JP3494430B2 - カードセキュリティ装置 - Google Patents

カードセキュリティ装置

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JP3494430B2
JP3494430B2 JP28389498A JP28389498A JP3494430B2 JP 3494430 B2 JP3494430 B2 JP 3494430B2 JP 28389498 A JP28389498 A JP 28389498A JP 28389498 A JP28389498 A JP 28389498A JP 3494430 B2 JP3494430 B2 JP 3494430B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光記憶面に反射の
差を起こさせる要素により当該光記憶面に情報を記憶さ
せてなる光メモリカードを利用可能にした光メモリカー
ドシステムに好適なカードセキュリティ装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来、磁気メモリカードは、カード基材
の上に磁気記録媒体を塗布あるいは印刷し、この磁気記
録媒体に情報を記録し、当該情報を読み取ることによ
り、所望とする処理を行わせ、しかる後に当該情報を消
去したりあるいは更新記録するなどの方法によって使用
されている。
【0003】この磁気メモリカードは、カードそのもの
の価格が安いこと、書き込み読み出しが容易でかつその
ための装置が比較的に安価であること、大きさが持ち運
び易いことなどから、各種の分野で使用されている。
【0004】ところで、このような磁気メモリカードに
あっては、上記磁気記録媒体に記録されている情報を磁
気的に書換え可能であるため、偽造がされることが多
い。このため、各種のカードセキュリティ装置が提案さ
れている。
【0005】このようなカードセキュリティ装置の一つ
として、磁気メモリカードの表面に所定の位相を持つ光
を照射し、この磁気メモリカードの表面から反射されて
くる光をフォトトランジスタ等の光検出手段で検出し、
その反射光に基づいて磁気メモリカードに何らかの改造
が加えられたと判定するカードセキュリティ装置が提案
されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のカードセキュリティ装置にあっては、次のよ
うな欠点があった。
【0007】(1)磁気カードの表面から反射されてく
る反射光のレベルがカードの位置に応じて変化するの
で、この反射光のレベルを一定にする処理を必要とす
る。このため増幅回路やレベルスライサー等の多くの電
子回路を必要とし、回路が複雑化するとともに、部品点
数を多く必要とする欠点があった。
【0008】(2)光を照射する手段や光検出手段を設
置位置に正確に配置する必要があるため、機械的精度を
要し、組立、調整に工数を要する他、定期的に保守点検
等をする必要があるという欠点があった。
【0009】(3)磁気メモリカード上にあらかじめ決
められたコード等を印刷等をし、そのコードからの反射
光による情報を基に磁気カードの異常を判定するように
したカードセキュリティ装置であるため、コード等の印
刷工程が必要であり、そのコストもかかるという欠点が
あった。
【0010】本発明の目的は、上述した欠点を解消し、
コストが小さく、かつ、構造が簡単で確実に偽造等を検
出できるカードセキュリティ装置を提供することにあ
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明に係るカードセキュリティ装置
は、所定の平板状の基材及び前記基材の面に光吸収性あ
るいは光反射性のよい材料で構成した光記憶面に線状に
又は複数の点状に記載された光メモリカードから光を媒
介として記録情報を読み出す光メモリカード読出装置で
あって、前記光メモリカード読出装置内に挿入された光
メモリカードの光記憶面に向けて該光記憶面の短軸方向
全体にスリット状のスリット光を照射する照明手段と、
前記照明手段から照射されたスリット光が光メモリカー
ドの少なくとも光記憶面から反射されて通る光通路以外
の位置に配置された光検出手段とを備えたことを特徴と
