JP3283177B2 - 走査光学装置およびポリゴンミラーカバー - Google Patents
走査光学装置およびポリゴンミラーカバーInfo
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Description
ター等に利用される走査光学装置に関し、特に、偏向器
として複数の反射面を有するポリゴンミラーを利用した
装置に関する。
源から発した光束をポリゴンミラーで反射、偏向させ、
fθレンズにより収束させて感光体ドラム等の走査対象
面上に主走査方向に走査するスポットを形成する。
製造されており、複数の反射面はそれぞれ個別に研磨さ
れる。このため、本来は回転軸に対して平行となるべき
反射面が回転軸に対して傾く誤差、いわゆる面倒れ誤差
や、回転軸に対して垂直な方向に沿う反射面の湾曲等の
誤差が発生し、かつ、それらの誤差量は各反射面毎に異
なる値となる。面倒れ誤差は感光体ドラム上のスポット
位置を副走査方向にシフトさせ、反射面の湾曲はスポッ
トの等速走査を妨げる原因となる。
リカルレンズとアナモフィックfθレンズとを組み合わ
せてポリゴンミラーの反射面と走査対象面とを副走査方
向において共役にすることによりスポットの位置ズレを
補正する技術が知られているが、反射面の湾曲は比較的
解像度が低いシステムでは問題とならないため、従来の
装置では補正されていなかった。
解像度の要求が高まるにつれ、上述した従来の走査光学
装置において共役関係が崩れた場合に補正しきれずに残
存する面倒れ誤差や、反射面の湾曲といったポリゴンミ
ラーの個々の反射面の特性によるスポットの位置ズレを
無視できなくなってきている。
てなされたものであり、ポリゴンミラーの個々の反射面
の特性によって変化するスポットの位置誤差等を補正す
ることができる走査光学装置を提供することを目的とす
る。
学装置は、上記の目的を達成するため、光源と、光源か
ら発した光束を反射、偏向させる複数の反射面と、反射
面以外の面における回転中心から偏心した位置に付され
たマークとを備えるポリゴンミラーと、ポリゴンミラー
を覆って配置されるポリゴンミラーカバーと、該ポリゴ
ンミラーで反射された光束を収束させて走査対象面上に
ビームスポットを形成する走査レンズと、ポリゴンミラ
ーカバーに取り付けられておりマークを光学的に読み取
る毎にインデックス信号を出力するセンサと、複数の反
射面の一面毎の形状誤差に起因する走査対象面上でのビ
ームスポットに関する情報を記憶するメモリと、インデ
ックス信号に基づいてメモリから光束の偏向に用いられ
ている反射面の誤差情報を読み出し、誤差を補正するよ
う光束を制御する補正手段と、を備える。そしてポリゴ
ンミラーカバーは、ポリゴンミラーの複数の反射面を外
周から囲む円筒状の側壁部と、該側壁部の一方の底面を
閉塞する底壁部とを有し、底壁部には、センサが挿入さ
れるセンサ取付孔がポリゴンミラーの回転中心から偏心
した位置に穿設され、底壁部の内面には、該内面よりポ
リゴンミラー側に突出するセンサとほぼ等しい突出量を
もつリブが、センサ取付孔を円周上に含むよう回転軸を
中心としてリング状に形成されていることを特徴とす
る。
いる場合、インデックス信号の間隔を反射面の面数で分
割することにより、現在光束が何れの反射面で偏向され
ているのかを識別することができる。この識別結果に基
づいて当該反射面の誤差に関する情報をメモリから読み
出し、補正をかけることにより個々の反射面毎の特性に
よらずにビームスポットの状態を一定に保つことができ
る。また、上記構成のようにリブを配設することによ
り、センサを突出させたことによるポリゴンミラーの回
転ムラや振動が抑制され、インデックス信号を安定して
検出することができる。
装置の実施形態を説明する。実施形態として示される走
査光学装置は、8本のレーザ光を同時に走査させること
により、一回の走査で8本の走査線を同時に形成するマ
ルチビーム走査光学装置である。まず、走査光学装置全
体の斜視図である図1、その光学系の配置を示す図2、
断面図である図3、そして平面図である図4に基づき、
この装置の概略構成を説明する。なお、この明細書にお
いて「主走査方向」は、光軸に垂直な面内で光束の走査
方向に相当する方向、「副走査方向」は、光軸に垂直な
面内で主走査方向に直交する方向をいうものとする。
ほぼ直方体状の偏平なケーシング1内に走査光学系を配
