing information from being destroyed by mistake by trial writing. In addition, since there are multiple test writing recording areas, the number of trial writings per test writing area can be reduced, and the number of guaranteed rewrites of the recording medium can be reduced, so the reliability of test writing can be reduced. It becomes possible to improve.
[0029]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 5 as follows.
[0030]
As shown in FIG. 1, the test writing recording control apparatus of the present embodiment has a semiconductor laser 23 and an isolated mark pattern x (second recording pattern) and a repetitive mark so that a level difference Δv (described later) is minimized. Repeating / isolated pattern generating means 4 for outputting a recording signal z corresponding to the pattern y (first recording pattern) to the semiconductor laser 23 is provided.
[0031]
The semiconductor laser 23 irradiates the magneto-optical disk 24 (optical recording medium) with a light beam a having an intensity and a pulse length corresponding to the recording signal z, and thereby, as shown in FIG. 5 and the recording marks 6 of the repeated mark pattern y are recorded on the magneto-optical disk. Here, the isolated mark pattern x is a pattern that is not easily affected by thermal interference, such as the recording marks 5... Separated from each other, and the repeated mark pattern y is the recording marks 6. Thus, it is a pattern that is susceptible to thermal interference.
[0032]
The test writing recording control apparatus further receives the reflected light b from the magneto-optical disk 24 and photoelectrically converts it to output a reproduction signal w and a reproduction signal w corresponding to the repetitive mark pattern y. Repeat pattern level detection means (first level detection means) for detecting the peak level v1 of the part, and isolated pattern level detection means 2 (first level) for detecting the peak level v2 of the portion of the reproduction signal w corresponding to the isolated mark pattern x. Two-level detection means) and comparison means 3 for outputting the level difference Δv between the peak levels v1 and v2 to the repetitive / isolated pattern generation means 4 described above.
[0033]
The repeated mark pattern y refers to a first minute area (non-mark sandwiched between the recording marks 6 and 6) which is the first recording state (for example, the S pole above the paper surface) and the second recording state (for example, the upper side of the magneto-optical disk). This is a first recording pattern composed of a combination with a second minute region (recording mark 6...) That is N pole above the paper surface and shorter than the light beam diameter. Here, the relative relationship between the light beam diameter and the length of the second minute area is a condition in which the level v1 of the reproduced waveform w from the second minute area (record mark 6...) Is not saturated. This is a case where the diameter is shorter than the light beam diameter. Note that the level v1 is saturated as the length increases. Until saturation occurs, level changes can be made sensitively to changes in recording conditions (for example, laser power), but once saturation occurs, level fluctuations will not occur no matter how much the recording conditions are changed. The recording mark state cannot be detected. For this reason, a condition that the level of the reproduced waveform is not saturated is necessary.
[0034]
The isolated mark pattern x is a first recording state of the magneto-optical disk (for example, S pole above the paper surface) and is a third minute area (non-mark sandwiched between the recording marks 5 and 5) longer than the first minute area. ) And a second state (for example, the N pole above the paper surface) and a second minute area (record mark 5...) Shorter than the light beam diameter. Since the non-marks sandwiched between the recording marks 6 and 6 are shorter than the non-marks sandwiched between the recording marks 5 and 5, the recording marks 6. Cheap.
[0035]
In the above configuration, when the recording marks 5... And recording marks 6... Are recorded by irradiating the magneto-optical disk 24 with the light beam a having the same intensity and the same pulse length, the recording is likely to receive thermal interference. As shown by the solid line in FIG. 2, the marks 6... Are larger than the recording marks 5. For this reason, the peak level v1 of the portion of the reproduction signal w corresponding to the repeated mark pattern y is higher than the peak level v2 of the portion of the reproduction signal w corresponding to the isolated mark pattern x. Therefore, a level difference Δv occurs.
[0036]
On the other hand, when recording marks 5... And recording marks 6... Are recorded, the thermal interference between recording marks 5 and 5 and the thermal interference between recording marks 6 and 6 are the same, or When no thermal interference occurs, the recording marks 6... Have the same size as the recording marks 5. For this reason, the peak levels v1 and v2 are equal. Therefore, the level difference Δv is zero.
[0037]
As described above, the recording condition for recording information under the same thermal interference is set by setting the intensity and pulse length of the light beam so that the level difference Δv is minimized by the repeated / isolated pattern generating means 4. Can be set. This makes it possible to record information accurately.
[0038]
When a CPU (Central Processing Unit) is used, it is possible to measure the change in Δv while changing the recording condition and automatically perform test writing recording control.
[0039]
Note that the level difference Δv may occur not only due to thermal interference but also due to optical transfer characteristics (OTF). In this case, the total level difference Δv is expressed by the following equation.
Δv = Δv (OTF) + Δv (thermal)
Here, Δv (OTF) is a level difference due to the optical transfer characteristic, and Δv (thermal) is a level difference due to thermal interference.
[0040]
When Δv (OTF) is present, the level difference Δv is not zero, but when the level difference Δv is minimized, the thermal interference is the same as in the above case. That is, according to the test writing recording control apparatus of the present embodiment, it is possible to set a recording condition for recording information under the same thermal interference regardless of the presence / absence of Δv (OTF). This makes it possible to record information accurately.
[0041]
In the above embodiment, the recording condition is set such that the level difference Δv between the peak levels v1 and v2 is minimized. However, the minimum level v3 of the portion of the reproduction signal w corresponding to the repeated mark pattern y and the peak level v2 are set. The recording conditions can also be set so that the level difference (= v2−v3) is maximized.
[0042]
Specifically, for example, as shown in FIG. 3, an envelope detection means 7 and an envelope detection means 8 are used as the repetitive pattern level detection means 1 and the isolated pattern level detection means 2 of the test writing recording control apparatus. The subtracter 9 can be used as the comparison means 3.
[0043]
The envelope detectors 7 and 8 are specifically composed of a peak hold circuit 25 and a sample hold circuit 26 as shown in FIG. The peak hold circuit 25 includes a resistor 27, a diode 28, a capacitor 29, and a buffer 30, and the sample hold circuit 26 includes a switch 31, a capacitor 32, and a buffer 33. The peak levels v1 and v2 obtained by the peak hold circuit 25 can be taken out by turning on / off the switch 31 with the timing signal h.
[0044]
Further, as shown in FIG. 5, the repeated pattern level detecting means 1 and the isolated pattern level detecting means 2 of the test writing recording control apparatus include a timing generating means 10 for generating a timing signal t for each peak of the reproduction signal w. The A / D converter 11 that extracts the peak levels v1, v2 of the reproduction signal w by A / D (analog / digital) conversion of the reproduction signal w based on the timing signal t can be used as a comparison means. 3, a processor 12 that calculates and outputs a level difference Δv (= v1−v2) from the peak levels v1, v2 based on the timing signal t can be used.
[0045]
The timing generation means 10 can be easily configured by a PLL circuit (phase locked loop) for extracting a synchronous clock from the reproduction signal w and a demodulator, for example.
[0046]
The second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. For convenience of explanation, members having the same functions as those shown in the drawings of the above-described embodiment are given the same reference numerals, and explanation thereof is omitted.
[0047]
As shown in FIG. 6, the test writing recording control apparatus of the present embodiment has an averaging means 13 (first level detecting means) for detecting the average level v1 ′ of the portion of the reproduction signal w corresponding to the repeated mark pattern y. And an averaging means 14 (second level detecting means) for detecting the average level v2 ′ of the portion of the reproduction signal w corresponding to the isolated mark pattern x, and a level difference Δv ′ (=) from the average levels v1 ′ and v2 ′. v1′−v2 ′) and a subtracter 15 (comparison means) for obtaining and outputting.
