JP3498644B2 - チルト調整装置 - Google Patents
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- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/2407—Tracks or pits; Shape, structure or physical properties thereof
- G11B7/24085—Pits
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Description
【０００１】
【発明が属する技術分野】本発明は、光ディスク装置に
おいて、ディスク記録面に対する光ビームのチルトを検
出・調整する方法及び装置に関するものである。
おいて、ディスク記録面に対する光ビームのチルトを検
出・調整する方法及び装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光ディスク上に記録された信号を読み取
るために、半導体レーザから照射された光ビームは対物
レンズを介してディスク記録面に対して垂直に入射され
る。しかしながら、ディスクの傾きや対物レンズの傾き
により、光ビームがディスク記録面に対して垂直に入射
されないと、コマ収差が発生し、コマ収差が増大すると
クロストークが多くなり、信号のＳＮ比が悪くなる。し
たがって、再生波形にひずみを生じジッタが発生する。
そこで、ディスクに対する光ビームのチルトを調整すべ
く、通常は、ディスクを再生状態にして、ディスクのラ
ジアル方向とタンジェンシャル方向に分けてディスクか
ら再生されるＲＦ波のジッタを測定しながら、ジッタが
最小になるように各チルトを調整する。この調整は、ピ
ックアップを傾けて行う場合とスピンドルモータを傾け
て行う場合がある。
るために、半導体レーザから照射された光ビームは対物
レンズを介してディスク記録面に対して垂直に入射され
る。しかしながら、ディスクの傾きや対物レンズの傾き
により、光ビームがディスク記録面に対して垂直に入射
されないと、コマ収差が発生し、コマ収差が増大すると
クロストークが多くなり、信号のＳＮ比が悪くなる。し
たがって、再生波形にひずみを生じジッタが発生する。
そこで、ディスクに対する光ビームのチルトを調整すべ
く、通常は、ディスクを再生状態にして、ディスクのラ
ジアル方向とタンジェンシャル方向に分けてディスクか
ら再生されるＲＦ波のジッタを測定しながら、ジッタが
最小になるように各チルトを調整する。この調整は、ピ
ックアップを傾けて行う場合とスピンドルモータを傾け
て行う場合がある。
【０００３】ここで、調整時におけるディスクのラジア
ル方向の傾きに対するＲＦ信号のジッタとタンジェンシ
ャル方向の傾きに対するジッタの関係をそれぞれ図９
（ａ），（ｂ）に示す。傾きが０の時にジッタが最小と
なり、傾きが大きくなるにつれてジッタも大きくなって
いく。そして、ジッタが最小となる点を最適点としてラ
ジアル方向及びタンジェンシャル方向の傾きを調整する
こととなる。
ル方向の傾きに対するＲＦ信号のジッタとタンジェンシ
ャル方向の傾きに対するジッタの関係をそれぞれ図９
（ａ），（ｂ）に示す。傾きが０の時にジッタが最小と
なり、傾きが大きくなるにつれてジッタも大きくなって
いく。そして、ジッタが最小となる点を最適点としてラ
ジアル方向及びタンジェンシャル方向の傾きを調整する
こととなる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図９
（ｂ）に示すようにタンジェンシャル方向の傾きに対す
るジッタの変化は、傾き０の点を中心として急峻である
ため最適点を見つけるのが容易であり、したがってチル
トの調整が容易であるのに対して、ラジアル方向の傾き
に対するジッタの変化は、図９（ａ）に示すように傾き
０の周辺でなだらかであるため、最適点を見つけるのが
困難であり、したがって最適なチルト調整が困難であっ
た。
（ｂ）に示すようにタンジェンシャル方向の傾きに対す
るジッタの変化は、傾き０の点を中心として急峻である
ため最適点を見つけるのが容易であり、したがってチル
トの調整が容易であるのに対して、ラジアル方向の傾き
に対するジッタの変化は、図９（ａ）に示すように傾き
０の周辺でなだらかであるため、最適点を見つけるのが
困難であり、したがって最適なチルト調整が困難であっ
た。
