JP3590724B2 - Liquid phase epitaxial growth apparatus and liquid phase epitaxial growth method - Google Patents

Liquid phase epitaxial growth apparatus and liquid phase epitaxial growth method Download PDF

Info

Publication number
JP3590724B2
JP3590724B2 JP23405398A JP23405398A JP3590724B2 JP 3590724 B2 JP3590724 B2 JP 3590724B2 JP 23405398 A JP23405398 A JP 23405398A JP 23405398 A JP23405398 A JP 23405398A JP 3590724 B2 JP3590724 B2 JP 3590724B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
growth
melt
epitaxial growth
liquid phase
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP23405398A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2000072592A (en
Inventor
和昭 金子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP23405398A priority Critical patent/JP3590724B2/en
Publication of JP2000072592A publication Critical patent/JP2000072592A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3590724B2 publication Critical patent/JP3590724B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、成長ボートを使用する液相エピタキシャル成長装置、および、この液相エピタキシャル成長装置を用いた液相エピタキシャル成長方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、液相エピタキシャル成長は成長ボートを用いて行われている。図4に示すように、成長ボート1は、メルト室2と成長室3との2槽に仕切られており、炉芯管4に対して出し入れ可能になっている。そして、図5に示すような手順に従って液相エピタキシャル成長を行う。
【0003】
図5(a)は、待機状態を示し、上記成長ボート1は、メルト室2に成長融液(以下、メルトと言う)5が充填され、成長室3には複数枚のウェハ6が縦に設置されて、炉芯管4の中央部(均熱領域10:図4参照)に配置されている。尚、7はメルト室2内のピストン8を操作するピストン操作棒であり、9は成長ボート1を操作するボート操作棒である。
【0004】
図5(b)は、液相エピタキシャル成長時の状態を示す。ピストン操作棒7が操作されて、メルト室2内のメルト5がピストン8によって成長室3内に押し出される。そして、メルト5の温度を高温(約900℃)から徐々に冷却させて、温度降下幅に相当する過剰メルトを基板6上に析出させることによって、エピタキシャル成長が行われる。その場合、炉芯管4内は、例えば水素等の高純度ガスで置換されている。ここで、例えばガリウムやガリウム砒素多結晶ポリマ等のメルト5は、総て高純度品が使用される。
【0005】
図5(c)は、液相エピタキシャル成長終了時の状態を示す。成長ボート1の状態としては、図5(b)に示す液相エピタキシャル成長時の状態と同じである。図5(d)は、エピタキシャル成長ウェハ取り出し時の状態を示す。先ず炉芯管4内をガス置換し、次にピストン操作棒7とピストン8との連結が解除され、ボート操作棒9が操作されて成長ボート1が炉芯管4外に引き出される。この場合、エピタキシャル成長ウェハ6'と共に、メルト5も外部(例えば大気中あるいは純度の劣る不活性ガス中)に引き出される。
【0006】
以後、上記エピタキシャル成長ウェハ6'が成長室3から取り出され、成長ボート1が清掃される(このとき使用後のメルト5は破壊される)。そして、次回にエピタキシャル成長させるウェハが成長室3にセットされ、新たなメルトがメルト室2に充填される。そうした後、ボート操作棒9が操作されて成長ボート1が炉芯管4内に戻されて、図5(a)に示す待機状態に戻る。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の液相エピタキシャル成長装置には、以下に述べるような問題がある。すなわち、上述のように、液相エピタキシャル成長に使用する材料は、成長時使用するガスを含めて、全て高純度品を使用している。したがって、液相エピタキシャル成長の際に、使用している材料以外のエピタキシャル成長に不都合な物質(以下、不用物質と言う)が周囲に存在すると、エピタキシャル成長中にその不用物質が成長層に取り込まれて目的の特性を有するエピタキシャル成長ウェハを得ることが困難になる。そのために、エピタキシャル成長においては、環境中における不用物質を低減させることが重要である。
【0008】
ところが、従来の液相エピタキシャル成長装置における成長ボート1は、成長室3とメルト室2とがー体に構成されているために、エピタキシャル成長後に成長室3を炉芯管4外に引き出す際にメルト5も外部に引き出されてしまうことなる。したがって、例えば大気中あるいは純度の劣る不活性ガス中に引き出されたメルト5に上記不用物質が取り込まれてしまい、このメルト5を以後のエピタキシャル成長に使用することは望ましくない。
【0009】
したがって、上記従来の液相エピタキシャル成長装置においては、成長終了後に外部に取り出された成長ボート1は、不用物質の混入を防止するために、付着したメルト5を拭き取りによって除去し、清掃する必要がある。その場合、成長ボート1はメルト室2と成長室3とが一体に構成されているために、ピストン8等の部品も多く、清掃面積も広く、清掃作業の効率が悪いという問題がある。
【0010】
一方において、同時に多数枚のウェハをエピタキシャル成長するためには、炉芯管4内の均熱領域10(図4参照)を効率よく使用する必要がある。そして、均熱領域10を効率よく使用するためには、成長ボート1内における成長室3とメルト室2との位置関係は、水平方向に位置させるよりも垂直方向に位置させる方が望ましい。
【0011】
そこで、この発明の目的は、メルトへの不用物質混入を防止して、目的の特性のエピタキシャル成長ウェハを安定して得ることができる液相エピタキシャル成長装置を提供することにある。さらに、エピタキシャル成長の準備および後処理作業を低減させ、均熱領域を高効率で使用でき、作業効率向上を含む生産効率の向上を図ることができる液相エピタキシャル成長装置、および、液相エピタキシャル成長方法を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項1に係る発明は、エピタキシャル成長が行われる成長室とこの成長室にメルトを供給するメルト室とを有する成長ボートと,この成長ボートが入れられて上記メルトを加熱するエピタキシャル成長炉を備えた液相エピタキシャル成長装置において、上記成長室とメルト室とは分離合体可能になっており, 且つ , 上記成長室が上記メルト室上に載置されて合体するようになっており、上記エピタキシャル成長炉は,炉芯部と,この炉芯部および外部に選択的に連通可能なガス置換室を有しており、上記メルト室の上部全体を覆って形成されると共に , 上記メルト室上に載置された上記成長室に上記成長融液を導くスロープ通路を備えたことを特徴としている。
【0013】
上記構成によれば、エピタキシャル成長ウェハを上記エピタキシャル成長炉から取り出す場合に、上記成長室は上記メルト室から分離されてガス置換室を経由して上記エピタキシャル成長炉外に搬出することが可能になる。したがって、上記メルト室は上記エピタキシャル成長炉内のエピタキシャル成長時と同じ雰囲気中に在り、外気接触による上記メルトへの不用物質の混入が防止される。
【0014】
さらに、上記メルトは、外気接触による不用物質の混入が無いため再使用が可能である。したがって、各エピタキシャル成長毎に新たに補充される上記メルトの量は0又は僅かでよく、エピタキシャル成長の準備を短時間にできると共にランニングコストの低減を図ることができる。さらに、上記成長室のみがエピタキシャル成長炉外に搬出されるために、成長ボートの清掃は上記成長室に対してのみ行えばよく、上記成長ボートの清掃が容易になる。
【0015】
さらに、エピタキシャル成長時には、上記成長室が上記メルト室上に載置されて両室が合体される。したがって、エピタキシャル成長炉における均熱領域の長さを変えることなく、両室を併設する場合よりも上記成長室を長くして収納ウェハ枚数を多くでき、上記均熱領域が効率良く使用される。
【0016】
さらに、エピタキシャル成長時に、下側に在る上記メルト室内のメルトがスロープ通路に導かれて上側に在る上記成長室に容易に供給される。さらに、上記スロープ通路は、上記メルト室の上部全体を覆って形成されるために蓋の役目を成し、上記成長室がエピタキシャル成長炉の外に取り出されている際における上記メルトの無用な蒸発が防止される。
【0017】
また、請求項2に係る発明は、請求項1に係る発明の液相エピタキシャル成長装置において、上記成長室を、上記メルト室から分離して上記ガス置換室を経由して上記エピタキシャル成長炉の外部に搬送する成長室搬送手段を備えたことを特徴としている。
【0018】
上記成長室を上記エピタキシャル成長炉から取り出す場合には、成長室搬送手段によって、上記メルト室から分離されて上記ガス置換室を経由して取り出される。こうして、成長室取り出し時に上記メルト室をエピタキシャル成長時と同じ雰囲気中に残すことによって、外気接触による上記メルトへの不用物質の混入が防止される。したがって、上記メルトの再使用が可能となり、メルト使用量およびランニングコストの低減が図られる。さらに、エピタキシャル成長の準備期間が短縮される。
【0019】
また、請求項3に係る発明は、請求項2に係る発明の液相エピタキシャル成長装置において、上記成長室搬送手段は、上記成長室が搭載される台車を含むことを特徴としている。
【0020】
上記構成によれば、上記成長室の上記エピタキシャル成長炉における均熱領域からガス置換室への搬送、および、このガス置換室から外部への搬送が、台車を用いて容易に短時間に行われる。
【0021】
また、請求項4に係る発明は、請求項1に係る発明の液相エピタキシャル成長装置を用いた液相エピタキシャル成長方法であって、上記メルト室には , エピタキシャル成長に必要な量に対して過剰な量のメルトを入れておき、次に、ウェハがセットされた上記成長室をエピタキシャル成長炉の炉芯部内に搬入して,メルトが充填された上記メルト室に上記成長室を合体させ、次に、上記メルト室内のメルトを上記成長室内に供給してエピタキシャル成長を行い、次に、上記成長室内のメルトを上記メルト室に戻し、次に、上記成長室を上記メルト室から分離させて上記ガス置換室に移動して上記ガス置換室内をガス置換し、次に、上記成長室を上記ガス置換室から上記エピタキシャル成長炉の外部に搬出して,後処理および次のエピタキシャル成長の準備を行うようにし、上記次のエピタキシャル成長の準備は , 上記エピタキシャル成長炉の外部に搬出された成長室に , 不足するメルトの組成成分を追加することを含むことを特徴としている。
【0022】
上記構成によれば、エピタキシャル成長ウェハ取り出し時には、上記成長室のみが上記エピタキシャル成長炉外に搬出される。その結果、外気接触による上記メルトへの不用物質の混入が防止されて、上記メルトの再使用が可能となる。したがって、各エピタキシャル成長毎に新たに補充されるメルトの量は0又は僅かでよく、エピタキシャル成長の準備時間およびランニングコストの低減が図られる。さらに、成長ボートの清掃は上記成長室に対してのみ行えばよく、上記成長ボートの清掃が容易になる。
【0023】
さらに、上記メルト室には、エピタキシャル成長に必要なメルトに対して過剰な量のメルトが入っており、そのメルトは外気接触による不用物質の混入が無いために再使用が可能である。したがって、各エピタキシャル成長毎に新たに補充される上記メルトの量は0か又は僅かでよく、エピタキシャル成長の準備を短時間にできると共にランニングコストの低減が図られる。
【0024】
さらに、上記メルト室から分離されて上記エピタキシャル成長炉の外部に搬出された成長室に、不足するメルトの組成成分が追加されて、上記メルト室中のメルト量が不足した場合の補充、あるいは、上記メルトの組成変化の調整が容易に行われる。
【0025】
【発明の実施の形態】
以下、この発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。図1は、本実施の形態の液相エピタキシャル成長装置における成長ボートの構造を示す図である。この成長ボート11においては、成長室12とメルト室13とは積層構造を呈しており、且つ、成長室12はメルト室13上を水平方向に移動して分離合体可能になっている。また、メルト室13の上部には、メルト14を図中右側から左側上部に設けられた吐出口13aに向かって導くスロープ通路15が設けられている。そして、メルト室13内のメルト14を成長室12に導入する場合には、メルト室13内のピストン16を図中右側に移動させる。そうすることによって、ピストン16に押されたメルト14は、スロープ通路15を通って吐出口13aから成長室12の図中左側に設けられた追加メルト室17に導かれるのである。このような構造の成長ボート11を有する液相エピタキシャル成長装置は、図2および図3に示すような手順に従って液相エピタキシャル成長を行う。
【0026】
尚、図2及び図3においては、GaAs系エピタキシャル成長を例に説明する。エピタキシャル成長を行なうに際して、n型ドープのGaAs基板ウェハ、Gaメルト(Ga,GaAs多結晶ポリマ,Si等)を準備する。
【0027】
本実施の形態における成長ボート11は、上述したように、成長室12とメルト室13とは積層されて分離合体可能になっている。また、成長室12を移動する際に使用される台車18が配置されている。エピタキシャル成長炉21は、炉芯管22とガス置換室23とを有しており、炉芯管22とガス置換室23とはシャッタ24の開放によって連通可能になっている。また、エピタキシャル成長炉21には、メルト室13を外部から操作するためのメルト室操作棒25、メルト室13内のピストン16用のピストン操作棒26、成長室12用の成長室操作棒27、および、台車18用の台車操作棒28が設けられている。尚、炉芯管22内は水素雰囲気下である。また、上述以外のエピタキシャル成長条件は上記従来の液相エピタキシャル成長装置の動作説明時における成長条件と同じである。
【0028】
図2(a)は、待機状態を示し、上記成長ボート11は、メルト室13にGaメルト(以下、単にメルトと言う)31が充填され、成長室12には複数枚のn型ドープGaAs基板ウェハ(以下、単にウェハと言う)32が縦に設置されて、炉芯管22の中央部(均熱領域20:図1参照)に配置されている。尚、台車18は、メルト室13に隣接して位置している。
【0029】
図2(b)は、液相エピタキシャル成長時の状態を示す。上記ピストン操作棒26が操作されて、ピストン16によって、メルト室13内のメルト31がスロープ通路15および追加メルト室17を介して成長室12内に押し出される。そして、メルト31の温度を高温(約900℃)から徐々に冷却させてエピタキシャル成長が行われる。
