JP3485976B2 - 漏電遮断器の遠隔テスト装置 - Google Patents
漏電遮断器の遠隔テスト装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、漏電遮断器の漏電テ
ストを遠隔操作で行う漏電遮断器の遠隔テスト装置に関
するものである。
ストを遠隔操作で行う漏電遮断器の遠隔テスト装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】図６は例えば実開昭４９−１３３２２号
公報に示された漏電遮断器の遠隔テスト装置の回路図で
ある。図において、Ｃは零相変流器、ａ１、ａ２は線路
導体、Ｄは引き外し電磁石、Ｅは時限特性を有する過電
流素子、Ｆは接点Ｆ１、Ｆ２及び抵抗Ｒからなる疑似漏
電回路、Ｓは開閉接点部、Ｇは常開の漏電テストスイッ
チ、Ｂ１、Ｂ２は漏電テスト回路の端子、Ｈは常開の遠
隔テストスイッチ、１１は漏電遮断器である。
公報に示された漏電遮断器の遠隔テスト装置の回路図で
ある。図において、Ｃは零相変流器、ａ１、ａ２は線路
導体、Ｄは引き外し電磁石、Ｅは時限特性を有する過電
流素子、Ｆは接点Ｆ１、Ｆ２及び抵抗Ｒからなる疑似漏
電回路、Ｓは開閉接点部、Ｇは常開の漏電テストスイッ
チ、Ｂ１、Ｂ２は漏電テスト回路の端子、Ｈは常開の遠
隔テストスイッチ、１１は漏電遮断器である。
【０００３】図６の装置において、漏電遮断器１１の動
作試験をするとき、常開の漏電テストスイッチＧを押し
て閉じると、テスト電流が抵抗Ｒ、漏電テストスイッチ
Ｇ、過電流素子Ｅ、零相変流器Ｃの一次側導体ａ１を通
って流れ、このテスト電流が疑似漏電電流となる。この
電流により、零相変流器Ｃの２次コイルに２次電流が発
生し、引き外し電磁石Ｄを励磁し、開閉接点部Ｓを開
く。遠隔で動作試験をする場合は、遠隔テスト装置の接
続端子Ｂ１、Ｂ２に常開の遠隔テストスイッチＨを接続
し、遠隔テストスイッチＨを閉じることにより前述と同
様に疑似漏電電流を生じさせ、動作試験を行うことがで
きる。
作試験をするとき、常開の漏電テストスイッチＧを押し
て閉じると、テスト電流が抵抗Ｒ、漏電テストスイッチ
Ｇ、過電流素子Ｅ、零相変流器Ｃの一次側導体ａ１を通
って流れ、このテスト電流が疑似漏電電流となる。この
電流により、零相変流器Ｃの２次コイルに２次電流が発
生し、引き外し電磁石Ｄを励磁し、開閉接点部Ｓを開
く。遠隔で動作試験をする場合は、遠隔テスト装置の接
続端子Ｂ１、Ｂ２に常開の遠隔テストスイッチＨを接続
し、遠隔テストスイッチＨを閉じることにより前述と同
様に疑似漏電電流を生じさせ、動作試験を行うことがで
きる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の遠
隔テスト装置では、遠隔テストスイッチＨを、漏電遮断
器本体内にある漏電テスト回路の端子Ｂ１、Ｂ２より直
接リード線を引き出して接続しているため、導体ａ１、
ａ２の対地電圧がそのまま遠隔テスト装置の端子に現
れ、取扱いの不注意で漏電テスト回路の端子が地絡する
と危険であるという問題があった。また、遠隔テストス
イッチの端子間に線路電圧が生じているため、別々の漏
電遮断器の遠隔テスト装置を並列接続し、１個の遠隔テ
ストスイッチで一括して漏電の遠隔テストをすることが
できないという問題点もあった。
隔テスト装置では、遠隔テストスイッチＨを、漏電遮断
器本体内にある漏電テスト回路の端子Ｂ１、Ｂ２より直
接リード線を引き出して接続しているため、導体ａ１、
ａ２の対地電圧がそのまま遠隔テスト装置の端子に現
れ、取扱いの不注意で漏電テスト回路の端子が地絡する
と危険であるという問題があった。また、遠隔テストス
イッチの端子間に線路電圧が生じているため、別々の漏
電遮断器の遠隔テスト装置を並列接続し、１個の遠隔テ
ストスイッチで一括して漏電の遠隔テストをすることが
できないという問題点もあった。
【０００５】この発明は、上述のような問題点を解決す
るためになされたもので、遠隔テスト装置を漏電遮断器
