JP3444144B2 - 反射型光電センサ及び光ディスク検知装置 - Google Patents
反射型光電センサ及び光ディスク検知装置Info
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- JP3444144B2 JP3444144B2 JP13438697A JP13438697A JP3444144B2 JP 3444144 B2 JP3444144 B2 JP 3444144B2 JP 13438697 A JP13438697 A JP 13438697A JP 13438697 A JP13438697 A JP 13438697A JP 3444144 B2 JP3444144 B2 JP 3444144B2
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は反射型光電センサ及
び光ディスク検知装置に関する。具体的にいうと、本発
明は、対象物の傾きを検知するための反射型光電センサ
と、対象光ディスクの傾きを検知する光ディスク検知装
置に関する。
び光ディスク検知装置に関する。具体的にいうと、本発
明は、対象物の傾きを検知するための反射型光電センサ
と、対象光ディスクの傾きを検知する光ディスク検知装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】図1(a)はCDやDVD等の光ディス
クの傾きを検知するための反射型光電センサ(光ディス
ク検知装置)1の構造を示す縦断面図、図1(b)は図
1(a)のA−A線断面図である。この反射型光電セン
サ1にあっては、ケース2の上面開口に凸レンズ3が装
着され、ケース2内底面に配置された遮光壁4の一方に
LEDのような発光素子5を配置し、他方に2つの受光
面6a,6bを有する2分割フォトダイオードのような
2分割受光素子6を配置している。ここで、発光素子5
と2分割受光素子6は光ディスク7の傾き検出方向(光
ディスク7の円周方向であって、これをX軸方向で示
す)に沿って配置されており、2分割受光素子6の2つ
の受光面6a,6bも傾き検出方向(X軸方向)に沿っ
て並んでいる。
クの傾きを検知するための反射型光電センサ(光ディス
ク検知装置)1の構造を示す縦断面図、図1(b)は図
1(a)のA−A線断面図である。この反射型光電セン
サ1にあっては、ケース2の上面開口に凸レンズ3が装
着され、ケース2内底面に配置された遮光壁4の一方に
LEDのような発光素子5を配置し、他方に2つの受光
面6a,6bを有する2分割フォトダイオードのような
2分割受光素子6を配置している。ここで、発光素子5
と2分割受光素子6は光ディスク7の傾き検出方向(光
ディスク7の円周方向であって、これをX軸方向で示
す)に沿って配置されており、2分割受光素子6の2つ
の受光面6a,6bも傾き検出方向(X軸方向)に沿っ
て並んでいる。
【0003】しかして、傾き検出方向と垂直なY軸方向
から見た状態(つまり、図1(a)の状態)では、発光
素子5から出射された光Lは、凸レンズ3の一方半面を
通過してコリメートされ光ディスク7に向けて斜め投射
される。光ディスク7(図では、代表的に、裏面に記録
層8を有するCDを示す)で正反射された平行光Lは凸
レンズ3の他方半面で集光され、2分割受光素子6で受
光される。
から見た状態(つまり、図1(a)の状態)では、発光
素子5から出射された光Lは、凸レンズ3の一方半面を
通過してコリメートされ光ディスク7に向けて斜め投射
される。光ディスク7(図では、代表的に、裏面に記録
層8を有するCDを示す)で正反射された平行光Lは凸
レンズ3の他方半面で集光され、2分割受光素子6で受
光される。
【0004】光ディスク7に傾きがない場合、すなわち
光ディスク7が凸レンズ3の光軸と垂直である場合に
は、2分割受光素子6上の光スポット9は、図1(b)
に示すように、2つの受光面6a,6bに均等に分布し
ているが、光ディスク7が傾くと、光ディスク7で反射
された平行光Lの光線方向が変化するので、光ディスク
7の傾きに応じて光スポット9がX軸方向に移動する。
そのため、光ディスク7に傾きがない場合には、受光面
6a,6bから出力される受光信号をV1,V2は等し
く、受光信号の差分出力V1−V2は0ボルトになる
が、光ディスク7が傾いた場合には、受光信号の差分出
力V1−V2は光ディスク7の傾きに応じて図2に示す
ように顕著に変化し、この受光信号の差分出力V1−V
2から光ディスク7の傾きを求めることができる。な
お、図2には、受光信号の和V1+V2も示している
が、これは光ディスク7の傾きによってほとんど変化し
ない。
光ディスク7が凸レンズ3の光軸と垂直である場合に
は、2分割受光素子6上の光スポット9は、図1(b)
に示すように、2つの受光面6a,6bに均等に分布し
ているが、光ディスク7が傾くと、光ディスク7で反射
された平行光Lの光線方向が変化するので、光ディスク
7の傾きに応じて光スポット9がX軸方向に移動する。
そのため、光ディスク7に傾きがない場合には、受光面
6a,6bから出力される受光信号をV1,V2は等し
く、受光信号の差分出力V1−V2は0ボルトになる
が、光ディスク7が傾いた場合には、受光信号の差分出
力V1−V2は光ディスク7の傾きに応じて図2に示す
ように顕著に変化し、この受光信号の差分出力V1−V
2から光ディスク7の傾きを求めることができる。な
お、図2には、受光信号の和V1+V2も示している
が、これは光ディスク7の傾きによってほとんど変化し
ない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような構造の反射型光電センサ1にあっては、光電セン
サ1の設置位置に誤差があったり、光ディスク7の浮き
上がり(傾きを伴わない変動)があったりすると、光デ
ィスク7の傾き検検知精度に悪影響を及ぼすという問題
があった。
ような構造の反射型光電センサ1にあっては、光電セン
サ1の設置位置に誤差があったり、光ディスク7の浮き
上がり(傾きを伴わない変動)があったりすると、光デ
ィスク7の傾き検検知精度に悪影響を及ぼすという問題
があった。
【0006】すなわち、この光電センサ1では、傾き検
知方向(X軸方向)と垂直な方向(Y軸方向)から見た
状態では、発光素子5が凸レンズ3の光軸から外れた位
置にあるので、発光素子5から出射された光Lは凸レン
ズ3を通過することによって平行光Lに変換されるもの
の、その光線方向は凸レンズ3の光軸に対して傾いてい
る。このため、図3(b)に示す距離Sのとき、傾きの
ない光ディスク7で反射した光Lによる光スポット9が
2つの受光面6a,6bに均等に分布するように設計さ
れていたとしても、光電センサ1の取付誤差などによっ
て光電センサ1と光ディスク7(記録層8)の距離が設
計距離Sよりも遠い場合には、図3(a)に示すように
光スポット9が受光面6a側に偏り、また、光電センサ
1と光ディスク7の距離が設計距離Sよりも近い場合に
は、図3(c)に示すように受光スポット9が受光面6
b側に偏ることになる。同様に、光ディスク7が傾いて
いる場合にも、光電センサ1の設置位置がずれていたり
すると、受光面6a,6b上の光スポット9の位置がX
軸方向にずれることになる。
知方向(X軸方向)と垂直な方向(Y軸方向)から見た
状態では、発光素子5が凸レンズ3の光軸から外れた位
置にあるので、発光素子5から出射された光Lは凸レン
ズ3を通過することによって平行光Lに変換されるもの
の、その光線方向は凸レンズ3の光軸に対して傾いてい
る。このため、図3(b)に示す距離Sのとき、傾きの
ない光ディスク7で反射した光Lによる光スポット9が
2つの受光面6a,6bに均等に分布するように設計さ
れていたとしても、光電センサ1の取付誤差などによっ
て光電センサ1と光ディスク7(記録層8)の距離が設
計距離Sよりも遠い場合には、図3(a)に示すように
光スポット9が受光面6a側に偏り、また、光電センサ
1と光ディスク7の距離が設計距離Sよりも近い場合に
は、図3(c)に示すように受光スポット9が受光面6
b側に偏ることになる。同様に、光ディスク7が傾いて
いる場合にも、光電センサ1の設置位置がずれていたり
すると、受光面6a,6b上の光スポット9の位置がX
軸方向にずれることになる。
【0007】このように、従来の光電センサにあって
は、光電センサの設置位置に誤差があったり、光ディス
クの浮き上がりなどがあると、受光面上における光スポ
ットの位置がずれるので、受光信号の差分出力V1−V
2が敏感に変動し、光ディスクの傾き検知精度が低下す
るという問題があった。このため光電センサの取付けに
は厳しい管理が要求されていた。
は、光電センサの設置位置に誤差があったり、光ディス
クの浮き上がりなどがあると、受光面上における光スポ
ットの位置がずれるので、受光信号の差分出力V1−V
2が敏感に変動し、光ディスクの傾き検知精度が低下す
るという問題があった。このため光電センサの取付けに
は厳しい管理が要求されていた。
【0008】本発明は叙上の従来例の欠点に鑑みてなさ
れたものであり、その目的とするところは、光電センサ
の設置位置に誤差があったり、対象物の位置が変動した
りしても対象物の傾きを計測するための信号出力の変動
を小さく抑えることができる反射型光電センサ及び光デ
ィスク検知装置を提供することにある。
れたものであり、その目的とするところは、光電センサ
の設置位置に誤差があったり、対象物の位置が変動した
りしても対象物の傾きを計測するための信号出力の変動
を小さく抑えることができる反射型光電センサ及び光デ
ィスク検知装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明にかかる反射型光
