JP3353071B2 - 繊維試料試験のための装置と方法 - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は存在物，特に空気流中の個々の繊維存在物を
試験するための装置に関し，詳しくは繊維と存在物を含
むサンプルを装填するための自動供給機構を有し，ネツ
プ，不純物，繊維と言つた存在物のタイプを識別するた
めの分析器を有する繊維存在物試験器に関する 技術の背景 本発明に先立つ装置はツエルヴエーゲル・ウステル・
インコーポレイテツドで製造されAFISとして知られてい
る。この装置は１つの空気流中に繊維とネツプを分離
し，他の空気流中に不純物を分離し，その装置は米国特
許第4512060号明細書に示されていて，その内容はここ
では参照として用いる。不純物は約50μｍ以上の大きさ
を持つ異物として定義する。この異物は時にはダクトと
トラツシユと呼ばれることがあるが，ここでは簡単のた
め不純物と言う言葉を用いる。従来の装置、AFISにおい
ては，繊維とネツプ及び不純物の情報を求めるには，繊
維物質を表すサンプルを３セツト準備し３回の試験を行
わねばならなかつた。各存在物のタイプごとに,1回のテ
ストを各繊維試料のサンプルで行わねばならなかつた。
このAFISは当時は迅速な計量を行う繊維試験装置とし
て，最上のデータを提供するものであつたが，更に良い
データをもつと迅速に得たいと言う要望があつた。改善
されたセンサが開発され米国特許出願第07/493961号明
細書に記載された。この内容もここでは参照として用い
る。この改良されたセンサを用いた装置は，これもAFIS
として知られているが，ツエルヴエーゲル・ウステル・
インコーポレイテツドで製造されている。明確にするた
め，そして参照文献との統一性のため，最初の装置はAF
IS0,改良されたセンサの装置はAFIS 1と呼ぶ。
試験するための装置に関し，詳しくは繊維と存在物を含
むサンプルを装填するための自動供給機構を有し，ネツ
プ，不純物，繊維と言つた存在物のタイプを識別するた
めの分析器を有する繊維存在物試験器に関する 技術の背景 本発明に先立つ装置はツエルヴエーゲル・ウステル・
インコーポレイテツドで製造されAFISとして知られてい
る。この装置は１つの空気流中に繊維とネツプを分離
し，他の空気流中に不純物を分離し，その装置は米国特
許第4512060号明細書に示されていて，その内容はここ
では参照として用いる。不純物は約50μｍ以上の大きさ
を持つ異物として定義する。この異物は時にはダクトと
トラツシユと呼ばれることがあるが，ここでは簡単のた
め不純物と言う言葉を用いる。従来の装置、AFISにおい
ては，繊維とネツプ及び不純物の情報を求めるには，繊
維物質を表すサンプルを３セツト準備し３回の試験を行
わねばならなかつた。各存在物のタイプごとに,1回のテ
ストを各繊維試料のサンプルで行わねばならなかつた。
このAFISは当時は迅速な計量を行う繊維試験装置とし
て，最上のデータを提供するものであつたが，更に良い
データをもつと迅速に得たいと言う要望があつた。改善
されたセンサが開発され米国特許出願第07/493961号明
細書に記載された。この内容もここでは参照として用い
る。この改良されたセンサを用いた装置は，これもAFIS
として知られているが，ツエルヴエーゲル・ウステル・
インコーポレイテツドで製造されている。明確にするた
め，そして参照文献との統一性のため，最初の装置はAF
IS0,改良されたセンサの装置はAFIS 1と呼ぶ。
本発明はAFIS 1の更なる改善に関し，主として試験速
度を考慮したものである。先ず判つたことは,AFIS 1の
改良されたセンサは，繊維試料の同じサンプルから複数
のデータを実質的に同時に測定し提供できると言うこと
である。実質的に同時にと言うことは，繊維物質の１つ
のサンプルを試験することによつて，ネツプのデータ，
繊維のデータ及び不純物のデータが得られ，実質的にす
べてのネツプと不純物を検出し測定し，繊維の代表的サ
ンプルを検出し測定すると言うことを意味する。かく
て，この改善はネツプ，不純物と繊維のデータを得るた
めに３つの別個のサンプルについて３回のテストを行わ
なくて済むと言うことになる。またもし望むなら，これ
らのデータを１つのセンサだけ得ることができることも
判つた。上述の試験速度の改善は，実施例に示すような
新しいアナログ及びデイジタルのハイブリツド分析回路
によつて可能となつた。動作速度はAFIS 0やAFIS1と較
べて，本発明では３倍に増大した。
度を考慮したものである。先ず判つたことは,AFIS 1の
改良されたセンサは，繊維試料の同じサンプルから複数
のデータを実質的に同時に測定し提供できると言うこと
である。実質的に同時にと言うことは，繊維物質の１つ
のサンプルを試験することによつて，ネツプのデータ，
繊維のデータ及び不純物のデータが得られ，実質的にす
べてのネツプと不純物を検出し測定し，繊維の代表的サ
ンプルを検出し測定すると言うことを意味する。かく
て，この改善はネツプ，不純物と繊維のデータを得るた
めに３つの別個のサンプルについて３回のテストを行わ
なくて済むと言うことになる。またもし望むなら，これ
らのデータを１つのセンサだけ得ることができることも
判つた。上述の試験速度の改善は，実施例に示すような
新しいアナログ及びデイジタルのハイブリツド分析回路
によつて可能となつた。動作速度はAFIS 0やAFIS1と較
べて，本発明では３倍に増大した。
上記の改善によつて達成された速度，即ち試験割合の
増大と共に，試験装置にサンプルを時宜を得て供給でき
るように自動化の必要が生じてきた。特に繊細なサンプ
ルを取扱い，これらを試験装置に迅速に供給し，その
間，実質的に操作者をフリーにできるような自動供給機
構の必要性がでてきた。そのような自動化の試みは，以
前の装置では，繊維物質の細長い引延ばされたサンプル
を必要とし，また手動でサンプルを形成し，この繊細な
サンプルを試験装置に手でていねいに供給する必要があ
るために成功しなかつた。本発明による装置は繊維サン
プルとして要求される繊細な引延ばされた細長いサンプ
ルを取扱うことのできる，新しい自動供給装置を備えて
いる。
増大と共に，試験装置にサンプルを時宜を得て供給でき
るように自動化の必要が生じてきた。特に繊細なサンプ
ルを取扱い，これらを試験装置に迅速に供給し，その
間，実質的に操作者をフリーにできるような自動供給機
構の必要性がでてきた。そのような自動化の試みは，以
前の装置では，繊維物質の細長い引延ばされたサンプル
を必要とし，また手動でサンプルを形成し，この繊細な
サンプルを試験装置に手でていねいに供給する必要があ
るために成功しなかつた。本発明による装置は繊維サン
プルとして要求される繊細な引延ばされた細長いサンプ
ルを取扱うことのできる，新しい自動供給装置を備えて
いる。
発明の概要 本発明はレシーバと自動供給装置を含む試験装置を提
供することによつて，以前の技術に関連した上記及び他
の問題を解決する。レシーバは繊維物質の引延ばされた
複数のサンプルを保持できるよう適合され，構成されて
いる。自動供給機構はレシーバの出力に隣接して配置さ
れ，レシーバ中のサンプルに選択的にかみ合つて，サン
プルを取出し輸送経路に沿つて輸送してその出力に運
ぶ。
供することによつて，以前の技術に関連した上記及び他
の問題を解決する。レシーバは繊維物質の引延ばされた
複数のサンプルを保持できるよう適合され，構成されて
いる。自動供給機構はレシーバの出力に隣接して配置さ
れ，レシーバ中のサンプルに選択的にかみ合つて，サン
プルを取出し輸送経路に沿つて輸送してその出力に運
ぶ。
処理装置はサンプルを受け，繊維物質を処理し，繊
維，不純物，ネツプと言つた存在物を次々に分離する。
この処理装置はまた，散在物を個々に分離しこれを分離
された状態で出力に与える。輸送機構は好ましくは，導
管とその中を流れる空気流とで構成され，存在物を処理
装置からセンサに輸送し，センサによつて感知された存
在物の特性を表す特性信号が生ずる。
維，不純物，ネツプと言つた存在物を次々に分離する。
この処理装置はまた，散在物を個々に分離しこれを分離
された状態で出力に与える。輸送機構は好ましくは，導
管とその中を流れる空気流とで構成され，存在物を処理
装置からセンサに輸送し，センサによつて感知された存
在物の特性を表す特性信号が生ずる。
また，コントローラが設けられていて，自動供給機構
中にサンプルが存在するかしないかを検出し，サンプル
が無いと検出されたとき及び処理装置が前のサンプルを
処理し終わつたときは，自動供給機構を働かせてサンプ
ルを処理装置に輸送する。もちろん前のサンプルの処理
と次のサンプルの導入との間には，ある遅れ間隔を設け
てオーバラツプが起こらないようにしている。
中にサンプルが存在するかしないかを検出し，サンプル
が無いと検出されたとき及び処理装置が前のサンプルを
処理し終わつたときは，自動供給機構を働かせてサンプ
ルを処理装置に輸送する。もちろん前のサンプルの処理
と次のサンプルの導入との間には，ある遅れ間隔を設け
てオーバラツプが起こらないようにしている。
レシーバには細長いサンプルを保持するための細長い
多数の受け溝を持つマガジンが含まれている。マガジン
を支持し，また細長い受け溝の１つを選択的にレシーバ
出力と自動供給機構に隣接して位置せしめるようにマガ
ジンを動かすための割出しサポートが設けられている。
コントローラは割出しマウントに選択的に作用して，選
択された１つの細長い溝を自動供給機構の登録場所にあ
わてるように稼働することができる。例示した実施例で
は，感知された存在物の特性を示す特性信号を受取るた
めの分析手段が設けられている。この分析器は特性信号
を分析し，存在物の特定のタイプに対応する信号の部分
を同定する。例えば分析器は特性信号の特別な切片を識
別して，これがネツプ，不純物あるいは繊維から生じた
ものかを同定する。
多数の受け溝を持つマガジンが含まれている。マガジン
を支持し，また細長い受け溝の１つを選択的にレシーバ
出力と自動供給機構に隣接して位置せしめるようにマガ
ジンを動かすための割出しサポートが設けられている。
コントローラは割出しマウントに選択的に作用して，選
択された１つの細長い溝を自動供給機構の登録場所にあ
わてるように稼働することができる。例示した実施例で
は，感知された存在物の特性を示す特性信号を受取るた
めの分析手段が設けられている。この分析器は特性信号
を分析し，存在物の特定のタイプに対応する信号の部分
を同定する。例えば分析器は特性信号の特別な切片を識
別して，これがネツプ，不純物あるいは繊維から生じた
ものかを同定する。
実施例においては，分析器は先ず特性信号の振幅を見
