JP3309491B2 - 蛍光ランプの検査方法 - Google Patents
蛍光ランプの検査方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は蛍光ランプの良否を判定
する検査方法に関するものである。
する検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】蛍光ランプの製造工程において、バルブ
の脱ガス加熱処理、電極コイルに塗布した熱電子放射物
質の活性化処理、排気処理等の処理が不十分であると、
ランプ内に不純ガスが残存することがあり、また封止不
良等によりランプ内に空気が侵入することもある。この
ようなランプは、正常な動作や性能を発揮できず始動不
良、発光不良、早期黒化や短寿命等の不具合を引き起こ
す。
の脱ガス加熱処理、電極コイルに塗布した熱電子放射物
質の活性化処理、排気処理等の処理が不十分であると、
ランプ内に不純ガスが残存することがあり、また封止不
良等によりランプ内に空気が侵入することもある。この
ようなランプは、正常な動作や性能を発揮できず始動不
良、発光不良、早期黒化や短寿命等の不具合を引き起こ
す。
【０００３】従来、このような不良ランプを発見し除去
するための方法として、ランプに高周波電力を加えてラ
ンプ内にグロー放電を起こさせ、ランプより放射される
光の強さやその光色を目視し、良品と比較してその良否
を判定する方法が知られている。しかし、このような目
視による良否判定は、個人差が大きく安定性に欠ける。
するための方法として、ランプに高周波電力を加えてラ
ンプ内にグロー放電を起こさせ、ランプより放射される
光の強さやその光色を目視し、良品と比較してその良否
を判定する方法が知られている。しかし、このような目
視による良否判定は、個人差が大きく安定性に欠ける。
【０００４】また、他の方法としては、３００ｎｍ〜４
００ｎｍの領域および５５０ｎｍ以上の可視領域のうち
いずれかの波長域の光強度と、波長４０５ｎｍ、波長４
３６ｎｍおよび波長５４６ｎｍの各水銀輝線を含むスペ
クトルの放射強度との強度比を所定値と比較し良否を判
定する方法（特公昭６３−３２２１３号公報）や、水銀
スペクトルの４０５ｎｍまたは４３６ｎｍの波長と、４
６０〜５１０ｎｍの波長との光強度比を求め、光強度比
を所定値と比較し良否を判定する方法（特公平３−２３
０４５３号公報）が知られている。
００ｎｍの領域および５５０ｎｍ以上の可視領域のうち
いずれかの波長域の光強度と、波長４０５ｎｍ、波長４
３６ｎｍおよび波長５４６ｎｍの各水銀輝線を含むスペ
クトルの放射強度との強度比を所定値と比較し良否を判
定する方法（特公昭６３−３２２１３号公報）や、水銀
スペクトルの４０５ｎｍまたは４３６ｎｍの波長と、４
６０〜５１０ｎｍの波長との光強度比を求め、光強度比
を所定値と比較し良否を判定する方法（特公平３−２３
０４５３号公報）が知られている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】これら２つの方法は、
生産工程中に、空気を主体とする不純ガスが残存または
侵入している蛍光ランプに高周波等の電力を加えグロー
放電させた場合、水銀輝線の発光スペクトル特に、４０
５ｎｍ、４３６ｎｍまたは５４６ｎｍ等の波長の発光強
度が、他の波長の発光強度に比して弱くなることから、
検出器を用いて両者の発光強度を測定し、その比を所定
値と比較する理にかなった判定方法といえる。
生産工程中に、空気を主体とする不純ガスが残存または
侵入している蛍光ランプに高周波等の電力を加えグロー
放電させた場合、水銀輝線の発光スペクトル特に、４０
５ｎｍ、４３６ｎｍまたは５４６ｎｍ等の波長の発光強
度が、他の波長の発光強度に比して弱くなることから、
検出器を用いて両者の発光強度を測定し、その比を所定
値と比較する理にかなった判定方法といえる。
【０００６】しかし、これらの方法は、近時、蛍光ラン
プに使用する蛍光体の種類も増加し、その種類によって
は強い発光を示す波長が異なり、上記した４０５ｎｍ、
４３６ｎｍまたは５４６ｎｍ等の水銀輝線と上記した３
００〜４００ｎｍ，５５０ｎｍ以上または４６０〜５１
０ｎｍの波長域の蛍光体の発光を使用して発光強度を測
定しようとしても、前記波長のうちどれか一つの蛍光体
の発光に固定すると、その部分に発光の主力が無いか、
