JP3401460B2 - チルト検出装置および光ディスク装置、チルト制御方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザー光を光デ
ィスク媒体に照射することで情報の記録を行う光ディス
クとその光ディスク装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスク装置は大容量のデータ
を記録再生する手段として盛んに開発が行われ、より高
い記録密度を達成するためのアプローチがなされてお
り、その中の一つの方式に、結晶−非結晶間の可逆的な
状態変化を利用した相変化型光ディスク装置がある。

【０００３】相変化型の光ディスク装置では、結晶部を
アモルファス化するピークパワーと、アモルファス部を
結晶化するバイアスパワーの２つのパワーで半導体レー
ザを光ディスク媒体に照射させることにより、光ディス
ク媒体上にマーク（アモルファス部）と、マークに挟ま
れたスペース（結晶部）を形成する。

【０００４】これらマークおよびスペースは、ディスク
上の案内溝のランド部とグルーブ部の両方のトラックに
記録されるランド・グルーブ記録技術がある。

【０００５】光ディスクの信頼性を上げるためには、品
質のよい信号を光ディスクに記録再生する必要がある。
光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾き（チ
ルト角）があると、光スポットが収差をもち、品質のよ
い信号を光ディスクに記録再生することが困難である。
そのため、光ディスクに信号を記録再生するためには、
前記チルト角を正確に検出し、チルト角を補正する必要
がある。

【０００６】従来のチルト位置を補正する方法を図２に
示す。

【０００７】図２において、２０１は光ディスク、２０
２は、光ディスクに光ビームを集光させる光ヘッド、２
０３はチルト台、２０４は、演算回路、２０５は光ディ
スク面上で光スポットの焦点位置を制御するフォーカス
制御部、２０６はトラック上で光スポットの位置を制御
するトラッキング制御部、２０７は前記光ビームの光軸
に対する光ディスクの記録面の傾きを検出するための光
を光ディスクに照射し、光ディスクで反射した光を受光
し、前記光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の
傾きを検出するチルトセンサ、２０８は前記チルトセン
サの検出値から、前記チルト台を傾け、前記光ビームの
光軸に対する前記光ディスクの記録面の傾きを制御する
手段としてのチルト制御部である。

【０００８】図３は従来の光ディスク装置で光ディスク
の内周および外周でチルト位置を補間した場合のグラフ
である。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の構
成では、光ディスクのチルト位置を検出するために、図
２で示したようなチルトセンサとチルト制御部を用いる
ために、前記光ビームの光軸に対する前記光ディスクの
記録面の傾きを補正する際に、光ヘッド２０２とは別に
チルト検出用のチルトセンサ２０７が必要であった。光
ヘッドとチルトセンサの２つの光学系は、光ディスク装
置を複雑にし、装置の実施規模を増大させコストアップ
を招く。また、光ヘッドとチルトセンサの２つの光学系
に対して光軸調整をしなければならず、調整作業を複雑
にし、前記光ビームの光軸に対する前記光ディスクの記
録面の傾き（チルト角）と、チルトセンサとの間に誤差
が生じ、正確にチルト角を検出することが困難であっ
た。

【００１０】本発明は、上述の課題をすべて解決するも
のであり、チルト検出手段の検出値が適切な値になるよ
うに、光ディスクの内周、中周、外周の各半径位置で光
ビームの光軸に対する光ディスクの傾きを補正し、光ス
ポットの品質および記録再生特性を改善することを目的
とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】前記の問題点を解決する
ために本発明は、次の種種の観点を有する。

【００１２】第１の観点は、次の通りである。

【００１３】同心円またはスパイラル状に連続して形成
したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けら
れ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および
第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピット
と第２シフトピットとを有し、前記第１シフトピットは
繰り返し連続して設けられ、続いて前記第２シフトピッ
トが繰り返し連続して設けられている光ディスクの記録
面の傾きを検出するチルト検出装置であって、前記光デ
ィスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記
録再生を行う光ヘッドと、前記光ディスクからの反射光
を、トラック方向の線に沿って２分割された第１、第２
受光素子で受光する２分割光検出器と、前記光スポット
をトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
前記第1シフトピットと第2シフトピットを前記光ヘッド
で再生した再生信号から生成されるオフトラック検出信
号を生成するオフトラック検出手段と、前記第１シフト
ピットからの反射光を２分割光検出器で受光し、第１、
第２受光素子からの出力の和である第１和信号と、前記
第２シフトピットからの反射光を２分割光検出器で受光
し、第１、第２受光素子からの出力の和である第２和信
号とを用い、第１和信号と第２和信号のエンベロープ信
号の絶対値の低い方のレベル同士を比較する第１比較信
号と、第１和信号と第２和信号のエンベロープ信号の絶
対値の高い方のレベル同士を比較する第２比較信号と、
第１和信号と第２和信号の振幅を比較する第３比較信号
のうちいずれか１つの比較信号を用いて光ディスクの記
録面の傾きを検出するチルト検出手段を有すると共に、
前記オフトラック検出手段は、前記第１から第３比較信
号のうち、前記チルト検出手段で用いられなかった２つ
の比較信号のうちの１つを用いて前記トラックのセンタ
と光スポットのセンタとのずれ量を検出し、前記チルト
検出手段で用いる比較信号が前記第１比較信号であり、
オフトラック検出手段で用いる比較信号が第３比較信号
であることを特徴とするチルト検出装置である。

【００１４】

【００１５】

【００１６】

【００１７】

【００１８】

【００１９】

【００２０】第２の観点は実施の形態におけるトラッキ
ング制御手段とオフトラック検出に対応するものであ
る。

【００２１】本発明のチルト検出装置において、前記光
スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御
手段は前記２分割光検出器のそれぞれの検出器の差出力
による連続溝からのプシュプル信号を用い、 前記オフ
トラック検出手段の出力を前記トラッキング制御手段に
加算することを特徴とする。

【００２２】

【００２３】

【００２４】第３の観点は、シフトピットの間隔が小さ
い場合（図８）に対応するものである。

【００２５】第３の観点のチルト検出装置で用いられる
光ディスクにおいて、前記第１シフトピットが繰り返さ
れる間隔であるスペースＬｓは、ピット長をＬｐとした
場合、Ｌｐ＜Ｌｓ＜２Ｌｐであることを特徴とする。

【００２６】第４の観点は、次の通りである。

【００２７】同心円またはスパイラル状に連続して形成
したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けら
れ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および
第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピット
と第２シフトピットとを有し、前記第１シフトピットは
繰り返し連続して設けられ、続いて前記第２シフトピッ
トが繰り返し連続して設けられている光ディスクの記録
面の傾きを検出し、補正する光ディスク装置であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、
信号の記録再生を行う光ヘッドと、前記光ディスクから
の反射光を、トラック方向の線に沿って２分割された第
１、第２受光素子で受光する２分割光検出器と、前記光
スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御
手段と、前記第１シフトピットと第２シフトピットを前
記光ヘッドで再生した再生信号から生成されるオフトラ
ック検出信号を生成するオフトラック検出手段と、前記
トラッキング制御手段およびオフトラック検出手段によ
り、光スポットがトラックのセンタに位置された状態
で、前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検出
器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である
第１和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を２
分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力
の和である第２和信号とを用い、第１和信号と第２和信
号のエンベロープ信号の絶対値の低い方のレベル同士を
比較する第１比較信号と、第１和信号と第２和信号のエ
ンベロープ信号の絶対値の高い方のレベル同士を比較す
る第２比較信号と、第１和信号と第２和信号の振幅を比
較する第３比較信号のうちいずれか１つの比較信号を用
いて光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手
段と、チルト検出手段により検出されたチルト量により
光ディスクの角度を補正するチルト補正手段とを有する
と共に、前記オフトラック検出手段は、前記第１から第
３比較信号のうち、前記チルト検出手段で用いられなか
った２つの比較信号のうちの１つを用いて、前記トラッ
クのセンタと光スポットのセンタとのずれ量を検出し、
前記チルト検出手段で用いる比較信号が前記第１比較信
号であり、オフトラック検出手段で用いる比較信号が第
３比較信号であることを特徴とする光ディスク装置であ
る。

【００２８】第５の観点は、光ディスク装置のチルト検
出位置に関し、光ディスクの少なくとも内周、中周、外
周の３つの半径位置により前記チルト検出値を検出する
ことを特徴とする。

【００２９】第６の観点は、本発明の光ディスク装置に
おいて、前記光スポットをトラック上に位置制御するト
ラッキング制御手段は前記２分割光検出器のそれぞれの
検出器の差出力による連続溝からのプシュプル信号を用
い、 前記オフトラック検出手段の出力を前記トラッキ
ング制御手段に加算することを特徴とする。

