JP3396316B2 - Connectors for electronic components - Google Patents

Connectors for electronic components

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JP3396316B2 JP29939294A JP29939294A JP3396316B2 JP 3396316 B2 JP3396316 B2 JP 3396316B2 JP 29939294 A JP29939294 A JP 29939294A JP 29939294 A JP29939294 A JP 29939294A JP 3396316 B2 JP3396316 B2 JP 3396316B2
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聡 市川
尚 小笠原
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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示パネルの電気
的測定装置、トランジスタ,IC,ディスクリートデバ
イス等の平行リードを有するモールド型電子部品の自動
検査、選別装置などに使用して好適な電子部品用コネク
タに関する。 【0002】 【従来の技術】液晶表示パネル(以下LCDと称る)、
特にガラス基板上に複数のTFT(Thin Film
Transistor)と画素電極を形成し、TFT
素子で画素電極をスイッチするLCDの電気的測定に際
しては、通常マザーボード上に配設したコネクタを介し
てマザーボードとLCDの電極を接続し、電極全ての検
査を行なっている。このため、コネクタはLCDの電極
と同じ数のピン(接触子)を備えている。LCDの電極
数はパネル寸法によっても異なるが、2500〜500
0本を必要とし、その間隔(ピッチ)が著しく狭くなっ
ている。これらの電極はガラス基板の外周に一列に並ん
でおり、機械的なピンを一列に並べてLCDの電極に接
触させているが、ピンとピンとの間隔(ピッチ)に限界
がきている(実用限界は90〜100μm)。また、2
500〜5000本もの電極に対してピンを正確に一致
させ、均一な接触圧力を加えることは非常に困難で、取
扱いが難しいという問題があった。 【0003】そこで、最近では新しい高密度コネクタと
して、例えばスプリング・プローブとか、ゴールド・ド
ット・テスト・プローブが提案実施されている。前者の
スプリング・プローブは、一対の針を絶縁板に設けた穴
に進退移動自在に対向配置してその間にスプリングを介
在させたもので、穴をCNC加工により高精度に形成す
ることにより、〜100μm程度のピッチで配列するこ
とができ、電気的には100万回耐久後においても接触
抵抗の変化を数%程度に抑えることができるという特徴
を有している。後者のゴールド・ドット・テスト・プロ
ーブは、薄いポリイミド等の基板材料にプリント配線板
の製法で接触子パターンを形成し、パターン回路の先端
部分に金メッキを施して微小な突起を形成して接触子と
したもので、90μm以下のピッチにも対応でき、また
低い接触圧力で良好な電気的接触を得ることができ、か
つ長寿命(30万回)であるという利点を有している。 【0004】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、最近の
LCDは高解像度化に伴い画素電極の数が著しく増加
し、電極間隔が60〜75μmと益々狭くなる傾向にあ
るため、上記した従来のスプリング・プローブやゴール
ド・ドット・テスト・プローブでも対応しきれなくなり
つつあり、より一層高密度なコネクタの開発が要望され
ている。 【0005】したがって、本発明は上記したような従来
の問題点及び要望に鑑みてなされたもので、その目的と
するところは、接触子を複数本のコンタクトリードで構
成することにより電極間隔が狭くても、また接触子が電
極に対して多少ずれていても確実に接触させることがで
きるようにした電子部品用コネクタを提供することにあ
る。 【0006】 【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、請求項1に記載の発明は、電気部品の各電極
に対してそれぞれ接続されるように並列配置された複数
個の接触子を備え、前記各接触子は、同一平面上でかつ
接触子の配列方向に並列配置され、前記電極の幅より狭
い幅を有する複数本からなる金属製のコンタクトリード
と、前記接触子の並列方向に延在し、かつ前記各コンタ
クトリードの長手方向中央部を共通に保持する保持部材
とからなり、前記各コンタクトリードの両端部は、対応
する前記各電極に対して線接触するように所要角度折り
曲げられて前記電極との接触部とされていることを特徴
とする。 【0007】 【作用】電極と接触子が1対1で接触する従来のコネク
タにおいては、高精度に位置決めして接触子を電極に接
触させる必要がある。これに対して、本発明において
は、並列配置された複数本からなるコンタクトリード群
によって1つの接触子を構成しているので、たとえ電極
との位置が電極の幅方向に若干ずれたとしても、そのズ
レに相当する何本かのコンタクトリードが電極に接触し
なくなるだけで、残りのコンタクトリードは確実に電極
と接触する。したがって、厳密な位置精度が要求されな
い。 【0008】 【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図1は本発明に係る電子部品用コネク
タをTFT型LCDの電気的測定に用いた場合の一実施
例を示す要部拡大平面図、図2は図1のII−II線断面
図、図3はLCDの測定状態を示す概略斜視図である。
これらの図において、1はLCD、2はマザーボード、
3はLCD1とマザーボード2の電極4,5を電気的に
接続するコネクタである。LCD1の電極4は、ガラス
基板に互いに直交するよう所定の間隔をおいて縦横に多
数形成され、その交点が1画素を形成し、液晶駆動用回
路(図示せず)に接続されている。電極4の数は上記し
た通り2500〜5000本で、間隔Pは60〜75μ
m程度とされる。マザーボード2の電極5の本数および
ピッチもLCD1の電極4と同様である。 【0009】前記コネクタ3は、各電極4,5に対応し
て設けられた複数個の接触子6と、これらの接触子6を
共通に保持する樹脂等で形成された保持部材7とで構成
されている。各接触子6は、電極4,5の幅Wより十分
に小さい幅wを有し、幅方向に所定の間隔dで並列配置
された複数本、例えば8本の弾性を有するコンタクトリ