【0030】
図2(c)は、液相エピタキシャル成長終了時の状態を示す。ピストン操作棒26が操作されてピストン16が元の位置に戻されることによって、成長室12内の使用メルト31'がメルト室13に戻される。このように、本実施の形態においては、メルト室13を下方に成長室12を上方積層して設置している。したがって、均熱領域20の長さを換えることなく、成長室とメルト室とを併設する場合に比して成長室12の長さを長くして、一度に収納できるウェハ枚数を増やすことができ、均熱領域20を高効率に使用することができるのである。
【0031】
図3(d)は、エピタキシャル成長ウェハ取り出し時の状態を示す。先ず、成長室操作棒27が操作されて成長室12が台車18上まで移動されて、台車18上に成長室12を搭載する。次に、図3(e)に示すように、台車操作棒28と成長室操作棒27とが操作されて、成長室12が台車18と共に、ガス置換室23内に移動されてシャッタ24が閉じられる。そして、ガス置換室23内がガス置換される。
【0032】
そうした後、図3(f)に示すように、上記台車操作棒28と成長室操作棒27とが操作されて、成長室12が台車18と共にガス置換室23外(つまり、エピタキシャル成長炉21外)に搬出される。この場合、メルト室13は、図2(a)の待機状態における炉芯管22内における上記均熱領域20の位置から移動していない。したがって、本実施の形態によれば、エピタキシャル成長ウェハ取り出し時に大気中や純度の劣る不活性ガス中等に触れるのは成長室12を構成する部分のみとなり、メルト室13の外部接触が防止される。したがって、外気接触による上記不用物質のエピタキシャル成長系(特に使用メルト31')への混入を防止して、目的の特性を有するエピタキシャル成長ウェハ32'を安定して得ることができるのである。
【0033】
その場合、上記エピタキシャル成長炉21には、シャッタ24によって炉芯管22と仕切られたガス置換室23を設けている。したがって、炉芯管22内は、常時、エピタキシャル成長時に使用しているガス雰囲気下に在る。すなわち、本実施の形態においては、炉芯管22内に残されたメルト室13は、外部との接触が完全に遮断されており、メルト室13への不用物質の混入は完全に防止されるのである。
【0034】
尚、上述した如く、上記エピタキシャル成長ウェハ取り出し時において、メルト室13は移動することなく炉芯管22内に在る。そして、炉芯管22内はエピタキシャル成長時以外であっても約400℃以上の高温状態に在る。そこで、使用メルト13'の蒸発が危惧される。しかしながら、メルト室13の上方にはメルト31を成長室12に導くためのスロープ通路15が形成されている。したがって、このスロープ通路15がメルト室13の簡易な蓋の役割を果たし、使用メルト31'の余分な蒸発を防止することができるのである。
【0035】
以後、上記エピタキシャル成長ウェハ32'が成長室12から取り出され、成長室12が清掃される。そうした後、次回にエピタキシャル成長させるウェハが成長室12にセットされ、追加メルトが成長室12の追加メルト室17に補給される。そうした後、成長室12が台車18上に載置され、成長室操作棒27および台車操作棒28が操作されて成長室12が台車18と共にガス置換室23に移動されてガス置換される。そして、シャッタ24が開放され、成長室操作棒27および台車操作棒28が操作されて、成長室12が台車18と共に炉芯管22内に戻される。さらに、成長室操作棒27が操作されて成長室12がメルト室13上に載置されて、図2(a)に示す待機状態に戻るのである。
【0036】
このように、本実施の形態における液相エピタキシャル成長装置においては、成長ボート11を、成長室12とメルト室13とに分離合体可能にすると共に、合体時には成長室12をメルト室13上に載置可能にしている。したがって、成長室をメルト室と併設する場合に比して、成長室12の長さを長くして収納ウェハ枚数を多くすることができ、均熱領域20を効率良く使用することができる。
【0037】
また、上記エピタキシャル成長炉21内をシャッタ24によって炉芯管22とガス置換室23とに分割し、シャッタ24を開放することによって連通可能にしている。したがって、エピタキシャル成長終了後の成長室12を台車18に乗せて一旦ガス置換室23に入れ、シャッタ24を閉鎖してガス置換した後に成長室12を台車18と共にエピタキシャル成長炉21外に搬出することができる。こうして、エピタキシャル成長ウェハ32'を取り出す際に、メルト室13を炉芯管22内に残して外気と接触しないようにできる。すなわち、本実施の形態によれば、外気接触による使用メルト31'への上記不用物質の混入を完全に防止して、目的の特性を有するエピタキシャル成長ウェハを安定して得ることができるのである。
【0038】
その場合に、上記成長室12のエピタキシャル成長炉21からの搬出及びエピタキシャル成長炉21への搬入を、台車18を用いて行っている。したがって、エピタキシャル成長ウェハ32'の取り出しをスムーズに行うことができる。
【0039】
また、上記メルト室13の上部には、エピタキシャル成長時にメルト31を成長室12に導くためのスロープ通路15を形成している。したがって、このスロープ通路15が簡易的な蓋の役割を果たして、エピタキシャル成長ウェハ32'の取り出し時に、上記炉芯管22内に残されたメルト室13における使用メルト31'の蒸発を防止できる。
【0040】
また、外気接触による上記不用物質の混入が無い使用メルト31'は再使用が可能である。したがって、予めメルト室13に過剰のメルト31を充填しておけば、各エピタキシャル成長毎には、不足する分のメルト(又は、その組成成分)を成長室12の追加メルト室17に補充するだけでよい。したがって、各エピタキシャル成長毎のメルト材料準備作業を削減または低減できるのである。さらに、メルト31の大部分を繰り返し使用することが可能であるために、メルト31の使用量を低減してランニングコストの低減を図ることができる。
【0041】
また、上記エピタキシャル成長ウェハ32'を取り出す際に成長室12のみをエピタキシャル成長炉21外に取り出すことによって、後処理作業の一つであるメルト拭き取り作業時に拭き取るべき部品数を従来の成長ボートよりも少なくできる。したがって、ボート清掃作業を簡単にできる。
【0042】
【発明の効果】
以上より明らかなように、請求項1に係る発明の液相エピタキシャル成長装置は、成長ボートのメルト室と成長室とを分離合体可能にし、エピタキシャル成長炉には炉芯部とこの炉芯部および外部に選択的に連通可能なガス置換室を設けたので、エピタキシャル成長ウェハ取り出し時に、上記成長室をメルト室から分離して、ガス置換室を経由して上記エピタキシャル成長炉外に搬出することが可能になる。したがって、常時上記メルト室をエピタキシャル成長時と同じ雰囲気中に置くことができ、外気接触によるメルトへの不用物質の混入を防止できる。すなわち、この発明によれば、目的とする特性のエピタキシャル成長ウェハを安定して得ることができる。
【0043】
さらに、上記メルトは、外気接触による不用物質の混入が無いため再使用が可能である。したがって、各エピタキシャル成長毎に新たに補充されるメルトの量は0又は僅かでよく、エピタキシャル成長の準備を短時間にできると共にランニングコストの低減を図ることができる。さらに、上記成長室のみを上記エピタキシャル成長炉外に搬出できるので、各エピタキシャル成長毎における上記成長ボートの清掃は上記成長室に対してのみ行えばよく、上記成長ボートの清掃を容易にできる。すなわち、この発明によれば、作業効率向上を含む生産効率の向上を図ることができる。
【0044】
さらに、上記成長室とメルト室とは、上記成長室が上記メルト室上に載置されて合体するようになっているので、両室を併設する場合よりも上記成長室を長くして収納ウェハ枚数を多くできる。したがって、エピタキシャル成長炉における均熱領域を効率良く使用することができる。
【0045】
さらに、上記メルト室の上部全体を覆って形成されて、このメルト室上に載置された上記成長室にメルトを導くスロープ通路を備えたので、エピタキシャル成長時には、下側に位置する上記メルト室から上側に位置する上記成長室にメルトを容易に供給できる。さらに、上記スロープ通路は、上記メルト室の上部全体を覆う蓋の役目を成し、上記成長室がエピタキシャル成長炉の外に取り出されている際における上記メルトの無用な蒸発を防止できる。
【0046】
また、請求項2に係る発明の液相エピタキシャル成長装置は、成長室搬送手段によって、上記成長室を、上記メルト室から分離して上記ガス置換室を経由して上記エピタキシャル成長炉の外部に搬出するので、成長室搬出時に上記メルト室をエピタキシャル成長時と同じ雰囲気中に残すことができる。したがって、外気接触によるメルトへの不用物質の混入を防止でき、上記メルトを再使用できる。すなわち、この発明によれば、目的とする特性のエピタキシャル成長ウェハを安定して得ることができる。さらに、メルト使用量およびランニングコストの低減を図り、エピタキシャル成長の準備期間を短縮できる。
【0047】
また、請求項3に係る発明の液相エピタキシャル成長装置における上記成長室搬送手段は、上記成長室が搭載される台車を含んでいるので、上記成長室の上記均熱領域からガス置換室への搬送およびこのガス置換室から外部への搬出を、上記台車を用いて容易に且つ短時間に行うことができる。
【0048】
また、請求項4に係る発明の液相エピタキシャル成長方法は、エピタキシャル成長炉の炉芯部内において上記メルト室に上記成長室を合体させてエピタキシャル成長を行い、上記成長室内のメルトを上記メルト室に戻し、上記成長室を上記メルト室から分離して上記ガス置換室に移動してガス置換し、上記成長室をエピタキシャル成長炉の外部に搬出して後処理及び次エピタキシャル成長の準備を行うので、エピタキシャル成長ウェハ取り出し時には、上記成長室のみを上記エピタキシャル成長炉外に搬出できる。したがって、外気接触による上記メルトへの不用物質の混入を防止でき、目的とする特性のエピタキシャル成長ウェハを安定して得ることができる。
【0049】
さらに、上記メルトの再使用を可能にでき、使用するメルトの量,ランニングコストおよび次エピタキシャル成長の準備時間の低減を図ることができる。さらに、成長ボートの清掃は上記成長室に対してのみ行えばよく、次エピタキシャル成長の準備時間の低減と併せて、生産性を向上できる。
【0050】
さらに、エピタキシャル成長に必要な量に対して過剰な量のメルトを上記メルト室に入れておくので、各エピタキシャル成長毎に新たに補充するメルトの量は0か又は僅かでよい。したがって、次エピタキシャル成長の準備時間を短縮し、ランニングコストを低減できる。
【0051】
さらに、上記メルト室から分離されて上記エピタキシャル成長炉の外部に搬出された成長室に、不足するメルトの組成成分を追加するので、上記メルト室中のメルト量が不足した場合の補充やメルト組成の調整を、容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の液相エピタキシャル成長装置における成長ボートの構造を示す図である。
【図2】図1に示す成長ボートを用いた液相エピタキシャル成長動作の手順を示す図である。
【図3】図2に続く手順を示す図である。
【図4】従来の液相エピタキシャル成長装置における成長ボートの構造図である。
【図5】図4に示す成長ボートを用いた液相エピタキシャル成長動作の手順を示す図である。
【符号の説明】
11…成長ボート、 12…成長室、
13…メルト室、 14,31…メルト、
15…スロープ通路、 16…ピストン、
17…追加メルト室、 18…台車、
21…エピタキシャル成長炉、 22…炉芯管、
23…ガス置換室、 24…シャッタ、
25…メルト室操作棒、 26…ピストン操作棒、
27…成長室操作棒、 28…台車操作棒、
32…ウェハ。
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a liquid phase epitaxial growth apparatus using a growth boat and a liquid phase epitaxial growth method using the liquid phase epitaxial growth apparatus.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, liquid phase epitaxial growth has been performed using a growth boat. As shown in FIG. 4, the growth boat 1 is partitioned into two tanks, a melt chamber 2 and a growth chamber 3, and can be taken in and out of the furnace core tube 4. Then, liquid phase epitaxial growth is performed according to the procedure shown in FIG.
[0003]
FIG. 5A shows a standby state, in which the growth boat 1 is filled with a growth melt (hereinafter referred to as a melt) 5 in a melt chamber 2, and a plurality of wafers 6 are vertically set in the growth chamber 3. It is installed and arranged in the central part of the furnace core tube 4 (heating zone 10: see FIG. 4). Reference numeral 7 denotes a piston operation rod for operating the piston 8 in the melt chamber 2, and reference numeral 9 denotes a boat operation rod for operating the growth boat 1.
[0004]
FIG. 5B shows a state during liquid phase epitaxial growth. When the piston operating rod 7 is operated, the melt 5 in the melt chamber 2 is pushed into the growth chamber 3 by the piston 8. Then, the temperature of the melt 5 is gradually cooled from a high temperature (about 900 ° C.), and an excess melt corresponding to a temperature drop width is deposited on the substrate 6 to perform epitaxial growth. In this case, the inside of the furnace core tube 4 is replaced with a high-purity gas such as hydrogen. Here, for example, all high-purity melts 5 such as gallium and gallium arsenide polycrystalline polymer are used.
[0005]