に取り付け、漏電遮断器に通電しても、遠隔テスト装置
の端子には線路電圧を生じない遠隔テスト装置を得るも
のである。また、遠隔テスト装置を複数個並列接続でき
る遠隔テスト装置を得るものである。
るためになされたもので、遠隔テスト装置を漏電遮断器
に取り付け、漏電遮断器に通電しても、遠隔テスト装置
の端子には線路電圧を生じない遠隔テスト装置を得るも
のである。また、遠隔テスト装置を複数個並列接続でき
る遠隔テスト装置を得るものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明に係る漏電遮断
器の遠隔テスト装置は、零相変流器により線路電流の漏
電等によるアンバランスを検出して上記線路を遮断させ
る引き外し信号を出力する漏電検出回路、上記線路の疑
似漏電状態を作り、人為的に上記漏電検出回路から、上
記線路を遮断する引き外し信号を出力させる開閉手段、
遠隔テストスイッチにより上記開閉手段を制御する制御
手段を備え、上記制御手段は定電流回路、また、上記開
閉手段はサイリスタ等を含む電気的開閉手段からなり、
上記定電流回路出力をホトカプラを介して上記開閉手段
に加え上記開閉手段の開閉を制御するようにしたもので
ある。
器の遠隔テスト装置は、零相変流器により線路電流の漏
電等によるアンバランスを検出して上記線路を遮断させ
る引き外し信号を出力する漏電検出回路、上記線路の疑
似漏電状態を作り、人為的に上記漏電検出回路から、上
記線路を遮断する引き外し信号を出力させる開閉手段、
遠隔テストスイッチにより上記開閉手段を制御する制御
手段を備え、上記制御手段は定電流回路、また、上記開
閉手段はサイリスタ等を含む電気的開閉手段からなり、
上記定電流回路出力をホトカプラを介して上記開閉手段
に加え上記開閉手段の開閉を制御するようにしたもので
ある。
【０００７】また、漏電検出回路と漏電テストスイッチ
とを含む漏電遮断器本体と、開閉手段と制御手段とを含
む制御・開閉部とを別々の外箱に収納し、漏電遮断器本
体の外箱の外面部に制御・開閉部の外箱を取り付けるよ
うにしたものである。
とを含む漏電遮断器本体と、開閉手段と制御手段とを含
む制御・開閉部とを別々の外箱に収納し、漏電遮断器本
体の外箱の外面部に制御・開閉部の外箱を取り付けるよ
うにしたものである。
【０００８】また、１個の遠隔テストスイッチに複数の
制御手段を並列に接続し、上記遠隔テストスイッチによ
り複数の漏電遮断器の遠隔テストを行うようにした
制御手段を並列に接続し、上記遠隔テストスイッチによ
り複数の漏電遮断器の遠隔テストを行うようにした
【０００９】
【作用】この発明における遠隔テスト装置は、遠隔テス
トスイッチを制御手段に接続し、上記遠隔テストスイッ
チを操作することにより、上記制御手段により制御され
る開閉手段を開閉して疑似漏電状態を作り、漏電検出回
路を動作させて漏電の遠隔テストを行うようにしたもの
であるが、制御手段と開閉手段とを、リレーの操作コイ
ルとリレー接点としたり、あるいは制御手段と開閉手段
とをホトカプラで結合することにより、両者間を電気的
に絶縁している。このため、漏電遮断器の線路電圧がそ
のまま遠隔テストスイッチに加わることはなくなる。
トスイッチを制御手段に接続し、上記遠隔テストスイッ
チを操作することにより、上記制御手段により制御され
る開閉手段を開閉して疑似漏電状態を作り、漏電検出回
路を動作させて漏電の遠隔テストを行うようにしたもの
であるが、制御手段と開閉手段とを、リレーの操作コイ
ルとリレー接点としたり、あるいは制御手段と開閉手段
とをホトカプラで結合することにより、両者間を電気的
に絶縁している。このため、漏電遮断器の線路電圧がそ
のまま遠隔テストスイッチに加わることはなくなる。
【００１０】また、上記の構成にしているため、遠隔テ
スト装置を複数個並列に接続し、１個の遠隔テストスイ
ッチにより同時に複数個の漏電遮断器の遠隔テスト行う
構成にすることもできる。
スト装置を複数個並列に接続し、１個の遠隔テストスイ
ッチにより同時に複数個の漏電遮断器の遠隔テスト行う
構成にすることもできる。
