JP3292024B2 - 合成開口レーダの試験装置 - Google Patents
合成開口レーダの試験装置Info
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- JP3292024B2 JP3292024B2 JP03349996A JP3349996A JP3292024B2 JP 3292024 B2 JP3292024 B2 JP 3292024B2 JP 03349996 A JP03349996 A JP 03349996A JP 3349996 A JP3349996 A JP 3349996A JP 3292024 B2 JP3292024 B2 JP 3292024B2
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、人工衛星または
航空機から地表のマイクロ波画像を取得するレーダの一
種である合成開口レーダの試験装置に関するものであ
る。
航空機から地表のマイクロ波画像を取得するレーダの一
種である合成開口レーダの試験装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】図11は例えば久田、伊東他、「合成開
口レーダ研究モデル点像応答試験結果」(計測自動制御
学会主催第11回リモートセンシングシンポジウム、昭
和60年10月30日、31日)に示された従来の合成
開口レーダの試験装置を示すもので、図において1は被
試験体である合成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ
1との間で電波の送受を行うための一次放射器、3は上
記一次放射器2における送信、受信を切り換える送受切
換器、4は上記送受切換器3からの受信信号に対しパル
スごとに移相を変化させる移相器、5は上記移相器4か
らの出力信号を減衰させる減衰器、6は上記減衰器5か
らの出力信号を増幅し、上記送受切換器3、一次放射器
2経由で合成開口レーダ1へ電波を送信する増幅器であ
る。
口レーダ研究モデル点像応答試験結果」(計測自動制御
学会主催第11回リモートセンシングシンポジウム、昭
和60年10月30日、31日)に示された従来の合成
開口レーダの試験装置を示すもので、図において1は被
試験体である合成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ
1との間で電波の送受を行うための一次放射器、3は上
記一次放射器2における送信、受信を切り換える送受切
換器、4は上記送受切換器3からの受信信号に対しパル
スごとに移相を変化させる移相器、5は上記移相器4か
らの出力信号を減衰させる減衰器、6は上記減衰器5か
らの出力信号を増幅し、上記送受切換器3、一次放射器
2経由で合成開口レーダ1へ電波を送信する増幅器であ
る。
【0003】次に動作について説明する。合成開口レー
ダは、レーダのプラットフォームである航空機、或いは
人工衛星の動きを利用して等価的なアレーを時間的に合
成するものである。図12に合成開口レーダの原理を説
明する図を示す。図において1は合成開口レーダ、13
はレーダビーム、14は地表である。図に示すように合
成開口レーダ1は位置Bから位置Cへ移動する間地表1
4上の点Aを照射し続ける。従って点Bから点Cまでに
受信するデータを合成することによって等価的に長さB
Cの大きな開口を合成することが可能となる。この時、
長さBCを合成開口長、長さBCを移動するためにかか
る時間を合成開口時間という。これにより、合成開口レ
ーダではプラットフォームの進行方向と同じ方向に通常
のレーダ方式では得ることができない高分解能を得るこ
とができる。ただし、この高分解能を得るためには受信
信号に対し、各受信地点と観測地点との距離の変化を補
正する必要があり、このための信号処理回路を設ける必
要がある。この処理回路はしばしば大規模なものになる
ため、プラットフォーム上ではなく地上に設置すること
が多い。なお、この信号処理回路における位置補正処理
を以下合成開口処理と呼ぶ。以上に述べた合成開口レー
ダは、図12からわかるようにビーム幅を広げた方が合
成開口長が長くなるためアンテナ長を短くした方が理論
的な分解能は良くなる。原理的には分解能はアンテナ長
の1/2となる。なお、合成開口レーダにおいてプラッ
トフォームに垂直な方向の分解能は通常のレーダにおい
て採用されているパルス圧縮技術によって高分解能化が
実現されている。
ダは、レーダのプラットフォームである航空機、或いは
人工衛星の動きを利用して等価的なアレーを時間的に合
成するものである。図12に合成開口レーダの原理を説
明する図を示す。図において1は合成開口レーダ、13
はレーダビーム、14は地表である。図に示すように合
成開口レーダ1は位置Bから位置Cへ移動する間地表1
4上の点Aを照射し続ける。従って点Bから点Cまでに
受信するデータを合成することによって等価的に長さB
Cの大きな開口を合成することが可能となる。この時、
長さBCを合成開口長、長さBCを移動するためにかか
る時間を合成開口時間という。これにより、合成開口レ
ーダではプラットフォームの進行方向と同じ方向に通常
のレーダ方式では得ることができない高分解能を得るこ
とができる。ただし、この高分解能を得るためには受信
信号に対し、各受信地点と観測地点との距離の変化を補
正する必要があり、このための信号処理回路を設ける必
要がある。この処理回路はしばしば大規模なものになる
ため、プラットフォーム上ではなく地上に設置すること
が多い。なお、この信号処理回路における位置補正処理
を以下合成開口処理と呼ぶ。以上に述べた合成開口レー
ダは、図12からわかるようにビーム幅を広げた方が合
成開口長が長くなるためアンテナ長を短くした方が理論
的な分解能は良くなる。原理的には分解能はアンテナ長
の1/2となる。なお、合成開口レーダにおいてプラッ
トフォームに垂直な方向の分解能は通常のレーダにおい
て採用されているパルス圧縮技術によって高分解能化が
実現されている。
【0004】このような原理を有する合成開口レーダの
システム全系の試験を行うために、ターゲット発生器を
使用して点像応答を確認する手法が使用される。この方
法は合成開口レーダ1に対して十分Far Field
とみなせる遠く離れた位置に合成開口レーダからの電波
を受信し、所望の処理をした後に再び送り返すターゲッ
ト発生器を配置し、電波を空間に伝搬させて送受信する
ことによって試験を行うものである。合成開口レーダ1
から送信された電波はターゲット発生器の一次放射器2
において受信され、送受切換器3を経由して移相器4に
よって移相値を、減衰器5によって振幅値を変化させ、
増幅器6によって増幅した後、再び送受切換器3を経由
して一次放射器2から合成開口レーダ1に向かって送信
される。この際、あたかも合成開口レーダ1が飛行して
電波を受信しているようにするため、移相器4の移相及
び減衰器5における減衰量を衛星或いは航空機と地上の
ある1点間の距離のヒストリと同一にする。すなわち移
相値、減衰値を図13に示すように時間とともにパルス
ごとに変化させることによって飛行中に受信する1点か
らのターゲット信号を模擬する。図13は移相器4及び
減衰器5に設定する移相及び減衰量の時間特性を表した
もので、15は時間、16は移相量、17は減衰量であ
る。図13からわかるようにターゲットと合成開口レー
ダ1の距離は一度近づいて真横にきたときに最小距離と
なり、再び遠ざかる。合成開口レーダ1から送信された
電波は以上に説明したような処理が施された後に再度一
次放射器2にて送信される。この電波は合成開口レーダ
1によって受信され、合成開口処理が施されることによ
ってシステム全体の点像応答が評価されることになる。
システム全系の試験を行うために、ターゲット発生器を
使用して点像応答を確認する手法が使用される。この方
法は合成開口レーダ1に対して十分Far Field
とみなせる遠く離れた位置に合成開口レーダからの電波
を受信し、所望の処理をした後に再び送り返すターゲッ
ト発生器を配置し、電波を空間に伝搬させて送受信する
ことによって試験を行うものである。合成開口レーダ1
から送信された電波はターゲット発生器の一次放射器2
において受信され、送受切換器3を経由して移相器4に
よって移相値を、減衰器5によって振幅値を変化させ、
増幅器6によって増幅した後、再び送受切換器3を経由
して一次放射器2から合成開口レーダ1に向かって送信
される。この際、あたかも合成開口レーダ1が飛行して
電波を受信しているようにするため、移相器4の移相及
び減衰器5における減衰量を衛星或いは航空機と地上の
ある1点間の距離のヒストリと同一にする。すなわち移
相値、減衰値を図13に示すように時間とともにパルス
ごとに変化させることによって飛行中に受信する1点か
らのターゲット信号を模擬する。図13は移相器4及び
減衰器5に設定する移相及び減衰量の時間特性を表した
もので、15は時間、16は移相量、17は減衰量であ
る。図13からわかるようにターゲットと合成開口レー
ダ1の距離は一度近づいて真横にきたときに最小距離と
なり、再び遠ざかる。合成開口レーダ1から送信された
電波は以上に説明したような処理が施された後に再度一
次放射器2にて送信される。この電波は合成開口レーダ
1によって受信され、合成開口処理が施されることによ
ってシステム全体の点像応答が評価されることになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来の合成開口レーダ
の試験装置は、以上のように構成され、試験を行うため
に広大なスペースを必要としていた。例えばLバンドの
レーダの場合数km以上の距離が必要となる。また、屋
外で試験を行う必要があるため、外乱が混入し正確な測
定ができないという問題点を有していた。
の試験装置は、以上のように構成され、試験を行うため
に広大なスペースを必要としていた。例えばLバンドの
レーダの場合数km以上の距離が必要となる。また、屋
外で試験を行う必要があるため、外乱が混入し正確な測
定ができないという問題点を有していた。
【0006】また、従来の合成開口レーダの試験装置で
は固定レーダビーム角での試験しか実現することができ
ないという問題点を有していた。
は固定レーダビーム角での試験しか実現することができ
ないという問題点を有していた。
【0007】さらに、従来の合成開口レーダの試験装置
では単一の偏波における試験しか実現することができな
いという問題点を有していた。
では単一の偏波における試験しか実現することができな
いという問題点を有していた。
【0008】さらに、従来の合成開口レーダの試験装置
では単一の周波数における試験しか実現することができ
ないという問題点を有していた。
では単一の周波数における試験しか実現することができ
ないという問題点を有していた。
【0009】さらに、従来の合成開口レーダの試験装置
では観測幅を広げるためにビームを高速に走査するスキ
ャンSAR(Synthetic Aperture
Radar:合成開口レーダ)モードにおける試験が実
現することができないという問題点を有していた。即