【００３０】第７の観点は次の通りである。

【００３１】同心円またはスパイラル状に連続して形成
したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けら
れ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および
第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピット
と第２シフトピットとを有し、前記第１シフトピットは
繰り返し連続して設けられ、続いて前記第２シフトピッ
トが繰り返し連続して設けられている光ディスクの記録
面の傾きを検出するチルト検出方法であって、前記光デ
ィスクに光ビームを絞った光スポットをあて、前記光デ
ィスクからの反射光を、トラック方向の線に沿って２分
割された第１、第２受光素子で受光し、前記光スポット
をトラック上に位置制御するトラッキング制御を行い、
前記第１シフトピットと第２シフトピットを前記光ヘッ
ドで再生した再生信号から生成されるオフトラック検出
信号を生成し、前記トラッキング制御およびオフトラッ
ク検出信号により、光スポットがトラックのセンタに位
置された状態で、前記第１シフトピットからの反射光を
受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第１
和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を受光
し、第１、第２受光素子からの出力の和である第２和信
号とを用い、第１和信号と第２和信号における絶対値の
低い方のエンベロープ信号同士を比較する第１比較信号
と、第１和信号と第２和信号における絶対値の高い方の
エンベロープ信号同士を比較する第２比較信号と、第１
和信号と第２和信号のそれぞれの振幅を比較する第３比
較信号のうちいずれか１つの比較信号を用いて光ディス
クの記録面の傾きを検出し、前記オフトラック検出信号
は、前記第１、第２、第３比較信号のうち、前記ディス
ク記録面の傾き検出で用いられなかった残りの２つの比
較信号のうちの１つを用いて前記トラックのセンタと光
スポットのセンタとのずれ量を検出し、前記ディスク記
録面の傾き検出で用いる比較信号が前記第１比較信号で
あり、オフトラック検出信号で用いる比較信号が第３比
較信号であることを特徴とするチルト検出方法である。

【００３２】第８の観点は、本発明のチルト検出方法に
おいて、前記トラッキング制御は、前記連続して形成し
たトラック上で前記２分割光検出器のそれぞれの検出器
から得られる信号の差出力であるプシュプル信号を用
い、前記オフトラック検出信号を前記プシュプル信号に
加算することを特徴とする。

【００３３】

【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態及び参考
例における共通事項について、図面を参照しながら説明
する。

【００３４】図１に光ディスク装置の構成図を示す。

【００３５】図１において、１０１は光ディスク、１０
２は、光ディスクに光ビームを集光させる光ヘッド、１
００はａ、ｂ、ｃ、ｄの光検出素子からなる4分割光検
出器、１０３はチルト台、１０４は、演算回路、１０５
は光スポットを光ディスク面上に焦点位置制御するフォ
ーカス制御部、１０６は光スポットをトラック上に位置
制御するトラッキング制御部、１０７は前記光ビームの
光軸に対する光ディスクの記録面の傾きを検出するため
に、光検出器の出力から前記光ディスクの記録面の傾き
を検出するチルト検出部、１０８は前記チルト検出部の
検出値から、前記光ヘッドを傾け、前記光ビームの光軸
に対する前記光ディスクの記録面の傾きを補正するチル
ト補正部である。１１０はオフトラック検出部、１１１
はオフトラック制御部である。なお、4分割光検出器
は、ａ、ｄを一体物、ｂ、ｃを一体物と見た場合は、ト
ラック方向に平行に2分割された2分割光検出器と見るこ
ともできる。

【００３６】次に、記録再生動作の説明をする。

【００３７】光ヘッド１０２によって、光ディスク１０
１上に集光された光スポットは、フォーカス制御部１０
５によって、光ディスク１０１上にフォーカスされ、ト
ラッキング制御部１０６によって、光ディスク１０１の
所望の半径位置の所望のトラック位置に光スポットをト
ラッキングする。フォーカスおよびトラッキングされた
光スポットによって、光ディスク上の凹凸のピットある
いは、相変化光ディスクのような反射率の異なる濃淡の
マークを再生することによって、光ディスク上に記録さ
れたデータを読み出す。

【００３８】図４を用いて記録動作の説明をする。

【００３９】相変化型の光ディスク装置では、結晶部を
アモルファス化するピークパワー４０１と、アモルファ
ス部を結晶化するバイアスパワー４０２の２つのパワー
で半導体レーザを光ディスク媒体に照射させることによ
り、光ディスク媒体上にマーク（アモルファス部）４０
４と、マークに挟まれたスペース４０５（結晶部）を形
成する。

【００４０】マークとスペースでは反射率が異なるの
で、再生時にはこの反射率の違いを、前記ピークパワー
４０１および前記バイアスパワー４０２よりも低いパワ
ーである再生パワー４０３を利用して記録された信号を
読み出す。

【００４１】次に、図５を用いてチルトについて説明す
る。

【００４２】図５のように光ディスク５０１の中心と、
光ヘッド５０２から光ディスク５０１上に集光された光
スポットを結ぶ線上をラジアル方向５０４とよび、光デ
ィスク５０１のある平面上で前記ラジアル方向５０４に
垂直な方向をタンジェンシャル方向５０５とよぶ。ま
た、光ディスク５０１上の平面に垂直な方向をｚ軸方向
５０６とよぶ。

【００４３】チルトには、方向で区別すると、トラック
に直交する向きのラジアル方向のチルトとトラックに平
行な向きであるタンジェンシャル方向のチルトがある。

【００４４】図６を用いてラジアルチルト（Ｒチルト）
について説明する。

【００４５】図６において６０１は光ディスク、６０２
は光ヘッド、６０３はチルト台である。ラジアルチルト
（Ｒチルト）には、ディスクの反り、ディスクの回転に
よって生じる面ぶれ等によって生じるディスクＲチルト
６０４と、光ビームの光軸に対する前記光ディスク６０
１の記録面の傾き（チルト）が、光ヘッドの取り付け誤
差やチルト台の傾きによって生じるドライブＲチルト６
０５がある。本質的には、ディスクＲチルトとドライブ
Ｒチルトは区別せずにＲチルトとよぶ。

【００４６】図７を用いてタンジェンシャルチルト（Ｔ
チルト）について説明する。

【００４７】図７において７０１は光ディスク、７０２
は光ヘッド、７０３はチルト台である。タンジェンシャ
ルチルト（Ｔチルト）には、ディスク回転振動、ディス
クの面精度誤差等によって生じるディスクＴチルト７０
４と、光ビームの光軸に対する前記光ディスク７０１の
記録面の傾き（チルト）が、光ヘッドの取り付け誤差や
チルト台の傾きによって生じるドライブＴチルト７０５
がある。本質的には、ディスクＴチルトとドライブＴチ
ルトは区別せずにＴチルトとよぶ。

【００４８】次にＲチルトの検出方法を説明する。図１
のチルト検出部１０７におけるＲチルト検出方法には、
以下のものがある。 （１）トラッキングオンの状態、すなわち光ビームがト
ラックに沿って動作している状態で、光ディスクにあら
かじめ形成された案内溝で回折された光を受光した2分
割光検出器の差動信号（プシュプルＴＥ）の電圧を検出
してＲチルトを検出する方法。 （２）トラッキングオフの状態、すなわち光ビームがト
ラックを横断しながら動作している状態で、光ディスク
にあらかじめ形成された案内溝で回折された光を受光し
た2分割光検出器の差動信号（プシュプルＴＥ）の振幅
を検出してＲチルトを検出する方法。 （３）トラッキングオンの状態で、光ディスクにあらか
じめ周期的に蛇行（ウォブル）させながら形成された案
内溝のウォブル信号の振幅を検出してＲチルトを検出す
る方法。 （４）トラッキングオンの状態で、光ディスクにあらか
じめプリピットされているちどりマーク状の連続ピット
を再生したときの2分割光検出器の和信号出力の再生信
号の前半部と後半部の振幅あるいは下側信号のレベル
（下エンベロープ）あるいは上側信号のレベル（上エン
ベロープ）を比較してＲチルトを検出する方法。 （５）トラッキングオンの状態で、光ディスクにあらか
じめプリピットされているちどりマーク状の連続ピット
を再生したときの2分割光検出器の差信号出力の再生信
号の前半部と後半部の振幅あるいは上側信号のレベル
（上エンベロープ）を比較してＲチルトを検出する方
法。 （６）トラッキングオンの状態で、光ディスクにあらか
じめプリピットされているちどりマーク状の孤立ピット
を再生したときの2分割光検出器の和信号出力の再生信
号の前半部と後半部の振幅あるいは下側信号のレベル
（下エンベロープ）を比較してＲチルトを検出する方法
がある。