【００１１】
【実施例】実施例１．
図１はこの発明の一実施例である遠隔テスト装置を持つ
漏電遮断器の回路を示す図である。図において、１４は
制御電源、Ｈは常開の遠隔テストスイッチ、Ｊ１、Ｊ２
は遠隔テスト装置の入力側端子、６はリレー、６ａはリ
レー６の操作コイルで、入力側端子Ｊ１、Ｊ２に接続さ
れている。６ｂは操作コイル６ａに電圧を印加すること
により閉じる常開接点である。リレー６の操作コイル６
ａと常開接点６ｂとの間は電気的に絶縁されている。Ｂ
１、Ｂ２は常開接点６ｂに接続されている漏電テスト回
路端子、１１は図６で説明した漏電遮断器で、漏電検出
回路１３、変流器Ｃ、開閉接点部Ｓ、引き外し電磁石Ｄ
等を含む。
漏電遮断器の回路を示す図である。図において、１４は
制御電源、Ｈは常開の遠隔テストスイッチ、Ｊ１、Ｊ２
は遠隔テスト装置の入力側端子、６はリレー、６ａはリ
レー６の操作コイルで、入力側端子Ｊ１、Ｊ２に接続さ
れている。６ｂは操作コイル６ａに電圧を印加すること
により閉じる常開接点である。リレー６の操作コイル６
ａと常開接点６ｂとの間は電気的に絶縁されている。Ｂ
１、Ｂ２は常開接点６ｂに接続されている漏電テスト回
路端子、１１は図６で説明した漏電遮断器で、漏電検出
回路１３、変流器Ｃ、開閉接点部Ｓ、引き外し電磁石Ｄ
等を含む。
【００１２】今、遠隔テストスイッチＨを閉じて、交流
または直流の外部制御電源１４から電圧Ｖ１を遠隔テス
ト装置の入力側端子Ｊ１、Ｊ２に印加すると、リレー６
の操作コイル６ａが励磁され、常開接点６ｂが閉じて、
漏電遮断器１１の漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２を短絡
するため、漏電テストスイッチＧが閉じたと同じ状態に
なり、遠隔にて漏電テスト動作をすることができる。こ
の構成では、線路に接続されている漏電テスト回路の端
子Ｂ１、Ｂ２と遠隔テスト装置の入力側端子Ｊ１、Ｊ２
とはリレー６において絶縁されているため、線路電圧が
直接遠隔テストスイッチＨに加わることがなく、操作時
の安全性が保たれる。
または直流の外部制御電源１４から電圧Ｖ１を遠隔テス
ト装置の入力側端子Ｊ１、Ｊ２に印加すると、リレー６
の操作コイル６ａが励磁され、常開接点６ｂが閉じて、
漏電遮断器１１の漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２を短絡
するため、漏電テストスイッチＧが閉じたと同じ状態に
なり、遠隔にて漏電テスト動作をすることができる。こ
の構成では、線路に接続されている漏電テスト回路の端
子Ｂ１、Ｂ２と遠隔テスト装置の入力側端子Ｊ１、Ｊ２
とはリレー６において絶縁されているため、線路電圧が
直接遠隔テストスイッチＨに加わることがなく、操作時
の安全性が保たれる。
【００１３】実施例２．
図２はこの発明の他の実施例に係る遠隔テスト装置付き
漏電遮断器の回路図である。図において、２は整流回
路、３は整流回路２の直流側に接続された定電流回路、
１６は定電流回路３の出力側と、後述するサイリスタ回
路７側とを結合するホトカプラであり、その入力側１６
ａに電流を流すことにより、出力側１６ｂが導通する。
定電流回路３は、抵抗Ｒ１と、これに直列に接続された
ツェナーダイオードＺＤ１と、ホトカプラの入力側１６
ａと直列接続された抵抗Ｒ５と、ホトカプラの入力側１
６ａと抵抗Ｒ５の直列回路に並列接続された平滑用コン
デンサＣ１と、ホトカプラの入力側１６ａと抵抗Ｒ５の
直列回路に並列に接続された、ツェナーダイオードＺＤ
２と抵抗Ｒ４の直列回路と、上記抵抗Ｒ４とツェナーダ
イオードＺＤ２の接続点にベースを接続し、上記抵抗Ｒ
４の他端にエミッタを接続したトランジスタＱ２と、ト
ランジスタＱ２のコレクタとＮチャンネル電界効果トラ
ンジスタ（ＦＥＴ）Ｑ１のゲートの接続点に一端が接続
され、上記抵抗Ｒ１とツェナーダイオードＺＤ１の接続
点に他端が接続されている抵抗Ｒ２よりなる。
漏電遮断器の回路図である。図において、２は整流回
路、３は整流回路２の直流側に接続された定電流回路、