FIG. 5 (c) shows a state at the end of the liquid phase epitaxial growth. The state of the growth boat 1 is the same as the state during the liquid phase epitaxial growth shown in FIG. FIG. 5D shows a state when the epitaxial growth wafer is taken out. First, the inside of the furnace core tube 4 is replaced with gas, then the connection between the piston operation rod 7 and the piston 8 is released, and the boat operation rod 9 is operated to pull out the growth boat 1 out of the furnace core tube 4. In this case, together with the epitaxial growth wafer 6 ′, the melt 5 is drawn out (for example, into the atmosphere or into an inert gas having a low purity).
[0006]
Thereafter, the epitaxial growth wafer 6 'is taken out of the growth chamber 3, and the growth boat 1 is cleaned (at this time, the melt 5 after use is destroyed). Then, a wafer to be epitaxially grown next time is set in the growth chamber 3, and a new melt is filled in the melt chamber 2. After that, the boat operating rod 9 is operated to return the growth boat 1 into the furnace core tube 4 and return to the standby state shown in FIG.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, the above-mentioned conventional liquid phase epitaxial growth apparatus has the following problems. That is, as described above, the materials used for the liquid phase epitaxial growth are all high-purity products, including the gas used for the growth. Therefore, during liquid phase epitaxial growth, if there is a material other than the material used that is inconvenient for epitaxial growth (hereinafter, referred to as unnecessary material), the unnecessary material is taken into the growth layer during epitaxial growth and It becomes difficult to obtain an epitaxially grown wafer having characteristics. Therefore, in epitaxial growth, it is important to reduce unnecessary substances in the environment.
[0008]
However, the growth boat 1 in the conventional liquid phase epitaxial growth apparatus has a structure in which the growth chamber 3 and the melt chamber 2 are formed in a single body. Will also be pulled out. Therefore, for example, the undesired substances are taken into the melt 5 drawn into the atmosphere or into an inert gas having a low purity, and it is not desirable to use the melt 5 for subsequent epitaxial growth.
[0009]
Therefore, in the above-mentioned conventional liquid phase epitaxial growth apparatus, it is necessary to remove the adhered melt 5 by wiping and clean the growth boat 1 taken out after the growth is completed in order to prevent mixing of unnecessary substances. . In this case, since the melt chamber 2 and the growth chamber 3 are integrally formed in the growth boat 1, there are many components such as the piston 8, the cleaning area is large, and the cleaning operation is inefficient.
[0010]
On the other hand, in order to epitaxially grow a large number of wafers simultaneously, it is necessary to efficiently use the soaking region 10 (see FIG. 4) in the furnace core tube 4. Then, in order to use the heat equalizing region 10 efficiently, it is desirable that the positional relationship between the growth chamber 3 and the melt chamber 2 in the growth boat 1 be located vertically rather than horizontally.
[0011]
Therefore, an object of the present invention is to provide a liquid phase epitaxial growth apparatus capable of preventing an unwanted substance from being mixed into a melt and stably obtaining an epitaxial growth wafer having desired characteristics. Further, the present invention provides a liquid phase epitaxial growth apparatus and a liquid phase epitaxial growth method capable of reducing preparation and post-processing work for epitaxial growth, using a soaking region with high efficiency, and improving production efficiency including improvement in work efficiency. Is to do.
[0012]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 provides a growth boat having a growth chamber in which epitaxial growth is performed, a melt chamber for supplying a melt to the growth chamber, and heating the melt with the growth boat put therein. In the liquid phase epitaxial growth apparatus provided with an epitaxial growth furnace, the above-described growth chamber and the melt chamber can be separated and combined., and , The growth chamber is placed on the melt chamber and united.The above-mentioned epitaxial growth furnace has a furnace core and a gas replacement chamber capable of selectively communicating with the furnace core and the outside.And is formed so as to cover the entire upper portion of the melt chamber. , A slope passage for guiding the growth melt to the growth chamber mounted on the melt chamber was provided.It is characterized by:
[0013]
According to the above configuration, when removing the epitaxial growth wafer from the epitaxial growth furnace, the growth chamber can be separated from the melt chamber and carried out of the epitaxial growth furnace via the gas replacement chamber. Therefore, the melt chamber is in the same atmosphere as that during the epitaxial growth in the epitaxial growth furnace, and the intrusion of unnecessary substances into the melt due to contact with the outside air is prevented.
[0014]
Further, the melt can be reused because there is no mixing of unnecessary substances due to contact with the outside air. Therefore, the amount of the melt that is newly replenished for each epitaxial growth may be 0 or small, and preparation for epitaxial growth can be shortened and running cost can be reduced. Further, since only the growth chamber is carried out of the epitaxial growth furnace, cleaning of the growth boat may be performed only for the growth chamber, and cleaning of the growth boat becomes easy.You.
[0015]
furtherDuring epitaxial growth, the growth chamber is placed on the melt chamber and the two chambers are combined. Therefore, without changing the length of the soaking area in the epitaxial growth furnace, the growth chamber can be made longer and the number of wafers accommodated can be increased as compared with the case where both chambers are provided in parallel, and the soaking area is used efficiently.You.
[0016]
furtherDuring epitaxial growth, the melt in the lower melt chamber is guided to the slope passage and is easily supplied to the upper growth chamber. Further, the slope passage serves as a lid because it is formed so as to cover the entire upper portion of the melt chamber, and unnecessary evaporation of the melt when the growth chamber is taken out of the epitaxial growth furnace is prevented. Is prevented.
[0017]
Also,Claim 2In the liquid-phase epitaxial growth apparatus according to the present invention, the growth chamber is separated from the melt chamber and transferred to the outside of the epitaxial growth furnace via the gas replacement chamber. It is characterized by having.
[0018]