【０００５】そこで本発明は、ラジアル方向において
も、タンジェンシャル方向と同様にチルトの最適点が容
易に検出でき、チルトの調整を正確かつ容易に行うこと
ができるようなチルトの検出装置を提供する。
も、タンジェンシャル方向と同様にチルトの最適点が容
易に検出でき、チルトの調整を正確かつ容易に行うこと
ができるようなチルトの検出装置を提供する。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１では、光ディスクを再生する再生手段と、
再生手段により再生された再生ＲＦ信号のうち、最高周
波数の信号成分のゲインを低下させるように帯域を制限
するローパスフィルタと、ローパスフィルタを通過した
該再生ＲＦ信号のエラーレート又は該再生ＲＦ信号の最
高周波数信号成分のジッタを測定する手段とを有して光
ディスクに対する光ピックアップのチルトを変化させな
がら最適チルト位置に調整するチルト調整装置を構成す
る。
に、請求項１では、光ディスクを再生する再生手段と、
再生手段により再生された再生ＲＦ信号のうち、最高周
波数の信号成分のゲインを低下させるように帯域を制限
するローパスフィルタと、ローパスフィルタを通過した
該再生ＲＦ信号のエラーレート又は該再生ＲＦ信号の最
高周波数信号成分のジッタを測定する手段とを有して光
ディスクに対する光ピックアップのチルトを変化させな
がら最適チルト位置に調整するチルト調整装置を構成す
る。
【０００７】 請求項２では、通常の記録密度で記録さ
れた光ディスクを通常より高い速度で再生する再生手段
と、再生手段から再生された再生ＲＦ信号のジッタ又は
エラーレートを測定する手段とを有して光ディスクに対
する光ピックアップのチルトを変化させながら最適チル
ト位置に調整するチルト調整装置を構成する。
れた光ディスクを通常より高い速度で再生する再生手段
と、再生手段から再生された再生ＲＦ信号のジッタ又は
エラーレートを測定する手段とを有して光ディスクに対
する光ピックアップのチルトを変化させながら最適チル
ト位置に調整するチルト調整装置を構成する。
【０００８】
【０００９】 上述のように、請求項１の発明によれ
ば、ローパスフィルタで再生信号帯域を制限し、再生最
高周波数を劣化させることにより、最高周波数における
原信号の品質が劣化し、チルトの変化に対して再生信号
品質が敏感に反応する。したがって、ラジアル方向にお
いても、タンジェンシャル方向と同様にチルトの最良点
を容易に検出することが可能となり、ラジアル方向にお
いてもチルトの調整を正確かつ容易に行うことができ
る。
ば、ローパスフィルタで再生信号帯域を制限し、再生最
高周波数を劣化させることにより、最高周波数における
原信号の品質が劣化し、チルトの変化に対して再生信号
品質が敏感に反応する。したがって、ラジアル方向にお
いても、タンジェンシャル方向と同様にチルトの最良点
を容易に検出することが可能となり、ラジアル方向にお
いてもチルトの調整を正確かつ容易に行うことができ
る。
【００１０】 請求項２の発明によれば、通常の速度で
記録されたディスクを通常より高速で再生することによ
り、原信号の品質が劣化し、チルトの変化に対して再生
信号品質が敏感に反応する。したがって、ラジアル方向
においても、タンジェンシャル方向と同様にチルトの最
良点を容易に検出することが可能となり、ラジアル方向
においてもチルトの調整を正確かつ容易に行うことがで
きる。
記録されたディスクを通常より高速で再生することによ
り、原信号の品質が劣化し、チルトの変化に対して再生
信号品質が敏感に反応する。したがって、ラジアル方向
においても、タンジェンシャル方向と同様にチルトの最
良点を容易に検出することが可能となり、ラジアル方向
においてもチルトの調整を正確かつ容易に行うことがで
きる。
【００１１】
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しながら説明する。図１乃至図４は、本発明の第
１の実施の形態を示す。
を参照しながら説明する。図１乃至図４は、本発明の第
１の実施の形態を示す。
【００１３】第１の実施の形態においては、図１に示す
ような通常のＣＤ−ＲＯＭディスクの一部分に連続する
２Ｔパターンを織り込んだディスクを使用してチルトの
調整を行う。通常のＣＤ−ＲＯＭディスクには、ＥＦＭ
変調された信号がピットとして記録されており、１チャ
ネルビットの間隔Ｔで、３Ｔ〜１１Ｔのパルス幅を有し
ている。これに対して図１に示すディスクのトラック上
