JP3294899B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JP3294899B2 JP3294899B2 JP10392493A JP10392493A JP3294899B2 JP 3294899 B2 JP3294899 B2 JP 3294899B2 JP 10392493 A JP10392493 A JP 10392493A JP 10392493 A JP10392493 A JP 10392493A JP 3294899 B2 JP3294899 B2 JP 3294899B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＬＤ−ＲＯＭ（Laser
Disk-Read Only Memory）等の再生専用ディスクの再生
及びＬＤＲ（Laser Disk Recordable）等の記録可能デ
ィスクの記録再生を行う光ディスクプレーヤ（ＬＤプレ
ーヤ）に代表される光ディスク装置にする。
Disk-Read Only Memory）等の再生専用ディスクの再生
及びＬＤＲ（Laser Disk Recordable）等の記録可能デ
ィスクの記録再生を行う光ディスクプレーヤ（ＬＤプレ
ーヤ）に代表される光ディスク装置にする。
【０００２】
【従来の技術】従来より、ディスクの種類を検出し、記
録可能ディスク及び再生専用ディスクの双方を再生可能
な、いわゆるコンパチブルタイプの光学情報の再生装置
は存在しなかった。
録可能ディスク及び再生専用ディスクの双方を再生可能
な、いわゆるコンパチブルタイプの光学情報の再生装置
は存在しなかった。
【０００３】一般的に、ユーザが自由に記録再生可能な
光ディスクとしては、１回書き込み可能な色素金属系、
及び再書き込み可能な光磁気型、並びに相変化型等があ
る。現在までのところ、このような光ディスクはＣＤＲ
（Compact Disk Recordable）のみであるが、近い将来
ＬＤＲ（Laser Disk Recordsable）、記録再生波長など
の異なる高密度記録再生ディスク等の記録再生可能な光
ディスクが登場しうるものと考えられる。また、ＯＭＤ
Ｄ（Optical Memory Disk Drive ）、ＶＤＲ（Video Di
sk recorder ）等の記録再生可能な光ディスクもある
が、これらの場合には光ディスクが予めケース内に格納
され、ケースの外部にディスクの種類検出用の穴が設け
られている。
光ディスクとしては、１回書き込み可能な色素金属系、
及び再書き込み可能な光磁気型、並びに相変化型等があ
る。現在までのところ、このような光ディスクはＣＤＲ
（Compact Disk Recordable）のみであるが、近い将来
ＬＤＲ（Laser Disk Recordsable）、記録再生波長など
の異なる高密度記録再生ディスク等の記録再生可能な光
ディスクが登場しうるものと考えられる。また、ＯＭＤ
Ｄ（Optical Memory Disk Drive ）、ＶＤＲ（Video Di
sk recorder ）等の記録再生可能な光ディスクもある
が、これらの場合には光ディスクが予めケース内に格納
され、ケースの外部にディスクの種類検出用の穴が設け
られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ディスクケー
スを有していないディスクの場合、従来の光学情報の再
生装置では、ディスクの種類を検出することができず、
予めユーザがディスクの種類を入力しなければならなか
った。
スを有していないディスクの場合、従来の光学情報の再
生装置では、ディスクの種類を検出することができず、
予めユーザがディスクの種類を入力しなければならなか
った。
【０００５】本発明は、ディスクの種類を自動的に検出
することのできる光学情報の再生装置を提供することを
目的としている。
することのできる光学情報の再生装置を提供することを
目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光ディスク
装置は、装着された光ディスクに対して記録又は再生が
可能な光ディスク装置において、前記光ディスクに情報
を記録又は再生するための第１の光ビームを前記光ディ
スクに照射する光ピックアップと、前記光ディスクの傾
きを検出するための前記第１の光ビームより波長が大き
い第２の光ビームを前記光ディスクに照射するチルトセ
ンサと、前記光ピックアップが照射した第１の光ビーム
と、前記チルトセンサが照射した前記第２の光ビームと
に対する前記光ディスクの反射率を検出する反射率検出
