JP3434388B2 - 交流磁界測定装置 - Google Patents
交流磁界測定装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は交流磁界の測定装置に関
し、さらに詳細には、交流磁界の実効値だけでなく、そ
の最大値、最小値、それらの方向等も測定できる交流磁
界測定装置に関するものである。
し、さらに詳細には、交流磁界の実効値だけでなく、そ
の最大値、最小値、それらの方向等も測定できる交流磁
界測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】単相交流磁界を測定する最も一般的な方
法として、コイルによる誘導電圧を測定する方法が知ら
れている。ある空間における方向がわからない磁界の強
さを一つのコイルで測定するには、コイルの向きを変え
て誘導電圧が最大になる方向を探さなければならない。
法として、コイルによる誘導電圧を測定する方法が知ら
れている。ある空間における方向がわからない磁界の強
さを一つのコイルで測定するには、コイルの向きを変え
て誘導電圧が最大になる方向を探さなければならない。
【０００３】そこで、従来の測定装置においては、コイ
ルの向きを変える操作を省くため、互いに直交した３つ
のコイルを組み合わせたセンサを使用して、各コイルの
成分の実効値を測定し、それらを合成する方法が採用さ
れていた。すなわち、互いに直交するコイルにより図４
に示すＸ，Ｙ，Ｚ軸方向の磁界の実効値Ｂx ，Ｂy ，Ｂ
z を求め、下記の式（１）により、各実効値を合成して
磁界の強さＢを求めていた〔なお、以下の説明において
はＸの平方根を√（Ｘ）で表す〕。
ルの向きを変える操作を省くため、互いに直交した３つ
のコイルを組み合わせたセンサを使用して、各コイルの
成分の実効値を測定し、それらを合成する方法が採用さ
れていた。すなわち、互いに直交するコイルにより図４
に示すＸ，Ｙ，Ｚ軸方向の磁界の実効値Ｂx ，Ｂy ，Ｂ
z を求め、下記の式（１）により、各実効値を合成して
磁界の強さＢを求めていた〔なお、以下の説明において
はＸの平方根を√（Ｘ）で表す〕。
【０００４】
Ｂ＝√（Ｂx 2 ＋Ｂy 2 ＋Ｂz 2 ） （１）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、電力設
備などから発生する磁界は、周波数は同一で位相の異な
る複数の磁界が合成されたものであり、一般的には、図
５に示すように回転磁界となっている。前記した従来の
測定装置でも、図５に示す回転磁界の実効値は同様に測
定できるが、磁界の最大値（Ｂmax ）、最小値（Ｂmin
）、それらの方向（φ1 ，φ2，θ1 ，θ2 ）は測定で
きなかった。
備などから発生する磁界は、周波数は同一で位相の異な
る複数の磁界が合成されたものであり、一般的には、図
５に示すように回転磁界となっている。前記した従来の
測定装置でも、図５に示す回転磁界の実効値は同様に測
定できるが、磁界の最大値（Ｂmax ）、最小値（Ｂmin
）、それらの方向（φ1 ，φ2，θ1 ，θ2 ）は測定で
きなかった。
【０００６】簡単にするため、図６に示す２次元で示し
た回転磁界の例によりこの点について説明すると、同図
に示すように、この回転磁界のｘ軸方向の振幅ｂx 、ｙ
軸方向の振幅ｂy はかならずしも、回転磁界の最大値Ｂ
max のｘ成分Ｂmx、ｙ成分Ｂmyと一致しない。すなわ
ち、従来の測定装置により回転磁界の振幅の実効値を測
定しても、ｘ軸方向の振幅ｂx 、ｙ軸方向の振幅ｂy は
求まるが、磁界の最大値Ｂmax 、最小値Ｂmin 、その方
向を求めることはできない。
た回転磁界の例によりこの点について説明すると、同図
に示すように、この回転磁界のｘ軸方向の振幅ｂx 、ｙ
軸方向の振幅ｂy はかならずしも、回転磁界の最大値Ｂ
max のｘ成分Ｂmx、ｙ成分Ｂmyと一致しない。すなわ
ち、従来の測定装置により回転磁界の振幅の実効値を測
定しても、ｘ軸方向の振幅ｂx 、ｙ軸方向の振幅ｂy は
求まるが、磁界の最大値Ｂmax 、最小値Ｂmin 、その方
向を求めることはできない。
【０００７】このように、回転磁界を測定するために、
実効値だけが必要な場合には従来の方法、すなわち磁界
の３成分を合成することによって求めることができる