または非常に弱いために、検出器の感度不足を生じる場
合があり、したがって、そのつど検出波長の違った検出
器を用意し、他の検出器に交換するという作業が必要と
なり、簡便性と精度に欠けるという問題があった。
プに使用する蛍光体の種類も増加し、その種類によって
は強い発光を示す波長が異なり、上記した４０５ｎｍ、
４３６ｎｍまたは５４６ｎｍ等の水銀輝線と上記した３
００〜４００ｎｍ，５５０ｎｍ以上または４６０〜５１
０ｎｍの波長域の蛍光体の発光を使用して発光強度を測
定しようとしても、前記波長のうちどれか一つの蛍光体
の発光に固定すると、その部分に発光の主力が無いか、
または非常に弱いために、検出器の感度不足を生じる場
合があり、したがって、そのつど検出波長の違った検出
器を用意し、他の検出器に交換するという作業が必要と
なり、簡便性と精度に欠けるという問題があった。
【０００７】本発明は、このような問題を解決するため
になされたもので、蛍光ランプの良否を簡便に正確に能
率良く判定することのできる蛍光ランプの検査方法を提
供するものである。
になされたもので、蛍光ランプの良否を簡便に正確に能
率良く判定することのできる蛍光ランプの検査方法を提
供するものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の蛍光ランプの検
査方法では、蛍光ランプに高周波電力を加え、前記蛍光
ランプ内にグロー放電を発生させ、前記蛍光ランプ外に
放射された光のうち、水銀輝線の４０５ｎｍまたは４３
６ｎｍまたは５４６ｎｍの波長と、アルゴンガスの８０
０ｎｍまたは８１２ｎｍまたは８２６ｎｍまたは８４２
ｎｍの波長との光強度比を所定値と比較し、その比較し
た値によって前記蛍光ランプの良否を判定するものであ
る。
査方法では、蛍光ランプに高周波電力を加え、前記蛍光
ランプ内にグロー放電を発生させ、前記蛍光ランプ外に
放射された光のうち、水銀輝線の４０５ｎｍまたは４３
６ｎｍまたは５４６ｎｍの波長と、アルゴンガスの８０
０ｎｍまたは８１２ｎｍまたは８２６ｎｍまたは８４２
ｎｍの波長との光強度比を所定値と比較し、その比較し
た値によって前記蛍光ランプの良否を判定するものであ
る。
【０００９】
【作用】生産工程中に、空気を主体とする不純ガスが残
存または侵入している不良品の蛍光ランプに高周波電力
を加え、グロー放電をさせた場合、水銀輝線の発光スペ
クトル特に、４０５ｎｍ、４３６ｎｍまたは５４６ｎｍ
の波長の発光強度が、他の波長の発光強度に比して弱く
なることが知られている。一方、いずれの光色の蛍光ラ
ンプにおいても封入されているアルゴンガスの発光スペ
クトルは上記蛍光ランプの水銀輝線の発光スペクトルと
異なり、かならず観測することができる。
存または侵入している不良品の蛍光ランプに高周波電力
を加え、グロー放電をさせた場合、水銀輝線の発光スペ
クトル特に、４０５ｎｍ、４３６ｎｍまたは５４６ｎｍ
の波長の発光強度が、他の波長の発光強度に比して弱く
なることが知られている。一方、いずれの光色の蛍光ラ
ンプにおいても封入されているアルゴンガスの発光スペ
クトルは上記蛍光ランプの水銀輝線の発光スペクトルと
異なり、かならず観測することができる。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を用い
て説明する。
て説明する。
【００１１】図４は３種類の光色を有する三波長型の蛍
光ランプに高周波電力を加えた場合のランプ外への放射
光の３８０ｎｍ〜８５０ｎｍまでの分光分布特性を示
す。この分光分布特性を測定解析する過程において発明
者は、各種光色の蛍光ランプではそれぞれに使用されて
いる蛍光体の種類とその配合率がそれぞれ異なるため主
力の発光を示す波長が異なることや、その発光強度が異
なることを確認すると同時に、各種光色の蛍光ランプに
共通して安定に発光する８００，８１２，８２６，８４
２ｎｍ等の波長を見い出した。そしてその波長を検討し
た結果、いずれの蛍光ランプにおいても封入されている
アルゴンガスの発光波長であることが分かった。つま
り、ランプの良否判定に、いずれの光色の蛍光ランプに
おいても封入されているアルゴンガスの発光波長域の光
強度を使用することができることを見い出した。
光ランプに高周波電力を加えた場合のランプ外への放射
光の３８０ｎｍ〜８５０ｎｍまでの分光分布特性を示
す。この分光分布特性を測定解析する過程において発明