手段と、前記反射率検出手段が検出したそれぞれの反射
率を示す出力信号に基づいて、前記光ディスクが再生専
用光ディスク、色素系光ディスク又は相変化型光ディス
クであるかを判定するディスク判定手段とを備えてい
る。
装置は、装着された光ディスクに対して記録又は再生が
可能な光ディスク装置において、前記光ディスクに情報
を記録又は再生するための第１の光ビームを前記光ディ
スクに照射する光ピックアップと、前記光ディスクの傾
きを検出するための前記第１の光ビームより波長が大き
い第２の光ビームを前記光ディスクに照射するチルトセ
ンサと、前記光ピックアップが照射した第１の光ビーム
と、前記チルトセンサが照射した前記第２の光ビームと
に対する前記光ディスクの反射率を検出する反射率検出
手段と、前記反射率検出手段が検出したそれぞれの反射
率を示す出力信号に基づいて、前記光ディスクが再生専
用光ディスク、色素系光ディスク又は相変化型光ディス
クであるかを判定するディスク判定手段とを備えてい
る。
【０００７】
【作用】上記本発明の構成によれば、光ピックアップが
照射した第１の光ビームと、チルトセンサが照射した第
２の光ビームとに対する光ディスクの反射率を示す出力
信号に基づいて、光ディスクが再生専用光ディスク、色
素系光ディスク又は相変化型光ディスクであるかを判定
する。
照射した第１の光ビームと、チルトセンサが照射した第
２の光ビームとに対する光ディスクの反射率を示す出力
信号に基づいて、光ディスクが再生専用光ディスク、色
素系光ディスク又は相変化型光ディスクであるかを判定
する。
【０００８】
【実施例】以下、図面を参照して本発明を実施例につき
説明する。なお、図面中、同一の構成要素には同一の参
照番号を付す。
説明する。なお、図面中、同一の構成要素には同一の参
照番号を付す。
【０００９】図１は、本発明による光学情報の再生装置
におけるディスクの反射率検出装置及びディスクの種類
判定回路の第１の実施例を示す図である。ここでは、一
例として３種類の波長の光を使用し、これら３種類の波
長の光に対するディスクの反射率を測定し、ディスクの
種類を判定する。３種類の波長のうち２種類は、光学的
情報を記録再生する為の光ピックアップ３のＤＣ出力１
５（７８０ｎｍ）と、ディスクの傾きを検出する為の
チルトセンサ２の受光素子の一方または双方のＤＣ出力
１３（９５０ｎｍ）とを使用する。これら２種類の波
長（７８０ｎｍ，９５０ｎｍ）以外の波長として，６６
０ｎｍのＬＥＤを使用した。ディスクの種類に応じて他
の種類の波長を使用することもできる。
におけるディスクの反射率検出装置及びディスクの種類
判定回路の第１の実施例を示す図である。ここでは、一
例として３種類の波長の光を使用し、これら３種類の波
長の光に対するディスクの反射率を測定し、ディスクの
種類を判定する。３種類の波長のうち２種類は、光学的
情報を記録再生する為の光ピックアップ３のＤＣ出力１
５（７８０ｎｍ）と、ディスクの傾きを検出する為の
チルトセンサ２の受光素子の一方または双方のＤＣ出力
１３（９５０ｎｍ）とを使用する。これら２種類の波
長（７８０ｎｍ，９５０ｎｍ）以外の波長として，６６
０ｎｍのＬＥＤを使用した。ディスクの種類に応じて他
の種類の波長を使用することもできる。
【００１０】図１において、チルトセンサ２の一方の出
力信号は、オペアンプ７を介して増幅され、ディスクの
傾き検出用として出力端子１２に供給される。また、チ
ルトセンサ２の他方の出力は、オペアンプ８を介して増
幅され、ディスクの種類検出用のＤＣ出力信号として
演算回路１７に供給される。また、光ピックアップ３か
らの一方の出力信号（各サーボ出力信号及びＲＦ出力信
号）は、オペアンプ９を介して増幅され、出力端子１４
に供給され、他方の出力信号（ディスクの種類検出用の
ＤＣ出力信号）は、オペアンプ１０によって増幅さ
れ、演算回路１７に供給される。更に、ディスク１によ
って反射された、ＬＥＤ（Light Emittingdiode :発光
素子）からの光が、ＰＤ（Passive Device：受光素子）
によって測定され、当該反射率を示す検出信号が、セン
サ６からオペアンプ１１を介して、ディスクの種類検出
用のＤＣ出力信号として演算回路１７に供給される。
なお、図２に示すように，ＬＥＤとＰＤとに角度をもた
せ、ディスク表面における反射光が拡散し、ディスクか
らの反射光をＰＤに効率よく入射できるようにすること
もできる。各々３種類の波長に対するディスク記録媒体
における光の反射率に比例する各ＤＣ出力信号が、演算
回路１７に入力される。演算回路１７は、ＤＣ出力信号
〜から記録媒体における３種類波長の光の反射率を