する。
【0012】したがって、請求項1記載の発明では、確
実に光メモリカードの異常を簡単な構造でもって検出可
能になる。
【0013】 上記目的を達成するために請求項2記載
の発明に係るカードセキュリティ装置は、所定の平板状
の基材及び前記基材の面に光吸収性あるいは光反射性の
よい材料で構成した光記憶面に線状に又は複数の点状に
記録された光メモリカードから光を媒介として記録情報
を読み出す光メモリカード読出装置であって、前記光メ
モリカード読出装置内に挿入された光メモリカードの光
記憶面に向けて該光記憶面の短軸方向全体にスリット状
のスリット光を照射する照明手段と、前記照明手段から
照射されたスリット光が光メモリカードの少なくとも光
記憶面から反射されて通る光通路以外の位置に配置され
た光検出手段と、前記光検出手段からの光検出信号を基
に光メモリカードの異常を判定する判定手段とを備えた
ことを特徴とする。
【0014】したがって、請求項2記載の発明では、確
実に光メモリカードの異常を簡単な構造でもって検出
し、正常、異常を判定することができる。
【0015】請求項3記載の発明では、請求項1または
2記載において、前記光検出手段は、フォトトランジス
タ、フォトダイオード、太陽電池、あるいはCdsを備
えた装置であるあることを特徴とする。このように各種
の光電素子でもって光を電気信号に変換し、光メモリカ
ードの正常・異常の判定のための信号を得ることができ
る。
【0016】 請求項4記載の発明では、請求項1また
は2記載において、前記照明手段、光を発生する発光
手段と、この発光手段からのスリット光を光メモリカー
ドの面に照射する光学系とを備えたことを特徴とする。
発行手段からのスリット光は、光学系によって光メモリ
カードの面上に確実に照射されることになる。
【0017】 請求項5記載の発明では、請求項1また
は2記載において、前記光通路、照明手段からのスリ
ット光が光メモリカードの少なくとも光記憶面から反射
されて形成される光の通路であることを特徴とする。光
通路が形成されているので、この光通路以外に光検出手
段の配置が簡単にできる。
【0018】請求項6記載の発明では、請求項2記載に
おいて、前記判定手段は、前記光検出手段からの検出信
号が所定のレベル以上か否かを比較する比較手段と、こ
の比較手段からの判定結果を基に異常を報知する報知手
段とを備えたことを特徴とする。異常が検出されたとき
に、それを報知手段で報知することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図1は本発明に係るカード
セキュリティ装置が適用された光メモリカードシステム
を示す説明図である。
【0020】この図1に示す光メモリカードシステム1
は、例えばクレジットカードシステムに適用した例であ
る。クレジット会社には光メモリカード書込装置2が設
けられており、光メモリカード書込装置2によって光メ
モリカード3に必要な情報を記録し、利用者に交付す
る。利用者は、この光メモリカード3を所持し、店舗等
にて所定のサービス等を受ける。利用者は、その対価を
支払う場合に、光メモリカード3を使用する。店舗等で
は、光メモリカード3を光メモリカード読出装置4に挿
入し、当該カード3に記録されている情報を読み出して
クレジット会社のコンピュータ装置5にアクセスし、対
価を受ける手続をする。
【0021】このようなシステムにおいて、クレジット
会社に設けられたコンピュータ装置5にはキーボード6
やディスプレイ7が接続されている。また、光メモリカ
ード書込装置2は、コンピュータ装置5の制御下に書込
み情報を光メモリカード3に記録させる。
【0022】また、店舗等では、光メモリカード読出装
置4を含む端末装置8が設けられており、この端末装置
8の光メモリカード読出装置4に光メモリカード3を挿
入して必要な情報を読み込ませ、対価の情報やその他の
情報をキーボード9から入力し、表示パネル10で確認
して通信回線11を介してクレジット会社のコンピュー
タ装置5にアクセスできる。
【0023】なお、この実施の形態において利用される
光メモリカードシステム3は、所定の平板状の基材及び
前記基材の面に光吸収性あるいは光反射性のよい材料で
構成した光記憶面13を備えている。