者は、各種光色の蛍光ランプではそれぞれに使用されて
いる蛍光体の種類とその配合率がそれぞれ異なるため主
力の発光を示す波長が異なることや、その発光強度が異
なることを確認すると同時に、各種光色の蛍光ランプに
共通して安定に発光する８００，８１２，８２６，８４
２ｎｍ等の波長を見い出した。そしてその波長を検討し
た結果、いずれの蛍光ランプにおいても封入されている
アルゴンガスの発光波長であることが分かった。つま
り、ランプの良否判定に、いずれの光色の蛍光ランプに
おいても封入されているアルゴンガスの発光波長域の光
強度を使用することができることを見い出した。
【００１２】図１は本発明実施例の蛍光ランプの良品、
および不良品の各々のアルゴンガスの発光強度値を一定
にした三波長型蛍光ランプに高周波電力を加え、グロー
放電をさせた場合のランプ外への放射光の分光分布特性
を示す。図１において、曲線Ａは良品の蛍光ランプを、
曲線Ｂは不良品の蛍光ランプをそれぞれ示している。
および不良品の各々のアルゴンガスの発光強度値を一定
にした三波長型蛍光ランプに高周波電力を加え、グロー
放電をさせた場合のランプ外への放射光の分光分布特性
を示す。図１において、曲線Ａは良品の蛍光ランプを、
曲線Ｂは不良品の蛍光ランプをそれぞれ示している。
【００１３】図１から明らかなように、水銀輝線の発光
スペクトル特に、４０５ｎｍ，４３６ｎｍまたは５４６
ｎｍの波長の不良品での発光スペクトルが良品での発光
スペクトルに比して大幅に低下していることがわかる。
スペクトル特に、４０５ｎｍ，４３６ｎｍまたは５４６
ｎｍの波長の不良品での発光スペクトルが良品での発光
スペクトルに比して大幅に低下していることがわかる。
【００１４】図２は本発明にかかる蛍光ランプの検査装
置の一例を示しており、この蛍光ランプの検査装置は、
被測定物である蛍光ランプ１と、蛍光ランプ１に高周波
電力を加えるための高周波発生装置２と、蛍光ランプ１
から放射される水銀輝線の発光スペクトルの発光強度を
検出するための受光装置３と、蛍光ランプ１に封入され
たアルゴンガスの発光の発光強度を検出するための受光
装置４とを備えている。受光装置３内に設けられた受光
素子（図示せず）の前方には、水銀輝線である４３６ｎ
ｍの光を透過させる半値幅の狭いバンドパスフィルター
５を設け、一方受光装置４内に設けられた受光素子（図
示せず）の前方にはアルゴンガスの発光波長の８１２ｎ
ｍの光を透過させる半値幅の狭いバンドパスフィルター
６を設けている。これらの受光素子には温度特性に優れ
たシリコン受光素子が用いられている。バンドパスフィ
ルター５，６と受光装置３，４からなる検出器はアルゴ
ンガスの発光波長の検出だけを行えば良いため、蛍光体
の種類ごとに検出器を交換する必要がない。受光装置
３，４で光電変換された電気出力は増幅器７，８でそれ
ぞれ増幅され、この増幅された各出力値は比較演算判定
装置９に送られる。比較演算判定装置９は、増幅器７，
８からの出力値を入力値として受け取る入力部と、増幅
器７からの出力値を増幅器８からの出力値で除算し比率
とする演算部と、この比率と設定値とを比較してその比
較した値によって蛍光ランプ別に良否を判定を行う判定
部と、不良ランプ排出装置１０に信号を出力するための
出力部とを備えている。不良ランプ排出装置１０は、判
定部での判定結果を表示し、不良ランプの排出を行う。
置の一例を示しており、この蛍光ランプの検査装置は、
被測定物である蛍光ランプ１と、蛍光ランプ１に高周波
電力を加えるための高周波発生装置２と、蛍光ランプ１
から放射される水銀輝線の発光スペクトルの発光強度を
検出するための受光装置３と、蛍光ランプ１に封入され
たアルゴンガスの発光の発光強度を検出するための受光
装置４とを備えている。受光装置３内に設けられた受光
素子（図示せず）の前方には、水銀輝線である４３６ｎ
ｍの光を透過させる半値幅の狭いバンドパスフィルター
５を設け、一方受光装置４内に設けられた受光素子（図
示せず）の前方にはアルゴンガスの発光波長の８１２ｎ
ｍの光を透過させる半値幅の狭いバンドパスフィルター
６を設けている。これらの受光素子には温度特性に優れ
たシリコン受光素子が用いられている。バンドパスフィ
ルター５，６と受光装置３，４からなる検出器はアルゴ
ンガスの発光波長の検出だけを行えば良いため、蛍光体
の種類ごとに検出器を交換する必要がない。受光装置