計算し、これらの反射率を示す出力信号が、ディスクの
種類検出回路１８に供給され、各ディスクの種類を判定
できる。なお、各ＤＣ出力のＤＣアンプゲインは、反射
率が直接比較できるように、各々調整しておくこともで
きる。
力信号は、オペアンプ７を介して増幅され、ディスクの
傾き検出用として出力端子１２に供給される。また、チ
ルトセンサ２の他方の出力は、オペアンプ８を介して増
幅され、ディスクの種類検出用のＤＣ出力信号として
演算回路１７に供給される。また、光ピックアップ３か
らの一方の出力信号（各サーボ出力信号及びＲＦ出力信
号）は、オペアンプ９を介して増幅され、出力端子１４
に供給され、他方の出力信号（ディスクの種類検出用の
ＤＣ出力信号）は、オペアンプ１０によって増幅さ
れ、演算回路１７に供給される。更に、ディスク１によ
って反射された、ＬＥＤ（Light Emittingdiode :発光
素子）からの光が、ＰＤ（Passive Device：受光素子）
によって測定され、当該反射率を示す検出信号が、セン
サ６からオペアンプ１１を介して、ディスクの種類検出
用のＤＣ出力信号として演算回路１７に供給される。
なお、図２に示すように，ＬＥＤとＰＤとに角度をもた
せ、ディスク表面における反射光が拡散し、ディスクか
らの反射光をＰＤに効率よく入射できるようにすること
もできる。各々３種類の波長に対するディスク記録媒体
における光の反射率に比例する各ＤＣ出力信号が、演算
回路１７に入力される。演算回路１７は、ＤＣ出力信号
〜から記録媒体における３種類波長の光の反射率を
計算し、これらの反射率を示す出力信号が、ディスクの
種類検出回路１８に供給され、各ディスクの種類を判定
できる。なお、各ＤＣ出力のＤＣアンプゲインは、反射
率が直接比較できるように、各々調整しておくこともで
きる。
【００１１】図３に、図１に示す演算回路１７の回路構
成を示す。各ＤＣ出力信号、及びは、それぞれ、
差動増幅記（２１〜２６）の反転入力端子に供給され、
それぞれの波長の光の反射率が３つのレベルに分類され
る。ここでは、一例として３つのレベルに分類したが、
取り扱うディスクの種類に応じて分類数を変更できる。
また、コンパレータ（２１，２３，２５）の非反転入力
端子には、しきい値を規定する電圧Ｖ1 が供給され、コ
ンパレータ（２２，２４，２６）の非反転入力端子に
は、しきい値を規定する電圧Ｖ2 が供給される。各差動
増幅器（２１及び２２，２３及び２４，２５及び２６）
の出力は、それぞれディスクの反射率判定回路２７，２
８，２９に供給され、各反射率判定回路（２７，２８，
２９）の出力が、ディスクの種類検出回路１８に供給さ
れる。
成を示す。各ＤＣ出力信号、及びは、それぞれ、
差動増幅記（２１〜２６）の反転入力端子に供給され、
それぞれの波長の光の反射率が３つのレベルに分類され
る。ここでは、一例として３つのレベルに分類したが、
取り扱うディスクの種類に応じて分類数を変更できる。
また、コンパレータ（２１，２３，２５）の非反転入力
端子には、しきい値を規定する電圧Ｖ1 が供給され、コ
ンパレータ（２２，２４，２６）の非反転入力端子に
は、しきい値を規定する電圧Ｖ2 が供給される。各差動
増幅器（２１及び２２，２３及び２４，２５及び２６）
の出力は、それぞれディスクの反射率判定回路２７，２
８，２９に供給され、各反射率判定回路（２７，２８，
２９）の出力が、ディスクの種類検出回路１８に供給さ
れる。
【００１２】次に、演算回路１７の動作を説明する。説
明を簡単にするため、ＤＣ出力信号の処理動作につい
てのみ説明し、ＤＣ出力及びＤＣ出力の説明につい
ては省略する。ここで、電圧Ｖ1 が、ディスクに対する
光の反射率が５０％の時のしきい値であり、電圧Ｖ
2 が、ディスクに対する光の反射率３０％の時のしきい
値であり、ＤＣ出力の大きさは光の反射率が増大する
につれて大きくなるものとする。以下に、それぞれの反
射率の範囲の場合の信号の大きさを示す。 Ｉ）ＤＣ出力信号が、反射率０〜３０％を示す検出信
号の場合 ［検出信号の大きさ］＜［電圧Ｖ2 ］＜［電圧Ｖ1 ］ であり、差動増幅器２１及び２２の出力はともに＋Ｖ
（ハイレベル）となり、これらの信号レベルが反射率判
定回路２７に供給される。 II）ＤＣ出力信号が、反射率３０〜５０％を示す検出
信号の場合 ［電圧Ｖ2 ］＜［検出信号の大きさ］＜［電圧Ｖ1 ］ であり、差動増幅器２１の出力が＋Ｖ（ハイレベル）、
差動増幅器２２の出力がーＶ（ローレベル）となり、こ
れらの信号レベルが反射率判定回路２７に供給される。 III ）ＤＣ出力信号が、反射率０〜３０％を示す検出
信号の場合 ［電圧Ｖ2 ］＜［電圧Ｖ1 ］＜［検出信号の大きさ］ であり、差動増幅器２１及び２２の出力はともにーＶ
