JP3255371B2 - X線撮像装置 - Google Patents
X線撮像装置Info
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Description
線撮像装置に関する。
素子を用いたX線撮像装置が知られ、これは例えば図4
のように構成される。図示の通り、X線源1とX線撮像
装置2の間には被写体3が配設され、X線源1からのX
線は被写体3を透過し、X線撮像装置2に入射される。
X線撮像装置2は固体撮像素子としてCCD素子21を
有し、その前面にはファイバ光学プレート22およびシ
ンチレータ23が配設される。
・トランスファ)方式のCCD素子21は、フォトダイ
オードからなる受光領域41と、これからの信号電荷を
転送する垂直シフトレジスタ等からなる垂直電荷転送領
域42と、この転送電荷を更に転送する水平シフトレジ
スタ等からなる水平電荷転送領域43とを有している。
グディフィュージョン・アンプ)44から出力される。
とによる透過X線像はシンチレータ23で光学像に変換
され、ファイバ光学プレート22を通ってCCD素子2
1で検出される。したがって、X線像の観察が可能であ
る。すなわち、得られる画像信号は透過X線量にほぼ比
例した大きさとなり、各画素の信号を順次読み出すこと
により、画像をディスプレイなどに表示することができ
る。
の蓄積領域を有しないものをフルフレームトランスファ
(FFT)方式という。但し、一般の用途でFFT方式
を使用する場合には、信号読み出し期間には閉じるよう
な機械的シャッタ、又は光源の発光を停止するなどの対
策が必要である。X線撮像では、アルミニウム等の遮光
材料でカバーされているため問題ない。使用するCCD
は、IT方式の他にFT方式、FFT方式でもよい。
る画像信号は透過X線量にほぼ比例した大きさとなるた
め、撮像すべき物体(被写体)により最適条件が異な
る。したがって、良好な画像を得るためには、X線の照
射条件(X線管電圧、管電流、照射時間)を最適に設定
する必要がある。特に医療の分野においては、再撮影に
よる患者に対するX線被爆量の増大を防ぐ必要があるた
め、この条件が重要になる。
として、固体撮像素子21に近接して配置されたフォト
ダイオードなどの光検出素子の出力を用いる技術があ
る。また、例えば特開昭63−143862号公報ある
いは特開昭56−123700号公報の技術に類似する
図6のように、X線撮像装置2に設けられた固体撮像素
子21自身の出力をコンパレータ51と設定値回路52
でモニタし、X線源コントローラ53によりX線源1を
コントロールする技術がある。いずれの方法も、光電流
出力からX線照射量を測定し、コンパレータにより最適
画像が得られるよう設定した基準値と比較を行ない、設
定値に達したらX線照射コントローラに制御信号を送る
というものである。
に配置された光検出素子を用いてX線量をモニタする方
法では、リアルタイムでモニタできるが、被写体自身か
らの信号(透過X線)をモニタしていないので精密さに
欠ける問題がある。
をモニタする方法では、被写体からの信号をモニタでき
るが、読出時間が必要なため、リアルタイムでのモニタ
は不可能である。ちなみに、医療分野における消化器系
診断の場合のように、低エネルギーのX線照射を随時に
行ない、バリウム等の陽性造影剤の流れをTVモニタで
観察する用途では、リアルタイムのモニタでなくても特
に問題はないが、診断用の高エネルギーX線照射のモニ
タとしては使用不可能である。
線を正確に、かつリアルタイムでモニタできるX線撮像
装置を提供することを目的とする。
を投射するX線源と、被写体を透過したX線源からのX
線の入射により発光するシンチレータと、シンチレータ
からの光を検出する固体撮像素子とを備えるX線撮像装
置において、シンチレータは、被写体と固体撮像素子と
の間に設けられ、固体撮像素子は、シンチレータに面す
る側にシンチレータからの光を光電変換する受光領域が
形成され、シンチレータに面する側の反対面側に第1導
電型の不純物領域が形成された第2導電型の半導体基板