【0024】図2乃至図8は、本発明の実施の形態に係
るカードセキュリティ装置を説明するためのものであ
る。
【0025】図2は、光メモリカードシステムを構成す
る光メモリカード読出装置及びカードセキュリティ装置
を示す斜視図である。図3は、同光メモリカード読出装
置の正面図である。図4は、同光メモリカード読出装置
の側面図である。
【0026】これらの図において、光メモリカード読出
装置4は、前記記録済の光メモリカード3の光記憶面1
3に線状に又は複数の点状に記録された情報を読み出す
ことができる。
【0027】 この光メモリカード読出装置4は、光供
給手段から出射するスリット光を前記光メモリカード3
の光記録面に集光し、かつ、この光記録面の線状に又は
複数の点状に記録された部分の有無に基づく反射光の有
無を取り出して情報信号にする光読出部21と、前記光
メモリカード3と光読出部21とをそれぞれ直交方向に
移動させる駆動機構23とから構成されている。また、
この光メモリカード読出装置4には、後で詳細に説明す
るカードセキュリティ装置25が設けられている。
【0028】この光メモリカード読出装置4の駆動機構
23は、大別して、光読出部13を移動させる検出部移
動機構27と、光メモリカード3を移動させるカード移
動機構28とからなる。
【0029】この検出部移動機構27は、ネジを切った
二つの回転軸29,30と、二つの回転軸29,30に
噛み合う光読出部21の螺合部31と、これら回転軸2
9,30の歯車32,33に出力軸の歯車34で噛み合
うステッピングモータ35とからなる。
【0030】上述したカード移動機構28は、主ローラ
36,37の間に掛け渡された搬送ベルト38と、右側
従動ローラ39R,40R及び左側従動ローラ39L,
40Lにそれぞれ掛け渡され光メモリカード3を押さえ
る押さえベルト41R及び押さえベルト41Lとから構
成されている。この主ローラ36は、ステッピングモー
タ42で駆動されるようになっている。
【0031】この光読出部21は、図示しないが、光学
系と電気系とから構成されている。この光学系には、半
導体レーザー、カップリングレンズ、ビームスプリッ
タ、1/4波長板、集光レンズ、アクチュエータからな
る。アクチュエータは、ビームスプリッタからの光を光
ピックアップ、フォーカッシング駆動回路で駆動して集
光レンズを移動させて常に光メモリカード3の光記憶面
13に焦点が結ぶようにしている。
【0032】なお、符号61、62、63、64は、光
メモリカード3が光メモリカード書込装置2の内部のど
この位置に配置されているのかを検知する位置検出手段
であり、例えば発光ダイオードとフットダイオードとを
組み合わせた反射タイプの光ピックアップで構成すれば
よい。 また、これら光ピックアップ61,62,6
3,64は駆動制御装置65に接続されている。また、
ステッピングモータ35,42は駆動制御装置65に接
続されており、駆動制御装置65は、光ピックアップ6
1,62,63,64からの検出信号を基にステッピン
グモータ35,42を回転駆動する。なお、この場合、
光メモリカード3からのデータの読み出しに使用する同
期信号と、このステッピングモータ35,42を回転駆
動するときに使用するクロックとを同期させている。
【0033】図5は同光メモリカード読出装置に適用し
たカードセキュリティ装置の光学系統の構成例を示す図
である。
【0034】 上述したカードセキュリティ装置25
は、大別すると、前記光メモリカード読出装置4の内部
に挿入された光メモリカード3の光記憶面13にスリッ
光を照射し、かつ、光メモリカード3の光記憶面13
から反射された光の有無を電気的な光検出信号にする光
電装置25aと、この光電装置25aからの光検出信号を
基に光メモリカード3の異常と判定する異常判定回路2
5bとから構成されている。
【0035】この光電装置25aは、図2乃至図4に示
すように、光読出部21のカード挿入口側であって右側
の押さえベルト41Rと左側の押さえベルト41Lの間
に配置されている。
【0036】 この光電装置25aは、図5に示すよう
に、前記光メモリカード読出装置4の内部に挿入された
光メモリカード3の光記憶面13の短軸方向全体にスリ
ット状の光を照射する照明手段71と、この照明手段7
1から照射されたスリット光が光メモリカード3の光記