が、最大値、最小値、あるいはそれらの方向を求めるに
は、従来の装置では不十分であった。本発明は上記した
従来技術の問題点を考慮してなされたものであって、本
発明の目的は、回転磁界の最大値、最小値、最大値の方
向、最小値の方向、あるいは、回転磁界が零となってい
る方向（回転磁界が作る楕円に直角な方向）をも求める
ことができる回転磁界の測定装置を提供することであ
る。
実効値だけが必要な場合には従来の方法、すなわち磁界
の３成分を合成することによって求めることができる
が、最大値、最小値、あるいはそれらの方向を求めるに
は、従来の装置では不十分であった。本発明は上記した
従来技術の問題点を考慮してなされたものであって、本
発明の目的は、回転磁界の最大値、最小値、最大値の方
向、最小値の方向、あるいは、回転磁界が零となってい
る方向（回転磁界が作る楕円に直角な方向）をも求める
ことができる回転磁界の測定装置を提供することであ
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の請求項１の発明は、交流磁界測定装置にお
いて、測定された回転磁界の互いに直交するＸ，Ｙ，Ｚ
方向の成分を１周期の間にほぼ同時に複数回サンプリン
グする手段と、サンプリングされた回転磁界の各成分の
ベクトル和を求め、ベクトル和の最大値および／または
最小値を求めるとともに、該ベクトル和が最大および／
または最小となる回転磁界の各成分に基づき、回転磁界
が最大および／または最小となるベクトルの方向を求め
る手段とを設けたものである。
め、本発明の請求項１の発明は、交流磁界測定装置にお
いて、測定された回転磁界の互いに直交するＸ，Ｙ，Ｚ
方向の成分を１周期の間にほぼ同時に複数回サンプリン
グする手段と、サンプリングされた回転磁界の各成分の
ベクトル和を求め、ベクトル和の最大値および／または
最小値を求めるとともに、該ベクトル和が最大および／
または最小となる回転磁界の各成分に基づき、回転磁界
が最大および／または最小となるベクトルの方向を求め
る手段とを設けたものである。
【０００９】本発明の請求項２の発明は、請求項１の発
明において、回転磁界を形成するベクトルの大きさおよ
びベクトルの方向に基づき、磁界が零となる方向を求め
る手段を設けたものである。本発明の請求項３の発明
は、請求項１または請求項２の発明において、磁界の実
効値を求める手段を設けたものである。
明において、回転磁界を形成するベクトルの大きさおよ
びベクトルの方向に基づき、磁界が零となる方向を求め
る手段を設けたものである。本発明の請求項３の発明
は、請求項１または請求項２の発明において、磁界の実
効値を求める手段を設けたものである。
【００１０】
【作用】回転磁界は１周期の間に１回転する。この間
に、図２（ａ）（ｂ）に示すように、回転磁界の各成分
Ｂx ，Ｂy ，Ｂz をそれぞれほぼ同時にｎ回サンプリン
グすることにより、Ｂx1，Ｂx2，Ｂx3，…Ｂxn, Ｂy1，
Ｂy2，Ｂy3，…，Ｂyn，Ｂz1，Ｂz2，Ｂz3，…，Ｂznが
得られる。
に、図２（ａ）（ｂ）に示すように、回転磁界の各成分
Ｂx ，Ｂy ，Ｂz をそれぞれほぼ同時にｎ回サンプリン
グすることにより、Ｂx1，Ｂx2，Ｂx3，…Ｂxn, Ｂy1，
Ｂy2，Ｂy3，…，Ｂyn，Ｂz1，Ｂz2，Ｂz3，…，Ｂznが
得られる。
【００１１】これらのベクトル和は次のようになる。
Ｂ1 ＝√（Ｂx1 2＋Ｂy1 2＋Ｂz1 2）
Ｂ2 ＝√（Ｂx2 2＋Ｂy2 2＋Ｂz2 2）
Ｂ3 ＝√（Ｂx3 2＋Ｂy3 2＋Ｂz3 2）
・・・・・・・・・・・・
Ｂn ＝√（Ｂxn 2＋Ｂyn 2＋Ｂzn 2） （２）
これらの内、最大値がｋ番目であったとすると、ベクト
ル和の最大値はＢmax＝Ｂk と選ぶことができる。
ル和の最大値はＢmax＝Ｂk と選ぶことができる。
【００１２】また、そのときの３成分のＢxk，Ｂyk，Ｂ
zkから、次のようにして前記図５に示した最大値Ｂmax
の方向φ1 ，θ1 を求めることができる。 φ1 ＝tan -1（Ｂyk／Ｂxk） θ1 ＝tan -1〔｛√（Ｂxk 2＋Ｂyk 2）｝／Ｂzk〕 （３） 最小値についても同様にｎ個のベクトル和の中から最小
のものを選べば、大きさ、方向を共に求めることができ
る。
zkから、次のようにして前記図５に示した最大値Ｂmax
