JP3554762B2 - 計測器 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、センサの固有データ、例えば、キャリブレーションデータ、補正データ等を持つ計測器に関し、メンテナス性がよい計測器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、センサを有する計測器においては、そのセンサの固有データ（キャリブレーションデータ、補正データ等）を、ＣＰＵボードの不揮発メモリにセンサの固有のデータを保存することが一般的であった。
【０００３】
このような装置を図３に示し説明する。
図において、計測器１０は、センサ部２０とＣＰＵボード（ＣＰＵ部）３０とを有する。センサ部２０は、被計測対象（図示せず）を計測する。ＣＰＵボード３０は、センサ部２０からの測定結果を入力し、校正や補正等を行う。
【０００４】
そして、ＣＰＵボード３０は、ＣＰＵ３１、不揮発メモリ３２、ＲＡＭ３３、ＲＯＭ３４からなる。不揮発メモリ３２は、センサ部２０のセンサ（図示せず）の固有データを格納する。ＲＡＭ３３は、データを格納する。ＲＯＭ３４は、ＣＰＵ３１のプログラムを格納する。
【０００５】
このような装置の動作を以下に説明する。
センサ部１０は、被計測対象を計測し、計測結果を出力する。この出力を、ＣＰＵボード３０は入力し、ＲＯＭ３４に格納されたプログラムにより動作し、不揮発メモリ３２に格納された固有データを用いて、計測結果の校正や補正等を行い、結果をＲＡＭ３３に格納する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
このような装置の場合、万一故障等が発生してセンサ部２０を交換する必要があった場合、ＣＰＵボード３０の不揮発メモリ３２内には旧センサ部２０の固有データが書き込まれている。そのため、新しいセンサ部２０を取り付けた際に、ＣＰＵボード３０と組み合わせた状態で、新たに固有データを求めた上、そのデータをＣＰＵボード３０の不揮発メモリ３２に書き込まなければならなかった。
【０００７】
また、同様に、ＣＰＵボード３０を交換する必要があった場合も、新たに取り付けたＣＰＵボード３０の不揮発メモリ３２にはセンサ部２０の固有データが書き込まれていないため、双方を組み合わせた状態で、再度センサ部２０の固有データを求めた上で、そのデータをＣＰＵボード３０の不揮発メモリ３２に書き込まなければならなかった。
【０００８】
上記に示した問題点は、特に、光スペクトラムモニタなど、センサ部２０として光デバイスを用いた計測器については、さらに、深刻で、センサ部２０の固有データを求めるために、専用の治具あるいは光計測器を必要とするものも多く、また、暗室等で作業をしなければならないことや、作業自体に多大な工数を必要とすることが多い。このため、現実的には計測器を納入した客先で交換修理をすることは不可能であり、メンテナンス性が非常に悪かった。
【０００９】
そこで、本発明の目的は、メンテナンス性がよい計測器を実現することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、
センサの固有データを格納する第１の不揮発メモリをもつセンサ部と、
このセンサ部の出力を入力し、前記センサの固有データを格納する第２の不揮発メモリをもち、前記第１の不揮発メモリまたは第２の不揮発メモリの一方の固有データにより演算を行うＣＰＵ部と
を有し、ＣＰＵ部は、第１の不揮発メモリと第２の不揮発メモリの固有データをチェックし、正しい方の固有データに書き換えることを特徴とするものである。
【００１１】
このような本発明では、ＣＰＵ部は、第１の不揮発メモリと第２の不揮発メモリの固有データをチェックし、正しい方の固有データに書き換える。そして、ＣＰＵ部は、第１の不揮発メモリまたは第２の不揮発メモリの一方の固有データにより、演算を行う。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて本発明を説明する。
図１は本発明の一実施例を示した構成図である。図３と同一のものは同一符号を付して説明を省略する。
図において、シリアルフラッシュメモリ２１は第２の不揮発メモリで、センサ部２０に設けられ、センサの固有データを、例えば、ＬＺ（Ｌｅｍｐｅｌ−Ｚｉｖ）方式で圧縮して格納される。ここで、使用されるシリアルフラッシュメモリ２１は、例えば、約４．３ｍｍ×２．６ｍｍの小型表面実装部品で、容量は４ｋ×８ｂｉｔである。
【００１３】
このような装置の動作を以下で説明する。
図２は、図１に示す装置の動作を示したフローチャートである。
計測器１０の電源投入後、ＣＰＵ３１は、ＲＯＭ３４のプログラムに従って、センサ部２０のシリアルフラッシュメモリ２１の圧縮された固定データを読み出す。この読み出した固定データを解凍し、ＲＡＭ３３に格納する。