【００４９】以上の内、（１）、（３）、（４）、
（５）、（６）の方法については、トラッキングオンの
状態でＲチルトの検出を行っている。たとえＲチルトま
たはＴチルトが生じていても、オフトラック検出部１１
０、オフトラック制御部１１１により、光スポットをト
ラックのセンタに位置させることが可能である。特に、
（１）、（３）、（５）については、まず、オフトラッ
ク検出部１１０、オフトラック制御部１１１により、光
スポットをトラックのセンタに位置させる。その状態
で、光スポットの中心（真円部分の中心）を通り、トラ
ック方向に平行な線で光スポットを２分割し、それぞれ
の分割部分の光量を調べる。2つの分割部分の光量が等
しい場合は、Ｒチルトがない場合であり、差が生じてい
る場合は、Ｒチルトがある場合である。以上の内、
（１）、（３）、（４）、（５）、（６）の方法につい
ては、トラッキングオンの状態でＲチルトの検出を行っ
ている。たとえＲチルトまたはＴチルトが生じていて
も、オフトラック検出部１１０、オフトラック制御部１
１１により、光スポットをトラックのセンタに位置させ
ることが可能である。特に、（１）、（３）、（５）に
ついては、まず、オフトラック検出部１１０、オフトラ
ック制御部１１１により、光スポットをトラックのセン
タに位置させる。その状態で、光スポットの中心（真円
部分の中心）を通り、トラック方向に平行な線で光スポ
ットを２分割し、それぞれの分割部分の光量を調べる。
2つの分割部分の光量が等しい場合は、Ｒチルトがない
場合であり、差が生じている場合は、Ｒチルトがある場
合である。

【００５０】以下の（１）、（３）、（４）、（５）、
（６）の方法の説明においては、オフトラック検出部１
１０、オフトラック制御部１１１により、光スポットは
トラックのセンタに位置させられているものとして説明
する。なお、オフトラック検出部１１０、オフトラック
制御部１１１の詳細については、後で、図２４から図２
９を参照しながら説明する。尚、本願発明において、前
記（４）の方法を実施の形態とし、前記（１）〜
（３）、（５）および（６）の方法を参考例として以下
に説明する。

【００５１】参考例１ まず、（１）の光スポットが光ディスクにあらかじめ形
成された案内溝で回折された光を受光した2分割光検出
器の差動信号（プシュプルＴＥ）の電圧を検出してＲチ
ルトを検出する方法を参考例１として説明する。

【００５２】図１８が光ディスク上の案内溝の断面図と
そのときのトラッキングエラーを示す再生信号であるプ
シュプルＴＥ信号波形である。１８０１がグルーブトラ
ック、１８０２がランドトラックである。

【００５３】図１８に示す例は、トラッキングオン制御
がなされており、かつ、オフトラック制御がなされてい
る状態、すなわち光スポットがトラックのセンタに沿っ
て動作するように制御されている状態にある。図１８に
示す波形図は、再生時における2分割光検出器の差信号
出力（プシュプルＴＥ信号）を示す。

【００５４】Ｒチルト０度の時、プシュプルＴＥ信号
は、１８０３の基準レベルにある。Ｒチルトが＋０．４
度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生
じる。このとき、プシュプルＴＥ信号には位相シフトが
生じ前記Ｒチルトが０度のときの基準レベルからプシュ
プルＴＥ信号の再生信号にオフセット＋Ｇが生じる。Ｒ
チルトが−０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光ス
ポットに収差が生じる。このとき、プシュプルＴＥ信号
には位相シフトが生じ前記Ｒチルトが０度のときの基準
レベルからプシュプルＴＥ信号の再生信号にオフセット
−Ｇが生じる。Ｒチルトが＋０．４度のときと、Ｒチル
トが−０．４度のときにプシュプルＴＥ信号は基準レベ
ルからのオフセットＧが異なる。チルト検出部は、オフ
セットＧをチルト検出部の検出値として保持する。

【００５５】チルト制御部は、前記チルト検出値をチル
ト角とみなしてチルト角を補正する。

【００５６】上記のようにＲチルトが発生した状態での
Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値
Ｇの関係のシミュレーション結果が図１１である。シミ
ュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ
＝０．６、ラジアル方向における正規化された対物レン
ズ外周部の光強度であるＲＩＭ強度は０．２５、タンジ
ェンシャル方向ＲＩＭ強度は０．８３である。またスポ
ットはトラックの中心にトラッキングされている場合の
結果である。図１１でＲチルトが生じていない場合、プ
シュプルＴＥ信号のオフセットＧは０である。Ｒチルト
が発生すると、光スポットが収差をもち案内溝からの回
折光が真円とならず、光スポットの側部にこぶ状の1次
光スポットが形成される。Ｒチルトの角度が、＋の方向
にある場合（図6参照）は、＋1次光スポットが真円の右
側（図１８（ｃ）参照）に発生し、Ｒチルトの角度が、
−の方向にある場合は、−1次光スポットが真円の左側
（図１８（ａ）参照）に発生する。Ｒチルトが＋０．４
度のときとＲチルトが−０．４度のときでは案内溝から
の回折光を2分割光検出器で受光した場合の差動信号の
出力（プシュプルＴＥ信号）に差が生じる。前記プシュ
プルＴＥ信号のオフセットＧをプロットしたものが図１
１の曲線になる。

【００５７】チルト検出部は、前記プシュプルＴＥ信号
のオフセットＧをチルト角の検出値としてチルト角を検
出する。

【００５８】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記プシュプルＴＥ信号のオフセットＧ
が−０．０８である場合、図１１より、Ｒチルトは＋
０．４度であることから、チルト補正部１０８は、この
検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送
信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０３を
動かすことで、Ｒチルト角を補正する。

【００５９】なおシミュレーションで用いた光学条件に
限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。

【００６０】前記チルト検出値は2分割光検出器にミラ
ー部からの反射光が１００％戻ってきた場合の光量を１
として規格化されている。

【００６１】参考例２ 次に、（２）のトラッキングオフの状態で、光スポット
が光ディスクにあらかじめ形成された案内溝から回折さ
れた光を受光した2分割光検出器の差動信号（プシュプ
ルＴＥ）の振幅を検出してＲチルトを検出する方法を参
考例２として説明する。

【００６２】ここでは、トラッキングオフの状態にある
ので、光スポットはトラックを横断するよう動作してい
る。図１９が光ディスク上の案内溝の配置図とそのとき
のプシュプルＴＥ信号波形である。１９０１が光スポッ
ト、１９０２が案内溝の中心であるトラック中心、１９
０３が前記光ディスクにあらかじめ形成された案内溝で
ある。

【００６３】トラッキングオフのときの2分割光検出器
の差信号出力（この場合プシュプルＴＥ信号）の再生時
の例である。

【００６４】Ｒチルト０度の時、プシュプルＴＥ信号の
振幅Ｋは大である。Ｒチルトが０．４度生じた場合、Ｒ
チルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、
プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋも回折の影響で振幅が減少
する。Ｒチルトが−０．４度生じた場合、Ｒチルトによ
って光スポットに収差が生じる。このとき、プシュプル
ＴＥ信号の振幅Ｋも回折の影響で振幅が減少する。Ｒチ
ルトが＋０．４度のときと、Ｒチルトが−０．４度のと
きのプシュプルＴＥ信号の振幅Ｋは、Ｒチルトが０度の
ときの振幅Ｋと異なる。チルト検出部は、このプシュプ
ルＴＥ信号の振幅Ｋをチルト検出部の検出値として保持
する。

【００６５】チルト制御部は、前記チルト検出値をチル
ト角とみなしてチルト角を補正する。

【００６６】上記のようにＲチルトが発生した状態での
Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値
Ｋの関係のシミュレーション結果が図１２である。シミ
ュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ
＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タンジェ
ンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。図１２でＲチ
ルトが生じていない場合、プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋ
は１．０である。Ｒチルトが発生すると、光スポットが
収差をもち案内溝からの回折光がＲチルトが±０．４度
のときとＲチルトが±０度のときでは案内溝からの回折
光を2分割光検出器で受光した場合の差動信号の出力
（プシュプルＴＥ信号）に差が生じる。前記プシュプル
ＴＥ信号の振幅Ｋをプロットしたものが図１２の曲線に
なる。

【００６７】チルト検出部は、前記プシュプルＴＥ信号
の振幅Ｋをチルト角の検出値としてチルト角を検出す
る。

【００６８】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋが０．
８である場合、図１２より、Ｒチルトは＋０．４度ある
いは−０．４度であることから、チルト補正部１０８
は、この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１
０９に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台
１０３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。

【００６９】なおシミュレーションで用いた光学条件に
限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。

【００７０】

【００７１】参考例３ 次に、（３）の光スポットが光ディスクにあらかじめ周
期的に蛇行（ウォブル）させながら形成された案内溝か
ら回折された光を受光した2分割光検出器の差動信号
（ウォブル信号）の振幅を検出してＲチルトを検出する
方法を参考例３として説明する。

【００７２】図２０が光ディスク上の案内溝の配置図と
そのときのプシュプルＴＥ信号波形である。２００１が
光スポット、２００２が案内溝の中心であるトラック中
心、２００３があらかじめウォブルさせながら形成され
た案内溝である。

【００７３】ここでは、トラッキングオンの状態にある
ので、光スポットはトラックのセンタに沿って動作して
いる。図２０には、再生時における2分割光検出器の差
信号出力（この場合ウォブル信号）が示されている。