３，４で光電変換された電気出力は増幅器７，８でそれ
ぞれ増幅され、この増幅された各出力値は比較演算判定
装置９に送られる。比較演算判定装置９は、増幅器７，
８からの出力値を入力値として受け取る入力部と、増幅
器７からの出力値を増幅器８からの出力値で除算し比率
とする演算部と、この比率と設定値とを比較してその比
較した値によって蛍光ランプ別に良否を判定を行う判定
部と、不良ランプ排出装置１０に信号を出力するための
出力部とを備えている。不良ランプ排出装置１０は、判
定部での判定結果を表示し、不良ランプの排出を行う。
【００１５】図３は、同一蛍光ランプについて上記の装
置で測定した、水銀輝線の４３６ｎｍの発光強度値をア
ルゴンガスの８１２ｎｍの発光強度値で除算した比率Ｒ
と、蛍光ランプの始動電圧値との関係を示している。こ
の図３から明らかなように、比率Ｒと始動電圧との間に
相関関係があり、比率Ｒが１５以下で、始動電圧が急激
に上昇していることがわかる。したがって、本発明によ
れば、比率Ｒと始動電圧との関係をみることによって、
蛍光ランプの良否の判定を従来の目視判定方法より高い
精度で行うことができるものである。
置で測定した、水銀輝線の４３６ｎｍの発光強度値をア
ルゴンガスの８１２ｎｍの発光強度値で除算した比率Ｒ
と、蛍光ランプの始動電圧値との関係を示している。こ
の図３から明らかなように、比率Ｒと始動電圧との間に
相関関係があり、比率Ｒが１５以下で、始動電圧が急激
に上昇していることがわかる。したがって、本発明によ
れば、比率Ｒと始動電圧との関係をみることによって、
蛍光ランプの良否の判定を従来の目視判定方法より高い
精度で行うことができるものである。
【００１６】具体例を示せば、比率Ｒが１５以下のもの
を不良品の判断基準として、１０００本の蛍光ランプに
ついて、良否判定を行った後、同一蛍光ランプについて
目視判定方法による良否判定を行ったところ、本発明方
法による蛍光ランプの良否判定が正確に行われているこ
とが確認できた。また、目視判定方法に比し大幅に短時
間にしかも簡便に蛍光ランプの良否判定ができることが
確認できた。
を不良品の判断基準として、１０００本の蛍光ランプに
ついて、良否判定を行った後、同一蛍光ランプについて
目視判定方法による良否判定を行ったところ、本発明方
法による蛍光ランプの良否判定が正確に行われているこ
とが確認できた。また、目視判定方法に比し大幅に短時
間にしかも簡便に蛍光ランプの良否判定ができることが
確認できた。
【００１７】上記実施例では、水銀輝線の４３６ｎｍの
発光強度値とアルゴンガスの８１２ｎｍの発光強度値を
用いた場合について説明したが、水銀輝線の４０５ｎｍ
または５４６ｎｍのいずれかの波長の発光強度値とアル
ゴンガスの７８０ｎｍ〜８５０ｎｍの範囲の例えば８０
０ｎｍ，８２６ｎｍまたは８４２ｎｍ等の波長域の発光
強度値とを適宜組合わせても上記と同様の効果が得られ
る。
発光強度値とアルゴンガスの８１２ｎｍの発光強度値を
用いた場合について説明したが、水銀輝線の４０５ｎｍ
または５４６ｎｍのいずれかの波長の発光強度値とアル
ゴンガスの７８０ｎｍ〜８５０ｎｍの範囲の例えば８０
０ｎｍ，８２６ｎｍまたは８４２ｎｍ等の波長域の発光
強度値とを適宜組合わせても上記と同様の効果が得られ
る。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の蛍光ラン
プの検査方法は、蛍光ランプに高周波電力を加え、蛍光
ランプ内にグロー放電を発生させ、蛍光ランプ外に放射
された光のうち、水銀輝線の４０５ｎｍまたは４３６ｎ
ｍまたは５４６ｎｍの波長と、アルゴンガスの８００ｎ
ｍまたは８１２ｎｍまたは８２６ｎｍまたは８４２ｎｍ
の波長との光強度比を所定値と比較し、その比較した値
によって蛍光ランプの良否を判定するため、蛍光ランプ
の良否判定を従来の目視判定方法より高い精度で行うこ
とができ、また良否判定を簡便化、さらには作業能率と
判定品質の大幅な向上を図ることができる。
プの検査方法は、蛍光ランプに高周波電力を加え、蛍光
ランプ内にグロー放電を発生させ、蛍光ランプ外に放射
された光のうち、水銀輝線の４０５ｎｍまたは４３６ｎ
ｍまたは５４６ｎｍの波長と、アルゴンガスの８００ｎ
ｍまたは８１２ｎｍまたは８２６ｎｍまたは８４２ｎｍ
の波長との光強度比を所定値と比較し、その比較した値