[0048]
The averaging means 13 and 14 are specifically composed of a low-pass filter 34 and a sample and hold circuit 35 as shown in FIG. The low pass filter 34 includes a resistor 36, a capacitor 37, and a buffer 38, and the sample hold circuit 35 includes a switch 39, a capacitor 40, and a buffer 41. The average levels v1 ′ and v2 ′ obtained by the low-pass filter 34 can be taken out by performing on / off control of the switch 39 with the timing signal h.
[0049]
In the above configuration, the recording condition for recording information under the same thermal interference can be set by setting the intensity and pulse length of the light beam a so that the level difference v ′ is minimized. This makes it possible to record information accurately.
[0050]
In the above embodiment, the magneto-optical disk 24 is preferably provided with a recording area dedicated for trial writing in addition to the information recording area. If the recording conditions are set using the recording area dedicated for trial writing, there is no possibility of destroying information in the information recording area. In the above embodiment, the magneto-optical disk 24 is exemplified as the optical recording medium, and the trial writing recording control apparatus and the trial writing recording control method of the present invention have been described. The present invention can be widely applied to an optical recording medium or an information recording / reproducing apparatus that records information using heat generated when the light beam a is irradiated, such as an optical disk or a write-once optical disk.
[0051]
A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. Recording marks 5 '... of the isolated non-mark pattern x' and recording marks 6 '... of the repeated non-mark pattern y' are recorded on the magneto-optical disk. In other words, the recording mark and the non-mark are completely replaced with the recording pattern shown in FIG. Here, the isolated non-mark pattern x ′ is a pattern that is greatly affected by thermal interference, such as long recording marks 5 ′... Separated from each other, and is repeatedly close to the non-mark pattern y ′. It is a pattern that is slightly affected by thermal interference, such as the recording mark 6 '.
[0052]
In other words, the repetitive non-mark pattern y ′ refers to the first minute area (record mark 6 ′...) That is the first recording state (for example, the N pole above the paper surface) and the second recording state (for example, the paper surface). This is a first recording pattern consisting of a combination of second minute regions (record marks 6 ′ and non-marks sandwiched between 6 ′) that are shorter than the light beam diameter (upper S pole). Here, the relative relationship between the light beam diameter and the length of the second minute region is that the lower level v1 ″ of the reproduced waveform w from the second minute region (the non-mark sandwiched between the recording marks 6 ′ and 6 ′) is not saturated. This is a condition, that is, a case where the non-mark sandwiched between the recording marks 6 ′ and 6 ′ is shorter than the diameter of the light beam. Further, the isolated non-mark pattern x ′ is a first minute state (record mark 5 ′...) Longer than the first minute region in the first recording state (for example, the N pole above the paper surface) of the magneto-optical disk. This is a second recording pattern composed of a combination of second minute regions (record marks 5 ′ and non-marks sandwiched between 5 ′) that are in the second state (for example, S pole above the paper surface) and shorter than the light beam diameter. Since the recording marks 5 ′... Are longer than the recording marks 6 ′. Accordingly, the non-mark sandwiched between the recording marks 5 ′ and 5 ′ is likely to be shorter than the non-mark sandwiched between the recording marks 6 ′ and 6 ′.
[0053]
In the above configuration, when the recording mark 5 '... and the recording mark 6' ... are recorded by irradiating the magneto-optical disk 24 with the light beam a, the recording mark 5 'is susceptible to large thermal interference. As shown by the solid line,... Is larger than the recording mark 6 ', which is slightly susceptible to thermal interference. For this reason, the lower peak level v1 ″ of the portion of the reproduction signal w corresponding to the repetitive non-mark pattern y ′ is higher than the lower peak level v2 ″ of the portion of the reproduction signal w corresponding to the isolated non-mark pattern x ′. Therefore, a level difference Δv ″ is generated.
[0054]
On the other hand, when recording marks 5 '... and recording marks 6' ... are recorded, thermal interference between recording marks 5 'and 5' and thermal interference between recording marks 6 'and 6' occur. If they are the same or no thermal interference has occurred, the recording marks 5 '... have the same size as the recording marks 6' ... as shown by the broken lines. For this reason, the peak levels v1 ″ and v2 ″ are equal. Therefore, the level difference Δv ″ is zero.
[0055]
From the above, the intensity of the light beam and the level difference Δv ″ are minimized by generating the repeated non-marked pattern y ′ and the isolated non-marked pattern x ′ from the repeated / isolated pattern generating means 4 in FIG. By setting the pulse length, it is possible to set a recording condition for recording information under the same thermal interference, so that the information can be recorded accurately.
[0056]
The repeated pattern level detection means 1 and the isolated pattern level detection means 2 of the test writing recording control apparatus described above need only replace the envelope detection means 7 and the envelope detection means 8 shown in FIG. 4 with the circuit shown in FIG.
[0057]
The envelope detection means 7 and 8 are constituted by a peak hold circuit 42 and a sample hold circuit 26. The peak hold circuit 42 includes a resistor 43, a diode 44, a capacitor 45, and a buffer 46. The sample hold circuit 26 includes a switch 31, a capacitor 32, and a buffer 33. The peak levels v1 and v2 obtained by the peak hold circuit 42 can be taken out by performing on / off control of the switch 31 with the timing signal h. The only difference between the peak hold circuit 42 and the peak hold circuit 25 shown in FIG. 4 is that the directions of the diode 44 and the diode 28 are opposite.
[0058]
In FIG. 2 (also in FIG. 3), it is not necessary to limit to the pattern to be repeatedly recorded, and the length of the recording mark (or non-mark) is the same, but the length of the non-mark (or recording mark) It is only necessary to record two patterns having different lengths. For example, recording marks and non-marks may be recorded as one or two sets.
[0059]
A fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 10 to 17 as follows.
[0060]
The test writing control apparatus shown in FIG. 10 uses two power values Pb and Pp, which will be described later, as a plurality of recording variables in order to simplify the explanation, and generates optical recording power by the sum (or difference) thereof. This is an example of a trial writing recording control apparatus for performing trial writing on an optical recording medium and optimizing Pb and Pp, respectively. In order to optimize the two power values Pb and Pp, optimization can be performed by obtaining a relative relationship between them. However, when there is only one relative relationship, the relative values of Pb and Pp can be determined, but the absolute value cannot be determined. Therefore, in this case, it is possible to obtain the absolute values of Pb and Pp by obtaining two relative relationships and satisfying them simultaneously. This has the same meaning as solving simultaneous equations involving many variables. That is, in the case of a plurality of variables, a solution can be obtained if there are a plurality of equations. Needless to say, even when there are three or more power values, the absolute value can be determined in the same manner if the number of relative relationships necessary for obtaining the solution is obtained. For convenience of explanation, the optimization of two power values is given as an example below, and an example in which the absolute value is optimized based on two relative relationships between the duty condition of the recording mark and the thermal interference condition will be shown.
[0061]
In FIG. 10, the thermal interference condition determining means 49, the optical head 47, and the magneto-optical disk 48 have substantially the same configuration as the test writing recording control apparatus of FIG. The difference is that a duty condition determining means 50 and an optimum value determining means 51 for determining a condition for optimizing the duty of the reproduction signal are added.