【００７４】Ｒチルト０度の時、ウォブル信号の振幅Ｈ
は最大である。Ｒチルトが０．４度生じた場合、Ｒチル
トによって光スポットに収差が生じる。このとき、ウォ
ブル信号の振幅Ｈも回折の影響で振幅が減少する。Ｒチ
ルトが−０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポ
ットに収差が生じる。このとき、ウォブル信号の振幅Ｈ
も回折の影響で振幅が減少する。Ｒチルトが＋０．４度
のときと、Ｒチルトが−０．４度のときのウォブル信号
の振幅Ｈは、Ｒチルトが０度のときの振幅Ｈと異なる。
チルト検出部は、このウォブル信号の振幅Ｈをチルト検
出部の検出値として保持する。

【００７５】チルト制御部は、前記チルト検出値をチル
ト角とみなしてチルト角を補正する。

【００７６】上記のようにＲチルトが発生した状態での
Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値
Ｈの関係のシミュレーション結果が図１３である。シミ
ュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ
＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タンジェ
ンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポット
はトラックの中心にトラッキングされている場合の結果
である。図１３でＲチルトが生じていない場合、ウォブ
ル信号の振幅Ｈは０．０９である。Ｒチルトが発生する
と、光スポットが収差をもち案内溝からの回折光がＲチ
ルトが±０．４度のときとＲチルトが±０度のときでは
案内溝からの回折光を2分割光検出器で受光した場合の
差動信号の出力（ウォブル信号）に差が生じる。前記ウ
ォブル信号の振幅Ｈをプロットしたものが図１３の曲線
になる。

【００７７】チルト検出部は、前記ウォブル信号の振幅
Ｈをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。

【００７８】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記ウォブル信号の振幅Ｈが０．０８３
である場合、図１３より、Ｒチルトは＋０．４度あるい
は−０．４度であることから、チルト補正部１０８は、
この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９
に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０
３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。

【００７９】なおシミュレーションで用いた光学条件に
限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。

【００８０】前記チルト検出値は2分割光検出器にミラ
ー部からの反射光が１００％戻ってきた場合の光量を１
として規格化されている。

【００８１】参考例４ 次に、（５）の光ディスクにあらかじめプリピットされ
ているちどりマーク状の連続ピットを再生したときの2
分割光検出器の差信号出力の再生信号の前半部と後半部
の振幅を比較してＲチルトを検出する方法を参考例４と
して説明する。

【００８２】図２３が光ディスク上のピット配置図であ
る。２３０１がデータを記録するためにスパイラル状に
掘られた案内溝のグルーブトラック、２３０２が前記グ
ルーブトラックに挟まれたランドトラックである。２３
０３は、前記グルーブトラックの中心から外周側あるい
は内周側にウォブリングされて形成されている前半部の
繰返しピット列、２３０４は前記前半部の繰返しピット
列に続いて、前記グルーブトラックの中心から前記前半
部の繰返しピット列とはトラック中心に対して対称位置
にウォブリングされて形成されている後半部の繰返しピ
ット列である。ウォブルされているピット列のラジアル
方向のピット間隔１．１９μｍ、ピット幅０．３６μ
ｍ、ピット深さλ／６、ピット長０．４６２μｍ、タン
ジェンシャル方向ピット間隔１．１２μｍの繰返しパタ
ーン、トラック中心からピット中心までの振り幅が０．
３μｍ外周あるいは内周側にウォブルされたピットであ
る。

【００８３】トラッキングオンの時の2分割光検出器の
差信号出力について説明する。ここでは、トラッキング
オンの状態にあるので、光スポットはトラックのセンタ
に沿って動作している。

【００８４】図２３で、2分割光検出器の一方をＮ１、
もう一方のディテクタがＮ２である。トラック中心から
ウォブルされて配置されている連続ピットを再生する場
合、ディテクタの一方は、ピットで回折された光によっ
て、大きく変調されるが、もう一方は、ピットによる回
折の影響が少なく、光強度変化は少ない。差信号出力は
前記Ｎ１とＮ２の差信号出力Ｎ１−Ｎ２で、Ｎ−の出力
となる。

【００８５】図２２に2分割光検出器の差信号出力の再
生時の例を示す。

【００８６】再生信号波形はＲチルト０度の時、前半部
の繰返しピットを再生した場合と、後半部の繰返しピッ
トを再生した場合、ピット列によって変調された信号の
振幅ＩとＪはＩ＝Ｊの関係にある。Ｒチルトが０．４度
生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じ
る。このとき、前半部の繰返しピット列から再生される
差信号出力の振幅Ｉと、後半部の繰返しピット列から再
生される差信号出力の振幅Ｊは異なる。チルト検出部
は、この前半部と後半部の差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊを
チルト検出部の検出値として保持する。Ｒチルトが−
０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収
差が生じる。このとき、前半部の繰返しピット列から再
生される差信号出力の振幅Ｉと、後半部の繰返しピット
列から再生される差信号出力の振幅Ｊは異なる。チルト
検出部は、この前半部と後半部の差信号出力の振幅差Ｉ
−Ｊをチルト検出部の検出値として保持する。

【００８７】前記前半部と後半部の差信号出力の振幅
は、サンプルホールド回路によって、電圧のＤＣ値が保
持され、前半部の差信号出力の保持値Ｉ、後半部の差信
号出力の保持値Ｊの差Ｉ−Ｊをチルト検出値とし、チル
ト制御部は、前記チルト検出値をチルト角とみなしてチ
ルト角を補正する。

【００８８】上記のようにＲチルトが発生した状態での
Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値
Ｉ−Ｊの関係のシミュレーション結果が図１５である。
シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、
ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タン
ジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポ
ットはトラックの中心にトラッキングされている場合の
結果である。図１５でＲチルトが生じていない場合、差
信号出力の振幅の差Ｉ−Ｊは０である。Ｒチルトが発生
すると、光スポットが収差をもちピットからの回折光の
うち前半部の繰返しピットからの回折光量と後半部の繰
返しピットからの回折光量に差が生じる。前記前半部差
信号出力の振幅Ｉと前記後半部差信号出力の振幅Ｊの振
幅差Ｉ−Ｊをプロットしたものが図１５の曲線になる。

【００８９】チルト検出部は、前記差信号出力の振幅差
Ｉ−Ｊをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。

【００９０】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊが−０．
０９である場合、図１５より、Ｒチルトは＋０．４度で
あることから、チルト補正部１０８は、この検出値に応
じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送信し、チル
ト制御部１０９によって、チルト台１０３を動かすこと
で、Ｒチルト角を補正する。

【００９１】上記の場合、さらに光スポットがトラック
の中心から＋０．０２μｍオフトラックが生じている状
態での、Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出され
た検出値Ｉ−Ｊの関係のシミュレーション結果が図１６
である。シミュレーションで用いた光学条件は波長６５
０ｎｍ、ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２
５、タンジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。
図１６でＲチルトが生じていない場合、差信号出力の振
幅の差Ｉ−Ｊは０である。Ｒチルトが発生すると、光ス
ポットが収差をもちピットからの回折光のうち前半部の
繰返しピットからの回折光量と後半部の繰返しピットか
らの回折光量に差が生じる。前記前半部差信号出力の振
幅Ｉと前記後半部差信号出力の振幅Ｊの振幅差Ｉ−Ｊを
プロットしたものが図１６の曲線になる。図１６の曲線
は、図１５の曲線とほとんど同じである。これは、光ス
ポットがトラックの中心にある場合（図１５）と、光ス
ポットがトラックの中心から＋０．０２μｍずれた位置
にある場合（図１６）とではチルト角の検出結果が同じ
であることを示す。

【００９２】チルト検出部は、前記差信号出力の振幅差
Ｉ−Ｊをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。

【００９３】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊが−０．
０９である場合、図１６より、Ｒチルトは＋０．４度で
あることから、チルト補正部１０８は、この検出値に応
じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送信し、チル
ト制御部１０９によって、チルト台１０３を動かすこと
で、Ｒチルト角を補正する。

【００９４】

【００９５】ここでは、繰返しピット列の前半と後半の
差信号出力の振幅差をチルト制御部の検出値として説明
したが、チルト検出値として差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊ
の代わりに、繰返しピット列の差信号出力の上側信号レ
ベル差Ｉｔ−Ｊｔを用いても構わない。

【００９６】なおシミュレーションで用いた光学条件に
限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。

【００９７】前記チルト検出値は2分割光検出器にミラ
ー部からの反射光が１００％戻ってきた場合の光量を１
として規格化されている。

【００９８】参考例５ 次に（６）の光ディスクにあらかじめプリピットされて
いるちどりマーク状の孤立ピットを再生したときの2分
割光検出器の和信号出力の再生信号の前半部と後半部の
下側信号のレベルを比較してＲチルトを検出する方法を
参考例５として説明する。