の方向φ1 ，θ1 を求めることができる。 φ1 ＝tan -1（Ｂyk／Ｂxk） θ1 ＝tan -1〔｛√（Ｂxk 2＋Ｂyk 2）｝／Ｂzk〕 （３） 最小値についても同様にｎ個のベクトル和の中から最小
のものを選べば、大きさ、方向を共に求めることができ
る。
【００１３】さらに、必要なら、回転磁界を形成するベ
クトルの大きさおよびベクトルの方向を求め、これらに
基づき、磁界が零となる方向（回転磁界が作る楕円に直
角な方向）を求めることも可能である。本発明は上記し
た原理に基づき、回転磁界の最大値および／または最小
値およびその方向を求めるようにしたものであり、本発
明においては、上記のように、測定された回転磁界の各
成分を１周期の間にほぼ同時に複数回サンプリングし、
サンプリングされた回転磁界の各成分のベクトル和を求
め、ベクトル和の最大値および／または最小値を求める
とともに、該ベクトル和が最大および／または最小とな
る回転磁界の各成分に基づき、回転磁界が最大および／
または最小となるベクトルの方向を求めるようにしたの
で、回転磁界の最大値、最小値、最大値の方向、最小値
の方向および／または磁界が零となる方向を測定するこ
とが可能となる。
クトルの大きさおよびベクトルの方向を求め、これらに
基づき、磁界が零となる方向（回転磁界が作る楕円に直
角な方向）を求めることも可能である。本発明は上記し
た原理に基づき、回転磁界の最大値および／または最小
値およびその方向を求めるようにしたものであり、本発
明においては、上記のように、測定された回転磁界の各
成分を１周期の間にほぼ同時に複数回サンプリングし、
サンプリングされた回転磁界の各成分のベクトル和を求
め、ベクトル和の最大値および／または最小値を求める
とともに、該ベクトル和が最大および／または最小とな
る回転磁界の各成分に基づき、回転磁界が最大および／
または最小となるベクトルの方向を求めるようにしたの
で、回転磁界の最大値、最小値、最大値の方向、最小値
の方向および／または磁界が零となる方向を測定するこ
とが可能となる。
【００１４】
【実施例】図１は本発明の第１の実施例を示す図であ
る。同図において、１ａ，１ｂ，１ｃは互いに直交した
コイル、２ａ，２ｂ，２ｃは磁界によりコイル１ａ，１
ｂ，１ｃに誘起する微弱な電圧を増幅する増幅器であ
る。３ａ，３ｂ，３ｃは１／ｆフィルタであり、１／ｆ
フィルタ３ａ，３ｂ，３ｃは周波数に反比例したゲイン
を持ち、磁界の周波数が高くなるとゲインが低下する。
すなわち、コイル１ａ，１ｂ，１ｃに誘起する電圧は周
波数に比例するため、１／ｆフィルタ３ａ，３ｂ，３ｃ
により周波数にかかわらず一定の電圧に変換する。
る。同図において、１ａ，１ｂ，１ｃは互いに直交した
コイル、２ａ，２ｂ，２ｃは磁界によりコイル１ａ，１
ｂ，１ｃに誘起する微弱な電圧を増幅する増幅器であ
る。３ａ，３ｂ，３ｃは１／ｆフィルタであり、１／ｆ
フィルタ３ａ，３ｂ，３ｃは周波数に反比例したゲイン
を持ち、磁界の周波数が高くなるとゲインが低下する。
すなわち、コイル１ａ，１ｂ，１ｃに誘起する電圧は周
波数に比例するため、１／ｆフィルタ３ａ，３ｂ，３ｃ
により周波数にかかわらず一定の電圧に変換する。
【００１５】４ａ，４ｂ，４ｃはバンドパスフィルタで
あり、目的とする周波数以外の周波数成分を除去する。
なお、測定する磁界の周波数が一定の場合には、上記１
／ｆフィルタは不要であるが、例えば、商用周波の５０
Ｈｚと６０Ｈｚの切り換えをするなど、複数の周波数に
切り換えられる測定装置とする場合には、あった方が望
ましい。
あり、目的とする周波数以外の周波数成分を除去する。
なお、測定する磁界の周波数が一定の場合には、上記１
／ｆフィルタは不要であるが、例えば、商用周波の５０
Ｈｚと６０Ｈｚの切り換えをするなど、複数の周波数に
切り換えられる測定装置とする場合には、あった方が望
ましい。
【００１６】また、バンドパスフィルタ４ａ，４ｂ，４
ｃも、測定環境に他の周波数の磁界が存在する可能性が
あり、また、測定中にコイルを動かすことにより地磁気
など静磁場の変動を受けやすいのであった方が望ましい
が、これらの影響がない場合には設けずともよい。５
ａ，５ｂ，５ｃはバンドパスフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃ
が出力する電圧信号（これらを設けない場合には、増幅
器２ａ，２ｂ，２ｃが出力する電圧信号）を高速サンプ
リングしてデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、６は
前記した処理を行うマイクロコンピュータ、７は液晶等
の表示装置である。
ｃも、測定環境に他の周波数の磁界が存在する可能性が
あり、また、測定中にコイルを動かすことにより地磁気
など静磁場の変動を受けやすいのであった方が望ましい
が、これらの影響がない場合には設けずともよい。５
ａ，５ｂ，５ｃはバンドパスフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃ
が出力する電圧信号（これらを設けない場合には、増幅
器２ａ，２ｂ，２ｃが出力する電圧信号）を高速サンプ
リングしてデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、６は
前記した処理を行うマイクロコンピュータ、７は液晶等
の表示装置である。
【００１７】次に図１の実施例の測定装置の動作につい
て説明する。磁界によりコイル１ａ，１ｂ，１ｃに誘起
する微弱な電圧を増幅器２ａ，２ｂ，２ｃにより増幅
し、必要に応じて１／ｆフィルタ３ａ，３ｂ，３ｃ、バ
ンドパスフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃを介してＡ／Ｄ変換
器５ａ，５ｂ，５ｃに与える。Ａ／Ｄ変換器５ａ，５
ｂ，５ｃは上記電圧信号をほぼ同時に高速でサンプリン
グする。このときのＡ／Ｄ変換器５ａ，５ｂ，５ｃの分
解能、サンプリング速度は、測定に要求される周波数・
測定精度によって設定すればよいが、本実施例では、８
ビットのＡ／Ｄ変換器を使用し、５０Ｈｚの周波数に対
して５００μｓでサンプリングした。サンプリング回数
は各軸とも、時間にして２０ｍｓ（５０Ｈｚ１周期分に
相当）としたが、回転磁界の最大値、最小値は、１周期
の間に各２回出てくるので、半周期分以上あれば測定可
能であり、また、２周期以上サンプリングしてもよい。
て説明する。磁界によりコイル１ａ，１ｂ，１ｃに誘起
する微弱な電圧を増幅器２ａ，２ｂ，２ｃにより増幅
し、必要に応じて１／ｆフィルタ３ａ，３ｂ，３ｃ、バ
ンドパスフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃを介してＡ／Ｄ変換
器５ａ，５ｂ，５ｃに与える。Ａ／Ｄ変換器５ａ，５
ｂ，５ｃは上記電圧信号をほぼ同時に高速でサンプリン
グする。このときのＡ／Ｄ変換器５ａ，５ｂ，５ｃの分
解能、サンプリング速度は、測定に要求される周波数・
測定精度によって設定すればよいが、本実施例では、８
ビットのＡ／Ｄ変換器を使用し、５０Ｈｚの周波数に対
して５００μｓでサンプリングした。サンプリング回数
は各軸とも、時間にして２０ｍｓ（５０Ｈｚ１周期分に
相当）としたが、回転磁界の最大値、最小値は、１周期
の間に各２回出てくるので、半周期分以上あれば測定可
能であり、また、２周期以上サンプリングしてもよい。
【００１８】マイクロコンピュータ６はＡ／Ｄ変換器５
ａ，５ｂ，５ｃによりデジタル信号に変換された各軸の
信号を前記した（２）式により演算してベクトル和を求
め、ベクトル和の最大値および／または最小値を求め
る。そして、前記（３）式により、最大値および／また
は最小値のベクトルの方向を求める。さらに必要な場合
には、少なくとも３個の回転磁界を形成するベクトルの
大きさおよびベクトルの方向を求め、これらに基づき、
磁界が零となる方向（回転磁界が作る楕円に直角な方
向）を求める。また、上記最大値および最小値から実効
値を計算してもよい。
ａ，５ｂ，５ｃによりデジタル信号に変換された各軸の
信号を前記した（２）式により演算してベクトル和を求
め、ベクトル和の最大値および／または最小値を求め
る。そして、前記（３）式により、最大値および／また
は最小値のベクトルの方向を求める。さらに必要な場合
には、少なくとも３個の回転磁界を形成するベクトルの
大きさおよびベクトルの方向を求め、これらに基づき、
磁界が零となる方向（回転磁界が作る楕円に直角な方
向）を求める。また、上記最大値および最小値から実効
値を計算してもよい。
【００１９】マイクロコンピュータ６による演算結果は