１６は定電流回路３の出力側と、後述するサイリスタ回
路７側とを結合するホトカプラであり、その入力側１６
ａに電流を流すことにより、出力側１６ｂが導通する。
定電流回路３は、抵抗Ｒ１と、これに直列に接続された
ツェナーダイオードＺＤ１と、ホトカプラの入力側１６
ａと直列接続された抵抗Ｒ５と、ホトカプラの入力側１
６ａと抵抗Ｒ５の直列回路に並列接続された平滑用コン
デンサＣ１と、ホトカプラの入力側１６ａと抵抗Ｒ５の
直列回路に並列に接続された、ツェナーダイオードＺＤ
２と抵抗Ｒ４の直列回路と、上記抵抗Ｒ４とツェナーダ
イオードＺＤ２の接続点にベースを接続し、上記抵抗Ｒ
４の他端にエミッタを接続したトランジスタＱ２と、ト
ランジスタＱ２のコレクタとＮチャンネル電界効果トラ
ンジスタ（ＦＥＴ）Ｑ１のゲートの接続点に一端が接続
され、上記抵抗Ｒ１とツェナーダイオードＺＤ１の接続
点に他端が接続されている抵抗Ｒ２よりなる。
【００１４】７は上記ホトカプラ１６の出力側１６ｂに
接続されたサイリスタ回路、１０はサイリスタ回路７に
直流を供給する整流回路、Ｂ１、Ｂ２は整流回路１０の
交流側に接続された漏電テスト回路端子である。電気的
な開閉回路となるサイリスタ回路７は、上記ホトカプラ
１６の出力側１６ｂに接続されたサイリスタＣＲ１と、
このサイリスタＣＲ１のゲートカソード間に接続された
抵抗Ｒ１１と、上記サイリスタＣＲ１のゲートと整流回
路１０との間にホトカプラの出力側１６ｂを通して接続
された抵抗Ｒ１０とよりなる。なお、その他の構成は図
１と同様なので説明を省略する。
接続されたサイリスタ回路、１０はサイリスタ回路７に
直流を供給する整流回路、Ｂ１、Ｂ２は整流回路１０の
交流側に接続された漏電テスト回路端子である。電気的
な開閉回路となるサイリスタ回路７は、上記ホトカプラ
１６の出力側１６ｂに接続されたサイリスタＣＲ１と、
このサイリスタＣＲ１のゲートカソード間に接続された
抵抗Ｒ１１と、上記サイリスタＣＲ１のゲートと整流回
路１０との間にホトカプラの出力側１６ｂを通して接続
された抵抗Ｒ１０とよりなる。なお、その他の構成は図
１と同様なので説明を省略する。
【００１５】遠隔テストスイッチＨを閉じることによっ
て、外部の制御電源１４からの交流または直流の電圧Ｖ
１を遠隔テスト装置の入力端子Ｊ１、Ｊ２に印加する
と、交流の場合は整流回路２によって直流に変換され、
直流の場合はそのまま定電流回路３に通電される。直流
に変換された電圧は、定電流回路３の抵抗Ｒ１、Ｒ２と
ツェナーダイオードＺＤ１に印加され、ＮチャンネルＦ
ＥＴＱ１のゲート・ソース間に電位差が発生する。Ｎチ
ャンネルＦＥＴＱ１のゲート・ソース間に電位差が生じ
ると、ＮチャンネルＦＥＴＱ１のドレイン・ソース間が
導通し、抵抗Ｒ５、ホトカプラ入力側１６ａが通電す
る。外部電源１４が交流の場合、抵抗Ｒ５、ホトカプラ
入力側１６ａに流れる電流は整流回路２によって全波整
流されているため、平滑コンデンサＣ１が抵抗Ｒ５、ホ
トカプラ入力側１６ａに流れる電流を平滑する。
て、外部の制御電源１４からの交流または直流の電圧Ｖ
１を遠隔テスト装置の入力端子Ｊ１、Ｊ２に印加する
と、交流の場合は整流回路２によって直流に変換され、
直流の場合はそのまま定電流回路３に通電される。直流
に変換された電圧は、定電流回路３の抵抗Ｒ１、Ｒ２と
ツェナーダイオードＺＤ１に印加され、ＮチャンネルＦ
ＥＴＱ１のゲート・ソース間に電位差が発生する。Ｎチ
ャンネルＦＥＴＱ１のゲート・ソース間に電位差が生じ
ると、ＮチャンネルＦＥＴＱ１のドレイン・ソース間が
導通し、抵抗Ｒ５、ホトカプラ入力側１６ａが通電す
る。外部電源１４が交流の場合、抵抗Ｒ５、ホトカプラ
入力側１６ａに流れる電流は整流回路２によって全波整
流されているため、平滑コンデンサＣ１が抵抗Ｒ５、ホ
トカプラ入力側１６ａに流れる電流を平滑する。
【００１６】抵抗Ｒ５とホトカプラ入力側１６ａにかか
る電圧が、ツェナーダイオードＺＤ２のツェナー電圧を
超えると、ツェナーダイオードＺＤ２が導通し、抵抗Ｒ
