JP3394522B2 - センサ装置 - Google Patents
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Description
サ装置に関し、特にその出力がホール電圧妨害成分に関
して補償されたセンサ装置に関するものである。
た現象であり、ローレンツ力に基づいた現象である。こ
のローレンツ力は通常なら導体中をまっすぐに進む電子
を電流と磁場方向に対して直角に曲げる。その結果、例
えば磁場中に配置され電流が流れる平面において、2つ
の対向面に電子の異なる濃度が生じ、それによりホール
電圧と呼ばれる横断電圧が発生する。既知のホール発電
機やホールセンサはこの効果を利用している。これらの
既知の装置では、ホール効果は積極的に利用されてい
る。
信号の妨害成分となる場合がある。そのような妨害成分
はそれ自体を有用信号に重畳し、それにより、例えば出
力信号がホール効果により影響を受けうるセンサの場合
における測定結果を劣化させうる。そのような測定結果
の劣化は当然不正確さであり、これらの測定結果に基づ
いて動作する装置の故障の原因となることがある。
ためのセンサ装置に言及している。この文献の図2に
は、4つのホール素子が互いに90度だけ変位するよう
に配置されたホール素子装置が示されている。しかしな
がら、そこでのホール電圧は有用信号となっているの
で、この装置はホール電圧妨害成分を除去するために使
用されてはいない。この回路装置は、ホール素子の材料
の不均一、構成図面からホール素子完成に至るまでの形
状の歪み及びホール素子にかかる機械的荷重により生じ
るオフセットを除去するためのものである。
被測定変数の検出に用いる場合のセンサ装置に言及して
いる。この装置は回転ギアーのスピードを非接触で検出
するために用いられており、2つのホールセンサが差動
回路中で作動し、それらのホールセンサは妨害信号を抑
制するために互いに90度だけ変位するように配置され
ている。ギアーの回転により生じる磁場の変化をそれら
のホール素子により検出できるようにするために、それ
らのホール素子を磁場中に常にさらすための永久磁石が
設けられている。その結果、2つのホール素子の配置は
機械応力により生じる妨害ピエゾ電子効果を補償するた
めに働く。それ故、ホール電圧は有用信号として使用さ
れている。
d Electronik)”12, June 11,1996, pp. 47-49はホー
ルセンサ、特にCMOS技術により製造されたホールセ
ンサに言及している。US4875011Aは、ホール
効果が有用信号を作り出すために使用され、一方その有
用信号の劣化につながるピエゾ抵抗効果が補償されてい
る場合のホール素子の配置に言及している。EP003
5103A1は、互いに90゜だけ変位した2つのホー
ルセンサからなるホールセンサ装置を備えた半導体素子
において、ピエゾ電気効果を補償する方法を開示してい
る。ホール効果により作り出される信号は磁場を検出す
るための有用信号となり、2つのホール素子配置が検知
するものはその有用信号を劣化させるピエゾ電気効果の
補償である。また、電子週間(Electronics Week) Vol.
58, No. 17, April 1985、技術読出し“センサ。改良さ
れたホール装置が新しいユーザを見つける”は、ホール
センサにかかる荷重の効果をこの方法により補償するた
めのホール素子の直交配置に言及している。
クを検出し、実質的にホール電圧妨害成分のない出力信
号を作り出すためのセンサ装置を提供することである。
この目的はクレーム1に記載のセンサ装置により達成さ
れる。
センサ素子を備えて、被測定力又は被測定トルクを検出
するためのセンサ装置を提供するものである。それらの
センサ素子はそれぞれ被測定力又は被測定トルクに応じ
て出力信号を作り出すが、これらのセンサ素子の出力信
号はホール電圧妨害成分と被測定力又は被測定トルクに
より作り出された信号成分をもっている。その2つのセ
ンサ素子は、互いに実質的に90゜だけ変位するように
配置される。ホール電圧妨害成分が実質的に補償され、
被測定力又は被測定トルクにより作り出された信号成分
が実質的に加算されているセンサ信号を作り出すため
に、それらの2つの出力信号を引き算する手段が設けら
れている。
に依存した電圧であって、ホール妨害電圧が重畳したも
のであり、そのためセンサ素子は、一方のセンサ素子に
おいては被測定変数に依存した電圧とホール妨害電圧が
同極性をもち、他方のセンサ素子においては被測定変数
に依存した電圧とホール妨害電圧が逆極性をもつように
配置されていることが好ましい。このことは、2つのセ
ンサ素子を、被測定変数に依存した電圧が生じる方向に
関し、互いに90度だけ変位するように配置することに