【００９９】図９が孤立ピットを配した光ディスクのピ
ットの配置図とそのときの再生信号波形である。９０１
がデータを記録するためにスパイラル状に掘られた案内
溝のグルーブトラック、９０２が前記グルーブトラック
に挟まれたランドトラックである。９０３は、前記グル
ーブトラックの中心から外周側あるいは内周側にウォブ
リングされて形成されている前半部の孤立ピット、９０
４は、前記前半部の孤立ピットに続いて、前記グルーブ
トラックの中心から前記前半部の孤立ピットとはトラッ
ク中心に対して対称位置にウォブリングされて形成され
ている後半部の孤立ピットである。ウォブルされている
ピットのラジアル方向のピット間隔１．１９μｍ、トラ
ック方向の孤立ピット間隔１０μｍ以上、孤立ピットの
ピット幅０．３６μｍ、ピット深さλ／６、ピット長
０．４６２μｍ、トラック中心からピット中心までの振
り幅が０．３μｍ外周あるいは内周側にウォブルされた
ピットである。ここで、シフトされたピットが繰り返さ
れる間隔であるスペースＬｓは、ピット長をＬｐとした
場合、２０Ｌｐ＜Ｌｓを満たす。

【０１００】再生信号波形は、2分割光検出器の和信号
再生時の例である。ここでは、トラッキングオンの状態
にあるので、光スポットはトラックのセンタに沿って動
作している。

【０１０１】再生信号波形はＲチルト０度の時、前半部
の孤立ピットを再生した場合と、後半部の孤立ピットを
再生した場合、ピットによって変調された和信号出力の
下側レベルＥとＦはＥ＝Ｆの関係にある。Ｒチルトが＋
０．６度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収
差が生じる。このとき、前半部の孤立ピットから再生さ
れる和信号出力の下側レベルＥと、後半部の孤立ピット
から再生される和信号出力の下側レベルＦは異なる。チ
ルト検出部は、この前半部と後半部の和信号出力の下側
信号レベル差Ｅ−Ｆをチルト検出部の検出値として保持
する。

【０１０２】Ｒチルトが−０．６度生じた場合、Ｒチル
トによって光スポットに収差が生じる。このとき、前半
部の孤立ピットから再生される和信号出力の下側レベル
Ｅと、後半部の孤立ピットから再生される和信号出力の
下側レベルＦは異なる。チルト検出部は、この前半部と
後半部の和信号出力の下側信号レベル差Ｅ−Ｆをチルト
検出部の検出値として保持する。

【０１０３】前記前半部と後半部の和信号出力の振幅
は、サンプルホールド回路によって、電圧のＤＣ値が保
持され、前半部の和信号出力の保持値Ｅ、後半部の和信
号出力の保持値Ｆの差Ｅ−Ｆをチルト検出値とし、チル
ト制御部は、前記チルト検出値をチルト角とみなしてチ
ルト角を補正する。

【０１０４】上記のようにＲチルトが発生した状態での
Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値
Ｅ−Ｆの関係のシミュレーション結果が図１７である。
シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、
ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タン
ジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポ
ットはトラックの中心にトラッキングされている場合の
結果である。図１７でＲチルトが生じていない場合、和
信号出力の下側信号レベル差Ｅ−Ｆは０である。Ｒチル
トが発生すると、光スポットが収差をもちピットからの
回折光のうち前半部の孤立ピットからの回折光量と後半
部の孤立ピットからの回折光量に差が生じる。前記前半
部の和信号出力の下側信号レベルＥと前記後半部の和信
号出力の下側信号レベルＦの差Ｅ−Ｆをプロットしたも
のが図１７の曲線になる。

【０１０５】チルト検出部は、前記和信号出力の下側信
号レベル差Ｅ−Ｆをチルト角の検出値としてチルト角を
検出する。

【０１０６】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記和信号出力の下側信号レベル差Ｅ−
Ｆが＋０．０６である場合、図１７より、Ｒチルトは＋
０．６度であることから、チルト補正部１０８は、この
検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送
信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０３を
動かすことで、Ｒチルト角を補正する。

【０１０７】なおシミュレーションで用いた光学条件に
限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。

【０１０８】前記チルト検出値は2分割光検出器にミラ
ー部からの反射光が１００％戻ってきた場合の光量を１
として規格化されている。

【０１０９】このようにチルト検出部で検出された検出
値は、チルト補正部によって、チルト角が算出され、チ
ルト制御部によって、チルト台を動かして、Ｒチルトを
なくし、記録再生信号の信号品質を向上させる。

【０１１０】なお、前述の（１）、（３）から（６）の
方法でＲチルトを検出するためには、光スポットがあら
かじめ案内溝で形成されたトラックの中心を走査してい
ることが望ましい。光ディスクのトラックの中心と光ス
ポットとのずれをオフトラックと呼ぶ。オフトラックが
０、すなわち、光スポットが光ディスクのあらかじめ形
成された案内溝の中心を走査していると前述の（１）、
（３）から（６）の方法でＲチルトを検出する場合によ
り精度よく、Ｒチルトを検出することが可能である。

【０１１１】実施の形態 次に、（４）の光ディスクにあらかじめプリピットされ
ているちどりマーク状の連続ピットを再生したときの2
分割光検出器の和信号出力の再生信号の前半部と後半部
の下側信号のレベルを比較してＲチルトを検出する方法
を実施の形態として説明する。

【０１１２】図８が光ディスク上のピット配置図であ
る。８０１がデータを記録するためにスパイラル状に掘
られた案内溝のグルーブトラック、８０２が前記グルー
ブトラックに挟まれたランドトラックである。８０３
は、前記グルーブトラックの中心から外周側あるいは内
周側にウォブリングされて形成されている前半部の繰返
しピット列、８０４は前記前半部の繰返しピット列に続
いて、前記グルーブトラックの中心から前記前半部の繰
返しピット列とはトラック中心に対して対称位置にウォ
ブリングされて形成されている後半部の繰返しピット列
である。ウォブルされているピット列のラジアル方向の
ピット間隔１．１９μｍ、ピット幅０．３６μｍ、ピッ
ト深さλ／６、ピット長０．４６２μｍ、タンジェンシ
ャル方向ピット間隔１．１２μｍの繰返しパターン、ト
ラック中心からピット中心までの振り幅が０．３μｍ外
周あるいは内周側にウォブルされたピットである。ここ
でシフトされたピットが繰り返される間隔であるスペー
スＬｓは、ピット長をＬｐとした場合、Ｌｐ＜Ｌｓ＜２
Ｌｐを満たす。

【０１１３】図２１に2分割光検出器の和信号出力の再
生時の例を示す。ここでは、トラッキングオンの状態に
あるので、光スポットはトラックのセンタに沿って動作
している。

【０１１４】再生信号波形はＲチルト０度の時、前半部
の繰返しピットを再生した場合と、後半部の繰返しピッ
トを再生した場合、ピット列によって変調された和信号
出力の下側レベルＡｂとＢｂはＡｂ＝Ｂｂの関係にあ
る。Ｒチルトが０．４度生じた場合、Ｒチルトによって
光スポットに収差が生じる。このとき、前半部の繰返し
ピット列から再生される和信号出力の下側レベルＡｂ
と、後半部の繰返しピット列から再生される和信号出力
の下側レベルＢｂは異なる。チルト検出部は、この前半
部と後半部の和信号出力の下側信号レベルＡｂ−Ｂｂを
チルト検出部の検出値として保持する。

【０１１５】Ｒチルトが−０．４度生じた場合、Ｒチル
トによって光スポットに収差が生じる。このとき、前半
部の繰返しピット列から再生される和信号出力の下側レ
ベルＡｂと、後半部の繰返しピット列から再生される和
信号出力の下側レベルＢｂは異なる。チルト検出部は、
この前半部と後半部の和信号出力の下側信号レベルＡｂ
−Ｂｂをチルト検出部の検出値として保持する。

【０１１６】前記前半部と後半部の和信号出力の振幅
は、サンプルホールド回路によって、電圧のＤＣ値が保
持され、前半部の和信号出力の保持値Ａｂ、後半部の和
信号出力の保持値Ｂｂの差Ａｂ−Ｂｂをチルト検出値と
し、チルト制御部は、前記チルト検出値をチルト角とみ
なしてチルト角を補正する。

【０１１７】上記のようにＲチルトが発生した状態での
Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値
Ａｂ−Ｂｂの関係のシミュレーション結果が図１４であ
る。シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎ
ｍ、ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、
タンジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。また
スポットはトラックの中心にトラッキングされている場
合の結果である。図２１でＲチルトが生じていない場
合、和信号出力の下側レベルの差Ａｂ−Ｂｂは０であ
る。Ｒチルトが発生すると、光スポットが収差をもちピ
ットからの回折光のうち前半部の繰返しピットからの回
折光量と後半部の繰返しピットからの回折光量に差が生
じる。前記前半部の和信号出力の下側レベルＡｂと前記
後半部の和信号出力の下側レベルＢｂの差Ａｂ−Ｂｂを
プロットしたものが図１４の曲線になる。