においては、通常のディスクに形成されている最小パル
ス幅３Ｔよりさらに狭い２Ｔのパルス幅のパターンが形
成されている。
ような通常のＣＤ−ＲＯＭディスクの一部分に連続する
２Ｔパターンを織り込んだディスクを使用してチルトの
調整を行う。通常のＣＤ−ＲＯＭディスクには、ＥＦＭ
変調された信号がピットとして記録されており、１チャ
ネルビットの間隔Ｔで、３Ｔ〜１１Ｔのパルス幅を有し
ている。これに対して図１に示すディスクのトラック上
においては、通常のディスクに形成されている最小パル
ス幅３Ｔよりさらに狭い２Ｔのパルス幅のパターンが形
成されている。
【００１４】ここで、このディスクを用いて再生動作を
行った時のＲＦ信号のアイパターンを図２（ｂ）に、通
常のディスクを用いて再生動作を行った時のＲＦ信号の
アイパターンを図２（ａ）にそれぞれ示す。幅の狭いパ
ルスに対しては、その立ち上がり，立下りの両エッジの
微分波形が干渉し合って、分解能が劣化し、これを積分
した波形の振幅は小さくなる。したがって、パルス幅の
狭い２Ｔデータの振幅Ｂは３Ｔデータの振幅Ａに比べて
小さくなる。また、検出信号のレベルが小さくなるとジ
ッタが増すことから、２Ｔデータの再生信号に対するジ
ッタは大きくなる。このように再生条件が厳しい場合に
おいては、チルトに対して再生信号品質が敏感に反応す
る。図３はラジアル方向のチルトに対する２Ｔデータの
ジッタ量を示している。この図に示すように、ラジアル
方向のチルトの変化に対するジッタの変化は、タンジェ
ンシャル方向のチルトに対する変化と同様に急峻となっ
ており、これよりラジアル方向のチルトの最適点を容易
に検出することができ、チルトの調整が容易かつ正確に
行えるようになる。
行った時のＲＦ信号のアイパターンを図２（ｂ）に、通
常のディスクを用いて再生動作を行った時のＲＦ信号の
アイパターンを図２（ａ）にそれぞれ示す。幅の狭いパ
ルスに対しては、その立ち上がり，立下りの両エッジの
微分波形が干渉し合って、分解能が劣化し、これを積分
した波形の振幅は小さくなる。したがって、パルス幅の
狭い２Ｔデータの振幅Ｂは３Ｔデータの振幅Ａに比べて
小さくなる。また、検出信号のレベルが小さくなるとジ
ッタが増すことから、２Ｔデータの再生信号に対するジ
ッタは大きくなる。このように再生条件が厳しい場合に
おいては、チルトに対して再生信号品質が敏感に反応す
る。図３はラジアル方向のチルトに対する２Ｔデータの
ジッタ量を示している。この図に示すように、ラジアル
方向のチルトの変化に対するジッタの変化は、タンジェ
ンシャル方向のチルトに対する変化と同様に急峻となっ
ており、これよりラジアル方向のチルトの最適点を容易
に検出することができ、チルトの調整が容易かつ正確に
行えるようになる。
【００１５】図４は、上記ディスクを使用したチルトの
検出の回路構成を示す。ディスク１からの再生光はピッ
クアップ２内の光検出器により検出され光電変換された
後、ＲＦアンプ３に入力され所定の増幅がなされた後、
データパルス振幅測定器又はジッタメータ４に入力され
る。データパルス振幅測定器では、２Ｔパルスデータの
振幅を検出する。このときの振幅が最大となる点がチル
ト最良点である。したがって、この振幅が最大となるよ
うにピックアップ２又はディスクモータ５の傾きを調整
する。この傾きの調整は、ラジアル方向とタンジェンシ
ャル方向の２軸に対して行われる。また、ジッタメータ
の場合は、再生ＲＦ信号を２値化した信号のうち２Ｔデ
ータパルスを抽出してそのパルス幅の間に生ずる基準ク
ロックの数をカウントしてジッタ量を測定する。このと
きのジッタ量が最小となる点がチルト最良点である。し
たがって、このジッタ量が最小となるようにピックアッ
プ２又はディスクモータ５の傾きを調整する。以上のよ
うに、第１の実施の形態においては、通常より短い反転
幅のデータ（２Ｔデータ）をディスク上に形成して、こ
れを再生することによりラジアル方向のチルトの最良点
を容易かつ正確に検出することができるものである。た
だし、あくまでも特殊パターンなので、２Ｔパターンの
発生確率はドライブの位置制御系に影響しない範囲内で
あることが必要である。
検出の回路構成を示す。ディスク１からの再生光はピッ
クアップ２内の光検出器により検出され光電変換された
後、ＲＦアンプ３に入力され所定の増幅がなされた後、
データパルス振幅測定器又はジッタメータ４に入力され
る。データパルス振幅測定器では、２Ｔパルスデータの
振幅を検出する。このときの振幅が最大となる点がチル
