JP3561891B2 - マイクロプレート遮光手段及び発光測定装置 - Google Patents

マイクロプレート遮光手段及び発光測定装置 Download PDF

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Description

【0001】
【発明が属する技術分野】
この発明は、生体成分などを測定する際に、測定試料容器として広く利用されている複数のウェルで形成されたマイクロプレートと呼ばれる使い捨て容器の、発光測定装置に関するものである。
【0002】
近年生体成分などの高感度測定法として、生物発光や化学発光などの極微弱光量を光電子増倍管などの高感度受光器にて測定する発光測定法が盛んに行われるようになってきた。前記マイクロプレートを測定試料容器として用いた場合にも、この発光測定法が導入されつつあり、すでにマイクロプレート用発光測定装置もいくつか知られている。
【0003】
【従来の技術】
このような装置に於いては、外部からの強い光を完全に遮断し、試料の発生する極微弱光量を如何に測定するか、また、測定中のウェルに隣接する他のウェルからの迷光を遮断する、いわゆるクロストーク防止対策の2点を同時に解決しなければならない。
【0004】
これらの対策として、特開平5−157699、特開平5−209830、特開平5−281143、特開平7−83831などが知られている。
【0005】
これらの内、特開平5−157699、特開平5−281143、特開平7−83831はいずれも円筒状の遮光部材または受光器の受光口が上下移動する構造であり、測定時に円筒状遮光部材または受光口が下方移動し、マイクロプレートの任意のウェル上面に接触またははめ合わさることにより遮光される。
【0006】
ここで、単に接触だけの方法の場合には前記クロストーク防止対策としては効果があるものの、使用しているマイクロプレートのメーカーの違いによる寸法誤差、或いは加工精度、特に表面の状態や傷によりわずかな隙間を生じることがあり、外部からの強い光に対する遮光においては不十分であった。そのため装置全体をさらに遮光する二重遮光構造とする必要があった。
【0007】
この場合装置全体を遮光することは装置が気密状態となり、長時間使用すると、装置内部のモーターや電子部品が発生する熱により装置内温度が異常に上昇することになった。特に生体成分の測定時には免疫反応や酵素反応が伴うことが多く、マイクロプレート自体は37℃付近にコントロールされていることが望ましい。しかしながらこのような装置の場合、装置内温度が37℃以上になると冷却装置なしでは温度コントロールができず、また、冷却装置を搭載すると装置全体が大型化するばかりではなく高価なものになってしまうという欠点があった。
【0008】
また、円筒状遮光部材または受光口底面とマイクロプレート上面がはめ合わさる構造の装置場合は、その装置用に特別に設計製造された加工精度の高いマイクロプレートが必要になってくる。マイクロプレートは基本的に使い捨てであり、使用方法およびマイクロプレートの種類は測定対象物によって様々である。従ってどこでも入手でき、安価で汎用性があることが使用する側にとっては特に重要で、遮光のためマイクロプレート側に構造的に負担をかけることは、システム全体の性能としては大きな欠点となった。
【0009】
一方、特開平5−209830に記載の放射測定器は、放射検知器とマイクロプレートの間に少なくとも一つの絞り孔を有する絞り板が不動に配置され、マイクロプレートが一定圧力で絞り板の底面に挿圧され、マイクロプレートの移動時は水平に摺動する構造である。このような方法の場合機構が簡単であることからコスト的に有利になるものの、外部からの強い光に対する遮光は不完全であり、二重遮光構造にする必要があった。さらにマイクロプレート移動時にマイクロプレート上面全体が常に絞り板底面を摺動するため、マイクロプレート上面に試料液などが飛散していると、多くの他のウェルに持ち込む確率が高くなることから、クロスコンタミネーションの原因となった。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように従来のマイクロプレート用発光測定装置は、外部からの強い光の遮断とクロストーク防止対策として種々の工夫がなされているが、まだ構造的に完成されていないため、マイクロプレートの温度コントロールの問題や、特別に設計製造されたマイクロプレートしか使用できない問題、クロスコンタミネーションの問題など新たに二次的な問題を引き起こす結果となった。
【0011】
本発明の目的は、上記従来の発光測定装置が有する外部からの強い光の遮断、およびクロストーク防止対策問題を解決するとともに、二次的に発生する種々の問題をも一挙に解決することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明のマイクロプレート遮光手段は複数のウェルで形成されたマイクロプレートを収納する上面が開放された箱形キャリヤを水平方向に移動可能に配設し、このキャリヤの上方に受光孔を形成した遮光板を上下動可能に配設し、遮光板は下方に移動した際箱形キャリヤの周囲と密着して暗箱を形成するとともに遮光板の受光孔はその底面側外周囲がマイクロプレートのウェル上面の開口部外周囲と密着するように筒状突起底面を形成した(請求項1)ものである。
