JP3616276B2 - 画像形成装置および画像形成方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、デジタル画像に基づき画像を形成する画像形成装置および画像形成方法に関し、特に、露光エネルギー密度を制御することにより、良質の画像を形成する画像形成装置および画像形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、複写機やプリンタをはじめとする画像形成装置に対しては、より高画質で再現性に優れたものが要求されている。このような要求を満足させるために、電子写真方式のデジタル画像形成装置では、従来から、解像度により決定されるドットピッチに対して感光体上の結像スポットのスポット径を最適化するという方法が提案されてきている。
【0003】
たとえば、特開昭58−152269号公報では、ドットピッチ、露光スポット径および露光エネルギー密度の関係式において露光エネルギーを最適化するという技術が、そして、特開平7−61036号公報では、ドットピッチに対するスポット径を最適化するのみならず、これに感光体特性をも考慮して、高品位な画像を得るという技術が、それぞれ開示されている。
【0004】
また、スポット径を最適化するという技術の他に、画像処理により高画質化を図らんとする方法も提案されている。
【0005】
特開昭63−64763号公報では、孤立1ドットの再現性を得るために、印字データの中から孤立した1ドット印字データを検出し、その前または後の1ビット分も1ドット印字データとして補正することで画質を向上させるという技術が開示されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、これらの従来技術は、いずれの場合も600dpiを超えるような高解像度の画像形成装置においては、ドット密度が異なる画像間における画像再現性を両立させることは困難であった。
【0007】
すなわち、まず、特開昭58−152269号公報や特開平7−61036号公報で開示された技術では、ドット密度がある程度密な、例えば1ドットおきに形成されるラインパターン(以下「周期ラインパターン」という。)の解像度を確保すると、ドット密度が疎である孤立した1ドットパターン(以下「孤立ドットパターン」という。)のドット径が所望の値より小さくなり、場合によっては、ドットが形成されないという問題が生じる。
【0008】
また反対に、孤立ドットパターンのドット径を解像度に適した最適な値に設定すると、周期ラインパターンのライン幅が増大し、解像度に対応したコントラストが確保できないことになった。
【0009】
したがって、高解像度の画像形成装置においては、感光体上の結像スポット径を調整するのみでは、もはや周期ラインパターンと孤立ドットパターン両者の再現性は両立できず、再現性の高い出力画像を得ることは非常に困難となっていた。
【0010】
また、特開昭63−64763号公報に示される技術では、印字データの変更(補正)を行なうため、孤立ドットパターン自体の再現はできることになるが、オリジナルの画像を忠実に再現していることにはならない。しかも、場合によっては不自然な部分が生じるため、上述したような周期ラインパターンと孤立ドットパターン両者の再現性を確保するための根本的な解決にはなっていない。
【0011】
なお、この周期ラインパターンと孤立ドットパターンの画像再現性の両立という問題には、解像度の他に感光体の感度、即ち、光導電特性の相違も関係している。このため、例えば感光体の膜厚を薄くすることにより、両者の両立を図ることも考えられる。
【0012】
しかし、感光体の膜厚を薄くすると、繰り返し使用による摩耗劣化による暗減衰特性や感度特性の劣化が見られ、耐久性の面で問題が生じてくる。また、膜厚の薄い感光体では十分な階調性が得られないという、階調性についての問題も無視することができない。
【0013】
本発明はかかる実状に鑑みて考え出されたものであり、その目的は、解像度が高い場合にも、感光体の膜厚を薄くすることなく、周期ラインパターンと孤立ドットパターン両者の画像再現性を良くすることのできる画像形成装置を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明のある局面に従うと、所定の電位に帯電された膜厚15〜25μmの感光体を露光する露光部と、画像情報に基づいて露光部の露光エネルギー密度を制御する制御部と、露光部によって感光体上に形成された静電潜像を可視化する現像部とを備えた画像形成装置は、解像度600dpi以上の画像形成において、露光部の露光スポット径をD(μm)、ドットピッチをP(μm)とした場合にD<2√2Pの関係を満たすように設定し、制御部は、画像情報が1ラインおきのラインパターンであるときに付与する露光エネルギー密度をEline(μJ/cm2)とし画像情報が孤立した1ドットパターンであるときに付与する露光エネルギー密度Edot(μJ/cm2)とした場合に、画像解像度に応じてEdot/Elineを−0.11P+6.4≦E dot /E line ≦−0.2P+10.7の関係を満たすように変化させる。