ード8によって構成されており、その中央部が前記保持
部材7によって保持されている。コンタクトリード8
は、きわめて細くて薄い帯状の銅板等のコンタクトリー
ド用材によって側面視台形状に折り曲げ形成されてお
り、また両端部8a,8bには被膜防止材が塗布されて
いる。この場合、本実施例においては両端部8a,8b
を前記電極4,5と線接触するよう所要角度折り曲げた
例を示している。コンタクトリード8の厚みtは30μ
m程度、幅wは25μm程度、長さは10mm程度で、
コンタクトリード8同士の間隔dは10μm程度とされ
る。 【0010】このようなコンタクトリード群によって構
成された接触子6を有するコネクタ3の製作方法として
は、微細加工(エッチング)によって図4に示すように
厚さが30μm程度の薄い銅板等のコンタクト材10に
幅が10μm程度のスリット11を25μm程度の間隔
で多数形成し、次いでこれらスリット11間の帯状部分
12の長手方向中央部を樹脂13によってモールドし、
しかる後、帯状部分12が台形になるように銅板10を
折り曲げて切断線14a,14bに沿って切断し、各帯
状部分12を切り離すと、帯状部分12が上記したコン
タクトリード8、樹脂13が保持部材7をそれぞれ形成
し、コネクタ3を製作することができる。 【0011】LCD1の電気的測定に際しては、コネク
タ3をLCD1とマザーボード2間の上方に位置させて
各接触子6の両端部をLCD1とマザーボード2の各電
極4,5に上方から所定圧にて押し付ければよい。この
場合、本発明によるコネクタ3にあっては、8本のコン
タクトリード8によって1つの接触子6を構成している
ので、コネクタ3がLCD1とマザーボード2に対して
左右方向に若干位置ズレしたり、電極4,5の間隔Pが
小さい場合でも、8本のうちの何本かは電極4と5に対
して各々必ず接触するため、厳密に位置決めする必要が
なく、取扱いが容易で、高い接続信頼性を得ることがで
き、特に電極間隔の小さいLCD1の電気的測定に用い
て有効である。また、本発明によるコネクタ3は、電極
間隔が異なるものに対しても共通に使用することができ
るため、コネクタの種類を大幅に削減することができ
る。さらに、コンタクトリード8は弾性を有しているの
で、電極4,5との接触も良好で、所定の接触圧を得る
ことができる。加えて、コネクタ3自体の構成も比較的
簡単で、安価に製作、提供することができる。 【0012】ここで、本実施例においてはコンタクトリ
ード8を電極4,5に押し付けたとき、電極4,5との
接触面積を大きくするため、コンタクトリード8の先端
部8aを電極4,5に対して線接触させるようにした
が、先端部8aの折曲角度を、コンタクトリード8の先
端が電極4,5の表面に斜めに接触して表面を擦り酸化
被膜を剥ぎ取るような角度に設定しておくと、接触抵抗
が小さく、測定精度を向上させることができる。 【0013】図5は本発明の他の実施例を示す側面図
で、(a)はコンタクトリード8を略直線状斜めに配し
た例、(b)はコンタクトリード8をV字状に折り曲げ
た例、(c)は直線状直角に配した例である。このよう
な形状のコンタクトリード8からなる接触子6を備えた
コネクタ3においても、上記実施例と同様、厳密に位置
決めしなくても、高い接触信頼性を得ることができる。 【0014】なお、上記実施例はいずれも本発明に係る
電子部品用コネクタ3をLCD1の電気的測定に用いた
場合について説明したが、本発明はこれに何等特定され
るものではなく、例えば、トランジスタ,IC,ディス
クリートデバイス等の電子部品の電気的特性を測定する
自動検査装置の測定子としても使用し得るものである。
その場合は、各接触子6を電子部品のリードにそれぞれ
接触させ、測定器から電流または電圧を接触子6に印加
し、電子部品の抵抗等の電気的特性を測定するようにす
ればよい。また、電気的測定に際しては同じ形状のコネ
クタ3を多段配置して使用することも可能であり、その
場合は接触点の数を数倍にすることができる。 【0015】 【発明の効果】以上説明したように本発明に係る電子部
品用コネクタは、電極の幅より小さい幅と弾性を有する
複数本のコンタクトリードによって接触子を構成したの
で、1つの電極に対して1つの接触子を接触させるよう
にした従来のコネクタに比べて高い位置決め精度が要求
されず、接触子を電極に対して確実に接触させることが
できる。したがって、取扱いが容易で、特に電極間隔が
著しく狭いものに対しても対応でき、高い接触信頼性を
得ることができる。また、1種類のコネクタを電極間隔
が狭いものから広いものまで共通に使用することがで
き、コネクタの種類を著しく削減することができる。さ
らにコンタクトリードは弾性を有しているので、電極と
の接触が良好で、所定の接触圧を得ることができる。さ
らにまた、コネクタ自体の構成も比較的簡単で、安価に
製作、提供することができる。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electrical measuring device for a liquid crystal display panel, an automatic inspection of a molded electronic component having parallel leads such as a transistor, an IC and a discrete device. The present invention relates to an electronic component connector suitable for use in a sorting device or the like. [0002] Liquid crystal display panels (hereinafter referred to as LCDs),
In particular, a plurality of TFTs (Thin Film) are formed on a glass substrate.
Transistor) and pixel electrode
In the electrical measurement of an LCD in which a pixel electrode is switched by an element, the motherboard and the electrodes of the LCD are usually connected via a connector arranged on the motherboard, and all the electrodes are inspected. Therefore, the connector has the same number of pins (contacts) as the electrodes of the LCD. The number of electrodes of the LCD varies depending on the panel size,