憶面13から反射されて形成される光通路72以外の位
置に配置された光検出手段73と、これらを囲む箱体7
4とから構成されている。この箱体74は照射・反射窓
74aが開口する以外は全て囲まれており、その内部は
乱反射しないように例えば黒色に塗装されている。ま
た、この箱体74の下側に配置されている搬送ベルト3
8は乱反射しない素材で構成されている。なお、この図
では、光検出手段73が光通路72以外の二つの位置に
配置された状態で示されているが、いずれか一方の位置
に配置したものでもよい。
【0037】図6は、光検出手段の構成例を示す概略図
である。この図6において、この光検出手段73は、箱
体73aと、この箱体73aの孔部に固定されたシリン
ドルカルレンズ73bと、前記箱体73aの内部であっ
てシリンドルカルレンズ73bの焦点位置に配置された
フォトダイオード73cとから構成されている。これに
より、スリット状の反射光を全て光−電気変換素子とし
てのフォトダイオード73cに集光することができる。
また、光−電気変換素子であるフォトダイオード73c
は、反射された光がシリンドルカルレンズ73bで集光
され、入射されたときに、電気信号に変換できる。な
お、この構成例では、上記光検出手段73は、光−電気
変換素子としてフォトダイオード73cを使用したが、
これに限らずフォトトランジスタ、太陽電池、Cds、
あるいはその他の光−電気変換素子を使用することがで
きる。
【0038】図7は、照明手段の構成例を示す概略図で
ある。この図7において、照明手段71は、箱体75
と、この箱体75内に設けられ光を発生する発光手段と
しての発光ダイオード(LED)76と、この箱体75
の透孔に固定されかつLED76から発光した光をスリ
ット光SLにする光学系であるシリンドルカルレンズ7
7とから構成されている。
【0039】図8は、カードセキュリティ装置の異常判
定回路の構成例を示すブロック図である。この図8にお
いて、光検出手段73のフォトダイオード73cの両端
は、増幅回路78の入力端子に接続されている。増幅回
路78の出力は、比較回路79の一方の入力端子に接続
されている。比較回路79の他方の入力端子には所定の
基準電圧80が供給されている。比較回路78の出力端
子は総合コントローラ81に入力されている。この総合
コントローラ81は、例えばワンチップCPUで構成さ
れており、光読出部21を移動させるステッピングモー
タ35や、搬送ベルト38を回転駆動するステッピング
モータ42の回転駆動をコントロールしたり、光読出部
21からのデータをデジタルデータに読み出したり、さ
らに、警報の報知のために警報ランプ82を点灯した
り、音響警報器83を動作させたりできる。
【0040】なお、上記増幅回路78、上記比較回路7
9及び上記基準電圧80によって、前記光検出手段73
からの光検出信号が検出されたときに光メモリカード3
に何らかの手が加えられ異常と判定する判定手段が構成
されている。
【0041】また、駆動制御回路65は、判定手段(増
幅回路78、比較回路79、基準電圧80)と、上記総
合コントローラ81と、その他動駆動制御に必要な回路
装置とにより構成されている。
【0042】このような構成のカードセキュリティ装置
の動作を図1ないし図8を基に、図9以降の図を参照し
て説明する。図9は光メモリカードの構造を示す説明図
である。図10は、照明手段からのスリット光で光メモ
リカードの面が照明されている状態を示す図である。図
11は、同スリット光の輝度分布を示す図であり、横軸
にカードの位置を、縦軸に輝度のレベルを、それぞれ示
している。
【0043】光メモリカードシステム3は、通常、図9
に示すように、所定の平板状の基材12と、この基材1
2の面に光吸収性あるいは光反射性のよい材料で構成し
た光記憶面13と、この光記憶面13の上に被服された
ハードコート14とから構成されている。
【0044】このような構造を持つ光メモリカード3が
光メモリカード読出装置4に挿入されたとする。する
と、光メモリカード3は、搬送ベルト38上を移動して
光電装置25aの下を通過することになる。
【0045】すると、照明手段71において、LED7
6から発光された光は、図10に示すように、シリンド
ルカルレンズ77によってスリット光SLに変換されて