【0015】
この発明によると、周期ラインパターンと孤立ドットパターンとに与える露光エネルギーが最適化されるため、解像度が高い場合にも、感光体の膜厚を薄くすることなく、周期ラインパターンと孤立ドットパターン両者の画像再現性を良くすることのできる画像形成装置の提供が可能となる。
【0016】
また、好ましくは、画像形成装置は、画像情報から孤立した1ドットパターンを検出する検出部をさらに備え、制御部は、孤立した1ドットパターンが検出されない場合、露光エネルギー密度にEline(μJ/cm2)を付与し、孤立した1ドットパターンが検出された場合、露光エネルギー密度にEdot(μJ/cm2)を付与する。
【0017】
これにより、孤立ドットパターンが検出されない場合は所定の露光エネルギー密度Eline(μJ/cm2)が付与され、検出された場合にのみ一定の条件を満たす露光エネルギー密度Edot(μJ/cm2)が付与されるため、比較的容易な制御により孤立ドットパターンの再現性をよくすることが可能になる。
【0018】
また、好ましくは、制御部は、1ドット毎に露光エネルギー密度の制御が可能なパワー変調部を備える。
【0019】
これにより、画像情報に応じて1ドット毎の露光エネルギー密度の制御が可能となり、再現性のよい画像の形成を実現することができる。
【0022】
感光体の膜厚を15〜25μmとすることにより、耐久性および十分な諧調性を確保することが可能となる。
【0023】
また、上記目的を達成するために、本発明の別の局面に従うと、所定の電位に帯電された膜厚15〜25μmの感光体を露光する露光ステップと、画像情報に基づいて露光部の露光エネルギー密度を制御する制御ステップと、露光ステップによって感光体上に形成された静電潜像を可視化する現像ステップとを備えた画像形成方法は、解像度600dpi以上の画像形成において露光ステップの露光スポット径をD(μm)、ドットピッチをP(μm)とした場合にD<2√2Pの関係を満たすように設定し、制御ステップは、画像情報が1ラインおきのラインパターンであるときに付与する露光エネルギー密度をEline(μJ/cm2)とし画像情報が孤立した1ドットパターンであるときに付与する露光エネルギー密度Edot(μJ/cm2)とした場合に、画像解像度に応じてEdot/Elineを−0.11P+6.4≦E dot /E line ≦−0.2P+10.7の関係を満たすように変化させる。
【0024】
この発明によると、解像度が高い場合にも、感光体の膜厚を薄くすることなく、周期ラインパターンと孤立ドットパターン両者の画像再現性を良くすることのできる画像形成方法の提供が可能となる。
【0025】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態を、図面に基づいて説明する。
【0026】
図1は、本発明の実施の形態の一つである画像形成装置1の主要な構成の概要を示す模式図である。図1を参照して、画像形成装置1は、表面に光導電性膜を有する感光体10と、感光体10の表面を均一に帯電させる帯電部11と、感光体10の表面を露光し、静電潜像を形成する露光部15と、画像情報に基づいて露光部15を制御する制御部17と、感光体10の表面に形成された静電潜像を現像剤(トナー)によって可視化する現像部16と、感光体10表面のトナーを用紙に転写する図示しない転写部と、転写されたトナーを用紙上に定着させる図示しない定着部とを備えている。
【0027】
したがって、本図において、感光体10の表面のうち、露光部15と現像部16との間の部分には静電潜像が形成され、現像部16と図示しない転写部との間の部分には、トナーによる可視像が形成されることになる。
【0028】
次に、各構成部について説明を行なう。感光体10は、導体基板上に、アンダーコート層(UCL)、電荷発生層(CGL)、電荷輸送層(CTL)がそれぞれ設けられた積層型有機感光体であり、その表面は負極性に帯電可能となっている。なお、この感光体層の厚さは15〜25μmである。
【0029】