して構成されている。ケーシング1の上部開口は、使用
時には上部蓋体2により閉成される。
図2に示されるように、それぞれ支持基板300に取り
付けられた8つのレーザーブロック310a〜310h
と、これらのレーザーブロックに1つづつ取り付けられ
た半導体レーザー101〜108と、半導体レーザーか
ら発する光束を伝達する8本の石英ガラス製の光ファイ
バー121〜128と、これらの光ファイバーの射出側
の端部を直線上に並べて保持することにより直線上に配
列する8つの点光源を形成するファイバーアライメント
ブロック130とから構成されている。なお、光ファイ
バー121〜128の入射側の端部は、レーザーブロッ
ク310a〜310hに固定されたファイバー支持体3
19a〜319hにより保持されている。
ロック130から射出される発散光束は、円筒状のコリ
メートレンズホルダー340により保持されたコリメー
トレンズ140により平行光束とされ、絞り142を透
過してハーフミラー144に入射する。このハーフミラ
ー144の透過率は、5〜10%である。
束は、APC(オートパワーコントロール)信号検出部1
50に入射する。APC信号検出部150は、透過光束
を収束させるコンデンサレンズ151と、この光束を直
交する2つの偏光成分に分離する偏光分離素子としての
偏光ビームスプリッター153と、それぞれの偏光成分
を受光するAPC用第1受光素子155、APC用第2
受光素子157とから構成されており、その出力信号は
同一の駆動信号に対する各半導体レーザーの出力がほぼ
同一となるようフィードバック制御するために利用され
る。
光束は、副走査方向の角度を逐次制御するダイナミック
プリズム160により角度制御された後、副走査方向に
のみ正のパワーを持つシリンドリカルレンズ170によ
りポリゴンミラー180のミラー面の近傍で線状に結像
される。ダイナミックプリズム160は、主走査方向の
軸回りに回動可能に設けられており、回動角度により副
走査方向の偏角作用が変化する。ダイナミックプリズム
160は、後述のポリゴンミラーの面倒れ誤差や、感光
体ドラムの回転ムラ等に起因する走査対象面上でのスポ
ットの副走査方向の位置ズレを補正するために利用され
る。シリンドリカルレンズ170は、円筒状のシリンド
リカルレンズホルダー361により保持されており、図
2に示されるように、副走査方向においてそれぞれ正・
負のパワーを持つ2枚のレンズ171、173から構成
される。
ようにケーシング1に固定されたポリゴンモータ371
により駆動され、図4中の矢印で示したように時計回り
方向に回転する。また、ポリゴンミラー180は、回転
による風切り音の発生や、空気中の塵埃との衝突による
ミラー面の損傷を避けるため、図1に示されるようにカ
ップ状のポリゴンミラーカバー373により外気から遮
断されて配置されている。
壁に光路孔373eが形成されており、この光路孔37
3eにはカバーガラス375がはめ込まれている。シリ
ンドリカルレンズ170を透過した光束は、カバーガラ
ス375を通してカバー内に入射し、ポリゴンミラー1
80により反射、偏向されて再びカバーガラス375を
通して外部に射出される。なお、ポリゴンミラーカバー
373の上面には、ポリゴンミラー180の上面に付さ
れたマークMを検出してインデックス信号を出力するた
めのポリゴンセンサ(図示せず)を含むセンサブロック3
76が設けられている。
面倒れ誤差や湾曲等の加工誤差があり、一般に各反射面
の加工誤差量にはバラツキが生じる。そこで、各面の誤
差量を予め測定して記憶させておき、使用時にポリゴン
センサから出力されるインデックス信号に応じていずれ
の反射面が使用されているかを識別することにより、反
射面毎の固有の誤差量に応じてダイナミックプリズム1
60の回動角度を調整し、ビーム位置を補正する。
は、結像光学系であるfθレンズ190を透過した後、
図3に示されるように折り返しミラー200により反射
されて感光体ドラム210上に達し、8つのビームスポ
ットを形成する。これらのビームスポットは、ポリゴン
ミラー180の回転に伴って同時に走査され、感光体ド
ラム210上には一回の走査で8本の走査線が形成され
る。
走査に同期して図3に示される矢印R方向に回転駆動さ
れ、これにより感光体ドラム210上に静電潜像が形成
される。この潜像は、公知の電子写真プロセスにより、
図示せぬ用紙に転写される。
0側から折り返しミラー200側に向けて順に、主走査
方向、副走査方向の両方向に関してそれぞれ負、正、
正、負のパワーを有する第1、第2、第3、第4レンズ
191,193,195,197が配列して構成され、副
走査方向においてポリゴンミラー180のミラー面近傍
で線状に結像された光束を感光体ドラム210上に楕円
形状に再結像させるパワーを有する。
および図4に示されるように単一のレンズ台380上に
固定されている。なお、fθレンズ190は、単一波長
での使用を前提としているため、色収差は補正されてい
ない。
の光軸と平行な軸、y軸およびz軸は、x軸に垂直な面
内で互いに直交する軸である。y軸は主走査方向に一致
し、z軸はポリゴンミラー180と折り返しミラー20
0との間の光路中では副走査方向に一致する。
は、各走査毎に、すなわちポリゴンミラーの1つの反射
面による走査毎に、描画範囲に入る前に同期信号検出用
光学系220により検出される。同期信号検出用光学系
220は、fθレンズ190の第4レンズ197と折り
返しミラー200との間の光路中に配置されて描画範囲
の手前で光束を反射させる第1ミラー221と、この第
1ミラー221で反射された光束を順に反射させる第
2、第3ミラー223,225と、これらのミラーによ
り導かれた光束を受光する受光素子230とから構成さ
れている。受光素子230は、感光体ドラム210と光
学的に等価な位置に配置されている。8本のビームは、
走査に伴って1本づつ順番に受光素子230に入射し、
受光素子230からは1走査毎に8つのパルスが出力さ
れる。パルスが検出されると、そのパルスに対応する半
導体レーザーを駆動するレーザー駆動部に1ライン分の
画像データが転送され、パルスの検出から一定時間経過
後に書き込みが開始される。
200で反射された光束を透過させる描画用開口11が
形成されると共に、折り返しミラー200の背後に光学
調整用開口12が形成されている。描画用開口11に
は、カバーガラス201が装着されている。光学調整用
開口12は、折り返しミラー200を除く光学素子を組
み付けた後に、これらの光学素子を調整する際に使用さ
れ、描画のための使用時には図3に示されるように蓋板
13により閉成される。
学装置のポリゴンミラーカバー373の構造について説
明する。図5は、ポリゴンミラーカバー373の具体的
な構成を示す断面図、図6は図5を図中上側から見た平
面図、図7は図5をカバーガラス375側から見た正面
図である。
ように、ケーシング1に固定されたポリゴンモータ37
0の回転軸に直接取り付けられており、円柱状のキャッ
プ372により回転軸に固定されている。
形のカップ状に形成されており、ポリゴンミラー180
の複数の反射面を外周から囲む円筒状の側壁部373b
と、この側壁部373bの図5中上側の底面を閉塞する
底壁部373aとを備える。側壁部373bの下側の底
面は解放しており、下端には外周に延びる固定用フラン
ジ部373fが形成されている。ポリゴンミラーカバー
373は、この固定用フランジ部373fをケーシング
1に固定することによりケーシング1に取り付けられて
いる。
たように、ポリゴンミラー180の反射面への入射光と
反射光とを透過させる光路孔373eが設けられ、この
光路孔373eにはカバーガラス375が取り付けられ
ている。カバーガラス375は、表面反射光が迷光とな
ってfθレンズ190に入射するのを防ぐため、光束の
入射方向と平行なケーシング1に対して副走査方向の角
度が87゜となるよう傾けて配置されている。
0に付されたマークMを非接触で検出するポリゴンセン
サ374が挿入されるセンサ取付孔373dが、ポリゴ
ンミラー180の回転中心から偏心した位置に穿設され
ている。ポリゴンセンサ374は、図5に二点鎖線で示
したように、取付時にはセンサ取付孔373dからポリ
ゴンミラー180側に突出した位置に固定される。そし
て、底壁部373aの内面には、ポリゴンセンサ374
とほぼ等しい突出量をもつリブ373cが、センサ取付
孔373dを円周上に含むよう回転軸を中心としてリン
グ状に形成されている。リブ373cは、キャップ37
2の外周を囲むように配置される。
ップ372により固定する場合、ポリゴンミラー180
とポリゴンミラーカバー373の底壁部373aとの間
には所定の間隔が生じる。一方、ポリゴンミラー180
に付されたマークMを検出するセンサは、ポリゴンミラ
ー180との距離が短い方が少ない光量で検出が可能と
なり、かつ、信号の立ち上がりが鋭くなる。これらの前
提に鑑み、実施形態の装置ではポリゴンセンサ374を
底壁部373aの内面よりポリゴンミラー180側に突
出させて配置している。
ると、ポリゴンミラーカバー373内の空間の回転対称
性が失われ、ポリゴンミラー180の回転に伴って空間
内で発生する風の流れが乱されるという問題が生じる。
風の流れが乱れると、ポリゴンミラー180の回転ムラ
や振動が発生し、インデックス信号を安定して検出する
ことができなくなる。そこで、この例では、底壁部37
3aの内面にリブ373cを形成し、ポリゴンミラーカ
バー373内の空間が回転対称性を保っている。これに
より、ポリゴンミラー180の回転ムラや振動が抑制さ
れ、インデックス信号を安定して検出することができ
る。
ミラー側に投光する発光ダイオードと、この発光ダイオ
ードから発してポリゴンミラー180で反射された光を
受光する受光素子とから構成される。マークMは、この
例では黒色の油性インクで付されており、金属製の他の
部分より反射率が低くなるため、ポリゴンセンサ374
の下をマークMが通過する毎に受光素子の出力が一時的
に低下する。ポリゴンセンサ374は、この出力の変化
をインデックス信号として出力する。
およびその作用を図8に基づいて説明する。図8は、実
施形態の走査光学装置の制御系の概略を示すブロック図
である。制御系は、装置全体を制御する中央制御回路4
00を中心として、一走査毎に設定用、および描画用の
各タイミング信号を発生するタイミング信号発生回路4
10、外部から入力される描画データを走査線毎のドッ
トデータである描画信号に変換して出力する描画信号生
成回路420、各描画信号に基づいて半導体レーザー1
01〜108をON/OFF駆動するレーザー駆動回路451
〜458、APC用の第1、第2受光素子155、15
7の出力に基づいてAPC信号を生成するAPC信号生
成回路430、検出されたAPC信号を各レーザー駆動
回路451〜458に振り分けるスイッチング回路44
0を備えて構成されている。
71を駆動してポリゴンミラー180を回転させると共
に、感光体ドラム210が一定速で回転するようドラム
モータ211を駆動する。また、中央制御回路400
は、ポリゴンミラー180の周方向の特定の位置に付さ
れたマークMを検出するポリゴンセンサ374から出力
されるインデックス信号と同期信号検出用受光素子23
0から出力される同期信号とに基づいて現在、あるいは
次回の走査がポリゴンミラーの何れの面によるものかを
判断すると共に、感光体ドラム210の回転速度を検知
するドラムセンサ213の検出信号に基づいて感光体ド
ラムの回転ムラを検出する。
80に単一のマークMが付されている場合、インデック
ス信号の間隔を反射面の面数で分割することにより、現
在光束が何れの反射面で偏向されているのかを識別する
ことができる。
影響は感光体ドラム上での各スポットの副走査方向への
シフトとして現れるため、この影響を補正するようダイ
ナミックプリズム160の角度を変化させる。中央制御
回路400のメモリ401には、ポリゴンミラー180
の各面の面倒れによる感光体ドラム210上でのスポッ
トのシフト量が予め入力されており、ポリゴンセンサ3
74の出力から次回の走査に使用される反射面が特定さ
れると、その反射面によるスポットのシフトを相殺でき
るダイナミックプリズム160の角度を求め、これに基
づいてプリズム駆動部161を制御してダイナミックプ
リズム160の角度を設定する。ダイナミックプリズム
160の設定角度は、プリズムセンサ163により検出
され、プリズム駆動部161は、このセンサ出力に基づ
いてダイナミックプリズムをクローズドループで制御す
る。プリズムセンサ163は、例えばダイナミックミラ
ー160の一面に形成されたミラー部分に向けて光束を
入射させる発光素子と、この発光素子から発してミラー
部分で反射された光束の位置を検出する受光素子とから
構成される。面倒れによるスポットのシフトは反射面毎
に一定の値となるため、上記の設定角度が当該反射面に
おけるダイナミックプリズム160の基準角度となる。
れ誤差に基づく感光体ドラム210上でのスポットのシ
フト量は、各反射面の面倒れ角度を測定することにより
計算で求めてもよいし、1つの半導体レーザーを発光さ
せた際の所定の像高でのビームスポットの反射面毎の差
を感光体ドラム210上、またはこれと光学的に等価な
面上で実測することにより求めてもよい。求められた補
正データは、中央制御回路に接続された補正量入力装置
460から入力される。補正量入力装置460は、少な
くとも調整段階において接続されていれば足り、調整後
には取り外してもよい。
面倒れのように既知の誤差ではなくランダムに発生する
誤差であるため、中央制御回路400は、ドラムセンサ
213の出力から回転ムラの発生が検知された際に、検
出された回転ムラによるスポットのシフトを相殺するよ
うプリズム駆動部161を制御する。ダイナミックプリ
ズム160の調整角度とそれによる偏角の変動量との関
係は非線形であるため、面倒れによるシフトを補正する
ための調整角度と回転ムラによるシフトを補正するため
の調整角度とを独立して演算することはできない。この
ため、中央制御回路400は、当該反射面における面倒
れによるシフト量と回転ムラによるシフト量とを加算し
て総合的なシフト量を求め、この総合的なシフト量を相
殺するためのダイナミックプリズム160の調整角度を
求めてプリズム駆動部161を制御する。
とfθレンズとの組み合わせによっては補正しきれない
ポリゴンミラー180の面倒れ、および感光体ドラム2
10の回転ムラによるスポットの副走査方向へのシフト
を補正し、走査線の副走査方向の位置を正確に制御して
いる。
のシフトのみを補正の対象としているが、その他、例え
ばポリゴンミラー面の主走査方向の湾曲によるスポット
の走査速度の変化を補正することもできる。この場合、
ダイナミックプリズム160を主走査方向の偏角作用を
もつように配置すると共に、これを副走査方向の軸回り
に回動させてビームスポットの主走査方向の位置を制御
する。
値をもち、かつ、湾曲によるビームスポット位置のシフ
トは、主走査方向の走査位置、すなわち像高に依存して
変化するため、補正データとしては各反射面毎に各像高
毎の補正量をメモリ401に予め記憶させておく。補正
時には、ポリゴンセンサ374から出力されるインデッ
クス信号と同期信号検出用受光素子230から各走査毎
に出力される同期信号とに基づいて現在光束を偏向させ
ている反射面を識別すると共に、同期信号の立ち上がり
からの時間から像高を特定し、当該反射面の当該像高に
おける補正量をメモリ401から読み出し、ダイナミッ
クプリズム160を回動させてビームスポットの主走査
方向の位置を補正する。
走査が終了して走査に利用されるポリゴンミラーの反射
面が次の反射面に切り替わった後、第1、第2、第3の
タイミング信号を生成する。
るために各半導体レーザー101〜108をそれぞれ別
個に順次発光させるための信号であり、各レーザー駆動
回路451〜458、およびスイッチング回路440へ
出力される。
えられて発光する各半導体レーザーの出力をAPC用の
第1、第2受光素子155、157から検出し、これに
基づいて各半導体レーザー毎のAPC信号を出力する。
スイッチング回路440は、上記の第1のタイミング信
号にしたがってAPC信号生成回路430から出力され
るAPC信号を、対応するレーザー駆動回路に入力させ
るよう出力先を選択する。例えば、第1の半導体レーザ
ー101が発光している期間内の一定期間、スイッチS
W1を導通させ、その際に出力されているAPC信号を
第1のレーザー駆動回路451に入力させる。各レーザ
ー駆動回路451〜458は、入力されるAPC信号に
基づいて半導体レーザーの出力が基準レベルとなるよう
ゲインを設定する。
得るために全ての半導体レーザーを同時に発光させるた
めの信号であり、各レーザー駆動回路451〜458に
出力される。同期信号検出用受光素子230に入射する
半導体レーザー101〜108からの光束は、主走査方
向において互いに分離されているため、同時に点灯させ
ても同期信号検出用受光素子230にはそれぞれの半導
体レーザー101〜108からの光束が異なるタイミン
グで達する。
受光素子230から出力される信号を検出して生成され
る各走査線毎の水平同期パルスであり、このパルスは描
画信号生成回路420に出力される。描画信号生成回路
420は、各水平同期パルスが入力されてから一定時間
経過後、それぞれのレーザー駆動回路451〜458に
描画信号を供給して描画を開始させる。
ー144を透過して偏光ビームスプリッター153によ
り分離された2つの直線偏光成分をそれぞれ受光するA
PC用第1、第2受光素子155、157の出力を所定
の割合で増幅して加算することにより、APC信号を求
めて出力する。
は、タイミング信号発生回路410からタイミング信号
が入力された際に、スイッチSW1のオンと同期してA
PC信号生成回路430から出力されるAPC信号を取
り込んでホールドし、これと半導体レーザーの所定の基
準出力に対応する基準電圧との差を演算し、この結果得
られた差動信号によりゲインを設定する。また、レーザ
ー駆動回路451〜458は、描画信号生成回路420
から入力される描画信号に基づいて半導体レーザー10
1をON/OFF制御するが、この際の駆動電圧は差動信号に
より設定されたゲインにより調整される。この構成によ
り、感光体ドラム面上におけるビームスポットの強度が
基準レベルとなるよう半導体レーザーの出力が制御され
る。
ば、ポリゴンミラーの複数の反射面のうち、現在何れの
面で光束が偏向されているかをインデックス信号に基づ
いて特定することができる。したがって、各反射面毎に
異なる特性を調整時に予めメモリに格納しておくことに
より、実使用時には反射面毎の特性に基づく補正をかけ
ることができる。
示す斜視図である。
走査方向の説明図である。
な構成を示す断面図である。
る。
ック図である。
Claims (8)
- 【請求項1】 光源と、 前記光源から発した光束を反射、偏向させる複数の反射
面と、前記反射面以外の面における回転中心から偏心し
た位置に付されたマークとを備えるポリゴンミラーと、 前記ポリゴンミラーを覆って配置されるポリゴンミラー
カバーと、 前記ポリゴンミラーで反射された光束を収束させて走査
対象面上にビームスポットを形成する走査レンズと、 前記ポリゴンミラーカバーに取り付けられ、前記マーク
を光学的に読み取る毎にインデックス信号を出力するセ
ンサと、 前記複数の反射面の一面毎の形状誤差に起因する走査対
象面上でのビームスポットに関する情報を記憶するメモ
リと、 前記インデックス信号に基づいて前記メモリから光束の
偏向に用いられている反射面の誤差情報を読み出し、誤
差を補正するよう光束を制御する補正手段と、を備え、 前記ポリゴンミラーカバーは、前記ポリゴンミラーの複
数の反射面を外周から囲む円筒状の側壁部と、該側壁部
の一方の底面を閉塞する底壁部とを有し、 前記底壁部には、前記センサが挿入されるセンサ取付孔
が前記ポリゴンミラーの回転中心から偏心した位置に穿
設され、 前記底壁部の内面には、前記内面より前記ポリゴンミラ
ー側に突出する前記センサとほぼ等しい突出量をもつリ
ブが、前記センサ取付孔を円周上に含むよう前記回転軸
を中心としてリング状に形成されていることを特徴とす
る走査光学装置。 - 【請求項2】 前記メモリには、前記ポリゴンミラーの
反射面毎の形状誤差に基づく前記走査対象面上でのビー
ムスポットの位置誤差が前記誤差情報として記憶され、
前記補正手段は、前記形状誤差による位置誤差を相殺す
るよう光束の角度を前記各反射面毎に補正することを特
徴とする請求項1に記載の走査光学装置。 - 【請求項3】 前記補正手段は、前記光源と前記ポリゴ
ンミラーとの間の光路中に配置され、回動により偏角作
用が変化するダイナミックプリズムと、該ダイナミック
プリズムを回動させて偏角作用を変化させる駆動機構と
を含むことを特徴とする請求項1または請求項2に記載
の走査光学装置。 - 【請求項4】 前記メモリには、前記ポリゴンミラーの
反射面毎の面倒れ誤差に基づく前記走査対象面上でのビ
ームスポットの副走査方向の位置誤差が前記誤差情報と
して記憶され、前記補正手段は、前記面倒れ誤差による
位置誤差を相殺するよう光束の副走査方向の角度を補正
することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか
に記載の走査光学装置。 - 【請求項5】 前記補正手段は、前記光源と前記ポリゴ
ンミラーとの間の光路中に主走査方向の軸回りに回動可
能に配置された副走査方向に偏角作用をもつダイナミッ
クプリズムと、該ダイナミックプリズムを主走査方向の
軸回りに回動させる駆動機構とを含むことを特徴とする
請求項1から請求項4のいずれかに記載の走査光学装
置。 - 【請求項6】 前記ポリゴンミラーカバーの前記側壁部
には、前記ポリゴンミラーの反射面への入射光と反射光
とを透過させる光路孔が設けられていることを特徴とす
る請求項1から請求項5のいずれかに記載の走査光学装
置。 - 【請求項7】 前記光路孔には、入射光束の軸に対する
副走査方向の角度が所定角度になるように傾けられた状
態でガラスプレートが嵌合されていることを特徴とする
請求項6に記載の走査光学装置。 - 【請求項8】 ポリゴンミラーの複数の反射面を外周か
ら囲む円筒状の側壁部と、該側壁部の一方の底面を閉塞
する底壁部とを備え、前記側壁部に前記ポリゴンミラー
の反射面への入射光と反射光とを透過させる光路孔が設
けられたポリゴンミラーカバーにおいて、前記底壁部に
は、前記ポリゴンミラーに付されたマークを検知するセ
ンサが挿入されるセンサ取付孔が、前記ポリゴンミラー
の回転軸から偏心した位置に穿設され、前記底壁部の内
面には、前記内面より前記ポリゴンミラー側に突出する
前記センサとほぼ等しい突出量をもつリブが、前記セン
サ取付孔を円周上に含むよう前記回転軸を中心としてリ
ング状に形成されていることを特徴とするポリゴンミラ
ーカバー。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04060496A JP3283177B2 (ja) | 1996-02-02 | 1996-02-02 | 走査光学装置およびポリゴンミラーカバー |
IL12011597A IL120115A (en) | 1996-01-31 | 1997-01-31 | Scanning optical device and polygom mirror cover |
US08/791,964 US5838001A (en) | 1996-01-31 | 1997-01-31 | Scanning optical device and polygon mirror cover |
DE19703596A DE19703596C2 (de) | 1996-01-31 | 1997-01-31 | Abtastvorrichtung und Polygonspiegelabdeckung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04060496A JP3283177B2 (ja) | 1996-02-02 | 1996-02-02 | 走査光学装置およびポリゴンミラーカバー |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09211370A JPH09211370A (ja) | 1997-08-15 |
JP3283177B2 true JP3283177B2 (ja) | 2002-05-20 |
Family
ID=12585128
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04060496A Expired - Lifetime JP3283177B2 (ja) | 1996-01-31 | 1996-02-02 | 走査光学装置およびポリゴンミラーカバー |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3283177B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11820158B2 (en) | 2018-10-19 | 2023-11-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus |
JP7175706B2 (ja) * | 2018-10-19 | 2022-11-21 | キヤノン株式会社 | 画像形成装置 |
JP7175705B2 (ja) * | 2018-10-19 | 2022-11-21 | キヤノン株式会社 | 画像形成装置 |
-
1996
- 1996-02-02 JP JP04060496A patent/JP3283177B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Publication date |
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JPH09211370A (ja) | 1997-08-15 |
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