【０１１８】チルト検出部は、前記下側信号レベル差Ａ
ｂ−Ｂｂをチルト角の検出値としてチルト角を検出す
る。

【０１１９】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記和信号出力の下側信号レベル差Ａｂ
−Ｂｂが−０．０６である場合、図１４より、Ｒチルト
は＋０．４度であることから、チルト補正部１０８は、
この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９
に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０
３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。

【０１２０】ここでは、繰返しピット列の前半と後半の
和信号出力の下側信号レベルの差をチルト制御部の検出
値として説明したが、チルト検出値として和信号出力の
下側信号レベル差Ａｂ−Ｂｂの代わりに、繰返しピット
列の和信号出力の上側信号レベル差Ａｔ−Ｂｔを用いて
も構わない。

【０１２１】

【０１２２】後で図２６、図２７と共に説明するよう
に、オフトラック検出においても前半の繰返しピット列
の和信号と、後半の繰返しピット列の和信号との差が用
いられている。上述より明らかなように、和信号は、お
よそ正弦波カーブを描いて変動しているので、和信号の
値は、（ｉ）上側信号レベルを採る場合と、（ｉｉ）下
側信号レベルを採る場合と、（ｉｉｉ）正弦波カーブの
振幅を採る場合の3通りの採り方がある。この（４）の
チルト検出方法を行う場合、（ｉ）、（ｉｉ）、（ｉｉ
ｉ）のいずれかひとつを採用すれば、オフトラック検出
においては、残りのいずれかひとつを採用するようにし
ている。これによりチルト検出に利用される信号と、オ
フトラック検出に利用される信号とが全く同じものにな
ることを回避している。

【０１２３】なおシミュレーションで用いた光学条件に
限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。

【０１２４】前記チルト検出値は2分割光検出器にミラ
ー部からの反射光が１００％戻ってきた場合の光量を１
として規格化されている。

【０１２５】前記（４）のＲチルト検出方法における前
記オフトラックを補正する方法を以下で実施の形態とし
て説明する。また、以下のオフトラックを補正する方法
は、（４）のＲチルト検出方法に限らず前記（１）、
（３）および（５）のＲチルト検出方法におけるオフト
ラックを補正する方法として用いることも可能である。

【０１２６】オフトラックは、光ディスクにあらかじめ
ウォブルされて形成された、繰返しピット列を、光スポ
ットで再生する信号の和信号出力を用いて制御する。

【０１２７】図２４が光ディスク上のピット配置図であ
る。２４０１がデータを記録するためにスパイラル状に
掘られた案内溝のグルーブトラック、２４０２が前記グ
ルーブトラックに挟まれたランドトラックである。２４
０３は、前記グルーブトラックの中心から外周側あるい
は内周側にウォブリングされて形成されている前半部の
繰返しピット列、２４０４は前記前半部の繰返しピット
列に続いて、前記グルーブトラックの中心から前記前半
部の繰返しピット列とはトラック中心に対して対称位置
にウォブリングされて形成されている後半部の繰返しピ
ット列である。ウォブルされているピット列のラジアル
方向のピット間隔１．１９μｍ、ピット幅０．３６μ
ｍ、ピット深さλ／６、ピット長０．４６２μｍ、タン
ジェンシャル方向ピット間隔１．１２μｍの繰返しパタ
ーン、トラック中心からピット中心までの振り幅が０．
３μｍ外周あるいは内周側にウォブルされたピットであ
る。

【０１２８】図２５に2分割光検出器の和信号出力の再
生時の例を示す。

【０１２９】再生信号波形はオフトラック０の時、前半
部の繰返しピットを再生した場合と、後半部の繰返しピ
ットを再生した場合、ピット列によって変調された信号
の振幅ＬとＭはＬ＝Ｍの関係にある。オフトラックが
０．０２μｍ生じた場合、オフトラックによって2分割
光検出器の２つのディテクタの間に光量差が生じる。こ
のとき、前半部の繰返しピット列から再生される和信号
出力の振幅Ｌと、後半部の繰返しピット列から再生され
る和信号出力の振幅Ｍは異なる。この前半部と後半部の
和信号出力の振幅は、サンプルホールド回路によって、
電圧のＤＣ値が保持され、前半部の和信号出力の保持値
Ｌ、後半部の和信号出力の保持値Ｍの差Ｌ−Ｍをオフト
ラック検出値とし、この検出値をオフトラック位置とみ
なしてオフトラック位置を補正する。この場合、チルト
に依存せず、オフトラック位置を補正することが可能で
ある。

【０１３０】次に、チルト検出部によって検出された検
出値にもとづいて、光ディスクの異なる半径位置でのＲ
チルトの補正方法を、図１０を用いて説明する。

【０１３１】Ｒチルトはディスクの反りによって発生す
るため、光ディスクの内周から外周にかけてＲチルトの
大きさは図１０の曲線１００１のように変化する。

【０１３２】図１０において、１００１は、前記光ビー
ムの光軸に対する前記光ディスクの記録面の傾き（チル
ト）が、光ディスクの半径位置とともにどのように変化
しているかを表す実際のチルト曲線、１００２は前記チ
ルト曲線１００１上の内周の所定の半径位置でのチルト
量（またはチルト角）、１００３は前記チルト曲線１０
０１上の中周の所定の半径位置でのチルト量、１００４
は前記チルト曲線１００１上の外周の所定の半径位置で
のチルト量である。

【０１３３】次に、チルト検出部によって検出される検
出値から推定されるチルト量について説明する。１００
５は、前記チルト検出部によって、光ディスクの内周の
所定の半径位置で検出された検出値から推定されたチル
ト量、１００６は、前記チルト検出部によって、光ディ
スクの外周の所定の半径位置で検出された検出値から推
定されたチルト量、１００７は、前記チルト検出部によ
って、光ディスクの中周の所定の半径位置で検出された
検出値から推定されたチルト量、１００８は前記中周で
の推定されたチルト量１００７と、前記内周での推定さ
れたチルト量１００５および前記外周での推定されたチ
ルト量１００６を直線で補間した補間曲線１００８であ
る。

【０１３４】光ディスクは、チルトする際に内周と外周
でチルト量が異なる。このチルト量の半径位置による違
いを検出するために、本発明の光ディスク装置では、図
１０のように光ディスクの内周と外周およびその間の中
周の少なくとも３つの半径位置でのチルト量を検出す
る。チルト角を検出した内周と中周の半径位置の間にあ
る半径位置でのチルト量は、前記内周での検出値から推
定されたチルト量１００５と、前記中周での検出値から
推定されたチルト量１００７を直線で補間した曲線１０
０８上の値を内周と中周の間での所望の半径位置での推
定されたチルト量としている。チルト角を検出した外周
と中周の半径位置の間にある半径位置でのチルト量は、
前記外周での検出値から推定されたチルト量１００６
と、前記中周での検出値から推定されたチルト量１００
７を直線で補間した曲線１００８上の値を外周と中周の
間での所望の半径位置での推定されたチルト量としてい
る。

【０１３５】この場合、光ディスクの中周の所定の半径
位置で推定されたチルト量１００７と実際の光ディスク
の中周でのチルト量１００３を正しく補正することが可
能であり、従来の方法に比べて、内外周でチルト量が異
なる光ディスクに対して、各半径位置で正確かつ精度よ
くチルト位置を補正することが可能であり、光ディスク
の記録再生時の信号品質を著しく向上させることが可能
である。

【０１３６】次にチルト補正部１０８の動作について説
明する。図１０において、内周の半径位置でチルト角
（Ｒチルト）が０度になっている。あるいは、内周のチ
ルト角を相対的に０度とする。光ディスクの外周部にお
いては、内周部に比べてディスクのたわみの影響でチル
ト角が大きくなっている。このたわみはディスク毎にば
らついており、各々のディスクでチルト角の半径位置に
対する大きさの特性は異なる。

【０１３７】光スポットが光ディスク面上に収束してい
る半径位置が外側に移動し、中周、あるいは外周で、前
記チルト検出部によってチルト角を検出し、１００８の
補間したチルト曲線におけるチルト角が内周でのチルト
角に比べて閾値（例えば０．４度）以上異なる場合は、
チルト補正部は、チルト角が前記閾値となる半径位置に
おいてチルト角が０になるようにチルト台１０３を動か
すよう指令する。

【０１３８】これにより、チルト角が内周から外周にか
けて生じるディスクのたわみによって生じるチルト角
を、チルト台を動かすことで小さくすることが可能であ
り、光ディスクの記録再生時の信号品質を向上させるこ
とが可能である。参考例６さらに、オフトラックの検
出、制御について、本発明の実施の形態で述べたオフト
ラック補正方法とは別の方法について参考例６として説
明する。

【０１３９】図２６を用いて、４分割検出器１００の４
つの受光素子からの出力ａ，ｂ，ｃ，ｄを受けて動作す
る演算回路１０４の動作について説明する。演算回路１
０４からは、 ＴＥ信号：（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）、 ＦＥ信号：（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）、 ＲＦ信号：（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）、 オフトラック検出信号（ＯＦ信号）： 対角和信号（ａ＋ｃ）、 対角和信号（ｂ＋ｄ） が生成される。