て，振幅がある値以上であればそれはネツプ，不純物又
は試験に対応するものであると分析する。不純物とネツ
プを区別するには，分析器は感知された存在物によつて
生じる光の減少に対応する減光信号を，感知された存在
物によつて前方に散乱される光に対応する前方散乱信号
と比較する。前方散乱信号の減光信号に対応する比が1/
2以上であれば分析器はその存在物はネツプであると決
定する。もし1/2より小さいと存在物が不純物と判定さ
れる。
て，振幅がある値以上であればそれはネツプ，不純物又
は試験に対応するものであると分析する。不純物とネツ
プを区別するには，分析器は感知された存在物によつて
生じる光の減少に対応する減光信号を，感知された存在
物によつて前方に散乱される光に対応する前方散乱信号
と比較する。前方散乱信号の減光信号に対応する比が1/
2以上であれば分析器はその存在物はネツプであると決
定する。もし1/2より小さいと存在物が不純物と判定さ
れる。
繊維と小さい不純物を区別するには，分析器は存在物
の速度に注目する。分析器は特性信号から存在物の速度
を求め，その速度に基づいて信号の切片が不純物による
ものか，繊維によるものかを同定する。実施例において
は，空気流がマツハ0.3あるいは約100m/sの場合は速度5
0m/s又はそれ以上の存在物は繊維であると考える。もち
ろんその他の分類基準もソフトウエアに用いることがで
きる。
の速度に注目する。分析器は特性信号から存在物の速度
を求め，その速度に基づいて信号の切片が不純物による
ものか，繊維によるものかを同定する。実施例において
は，空気流がマツハ0.3あるいは約100m/sの場合は速度5
0m/s又はそれ以上の存在物は繊維であると考える。もち
ろんその他の分類基準もソフトウエアに用いることがで
きる。
図面の簡単な説明 本発明は以下に示す実施例の詳細な説明と添付の図を
参照してよく理解できるであろう。ここに図はそれぞれ
次の通りである。
参照してよく理解できるであろう。ここに図はそれぞれ
次の通りである。
図１は本発明による好ましい実施例である繊維試験装
置の外観図， 図２はマガジンを含む自動供給機構の断面の模式図， 図３は図２に示したマガジンの断面図， 図４は供給ヘツドとマガジンの断面図， 図５は供給フインガと供給ローラの側面の断面図， 図６はコンピユータと自動供給機構を操作するための
コントロールシステムのブロツク図， 図７は自動供給機構からサンプルを受取る存在物分離
装置と，存在物分離装置から存在物を受取る単一センサ
の実施例 図８は存在物分離装置とセンサシステムの他の実施
例， 図９は存在物分離装置とセンサシステムの別の実施
例， 図10は分析システムのブロツク図で，検出器，センサ
のアナログ増幅器,1つのデータ収集ボードを示す， 図11は図10から導かれる一般化ブロツク図， 図12はセンサからのアナログ波形， 図13はコンピユータがどのようにデータを収集し，分
析し，ネツプ，不純物及び繊維を分類するかを示す流れ
図， 図14は存在物の電子−光学的パラメータ間の関係を示
すベン図である。
置の外観図， 図２はマガジンを含む自動供給機構の断面の模式図， 図３は図２に示したマガジンの断面図， 図４は供給ヘツドとマガジンの断面図， 図５は供給フインガと供給ローラの側面の断面図， 図６はコンピユータと自動供給機構を操作するための
コントロールシステムのブロツク図， 図７は自動供給機構からサンプルを受取る存在物分離
装置と，存在物分離装置から存在物を受取る単一センサ
の実施例 図８は存在物分離装置とセンサシステムの他の実施
例， 図９は存在物分離装置とセンサシステムの別の実施
例， 図10は分析システムのブロツク図で，検出器，センサ
のアナログ増幅器,1つのデータ収集ボードを示す， 図11は図10から導かれる一般化ブロツク図， 図12はセンサからのアナログ波形， 図13はコンピユータがどのようにデータを収集し，分
析し，ネツプ，不純物及び繊維を分類するかを示す流れ
図， 図14は存在物の電子−光学的パラメータ間の関係を示
すベン図である。
本発明を実施するための最良の方法 ここで図を参照するのにいくつかの図を通して同じ部
材は同じ記号で表している。図１は本発明の実施例を含
む繊維試験装置10の外観を示す。繊維試験装置10は主ケ
ース12とこの上に搭載され，繊維物質のサンプルを保持
するための自動コンベア14を含んでいる。供給ヘツド16
はコンベア14から飛び出している。
材は同じ記号で表している。図１は本発明の実施例を含
む繊維試験装置10の外観を示す。繊維試験装置10は主ケ
ース12とこの上に搭載され，繊維物質のサンプルを保持
するための自動コンベア14を含んでいる。供給ヘツド16
はコンベア14から飛び出している。
試験装置10の動作はコンピユータ18で制御されてい
て，コンピユータ18と操作者とのインタフエースはデイ
スプレイ20とキーボード22で行われる。提示した実施例
においては，試験装置10は繊維物質の試験に用いられ，
特に繊維，ネツプ，不純物の特性を測定するように設計
されてはいるが，この試験装置10は前記繊維原料中の存
在物と同じような寸法と重量特性を有する以下なる存在
物に対しても同様に動作することができる。
て，コンピユータ18と操作者とのインタフエースはデイ
スプレイ20とキーボード22で行われる。提示した実施例
においては，試験装置10は繊維物質の試験に用いられ，
特に繊維，ネツプ，不純物の特性を測定するように設計
されてはいるが，この試験装置10は前記繊維原料中の存
在物と同じような寸法と重量特性を有する以下なる存在
物に対しても同様に動作することができる。
図２はマガジン24と供給ヘツド16の上面図を示す。マ
ガジン24は図１に示したコンベア14中に含まれていて，
これには多数（20から200）の受け溝26が含まれてい
て，この受け溝はマガジン24の長さ方向にのびていて繊
維物質の細長いサンプルを受け入れるようになつてい
る。図３には，図２の３−３断面の部分が示されてい
る。図３でよく判るように，受け溝26はマガジン24中に
形成された深さ約１インチ，水平幅が約１インチの溝か
ら成つている。マガジン24はラツク28上に乗つており，
ラツクはステツプモータ30で，図２の矢印32,34の方向
に水平に動くようになつている。このようにしてステツ
プモータ30はマガジン24を水平方向に動かし希望する受
け溝26を供給ヘツド16に一致させる（又はマガジン24割
出す）。希望する受け溝26が供給ヘツド16に対して正し
い登録位置にくると，その溝26中のサンプルは供給ヘツ
ド16で取出される。
ガジン24は図１に示したコンベア14中に含まれていて，
これには多数（20から200）の受け溝26が含まれてい
て，この受け溝はマガジン24の長さ方向にのびていて繊
維物質の細長いサンプルを受け入れるようになつてい
る。図３には，図２の３−３断面の部分が示されてい
る。図３でよく判るように，受け溝26はマガジン24中に
形成された深さ約１インチ，水平幅が約１インチの溝か
ら成つている。マガジン24はラツク28上に乗つており，
ラツクはステツプモータ30で，図２の矢印32,34の方向
に水平に動くようになつている。このようにしてステツ
プモータ30はマガジン24を水平方向に動かし希望する受
け溝26を供給ヘツド16に一致させる（又はマガジン24割
出す）。希望する受け溝26が供給ヘツド16に対して正し
い登録位置にくると，その溝26中のサンプルは供給ヘツ
ド16で取出される。
次に図４には供給ヘツド16とマガジン24の側断面図が
示されている。ここに示すように，引延ばされた細長い
繊維サンプル36はマガジン24上の受け溝26の１つに位置
している。サンプル36は供給ヘツドベルト38と40にかみ
合つていて，これらのベルトは点線42で表された枠上に
乗つている。この枠42はピボツトピン44上に軸支されて
いて，枠42の位置はピストンとシリンダの組46で制御さ
れ，この組46で枠42が矢印48で示したような弧を描いて
動く。このようにしてピストンとシリンダの組46はベル
ト38,40を下げてサンプル36とかみ合わせ，またベルト3
8,40を上げてサンプル36とマガジン24から離し，マガジ
ン24がベルト38,40から何等の干渉もなく動けるように
する。ベルト38,40がサンプル36とかみ合つているとき
は，サンプル36を上部供給ベルト50の上に駆動し，ベル
ト50はサンプルを供給トレイ52に供給する。
示されている。ここに示すように，引延ばされた細長い
繊維サンプル36はマガジン24上の受け溝26の１つに位置
している。サンプル36は供給ヘツドベルト38と40にかみ
合つていて，これらのベルトは点線42で表された枠上に
乗つている。この枠42はピボツトピン44上に軸支されて
いて，枠42の位置はピストンとシリンダの組46で制御さ
れ，この組46で枠42が矢印48で示したような弧を描いて
動く。このようにしてピストンとシリンダの組46はベル
ト38,40を下げてサンプル36とかみ合わせ，またベルト3
8,40を上げてサンプル36とマガジン24から離し，マガジ
ン24がベルト38,40から何等の干渉もなく動けるように
する。ベルト38,40がサンプル36とかみ合つているとき
は，サンプル36を上部供給ベルト50の上に駆動し，ベル
ト50はサンプルを供給トレイ52に供給する。
次に図５はトレイ52の側面図を示す。上部供給ベルト
50はサンプルを供給トレイ52に供給し，プランジャ54が
サンプルをトレイ供給ベルト55の下に押し込む。ベルト
55は供給トレイ52のすぐ上に，これと平行して取り付け
られている。トレイ供給ベルト55はサンプルを供給トレ
イ52の下の方に駆動し，最後のステツプは試験装置10の
自動供給ヘツド16の中に入れる。サンプル36が供給機構
16中に有るか無いかを検出するため，光学的センサ60,6
2が設けられている。センサ60は上部供給ベルト50の出
口端に配置され，プランジヤフインガ56が往復する領域
で供給トレイ52を監視している。光学的センサ62はトレ
イ供給ベルト55の終端部に配置され，供給トレイ52を監
視している。
50はサンプルを供給トレイ52に供給し，プランジャ54が
サンプルをトレイ供給ベルト55の下に押し込む。ベルト
55は供給トレイ52のすぐ上に，これと平行して取り付け
られている。トレイ供給ベルト55はサンプルを供給トレ
イ52の下の方に駆動し，最後のステツプは試験装置10の
自動供給ヘツド16の中に入れる。サンプル36が供給機構
16中に有るか無いかを検出するため，光学的センサ60,6
2が設けられている。センサ60は上部供給ベルト50の出
口端に配置され，プランジヤフインガ56が往復する領域
で供給トレイ52を監視している。光学的センサ62はトレ