ち、このスキャンSARモードではビーム位置を高速に
変化させるため、従来のような一式のアンテナで1ビー
ム位置のみしかカバーできない合成開口レーダの試験装
置では対応できないという問題点を有していた。
では観測幅を広げるためにビームを高速に走査するスキ
ャンSAR(Synthetic Aperture
Radar:合成開口レーダ)モードにおける試験が実
現することができないという問題点を有していた。即
ち、このスキャンSARモードではビーム位置を高速に
変化させるため、従来のような一式のアンテナで1ビー
ム位置のみしかカバーできない合成開口レーダの試験装
置では対応できないという問題点を有していた。
【0010】さらに、従来の合成開口レーダの試験装置
では1個のターゲットによる評価しかできないという問
題点を有していた。
では1個のターゲットによる評価しかできないという問
題点を有していた。
【0011】さらに、従来の合成開口レーダの試験装置
では外部校正源としてのアクティブレーダキャリブレー
タとしての機能を実現できないという問題点を有してい
た。
では外部校正源としてのアクティブレーダキャリブレー
タとしての機能を実現できないという問題点を有してい
た。
【0012】この発明はかかる課題を解決するためにな
されたものであり、広大な場所を必要としないで安定な
試験を実現することを目的としている。また、可変オフ
ナディア角、複数偏波、複数周波数、スキャンSARモ
ード、複数ターゲット、アクティブレーダキャリブレー
タへの対応を行うことも目的としている。
されたものであり、広大な場所を必要としないで安定な
試験を実現することを目的としている。また、可変オフ
ナディア角、複数偏波、複数周波数、スキャンSARモ
ード、複数ターゲット、アクティブレーダキャリブレー
タへの対応を行うことも目的としている。
【0013】
【課題を解決するための手段】第1の発明による合成開
口レーダの試験装置は、Near FieldとFar
Fieldの変換を行うための金属面オフセットパラ
ボラを設けたものである。
口レーダの試験装置は、Near FieldとFar
Fieldの変換を行うための金属面オフセットパラ
ボラを設けたものである。
【0014】また、第2の発明による合成開口レーダの
試験装置は、Near FieldとFar Fiel
dの変換を行うためのメッシュ面オフセットパラボラを
設けたものである。
試験装置は、Near FieldとFar Fiel
dの変換を行うためのメッシュ面オフセットパラボラを
設けたものである。
【0015】また、第3の発明による合成開口レーダの
試験装置は上記第1の発明による合成開口レーダの試験
装置に合成開口レーダのエレベーション方向の角度を可
変とするためのアンテナ回転台を設けたものである。
試験装置は上記第1の発明による合成開口レーダの試験
装置に合成開口レーダのエレベーション方向の角度を可
変とするためのアンテナ回転台を設けたものである。
【0016】また、第4の発明による合成開口レーダの
試験装置は上記第1の発明による合成開口レーダの試験
装置に偏波を分割するための偏分波器と、それぞれの偏
波を処理するための2式の移相器、減衰器、及び増幅器
を設けたものである。
試験装置は上記第1の発明による合成開口レーダの試験
装置に偏波を分割するための偏分波器と、それぞれの偏
波を処理するための2式の移相器、減衰器、及び増幅器
を設けたものである。
【0017】また、第5の発明による合成開口レーダの
試験装置は上記第1の発明による合成開口レーダの試験
装置に周波数を分割するための分波器と、それぞれの周
波数を処理するための2式の移相器、減衰器、及び増幅
器を設けたものである。
試験装置は上記第1の発明による合成開口レーダの試験
装置に周波数を分割するための分波器と、それぞれの周
波数を処理するための2式の移相器、減衰器、及び増幅
器を設けたものである。
【0018】また、第6の発明による合成開口レーダの
試験装置は上記第1の発明による合成開口レーダの試験
装置に周波数を分割するための分波器及び2式の偏分波
器、それぞれの周波数、偏波の信号を処理するための4
式の移相器、減衰器、及び増幅器を設けたものである。
試験装置は上記第1の発明による合成開口レーダの試験
装置に周波数を分割するための分波器及び2式の偏分波
器、それぞれの周波数、偏波の信号を処理するための4
式の移相器、減衰器、及び増幅器を設けたものである。
【0019】また、第7の発明による合成開口レーダの
試験装置は上記第1の発明による合成開口レーダの試験
装置に、3種類の角度におけるデータを取得できるよう
に一次放射器、移相器、減衰器、及び増幅器を2式設け
たものである。
試験装置は上記第1の発明による合成開口レーダの試験
装置に、3種類の角度におけるデータを取得できるよう
に一次放射器、移相器、減衰器、及び増幅器を2式設け
たものである。
【0020】また、第8の発明による合成開口レーダの
試験装置は同時に複数の偏波に対応するため、上記第1
の発明による合成開口レーダの試験装置に偏波を分割す
るための偏分波器と、偏波切換スイッチを設けたもので
ある。
試験装置は同時に複数の偏波に対応するため、上記第1
の発明による合成開口レーダの試験装置に偏波を分割す
るための偏分波器と、偏波切換スイッチを設けたもので
ある。
【0021】また、第9の発明による合成開口レーダの
試験装置は上記第1の発明による合成開口レーダの試験
装置に、2種類のターゲット信号を発生できるように信
号を遅らせるための遅延線と、2式の移相器、減衰器、
及び方向性結合器を設けたものである。
試験装置は上記第1の発明による合成開口レーダの試験
装置に、2種類のターゲット信号を発生できるように信
号を遅らせるための遅延線と、2式の移相器、減衰器、
及び方向性結合器を設けたものである。
【0022】また、第10の発明による合成開口レーダ
の試験装置は上記第9の発明による合成開口レーダの試
験装置から金属面オフセットパラボラを削除したもので
ある。
の試験装置は上記第9の発明による合成開口レーダの試
験装置から金属面オフセットパラボラを削除したもので
ある。
【0023】
実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1を示す図
であり、図において1は被試験体である合成開口レー
ダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波の送受を行
うための一次放射器、3は上記一次放射器2における送
信、受信を切り換える送受切換器、4は上記送受切換器
3からの受信信号に対しパルスごとに移相を変化させる
移相器、5は上記移相器4からの出力信号を減衰させる
減衰器、6は上記減衰器5からの出力信号を増幅し、上
記送受切換器3、一次放射器2経由で合成開口レーダ1
へ電波を送信する増幅器、7は合成開口レーダ1に入出
力される電波に対してNear FieldからFar
Fieldに変換するための金属面オフセットパラボ
ラである。上記のうち、合成開口レーダ1、一次放射器
2、送受切換器3、移相器4、減衰器5、増幅器6は従
来の合成開口レーダの試験装置と同等のものである。
であり、図において1は被試験体である合成開口レー
ダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波の送受を行
うための一次放射器、3は上記一次放射器2における送
信、受信を切り換える送受切換器、4は上記送受切換器
3からの受信信号に対しパルスごとに移相を変化させる
移相器、5は上記移相器4からの出力信号を減衰させる
減衰器、6は上記減衰器5からの出力信号を増幅し、上
記送受切換器3、一次放射器2経由で合成開口レーダ1
へ電波を送信する増幅器、7は合成開口レーダ1に入出
力される電波に対してNear FieldからFar
Fieldに変換するための金属面オフセットパラボ
ラである。上記のうち、合成開口レーダ1、一次放射器
2、送受切換器3、移相器4、減衰器5、増幅器6は従
来の合成開口レーダの試験装置と同等のものである。
【0024】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置においては、合成
開口レーダ1と一次放射器2間に配置した金属面オフセ
ットパラボラ7によって合成開口レーダ1の入出力を等
価的にFar Fieldとする。これは一次放射器2
を金属面オフセットパラボラ7の焦点位置に配置するこ
とによって、一次放射器2から金属面オフセットパラボ
ラ7へ向かう電波は金属面オフセットパラボラ7におい
て反射した後、光学におけるレンズの場合と同様に平行
な電波になって合成開口レーダ1に向かう。逆に、合成
開口レーダ1側から一次放射器2へ向かうパスも同一で
ある。従って、一次放射器2以降の機器はNear F
ieldに設置されているにもかかわらず、被試験体で
ある合成開口レーダ1にとっては平行電波となりFar
Fieldと等価の環境を実現することができる。こ
のようにFar Fieldに変換することによって合
成開口レーダ1と一次放射器2の距離を従来の数km以
上から数10m以内に抑えることが可能となるため、電
波暗室等の電波状態が管理された部屋で正確なレーダ測
定を行うことが可能となる。合成開口レーダ1から送信
された電波は金属面オフセットパラボラ7によってNe
ar Fieldの電波がFar Fieldに変換さ
れた後、パラボラの焦点に位置するターゲット発生器の
一次放射器2において受信される。この電波は従来の合
成開口レーダの試験装置と同様に送受切換器3を経由し
た後、移相器4によって移相値を、減衰器5によって振
幅値を変化させ、増幅器6によって増幅した後、再び送
受切換器3を経由して一次放射器2から金属面オフセッ
トパラボラ7に向かって送信される。この際、あたかも
合成開口レーダ1が飛行して電波を受信しているように
するため、従来の合成開口レーダ1における場合と同様
に移相器4の移相及び減衰器5における減衰量を衛星或
いは航空機と地上のある1点間の距離のヒストリと同一
にする。すなわち移相値、減衰値を図13に示すように
時間とともにパルスごとに変化させることによって飛行
中に受信する1点からのターゲット信号を模擬する。こ
の電波は金属面オフセットパラボラ7によって再びFa
r Fieldに変換され、合成開口レーダ1によって
受信され、合成開口処理が施されることによってシステ
ム全体の点像応答が評価されることになる。
構成された合成開口レーダの試験装置においては、合成
開口レーダ1と一次放射器2間に配置した金属面オフセ
ットパラボラ7によって合成開口レーダ1の入出力を等
価的にFar Fieldとする。これは一次放射器2
を金属面オフセットパラボラ7の焦点位置に配置するこ
とによって、一次放射器2から金属面オフセットパラボ
ラ7へ向かう電波は金属面オフセットパラボラ7におい
て反射した後、光学におけるレンズの場合と同様に平行
な電波になって合成開口レーダ1に向かう。逆に、合成
開口レーダ1側から一次放射器2へ向かうパスも同一で
ある。従って、一次放射器2以降の機器はNear F
ieldに設置されているにもかかわらず、被試験体で