Zero lines are required, and the interval (pitch) is extremely narrow. These electrodes are arranged in a row on the outer periphery of the glass substrate, and mechanical pins are arranged in a row to contact the electrodes of the LCD. However, the interval (pitch) between the pins is limited (the practical limit is 90). 100100 μm). Also, 2
It is very difficult to accurately match the pins to 500 to 5000 electrodes and apply a uniform contact pressure, and there is a problem that handling is difficult. Therefore, recently, as a new high-density connector, for example, a spring probe or a gold dot test probe has been proposed and implemented. The former spring probe has a pair of needles opposed to a hole provided in an insulating plate so as to be able to move forward and backward and a spring is interposed therebetween. By forming the hole with high precision by CNC processing, It can be arranged at a pitch of about 100 μm, and electrically has a characteristic that a change in contact resistance can be suppressed to about several% even after 1,000,000 times of durability. The latter is a gold dot test probe that forms a contact pattern on a substrate material such as thin polyimide by a printed wiring board manufacturing method, and then applies gold plating to the tip of the pattern circuit to form minute protrusions. It has an advantage that it can cope with a pitch of 90 μm or less, can obtain good electrical contact with a low contact pressure, and has a long life (300,000 times). However, in recent LCDs, the number of pixel electrodes has increased remarkably with the increase in resolution, and the electrode interval has tended to be further reduced to 60 to 75 μm. Spring probes and Gold Dot test probes are no longer supported, and there is a need for the development of even higher density connectors. Accordingly, the present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems and demands, and an object of the present invention is to form a contact with a plurality of contact leads so as to reduce an electrode interval. Another object of the present invention is to provide a connector for an electronic component which can surely make contact even if a contact is slightly shifted with respect to an electrode. [0006] In order to achieve the above object, the present invention is directed to an electric component, comprising:
Multiple connected in parallel to be connected to
Contacts, each contact being coplanar and
It is arranged in parallel in the arrangement direction of the contacts, and is narrower than the width of the electrode.
Metal contact leads of different widths
Extending in a direction parallel to the contacts, and
Holding member that holds the center of the lead in the longitudinal direction in common
And both ends of each contact lead correspond to each other.
