JP3554762B2 - 計測器 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、センサの固有データ、例えば、キャリブレーションデータ、補正データ等を持つ計測器に関し、メンテナス性がよい計測器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、センサを有する計測器においては、そのセンサの固有データ(キャリブレーションデータ、補正データ等)を、CPUボードの不揮発メモリにセンサの固有のデータを保存することが一般的であった。
【0003】
このような装置を図3に示し説明する。
図において、計測器10は、センサ部20とCPUボード(CPU部)30とを有する。センサ部20は、被計測対象(図示せず)を計測する。CPUボード30は、センサ部20からの測定結果を入力し、校正や補正等を行う。
【0004】
そして、CPUボード30は、CPU31、不揮発メモリ32、RAM33、ROM34からなる。不揮発メモリ32は、センサ部20のセンサ(図示せず)の固有データを格納する。RAM33は、データを格納する。ROM34は、CPU31のプログラムを格納する。
【0005】
このような装置の動作を以下に説明する。
センサ部10は、被計測対象を計測し、計測結果を出力する。この出力を、CPUボード30は入力し、ROM34に格納されたプログラムにより動作し、不揮発メモリ32に格納された固有データを用いて、計測結果の校正や補正等を行い、結果をRAM33に格納する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
このような装置の場合、万一故障等が発生してセンサ部20を交換する必要があった場合、CPUボード30の不揮発メモリ32内には旧センサ部20の固有データが書き込まれている。そのため、新しいセンサ部20を取り付けた際に、CPUボード30と組み合わせた状態で、新たに固有データを求めた上、そのデータをCPUボード30の不揮発メモリ32に書き込まなければならなかった。
【0007】
また、同様に、CPUボード30を交換する必要があった場合も、新たに取り付けたCPUボード30の不揮発メモリ32にはセンサ部20の固有データが書き込まれていないため、双方を組み合わせた状態で、再度センサ部20の固有データを求めた上で、そのデータをCPUボード30の不揮発メモリ32に書き込まなければならなかった。
【0008】
上記に示した問題点は、特に、光スペクトラムモニタなど、センサ部20として光デバイスを用いた計測器については、さらに、深刻で、センサ部20の固有データを求めるために、専用の治具あるいは光計測器を必要とするものも多く、また、暗室等で作業をしなければならないことや、作業自体に多大な工数を必要とすることが多い。このため、現実的には計測器を納入した客先で交換修理をすることは不可能であり、メンテナンス性が非常に悪かった。
【0009】
そこで、本発明の目的は、メンテナンス性がよい計測器を実現することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明は、
センサの固有データを格納する第1の不揮発メモリをもつセンサ部と、
このセンサ部の出力を入力し、前記センサの固有データを格納する第2の不揮発メモリをもち、前記第1の不揮発メモリまたは第2の不揮発メモリの一方の固有データにより演算を行うCPU部と
を有し、CPU部は、第1の不揮発メモリと第2の不揮発メモリの固有データをチェックし、正しい方の固有データに書き換えることを特徴とするものである。
【0011】
このような本発明では、CPU部は、第1の不揮発メモリと第2の不揮発メモリの固有データをチェックし、正しい方の固有データに書き換える。そして、CPU部は、第1の不揮発メモリまたは第2の不揮発メモリの一方の固有データにより、演算を行う。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて本発明を説明する。
図1は本発明の一実施例を示した構成図である。図3と同一のものは同一符号を付して説明を省略する。
図において、シリアルフラッシュメモリ21は第2の不揮発メモリで、センサ部20に設けられ、センサの固有データを、例えば、LZ(Lempel−Ziv)方式で圧縮して格納される。ここで、使用されるシリアルフラッシュメモリ21は、例えば、約4.3mm×2.6mmの小型表面実装部品で、容量は4k×8bitである。
【0013】
このような装置の動作を以下で説明する。
図2は、図1に示す装置の動作を示したフローチャートである。
計測器10の電源投入後、CPU31は、ROM34のプログラムに従って、センサ部20のシリアルフラッシュメモリ21の圧縮された固定データを読み出す。この読み出した固定データを解凍し、RAM33に格納する。
【0014】
そして、RAM33から解凍した固定データを呼び出し、固定データのサム値により、固定データのチェックサムを行う。次に、不揮発メモリ32の固定データのチェックサムを行う。
【0015】
両者が異常であるならば、ROM34に書き込まれている固定データの初期値を、シリアルフラッシュメモリ21に圧縮して書き込みと共に、不揮発メモリ32に書き込む。
【0016】
シリアルフラッシュメモリ21の固定データが異常で、不揮発メモリ32の固定データが正常の場合は、不揮発メモリ32の固定データを圧縮して、シリアルフラッシュメモリ21にコピーする。
【0017】
シリアルフラッシュメモリ21の固定データが正常で、不揮発メモリ32の固定データが異常の場合は、シリアルフラッシュメモリ21の固定データを不揮発メモリ32にコピーする。
【0018】