イ供給ベルト55の終端部に配置され，供給トレイ52を監
視している。
図2,3,4,5においては供給ベルト38,40,50,55は駆動の
機構を表しているものと理解されたい。即ち通常の方法
で供給ベルトを駆動するのに必要なモータ，コントロー
ル及びこれらの相互接続を含んでいる。同様に光学的セ
ンサ60,62は通常の電源供給部とコントロールの相互接
続を含む通常のセンサを表している。またピストンとシ
リンダの組46とプランジヤ54は双方向作動のピストンと
シリンダの組から成り，プランジャフインガー56は通常
のピストンとシリンダの組を示し，何れも圧搾空気供給
とコントロール機構を含んでいる。
機構を表しているものと理解されたい。即ち通常の方法
で供給ベルトを駆動するのに必要なモータ，コントロー
ル及びこれらの相互接続を含んでいる。同様に光学的セ
ンサ60,62は通常の電源供給部とコントロールの相互接
続を含む通常のセンサを表している。またピストンとシ
リンダの組46とプランジヤ54は双方向作動のピストンと
シリンダの組から成り，プランジャフインガー56は通常
のピストンとシリンダの組を示し，何れも圧搾空気供給
とコントロール機構を含んでいる。
コントロール要素を含むこれら要素の動作は図６の自
動供給ヘッド16に使われているコンピユータ18と制御機
構を示すブロツク図を参照すればよく理解できるであろ
う。図２〜６において，試験装置10が運転を始めると，
コンピユータ18はステツパコントロール64に指令を出し
マガジン24を初期位置に駆動し，第１受け溝26を自動供
給機構16に合わせるようにする。マガジン24が希望する
位置に来ると，コンピユータ18は供給ヘツドベルトコン
トロール66とシリンダコントロール68に指令を出し，供
給ベルト38と40を動かし，シリンダ46を働かせてベルト
38がサンプル36とかみ合うようにする。コンピユータ18
はまた上部ベルトコントロール70とトレイ供給ベルトコ
ントロール72にスタート指令を出し，これにより上部供
給ベルト50とトレイ供給ベルト55の動作が開始される。
動供給ヘッド16に使われているコンピユータ18と制御機
構を示すブロツク図を参照すればよく理解できるであろ
う。図２〜６において，試験装置10が運転を始めると，
コンピユータ18はステツパコントロール64に指令を出し
マガジン24を初期位置に駆動し，第１受け溝26を自動供
給機構16に合わせるようにする。マガジン24が希望する
位置に来ると，コンピユータ18は供給ヘツドベルトコン
トロール66とシリンダコントロール68に指令を出し，供
給ベルト38と40を動かし，シリンダ46を働かせてベルト
38がサンプル36とかみ合うようにする。コンピユータ18
はまた上部ベルトコントロール70とトレイ供給ベルトコ
ントロール72にスタート指令を出し，これにより上部供
給ベルト50とトレイ供給ベルト55の動作が開始される。
コンピユータ18が指令を出し，供給ベルト38,40,50が
サンプルを供給トレイ52に供給するようになつた後は，
コンピユータ18はセンサ60からの信号を監視し，サンプ
ルがトレイ52上に検出されると，コンピユータ18はプラ
ンジヤコントロール74に指令を出し，プランジヤ54のシ
リンダ58を働かせてプランジヤフインガー56をトレイ供
給ベルト55の方向に動かし，サンプルをトレイ供給ベル
ト55の下にトレイ52上に押込む。もしコンピユータ18が
センサ62の所でサンプルの存在を検出しないときは，プ
ランジヤフインガー56が作動した後１ないし1.5sec.以
内にコンピユータはプランジヤコントロール74に他の指
令を出してプランジヤフインガー56を働かせてサンプル
をトレイ供給ベルト55の下に押込むようにさせる。この
過程は５回繰り返され、第５繰り返しの後もセンサ62が
サンプルを感知しないときは、コンピユータ18は指令を
出して供給機構16の全ての動作を停士させ，デイスプレ
イ20上に欠陥状態を表示し，サンプルが供給機構中に詰
まつてしまつたことを示唆する。
サンプルを供給トレイ52に供給するようになつた後は，
コンピユータ18はセンサ60からの信号を監視し，サンプ
ルがトレイ52上に検出されると，コンピユータ18はプラ
ンジヤコントロール74に指令を出し，プランジヤ54のシ
リンダ58を働かせてプランジヤフインガー56をトレイ供
給ベルト55の方向に動かし，サンプルをトレイ供給ベル
ト55の下にトレイ52上に押込む。もしコンピユータ18が
センサ62の所でサンプルの存在を検出しないときは，プ
ランジヤフインガー56が作動した後１ないし1.5sec.以
内にコンピユータはプランジヤコントロール74に他の指
令を出してプランジヤフインガー56を働かせてサンプル
をトレイ供給ベルト55の下に押込むようにさせる。この
過程は５回繰り返され、第５繰り返しの後もセンサ62が
サンプルを感知しないときは、コンピユータ18は指令を
出して供給機構16の全ての動作を停士させ，デイスプレ
イ20上に欠陥状態を表示し，サンプルが供給機構中に詰
まつてしまつたことを示唆する。
詰まりがないと仮定すると，コンピユータ18は今度は
光学的センサ60,62からの信号を分析し，サンプルが自
動供給機構16中に存在するかどうかを調べる。正常なと
きは両センサはサンプル36の存在を示すだろう。何れの
センサもサンプルを検出しないと，コンピユータ18は更
に10sec.待つて再びセンサ60,62からの信号を分析す
る。何れのセンサからもサンプル36が検出されないと，
コンピユータ18はシリンダコントロール68に指令して枠
42を上げ供給ベルト38,40をマガジン24から離す。次い
でコンピユータ18はステツパーコントロール64に指令
し，ステツプモータ30でマガジン24を供給機構16の次の
受け溝26に一致させる。そこでコンピユータ18は再びシ
リンダコントロール68に指令して供給ベルト38,40を下
げて，次の受け溝26中のサンプルとかみ合うようにさせ
る。再びコンピユータ18は光学的センサ60,62からの信
号を分析してサンプルの存否を求め供給機構16にサンプ
ルが検出されるまでマガジン24を先に合わせることを継
続する。
光学的センサ60,62からの信号を分析し，サンプルが自
動供給機構16中に存在するかどうかを調べる。正常なと
きは両センサはサンプル36の存在を示すだろう。何れの
センサもサンプルを検出しないと，コンピユータ18は更
に10sec.待つて再びセンサ60,62からの信号を分析す
る。何れのセンサからもサンプル36が検出されないと，
コンピユータ18はシリンダコントロール68に指令して枠
42を上げ供給ベルト38,40をマガジン24から離す。次い
でコンピユータ18はステツパーコントロール64に指令
し，ステツプモータ30でマガジン24を供給機構16の次の
受け溝26に一致させる。そこでコンピユータ18は再びシ
リンダコントロール68に指令して供給ベルト38,40を下
げて，次の受け溝26中のサンプルとかみ合うようにさせ
る。再びコンピユータ18は光学的センサ60,62からの信
号を分析してサンプルの存否を求め供給機構16にサンプ
ルが検出されるまでマガジン24を先に合わせることを継
続する。
２つの光学的センサ60,62が供給機構16の中のサンプ
ルの存在を感知すると、サンプルは供給機構16中に完全
に供給されたことになる。コンピユータ18は定期的に光
学的センサ60,62からの信号を走査し，これらセンサ60,
62がサンプル36が供給機構16中に存在しないことを示す
ようになると，予め定めた待ち時間の間，約10sec.待つ
たのち，試験装置10の他の動作をチエツクする。全てが
正常に機能しているとすると，待ち時間の後コンピユー
タ18はシリンダコントロール68とステツパーコントロー
ル64に指令して，マガジン24を進め，次の受け溝26に合
わせるようにさせる。
ルの存在を感知すると、サンプルは供給機構16中に完全
に供給されたことになる。コンピユータ18は定期的に光
学的センサ60,62からの信号を走査し，これらセンサ60,
62がサンプル36が供給機構16中に存在しないことを示す
ようになると，予め定めた待ち時間の間，約10sec.待つ
たのち，試験装置10の他の動作をチエツクする。全てが
正常に機能しているとすると，待ち時間の後コンピユー
タ18はシリンダコントロール68とステツパーコントロー
ル64に指令して，マガジン24を進め，次の受け溝26に合
わせるようにさせる。
最後の受け溝26からのサンプルが挿入されるか，その
試みがなされた後，コンピユータ18はマガジン24は空に
なつたと想定し，ディスプレイ20にプロンプトを表示
し，操作者にマガジン24に繊維試料を装填し，自動供給
過程を再び開始することを示唆する。
試みがなされた後，コンピユータ18はマガジン24は空に
なつたと想定し，ディスプレイ20にプロンプトを表示
し，操作者にマガジン24に繊維試料を装填し，自動供給
過程を再び開始することを示唆する。
次に図７は分繊器80とセンサ82を示す。分繊器80は供
給トレイ52と供給トレイベルト55から繊維サンプル36を
受け取る。分繊器80の機能はこれに供給される存在物を
分離し,1つ１つに分けることである。この実施例では，
分繊器80はネツプ，不純物，繊維を１つずつ他から分離
し，色々なタイプの存在物を個々バラバラにする。
給トレイ52と供給トレイベルト55から繊維サンプル36を
受け取る。分繊器80の機能はこれに供給される存在物を
分離し,1つ１つに分けることである。この実施例では，
分繊器80はネツプ，不純物，繊維を１つずつ他から分離
し，色々なタイプの存在物を個々バラバラにする。
分繊器80には供給トレイ52上のサンプルを受け取り，
サンプル36を分繊器80の中へ供給するためのフイードロ
ーラ81が含まれている。調質された空気は空気供給チヤ
ンネル83,84,85,86を通つて分繊器中に入力される。圧
搾空気は短時間，例えば0.5sec.,チヤンネル87から供給
され，分繊器を掃除する。サンプル36はフィードローラ
81で分繊器80中に制御されながら供給され，存在物は穴
あきシリンダ88と穴なしシリンダ90で，カーデイングフ
ラツト94,95,96との組み合わせで処理される。この過程
でネツプ，繊維，不純物と言つた存在物は１つずつ解き
放たれ，分離され１度に１つずつ（分離された状態で）
分繊器80の出口92に供給される。
サンプル36を分繊器80の中へ供給するためのフイードロ
ーラ81が含まれている。調質された空気は空気供給チヤ
ンネル83,84,85,86を通つて分繊器中に入力される。圧
搾空気は短時間，例えば0.5sec.,チヤンネル87から供給
され，分繊器を掃除する。サンプル36はフィードローラ