When the growth chamber is taken out of the epitaxial growth furnace, the growth chamber is separated from the melt chamber by the growth chamber transport means and taken out via the gas replacement chamber. In this way, by leaving the melt chamber in the same atmosphere as during epitaxial growth when removing the growth chamber, mixing of unnecessary substances into the melt due to contact with the outside air is prevented. Therefore, the melt can be reused, and the amount of the melt used and the running cost can be reduced. Further, the preparation period for epitaxial growth is shortened.
[0019]
Also,Claim 3The invention according toClaim 2In the liquid phase epitaxial growth apparatus according to the present invention, the growth chamber transport means includes a carriage on which the growth chamber is mounted.
[0020]
According to the above configuration, the transfer from the soaking region in the epitaxial growth furnace of the growth chamber to the gas replacement chamber and the transfer from the gas replacement chamber to the outside are easily performed in a short time by using the bogie.
[0021]
Also,Claim 4The invention according to claim 1 is a liquid phase epitaxial growth method using the liquid phase epitaxial growth apparatus of the invention according to claim 1,In the above melt room , Put an excessive amount of melt with respect to the amount required for epitaxial growth, thenThe growth chamber in which the wafer is set is carried into the furnace core of the epitaxial growth furnace, the growth chamber is combined with the melt chamber filled with the melt, and then the melt in the melt chamber is supplied to the growth chamber. Then, the melt in the growth chamber is returned to the melt chamber, and then the growth chamber is separated from the melt chamber and moved to the gas replacement chamber to perform gas replacement in the gas replacement chamber. Then, the growth chamber is carried out of the gas replacement chamber to the outside of the epitaxial growth furnace, and post-treatment and preparation for the next epitaxial growth are performed.In preparation for the next epitaxial growth , In the growth chamber carried out of the above epitaxial growth furnace , Includes adding missing melt constituentsIt is characterized by:
[0022]
According to the above configuration, when the epitaxial growth wafer is taken out, only the growth chamber is carried out of the epitaxial growth furnace. As a result, mixing of unnecessary substances into the melt due to contact with the outside air is prevented, and the melt can be reused. Therefore, the amount of melt newly replenished for each epitaxial growth may be zero or small, and the preparation time and running cost for epitaxial growth can be reduced. Further, the cleaning of the growth boat may be performed only for the growth chamber, and the cleaning of the growth boat is facilitated.You.
[0023]
furtherThe melt chamber contains an excessive amount of melt relative to the melt required for epitaxial growth, and the melt can be reused because there is no mixing of unnecessary substances due to contact with the outside air. Therefore, the amount of the melt newly replenished for each epitaxial growth may be zero or small, and preparation for epitaxial growth can be shortened and running cost can be reduced.You.
[0024]
furtherIn the growth chamber separated from the melt chamber and carried out of the epitaxial growth furnace, the composition component of the insufficient melt is added, and replenishment when the melt amount in the melt chamber is insufficient, or the melt Adjustment of the composition change is easily performed.
[0025]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the illustrated embodiments. FIG. 1 is a diagram showing a structure of a growth boat in the liquid phase epitaxial growth apparatus of the present embodiment. In this growth boat 11, the growth chamber 12 and the melt chamber 13 have a laminated structure, and the growth chamber 12 is horizontally movable on the melt chamber 13 and can be separated and united. Further, a slope passage 15 for guiding the melt 14 from the right side to the discharge port 13a provided at the upper left side in the figure is provided in the upper part of the melt chamber 13. When the melt 14 in the melt chamber 13 is introduced into the growth chamber 12, the piston 16 in the melt chamber 13 is moved to the right in the drawing. By doing so, the melt 14 pushed by the piston 16 passes through the slope passage 15 from the discharge port 13a to the additional melt chamber 17 provided on the left side of the growth chamber 12 in the drawing. The liquid phase epitaxial growth apparatus having the growth boat 11 having such a structure performs the liquid phase epitaxial growth according to the procedure shown in FIGS.
[0026]
2 and 3, GaAs-based epitaxial growth will be described as an example. When performing epitaxial growth, an n-type doped GaAs substrate wafer and a ga melt (Ga, GaAs polycrystalline polymer, Si, etc.) are prepared.
[0027]
In the growth boat 11 in the present embodiment, as described above, the growth chamber 12 and the melt chamber 13 are stacked and can be separated and combined. Also, a carriage 18 used when moving the growth chamber 12 is arranged. The epitaxial growth furnace 21 has a furnace core tube 22 and a gas replacement chamber 23, and the furnace core tube 22 and the gas replacement chamber 23 can communicate with each other by opening a shutter 24. In the epitaxial growth furnace 21, a melt chamber operation rod 25 for operating the melt chamber 13 from the outside, a piston operation rod 26 for the piston 16 in the melt chamber 13, a growth chamber operation rod 27 for the growth chamber 12, and , A truck operating rod 28 for the truck 18 is provided. The inside of the furnace tube 22 is under a hydrogen atmosphere. The epitaxial growth conditions other than those described above are the same as the growth conditions when the operation of the conventional liquid phase epitaxial growth apparatus is described.
[0028]
FIG. 2A shows a standby state. In the growth boat 11, the melt chamber 13 is filled with a Ga melt (hereinafter, simply referred to as a melt) 31, and the growth chamber 12 has a plurality of n-type doped GaAs substrates. A wafer (hereinafter, simply referred to as a wafer) 32 is installed vertically, and is arranged in a central part (a soaking area 20: see FIG. 1) of the furnace core tube 22. The cart 18 is located adjacent to the melt chamber 13.
[0029]
FIG. 2B shows a state during liquid phase epitaxial growth. The piston operation rod 26 is operated, and the melt 16 in the melt chamber 13 is pushed out by the piston 16 into the growth chamber 12 through the slope passage 15 and the additional melt chamber 17. Then, the temperature of the melt 31 is gradually cooled from a high temperature (about 900 ° C.) to perform epitaxial growth.
[0030]