電センサは、発光素子と、発光素子から出射された光を
平行光に変換するコリメート手段と、対象物で反射して
戻ってきた平行光を集光させる集光手段と、集光手段に
より集光された光の受光位置を検出する受光素子と、前
記集光手段と前記受光素子の間に設けられていて集光手
段で集光された光を受光素子へ導くための回折格子とを
備え、当該受光素子における受光位置の変化から対象物
の傾きを検知する反射型光電センサであって、前記受光
素子に入射する光の光軸と前記受光素子により検出され
る受光位置の変化の方向とを含む平面に垂直な方向から
見て、前記コリメート手段でコリメートされた平行光の
光線方向と傾きのないときの対象物で反射した平行光の
光線方向とが平行となるようにし、前記受光素子におけ
る収差を低減させるために、前記回折格子の格子周期を
変化させていることを特徴としている。
電センサは、発光素子と、発光素子から出射された光を
平行光に変換するコリメート手段と、対象物で反射して
戻ってきた平行光を集光させる集光手段と、集光手段に
より集光された光の受光位置を検出する受光素子と、前
記集光手段と前記受光素子の間に設けられていて集光手
段で集光された光を受光素子へ導くための回折格子とを
備え、当該受光素子における受光位置の変化から対象物
の傾きを検知する反射型光電センサであって、前記受光
素子に入射する光の光軸と前記受光素子により検出され
る受光位置の変化の方向とを含む平面に垂直な方向から
見て、前記コリメート手段でコリメートされた平行光の
光線方向と傾きのないときの対象物で反射した平行光の
光線方向とが平行となるようにし、前記受光素子におけ
る収差を低減させるために、前記回折格子の格子周期を
変化させていることを特徴としている。
【0010】本発明にかかる反射型光電センサの実施態
様においては、前記受光素子を前記発光素子を挟んでそ
の両側に対称に配置し、一方の受光素子は前記回折格子
による一方の1次回折光を受光し、他方の受光素子は前
記回折格子による他方の1次回折光を受光するようにし
てもよい。
様においては、前記受光素子を前記発光素子を挟んでそ
の両側に対称に配置し、一方の受光素子は前記回折格子
による一方の1次回折光を受光し、他方の受光素子は前
記回折格子による他方の1次回折光を受光するようにし
てもよい。
【0011】また、本発明にかかる反射型光電センサの
別な実施態様においては、前記受光素子により検出され
る受光位置の変化の方向と直角な方向に沿って、異なる
波長の光を出射する複数の発光素子を配置してもよい。
別な実施態様においては、前記受光素子により検出され
る受光位置の変化の方向と直角な方向に沿って、異なる
波長の光を出射する複数の発光素子を配置してもよい。
【0012】本発明にかかる反射型光電センサのさらな
る実施態様においては、対象物により回折された1次回
折反射光が受光素子に受光されないようにしてもよい。
る実施態様においては、対象物により回折された1次回
折反射光が受光素子に受光されないようにしてもよい。
【0013】本発明にかかる光ディスク検知装置は、本
発明にかかる反射型光電センサを光ディスクの傾き検知
用に用いたことを特徴としている。
発明にかかる反射型光電センサを光ディスクの傾き検知
用に用いたことを特徴としている。
【0014】
【作用】本発明にかかる反射型光電センサにあっては、
前記受光素子に入射する光の光軸と前記受光素子により
検出される受光位置の変化の方向とを含む平面に垂直な
方向から見て、コリメート手段でコリメートされた平行
光の光線方向と傾きの発生していない状態にある対象物
で反射した平行光の光線方向とが平行となるようにして
いるから、光電センサと対象物の距離に変動があっても
対象物で反射して戻ってくる光の受光位置が変化しな
い。したがって、光電センサの設置位置に誤差があった
り、対象物の位置変動があったりしても光電センサによ
る傾き検知に影響を及ぼすことがなく、光電センサの傾
き検知精度を高くすることができる。あるいは、光電セ
ンサの設置位置精度が緩和され、光電センサの設置作業
を容易にすることができる。
前記受光素子に入射する光の光軸と前記受光素子により
検出される受光位置の変化の方向とを含む平面に垂直な
方向から見て、コリメート手段でコリメートされた平行
光の光線方向と傾きの発生していない状態にある対象物
で反射した平行光の光線方向とが平行となるようにして
いるから、光電センサと対象物の距離に変動があっても
対象物で反射して戻ってくる光の受光位置が変化しな
い。したがって、光電センサの設置位置に誤差があった
り、対象物の位置変動があったりしても光電センサによ
る傾き検知に影響を及ぼすことがなく、光電センサの傾
き検知精度を高くすることができる。あるいは、光電セ
ンサの設置位置精度が緩和され、光電センサの設置作業
を容易にすることができる。
【0015】しかし、コリメート手段でコリメートされ
た平行光の光線方向と対象物で反射した平行光の光線方
向とが平行であると、対象物で反射した光は発光素子へ
戻ってしまう。対象物で反射して戻ってきた光を受光素
子へ導くためには、回折格子を用いて戻り光の方向を変
化させればよい。 さらに、本発明の光電センサにあって
は、回折格子の格子周期を変化させることにより、受光
素子における回折格子の収差を低減させている。よっ
て、回折格子に光分岐手段としての機能とともに集光手
段としての機能を持たせることができる。
た平行光の光線方向と対象物で反射した平行光の光線方
向とが平行であると、対象物で反射した光は発光素子へ
戻ってしまう。対象物で反射して戻ってきた光を受光素
子へ導くためには、回折格子を用いて戻り光の方向を変
化させればよい。 さらに、本発明の光電センサにあって
は、回折格子の格子周期を変化させることにより、受光
素子における回折格子の収差を低減させている。よっ
て、回折格子に光分岐手段としての機能とともに集光手
段としての機能を持たせることができる。
【0016】また、本発明にかかる反射型光電センサの
実施態様にあっては、発光素子を挟んでその両側に対称
に受光素子を配置し、一方の受光素子は回折格子による
一方の1次回折光を受光し、他方の受光素子は回折格子
による他方の1次回折光を受光するようにしているの
で、受光素子の差分出力の線形性を向上させることがで
き、対象物の傾き角検出をより正確にすることができ
る。 さらに、本発明の反射型光電センサの別な実施態様
にあっては、受光素子により検出される受光位置の変化
の方向と直角な方向に沿って、異なる波長の光を出射す
る複数の発光素子を配置しているので、波長の異なる光
の、対象物による反射率を受光素子で検知することによ
り、多種類の対象物の種類を判別することができる。 ま
た、対象物によっては光を反射する際に回折光を生じる
場合があるが、このような回折光(0次回折光を除く)
が光電センサに入射すると、受光素子の出力が影響を受
け、光ディスクの傾き検出精度などが影響を受ける。従
って、本発明にかかる反射型光電センサのさらなる実施
態様においては、検知対象物により回折された1次回折
反射光が受光素子により受光されないようにしている。
実施態様にあっては、発光素子を挟んでその両側に対称
に受光素子を配置し、一方の受光素子は回折格子による
一方の1次回折光を受光し、他方の受光素子は回折格子
による他方の1次回折光を受光するようにしているの
で、受光素子の差分出力の線形性を向上させることがで
き、対象物の傾き角検出をより正確にすることができ
る。 さらに、本発明の反射型光電センサの別な実施態様
にあっては、受光素子により検出される受光位置の変化
の方向と直角な方向に沿って、異なる波長の光を出射す
る複数の発光素子を配置しているので、波長の異なる光
の、対象物による反射率を受光素子で検知することによ
り、多種類の対象物の種類を判別することができる。 ま
た、対象物によっては光を反射する際に回折光を生じる
場合があるが、このような回折光(0次回折光を除く)
が光電センサに入射すると、受光素子の出力が影響を受
け、光ディスクの傾き検出精度などが影響を受ける。従
って、本発明にかかる反射型光電センサのさらなる実施
態様においては、検知対象物により回折された1次回折
反射光が受光素子により受光されないようにしている。
【0017】本発明の光ディスク検知装置は、上記光電
センサを光ディスクの傾き検知用に用いているので、光
ディスクの傾きを検知すると、光ピックアップに信号を
出力して光ピックアップ位置等を補正させることができ
る。このとき光電センサの設置位置に誤差があったり、
光ディスクに浮き上がりがあったりしても精度よく光デ
ィスクの傾きを検知して光ピックアップ位置等を正確に
補正することができる。
センサを光ディスクの傾き検知用に用いているので、光
ディスクの傾きを検知すると、光ピックアップに信号を
出力して光ピックアップ位置等を補正させることができ
る。このとき光電センサの設置位置に誤差があったり、
光ディスクに浮き上がりがあったりしても精度よく光デ
ィスクの傾きを検知して光ピックアップ位置等を正確に
補正することができる。
【0018】
(第1の実施形態)図4(a)は本発明の一実施形態に
よる反射型光電センサ11を示す縦断面図、図4(b)
は図4(a)のBーB線断面図である。この実施形態で
は、光電センサ11は、光ディスク7の傾きを検出する
ための光ディスク検知装置として用いられている。さら
に、この光電センサ11は、光ディスク7の種類、例え
ばCD、CD−R、DVD、PDなどを判別する機能も
備えている。
よる反射型光電センサ11を示す縦断面図、図4(b)
は図4(a)のBーB線断面図である。この実施形態で
は、光電センサ11は、光ディスク7の傾きを検出する