ある合成開口レーダ1にとっては平行電波となりFar
Fieldと等価の環境を実現することができる。こ
のようにFar Fieldに変換することによって合
成開口レーダ1と一次放射器2の距離を従来の数km以
上から数10m以内に抑えることが可能となるため、電
波暗室等の電波状態が管理された部屋で正確なレーダ測
定を行うことが可能となる。合成開口レーダ1から送信
された電波は金属面オフセットパラボラ7によってNe
ar Fieldの電波がFar Fieldに変換さ
れた後、パラボラの焦点に位置するターゲット発生器の
一次放射器2において受信される。この電波は従来の合
成開口レーダの試験装置と同様に送受切換器3を経由し
た後、移相器4によって移相値を、減衰器5によって振
幅値を変化させ、増幅器6によって増幅した後、再び送
受切換器3を経由して一次放射器2から金属面オフセッ
トパラボラ7に向かって送信される。この際、あたかも
合成開口レーダ1が飛行して電波を受信しているように
するため、従来の合成開口レーダ1における場合と同様
に移相器4の移相及び減衰器5における減衰量を衛星或
いは航空機と地上のある1点間の距離のヒストリと同一
にする。すなわち移相値、減衰値を図13に示すように
時間とともにパルスごとに変化させることによって飛行
中に受信する1点からのターゲット信号を模擬する。こ
の電波は金属面オフセットパラボラ7によって再びFa
r Fieldに変換され、合成開口レーダ1によって
受信され、合成開口処理が施されることによってシステ
ム全体の点像応答が評価されることになる。
【0025】実施の形態2.図2はこの発明の実施の形
態2を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、4は上記
送受切換器3からの受信信号に対しパルスごとに移相を
変化させる移相器、5は上記移相器4からの出力信号を
減衰させる減衰器、6は上記減衰器5からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器3、一次放射器2経由で合成開
口レーダ1へ電波を送信する増幅器、8は合成開口レー
ダ1に入出力される電波に対してNear Field
からFar Fieldに変換するためのメッシュ面オ
フセットパラボラである。上記のうち、合成開口レーダ
1、一次放射器2、送受切換器3、移相器4、減衰器
5、増幅器6は従来の合成開口レーダの試験装置と同等
のものである。
態2を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、4は上記
送受切換器3からの受信信号に対しパルスごとに移相を
変化させる移相器、5は上記移相器4からの出力信号を
減衰させる減衰器、6は上記減衰器5からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器3、一次放射器2経由で合成開
口レーダ1へ電波を送信する増幅器、8は合成開口レー
ダ1に入出力される電波に対してNear Field
からFar Fieldに変換するためのメッシュ面オ
フセットパラボラである。上記のうち、合成開口レーダ
1、一次放射器2、送受切換器3、移相器4、減衰器
5、増幅器6は従来の合成開口レーダの試験装置と同等
のものである。
【0026】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1に
おける金属面オフセットパラボラ7をメッシュ面オフセ
ットパラボラ8に置き換えたものであり、動作は実施の
形態1と同じである。メッシュ面オフセットパラボラ8
は金属面に小さな穴を多数空けたもので、穴径がある一
定の大きさ以下であれば金属面オフセットパラボラ7と
全く同一の機能を有することができる。穴の分だけオフ
セットパラボラを構成する金属量が減少するため、軽量
化を実現することが可能である。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1に
おける金属面オフセットパラボラ7をメッシュ面オフセ
ットパラボラ8に置き換えたものであり、動作は実施の
形態1と同じである。メッシュ面オフセットパラボラ8
は金属面に小さな穴を多数空けたもので、穴径がある一
定の大きさ以下であれば金属面オフセットパラボラ7と
全く同一の機能を有することができる。穴の分だけオフ
セットパラボラを構成する金属量が減少するため、軽量
化を実現することが可能である。
【0027】実施の形態3.図3はこの発明の実施の形
態3を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、4は上記
送受切換器3からの受信信号に対しパルスごとに移相を
変化させる移相器、5は上記移相器4からの出力信号を
減衰させる減衰器、6は上記減衰器5からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器3、一次放射器2経由で合成開
口レーダ1へ電波を送信する増幅器、7は合成開口レー
ダ1に入出力される電波に対してNear Field
からFar Fieldに変換するための金属面オフセ
ットパラボラ、9は合成開口レーダ1のエレベーション
方向の角度を変化させることができるアンテナ回転台で
ある。上記のうち、合成開口レーダ1、一次放射器2、
送受切換器3、移相器4、減衰器5、増幅器6は従来の
合成開口レーダの試験装置と同等のものである。
態3を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、4は上記
送受切換器3からの受信信号に対しパルスごとに移相を
変化させる移相器、5は上記移相器4からの出力信号を
減衰させる減衰器、6は上記減衰器5からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器3、一次放射器2経由で合成開
口レーダ1へ電波を送信する増幅器、7は合成開口レー
ダ1に入出力される電波に対してNear Field
からFar Fieldに変換するための金属面オフセ
ットパラボラ、9は合成開口レーダ1のエレベーション
方向の角度を変化させることができるアンテナ回転台で
ある。上記のうち、合成開口レーダ1、一次放射器2、
送受切換器3、移相器4、減衰器5、増幅器6は従来の
合成開口レーダの試験装置と同等のものである。
【0028】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1に
対して合成開口レーダ1のエレベーション方向の角度を
変化させるためのアンテナ回転台9を付加したものであ
る。これはエレベーション方向に対してビーム走査を行
った状態で合成開口レーダ1のシステム試験を行うため
のもので、合成開口レーダ1がビーム走査を行ったエレ
ベーション角度だけアンテナ回転台9を逆にエレベーシ
ョン方向に回転させ、合成開口レーダ1を逆回転させる
ことによって最終的にはビームが水平に伝搬するように
する。このような補正を行う以外の動作は実施の形態1
と同じである。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1に
対して合成開口レーダ1のエレベーション方向の角度を
変化させるためのアンテナ回転台9を付加したものであ
る。これはエレベーション方向に対してビーム走査を行
った状態で合成開口レーダ1のシステム試験を行うため
のもので、合成開口レーダ1がビーム走査を行ったエレ
ベーション角度だけアンテナ回転台9を逆にエレベーシ
ョン方向に回転させ、合成開口レーダ1を逆回転させる
ことによって最終的にはビームが水平に伝搬するように
する。このような補正を行う以外の動作は実施の形態1
と同じである。
【0029】実施の形態4.図4はこの発明の実施の形
態4を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、10は送
受切換器3の入出力信号を偏波ごとに分配する偏分波
器、4aは偏分波器10からの水平偏波受信信号に対し
パルスごとに移相を変化させる第1の移相器、5aは上
記第1の移相器4aからの出力信号を減衰させる第1の
減衰器、6は上記第1の減衰器5aからの出力信号を増
幅し、上記偏分波器10、送受切換器3、一次放射器2
経由で合成開口レーダ1へ水平偏波の電波を送信する第
1の増幅器、4bは偏分波器10からの垂直偏波受信信
号に対しパルスごとに移相を変化させる第2の移相器、
5bは上記第2の移相器4bからの出力信号を減衰させ
る第2の減衰器、6bは上記第2の減衰器5bからの出
力信号を増幅し、上記偏分波器10、送受切換器3、一
次放射器2経由で合成開口レーダ1へ垂直偏波の電波を
送信する第2の増幅器、7は合成開口レーダ1に入出力
される電波に対してNear FieldからFar
Fieldに変換するための金属面オフセットパラボラ
である。
態4を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、10は送
受切換器3の入出力信号を偏波ごとに分配する偏分波
器、4aは偏分波器10からの水平偏波受信信号に対し
パルスごとに移相を変化させる第1の移相器、5aは上
記第1の移相器4aからの出力信号を減衰させる第1の
減衰器、6は上記第1の減衰器5aからの出力信号を増
幅し、上記偏分波器10、送受切換器3、一次放射器2
経由で合成開口レーダ1へ水平偏波の電波を送信する第
1の増幅器、4bは偏分波器10からの垂直偏波受信信
号に対しパルスごとに移相を変化させる第2の移相器、
5bは上記第2の移相器4bからの出力信号を減衰させ
る第2の減衰器、6bは上記第2の減衰器5bからの出
力信号を増幅し、上記偏分波器10、送受切換器3、一
次放射器2経由で合成開口レーダ1へ垂直偏波の電波を
送信する第2の増幅器、7は合成開口レーダ1に入出力
される電波に対してNear FieldからFar
Fieldに変換するための金属面オフセットパラボラ
である。
【0030】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1と
同様に合成開口レーダ1から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ7によってNear Fieldの電
波がFar Fieldに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器2において
受信される。この電波は送受切換器3を経由した後、偏
分波器10によって水平偏波電波と垂直偏波電波に分波
する。それぞれの偏波出力は実施の形態1と同様に水平
偏波については移相器4aによって移相値を、減衰器5
aによって振幅値を変化させ、増幅器6aによって増幅
した後、垂直偏波については移相器4bによって移相値
を、減衰器5bによって振幅値を変化させ、増幅器6b
によって増幅した後、再び偏分波器10によって水平偏
波の電波、垂直偏波の電波が合成され、送受切換器3を
経由して一次放射器2から金属面オフセットパラボラ7
に向かって送信される。この電波は金属面オフセットパ