【００１４】
そして、ＲＡＭ３３から解凍した固定データを呼び出し、固定データのサム値により、固定データのチェックサムを行う。次に、不揮発メモリ３２の固定データのチェックサムを行う。
【００１５】
両者が異常であるならば、ＲＯＭ３４に書き込まれている固定データの初期値を、シリアルフラッシュメモリ２１に圧縮して書き込みと共に、不揮発メモリ３２に書き込む。
【００１６】
シリアルフラッシュメモリ２１の固定データが異常で、不揮発メモリ３２の固定データが正常の場合は、不揮発メモリ３２の固定データを圧縮して、シリアルフラッシュメモリ２１にコピーする。
【００１７】
シリアルフラッシュメモリ２１の固定データが正常で、不揮発メモリ３２の固定データが異常の場合は、シリアルフラッシュメモリ２１の固定データを不揮発メモリ３２にコピーする。
【００１８】
両者のチェックサムが正常の場合、それぞれ別のデータである可能性があるため、シリアルフラッシュメモリ２１と不揮発メモリ３２の固定データを比較する。比較した結果、データが異なっていた場合は、シリアルフラッシュメモリ２１の固定データを優先し、シリアルフラッシュメモリ２１の固定データを不揮発メモリ３２にコピーする。データが同じの場合、何も行わない。
【００１９】
ここで、センサ部２０による測定後、ＣＰＵボード３０による校正、補正等の動作は従来と同様である。つまり、固定データは、不揮発メモリ３２に格納されたデータを用いる。
【００２０】
このように、センサ部２０のシリアルフラッシュメモリ２１とＣＰＵボード３０の不揮発メモリ３２とにセンサの固有データを保存しているため、万一故障が発生したとしても、その故障している側の交換のみで、センサの固有データの更新ができる。従って、メンテナンス性が向上する。
【００２１】
例えば、センサ部２０が故障した場合には、予め製造調整を行う場所で、センサ部２０のシリアルフラッシュメモリ２１にデータを書き込んでおけば、納入先にてセンサ部２０を交換するのみで、固有データの更新ができる。
【００２２】
また、センサの固有データを２重化しているため、計測器としてのデータの信頼性が向上する。
【００２３】
そして、圧縮して固定データをセンサ部２０に格納してので、シリアルフラッシュメモリ２１の容量を小さくすることができ、シリアルフラッシュメモリ２１の設置場所の確保が容易に行える。
【００２４】
さらに、シリアルフラッシュメモリ２１と不揮発メモリ３２とに格納される固定データをチェックし、正しい固有データに書き換えるので、さらに信頼性が向上する。
【００２５】
その上、センサ部２０が光デバイスであれば、メンテナンス性はさらに向上する。
【００２６】
【発明の効果】
本発明によれば、以下のような効果がある。
請求項１によれば、センサ部の第１の不揮発メモリとＣＰＵ部の第２の不揮発メモリとに、センサの固有データを保存しているため、万一故障が発生したとしても、その故障している側の交換のみで、センサの固有データの更新ができる。従って、メンテナンス性が向上する。
【００２７】
また、センサの固有データを２重化しているため、計測器としてのデータの信頼性が向上する。
【００２８】
請求項２によれば、圧縮して固定データをセンサ部に格納してので、第１の不揮発メモリの容量を小さくすることができ、第１の不揮発メモリの設置場所の確保が容易に行える。
【００２９】
請求項１によれば、第１の不揮発メモリと第２の不揮発メモリとに格納される固定データをチェックし、正しい固有データに書き換えるので、さらに信頼性が向上する。
【００３０】
請求項３によれば、センサ部が光デバイスであれば、メンテナンス性はさらに向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】図１に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【図３】従来の計測器の構成を示した図である。
【符号の説明】
１０ 計測器
２０ センサ部
２１ シリアルフラッシュメモリ
３０ ＣＰＵボード
３２ 不揮発メモリ

Claims (3)

1. センサの固有データを格納する第１の不揮発メモリをもつセンサ部と、
   このセンサ部の出力を入力し、前記センサの固有データを格納する第２の不揮発メモリをもち、前記第１の不揮発メモリまたは第２の不揮発メモリの一方の固有データにより演算を行うＣＰＵ部と
   を有し、ＣＰＵ部は、第１の不揮発メモリと第２の不揮発メモリの固有データをチェックし、正しい方の固有データに書き換えることを特徴とする計測器。
2. 第１の不揮発メモリには、固有データを圧縮して格納することを特徴とする請求項１記載の計測器。
3. センサ部は、光デバイスであることを特徴とする請求項１または２記載の計測器。

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