ための光ディスク検知装置として用いられている。さら
に、この光電センサ11は、光ディスク7の種類、例え
ばCD、CD−R、DVD、PDなどを判別する機能も
備えている。
【0019】まず、図4(a)(b)に従って光電セン
サ11の構造を説明する。この光電センサ11にあって
は、略円筒状をしたケース12の上面開口に凸レンズ1
3を装着してあり、凸レンズ13の平坦面(下面)に回
折格子14を一体成形している。ケース12の底面開口
に取着された回路基板15の上面には、赤色光Lrを出
射する赤色発光素子16(例えば、赤色LED)と、赤
外光Liを出射する赤外発光素子17(例えば、赤外光
LED)と、2分割受光素子18(例えば、2分割フォ
トダイオード)とが実装されている。凸レンズ13と発
光素子16,17及び2分割受光素子18との距離は、
凸レンズ13の焦点距離とほぼ等しくなっている。発光
素子16,17と2分割受光素子18の間は、回路基板
15の上面に設けられた遮光壁20によって仕切られて
おり、発光素子16,17と2分割受光素子18は透明
なモールド樹脂21によって封止されている。
サ11の構造を説明する。この光電センサ11にあって
は、略円筒状をしたケース12の上面開口に凸レンズ1
3を装着してあり、凸レンズ13の平坦面(下面)に回
折格子14を一体成形している。ケース12の底面開口
に取着された回路基板15の上面には、赤色光Lrを出
射する赤色発光素子16(例えば、赤色LED)と、赤
外光Liを出射する赤外発光素子17(例えば、赤外光
LED)と、2分割受光素子18(例えば、2分割フォ
トダイオード)とが実装されている。凸レンズ13と発
光素子16,17及び2分割受光素子18との距離は、
凸レンズ13の焦点距離とほぼ等しくなっている。発光
素子16,17と2分割受光素子18の間は、回路基板
15の上面に設けられた遮光壁20によって仕切られて
おり、発光素子16,17と2分割受光素子18は透明
なモールド樹脂21によって封止されている。
【0020】回路基板15上の赤色発光素子16と赤外
発光素子17は、凸レンズ13の光軸(この光軸と一致
するようにZ軸を定める)を通り傾き検知方向(X軸方
向)と直交する方向(Y軸方向)に延びた線上に近接さ
せて配置されている。また、2分割受光素子18は、両
発光素子16,17に対してX軸方向に配置され、2分
割受光素子18の2つの受光面18a,18bもX軸方
向に並ぶように配列されている。図4(b)では、赤色
発光素子16と赤外発光素子17は凸レンズ13の光軸
を通るX軸に関して対称な位置に配置されている。もっ
とも、発光素子16,17のY軸方向の位置は任意であ
って(光軸の近傍が好ましい)、例えば、いずれかの発
光素子が光軸上にあってもよい。上記回折格子14は、
Y軸方向に一様で、X軸方向に変化するパターンとなっ
ている。なお、回折格子14は凸レンズ13の下面に一
体成形することによってコストを安価にできる。
発光素子17は、凸レンズ13の光軸(この光軸と一致
するようにZ軸を定める)を通り傾き検知方向(X軸方
向)と直交する方向(Y軸方向)に延びた線上に近接さ
せて配置されている。また、2分割受光素子18は、両
発光素子16,17に対してX軸方向に配置され、2分
割受光素子18の2つの受光面18a,18bもX軸方
向に並ぶように配列されている。図4(b)では、赤色
発光素子16と赤外発光素子17は凸レンズ13の光軸
を通るX軸に関して対称な位置に配置されている。もっ
とも、発光素子16,17のY軸方向の位置は任意であ
って(光軸の近傍が好ましい)、例えば、いずれかの発
光素子が光軸上にあってもよい。上記回折格子14は、
Y軸方向に一様で、X軸方向に変化するパターンとなっ
ている。なお、回折格子14は凸レンズ13の下面に一
体成形することによってコストを安価にできる。
【0021】しかして、発光素子16,17から光(赤
色光Lr、赤外光Li)が出射されると、回折格子14
を通過した光(0次回折光)は凸レンズ13によってコ
リメートされて平行光となって光ディスク7に投射され
る。光ディスク7の記録層8で正反射して戻ってきた平
行光は、凸レンズ13で集光された後、回折格子14に
よりX軸方向へ回折され、その1次回折光が2分割受光
素子18で受光される。
色光Lr、赤外光Li)が出射されると、回折格子14
を通過した光(0次回折光)は凸レンズ13によってコ
リメートされて平行光となって光ディスク7に投射され
る。光ディスク7の記録層8で正反射して戻ってきた平
行光は、凸レンズ13で集光された後、回折格子14に
よりX軸方向へ回折され、その1次回折光が2分割受光
素子18で受光される。
【0022】図4(a)のように光電センサ11をY軸
方向から見た状態では、赤色発光素子16及び赤外発光
素子17は凸レンズ13の光軸上に位置しているから、
凸レンズ13を通過した平行光は凸レンズ13の光軸と
平行な平行光として光ディスク7に照射され、傾きのな
い光ディスク7で反射された平行光は凸レンズ13の光
軸と平行に凸レンズ13へ戻るが、赤色光Lrと赤外光
Liとでは回折格子14の回折角が異なるので、赤色光
Lrの光スポット19rと赤外光Liの光スポット19
iとでは、受光面18a,18b上で異なる位置に結像
される。
方向から見た状態では、赤色発光素子16及び赤外発光
素子17は凸レンズ13の光軸上に位置しているから、
凸レンズ13を通過した平行光は凸レンズ13の光軸と
平行な平行光として光ディスク7に照射され、傾きのな
い光ディスク7で反射された平行光は凸レンズ13の光
軸と平行に凸レンズ13へ戻るが、赤色光Lrと赤外光
Liとでは回折格子14の回折角が異なるので、赤色光
Lrの光スポット19rと赤外光Liの光スポット19
iとでは、受光面18a,18b上で異なる位置に結像
される。
【0023】(回折格子のパターン)凸レンズ13の下
面に設けられている回折格子14は、2分割受光素子1
8上に結ばれる光スポット19rにおけるレンズ収差の
影響を低減するため、次の(1)式で示すように、格子
周期をX軸方向で緩やかに変化させている。
面に設けられている回折格子14は、2分割受光素子1
8上に結ばれる光スポット19rにおけるレンズ収差の
影響を低減するため、次の(1)式で示すように、格子
周期をX軸方向で緩やかに変化させている。
【0024】
【数1】
【0025】ここで、図6に示すように、Λは凸レンズ
13の光軸(Z軸)からのX軸方向へ距離γの位置P0
における回折周期、λrは赤色光Lrの波長、fは2分
割受光素子18と凸レンズ13との距離(=凸レンズ1
3の焦点距離)、Δxは凸レンズ13の光軸と集光点Q
1(受光面18a,18bの境界)とのX軸方向の距離
である。
13の光軸(Z軸)からのX軸方向へ距離γの位置P0
における回折周期、λrは赤色光Lrの波長、fは2分
割受光素子18と凸レンズ13との距離(=凸レンズ1
3の焦点距離)、Δxは凸レンズ13の光軸と集光点Q
1(受光面18a,18bの境界)とのX軸方向の距離
である。
【0026】(1)式について簡単に説明する。回折格
子14が設けられていない場合、凸レンズ13を通過し
た赤色光Lrはその焦点Q0に結像されるから、位置P
0(Z軸から距離γの点)を通過して焦点Q0に達した
赤色光Lrと位置P0と1格子周期分(Λ)だけずれた
位置P1を通過して焦点Q0に達した赤色光Lrの位相
は等しい。ここで、回折格子14上の位置P0と集光点
Q1の光路長(P0Q1)を考えると、位置P0と凸レ
ンズ13の焦点Q0の光路長(P0Q0)からの増分は
(P0Q1)−(P0Q0)となる。同様に、回折格子
14上の位置P1と集光点Q1の光路長(P1Q1)を
考えると、位置P1と凸レンズ13の焦点Q0の光路長
(P1Q0)からの増分は(P1Q1)−(P1Q0)
となる。従って、回折格子14上の位置P 0 を通過して
集光点Q1に至る赤色光rと位置P1を通過して集光点
Q1に至る赤色光rの位相差に相当する光路長は、 [(P0Q1)−(P0Q0)]−[(P1Q1)−(P1Q0)] =[(P0Q1)−(P1Q1)]−[(P0Q0)−(P1Q0)] …(2) となる。位置P0から見た位置Q0及び位置Q1の方向
をそれぞれθ、θ´とすると、 (P0Q0)−(P1Q0)=Λ・sinθ (P0Q1)−(P1Q1)=Λ・sinθ´ であるから、凸レンズ13によって位置Q0に結像され
るべき光が回折格子14によって回折されることによっ
て1次回折光が位置Q1に結像されるようにするために
は、 Λ・sinθ´−Λ・sinθ=λr あるいは、 Λ=λr/(sinθ´−sinθ) …(3) となるように回折格子14の格子周期Λを距離γに応じ
て変化させればよいことが分かる。この(3)式は上記
(1)式のように書くことができる。
子14が設けられていない場合、凸レンズ13を通過し
た赤色光Lrはその焦点Q0に結像されるから、位置P
0(Z軸から距離γの点)を通過して焦点Q0に達した
赤色光Lrと位置P0と1格子周期分(Λ)だけずれた
位置P1を通過して焦点Q0に達した赤色光Lrの位相
は等しい。ここで、回折格子14上の位置P0と集光点
Q1の光路長(P0Q1)を考えると、位置P0と凸レ
ンズ13の焦点Q0の光路長(P0Q0)からの増分は
(P0Q1)−(P0Q0)となる。同様に、回折格子
14上の位置P1と集光点Q1の光路長(P1Q1)を
考えると、位置P1と凸レンズ13の焦点Q0の光路長
(P1Q0)からの増分は(P1Q1)−(P1Q0)
となる。従って、回折格子14上の位置P 0 を通過して
集光点Q1に至る赤色光rと位置P1を通過して集光点
Q1に至る赤色光rの位相差に相当する光路長は、 [(P0Q1)−(P0Q0)]−[(P1Q1)−(P1Q0)] =[(P0Q1)−(P1Q1)]−[(P0Q0)−(P1Q0)] …(2) となる。位置P0から見た位置Q0及び位置Q1の方向
をそれぞれθ、θ´とすると、 (P0Q0)−(P1Q0)=Λ・sinθ (P0Q1)−(P1Q1)=Λ・sinθ´ であるから、凸レンズ13によって位置Q0に結像され
るべき光が回折格子14によって回折されることによっ
て1次回折光が位置Q1に結像されるようにするために
は、 Λ・sinθ´−Λ・sinθ=λr あるいは、 Λ=λr/(sinθ´−sinθ) …(3) となるように回折格子14の格子周期Λを距離γに応じ
て変化させればよいことが分かる。この(3)式は上記
(1)式のように書くことができる。
【0027】上記(1)で記述されるように回折格子1
4の周期を変化させると、凸レンズ13の収差を低減
し、回折格子14で回折された赤色光Lrの1次回折光
が受光面18a,18b上に集光するように補正され
る。従って、このように回折格子14の格子周期を変化
させれば、回折格子14に光分岐手段としての機能とと
もに集光手段としての機能も持たせることができる。た
だし、格子周期の変化は、凸レンズ13によるコリメー
ト性を損ねない程度に、緩やかにしておくのが望まし
い。
4の周期を変化させると、凸レンズ13の収差を低減
し、回折格子14で回折された赤色光Lrの1次回折光
が受光面18a,18b上に集光するように補正され
る。従って、このように回折格子14の格子周期を変化
させれば、回折格子14に光分岐手段としての機能とと
もに集光手段としての機能も持たせることができる。た
だし、格子周期の変化は、凸レンズ13によるコリメー
ト性を損ねない程度に、緩やかにしておくのが望まし
い。
【0028】(光ディスクによる回折光の処理)また、
光ディスク7の記録層8には一定ピッチの凹凸(トラッ
クピッチ)が存在するため、ここへ照射された光は光デ
ィスク7によって反射される際にも回折される。しか
し、この光電センサ11では、光ディスク7で反射した
0次回折反射光だけを光電センサ11で受光する必要が
あるので、光ディスク7による1次回折反射光等は光電
センサ11に入射しないようにする必要がある。そのた
めには、光ディスク7による1次回折反射光の回折角を
α、光ディスク7の記録層8との距離をS、凸レンズ1
3の直径をDとするとき、図7から分かるように、 tanα > D/S とすればよい。
光ディスク7の記録層8には一定ピッチの凹凸(トラッ
クピッチ)が存在するため、ここへ照射された光は光デ
ィスク7によって反射される際にも回折される。しか
し、この光電センサ11では、光ディスク7で反射した
0次回折反射光だけを光電センサ11で受光する必要が
あるので、光ディスク7による1次回折反射光等は光電
センサ11に入射しないようにする必要がある。そのた
めには、光ディスク7による1次回折反射光の回折角を
α、光ディスク7の記録層8との距離をS、凸レンズ1
3の直径をDとするとき、図7から分かるように、 tanα > D/S とすればよい。
【0029】ここで、1次回折反射光の回折角αは、光
ディスク7のトラックピッチをΛd、赤色光Lr(波長
660nm)又は赤外光Li(850nm)の波長をλ
とすれば、 sinα=λ/Λd で決まる。種々の光ディスク7(CD、CD−R、DV
D)のトラックピッチΛdの値と、赤色光Lrに対する
それぞれの1次回折反射光の回折角(1次回折角とい
う)を表1に示す。
ディスク7のトラックピッチをΛd、赤色光Lr(波長
660nm)又は赤外光Li(850nm)の波長をλ
とすれば、 sinα=λ/Λd で決まる。種々の光ディスク7(CD、CD−R、DV
D)のトラックピッチΛdの値と、赤色光Lrに対する
それぞれの1次回折反射光の回折角(1次回折角とい
う)を表1に示す。
【0030】
【表1】
【0031】(光ディスクの傾き検出)この光電センサ
11は、凸レンズ13の光軸が、傾きのない正規の状態
で装着されている光ディスク7と垂直となるようにして
光ディスク装置などに設置され、光ディスク7の傾き検
出には赤色光Lrのみを用いる。そのため、Y軸方向か
ら見たときに、光ディスク7で反射して凸レンズ13の
光軸と平行に戻ってきた赤色平行光が2分割受光素子1
8の2つの受光面18a,18b上に均等に分布するよ
う(つまり、両受光面18a,18bの受光信号Vr
1,Vr2が等しくなるよう)受光面18a,18bの
境界を配置している。
11は、凸レンズ13の光軸が、傾きのない正規の状態
で装着されている光ディスク7と垂直となるようにして
光ディスク装置などに設置され、光ディスク7の傾き検
出には赤色光Lrのみを用いる。そのため、Y軸方向か
ら見たときに、光ディスク7で反射して凸レンズ13の
光軸と平行に戻ってきた赤色平行光が2分割受光素子1
8の2つの受光面18a,18b上に均等に分布するよ
う(つまり、両受光面18a,18bの受光信号Vr
1,Vr2が等しくなるよう)受光面18a,18bの
境界を配置している。
【0032】しかして、この光電センサ11にあって
は、光ディスク7が傾いていない場合には、Y軸方向か
ら見ると、赤色発光素子16から出射された赤色光Lr
は凸レンズ13によって平行光に変換され、凸レンズ1
3の光軸と平行な平行光として光ディスク7に照射され
る。そして、光ディスク7で反射した赤色光Lrは、再
び凸レンズ13の光軸と平行な平行光として凸レンズ1
3に戻り、凸レンズ13によって集光されると共に回折
格子14で回折され、その1次回折光による光スポット
19rが2つの受光面18a,18bの境界に結像す
る。従って、2つの受光面18a,18bからの受光信
号Vr1,Vr2は等しくなる。
は、光ディスク7が傾いていない場合には、Y軸方向か
ら見ると、赤色発光素子16から出射された赤色光Lr
は凸レンズ13によって平行光に変換され、凸レンズ1
3の光軸と平行な平行光として光ディスク7に照射され
る。そして、光ディスク7で反射した赤色光Lrは、再
び凸レンズ13の光軸と平行な平行光として凸レンズ1
3に戻り、凸レンズ13によって集光されると共に回折
格子14で回折され、その1次回折光による光スポット
19rが2つの受光面18a,18bの境界に結像す
る。従って、2つの受光面18a,18bからの受光信
号Vr1,Vr2は等しくなる。
【0033】これに対し、光ディスク7が傾いている場
合には、図5(a)又は図5(b)に示すように、光デ
ィスク7で反射した赤色光Lrは、凸レンズ13の光軸
に対して傾いた平行光として戻ってくるので、1次回折
光による光スポット19rが2つの受光面18a,18
bの境界からX軸方向にずれ、2つの受光面18a,1
8bの受光信号Vr1,Vr2が変化する。従って、受
光信号の差分Vr1−Vr2、比Vr1/Vr2、ある
いは(Vr1−Vr2)/(Vr1+Vr2)などから
光ディスク7の傾きを求めることができる。
合には、図5(a)又は図5(b)に示すように、光デ
ィスク7で反射した赤色光Lrは、凸レンズ13の光軸
に対して傾いた平行光として戻ってくるので、1次回折
光による光スポット19rが2つの受光面18a,18
bの境界からX軸方向にずれ、2つの受光面18a,1
8bの受光信号Vr1,Vr2が変化する。従って、受
光信号の差分Vr1−Vr2、比Vr1/Vr2、ある
いは(Vr1−Vr2)/(Vr1+Vr2)などから
光ディスク7の傾きを求めることができる。
【0034】図8は、2つの受光面18a,18bから
出力される赤色光Lrによる受光信号Vr1、Vr2と
その差分出力Vr1−Vr2が、光ディスク7の傾きに
よって変化する様子をシミュレーションにより求めた図
である。この図からも分かるように、差分出力Vr1−
Vr2は光ディスク7の傾きによって顕著に変化するの
で、この差分出力Vr1−Vr2から精度よく光ディス
ク7の傾きを検出することができる。
出力される赤色光Lrによる受光信号Vr1、Vr2と
その差分出力Vr1−Vr2が、光ディスク7の傾きに
よって変化する様子をシミュレーションにより求めた図
である。この図からも分かるように、差分出力Vr1−
Vr2は光ディスク7の傾きによって顕著に変化するの
で、この差分出力Vr1−Vr2から精度よく光ディス
ク7の傾きを検出することができる。
【0035】ここで、光ディスク7が傾いていない場合
には、赤色平行光は凸レンズ13の光軸と平行に出射さ
れ、その光軸と平行な平行光として戻ってくるから、光
電センサ11と光ディスク7との距離は受光面18a,
18b上における光スポット19rの位置に影響せず、
光電センサ11の設置位置に誤差があったり、光ディス
ク7の位置に変動があったりしても光ディスク7の傾き
検知精度が悪くなることがない。また、光ディスクが傾
いている場合も、光ディスクの傾きはせいぜい±2゜程
度の小さな量であるから、光電センサ11と光ディスク
7の距離は光スポット19rの位置にあまり影響せず、
光電センサ11の設置位置に誤差があったり、光ディス
ク7の位置に変動があったりしても光ディスク7の傾き
検知精度の低下を抑えることができる。
には、赤色平行光は凸レンズ13の光軸と平行に出射さ
れ、その光軸と平行な平行光として戻ってくるから、光
電センサ11と光ディスク7との距離は受光面18a,
18b上における光スポット19rの位置に影響せず、
光電センサ11の設置位置に誤差があったり、光ディス
ク7の位置に変動があったりしても光ディスク7の傾き
検知精度が悪くなることがない。また、光ディスクが傾
いている場合も、光ディスクの傾きはせいぜい±2゜程
度の小さな量であるから、光電センサ11と光ディスク
7の距離は光スポット19rの位置にあまり影響せず、
光電センサ11の設置位置に誤差があったり、光ディス
ク7の位置に変動があったりしても光ディスク7の傾き
検知精度の低下を抑えることができる。
【0036】なお、2分割受光素子18は、傾き最大値
(±2゜と想定する)だけ光ディスク7が傾いたのとき
でも赤色光Lr及び赤外光Liの光スポット19r,1
9iが受光面18a,18b内に納まって受光信号の和
V1+V2がほぼ一定となるだけのX軸方向の幅を有し
ている。
(±2゜と想定する)だけ光ディスク7が傾いたのとき
でも赤色光Lr及び赤外光Liの光スポット19r,1
9iが受光面18a,18b内に納まって受光信号の和
V1+V2がほぼ一定となるだけのX軸方向の幅を有し
ている。
【0037】(光ディスク種類判別)この光電センサ1
1を用いて光ディスク7の種類判別を行なう場合には、
赤色光Lr(波長λr=660nm)を用いた場合の2
分割受光素子18からの受光信号Vr(=両受光面18
a,18bからの受光信号Vr1,Vr2の和Vr1+
Vr2)と、赤外光Li(波長λi=850nm)を用
いた場合の2分割受光素子18からの受光信号Vi(=
両受光面18a,18bからの受光信号Vi1,Vi2
の和Vi1+vi2)の比Vr/Viもしくは差分Vr
−Viに基づいて判別する。
1を用いて光ディスク7の種類判別を行なう場合には、
赤色光Lr(波長λr=660nm)を用いた場合の2
分割受光素子18からの受光信号Vr(=両受光面18
a,18bからの受光信号Vr1,Vr2の和Vr1+
Vr2)と、赤外光Li(波長λi=850nm)を用
いた場合の2分割受光素子18からの受光信号Vi(=
両受光面18a,18bからの受光信号Vi1,Vi2
の和Vi1+vi2)の比Vr/Viもしくは差分Vr
−Viに基づいて判別する。
【0038】光ディスク7に光を照射して相対反射率を
測定すると、その相対反射率は図9に示すように光の波
長によって変化するが、その変化の仕方はCD−RO
M、CD−R、DVD−ROM、PDによって異なって
いる。従って、判別しようとするディスク種類に応じて
相対反射率が最も異なっている波長領域の光を光ディス
ク7に照射し、2分割受光素子18から出力される受光
信号レベルを調べることによりディスク種類を判別する
ことができる。しかし、ある特定波長における反射率だ
けでディスク種類判別しようとすると、判別したい光デ
ィスク7の種類が増えた場合には、判別が困難になる。
例えば、赤色光Lrだけでは、図9から分かるように、
CD−ROMとDVD−ROMとの判別が困難である。
測定すると、その相対反射率は図9に示すように光の波
長によって変化するが、その変化の仕方はCD−RO
M、CD−R、DVD−ROM、PDによって異なって
いる。従って、判別しようとするディスク種類に応じて
相対反射率が最も異なっている波長領域の光を光ディス
ク7に照射し、2分割受光素子18から出力される受光
信号レベルを調べることによりディスク種類を判別する
ことができる。しかし、ある特定波長における反射率だ
けでディスク種類判別しようとすると、判別したい光デ
ィスク7の種類が増えた場合には、判別が困難になる。
例えば、赤色光Lrだけでは、図9から分かるように、
CD−ROMとDVD−ROMとの判別が困難である。
【0039】これに対し、全体としてばらつきの小さい
波長領域、すなわち赤外光Liを参照波長領域とし、ば
らつきの比較的大きな波長領域、すなわち赤色光Lrを
基準波長領域とし、参照波長領域での受光信号Viと基
準波長領域での受光信号Vrの比Vr/ViまたはVr
−Viを参照に基づけば、単波長の光だけでは判別する
ことができないようなディスク種類の判別も確実に行な
えるようになる。表2は、CD−ROM、CD−R、P
D、DVD−ROMを用いて比Vr/Viと差分Vr−
Viを求めた結果を表わしている。なお、表2のVr−
Viの欄の値は、DVDの場合を1とする相対値で示し
ている。
波長領域、すなわち赤外光Liを参照波長領域とし、ば
らつきの比較的大きな波長領域、すなわち赤色光Lrを
基準波長領域とし、参照波長領域での受光信号Viと基
準波長領域での受光信号Vrの比Vr/ViまたはVr
−Viを参照に基づけば、単波長の光だけでは判別する
ことができないようなディスク種類の判別も確実に行な
えるようになる。表2は、CD−ROM、CD−R、P
D、DVD−ROMを用いて比Vr/Viと差分Vr−
Viを求めた結果を表わしている。なお、表2のVr−
Viの欄の値は、DVDの場合を1とする相対値で示し
ている。
【0040】
【表2】
【0041】表2から分かるように、赤色光Lrと赤外
光Liの受光信号の比Vr/Viまたは差分Vr−Vi
に基づけば、赤色光Lrだけでは判別が困難であったC
D−RとDVD−ROMの判別も精度よく行なえること
が分かる。
光Liの受光信号の比Vr/Viまたは差分Vr−Vi
に基づけば、赤色光Lrだけでは判別が困難であったC
D−RとDVD−ROMの判別も精度よく行なえること
が分かる。
【0042】また、2つの波長における受光信号の比や
差を用いるようにすれば、信号処理回路におけるゲイン
の変動やノイズの影響を低減できる利点もある。
差を用いるようにすれば、信号処理回路におけるゲイン
の変動やノイズの影響を低減できる利点もある。
【0043】ここでは、赤色光Lrと赤外光Liの2波
長の光を用いた場合を説明したが、判別しようとするデ
ィスク種類がより多くなった場合や、種類判別が困難な
場合には、使用する光波長数を3種類以上に増やせば、
判別精度を向上させることができる。
長の光を用いた場合を説明したが、判別しようとするデ
ィスク種類がより多くなった場合や、種類判別が困難な
場合には、使用する光波長数を3種類以上に増やせば、
判別精度を向上させることができる。
【0044】また、図10に示すように、赤色光Lrと
赤外光Liによる各受光面18a,18bからの受光信
号比Vr1,Vr2,Vi1,Vi2は、個々には光デ
ィスク7の傾きによって大きく変化するが、通常の光デ
ィスク7の傾き範囲(±4゜)内では、2分割受光素子
18の受光信号Vr=Vr1+Vr2もVi=Vi1+
Vi2も光ディスク7の傾きに対する変動は小さい(±
2゜では、変動率±7%)。従って、光ディスク7の傾
きに影響されることなく、精度よく光ディスク7の種類
判別を行なうことができる。
赤外光Liによる各受光面18a,18bからの受光信
号比Vr1,Vr2,Vi1,Vi2は、個々には光デ
ィスク7の傾きによって大きく変化するが、通常の光デ
ィスク7の傾き範囲(±4゜)内では、2分割受光素子
18の受光信号Vr=Vr1+Vr2もVi=Vi1+
Vi2も光ディスク7の傾きに対する変動は小さい(±
2゜では、変動率±7%)。従って、光ディスク7の傾
きに影響されることなく、精度よく光ディスク7の種類
判別を行なうことができる。
【0045】(処理回路)図11は同上の光電センサ1
1の信号処理回路22の構成を示すブロック図である
(光学系については、異なる方向から見た状態を重複し
て表わしている)。同期回路23はτの周期で赤色発光
素子駆動回路24へトリガ信号を出力し、赤色発光素子
駆動回路24は同期回路23からトリガ信号を受け取る
と、Δtのパルス幅で赤色発光素子16に駆動電流26
を流して赤色発光素子16から赤色光Lrを出射させ
る。また、同期回路23はτの周期で赤外発光素子駆動
回路25へトリガ信号を出力し、赤外発光素子駆動回路
25は同期回路23からトリガ信号を受け取ると、Δt
のパルス幅で赤外発光素子17に駆動電流27を流して
赤外発光素子17から赤外光Liを出射させる。従っ
て、光電センサ11から光ディスク7に向けて、赤色光
Lrと赤外光Liとが発光タイミングをずらせて出射さ
れる。
1の信号処理回路22の構成を示すブロック図である
(光学系については、異なる方向から見た状態を重複し
て表わしている)。同期回路23はτの周期で赤色発光
素子駆動回路24へトリガ信号を出力し、赤色発光素子
駆動回路24は同期回路23からトリガ信号を受け取る
と、Δtのパルス幅で赤色発光素子16に駆動電流26
を流して赤色発光素子16から赤色光Lrを出射させ
る。また、同期回路23はτの周期で赤外発光素子駆動
回路25へトリガ信号を出力し、赤外発光素子駆動回路
25は同期回路23からトリガ信号を受け取ると、Δt
のパルス幅で赤外発光素子17に駆動電流27を流して
赤外発光素子17から赤外光Liを出射させる。従っ
て、光電センサ11から光ディスク7に向けて、赤色光
Lrと赤外光Liとが発光タイミングをずらせて出射さ
れる。
【0046】光ディスク7で反射された赤色光Lr又は
赤外光Liは2分割受光素子18の受光面18a,18
b上に結像され、受光面18a,18bからは受光量に
応じた光電流が出力される。光電流は増幅回路28,2
9によって受光量と比例した受光信号(電圧信号)Vr
1又はVi1,Vr2又はVi2に変換される。増幅回
路28,29から受光信号Vr1又はVi1,Vr2又
はVi2が出力されると、差分回路30からは差分出力
Vr1−Vr2とVi1−Vi2が交互に出力される。
同期信号23のタイミング信号は傾き検出回路31にも
送出されており、傾き検出回路31は同期回路23から
赤色発光のトリガ信号を受信すると、そのときの差分出
力Vr1−Vr2に基づいて光ディスク7の傾きを求
め、求めた傾き検出信号を出力する。
赤外光Liは2分割受光素子18の受光面18a,18
b上に結像され、受光面18a,18bからは受光量に
応じた光電流が出力される。光電流は増幅回路28,2
9によって受光量と比例した受光信号(電圧信号)Vr
1又はVi1,Vr2又はVi2に変換される。増幅回
路28,29から受光信号Vr1又はVi1,Vr2又
はVi2が出力されると、差分回路30からは差分出力
Vr1−Vr2とVi1−Vi2が交互に出力される。
同期信号23のタイミング信号は傾き検出回路31にも
送出されており、傾き検出回路31は同期回路23から
赤色発光のトリガ信号を受信すると、そのときの差分出
力Vr1−Vr2に基づいて光ディスク7の傾きを求
め、求めた傾き検出信号を出力する。
【0047】また、増幅回路28,29から受光信号V
r1又はVi1,Vr2又はVi2が出力されると、図
12に示すように、加算回路32からは受光信号Vr=
Vr1+Vr2とVi=Vi1+Vi2が交互に出力さ
れる。同期回路23のトリガ信号は差分回路(又は、微
分回路)33にも送出されており、差分回路(又は、微
分回路)33は同期回路23から赤色光発光のトリガ信
号を受信したときの受光信号Vrと赤外光発光のトリガ
信号を受信したときの受光信号Viとから差分Vr−V
i(又は、比Vr/Vi)を演算する。そして、種類判
別回路34は、差分回路(又は、微分回路)33からの
出力Vr−Vi(又は、Vr/Vi)に基づいて光ディ
スク7の種類を判別し、判別したディスク種類情報を種
類判別信号として出力する。
r1又はVi1,Vr2又はVi2が出力されると、図
12に示すように、加算回路32からは受光信号Vr=
Vr1+Vr2とVi=Vi1+Vi2が交互に出力さ
れる。同期回路23のトリガ信号は差分回路(又は、微
分回路)33にも送出されており、差分回路(又は、微
分回路)33は同期回路23から赤色光発光のトリガ信
号を受信したときの受光信号Vrと赤外光発光のトリガ
信号を受信したときの受光信号Viとから差分Vr−V
i(又は、比Vr/Vi)を演算する。そして、種類判
別回路34は、差分回路(又は、微分回路)33からの
出力Vr−Vi(又は、Vr/Vi)に基づいて光ディ
スク7の種類を判別し、判別したディスク種類情報を種
類判別信号として出力する。
【0048】(第2の実施形態)図13は本発明の別な
実施形態による反射型光電センサ41の構造を示す断面
図である。この光電センサ41にあっては、ケース12
の上面開口にフレネルレンズ42を配置して出射光をコ
リメートし、入射光を集光させるようにしている。発光
素子及び2分割受光素子18とフレネルレンズ42との
中間には、屈折率の大きな透明樹脂材料を平板状に成形
した導光板43が配設されており、フレネルレンズと対
向する導光板43上面には回折格子を設け、2分割受光
素子18と対向する導光板43の下面には、プリズムを
設けてある。
実施形態による反射型光電センサ41の構造を示す断面
図である。この光電センサ41にあっては、ケース12
の上面開口にフレネルレンズ42を配置して出射光をコ
リメートし、入射光を集光させるようにしている。発光
素子及び2分割受光素子18とフレネルレンズ42との
中間には、屈折率の大きな透明樹脂材料を平板状に成形
した導光板43が配設されており、フレネルレンズと対
向する導光板43上面には回折格子を設け、2分割受光
素子18と対向する導光板43の下面には、プリズムを
設けてある。
【0049】導光板43のレンズ側には、光ディスク7
からの反射光を導光板43へ導くための回折格子14が
導光板43と一体成形により作製されている。導光板4
3から受光素子へは、プリズム44を介して光が導かれ
るようになっている。
からの反射光を導光板43へ導くための回折格子14が
導光板43と一体成形により作製されている。導光板4
3から受光素子へは、プリズム44を介して光が導かれ
るようになっている。
【0050】しかして、この光電センサ41にあって
も、Y軸方向から見た状態では、発光素子16,17か
ら出た赤色光Lr及び赤外光Liは、フレネルレンズ4
2でコリメートされて平行光として光ディスク7に照射
される。光ディスク7で反射して戻ってきた平行光はフ
レネルレンズ42で集光されながら回折格子14に入射
する。回折格子14を通過する際に生じた1次回折光は
導光板43内部を全反射しながら伝搬し、プリズム44
で屈折することによって導光板43から外部へ出て2分
割受光素子18で受光される。
も、Y軸方向から見た状態では、発光素子16,17か
ら出た赤色光Lr及び赤外光Liは、フレネルレンズ4
2でコリメートされて平行光として光ディスク7に照射
される。光ディスク7で反射して戻ってきた平行光はフ
レネルレンズ42で集光されながら回折格子14に入射
する。回折格子14を通過する際に生じた1次回折光は
導光板43内部を全反射しながら伝搬し、プリズム44
で屈折することによって導光板43から外部へ出て2分
割受光素子18で受光される。
【0051】この実施形態にあっても、光ディスク7の
傾き検出は、図14(a)(b)に示すように、赤色光
Lrの光スポット19rの受光位置の変化、すなわち差
分出力Vr1−Vr2から求められる。また、光ディス
ク7の種類判別は、赤色光Lrの受光量と赤外光Liの
受光量、すなわち受光信号の比Vr/Viや差Vr−V
iから判断される。
傾き検出は、図14(a)(b)に示すように、赤色光
Lrの光スポット19rの受光位置の変化、すなわち差
分出力Vr1−Vr2から求められる。また、光ディス
ク7の種類判別は、赤色光Lrの受光量と赤外光Liの
受光量、すなわち受光信号の比Vr/Viや差Vr−V
iから判断される。
【0052】この実施形態では、薄肉化が可能なフレネ
ルレンズ42を用いることによって光電センサ41の高
さを低くしており、特に、発光素子16,17と導光板
43の距離を近づけると、フレネルレンズ42のレンズ
径も小さくでき、光電センサ41の小型化にも寄与でき
る。
ルレンズ42を用いることによって光電センサ41の高
さを低くしており、特に、発光素子16,17と導光板
43の距離を近づけると、フレネルレンズ42のレンズ
径も小さくでき、光電センサ41の小型化にも寄与でき
る。
【0053】(第3の実施形態)第1又は第2の実施形
態のように、片側だけに2分割受光素子18を配置し、
凸レンズ13やフレネルレンズ42の裏面側の回折格子
14で光線方向を偏向させる方法では、レンズの収差に
よる回折格子14への入射角偏差、回折格子14の入出
射角特性、さらに光ディスク7が傾いた場合の凸レンズ
13又はフレネルレンズ42への入射光軸の変位などの
原因により、2分割受光素子18の差分出力比はきれい
な線形とはなりにくい(図8参照)。ここで、回折格子
14の入出射角特性とは、回折格子14への入射角θa
と出射角θbとが、図15及び図16[λは光の波長、
Λは回折格子14の格子周期]に示すように、非対称と
なるものである。
態のように、片側だけに2分割受光素子18を配置し、
凸レンズ13やフレネルレンズ42の裏面側の回折格子
14で光線方向を偏向させる方法では、レンズの収差に
よる回折格子14への入射角偏差、回折格子14の入出
射角特性、さらに光ディスク7が傾いた場合の凸レンズ
13又はフレネルレンズ42への入射光軸の変位などの
原因により、2分割受光素子18の差分出力比はきれい
な線形とはなりにくい(図8参照)。ここで、回折格子
14の入出射角特性とは、回折格子14への入射角θa
と出射角θbとが、図15及び図16[λは光の波長、
Λは回折格子14の格子周期]に示すように、非対称と
なるものである。
【0054】図17は本発明のさらに別な実施形態によ
る光電センサを示す断面図であって、同じ2分割受光素
子18,52を発光素子16,17の両側に対称に配置
することにより、差分出力が線形となるようにしたもの
である。
る光電センサを示す断面図であって、同じ2分割受光素
子18,52を発光素子16,17の両側に対称に配置
することにより、差分出力が線形となるようにしたもの
である。
【0055】この光電センサ51にあっては、2つの受
光面18a,18bを有する2分割受光素子18と2つ
の受光面52a,52bを有する2分割受光素子52を
凸レンズ13の光軸に対して対称に配置し、回折格子1
4を通過した1次回折光と−1次回折光がそれぞれ2分
割受光素子18と52で受光されるようにしている。そ
して、図18に示すように、発光素子16,17に近い
側に位置する受光面18aと発光素子16,17から遠
い側に位置する受光面52aを加算器53に入力し、赤
色光Lrによる両受光面18a,52aの信号の和を受
光信号Vr1として出力し、発光素子16,17から遠
い側に位置する受光面18bと発光素子16,17に近
い側に位置する受光面52bを加算器54に入力し、両
受光面18b,52bの信号の和を受光信号Vr2とし
て出力するようにしている。この実施形態でも、2つの
加算器53,54から出力される赤色光Lrの受光信号
の差分Vr1−Vr2から光ディスク7の傾きを求める
点は同じであるが、2分割受光素子18,52を対称に
配置することにより、差分出力Vr1−Vr2が光の入
射角に対して直線状となるようにしている。
光面18a,18bを有する2分割受光素子18と2つ
の受光面52a,52bを有する2分割受光素子52を
凸レンズ13の光軸に対して対称に配置し、回折格子1
4を通過した1次回折光と−1次回折光がそれぞれ2分
割受光素子18と52で受光されるようにしている。そ
して、図18に示すように、発光素子16,17に近い
側に位置する受光面18aと発光素子16,17から遠
い側に位置する受光面52aを加算器53に入力し、赤
色光Lrによる両受光面18a,52aの信号の和を受
光信号Vr1として出力し、発光素子16,17から遠
い側に位置する受光面18bと発光素子16,17に近
い側に位置する受光面52bを加算器54に入力し、両
受光面18b,52bの信号の和を受光信号Vr2とし
て出力するようにしている。この実施形態でも、2つの
加算器53,54から出力される赤色光Lrの受光信号
の差分Vr1−Vr2から光ディスク7の傾きを求める
点は同じであるが、2分割受光素子18,52を対称に
配置することにより、差分出力Vr1−Vr2が光の入
射角に対して直線状となるようにしている。
【0056】図19は、光軸の片側に2分割受光素子を
配置した場合における、光ディスク7の傾きに対する赤
色光Lrの受光信号Vr=Vr1+Vr2と差分出力V
r1−Vr2、赤外光Liの受光信号Vi=Vi1+V
i2の変化を示している。また、図20は、光軸の両側
に2分割受光素子18,52を配置した本実施形態の光
電センサ51の場合における、光ディスク7の傾きに対
する赤色光Lrの受光信号Vr=Vr1+Vr2と差分
出力Vr1−Vr2、赤外光Liの受光信号Vi=Vi
1+Vi2の変化を示している。
配置した場合における、光ディスク7の傾きに対する赤
色光Lrの受光信号Vr=Vr1+Vr2と差分出力V
r1−Vr2、赤外光Liの受光信号Vi=Vi1+V
i2の変化を示している。また、図20は、光軸の両側
に2分割受光素子18,52を配置した本実施形態の光
電センサ51の場合における、光ディスク7の傾きに対
する赤色光Lrの受光信号Vr=Vr1+Vr2と差分
出力Vr1−Vr2、赤外光Liの受光信号Vi=Vi
1+Vi2の変化を示している。
【0057】2分割受光素子を片側に配置した場合に
は、図19に示されているように、光ディスク7の傾き
に対して受光信号レベルにうねりが生じ、傾き角の検知
が困難となる。また、ディスクの種類判別のための受光
信号Vr,Viも緩やかにうねりが生じている。これに
対し、光軸の両側に2分割受光素子18,52を配置し
た場合には、図20に示されているように、差分出力V
r1−Vr2が受光信号Vr,Viとともに、受光信号
レベルのうねりがとれ、傾き角検出とディスク種類判別
がより正確になる。
は、図19に示されているように、光ディスク7の傾き
に対して受光信号レベルにうねりが生じ、傾き角の検知
が困難となる。また、ディスクの種類判別のための受光
信号Vr,Viも緩やかにうねりが生じている。これに
対し、光軸の両側に2分割受光素子18,52を配置し
た場合には、図20に示されているように、差分出力V
r1−Vr2が受光信号Vr,Viとともに、受光信号
レベルのうねりがとれ、傾き角検出とディスク種類判別
がより正確になる。
【0058】なお、上記各実施形態においては、2つの
受光面18a,18bを有する2分割受光素子18を用
いた場合を説明したが、2つの受光素子を用いてもよ
く、PSD(位置検出素子)やCCDを用いてもよい。
受光面18a,18bを有する2分割受光素子18を用
いた場合を説明したが、2つの受光素子を用いてもよ
く、PSD(位置検出素子)やCCDを用いてもよい。
【0059】(第4の実施形態)図21は本発明のさら
に別な実施形態による光電センサを示す断面図である。
図4に示した実施形態では、凸レンズ13下面のほぼ全
体に回折格子14を設けているが、本実施形態では、光
ディスク7からの反射光を2分割受光素子18に導くた
めの回折格子14を凸レンズ13下面の一部(例えば、
凸レンズ13の光軸に近い領域)にのみ設けている。光
ディスク7の傾きが小さい場合や、2分割受光素子18
の受光量が十分に大きい場合には、この実施形態のよう
に、凸レンズ13の一部に設けられた小面積の回折格子
14を用いてもよい。
に別な実施形態による光電センサを示す断面図である。
図4に示した実施形態では、凸レンズ13下面のほぼ全
体に回折格子14を設けているが、本実施形態では、光
ディスク7からの反射光を2分割受光素子18に導くた
めの回折格子14を凸レンズ13下面の一部(例えば、
凸レンズ13の光軸に近い領域)にのみ設けている。光
ディスク7の傾きが小さい場合や、2分割受光素子18
の受光量が十分に大きい場合には、この実施形態のよう
に、凸レンズ13の一部に設けられた小面積の回折格子
14を用いてもよい。
【0060】この実施形態では、コリメート手段及び集
光手段である凸レンズ13と光分岐手段である回折格子
14とが一部兼用ないし一部一体化されている。また、
回折格子14の格子周期が緩やかに変化していて回折格
子14が集光手段の機能を備えている場合には、コリメ
ート手段(凸レンズ13)と集光手段(回折格子14及
び凸レンズの回折格子14が設けられている一部領域)
とが一部兼用ないし一部一体化された実施形態というこ
ともできる。
光手段である凸レンズ13と光分岐手段である回折格子
14とが一部兼用ないし一部一体化されている。また、
回折格子14の格子周期が緩やかに変化していて回折格
子14が集光手段の機能を備えている場合には、コリメ
ート手段(凸レンズ13)と集光手段(回折格子14及
び凸レンズの回折格子14が設けられている一部領域)
とが一部兼用ないし一部一体化された実施形態というこ
ともできる。
【0061】(第5の実施形態)図22は光ディスク検
知センサ(本発明にかかる光電センサ)65を用いた光
ディスク装置61の構成を示している。光ディスク7は
保持部62によって保持されスピンドルモータ63で回
転駆動される。光ピックアップ64は光ディスク7に対
してデータを読み書きするものであって、光ディスク7
の半径方向に移動する。また、光ディスク7の外周部に
は、光ディスク検知センサ65が設置されている。
知センサ(本発明にかかる光電センサ)65を用いた光
ディスク装置61の構成を示している。光ディスク7は
保持部62によって保持されスピンドルモータ63で回
転駆動される。光ピックアップ64は光ディスク7に対
してデータを読み書きするものであって、光ディスク7
の半径方向に移動する。また、光ディスク7の外周部に
は、光ディスク検知センサ65が設置されている。
【0062】光ディスク検知センサ65が光ディスク7
の種類を判別すると、光ディスク検知センサ処理回路6
6からドライブ制御部67、メカコントローラ68、デ
ータ処理部69、信号処理回路70へ種類判別信号が送
られ、ドライブ制御部67やメカコントローラ68は光
ディスク7の種類に応じた処理を行なう。特に、CDと
DVDのような焦点距離の違い、トラックピッチの違い
などに対応させる。また、光ディスク7への書込時に
は、レーザーダイオードの駆動信号を切り替えて各種光
ディスクに対応可能とする。
の種類を判別すると、光ディスク検知センサ処理回路6
6からドライブ制御部67、メカコントローラ68、デ
ータ処理部69、信号処理回路70へ種類判別信号が送
られ、ドライブ制御部67やメカコントローラ68は光
ディスク7の種類に応じた処理を行なう。特に、CDと
DVDのような焦点距離の違い、トラックピッチの違い
などに対応させる。また、光ディスク7への書込時に
は、レーザーダイオードの駆動信号を切り替えて各種光
ディスクに対応可能とする。
【0063】また、光ディスク検知センサ65が光ディ
スク7の傾きを検知すると、光ディスク検知センサ処理
回路66からメカコントローラ68へ傾き検出信号が送
られ、メカコントローラ68は、スピンドルモータ制御
部71を介してスピンドルモータ63の回転数をフィー
ドバック制御したり、コース制御部72を介して光ピッ
クアップ64のコース位置をフィードバック制御した
り、トラックキング制御部73、フォーカシング制御部
74及び光ヘッド処理回路75を介して光ピックアップ
64のトラッキング調整やフォーカス調整を行なう。
スク7の傾きを検知すると、光ディスク検知センサ処理
回路66からメカコントローラ68へ傾き検出信号が送
られ、メカコントローラ68は、スピンドルモータ制御
部71を介してスピンドルモータ63の回転数をフィー
ドバック制御したり、コース制御部72を介して光ピッ
クアップ64のコース位置をフィードバック制御した
り、トラックキング制御部73、フォーカシング制御部
74及び光ヘッド処理回路75を介して光ピックアップ
64のトラッキング調整やフォーカス調整を行なう。
【0064】光ディスク7からデータを読み出す場合に
は、光ピックアップ64のレーザーダイオードからレー
ザー光を出射して光ディスク7からデータを読み出し、
光ディスク7から読み出した信号を光ヘッド処理回路7
5における処理を経てプリアンプ76で増幅し、信号処
理回路70で必要な処理を施した後、データ処理部69
でデジタル信号データに変換して出力される。
は、光ピックアップ64のレーザーダイオードからレー
ザー光を出射して光ディスク7からデータを読み出し、
光ディスク7から読み出した信号を光ヘッド処理回路7
5における処理を経てプリアンプ76で増幅し、信号処
理回路70で必要な処理を施した後、データ処理部69
でデジタル信号データに変換して出力される。
【0065】また、書込可能な光ディスク7の場合に
は、データ処理部69へ入力されたデジタル信号データ
は信号処理回路70でアナログ信号に変換され、アナロ
グ信号に応じてレーザドライバ77及び高周波重畳回路
78を駆動して光ピックアップ64のレーザーダイオー
ドからレーザー光を出射して光ディスク7にデータの書
込みを行なう。このとき、レーザー光強度はオートパワ
ーコントローラ(APC)79によって一定強度となる
ように調整される。
は、データ処理部69へ入力されたデジタル信号データ
は信号処理回路70でアナログ信号に変換され、アナロ
グ信号に応じてレーザドライバ77及び高周波重畳回路
78を駆動して光ピックアップ64のレーザーダイオー
ドからレーザー光を出射して光ディスク7にデータの書
込みを行なう。このとき、レーザー光強度はオートパワ
ーコントローラ(APC)79によって一定強度となる
ように調整される。
【0066】このように光ディスク装置に本発明の光デ
ィスク検知センサ(光電センサ)を用いれば、多種の光
ディスクに対応可能な光ディスク装置を製作できるよう
になる。
ィスク検知センサ(光電センサ)を用いれば、多種の光
ディスクに対応可能な光ディスク装置を製作できるよう
になる。
【図1】(a)は従来例の反射型光電センサを示す縦断
面図、(b)は(a)のA−A線断面図である。
面図、(b)は(a)のA−A線断面図である。
【図2】光ディスクの傾きに対する、2分割受光素子の
2つの受光面から出力される受光信号の和V1+V2と
差分V1−V2の変化を示す図である。
2つの受光面から出力される受光信号の和V1+V2と
差分V1−V2の変化を示す図である。
【図3】(a)(b)(c)はそれぞれ光電センサと光
ディスクの距離が設定距離よりも遠い場合、設定距離と
等しい場合、設定距離よりも近い場合における光線の挙
動を示す図と2分割受光素子上の光スポットの位置を示
す一部破断した図である。
ディスクの距離が設定距離よりも遠い場合、設定距離と
等しい場合、設定距離よりも近い場合における光線の挙
動を示す図と2分割受光素子上の光スポットの位置を示
す一部破断した図である。
【図4】(a)は本発明の一実施形態による反射型光電
センサ(光ディスク検知装置)を示す縦断面図、(b)
は(a)のB−B線断面図である。
センサ(光ディスク検知装置)を示す縦断面図、(b)
は(a)のB−B線断面図である。
【図5】(a)(b)は、光ディスクが傾いているとき
の、光電センサにおける光の挙動を示す図である。
の、光電センサにおける光の挙動を示す図である。
【図6】上記光電センサにおける回折格子の格子周期の
決め方を説明する図である。
決め方を説明する図である。
【図7】光ディスクで生じた1次回折光が光電センサに
入射しないようにするための構成を説明する図である。
入射しないようにするための構成を説明する図である。
【図8】赤色光による各受光面からの受光信号とその差
分出力の、光ディスクの傾きに対する変化を示す図であ
る。
分出力の、光ディスクの傾きに対する変化を示す図であ
る。
【図9】波長の異なる光に対するCD−R、PD、DV
D−ROM及びCD−ROMの相対反射率の変化を示す
図である。
D−ROM及びCD−ROMの相対反射率の変化を示す
図である。
【図10】赤色光による各受光面からの受光信号、赤色
光による全受光信号、赤外光による各受光面からの受光
信号、および赤外光による全受光信号のディスク傾きに
対する変化を示す図である。
光による全受光信号、赤外光による各受光面からの受光
信号、および赤外光による全受光信号のディスク傾きに
対する変化を示す図である。
【図11】上記光電センサの信号処理回路を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図12】赤色光の受光信号と赤外光の受光信号のタイ
ミングを示す図である。
ミングを示す図である。
【図13】(a)は本発明の別な実施形態による反射型
光電センサを示す縦断面図、(b)は(a)のC−C線
断面図である。
光電センサを示す縦断面図、(b)は(a)のC−C線
断面図である。
【図14】(a)(b)は、光ディスクが傾いていると
きの、光電センサにおける光の挙動を示す図である。
きの、光電センサにおける光の挙動を示す図である。
【図15】回折格子の入出射角特性を説明する図であ
る。
る。
【図16】回折格子の入出射角特性の一例を示す図であ
る。
る。
【図17】本発明のさらに別な実施形態による光電セン
サを示す断面図である。
サを示す断面図である。
【図18】同上の光電センサの受光部分の構成を示す平
面図である。
面図である。
【図19】2分割受光素子を光軸の片側に配置した状態
における、光ディスクの傾きに対する赤色光の受光信号
Vr=Vr1+Vr2と差分出力Vr1−Vr2、赤外
光の受光信号Vi=Vi1+Vi2の変化を示す図であ
る。
における、光ディスクの傾きに対する赤色光の受光信号
Vr=Vr1+Vr2と差分出力Vr1−Vr2、赤外
光の受光信号Vi=Vi1+Vi2の変化を示す図であ
る。
【図20】2分割受光素子を光軸の両側に配置した状態
における、光ディスクの傾きに対する赤色光の受光信号
Vr=Vr1+Vr2と差分出力Vr1−Vr2、赤外
光の受光信号Vi=Vi1+Vi2の変化を示す図であ
る。
における、光ディスクの傾きに対する赤色光の受光信号
Vr=Vr1+Vr2と差分出力Vr1−Vr2、赤外
光の受光信号Vi=Vi1+Vi2の変化を示す図であ
る。
【図21】本発明のさらに別な実施形態による光電セン
サを示す断面図である。
サを示す断面図である。
【図22】光ディスク装置の構成を示すブロック図であ
る。
る。
13 凸レンズ
14 回折格子
16 赤色発光素子
17 赤外発光素子
18,52 2分割受光素子
18a,18b,52a,52b 2分割受光素子の受
光面 42 フレネルレンズ 43 導光板 44 プリズム
光面 42 フレネルレンズ 43 導光板 44 プリズム
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平2−247829(JP,A)
特開 平5−6562(JP,A)
特開 平6−28694(JP,A)
特開 平7−302435(JP,A)
特開 昭60−170040(JP,A)
特開 昭63−76119(JP,A)
(58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名)
G11B 7/09 - 7/22
Claims (5)
- 【請求項1】 発光素子と、発光素子から出射された光
を平行光に変換するコリメート手段と、対象物で反射し
て戻ってきた平行光を集光させる集光手段と、集光手段
により集光された光の受光位置を検出する受光素子と、
前記集光手段と前記受光素子の間に設けられていて集光
手段で集光された光を受光素子へ導くための回折格子と
を備え、当該受光素子における受光位置の変化から対象
物の傾きを検知する反射型光電センサであって、前記受光素子に入射する光の光軸と前記受光素子により
検出される受光位置の変化の方向とを含む平面に 垂直な
方向から見て、前記コリメート手段でコリメートされた
平行光の光線方向と傾きのないときの対象物で反射した
平行光の光線方向とが平行となるようにし、前記受光素子における収差を低減させるために、前記回
折格子の格子周期を変化させている ことを特徴とする反
射型光電センサ。 - 【請求項2】 前記受光素子を前記発光素子を挟んでそ
の両側に対称に配置し、一方の受光素子は前記回折格子
による一方の1次回折光を受光し、他方の受光素子は前
記回折格子による他方の1次回折光を受光するようにし
たことを特徴とする、請求項1に記載の反射型光電セン
サ。 - 【請求項3】 前記受光素子により検出される受光位置
の変化の方向と直角な方向に沿って、異なる波長の光を
出射する複数の発光素子を配置したことを特徴とする、
請求項1に記載の反射型光電センサ。 - 【請求項4】 対象物により回折された1次回折反射光
が受光素子に受光されないようにしたことを特徴とする
請求項1〜3に記載の反射型光電センサ。 - 【請求項5】 請求項1〜4に記載の反射型光電センサ
を光ディスクの傾き検知用に用いたことを特徴とする光
ディスク検知装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13438697A JP3444144B2 (ja) | 1997-05-07 | 1997-05-07 | 反射型光電センサ及び光ディスク検知装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13438697A JP3444144B2 (ja) | 1997-05-07 | 1997-05-07 | 反射型光電センサ及び光ディスク検知装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10312566A JPH10312566A (ja) | 1998-11-24 |
JP3444144B2 true JP3444144B2 (ja) | 2003-09-08 |
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ID=15127192
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13438697A Expired - Fee Related JP3444144B2 (ja) | 1997-05-07 | 1997-05-07 | 反射型光電センサ及び光ディスク検知装置 |
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---|---|---|---|---|
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WO2008117671A1 (ja) * | 2007-03-23 | 2008-10-02 | Mitsubishi Electric Corporation | 光ディスク判別方法及び光ディスク判別装置 |
JPWO2023062987A1 (ja) * | 2021-10-13 | 2023-04-20 |
-
1997
- 1997-05-07 JP JP13438697A patent/JP3444144B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH10312566A (ja) | 1998-11-24 |
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