【0013】
また、本発明の発光測定装置は上記マイクロプレート遮光手段を利用し、遮光板上面の受光孔周囲に凹型のガイド穴を形成し、受光孔と同軸の透孔が形成してありこの透孔にトリガー試薬分注器のノズルを臨ませたノズル固定ブロックをガイド穴の上方に配設し、遮光板のガイド穴はノズル固定ブロックに対し遮光板が上下動するときに摺動可能とするとともに、透孔の上方に発光検出手段を配設し(請求項3)、または受光孔と同軸の透孔が形成してありこの透孔にトリガー試薬分注器のノズルを臨ませたノズル固定ブロックを受光孔の上方に配設し、遮光板が上下動可能に遮光板の受光孔とノズル固定ブロックの透孔の間の外光を遮断するようにベローズ等伸縮可能な遮光材により包み込むようにするとともに、透孔の上方に発光検出手段を配設し(請求項4)、あるいはこの両方を組み合わせた(請求項5)ものである。
【0014】
本発明のマイクロプレート遮光手段及びこれを利用した発光測定装置は二重遮光構造であるが、外部からの強い光を遮断するための外側の遮光方法は、装置全体ではなくマイクロプレートを収納する箱形キャリヤのみ密閉する構造であることから、モーターや電子部品から発生する熱は、自然対流またはファンによる送風により装置外へ拡散できる。従ってマイクロプレートはそれらからの熱的影響から回避され、冷却装置なしで精度の高い温度コントロールが可能となる。
【0015】
また、外部からの強い光は箱形キャリヤにて完全に遮断されるため、クロストーク防止策は、単に受光孔外周囲とマイクロプレート上面が接触するだけで十分であり、特別に設計製造されたマイクロプレートを準備する必要もない。さらにマイクロプレート移動時には、遮光板が上方に待避するためクロスコンタミネーションも回避される。
【0016】
【発明の実施の形態】
次に、この発明に係るマイクロプレート遮光手段及びこれを利用した発光測定装置の一実施例を図に基づいて説明する。ここで図1は発光量測定時の装置断面図であり、図2はマイクロプレート移動時の装置断面図であり、図3は要部拡大図である。
【0017】
図1において1は発光検出手段である公知の光電子増倍管であり、シールドケース2内に納められ不動に固定されている。3はトリガー試薬分注器の円筒形状のノズル固定ブロックであり、光電子増倍管1と同軸の透孔4が形成してあり、発光による光束はこの透孔4を通過し光電子増倍管1の受光面に至る。基本的には、光電子増倍管1の受光面はシールドケース2等により覆い、ノズル固定ブロック3の透孔4以外には遮光状態に配設する。
【0018】
このノズル固定ブロック3は、光電子増倍管1に対し不動に固定され、さらに側面を遮光板5のガイド穴6の側面が接触しており、マイクロプレート7移動時には上方に摺動する。この部分は外部からの光が漏れないようすり合わせ加工を行うが、外側からべローズなどにより包み込み遮光してもよい。また、ガイド穴6を形成せずに単に遮光板5とノズル固定ブロック3をベローズ等の遮光材により包み込むようにして連結してもよい。
【0019】
なお、ノズル固定ブロック3と遮光板5のガイド穴6は円筒状に形成しておいてもよいが、あるいは相互の回動を防止するために角型に形成して嵌合するようにしておいてもよい。
【0020】
遮光板5はモーター(図示せず)に結合したカム8によって上下に移動し、マイクロプレート7移動時には図2のように上方に待避する。測定時には下方に移動し、箱形キャリヤ9の外周囲上面10と密着し完全な暗箱を形成する。
【0021】
またそれと同時に、ガイド穴6の底部に開口している受光孔11の周囲に形成した筒状突起底面12が、試料が入っているマイクロプレート7のウェル外周囲上面13と密着することで、一つのウェルと遮光板5の受光孔11とノズル固定ブロック3およびシールドケース2よりなる暗室が形成され、他のウェルからの極微弱光を遮断しクロストークを防止する。
【0022】
また遮光板5と箱形キャリヤ9の密着部分は、箱形キャリヤ9側の外周囲上面10に黒色ウレタン製スポンジなどの弾性体を配置することで、より完全な遮光が容易に行うことができる。なお、箱形キャリヤ9の外周以上面10は収納されるマイクロプレートのウェル外周囲上面13より高くなるようにする。また、箱形キャリヤ9はマイクロプレート7をその中に収納できればどのような形状でもよいが、収納したマイクロプレート7を固定できるようになっていることが望ましい。
【0023】