ラボラ7によって再びFar Fieldに変換され、
合成開口レーダ1によって受信され、合成開口処理が施
されることによって水平偏波、垂直偏波を有する多偏波
合成開口レーダシステム全体の点像応答が同時に評価さ
れることになる。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1と
同様に合成開口レーダ1から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ7によってNear Fieldの電
波がFar Fieldに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器2において
受信される。この電波は送受切換器3を経由した後、偏
分波器10によって水平偏波電波と垂直偏波電波に分波
する。それぞれの偏波出力は実施の形態1と同様に水平
偏波については移相器4aによって移相値を、減衰器5
aによって振幅値を変化させ、増幅器6aによって増幅
した後、垂直偏波については移相器4bによって移相値
を、減衰器5bによって振幅値を変化させ、増幅器6b
によって増幅した後、再び偏分波器10によって水平偏
波の電波、垂直偏波の電波が合成され、送受切換器3を
経由して一次放射器2から金属面オフセットパラボラ7
に向かって送信される。この電波は金属面オフセットパ
ラボラ7によって再びFar Fieldに変換され、
合成開口レーダ1によって受信され、合成開口処理が施
されることによって水平偏波、垂直偏波を有する多偏波
合成開口レーダシステム全体の点像応答が同時に評価さ
れることになる。
【0031】実施の形態5.図5はこの発明の実施の形
態5を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、11は送
受切換器3の入出力信号を周波数ごとに分配する分波
器、4aは分波器11からの第1の周波数を有する受信
信号に対しパルスごとに移相を変化させる第1の移相
器、5aは上記第1の移相器4aからの出力信号を減衰
させる第1の減衰器、6aは上記第1の減衰器5aから
の出力信号を増幅し、上記分波器11、送受切換器3、
一次放射器2経由で合成開口レーダ1へ第1の周波数の
電波を送信する第1の増幅器、4bは分波器11からの
第2の周波数を有する受信信号に対しパルスごとに移相
を変化させる第2の移相器、5bは上記第2の移相器4
bからの出力信号を減衰させる第2の減衰器、6bは上
記第2の減衰器5bからの出力信号を増幅し、上記分波
器11、送受切換器3、一次放射器2経由で合成開口レ
ーダ1へ第2の周波数の電波を送信する増幅器、7は合
成開口レーダ1に入出力される電波に対してNear
FieldからFar Fieldに変換するための金
属面オフセットパラボラである。
態5を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、11は送
受切換器3の入出力信号を周波数ごとに分配する分波
器、4aは分波器11からの第1の周波数を有する受信
信号に対しパルスごとに移相を変化させる第1の移相
器、5aは上記第1の移相器4aからの出力信号を減衰
させる第1の減衰器、6aは上記第1の減衰器5aから
の出力信号を増幅し、上記分波器11、送受切換器3、
一次放射器2経由で合成開口レーダ1へ第1の周波数の
電波を送信する第1の増幅器、4bは分波器11からの
第2の周波数を有する受信信号に対しパルスごとに移相
を変化させる第2の移相器、5bは上記第2の移相器4
bからの出力信号を減衰させる第2の減衰器、6bは上
記第2の減衰器5bからの出力信号を増幅し、上記分波
器11、送受切換器3、一次放射器2経由で合成開口レ
ーダ1へ第2の周波数の電波を送信する増幅器、7は合
成開口レーダ1に入出力される電波に対してNear
FieldからFar Fieldに変換するための金
属面オフセットパラボラである。
【0032】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1と
同様に合成開口レーダ1から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ7によってNear Fieldの電
波がFar Fieldに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器2において
受信される。この電波は送受切換器3を経由した後、分
波器11によって第1の周波数と第2の周波数の2つの
電波に分波する。それぞれの周波数を有する電波出力は
実施の形態1と同様に第1の周波数については移相器4
によって移相値を、減衰器5によって振幅値を変化さ
せ、増幅器6によって増幅した後、第2の周波数につい
ては移相器4bによって移相値を、減衰器5bによって
振幅値を変化させ、増幅器6bによって増幅した後、再
び分波器11によって第1の周波数を有する電波、第2
の周波数を有する電波が合成され、送受切換器3を経由
して一次放射器2から金属面オフセットパラボラ7に向
かって送信される。この電波は金属面オフセットパラボ
ラ7によって再びFar Fieldに変換され、合成
開口レーダ1によって受信され、合成開口処理が施され
ることによって複数周波数合成開口レーダシステム全体
の点像応答が同時に評価されることになる。なお、この
例では周波数の数を2としたが、この数は分波器を追加
することによって任意の値に増加させることができる。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1と
同様に合成開口レーダ1から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ7によってNear Fieldの電
波がFar Fieldに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器2において
受信される。この電波は送受切換器3を経由した後、分
波器11によって第1の周波数と第2の周波数の2つの
電波に分波する。それぞれの周波数を有する電波出力は
実施の形態1と同様に第1の周波数については移相器4
によって移相値を、減衰器5によって振幅値を変化さ
せ、増幅器6によって増幅した後、第2の周波数につい
ては移相器4bによって移相値を、減衰器5bによって
振幅値を変化させ、増幅器6bによって増幅した後、再
び分波器11によって第1の周波数を有する電波、第2
の周波数を有する電波が合成され、送受切換器3を経由
して一次放射器2から金属面オフセットパラボラ7に向
かって送信される。この電波は金属面オフセットパラボ
ラ7によって再びFar Fieldに変換され、合成
開口レーダ1によって受信され、合成開口処理が施され
ることによって複数周波数合成開口レーダシステム全体
の点像応答が同時に評価されることになる。なお、この
例では周波数の数を2としたが、この数は分波器を追加
することによって任意の値に増加させることができる。
【0033】実施の形態6.図6はこの発明の実施の形
態6を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、11は送
受切換器3の入出力信号を周波数ごとに分配する分波
器、10aは上記分波器からの第1の周波数を有する信
号を偏波ごとに分配する第1の偏分波器、4aは上記偏
分波器10からの第1の周波数を有する水平偏波受信信
号に対しパルスごとに移相を変化させる第1の移相器、
5aは上記第1の移相器4aからの出力信号を減衰させ
る第1の減衰器、6は上記第1の減衰器5aからの出力
信号を増幅し、上記偏分波器10、分波器11、送受切
換器3、一次放射器2経由で合成開口レーダ1へ第1の
周波数を有する水平偏波の電波を送信する第1の増幅
器、4bは上記偏分波器10からの第1の周波数を有す
る垂直偏波受信信号に対しパルスごとに移相を変化させ
る第2の移相器、5bは上記第2の移相器4bからの出
力信号を減衰させる第2の減衰器、6bは上記第2の減
衰器5bからの出力信号を増幅し、上記偏分波器10、
分波器11、送受切換器3、一次放射器2経由で合成開
口レーダ1へ第1の周波数を有する垂直偏波の電波を送
信する第2の増幅器、10bは上記分波器11からの第
2の周波数を有する信号を偏波ごとに分配する第2の偏
分波器、4cは上記偏分波器10bからの第2の周波数
を有する水平偏波受信信号に対しパルスごとに移相を変
化させる第3の移相器、5cは上記第3の移相器4cか
らの出力信号を減衰させる第3の減衰器、6cは上記第
3の減衰器5cからの出力信号を増幅し、上記偏分波器
10b、分波器11、送受切換器3、一次放射器2経由
で合成開口レーダ1へ第2の周波数を有する水平偏波の
電波を送信する第3の増幅器、4dは上記偏分波器10
bからの第2の周波数を有する垂直偏波受信信号に対し
パルスごとに移相を変化させる第4の移相器、5dは上
記第4の移相器4dからの出力信号を減衰させる第4の
減衰器、6dは上記第4の減衰器5dからの出力信号を
増幅し、上記偏分波器10b、分波器11、送受切換器
3、一次放射器2経由で合成開口レーダ1へ第2の周波
数を有する垂直偏波の電波を送信する第4の増幅器、7
は合成開口レーダ1に入出力される電波に対してNea
r FieldからFar Fieldに変換するため
の金属面オフセットパラボラである。
態6を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、11は送
受切換器3の入出力信号を周波数ごとに分配する分波
器、10aは上記分波器からの第1の周波数を有する信
号を偏波ごとに分配する第1の偏分波器、4aは上記偏
分波器10からの第1の周波数を有する水平偏波受信信
号に対しパルスごとに移相を変化させる第1の移相器、
5aは上記第1の移相器4aからの出力信号を減衰させ
る第1の減衰器、6は上記第1の減衰器5aからの出力
信号を増幅し、上記偏分波器10、分波器11、送受切
換器3、一次放射器2経由で合成開口レーダ1へ第1の
周波数を有する水平偏波の電波を送信する第1の増幅
器、4bは上記偏分波器10からの第1の周波数を有す
る垂直偏波受信信号に対しパルスごとに移相を変化させ
る第2の移相器、5bは上記第2の移相器4bからの出
力信号を減衰させる第2の減衰器、6bは上記第2の減
衰器5bからの出力信号を増幅し、上記偏分波器10、
分波器11、送受切換器3、一次放射器2経由で合成開
口レーダ1へ第1の周波数を有する垂直偏波の電波を送
信する第2の増幅器、10bは上記分波器11からの第
2の周波数を有する信号を偏波ごとに分配する第2の偏
分波器、4cは上記偏分波器10bからの第2の周波数
を有する水平偏波受信信号に対しパルスごとに移相を変
化させる第3の移相器、5cは上記第3の移相器4cか
らの出力信号を減衰させる第3の減衰器、6cは上記第
3の減衰器5cからの出力信号を増幅し、上記偏分波器
10b、分波器11、送受切換器3、一次放射器2経由
で合成開口レーダ1へ第2の周波数を有する水平偏波の
電波を送信する第3の増幅器、4dは上記偏分波器10