帯電部11は、ケース12と、ワイヤ13と、グリッド14とを備えており、それぞれが高圧電源に接続されている。したがって、コロナ放電によりワイヤ13から放出された電荷はグリッド14のバイアス電圧により数値制御されることになり、感光体表面は所望の表面電位に帯電される。なお、感光体10の表面と帯電部11(グリッド14)との間隔は1〜2mmである。
【0030】
露光部15については、その構成の概略を図2に示す。図2を参照して、露光部15は、光源である波長780nmの赤色半導体レーザ(LD)20と、LD20より発光されたレーザ光を平行光に整形するためのコリメータレンズ21と、コリメータレンズ21を通過した平行光を所望の露光スポット径を得るために開口を制限するアパーチャ22と、アパーチャ22を通過した平行光を集光し感光体10上で結像させる対物レンズ23とを備えている。
【0031】
LD20は、制御部17によりその駆動が制御されている。そして、制御部17は、レーザドライバ(キノ・メレスグリオ社製)およびパワー変調回路を含んでおり、LD20の露光エネルギー密度を調整することが可能である。
【0032】
現像部16は、ここでは非磁性一成分の接触現像方式を用いている。図3に、現像部16の構成の概略を示す。図3を参照して、現像部16は、帯電された非磁性一成分のトナー30と、感光体10に対向し、一定量に層形成されたトナー30を感光体10に接触させて現像を行なうための現像ローラ32と、容器内に貯蓄されたトナー30を現像ローラ32に供給するための供給ローラ31と、現像ローラ32上に堆積されたトナー30を一定の量に制限するためのドクターローラ33と、現像後に現像ローラ32上に残されたトナーを回収し容器内に戻すための回収ローラ34とを備えている。
【0033】
次に、制御部17について説明する。図4は、制御部17がLD20の露光エネルギー密度を制御する手順を示すフローチャートである。図4を参照して、まず、ステップS401において、画像パターンの中から孤立ドットパターンを検出する。そして、孤立ドットパターンが存在するか否かが判断され(ステップS403)、存在しない場合は、所定の露光エネルギー密度が付与される(ステップS405)。一方、孤立ドットパターンが存在する場合は、比率に応じた露光エネルギーが求められ、パワー変調回路によりその求められた露光エネルギーが付与される(ステップS407)。
【0034】
この比率に応じた露光エネルギーEdotとは、画像パターン中の周期ラインパターンに与える露光エネルギーをEline、ドットピッチをPとした場合に、
−0.11P+6.4≦Edot/Eline≦−0.2P+10.7
の関係を満たすような露光エネルギーのことである。以下、この関係の導出について説明する。
【0035】
図5に、周期ラインパターン50および孤立ドットパターン51の典型例を示す。周期ラインパターン50は、1ラインおきにラインパターンを形成するものであり、孤立ドットパターン51は、隣接するドットがなく、1ドットが孤立した状態で形成されるものである。図に示すように、解像度から決定されるドットピッチをPとすると、周期ラインパターン50におけるライン間隔は、2Pとなる。なお、周期ラインパターン50の最端ラインと孤立ドットパターン51との中心間距離は6Pとしている。
【0036】
ここで、周期ラインパターン50の再現性を評価するためのパラメータとして、そのライン幅bとライン間隔(非画像部分幅とライン幅bとの和)aとの比(duty)を考慮する。そして、非画像部分幅とライン幅bとが一対一の割合となる50%をdutyの適正値と仮定する。また、孤立ドットパターン51の再現性は、ドット径dで評価し、その値がドットピッチPに対してP≦d≦√2Pであれば、適正値であると仮定する。
【0037】
そして、デジタル画像データとして、この図5に示す典型パターンを用いて、前述した画像形成装置1による画像形成実験を行なった。なお、測定結果は、用紙に出力された画像ではなく、感光体10上に形成されるトナー画像を測定したものである。
【0038】
図6は、平均露光エネルギー密度に対するドット径dおよびdutyについての実験結果を表わした図である。図6(a)は、レーザの露光スポット径Dが60μm、感光体の膜厚が20μmで、解像度が600dpiの画像を形成した場合の結果を示している。これに対して、図6(b)は、レーザの露光スポット径Dが30μm、感光体の膜厚が15μmで、解像度が1200dpiの画像を形成した場合の結果を示している。いずれの場合も、横軸に平均露光エネルギー密度を、縦軸にdutyおよびドット径をとっている。そして、黒点による曲線は周期ラインパターンのdutyを、白点による曲線は孤立ドットパターンのドット径dを、それぞれ示している。
【0039】