81で分繊器80中に制御されながら供給され，存在物は穴
あきシリンダ88と穴なしシリンダ90で，カーデイングフ
ラツト94,95,96との組み合わせで処理される。この過程
でネツプ，繊維，不純物と言つた存在物は１つずつ解き
放たれ，分離され１度に１つずつ（分離された状態で）
分繊器80の出口92に供給される。
この分繊器80は本質的には米国特許第4512060号明細
書に記述されたものと同じである。米国特許第4512060
号明細書と，この分繊器80の構造上の主な違いは空気供
給チヤンネル83と86を横切つて，互い違いに二重に設け
られた調節板98と100を設けたことである。調節板98,10
0はこれを通つて空気流が分繊器中に流れ込むことがで
きるようにしてあるが，この調節板98,100は不純物やそ
の他の存在物が83と86の空気の通過で分織器から外に放
出されることを妨げる。こうして米国特許第4512060号
明細書と違つて，この分繊器80で処理された全ての存在
物は出口92から導管102中へと出力される。
書に記述されたものと同じである。米国特許第4512060
号明細書と，この分繊器80の構造上の主な違いは空気供
給チヤンネル83と86を横切つて，互い違いに二重に設け
られた調節板98と100を設けたことである。調節板98,10
0はこれを通つて空気流が分繊器中に流れ込むことがで
きるようにしてあるが，この調節板98,100は不純物やそ
の他の存在物が83と86の空気の通過で分織器から外に放
出されることを妨げる。こうして米国特許第4512060号
明細書と違つて，この分繊器80で処理された全ての存在
物は出口92から導管102中へと出力される。
導管102は存在物を空気流に乗せてシールドされた部
屋104に運ぶ。この導管102の端はノズル106で終わり，
対向するノズル108が部屋104中に基本的にノズル106と
一線上に並んで配置されていて，ノズル106と108の間に
１つの開口が形成されるようになつている。ノズル108
は導管110に接続され，導管110は吸引源112につながれ
て，この吸引源によつて真空をつくり，導管102,110と
ノズル106,108中の空気流を作つている。部屋104中に光
源114が設けられていて，ノズル106と108の間の開口を
通つて光ビーム113が２つの減光検出器116と118に向か
つて投射される。２つの検出器は図７で示すように並ん
で配置されている。検出器118はノズル106,108中の空気
流に関して検出器116の下流側に配置されている。検出
器116,118の出力は増幅器120と122をそれぞれ介して供
給され，それぞれ減光出力信号VE1とVE2がライン124と1
26に生ずる。
屋104に運ぶ。この導管102の端はノズル106で終わり，
対向するノズル108が部屋104中に基本的にノズル106と
一線上に並んで配置されていて，ノズル106と108の間に
１つの開口が形成されるようになつている。ノズル108
は導管110に接続され，導管110は吸引源112につながれ
て，この吸引源によつて真空をつくり，導管102,110と
ノズル106,108中の空気流を作つている。部屋104中に光
源114が設けられていて，ノズル106と108の間の開口を
通つて光ビーム113が２つの減光検出器116と118に向か
つて投射される。２つの検出器は図７で示すように並ん
で配置されている。検出器118はノズル106,108中の空気
流に関して検出器116の下流側に配置されている。検出
器116,118の出力は増幅器120と122をそれぞれ介して供
給され，それぞれ減光出力信号VE1とVE2がライン124と1
26に生ずる。
前方散乱光検出器128がレンズ系129と遮光板130を含
んで設けられていて，ノズル106,108間の開口を通過す
る存在物133によつて（この実施例では）約40゜の角度
で前方に散乱される光を検出する。前方散乱光検出器12
8の出力は増幅器131を介してライン132上に前方散乱光
信号VSを生ずる。
んで設けられていて，ノズル106,108間の開口を通過す
る存在物133によつて（この実施例では）約40゜の角度
で前方に散乱される光を検出する。前方散乱光検出器12
8の出力は増幅器131を介してライン132上に前方散乱光
信号VSを生ずる。
上記のセンサ82は本質的には米国特許出願第07/49396
1号明細書に記載されたものと同じである。
1号明細書に記載されたものと同じである。
図８は分繊器80とセンサ82を組み合わせた別の実施例
を示す。この実施例においては，センサ82は図７に示し
たものと同じであり，また分繊器80は本質的には米国特
許第4512060号明細書に記載されたものと同じで，ただ
この実施例では，不純物は不織器80を離れてから取り扱
われている点が異なる。図８の実施例では，図７で用い
られていた調節板98と100は使用されていないで，不純
物は空気チヤンネル84と86から排出される。シリンダ8
8,90は不純物分子を通路84と86を通してその空気流中に
押し出している。不純物分子が空気取入れ口138,139に
到達すると，その惰性で不純物分子は導管140と142中に
導かれ，分繊器80から流れ出す空気流中を輸送され分繊
器から離れる。導管140,142はサイクロン分離器143の入
力であり，分離器143には空気のサクシヨン146に向かつ
て上方に延びる垂直導管144を含んでいる。サクシヨン1
46は導管140と142中の空気流を形成するのに必要な吸引
を与える。
を示す。この実施例においては，センサ82は図７に示し
たものと同じであり，また分繊器80は本質的には米国特
許第4512060号明細書に記載されたものと同じで，ただ
この実施例では，不純物は不織器80を離れてから取り扱
われている点が異なる。図８の実施例では，図７で用い
られていた調節板98と100は使用されていないで，不純
物は空気チヤンネル84と86から排出される。シリンダ8
8,90は不純物分子を通路84と86を通してその空気流中に
押し出している。不純物分子が空気取入れ口138,139に
到達すると，その惰性で不純物分子は導管140と142中に
導かれ，分繊器80から流れ出す空気流中を輸送され分繊
器から離れる。導管140,142はサイクロン分離器143の入
力であり，分離器143には空気のサクシヨン146に向かつ
て上方に延びる垂直導管144を含んでいる。サクシヨン1
46は導管140と142中の空気流を形成するのに必要な吸引
を与える。
空気と極めて微細な分子は導管144を通つて分離器143
を離れるが，ほとんどのダストと不純物分子は外向きの
遠心力で分離され，重力で部屋148に落ち，螺旋錐150で
選択的に部屋から排出される。
を離れるが，ほとんどのダストと不純物分子は外向きの
遠心力で分離され，重力で部屋148に落ち，螺旋錐150で
選択的に部屋から排出される。
コンピユータ18からの指令により，不純物分子は螺旋
錐で部屋148から取出され，ここで不純物分子は導管152
中の空気で拾い上げられる。空気取入れ口154は螺旋錐
の出口に隣接して設けられている。導管152中の空気流
は不純物分子を導管102の取入れ口153の所まで運ぶ。ピ
ストンとシリンダの組155はこれに取付けられたカバー
プレート156によつて取り入れ口153を選択的に閉じたり
開けたりする。このピストンとシリンダの組155と螺旋
錐150はコンピユータ18の制御下にある。コンピユータ1
8が繊維とネツプの特性を測定したいときは，カバープ
レート156は取入れ口153に向かつて動き，繊維とネツプ
が本質的に不純物を含まずにセンサ82に供給される。ま
た不純物特性を測定したいときは，コンピユータ18はピ
ストンとシリンダの組155を働かせて取入れ口153を開
き，コンピユータ18はまた螺旋錐150を働かせて，ダス
トと不純物を部屋148から排出させる。すると吸引源112
が導管152中に空気流を発生し、これに乗つて不純物分
子が導管152を通つて導管102中に選ばれ，最後にセンサ
82を通過する。
錐で部屋148から取出され，ここで不純物分子は導管152
中の空気で拾い上げられる。空気取入れ口154は螺旋錐
の出口に隣接して設けられている。導管152中の空気流
は不純物分子を導管102の取入れ口153の所まで運ぶ。ピ
ストンとシリンダの組155はこれに取付けられたカバー
プレート156によつて取り入れ口153を選択的に閉じたり
開けたりする。このピストンとシリンダの組155と螺旋
錐150はコンピユータ18の制御下にある。コンピユータ1
8が繊維とネツプの特性を測定したいときは，カバープ
レート156は取入れ口153に向かつて動き，繊維とネツプ
が本質的に不純物を含まずにセンサ82に供給される。ま
た不純物特性を測定したいときは，コンピユータ18はピ
ストンとシリンダの組155を働かせて取入れ口153を開
き，コンピユータ18はまた螺旋錐150を働かせて，ダス
トと不純物を部屋148から排出させる。すると吸引源112
が導管152中に空気流を発生し、これに乗つて不純物分
子が導管152を通つて導管102中に選ばれ，最後にセンサ
82を通過する。
更にまた別の実施例を図９に示した。この実施例にお
いては，分繊器80は本質的には米国特許4512060号明細
書に記載されたものと同じであるが，導管140と142が導
管141に一本に組み合わされて別のセンサ82aに接続され
た点が異なる。導管141中の空気流は，センサ82の吸引
源112とほぼ同じな吸引源112aによつて与えられる。
いては，分繊器80は本質的には米国特許4512060号明細
書に記載されたものと同じであるが，導管140と142が導
管141に一本に組み合わされて別のセンサ82aに接続され
た点が異なる。導管141中の空気流は，センサ82の吸引
源112とほぼ同じな吸引源112aによつて与えられる。
図7,89で示された３つの実施例の適用はセンサ，データ
収集ボード，コンピユータ18の動作に光を当ててみると
よく理解できるので，以下にこれを説明する。
収集ボード，コンピユータ18の動作に光を当ててみると
よく理解できるので，以下にこれを説明する。
図10にセンサ82と１枚のデータ収集ボード（DAB）161
を示した。点線160はセンサ82とDAB 161との間の物理的
な分割を示す。このDABはノズル106中を動く１本の繊維
159に応答している所を示してある。図10の左側を見る
と，センサ82が詳細に示されている。減光センサ116は
その出力をインピーダンス変換増幅器162に与え，この
増幅器162の出力は電圧利得約4.3の増幅器164で増幅さ
れる。増幅器164の出力ライン166に現れ，第１減光信号
の低利得チヤンネル（VE1−L0）を構成する。増幅器164