bからの第2の周波数を有する垂直偏波受信信号に対し
パルスごとに移相を変化させる第4の移相器、5dは上
記第4の移相器4dからの出力信号を減衰させる第4の
減衰器、6dは上記第4の減衰器5dからの出力信号を
増幅し、上記偏分波器10b、分波器11、送受切換器
3、一次放射器2経由で合成開口レーダ1へ第2の周波
数を有する垂直偏波の電波を送信する第4の増幅器、7
は合成開口レーダ1に入出力される電波に対してNea
r FieldからFar Fieldに変換するため
の金属面オフセットパラボラである。
【0034】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1と
同様に合成開口レーダ1から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ7によってNear Fieldの電
波がFar Fieldに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器2において
受信される。この電波は送受切換器3を経由した後、分
波器11によって第1の周波数と第2の周波数の2つの
電波に分波する。それぞれの周波数を有する電波出力は
さらに偏分波器10a及び第2の偏分波器10bによっ
て水平偏波成分及び垂直偏波成分の2系統に分配され
る。これによって2周波数、2偏波の計4チャンネルの
電波に分割されることになる。実施の形態1と同様に第
1の周波数の水平偏波については移相器4aによって移
相値を、減衰器5aによって振幅値を変化させ、増幅器
6aによって増幅した後、第1の周波数の垂直偏波につ
いては移相器4bによって移相値を、減衰器5bによっ
て振幅値を変化させ、増幅器6bによって増幅した後、
第2の周波数の水平偏波については移相器4cによって
移相値を、減衰器5cによって振幅値を変化させ、増幅
器6cによって増幅した後、第2の周波数の垂直偏波に
ついては移相器4dによって移相値を、減衰器5dによ
って振幅値を変化させ、増幅器6dによって増幅した
後、再び偏分波器10a或いは偏分波器10b及び分波
器11によって第1の周波数を有する水平偏波電波、垂
直偏波電波、第2の周波数を有する水平偏波電波、垂直
偏波電波が合成され、送受切換器3を経由して一次放射
器2から金属面オフセットパラボラ7に向かって送信さ
れる。この電波は金属面オフセットパラボラ7によって
再びFar Fieldに変換され、合成開口レーダ1
によって受信され、合成開口処理が施されることによっ
て多偏波、複数周波数合成開口レーダシステム全体の点
像応答が同時に評価されることになる。なお、この例で
は周波数の数を2としたが、この数は分波器を追加する
ことによって任意の値に増加させることができる。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1と
同様に合成開口レーダ1から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ7によってNear Fieldの電
波がFar Fieldに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器2において
受信される。この電波は送受切換器3を経由した後、分
波器11によって第1の周波数と第2の周波数の2つの
電波に分波する。それぞれの周波数を有する電波出力は
さらに偏分波器10a及び第2の偏分波器10bによっ
て水平偏波成分及び垂直偏波成分の2系統に分配され
る。これによって2周波数、2偏波の計4チャンネルの
電波に分割されることになる。実施の形態1と同様に第
1の周波数の水平偏波については移相器4aによって移
相値を、減衰器5aによって振幅値を変化させ、増幅器
6aによって増幅した後、第1の周波数の垂直偏波につ
いては移相器4bによって移相値を、減衰器5bによっ
て振幅値を変化させ、増幅器6bによって増幅した後、
第2の周波数の水平偏波については移相器4cによって
移相値を、減衰器5cによって振幅値を変化させ、増幅
器6cによって増幅した後、第2の周波数の垂直偏波に
ついては移相器4dによって移相値を、減衰器5dによ
って振幅値を変化させ、増幅器6dによって増幅した
後、再び偏分波器10a或いは偏分波器10b及び分波
器11によって第1の周波数を有する水平偏波電波、垂
直偏波電波、第2の周波数を有する水平偏波電波、垂直
偏波電波が合成され、送受切換器3を経由して一次放射
器2から金属面オフセットパラボラ7に向かって送信さ
れる。この電波は金属面オフセットパラボラ7によって
再びFar Fieldに変換され、合成開口レーダ1
によって受信され、合成開口処理が施されることによっ
て多偏波、複数周波数合成開口レーダシステム全体の点
像応答が同時に評価されることになる。なお、この例で
は周波数の数を2としたが、この数は分波器を追加する
ことによって任意の値に増加させることができる。
【0035】実施の形態7.図7はこの発明の実施の形
態7を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、4は上記
送受切換器3からの受信信号に対しパルスごとに移相を
変化させる移相器、5は上記移相器4からの出力信号を
減衰させる減衰器、6は上記減衰器5からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器3、一次放射器2経由で合成開
口レーダ1へ電波を送信する増幅器、7は合成開口レー
ダ1に入出力される電波に対してNear Field
からFar Fieldに変換するための金属面オフセ
ットパラボラである。また、12aは上記一次放射器
2、送受切換器3、移相器4、減衰器5、増幅器6から
構成される第1の疑似ターゲット発生器、12bは上記
第1の疑似ターゲット発生器12aと同様の構成の第2
の疑似ターゲット発生器、12cはやはり上記第1の疑
似ターゲット発生器と同様の構成の第3の疑似ターゲッ
ト発生器である。
態7を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、4は上記
送受切換器3からの受信信号に対しパルスごとに移相を
変化させる移相器、5は上記移相器4からの出力信号を
減衰させる減衰器、6は上記減衰器5からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器3、一次放射器2経由で合成開
口レーダ1へ電波を送信する増幅器、7は合成開口レー
ダ1に入出力される電波に対してNear Field
からFar Fieldに変換するための金属面オフセ
ットパラボラである。また、12aは上記一次放射器
2、送受切換器3、移相器4、減衰器5、増幅器6から
構成される第1の疑似ターゲット発生器、12bは上記
第1の疑似ターゲット発生器12aと同様の構成の第2
の疑似ターゲット発生器、12cはやはり上記第1の疑
似ターゲット発生器と同様の構成の第3の疑似ターゲッ
ト発生器である。
【0036】次に動作について説明する。第1の疑似タ
ーゲット発生器12a自体は合成開口レーダ1、金属面
オフセットパラボラ7と組み合わせて使用することによ
り実施の形態1と全く同じ動作を行うものである。これ
に第2の疑似ターゲット発生器12b、及び第3の疑似
ターゲット発生器12cをエレベーション方向に並列に
組み合わせることによって合成開口レーダがスキャンS
ARによってエレベーション方向がビームを走査した際
のシステム評価を行うことができる。即ち、合成開口レ
ーダ1のビームがビームポジション1(エレベーション
位置、以下も同じ)に存在する時には第1の疑似ターゲ
ット発生器12aを使用してターゲット信号を受け、ビ
ームポジション2に存在する時には第2の疑似ターゲッ
ト発生器12bを使用してターゲット信号を受け、ビー
ムポジション3に存在する時には第3の疑似ターゲット
発生器12cを使用してターゲット信号を受ける。この
ようにして高速にビームを走査しながら、連続的にター
ゲット信号を受信することができるため、スキャンSA
Rモードにおける点像評価試験が可能となる。また、そ
れぞれの疑似ターゲット発生器の発生信号パターン(移
相の絶対値、振幅等)を変化させれば、スキャンSAR
時にそれぞれのビームポジションのビームが走査された
ことを確認する手段にもなり得る。なお、この例ではビ
ームスポット数を3としたが、この数は疑似ターゲット
発生器を追加することによって任意の数に増加させるこ
とができる。
ーゲット発生器12a自体は合成開口レーダ1、金属面
オフセットパラボラ7と組み合わせて使用することによ
り実施の形態1と全く同じ動作を行うものである。これ
に第2の疑似ターゲット発生器12b、及び第3の疑似
ターゲット発生器12cをエレベーション方向に並列に
組み合わせることによって合成開口レーダがスキャンS
ARによってエレベーション方向がビームを走査した際
のシステム評価を行うことができる。即ち、合成開口レ
ーダ1のビームがビームポジション1(エレベーション
位置、以下も同じ)に存在する時には第1の疑似ターゲ
ット発生器12aを使用してターゲット信号を受け、ビ
ームポジション2に存在する時には第2の疑似ターゲッ
ト発生器12bを使用してターゲット信号を受け、ビー
ムポジション3に存在する時には第3の疑似ターゲット
発生器12cを使用してターゲット信号を受ける。この
ようにして高速にビームを走査しながら、連続的にター
ゲット信号を受信することができるため、スキャンSA
Rモードにおける点像評価試験が可能となる。また、そ
れぞれの疑似ターゲット発生器の発生信号パターン(移
相の絶対値、振幅等)を変化させれば、スキャンSAR
時にそれぞれのビームポジションのビームが走査された
ことを確認する手段にもなり得る。なお、この例ではビ
ームスポット数を3としたが、この数は疑似ターゲット
発生器を追加することによって任意の数に増加させるこ
とができる。
【0037】実施の形態8.図8はこの発明の実施の形
態8を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、10は送
受切換器3の入出力信号を偏波ごとに分配する偏分波
器、18は偏分波器10からの水平偏波受信信号及び垂
直偏波信号をパルスごとに切り換える偏波切換スイッ
チ、4は上記偏波切換スイッチ18からの出力信号に対
しパルスごとに移相を変化させる移相器、5は上記移相
器4からの出力信号を減衰させる減衰器、6は上記減衰
器5からの出力信号を増幅し、上記偏波切換スイッチ1
8、偏分波器10、送受切換器3、一次放射器2経由で
合成開口レーダ1へ水平偏波及び垂直偏波の電波を送信
する増幅器、7は合成開口レーダ1に入出力される電波
に対してNear FieldからFar Field
に変換するための金属面オフセットパラボラである。
態8を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、10は送
受切換器3の入出力信号を偏波ごとに分配する偏分波
器、18は偏分波器10からの水平偏波受信信号及び垂
直偏波信号をパルスごとに切り換える偏波切換スイッ