14はマイクロプレート7を水平にx,y方向に移動するための軸である。箱形キャリヤ9は下部に滑り軸受けを有しておりこれを介して軸14に接続されていて、箱形キャリヤ9に接続したタイミングベルト(図示せず)により駆動されることにより、箱形キャリヤ9は上記軸14に沿って水平にx,y方向に移動し、任意のウェルを順次選択し測定することができる。このとき通常の場合、遮光板5はカム8により上方に待避していて摺動することはない。ただしクロスコンタミネーションの危険性が無い場合には、遮光板5は上方に待避せず摺動することも可能である。
【0024】
【発明の効果】
以上述べたように本発明に係るマイクロプレート遮光手段によれば、外部からの強い光の遮光、及び隣接ウェルとのクロストーク防止の二重遮光をたった一枚の遮光板で実施することができる。
【0025】
また、本発明に係る発光測定装置によれば、装置全体を遮光することがないため、装置内のモーターや電子部品からの熱的悪影響を回避でき、さらに特別なマイクロプレートが不要であること、クロスコンタミネーションが軽減されることなどから、測定精度が大幅に向上するとともに低価格で汎用性のある発光測定装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による発光測定装置の測定時における断面図である。
【図2】図1のマイクロプレート移動時における断面図である。
【図3】図2の要部拡大図である。
【符号の説明】
1 光電子増倍管
2 シールドケース
3 ノズル固定ブロック
4 透孔
5 遮光板
6 ガイド穴
7 マイクロプレート
8 カム
9 箱形キャリヤ
10 外周囲上面
11 受光孔
12 筒状突起底面
13 ウェル外周囲上面
14 軸

Claims (5)

  1. 複数のウェルで形成されたマイクロプレートを収納する上面が開放された箱形キャリヤを水平方向に移動可能に配設し、このキャリヤの上方に受光孔を形成した遮光板を上下動可能に配設し、遮光板は下方に移動した際箱形キャリヤの周囲と密着して暗箱を形成するとともに遮光板の受光孔はその底面側外周囲がマイクロプレートのウェル上面の開口部外周囲と密着するように筒状突起底面を形成してあることを特徴とするマイクロプレート遮光手段。
  2. 箱形キャリヤ収納したマイクロプレートを固定できるようにした請求項1記載のマイクロプレート遮光手段。
  3. 複数のウェルで形成されたマイクロプレートを収納する上面が開放された箱形キャリヤを水平方向に移動可能に配設し、このキャリヤの上方に受光孔を形成した遮光板を上下動可能に配設し、遮光板は下方に移動した際箱形キャリヤの周囲と密着して暗箱を形成するとともに遮光板の受光孔はその底面側外周囲がマイクロプレートのウェル上面の開口部外周囲と密着するように凸型に形成してあり、また遮光板上面の受光孔周囲に凹型のガイド穴を形成し、受光孔と同軸の透孔が形成してありこの透孔にトリガー試薬分注器のノズルを臨ませたノズル固定ブロックをガイド穴の上方に配設し、遮光板のガイド穴はノズル固定ブロックに対し遮光板が上下動するときに摺動可能とするとともに、透孔の上方に発光検出手段を配設したことを特徴とする発光測定装置。
  4. 複数のウェルで形成されたマイクロプレートを収納する上面が開放された箱形キャリヤを水平方向に移動可能に配設し、このキャリヤの上方に受光孔を形成した遮光板を上下動可能に配設し、遮光板は下方に移動した際箱形キャリヤの周囲と密着して暗箱を形成するとともに遮光板の受光孔はその底面側外周囲がマイクロプレートのウェル上面の開口部外周囲と密着するように凸型に形成してあり、また受光孔と同軸の透孔が形成してありこの透孔にトリガー試薬分注器のノズルを臨ませたノズル固定ブロックを受光孔の上方に配設し、遮光板が上下動可能に遮光板の受光孔とノズル固定ブロックの透孔の間の外光を遮断するようにベローズ等伸縮可能な遮光材により包み込むようにするとともに、透孔の上方に発光検出手段を配設したことを特徴とする発光測定装置。
  5. 複数のウェルで形成されたマイクロプレートを収納する上面が開放された箱形キャリヤを水平方向に移動可能に配設し、このキャリヤの上方に受光孔を形成した遮光板を上下動可能に配設し、遮光板は下方に移動した際箱形キャリヤの周囲と密着して暗箱を形成するとともに遮光板の受光孔はその底面側外周囲がマイクロプレートのウェル上面の開口部外周囲と密着するように凸型に形成してあり、また遮光板上面の受光孔周囲に凹型のガイド穴を形成し、受光孔と同軸の透孔が形成してありこの透孔にトリガー試薬分注器のノズルを臨ませたノズル固定ブロックをガイド穴の上方に配設し、遮光板のガイド穴はノズル固定ブロックに対し遮光板が上下動するときに摺動可能とし、かつ遮光板が上下動可能に遮光板のガイド穴とノズル固定ブロックの間の外光を遮断するようにベローズ等伸縮可能な遮光材により包み込むようにするとともに、透孔の上方に発光検出手段を配設したことを特徴とする発光測定装置。
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EP96113569A EP0760478B1 (en) 1995-08-25 1996-08-23 Light obstruction device for microplates