[0062]
That is, the thermal interference condition determining means 49 is composed of, for example, the repeated pattern level detecting means 1, the isolated pattern level detecting means 2, the comparing means 3 and the repeated / isolated pattern generating means 4 shown in FIG. 10, the recording signal z is sent to the optical head 47, and the optical head 47 includes the laser driving circuit 52 shown in FIG. 11, the semiconductor laser 23 and the photodetector 22 shown in FIG.
[0063]
In the semiconductor laser drive circuit 52 shown in FIG. 11, the recording signal z is input to the waveform conversion circuit 53 and converted into a waveform for obtaining a bias power Pb and a waveform for obtaining a pulse power Pp, which will be described later. These signals are sent to current generation circuits 54 and 55 to generate two currents Ib and Ip, respectively. The drive current Iw of the semiconductor laser 23 is obtained by adding the currents Ib and Ip by the adder 56. As a result, the semiconductor laser 23 can emit the recording power Pw that is the sum of the bias power Pb and the pulse power Pp.
[0064]
FIG. 12 is a diagram showing an example of a recording pulse waveform emitted from the semiconductor laser 23. In FIG. As shown in the figure, the recording power Pw is the sum of the bias power Pb and the pulse power Pp. In addition, it is good also as a difference of two power values which deducted Pb from Pw. As a modulation method, a generally well-known (1,7) RLL method is used, and seven kinds of recording waveforms from 1.33T to 5.33T are used.
[0065]
In FIG. 10, the light beam a obtained in this way is emitted from the optical head 47, test-written on the magneto-optical disk 48, and the reflected light b is photoelectrically converted by the photodetector 22 in the optical head. A reproduction signal w is output. The description of the other parts that are the same as those in FIG. 1 is omitted.
[0066]
Now, the duty condition determining means 50 is means for determining whether or not the duty of the reproduction signal w is optimized. The optimum value determining means 51 obtains power values Pb and Pp that simultaneously satisfy the two conditions based on the output of the thermal interference condition determining means 49 and the output of the duty condition determining means 50.
[0067]
By replacing the duty condition determining means 50 and the thermal interference condition determining means 49 with three recording pattern generating means and three recording pattern level detecting means, it is possible to share the circuit with each other.
[0068]
FIG. 13 is a diagram showing only the main part in order to explain this point again in an easy-to-understand manner. Recording signals z 1, z 2 and z 3 generated from the first recording pattern generating means 57, the second recording pattern generating means 58 and the third recording pattern generating means 59 are recorded on the magneto-optical disk 48. FIG. 14 shows a recording mark and a reproduction waveform of each pattern. The first recording pattern is the isolated mark pattern x shown in FIG. 2, which is a combination of a 1.33T recording mark and a 4T non-mark. The second recording pattern is the repeated mark pattern y shown in FIG. 2, but may be the repeated non-mark pattern y ′ shown in FIG. This is a combination of a 1.33T recording mark and a 1.33T non-mark. The third recording pattern is the isolated non-mark pattern x ′ shown in FIG. 8, which is a combination of a 4T recording mark and a 1.33T non-mark.
[0069]
The peak level and bottom level of the reproduced waveform in each pattern can be detected by the level detecting means shown in FIG. The reproduction signal w is input to envelope detection means 66 and 67 of the first pattern level detection means 60, envelope detection means 68 and 69 of the second pattern level detection means 61, and envelope detection means 70 and 71 of the third pattern level detection means 62. To do. A detection timing signal is sent from the timing generation means 65 to these envelope detection means 66 to 71. The envelope detection means 66 and 67 detect the peak level v2 and the bottom level v4 of the first pattern shown in FIG. The peak level v1 and bottom level v3 of the second pattern are detected by the envelope detection means 68 and 69. The envelope detection means 70 and 71 detect the peak level v5 and the bottom level v6 of the third pattern.
[0070]
The bottom levels v3 and v4 are input to the subtracting means 72 in the duty condition determining means 63 to obtain Δvd−. The peak levels v5 and v1 are input to the subtracting means 73 in the duty condition determining means 63 to obtain Δvd +. In FIG. 14, when the duty is equal, Δvd + becomes equal to Δvd−. Therefore, in FIG. 15, Δvd + and Δvd− are input to the subtracting means 74, and the condition that Δvd, which is the output thereof, becomes zero is set as the optimum condition of the duty. Can do.
[0071]
The peak levels v1 and v2 are input to the subtracting means 75 in the thermal interference condition determining means 64, and Δvt + is output. In FIG. 14, if the condition for optimum thermal interference is when v1 and v2 are equal, Δvt + becomes zero. FIG. 16 shows a flowchart of the operation for obtaining Pb and Pp that simultaneously satisfy the duty condition Δvd = 0 and the thermal interference condition Δvt + = 0. Pb is set to an initial value Pb (min) (s1). Pp is set to an initial value Pp (min) (s2). The first pattern, the second pattern, and the third pattern are recorded on the magneto-optical disk (s3). Reproduced waveform levels v1 to v6 of each pattern are detected (s4). Whether or not the duty is optimized is determined based on Δvd = 0 (s5). If it is optimal, proceed to (s6), otherwise proceed to (s8). Further, it is determined whether or not the thermal interference is optimized based on Δvt + = 0 (s6). If it is optimal, the process proceeds to (s7), and if not, the process proceeds to (s8). If not optimal, it is compared with the maximum value Pp (max) so that Pp does not exceed the operating range (s8). If so, go to (s10), otherwise go to (s9). If not, the increment ΔPp is added to Pp (s9), and the process returns to (s3) again. On the other hand, if it exceeds, Pb is compared with the maximum value Pb (max) so as not to exceed the operating range (s10). If it exceeds, go to (s12), otherwise go to (s11). If not, the increment ΔPb is added to Pb (s11), and the process returns to (s3) again. If it exceeds, there is no optimum value, and the operation is terminated (s12). Thus, while increasing Pp and Pb little by little, Pb and Pp when simultaneously satisfying the duty condition and the thermal interference condition are determined as optimum values (s7).
[0072]
FIG. 17 is an example of optimizing Pp and Pb in this way. Five combinations of (Pb, Pp) satisfying the duty condition and three combinations of (Pb, Pp) satisfying the thermal interference condition were measured. Under both conditions, (Pb, Pp) is on a straight line. The intersection point A1 is (Pb, Pp) = (4 mW, 2.6 mW), and an optimum value satisfying the two conditions could be determined at the same time.
[0073]
The level detection method according to the fifth embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 18, 14, and 15. FIG. Note that description of components that can be used in common with the fourth embodiment is omitted.
[0074]
In FIG. 15, similarly, the condition that Δvd becomes zero is set as the optimum duty condition.
[0075]
The bottom levels v6 and v3 are input to the subtracting means 76 in the thermal interference condition determining means 64, and Δvt− is output. In FIG. 14, if the condition for optimum thermal interference is when v6 and v3 are equal, Δvt− becomes zero.
[0076]
FIG. 18 is an example of optimizing Pp and Pb in this way. Five combinations of (Pb, Pp) satisfying the duty condition and three combinations of (Pb, Pp) satisfying the thermal interference condition were measured. Under both conditions, (Pb, Pp) is on a straight line. The intersection point A2 is (Pb, Pp) = (1 mW, 6.5 mW), and an optimum value satisfying the two conditions could be determined at the same time.
[0077]
The level detection method according to the sixth embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 19, 14, and 15. Note that description of components that can be used in common with the fourth and fifth embodiments is omitted.