FIG. 2C shows a state at the end of the liquid phase epitaxial growth. The used melt 31 ′ in the growth chamber 12 is returned to the melt chamber 13 by operating the piston operation rod 26 and returning the piston 16 to the original position. As described above, in the present embodiment, the melt chamber 13 is disposed below the growth chamber 12 while the melt chamber 13 is disposed below. Therefore, it is possible to increase the length of the growth chamber 12 as compared with the case where the growth chamber and the melt chamber are provided side by side, without changing the length of the soaking area 20, and increase the number of wafers that can be stored at one time. Thus, the soaking region 20 can be used with high efficiency.
[0031]
FIG. 3D shows a state when the epitaxial growth wafer is taken out. First, the growth chamber operating rod 27 is operated to move the growth chamber 12 onto the carriage 18, and the growth chamber 12 is mounted on the carriage 18. Next, as shown in FIG. 3 (e), the carriage operation rod 28 and the growth chamber operation rod 27 are operated, and the growth chamber 12 is moved together with the carriage 18 into the gas replacement chamber 23 and the shutter 24 is closed. Can be Then, the gas inside the gas replacement chamber 23 is replaced.
[0032]
After that, as shown in FIG. 3 (f), the bogie operation rod 28 and the growth chamber operation rod 27 are operated, so that the growth chamber 12 and the bogie 18 are outside the gas replacement chamber 23 (that is, outside the epitaxial growth furnace 21). To be carried out. In this case, the melt chamber 13 has not moved from the position of the soaking zone 20 in the furnace core tube 22 in the standby state of FIG. Therefore, according to the present embodiment, only the portion constituting the growth chamber 12 comes into contact with the atmosphere or an inert gas having a low purity when the epitaxial growth wafer is taken out, and external contact of the melt chamber 13 is prevented. Therefore, it is possible to prevent the unnecessary substance from being mixed into the epitaxial growth system (particularly, the melt 31 ′ used) due to the contact with the outside air, and to stably obtain the epitaxial growth wafer 32 ′ having the desired characteristics.
[0033]
In this case, the epitaxial growth furnace 21 is provided with a gas replacement chamber 23 separated from the furnace core tube 22 by a shutter 24. Therefore, the inside of the furnace core tube 22 is always under the gas atmosphere used during epitaxial growth. That is, in the present embodiment, the contact with the outside of the melt chamber 13 left in the furnace core tube 22 is completely shut off, and the entry of unnecessary substances into the melt chamber 13 is completely prevented. It is.
[0034]
As described above, at the time of taking out the epitaxial growth wafer, the melt chamber 13 does not move and stays in the furnace core tube 22. The inside of the furnace core tube 22 is in a high temperature state of about 400 ° C. or more even when the epitaxial growth is not being performed. Therefore, there is a fear that the used melt 13 ′ evaporates. However, a slope passage 15 for guiding the melt 31 to the growth chamber 12 is formed above the melt chamber 13. Therefore, the slope passage 15 plays a role of a simple lid of the melt chamber 13, so that the use melt 31 'can be prevented from being excessively evaporated.
[0035]
Thereafter, the epitaxial growth wafer 32 'is taken out of the growth chamber 12, and the growth chamber 12 is cleaned. After that, the wafer to be epitaxially grown next time is set in the growth chamber 12, and the additional melt is supplied to the additional melt chamber 17 of the growth chamber 12. After that, the growth chamber 12 is placed on the trolley 18, and the growth chamber operation rod 27 and the trolley operation rod 28 are operated to move the growth chamber 12 together with the trolley 18 to the gas replacement chamber 23, where the gas is replaced. Then, the shutter 24 is opened, and the growth chamber operation rod 27 and the trolley operation rod 28 are operated, and the growth chamber 12 is returned into the furnace core tube 22 together with the trolley 18. Further, the growth chamber operation rod 27 is operated to place the growth chamber 12 on the melt chamber 13 and return to the standby state shown in FIG.
[0036]
As described above, in the liquid phase epitaxial growth apparatus according to the present embodiment, the growth boat 11 can be separated and combined with the growth chamber 12 and the melt chamber 13, and the growth chamber 12 is placed on the melt chamber 13 during the combination. Making it possible. Therefore, the length of the growth chamber 12 can be increased and the number of stored wafers can be increased, and the soaking area 20 can be used efficiently, as compared with the case where the growth chamber is provided along with the melt chamber.
[0037]
Further, the inside of the epitaxial growth furnace 21 is divided into a furnace core tube 22 and a gas replacement chamber 23 by a shutter 24, and communication is enabled by opening the shutter 24. Therefore, the growth chamber 12 after the completion of the epitaxial growth is put on the carriage 18 and once put in the gas replacement chamber 23, the shutter 24 is closed and the gas is replaced, and then the growth chamber 12 can be carried out of the epitaxial growth furnace 21 together with the carriage 18. . Thus, when the epitaxial growth wafer 32 'is taken out, the melt chamber 13 can be left inside the furnace core tube 22 so as not to come into contact with the outside air. That is, according to the present embodiment, it is possible to completely prevent the useless substance from being mixed into the used melt 31 'due to the contact with the outside air, and to stably obtain an epitaxial growth wafer having desired characteristics.
[0038]
In this case, the carriage 18 is used to carry out the growth chamber 12 from the epitaxial growth furnace 21 and carry it into the epitaxial growth furnace 21. Therefore, the epitaxial growth wafer 32 'can be taken out smoothly.
[0039]
Further, a slope passage 15 for guiding the melt 31 to the growth chamber 12 during epitaxial growth is formed in the upper part of the melt chamber 13. Therefore, the slope passage 15 serves as a simple lid, and when the epitaxial growth wafer 32 ′ is taken out, evaporation of the melt 31 ′ used in the melt chamber 13 left in the furnace core tube 22 can be prevented.
[0040]
In addition, the used melt 31 ′ in which the above-mentioned unnecessary substances are not mixed due to contact with the outside air can be reused. Therefore, if the melt chamber 13 is filled with the excess melt 31 in advance, it is only necessary to replenish the insufficient melt (or its component) into the additional melt chamber 17 of the growth chamber 12 for each epitaxial growth. Good. Therefore, the melt material preparation work for each epitaxial growth can be reduced or reduced. Further, since most of the melt 31 can be used repeatedly, the running cost can be reduced by reducing the amount of the melt 31 used.