より達成される。ホール電圧妨害成分は、その後2つの
センサ素子出力信号を互いに引き算することにより補償
することができる。
とも2つのセンサ素子が共通の支持体上に配置されてい
る。個々のセンサと比較して、本発明によるセンサ装置
は感度が2倍であり、同時に信号対ノイズ比は√2倍に
増加する。センサ特性、すなわち感度と信号対ノイズ比
をなお一層改良するために、1チップ上に複数のセンサ
対を形成することができるが、それぞれのセンサ対は、
例えば本発明で示される方法によって共通のチップ上に
形成されたものである。
の好ましい実施例を詳細に説明する。図1を参照にし
て、本発明に用いるのに好都合なように形成されたセン
サ素子の構造をまず以下に説明する。そのようなセンサ
素子は、実質的に矩形の不純物導入された半導体領域1
0を備えている。半導体領域10の2つの対向した側面
には、制御コンタクトとなる電極12と14が設けられ
ている。図からわかるように、制御コンタクト12と1
4は互いに離れた関係に配置されており、半導体領域1
0はそれらの間に配置されている。センサ電極となる電
極16と18は半導体領域10の側面に配置されてお
り、これらも離れた関係に配置されている。図示のセン
サ素子においては、センサコンタクト16と18のある
側面は、制御コンタクト12と14のある側面に対して
実質的に90度の角度で延びている。その結果、センサ
コンタクト16と18を配置させている側面は、制御コ
ンタクト12と14を配置させている側面を連結する。
様式を説明する。不純物導入された半導体領域10に電
流の流れが生じるように、2つの対向した制御コンタク
ト12と14に適当な制御電圧又は適当な制御電流を与
える。この電流の流れは図中に矢印20により示されて
いる。半導体領域10に力が働くと、その半導体領域で
は拡張方向、すなわち力の作用によって原子間距離が広
がる方向に平行に低抵抗方向が生じ、適当に配向させら
れているときは、この低抵抗方向は半導体領域10を流
れる電流20の偏向を生じさせる。拡張方向はこの力の
性質だけでなく、半導体領域に働く力の方向にも依存す
る。図中では低抵抗のラインが22で示されている。
より、半導体領域10で、センサコンタクト16と18
を取り付けている縁に電荷24と26が発生する。正電
荷24は例えばセンサコンタクト18の側に発生し、負
電荷26はセンサコンタクト16の側に発生する。これ
らの電荷24と26を発生させるための電流方向は28
で示されており、低抵抗のライン22に沿って伸びる。
26は、センサコンタクト16と18から電位差とし
て、結果として本発明による力/トルクセンサの出力信
号として取り出すことができる。低抵抗のライン22に
より表される拡張方向と元の電流方向20により形成さ
れる角度φは、その出力信号の大きさに影響を与える。
最も大きな効果は角度φが45度の場合に生じ、一方こ
の角度が0度又は90度に近づくとその効果は0に向か
う。その結果、その半導体領域の拡張方向と電流の流れ
との間の角度φが本質的に45度である場合に力によっ
て作動させられるように、半導体領域を選ぶのが有利で
あろう。この方法により、可能な最高感度を達成するこ
とができる。
ほかに、そのようなセンサ素子は電解効果トランジスタ
によっても実現することができる。この場合、半導体領
域は電解効果トランジスタのチャネルにより形成され
る。ドレイン電極とソース電極は2つの制御コンタクト
を形成する。電解効果トランジスタのこれらの制御コン
タクトとゲート電極により適当なドレイン電流が作られ
る。また、追加のセンサコンタクトは半導体領域の対向
した縦の面に取りつけられる。
た本発明によるセンサ装置の好ましい実施例を示す。セ
ンサ素子30と32は図1に関して述べられた形状をも
っている。力を図1に示された様式のピエゾ抵抗力セン
サにより測定する場合、ホール効果により生じる磁場の
影響を補償するために、前述の如き2つのセンサ30と
32は互いに90度だけ変位するように配置されてい
る。これらのセンサ素子30と32では、これらのセン
サ素子のコンタクト電極12と14を介して電流の流れ
Iが発生する。図1に関してこれまで述べてきたよう
に、2つのセンサ素子への力の印加は、これらのセンサ
素子の半導体領域中に、拡張方向に平行に、図2中にR
minとして示される低抵抗の方向が作りだされる効果を
もつ。この効果はセンサ素子30では信号電圧UK1、セ
ンサ素子32では信号電圧UK2となる。
30と32は磁場Bに曝されている。この磁場Bは、セ
ンサ素子の半導体領域を流れる電流Iといっしょになっ
てホール効果を生じ、それがセンサ素子30ではホール
電圧UB1となり、センサ素子32中ではホール電圧UB2
となる。このホール電圧は、それ自体としセンサ素子の