（ローレベル）となり、これらの信号レベルが反射率判
定回路２７に供給される。反射率判定回路２７は、図４
に示す変換テーブルに従って、各反射率に応じてＸ，
Ｙ，Ｚの３種類の信号をディスクの種類検出回路１８に
供給する。（ここで、反射率の区分も状況に応じて変更
することができる。）反射率判定回路２８，２９の動作
は、反射率検出回路２７の動作と同様である。
明を簡単にするため、ＤＣ出力信号の処理動作につい
てのみ説明し、ＤＣ出力及びＤＣ出力の説明につい
ては省略する。ここで、電圧Ｖ1 が、ディスクに対する
光の反射率が５０％の時のしきい値であり、電圧Ｖ
2 が、ディスクに対する光の反射率３０％の時のしきい
値であり、ＤＣ出力の大きさは光の反射率が増大する
につれて大きくなるものとする。以下に、それぞれの反
射率の範囲の場合の信号の大きさを示す。 Ｉ）ＤＣ出力信号が、反射率０〜３０％を示す検出信
号の場合 ［検出信号の大きさ］＜［電圧Ｖ2 ］＜［電圧Ｖ1 ］ であり、差動増幅器２１及び２２の出力はともに＋Ｖ
（ハイレベル）となり、これらの信号レベルが反射率判
定回路２７に供給される。 II）ＤＣ出力信号が、反射率３０〜５０％を示す検出
信号の場合 ［電圧Ｖ2 ］＜［検出信号の大きさ］＜［電圧Ｖ1 ］ であり、差動増幅器２１の出力が＋Ｖ（ハイレベル）、
差動増幅器２２の出力がーＶ（ローレベル）となり、こ
れらの信号レベルが反射率判定回路２７に供給される。 III ）ＤＣ出力信号が、反射率０〜３０％を示す検出
信号の場合 ［電圧Ｖ2 ］＜［電圧Ｖ1 ］＜［検出信号の大きさ］ であり、差動増幅器２１及び２２の出力はともにーＶ
（ローレベル）となり、これらの信号レベルが反射率判
定回路２７に供給される。反射率判定回路２７は、図４
に示す変換テーブルに従って、各反射率に応じてＸ，
Ｙ，Ｚの３種類の信号をディスクの種類検出回路１８に
供給する。（ここで、反射率の区分も状況に応じて変更
することができる。）反射率判定回路２８，２９の動作
は、反射率検出回路２７の動作と同様である。
【００１３】図５〜１０に、６種類のディスクの分光反
射率を示す。図５は、アルミ製のディスク（再生専用デ
ィスク）の波長に対する分光反射率を示す図である。図
５より、ＤＣ出力（チルトセンサの出力：波長９５０
ｎｍ），ＤＣ出力（ピックアップの出力：波長７８０
ｎｍ）、及びＤＣ出力（ＬＥＤの出力：波長６６０ｎ
ｍ）に対する分光反射率は、それぞれ５０〜１００％の
範囲である。従って、アルミ製のディスクの場合、反射
率判定回路２７，２８及び２９は、それぞれ信号Ｚ，Ｚ
及びＺをディスクの種類検出回路１８に供給する。
射率を示す。図５は、アルミ製のディスク（再生専用デ
ィスク）の波長に対する分光反射率を示す図である。図
５より、ＤＣ出力（チルトセンサの出力：波長９５０
ｎｍ），ＤＣ出力（ピックアップの出力：波長７８０
ｎｍ）、及びＤＣ出力（ＬＥＤの出力：波長６６０ｎ
ｍ）に対する分光反射率は、それぞれ５０〜１００％の
範囲である。従って、アルミ製のディスクの場合、反射
率判定回路２７，２８及び２９は、それぞれ信号Ｚ，Ｚ
及びＺをディスクの種類検出回路１８に供給する。
【００１４】図６は、色素ディスク（ライトワンス）の
波長に対する分光反射率を示す図である。図６より、Ｄ
Ｃ出力（チルトセンサの出力：波長９５０ｎｍ），Ｄ
Ｃ出力（ピックアップの出力：波長７８０ｎｍ）、及
びＤＣ出力（ＬＥＤの出力：波長６６０ｎｍ）に対す
る分光反射率は、それぞれ５０〜１００％の範囲，３０
〜５０％の範囲、及び０〜３０％の範囲である。従っ
て、色素ディスク（ライトワンス）の場合、反射率判定
回路２７，２８及び２９から、それぞれ信号Ｚ，Ｙ及び
Ｘがディスクの種類検出回路１８に供給される。
波長に対する分光反射率を示す図である。図６より、Ｄ
Ｃ出力（チルトセンサの出力：波長９５０ｎｍ），Ｄ
Ｃ出力（ピックアップの出力：波長７８０ｎｍ）、及
びＤＣ出力（ＬＥＤの出力：波長６６０ｎｍ）に対す
る分光反射率は、それぞれ５０〜１００％の範囲，３０
〜５０％の範囲、及び０〜３０％の範囲である。従っ
て、色素ディスク（ライトワンス）の場合、反射率判定
回路２７，２８及び２９から、それぞれ信号Ｚ，Ｙ及び
Ｘがディスクの種類検出回路１８に供給される。
【００１５】図７は、未記録相変化ディスクＡの波長に
対する分光反射率を示す図である。図７より、ＤＣ出力
（チルトセンサの出力：波長９５０ｎｍ），ＤＣ出力
（ピックアップの出力：波長７８０ｎｍ）、及びＤＣ
出力（ＬＥＤの出力：波長６６０ｎｍ）に対する分光
反射率は、それぞれ０〜３０％の範囲，３０〜５０％の