４とトランジスタＱ２のベース・エミッタ間に電流が流
れ、トランジスタＱ２のコレクタ・エミッタ間を導通さ
せる。トランジスタＱ２のコレクタ・エミッタ間が導通
すると、抵抗Ｒ２からトランジスタＱ２に向かって電流
が流れ、抵抗Ｒ２の電圧が上昇する。抵抗Ｒ２とＮチャ
ンネルＦＥＴＱ１のゲート・ソース間の電圧は、ツェナ
ーダイオードＺＤ１によって制限されているため、抵抗
Ｒ２の電圧が上昇すると、ＮチャンネルＦＥＴＱ１のゲ
ート・ソース間電圧は減少し、ＮチャンネルＦＥＴＱ１
のドレイン・ソース間に流れる電流を抑制する。また、
抵抗Ｒ５とホトカプラ入力側１６ａとの両端、つまり平
滑コンデンサＣ１の両端は、ツェナーダイオードＺＤ２
のツェナー電圧とトランジスタＱ２のベース・エミッタ
間に発生する電圧との和のある一定の電圧に保たれる。
このため、抵抗Ｒ５によってある一定の値にされた電流
がホトカプラ入力側１６ａに流れる。ホトカプラ入力側
１６ａに電流が流れるとホトカプラ出力側１６ｂが導通
する。
る電圧が、ツェナーダイオードＺＤ２のツェナー電圧を
超えると、ツェナーダイオードＺＤ２が導通し、抵抗Ｒ
４とトランジスタＱ２のベース・エミッタ間に電流が流
れ、トランジスタＱ２のコレクタ・エミッタ間を導通さ
せる。トランジスタＱ２のコレクタ・エミッタ間が導通
すると、抵抗Ｒ２からトランジスタＱ２に向かって電流
が流れ、抵抗Ｒ２の電圧が上昇する。抵抗Ｒ２とＮチャ
ンネルＦＥＴＱ１のゲート・ソース間の電圧は、ツェナ
ーダイオードＺＤ１によって制限されているため、抵抗
Ｒ２の電圧が上昇すると、ＮチャンネルＦＥＴＱ１のゲ
ート・ソース間電圧は減少し、ＮチャンネルＦＥＴＱ１
のドレイン・ソース間に流れる電流を抑制する。また、
抵抗Ｒ５とホトカプラ入力側１６ａとの両端、つまり平
滑コンデンサＣ１の両端は、ツェナーダイオードＺＤ２
のツェナー電圧とトランジスタＱ２のベース・エミッタ
間に発生する電圧との和のある一定の電圧に保たれる。
このため、抵抗Ｒ５によってある一定の値にされた電流
がホトカプラ入力側１６ａに流れる。ホトカプラ入力側
１６ａに電流が流れるとホトカプラ出力側１６ｂが導通
する。
【００１７】漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２間の電圧
は、整流回路１０によって直流に変換される。ホトカプ
ラ出力側１６ｂが導通すると、ホトカプラ出力側１６
ｂ、抵抗Ｒ１０を介して、サイリスタＣＲ１のゲート・
カソード間が導通する。サイリスタＣＲ１が導通する
と、漏電遮断器１１の漏電テストスイッチＧを押して閉
じた状態と同じように、漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２
が短絡された状態となり、漏電遮断器１１が漏電動作を
する。この実施例２の構成では、入力側端子Ｊ１、Ｊ２
に印加する電圧Ｖ１の許容入力電圧範囲を広くでき、例
えばＡＣ１００Ｖ用とＡＣ２００Ｖ用とを共用できる。
は、整流回路１０によって直流に変換される。ホトカプ
ラ出力側１６ｂが導通すると、ホトカプラ出力側１６
ｂ、抵抗Ｒ１０を介して、サイリスタＣＲ１のゲート・
カソード間が導通する。サイリスタＣＲ１が導通する
と、漏電遮断器１１の漏電テストスイッチＧを押して閉
じた状態と同じように、漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２
が短絡された状態となり、漏電遮断器１１が漏電動作を
する。この実施例２の構成では、入力側端子Ｊ１、Ｊ２
に印加する電圧Ｖ１の許容入力電圧範囲を広くでき、例
えばＡＣ１００Ｖ用とＡＣ２００Ｖ用とを共用できる。
【００１８】実施例３．
近年、漏電遮断器はその外形が小型化されつつあり、図
１のリレー６、あるいは図２の定電流回路３及びサイリ
スタ回路７からなる制御・開閉部を漏電遮断器本体内に
収納することが困難になってきており、また、遠隔テス
ト装置はユーザーの要求により装着されるオプション機
器であることから、制御・開閉部を全ての漏電遮断器に