チ、4は上記偏波切換スイッチ18からの出力信号に対
しパルスごとに移相を変化させる移相器、5は上記移相
器4からの出力信号を減衰させる減衰器、6は上記減衰
器5からの出力信号を増幅し、上記偏波切換スイッチ1
8、偏分波器10、送受切換器3、一次放射器2経由で
合成開口レーダ1へ水平偏波及び垂直偏波の電波を送信
する増幅器、7は合成開口レーダ1に入出力される電波
に対してNear FieldからFar Field
に変換するための金属面オフセットパラボラである。
【0038】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1と
同様に合成開口レーダ1から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ7によってNear Fieldの電
波がFar Fieldに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器2において
受信される。この電波は送受切換器3を経由した後、偏
分波器10によって水平偏波電波と垂直偏波の電波に分
波する。それぞれの偏波出力はパルスごとに偏波切換ス
イッチ18によって水平、垂直が選択され、いずれかの
偏波受信信号に対して実施の形態1と同様に移相器4に
よって移相値を、減衰器5によって振幅値を変化させ、
増幅器6によって増幅した後、再び偏波切換スイッチ1
8、偏分波器10、送受切換器3を経由して一次放射器
2から金属面オフセットパラボラ7に向かって送信され
る。この電波は金属面オフセットパラボラ7によって再
びFar Fieldに変換され、合成開口レーダ1に
よって受信され、合成開口処理が施されることによって
水平偏波、垂直偏波から構成される多偏波合成開口レー
ダシステム全体の点像応答がパルスごとに同時に評価さ
れることになる。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1と
同様に合成開口レーダ1から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ7によってNear Fieldの電
波がFar Fieldに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器2において
受信される。この電波は送受切換器3を経由した後、偏
分波器10によって水平偏波電波と垂直偏波の電波に分
波する。それぞれの偏波出力はパルスごとに偏波切換ス
イッチ18によって水平、垂直が選択され、いずれかの
偏波受信信号に対して実施の形態1と同様に移相器4に
よって移相値を、減衰器5によって振幅値を変化させ、
増幅器6によって増幅した後、再び偏波切換スイッチ1
8、偏分波器10、送受切換器3を経由して一次放射器
2から金属面オフセットパラボラ7に向かって送信され
る。この電波は金属面オフセットパラボラ7によって再
びFar Fieldに変換され、合成開口レーダ1に
よって受信され、合成開口処理が施されることによって
水平偏波、垂直偏波から構成される多偏波合成開口レー
ダシステム全体の点像応答がパルスごとに同時に評価さ
れることになる。
【0039】実施の形態9.図9はこの発明の実施の形
態9を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、4aは分
波器11からの受信信号に対しパルスごとに移相を変化
させる第1の移相器、5は上記移相器4aからの出力信
号を減衰させる第1の減衰器、19は上記送受切換器3
からの出力を分配した信号を時間的に遅延させる遅延
線、4bは遅延線19からの遅延した受信信号に対しパ
ルスごとに移相を変化させる第2の移相器、5bは上記
移相器4bからの出力信号を減衰させる第2の減衰器、
20は上記第1の減衰器5a及び第2の減衰器5bの出
力を合成する方向性結合器、6は上記方向性結合器20
からの出力信号を増幅し、上記送受切換器3、一次放射
器2経由で合成開口レーダ1へ電波を送信する増幅器、
7は合成開口レーダ1に入出力される電波に対してNe
ar FieldからFar Fieldに変換するた
めの金属面オフセットパラボラである。
態9を示す図であり、図において1は被試験体である合
成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間で電波
の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放射器2
における送信、受信を切り換える送受切換器、4aは分
波器11からの受信信号に対しパルスごとに移相を変化
させる第1の移相器、5は上記移相器4aからの出力信
号を減衰させる第1の減衰器、19は上記送受切換器3
からの出力を分配した信号を時間的に遅延させる遅延
線、4bは遅延線19からの遅延した受信信号に対しパ
ルスごとに移相を変化させる第2の移相器、5bは上記
移相器4bからの出力信号を減衰させる第2の減衰器、
20は上記第1の減衰器5a及び第2の減衰器5bの出
力を合成する方向性結合器、6は上記方向性結合器20
からの出力信号を増幅し、上記送受切換器3、一次放射
器2経由で合成開口レーダ1へ電波を送信する増幅器、
7は合成開口レーダ1に入出力される電波に対してNe
ar FieldからFar Fieldに変換するた
めの金属面オフセットパラボラである。
【0040】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1と
同様に合成開口レーダ1から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ7によってNear Fieldの電
波がFar Fieldに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器2において
受信される。この電波は送受切換器3を経由した後、遅
延線19を通過して遅延を有する電波と遅延線19を通
らないでそのまま通過する電波に分波する。それぞれの
電波出力は実施の形態1と同様に遅延線を通過しない第
1のターゲット信号については移相器4によって移相値
を、減衰器5aによって振幅値を変化させ、遅延線19
を通過した第2のターゲット信号については移相器4b
によって移相値を、減衰器5bによって振幅値を変化さ
せ、方向性結合器20によって両者の出力を合成した
後、増幅器6によって増幅し、送受切換器3を経由して
一次放射器2から金属面オフセットパラボラ7に向かっ
て送信される。この電波は金属面オフセットパラボラ7
によって再びFar Fieldに変換され、合成開口
レーダ1によって受信され、合成開口処理が施されるこ
とによって合成開口レーダシステム全体の複数ターゲッ
トによる点像応答が同時に評価されることになる。これ
によって複数のターゲットが存在しないと試験不可能な
ダイナミックレンジの確認(第1のターゲットのレベル
を大きく、第2のターゲットのレベルを小さくする)、
ラジオメトリック精度(第1のターゲットと第2のター
ゲットのレベル差を計測したい精度範囲とする)の確認
が可能となる。なお、この例ではターゲットの数を2と
したが、この数は遅延線、移相器、減衰器を追加するこ
とによって任意の値に増加させることができる。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態1と
同様に合成開口レーダ1から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ7によってNear Fieldの電
波がFar Fieldに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器2において
受信される。この電波は送受切換器3を経由した後、遅
延線19を通過して遅延を有する電波と遅延線19を通
らないでそのまま通過する電波に分波する。それぞれの
電波出力は実施の形態1と同様に遅延線を通過しない第
1のターゲット信号については移相器4によって移相値
を、減衰器5aによって振幅値を変化させ、遅延線19
を通過した第2のターゲット信号については移相器4b
によって移相値を、減衰器5bによって振幅値を変化さ
せ、方向性結合器20によって両者の出力を合成した
後、増幅器6によって増幅し、送受切換器3を経由して
一次放射器2から金属面オフセットパラボラ7に向かっ
て送信される。この電波は金属面オフセットパラボラ7
によって再びFar Fieldに変換され、合成開口
レーダ1によって受信され、合成開口処理が施されるこ
とによって合成開口レーダシステム全体の複数ターゲッ
トによる点像応答が同時に評価されることになる。これ
によって複数のターゲットが存在しないと試験不可能な
ダイナミックレンジの確認(第1のターゲットのレベル
を大きく、第2のターゲットのレベルを小さくする)、
ラジオメトリック精度(第1のターゲットと第2のター
ゲットのレベル差を計測したい精度範囲とする)の確認
が可能となる。なお、この例ではターゲットの数を2と
したが、この数は遅延線、移相器、減衰器を追加するこ
とによって任意の値に増加させることができる。
【0041】実施の形態10.図10はこの発明の実施
の形態10を示す図であり、図において1は被試験体で
ある合成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間
で電波の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放
射器2における送信、受信を切り換える送受切換器、4
aは分波器11からの受信信号に対しパルスごとに移相
を変化させる第1の移相器、5aは上記移相器4aから
の出力信号を減衰させる第1の減衰器、19は上記送受
切換器3からの出力を分配した信号を時間的に遅延させ
る遅延線、4bは遅延線19からの遅延した受信信号に
対しパルスごとに移相を変化させる第2の移相器、5b
は上記移相器4bからの出力信号を減衰させる第2の減
衰器、20は上記第1の減衰器5a及び第2の減衰器5
bの出力を合成する方向性結合器、6は上記方向性結合
器20からの出力信号を増幅し、上記送受切換器3、一
次放射器2経由で合成開口レーダ1へ電波を送信する増
幅器である。
の形態10を示す図であり、図において1は被試験体で
ある合成開口レーダ、2は上記合成開口レーダ1との間
で電波の送受を行うための一次放射器、3は上記一次放
射器2における送信、受信を切り換える送受切換器、4
aは分波器11からの受信信号に対しパルスごとに移相
を変化させる第1の移相器、5aは上記移相器4aから
の出力信号を減衰させる第1の減衰器、19は上記送受
切換器3からの出力を分配した信号を時間的に遅延させ
る遅延線、4bは遅延線19からの遅延した受信信号に
対しパルスごとに移相を変化させる第2の移相器、5b
は上記移相器4bからの出力信号を減衰させる第2の減
衰器、20は上記第1の減衰器5a及び第2の減衰器5
bの出力を合成する方向性結合器、6は上記方向性結合
器20からの出力信号を増幅し、上記送受切換器3、一