[0078]
In FIG. 15, similarly, the condition that Δvd becomes zero is set as the optimum duty condition.
[0079]
In Example 4 and Example 5, when only one of Δvt + and Δvt− in FIG. However, when Δvt + and Δvt− in FIG. 14 are equal, thermal interference can be evenly generated in each pattern, so that the thermal interference condition can be optimized more accurately.
[0080]
In FIG. 15, Δvt + and Δvt− are input to the subtracting means 77 in the thermal interference condition determining means 64, and Δvt is output. If the condition of thermal interference is a condition in which Δvt becomes zero, Δvt + and Δvt− are equal, and the thermal interference condition can be optimized more accurately.
[0081]
FIG. 19 is an example in which Pp and Pb are optimized in this way. Six (Pb, Pp) combinations satisfying the duty condition and five (Pb, Pp) combinations satisfying the thermal interference condition were measured. Under both conditions, (Pb, Pp) is on a straight line. The point A which is the intersection is (Pb, Pp) = (3.4 mW, 3.7 mW), and an optimum value satisfying two conditions could be determined at the same time.
[0082]
The level detection method according to the seventh embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. Note that description of components that can be used in common with the fourth to sixth embodiments is omitted.
[0083]
The reproduction waveform levels v1 to v6 are respectively input to the analog switch 78, and one of the v1 to v6 is sequentially selected by the timing signal t ′ sent from the timing generation means 65, and is input to the A / D converter 79. To do. The converted digital signal is input to the CPU 80, and Δvd, Δvt +, Δvt−, and Δvt can be detected as in FIG.
[0084]
The recording pattern of Example 8 of the present invention will be described with reference to FIG. Note that description of components that can be used in common with the fourth to seventh embodiments is omitted.
[0085]
The first recording pattern is an isolated mark pattern, which is a combination of a 2T recording mark and a 5.33T non-mark. The second recording pattern is a repeated mark pattern, which is a combination of a 2T recording mark and a 2T non-mark. The third recording pattern is an isolated non-mark pattern, which is a combination of a 5.33T recording mark and a 2T non-marking pattern. The recording pattern of the ninth embodiment of the present invention that can be similarly optimized by using these patterns will be described below with reference to FIG. Note that description of components that can be used in common with the fourth to seventh embodiments is omitted.
[0086]
Each pattern is a repeating pattern that differs only in length. The first recording pattern is a combination of a 1.33T recording mark and a non-mark. The second recording pattern is a combination of 2T recording marks and non-marks. The third recording pattern is a combination of a 5.33T recording mark and a non-mark. Peak level v7 and bottom level v8 are detected from the first pattern, peak level v9 and bottom level v10 are detected from the second pattern, and peak level v11 and bottom level v12 are detected from the third pattern. A condition where Δvdα (= v11−v7) and Δvdβ (= v8−v12) are equal is a duty condition. A condition in which Δvtα (= v9−v7) and Δvtβ (= v8−v10) are equal is a thermal interference condition.
[0087]
FIG. 23 is an example in which Pp and Pb are optimized in this way. Six (Pb, Pp) combinations satisfying the duty condition and six (Pb, Pp) combinations satisfying the thermal interference condition were measured. Under both conditions, (Pb, Pp) is on a straight line. The intersection A3 is (Pb, Pp) = (3.4 mW, 3.5 mW), and an optimum value satisfying the two conditions could be determined at the same time.
[0088]
The tenth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
[0089]
In the conventional methods, the conditions are optimized while changing Pp and Pb little by little, so the number of tests is very large, and considerable time is required for optimization. Therefore, a high-speed optimization method with a reduced number of tests will be described below.
[0090]
Up to now, as shown in FIGS. 17, 18, 19, and 23, both the duty condition and the thermal interference condition are on a straight line. Therefore, by obtaining these two linear equations and then solving the simultaneous equations to optimize Pb and Pp, the optimization can be performed at high speed. In order to calculate the duty condition equation, two measurement sample points that satisfy the duty condition are required, and in order to calculate the thermal interference condition equation, two measurement sample points that satisfy the heat interference condition are required. . In other words, only by obtaining a total of four sample points, two equations can be calculated, and furthermore, an optimum condition that satisfies both conditions can be determined.
[0091]
In FIG. 24, the reproduction signal w is input to the sample point detecting means 81 in the duty condition determining means 63 and the sample point detecting means 82 in the thermal interference condition determining means 64. The sample point detection means 81 detects two sample points (X1, Y14) and (X2, Y2) that satisfy the duty condition in FIG. The sample point detection means 82 detects two sample points (X1, Y6) and (X2, Y10) that satisfy the thermal interference condition in FIG. In FIG. 24, (X1, Y14) and (X2, Y2) are input to the equation calculation means 83, and an equation A · Pb + B · Pp + C = 0 equivalent to the duty condition line in FIG. 25 is calculated. In FIG. 24, (X1, Y6) and (X2, Y10) are input to the equation calculation means 84, and an equation D · Pb + E · Pp + F = 0 equivalent to the thermal interference condition line in FIG. 25 is calculated. These two equations are input to the simultaneous equation calculating means 85 in the optimum value determining means 51, and the optimum value can be determined by obtaining the intersection in FIG.
[0092]
The operation flowchart will be described with reference to FIG. Pb is set to X1 (s101). Pp is set to the initial value Y1 (s102). The first pattern, the second pattern, and the third pattern are recorded on the magneto-optical disk (s103). Reproduction waveform levels v1 to v6 of each pattern are detected (s104). It is determined whether the duty is optimal (Δvd = 0) (s105). If optimum, the process proceeds to (s107), and Pb and Pp at that time are stored. Otherwise, the process proceeds to (s106), and it is determined whether the thermal interference is optimal (Δvt = 0) (s106). If optimum, the process proceeds to (s107), and Pb and Pp at that time are stored. Otherwise, it is determined whether four sample points have been detected (s108). When the detection of the sample point is completed, an equation for the duty condition is calculated (s110). Otherwise, the next Pp is set to Y2 and the process proceeds to (s103), and the operation is repeated with the power Pp being changed in order. If Pp has advanced from Y1 to Y16 shown in FIG. 25, Pb is changed to X2, and the process is repeated while changing Pp from Y1 to Y16 again. In this way, for example, the value of Pb can be limited to only X1 and X2, so the number of tests can be greatly reduced. After calculating the duty condition equation, the thermal interference condition equation is calculated (s111). The optimum value is determined by obtaining the intersection point from the simultaneous equations (s112).
[0093]
The eleventh embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
[0094]
Up to the eleventh embodiment, the case where both the duty condition and the thermal interference condition are on a straight line has been described. However, there may be cases where the duty condition and the heat interference condition are both on a straight line. This embodiment will explain a method that can optimize Pb and Pp even in such a case.
[0095]
In FIG. 27, the reproduction signal w is input to the duty condition determining means 86 and the heat interference condition determining means 87. In FIG. 28, the duty condition determination means 86 first detects D1 on the duty condition line while fixing Pb and changing and recording Pp. The thermal interference condition determining means 87 detects T1 on the thermal interference condition line in FIG. The midpoint calculating means 88 in FIG. 27 calculates the midpoint M1 between the duty condition optimum point D1 and the heat interference condition optimum point T1.
[0096]
This time, Pp at the middle point M1 is fixed, D2 on the duty condition line is detected while recording while changing Pb, and T2 on the thermal interference condition line is detected. Similarly, the midpoint M2 between D2 and T2 is calculated.