光メモリカード3のハードコート14の面に照射され
る。このスリット光SLは、光メモリカード3の短軸方
向の全面に照射される。このとき、スリット光SLの光
メモリカード3の面上の輝度分布は、図11に示すよう
に、光メモリカード3の中央部が一番強く、光メモリカ
ード3の両脇にゆくに従って低くなっている。
【0046】また、この実施の形態における光検出手段
73では、上述した長さでかつ輝度分布しているスリッ
ト光SLであってもシリンドルカルレンズ73bによっ
てフォトダイオード73cの所定の一点に集光できる。
したがって、例えば光メモリカード3の短軸方向の全面
に照射されたスリット光SLであっても、この光検出手
段73のフォトダイオード73cによって検出できるこ
とになる。
【0047】〔正常なカードの場合〕ところで、光メモ
リカード3が正常であれば、照明手段71から出たスリ
ット光Liは、図12に示すように、光メモリカード3
のハードコート14面で反射されるとともに、光記憶面
13の面でも反射される。このハードコート14で反射
された光Lrhと、この光記憶面13の面で反射された光
Lrmとは、光メモリカード3が正常であるときには、光
通路72を通過する。したがって、光検出手段73は、
この反射光を検出しないことになる。
【0048】このときに、既に、光電装置25aより挿
入口側に配置されている光ピックアップ61からの検出
信号によって、総合コントローラ81は光メモリカード
3が挿入されていることは検知しているので、比較回路
79からの比較指令を取り込む動作をしている。
【0049】また、光検出手段73のフォトダイオード
73cから検出信号が出力されないので、増幅回路78
から出力信号が出力されない。したがって、比較回路7
9は基準電圧80により小さいとする比較結果を出力し
ている。
【0050】総合コントローラ81は、この結果を取り
込んで、光メモリカード3が正常なものである判断して
次の読み込み動作をさせる。
【0051】〔異常なカードの場合〕一方、改造等され
ている光メモリカード3が光メモリカード読出装置4に
挿入されたとする。すると、光メモリカード3は、搬送
ベルト38上を移動して光電装置25aの下を通過する
ことになる。このとき、光メモリカード3は改造されて
いて、図13のように、例えばハードコート14が削ら
れていたとする。すると、照明手段71から出たスリッ
ト光Liは、光メモリカード3のハードコート14面で
乱反射されることになって、光通路72以外にも放射れ
さることになる。すると、この乱反射光Lwは、光検出
手段73のシリンドルカルレンズ73bで集光されてフ
ォトダイオード73cに供給される。これにより、フォ
トダイオード73cは検出信号を出力する。
【0052】なお、ハードコート14が削られている位
置が、光メモリカード3の中央部分であっても、端部分
であっても、あるいは、全面であっても、照明手段71
から光メモリカード3の短軸方向の全面にスリット光が
照射されており、しかも、光検出手段73はそのスリッ
ト光の幅の光成分をシリンドルカルレンズ73bでフォ
トダイオード73cに集光できるので、これらの異常を
確実に検出することができる。
【0053】また、既に、光電装置25aより挿入口側
に配置されている光ピックアップ61からの検出信号に
よって、総合コントローラ81は光メモリカード3が挿
入されていることは検知しているので、比較回路79か
らの比較指令を取り込む動作をしている。
【0054】また、光検出手段73のフォトダイオード
73cは検出信号を出力する。この検出信号は、増幅回
路78で増幅されて比較回路79に与えられる。比較回
路79は、この増幅された検出信号と基準電圧80とを
比較する。この場合、比較回路79は、増幅回路78か
らの出力信号が基準電圧80より大きいとする比較結果
を出力している。
【0055】総合コントローラ81は、この比較結果を
取り込んで、光メモリカード3が異常なものであるとし
て、例えば、ステッピングモータ42を逆回転させて光
メモリカード3を挿入口から排出させたり、あるいは、
ステッピングモータ42を正回転で高速に回転させて光
メモリカード3を内部に設けた異常カード回収ボックス
(図示せず)に収納したりさせる。また、総合コントロ