[0041]
In addition, when the epitaxial growth wafer 32 'is taken out, only the growth chamber 12 is taken out of the epitaxial growth furnace 21, so that the number of components to be wiped during a melt wiping operation, which is one of post-processing operations, can be made smaller than that of a conventional growth boat. . Therefore, the boat cleaning operation can be simplified.
[0042]
【The invention's effect】
As is clear from the above, the liquid phase epitaxial growth apparatus according to the first aspect of the present invention enables a melt chamber and a growth chamber of a growth boat to be separated and combined. Since the gas replacement chamber which can be selectively communicated is provided, it is possible to separate the growth chamber from the melt chamber and take it out of the epitaxial growth furnace via the gas replacement chamber when taking out the epitaxial growth wafer. Therefore, the melt chamber can always be placed in the same atmosphere as during the epitaxial growth, and it is possible to prevent unwanted substances from being mixed into the melt due to contact with the outside air. That is, according to the present invention, an epitaxially grown wafer having desired characteristics can be stably obtained.
[0043]
Further, the melt can be reused because there is no mixing of unnecessary substances due to contact with the outside air. Therefore, the amount of melt newly replenished for each epitaxial growth may be 0 or a little, and preparation for epitaxial growth can be shortened and running cost can be reduced. Furthermore, since only the growth chamber can be carried out of the epitaxial growth furnace, the growth boat needs to be cleaned only for the growth chamber for each epitaxial growth, and the growth boat can be easily cleaned. That is, according to the present invention, it is possible to improve the production efficiency including the work efficiency.
[0044]
further,Since the growth chamber and the melt chamber are configured so that the growth chamber is placed on the melt chamber and united, the growth chamber is made longer than when both chambers are provided side by side to reduce the number of wafers to be stored. You can do much. Therefore, the soaking region in the epitaxial growth furnace can be used efficiently.
[0045]
furtherIs formed so as to cover the entire upper portion of the melt chamber, and has a slope passage for guiding the melt to the growth chamber mounted on the melt chamber. The melt can be easily supplied to the above-mentioned growth chamber located in the above. Further, the slope passage serves as a lid for covering the entire upper portion of the melt chamber, and can prevent unnecessary evaporation of the melt when the growth chamber is taken out of the epitaxial growth furnace.
[0046]
Also,Claim 2The liquid phase epitaxial growth apparatus according to the invention according to the present invention, by the growth chamber transport means, the growth chamber is separated from the melt chamber and carried out of the epitaxial growth furnace via the gas replacement chamber, so when the growth chamber is unloaded. The above melt chamber can be left in the same atmosphere as during epitaxial growth. Therefore, it is possible to prevent mixing of unnecessary substances into the melt due to contact with the outside air, and it is possible to reuse the melt. That is, according to the present invention, an epitaxially grown wafer having desired characteristics can be stably obtained. Further, the amount of melt used and the running cost can be reduced, and the preparation period for epitaxial growth can be shortened.
[0047]
Also,Claim 3Since the growth chamber transfer means in the liquid phase epitaxial growth apparatus according to the present invention includes a carriage on which the growth chamber is mounted, the transfer from the soaking zone of the growth chamber to the gas replacement chamber and the gas replacement chamber are performed. Carrying out from the outside can be performed easily and in a short time by using the cart.
[0048]
Also,Claim 4In the liquid phase epitaxial growth method according to the invention, the growth chamber is integrated with the melt chamber in the furnace core of the epitaxial growth furnace to perform epitaxial growth, the melt in the growth chamber is returned to the melt chamber, and the growth chamber is melted. Separated from the chamber and moved to the gas replacement chamber to perform gas replacement, and the growth chamber is carried out of the epitaxial growth furnace to perform post-processing and preparation for the next epitaxial growth. It can be carried out of the above epitaxial growth furnace. Therefore, it is possible to prevent the unnecessary substance from being mixed into the melt due to the contact with the outside air, and to stably obtain an epitaxially grown wafer having desired characteristics.
[0049]
Further, the melt can be reused, and the amount of the melt to be used, the running cost, and the preparation time for the next epitaxial growth can be reduced. Furthermore, the cleaning of the growth boat may be performed only for the growth chamber, and the productivity can be improved together with the reduction of the preparation time for the next epitaxial growth.
[0050]
furtherSince an excessive amount of the melt relative to the amount required for epitaxial growth is put in the melt chamber, the amount of melt to be newly replenished for each epitaxial growth may be zero or small. Therefore, the preparation time for the next epitaxial growth can be shortened, and the running cost can be reduced.
[0051]
furtherSince the missing melt component is added to the growth chamber separated from the melt chamber and carried out of the epitaxial growth furnace, replenishment and adjustment of the melt composition when the melt amount in the melt chamber is insufficient. Can be easily performed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a view showing a structure of a growth boat in a liquid phase epitaxial growth apparatus of the present invention.
FIG. 2 is a view showing a procedure of a liquid phase epitaxial growth operation using the growth boat shown in FIG.
FIG. 3 is a diagram showing a procedure following FIG. 2;
FIG. 4 is a structural diagram of a growth boat in a conventional liquid phase epitaxial growth apparatus.
5 is a diagram showing a procedure of a liquid phase epitaxial growth operation using the growth boat shown in FIG.
[Explanation of symbols]
11 ... growth boat, 12 ... growth room,
13… Melt room, 14,31… Melt,
15: slope passage, 16: piston,
17 ... additional melt room, 18 ... trolley,
21: epitaxial growth furnace, 22: furnace core tube,
23: gas replacement chamber, 24: shutter,
25: Melt chamber operation rod, 26: Piston operation rod,
27 ... Growth chamber operation rod, 28 ... Dolly operation rod,
32 ... Wafer.