信号電圧に重畳する。結果としてセンサコンタクト16
と18を介して取り出すことのできる出力電圧は、セン
サ素子30ではUS1と称され、センサ素子32ではUS2
と称される。
ール電圧UB1は同じ極性をもつ。それに対し、センサ素
子32の信号電圧UK2とホール電圧UB2は、このセンサ
素子32がセンサ素子30に対して90度だけ回転して
いるという事実によって、異なった極性をもつ。
妨害成分の補償をなすために、2つの個々のセンサの出
力信号US1とUS2が引き算され、それにより測定変数を
表わすセンサ出力信号では磁場Bにより作り出された成
分UB1,UB2が互いに打ち消す。このセンサ信号は以下
のように計算される。 Uges=US1−US2=(UB1+UK1)−(UB2−UK2)=2UK ここで、UB1=UB2及びUK=UK1,UK2である。
ることは、拡張方向Rminと電流Iの間の状況が2つの
素子で90度だけ異なるという効果をもつ。このこと
が、力の作用により作り出される成分UK1とUK2に対
し、出力信号中で反対の符号を与える結果となり、前述
したその後の信号の引き算において、これらの異なった
符号はUK1とUK2の大きさの加算を導く。その結果、単
一のセンサと比較して、前述の様式で配置された少なく
とも2つのセンサ素子を備えた本発明によるセンサ装置
は、感度が2倍になり、信号−ノイズ比は同時に√2倍
に増加する。
なお一層の改良を実現することを可能にするために、本
発明は図2に示された様式のセンサ対の複数を1チップ
上に実現する可能性を提供する。この技術に精通した者
にとって、本発明は図1に示された力/トルクセンサに
利用できるだけでなく、不要なホール効果により出力信
号が影響を受ける場合には、考えられるどのようなセン
サに使用するのにも同様に適するということが明らかで
あろう。更に、本発明による複数のセンサ素子を共通の
支持体上に配置できること、又は異なった支持体上に配
置できることが明らかである。 [図面の簡単な説明]
用するためのセンサ素子の概略平面図である。
略図である。
Claims (7)
- 【請求項1】 被測定力又は被測定トルクを検出するた
めのセンサ装置において、以下の特徴、すなわち、 妨害磁場によって作り出されたホール電圧妨害成分(U
B1,UB2)及び前記被測定力又は被測定トルクによって
作り出された信号成分(UK1,UK2)をもつ出力信号
(US1,US2)を、前記被測定力又は前記被測定トルク
に応じてそれぞれ作り出し、互いに本質的に90度だけ
変位するように配置された少なくとも2つの実質的に同
様なセンサ素子(30,32)と、 前記ホール電圧妨害成分(UB1,UB2)が実質的に補償
され、前記被測定力又は被測定トルクによって作り出さ
れた前記信号成分(UK1,UK2)が実質的に加算されて
いるセンサ信号(Uges)を作り出すために、前記2つ
の出力信号(US1,US2)を引き算する手段と、を備え
たセンサ装置。 - 【請求項2】 前記2つのセンサ素子(30,32)は
共通の支持体上に配置されている請求項1に記載のセン
サ装置。 - 【請求項3】 前記センサ素子は以下の特徴、すなわ
ち、力又はトルクにより作動するように形成された半導
体領域(10)、前記半導体領域(10)の空間的に離
れて対向した第1及び第2の面に配置され、前記半導体
領域を流れる電流(20)が間に生じることのできる2
つの制御電極(12,14)、及び前記半導体領域(1
0)の空間的に離れて対向した第3及び第4の面に配置
された2つのセンサ電極(16,18)をもち、 前記制御電極(12,14)間に電流(20)の流れが
存在するときに、前記センサ電極(16,18)間に存
在する電圧を取り出すことによって、前記半導体領域
(10)に働く力又は前記半導体領域に働くトルクを検
出することができる請求項1又は2に記載のセンサ装
置。 - 【請求項4】 前記センサ素子の半導体領域(10)の
第3と第4の面は前記第1と第2の面に対して実質的に
直角に配置されている請求項3に記載のセンサ装置。 - 【請求項5】 前記センサ素子の半導体領域(10)は
不純物導入されている請求項3又は4に記載のセンサ装
置。 - 【請求項6】 前記センサ素子の半導体領域(10)は
電解効果トランジスタのチャネルにより形成されてお
り、その電解効果トランジスタのドレインとソース電極
は前記コントロール電極(12,14)を形成している
請求項3又は4に記載のセンサ装置。 - 【請求項7】 前記半導体領域(10)の拡張方向と前
記制御電極(12,14)が形成されている前記対向面
との間の角度(φ)が本質的に45度である請求項3か
ら5のいずれかに記載のセンサ装置。
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