[0097]
Similarly, when this is repeated, the midpoints M1, M2, M3, M4,... Gradually approach the intersection of the duty condition line and the heat interference condition line, and the optimum value can be determined. .
[0098]
The operation flowchart will be described with reference to FIG. Pb is fixed (s201). Pp is changed (s202). The first pattern, the second pattern, and the third pattern are recorded on the magneto-optical disk (s203). The reproduction waveform level of each pattern is detected (s204). It is determined whether or not the optimum duty condition is satisfied (s205), and the process returns to (s202) and repeats this to determine D1. Similarly, T1 that satisfies the thermal interference optimum condition is determined (s206). The midpoint M1 is calculated (s207). Pp is fixed (s208). Pb is changed (s209). The first pattern, the second pattern, and the third pattern are recorded on the magneto-optical disk (s210). The reproduction waveform level of each pattern is detected (s211). It is determined whether or not the optimal duty condition is satisfied (s212), and the process returns to (s209) and is repeated to determine D2 that satisfies the optimal duty condition. Similarly, T2 satisfying the thermal interference optimum condition is determined (s213). The midpoint M2 is calculated (s214). Return to (201) again. When this is repeated, the midpoints M1, M2, M3, M4... Gradually approach the intersection of the duty condition line and the thermal interference condition line, and the optimum value can be determined.
[0099]
In the above-described conventional example, an example in which the recording variable is composed of the two power values Pb and Pp is shown. However, the present invention is not limited to this, and the same applies when three or more variables are used. The same applies to the case where the recording variable is not limited to the recording power but the recording pulse length and width (or pulse interval and period). As shown in FIG. 25, for example, in the case of two variables, the intersection of two straight lines is a point that satisfies all two relative relationships, but in the case of three variables, the three straight lines do not always intersect at one point. Absent. Therefore, if the point closest to the distance from the three straight lines on average is taken as the optimum point, the three relative relationships can be satisfied on average. The same is true for four or more variables.
[0100]
Moreover, although the example optimized about optical power Pb and Pp was shown, it is not restricted to this but it is the same even if the drive currents Ib and Ip of a semiconductor laser are optimized. This is because, as shown in FIG. 11, the optical powers Pb and Pp have a one-to-one correspondence with the semiconductor laser drive currents Ib and Ip.
[0101]
In the above embodiment, the magneto-optical disk 24 is preferably provided with a recording area dedicated for trial writing in addition to the information recording area. If the recording conditions are set using the recording area dedicated for trial writing, there is no possibility of destroying information in the information recording area.
[0102]
The optical recording medium according to Example 12 of the present invention will be described with reference to FIG. As shown in the embodiments so far, the number of test writings for performing power optimization once is not limited to one time but a plurality of times. Therefore, the cumulative number of trial writings increases with the passage of time. In particular, optimization of a plurality of power values requires more trial writing, and there is a concern about reaching the guaranteed number of rewrites. Therefore, the magneto-optical disk 89 shown in FIG. 30 has a first trial writing area 90, a second trial writing area 91, and a third trial writing area 92 arranged in units of tracks on the inner periphery, for example. The first track is formed in a spiral shape or a concentric shape. This area is distinguished from the information recording area 97, and information recording is prohibited. By arranging a plurality of test writing areas in this way, the number of rewrites can be distributed to a plurality of areas, and the lifetime can be ensured. Note that it is not necessary to limit to a plurality of test writing areas in units of tracks, and for example, a plurality of test writing areas in units of sectors may be arranged. Further, test writing areas 93, 94, and 95 may be arranged on the outer periphery.
[0103]
In the above embodiment, the magneto-optical disk 24 is cited as an optical recording medium, and the trial writing recording control apparatus and the trial writing recording control method of the present invention have been described. However, the present invention is not limited to this, and a phase change type optical disk, The present invention can be widely applied to an optical recording medium or an information recording / reproducing apparatus that records information using heat generated when the light beam a is irradiated, such as a write-once optical disk.
[0104]
Further, the number of repeated marks, repeated non-marks, isolated marks, and isolated non-marks in FIGS. 2, 8, 14, 21, and 22 does not need to be limited as shown in the figure. Needless to say, any number that can detect the duty is sufficient.
[0105]
In Example 1, since only short recording marks are recorded as shown in FIG. 2, the recording pulse irradiation time of the semiconductor laser can be reduced. Therefore, even when test writing is frequently performed, it is possible to suppress the deterioration of the semiconductor laser, and the life can be extended. The change in the size of the recording mark appears sensitively to the change in the peak level of the waveform. Therefore, thermal interference can be detected with high sensitivity by detecting the peak of the reproduced signal waveform by the envelope detection means.
[0106]
In the second embodiment, as shown in FIG. 6, since the level is detected by the averaging means, it is possible to suppress erroneous detection compared to the envelope detection means when there are many spike noises due to scratches and dust on the recording medium.
[0107]
In Example 3, as shown in FIG. 8, since a long recording mark is recorded, the irradiation time of the laser beam is long and thermal interference can be generated more greatly. Therefore, it is possible to detect thermal interference with higher sensitivity than when the recording mark is short.
[0108]
In the fourth embodiment, as shown in FIG. 14, it is only necessary to detect five levels v1 to v5 among the six levels of peak levels v1 to v6, so that the configuration can be simplified.
[0109]
Similarly, in the fifth embodiment, it is only necessary to detect five levels v1, v3 to v5 out of the six levels of peak levels v1 to v6 as shown in FIG. 14, so that the configuration can be simplified. is there.
[0110]
In the sixth embodiment, as shown in FIG. 19, the duty optimum condition line and the thermal interference optimum condition line intersect deeper than those in FIGS. 17 and 18, and therefore, the intersection can be obtained with high accuracy.
[0111]
In the seventh embodiment, as shown in FIG. 20, all the peak levels are once A / D converted, and then the level difference is calculated using the CPU. Therefore, the configuration can be simplified.
[0112]
In Example 8, as shown in FIG. 21, since the 1.33T recording mark and non-mark in FIG. 14 are replaced with 2T recording mark and non-mark, the decrease in waveform level due to OTF can be suppressed, and more accurately. Thermal interference can be detected.
[0113]
In the ninth embodiment, as shown in FIG. 22, the waveform pattern does not have a direct current component as compared with the waveform patterns in FIGS. 14 and 21, so that there is no level fluctuation due to circuit C coupling, and the peak level is detected more accurately. can do.
[0114]
In the tenth embodiment, the equation calculating means 83 and 84 and the simultaneous equation calculating means 85 in FIG. 24 can be substituted by the CPU, so that the configuration can be simplified.
[0115]
In Example 11, since M1, M2,... Are obtained in order as shown in FIG. Therefore, the accuracy can be improved by increasing the number of times of obtaining the midpoint.
[0116]
In the twelfth embodiment, the detection error due to the sensitivity unevenness of the recording medium can be averaged as the number of test writing areas in FIG. 30 is increased, so that the optimum power can be determined with higher accuracy.
[0117]
【The invention's effect】
The present invention In order to solve the second problem, the test writing recording control method according to the above embodiment generates a recording pulse by a plurality of recording variables, performs recording on an optical recording medium, and optimizes the plurality of recording variables, respectively. A test writing recording control method for calculating the plurality of recording variables satisfying all of the relative relations by obtaining the same number of relative relations between the plurality of recording variables as the type of the recording variables. It is characterized by a variable recording variable.
