JP3340468B2 - 電子線露光装置及び電子線露光方法 - Google Patents

電子線露光装置及び電子線露光方法

Info

Publication number
JP3340468B2
JP3340468B2 JP22251892A JP22251892A JP3340468B2 JP 3340468 B2 JP3340468 B2 JP 3340468B2 JP 22251892 A JP22251892 A JP 22251892A JP 22251892 A JP22251892 A JP 22251892A JP 3340468 B2 JP3340468 B2 JP 3340468B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron beam
liquid crystal
pattern
electron
beam exposure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP22251892A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH06236840A (ja
Inventor
博之 品田
勝広 黒田
賢悦 横川
進 佐々木
敏之 会田
富雄 矢口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP22251892A priority Critical patent/JP3340468B2/ja
Publication of JPH06236840A publication Critical patent/JPH06236840A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3340468B2 publication Critical patent/JP3340468B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子ビームを用いて集
積回路又はプリント基盤配線等の露光を行う電子線露光
装置及びそのような露光を行う電子線露光方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】集積回路等のパターンの露光には光、紫
外線、X線、電子線等を利用した方法がある。そのうち
の電子線による方法は、波長による微細化の限界が光よ
りはるかに小さいために、X線と並んで今後の描画技術
として注目されている。電子線露光方法は、点状あるい
は矩形状の断面を持つ電子線を偏向し、位置を移動しな
がらウェハ上に照射し、さらにステージも移動させて全
ウェハ上に微細パタンを描画しようとするものである。
この方法は解像度の向上を望むことが出来るが、膨大な
パタンデータを元にしたいわゆる一筆書きの露光のた
め、露光に時間がかかり、スループットが低く量産には
向かない。
【0003】また、近年スループット向上のために2個
の穴開きマスク間で電子ビームを偏向し、投射される電
子ビームの断面形状を、描画すべきパターンに適合する
ように変化させる可変成型方式の電子線露光装置(特公
昭53−20391)が実用化されている。さらに、二
個の穴開きマスクのうち一方に集積回路のパターンを持
った穴を作り、その集積回路のパターン形状を持った電
子線を形成し、ウェハに露光する方法(特開昭54−2
9981)も提唱されている。しかし、これらの方法で
はマスクを空中に保持しないかぎり、島状の孤立パター
ンは描けない。従って、一回の投射で露光できる面積は
限られており、スループットが低いという問題はやはり
残る。
【0004】一方、ジャーナル オブ バキューム サ
イエンス テクノロジー B7(6)巻、1422〜1
425頁(1989)(J.Vac.Sci.Technol.B7(6),p142
2〜1425(1989))に記載のように、集積回路のパターン
に相当する光電子が面状に発生するよう製作された光電
子マスクを紫外線等で照射し、光電子を発生させ、それ
を加工面状に投影する方式の装置も試みられている。
た、特開昭59−143326には、液晶によるパター
ン形成装置を用いた投射方式の露光装置が記載されてい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の光電子マス
クを用いる方法は、光電膜自体を所望のパターン形状に
製作する必要があり、個々の転写パターンに対応した光
電面を製作しなければならないという問題があった。
た、上記従来の液晶によるパターン形成装置を用いた露
光装置は、セルの間隔については考慮されていなかっ
た。
【0006】本発明の目的は、スループットが向上し、
しかも、転写方式でありながら、個々のパターンに応じ
て光電面を製作することの不要な、量産用として実用と
なりうる電子線露光装置及び電子線露光方法を提供する
ことにある。
【0007】
【0008】
【課題を解決するための手段】 本発 明の電子線露光装置
は、光源と、電極を有する複数のセルが配列され、個別
に動作する液晶部材と、パターンデータから上記セルを
動作させる信号を形成するパターン発生器と、パターン
発生器からの信号に基づいて選択された液晶部材のセル
を通過した光パターンの像が投射される位置に配置され
た光電子カソードとを具備し、この光電子カソードを電
子源とし、このセルを4層構造の液晶基板からなるよう
にしたものである。
【0009】いずれの場合も、画素ごとに、すなわち、
複数のセルごとに、オン/オフできるように構成され
る。これにより、所望のパターンの電子ビームを得るこ
とができる。
【0010】また、本発明の電子線露光方法は、電極を
有する複数のセルが配列され、個別に動作し、4層構造
の液晶基板からなる液晶部材のセルを動作させる信号
を、パターンデータから与える工程と、液晶部材に光源
から光線を照射する工程と、液晶部材のセルを通過した
光パターンの像を光電子カソードに投射する工程と、光
電子カソードから放出された、パターンを持った電子ビ
ームを被照射面に投射する工程を設けるようにしたもの
である。
【0011】
【作用】半導体電子放出材を用いた面状の電子源を格子
状に区切り、それぞれの画素ごとにオン/オフできるよ
うにする。この面状電子源に集積回路等のパターンデー
タを送ることで所望のパターンの電子ビームを自由に作
ることができる。また、面状電子源として光電子カソー
ドを用い、このカソードに照射する光を液晶等の電気的
に制御可能なシャッタにより任意の形状に成型しても、
所望のパターンの電子ビームを自由に作ることができ
る。
【0012】画素の大きさはウェハ上に露光される最小
のパターン寸法より数倍から数10倍大きくすることが
できる。従って、半導体電子放出材や液晶装置の加工、
製作に特別の微細性は不要であり、安価に製作できる。
放出された面状の電子線はウェハ上に露光する大きさよ
り拡大されたものとなっているため、磁界又は電界によ
る電子レンズにより所望の大きさに縮小してウェハ上に
露光することが好ましい。これにより、電子線露光の特
徴である微細性を維持しながら、高スループットの描画
装置が実現できる。
【0013】
【実施例】本発明の実施例を図1により説明する。半導
体電子放出材1は多数の格子状に細分化されたセルによ
って構成されている。各セルは独立に動作し、電子を放
出する。集積回路のパターンを発生するパターン発生器
2から各セルに信号を送るようになっている。この半導
体電子放出材1から放出された集積回路のパターン形状
を持った電子線はブランカ3を通った後、電子レンズ4
により縮小され、偏向器5を通過し、ウェハ6に照射さ
れる。ウェハ6はステージ7に乗っている。このステー
ジ7を移動することでウェハ6上の電子線8の露光位置
を広い範囲で移動させることができる。偏向器5は露光
位置の狭い範囲の移動又はウェハ6上の所定の位置に露
光位置を正確に合わせるときに用いられる。ブランカ3
は電子線8を偏向器で移動中又はウェハ6をステージ7
で移動中に電子線8がウェハ6上に照射されないように
ブランキングするために用いられる。以上が基本的な構
成である。半導体電子放出材に関し詳細な説明を以下に
述べる。
【0014】半導体電子放出材1には、絶縁体薄膜を金
属で挾んだ構造のMIM(メタル・インシュレータ・メ
タル)型カソードを用いる。このカソードは金属膜間に
電圧を印加することで金属膜間に強電界を発生させ、こ
のとき金属から放出されるトンネル電流を真空中に取り
だすものである。これについてはジャーナル オブアプ
ライドフィジックス、ボリューム32、ナンバー4、6
46頁(1961)(Journal of Applied Physics vol
ume32,No.4,P646(1961))等に記載されている。
【0015】本発明の装置では、金属膜の構造を図2に
示すようにストライプ状にする。図2(a)は上部から
このカソードを透過して見た図、図2(b)はこのカソ
ードを横から見た断面図である。絶縁膜11はAl23
の厚さ10nm程度の薄膜とする。上部金属電極12、
下部金属電極13は共にストライプ状に設けられ、各ス
トライプ間はSiO2膜14により絶縁されている。絶
縁膜11はSiO2等であってもよく、また、SiO2
14はAl23膜等であってもよい。この金属電極のス
トライプの方向は上部電極12と下部電極13で直交さ
せる。
【0016】いま、i列とj列の交差する部分から電子
を放出させる場合は、上部電極i列に加速電位Vaより
数Vから数10V低い電位を、下部電極j列には加速電
位Vaより数Vから数10V高い電位をかける。その他
の電極は加速電圧電位Vaとする。上部と下部の金属間
の電界がある一定の強度になると電子放出が始まる。従
って、i列とj列の交差する部分のみからVa+10
[eV]程度のエネルギーの電子が放出される。
【0017】また、電子レンズの収差によりウェハ上に
投射するパターンの周辺部がひずむ場合がある。この電
子放出材のストライプ状電極を図3に示すように周辺部
を湾曲させ、このレンズの周辺部の歪を相殺するような
構造とすることで精度の良いパターンを投射することが
可能となる。
【0018】次に、半導体電子放出材の代わりに光電子
カソードと液晶を用いた実施例について図4を用いて説
明する。光源21から発せられた光22は光学系23に
入り、均一化及び平行化される。光学系23を出た光は
透過型の液晶装置24を透過する。このとき液晶装置2
4にパターン発生器2より集積回路のパターン信号を与
えることで、液晶部にパターンの明暗が発生する。この
液晶装置24の明暗を透過した光22は光学レンズ25
により縮小されて光電子カソード26に照射される。こ
の光電子カソードは石英ガラス等の表面に光電子放出材
の薄膜を形成したもので光は石英ガラス側から入射し、
これによって電子線が反対側から放出される。これ以後
は第一の実施例と同様で、所定のパターンの電子線は、
ブランカ3、電子レンズ4、偏向器5を通過した後、ウ
ェハ6上に投影される。これにより、パターン信号発生
器2により液晶回路24に発生させた集積回路のパター
ンが縮小されてウェハ6上に露光される。
【0019】ここで、液晶装置24について詳しく説明
する。通常液晶装置は液晶を透明電極で挾み、その電極
間に適当な電位差を与えることで光の透過特性を変化さ
せることで動作する。この際、一方の電極を適当な形状
にしておけば、その形状に対応する透過光が得られる。
本発明では、任意の形状を形成する必要があるので、マ
トリクス上にドットを無数に並べたパターンが必要とな
る。しかし、ドット間には、絶縁のためにすきまを設け
る必要があり、連続した線状のパターンを形成すること
が出来ない。
【0020】これを解決するために次の二つの例につい
て説明する。第一は、電極のすきまが光電子カソード上
の像の解像度以下になるよう縮小する方法である。これ
により、液晶上では隙間のあるパターンが、光電子カソ
ード上では連続したパターンとして得られる。第二は、