ーラ81は、例えば、警報ランプ82を点灯し、及び/
または、音響警報器83を駆動して、「挿入された光メ
モリカード3は異常である」旨を報知する。
【0056】このように検出動作をすることになる。な
お、スリット光の輝度分布は、一般に図11に示すよう
になり、これを従来のように直接検出するようにした場
合には、輝度分布を平坦にしたりする輝度分布の補正が
必要があるが、本実施の形態のように光メモリカード3
からの乱反射光を光検出手段73がシリンドルカルレン
ズ73bを用いてフォトダイオード73cに集光するよ
うにしているので、そのような複雑な輝度補正等をまっ
たくする必要がなく、簡単にかつ確実に異常を検出する
ことができる。
【0057】このような実施の形態によれば、次のよう
な利点がある。 (1)光メモリカード3に改造が加えられたことを確実
に検知できる。 (2)光メモリカード3に改造が加えられたか否かを簡
単な装置で検出することができるので、特定の増幅回路
やレベルスライサー等の多くの電子回路を必要とせず、
回路が簡略化するとともに、部品点数が少なくなり、製
造コストを小さくすることができる。 (3)照明手段や光検出手段を正確に配置する必要がな
いため、機械的精度を必要とせず、組立・調整工数が少
なくてすみ、また、定期的な保守点検等が必要なくな
る。 (4)特別なコードなど印刷する必要がなくコード等の
複雑な印刷工程が不要であり、また、印刷する場合に
も、簡単な絵やマーク等を印刷するのみでよいため印刷
コストが少なくてすむ。
【0058】図14は、照明手段の他の構成例を示す概
略図である。この図14において、照明手段71Aは、
箱体85と、光を発生する発光手段であるランプ86
と、このランプ86からの光をスリット光とする光学系
87と、この発光手段86の裏側に配置されて平行光を
作る作用もする反射板88とから構成されている。箱体
85には、発光手段86及び反射板88が収納されてお
り、また、箱体85の開口には光学系87が配置されて
いる。この光学系87は、例えばシリンドルカルレンズ
で構成すればよく、この光学系87によって照明手段7
1Aから光メモリカード3の短軸方向の全面に渡って照
射するスリット光が形成できる。
【0059】このような構造のものであっても、スリッ
ト光を光メモリカード3の面に照射することができる。
【0060】なお、上記光メモリカード3では、ハード
コート14を削った例を挙げ、乱反射が起きたときに異
常である実施の形態で説明したが、これとは逆に所定の
乱反射があるときに正常とする判定方法であってもよ
い。この場合には、例えば、特定の絵、記号、マーク、
透かし等を光メモリカード3の光記憶面13の面に印刷
あるいはその他の手法で設け、このような部分からの乱
反射がないとこによって異常と判定するようにすればよ
い。
【0061】このように光メモリカード3の光記憶面1
3の面に所定の表示を行う他の実施の形態によれば、例
えば広告宣伝を行ったり、カードの内容を表示したりす
ることができる。
【0062】また、上記実施の形態では、光通路72以
外の位置として、光検出手段73を光電装置25aの箱
体74の中央部に配置したが、これ以外の位置であって
もよい。要するに、光検出手段73は、光電装置25a
の箱体74において、光通路72以外の位置であって、
乱反射された光を効率よく検出できる場所であれば、ど
こであってもよい。
【0063】
【発明の効果】本発明によれば、次のような利点があ
る。 (1)光メモリカードに改造が加えられたことを確実に
検知できる。 (2)光メモリカードに改造が加えられたか否かを簡単
な装置で検出することができるので、特定の増幅回路や
レベルスライサー等の多くの電子回路を必要とせず、回
路が簡略化するとともに、部品点数が少なくなり、製造
コストを小さくすることができる。 (3)照明手段や光検出手段を正確に配置する必要がな
いため、機械的精度を必要とせず、組立・調整工数が少
なくてすみ、また、定期的な保守点検等が必要なくな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のカードセキュリティ装置が適用された
光メモリカードシステムの例を示す説明図である。
【図2】同システムの一部を構成する光メモリカード読