ト最良点である。したがって、この振幅が最大となるよ
うにピックアップ２又はディスクモータ５の傾きを調整
する。この傾きの調整は、ラジアル方向とタンジェンシ
ャル方向の２軸に対して行われる。また、ジッタメータ
の場合は、再生ＲＦ信号を２値化した信号のうち２Ｔデ
ータパルスを抽出してそのパルス幅の間に生ずる基準ク
ロックの数をカウントしてジッタ量を測定する。このと
きのジッタ量が最小となる点がチルト最良点である。し
たがって、このジッタ量が最小となるようにピックアッ
プ２又はディスクモータ５の傾きを調整する。以上のよ
うに、第１の実施の形態においては、通常より短い反転
幅のデータ（２Ｔデータ）をディスク上に形成して、こ
れを再生することによりラジアル方向のチルトの最良点
を容易かつ正確に検出することができるものである。た
だし、あくまでも特殊パターンなので、２Ｔパターンの
発生確率はドライブの位置制御系に影響しない範囲内で
あることが必要である。
【００１６】次に本発明の第２の実施の形態について、
図５〜図７を用いて説明する。第２の実施の形態におい
ては、回路系のローパスフィルタのゲイン特性を変えて
再生特性を厳しくすることによってチルトの調整を行う
ものである。
図５〜図７を用いて説明する。第２の実施の形態におい
ては、回路系のローパスフィルタのゲイン特性を変えて
再生特性を厳しくすることによってチルトの調整を行う
ものである。
【００１７】図５は、ＲＦアンプのイコライザ内のロー
パスフィルタを表している。ＬＰＦ１１は、図６（ａ）
に示すように３Ｔの周波数の付近でゲインのピーク値と
なるゲイン特性を有するローパスフィルタである。これ
に対してＬＰＦ１２は、図６（ｂ）に示すように３Ｔ周
波数付近でゲインが低下するよう特性を有している。Ｌ
ＰＦ１１,ＬＰＦ１２は並列に接続され、スイッチ１３
によりどちらか一方が選択されるようになっている。ス
イッチはＣＰＵからの命令により切り換えられるように
なっており、ＣＰＵは通常の動作モードの時には、ＬＰ
Ｆ１１を選択するようにスイッチを切り換えるよう指示
し、チルト調整モードの時にはＬＰＦ１２を選択するよ
うにスイッチを切り換えるように指示する。チルト調整
モードの時には、ディスクから再生された信号はＬＰＦ
１２を通過することにより帯域を制限され、３Ｔの振幅
は小さくなり、分解能は劣化し、ジッタ、エラーレート
とも悪化する。このように再生条件を厳しくすると、チ
ルトに対して再生信号品質が敏感に反応する。したがっ
て、ラジアル方向のチルトに対するジッタ量の変化は、
タンジェンシャル方向のチルトに対する変化と同様に急
峻となり、これよりラジアル方向のチルトの最適点を容
易に検出することができ、チルトの調整が容易かつ正確
に行えるようになる。
パスフィルタを表している。ＬＰＦ１１は、図６（ａ）
に示すように３Ｔの周波数の付近でゲインのピーク値と
なるゲイン特性を有するローパスフィルタである。これ
に対してＬＰＦ１２は、図６（ｂ）に示すように３Ｔ周
波数付近でゲインが低下するよう特性を有している。Ｌ
ＰＦ１１,ＬＰＦ１２は並列に接続され、スイッチ１３
によりどちらか一方が選択されるようになっている。ス
イッチはＣＰＵからの命令により切り換えられるように
なっており、ＣＰＵは通常の動作モードの時には、ＬＰ
Ｆ１１を選択するようにスイッチを切り換えるよう指示
し、チルト調整モードの時にはＬＰＦ１２を選択するよ
うにスイッチを切り換えるように指示する。チルト調整
モードの時には、ディスクから再生された信号はＬＰＦ
１２を通過することにより帯域を制限され、３Ｔの振幅
は小さくなり、分解能は劣化し、ジッタ、エラーレート
とも悪化する。このように再生条件を厳しくすると、チ
ルトに対して再生信号品質が敏感に反応する。したがっ
て、ラジアル方向のチルトに対するジッタ量の変化は、
タンジェンシャル方向のチルトに対する変化と同様に急
峻となり、これよりラジアル方向のチルトの最適点を容
易に検出することができ、チルトの調整が容易かつ正確
に行えるようになる。
【００１８】図７（ａ）は、第２の実施の形態における
チルトの検出の回路構成を示す。ディスク２１からの再
生光はピックアップ２２内の光検出器により検出され光
電変換された後、ＲＦアンプ２３に入力され所定の増幅
がなされた後、データパルス振幅測定器又はジッタメー
タ２４に入力されるようになっている。また、ＣＰＵか
らＲＦアンプにアンプ内のローパスフィルタを切り換え
るための制御信号２６が入力されるようになっている。