範囲、及び５０〜１００％の範囲である。従って、未記
録相変化ディスクＡの場合、反射率判定回路２７，２８
及び２９から、それぞれ信号Ｘ，Ｙ及びＺがディスクの
種類検出回路１８に供給される。
対する分光反射率を示す図である。図７より、ＤＣ出力
（チルトセンサの出力：波長９５０ｎｍ），ＤＣ出力
（ピックアップの出力：波長７８０ｎｍ）、及びＤＣ
出力（ＬＥＤの出力：波長６６０ｎｍ）に対する分光
反射率は、それぞれ０〜３０％の範囲，３０〜５０％の
範囲、及び５０〜１００％の範囲である。従って、未記
録相変化ディスクＡの場合、反射率判定回路２７，２８
及び２９から、それぞれ信号Ｘ，Ｙ及びＺがディスクの
種類検出回路１８に供給される。
【００１６】図８は、記録後相変化ディスクＡの波長に
対する分光反射率を示す図である。図８より、ＤＣ出力
（チルトセンサの出力：波長９５０ｎｍ），ＤＣ出力
（ピックアップの出力：波長７８０ｎｍ）、及びＤＣ
出力（ＬＥＤの出力：波長６６０ｎｍ）に対する分光
反射率は、それぞれ０〜３０％の範囲，０〜３０％の範
囲、及び３０〜５０％の範囲である。従って、記録後相
変化ディスクＡの場合、反射率判定回路２７，２８及び
２９から、それぞれ信号Ｘ，Ｘ及びＹがディスクの種類
検出回路１８に供給される。
対する分光反射率を示す図である。図８より、ＤＣ出力
（チルトセンサの出力：波長９５０ｎｍ），ＤＣ出力
（ピックアップの出力：波長７８０ｎｍ）、及びＤＣ
出力（ＬＥＤの出力：波長６６０ｎｍ）に対する分光
反射率は、それぞれ０〜３０％の範囲，０〜３０％の範
囲、及び３０〜５０％の範囲である。従って、記録後相
変化ディスクＡの場合、反射率判定回路２７，２８及び
２９から、それぞれ信号Ｘ，Ｘ及びＹがディスクの種類
検出回路１８に供給される。
【００１７】図９は、未記録相変化ディスクＢの波長に
対する分光反射率を示す図である。図９より、ＤＣ出力
（チルトセンサの出力：波長９５０ｎｍ），ＤＣ出力
（ピックアップの出力：波長７８０ｎｍ）、及びＤＣ
出力（ＬＥＤの出力：波長６６０ｎｍ）に対する分光
反射率は、それぞれ０〜３０％の範囲，３０〜５０％の
範囲、及び３０〜５０％の範囲である。従って、未記録
相変化ディスクＢの場合、反射率判定回路２７，２８及
び２９から、それぞれ信号Ｘ，Ｙ及びＹがディスクの種
類検出回路１８に供給される。
対する分光反射率を示す図である。図９より、ＤＣ出力
（チルトセンサの出力：波長９５０ｎｍ），ＤＣ出力
（ピックアップの出力：波長７８０ｎｍ）、及びＤＣ
出力（ＬＥＤの出力：波長６６０ｎｍ）に対する分光
反射率は、それぞれ０〜３０％の範囲，３０〜５０％の
範囲、及び３０〜５０％の範囲である。従って、未記録
相変化ディスクＢの場合、反射率判定回路２７，２８及
び２９から、それぞれ信号Ｘ，Ｙ及びＹがディスクの種
類検出回路１８に供給される。
【００１８】図１０は、記録後相変化ディスクＢの波長
に対する分光反射率を示す図である。図１０より、ＤＣ
出力（チルトセンサの出力：波長９５０ｎｍ），ＤＣ
出力（ピックアップの出力：波長７８０ｎｍ）、及び
ＤＣ出力（ＬＥＤの出力：波長６６０ｎｍ）に対する
分光反射率は、それぞれ３０〜５０％の範囲，０〜３０
％の範囲、及び３０〜５０％の範囲である。従って、記
録後相変化ディスクＢの場合、反射率判定回路２７，２
８及び２９から、それぞれ信号Ｙ，Ｘ及びＹがディスク
の種類検出回路１８に供給される。
に対する分光反射率を示す図である。図１０より、ＤＣ
出力（チルトセンサの出力：波長９５０ｎｍ），ＤＣ
出力（ピックアップの出力：波長７８０ｎｍ）、及び
ＤＣ出力（ＬＥＤの出力：波長６６０ｎｍ）に対する
分光反射率は、それぞれ３０〜５０％の範囲，０〜３０
％の範囲、及び３０〜５０％の範囲である。従って、記
録後相変化ディスクＢの場合、反射率判定回路２７，２
８及び２９から、それぞれ信号Ｙ，Ｘ及びＹがディスク
の種類検出回路１８に供給される。
【００１９】図５〜１０の結果をまとめたものを図１１
に示す。ディスクの種類検出回路１８は、例えば図１１
に示すディスク分類変換テーブルに従って、演算回路１
７内の反射率検出回路２７，２８，２９の出力信号がそ
れぞれＸ，Ｙ，Ｚのいづれかであるかに基づき、ディス
クの種類を判定し、ディスクの種類を示す信号を各サー
ボ系（フォーカスサーボ、トラッキングサーボ）に供給
する。
に示す。ディスクの種類検出回路１８は、例えば図１１
に示すディスク分類変換テーブルに従って、演算回路１
７内の反射率検出回路２７，２８，２９の出力信号がそ
れぞれＸ，Ｙ，Ｚのいづれかであるかに基づき、ディス
クの種類を判定し、ディスクの種類を示す信号を各サー
ボ系（フォーカスサーボ、トラッキングサーボ）に供給