の出力は利得12.5の増幅器168に与えられ，ライン170に
現れる増幅器168の出力は第１減光信号の高利得チヤン
ネル（VE1−HI）を構成する。
を示した。点線160はセンサ82とDAB 161との間の物理的
な分割を示す。このDABはノズル106中を動く１本の繊維
159に応答している所を示してある。図10の左側を見る
と，センサ82が詳細に示されている。減光センサ116は
その出力をインピーダンス変換増幅器162に与え，この
増幅器162の出力は電圧利得約4.3の増幅器164で増幅さ
れる。増幅器164の出力ライン166に現れ，第１減光信号
の低利得チヤンネル（VE1−L0）を構成する。増幅器164
の出力は利得12.5の増幅器168に与えられ，ライン170に
現れる増幅器168の出力は第１減光信号の高利得チヤン
ネル（VE1−HI）を構成する。
同様な構成で第２減光センサ118の出力はインピーダ
ンス172を介して利得約4.3の電圧増幅器174に加えられ
る。増幅器174の出力はライン176に現れ，第２減光信号
の低利得チヤンネル（VE2−L0）を構成する。増幅器174
の出力はまた利得約12.5の増幅器178に与えられ，増幅
器178の出力はライン180に現れ，第２減光信号の高利得
チヤンネル（VE2−HI）を構成する。
ンス172を介して利得約4.3の電圧増幅器174に加えられ
る。増幅器174の出力はライン176に現れ，第２減光信号
の低利得チヤンネル（VE2−L0）を構成する。増幅器174
の出力はまた利得約12.5の増幅器178に与えられ，増幅
器178の出力はライン180に現れ，第２減光信号の高利得
チヤンネル（VE2−HI）を構成する。
前方散乱光センサ128は１つの信号を生じ，これはイ
ンピーダンス変換増幅器182に与えられ，その出力は電
圧利得約20の増幅器184に与えられる。増幅器184の出力
はライン186に現れ，散乱光信号の低利得チヤンネル（V
S−L0）を構成する。また増幅器184の出力は利得約12.5
の増幅器188に与えられ，その出力はライン190に現れ，
散乱光信号の高利得チヤンネル（VS−HI）を構成する。
ンピーダンス変換増幅器182に与えられ，その出力は電
圧利得約20の増幅器184に与えられる。増幅器184の出力
はライン186に現れ，散乱光信号の低利得チヤンネル（V
S−L0）を構成する。また増幅器184の出力は利得約12.5
の増幅器188に与えられ，その出力はライン190に現れ，
散乱光信号の高利得チヤンネル（VS−HI）を構成する。
次に図10の右側を見ると,DAB 161が詳細に示されてい
る。図10に示されたDAB 161はネツプや不純物ではな
く，繊維の特性を測定するように接続されている。この
配列では，ライン170に現れるVE1−HIは利得−１の符号
反転絶縁増幅器192に加えられ，次いでしきい値比較器1
94に与えられる。しきい値比較器194はその入力に現れ
る信号が予め定めた値，好ましくは1/2ボルトを越える
とハイに，即ちオンになり，また入力信号が0.5V以下に
下がると比較器194はロウに，即ちオフになる。
る。図10に示されたDAB 161はネツプや不純物ではな
く，繊維の特性を測定するように接続されている。この
配列では，ライン170に現れるVE1−HIは利得−１の符号
反転絶縁増幅器192に加えられ，次いでしきい値比較器1
94に与えられる。しきい値比較器194はその入力に現れ
る信号が予め定めた値，好ましくは1/2ボルトを越える
とハイに，即ちオンになり，また入力信号が0.5V以下に
下がると比較器194はロウに，即ちオフになる。
比較器194の出力は論理チツプ196に加えられており，
またこのチツプはライン198から20MHZのクロツク信号を
受けている。理論チツプ196はカウンタ200に選択的に20
MHZのクロツク信号を供給する。
またこのチツプはライン198から20MHZのクロツク信号を
受けている。理論チツプ196はカウンタ200に選択的に20
MHZのクロツク信号を供給する。
同様にセンサ118からライン180に現れるVE2−HIは符
号反転絶縁増幅器202,しきい値比較器204を介して論理
チツプ196とカウンタ210に加えられる。
号反転絶縁増幅器202,しきい値比較器204を介して論理
チツプ196とカウンタ210に加えられる。
この構成ではカウンタ200に現れる計数値はライン212
を通つてTBで参照されるデータバス指向ドライバによつ
てコンピユータバス213に加えられる。同様にカウンタ2
10に現れる計数値はTEで表されるライン214を通つてコ
ンピユータバス213に加えられる。
を通つてTBで参照されるデータバス指向ドライバによつ
てコンピユータバス213に加えられる。同様にカウンタ2
10に現れる計数値はTEで表されるライン214を通つてコ
ンピユータバス213に加えられる。
論理チップ196はしきい値比較器194がハイとなつた時
から始まつて，しきい値比較器204がハイとなつて終わ
るまでの間，クロツクパルスをカウンタ200に供給す
る。論理チツプ196はしきい値比較器194が（前にハイと
なつた後で）ロウとなつた時から始まつて，しきい値比
較器204が（前にハイとなつた後で）ロウとなつて終わ
るまでの間，クロツクパルスをカウンタ210に供給す
る。
から始まつて，しきい値比較器204がハイとなつて終わ
るまでの間，クロツクパルスをカウンタ200に供給す
る。論理チツプ196はしきい値比較器194が（前にハイと
なつた後で）ロウとなつた時から始まつて，しきい値比
較器204が（前にハイとなつた後で）ロウとなつて終わ
るまでの間，クロツクパルスをカウンタ210に供給す
る。
またVE1−HIはライン211と符号反転絶縁増幅器215を
通つて，しきい値比較器216にも加えられ，比較器216は
論理チツプ218を制御する。ライン220の10MHZクロツク
信号も論理チツプ218に加えられており，しきい値比較
器216の制御の下で論理チツプ218は10MHZクロツク信号
をカウンタ222に供給する。カウンタ222の計数値はTFE
で参照される，ライン224を通つてコンピユータバス213
に加えられる。
通つて，しきい値比較器216にも加えられ，比較器216は
論理チツプ218を制御する。ライン220の10MHZクロツク
信号も論理チツプ218に加えられており，しきい値比較
器216の制御の下で論理チツプ218は10MHZクロツク信号
をカウンタ222に供給する。カウンタ222の計数値はTFE
で参照される，ライン224を通つてコンピユータバス213
に加えられる。
増幅器215の出力には反転したVE1−HI信号が現れ，こ
れは積分器226とピーク検出器228にも与えられ，これら
の出力はそれぞれA/D変換器230と231に与えられる。A/D
変換器230の出力はライン234に現れ，バス213に加えら
れる。同様にA/D変換器232の出力はライン236に現れ，
バス213に加えられる。このデータはそれぞれ減光信号
の下の面積AE及び減光信号のピークPEとして知られるも
のである。
れは積分器226とピーク検出器228にも与えられ，これら
の出力はそれぞれA/D変換器230と231に与えられる。A/D
変換器230の出力はライン234に現れ，バス213に加えら
れる。同様にA/D変換器232の出力はライン236に現れ，
バス213に加えられる。このデータはそれぞれ減光信号
の下の面積AE及び減光信号のピークPEとして知られるも
のである。
ライン190に現れるVS−HIは符号反転絶縁増幅器237を
通つてしきい値比較器238,積分器248,ピーク検出器254
に加えられる。しきい値比較器238の出力は論理チツプ2
40に加えられ，チツプ240にはライン242から10MHZの信
号も与えられている。論理チツプ240は絶縁増幅器237の
出力が0.5Vを越えるとクロツク信号をカウンタ244に加
え，増幅器237の出力信号が0.5V以下になると論理チツ
プ240はカウンタ244へのクロツク信号の供給を停止す
る。カウンタ244の出力はTFSで識別されるライン246を
通つてバス213に加えられる。
通つてしきい値比較器238,積分器248,ピーク検出器254
に加えられる。しきい値比較器238の出力は論理チツプ2
40に加えられ，チツプ240にはライン242から10MHZの信
号も与えられている。論理チツプ240は絶縁増幅器237の
出力が0.5Vを越えるとクロツク信号をカウンタ244に加
え，増幅器237の出力信号が0.5V以下になると論理チツ
プ240はカウンタ244へのクロツク信号の供給を停止す
る。カウンタ244の出力はTFSで識別されるライン246を
通つてバス213に加えられる。
積分器248の出力はA/D変換器250とライン252を通つて
バス213に加えられ，同様にピーク検出器254の出力はA/
D変換器256とライン258を通つてバス213に加えられる。
これらはそれぞれASとPSとして識別されている。
バス213に加えられ，同様にピーク検出器254の出力はA/
D変換器256とライン258を通つてバス213に加えられる。
これらはそれぞれASとPSとして識別されている。
上記の説明から，ライン212に現れるTBはこの場合は
繊維で示した存在物の先端がセンサ116の光学的投影点
から，センサ118の光学的投影点まで通過するのに要す
る時間であると理解される。従つてTBは存在物の先端の
速度に対応する。ライン214に現れるTEは存在物の後端
がセンサ116の光学的投影点から，センサ118の光学的投
影点まで通過するのに要する時間を表し，従つて存在物
の後続の速度に対応する。ライン224に表れるTFEは存在
物がセンサ116の光学的投影を完全に通過する時間を表
す。かくて,TFEは存在物の寸法（例えば繊維の長さ）に
対応し，この寸法は存在物の速度に基づいて計算するこ
とができる。ライン234に表れる信号は存在物で減じら
れた光の時間積分あるいは波形下の面積AEに対応する。
ライン236に現れる信号は存在物で減じられた光量のピ
ークあるいはピーク振幅PEを表す。ライン246に現れる
計数値TFSは存在物が散乱光センサ128の光学的投影を通
過するのに要する時間を表し，散乱光センサ128で測つ
た存在物の寸法（長さのような）に対応する。ライン25
2に現れる信号は存在物により散乱され，センサ128で検
出された光の時間積分ASを表し，ライン258に現れる信
号は存在物で散乱された光のピーク量PSを表す。
繊維で示した存在物の先端がセンサ116の光学的投影点
から，センサ118の光学的投影点まで通過するのに要す
る時間であると理解される。従つてTBは存在物の先端の
速度に対応する。ライン214に現れるTEは存在物の後端