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Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU6368896A (en) * 1995-07-10 1997-02-10 Precision System Science Co., Ltd. Measuring instrument
DE19704731B4 (de) * 1997-02-07 2006-07-27 Stratec Biomedical Systems Ag Meßgerät zur Durchführung von Lumineszenzmessungen
DE19704732A1 (de) * 1997-02-07 1998-08-13 Stratec Elektronik Gmbh Meßvorrichtung zur Durchführung von Lumineszenzmessungen an Flüssigproben
US6171780B1 (en) 1997-06-02 2001-01-09 Aurora Biosciences Corporation Low fluorescence assay platforms and related methods for drug discovery
US6825042B1 (en) 1998-02-24 2004-11-30 Vertex Pharmaceuticals (San Diego) Llc Microplate lid
US7510841B2 (en) 1998-12-28 2009-03-31 Illumina, Inc. Methods of making and using composite arrays for the detection of a plurality of target analytes
CA2380307A1 (en) * 1999-07-21 2001-02-01 Tropix, Inc. Luminescence detection workstation
US6586257B1 (en) * 1999-10-12 2003-07-01 Vertex Pharmaceuticals Incorporated Multiwell scanner and scanning method
US6448089B1 (en) 1999-10-12 2002-09-10 Aurora Biosciences Corporation Multiwell scanner and scanning method
US6814933B2 (en) 2000-09-19 2004-11-09 Aurora Biosciences Corporation Multiwell scanner and scanning method
US6316152B1 (en) 2000-01-18 2001-11-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company OPC method to improve e-beam writing time
DE10136863A1 (de) * 2001-07-28 2003-02-20 Berthold Tech Gmbh & Co Kg Vorrichtung zur wahlweisen Messung von insbesondere Lumineszenz- und/oder Fluoreszenzstrahlung
DE10136866A1 (de) * 2001-07-28 2003-02-20 Berthold Tech Gmbh & Co Kg Strahlungsmessgerät, insbesondere zur Messung der Lumineszenz
CN1330963C (zh) * 2001-09-28 2007-08-08 株式会社日立制作所 发光检测装置、发光检测用微阵列板及用于目标生物高分子的发光检测方法
US6982166B2 (en) * 2002-05-16 2006-01-03 Applera Corporation Lens assembly for biological testing
US9157860B2 (en) 2002-05-16 2015-10-13 Applied Biosystems, Llc Achromatic lens array
EP1441216A3 (de) * 2003-01-21 2005-07-20 Tecan Trading AG Vorrichtung und Verfahren zum Beobachten von Reaktionen in Proben
JP4111223B2 (ja) * 2003-09-26 2008-07-02 株式会社ニコン 環境保持装置および環境制御型分析装置