図6(a)を参照して、周期ラインパターン50の再現性がよいと仮定した、dutyが50%となるときの平均露光エネルギーElineは、約0.2μJ/cm2である(A点)。これに対して、孤立ドットパターン51のドット径dの適正値である約42〜59μmとなるときの平均露光エネルギー密度Edotは、約0.32〜0.462μJ/cm2である(B点〜C点)。
【0040】
したがって、平均露光エネルギー密度が一定値では、周期ラインパターンと孤立ドットパターン双方の再現性をよくすることは困難であることがわかる。そして、これら周期ラインパターンおよび孤立ドットパターン双方の画像再現性をよくするためには、孤立ドットパターンに与える露光エネルギー密度Edotを、周期ラインパターンに与える露光エネルギー密度Elineの約1.6〜2.3倍とする必要があることが判明した。
【0041】
なお、600dpiの解像度において、露光スポット径30μm、感光体膜厚15μmとした場合の実験も行なった。この場合も、周期ラインパターン50のdutyが50%となるときの平均露光エネルギーElineは、孤立ドットパターン51のドット径dが適正値となるときの平均露光エネルギー密度Edotの約1.6〜2.3倍という関係が成立する結果となった。
【0042】
一方、図6(b)の解像度が1200dpiの場合においては、周期ラインパターン50のdutyが50%となるときの平均露光エネルギーElineが、約0.2μJ/cm2であるのに対して(D点)、孤立ドットパターン51のドット径dが適正値21〜30μmとなるときの平均露光エネルギー密度Edotは、約0.8〜1.3μJ/cm2にもなる(E点〜F点)。
【0043】
このため、同一露光エネルギー密度で、周期ラインパターンと孤立ドットパターン双方の再現性をよくすることはさらに困難となることがわかる。そして、周期ラインパターンおよび孤立ドットパターン双方の画像再現性をよくするためには、孤立ドットパターンに与える露光エネルギー密度Edotを、周期ラインパターンに与える露光エネルギー密度Elineの約4〜6.5倍とする必要があることも明らかとなった。
【0044】
なお、1200dpiの解像度においても、露光スポット径30μm、感光体膜厚20μmとした場合、および、露光スポット径15μm、感光体膜厚15μmとした場合の実験も行なった。これらの場合も、同様に、孤立ドットパターン51のドット径dが適正値となるときの平均露光エネルギー密度E dot は、周期ラインパターン50のdutyが50%となるときの平均露光エネルギーE line の約4〜6.5倍という関係が成立する結果となった。
【0045】
以上の実験結果から、同一の露光エネルギー密度で、周期ラインパターンと孤立ドットパターン双方の再現性をよくすること、つまり、両者の両立を図ることは、解像度が高くなる程低下する傾向にあることがわかる。また、解像度が一定の場合は、感光体膜厚および露光スポット径Dのみを一定範囲内で変化させても、周期ラインパターン50および孤立ドットパターン51の最適な平均露光エネルギー密度ElineおよびEdotの関係は変化しないことも明らかとなった。
【0046】
したがって、、周期ラインパターン50のdutyが50%となるときの平均露光エネルギーElineと孤立ドットパターン51のドット径dの適正値となるときの平均露光エネルギー密度Edotとの関係(比)は、解像度から決定されるドットピッチPのみで表わせることがわかった。そこで、前述した実験結果からこれらの関係を求めると、
−0.11P+6.4≦Edot/Eline≦−0.2P+10.7(1)
となる。
【0047】
図7は、ドットピッチPに対するEdot/Elineを表わした図である。ここでは、横軸にドットピッチPを、縦軸にEdot/Elineをとっている。上限と下限とがあるのは、前述したように孤立ドットパターン51のドット径dの適正値に幅があるからである。なお、このグラフにおいて、Edot/Eline≦1となる場合にのみ同一の露光エネルギー密度で、周期ラインパターンと孤立ドットパターン双方の再現性をよくすることが可能となる。
【0048】
したがって、600dpi以上、つまり、ドットピッチが42μm以下の高解像度の画像に対しては、Edot/Elineが1以上であるため、周期ラインパターンと孤立ドットパターンに対して露光エネルギー密度を変化させる必要があることがわかる。そこで、本図に示す関係、即ち、Elineに対して(1)式の関係を満たすようにEdotの値を制御すればよい。
【0049】