次放射器2経由で合成開口レーダ1へ電波を送信する増
幅器である。
【0042】次に動作について説明する。この実施の形
態では試験装置は外部校正の1手段であるアクティブレ
ーダキャリブレータとして動作する。この場合、合成開
口レーダ1からの電波は合成開口レーダの試験装置によ
って受信され、再び合成開口レーダの試験装置によって
送信した信号を再度合成開口レーダ1によって受信し、
振幅を測定することによってレーダ全系の校正を行う。
前記のように構成された合成開口レーダの試験装置にお
いては合成開口レーダ1から送信された電波は空中を伝
搬し、一次放射器2において受信される。この電波は送
受切換器3を経由した後、遅延線19を通過して遅延を
有する電波と遅延線19を通らないでそのまま通過する
電波に分波する。それぞれの電波出力は実施の形態1と
同様に遅延線を通過しない第1のターゲット信号につい
ては移相器4aによって移相値を、減衰器5aによって
振幅値を変化させ、遅延線19を通過した第2のターゲ
ット信号については移相器4bによって移相値を、減衰
器5bによって振幅値を変化させ、方向性結合器20に
よって両者の出力を合成した後、増幅器6によって増幅
し、送受切換器3を経由して一次放射器2から合成開口
レーダ1に向かって送信される。この電波は再び空中を
伝搬した後に合成開口レーダ1によって受信され、合成
開口処理が施され、振幅、移相を評価することによって
合成開口レーダ1における複数ターゲットによる外部キ
ャリブレーションが同時に行われることになる。なお、
この例ではターゲットの数を2としたが、この数は遅延
線、移相器、減衰器を追加することによって任意の値に
増加させることができる。なお、この第10の発明にお
いては数km程度の距離の屋外で行わなければならない
という課題を解決することにはならないが、アクティブ
レーダキャリブレーションは実際には衛星に搭載された
状態で実際の観測との比較のために地上のある固定され
た点との間で行うものであり、この場合はこの課題につ
いては問題とならない。
態では試験装置は外部校正の1手段であるアクティブレ
ーダキャリブレータとして動作する。この場合、合成開
口レーダ1からの電波は合成開口レーダの試験装置によ
って受信され、再び合成開口レーダの試験装置によって
送信した信号を再度合成開口レーダ1によって受信し、
振幅を測定することによってレーダ全系の校正を行う。
前記のように構成された合成開口レーダの試験装置にお
いては合成開口レーダ1から送信された電波は空中を伝
搬し、一次放射器2において受信される。この電波は送
受切換器3を経由した後、遅延線19を通過して遅延を
有する電波と遅延線19を通らないでそのまま通過する
電波に分波する。それぞれの電波出力は実施の形態1と
同様に遅延線を通過しない第1のターゲット信号につい
ては移相器4aによって移相値を、減衰器5aによって
振幅値を変化させ、遅延線19を通過した第2のターゲ
ット信号については移相器4bによって移相値を、減衰
器5bによって振幅値を変化させ、方向性結合器20に
よって両者の出力を合成した後、増幅器6によって増幅
し、送受切換器3を経由して一次放射器2から合成開口
レーダ1に向かって送信される。この電波は再び空中を
伝搬した後に合成開口レーダ1によって受信され、合成
開口処理が施され、振幅、移相を評価することによって
合成開口レーダ1における複数ターゲットによる外部キ
ャリブレーションが同時に行われることになる。なお、
この例ではターゲットの数を2としたが、この数は遅延
線、移相器、減衰器を追加することによって任意の値に
増加させることができる。なお、この第10の発明にお
いては数km程度の距離の屋外で行わなければならない
という課題を解決することにはならないが、アクティブ
レーダキャリブレーションは実際には衛星に搭載された
状態で実際の観測との比較のために地上のある固定され
た点との間で行うものであり、この場合はこの課題につ
いては問題とならない。
【0043】
【発明の効果】第1の発明によれば、Near Fie
ldをFar Fieldに等価的に変換することによ
って狭い屋内での合成開口レーダシステム総合試験が可
能となる。
ldをFar Fieldに等価的に変換することによ
って狭い屋内での合成開口レーダシステム総合試験が可
能となる。
【0044】第2の発明によれば、メッシュ型の柱パラ
ボラ鏡を使用することにより材料である金属量を減少さ
せることが可能となり、第1の発明による効果に加えて
さらに試験装置の軽量化、低コスト化が可能となる。
ボラ鏡を使用することにより材料である金属量を減少さ
せることが可能となり、第1の発明による効果に加えて
さらに試験装置の軽量化、低コスト化が可能となる。
【0045】第3の発明によれば、アンテナ回転台によ
って合成開口レーダを回転させることによりビームをス
キャンした状態で狭い屋内での合成開口レーダシステム
総合試験が可能となる。
って合成開口レーダを回転させることによりビームをス
キャンした状態で狭い屋内での合成開口レーダシステム
総合試験が可能となる。
【0046】第4の発明によれば、偏分波器を利用する
ことにより複数偏波同時に狭い屋内での合成開口レーダ
システム総合試験が可能となる。
ことにより複数偏波同時に狭い屋内での合成開口レーダ
システム総合試験が可能となる。
【0047】第5の発明によれば、分波器を利用するこ
とにより複数周波数同時に狭い屋内での合成開口レーダ
システム総合試験が可能となる。
とにより複数周波数同時に狭い屋内での合成開口レーダ
システム総合試験が可能となる。
【0048】第6の発明によれば、分波器及び2つの偏
分波器を利用することにより複数周波数及び複数偏波同
時に狭い屋内での合成開口レーダシステム総合試験が可
能となる。
分波器を利用することにより複数周波数及び複数偏波同
時に狭い屋内での合成開口レーダシステム総合試験が可
能となる。
【0049】第7の発明によれば、スキャンSAR(S
ynthetic Aperture Radar)モ
ード時に狭い屋内での合成開口レーダシステム総合試験
が可能となり、しかも同時にスキャンSARの機能確認
が実現できる。
ynthetic Aperture Radar)モ
ード時に狭い屋内での合成開口レーダシステム総合試験
が可能となり、しかも同時にスキャンSARの機能確認
が実現できる。
【0050】第8の発明によれば、偏分波器、偏波切換
スイッチを利用することにより、ハードウェアを増加さ
せることなく、複数偏波同時に狭い屋内での合成開口レ
ーダシステム総合試験が可能となる。
スイッチを利用することにより、ハードウェアを増加さ
せることなく、複数偏波同時に狭い屋内での合成開口レ
ーダシステム総合試験が可能となる。
【0051】第9の発明によれば、遅延線を利用するこ
とにより複数ターゲット同時に狭い屋内での合成開口レ
ーダシステム総合試験が可能となる。
とにより複数ターゲット同時に狭い屋内での合成開口レ
ーダシステム総合試験が可能となる。
【0052】第10の発明によれば、遅延線を利用する
ことにより複数ターゲット同時にアクティブレーダキャ
リブレーション方式による合成開口レーダの外部校正が
可能となる。
ことにより複数ターゲット同時にアクティブレーダキャ
リブレーション方式による合成開口レーダの外部校正が
可能となる。
【図1】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態1を示す図である。
実施の形態1を示す図である。
【図2】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態2を示す図である。
実施の形態2を示す図である。
【図3】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態3を示す図である。
実施の形態3を示す図である。
【図4】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態4を示す図である。
実施の形態4を示す図である。
【図5】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態5を示す図である。
実施の形態5を示す図である。
【図6】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態6を示す図である。
実施の形態6を示す図である。
【図7】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態7を示す図である。
実施の形態7を示す図である。
【図8】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態8を示す図である。
実施の形態8を示す図である。
【図9】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態9を示す図である。
実施の形態9を示す図である。
【図10】 この発明による合成開口レーダの試験装置
の実施の形態10を示す図である。
の実施の形態10を示す図である。
【図11】 従来の合成開口レーダの試験装置を示す図
である。
である。
【図12】 合成開口レーダの原理を説明する図であ
る。
る。
【図13】 移相器及び減衰器に設定する移相及び減衰
量を示す図である。
量を示す図である。
1 合成開口レーダ、2 一次放射器、3 送受切換
器、4 移相器、5 減衰器、6 増幅器、7 金属面
オフセットパラボラ、8 メッシュ面オフセットパラボ
ラ、9 アンテナ回転台、10 偏分波器、11 分波
器、12 疑似ターゲット発生器、13 レーダビー
ム、14 地表、15 時間、16 移相量、17 減
衰量、18 偏波切換スイッチ、19 遅延線、20
方向性結合器。
器、4 移相器、5 減衰器、6 増幅器、7 金属面
オフセットパラボラ、8 メッシュ面オフセットパラボ
ラ、9 アンテナ回転台、10 偏分波器、11 分波
器、12 疑似ターゲット発生器、13 レーダビー
ム、14 地表、15 時間、16 移相量、17 減
衰量、18 偏波切換スイッチ、19 遅延線、20
方向性結合器。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−45788(JP,A) 特開 平6−230108(JP,A) 特開 昭61−38580(JP,A) 特開 昭61−38579(JP,A) 特開 昭61−38578(JP,A) 実開 平3−110386(JP,U) 実開 平6−47884(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01S 7/00 - 7/42 G01S 13/00 - 13/95
Claims (9)
- 【請求項1】 被試験体である合成開口レーダからのN
ear Fieldの電波をFar Fieldに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器からの受信信号に対しパルスごと
に移相を変化させる移相器と、上記移相器からの出力信