装着することはコスト面で不経済である。実施例３はこ
れに対処する実施例である。
１のリレー６、あるいは図２の定電流回路３及びサイリ
スタ回路７からなる制御・開閉部を漏電遮断器本体内に
収納することが困難になってきており、また、遠隔テス
ト装置はユーザーの要求により装着されるオプション機
器であることから、制御・開閉部を全ての漏電遮断器に
装着することはコスト面で不経済である。実施例３はこ
れに対処する実施例である。
【００１９】図３は実施例３の漏電遮断器の遠隔テスト
装置の回路構成図、図４はその外形を示す正面図であ
る。これらの図において、１２は制御・開閉部、即ち定
電流回路３、サイリスタ回路７等収納する外箱である。
その他の構成は実施例１、実施例２に関する説明と同じ
なので説明を省略する。上記外箱１２は漏電遮断器１１
の側部に装着可能な構造となっており、漏電遮断器１１
の漏電テストスイッチＧから延長された漏電テスト回路
端子Ｂ１、Ｂ２を介して整流回路１０と接続可能に構成
されている。また、外箱１２には制御・開閉部に制御電
源及び遠隔テストスイッチＨを接続する端子Ｊ１、Ｊ２
が設けられている。
装置の回路構成図、図４はその外形を示す正面図であ
る。これらの図において、１２は制御・開閉部、即ち定
電流回路３、サイリスタ回路７等収納する外箱である。
その他の構成は実施例１、実施例２に関する説明と同じ
なので説明を省略する。上記外箱１２は漏電遮断器１１
の側部に装着可能な構造となっており、漏電遮断器１１
の漏電テストスイッチＧから延長された漏電テスト回路
端子Ｂ１、Ｂ２を介して整流回路１０と接続可能に構成
されている。また、外箱１２には制御・開閉部に制御電
源及び遠隔テストスイッチＨを接続する端子Ｊ１、Ｊ２
が設けられている。
【００２０】図４は漏電遮断器１１本体とは別体の外箱
１２に制御・開閉部を収納して漏電遮断器１１の側部に
装着した状態を示しており、外箱１２は必要に応じて着
脱できる構成となっているため、上述の要求に対処でき
る。なお、外箱１２に収納されている制御・開閉部は図
３に示すものに限らず、図１の制御リレー６の回路であ
ってもよい。
１２に制御・開閉部を収納して漏電遮断器１１の側部に
装着した状態を示しており、外箱１２は必要に応じて着
脱できる構成となっているため、上述の要求に対処でき
る。なお、外箱１２に収納されている制御・開閉部は図
３に示すものに限らず、図１の制御リレー６の回路であ
ってもよい。
【００２１】実施例４．
図５はこの発明の漏電遮断器の遠隔テスト装置を一括テ
ストのできる回路構成にした実施例である。１１は複数
の漏電遮断器、１２は制御・開閉部が収納された外箱
で、上記各漏電遮断器１１の側部に装着されている。そ
して、各外箱１２に設けられた入力端子Ｊ１、Ｊ２を並
列に接続して、これを一つの遠隔テストスイッチＨと制
御電源１４に接続している。このような構成により、１
個の遠隔テストスイッチＨを操作することにより、複数
の漏電遮断器１１の遠隔テストを同時に実施できる。こ
のような一括テスト回路構成は制御・開閉部の出力接点
側、即ち漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２と制御入力側Ｊ
１、Ｊ２が電気的に絶縁されていることにより実現でき
るものである。
ストのできる回路構成にした実施例である。１１は複数
の漏電遮断器、１２は制御・開閉部が収納された外箱
で、上記各漏電遮断器１１の側部に装着されている。そ
して、各外箱１２に設けられた入力端子Ｊ１、Ｊ２を並
列に接続して、これを一つの遠隔テストスイッチＨと制
御電源１４に接続している。このような構成により、１
個の遠隔テストスイッチＨを操作することにより、複数
の漏電遮断器１１の遠隔テストを同時に実施できる。こ
のような一括テスト回路構成は制御・開閉部の出力接点
側、即ち漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２と制御入力側Ｊ
１、Ｊ２が電気的に絶縁されていることにより実現でき
るものである。