によって蛍光ランプの良否を判定するため、蛍光ランプ
の良否判定を従来の目視判定方法より高い精度で行うこ
とができ、また良否判定を簡便化、さらには作業能率と
判定品質の大幅な向上を図ることができる。
【図１】蛍光ランプの良品および不良品の分光分布特性
図
図
【図２】本発明実施例の蛍光ランプの検査方法の測定装
置のブロック図
置のブロック図
【図３】本発明実施例の蛍光ランプの検査方法における
蛍光ランプの始動電圧と水銀輝線の発光の４３６ｎｍの
発光強度値をアルゴンガスの発光の８１２ｎｍの発光強
度値で除算した比率Ｒとの相関図
蛍光ランプの始動電圧と水銀輝線の発光の４３６ｎｍの
発光強度値をアルゴンガスの発光の８１２ｎｍの発光強
度値で除算した比率Ｒとの相関図
【図４】３種類の三波長型蛍光ランプの分光分布特性図
１ 蛍光ランプ ２ 高周波発生装置 ３，４ 受光装置 ５，６ バンドパスフィルター ７，８ 増幅器 ９ 比較演算判定装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−213240（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−3345（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H01J 9/42
Claims (1)
- 【請求項１】 蛍光ランプに高周波電力を加え、前記蛍
光ランプ内にグロー放電を発生させ、前記蛍光ランプ外
に放射された光のうち、水銀輝線の４０５ｎｍまたは４
３６ｎｍまたは５４６ｎｍの波長と、アルゴンガスの８
００ｎｍまたは８１２ｎｍまたは８２６ｎｍまたは８４
２ｎｍの波長との光強度比を所定値と比較し、その比較
した値によって前記蛍光ランプの良否を判定することを
特徴とする蛍光ランプの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12393393A JP3309491B2 (ja) | 1993-05-26 | 1993-05-26 | 蛍光ランプの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12393393A JP3309491B2 (ja) | 1993-05-26 | 1993-05-26 | 蛍光ランプの検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06333502A JPH06333502A (ja) | 1994-12-02 |
| JP3309491B2 true JP3309491B2 (ja) | 2002-07-29 |
Family
ID=14872950
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12393393A Expired - Fee Related JP3309491B2 (ja) | 1993-05-26 | 1993-05-26 | 蛍光ランプの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3309491B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3042551B2 (ja) * | 1991-08-23 | 2000-05-15 | 三菱マテリアル株式会社 | 超電導線の製造方法 |
| KR100530979B1 (ko) * | 1998-05-20 | 2006-02-28 | 삼성전자주식회사 | 액정표시장치의 백라이트용 램프 불량 선별방법 |
| KR100413681B1 (ko) * | 2001-02-24 | 2003-12-31 | 삼성전자주식회사 | 램프 제어장치 및 그 방법 |
-
1993
- 1993-05-26 JP JP12393393A patent/JP3309491B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06333502A (ja) | 1994-12-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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