出装置及びこの読出装置に適用されたカードセキュリテ
ィ装置を示す斜視図である。
【図3】同装置の正面図である。
【図4】同装置の側面図である。
【図5】同カードセキュリティ装置の光学系統の構成例
を示す図である。
【図6】同光検出手段の構成例を示す概略図である。
【図7】同照明手段の構成例を示す概略図である。
【図8】同カードセキュリティ装置の異常判定回路の構
成例を示すブロック図である。
【図9】光メモリカードの構造を示す説明図である。
【図10】同照明手段からのスリット光で光メモリカー
ドの面が照明されている状態を示す図である。
【図11】同スリット光の輝度分布を示す図である。
【図12】カードセキュリティ装置がカードに異常がな
いと判断する動作を説明するための図である。
【図13】カードセキュリティ装置がカードに異常があ
ると判断する動作を説明する図である。
【図14】同カードセキュリティ装置の照明手段の他の
構成例を示す図である。
【符号の説明】
1 光メモリカードシステム 2 光メモリカード書込装置 3 光メモリカード 4 光メモリカード読出装置 5 コンピュータ装置 12 基材 13 光記憶面 14 ハードコート 21 光読出部 23 駆動機構 25 カードセキュリティ装置 25a 光電装置 25b 異常判定回路 27 検出部移動機構 28 カード移動機構 71、71A 照明手段 72 光通路 73 光検出手段 75、85 箱体 76 LED(発光手段) 86 ランプ(発光手段) 77、87 シリンドルカルレンズ(光学系) 78 増幅回路 79 比較回路 80 基準電圧 81 総合コントローラ 82 警報ランプ 83 音響警報器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−6579(JP,A) 特開 平9−234942(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06K 17/00 G11B 19/12 521 G11B 7/0033 G11B 19/04 521 G11B 20/10

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定の平板状の基材及び前記基材の面に光
    吸収性あるいは光反射性のよい材料で構成した光記憶面
    に線状に又は複数の点状に記録された光メモリカードか
    ら光を媒介として記録情報を読み出す光メモリカード読
    出装置であって、前記光メモリカード読出装置内に挿入
    された光メモリカードの光記憶面に向けて該光記憶面の
    短軸方向全体にスリット状のスリット光を照射する照明
    手段と、前記照明手段から照射されたスリット光が光メ
    モリカードの少なくとも光記憶面から反射されて通る光
    通路以外の位置に配置された光検出手段とを備えたこと
    を特徴とするカードセキュリティ装置。
  2. 【請求項2】前記光検出手段からの光検出信号を基に光
    メモリカードの異常を判定する判定手段を更に備えてな
    る、請求項1に記載されたカードセキュリティ装置。
  3. 【請求項3】前記光検出手段、フォトトランジスタ、
    フォトダイオード、太陽電池、あるいはCdsを備えた検
    出装置である請求項1または2に記載されたカードセ
    キュリティ装置。
  4. 【請求項4】前記照明手段、光を発生する発光手段
    と、この発光手段からの光を光メモリカードの面にスリ
    ット状に照射する光学系とを備えた請求項1〜3の何
    れかに記載されたカードセキュリティ装置。
  5. 【請求項5】前記光通路、照明手段からのスリット
    が光メモリカードの少なくとも光記憶面から反射されて
    通る光の通路である、請求項1〜4の何れかに記載され
    カードセキュリティ装置。
  6. 【請求項6】前記判定手段、前記光検出手段からの検
    出信号が所定のレベル以上か否かを比較する比較手段
    と、この比較手段からの判定結果を基に異常を報知する
    報知手段とを備えた請求項2に記載されたカードセキ
    ュリティ装置。
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