【００２２】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、遠隔テ
スト装置の入力側と出力側を電気的に絶縁しているた
め、遠隔テスト装置の入力側である遠隔制御線や遠隔テ
ストスイッチに漏電遮断器の線路電圧が加わることがな
く、操作、保守、点検時の安全が確保されるだけでな
く、遠隔テスト装置の制御部に定電流回路を用い、ホト
カプラを介して開閉部を制御するようにしたものでは、
定電流回路がホトカプラの駆動電圧範囲を広くするた
め、遠隔テスト装置への制御電源電圧が例えば１００Ｖ
でも２００Ｖでも、同じ遠隔テスト装置がどちらにも使
用できる。
スト装置の入力側と出力側を電気的に絶縁しているた
め、遠隔テスト装置の入力側である遠隔制御線や遠隔テ
ストスイッチに漏電遮断器の線路電圧が加わることがな
く、操作、保守、点検時の安全が確保されるだけでな
く、遠隔テスト装置の制御部に定電流回路を用い、ホト
カプラを介して開閉部を制御するようにしたものでは、
定電流回路がホトカプラの駆動電圧範囲を広くするた
め、遠隔テスト装置への制御電源電圧が例えば１００Ｖ
でも２００Ｖでも、同じ遠隔テスト装置がどちらにも使
用できる。
【００２３】また、上述のように、遠隔テスト装置の入
力側と出力側を電気的に絶縁しているため、複数の漏電
遮断器の遠隔テスト装置を並列に接続し、１個の遠隔テ
ストスイッチにより同時にテストできる。
力側と出力側を電気的に絶縁しているため、複数の漏電
遮断器の遠隔テスト装置を並列に接続し、１個の遠隔テ
ストスイッチにより同時にテストできる。
【００２４】さらにまた、漏電遮断器と遠隔テスト装置
を別体の外箱に収納し、遠隔テスト装置を漏電遮断器外
箱の外面部に必要に応じて装着するようにしたことによ
り、コストの低減を図ることができる。
を別体の外箱に収納し、遠隔テスト装置を漏電遮断器外
箱の外面部に必要に応じて装着するようにしたことによ
り、コストの低減を図ることができる。
【図１】 この発明の実施例１に係る漏電遮断器の遠隔
テスト装置を示す回路図である。
テスト装置を示す回路図である。
【図２】 この発明の実施例２に係る漏電遮断器の遠隔
テスト装置を示す回路図である。
テスト装置を示す回路図である。
【図３】 この発明の実施例３に係る漏電遮断器の遠隔
テスト装置を示す回路図である。
テスト装置を示す回路図である。
【図４】 実施例３に係る漏電遮断器の遠隔テスト装置
の外観を示す正面図である。
の外観を示す正面図である。
【図５】 この発明の実施例４に係る漏電遮断器の遠隔
テスト装置を示す回路図である。
テスト装置を示す回路図である。
【図６】 従来の漏電遮断器の遠隔テスト装置を示す回
路図である。
路図である。
Ｃ 零相変流器、Ｄ 引き外し電磁石、Ｇ 漏電テスト
スイッチ、Ｈ 遠隔テストスイッチ、Ｓ 開閉接点部、
２ 整流回路、３ 定電流回路、６ 制御リレー、６ａ
操作コイル、６ｂ 常開接点、７ サイリスタ回路、
１０ 整流回路、１１ 漏電遮断器、１２ 制御・開閉
部外箱、１３ 漏電検出回路、１４ 制御電源、１６
ホトカプラ。
スイッチ、Ｈ 遠隔テストスイッチ、Ｓ 開閉接点部、
２ 整流回路、３ 定電流回路、６ 制御リレー、６ａ
操作コイル、６ｂ 常開接点、７ サイリスタ回路、
１０ 整流回路、１１ 漏電遮断器、１２ 制御・開閉
部外箱、１３ 漏電検出回路、１４ 制御電源、１６
ホトカプラ。
─────────────────────────────────────────────────────
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(56)参考文献 特開 平６−88369（ＪＰ，Ａ)
特開 平１−303014（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−82008（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−203735（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−20565（ＪＰ，Ａ)