ＣＰＵの指示により選択されたＬＰＦ１２は、３Ｔ付近
のゲインが低下されているため、ＲＦアンプ２３より出
力される３Ｔパルスデータの振幅は小さくなる。データ
パルス振幅測定器は３Ｔデータパルスの振幅を検出し、
このときの振幅が最大、すなわちチルトが最良となるよ
うにピックアップ２２又はディスクモータ２５を傾けて
チルトの調整を行う。また、ジッタメータの場合は、２
値化された３Ｔパルスデータのパルス幅を測定しジッタ
量が最小、すなわちチルトが最良となるようにチルト調
整を行う。
チルトの検出の回路構成を示す。ディスク２１からの再
生光はピックアップ２２内の光検出器により検出され光
電変換された後、ＲＦアンプ２３に入力され所定の増幅
がなされた後、データパルス振幅測定器又はジッタメー
タ２４に入力されるようになっている。また、ＣＰＵか
らＲＦアンプにアンプ内のローパスフィルタを切り換え
るための制御信号２６が入力されるようになっている。
ＣＰＵの指示により選択されたＬＰＦ１２は、３Ｔ付近
のゲインが低下されているため、ＲＦアンプ２３より出
力される３Ｔパルスデータの振幅は小さくなる。データ
パルス振幅測定器は３Ｔデータパルスの振幅を検出し、
このときの振幅が最大、すなわちチルトが最良となるよ
うにピックアップ２２又はディスクモータ２５を傾けて
チルトの調整を行う。また、ジッタメータの場合は、２
値化された３Ｔパルスデータのパルス幅を測定しジッタ
量が最小、すなわちチルトが最良となるようにチルト調
整を行う。
【００１９】また、図７（ｂ）は、エラーレートを検出
することによりチルトの調整を行うためのチルト検出回
路を示している。ピックアップ３２により検出されたデ
ィスク３１からの反射光はＲＦアンプ３３で所定の増幅
がなされた後、信号処理回路３４に入力される。信号処
理回路３４では、ＥＦＭ復調された後、ＣＩＲＣによる
誤り検出・訂正がなされる。このときのエラー訂正の状
態は、ＣＰＵ３６に知らされ、モニタすることが可能で
ある。このエラー訂正状態をモニタしながら、エラーレ
ートが最小となる点、すなわちチルトが最良となるよう
にピックアップ３２又はディスクモータ３５を傾けてチ
ルトの調整を行う。
することによりチルトの調整を行うためのチルト検出回
路を示している。ピックアップ３２により検出されたデ
ィスク３１からの反射光はＲＦアンプ３３で所定の増幅
がなされた後、信号処理回路３４に入力される。信号処
理回路３４では、ＥＦＭ復調された後、ＣＩＲＣによる
誤り検出・訂正がなされる。このときのエラー訂正の状
態は、ＣＰＵ３６に知らされ、モニタすることが可能で
ある。このエラー訂正状態をモニタしながら、エラーレ
ートが最小となる点、すなわちチルトが最良となるよう
にピックアップ３２又はディスクモータ３５を傾けてチ
ルトの調整を行う。
【００２０】次に本発明の第３の実施の形態について説
明する。第３の実施の形態においては、通常のディスク
を通常より早い速度で再生して、再生特性を厳しくする
ことによってチルトの調整を行うものである。
明する。第３の実施の形態においては、通常のディスク
を通常より早い速度で再生して、再生特性を厳しくする
ことによってチルトの調整を行うものである。
【００２１】図８はこのときのチルト検出を示す。通常
のディスクを通常より早い速度で再生すると、再生信号
の分解能は劣化する。このとき、パルス幅の狭い３Ｔデ
ータパルスは、大きく影響を受け、再生振幅が小さくな
り、ジッタ，エラーレートともに悪化する。このように
再生条件を厳しくすると、チルトに対する振幅・ジッタ
量の変化が急峻となり、これよりチルトの調整が容易か
つ正確に行えるようになる。
のディスクを通常より早い速度で再生すると、再生信号
の分解能は劣化する。このとき、パルス幅の狭い３Ｔデ
ータパルスは、大きく影響を受け、再生振幅が小さくな
り、ジッタ，エラーレートともに悪化する。このように
再生条件を厳しくすると、チルトに対する振幅・ジッタ
量の変化が急峻となり、これよりチルトの調整が容易か
つ正確に行えるようになる。
【００２２】図８（ａ）は、このときの３Ｔパルスデー
タの振幅又はジッタを検出する回路構成を示している。
ディスク４１からの再生光はピックアップ４２内の光検
出器により検出され光電変換された後、ＲＦアンプ４３
に入力され所定の増幅がなされた後、データパルス振幅
測定器又はジッタメータ４４に入力される。データパル
ス振幅測定器では、３Ｔパルスデータの振幅を検出す
る。このときの振幅が最大となる点がチルト最良点であ