する。
【００２０】上記実施例のように、記録再生ピックアッ
プ及びチルトセンサの出力を用いず、２色ＬＥＤを用い
てディスクの種類を判定することもできる。図１２に、
２色ＬＥＤとＰＤとを２組用いた場合の反射率測定装置
の平面図を示す。図１２において、２色ＬＥＤ３０と３
１とは、互いに異なる波長の光を発し、２色ＬＥＤ３０
からの光が、受光素子３２によって受信され、２色ＬＥ
Ｄ３１からの光が、受光素子３３によって受信される。
このような構成の反射率測定装置を用い、４種類の波長
に対するディスク記録媒体における光の反射率を測定す
ることができる。
プ及びチルトセンサの出力を用いず、２色ＬＥＤを用い
てディスクの種類を判定することもできる。図１２に、
２色ＬＥＤとＰＤとを２組用いた場合の反射率測定装置
の平面図を示す。図１２において、２色ＬＥＤ３０と３
１とは、互いに異なる波長の光を発し、２色ＬＥＤ３０
からの光が、受光素子３２によって受信され、２色ＬＥ
Ｄ３１からの光が、受光素子３３によって受信される。
このような構成の反射率測定装置を用い、４種類の波長
に対するディスク記録媒体における光の反射率を測定す
ることができる。
【００２１】また、上記変形例では、互いに異なる波長
の２色ＬＥＤを用いて４種類の波長の光を発生させてい
るが、多色ＬＥＤを用いて異なる波長の光を発生させる
こともできる。図１３に、３つの異なる波長の光を発生
させる多色ＬＥＤの構成を示す。図１３において、それ
ぞれ異なる波長のＬＥＤのカソードを共通にし、それぞ
れのアノードに電流を流すことによって異なる波長の光
を発生させている。ここでは、例示的に３個の異なる波
長のＬＥＤを用いているが、４個以上の異なる波長のＬ
ＥＤを用いることもできる。したがって、１つの多色Ｌ
ＥＤと１つの受光素子とを用いて数種類の波長に対する
ディスク記録媒体における光の反射率を測定することが
できる。
の２色ＬＥＤを用いて４種類の波長の光を発生させてい
るが、多色ＬＥＤを用いて異なる波長の光を発生させる
こともできる。図１３に、３つの異なる波長の光を発生
させる多色ＬＥＤの構成を示す。図１３において、それ
ぞれ異なる波長のＬＥＤのカソードを共通にし、それぞ
れのアノードに電流を流すことによって異なる波長の光
を発生させている。ここでは、例示的に３個の異なる波
長のＬＥＤを用いているが、４個以上の異なる波長のＬ
ＥＤを用いることもできる。したがって、１つの多色Ｌ
ＥＤと１つの受光素子とを用いて数種類の波長に対する
ディスク記録媒体における光の反射率を測定することが
できる。
【００２２】更に、受光素子を多分割し、その各々に各
波長のバンドパスフィルタを取り付けることによって、
各波長の光のＤＣ出力レベルを完全に分離することもで
きる。図１４に、各々異なる波長のバンドパスフィルタ
を備えている４分割された受光素子を示す。図１４に示
す受光素子は、４個の異なる波長のバンドパスフィルタ
Ａ、Ｂ、Ｃ及びＤを有し、それぞれのフィルタを透過す
る光の強度を示す信号がそれぞれオペアンプを介してＤ
Ｃ出力端子〜に供給される。
波長のバンドパスフィルタを取り付けることによって、
各波長の光のＤＣ出力レベルを完全に分離することもで
きる。図１４に、各々異なる波長のバンドパスフィルタ
を備えている４分割された受光素子を示す。図１４に示
す受光素子は、４個の異なる波長のバンドパスフィルタ
Ａ、Ｂ、Ｃ及びＤを有し、それぞれのフィルタを透過す
る光の強度を示す信号がそれぞれオペアンプを介してＤ
Ｃ出力端子〜に供給される。
【００２３】また、更に他の変形例では、各波長に対す
るディスク記録媒体反射率を時間分割で測定する。図１
５に、その一例を示す。図１５は、３個のＬＥＤからの
光の反射率を１個の受光素子で測定する場合である。こ
こでは、１００ｍｓｅｃ毎に各ＬＥＤからの光の反射率
を測定する。具体的には、受光素子は、０〜１００ｍｓ
ｅｃでは、ＬＥＤ１の反射光のみを受信し、その反射率
を示すＤＣ出力を出力し、１００〜２００ｍｓｅｃで
は、ＬＥＤ２の反射光のみを受信し、その反射率を示す
ＤＣ出力を出力し、２００〜３００ｍｓｅｃでは、Ｌ
ＥＤ３の反射光のみを受信し、その反射率を示すＤＣ出
力を出力する。
るディスク記録媒体反射率を時間分割で測定する。図１
５に、その一例を示す。図１５は、３個のＬＥＤからの
光の反射率を１個の受光素子で測定する場合である。こ
こでは、１００ｍｓｅｃ毎に各ＬＥＤからの光の反射率
を測定する。具体的には、受光素子は、０〜１００ｍｓ
ｅｃでは、ＬＥＤ１の反射光のみを受信し、その反射率
を示すＤＣ出力を出力し、１００〜２００ｍｓｅｃで
は、ＬＥＤ２の反射光のみを受信し、その反射率を示す