[0118]
According to this, since the same number of relative relations as the types of recording variables (for example, power values) are obtained and the plurality of recording variables satisfying all of them are obtained, the adjustment range can be extended to the same dimension as the plurality of recording variables. Can be expanded. Therefore, even if the ambient temperature changes or the recording sensitivity of the recording medium changes, it is possible to always set a plurality of recording variables independently to optimum values.
[0119]
The present invention In order to solve the second problem, the trial writing recording control apparatus according to the above embodiment generates a recording pulse by a plurality of recording variables, performs recording on the optical recording medium, and optimizes the plurality of recording variables, respectively. And a plurality of recording variables satisfying all of the plurality of relative relationships, and a relative relationship determining means for obtaining a relative relationship between the plurality of recording variables by the same number as the type of the recording variables. Optimal value determining means for determining the optimal value of the plurality of recording variables determined by the optimal value determining means is set as an optimal recording condition.
[0120]
According to this, the above Thus, it is possible to realize a trial writing recording control apparatus adopting the trial writing recording control method.
[0121]
The present invention In the test writing recording control device according to the first aspect, the relative relationship determining means includes a first recording pattern consisting of an isolated mark pattern, a second recording pattern consisting of a repeated mark pattern, and a third recording pattern consisting of an isolated non-mark pattern. It is a means for determining the relative relationship of recording variables by detecting the level of the portion of the reproduction signal corresponding to the pattern and comparing the levels.
[0122]
According to this, it is possible to obtain the relative relationship of the recording variables by using a simple recording pattern.
[0123]
The present invention In order to solve the second problem, the test writing recording control apparatus according to the above The plurality of recording variables are composed of two powers, ie, a first power value and a second power value, and the relative relationship determining means is the first power when the duty of the recording mark is optimum. A duty condition determining means for obtaining a first relative relationship between the value and the second power value, and a second relative relationship between the first power value and the second power value when the thermal interference between the recording marks is optimal. The optimum value determining means comprises optimum value determining means for obtaining a first power value and a second power value satisfying the first relative relationship and the second relative relationship at the same time. The first power value and the second power value determined by the means are set as optimum power values.
[0124]
According to this, the above The trial writing recording control apparatus can be realized with a simple configuration.
[0125]
The present invention In order to solve the second problem, the test writing recording control apparatus according to the above The relative relationship determination means comprises simultaneous equation determination means for obtaining the same number of simultaneous equations as a plurality of recording variables, and the optimum value determination means comprises calculation means for obtaining a solution of the simultaneous equations, It is characterized in that the optimum values of the plurality of recording variables determined by the calculating means are set as optimum recording conditions.
[0126]
According to this, the above The trial writing recording control apparatus can be realized with a simple configuration.
[0127]
Also suitable for the trial writing recording control method and the trial writing recording control device described above. In order to solve the third problem, the optical recording medium is a test writing recording area other than the information recording area in the optical recording medium that performs recording and reproduction by irradiating a light beam, and has a predetermined period or a predetermined operation. A plurality of trial writing areas for performing trial writing on the optical recording medium are provided for each, and the number of trial writings to the trial writing recording area is equal to or less than the guaranteed number of rewriting of the recording medium.
[0128]
Suitable for the above-described test writing recording control method and test writing recording control device In order to solve the third problem, an optical recording medium is an optical recording medium that performs recording and reproduction by irradiating a light beam, and distinguishes it from an information recording area in which information is recorded. A plurality of test writing areas for performing test writing are provided as many as possible so that the number of test writings is equal to or less than the guaranteed number of rewrites of the recording medium.
[0129]
Suitable for the above-described test writing recording control method and test writing recording control device In order to solve the third problem, an optical recording medium is an optical recording medium that performs recording and reproduction by irradiating a light beam, and distinguishes it from an information recording area in which information is recorded. A plurality of test writing areas for performing test writing are provided, and test writing performance equal to or less than the guaranteed number of rewrites of the recording medium is provided.
[0130]
Suitable for the above-described test writing recording control method and test writing recording control device In order to solve the third problem, the optical recording medium is an optical recording medium that performs recording and reproduction by irradiating a light beam. In this case, a test writing area for performing test writing for a predetermined period or every predetermined operation is provided.
[0131]
According to this, a test writing area for performing test writing on the optical recording medium for a predetermined period or every predetermined operation is provided. Therefore, it is possible to prevent the recording / reproducing information from being destroyed by mistake by trial writing. In addition, since there are multiple test writing recording areas, the number of trial writings per test writing area can be reduced, and the number of guaranteed rewrites of the recording medium can be reduced, so the reliability of test writing can be reduced. It becomes possible to improve.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a test writing recording control apparatus according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory diagram for illustrating the operation of the test writing recording control apparatus of FIG. 1;
FIG. 3 is a block diagram for illustrating a specific example of the test writing recording control apparatus of FIG. 1;
4 is a circuit diagram showing details of the test writing recording control apparatus of FIG. 3; FIG.
FIG. 5 is a block diagram showing another specific example of the test writing recording control apparatus of FIG. 1;
FIG. 6 is a diagram showing a test writing recording control apparatus according to a second embodiment of the present invention.
7 is a circuit diagram showing details of the test writing recording control apparatus of FIG. 6; FIG.
FIG. 8 is a diagram showing a test writing recording control apparatus according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a circuit diagram showing details of the test writing recording control apparatus of FIG. 9;
FIG. 10 is a diagram showing a test writing recording control apparatus according to a fourth embodiment of the present invention.
11 is a diagram for explaining the semiconductor laser driving circuit in FIG. 10;
12 is a diagram for explaining a recording waveform in FIG. 11; FIG.
13 is a diagram for explaining detailed blocks of the test writing recording control apparatus in FIG. 10;
14 is an explanatory diagram for illustrating the operation of the test writing recording control apparatus of FIG. 10;
15 is a circuit diagram showing details of the test writing recording control apparatus of FIG. 13. FIG.
16 is a diagram showing an operation flow of the test writing recording control apparatus of FIG. 13; FIG.
17 is a diagram showing actual measured values of power optimized by the test writing recording control apparatus of FIG. 13;
FIG. 18 is a diagram for explaining the operation of the test writing recording control apparatus in the fifth embodiment of the present invention;
FIG. 19 is a diagram for explaining the operation of the trial writing recording control apparatus according to the sixth embodiment of the present invention.
FIG. 20 is a diagram showing a test writing recording control apparatus according to a seventh embodiment of the present invention.
FIG. 21 is a diagram for explaining the operation of the trial write recording control apparatus according to the eighth embodiment of the present invention;
FIG. 22 is a diagram for explaining the operation of the trial write recording control apparatus according to the ninth embodiment of the present invention.
FIG. 23 is a diagram showing measured power values optimized by the test writing recording control apparatus of FIG. 22;
FIG. 24 is a diagram for explaining detailed blocks of a test writing recording control apparatus according to a tenth embodiment.
25 is a diagram for explaining the operation of the test writing recording control apparatus in FIG. 24. FIG.
FIG. 26 is a diagram showing an operation flow of the test writing recording control apparatus of FIG. 25;
FIG. 27 is a diagram for explaining detailed blocks of a test writing recording control apparatus according to an eleventh embodiment.
FIG. 28 is a diagram for explaining the operation of the test writing recording control apparatus in FIG. 27;
29 is a diagram showing an operation flow of the test writing recording control apparatus of FIG. 28. FIG.