Claims (4)

エピタキシャル成長が行われる成長室とこの成長室に成長融液を供給するメルト室とを有する成長ボートと、この成長ボートが入れられて上記成長融液を加熱するエピタキシャル成長炉を備えた液相エピタキシャル成長装置において、
上記成長室とメルト室とは分離合体可能になっており、且つ、上記成長室が上記メルト室上に載置されて合体するようになっており、
上記エピタキシャル成長炉は、炉芯部と、この炉芯部および外部に選択的に連通可能なガス置換室を有しており、
上記メルト室の上部全体を覆って形成されると共に、上記メルト室上に載置された上記成長室に上記成長融液を導くスロープ通路を備えた
ことを特徴とする液相エピタキシャル成長装置。
In a liquid-phase epitaxial growth apparatus having a growth chamber having a growth chamber in which epitaxial growth is performed and a melt chamber for supplying a growth melt to the growth chamber, and an epitaxial growth furnace in which the growth boat is placed and heats the growth melt. ,
The growth chamber and the melt chamber can be separated and united, and the growth chamber is placed on the melt chamber and united,
The epitaxial growth furnace, and the furnace core section has to have a selectively communicatively gas exchange chamber to the furnace core section and an outer,
Liquid phase epitaxial growth formed so as to cover the entire upper part of the melt chamber, and having a slope passage for guiding the growth melt to the growth chamber mounted on the melt chamber. apparatus.
請求項1に記載の液相エピタキシャル成長装置において、
上記成長室を、上記メルト室から分離して上記ガス置換室を経由して上記エピタキシャル成長炉の外部に搬送する成長室搬送手段を備えたことを特徴とする液相エピタキシャル成長装置。
The liquid-phase epitaxial growth apparatus according to claim 1,
A liquid phase epitaxial growth apparatus, comprising: a growth chamber transfer means for separating the growth chamber from the melt chamber and transferring the growth chamber to the outside of the epitaxial growth furnace via the gas replacement chamber .
請求項2に記載の液相エピタキシャル成長装置において、
上記成長室搬送手段は、上記成長室が搭載される台車を含むことを特徴とする液相エピタキシャル成長装置。
The liquid phase epitaxial growth apparatus according to claim 2,
The liquid phase epitaxial growth apparatus , wherein the growth chamber transport means includes a carriage on which the growth chamber is mounted .
請求項1に記載の液相エピタキシャル成長装置を用いた液相エピタキシャル成長方法であって、
上記メルト室には、エピタキシャル成長に必要な量に対して過剰な量の成長融液を入れておき、
次に、ウェハがセットされた上記成長室をエピタキシャル成長炉の炉芯部内に搬入して、成長融液が充填された上記メルト室に上記成長室を合体させ、
次に、上記メルト室内の成長融液を上記成長室内に供給してエピタキシャル成長を行い、
次に、上記成長室内の成長融液を上記メルト室に戻し、
次に、上記成長室を上記メルト室から分離させて上記ガス置換室に移動して上記ガス置換室内をガス置換し、
次に、上記成長室を上記ガス置換室から上記エピタキシャル成長炉の外部に搬出し、後処理および次のエピタキシャル成長の準備を行うようにし、
上記次のエピタキシャル成長の準備は、上記エピタキシャル成長炉の外部に搬出された成長室に、不足する成長融液の組成成分を追加することを含む
ことを特徴とする液相エピタキシャル成長方法
A liquid phase epitaxial growth method using the liquid phase epitaxial growth apparatus according to claim 1,
In the above-mentioned melt chamber, an excessive amount of the growth melt with respect to the amount required for the epitaxial growth is put,
Next, the growth chamber in which the wafer is set is carried into the core of the epitaxial growth furnace, and the growth chamber is integrated with the melt chamber filled with the growth melt,
Next, epitaxial growth is performed by supplying the growth melt in the melt chamber into the growth chamber,
Next, the growth melt in the growth chamber is returned to the melt chamber,
Next, the growth chamber is separated from the melt chamber and moved to the gas replacement chamber to replace the gas in the gas replacement chamber,
Next, the growth chamber is carried out of the gas replacement chamber to the outside of the epitaxial growth furnace, so that post-treatment and preparation for the next epitaxial growth are performed,
The liquid phase epitaxial growth method according to claim 1, wherein the preparation for the next epitaxial growth includes adding a composition component of the insufficient growth melt to a growth chamber carried out of the epitaxial growth furnace .
JP23405398A 1998-08-20 1998-08-20 Liquid phase epitaxial growth apparatus and liquid phase epitaxial growth method Expired - Fee Related JP3590724B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23405398A JP3590724B2 (en) 1998-08-20 1998-08-20 Liquid phase epitaxial growth apparatus and liquid phase epitaxial growth method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23405398A JP3590724B2 (en) 1998-08-20 1998-08-20 Liquid phase epitaxial growth apparatus and liquid phase epitaxial growth method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000072592A JP2000072592A (en) 2000-03-07
JP3590724B2 true JP3590724B2 (en) 2004-11-17