次に、この導出した条件が正しいことを確認するために、画像形成装置1を用いて、露光エネルギー密度を上記関係式(1)を満たす範囲に制御した再現性確認実験を行なった。具体的には、解像度600dpiの場合をEdot/Eline=2、解像度1200dpiの場合をEdot/Eline=6にそれぞれ設定して画像を形成した。その結果、共に再現性に優れた画像を形成することができた。さらに、解像度800dpiでも、Edot/Eline=4に設定して確認実験を行なったところ、良好な結果が得られた。
【0050】
図8は、制御部17で使用する露光エネルギー密度を変調させるためのパワー変調回路を説明するための図である。露光エネルギーは、露光時間とレーザパワーとの積に比例する。したがって、本図に示すように、露光時間(パルス幅)を一定にした場合は露光パワーを調整する必要がある。
【0051】
図8(a)は、解像度600dpiの画像を形成する場合の、周期ラインパターンと孤立ドットパターンとに与える露光パワーをそれぞれ示している。Edot/Eline=2とするためには、周期ラインパターンに対して孤立ドットパターンに与える露光パワーを2倍にすればよい。同様に、図8(b)に示す解像度1200dpiの場合は、パルス幅一定で、周期ラインパターンに対する孤立ドットパターンに与える露光パワーを6倍にすればよい。
【0052】
なお、露光エネルギー密度を変調するためには、図9に示すように、露光パワーを一定として、露光時間を変調するパルス幅変調方式を用いてもよい。この場合は、解像度600dpiの場合は、図9(a)に示すように、周期ラインパターンに対して孤立ドットパターンのパルス幅を2倍にすればよい。同様に、解像度1200dpiの場合は、図9(b)に示すように、周期ラインパターンに対して孤立ドットパターンのパルス幅を6倍にすればよい。また、パワー変調とパルス変調とを組み合わせて露光エネルギー密度を制御することも可能である。
【0053】
以上のように、15〜25μmの膜厚の感光体では、周期ラインパターン50と孤立ドットパターン51とに同一の露光エネルギーを与えると、共に再現性をよくするという両立性を確保できないため、その対応策として上記(1)式に従う最適エネルギーを付与するように制御することで感光体膜厚を薄くすることなく両立性を確保することができる。
【0054】
最後に、解像度により決定されるドットピッチPとスポット径Dとの関係について説明する。スポット径とは、図2におけるLD20から照射されたレーザ光が感光体10上に結像するスポットのうち、光強度分布がピーク値(中心)の1/e2になる点で決定される直径のことをいう。
【0055】
図10は、ドットピッチPが一定でスポット径Dを変化させた場合の、周期ラインパターン50のラインに垂直な方向についての感光体上の露光エネルギー密度分布を示した図である。なお、この露光エネルギー密度分布は、感光体上の潜像電位に追従すると仮定している。
【0056】
図10(a)は、D=√2P、(b)は、D=2P、(c)は、D=2√2Pにそれぞれスポット径を設定しており、いずれの場合も、解像度600dpiつまりドットピッチPは42μmである。そして、図10に示される波形の5つのピークがそれぞれ周期ラインパターン50のライン中心位置に該当し、ピーク間隔はP=42μmとなる。
【0057】
露光エネルギー密度分布は、D=√2Pの場合(図10(a))では、画像部(波形の山部分)と非画像部(波形の谷部分)との差が明確であり、周期ラインの潜像電位コントラスト(周期ライン間隙非画像部での値とピーク値との差異)を充分に有していることがわかる。これに対して、D=2Pの場合(図10(b))では、少しコントラストが低下し、さらに、D=2√2Pの場合(図10(c))では、大幅に低下することがわかる。
【0058】
つまり、露光スポット径Dが大きい程、隣接スポット間の重ね合わせ効果が働き、周期ラインの潜像電位コントラストが低下するということである。具体的には、露光スポットの重ね合わせが生じない場合のコントラストを100%とすると、D=2√2Pの場合(図10(c))は28%にまで低下する。
【0059】
潜像電位コントラストが低下すると、露光エネルギー密度の変化に対するduty変化が急峻な特性となり、中間duty(0<duty<100)を得ることが困難になる。
【0060】
実際に、スポット径D=2√2Pで周期ラインパターン50を形成したところ、非画像部の存在しない黒べた画像になることが確認された。一方、スポット径をD=√2P(コントラスト:96%)およびD=2P(コントラスト:73%)に設定して行なうと、露光エネルギーに対して中間dutyを忠実に再現でき、充分なコントラストを有する周期ラインパターン50を形成することができた。
【0061】
したがって、露光スポット径Dは、ドットピッチPに対して、D≦2Pに設定することが好ましいといえる。これにより、隣接画素間での露光スポットの重ね合わせに伴う画像劣化を抑制することができる。