FIG. 30 is a diagram for explaining an optical recording medium in a twelfth embodiment.
FIG. 31 is an explanatory diagram for illustrating the operation of a conventional test writing recording control apparatus.
[Explanation of symbols]
1 Repeat pattern level detection means
2 Isolated pattern level detection means
3 comparison means
4 Repeating / isolated pattern generation means
5 Record mark
6 Record mark
7 Envelope detection means
8 Envelope detection means
9 Subtraction means
10 Timing generation means
11 A / D converter
12 processor
13 Means of averaging
14 Averaging means
15 Subtraction means
24 magneto-optical disk
49 Thermal interference condition determining means
50 Duty condition determining means
51 Optimum value determining means
57 First pattern generating means
58 Second pattern generating means
59 Third pattern generating means
60 First pattern level detection means
61 Second pattern level detection means
62 Third pattern level detection means

Claims

２つの記録変数によって記録パルスを発生させて光記録媒体に記録を行い、前記２つの記録変数をそれぞれ最適化するための試し書き記録制御装置であって、
前記２つの記録変数を座標軸とする２次元座標平面上において前記２つの記録変数が満足すべき２つの条件ラインを求める相対関係決定手段と、
前記２つの条件ラインの交点を求める最適値決定手段とを具備するとともに、
前記最適値決定手段によって決定された前記２次元座標平面上の交点を前記２つの記録変数の最適な記録条件とし、
前記２つの記録変数は、第１パワー値と第２パワー値の２つのパワーからなり、
前記相対関係決定手段は、記録マークのデューティー条件である、孤立マークパターンの再生信号のボトムレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のボトムレベルとの差と、孤立非マークパターンの再生信号のピークレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のピークレベルとの差とが等しい条件を満足するときの前記第１パワー値と第２パワー値との第１相対関係を求めるデューティー条件決定手段と、記録マーク相互の熱干渉条件である、孤立マークパターンの再生信号のピークレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のピークレベルとが等しい、或いは繰り返しマークパターンの再生信号のボトムレベルと孤立非マークパターンの再生信号のボトムレベルとが等しい、或いは孤立マークパターンの再生信号のピークレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のピークレベルとの差が、繰り返しマークパターンの再生信号のボトムレベルと孤立非マークパターンの再生信号のボトムレベルとの差と等しい条件を満足するときの前記第１パワー値と第２パワー値との第２相対関係を求める熱干渉条件決定手段とからなり、
前記最適値決定手段は、前記第１相対関係と前記第２相対関係を同時に満足する第１パワー値及び第２のパワー値を求めるものであり、
該最適値決定手段によって決定された前記第１パワー値と第２パワー値を最適なパワー値とすることを特徴とする試し書き記録制御装置。A test writing recording control device for generating a recording pulse by two recording variables to perform recording on an optical recording medium and optimizing the two recording variables,
Relative relationship determining means for obtaining two condition lines that should be satisfied by the two recording variables on a two-dimensional coordinate plane having the two recording variables as coordinate axes;
An optimum value determining means for obtaining an intersection of the two condition lines;
The intersection on the two-dimensional coordinate plane determined by the optimal value determination means is set as the optimal recording condition of the two recording variables ,
The two recording variables consist of two powers, a first power value and a second power value,
The relative relationship determining means is a duty condition of the recording mark, which is a difference between the bottom level of the reproduction signal of the isolated mark pattern and the bottom level of the reproduction signal of the repeated mark pattern, and the peak level of the reproduction signal of the isolated non-mark pattern. Duty condition determining means for obtaining a first relative relationship between the first power value and the second power value when the difference between the peak level of the reproduction signal of the repeated mark pattern is equal and the heat between the recording marks The peak level of the reproduced signal of the isolated mark pattern and the peak level of the reproduced signal of the repeated mark pattern, which are interference conditions, or the bottom level of the reproduced signal of the repeated mark pattern and the bottom level of the reproduced signal of the isolated non-mark pattern are Or the peak level of the reproduction signal of the isolated mark pattern The first power when the difference between the peak level of the reproduced signal of the repeated mark pattern satisfies a condition equal to the difference between the bottom level of the reproduced signal of the repeated mark pattern and the reproduced signal of the isolated non-mark pattern. A thermal interference condition determining means for obtaining a second relative relationship between the value and the second power value,
The optimum value determining means obtains a first power value and a second power value that simultaneously satisfy the first relative relationship and the second relative relationship,
A test writing recording control apparatus , wherein the first power value and the second power value determined by the optimum value determining means are set to optimum power values .

前記相対関係決定手段は、前記デューティー条件決定手段が決定した第１相関関係と前記熱干渉条件決定手段が決定した第２相関関係とをそれぞれ表す２つの条件式よりなる連立方程式を求める連立方程式決定手段からなり、The relative relationship determining means determines simultaneous equations that determine simultaneous equations composed of two conditional expressions respectively representing the first correlation determined by the duty condition determining means and the second correlation determined by the thermal interference condition determining means. Consisting of means,
前記最適値決定手段は、前記連立方程式の解を求める計算手段からなることを特徴とする請求項１に記載の試し書き記録制御装置。 2. The test writing recording control apparatus according to claim 1, wherein the optimum value determining means includes calculation means for obtaining a solution of the simultaneous equations.

２つの記録変数によって記録パルスを発生させて光記録媒体に記録を行い、前記２つの記録変数をそれぞれ最適化するための試し書き記録制御装置であって、
前記２つの記録変数が満足すべき２つの条件式を求める相対関係決定手段と、
前記２つの条件式を満足する前記２つの記録変数の解を求める最適値決定手段とを具備するとともに、
前記２つの記録変数は、第１パワー値と第２パワー値の２つのパワーからなり、
前記相対関係決定手段は、記録マークのデューティー条件である、孤立マークパターンの再生信号のボトムレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のボトムレベルとの差と、孤立非マークパターンの再生信号のピークレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のピークレベルとの差とが等しい条件を満足するときの前記第１パワー値と第２パワー値との第１相対関係を求めるデューティー条件決定手段と、記録マーク相互の熱干渉条件である、孤立マークパターンの再生信号のピークレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のピークレベルとが等しい、或いは繰り返しマークパターンの再生信号のボトムレベルと孤立非マークパターンの再生信号のボトムレベルとが等しい、或いは孤立マークパターンの再生信号のピークレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のピークレベルとの差が、繰り返しマークパターンの再生信号のボトムレベルと孤立非マークパターンの再生信号のボトムレベルとの差と等しい条件を満足するときの前記第１パワー値と第２パワー値との第２相対関係を求める熱干渉条件決定手段からなり、
前記最適値決定手段は、前記第１相対関係と前記第２相対関係を同時に満足する第１パワー値及び第２のパワー値を求めるものであり、
該最適値決定手段によって決定された前記第１パワー値と第２パワー値を最適なパワー値とすることを特徴とする試し書き記録制御装置。 A test writing recording control device for generating a recording pulse by two recording variables to perform recording on an optical recording medium and optimizing the two recording variables,
A relative relationship determining means for obtaining two conditional expressions to be satisfied by the two recording variables;
And an optimum value determining means for obtaining a solution of the two recording variables satisfying the two conditional expressions,
The two recording variables consist of two powers, a first power value and a second power value,
The relative relationship determining means is a duty condition of the recording mark, which is a difference between the bottom level of the reproduction signal of the isolated mark pattern and the bottom level of the reproduction signal of the repeated mark pattern, and the peak level of the reproduction signal of the isolated non-mark pattern. Duty condition determining means for obtaining a first relative relationship between the first power value and the second power value when the difference between the peak level of the reproduction signal of the repeated mark pattern is equal and the heat between the recording marks The peak level of the reproduced signal of the isolated mark pattern and the peak level of the reproduced signal of the repeated mark pattern, which are interference conditions, or the bottom level of the reproduced signal of the repeated mark pattern and the bottom level of the reproduced signal of the isolated non-mark pattern are Or the peak level of the reproduction signal of the isolated mark pattern The first power when the difference between the peak level of the reproduced signal of the repeated mark pattern satisfies a condition equal to the difference between the bottom level of the reproduced signal of the repeated mark pattern and the reproduced signal of the isolated non-mark pattern. A thermal interference condition determining means for obtaining a second relative relationship between the value and the second power value,
The optimum value determining means obtains a first power value and a second power value that simultaneously satisfy the first relative relationship and the second relative relationship,
A test writing recording control apparatus , wherein the first power value and the second power value determined by the optimum value determining means are set to optimum power values .

２つの記録変数によって記録パルスを発生させて光記録媒体に記録を行い、前記２つの記録変数をそれぞれ最適化するための試し書き記録制御方法であって、
前記２つの記録変数を座標軸とする２次元座標平面上において前記２つの記録変数が満足すべき２つの条件ラインを求め、
前記２つの条件ラインの交点を求めて、該交点を前記２つの記録変数の最適な記録条件とし、かつ、
前記２つの記録変数は、第１パワー値と第２パワー値の２つのパワーからなり、
前記２つの条件ラインとして、記録マークのデューティー条件である、孤立マークパターンの再生信号のボトムレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のボトムレベルとの差と、孤立非マークパターンの再生信号のピークレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のピークレベルとの差とが等しい条件を満足するときの前記第１パワー値と第２パワー値との第１相対関係を求めるとともに、記録マーク相互の熱干渉条件である、孤立マークパターンの再生信号のピークレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のピークレベルとが等しい、或いは繰り返しマークパターンの再生信号のボトムレベルと孤立非マークパターンの再生信号のボトムレベルとが等しい、或いは孤立マークパターンの再生信号のピークレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のピークレベルとの差が、繰り返しマークパターンの再生信号のボトムレベルと孤立非マークパターンの再生信号のボトムレベルとの差と等しい条件を満足するときの前記第１パワー値と第２パワー値との第２相対関係を求め、
前記２つの条件ラインの交点として、前記第１相対関係と前記第２相対関係を同時に満足する第１パワー値及び第２のパワー値を求め、
決定された前記第１パワー値と第２パワー値を最適なパワー値とすることを特徴とする試し書き記録制御方法。 A test writing recording control method for generating a recording pulse by two recording variables to perform recording on an optical recording medium and optimizing each of the two recording variables,
Obtaining two condition lines that should be satisfied by the two recording variables on a two-dimensional coordinate plane having the two recording variables as coordinate axes;
Obtaining an intersection of the two condition lines, making the intersection an optimum recording condition for the two recording variables; and
The two recording variables consist of two powers, a first power value and a second power value,
The two condition lines include the difference between the bottom level of the reproduction signal of the isolated mark pattern and the bottom level of the reproduction signal of the repeated mark pattern, which is the duty condition of the recording mark, and the peak level of the reproduction signal of the isolated non-mark pattern. The first relative relationship between the first power value and the second power value is obtained when the difference between the peak level of the reproduced signal of the repeated mark pattern is equal and the thermal interference condition between the recording marks. The peak level of the reproduction signal of the isolated mark pattern is equal to the peak level of the reproduction signal of the repeated mark pattern, or the bottom level of the reproduction signal of the repeated mark pattern is equal to the bottom level of the reproduction signal of the isolated non-mark pattern, or Isolated mark pattern playback signal peak level and repeat mark The first power value and the first power value when the difference from the peak level of the reproduction signal of the turn satisfies a condition equal to the difference between the bottom level of the reproduction signal of the repetitive mark pattern and the reproduction signal of the isolated non-mark pattern. Find the second relative relationship with the two power values,
As an intersection of the two condition lines, a first power value and a second power value that simultaneously satisfy the first relative relationship and the second relative relationship are obtained,
A test writing recording control method, wherein the determined first power value and second power value are set to optimum power values.

２つの記録変数によって記録パルスを発生させて光記録媒体に記録を行い、前記２つの記録変数をそれぞれ最適化するための試し書き記録制御方法であって、
前記２つの記録変数が満足すべき２つの条件式を求め、
前記２つの条件式を満足する前記２つの記録変数の解を求め、
前記２つの記録変数は、第１パワー値と第２パワー値の２つのパワーからなり、
前記２つの条件式として、記録マークのデューティー条件である、孤立マークパターンの再生信号のボトムレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のボトムレベルとの差と、孤立非マークパターンの再生信号のピークレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のピークレベルとの差とが等しい条件を満足するときの前記第１パワー値と第２パワー値との第１相対関係を求めるとともに、記録マーク相互の熱干渉条件である、孤立マークパターンの再生信号のピークレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のピークレベルとが等しい、或いは繰り返しマークパターンの再生信号のボトムレベルと孤立非マークパターンの再生信号のボトムレベルとが等しい、或いは孤立マークパターンの再生信号のピークレベルと繰り返しマークパターンの再生信号のピークレベルとの差が、繰り返しマークパターンの再生信号のボトムレベルと孤立非マークパターンの再生信号のボトムレベルとの差と等しい条件を満足するときの前記第１パワー値と第２パワー値との第２相対関係を求め、
前記連立方程式の解として、前記第１相対関係と前記第２相対関係を同時に満足する第１パワー値及び第２のパワー値を求め、
決定された前記第１パワー値と第２パワー値を最適なパワー値とすることを特徴とする試し書き記録制御方法。 A test writing recording control method for generating a recording pulse by two recording variables to perform recording on an optical recording medium and optimizing each of the two recording variables,
Find two conditional expressions that the two recording variables should satisfy,
Obtaining a solution of the two recording variables satisfying the two conditional expressions;
The two recording variables consist of two powers, a first power value and a second power value,
As the two conditional expressions, the difference between the bottom level of the reproduction signal of the isolated mark pattern and the bottom level of the reproduction signal of the repetitive mark pattern, which is the duty condition of the recording mark, and the peak level of the reproduction signal of the isolated non-mark pattern The first relative relationship between the first power value and the second power value is obtained when the difference between the peak level of the reproduced signal of the repeated mark pattern is equal and the thermal interference condition between the recording marks. The peak level of the reproduction signal of the isolated mark pattern is equal to the peak level of the reproduction signal of the repeated mark pattern, or the bottom level of the reproduction signal of the repeated mark pattern is equal to the bottom level of the reproduction signal of the isolated non-mark pattern, or Isolated mark pattern playback signal peak level and repeat mark pattern The first power value and the first power value when the difference between the peak level of the reproduced signal of the signal satisfies the condition equal to the difference between the bottom level of the reproduced signal of the repetitive mark pattern and the reproduced signal of the isolated non-mark pattern. Find the second relative relationship with the two power values,
As a solution of the simultaneous equations, a first power value and a second power value that simultaneously satisfy the first relative relationship and the second relative relationship are obtained,
A test writing recording control method, wherein the determined first power value and second power value are set to optimum power values.