がセンサ116の光学的投影点から，センサ118の光学的投
影点まで通過するのに要する時間を表し，従つて存在物
の後続の速度に対応する。ライン224に表れるTFEは存在
物がセンサ116の光学的投影を完全に通過する時間を表
す。かくて,TFEは存在物の寸法（例えば繊維の長さ）に
対応し，この寸法は存在物の速度に基づいて計算するこ
とができる。ライン234に表れる信号は存在物で減じら
れた光の時間積分あるいは波形下の面積AEに対応する。
ライン236に現れる信号は存在物で減じられた光量のピ
ークあるいはピーク振幅PEを表す。ライン246に現れる
計数値TFSは存在物が散乱光センサ128の光学的投影を通
過するのに要する時間を表し，散乱光センサ128で測つ
た存在物の寸法（長さのような）に対応する。ライン25
2に現れる信号は存在物により散乱され，センサ128で検
出された光の時間積分ASを表し，ライン258に現れる信
号は存在物で散乱された光のピーク量PSを表す。
DAB 161の機能は電子−光学的（Ｅ−０）のセンサ82
からのアナログ信号をデイジタル信号に変換し，これら
をコンピユータバス213にTB 212,TE 214,TFE 224などと
識別して与えることにある。従つてこれらの信号をＥ−
０パラメータと定義する。Ｅ−０パラメータは図10の例
では，今度は存在物の情報，繊維長，直径を与えるのに
使用される。AFIS 1のセンサに焦点を当てた米国特許出
願第07/493961号明細書では個々の存在物に対して一般
的にどのようにして繊維長，直径，鮮度あるいは成熟度
の情報が求められるかが記述されている。米国特許出願
第07/762905号明細書では，更にセンサ82が如何にして
不純物の測定を可能としているか，特にそのような測定
をどのように解釈するかについて記述されている。
からのアナログ信号をデイジタル信号に変換し，これら
をコンピユータバス213にTB 212,TE 214,TFE 224などと
識別して与えることにある。従つてこれらの信号をＥ−
０パラメータと定義する。Ｅ−０パラメータは図10の例
では，今度は存在物の情報，繊維長，直径を与えるのに
使用される。AFIS 1のセンサに焦点を当てた米国特許出
願第07/493961号明細書では個々の存在物に対して一般
的にどのようにして繊維長，直径，鮮度あるいは成熟度
の情報が求められるかが記述されている。米国特許出願
第07/762905号明細書では，更にセンサ82が如何にして
不純物の測定を可能としているか，特にそのような測定
をどのように解釈するかについて記述されている。
従つて図10に示したDAB 161は信号処理能力において
大きな改善を示していると言える。更に以前の記述に基
づく装置は１つのサンプルから同時に複数の存在物デー
タ−繊維，ネツプ，不純物など−を提供することはでき
なかつた。図10のDAB 161はそれを可能とする。これを
以下に図７の実施例で説明する。
大きな改善を示していると言える。更に以前の記述に基
づく装置は１つのサンプルから同時に複数の存在物デー
タ−繊維，ネツプ，不純物など−を提供することはでき
なかつた。図10のDAB 161はそれを可能とする。これを
以下に図７の実施例で説明する。
図７においてセンサ82は導管102で運ばれる全ての個
々の存在物を受け，これに応答する。従つて，存在物信
号即ちその波形を調べ，存在物が繊維なのか，ネツプな
のかあるいはまた不純物なのかを求めなければならな
い。今までに判つたことは，米国特許出願第07/493961
号明細書で記述された改善されたセンサ手段は，改善さ
れた信号処理手段（即ち図10のDAB 161）と組み合わさ
れて上記のような分類を可能とし，またこの際，単一の
サンプルから多重データを得ると言う目的を満たす。図
10では単一の繊維について繊維長と直径を求める動作に
ついて詳述したが，図11には多種の存在物からの信号が
どのように測定され，重要なことは，分類されるかを一
般化している。図を簡単にするため，図11では低利得／
高利得の区別は省略している。と言うことは，以下に述
べる信号電圧レベルは全て高利得チヤンネルのものを意
味する。また全ての存在物（不純物158,ネツプ157,繊維
159）が調べられるように，デイジタル処理時間（A/D変
換，リセツトなど）も省略して示してある。従つて１つ
の存在物がセンサ82のビーム中に到達すると，図12に示
すようなアナログ信号が出て，これに対応したデイジタ
ル信号TB,TE,TFEなどが図11のライン212,214,224などに
出る。
々の存在物を受け，これに応答する。従つて，存在物信
号即ちその波形を調べ，存在物が繊維なのか，ネツプな
のかあるいはまた不純物なのかを求めなければならな
い。今までに判つたことは，米国特許出願第07/493961
号明細書で記述された改善されたセンサ手段は，改善さ
れた信号処理手段（即ち図10のDAB 161）と組み合わさ
れて上記のような分類を可能とし，またこの際，単一の
サンプルから多重データを得ると言う目的を満たす。図
10では単一の繊維について繊維長と直径を求める動作に
ついて詳述したが，図11には多種の存在物からの信号が
どのように測定され，重要なことは，分類されるかを一
般化している。図を簡単にするため，図11では低利得／
高利得の区別は省略している。と言うことは，以下に述
べる信号電圧レベルは全て高利得チヤンネルのものを意
味する。また全ての存在物（不純物158,ネツプ157,繊維
159）が調べられるように，デイジタル処理時間（A/D変
換，リセツトなど）も省略して示してある。従つて１つ
の存在物がセンサ82のビーム中に到達すると，図12に示
すようなアナログ信号が出て，これに対応したデイジタ
ル信号TB,TE,TFEなどが図11のライン212,214,224などに
出る。
図12は繊維，ネツプ，不純物で生ずる信号ライン170,
180,190上の代表的なアナログ信号，即ち波形を示した
ものである。データ収集ボードは２つの信号のそれぞれ
を測定し,PCのバツクパネルから図12に示したTB,TE,TF
E,TFS,PE,AE,AS,PSの８つのパラメータをコンピユータ
に送る。これら８つのパラメータは３つのタイプの存在
物を分類し，計数し、大きさを求めるのに使われる。分
類手続きは図13の流れ図に示し，その論理操作は次の通
りである。コンピユータはブロツク300の所でDABが0.5
ボルトより大きいピーク振幅を持つパルスを受けたと言
うことを知らせてくるのを待つている。次いでブロツク
302での最初のテストは減光チヤンネルのピーク値PEが
３ボルトより小さいか大きいかを求めることである。PE
が３ボルトより小さいと，そのパネルはネツプによるも
のであるという可能性を排除し，プログラムはブロツク
304に移る。PEが３ボルトよりも大きいとそのパルスは
不純物によるものか又はネツプによるものとして，プロ
グラムはブロツク306に移る。
180,190上の代表的なアナログ信号，即ち波形を示した
ものである。データ収集ボードは２つの信号のそれぞれ
を測定し,PCのバツクパネルから図12に示したTB,TE,TF
E,TFS,PE,AE,AS,PSの８つのパラメータをコンピユータ
に送る。これら８つのパラメータは３つのタイプの存在
物を分類し，計数し、大きさを求めるのに使われる。分
類手続きは図13の流れ図に示し，その論理操作は次の通
りである。コンピユータはブロツク300の所でDABが0.5
ボルトより大きいピーク振幅を持つパルスを受けたと言
うことを知らせてくるのを待つている。次いでブロツク
302での最初のテストは減光チヤンネルのピーク値PEが
３ボルトより小さいか大きいかを求めることである。PE
が３ボルトより小さいと，そのパネルはネツプによるも
のであるという可能性を排除し，プログラムはブロツク
304に移る。PEが３ボルトよりも大きいとそのパルスは
不純物によるものか又はネツプによるものとして，プロ
グラムはブロツク306に移る。
ブロツク302でPEが３ボルトよりも小さく，ブロツク3
04でTBが285（即ち20MHZクロツクで285カウント）より
も小さいと，小さい不純物がとらえられたものとして，
その不純物の大きさをPEを用いて計算し，不純物カウン
タを１つ進める。大きさの計算は米国特許出願第07/762
905号明細書に記載されている。
04でTBが285（即ち20MHZクロツクで285カウント）より
も小さいと，小さい不純物がとらえられたものとして，
その不純物の大きさをPEを用いて計算し，不純物カウン
タを１つ進める。大きさの計算は米国特許出願第07/762
905号明細書に記載されている。
ブロツク302でPEが３ボルト以下であり，ブロツク304
でTBが285以上の時はソフトウエアはネツプか不純物の
可能性を排除して，ブロツク308,310,312でそのパルス
が受け入れられる繊維によるパルスかどうかを決める一
連のテストを開始する。これら３つのテスト全てをクリ
アすると，プログラムはブロツク314でTFE,TB,TEを用い
て繊維の長さをAEとTFEを用いて直径をそれぞれ計算
し，ブロツク316で繊維カウンタを１つ進める。ステー
プル繊維については次のような値が妥当であることを見
出した。Ｙ＝1.05（較正中に各センサに対して導出した
値）;TFE min＝100,またTFE max＝10000（10MHZクロツ
クでのカウント数）。
でTBが285以上の時はソフトウエアはネツプか不純物の
可能性を排除して，ブロツク308,310,312でそのパルス
が受け入れられる繊維によるパルスかどうかを決める一
連のテストを開始する。これら３つのテスト全てをクリ
アすると，プログラムはブロツク314でTFE,TB,TEを用い
て繊維の長さをAEとTFEを用いて直径をそれぞれ計算
し，ブロツク316で繊維カウンタを１つ進める。ステー
プル繊維については次のような値が妥当であることを見
出した。Ｙ＝1.05（較正中に各センサに対して導出した
値）;TFE min＝100,またTFE max＝10000（10MHZクロツ
クでのカウント数）。
ブロツク302でPEが３ボルト以上であり，ブロツク306
でPSのPEに対する比が0.5以下であると大きな不純物に
よるパルスが得られたことになる。この不純物の大きさ
が計算され，前のように不純物カウンタが加算される。
でPSのPEに対する比が0.5以下であると大きな不純物に
よるパルスが得られたことになる。この不純物の大きさ
が計算され，前のように不純物カウンタが加算される。
ブロツク302でPEが３ボルト以上であり,PSのPEに対す
る比が0.5以上の時はソフトウエアは繊維又は不純物の
可能性を排除する。ソフトウエアはブロツク309と311で