る。したがって、この振幅が最大となるようにピックア
ップ２又はディスクモータ５の傾きを調整する。。
タの振幅又はジッタを検出する回路構成を示している。
ディスク４１からの再生光はピックアップ４２内の光検
出器により検出され光電変換された後、ＲＦアンプ４３
に入力され所定の増幅がなされた後、データパルス振幅
測定器又はジッタメータ４４に入力される。データパル
ス振幅測定器では、３Ｔパルスデータの振幅を検出す
る。このときの振幅が最大となる点がチルト最良点であ
る。したがって、この振幅が最大となるようにピックア
ップ２又はディスクモータ５の傾きを調整する。。
【００２３】また、図８（ｂ）は、エラーレートを検出
することによりチルトの調整を行うためのチルト検出回
路を示している。ピックアップ５２により検出されたデ
ィスク５１からの反射光はＲＦアンプ５３で所定の増幅
がなされた後、信号処理回路５４に入力される。信号処
理回路５４では、ＥＦＭ復調された後、ＣＩＲＣによる
誤り検出・訂正がなされる。このときのエラー訂正の状
態は、ＣＰＵ５６に知らされ、モニタすることが可能で
ある。このエラー訂正状態をモニタしながら、エラーレ
ートが最小となる点、すなわちチルトが最良となるよう
にピックアップ５２又はディスクモータ５５を傾けてチ
ルトの調整を行う。
することによりチルトの調整を行うためのチルト検出回
路を示している。ピックアップ５２により検出されたデ
ィスク５１からの反射光はＲＦアンプ５３で所定の増幅
がなされた後、信号処理回路５４に入力される。信号処
理回路５４では、ＥＦＭ復調された後、ＣＩＲＣによる
誤り検出・訂正がなされる。このときのエラー訂正の状
態は、ＣＰＵ５６に知らされ、モニタすることが可能で
ある。このエラー訂正状態をモニタしながら、エラーレ
ートが最小となる点、すなわちチルトが最良となるよう
にピックアップ５２又はディスクモータ５５を傾けてチ
ルトの調整を行う。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１の発明に
よれば、ローパスフィルタで再生信号帯域を制限し、再
生最高周波数を劣化させることにより、最高周波数にお
ける原信号の品質が劣化し、チルトの変化に対して再生
信号品質が敏感に反応する。したがって、ラジアル方向
においても、タンジェンシャル方向と同様にチルトの最
良点を容易に検出することが可能となり、ラジアル方向
においてもチルトの調整を正確かつ容易に行うことがで
きる。
よれば、ローパスフィルタで再生信号帯域を制限し、再
生最高周波数を劣化させることにより、最高周波数にお
ける原信号の品質が劣化し、チルトの変化に対して再生
信号品質が敏感に反応する。したがって、ラジアル方向
においても、タンジェンシャル方向と同様にチルトの最
良点を容易に検出することが可能となり、ラジアル方向
においてもチルトの調整を正確かつ容易に行うことがで
きる。
【００２５】 また、請求項２の発明によれば、通常の
速度で記録されたディスクを通常より高速で再生するす
ることにより、原信号の品質が劣化し、チルトの変化に
対して再生信号品質が敏感に反応する。したがって、ラ
ジアル方向においても、タンジェンシャル方向と同様に
チルトの最良点を容易に検出することが可能となり、ラ
ジアル方向においてもチルトの調整を正確かつ容易に行
うことができる。
速度で記録されたディスクを通常より高速で再生するす
ることにより、原信号の品質が劣化し、チルトの変化に
対して再生信号品質が敏感に反応する。したがって、ラ
ジアル方向においても、タンジェンシャル方向と同様に
チルトの最良点を容易に検出することが可能となり、ラ
ジアル方向においてもチルトの調整を正確かつ容易に行
うことができる。
【００２６】
【図１】本発明の第１の実施の形態における光ディスク
に記録されたデータ列を示したブロック図である。
に記録されたデータ列を示したブロック図である。
【図２】ディスクを再生した時のアイパターンを示した
図である。
図である。
【図３】ラジアル方向のチルトに対するジッタの変化を
示した図である。
示した図である。
【図４】本発明の第１の実施の形態におけるチルト検出
回路の構成を示した図である。
回路の構成を示した図である。
【図５】本発明の第２の実施の形態におけるＲＦアンプ
内のローパスフィルタを示した図である。
内のローパスフィルタを示した図である。
【図６】ローパスフィルタのゲイン特性を示した図であ
る。
る。
【図７】本発明の第２の実施の形態におけるチルト検出