液晶等の表示装置７に送られ、回転磁界の最大値および
／または最小値、それらの方向、実効値等が表示され
る。図３は本発明の第２の実施例を示す図であり、本実
施例は、色々な周波数の磁界が混在する場合にも実効値
の測定を可能にした測定装置の実施例を示している。
液晶等の表示装置７に送られ、回転磁界の最大値および
／または最小値、それらの方向、実効値等が表示され
る。図３は本発明の第２の実施例を示す図であり、本実
施例は、色々な周波数の磁界が混在する場合にも実効値
の測定を可能にした測定装置の実施例を示している。
【００２０】同図において、図１に示したものと同一の
ものには同一の符号が付されており、本実施例において
は、バンドパスフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃに並列に、１
／ｆフィルタ３ａ，３ｂ，３ｃの出力のＲＭＳ〔Root M
ean Square: √（Ｘ2 ）〕値を求めるＲＭＳコンバータ
８ａ，８ｂ，８ｃが付加され、また、バンドパスフィル
タ４ａ，４ｂ，４ｃの出力と上記ＲＭＳコンバータ８
ａ，８ｂ，８ｃの出力を切り換える切り換えスイッチ９
ａ，９ｂ，９ｃが設けられている。
ものには同一の符号が付されており、本実施例において
は、バンドパスフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃに並列に、１
／ｆフィルタ３ａ，３ｂ，３ｃの出力のＲＭＳ〔Root M
ean Square: √（Ｘ2 ）〕値を求めるＲＭＳコンバータ
８ａ，８ｂ，８ｃが付加され、また、バンドパスフィル
タ４ａ，４ｂ，４ｃの出力と上記ＲＭＳコンバータ８
ａ，８ｂ，８ｃの出力を切り換える切り換えスイッチ９
ａ，９ｂ，９ｃが設けられている。
【００２１】同図において、スイッチ９ａ，９ｂ，９ｃ
をバンドパスフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃ側に切り換えた
場合には、前記図１に示した実施例と同様に動作する。
また、スイッチ９ａ，９ｂ，９ｃをＲＭＳコンバータ８
ａ，８ｂ，８ｃ側に切り換えた場合には、ＲＭＳコンバ
ータ８ａ，８ｂ，８ｃにより、１／ｆフィルタ３ａ，３
ｂ，３ｃの出力のＲＭＳ値が求められ、Ａ／Ｄ変換器５
ａ，５ｂ，５ｃに送られる。
をバンドパスフィルタ４ａ，４ｂ，４ｃ側に切り換えた
場合には、前記図１に示した実施例と同様に動作する。
また、スイッチ９ａ，９ｂ，９ｃをＲＭＳコンバータ８
ａ，８ｂ，８ｃ側に切り換えた場合には、ＲＭＳコンバ
ータ８ａ，８ｂ，８ｃにより、１／ｆフィルタ３ａ，３
ｂ，３ｃの出力のＲＭＳ値が求められ、Ａ／Ｄ変換器５
ａ，５ｂ，５ｃに送られる。
【００２２】Ａ／Ｄ変換器５ａ，５ｂ，５ｃはＲＭＳコ
ンバータ８ａ，８ｂ，８ｃの出力をサンプリングしてデ
ジタル信号に変換する。マイクロコンピュータ６は、Ａ
／Ｄ変換器５ａ，５ｂ，５ｃを処理し、測定された磁界
の実効値を液晶等の表示装置７に表示する。本実施例に
おいては、上記のようにバンドパスフィルタを通さずに
Ａ／Ｄ変換器がＲＭＳコンバータの出力を読み込むよう
にしているので、色々な周波数の磁界が混在する環境化
でも測定することができる。
ンバータ８ａ，８ｂ，８ｃの出力をサンプリングしてデ
ジタル信号に変換する。マイクロコンピュータ６は、Ａ
／Ｄ変換器５ａ，５ｂ，５ｃを処理し、測定された磁界
の実効値を液晶等の表示装置７に表示する。本実施例に
おいては、上記のようにバンドパスフィルタを通さずに
Ａ／Ｄ変換器がＲＭＳコンバータの出力を読み込むよう
にしているので、色々な周波数の磁界が混在する環境化
でも測定することができる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、測定された回転磁界の各成分を１周期の間にほぼ同
時に複数回サンプリングし、サンプリングされた回転磁
界の各成分のベクトル和を求め、ベクトル和の最大値お
よび／または最小値を求めるとともに、該ベクトル和が
最大および／または最小となる回転磁界の各成分に基づ
き、回転磁界が最大および／または最小となるベクトル
の方向を求めるようにしたので、従来の測定装置のよう
に３方向の成分の実効値を測定するだけでは不可能だっ
た回転磁界の最大値、最小値、最大値の方向、最小値の