ＤＣ出力を出力し、２００〜３００ｍｓｅｃでは、Ｌ
ＥＤ３の反射光のみを受信し、その反射率を示すＤＣ出
力を出力する。
【００２４】
【発明の効果】本発明に係る光ディスク装置は、装着さ
れた光ディスクに対して記録又は再生が可能な光ディス
ク装置において、前記光ディスクに情報を記録又は再生
するための第１の光ビームを前記光ディスクに照射する
光ピックアップと、前記光ディスクの傾きを検出するた
めの前記第１の光ビームより波長が大きい第２の光ビー
ムを前記光ディスクに照射するチルトセンサと、前記光
ピックアップが照射した第１の光ビームと、前記チルト
センサが照射した前記第２の光ビームとに対する前記光
ディスクの反射率を検出する反射率検出手段と、前記反
射率検出手段が検出したそれぞれの反射率を示す出力信
号に基づいて、前記光ディスクが再生専用光ディスク、
色素系光ディスク又は相変化型光ディスクであるかを判
定するディスク判定手段とを備えている。これにより、
光ディスク装置は、光ピックアップ及びチルトセンサだ
けで、装着された光ディスクが再生専用光ディスクであ
るのか、色素系光ディスクであるのか、又は相変化型光
ディスクであるのかを判定することができる。更に、こ
のようにディスクの種類が判定されると、各サーボ（フ
ォーカスサーボ、トラッキングサーボ）ゲインの最適
化、及び記録可能光ディスクの場合には最適記録パワー
並びに最適記録デューティの決定を行うことができる。
れた光ディスクに対して記録又は再生が可能な光ディス
ク装置において、前記光ディスクに情報を記録又は再生
するための第１の光ビームを前記光ディスクに照射する
光ピックアップと、前記光ディスクの傾きを検出するた
めの前記第１の光ビームより波長が大きい第２の光ビー
ムを前記光ディスクに照射するチルトセンサと、前記光
ピックアップが照射した第１の光ビームと、前記チルト
センサが照射した前記第２の光ビームとに対する前記光
ディスクの反射率を検出する反射率検出手段と、前記反
射率検出手段が検出したそれぞれの反射率を示す出力信
号に基づいて、前記光ディスクが再生専用光ディスク、
色素系光ディスク又は相変化型光ディスクであるかを判
定するディスク判定手段とを備えている。これにより、
光ディスク装置は、光ピックアップ及びチルトセンサだ
けで、装着された光ディスクが再生専用光ディスクであ
るのか、色素系光ディスクであるのか、又は相変化型光
ディスクであるのかを判定することができる。更に、こ
のようにディスクの種類が判定されると、各サーボ（フ
ォーカスサーボ、トラッキングサーボ）ゲインの最適
化、及び記録可能光ディスクの場合には最適記録パワー
並びに最適記録デューティの決定を行うことができる。
【図１】本発明による光ディスク装置におけるディスク
の反射率検出装置及びディスクの種類判定回路の第１の
実施例を示す図である。
の反射率検出装置及びディスクの種類判定回路の第１の
実施例を示す図である。
【図２】ＬＥＤを用いた反射率測定装置を示す図であ
る。
る。
【図３】演算回路１７の構成を示す回路図である。
【図４】反射率検出回路の入力信号に対する出力信号の
変換テーブルを示す図である。
変換テーブルを示す図である。
【図５】アルミ製のディスク（再生専用ディスク）の分
光反射率を示す図である。
光反射率を示す図である。
【図６】色素ディスク（ライトワンス）の波長に対する
分光反射率を示す図である。
分光反射率を示す図である。
【図７】未記録相変化ディスクＡの波長に対する分光反
射率を示す図である。
射率を示す図である。
【図８】記録後相変化ディスクＡの波長に対する分光反
射率を示す図である。
射率を示す図である。
【図９】未記録相変化ディスクＣの波長に対する分光反
射率を示す図である。
射率を示す図である。
【図１０】記録後相変化ディスクＣの波長に対する分光
反射率を示す図である。
反射率を示す図である。
【図１１】ディスクの種類検出回路のディスク分類変換
テーブルを示す図である。
テーブルを示す図である。
【図１２】２色ＬＥＤを用いた場合の反射率測定装置の
平面図である。
平面図である。
【図１３】３つの異なる波長の光を発生させる多色ＬＥ
Ｄの構成を示す図である。
Ｄの構成を示す図である。
【図１４】各々異なる波長のバンドパスフィルタを備え
ている４分割された受光素子を示す図である。
ている４分割された受光素子を示す図である。
【図１５】時間分割で、各波長に対するディスク記録媒
体反射率を測定する方法の説明図である。
体反射率を測定する方法の説明図である。