Fold at the required angle to make line contact with each of the electrodes
It is characterized by being bent to form a contact portion with the electrode . In a conventional connector in which an electrode and a contact are in one-to-one contact, it is necessary to position the contact with high precision and to bring the contact into contact with the electrode. On the other hand, in the present invention, since one contact is constituted by a plurality of contact lead groups arranged in parallel, even if the position with the electrode is slightly shifted in the width direction of the electrode, Only some of the contact leads corresponding to the displacement do not contact the electrodes, and the remaining contact leads surely make contact with the electrodes. Therefore, strict positional accuracy is not required. Hereinafter, the present invention will be described in detail based on an embodiment shown in the drawings. FIG. 1 is an enlarged plan view of an essential part showing an embodiment in which an electronic component connector according to the present invention is used for electrical measurement of a TFT type LCD, FIG. 2 is a sectional view taken along line II-II of FIG. FIG. 2 is a schematic perspective view showing a measurement state of the LCD.
In these figures, 1 is an LCD, 2 is a motherboard,
Reference numeral 3 denotes a connector for electrically connecting the LCD 1 and the electrodes 4 and 5 of the motherboard 2. A large number of electrodes 4 of the LCD 1 are vertically and horizontally formed at predetermined intervals so as to be orthogonal to each other on a glass substrate, and their intersections form one pixel and are connected to a liquid crystal driving circuit (not shown). The number of the electrodes 4 is 2500 to 5000 as described above, and the interval P is 60 to 75 μ.
m. The number and pitch of the electrodes 5 of the motherboard 2 are the same as those of the electrodes 4 of the LCD 1. The connector 3 comprises a plurality of contacts 6 provided corresponding to the electrodes 4 and 5, and a holding member 7 made of resin or the like which holds the contacts 6 in common. Have been. Each contact 6 has a width w sufficiently smaller than the width W of the electrodes 4 and 5, and is constituted by a plurality of, for example, eight elastic contact leads 8 arranged in parallel at a predetermined interval d in the width direction. The central portion is held by the holding member 7. Contact lead 8
Is bent and formed into a trapezoidal shape in a side view with a contact lead material such as a very thin and thin strip of copper plate, and a coating preventing material is applied to both end portions 8a and 8b. In this case, in this embodiment, both ends 8a, 8b
Is bent at a required angle so as to make line contact with the electrodes 4 and 5 . The thickness t of the contact lead 8 is 30 μ
m, width w is about 25 μm, length is about 10 mm,
The distance d between the contact leads 8 is about 10 μm. As a method of manufacturing the connector 3 having the contacts 6 constituted by such contact lead groups, a contact material such as a thin copper plate having a thickness of about 30 μm as shown in FIG. A large number of slits 11 having a width of about 10 μm are formed at intervals of about 25 μm in 10, and then a central portion in the longitudinal direction of the strip-shaped portion 12 between these slits 11 is molded with a resin 13.
Thereafter, the copper plate 10 is bent and cut along the cutting lines 14a and 14b so that the band-shaped portion 12 becomes trapezoidal. When each band-shaped portion 12 is cut off, the band-shaped portion 12 holds the contact lead 8 and the resin 13 described above. By forming the members 7 respectively, the connector 3 can be manufactured. At the time of electrical measurement of the LCD 1, the connector 3 is positioned above the LCD 1 and the motherboard 2, and both ends of each contact 6 are applied to the electrodes 4 and 5 of the LCD 1 and the mother board 2 from above with a predetermined pressure. You only have to push it. In this case, in the connector 3 according to the present invention, since one contact 6 is constituted by the eight contact leads 8, the connector 3 is slightly displaced in the left-right direction with respect to the LCD 1 and the motherboard 2. Even when the interval P between the electrodes 4 and 5 is small, some of the eight contacts always contact the electrodes 4 and 5, so there is no need to precisely position them, handling is easy, and high connection is achieved. Reliability can be obtained, and it is particularly effective when used for electrical measurement of the LCD 1 having a small electrode interval. Further, since the connector 3 according to the present invention can be used in common for those having different electrode intervals, the types of connectors can be greatly reduced. Further, since the contact lead 8 has elasticity, the contact with the electrodes 4 and 5 is good, and a predetermined contact pressure can be obtained. In addition, the configuration of the connector 3 itself is relatively simple, and can be manufactured and provided at low cost. In this embodiment, when the contact lead 8 is pressed against the electrodes 4 and 5, the tip 8a of the contact lead 8 is connected to the electrodes 4 and 5 in order to increase the contact area with the electrodes 4 and 5. However, the bending angle of the tip 8a is set such that the tip of the contact lead 8 contacts the surfaces of the electrodes 4 and 5 obliquely and rubs the surface to remove the oxide film. By doing so, the contact resistance is small, and the measurement accuracy can be improved. FIGS. 5A and 5B are side views showing another embodiment of the present invention. FIG. 5A shows an example in which the contact leads 8 are arranged obliquely in a straight line, and FIG. 5B shows the contact leads 8 bent in a V-shape. For example, (c) is an example in which they are arranged at a straight right angle. Also in the connector 3 having the contact 6 having the contact lead 8 having such a shape, high contact reliability can be obtained without strict positioning, as in the above embodiment. In each of the embodiments described above, the case where the electronic component connector 3 according to the present invention is used for the electrical measurement of the LCD 1 has been described. However, the present invention is not specified at all. It can also be used as a measuring element of an automatic inspection device for measuring the electrical characteristics of electronic components such as transistors, ICs, and discrete devices.