このパルスをテストし，大きな繊維クランプと，小さな
多数繊維のからみつきを排除する。Ｘに対する代表値は
300である。もしTFEがこの値よりも大きいと，大きなク
ランプが検出されたものとする。両テストを満足する
と，これはネツプによるものと同定され，その大きさは
ブロツク313でAEとTFEから計算され，ブロツク315でネ
ツプカウンタが加算される。各存在物が分類され終わる
と，プログラムコントロールでスタートブロツクA320に
戻る。
る比が0.5以上の時はソフトウエアは繊維又は不純物の
可能性を排除する。ソフトウエアはブロツク309と311で
このパルスをテストし，大きな繊維クランプと，小さな
多数繊維のからみつきを排除する。Ｘに対する代表値は
300である。もしTFEがこの値よりも大きいと，大きなク
ランプが検出されたものとする。両テストを満足する
と，これはネツプによるものと同定され，その大きさは
ブロツク313でAEとTFEから計算され，ブロツク315でネ
ツプカウンタが加算される。各存在物が分類され終わる
と，プログラムコントロールでスタートブロツクA320に
戻る。
センサ82,DAB 161及びコンピユータ18の動作を念頭に
置くと，図8,図９で表された実施例のそれぞれ異なつた
利点が明らかとなろう。
置くと，図8,図９で表された実施例のそれぞれ異なつた
利点が明らかとなろう。
図９で示された実施例は図７と図９の実施例の間の折
衷案である。図８の実施例では，不純物は分離された後
一時ストアされ，後で別個にセンサ82を通過する。この
実施例はセンサが１つで済み，またプログラムは何時不
純物を受けるかを知つているのでデータの分析は容易に
なると言う利点がある。しかし不純物は全ての繊維とネ
ツプがテストし終わつてからでないとテストされないの
で,1つのサンプルをテストする時間は少し長くなる。図
８の実施例で提供される基本的な利点はデータの分析が
容易となることである。
衷案である。図８の実施例では，不純物は分離された後
一時ストアされ，後で別個にセンサ82を通過する。この
実施例はセンサが１つで済み，またプログラムは何時不
純物を受けるかを知つているのでデータの分析は容易に
なると言う利点がある。しかし不純物は全ての繊維とネ
ツプがテストし終わつてからでないとテストされないの
で,1つのサンプルをテストする時間は少し長くなる。図
８の実施例で提供される基本的な利点はデータの分析が
容易となることである。
図９の実施例を用いると，コンピユータ中のプログラ
ムは不純物センサ82a（及びこれにつながれたDAB）には
不純物に対応するデータだけしか含まれていないことが
判つている。これは不純物が繊維やネツプから物理的に
分離され，不純物は別個のセンサ82aを通過するからで
ある。
ムは不純物センサ82a（及びこれにつながれたDAB）には
不純物に対応するデータだけしか含まれていないことが
判つている。これは不純物が繊維やネツプから物理的に
分離され，不純物は別個のセンサ82aを通過するからで
ある。
同様に図９の実施例では，導管102中には不純物が含
まれていないので、プログラムはセンサ82につながれた
DABには繊維とネツプのデータしか現れないことを知つ
ている。ネツプは繊維に較べて非常に大きいので，繊維
とネツプの分類は容易である。このようにして，図９の
実施例はより多くのセンサを要し，より高価となり，ま
た機械的，物理的観点からはより複雑となるが，分析の
複雑さは減り，動作速度は速くなる。
まれていないので、プログラムはセンサ82につながれた
DABには繊維とネツプのデータしか現れないことを知つ
ている。ネツプは繊維に較べて非常に大きいので，繊維
とネツプの分類は容易である。このようにして，図９の
実施例はより多くのセンサを要し，より高価となり，ま
た機械的，物理的観点からはより複雑となるが，分析の
複雑さは減り，動作速度は速くなる。
上記の詳細説明で本発明のいくつかの実施例を説明し
たが，本発明は請求の範囲に定義する本発明の範囲を逸
脱することなく，多くの再配列、変更，部品の置き換え
などが可能であることは理解されるべきである。
たが，本発明は請求の範囲に定義する本発明の範囲を逸
脱することなく，多くの再配列、変更，部品の置き換え
などが可能であることは理解されるべきである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ Ｇ０１Ｖ 8/12 Ｇ０１Ｖ 9/00 Ｃ 9/00 9/04 Ａ (72)発明者 チユー，ユエ‐テイー アメリカ合衆国 テネシー 37922 ノ ツクスヴイル ハーパー プレイス 1228 (72)発明者 ボールドウイン，ジヨセフ シー. アメリカ合衆国 テネシー 37923 ノ ツクスヴイル グレイランド ドライブ ＃エフ 9004 (72)発明者 ギヤリヨン，マイケル イー, アメリカ合衆国 テネシー 37922 ノ ックスヴイル ラーク メドウ ドライ ブ 600 (72)発明者 キヤセナス，ベンジヤミン エム. アメリカ合衆国 テネシー 37922 ノ ツクスヴイル ムーアゲイト ドライブ 1414 (72)発明者 ウイリアムズ， ゴードン エフ. アメリカ合衆国 テネシー 37828 ノ リス ヒツコリー トレイル 36 (56)参考文献 特開 平７−138819（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−281645（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−97923（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−97919（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−8816（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−101987（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−63700（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−213827（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/01 G01N 21/17 - 21/61 G01N 21/84 - 21/958 ＥＵＲＯＰＡＴ（ＱＵＥＳＴＥＬ) ＷＰＩ／Ｌ（ＱＵＥＳＴＥＬ) 実用ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ) 特許ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ)
Claims (14)
- 【請求項１】繊維物質の多数のサンプルを保持するよう
適合され，構成されていて，出口を持ち，上記サンプル
を排出するために位置決めできるように作動するレシー
バ； 上記レシーバの出口に隣接し，輸送経路と供給出口を持
つ自動供給機構であつて，上記レシーバ出口の所で上記
レシーバ中の上記サンプルに選択的にかみ合い，上記レ
シーバから上記サンプルを取出し，上記輸送経路を通つ
て上記供給出口まで上記サンプルを輸送する如くした自
動供給機構； 入り口と出口を持つ繊維物質処理装置であつて，上記入
り口で上記自動供給機構の供給出口からサンプルを受取
り，上記サンプルを処理し，繊維，不純物，ネツプを含
む存在物を個々に分離して独立にし，個別にした状態で
出口から存在物を提供する如くした処理装置； センサ手段； 上記センサ手段に上記存在物の１つを独立に輸送するた
めの輸送手段； 上記個別化された存在物の１つの少なくとも１特性を感
知し，感知した特性に対応した特性信号を生ずるよう作
動する如くした上記センサ手段は； サンプルの存否を検出し，サンプルの欠如を検出すると
これに対応して，上記自動供給機構を作動させて，上記
レシーバから上記処理装置にサンプルを輸送するように
するためのコントロール手段； とより成る，繊維物質中の繊維，ネツプ及び不純物を含
む存在物の特性を測定するための装置。 - 【請求項２】上記レシーバは多数のサンプルを保持する
ためのマガジン； 上記マガジン中に形成され，隣り合つて配置された多数
の細長い受け溝； 上記マガジンを保持して動かし，上記細長い受け溝をそ
の出口が上記自動供給機構に隣接する位置に位置せし
め，選ばれた受け溝中に保持されたサンプルを上記自動
供給機構に供給する如くした割出し手段；及び 上記割出し手段を選択的に作動させ，選択された細長い
受け溝を上記自動供給機構に隣接した位置に動かし，割
出しするように作動する如くした上記コントロール手
段； より成る，請求項１に記載の装置。 - 【請求項３】更に，上記自動供給機構中の繊維サンプル
の存否を感知しサンプル検知信号を生ずる光学的セン
サ， サンプル検知信号に応答し，サンプル検知信号の有無に
基づいて上記自動供給機構を作動させるコントロール手
段， より成る，請求項１に記載の装置。 - 【請求項４】上記自動供給機構は供給ベルト； 供給ベルトを駆動する供給ベルトモータ； 上記ベルトを支持し，上記レシーバの出口にあるサンプ
ルに供給ベルトを選択的にかみ合わせるために，上記レ
シーバ出口に向かつてベルトを動かしまた引離すように
した供給ベルトマウント；及び 上記供給ベルトマウントに選択的に作動し，上記供給ベ
ルトを動かしてレシーバ出口にあるサンプルとかみ合わ
せ，サンプルを取出して，上記供給出口まで移送するよ
う作動させるためのコントロール手段； より成る，請求項１に記載の装置。 - 【請求項５】繊維物質のサンプルを供給する供給手段； 入り口と出口を有し，上記入り口は上記供給手段からサ
ンプルを受取れるように位置して作動し，上記サンプル
を処理してサンプル中の存在物を分離し，単一の存在物
を生ずるよう個々に分け，単独になつた状態で存在物を
その出口に提供する処理手段； センサ手段； 単独にされた上記存在物を上記センサ手段に運ぶための
輸送手段； 繊維物質の各１つのサンプルからの繊維の部分，ネツプ
の部分，不純物の部分の，少なくとも１つの特性を感知
し，感知した特性に対応した特性信号を生ずる如く働く
上記センサ手段； 上記特性信号を受け，これを分析し，特性信号の切片を
繊維，不純物又はネツプの内の１つに対応するものとし
て同定し，更に上記切片を分析して，各切片を繊維，不
純物あるいはネツプの内の１つに区別し同定するための
分析手段； とより成る，繊維物質中の繊維，ネツプ及び不純物を含
む存在物の特性を測定するための装置。 - 【請求項６】上記分析手段は更に， 信号切片がネツプに対応するものかどうかを求め，もし
そうならネツプデータの収集指令を生ずる如くした副分
析手段；上記ネツプデータ収集指令に応じて特定の信号
切片からネツプデータを導出しストアするためのメモリ
ー手段； より成る，請求項５に記載の装置。 - 【請求項７】上記分析手段は更に， 先ず第１に信号切片がネツプに対応するものかどうかを
求め，もしそうなら，ネツプデータ収集指令を生じ，第
２に信号切片は不純物に対応するものかどうかを求め，
もしそうなら不純物データ収集指令を生ずるための副分
析手段；及び 上記ネツプデータ収集指令に応じて特定の信号切片から
ネツプデータを導出しストアしまた上記不純物データ収
集指令に応じてその特定の信号切片から不純物データを
導出しストアするためのメモリー手段； より成る，請求項５に記載の装置。 - 【請求項８】上記分析手段は更に， 先ず第１に信号切片がネツプに対応するものかどうかを
求め，もしそうならネツプデータ収集指令を生じ，第２
に信号切片は不純物に対応するものかどうかを求め，も
しそうなら不純物データ収集指令を生じ，第３に信号切
片は繊維に対応するものかどうかを求め，もしそうなら
繊維データ収集指令を生ずる為の副分析手段；及び 上記ネツプデータ収集指令，不純物データ収集指令及び
繊維データ収集指令に応じてデータを導出しストアする
ためのメモリー手段； より成る，請求項５に記載の装置。 - 【請求項９】上記センサ手段は更に， 上記センサ手段中で光を生じ，これを感知すべき存在物
上に当たるように指向させるための光源； センサ中の存在物によつて生ずる光の減少を感知し，存
在物で生じた光の減少に対応した減光信号を生ずるため
の減光センサ； センサ中の存在物によつて前方に散乱される光を感知
し，存在物による前方散乱光に対応する前方散乱光信号
を生ずる為の前方散乱光センサ；及び 上記分析手段は更に上記減光信号を上記前方散乱光信号
と比較し，この比較に基づいて，その特定の信号切片が
繊維又はネツプ，又は不純物に対応するものかを求める
ための副分析手段より成る如くした； ものより成る，請求項５に記載の装置。 - 【請求項１０】上記センサ手段は更に， 上記センサ手段中で光を生じ，これを感知すべき存在物
上に当たるように指向させるための光源； 上記センサ中で存在物によつて生じた光のじよう乱を検
出し，光学的信号を生ずるための光学的センサ；及び 上記分析手段は更に光学的信号の振幅を１つのしきい値
と比較し，その比較に基づいて，その特定の信号切片が
繊維又はネツプ，又は不純物に対応するものかを求める
ための副分析手段より成る如くした； ものより成る，請求項５に記載の装置。 - 【請求項１１】上記センサ手段は更に， 上記センサ手段中で光を生じ，これを感知すべき存在物
上に当たるように指向させるための光源； 上記センサ中で存在物によつて生じた光のじよう乱を検
出し，複数の光学的信号を生ずるための光学的センサ；
及び 上記分析手段は更に上記複数の光学的信号の振幅を選択
されたしきい値と比較し，上記２つの光学的信号の比を
求め、この比を１つの比しきい値と比較し，上記比較の
少なくとも一部に基づいて，その特定の信号切片が繊維
又はネツプ，又は不純物に対応するものかを求めるため
の副分析手段より成る如くした； ものより成る，請求項５に記載の装置。 - 【請求項１２】上記センサ手段は更に， 上記センサ手段を通つて繊維，ネツプ及び不純物を含む
存在物を輸送するための空気流を含む空気搬送； 存在物が上記センサ手段を通つて運ばれるときの存在物
の速度を求め，存在物の速度に対応した速度信号を生ず
るための速度センサ； よりなり， 上記分析手段は更に，速度信号を速度しきい値と比較
し，少なくともその比較の一部に基づいてその特定の切
片が繊維又はネツプ，又は不純物に対応するものかを求
めるための副分析手段より成る如くした； 請求項５に記載の装置。 - 【請求項１３】繊維物質のサンプルを提供する供給手
段； 入り口と出口を有し，上記入り口は上記供給手段からサ
ンプルを受取れるように位置して作動し，上記サンプル
を処理してサンプル中の存在物を分離し，単一の存在物
を生ずるように個々に分け，単独になつた状態で存在物
をその出口に提供する処理手段； 上記存在物の特性を感知するためのセンサ手段； 処理手段から存在物を空気流中に，上記センサ手段中を
通つて輸送するための空気流を含む輸送手段； 上記センサ手段は， 上記センサを通つて存在物を運ぶ空気流を含むセンサ輸
送手段； 上記センサ手段中で光を生じ，この光を上記空気流中に
あり，感知されるべき存在物に当てるための光源； 上記センサ中の上記存在物で生じた光の減少を感知する
ため，上記センサ空気流の脇でセンサ中に配置され，上
記存在物により生じた光の減少に対応する第１減光信号
を生ずるための第１減光センサ； 上記センサ中の上記存在物で生じた光の減少を感知する
ため，上記センサ空気流の脇でセンサ中に，上記第１減
光センサに隣接しかつ空気流に関して第１感光センサの
下流に配置され，上記存在物により生じた光の減少に対
応する第２減光信号を生ずるための第２減光センサ； 上記センサ中の上記存在物で生じた光の前方散乱光を感
知するため，上記センサ空気流の脇でセンサ中に配置さ
れ，上記存在物により前方に散乱された光に対応する前
方散乱光信号を生ずるための前方散乱光センサ； よりなり，また 上記第1,第２減光信号及び前方散乱信号を特性信号とし
て受取り，この特性信号を分析して，上記特性信号の切
片が繊維，不純物又はネツプの１つに対応することを同
定するための分析手段； 上記分析手段は， 選択された上記第１減光信号又は上記第２減光信号を予
め定めたしきい値と比較し； もし上記選択された減光信号がしきい値を越えるとき
は，その減光信号を前方散乱信号と比較し； 上記選択された減光信号がしきい値を越え，前方散乱信
号の上記選択された減光信号に対する比が予め定めた比
を越えるときは，ネツプ検出信号を生じ,; 上記選択された減光信号がしきい値を越え，前方散乱信
号の上選択された減光信号に対する比が予め定めた比を
越えないときは不純物検出信号を生じ； 上記選択された減光信号がしきい値を越えないときは，
上記選択された減光信号の振幅を上記選択された減光信
号の持続時間と比較し，その比較の少なくとも一部に基
づいて，該当する存在物は繊維によるものか不純物によ
るものかを求める；如く作動するようにした， ことより成る，繊維物質中の繊維，ネツプ及び不純物を
含む存在物の特性を測定するための装置。 - 【請求項１４】繊維物質のサンプルを供給する供給手
段； 入り口と出口を有し，上記入り口は上記供給手段からサ
ンプルを受取れるように位置して作動し，上記サンプル
を処理してサンプル中の存在物を分離し，単一の存在物
を生ずるよう個々に分け，単独になつた状態で存在物を
その出口に提供する処理手段； 上記存在物の特性を感知するためのセンサ手段； 処理手段から存在物を空気流中に，上記センサ手段中を
通つて輸送するための空気流を含む輸送手段； 上記センサ手段は， 上記センサを通つて存在物を運ぶ空気流を含むセンサ輸
送手段； 上記センサ手段中で，光を生じ，この光を上記空気流中
にあり，感知さるべき存在物に当てるための光源； 上記センサ中の上記存在物で生じた光の減少を感知する
ため，上記センサ空気流の脇でセンサ中に配置され，上
記存在物により生じた光の減少に対応する第一減光信号
を生ずるための第１感光センサ； 上記センサ中の上記存在物で生じた光の減少を感知する
ため，上記センサ空気流の脇でセンサ中に，上記第１減
光センサに隣接しかつ空気流に関して第１減光センサの
下流に配置され，上記存在物により生じた光の減少に対
応する第２減光信号を生ずるための第２減光センサ； 上記センサ中の上記存在物で生じた光の前方散乱光を感
知するため，上記センサ空気流の脇でセンサ中に配置さ
れ，上記存在物により前方に散乱された光に対応する前
方散乱信号を生ずるための前方散乱光センサ； よりなり，また 上記第1,第２減光信号及び前方散乱信号を特性信号とし
て受取り，この特性信号を分析して，上記特性信号の切
片が繊維，不純物又はネツプの１つに対応することを同
定するための分析手段； 上記分析手段は， 選択された上記第１減光信号又は上記第２減光信号を予
め定めたしきい値と比較し； もし上記選択された減光信号がしきい値を越えるとき
は，その減光信号を前方散乱信号と比較し； 上記選択された減光信号がしきい値を越え，前方散乱信
号の上記選択された減光信号に対する比が予め定めた比
を越えるときはネツプ検出信号を生じ， 上記選択された減光信号がしきい値を越え，前方散乱光
信号の上記選択された減光信号に対する比が予め定めた
比を越えないときは，不純物検出信号を生じ； 上記選択された減光信号がしきい値を越えないときは，
上記第1,第２減光信号から当該の存在物の速度を求め，
少なくともその速度の一部を用いて，当該存在物が繊維
によるものか，又は不純物によるものかを求める 如く作動するようにした， ことより成る，繊維物質中の繊維，ネツプ及び不純物を
含む存在物を測定するための装置。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/962,898 US5469253A (en) | 1990-03-14 | 1992-10-16 | Apparatus and method for testing multiple characteristics of single textile sample with automatic feed |
| US962,898 | 1992-10-16 | ||
| PCT/US1993/009711 WO1994009355A1 (en) | 1992-10-16 | 1993-10-08 | Apparatus and method for textile sample testing |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07504272A JPH07504272A (ja) | 1995-05-11 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51019894A Expired - Fee Related JP3353071B2 (ja) | 1992-10-16 | 1993-10-08 | 繊維試料試験のための装置と方法 |
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|---|---|
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