Family

ID=16964846

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23405398A Expired - Fee Related JP3590724B2 (en) 1998-08-20 1998-08-20 Liquid phase epitaxial growth apparatus and liquid phase epitaxial growth method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3590724B2 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003258294A (en) 2002-03-01 2003-09-12 Sharp Corp Led element
US20230091125A1 (en) * 2020-06-01 2023-03-23 Sekisui House, Ltd. Post and beam structure at a multi-height opening portion
CN114411259B (en) * 2021-12-27 2022-12-30 广东先导微电子科技有限公司 High-purity gallium arsenide polycrystal and preparation device and method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000072592A (en) 2000-03-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101175165B1 (en) Evaporator vapor deposition apparatus and method of switching evaporator in vapor deposition apparatus
DE10244409B4 (en) A method of etching a predetermined layer formed on a wafer and apparatus for performing the same
CN1954101B (en) Method and apparatus for producing group III nitride crystal
CN111524808B (en) Substrate processing method and substrate processing apparatus
JP3590724B2 (en) Liquid phase epitaxial growth apparatus and liquid phase epitaxial growth method
EP0335267B1 (en) Molecular beam epitaxy apparatus
JPS63209122A (en) Method and apparatus for vapor phase thin film crystal growth
US3767481A (en) Method for epitaxially growing layers of a semiconductor material from the liquid phase
JP4172982B2 (en) Method and apparatus for gasifying solid material and method and apparatus for forming thin film
JPH11251402A (en) Semiconductor wafer carrier
US3891478A (en) Deposition of epitaxial layer from the liquid phase
JP3725700B2 (en) Compound single crystal growth apparatus and method
EP0707097A1 (en) MBE apparatus and MBE method
DE3427056A1 (en) SYSTEM FOR THE PRODUCTION OF SEMICONDUCTOR LAYER STRUCTURES BY EPITACTIC GROWTH
JPH0218576B2 (en)
JP4845480B2 (en) Semiconductor ingot manufacturing apparatus and semiconductor ingot manufacturing method
JP5839980B2 (en) Thin film forming method and CVD apparatus
KR19990014665U (en) Semiconductor Wafer Drying Equipment
KR101401351B1 (en) Apparatus for manufacturing silicon substrate and manufactring method of silicon substrate
JPH03270127A (en) Semiconductor crystal growth device
JPH11274134A (en) Substrate drying apparatus, and substrate drying method, therefor, and substrate treatment apparatus
JPS59101823A (en) Liquid-phase epitaxial growth device
JPS60170245A (en) Substrate conveying truck
JPH02124795A (en) Molecular beam crystal growth device
JPH01222439A (en) Device for manufacturing semiconductor crystal

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040419

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040511

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040709

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040817

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040823

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070827

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080827

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080827

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090827

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees