JP3321336B2 - Camera ranging device - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はカメラ等の測距装置に関
するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distance measuring device such as a camera.

【０００２】[0002]

【従来の技術】従来から積分回路を使った投受光タイプ
のさまざまな測距装置が提案されているが、これらは投
光回路を動作させ、その積分電圧が所定の電圧を越える
までの投光回数あるいは時間を計測することで被写体ま
での距離を算出していた。2. Description of the Related Art Conventionally, various distance measuring devices of a light emitting / receiving type using an integrating circuit have been proposed. These devices operate a light emitting circuit and emit light until the integrated voltage exceeds a predetermined voltage. The distance to the subject is calculated by measuring the number of times or the time.

【０００３】図１４に従来の測距装置の構成を示す。増
幅回路１４０はゲイン切換の可能な増幅回路である。増
幅回路１４０の前にはコンデンサ１０５が接続され、入
力信号の直流分はここでカットされる。増幅回路１４０
はアンプ１４１と入力抵抗１４２および３個の帰還抵抗
１４３〜１４５で構成された、入力信号をある一定のゲ
インで増幅する回路である。回路中にスイッチ１４６と
スイッチ１４７という２つのスイッチを持っており、こ
れらのスイッチは演算回路（以下ＣＰＵという）１８０
によってオンまたはオフを制御できる。スイッチ１４６
は帰還抵抗１４５を、スイッチ１４７は帰還抵抗１４４
と１４５とをそれぞれオンまたはオフするので、これら
のスイッチの状態によりアンプ１４１のゲインが段階的
に設定できる。ゲインは、スイッチ１４７がオンしてい
れば１倍、スイッチ１４６のみがオンしていれば２倍、
スイッチ１４６とスイッチ１４７とが共にオフしていれ
ば４倍となる。したがって信号電流から電圧への変換
も、この設定されたゲインに応じて行われ、後段の回路
に出力される。増幅回路１４０の出力にはコンデンサ１
０６を介して増幅回路１５０が接続されている。FIG. 14 shows a configuration of a conventional distance measuring apparatus. The amplifier circuit 140 is an amplifier circuit that can switch the gain. The capacitor 105 is connected before the amplifier circuit 140, and the direct current component of the input signal is cut here. Amplifier circuit 140
Is a circuit composed of an amplifier 141, an input resistor 142, and three feedback resistors 143 to 145, and amplifies an input signal with a certain gain. The circuit has two switches, a switch 146 and a switch 147, and these switches are operated by an arithmetic circuit (hereinafter referred to as a CPU) 180.
Can be turned on or off. Switch 146
Is the feedback resistor 145, and the switch 147 is the feedback resistor 144.
And 145 are turned on or off, respectively, so that the gain of the amplifier 141 can be set stepwise according to the state of these switches. The gain is 1 × when the switch 147 is on, 2 × when only the switch 146 is on,
If both the switch 146 and the switch 147 are off, the power becomes four times. Therefore, the conversion from the signal current to the voltage is also performed according to the set gain, and is output to the subsequent circuit. The output of the amplifier circuit 140 has a capacitor 1
The amplifier circuit 150 is connected via a line 06.

【０００４】増幅回路１５０も増幅回路１４０と同様に
アンプ１５１と３個の帰還抵抗１５３〜１５５で構成さ
れており、スイッチ１５６は帰還抵抗１５５を、スイッ
チ１５７は帰還抵抗１５４と１５５とをそれぞれオンま
たはオフするので、ＣＰＵ１８０はスイッチ１５６と１
５７を操作して適切なゲインを設定し、それにしたがっ
て増幅回路１４０の出力した信号の増幅が行われる。以
上からもわかるように、増幅回路１４０と増幅回路１５
０を組み合わせると、第１の電流電圧変換回路１２０ま
たは第２の電流電圧変換回路１３０の出力信号の交流分
を１、２、４、８、１６倍の５段階のゲインで増幅でき
る。The amplifying circuit 150 also includes an amplifier 151 and three feedback resistors 153 to 155, similarly to the amplifying circuit 140. A switch 156 turns on the feedback resistor 155, and a switch 157 turns on the feedback resistors 154 and 155. Alternatively, the CPU 180 turns off the switches 156 and 1
An appropriate gain is set by operating 57, and the signal output from the amplifier circuit 140 is amplified accordingly. As can be seen from the above, the amplification circuit 140 and the amplification circuit 15
When 0 is combined, the AC component of the output signal of the first current-to-voltage conversion circuit 120 or the second current-to-voltage conversion circuit 130 can be amplified with five gains of 1, 2, 4, 8, and 16 times.

【０００５】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところが前記のような
測距装置では、ゲイン設定のためのスイッチを増幅回路
内に設け、しかもＣＰＵがこれらを制御するための制御
線を必要とするため、回路規模が増大していた。またこ
の例ではゲインは５段階に制御できるが、設定可能なゲ
インの数を増やすためには、さらに多くの抵抗・スイッ
チ・制御線を必要とする。これらの回路は集積回路上に
形成されることが多いため、スペース的にもコスト的に
も非常に不利になっていた。However, in the distance measuring apparatus as described above, a switch for setting a gain is provided in an amplifier circuit, and a control line for controlling the CPU is required. The scale was increasing. Further, in this example, the gain can be controlled in five stages, but in order to increase the number of settable gains, more resistors, switches, and control lines are required. Since these circuits are often formed on an integrated circuit, they are very disadvantageous in terms of space and cost.

【０００６】そこで本発明の目的は、増幅回路のゲイン
設定手段と、それにかかわるＣＰＵの制御線を必要とし
ないカメラ用測距装置を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a distance measuring device for a camera which does not require a gain setting means for an amplifier circuit and a control line of a CPU related thereto.

【０００７】[0007]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明のカメラ用測距装置では、被写体へパルス光
を照射する投光手段と、前記投光手段の照射光が被写体
で反射する光を受光する受光手段と、前記受光手段の出
力電流を電圧に変換する電流電圧変換回路と、前記電流
電圧変換回路の出力信号を増幅する増幅回路と、外部信
号により放電可能な電荷蓄積手段を含み前記増幅回路の
出力信号を積分する積分回路と、複数の参照電圧を発生
する電圧発生手段と、前記参照電圧のいずれかを選択す
る電圧選択手段と、前記電圧選択手段によって選択され
た電圧および前記積分回路の出力を比較する比較手段
と、前記投光手段の投光開始から前記比較手段の出力が
変化するまでの投光回数をカウントするカウント手段
と、測距動作に先立つ投光動作に基づく前記積分回路の
出力および前記カウント手段の出力から測距時に使用す
る参照電圧および前記積分回路の電荷蓄積素子の放電回
数を算出する演算手段とを備えている。In order to solve the above-mentioned problems, in a distance measuring apparatus for a camera according to the present invention, a light projecting means for irradiating a subject with pulsed light, and an irradiation light of the light projecting means is reflected by the subject. Light-receiving means for receiving light to be emitted, a current-voltage conversion circuit for converting an output current of the light-receiving means into a voltage, an amplification circuit for amplifying an output signal of the current-voltage conversion circuit, and a charge storage means capable of being discharged by an external signal An integrating circuit that integrates an output signal of the amplifier circuit; a voltage generating unit that generates a plurality of reference voltages; a voltage selecting unit that selects any of the reference voltages; and a voltage selected by the voltage selecting unit. Comparing means for comparing the output of the integrating circuit; counting means for counting the number of times of light emission from the start of light emission of the light emitting means until the output of the comparing means changes; And a calculating means for calculating the number of times of discharge of the charge storage elements of the reference voltage and the integrator circuit is used when the distance measurement from the output of the output and the counting means of the integration circuit based on the light operation.

【０００８】[0008]

【作用】測距に先だって被写体から反射する光の強度を
測定し、その強度から積分回路の最適な投光終了電圧お
よび積分回路中のコンデンサの最適な放電回数を算出
し、それらの値に従って測距動作を行う。Before measuring the distance, the intensity of the light reflected from the object is measured, and the optimum emission end voltage of the integration circuit and the optimum number of discharges of the capacitor in the integration circuit are calculated from the intensity, and the measurement is performed in accordance with these values. Perform distance operation.

【０００９】[0009]

【実施例】本発明の構成を図１に基づいて説明する。投
光回路１０は近赤外発光素子（以下ＩＲＥＤという）１
４を駆動するための駆動回路であり、トランジスタ１
１、抵抗１２、１３およびＩＲＥＤ１４からなる。後述
の演算回路８０（以下ＣＰＵという）から投光信号が出
力されると、ＩＲＥＤ１４は発光する。発光した光は投
光レンズ１を通り、不図示の被写体によってその一部を
反射され、反射した光の一部は受光レンズ２を通ってＰ
ＳＤ３に入射する。実際にはＩＲＥＤ１４はパルス駆動
される。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The configuration of the present invention will be described with reference to FIG. The light emitting circuit 10 is a near-infrared light emitting element (hereinafter referred to as IRED) 1
4 is a driving circuit for driving the transistor 1
1, the resistors 12, 13 and the IRED 14. When a light emission signal is output from an arithmetic circuit 80 (hereinafter, referred to as a CPU) described later, the IRED 14 emits light. The emitted light passes through the light projecting lens 1 and is partially reflected by a subject (not shown).
It is incident on SD3. Actually, the IRED 14 is pulse-driven.

【００１０】第１の電流電圧変換回路２０、第２の電流
電圧変換回路３０は半導***置検出素子３（以下ＰＳＤ
という）と一体となって１つの受光回路を構成する。投
光回路１０の投光した光のうち被写体で反射された分の
光信号がＰＳＤ３に入射すると、ＰＳＤ３はその強度と
入射位置に応じた電流を電流電圧変換回路２０、３０に
出力する。第１の電流電圧変換回路２０はアンプ２１と
帰還抵抗２２で構成された、入力電流に比例した電圧を
出力する回路であり、第２の電流電圧変換回路３０はア
ンプ３１と帰還抵抗３２とで構成され、第１の電流電圧
変換回路２０とまったく同じ構成で、信号電流に応じた
電圧が出力され、スイッチ４によって電流電圧変換回路
２０と３０のいずれかの出力が増幅回路４０に出力され
る。遠距離側の測距を行うときは第１の電流電圧変換回
路２０、近距離側の測距を行うときは第２の電流電圧変
換回路３０側にオンする。スイッチ４の状態はＣＰＵ８
０によって制御される。The first current-voltage conversion circuit 20 and the second current-voltage conversion circuit 30 are provided with a semiconductor position detecting element 3 (hereinafter referred to as PSD).
To form one light receiving circuit. When the light signal reflected by the subject out of the light projected by the light projecting circuit 10 enters the PSD 3, the PSD 3 outputs a current corresponding to the intensity and the incident position to the current-voltage conversion circuits 20 and 30. The first current-to-voltage converter 20 is a circuit composed of an amplifier 21 and a feedback resistor 22 and outputs a voltage proportional to the input current. The second current-to-voltage converter 30 is composed of an amplifier 31 and a feedback resistor 32. With the configuration exactly the same as that of the first current-voltage conversion circuit 20, a voltage corresponding to the signal current is output, and one of the outputs of the current-voltage conversion circuits 20 and 30 is output to the amplifier circuit 40 by the switch 4. . The first current-voltage conversion circuit 20 is turned on when performing distance measurement on the long distance side, and the second current-voltage conversion circuit 30 is turned on when performing distance measurement on the short distance side. The state of the switch 4 is the CPU 8
Controlled by 0.

【００１１】増幅回路４０は入力信号の交流分を８倍に
増幅する増幅回路である。増幅回路４０の前にはコンデ
ンサ５が接続され、入力信号の直流分はここでカットさ
れる。増幅回路４０はアンプ４１と入力抵抗４２および
帰還抵抗４３とで構成されている。The amplifying circuit 40 is an amplifying circuit for amplifying the AC component of the input signal by eight times. The capacitor 5 is connected before the amplifier circuit 40, and the direct current component of the input signal is cut here. The amplification circuit 40 includes an amplifier 41, an input resistor 42, and a feedback resistor 43.

【００１２】スイッチ７は後述のＣＰＵ８０によって制
御され、スイッチ７がオンしているときにのみ増幅回路
４０の出力信号は積分回路６０に出力される。積分回路
６０はアンプ６１、入力抵抗６２、積分コンデンサ６
３、スイッチ６４、電圧ホロワ６５で構成された、入力
信号を積分するための回路である。スイッチ６４は後述
のＣＰＵ８０によって制御され、スイッチ６４がオンす
ると積分コンデンサ６３の電荷は放電され、オフすると
電荷が蓄えられる。積分コンデンサ６３の端子間積分電
圧Ｖｉは電圧ホロワ６５を経てＡＤＣ７０に出力され
る。ＡＤＣ７０は積分電圧Ｖｉをデジタル値に変換して
ＣＰＵ８０に出力する。The switch 7 is controlled by a CPU 80 described later, and the output signal of the amplifier circuit 40 is output to the integrating circuit 60 only when the switch 7 is turned on. The integrating circuit 60 includes an amplifier 61, an input resistor 62, and an integrating capacitor 6.
3, a switch 64 and a voltage follower 65 for integrating an input signal. The switch 64 is controlled by a CPU 80 described later. When the switch 64 is turned on, the charge of the integrating capacitor 63 is discharged, and when the switch 64 is turned off, the charge is stored. The integrated voltage Vi between the terminals of the integrating capacitor 63 is output to the ADC 70 via the voltage follower 65. The ADC 70 converts the integrated voltage Vi into a digital value and outputs the digital value to the CPU 80.

【００１３】読み書き可能な揮発性のメモリ８１（以下
ＲＡＭという）はＣＰＵ８０の演算およびカウント値や
フラグなどの一時的な記憶に使用され、特に以下に述べ
るＦｆ、Ｆｎなどのフラグ、Ｎｅ、Ｄｆ、Ｄｎ、Ｄｖ、
Ｖｃ、Ｎｃなどの変数を保持する。読み出し可能な不揮
発性のメモリ８２（以下ＲＯＭという）はＣＰＵ８０の
プログラムおよびデータの格納に使用され、特に図２に
示す後述の値Ｘと距離Ｄを対応づける距離算出テーブル
を内蔵している。レリーズスイッチ８６が押されると本
実施例の一連の動作を開始する。A readable and writable volatile memory 81 (hereinafter referred to as a RAM) is used for the operation of the CPU 80 and for temporary storage of count values and flags, and in particular, flags such as Ff and Fn, Ne, Df, Dn, Dv,
Variables such as Vc and Nc are held. A readable non-volatile memory 82 (hereinafter referred to as a ROM) is used for storing programs and data of the CPU 80, and particularly has a built-in distance calculation table shown in FIG. When the release switch 86 is pressed, a series of operations of this embodiment is started.

【００１４】モータ８３はＣＰＵ８０によって制御さ
れ、レンズ鏡筒８４を合焦位置まで駆動する。The motor 83 is controlled by the CPU 80 to drive the lens barrel 84 to a focus position.

【００１５】次に本発明の実施例の回路の動作の概要に
ついて述べる。撮影者によってレリーズスイッチ８６が
押され、この測距ルーチンに入ると、まず図１内のすべ
ての回路の電源をオンする。次にＲＡＭ８１の内容をク
リアし、そして後述のゲイン決定動作により最適なゲイ
ンを決定する。このゲイン決定の動作中に、ゲインをそ
れぞれ最小にしてもなお積分回路６０の出力が後述の電
圧Ｖ１以上のときは被写体の反射率が非常に大きいため
被写体が最至近にあるものとみなして差し支えなく、Ｒ
ＡＭ８１中の至近フラグＦｎがセットされるので、その
場合は測距を行わずに最至近と判定し、被写体までの距
離に相当する値Ｘを１とする。Next, an outline of the operation of the circuit according to the embodiment of the present invention will be described. When the photographer presses the release switch 86 and enters this distance measurement routine, first, the power of all the circuits in FIG. 1 is turned on. Next, the contents of the RAM 81 are cleared, and an optimum gain is determined by a gain determination operation described later. During the operation of determining the gain, even if the gain is minimized, if the output of the integration circuit 60 is equal to or higher than the voltage V1, which will be described later, the reflectance of the subject is extremely large, and the subject may be regarded as being closest. No, R
Since the closest flag Fn in the AM 81 is set, in that case, the closest distance is determined without performing the distance measurement, and the value X corresponding to the distance to the subject is set to 1.

【００１６】それから第１の電流電圧変換回路２０を用
いて測距し、このときの投光回数を回数ＮｆとしてＲＡ
Ｍ８１の適切なアドレスに保存する。同様に第２の電流
電圧変換回路３０で測距し、このときの投光回数を回数
ＮｎとしてＲＡＭ８１の適切なアドレスに保存する。第
１の電流電圧変換回路２０の測距中に回数Ｎｆｍ回、お
よび第２の電流電圧変換回路３０の測距中に回数Ｎｎｍ
回投光してもなお積分電圧Ｖｉの出力が後述の変数Ｖｃ
を超えないときは被写体の反射率が非常に小さいため被
写体が無限遠にあるものとみなして差し支えなく、ＲＡ
Ｍ８１中の無限遠フラグＦｆがセットされるので、値Ｘ
を０．５とする。Then, the distance is measured using the first current-to-voltage conversion circuit 20, and the number of light projections at this time is defined as RA Nf.
Store it in the appropriate address of M81. Similarly, the distance is measured by the second current-voltage conversion circuit 30, and the number of light projections at this time is stored as a number Nn in an appropriate address of the RAM 81. The number Nfm times during the distance measurement of the first current-voltage conversion circuit 20 and the number Nnm during the distance measurement of the second current-voltage conversion circuit 30
Even if the light is repeatedly projected, the output of the integrated voltage Vi is still a variable Vc described later.
When the value does not exceed, the reflectance of the subject is very small, and the subject may be regarded as being at infinity.
Since the infinity flag Ff in M81 is set, the value X
Is set to 0.5.

【００１７】無限遠フラグＦｆと至近フラグＦｎととは
ＲＡＭ８１中の適切なアドレスに割り付けられたいずれ
も１ビットのフラグである。以上で測距動作を終了する
と、無限遠フラグＦｆがセットされていれば無限遠、至
近フラグＦｎがセットされていれば至近、いずれでもな
ければＲＡＭ８１に保存されている回数ＮｆおよびＮｎ
を用いて、次のような式（１）で与えられる値Ｘを算出
する。Each of the infinity flag Ff and the closeness flag Fn is a one-bit flag assigned to an appropriate address in the RAM 81. When the distance measuring operation is completed, infinity is set if the infinity flag Ff is set, the distance is set if the close flag Fn is set. Otherwise, the number of times Nf and Nn stored in the RAM 81 are set.
Is used to calculate a value X given by the following equation (1).

【００１８】 Ｘ＝Ｎｆ／（Ｎｆ＋Ｎｎ） （１） 値Ｘが定まると、それによって一義的に定まるＲＯＭ８
２の距離算出テーブル上のアドレスを参照して（図
２）、被写体までの距離を得る。最後にモータ８３を制
御しレンズ鏡筒８４を合焦位置まで駆動した後、測距回
路の電源をオフして、このルーチンを抜ける。X = Nf / (Nf + Nn) (1) When the value X is determined, the ROM 8 uniquely determined by the value X is determined.
With reference to the address on the distance calculation table 2 (FIG. 2), the distance to the subject is obtained. Finally, after controlling the motor 83 to drive the lens barrel 84 to the in-focus position, the power supply of the distance measuring circuit is turned off, and the routine exits.

【００１９】次に、ゲイン決定の動作を図３を使って詳
細に説明する。最初にＣＰＵ８０はスイッチ４を第１の
電流電圧変換回路２０側にオンする。それからスイッチ
６４をオンし、積分コンデンサ６３にたまっている電荷
を放電させる（図３のａ）。十分に電荷を放電した後、
スイッチ６４をオフし（図３のｂ）、クリア信号ＣＲを
発生して回数Ｎｆを０にクリアする（図３のｃ）。そし
てＣＰＵ８０は投光回路１０を動作させ、投光信号ＥＭ
を発生してＩＲＥＤ１４を駆動し投光を開始する（図３
のｄ）。投光開始に伴う各アンプの立ち上り時間の確保
と電源変動の影響とを軽減するため、投光後時間Ｔ１を
経過してからスイッチ７をオンし、時間Ｔ２の間だけ積
分させる（図３のｅ）。それが終わると投光を停止する
と共にスイッチ７をオフして（図３のｆ）、時間Ｔ３の
間だけ待機し、カウントアップ信号ＣＵを発生して回数
Ｎｆに１を加える（図３のｇ）。Next, the operation of determining the gain will be described in detail with reference to FIG. First, the CPU 80 turns on the switch 4 to the first current-voltage conversion circuit 20 side. Then, the switch 64 is turned on to discharge the charge accumulated in the integration capacitor 63 (FIG. 3A). After fully discharging the charge,
The switch 64 is turned off (b in FIG. 3), and a clear signal CR is generated to clear the number Nf to 0 (c in FIG. 3). Then, the CPU 80 activates the light emitting circuit 10 and outputs the light emitting signal EM.
Is generated and the IRED 14 is driven to start light emission (FIG. 3
D). In order to secure the rise time of each amplifier at the start of light emission and reduce the influence of power supply fluctuation, the switch 7 is turned on after the time T1 has elapsed after light emission, and integration is performed only during the time T2 (see FIG. 3). e). After that, the light emission is stopped and the switch 7 is turned off (f in FIG. 3), and only waits for the time T3, generates the count-up signal CU and adds 1 to the number Nf (g in FIG. 3). ).

【００２０】ＣＰＵ８０は以上の動作を、毎回の投光ご
とに積分電圧ＶｉをＡＤＣ７０でデジタル値に変換し、
ＣＰＵ８０でモニタしながら、あらかじめ決められた回
数Ｎ１（たとえば１００回）だけ繰り返し、投光終了時
の積分電圧Ｖｉに従って最適なゲインに対応する変数Ｄ
ｆを決定する。ただし、回数Ｎ１に達する前に積分電圧
Ｖｉが電圧Ｖ１に達してしまった場合にはそこで投光を
打ち切る。The CPU 80 converts the integrated voltage Vi into a digital value by the ADC 70 every time the light is projected.
While monitoring with the CPU 80, the process is repeated a predetermined number of times N1 (for example, 100 times), and the variable D corresponding to the optimum gain is determined according to the integrated voltage Vi at the end of the light emission.
Determine f. However, if the integrated voltage Vi reaches the voltage V1 before the number of times N1, the light emission is stopped there.

【００２１】この様子を図５に示す。ここで回数Ｎ２は
Ｎ１の半分、さらに回数Ｎ３はＮ２の半分である。同様
に、電圧Ｖ２はＶ１の、電圧Ｖ３はＶ２の、電圧Ｖ４は
Ｖ３の、電圧Ｖ５はＶ４の、それぞれ半分となってい
る。いま、ゲイン決定動作において、回数Ｎ１、Ｎ２、
Ｎ３、電圧Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３、Ｖ４、Ｖ５といった値か
ら、投光結果をＤ０〜Ｄ７の８つの放射状の領域に分類
する。たとえば回数Ｎ１にわたって投光し、その結果積
分電圧ＶｉがＶ３とＶ４の間になった場合、投光結果は
領域Ｄ５となり、また、投光中に回数Ｎ１とＮ２の間で
積分電圧ＶｉがＶ１に達した場合、投光結果は領域Ｄ２
となる。FIG. 5 shows this state. Here, the number N2 is half of N1, and the number N3 is half of N2. Similarly, the voltage V2 is half of V1, the voltage V3 is half of V2, the voltage V4 is half of V3, and the voltage V5 is half of V4. Now, in the gain determination operation, the number of times N1, N2,
Based on values such as N3 and voltages V1, V2, V3, V4, and V5, the projection results are classified into eight radial areas D0 to D7. For example, when the light is emitted over the number of times N1 and the integrated voltage Vi is between V3 and V4 as a result, the light emission result is in a region D5, and the integrated voltage Vi is V1 between the number of times N1 and N2 during the light emission. Is reached, the projection result is the area D2
Becomes

【００２２】投光結果が領域Ｄ０に含まれる場合、被写
体からの反射光が非常に大きく、測距不能となるので、
至近フラグＦｎをセットして第１の電流電圧変換回路２
０のゲイン決定動作を終了する。また、投光結果が領域
Ｄ１に含まれる場合は、変数Ｄｆに１を代入する。以下
同様に、領域Ｄ２に含まれる場合は変数Ｄｆ＝２、…、
領域Ｄ７に含まれる場合は、変数Ｄｆ＝７として第１の
電流電圧変換回路２０のゲイン決定動作を終了する。こ
うして変数Ｄｆには１〜７までのいずれかの値が代入さ
れることになる。When the projection result is included in the area D0, the reflected light from the subject is very large, and the distance cannot be measured.
The first current-voltage conversion circuit 2
The operation of determining the gain of 0 ends. When the light projection result is included in the area D1, 1 is substituted for the variable Df. Similarly, if the variable Df = 2,...
If it is included in the area D7, the variable Df is set to Df = 7, and the gain determination operation of the first current-voltage conversion circuit 20 ends. In this way, any value from 1 to 7 is substituted for the variable Df.

【００２３】以上の動作を第２の電流電圧変換回路３０
についても行い、最適なゲインに対応する変数Ｄｎを決
定する。まず、スイッチ４を第２の電流電圧変換回路３
０側にオンし、第１の電流電圧変換回路２０の場合と同
様な投光動作を行う。投光結果はやはりＤ０〜Ｄ７の８
つの領域に分類する。最後に、投光結果が領域Ｄ０に含
まれるならば至近フラグＦｎをセットし、それ以外の領
域ならばその領域に対応する１〜７の値を変数Ｄｎに代
入して第２の電流電圧変換回路３０のゲイン決定動作を
終了する。The above operation is performed by the second current / voltage conversion circuit 30.
To determine the variable Dn corresponding to the optimal gain. First, the switch 4 is connected to the second current-voltage conversion circuit 3.
It turns on to the 0 side, and performs the same light emitting operation as in the case of the first current-voltage conversion circuit 20. The light emission result is again 8 of D0 to D7.
Into two areas. Finally, if the light projection result is included in the area D0, the closest flag Fn is set, and if it is other than the area, the value of 1 to 7 corresponding to the area is substituted for the variable Dn to perform the second current-voltage conversion. The gain determining operation of the circuit 30 ends.

【００２４】以上のようにして変数ＤｆとＤｎが独立に
決定されるが、後の演算処理の都合上、測距に使用され
るゲインをどちらかに揃える必要がある。ここでは測距
精度を優先するため、測距に使用されるゲインに対応す
る変数Ｄｖは、ＤｆとＤｎのうち大きい方が代入され
る。変数Ｄｖに代入される１〜７の値の意味は、図６に
より明らかになる。変数Ｄｖが定まると、変数Ｎｃと変
数Ｖｃに所定の数値が代入される。変数Ｎｃと変数Ｖｃ
に代入される数値の組み合わせは、図６に示すように、
変数Ｄｖの値により一義的に決定される。これらはとも
に以下に述べる測距動作の中で使われ、変数Ｎｃは測距
時の積分コンデンサ６３の放電回数（以下投光繰り返し
回数という）を、変数Ｖｃは測距を終了する電圧（以下
投光終了電圧という）を意味し、これらの値から実質的
なゲインが定まる。たとえば変数Ｄｖ＝２のとき、投光
終了電圧はＶ１で、それが４回にわたって繰り返され
る。変数Ｖｃ＝１で変数Ｎｃ＝１のときゲインをあらか
じめ８倍に設定しておくと、測距を４回繰り返せば実質
的なゲインは８÷４＝２倍となる。また、変数Ｄｖ＝５
のとき、投光終了電圧はＶ２で、それが１回きりとなる
から、実質的なゲインは８×２＝１６倍となる。Although the variables Df and Dn are determined independently as described above, it is necessary to make the gain used for the distance measurement equal to one of them for the sake of convenience of the subsequent arithmetic processing. Here, in order to give priority to ranging accuracy, a larger one of Df and Dn is substituted for a variable Dv corresponding to a gain used for ranging. The meaning of the values of 1 to 7 assigned to the variable Dv will be apparent from FIG. When the variable Dv is determined, predetermined numerical values are assigned to the variables Nc and Vc. Variable Nc and variable Vc
Is, as shown in FIG.
It is uniquely determined by the value of the variable Dv. These are both used in the distance measuring operation described below. The variable Nc indicates the number of discharges of the integrating capacitor 63 during distance measurement (hereinafter referred to as the number of light emission repetitions), and the variable Vc indicates the voltage at which distance measurement ends (hereinafter referred to as light projection). These values determine the substantial gain. For example, when the variable Dv = 2, the light emission end voltage is V1, which is repeated four times. If the gain is previously set to 8 times when the variable Vc = 1 and the variable Nc = 1, the actual gain becomes 8 ÷ 4 = 2 times if the distance measurement is repeated four times. Also, the variable Dv = 5
In this case, the light emission end voltage is V2, which is only once, so that the actual gain is 8 × 2 = 16 times.

【００２５】ここで特筆すべきは、変数Ｄｖのいかんに
かかわらず、測距の終了までに投光する回数は、被写体
の輝度が一定であれば、２×Ｎ１回から４×Ｎ１回の間
に収まるという点である。たとえば変数Ｄｖ＝２ならば
投光繰り返し回数は４、測距終了電圧はＶ１であるか
ら、最小でＮ２の４倍すなわち２×Ｎ１回、最大でＮ１
の４倍すなわち４×Ｎ１回となる。また変数Ｄｖ＝５な
らば投光繰り返し回数は１で、投光終了電圧がＶ２とな
り、最小でＮ１の（Ｖ２÷Ｖ３）倍すなわち２×Ｎ１
回、最大でＮ１の（Ｖ２÷Ｖ４）倍すなわち４×Ｎ１回
となり、変数Ｄｖ＝２の場合と変わらず、これは変数Ｄ
ｖが他のどの値であっても同様である。このことは、被
写体輝度にかかわらず、測距時間の増減を最小限に止
め、ひいては撮影者がレリーズスイッチ８６をオンして
から露出が行われるまでの時間を一定の範囲に収めるこ
とに寄与している。It should be noted that regardless of the variable Dv, the number of times of light emission until the end of distance measurement is between 2 × N1 and 4 × N1 if the brightness of the subject is constant. It is that it fits in. For example, if the variable Dv = 2, the number of light projection repetitions is 4, and the distance measurement end voltage is V1, so that at least four times N2, that is, 2 × N1, and at most N1
4 times, that is, 4 × N1 times. If the variable Dv = 5, the number of light emission repetitions is 1, and the light emission end voltage is V2. At least (V2ＶV3) times N1, that is, 2 × N1
Times, at most (V2４V4) times of N1, that is, 4 × N1 times, which is the same as the case of the variable Dv = 2.
The same applies when v is any other value. This contributes to minimizing the increase or decrease in the distance measurement time regardless of the subject brightness, and consequently keeping the time from when the photographer turns on the release switch 86 to when the exposure is performed within a certain range. ing.

【００２６】次に、第１の電流電圧変換回路２０による
測距を図４に基づいて詳細に説明する。最初にスイッチ
４を第１の電流電圧変換回路２０側にオンする。次にス
イッチ６４をオンし、積分コンデンサ６３にたまってい
る電荷を放電させる（図４のａ）。十分に電荷を放電さ
せた後にスイッチ６４をオフする（図４のｂ）。これで
積分コンデンサ６３の両端の電位差は０になる。同時
に、変数Ｎｃから１を引く。そしてクリア信号ＣＲを発
生して回数Ｎｆを０にクリアする（図４のｃ）。そして
ＣＰＵ８０は投光回路１０を動作させ、投光信号ＥＭを
発生してＩＲＥＤ１４を駆動し投光を開始する（図４の
ｄ）。投光開始に伴う各アンプの立ち上り時間の確保と
電源変動の影響とを軽減するため、投光後時間Ｔ１を経
過してから積分回路を時間Ｔ２の間だけ動作させる（図
４のｅ）。それが終わると投光・積分を停止して（図４
のｆ）、時間Ｔ３の間だけ待機し、カウントアップ信号
ＣＵを発生して回数Ｎｆに１を加える（図４のｇ）。Next, the distance measurement by the first current / voltage conversion circuit 20 will be described in detail with reference to FIG. First, the switch 4 is turned on to the first current-voltage conversion circuit 20 side. Next, the switch 64 is turned on to discharge the charge accumulated in the integration capacitor 63 (FIG. 4A). After sufficiently discharging the electric charge, the switch 64 is turned off (FIG. 4B). Thus, the potential difference between both ends of the integration capacitor 63 becomes zero. At the same time, 1 is subtracted from the variable Nc. Then, a clear signal CR is generated to clear the number Nf to 0 (c in FIG. 4). Then, the CPU 80 operates the light emitting circuit 10, generates the light emitting signal EM, drives the IRED 14, and starts the light emitting (d in FIG. 4). In order to secure the rise time of each amplifier at the start of light emission and reduce the influence of power supply fluctuation, the integration circuit is operated only for the time T2 after the time T1 has elapsed after the light emission (e in FIG. 4). After that, the light emission and integration are stopped (Fig. 4
F), and waits for the time T3, generates the count-up signal CU, and adds 1 to the number Nf (g in FIG. 4).

【００２７】測距動作の終了条件は、変数Ｄｖの値によ
って異なる。変数Ｄｖが１〜３の場合、測距終了電圧は
Ｖ１であり、積分コンデンサ６３の放電変数Ｎｃは１よ
り大きい。従って、測距中に積分電圧ＶｉがＶ１に達す
ると、スイッチ６４がオンし、積分コンデンサ６３の電
荷をすべて放電するとともに、変数Ｎｃから１を引く。
ここで変数Ｎｃが０になっていれば、放電の繰り返しは
終わったものと判断し、このときの回数ＮｆをＲＡＭ８
１中の適切なアドレスに記憶して測距を終了する。変数
Ｄｖ＝３、すなわち投光繰り返し回数が２の時のゲイン
決定動作の開始から測距動作の終了までの図１の要部の
タイミングチャートを図７に示した。また、変数Ｄｖが
４〜７の場合は測距繰り返し回数はすべて１であり、つ
まり積分電圧Ｖｉが変数Ｖｃに代入された電圧に達した
時点で投光を終え、このときの回数ＮｆをＲＡＭ８１中
の適切なアドレスに記憶して測距を終了する。変数Ｄｖ
＝５、すなわち測距終了電圧がＶ２の時のゲイン決定動
作の開始から測距動作の終了までの図１の要部のタイミ
ングチャートを図８に示した。The condition for terminating the distance measuring operation differs depending on the value of the variable Dv. When the variable Dv is 1 to 3, the distance measurement end voltage is V1, and the discharge variable Nc of the integrating capacitor 63 is larger than 1. Therefore, when the integrated voltage Vi reaches V1 during the distance measurement, the switch 64 is turned on to discharge all the charge of the integrating capacitor 63 and subtract 1 from the variable Nc.
Here, if the variable Nc is 0, it is determined that the repetition of the discharge has ended, and the number of times Nf at this time is stored in the RAM 8.
1 is stored in an appropriate address, and the distance measurement is completed. FIG. 7 shows a timing chart of the main part of FIG. 1 from the start of the gain determination operation to the end of the distance measurement operation when the variable Dv = 3, that is, when the number of light projection repetitions is 2. When the variable Dv is 4 to 7, the number of distance measurement repetitions is all one, that is, when the integrated voltage Vi reaches the voltage substituted for the variable Vc, the light emission is terminated, and the number Nf at this time is stored in the RAM 81. The data is stored at an appropriate address inside and the ranging is completed. Variable Dv
= 5, that is, FIG. 8 shows a timing chart of the main part of FIG. 1 from the start of the gain determination operation to the end of the distance measurement operation when the distance measurement end voltage is V2.

【００２８】なお、以上の測距終了条件を満たさぬまま
回数Ｎｆが回数Ｎｆｍ（たとえば１０００回）に達した
場合には、被写体は非常に遠方にあるものと判断し、Ｒ
ＡＭ８１中の無限遠フラグＦｆをセットして終了する。If the number of times Nf reaches the number of times Nfm (for example, 1000 times) without satisfying the above distance measurement end condition, it is determined that the subject is very far away, and R
The infinity flag Ff in AM81 is set, and the processing ends.

【００２９】同様に、第２の電流電圧変換回路３０でも
測距を行う。第２の電流電圧変換回路３０での測距動作
は第１の電流電圧変換回路２０とほぼ同じで、以下の４
つの点だけが異なる。すなわち、まず最初に、図６に示
される数値が変数Ｎｃに再び代入されること、スイッチ
４が第１の電流電圧変換回路２０側ではなく第２の電流
電圧変換回路３０側にオンすること、カウントアップ信
号ＣＵの発生に伴い回数Ｎｆではなく回数Ｎｎがカウン
トアップされること、回数Ｎｆｍではなく回数Ｎｎｍ
（たとえば１０００回）に達した場合にＲＡＭ８１中の
無限遠フラグＦｆをセットして終了する、の４点であ
る。Similarly, the second current-voltage conversion circuit 30 measures the distance. The distance measurement operation in the second current-voltage conversion circuit 30 is substantially the same as that in the first current-voltage conversion circuit 20.
Only one difference. That is, first, the numerical value shown in FIG. 6 is substituted into the variable Nc again, and the switch 4 is turned on not on the first current-voltage conversion circuit 20 side but on the second current-voltage conversion circuit 30 side. The number Nn is counted up instead of the number Nf with the generation of the count-up signal CU, and the number Nnm is used instead of the number Nfm.
(For example, 1000 times), the infinity flag Ff in the RAM 81 is set and the processing is terminated.

【００３０】以上が本実施例における回路の動作であ
る。以上の動作をフローチャートで表わすと図９〜図１
３のようになる。まず、メインルーチンを図９に基づい
て説明する。この測距ルーチンに入ると、ＣＰＵ８０は
図１に示す測距回路全体の電源をオンし（＃００１）、
各スイッチを設定する（＃００２）。次にＲＡＭ８１の
内容をクリアする（＃００３）。ここで、すべてのフラ
グおよび変数の値がクリアされる。そして第１の電流電
圧変換回路２０を使って変数Ｄｆを決定し（＃００
４）、ここで至近フラグＦｎの状態を確認し（＃００
５）、もし至近フラグＦｎがセットされていればＣＰＵ
８０は値Ｘを１（至近に相当する）に設定し（＃００
６）、＃０２０にジャンプする。もし至近フラグＦｎが
セットされていなければ、次に第２の電流電圧変換回路
３０を使って変数Ｄｎを決定し（＃００７）、もう一度
至近フラグＦｎの状態を確認し（＃００８）、もし至近
フラグＦｎがセットされていれば値Ｘを１に設定し（＃
００６）、＃０２０にジャンプする。そして変数Ｄｆと
変数Ｄｎのうち大きい方を変数Ｄｖに代入する（＃００
９）。The above is the operation of the circuit in this embodiment. FIG. 9 to FIG.
It looks like 3. First, the main routine will be described with reference to FIG. When entering the distance measuring routine, the CPU 80 turns on the power of the entire distance measuring circuit shown in FIG. 1 (# 001).
Each switch is set (# 002). Next, the contents of the RAM 81 are cleared (# 003). Here, all flags and variable values are cleared. Then, the variable Df is determined using the first current-voltage conversion circuit 20 (# 00
4) Here, the state of the close flag Fn is confirmed (# 00)
5) If the close flag Fn is set, the CPU
80 sets the value X to 1 (corresponding to the closest distance) (# 00
6) Jump to # 020. If the closeness flag Fn is not set, the variable Dn is determined using the second current-voltage conversion circuit 30 (# 007), and the state of the closeness flag Fn is checked again (# 008). If the flag Fn is set, the value X is set to 1 (#
006), and jump to # 020. Then, the larger one of the variables Df and Dn is assigned to the variable Dv (# 00
9).

【００３１】続いて図６に従って変数Ｄｖに対応する変
数Ｎｃをセットし（＃０１０）、第１の電流電圧変換回
路２０で測距して回数Ｎｆを算出し（＃０１１）、ここ
で無限遠フラグＦｆの状態を確認し（＃０１２）、Ｆｆ
がセットしれていればＣＰＵ８０は値Ｘを０．５（無限
遠に相当する）に設定し（＃０１３）、＃０１８にジャ
ンプする。無限遠フラグＦｆがセットさせていなけれ
ば、再び変数Ｄｖに対応する変数Ｎｃをセットし（＃０
１４）、第２の電流電圧変換回路３０で測距して回数Ｎ
ｎを算出し（＃０１５）、ここで無限遠フラグＦｆの状
態を確認し（＃０１６）、ＦｆがセットしれていればＣ
ＰＵ８０は値Ｘを０．５（無限遠に相当する）に設定し
（＃０１３）、＃０１８にジャンプする。Ｆｆがセット
されていなければ、回数Ｎｆと回数Ｎｎとから値Ｘを算
出する（＃０１７）。Subsequently, a variable Nc corresponding to the variable Dv is set according to FIG. 6 (# 010), the distance is measured by the first current-voltage conversion circuit 20, and the number Nf is calculated (# 011). The state of the flag Ff is confirmed (# 012), and Ff
Is set, the CPU 80 sets the value X to 0.5 (corresponding to infinity) (# 013), and jumps to # 018. If the infinity flag Ff is not set, the variable Nc corresponding to the variable Dv is set again (# 0
14), the number of times N measured by the second current-voltage conversion circuit 30
n is calculated (# 015), the state of the infinity flag Ff is checked (# 016), and if Ff is set, C is determined.
The PU 80 sets the value X to 0.5 (corresponding to infinity) (# 013), and jumps to # 018. If Ff is not set, the value X is calculated from the number Nf and the number Nn (# 017).

【００３２】最後にＣＰＵ８０は、図２に示したような
ＲＯＭ８２中のテーブルを使用して、値Ｘから被写体ま
での距離Ｄを求め（＃０１８）、モータ８３を制御して
レンズ鏡筒８４を合焦位置まで駆動した後（＃０１
９）、図１に示す測距回路全体の電源をオフし（＃０２
０）、このルーチンを抜けて続く露出動作へと移る。Finally, the CPU 80 obtains the distance D to the subject from the value X by using a table in the ROM 82 as shown in FIG. 2 (# 018), controls the motor 83 and moves the lens barrel 84. After driving to the in-focus position (# 01
9) Then, the power of the entire distance measuring circuit shown in FIG. 1 is turned off (# 02).
0), the routine goes out of this routine to the subsequent exposure operation.

【００３３】次に、各サブルーチン内での動作を説明す
る。まず、変数Ｄｆ決定のサブルーチンを図１０に基づ
いて説明する。変数Ｄｆ決定のサブルーチンに入ると、
ＣＰＵ８０はスイッチ４を第１の電流電圧変換回路２０
側にオンし（＃１０１）、クリア信号ＣＲを発生して回
数Ｎｅを０にクリアし（＃１０２）、スイッチ６４をオ
ンし積分コンデンサ６３にたまっている電荷を放電させ
てからスイッチ６４をオフする（＃１０３）。Next, the operation in each subroutine will be described. First, a subroutine for determining the variable Df will be described with reference to FIG. When entering the subroutine for determining the variable Df,
The CPU 80 sets the switch 4 to the first current / voltage conversion circuit 20.
Side (# 101), a clear signal CR is generated to clear the number Ne to 0 (# 102), and the switch 64 is turned on to discharge the charge accumulated in the integration capacitor 63, and then the switch 64 is turned off. (# 103).

【００３４】続いてＣＰＵ８０は投光信号ＥＭを発生し
て投光回路１０を動作して投光を始め（＃１０４）時間
Ｔ１だけ待機する（＃１０５）と、スイッチ７をオンし
積分動作をしながら（＃１０６）時間Ｔ２だけ待機す
る。この間積分コンデンサ６３には電荷が貯えられる
（＃１０７）。それからＣＰＵ８０は投光回路１０の動
作を止めて投光動作を終了し、さらにスイッチ７をオフ
して積分動作を終え、ＡＤＣ７０を通じて積分電圧Ｖｉ
を読み込む（＃１０８）。積分電圧Ｖｉが電圧Ｖ１以上
ならば＃１１０にジャンプする（＃１０９）。さらに回
数Ｎｅを回数Ｎ３と比較し（＃１１０）、回数Ｎ３未満
であれば至近フラグＦｎを立ててメインルーチンに戻る
（＃１１１）。回数Ｎｅが回数Ｎ３未満でなければさら
に回数Ｎ２と比較し（＃１１２）、回数Ｎ２未満であれ
ば変数Ｄｆに１を（＃１１３）、回数Ｎ２以上であれば
変数Ｄｆに２を（＃１１４）、それぞれ代入してメイン
ルーチンに戻る。Subsequently, the CPU 80 generates the light emitting signal EM, operates the light emitting circuit 10 to start light emitting (# 104), waits for a time T1 (# 105), turns on the switch 7 and performs the integrating operation. (# 106), and waits for the time T2. During this time, charge is stored in the integration capacitor 63 (# 107). Then, the CPU 80 stops the operation of the light emitting circuit 10 to end the light emitting operation, further turns off the switch 7 to end the integration operation, and integrates the integrated voltage Vi through the ADC 70.
Is read (# 108). If the integrated voltage Vi is equal to or higher than the voltage V1, the process jumps to # 110 (# 109). Further, the number Ne is compared with the number N3 (# 110). If the number Ne is less than the number N3, the close flag Fn is set and the process returns to the main routine (# 111) . Times speed Ne is compared with a further number N2 be less than the number N3 (# 112), 1 to the variable Df is less than the number N2 (# 113), the 2 variable Df if the number N2 or more (# 114), substitute for each and return to the main routine.

【００３５】＃１０９で積分電圧Ｖｉが電圧Ｖ１未満の
場合、回数Ｎｅに１を加え（＃１１５）、その結果回数
Ｎｅが回数Ｎ１未満であれば＃１０４にジャンプする
（＃１１６）。回数Ｎｅが回数Ｎ１以上の場合、積分電
圧Ｖｉが電圧Ｖ２以上ならば（＃１１７）、変数Ｄｆに
３を（＃１１８）、電圧Ｖ２未満電圧Ｖ３以上ならば
（＃１１９）、変数Ｄｆに４を（＃１２０）、電圧Ｖ３
未満電圧Ｖ４以上ならば（＃１２１）、変数Ｄｆに５を
（＃１２２）、電圧Ｖ４未満電圧Ｖ５以上ならば（＃１
２３）、変数Ｄｆに６を（＃１２４）、電圧Ｖ５未満な
らば変数Ｄｆに７を（＃１２５）、それぞれ代入してメ
インルーチンに戻る。If the integral voltage Vi is less than the voltage V1 in # 109, 1 is added to the number Ne (# 115). If the result Ne is less than the number N1, the process jumps to # 104 (# 116). When the number Ne is equal to or more than the number N1, if the integrated voltage Vi is equal to or more than the voltage V2 (# 117), 3 is set to the variable Df (# 118), if the integrated voltage Vi is equal to or less than the voltage V3 less than the voltage V2 (# 119), 4 is set to the variable Df. (# 120), voltage V3
If the voltage is less than the voltage V4 (# 121), 5 is set to the variable Df (# 122).
23), 6 is substituted for the variable Df (# 124), and if it is less than the voltage V5, 7 is substituted for the variable Df (# 125), and the process returns to the main routine.

【００３６】次に、変数Ｄｎ決定のサブルーチンを図１
１に基づいて説明する。変数Ｄｎ決定のサブルーチンに
入ると、ＣＰＵ８０はスイッチ４を第２の電流電圧変換
回路３０側にオンし（＃２０１）、クリア信号ＣＲを発
生して回数Ｎｅを０にクリアし（＃２０２）、スイッチ
６４をオンし積分コンデンサ６３にたまっている電荷を
放電させてからスイッチ６４をオフする（＃２０３）。Next, the subroutine for determining the variable Dn is shown in FIG.
1 will be described. When entering the subroutine for determining the variable Dn, the CPU 80 turns on the switch 4 to the second current-voltage conversion circuit 30 side (# 201), generates a clear signal CR and clears the number Ne to 0 (# 202), The switch 64 is turned on to discharge the electric charge accumulated in the integration capacitor 63, and then the switch 64 is turned off (# 203).

【００３７】続いてＣＰＵ８０は投光信号ＥＭを発生し
て投光回路１０を動作して投光を始め（＃２０４）時間
Ｔ１だけ待機する（＃２０５）と、スイッチ７をオンし
積分動作をしながら（＃２０６）時間Ｔ２だけ待機す
る。この間積分コンデンサ６３には電荷が貯えられる
（＃２０７）。それからＣＰＵ８０は投光回路１０の動
作を止めて投光動作を終了し、さらにスイッチ７をオフ
して積分動作を終え、ＡＤＣ７０を通じて積分電圧Ｖｉ
を読み込む（＃２０８）。ここで、積分電圧Ｖｉが電圧
Ｖ１以上ならば＃２１０にジャンプする（＃２０９）。
さらに回数Ｎｅを回数Ｎ３と比較し（＃２１０）、回数
Ｎ３未満であれば至近フラグＦｎを立ててメインルーチ
ンに戻る（＃２１１）。回数Ｎｅが回数Ｎ３未満でなけ
ればさらに回数Ｎ２と比較し（＃２１２）、回数Ｎ２未
満であれば変数Ｄｎに１を（＃２１３）、回数Ｎ２以上
であれば変数Ｄｎに２を（＃２１４）、それぞれ代入し
てメインルーチンに戻る。Subsequently, the CPU 80 generates the light projecting signal EM to operate the light projecting circuit 10 to start the light projecting (# 204) and wait for a time T1 (# 205). (# 206), and waits for the time T2. During this time, charge is stored in the integration capacitor 63 (# 207). Then, the CPU 80 stops the operation of the light emitting circuit 10 to end the light emitting operation, further turns off the switch 7 to end the integration operation, and integrates the integrated voltage Vi through the ADC 70.
Is read (# 208). Here, if the integrated voltage Vi is equal to or higher than the voltage V1, the process jumps to # 210 (# 209).
Further, the number Ne is compared with the number N3 (# 210). If the number Ne is less than the number N3, the close flag Fn is set and the process returns to the main routine (# 211). If the number Ne is not less than the number N3, the number Ne is further compared with the number N2 (# 212). If the number Ne is less than the number N2, 1 is set to the variable Dn (# 213). ), And return to the main routine.

【００３８】＃２０９で積分電圧Ｖｉが電圧Ｖ１未満の
場合、回数Ｎｅに１を加え（＃２１５）、その結果回数
Ｎｅが回数Ｎ１未満であれば＃２０４にジャンプする
（＃２１６）。回数Ｎｅが回数Ｎ１以上の場合、積分電
圧Ｖｉが電圧Ｖ２以上ならば（＃２１７）、変数Ｄｎに
３を（＃２１８）、電圧Ｖ２未満電圧Ｖ３以上ならば
（＃２１９）、変数Ｄｎに４を（＃２２０）、電圧Ｖ３
未満電圧Ｖ４以上ならば（＃２２１）、変数Ｄｎに５を
（＃２２２）、電圧Ｖ４未満電圧Ｖ５以上ならば（＃２
２３）、変数Ｄｎに６を（＃２２４）、電圧Ｖ５未満な
らば変数Ｄｎに７を（＃２２５）、それぞれ代入してメ
インルーチンに戻る。If the integration voltage Vi is less than the voltage V1 in # 209, 1 is added to the number Ne (# 215). If the number Ne is less than the number N1, the process jumps to # 204 (# 216). When the number Ne is equal to or more than the number N1, if the integrated voltage Vi is equal to or more than the voltage V2 (# 217), 3 is set to the variable Dn (# 218), if it is less than the voltage V2 and equal to or more than the voltage V3 (# 219), 4 is set to the variable Dn. (# 220), voltage V3
If it is less than the voltage V4 (# 221), 5 is set to the variable Dn (# 222), and if it is less than the voltage V4 and more than the voltage V5 (# 2).
23), 6 is substituted for the variable Dn (# 224), and if it is less than the voltage V5, 7 is substituted for the variable Dn (# 225), and the process returns to the main routine.

【００３９】次に、第１の電流電圧変換回路２０による
回数Ｎｆの算出のサブルーチンを図１２に基づいて説明
する。第１の電流電圧変換回路２０による測距のサブル
ーチンに入ると、スイッチ４を第１の電流電圧変換回路
２０側にオンし（＃３０１）、クリア信号ＣＲを発生し
て回数Ｎｆを０にクリアし（＃３０２）、そして変数Ｄ
ｖに対応する最適な測距繰り返し回数を、図６に従って
変数Ｎｃに設定する（＃３０３）。さらにスイッチ６４
をオンし積分コンデンサ６３にたまっている電荷を放電
させてからスイッチ６４をオフする（＃３０４）。ここ
で回数Ｎｆが回数Ｎｆｍに達しているかどうかを確認し
（＃３０５）、もし達していれば無限遠フラグＦｆをセ
ットしてこのルーチンを抜ける（＃３０６）。Next, a subroutine for calculating the number of times Nf by the first current / voltage conversion circuit 20 will be described with reference to FIG. When a subroutine for distance measurement by the first current-voltage conversion circuit 20 is entered, the switch 4 is turned on to the first current-voltage conversion circuit 20 (# 301), a clear signal CR is generated, and the number Nf is cleared to zero. (# 302), and the variable D
The optimum number of distance measurement repetitions corresponding to v is set to a variable Nc according to FIG. 6 (# 303). Switch 64
Is turned on to discharge the charge accumulated in the integration capacitor 63, and then the switch 64 is turned off (# 304). Here, it is confirmed whether or not the number Nf has reached the number Nfm (# 305). If it has, the infinity flag Ff is set and the routine exits (# 306).

【００４０】続いて投光信号ＥＭを発生して投光回路１
０を動作して投光を始め（＃３０７）、時間Ｔ１だけ待
機すると（＃３０８）、スイッチ７をオンし積分動作を
しながら（＃３０９）、時間Ｔ２だけ待機する（＃３１
０）。この間積分コンデンサ６３には電荷が貯えられ
る。それからＣＰＵ８０は投光回路１０の動作を止めて
投光動作を終了し、さらにスイッチ７をオフして積分動
作を終え（＃３１１）、カウントアップ信号ＣＵを発生
して回数Ｎｆに１を加える（＃３１２）。それからＡＤ
Ｃ７０を通じて読み込んだ積分電圧Ｖｉが変数Ｖｃ未満
であれば＃３０５にジャンプする（＃３１３）。積分電
圧Ｖｉが変数Ｖｃ以上であれば変数Ｎｃから１を引き
（＃３１４）、その結果が０に等しければ繰り返しは終
了したものと判断しこのルーチンを抜け、０でなければ
＃３０４にジャンプする（＃３１５）。Subsequently, a light emitting signal EM is generated and the light emitting circuit 1 is generated.
Then, the light emission is started by operating 0 (# 307), and after waiting for the time T1 (# 308), the switch 7 is turned on and the integrating operation is performed (# 309), and then waiting for the time T2 (# 31).
0). During this time, charge is stored in the integration capacitor 63. Then, the CPU 80 stops the operation of the light emitting circuit 10 to end the light emitting operation, further turns off the switch 7 to end the integrating operation (# 311), generates a count-up signal CU, and adds 1 to the number Nf (FIG. # 312). Then AD
If the integrated voltage Vi read through C70 is smaller than the variable Vc, the process jumps to # 305 (# 313). If the integrated voltage Vi is equal to or greater than the variable Vc, 1 is subtracted from the variable Nc (# 314). If the result is equal to 0, it is determined that the repetition has been completed, and this routine is exited. (# 315).

【００４１】次に、第２の電流電圧変換回路３０による
回数Ｎｎの算出のサブルーチンを図１３に基づいて説明
する。第２の電流電圧変換回路３０による測距のサブル
ーチンに入ると、スイッチ４を第２の電流電圧変換回路
３０側にオンし（＃４０１）、クリア信号ＣＲを発生し
て回数Ｎｎを０にクリアし（＃４０２）、そして変数Ｄ
ｖに対応する最適な測距繰り返し回数を、図６に従って
変数Ｎｃに設定する（＃４０３）。さらにスイッチ６４
をオンし積分コンデンサ６３にたまっている電荷を放電
させてからスイッチ６４をオフする（＃４０４）。ここ
で回数Ｎｎが回数Ｎｎｍに達しているかどうかを確認し
（＃４０５）、もし達していれば無限遠フラグＦｆをセ
ットしてこのルーチンを抜ける（＃４０６）。Next, a subroutine for calculating the number of times Nn by the second current / voltage conversion circuit 30 will be described with reference to FIG. When the subroutine for distance measurement by the second current-voltage conversion circuit 30 is entered, the switch 4 is turned on to the second current-voltage conversion circuit 30 (# 401), a clear signal CR is generated, and the number Nn is cleared to zero. (# 402), and the variable D
The optimum number of distance measurement repetitions corresponding to v is set in a variable Nc according to FIG. 6 (# 403). Switch 64
Is turned on to discharge the charge accumulated in the integration capacitor 63, and then the switch 64 is turned off (# 404). Here, it is confirmed whether or not the number Nn has reached the number Nnm (# 405). If it has, the infinity flag Ff is set and the routine exits (# 406).

【００４２】続いて投光信号ＥＭを発生して投光回路１
０を動作して投光を始め（＃４０７）、時間Ｔ１だけ待
機すると（＃４０８）、スイッチ７をオンし積分動作を
しながら（＃４０９）、時間Ｔ２だけ待機する（＃４１
０）。この間積分コンデンサ６３には電荷が貯えられ
る。それからＣＰＵ８０は投光回路１０の動作を止めて
投光動作を終了し、さらにスイッチ７をオフして積分動
作を終え（＃４１１）、カウントアップ信号ＣＵを発生
して回数Ｎｎに１を加える（＃４１２）。それからＡＤ
Ｃ７０を通じて読み込んだ積分電圧Ｖｉが変数Ｖｃ未満
であれば＃４０５にジャンプする（＃４１３）。積分電
圧Ｖｉが変数Ｖｃ以上であれば変数Ｎｃから１を引き
（＃４１４）、その結果が０に等しければ繰り返しは終
了したものと判断しこのルーチンを抜け、０でなければ
＃４０４にジャンプする（＃４１５）。Subsequently, a light emitting signal EM is generated to generate a light emitting circuit 1
Then, light emission is started by operating 0 (# 407), and after waiting for a time T1 (# 408), the switch 7 is turned on and integration operation is performed (# 409), and then waiting for a time T2 (# 41).
0). During this time, charge is stored in the integration capacitor 63. Then, the CPU 80 stops the operation of the light emitting circuit 10 to end the light emitting operation, further turns off the switch 7 to end the integration operation (# 411), generates a count-up signal CU, and adds 1 to the number Nn ( # 412). Then AD
If the integrated voltage Vi read through C70 is smaller than the variable Vc, the process jumps to # 405 (# 413). If the integrated voltage Vi is equal to or greater than the variable Vc, 1 is subtracted from the variable Nc (# 414). If the result is equal to 0, it is determined that the repetition has been completed, and the process exits this routine. (# 415).

【００４３】以上の実施例ではＰＳＤ３の出力信号電流
の処理系統、すなわち増幅回路および積分回路は１系統
のみで、スイッチ４によって切り換えるものとしたが、
これを２系統以上で処理してもよい。In the above embodiment, the processing system for the output signal current of the PSD 3, that is, the amplifier circuit and the integration circuit are only one system and are switched by the switch 4.
This may be processed by two or more systems.

【００４４】また、ゲインの決定を第１の電流電圧変換
回路２０または第２の電流電圧変換回路３０のいずれか
のみで簡易に決定するものとすれば、ゲイン決定動作を
測距動作の先頭に組み込むことができ、測距時間がより
短縮できる。If the gain is determined simply by either the first current-to-voltage conversion circuit 20 or the second current-to-voltage conversion circuit 30, the gain determination operation is placed at the beginning of the distance measurement operation. The distance measurement time can be further shortened.

【００４５】また、以上の実施例では測距精度を優先す
るために、変数ＤｆとＤｎのうち大きい方を変数Ｄｖに
代入しているが、小さい方を代入するようにしてもよ
い。この場合は測距時間がより短縮される結果となる。In the above embodiment, the larger one of the variables Df and Dn is substituted for the variable Dv in order to give priority to the ranging accuracy, but the smaller one may be substituted. In this case, the distance measurement time is further reduced.

【００４６】さらに、以上の実施例では測距の終了電圧
をＶ１〜Ｖ５の５レベル、測距の繰り返し回数をＮ１〜
Ｎ３の３レベルとして説明しているが、いずれもこの値
に限るものではなく、そのレベル数はそれぞれ実施に当
たって自由に変更できる。Further, in the above embodiment, the end voltage of ranging is five levels V1 to V5, and the number of repetitions of ranging is N1 to N1.
Although described as three levels of N3, none of them is limited to this value, and the number of levels can be freely changed in each implementation.

【００４７】[0047]

【発明の効果】被写体へパルス光を照射する投光手段
と、前記投光手段の照射光が被写体で反射する光を受光
する受光手段と、前記受光手段の出力電流を電圧に変換
する電流電圧変換回路と、前記電流電圧変換回路の出力
信号を増幅する増幅回路と、外部信号により放電可能な
電荷蓄積手段を含み前記増幅回路の出力信号を積分する
積分回路と、複数の参照電圧を発生する電圧発生手段
と、前記参照電圧のいずれかを選択する電圧選択手段
と、前記電圧選択手段によって選択された電圧および前
記積分回路の出力を比較する比較手段と、前記投光手段
の投光開始から前記比較手段の出力が変化するまでの投
光回数をカウントするカウント手段と、測距動作に先立
つ投光動作に基づく前記積分回路の出力および前記カウ
ント手段の出力から測距時に使用する参照電圧および前
記積分回路の電荷蓄積素子の放電回数を算出する演算手
段とを備えているので、増幅回路のゲイン設定手段と、
それにかかわるＣＰＵの制御線を必要とせず、回路を単
純かつ小規模に構成することができ、とりわけ集積回路
上に構成することの多い測距回路では、スペース的にも
コスト的にも有利である。According to the present invention, light projecting means for irradiating a subject with pulsed light, light receiving means for receiving light reflected by the subject from the light emitted from the light projecting means, and current voltage for converting the output current of the light receiving means into a voltage A conversion circuit, an amplification circuit for amplifying an output signal of the current-voltage conversion circuit, an integration circuit including charge storage means capable of being discharged by an external signal and integrating the output signal of the amplification circuit, and generating a plurality of reference voltages. Voltage generating means, voltage selecting means for selecting any of the reference voltages, comparing means for comparing the voltage selected by the voltage selecting means and the output of the integrating circuit, Counting means for counting the number of light projections until the output of the comparing means changes; and ranging from the output of the integrating circuit and the output of the counting means based on the projection operation prior to the ranging operation. Since an arithmetic means for calculating the number of times of discharge of the charge storage elements of the reference voltage and the integrator circuit for use in, and gain setting means of the amplifier circuit,
The circuit does not require a control line for the CPU, and the circuit can be configured simply and on a small scale. This is advantageous in terms of space and cost, particularly in a distance measuring circuit often configured on an integrated circuit. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明の実施例を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of the present invention.

【図２】本発明の実施例の値Ｘから距離を求めるＲＯＭ
８２上のテーブルである。FIG. 2 is a ROM for calculating a distance from a value X according to an embodiment of the present invention;
82 is a table.

【図３】本発明の実施例のゲイン決定時の図１の要部の
動作を説明する動作図である。FIG. 3 is an operation diagram illustrating an operation of a main part of FIG. 1 when a gain is determined in the embodiment of the present invention.

【図４】本発明の実施例の回数ＮｆとＮｎの算出時の図
１の要部の動作を説明する動作図である。FIG. 4 is an operation diagram illustrating an operation of a main part of FIG. 1 when calculating the number of times Nf and Nn in the embodiment of the present invention.

【図５】本発明の実施例のゲイン決定の原理を示す説明
図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing a principle of determining a gain according to the embodiment of the present invention.

【図６】本発明の実施例のゲイン決定に関わるテーブル
である。FIG. 6 is a table related to a gain determination according to the embodiment of the present invention.

【図７】本発明の実施例のゲイン決定動作から測距動作
に至るタイミングチャートである。FIG. 7 is a timing chart from a gain determination operation to a distance measurement operation according to the embodiment of the present invention.

【図８】本発明の実施例のゲイン決定動作から測距動作
に至るタイミングチャートである。FIG. 8 is a timing chart from a gain determination operation to a distance measurement operation according to the embodiment of the present invention.

【図９】本発明の実施例の動作を示すフローチャートで
ある。FIG. 9 is a flowchart showing the operation of the embodiment of the present invention.

【図１０】図９のフローチャートの変数Ｄｆ算出の部分
のサブルーチンを示すフローチャートである。FIG. 10 is a flowchart showing a subroutine of a variable Df calculation part in the flowchart of FIG. 9;

【図１１】図９のフローチャートの変数Ｄｎ算出の部分
のサブルーチンを示すフローチャートである。11 is a flowchart showing a subroutine of a variable Dn calculation part of the flowchart of FIG. 9;

【図１２】図９のフローチャートの回数Ｎｆ算出の部分
のサブルーチンを示すフローチャートである。12 is a flowchart showing a subroutine of a part for calculating the number of times Nf in the flowchart of FIG. 9;

【図１３】図９のフローチャートの回数Ｎｎ算出の部分
のサブルーチンを示すフローチャートである。FIG. 13 is a flowchart showing a subroutine of a part for calculating the number of times Nn in the flowchart of FIG. 9;

【図１４】従来例を示す構成図である。FIG. 14 is a configuration diagram showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

３ ＰＳＤ １０ 投光回路 １４ ＩＲＥＤ ２０、３０ 第２の電流電圧変換回路 ４０ 増幅回路 ６０ 積分回路 Ｖ１〜Ｖ５ 参照電圧 Ｎｎ、Ｎｆ カウント手段 ８０ 演算手段（ＣＰＵ） Reference Signs List 3 PSD 10 Light emitting circuit 14 IRED 20, 30 Second current-voltage conversion circuit 40 Amplifying circuit 60 Integrating circuit V1 to V5 Reference voltage Nn, Nf Counting means 80 Operation means (CPU)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項１】被写体へパルス光を照射する投光手段と、
前記投光手段の照射光が被写体で反射する光を受光する
受光手段と、前記受光手段の出力電流を電圧に変換する
電流電圧変換回路と、前記電流電圧変換回路の出力信号
を増幅する増幅回路と、外部信号により放電可能な電荷
蓄積手段を含み前記増幅回路の出力信号を積分する積分
回路と、複数の参照電圧を発生する電圧発生手段と、前
記参照電圧のいずれかを選択する電圧選択手段と、前記
電圧選択手段によって選択された電圧および前記積分回
路の出力を比較する比較手段と、前記投光手段の投光開
始から前記比較手段の出力が変化するまでの投光回数を
カウントするカウント手段と、測距動作に先立つ投光動
作に基づく前記積分回路の出力および前記カウント手段
の出力から測距時に使用する参照電圧および前記積分回
路の電荷蓄積素子の放電回数を算出する演算手段とを有
することを特徴とするカメラ用測距装置。A light projecting means for irradiating a subject with pulsed light;
Light receiving means for receiving the light reflected by the subject from the light emitted from the light projecting means; a current-voltage conversion circuit for converting an output current of the light receiving means into a voltage; and an amplifier circuit for amplifying an output signal of the current-voltage conversion circuit An integration circuit that includes a charge storage unit that can be discharged by an external signal and integrates an output signal of the amplification circuit; a voltage generation unit that generates a plurality of reference voltages; and a voltage selection unit that selects one of the reference voltages Comparing means for comparing the voltage selected by the voltage selecting means with the output of the integrating circuit; and counting for counting the number of light projections from the start of light emission of the light emitting means until the output of the comparing means changes. Means, a reference voltage used at the time of distance measurement, and a charge storage element of the integration circuit based on an output of the integration circuit and an output of the counting means based on a light projecting operation prior to the distance measurement operation. Camera distance measuring apparatus characterized by having a calculating means for calculating the number of discharges.