方向および／または磁界が零となる方向を測定すること
ができる。
は、測定された回転磁界の各成分を１周期の間にほぼ同
時に複数回サンプリングし、サンプリングされた回転磁
界の各成分のベクトル和を求め、ベクトル和の最大値お
よび／または最小値を求めるとともに、該ベクトル和が
最大および／または最小となる回転磁界の各成分に基づ
き、回転磁界が最大および／または最小となるベクトル
の方向を求めるようにしたので、従来の測定装置のよう
に３方向の成分の実効値を測定するだけでは不可能だっ
た回転磁界の最大値、最小値、最大値の方向、最小値の
方向および／または磁界が零となる方向を測定すること
ができる。
【図１】本発明の第１の実施例を示す図である。
【図２】本実施例における高速サンプリングを説明する
図である。
図である。
【図３】本発明の第２の実施例を示す図である。
【図４】単相交流磁界を説明する図である。
【図５】回転磁界を説明する図である。
【図６】２次元で表示した回転磁界を示す図である。
１ａ，１ｂ，１ｃ コイル
２ａ，２ｂ，２ｃ 増幅器
３ａ，３ｂ，３ｃ １／ｆフィルタ
４ａ，４ｂ，４ｃ バンドパスフィルタ
５ａ，５ｂ，５ｃ Ａ／Ｄ変換器
６ マイクロコンピュータ
７ 表示装置
８ａ，８ｂ，８ｃ ＲＭＳコンバータ
９ａ，９ｂ，９ｃ 切り換えスイッチ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01R 33/02 - 33/10
Claims (3)
- 【請求項１】 測定された回転磁界の各成分を１周期の
間にほぼ同時に複数回サンプリングする手段と、 サンプリングされた回転磁界の互いに直交するＸ，Ｙ，
Ｚ方向の成分のベクトル和を求め、ベクトル和の最大値
および／または最小値を求めるとともに、該ベクトル和
が最大および／または最小となる回転磁界の各成分に基
づき、回転磁界が最大および／または最小となるベクト
ルの方向を求める手段とを備えたことを特徴とする交流
磁界測定装置。 - 【請求項２】 回転磁界を形成するベクトルの大きさお
よびベクトルの方向に基づき、磁界が零となる方向を求
める手段を設けたことを特徴とする請求項１の交流磁界
測定装置。 - 【請求項３】 磁界の実効値を求める手段を設けたこと
を特徴とする請求項１または請求項２の交流磁界測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14302995A JP3434388B2 (ja) | 1995-06-09 | 1995-06-09 | 交流磁界測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14302995A JP3434388B2 (ja) | 1995-06-09 | 1995-06-09 | 交流磁界測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08334554A JPH08334554A (ja) | 1996-12-17 |
| JP3434388B2 true JP3434388B2 (ja) | 2003-08-04 |
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ID=15329259
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14302995A Expired - Fee Related JP3434388B2 (ja) | 1995-06-09 | 1995-06-09 | 交流磁界測定装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3434388B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006343181A (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-21 | Hioki Ee Corp | 磁界測定装置 |
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1995
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