回路の構成を示した図である。
回路の構成を示した図である。
【図８】本発明の第３の実施の形態におけるチルト検出
回路の構成を示した図である。
回路の構成を示した図である。
【図９】従来のチルト検出におけるラジアル方向及びタ
ンジェンシャル方向のチルトに対するジッタの変化を示
した図である。
ンジェンシャル方向のチルトに対するジッタの変化を示
した図である。
１，２１，３１，４１，５１ 光ディスク
２，２２，３２，４２，５２ ピックアップ
３，２３，３３，４３，５３ ＲＦアンプ
４，２４，４４，５１ 振幅測定器又はジッタ
メータ ３４，５４ 信号処理回路 ３６，５６ ＣＰＵ ５，２５，３５，４５，５５ ディスクモータ
メータ ３４，５４ 信号処理回路 ３６，５６ ＣＰＵ ５，２５，３５，４５，５５ ディスクモータ
Claims (2)
- 【請求項１】 光ディスクに対する光ピックアップのチ
ルトを変化させながら最適チルト位置に調整するチルト
調整装置において、 前記光ディスクを再生する再生手段と、 該再生手段により再生された再生ＲＦ信号のうち、最高
周波数の信号成分のゲインを低下させるように帯域を制
限するローパスフィルタと、 該ローパスフィルタを通過した該再生ＲＦ信号のエラー
レート又は該再生ＲＦ信号の最高周波数信号成分のジッ
タを測定する手段を有し、 該測定手段によって測定された該エラーレート又は該ジ
ッタが最小となった時のチルト位置を最適チルト位置と
してチルト調整を行うことを特徴とするチルト調整装
置。 - 【請求項２】 光ディスクに対する光ピックアップのチ
ルトを変化させながら最適チルト位置に調整するチルト
調整装置において、 通常の記録密度で記録された光ディスクを通常より高い
速度で再生する再生手段と、 該再生手段から再生された再生ＲＦ信号のジッタ又はエ
ラーレートを測定する手段を有し、 該測定手段によって測定された該エラーレート又は該ジ
ッタが最小となった時のチルト位置を最適チルト位置と
してチルト調整を行うことを特徴とするチルト調整装
置。
Priority Applications (3)
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|---|---|---|---|
| JP26158899A JP3498644B2 (ja) | 1999-09-16 | 1999-09-16 | チルト調整装置 |
| US09/659,089 US6807135B1 (en) | 1999-09-16 | 2000-09-11 | Tilt detection system, tilt detection method and tilt adjustment method |
| US10/924,445 US7436746B2 (en) | 1999-09-16 | 2004-08-24 | Tilt detection system, tilt detection method and tilt adjustment method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26158899A JP3498644B2 (ja) | 1999-09-16 | 1999-09-16 | チルト調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001084621A JP2001084621A (ja) | 2001-03-30 |
| JP3498644B2 true JP3498644B2 (ja) | 2004-02-16 |
Family
ID=17364015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26158899A Expired - Fee Related JP3498644B2 (ja) | 1999-09-16 | 1999-09-16 | チルト調整装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
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| US (2) | US6807135B1 (ja) |
| JP (1) | JP3498644B2 (ja) |