In this case, each contact 6 may be brought into contact with a lead of an electronic component, and a current or a voltage may be applied to the contact 6 from a measuring instrument to measure an electrical characteristic such as a resistance of the electronic component. In electrical measurement, it is also possible to use connectors 3 of the same shape arranged in multiple stages, in which case the number of contact points can be increased several times. As described above, in the electronic component connector according to the present invention, the contact is constituted by a plurality of contact leads having a width smaller than the width of the electrode and having elasticity. On the other hand, higher positioning accuracy is not required as compared with a conventional connector in which one contact is brought into contact, and the contact can be reliably brought into contact with the electrode. Therefore, it is easy to handle, and can be applied particularly to a case where the electrode interval is extremely narrow, and high contact reliability can be obtained. In addition, one kind of connector can be used in common from those having a narrow electrode gap to those having a wide electrode interval, and the types of connectors can be significantly reduced. Further, since the contact lead has elasticity, the contact with the electrode is good, and a predetermined contact pressure can be obtained. Furthermore, the configuration of the connector itself is relatively simple, and it can be manufactured and provided at low cost.

【図面の簡単な説明】 【図1】 本発明に係る電子部品用コネクタをTFT型
LCDの電気的測定に用いた場合の一実施例を示す要部
拡大平面図である。 【図2】 図1のII−II線断面図である。 【図3】 LCDの測定状態を示す概略斜視図である。 【図4】 コネクタの製造方法を説明するための図であ
る。 【図5】 (a)、(b)、(c)はそれぞれ本発明の
他の実施例を示す図である。 【符号の説明】 1…LCD、2…マザーボード、3…コネクタ、4,5
…電極、6…接触子、7…保持部材、8…コンタクトリ
ード、10…銅板、11…スリット、12…帯状部分。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is an enlarged plan view of an essential part showing an embodiment when an electronic component connector according to the present invention is used for electrical measurement of a TFT LCD. FIG. 2 is a sectional view taken along line II-II of FIG. FIG. 3 is a schematic perspective view showing a measurement state of the LCD. FIG. 4 is a diagram illustrating a method of manufacturing the connector. FIGS. 5A, 5B and 5C are diagrams showing another embodiment of the present invention. [Description of Signs] 1 LCD, 2 motherboard, 3 connector, 4, 5
... Electrodes, 6 contacts, 7 holding members, 8 contact leads, 10 copper plates, 11 slits, 12 strips.

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01R 13/26 H01R 12/16 G02F 1/1345 Continuation of the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01R 13/26 H01R 12/16 G02F 1/1345

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 電気部品の各電極に対してそれぞれ接続
されるように並列配置された複数個の接触子と、これら
の接触子を共通に保持する保持部材とを備え、 前記各接触子は、同一平面上でかつ接触子の配列方向に
並列配置され、前記電極の幅より狭い幅を有する複数本
からなる金属製のコンタクトリードによって構成され、 前記保持部材は、前記接触子の並列方向に延在し、かつ
前記各コンタクトリードの長手方向中央部を共通に保持
し、 前記各コンタクトリードの両端部は、対応する前記各電
極に対して線接触するように所要角度折り曲げられて前
記電極との接触部とされている ことを特徴とする電子部
品用コネクタ。
(57) [Claims] [Claim 1] Connected to each electrode of an electric component
Multiple contacts arranged in parallel so that
And a holding member for holding the contacts in common, wherein each of the contacts is on the same plane and in the arrangement direction of the contacts.
Plural pieces arranged in parallel and having a width smaller than the width of the electrode
And the holding member extends in a direction parallel to the contacts, and
Holds the center of each contact lead in the longitudinal direction in common
And, both end portions of the respective contact leads, corresponding each collector
Before bending at the required angle to make line contact with the pole
A connector for an electronic component, which is a contact portion with the electrode .
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2011065361A1 (en) * 2009-11-24 2013-04-11 日本発條株式会社 Connecting member

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