１…ディスク ２…チルトセンサ ３…光ピックアップ ４…ＬＥＤ ５…ＰＤ ６…反射率測定装置 ７，８，９，１０，１１…オペアンプ １２…チルトセンサ出力 １３…ＤＣ出力 １４…各サーボＲＦ出力 １５…ＤＣ出力 １６…ＤＣ出力 １７…演算回路 １８…ディスクの種類検出回路 １９…各サーボ系
Claims (3)
- 【請求項１】 装着された光ディスクに対して記録又は
再生が可能な光ディスク装置において、前記光ディスクに情報を記録又は再生するための第１の
光ビームを前記光ディスクに照射する光ピックアップ
と、 前記光ディスクの傾きを検出するための前記第１の光ビ
ームより波長が大きい第２の光ビームを前記光ディスク
に照射するチルトセンサと、 前記光ピックアップが照射した第１の光ビームと、前記
チルトセンサが照射した前記第２の光ビームとに対する
前記光ディスクの反射率を検出する 反射率検出手段と、前記反射率検出手段が検出したそれぞれの反射率を示す
出力信号に基づいて、前記光ディスクが再生専用光ディ
スク、色素系光ディスク又は相変化型光ディスクである
かを 判定するディスク判定手段と を備えていることを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項２】 前記第１の光ビームより波長が小さい第
３の光ビームを前記光ディスクに照射する発光素子を備
え、 前記反射率検出手段は、前記第３の光ビームに対する前
記光ディスクの反射率を検出する ことを特徴とする請求
項１記載の光ディスク装置。 - 【請求項３】 前記ディスク判定手段は、前記反射率検
出手段が検出した前記第１の光ビーム、前記第２の光ビ
ーム及び前記第３の光ビームに対する前記光ディスクの
反射率を示す出力信号に基づいて、前記光ディスクが再
生専用光ディスク、色素系光ディスク、未記録相変化型
光ディスク又は記録後相変化型光ディスクであるかを判
定することを特徴とする請求項２記載の光ディスク装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10392493A JP3294899B2 (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10392493A JP3294899B2 (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06314465A JPH06314465A (ja) | 1994-11-08 |
| JP3294899B2 true JP3294899B2 (ja) | 2002-06-24 |
Family
ID=14366983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10392493A Expired - Fee Related JP3294899B2 (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3294899B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10233053A (ja) * | 1997-02-20 | 1998-09-02 | Alps Electric Co Ltd | ディスク判別装置およびディスク判別方法 |
| JP4226184B2 (ja) | 2000-02-28 | 2009-02-18 | パイオニア株式会社 | 情報記録媒体判別装置及び情報記録媒体判別方法 |
| JP3696044B2 (ja) | 2000-04-21 | 2005-09-14 | 松下電器産業株式会社 | 光ディスク装置とその光ディスク判別方法 |
| JP2004152452A (ja) * | 2002-10-31 | 2004-05-27 | Samsung Electro Mech Co Ltd | 光ディスク判別方法及び装置 |
| JP4769150B2 (ja) * | 2006-08-31 | 2011-09-07 | ソニーオプティアーク株式会社 | 光ディスク装置及び光ディスク装置のサーボ調整方法 |
| JP2008204575A (ja) * | 2007-02-22 | 2008-09-04 | D & M Holdings Inc | 光ディスク再生装置 |
-
1993
- 1993-04-30 JP JP10392493A patent/JP3294899B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06314465A (ja) | 1994-11-08 |
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