実開 昭59−25145（ＪＰ，Ｕ)
実開 平５−48189（ＪＰ，Ｕ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
H01H 83/02
H01H 83/04
Claims (3)
- 【請求項１】 零相変流器により線路電流の漏電等によ
るアンバランスを検出して上記線路を遮断させる引き外
し信号を出力する漏電検出回路、上記線路の疑似漏電状
態を作り、人為的に上記漏電検出回路から、上記線路を
遮断する引き外し信号を出力させる開閉手段、遠隔テス
トスイッチにより上記開閉手段を制御する制御手段を備
え、上記制御手段は定電流回路、また、上記開閉手段は
サイリスタ等を含む電気的開閉手段からなり、上記定電
流回路出力をホトカプラを介して上記開閉手段に加え上
記開閉手段の開閉を制御するようにしたことを特徴とす
る漏電遮断器の遠隔テスト装置。 - 【請求項２】 漏電検出回路と漏電テストスイッチとを
含む漏電遮断器本体と、開閉手段と制御手段とを含む制
御・開閉部とを別々の外箱に収納し、漏電遮断器本体の
外箱の外面部に制御・開閉部の外箱を取り付けるように
したことを特徴とする請求項１記載の漏電遮断器の遠隔
テスト装置。 - 【請求項３】 １個の遠隔テストスイッチに複数の制御
手段を並列に接続し、上記遠隔テストスイッチにより複
数の漏電遮断器の遠隔テストを行うようにしたことを特
徴とする請求項１または請求項２に記載の漏電遮断器の
遠隔テスト装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24169594A JP3485976B2 (ja) | 1994-10-05 | 1994-10-05 | 漏電遮断器の遠隔テスト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24169594A JP3485976B2 (ja) | 1994-10-05 | 1994-10-05 | 漏電遮断器の遠隔テスト装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08106844A JPH08106844A (ja) | 1996-04-23 |
| JP3485976B2 true JP3485976B2 (ja) | 2004-01-13 |
Family
ID=17078155
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24169594A Expired - Fee Related JP3485976B2 (ja) | 1994-10-05 | 1994-10-05 | 漏電遮断器の遠隔テスト装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3485976B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102870303A (zh) * | 2010-01-25 | 2013-01-09 | 爱迪生环球电路公司 | 断路器面板 |
| JP6173118B2 (ja) * | 2013-08-22 | 2017-08-02 | 三菱電機株式会社 | 漏電遮断器 |
| CN111384646A (zh) * | 2018-12-28 | 2020-07-07 | 上海滨丽电子科技有限公司 | 一种智能安全插座*** |
-
1994
- 1994-10-05 JP JP24169594A patent/JP3485976B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08106844A (ja) | 1996-04-23 |
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