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| TW577060B (en) * | 2002-07-25 | 2004-02-21 | Mediatek Inc | Calibrating method of writing power for optical storage medium |
| TWI276061B (en) * | 2004-05-06 | 2007-03-11 | Lite On It Corp | Method for detecting the error information of an optical disc |
| TW200735078A (en) * | 2005-06-29 | 2007-09-16 | Koninkl Philips Electronics Nv | Tangential disc tilt measurement and corrective action |
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| EP0644536B1 (en) * | 1993-09-22 | 1999-06-23 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Automatic attitude correcting system for optical disc device |
| JPH0845095A (ja) | 1994-07-28 | 1996-02-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チルト調整装置 |
| JP3460034B2 (ja) * | 1995-04-03 | 2003-10-27 | 富士通株式会社 | ブースト型等化回路 |
| JP3287210B2 (ja) * | 1995-04-06 | 2002-06-04 | ソニー株式会社 | 光学的記録媒体再生装置 |
| MY117767A (en) * | 1996-07-10 | 2004-08-30 | Sony Corp | Apparatus and method for reproducing data recorded at a predetermined linear velocity on a disc-like recording medium. |
| JPH113531A (ja) * | 1997-04-18 | 1999-01-06 | Pioneer Electron Corp | チルトサーボ制御装置 |
| US6631103B1 (en) * | 1998-04-09 | 2003-10-07 | Texas Instruments Incorporated | Jitter feedback slicer |
| KR100370187B1 (ko) * | 1998-08-05 | 2003-03-17 | 삼성전자 주식회사 | 광기록재생장치,이에적합한틸트보정방법,그리고기록제어방법 |
| KR20000039575A (ko) * | 1998-12-11 | 2000-07-05 | 구자홍 | 광디스크의 상하 편심량을 보상하는 서보제어장치 및 방법 |
| JP3736666B2 (ja) * | 1999-04-14 | 2006-01-18 | パイオニア株式会社 | チルトサーボ装置及び制御方法 |
-
1999
- 1999-09-16 JP JP26158899A patent/JP3498644B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-09-11 US US09/659,089 patent/US6807135B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-08-24 US US10/924,445 patent/US7436746B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2001084621A (ja) | 2001-03-30 |
| US7436746B2 (en) | 2008-10-14 |
| US6807135B1 (en) | 2004-10-19 |
| US20050025016A1 (en) | 2005-02-03 |
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