両者のチェックサムが正常の場合、それぞれ別のデータである可能性があるため、シリアルフラッシュメモリ21と不揮発メモリ32の固定データを比較する。比較した結果、データが異なっていた場合は、シリアルフラッシュメモリ21の固定データを優先し、シリアルフラッシュメモリ21の固定データを不揮発メモリ32にコピーする。データが同じの場合、何も行わない。
【0019】
ここで、センサ部20による測定後、CPUボード30による校正、補正等の動作は従来と同様である。つまり、固定データは、不揮発メモリ32に格納されたデータを用いる。
【0020】
このように、センサ部20のシリアルフラッシュメモリ21とCPUボード30の不揮発メモリ32とにセンサの固有データを保存しているため、万一故障が発生したとしても、その故障している側の交換のみで、センサの固有データの更新ができる。従って、メンテナンス性が向上する。
【0021】
例えば、センサ部20が故障した場合には、予め製造調整を行う場所で、センサ部20のシリアルフラッシュメモリ21にデータを書き込んでおけば、納入先にてセンサ部20を交換するのみで、固有データの更新ができる。
【0022】
また、センサの固有データを2重化しているため、計測器としてのデータの信頼性が向上する。
【0023】
そして、圧縮して固定データをセンサ部20に格納してので、シリアルフラッシュメモリ21の容量を小さくすることができ、シリアルフラッシュメモリ21の設置場所の確保が容易に行える。
【0024】
さらに、シリアルフラッシュメモリ21と不揮発メモリ32とに格納される固定データをチェックし、正しい固有データに書き換えるので、さらに信頼性が向上する。
【0025】
その上、センサ部20が光デバイスであれば、メンテナンス性はさらに向上する。
【0026】
【発明の効果】
本発明によれば、以下のような効果がある。
請求項1によれば、センサ部の第1の不揮発メモリとCPU部の第2の不揮発メモリとに、センサの固有データを保存しているため、万一故障が発生したとしても、その故障している側の交換のみで、センサの固有データの更新ができる。従って、メンテナンス性が向上する。
【0027】
また、センサの固有データを2重化しているため、計測器としてのデータの信頼性が向上する。
【0028】
請求項2によれば、圧縮して固定データをセンサ部に格納してので、第1の不揮発メモリの容量を小さくすることができ、第1の不揮発メモリの設置場所の確保が容易に行える。
【0029】
請求項1によれば、第1の不揮発メモリと第2の不揮発メモリとに格納される固定データをチェックし、正しい固有データに書き換えるので、さらに信頼性が向上する。
【0030】
請求項3によれば、センサ部が光デバイスであれば、メンテナンス性はさらに向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図2】図1に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【図3】従来の計測器の構成を示した図である。
【符号の説明】
10 計測器
20 センサ部
21 シリアルフラッシュメモリ
30 CPUボード
32 不揮発メモリ
Claims (3)
- センサの固有データを格納する第1の不揮発メモリをもつセンサ部と、
このセンサ部の出力を入力し、前記センサの固有データを格納する第2の不揮発メモリをもち、前記第1の不揮発メモリまたは第2の不揮発メモリの一方の固有データにより演算を行うCPU部と
を有し、CPU部は、第1の不揮発メモリと第2の不揮発メモリの固有データをチェックし、正しい方の固有データに書き換えることを特徴とする計測器。 - 第1の不揮発メモリには、固有データを圧縮して格納することを特徴とする請求項1記載の計測器。
- センサ部は、光デバイスであることを特徴とする請求項1または2記載の計測器。
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JP26107098A JP3554762B2 (ja) | 1998-09-16 | 1998-09-16 | 計測器 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP26107098A JP3554762B2 (ja) | 1998-09-16 | 1998-09-16 | 計測器 |
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JP3554762B2 true JP3554762B2 (ja) | 2004-08-18 |
Family
ID=17356670
Family Applications (1)
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JP26107098A Expired - Lifetime JP3554762B2 (ja) | 1998-09-16 | 1998-09-16 | 計測器 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3554762B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
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JP5889563B2 (ja) * | 2011-07-25 | 2016-03-22 | 株式会社 堀場アドバンスドテクノ | 水質分析計、水質分析計用管理装置、水質分析計用プログラム、水質分析計用管理プログラム及び水質分析システム |
-
1998
- 1998-09-16 JP JP26107098A patent/JP3554762B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Publication date |
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