【０１４０】前記ＴＥ信号は、トラッキング制御部１０
６へ送られ、光スポットを光ディスクのトラック上にト
ラッキング位置制御するのに用いられる。前記ＦＥ信号
は、フォーカス制御部１０５へ送られ、光スポットを光
ディスク上に焦点位置制御するのに用いられる。前記Ｒ
Ｆ信号は、光ディスクに記録されているデータを読み出
し、再生信号となりデータ処理される。また前記ＲＦ信
号は、オフトラック検出部１１０に送られ、オフトラッ
ク位置検出に用いられる。前記オフトラック検出信号
（ＯＦ信号）はオフトラック検出部１１０へ送られ、オ
フトラック位置検出に用いられる。

【０１４１】次に、オフトラック検出部１１０で、前記
オフトラック検出信号からオフトラック位置が検出され
る過程を説明する。

【０１４２】オフトラック位置は、二組のオフトラック
検出信号の間の位相差を抽出することで検出される。

【０１４３】位相差信号の詳細を図２７を用いて説明す
る。

【０１４４】ここで図２７のように、光スポット２７０
１がトラックの中央にあるときにはディテクタ上での回
折光の強度は図２７の（Ｂ）のようになるため、対角和
信号（ａ＋ｃ）と（ｂ＋ｄ）の位相差は０である。ディ
スクが回転して、光スポットとピットの関係が矢印のよ
うに進んでも、この値は常にゼロで変わらない。光スポ
ットがトラックからずれて、図２７（Ａ）、図２７
（Ｃ）のようになって、ディスクの回転とともに図２７
の矢印の方向に移動したとき、対角和信号はともに正弦
波状の出力になるが、これらは、ＲＦ信号（ａ＋ｂ＋ｃ
＋ｄ）に対して位相が、＋９０度と−９０度の関係にな
るので、前記ＲＦ信号に対する対角和信号の位相差を検
出すれば光スポットがピットの中央からどれだけオフト
ラックしているかが検出できる。

【０１４５】オフトラック検出においても前半の繰返し
ピット列の和信号と、後半の繰返しピット列の和信号と
の差が用いられている。図21において説明したと同様
に、対角和信号は、およそ正弦波カーブを描いて変動し
ているので、対角和信号の値は、（ｉ）上側信号レベル
を採る場合と、（ｉｉ）下側信号レベルを採る場合と、
（ｉｉｉ）正弦波カーブの振幅を採る場合の3通りの採
り方がある。

【０１４６】図２７（Ｄ）に位相差信号とオフトラック
の関係を表す波形を示す。図では（Ｂｓｉｇ）は、光ス
ポットがピットの中央を通った場合の出力点、（Ａｓｉ
ｇ）、（Ｃｓｉｇ）がそれぞれピットの左側および右側
を通った場合の出力点を示す。この位相差を用いてピッ
トの中心からのオフトラック位置が検出できる。

【０１４７】図２８（Ａ）のように光ディスク上にあら
かじめ記録されている凹凸のプリピット２８０５が案内
溝のグルーブトラックの中心に対してトラックをまたぐ
方向にＷａ（＝Ｔｐ／４）だけ振られた位置に連続に配
置されたピットを前半部プリピット列２８０３、前半部
プリピット列とはグルーブトラックの中心を基準に反対
側に振られた位置に連続に配置されたピット列を後半部
プリピット列２８０４とする。ここで前半部プリピット
の振り幅Ｗａと後半部プリピットの振り幅Ｗｂは等しく
配置されている（Ｗａ＝Ｗｂ）。配置されているピット
は、単一周波数の連続のピットが並んでいる。

【０１４８】図２８（Ｂ）はピットを中心とした位相差
信号のグラフである。光スポットが前半部プリピット列
のグルーブトラックの中心を通る場合、位相差信号の出
力はＰａ、光スポットが後半部プリピット列のグルーブ
トラックの中心を通る場合、位相差信号の出力はＰｂで
ある。これら前半部プリピット列での位相差信号と後半
部プリピット列の位相差信号を保持し、オフトラック検
出部で前半部プリピット列の出力と後半部繰返しピット
列の出力の和を計算した結果が図２８（Ｃ）である。光
スポットがトラックの中心を通った場合に、この位相差
和信号が０になる。

【０１４９】上記、条件に基づいてコンピュータシミュ
レーションを行った結果の説明をする。シミュレーショ
ンで用いた条件は以下の通りである。レーザー波長
（λ）６５０ｎｍ、対物レンズＮＡ０．６、タンジェン
シャル方向ＲＩＭ強度０．８３、ラジアル方向ＲＩＭ強
度０．２５、ディスクのトラックピッチ１．１９μｍ、
ピット深さλ／６、ピット幅０．３６μｍ、繰返しピッ
トの線方向の周期は１．１２ｕｍ、ピット長０．４６μ
ｍの繰返しウォブルピット列である。

【０１５０】図２９がＲチルトが生じた場合の特性であ
る。

【０１５１】図２９では（ａ）（ｂ）（ｃ）の順にＲチ
ルトを−０．６度、±０．０度、＋０．６度与えた場合
の、位相差信号を前半部ウォブルピットと後半部ウォブ
ルピットで演算したオフトラック検出信号を示す。横軸
はトラック中心を基準にしたオフトラック量を表してい
る。縦軸がオフトラック検出信号である。オフトラック
検出信号が０の場合がトラック中心である。（ｂ）の曲
線でＲチルトがない場合、グラフからオフトラック量に
応じたオフトラック検出信号が得られていることがわか
る。また、オフトラック位置が０のとき、オフトラック
検出信号も０となっている。

【０１５２】次にＲチルトが生じた場合、例えば（ａ）
の−０．６度傾いた場合、グラフからオフトラック量に
応じたオフトラック検出信号が得られていることがわか
る。また、オフトラック位置が０のとき、オフトラック
検出信号も０となっている。

【０１５３】（ｃ）の場合も同様である。

【０１５４】このように位相差信号とウォブル状に配置
された連続したプリピットを再生することで、Ｒチルト
に対する影響なくオフトラック量を精度よく検出するこ
とが可能である。

【０１５５】そのため、トラッキングの精度が向上し、
記録時に隣接トラックを消去してしまうクロス消去の影
響を除き、隣接トラックに記録された信号の信号品質を
向上させることが可能である。

【０１５６】

【発明の効果】以上のように本発明の光ディスク装置お
よび光ディスクのチルト制御方法によれば、記録再生信
号用の光学系とは別にチルト角検出用の光学系を必要と
せず、光ディスクにあらかじめ記録されているグルーブ
トラック、ランドトラックおよびグルーブトラックの中
心から外周側あるいは内周側に中心をずらせて形成され
ている繰返しピット列を用い、トラッキング信号および
チルト角を検出し、チルト補正部、チルト制御部を用い
てチルト角を補正することで記録再生時の信号品質を向
上させることが可能である。これによって、別途チルト
検出器を設ける必要がなく装置の実施規模を縮小させコ
ストを低減することができる。

【０１５７】また、図１０で示したチルト検出方法のよ
うに、内周、中周、外周の少なくとも３つの検出値か
ら、光ディスクの所望の半径位置のチルト量を推定し、
記録再生時の信号品質を劣化させることなく記録再生特
性を著しく改善することが可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態における光ディスク装置の
構成図

【図２】従来の光ディスク装置の構成図

【図３】従来の光ディスクのチルト補正方法を表す図

【図４】本発明の実施の形態における光ディスク装置で
の記録再生を説明するための図

【図５】本発明の実施の形態において、光ディスクと光
ディスク装置の関係を示す構成図

【図６】本発明のＲチルトを説明するための図

【図７】本発明のＴチルトを説明するための図

【図８】光ディスクのピット配置の拡大図

【図９】本発明の参考例５の場合の波形図および光ディ
スクのピット配置図

【図１０】本発明の実施の形態における半径位置とＲチ
ルトの関係を表すグラフ

【図１１】本発明の参考例１の場合のＲチルトとプシュ
プルＴＥ信号の関係を表すグラフ

【図１２】本発明の参考例２の場合のＲチルトとプシュ
プルＴＥ信号振幅の関係を表すグラフ

【図１３】本発明の参考例３の場合のＲチルトとウォブ
ル信号振幅の関係を表すグラフ

【図１４】本発明の実施の形態の場合のＲチルトと繰返
し連続ピット列の和信号下側信号レベル差の関係を表す
グラフ

【図１５】本発明の参考例４の場合のＲチルトと繰返し
連続ピット列の差信号振幅差の関係を表すグラフ

【図１６】本発明の参考例４の場合のオフトラックがあ
る場合のＲチルトと繰返し連続ピット列の差信号振幅差
の関係を表すグラフ

【図１７】本発明の参考例５の場合のＲチルトと孤立ピ
ットの和信号下側信号レベル差の関係を表すグラフ

【図１８】本発明の参考例１の場合のＲチルトとプシュ
プルＴＥ信号の関係を説明するための図

【図１９】本発明の参考例２の場合のＲチルトとプシュ
プルＴＥ信号振幅の関係を説明するための図

【図２０】本発明の参考例３の場合のＲチルトとウォブ
ル信号振幅の関係を説明するための図

【図２１】本発明の実施の形態の場合のＲチルトと繰返
し連続ピット列の和信号出力の関係を説明するための図

【図２２】本発明の参考例４の場合のＲチルトと繰返し
連続ピット列の差信号出力の関係を説明するための図

【図２３】光ディスクのピット配置図および差信号出力
を説明するための図

【図２４】光ディスクのピット配置の拡大図

【図２５】本発明の実施の形態の場合のオフトラックと
繰返し連続ピット列の和信号出力の関係を説明するため
の図

【図２６】本発明の参考例６におけるオフトラック検出
方法を説明するための図

【図２７】本発明の参考例６における位相差信号を説明
するための図

【図２８】本発明の参考例６におけるオフトラック検出
方法を説明するための図

【図２９】本発明の参考例６におけるＲチルトに対する
オフトラック誤差のシミュレーション結果を示した図

【符号の説明】

１００ ４分割光検出器 １０１ 光ディスク １０２ 光ヘッド １０３ チルト台 １０４ 演算回路 １０５ フォーカス制御部 １０６ トラッキング制御
部 １０７ チルト検出部 １０８ チルト補正部 １０９ チルト制御部 １１０ オフトラック検出部 １１１ オフトラック制御部 ８０３ 前半部繰返しピット列 ８０４ 後半部繰返しピット列 ９０３ 前半部孤立ピット ９０４ 後半部孤立ピット

フロントページの続き (72)発明者 石田 隆 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭59−38939（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/095

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 同心円またはスパイラル状に連続して形
   成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けら
   れ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および
   第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピット
   と第２シフトピットとを有し、前記第１シフトピットは
   繰り返し連続して設けられ、続いて前記第２シフトピッ
   トが繰り返し連続して設けられている光ディスクの記録
   面の傾きを検出するチルト検出装置であって、 前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、
   信号の記録再生を行う光ヘッドと、 前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿
   って２分割された第１、第２受光素子で受光する２分割
   光検出器と、 前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキン
   グ制御手段と、 前記第1シフトピットと第2シフトピットを前記光ヘッド
   で再生した再生信号から生成されるオフトラック検出信
   号を生成するオフトラック検出手段と、 前記トラッキング制御手段およびオフトラック検出手段
   により、光スポットがトラックのセンタに位置された状
   態で、前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検
   出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和であ
   る第１和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を
   ２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出
   力の和である第２和信号とを用い、第１和信号と第２和
   信号における絶対値の低い方のエンベロープ信号（Ａ
   ｂ，Ｂｂ）同士を比較する第１比較信号と、第１和信号
   と第２和信号における絶対値の高い方のエンベロープ信
   号（Ａｔ，Ｂｔ）同士を比較する第２比較信号と、第１
   和信号と第２和信号のそれぞれの振幅（Ｃ，Ｄ）を比較
   する第３比較信号のうちいずれか１つの比較信号を用い
   て光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段
   とを有し、 前記オフトラック検出手段は、前記第１、第２、第３比
   較信号のうち、前記チルト検出手段で用いられなかった
   残りの２つの比較信号のうちの１つを用いて前記トラッ
   クのセンタと光スポットのセンタとのずれ量を検出し、 前記チルト検出手段で用いる比較信号が前記第１比較信
   号であり、オフトラック検出手段で用いる比較信号が第
   ３比較信号であることを特徴とするチルト検出装置。
2. 【請求項２】 前記トラッキング制御手段は、前記連続
   して形成したトラック上で前記２分割光検出器のそれぞ
   れの検出器から得られる信号の差出力であるプシュプル
   信号を用い、前記オフトラック検出手段の出力を前記ト
   ラッキング制御手段に加算することを特徴とする請求項
   １に記載のチルト検出装置。
3. 【請求項３】 前記第１シフトピットが繰り返される間
   隔であるスペースＬｓは、ピット長をＬｐとした場合、
   Ｌｐ＜Ｌｓ＜２Ｌｐであることを特徴とする請求項１に
   記載のチルト検出装置。
4. 【請求項４】 同心円またはスパイラル状に連続して形
   成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けら
   れ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および
   第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピット
   と第２シフトピットとを有し、前記第１シフトピットは
   繰り返し連続して設けられ、続いて前記第２シフトピッ
   トが繰り返し連続して設けられている光ディスクの記録
   面の傾きを検出し、補正する光ディスク装置であって、 前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、
   信号の記録再生を行う光ヘッドと、 前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿
   って２分割された第１、第２受光素子で受光する２分割
   光検出器と、 前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキン
   グ制御手段と、 前記第１シフトピットと第２シフトピットを前記光ヘッ
   ドで再生した再生信号から生成されるオフトラック検出
   信号を生成するオフトラック検出手段と、 前記トラッキング制御手段およびオフトラック検出手段
   により、光スポットがトラックのセンタに位置された状
   態で、前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検
   出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和であ
   る第１和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を
   ２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出
   力の和である第２和信号とを用い、第１和信号と第２和
   信号における絶対値の低い方のエンベロープ信号（Ａ
   ｂ，Ｂｂ）同士を比較する第１比較信号と、第１和信号
   と第２和信号における絶対値の高い方のエンベロープ信
   号（Ａｔ，Ｂｔ）同士を比較する第２比較信号と、第１
   和信号と第２和信号のそれぞれの振幅（Ｃ，Ｄ）を比較
   する第３比較信号のうちいずれか１つの比較信号を用い
   て光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段
   とを有し、 前記オフトラック検出手段は、前記第１、第２、第３比
   較信号のうち、前記チルト検出手段で用いられなかった
   残りの２つの比較信号のうちの１つを用いて前記トラッ
   クのセンタと光スポットのセンタとのずれ量を検出し、 前記チルト検出手段で用いる比較信号が前記第１比較信
   号であり、オフトラック検出手段で用いる比較信号が第
   ３比較信号であることを特徴とする光ディスク装置。
5. 【請求項５】 前記チルト検出手段は、光ディスクの少
   なくとも内周、中周、外周の３つの半径位置において、
   記録面の傾きを検出することを特徴とする請求項４記載
   の光ディスク装置。
6. 【請求項６】 前記トラッキング制御手段は、前記連続
   して形成したトラック上で前記２分割光検出器のそれぞ
   れの検出器から得られる信号の差出力であるプシュプル
   信号を用い、前記オフトラック検出手段の出力を前記ト
   ラッキング制御手段に加算することを特徴とする請求項
   ４記載の光ディスク装置。
7. 【請求項７】 同心円またはスパイラル状に連続して形
   成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けら
   れ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および
   第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピット
   と第２シフトピットとを有し、前記第１シフトピットは
   繰り返し連続して設けられ、続いて前記第２シフトピッ
   トが繰り返し連続して設けられている光ディスクの記録
   面の傾きを検出するチルト検出方法であって、 前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、 前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿
   って２分割された第１、第２受光素子で受光し、 前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキン
   グ制御を行い、 前記第１シフトピットと第２シフトピットを前記光ヘッ
   ドで再生した再生信号から生成されるオフトラック検出
   信号を生成し、 前記トラッキング制御およびオフトラック検出信号によ
   り、光スポットがトラックのセンタに位置された状態
   で、前記第１シフトピットからの反射光を受光し、第
   １、第２受光素子からの出力の和である第１和信号と、
   前記第２シフトピットからの反射光を受光し、第１、第
   ２受光素子からの出力の和である第２和信号とを用い、
   第１和信号と第２和信号における絶対値の低い方のエン
   ベロープ信号（Ａｂ，Ｂｂ）同士を比較する第１比較信
   号と、第１和信号と第２和信号における絶対値の高い方
   のエンベロープ信号（Ａｔ，Ｂｔ）同士を比較する第２
   比較信号と、第１和信号と第２和信号のそれぞれの振幅
   （Ｃ，Ｄ）を比較する第３比較信号のうちいずれか１つ
   の比較信号を用いて光ディスクの記録面の傾きを検出
   し、 前記オフトラック検出信号は、前記第１、第２、第３比
   較信号のうち、前記ディスク記録面の傾き検出で用いら
   れなかった残りの２つの比較信号のうちの１つを用いて
   前記トラックのセンタと光スポットのセンタとのずれ量
   を検出し、 前記ディスク記録面の傾き検出で用いる比較信号が前記
   第１比較信号であり、オフトラック検出信号で用いる比
   較信号が第３比較信号であることを特徴とするチルト検
   出方法。
8. 【請求項８】 前記トラッキング制御は、前記連続して
   形成したトラック上で前記２分割光検出器のそれぞれの
   検出器から得られる信号の差出力であるプシュプル信号
   を用い、前記オフトラック検出信号を前記プシュプル信
   号に加算することを特徴とする請求項７記載のチルト検
   出方法。