【0062】
なお、画像形成装置1では、現像部16の現像方式として、一成分方式のものを使用しているが、これに限られず、二成分現像方式やジャンピング現像方式等その他の現像方式を適用することも可能である。
【0063】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって、制限的なものではないと考えるべきである。本発明の範囲は、上記した説明ではなく特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内ですべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の一つである画像形成装置1の主要な構成の概要を示す模式図である。
【図2】露光部15の構成を示した概略図である。
【図3】現像部16の構成を示した概略図である。
【図4】制御部17がLD20の露光エネルギー密度を制御する手順を示すフローチャートである。
【図5】周期ラインパターン50および孤立ドットパターン51の典型例を示した図である。
【図6】平均露光エネルギー密度に対するドット径dおよびdutyについての実験結果を表わした図である。
【図7】ドットピッチPに対するEdot/Elineを表わした図である。
【図8】制御部17で使用する露光エネルギー密度を変調させるためのパワー変調回路を説明するための図である。
【図9】
制御部17で使用する露光エネルギー密度を変調させるためのパルス幅変調
方式を説明するための図である。
【図10】
ドットピッチPが一定でスポット径Dを変化させた場合の、周期ラインパター
ン50のラインに垂直な方向についての感光体上の露光エネルギー密度分布を示
した図である。
【符号の説明】
1 画像形成装置
10 感光体
11 帯電部
15 露光部
16 現像部
17 制御部
20 半導体レーザ(LD)
30 トナー
32 現像ローラ
Claims (4)
- 所定の電位に帯電された膜厚15〜25μmの感光体を露光する露光手段と、
画像情報に基づいて前記露光手段の露光エネルギー密度を制御する制御手段と、
前記露光手段によって前記感光体上に形成された静電潜像を可視化する現像手段とを備えた画像形成装置であって、解像度が600dpi以上の画像形成において、
前記露光手段の露光スポット径をD(μm)、ドットピッチをP(μm)とした場合にD<2√2Pの関係を満たすように設定し、
前記制御手段は、前記画像情報が1ラインおきのラインパターンであるときに付与する露光エネルギー密度をEline(μJ/cm2)とし前記画像情報が孤立した1ドットパターンであるときに付与する露光エネルギー密度Edot(μJ/cm2)とした場合に、画像解像度に応じてEdot/Elineを、
−0.11P+6.4≦E dot /E line ≦−0.2P+10.7
の関係を満たすように変化させることを特徴とする、画像形成装置。 - 前記画像情報から孤立した1ドットパターンを検出する検出手段をさらに備え、
前記制御手段は、前記孤立した1ドットパターンが検出されない場合、露光エネルギー密度にEline(μJ/cm2)を付与し、
前記孤立した1ドットパターンが検出された場合、露光エネルギー密度にEdot(μJ/cm2)を付与する、請求項1に記載の画像形成装置。 - 前記制御手段は、1ドット毎に露光エネルギー密度の制御が可能なパワー変調手段を備える、請求項1または2に記載の画像形成装置。
- 所定の電位に帯電された膜厚15〜25μmの感光体を露光する露光ステップと、
画像情報に基づいて前記露光ステップの露光エネルギー密度を制御する制御ステップと、
前記露光ステップによって前記感光体上に形成された静電潜像を可視化する現像ステップとを備えた画像形成方法であって、解像度が600dpi以上の画像形成において、
前記露光ステップの露光スポット径をD(μm)、ドットピッチをP(μm)とした場合にD<2√2Pの関係を満たすように設定し、
前記制御ステップは、前記画像情報が1ラインおきのラインパターンであるときに付与する露光エネルギー密度をEline(μJ/cm2)とし前記画像情報が孤立した1ドットパターンであるときに付与する露光エネルギー密度Edot(μJ/cm2)とした場合に、画像解像度に応じてEdot/Elineを、
−0.11P+6.4≦E dot /E line ≦−0.2P+10.7
の関係を満たすように変化させることを特徴とする、画像形成方法。
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