特殊な液晶装置を用いる方法である。これを図5で説明
する。この図は液晶部の一部を拡大したものである。こ
の図のように液晶は4層構造となっている。各液晶基板
33、34、35、36の液晶駆動部31は正方形のド
ット上(図5中の斜線部)に電極が形成されており、他
の部分(ドット間の間隙32)は絶縁のための部分で光
は透過してしまう。ドット間の間隙32はドットの正方
形の一辺の長さに等しい。各層ともに同一な形状に電極
が形成されているが、その相対的な位置が図5に示され
るように1ドットづつずれている。これにより、4層分
で全面に隙間なく電極を配置したのと同様な作用をする
わけである。
【0021】また、電子レンズの収差によりウェハ状に
投射するパターンの周辺部が歪む場合がある。この液晶
装置の電極の形状を図3に示した半導体電子放出材と同
様に周辺部を湾曲させ、このレンズの周辺部の歪を相殺
するような構造とすることで精度の良いパターンを投射
することが可能となる。
【0022】また、この実施例で光電子カソードとし
て、MIM構造の一様な面状カソードを使用することも
できる。これについて詳しく説明する。MIM構造の光
電子カソードのポテンシャル図を図6に示す。41は上
部金属膜、42は絶縁膜、43は下部金属膜、44は真
空のポテンシャルを表す。上部金属膜41と下部金属膜
43の間に電圧をかけるとポテンシャルは図6(a)の
状態から図6(b)の状態になる。このとき、上部金属
膜41中の電子はトンネル電流として絶縁膜42のポテ
ンシャル壁を通過し下部金属膜43に達する。下部金属
膜43は非常に薄いため、上部金属膜41、下部金属膜
43間の電位差で加速された電子は下部金属膜43を通
過し、真空44中に放出される。このとき上部金属膜4
1と下部金属膜43間に、電子が真空中に放出される寸
前の電圧を印加しておく。ここで、上部金属膜41に光
を照射すると電子は励起され、励起された電子はポテン
シャル障壁が十分薄い部分をトンネル電流として通りぬ
け真空中に放出される。
【0023】このMIM型の光電子カソードが前記の光
電子カソードより有利な点は、放出される電子の方向が
法線方向に揃っているという点である。この理由を説明
する。光電子カソードからの光電子放出は、入射した光
により励起されて真空エネルギ準位を超えた電子が真空
中に放出される現象である。従って、放出電子の方向を
揃える要因はなく、一般にcosine分布になると言
われている。一方、MIM型の光電子カソードでは電界
が電子放出面に垂直に印加されており、電子の放出強度
は電界強度の増加によって急速に増加する。この関係は
(1)式に示したファウラーノルドハイムの式と呼ばれ
る関係で良く知られている。
【0024】
【数1】
【0025】ここで、Jは放出電子の電流密度、Eは電
界、φは仕事関数である。MIM型の光電子カソードで
は電界Eは電子放出面の法線方向から離れるほど弱い。
従って法線方向から離れるほど放出される電子が減少す
る。この関係と絶縁膜、金属膜を電子が透過するときの
減衰を考慮して放出電子の角度分布を計算したものが図
7である。横軸は放出角度のラジアン表示である。比較
のためにcosine分布を図8に示す。図7の方が図
8より方向が集中しているのが分かる。このように電子
の放出角が揃っていると、電子レンズの中心付近のみを
利用することが出来る。電子レンズの中心ほどレンズ収
差は小さいため、歪の小さい電子光学系が実現できる。
【0026】
【発明の効果】本発明により従来の電子線露光方法の欠
点であった、スループットの向上を達成し、しかも、転
写方式でありながら、個々のパターンに応じて光電面を
製作することの不要な、量産用として実用となりうる露
光装置が実現できる。これにより電子線の微細性を活か
しながら、製造コストの低い集積回路が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の電子線露光装置の構成図で
ある。
【図2】本発明の一実施例の電子線露光装置に用いる半
導体電子放出材の平面及び断面模式図である。
【図3】本発明の一実施例の電子線露光装置に用いる半
導体電子放出材の金属電極の配列を示す模式図である。
【図4】本発明の他の実施例の電子線露光装置の構成図
である。
【図5】本発明の他の実施例の電子線露光装置に用いる
液晶装置の説明図である。
【図6】金属−絶縁体−金属構造光電子カソードのポテ
ンシャルを説明する図である。
【図7】金属−絶縁体−金属構造電子放出材の放出電子
の角度分布を説明する図である。
【図8】光電子カソードから放出される電子の角度分布
を説明する図である。
【符号の説明】
1…半導体電子放出材 2…パターン発生器 3…ブランカ 4…電子レンズ 5…偏向器 6…ウェハ 7…ステージ 8…電子線 11…絶縁膜 12…上部金属電極 13…下部金属電極 14…SiO2膜 21…光源 22…光 23…光学系 24…液晶装置 25…光学レンズ 26…光電子カソード 31…液晶駆動部 32…ドット間の間隙 33、34、35、36…液晶基板 41…上部金属膜 42…絶縁膜 43…下部金属膜 44…真空
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐々木 進 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 会田 敏之 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 矢口 富雄 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (56)参考文献 特開 昭58−28837(JP,A) 特開 昭52−51873(JP,A) 特開 昭59−143326(JP,A) 特開 平2−224322(JP,A) 特開 昭63−1033(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/027

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光源と、 電極を有する複数のセルが配列され、個別に動作する液
    晶部材と、 パターンデータから上記セルを動作させる信号を形成す
    るパターン発生器と、 該パターン発生器からの信号に基づいて選択された上記
    液晶部材のセルを通過した光パターンの像が投射される
    位置に配置された光電子カソードと、 該光電子カソードを電子源とする電子線露光装置であっ
    て、 上記セルは、4層構造の液晶基板からなることを特徴と
    する電子線露光装置。
  2. 【請求項2】電極を有する複数のセルが配列され、個別
    に動作し、4層構造の液晶基板からなる液晶部材の上記
    セルを動作させる信号を、パターンデータから与える工
    程と、 上記液晶部材に光源から光線を照射する工程と、 上記液晶部材のセルを通過した光パターンの像を光電子
    カソードに投射する工程と、 上記光電子カソードから放出された、パターンを持った
    電子ビームを被照射面に投射する工程を有することを特
    徴とする電子線露光方法。
JP22251892A 1992-08-21 1992-08-21 電子線露光装置及び電子線露光方法 Expired - Fee Related JP3340468B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22251892A JP3340468B2 (ja) 1992-08-21 1992-08-21 電子線露光装置及び電子線露光方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22251892A JP3340468B2 (ja) 1992-08-21 1992-08-21 電子線露光装置及び電子線露光方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06236840A JPH06236840A (ja) 1994-08-23
JP3340468B2 true JP3340468B2 (ja) 2002-11-05

Family

ID=16783687

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22251892A Expired - Fee Related JP3340468B2 (ja) 1992-08-21 1992-08-21 電子線露光装置及び電子線露光方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3340468B2 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3689512B2 (ja) * 1996-12-06 2005-08-31 キヤノン株式会社 電子ビーム露光装置及び該装置を用いたデバイス製造方法
JP3803105B2 (ja) * 2004-09-07 2006-08-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 電子ビーム応用装置
US7829863B2 (en) 2005-05-17 2010-11-09 Kyoto University Electron beam irradiation device
JP2014120675A (ja) * 2012-12-18 2014-06-30 Ebara Corp 電子露光装置
JP2014138163A (ja) * 2013-01-18 2014-07-28 Ebara Corp 電子露光装置
WO2018155540A1 (ja) * 2017-02-24 2018-08-30 株式会社ニコン 電子ビーム装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法
WO2019064530A1 (ja) * 2017-09-29 2019-04-04 株式会社ニコン 電子ビーム装置、デバイス製造方法、露光方法及び光電素子

Also Published As

Publication number Publication date
JPH06236840A (ja) 1994-08-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4465934A (en) Parallel charged particle beam exposure system
JP3356293B2 (ja) リソグラフィーシステム
US7075093B2 (en) Parallel multi-electron beam lithography for IC fabrication with precise X-Y translation
JP2002319532A (ja) 荷電粒子線露光装置及びデバイスの製造方法並びに荷電粒子線応用装置
US6522061B1 (en) Field emission device with microchannel gain element
WO1999048121A1 (en) Field emission device with microchannel gain element
US3519873A (en) Multiple beam electron source for pattern generation
US3619608A (en) Multiple imaging charged particle beam exposure system
US4554458A (en) Electron beam projection lithography
JP3340468B2 (ja) 電子線露光装置及び電子線露光方法
US3614423A (en) Charged particle pattern imaging and exposure system
EP1141995A1 (en) Array of multiple charged particle beamlet emitting columns
JPH01159955A (ja) 電子イメージプロジェクタ
JP3033484B2 (ja) 電子線露光装置
US4804851A (en) Charged particle sources
US11621140B2 (en) Multiple electron beam writing apparatus and multiple electron beam writing method
WO2004006307A1 (ja) 電子ビーム露光方法及びその装置
JP3014380B2 (ja) 複数の可変成形電子ビ―ムを使用してパタ―ンを直接書き込むシステムおよび方法
CA1272812A (en) Ultraviolet exposure arrangement for the production of masks
JPH06236842A (ja) 電子ビーム露光装置
WO1982002623A1 (en) Parallel charged particle beam exposure system
JPH10241615A (ja) 電子線露光装置
JP4773460B2 (ja) マルチビームマイクロ電子工学的電子放出デバイス
JP3089115B2 (ja) 電子線露光装置
JP3313586B2 (ja) 電子ビーム描画装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070816

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080816

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080816

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090816

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100816

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100816

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110816

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees