JP3281063B2 - 光ディスクのサーティファイ方法 - Google Patents
光ディスクのサーティファイ方法Info
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Description
【0001】
【技術分野】本発明は、光ディスクのサーティファイ方
法に関し、より詳細には、光ディスクドライブ装置ある
いはメディア検査装置におけるサーティファイ方法に関
する。
法に関し、より詳細には、光ディスクドライブ装置ある
いはメディア検査装置におけるサーティファイ方法に関
する。
【0002】
【従来技術】本発明に係る従来技術を記載した文献とし
ては、例えば、「90mm書換形/再生専用形のフォー
マットとデータ入出力実際」(瀬川秀樹、情報処理、J
an.1992,P48〜54)がある。この文献のも
のは、90mmMO(Magneto-Optics;光磁気)光ディ
スクの内容をレイアウトや欠陥セクタの扱い方を中心に
記載されている。以下、前記文献に基づき、従来の交代
処理方法について説明する。MO光ディスクは、フロッ
ピィディスクやハードディスクと同様に、コンピュータ
の外部メモリとして用いられ、ユーザのデータはディジ
タル信号として記録される。MO光ディスクのデータ領
域は「セクタ」という単位で分割されている。図4に示
すように、データ領域には半径24mmから40mmに
ある10,000本のトラックがあり、1トラックに2
5セクタ含まれるので、250,000セクタがデータ
領域である。しかし、データ領域には、図5のような種
類のセクタがあるので、この250,000セクタの全
てでユーザが自由にデータを記録・再生できるというわ
けではない。
ては、例えば、「90mm書換形/再生専用形のフォー
マットとデータ入出力実際」(瀬川秀樹、情報処理、J
an.1992,P48〜54)がある。この文献のも
のは、90mmMO(Magneto-Optics;光磁気)光ディ
スクの内容をレイアウトや欠陥セクタの扱い方を中心に
記載されている。以下、前記文献に基づき、従来の交代
処理方法について説明する。MO光ディスクは、フロッ
ピィディスクやハードディスクと同様に、コンピュータ
の外部メモリとして用いられ、ユーザのデータはディジ
タル信号として記録される。MO光ディスクのデータ領
域は「セクタ」という単位で分割されている。図4に示
すように、データ領域には半径24mmから40mmに
ある10,000本のトラックがあり、1トラックに2
5セクタ含まれるので、250,000セクタがデータ
領域である。しかし、データ領域には、図5のような種
類のセクタがあるので、この250,000セクタの全
てでユーザが自由にデータを記録・再生できるというわ
けではない。
【0003】ROM(Read Only Memory)領域は再生専
用領域である。ROM領域のデータは音楽用CDと同様
に,凹凸のピットで形成されている(Rewritable 領域
のデータは磁性体上の磁化マークで形成されている)。
ROM領域のデータは交代処理ができないので、そのか
わりに「Parity Sector」と呼ばれる特殊なセクタが配
置されている。1セクタのParity Sectorは25セクタ
分のデータから生成される。もし、この25セクタの中
で欠陥などによって、セクタ内にあるECC(Error Co
rrection Code)でも訂正できないデータがある場合で
も、Parity Sectorを用いると訂正することができる。
上述のようなROM領域のレイアウトに関する情報は、 コントロールトラック DDS(Disk Definition Sector) に記録されている。
用領域である。ROM領域のデータは音楽用CDと同様
に,凹凸のピットで形成されている(Rewritable 領域
のデータは磁性体上の磁化マークで形成されている)。
ROM領域のデータは交代処理ができないので、そのか
わりに「Parity Sector」と呼ばれる特殊なセクタが配
置されている。1セクタのParity Sectorは25セクタ
分のデータから生成される。もし、この25セクタの中
で欠陥などによって、セクタ内にあるECC(Error Co
rrection Code)でも訂正できないデータがある場合で
も、Parity Sectorを用いると訂正することができる。
上述のようなROM領域のレイアウトに関する情報は、 コントロールトラック DDS(Disk Definition Sector) に記録されている。
【0004】Rewritableの領域の特徴は「交代処理」が
なされることである。「交代処理」は前述のParity Sec
torのように訂正能力をもったセクタを付加するのでは
なく、エラーが多いセクタのデータをそのまま別のセク
タに移し換える動作を指す。「交代処理」の方式には次
の2方式がある。 Linear replacement 方式 Slipping 方式
なされることである。「交代処理」は前述のParity Sec
torのように訂正能力をもったセクタを付加するのでは
なく、エラーが多いセクタのデータをそのまま別のセク
タに移し換える動作を指す。「交代処理」の方式には次
の2方式がある。 Linear replacement 方式 Slipping 方式
【0005】Linear replacement 方式 ユーザが実際にデータを記録・再生する場合はこの方式
で処理交代が行われる。エラーが多く、交代処理されて
しまったセクタを「元セクタ」、交代処理先のセクタを
「交代セクタ」と名付けると、まず、「元セクタ」にユ
ーザが所望のデータを記録した直後に、この記録結果が
正しいかどうかを調ベるために、この元セクタを読む。
その結果、エラーが一定値以下ならば、すなわちECC
で十分に訂正が可能ならば「OK」として、記録動作を
終了するが、エラーが一定値を越えている場合、すなわ
ち、あと少しエラーが増えるだけでECCを用いても訂
正できなくなる場合、「元セクタ」は使用せずに「交代
セクタ」に再記録する(エラーが一定値を越え、交代処
理される必要があるセクタを「Bad sector」と呼ぶ)。
もし、この「交代セクタ」も Bad sector の場合は、次
の交代セクタに再々記録する。
で処理交代が行われる。エラーが多く、交代処理されて
しまったセクタを「元セクタ」、交代処理先のセクタを
「交代セクタ」と名付けると、まず、「元セクタ」にユ
ーザが所望のデータを記録した直後に、この記録結果が
正しいかどうかを調ベるために、この元セクタを読む。
その結果、エラーが一定値以下ならば、すなわちECC
で十分に訂正が可能ならば「OK」として、記録動作を
終了するが、エラーが一定値を越えている場合、すなわ
ち、あと少しエラーが増えるだけでECCを用いても訂
正できなくなる場合、「元セクタ」は使用せずに「交代
セクタ」に再記録する(エラーが一定値を越え、交代処
理される必要があるセクタを「Bad sector」と呼ぶ)。
もし、この「交代セクタ」も Bad sector の場合は、次
の交代セクタに再々記録する。
【0006】「交代セクタ」は、「交代処理領域」と呼
ばれる領域にまとめてレイアウトされている。また「元
セクタ」と「交代セクタ」のPBA(Physical Block A
ddress;物理アドレス)は、SDL(Secondary Defect
List)に記録され、ドライブはSDLを読むことで、
使用されなかった「元セクタ」と実際に正規に記録が行
われた「交代セクタ」を知ることができる。もともと
「元セクタ」に割り当てようとしていたLBA(Logica
l Block Address;論理アドレス)は「交代セクタ」が
代行することになる。
ばれる領域にまとめてレイアウトされている。また「元
セクタ」と「交代セクタ」のPBA(Physical Block A
ddress;物理アドレス)は、SDL(Secondary Defect
List)に記録され、ドライブはSDLを読むことで、
使用されなかった「元セクタ」と実際に正規に記録が行
われた「交代セクタ」を知ることができる。もともと
「元セクタ」に割り当てようとしていたLBA(Logica
l Block Address;論理アドレス)は「交代セクタ」が
代行することになる。
【0007】Slipping方式 この方式は、ディスクをサーティファイするときに同時
に行われる。サーティファイとは、MO光ディスクを使
用する前に、ディスク全面で「試し記録・再生」を行な
い、Bad secterを抽出する作業である。サーティファイ
によって発生されたBad secterのPBA(物理アドレ
ス)は、PDL(Primary Defect List)に登録され
る。前述の Linear replacement 方式では、「元セク
タ」と「交代セクタ」の二つのPBAだけをSDLに登
録されるが、この Slipping 方式では「元セクタ」のP
BAだけをPDLに登録する。該PDLに登録されたセ
クタに割り当てようとしていたLBA(論理アドレス)
は、このセクタの直後のセクタが代行する。つまり、L
BAが1セクタ後にスリップするのである。
に行われる。サーティファイとは、MO光ディスクを使
用する前に、ディスク全面で「試し記録・再生」を行な
い、Bad secterを抽出する作業である。サーティファイ
によって発生されたBad secterのPBA(物理アドレ
ス)は、PDL(Primary Defect List)に登録され
る。前述の Linear replacement 方式では、「元セク
タ」と「交代セクタ」の二つのPBAだけをSDLに登
録されるが、この Slipping 方式では「元セクタ」のP
BAだけをPDLに登録する。該PDLに登録されたセ
クタに割り当てようとしていたLBA(論理アドレス)
は、このセクタの直後のセクタが代行する。つまり、L
BAが1セクタ後にスリップするのである。
【0008】Rewritable領域は、「グループ」と呼ばれ
るまとまりに分割される。各々のグループには、「ユー
ザデータ領域」と「交代処理領域」がある。グループの
数が少ないと、一つのユーザデータ領域にあるセクタ数
が多いので、交代処理領域を使用することが少ない場
合、つまりBad sectorが少ない場合は、連続してLBA
が得られるので高速の転送レートとなる。逆にグループ
の数が多いと、「ユーザデータ領域」と「交代処理領域」の
距離が近いので、交代処理領域を使用することが多い場
合でも、レーザ光すなわちピックアップの移動距離が少
なくてすむ。そのため、転送レートを大きく劣化させる
ことがない。
るまとまりに分割される。各々のグループには、「ユー
ザデータ領域」と「交代処理領域」がある。グループの
数が少ないと、一つのユーザデータ領域にあるセクタ数
が多いので、交代処理領域を使用することが少ない場
合、つまりBad sectorが少ない場合は、連続してLBA
が得られるので高速の転送レートとなる。逆にグループ
の数が多いと、「ユーザデータ領域」と「交代処理領域」の
距離が近いので、交代処理領域を使用することが多い場
合でも、レーザ光すなわちピックアップの移動距離が少
なくてすむ。そのため、転送レートを大きく劣化させる
ことがない。
【0009】上述のような、グループ分け、Bad sector
の位置などの情報は全てDMA(Defect Management Ar
ea)に記録されている。該DMAはディスクの最内周付
近と最外周付近にそれぞれ3トラックずつ設けられてい
る。DMAには、 DDS(Disk Definition Secter) PDL登録用セクタ SDL登録用セクタ がある。グループ分けの情報は、前記DDSに、また、
Bad sectorの位置および交代セクタの位置は、PDL登
録用セクタ,SDL登録用セクタに記録される。ドライ
ブはディスクに記録・再生する前にこれらの情報をDM
Aから読み取る。以上が前記文献に記載されている交代
処理について標準で定められた方法である。このよう
に、グループの区分としてDDS、Slippeng方法として
登録されるPDL、Linear replacementとして登録され
るSDLがある。
の位置などの情報は全てDMA(Defect Management Ar
ea)に記録されている。該DMAはディスクの最内周付
近と最外周付近にそれぞれ3トラックずつ設けられてい
る。DMAには、 DDS(Disk Definition Secter) PDL登録用セクタ SDL登録用セクタ がある。グループ分けの情報は、前記DDSに、また、
Bad sectorの位置および交代セクタの位置は、PDL登
録用セクタ,SDL登録用セクタに記録される。ドライ
ブはディスクに記録・再生する前にこれらの情報をDM
Aから読み取る。以上が前記文献に記載されている交代
処理について標準で定められた方法である。このよう
に、グループの区分としてDDS、Slippeng方法として
登録されるPDL、Linear replacementとして登録され
るSDLがある。
【0010】従来技術の第1の問題点は、PDLを作成
するBad sectorの判断基準についてである。従来は、デ
ィスク全面に渡ってサーティファイを同一の判断基準で
行われていた。ところが、DDS,PDL,SDLなど
が書き込まれるいわゆるDMA領域と一般のデータが書
かれる領域の使われ方が違う。DMA領域は、交代処理
が行われない領域である。従ってメーカーとして一般の
データ領域よりもBadsectorを発生をなくして信頼を高
める必要がある。また一般のデータ領域の中でも例え
ば、DOSデータの領域を管理する情報(IPL,FA
T,ルート・ディレクトリ)が書かれる領域は、データ
領域全体を管理する重要な領域で、このディスクを利用
しようとする場合必ず読み出す部分である。ユーザとし
てもこの部分もBad sectorの発生を少なくして信頼を高
めて欲しいところである。これらの領域は、サーティフ
ァイをする時はもちろんその読み出すときもエラーにな
らないもしくは増加しないことが要求される。一般に、
最初にエラーになったところは、その後エラーが少ない
ことはなくむしろ増加する傾向がある。
するBad sectorの判断基準についてである。従来は、デ
ィスク全面に渡ってサーティファイを同一の判断基準で
行われていた。ところが、DDS,PDL,SDLなど
が書き込まれるいわゆるDMA領域と一般のデータが書
かれる領域の使われ方が違う。DMA領域は、交代処理
が行われない領域である。従ってメーカーとして一般の
データ領域よりもBadsectorを発生をなくして信頼を高
める必要がある。また一般のデータ領域の中でも例え
ば、DOSデータの領域を管理する情報(IPL,FA
T,ルート・ディレクトリ)が書かれる領域は、データ
領域全体を管理する重要な領域で、このディスクを利用
しようとする場合必ず読み出す部分である。ユーザとし
てもこの部分もBad sectorの発生を少なくして信頼を高
めて欲しいところである。これらの領域は、サーティフ
ァイをする時はもちろんその読み出すときもエラーにな
らないもしくは増加しないことが要求される。一般に、
最初にエラーになったところは、その後エラーが少ない
ことはなくむしろ増加する傾向がある。
【0011】次に、従来技術の第2の問題点は、サーテ
ィファイを行う特定パターンについてである。従来は、
サーティファイはディスク全面に渡って同一パターンで
行われていた。該パターンは、各種パターンが考えられ
る。例えば、8Tと呼ばれるものは比較的長いエラーを
見つけるのに優れるが、小さなエラーの場合に見逃した
り、実際よりも多くなる場合がある。また、逆に、3T
と呼ばれるものは小さなエラーを見つけるのに優れる
が、大きなエラーを見逃したり、実際よりも少なくなる
場合がある。また、一般にディスクの内周、外周と中周
では発生する欠陥の発生具合が違う。例えば、内周、外
周では製造装置の発塵、材料の不純物等により形状が大
小にかかわらず発生する傾向があり、中周では他の部分
より欠陥が少なく形状も安定している。したがって、場
所によってエラーの発生形態が違う場合もある。したが
って、信頼を高めるためには、それぞれの利用方法と場
所に適した特定パターンを選択することが必要である。
ィファイを行う特定パターンについてである。従来は、
サーティファイはディスク全面に渡って同一パターンで
行われていた。該パターンは、各種パターンが考えられ
る。例えば、8Tと呼ばれるものは比較的長いエラーを
見つけるのに優れるが、小さなエラーの場合に見逃した
り、実際よりも多くなる場合がある。また、逆に、3T
と呼ばれるものは小さなエラーを見つけるのに優れる
が、大きなエラーを見逃したり、実際よりも少なくなる
場合がある。また、一般にディスクの内周、外周と中周
では発生する欠陥の発生具合が違う。例えば、内周、外
周では製造装置の発塵、材料の不純物等により形状が大
小にかかわらず発生する傾向があり、中周では他の部分
より欠陥が少なく形状も安定している。したがって、場
所によってエラーの発生形態が違う場合もある。したが
って、信頼を高めるためには、それぞれの利用方法と場
所に適した特定パターンを選択することが必要である。
【0012】一般にユーザが光ディスクを利用するに
は、DOSというソフトウェアでデータ領域を管理す
る。これは、サーティファイ動作を行った後、フォーマ
ット動作を行って初めて利用出来る。フォーマット動作
は、DDSに書かれた情報に基づいた論理アドレスの一
部にデータ領域を管理する情報(IPL,FAT,ルー
ト・ディレクトリ)を書き込むことである。したがっ
て、サーティファイ動作をする時には書き込む領域が予
め判らない場合がある。
は、DOSというソフトウェアでデータ領域を管理す
る。これは、サーティファイ動作を行った後、フォーマ
ット動作を行って初めて利用出来る。フォーマット動作
は、DDSに書かれた情報に基づいた論理アドレスの一
部にデータ領域を管理する情報(IPL,FAT,ルー
ト・ディレクトリ)を書き込むことである。したがっ
て、サーティファイ動作をする時には書き込む領域が予
め判らない場合がある。
【0013】
【目的】本発明は、上述のごとき実情に鑑みてなされた
もので、ディスクの信頼を高めるために、交代処理に廻
る不良セクタを早く除去し、交代処理をする時間を短縮
すること、すなわち、書き込まれる領域の重要さにより
Bad sector 判断基準よりも厳しくして交代処理に廻る
不良セクタになろうとするものを事前に除去すること、
また、書き込まれる領域の重要さにより特定パターンを
選択して交代処理に廻る不良セクタになろうとするもの
を事前に除去するようにした光ディスクのサーティファ
イ方法を提供することを目的としてなされたものであ
る。
もので、ディスクの信頼を高めるために、交代処理に廻
る不良セクタを早く除去し、交代処理をする時間を短縮
すること、すなわち、書き込まれる領域の重要さにより
Bad sector 判断基準よりも厳しくして交代処理に廻る
不良セクタになろうとするものを事前に除去すること、
また、書き込まれる領域の重要さにより特定パターンを
選択して交代処理に廻る不良セクタになろうとするもの
を事前に除去するようにした光ディスクのサーティファ
イ方法を提供することを目的としてなされたものであ
る。
【0014】
【構成】本発明は、上記目的を達成するために、(1)
光ディスクに特定パターンを書き込み、ベリファイして
不良セクタを検出し、該不良セクタを使用しないことを
登録する光ディスクのサーティファイ方法において、前
記不良セクタの判断基準を、交代処理が行われない領
域、データ領域の管理情報が書かれる領域、交代処理領
域、ユーザデータ領域によって変えること、或いは、
(2)光ディスクに特定パターンを書き込み、ベリファ
イして不良セクタを検出し、該不良セクタを使用しない
ことを登録する光ディスクのサーティファイ方法におい
て、前記書き込まれる特定パターンを、交代処理が行わ
れない領域、データ領域の管理情報が書かれる領域、交
代処理領域、ユーザデータ領域によって変えることを特
徴としたものである。以下、本発明の実施例に基づいて
説明する。
光ディスクに特定パターンを書き込み、ベリファイして
不良セクタを検出し、該不良セクタを使用しないことを
登録する光ディスクのサーティファイ方法において、前
記不良セクタの判断基準を、交代処理が行われない領
域、データ領域の管理情報が書かれる領域、交代処理領
域、ユーザデータ領域によって変えること、或いは、
(2)光ディスクに特定パターンを書き込み、ベリファ
イして不良セクタを検出し、該不良セクタを使用しない
ことを登録する光ディスクのサーティファイ方法におい
て、前記書き込まれる特定パターンを、交代処理が行わ
れない領域、データ領域の管理情報が書かれる領域、交
代処理領域、ユーザデータ領域によって変えることを特
徴としたものである。以下、本発明の実施例に基づいて
説明する。
【0015】まず、不良セクタ(bad sector)の定義
は、標準では、IDの読めない数が2,3個、SM
(セクタマーク)が認識されない、データフィールド
に3バイト以上の欠陥がある、のうちに該当するとのガ
イドラインがある。次に、書き込まれる領域について説
明する。光ディスクは一般的にスパイラル状に連なり、
一周分をトラック、さらにそれを分割したセクタと呼ば
れるもので構成される。1セクタに書かれる内容は、9
0mmディスクでは図1のようになる。図中、SMはセ
クタマーク、VFO1,VFO2,VFO3はPLLロック
用の連続データパターン、AMはアドレスマーク、ID
はアドレス、CRC(Cyclic Redundancy Code)はID
部誤り検出用コード、PAはポストアンブル、ODF
(Offset Detection Flag)はプッシュプル法を用いる
トラッキングエラー検出におけるオフセット検出用のマ
ーク、GAPはギャップ、SYNはデータ部の周期信
号、DATA Fieldはユーザデータを書く領域、
BUFはディスク回転変動マージン用の領域である。
は、標準では、IDの読めない数が2,3個、SM
(セクタマーク)が認識されない、データフィールド
に3バイト以上の欠陥がある、のうちに該当するとのガ
イドラインがある。次に、書き込まれる領域について説
明する。光ディスクは一般的にスパイラル状に連なり、
一周分をトラック、さらにそれを分割したセクタと呼ば
れるもので構成される。1セクタに書かれる内容は、9
0mmディスクでは図1のようになる。図中、SMはセ
クタマーク、VFO1,VFO2,VFO3はPLLロック
用の連続データパターン、AMはアドレスマーク、ID
はアドレス、CRC(Cyclic Redundancy Code)はID
部誤り検出用コード、PAはポストアンブル、ODF
(Offset Detection Flag)はプッシュプル法を用いる
トラッキングエラー検出におけるオフセット検出用のマ
ーク、GAPはギャップ、SYNはデータ部の周期信
号、DATA Fieldはユーザデータを書く領域、
BUFはディスク回転変動マージン用の領域である。
【0016】トラック番号やセクタ番号の記録されるI
D領域には高い信頼性が要求される。また、欠陥の発生
状態によっては1セクタ全体の情報が再生できなくなる
事態にもなり、ユーザが使える有効率が減少する。この
ため、ID領域は誤り検出のCRC(Cyclic Redundanc
y Code)を付加した上で3重書きし、各ID領域の前に
PLL引き込み用のVFOをそれぞれ配置し、さらにS
M(セクタマーク)が欠陥などにより検出できないとき
でもAM(アドレスマーク)を変調規則にないイレギュ
ラーパターンとすることで、AMからIDを検出できる
ように工夫されている。ODFは案内溝のない1バイト
分の領域で、トラッキングオフセット量の検出に利用さ
れる。
D領域には高い信頼性が要求される。また、欠陥の発生
状態によっては1セクタ全体の情報が再生できなくなる
事態にもなり、ユーザが使える有効率が減少する。この
ため、ID領域は誤り検出のCRC(Cyclic Redundanc
y Code)を付加した上で3重書きし、各ID領域の前に
PLL引き込み用のVFOをそれぞれ配置し、さらにS
M(セクタマーク)が欠陥などにより検出できないとき
でもAM(アドレスマーク)を変調規則にないイレギュ
ラーパターンとすることで、AMからIDを検出できる
ように工夫されている。ODFは案内溝のない1バイト
分の領域で、トラッキングオフセット量の検出に利用さ
れる。
【0017】1セクタのうちヘッダ部分はすでにエンボ
スで作られているので、光ディスクドライブで読み書き
するのはレコーディング部分である。また、レコーディ
ング部分で実際のデータの部分は、図2に示すデータフ
ィールドの639バイトのさらに512バイトであり、
エラー訂正をするためのECC,CRCが付与される。
また、半径位置と領域は、図4に示す。このうち交代処
理に関係するのはデータゾーンである。サーティファイ
動作は、90mmディスクでは上記のデータゾーンに特
定なパターンデータで書き込みベリファイし、上記の不
良セクタに該当するものを調べる。もし、不良セクタに
なったらその該当するトラックとセクタ番号をPDLに
登録する。ここに登録された不良セクタを使用しないで
欠番にする方式を Slipping 方式という。
スで作られているので、光ディスクドライブで読み書き
するのはレコーディング部分である。また、レコーディ
ング部分で実際のデータの部分は、図2に示すデータフ
ィールドの639バイトのさらに512バイトであり、
エラー訂正をするためのECC,CRCが付与される。
また、半径位置と領域は、図4に示す。このうち交代処
理に関係するのはデータゾーンである。サーティファイ
動作は、90mmディスクでは上記のデータゾーンに特
定なパターンデータで書き込みベリファイし、上記の不
良セクタに該当するものを調べる。もし、不良セクタに
なったらその該当するトラックとセクタ番号をPDLに
登録する。ここに登録された不良セクタを使用しないで
欠番にする方式を Slipping 方式という。
【0018】また、その後、REWRITEBIE ZONE をどのよ
うに使用するかを説明したDDSを書き込む。この後、
REWRITEBIE ZONE にデータを書き込んだり、読み出し
たりする。この時、書き込みベリファイや、読み出した
データに上記の不良セクタに該当するものがある場合、
その不良セクタに書き込もうとしたあるいは読み出した
データを交代処理領域(DDSで指定される)へ書き込
み、不良セクタとなったトラックとセクタ番号と交代処
理領域のトラックとセクタ番号をSDLに登録する。こ
の方式を Linear replacement という。
うに使用するかを説明したDDSを書き込む。この後、
REWRITEBIE ZONE にデータを書き込んだり、読み出し
たりする。この時、書き込みベリファイや、読み出した
データに上記の不良セクタに該当するものがある場合、
その不良セクタに書き込もうとしたあるいは読み出した
データを交代処理領域(DDSで指定される)へ書き込
み、不良セクタとなったトラックとセクタ番号と交代処
理領域のトラックとセクタ番号をSDLに登録する。こ
の方式を Linear replacement という。
【0019】このように連続したトラックとセクタ番号
で表現されるアドレスを物理アドレスという。また、 R
EWRITEBIE ZONE をどのように使用するかを説明したD
DSで交代処理領域を除いて表現されるアドレスを論理
アドレスという。ユーザが実際のデータを書き込むのは
この論理アドレスで決められた領域である。ユーザは、
光ディスクを使う場合、一般にDOSに合わせたフォー
マット動作をする。フォーマット動作は、論理アドレス
で決められた領域を図3のように分割し、必要なデータ
を書き込む。予約領域は、DOSのブートセクタでシス
テムのイニシャル・プログラム・ローダが入る。FAT
領域は、データ領域を構成しているクラスタ(書き込ま
れれるある単位数の論理セクタ)の接続、使用、不良等
の状況を示す。ルート・ディレクトリ領域はファイルの
名前、ディレクトリ名、ファイリの属性、FATの登録
番号等のファイルに関連するデータが入る。データ領域
は、ファイルのデータが入る。ユーザのフォーマット動
作は、少なくとも予約領域、FAT領域、ルート・ディ
レクトリ領域にDOSに必要なデータを書き込む。そし
て、データ領域のファイルのデータを読み書きする。そ
の時、FAT領域、ルート・ディレクトリ領域を必ず読
み書きする。
で表現されるアドレスを物理アドレスという。また、 R
EWRITEBIE ZONE をどのように使用するかを説明したD
DSで交代処理領域を除いて表現されるアドレスを論理
アドレスという。ユーザが実際のデータを書き込むのは
この論理アドレスで決められた領域である。ユーザは、
光ディスクを使う場合、一般にDOSに合わせたフォー
マット動作をする。フォーマット動作は、論理アドレス
で決められた領域を図3のように分割し、必要なデータ
を書き込む。予約領域は、DOSのブートセクタでシス
テムのイニシャル・プログラム・ローダが入る。FAT
領域は、データ領域を構成しているクラスタ(書き込ま
れれるある単位数の論理セクタ)の接続、使用、不良等
の状況を示す。ルート・ディレクトリ領域はファイルの
名前、ディレクトリ名、ファイリの属性、FATの登録
番号等のファイルに関連するデータが入る。データ領域
は、ファイルのデータが入る。ユーザのフォーマット動
作は、少なくとも予約領域、FAT領域、ルート・ディ
レクトリ領域にDOSに必要なデータを書き込む。そし
て、データ領域のファイルのデータを読み書きする。そ
の時、FAT領域、ルート・ディレクトリ領域を必ず読
み書きする。
【0020】以上、書き込まれる領域の説明から、情報
の重大さで4つに大きく分けられる。 Read/Write頻度が高く、交代処理できない
もの。光ディスクをドライブに挿入した直後、またデー
タを読み書きするのに絶対に必要であり、常に読み込ま
れ、他の領域に不良セクタがある場合書き込まれるも
の。エラーになるのが遥かに低いことが要求される。不
良セクタであっては困るもの。DMA領域。 Read/Write頻度が高く、交代処理できるも
の。ユーザがデータ(ファイル単位)を読み書きするの
に絶対に必要であり、常に読み込まれ、ユーザデータ
(ファイル単位)を書き込む時、必ず書き込まれるも
の。エラーになるのが低いことが要求される。FAT領
域、ルート・ディレクトリ領域。 他の領域よりもRead/Write頻度が低いが、
交代処理して欲しくないもの。エラーになるのが低いこ
とが要求される。交代処理領域。 他の領域よりもRead/Write頻度がはるかに
低いもの。ユーザデータ(ファイル単位)領域。
の重大さで4つに大きく分けられる。 Read/Write頻度が高く、交代処理できない
もの。光ディスクをドライブに挿入した直後、またデー
タを読み書きするのに絶対に必要であり、常に読み込ま
れ、他の領域に不良セクタがある場合書き込まれるも
の。エラーになるのが遥かに低いことが要求される。不
良セクタであっては困るもの。DMA領域。 Read/Write頻度が高く、交代処理できるも
の。ユーザがデータ(ファイル単位)を読み書きするの
に絶対に必要であり、常に読み込まれ、ユーザデータ
(ファイル単位)を書き込む時、必ず書き込まれるも
の。エラーになるのが低いことが要求される。FAT領
域、ルート・ディレクトリ領域。 他の領域よりもRead/Write頻度が低いが、
交代処理して欲しくないもの。エラーになるのが低いこ
とが要求される。交代処理領域。 他の領域よりもRead/Write頻度がはるかに
低いもの。ユーザデータ(ファイル単位)領域。
【0021】次にエラーの発生について説明する。ドラ
イブ自体による書き込み不足、読み出し不良とユーザの
故意によるものとほこりを除くとエラーの発生は、光デ
ィスク自体にあるもの、もしくは含有しているものにな
る。それは、製造工程上、光ディスクを構成する材料、
化学膜に含まれる不純物や埃や水分が巻き込まれて、基
盤や各膜に付着したり、その形状を変形したり、変質さ
せるのが原因である。また、製造直後にエラーになるこ
ともあり、水分のように長い時間かかるものや消去、書
き込み、読みだしを繰り返すとなるものと色々である。
基本的には、エラーになるところには、原因になるもの
が存在し、増えることはあっても減ることはほとんどな
い。したがって、光ディスクのデータの信頼性を上げる
ためには、不良セクタになっているものあるいは将来な
りそうなものを如何に早く除去するかが必要になってく
る。
イブ自体による書き込み不足、読み出し不良とユーザの
故意によるものとほこりを除くとエラーの発生は、光デ
ィスク自体にあるもの、もしくは含有しているものにな
る。それは、製造工程上、光ディスクを構成する材料、
化学膜に含まれる不純物や埃や水分が巻き込まれて、基
盤や各膜に付着したり、その形状を変形したり、変質さ
せるのが原因である。また、製造直後にエラーになるこ
ともあり、水分のように長い時間かかるものや消去、書
き込み、読みだしを繰り返すとなるものと色々である。
基本的には、エラーになるところには、原因になるもの
が存在し、増えることはあっても減ることはほとんどな
い。したがって、光ディスクのデータの信頼性を上げる
ためには、不良セクタになっているものあるいは将来な
りそうなものを如何に早く除去するかが必要になってく
る。
【0022】以下、本発明の実施例について説明する。
各請求項に共通する構成要件は、不良セクタになってい
るものあるいは将来なりそうなものを、交代処理のうち
Slipping 方式(使用する最初にサーティファイをして
不良セクタを登録する)で除去し、その後、DDSによ
り Grouping が行われ、Linear replacement 方式を取
ることである。また、書き込まれるまたは使われ方(書
き込まれる情報の重大さで説明)によって、不良セクタ
になっているものあるいは将来なりそうなものを判断す
ることである。
各請求項に共通する構成要件は、不良セクタになってい
るものあるいは将来なりそうなものを、交代処理のうち
Slipping 方式(使用する最初にサーティファイをして
不良セクタを登録する)で除去し、その後、DDSによ
り Grouping が行われ、Linear replacement 方式を取
ることである。また、書き込まれるまたは使われ方(書
き込まれる情報の重大さで説明)によって、不良セクタ
になっているものあるいは将来なりそうなものを判断す
ることである。
【0023】請求項1は、上記2つの構成要件に、不良
セクタになっているものあるいは将来なりそうなものを
判断するのに不良セクタの定義を厳しくしたものを付加
したものである。それは、例えば、IDの読めない数を
3個中1個とするとか、データフィールドに2バイト以
上の欠陥があるとかするものである。請求項2は、上記
2つの構成要件に、不良セクタになっているものあるい
は将来なりそうなものを判断するための特定パターンを
工夫したものである。それは、例えば、3Tパターンと
8Tパターンとか特徴のあるものを組合せたものとか、
ランダムなパターン、あるいは領域によって別の特徴あ
るもの複数回行うとかするものである。
セクタになっているものあるいは将来なりそうなものを
判断するのに不良セクタの定義を厳しくしたものを付加
したものである。それは、例えば、IDの読めない数を
3個中1個とするとか、データフィールドに2バイト以
上の欠陥があるとかするものである。請求項2は、上記
2つの構成要件に、不良セクタになっているものあるい
は将来なりそうなものを判断するための特定パターンを
工夫したものである。それは、例えば、3Tパターンと
8Tパターンとか特徴のあるものを組合せたものとか、
ランダムなパターン、あるいは領域によって別の特徴あ
るもの複数回行うとかするものである。
【0024】
【0025】
【0026】
【効果】以上の説明から明らかなように、本発明による
と、以下のような効果がある。 (1)請求項1に対応する効果:不良セクタになってい
るものあるいは将来なりそうなものを書き込まれる情報
の重大さで不良セクタと判断する基準を変えて(選択
し)サーティファイ動作で不良セクタとなるものをPD
Lに登録することにより、Linear replacement 方式に
よる交代処理に廻る回数を減らすことにより読み書き時
間の短縮と信頼性が得られる。 (2)請求項2に対応する効果:不良セクタになってい
るものあるいは将来なりそうなものを書き込まれる情報
の重大さでサーティファイ動作に用いる特定パターンを
選択し、サーティファイ動作で不良セクタとなるものを
PDLに登録することによりLinear replacement 方式
による交代処理に廻る回数を減らすことにより読み書き
時間の短縮と信頼性が得られる。
と、以下のような効果がある。 (1)請求項1に対応する効果:不良セクタになってい
るものあるいは将来なりそうなものを書き込まれる情報
の重大さで不良セクタと判断する基準を変えて(選択
し)サーティファイ動作で不良セクタとなるものをPD
Lに登録することにより、Linear replacement 方式に
よる交代処理に廻る回数を減らすことにより読み書き時
間の短縮と信頼性が得られる。 (2)請求項2に対応する効果:不良セクタになってい
るものあるいは将来なりそうなものを書き込まれる情報
の重大さでサーティファイ動作に用いる特定パターンを
選択し、サーティファイ動作で不良セクタとなるものを
PDLに登録することによりLinear replacement 方式
による交代処理に廻る回数を減らすことにより読み書き
時間の短縮と信頼性が得られる。
【図1】 本発明による光ディスクのサーティファイ方
法の一実施例を説明するための構成図で、1セクタに書
かれる内容を示した図である。
法の一実施例を説明するための構成図で、1セクタに書
かれる内容を示した図である。
【図2】 本発明による光ディスクのデータフィールド
を示す図である。
を示す図である。
【図3】 本発明による光ディスクの論理アドレスで決
められた領域を示す図である。
められた領域を示す図である。
【図4】 従来の光ディスクのレイアウトを示す図であ
る。
る。
【図5】 従来の光ディスクのデータ領域を示す図であ
る。
る。
Claims (2)
- 【請求項1】 光ディスクに特定パターンを書き込み、
ベリファイして不良セクタを検出し、該不良セクタを使
用しないことを登録する光ディスクのサーティファイ方
法において、前記不良セクタの判断基準を、交代処理が
行われない領域、データ領域の管理情報が書かれる領
域、交代処理領域、ユーザデータ領域によって変えるこ
とを特徴とする光ディスクのサーティファイ方法。 - 【請求項2】 光ディスクに特定パターンを書き込み、
ベリファイして不良セクタを検出し、該不良セクタを使
用しないことを登録する光ディスクのサーティファイ方
法において、前記書き込まれる特定パターンを、交代処
理が行われない領域、データ領域の管理情報が書かれる
領域、交代処理領域、ユーザデータ領域によって変える
ことを特徴とする光ディスクのサーティファイ方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28098092A JP3281063B2 (ja) | 1992-09-25 | 1992-09-25 | 光ディスクのサーティファイ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28098092A JP3281063B2 (ja) | 1992-09-25 | 1992-09-25 | 光ディスクのサーティファイ方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06111491A JPH06111491A (ja) | 1994-04-22 |
JP3281063B2 true JP3281063B2 (ja) | 2002-05-13 |
Family
ID=17632580
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28098092A Expired - Fee Related JP3281063B2 (ja) | 1992-09-25 | 1992-09-25 | 光ディスクのサーティファイ方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3281063B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100609856B1 (ko) * | 1998-08-01 | 2006-11-30 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체및결함영역관리방법 |
KR100609859B1 (ko) * | 1998-12-18 | 2006-11-30 | 엘지전자 주식회사 | 광 기록매체의 포맷팅 방법 |
WO2006038633A1 (ja) * | 2004-10-05 | 2006-04-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 情報記録媒体、その製造方法、その処理装置並びにその使用準備方法、及び情報記録方法並びに情報記録装置 |
JP2006185509A (ja) * | 2004-12-27 | 2006-07-13 | Toshiba Corp | 欠陥管理情報を格納する情報記憶媒体、欠陥管理情報の交替処理方法、および欠陥管理情報の交替処理を行なう装置 |
-
1992
- 1992-09-25 JP JP28098092A patent/JP3281063B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06111491A (ja) | 1994-04-22 |
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