DE102004020591A1 (de) * 2004-04-27 2005-11-17 Carl Zeiss Jena Gmbh Meßvorrichtung
US20060246576A1 (en) 2005-04-06 2006-11-02 Affymetrix, Inc. Fluidic system and method for processing biological microarrays in personal instrumentation
CN101563594B (zh) * 2006-08-02 2012-07-04 阿瓦尼斯实验室科技公司 光度计和操作方法
FI20095061A0 (fi) * 2009-01-26 2009-01-26 Wallac Oy Optisen mittauslaitteen runkomoduuli
DE202010010821U1 (de) * 2010-07-29 2010-11-04 Berthold Technologies Gmbh & Co. Kg Luminometer oder Fluorometer mit einer Injektionseinrichtung
US9784685B2 (en) * 2014-12-10 2017-10-10 Molecular Devices, Inc. Liquid and plate sensors for microplate injector system
JP6479730B2 (ja) * 2016-06-30 2019-03-06 シスメックス株式会社 化学発光測定装置
US11480525B2 (en) 2016-06-30 2022-10-25 Sysmex Corporation Chemiluminescence measurement apparatus
PL3655161T3 (pl) 2017-07-18 2022-02-14 Randox Laboratories Ltd. Obudowa z próbkami do detektora chemiluminescencyjnego
CN109799336B (zh) * 2019-02-20 2023-11-03 重庆科斯迈生物科技有限公司 磁微粒化学发光免疫分析仪暗箱检测***
KR102102988B1 (ko) * 2019-03-28 2020-04-22 주식회사 엘지화학 면역 검사 장치 및 면역 검사 방법

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4349510A (en) * 1979-07-24 1982-09-14 Seppo Kolehmainen Method and apparatus for measurement of samples by luminescence
US4772453A (en) * 1985-03-01 1988-09-20 Lisenbee Wayne F Luminiscence measurement arrangement
US5082628A (en) * 1989-09-19 1992-01-21 Park Pharmaceuticals, Inc. Luminometer
DE4123817C2 (de) * 1991-07-18 1994-06-09 Berthold Lab Prof Dr Strahlungsmeßgerät, insbesondere zur Messung der Lumineszenz
JP3121406B2 (ja) * 1991-12-09 2000-12-25 浜松ホトニクス株式会社 発光サンプルの試験器具
JPH05281143A (ja) * 1992-04-01 1993-10-29 Saidetsuku:Kk ケミカルルミネッセンス測定装置
US5401465A (en) * 1992-05-05 1995-03-28 Chiron Corporation Luminometer with reduced sample crosstalk
JP2936973B2 (ja) * 1993-09-17 1999-08-23 東洋紡績株式会社 発光測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP0760478A3 (en) 1998-09-30
DE69633600T2 (de) 2006-03-09
EP0760478A2 (en) 1997-03-05
JPH0961341A (ja) 1997-03-07
US5682232A (en) 1997-10-28
DE69633600D1 (de) 2004-11-18
EP0760478B1 (en) 2004-10-13

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