号を減衰させる減衰器と、上記減衰器からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器経由で上記一次放射器からの電
波を送信するための増幅器とから構成される合成開口レ
ーダの試験装置。 - 【請求項2】 被試験体である合成開口レーダからのN
ear Fieldの電波をFar Fieldに変換す
るためのメッシュ面オフセットパラボラと、上記合成開
口レーダとの間で電波の送受を行うために上記メッシュ
面オフセットパラボラの焦点位置に配置された一次放射
器と、上記一次放射器における送信、受信を切り換える
送受切換器と、上記送受切換器からの受信信号に対しパ
ルスごとに移相を変化させる移相器と、上記移相器から
の出力信号を減衰させる減衰器と、上記減衰器からの出
力信号を増幅し、上記送受切換器経由で上記一次放射器
からの電波を送信するための増幅器とから構成される合
成開口レーダの試験装置。 - 【請求項3】 被試験体である合成開口レーダを支持す
るアンテナ回転台と、上記合成開口レーダからのNea
r Fieldの電波をFar Fieldに変換するた
めの金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レーダ
との間で電波の送受を行うために上記金属面オフセット
パラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上記一
次放射器における送信、受信を切り換える送受切換器
と、上記送受切換器からの受信信号に対しパルスごとに
移相を変化させる移相器と、上記移相器からの出力信号
を減衰させる減衰器と、上記減衰器からの出力信号を増
幅し、上記送受切換器経由で上記一次放射器から電波を
送信するための増幅器とから構成される合成開口レーダ
の試験装置。 - 【請求項4】 被試験体である合成開口レーダからのN
ear Fieldの電波をFar Fieldに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器の入出力信号を偏波ごとに分配す
る偏分波器と、上記偏分波器からの水平偏波受信信号に
対しパルスごとに移相を変化させる移相器と、上記移相
器からの出力信号を減衰させる減衰器と、上記減衰器か
らの出力信号を増幅し、上記偏分波器、送受切換器経由
で上記一次放射器からの水平偏波の電波を送信するため
の増幅器と、上記偏分波器からの垂直偏波受信信号に対
しパルスごとに移相を変化させる第2の移相器と、上記
第2の移相器からの出力信号を減衰させる第2の減衰器
と、上記第2の減衰器からの出力信号を増幅し、上記偏
分波器、送受切換器経由で上記一次放射器から垂直偏波
の電波を送信するための第2の増幅器とから構成される
合成開口レーダの試験装置。 - 【請求項5】 被試験体である合成開口レーダからのN
ear Fieldの電波をFar Fieldに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器の入出力信号を周波数ごとに分配
する分波器と、上記分波器からの第1の周波数を有する
受信信号に対しパルスごとに移相を変化させる移相器
と、上記移相器からの出力信号を減衰させる減衰器と、
上記減衰器からの出力信号を増幅し、上記分波器、送受
切換器経由で上記一次放射器から第1の周波数の電波を
送信するための増幅器と、上記分波器からの第2の周波
数を有する受信信号に対しパルスごとに移相を変化させ
る第2の移相器と、上記第2の移相器からの出力信号を
減衰させる第2の減衰器と、上記第2の減衰器からの出
力信号を増幅し、上記分波器、送受切換器経由で上記一
次放射器から第2の周波数の電波を送信するための第2
の増幅器とから構成される合成開口レーダの試験装置。 - 【請求項6】 被試験体である合成開口レーダからのN
ear Fieldの電波をFar Fieldに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器の入出力信号を周波数ごとに分配
する分波器と、上記分波器からの第1の周波数を有する
信号を偏波ごとに分配する偏分波器と、上記偏分波器か
らの第1の周波数を有する水平偏波受信信号に対しパル
スごとに移相を変化させる移相器と、上記移相器からの
出力信号を減衰させる減衰器と、上記減衰器からの出力
信号を増幅し、上記偏分波器、分波器、送受切換器経由
で上記一次放射器から第1の周波数の水平偏波の電波を
送信するための増幅器と、上記偏分波器からの第1の周
波数を有する垂直偏波受信信号に対しパルスごとに移相
を変化させる第2の移相器と、上記第2の移相器からの
出力信号を減衰させる第2の減衰器と、上記第2の減衰
器からの出力信号を増幅し、上記偏分波器、分波器、送
受切換器経由で上記一次放射器から第1の周波数の垂直
偏波の電波を送信するための第2の増幅器と、上記分波
器からの第2の周波数を有する信号を偏波ごとに分配す
る第2の偏分波器と、上記第2の偏分波器からの第2の
周波数を有する水平偏波受信信号に対しパルスごとに移
相を変化させる第3の移相器と、上記第3の移相器から
の出力信号を減衰させる第3の減衰器と、上記第3の減
衰器からの出力信号を増幅し、上記第2の偏分波器、分
波器、送受切換器経由で上記一次放射器から第2の周波
数の水平偏波の電波を送信するための第3の増幅器と、
上記第2の偏分波器からの第2の周波数を有する垂直偏
波受信信号に対しパルスごとに移相を変化させる第4の
移相器と、上記第4の移相器からの出力信号を減衰させ
る第4の減衰器と、上記第4の減衰器からの出力信号を
増幅し、上記第2の偏分波器、分波器、送受切換器経由
で上記一次放射器から第2の周波数の垂直偏波の電波を
送信するための第4の増幅器とから構成される合成開口
レーダの試験装置。 - 【請求項7】 被試験体である合成開口レーダからのN
ear Fieldの電波をFar Fieldに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器からの受信信号に対しパルスごと
に移相を変化させる移相器と、上記移相器からの出力信
号を減衰させる減衰器と、上記減衰器からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器経由で上記一次放射器から電波
を送信するための増幅器と、上記一次放射器、送受切換
器、移相器、減衰器、増幅器を構成要素とする第1の疑
似ターゲット発生器と、同様の構成要素から構成される
第2の疑似ターゲット発生器と、同じく同様の構成要素
から構成される第3の疑似ターゲット発生器とから構成
される合成開口レーダの試験装置。 - 【請求項8】 被試験体である合成開口レーダからのN
ear Fieldの電波をFar Fieldに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器の入力信号を偏波ごとに分配する
偏分波器と、上記偏分波器からの水平偏波受信信号及び
垂直偏波受信信号をパルスごとに切り換える偏波切換ス
イッチと、上記偏波切換スイッチ出力信号に対しパルス
ごとに移相を変化させる移相器と、上記移相器からの出
力信号を減衰させる減衰器と、上記減衰器からの出力信
号を増幅し、上記偏波切換スイッチ、偏分波器、送受切
換器経由で上記一次放射器から電波を送信するための増
幅器とから構成される合成開口レーダの試験装置。 - 【請求項9】 被試験体である合成開口レーダからのN
ear Fieldの電波をFar Fieldに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器からの受信信号に対しパルスごと
に移相を変化させる移相器と、上記移相器からの出力信
号を減衰させる減衰器と、上記送受切換器からの分岐出
力を遅延させる遅延線と、上記遅延線からの信号に対し
パルスごとに移相を変化させる第2の移相器と、上記第
2の移相器からの出力信号を減衰させる第2の減衰器
と、上記減衰器からの出力信号及び上記第2の減衰器か
らの出力信号を合成する方向性結合器と、上記方向性結
合器からの出力信号を増幅し、上記送受切換器経由で上
記一次放射器から電波を送信するための増幅器とから構
成される合成開口レーダの試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03349996A JP3292024B2 (ja) | 1996-02-21 | 1996-02-21 | 合成開口レーダの試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03349996A JP3292024B2 (ja) | 1996-02-21 | 1996-02-21 | 合成開口レーダの試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09230029A JPH09230029A (ja) | 1997-09-05 |
JP3292024B2 true JP3292024B2 (ja) | 2002-06-17 |
Family
ID=12388248
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP03349996A Expired - Fee Related JP3292024B2 (ja) | 1996-02-21 | 1996-02-21 | 合成開口レーダの試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3292024B2 (ja) |
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KR101472413B1 (ko) * | 2012-12-13 | 2014-12-12 | 국방과학연구소 | 영상 레이더 성능 분석 기법 |
AT519539B1 (de) * | 2016-12-29 | 2018-10-15 | Avl List Gmbh | Radarzielemulator mit einer Überblendungsvorrichtung und Verfahren zum Überblenden von Signalen |
AT519538B1 (de) | 2016-12-29 | 2019-05-15 | Avl List Gmbh | Verfahren und System zur simulationsgestützten Bestimmung von Echopunkten sowie Verfahren zur Emulation und Emulationsvorrichtung |
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-
1996
- 1996-02-21 JP JP03349996A patent/JP3292024B2/ja not_active Expired - Fee Related
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