を有して構成され、半導体基板と不純物領域とのPN接
合により構成されるフォトダイオードの光電流出力を検
出してX線源からのX線の照射量をモニタするモニタ手
段を備えることを特徴とする。
出力をコントロールする制御手段を更に備えるX線撮像
装置としてもよい。
素子の裏面にフォトダイオードを形成するので、被写体
を透過し、途中で吸収されずにフォトダイオードまで到
達したX線による信号を直接モニタすることができ、か
つ、リアルタイムで監視できる。したがって、このモニ
タ出力を用いて、X線源の出力を正確にコントロールで
きる。
説明する。なお、同一要素には同一符号を付すこととし
て、重複した説明を省略する。
要部の構成図である。図示の通り、固体撮像素子として
のCCD素子21はアースされたP- 型半導体基板6を
有し、この表面側にはN型埋め込みチャンネル61が形
成される。そして、チャンネル61には、N+ 層62を
介して正電位が与えられることにより、半導体基板6と
の間のPN接合は逆バイアスとなっている。このN型埋
め込みチャンネル61上には、絶縁膜(図示せず)を介
して転送電極G1 〜G3 が設けられ、これらには転送ク
ロックφ1 〜φ3 が与えられている。なお、FT方式、
FFT方式の場合は、受光領域もCCDで構成されてい
るため、受光領域には上記と同様の埋め込みチャンネル
によるPN接合が形成されている。この受光領域では、
被写体を透過したX線のうちシンチレータ23で可視光
に変換された光が検出される。
子21の分光感度等の目的ごとの諸特性により、P/P
+ /P- 型半導体基板も使用することができる。
が形成されており、一種のフォトダイオード(PD)6
3として動作する。ここで、X線源から放出されるX線
には、図3に示すように、ファイバ光学プレート22を
透過する程度の高エネルギのX線も含まれている。すな
わち、X線源であるX線管の動作電圧を高くすると、出
力されるX線のうち相対光子数がピークとなる光子エネ
ルギが高くなるだけでなく、その出力スペクトルも高エ
ネルギ側に広がりを持つことになる。従って、シンチレ
ータ23とファイバ光学プレート22を使用する場合で
あっても、高エネルギのX線はシンチレータ23で可視
光に変換されることなくファイバ光学プレート22を透
過するので、本実施例に係るPD63を使用して高エネ
ルギのX線により発生したキャリアを検出することがで
きる。
素子21の表面側で検出して画像信号とし、ファイバ光
学プレート22を透過した高エネルギのX線により発生
したキャリアをPD63で検出してモニタ信号とする。
このPD63は、半導体基板6の深部で、X線により発
生したキャリアを検出してモニタ信号とするため、半導
体基板6の濃度を低くし、バイアスを印加して空欠層が
広がっている状態で使用するのが望ましい。
低エネルギのX線の領域の信号をCCD素子21の表面
側で検出して画像信号とし、高エネルギのX線による信
号を裏面のPD63で検出してモニタ信号として使用す
ることが可能である。
6の裏面側に形成されたPD63による光電流出力は、
電流計、チャージアンプ(積分器)55により蓄積さ
れ、一定周期でコンパレータ51に与えられている。こ
こで、コンパレータ51には設定値回路52からの設定
電圧が与えられているので、X線照射量の多少によりコ
ンパレータ51出力が反転し、これがX線源コントロー
ラ53に与えられている。
と終了をコントロールしているが、上記のモニタ結果に
応じて、X線源1の出力を調整することが望ましい。ま
た、この場合、照射時間だけでなく、管電圧、管電流と
もに制御できることが望ましい。このようにすると、被
写体3のX線透過性に応じて、最適な条件で撮像ができ
る。
表面側にN型埋め込みチャネルが形成されているが、N
型ではなくP型であるP型埋め込みチャネルでも上記の
実施例と同様の効果を得ることができる。この場合にお
いては、上記実施例におけるPとNが全て逆の構成にな
る。
れば、固体撮像素子としてのCCDを構成する半導体基
板の裏面側に形成されたフォトダイオードで、途中で吸
収されることなくフォトダイオードまで到達したX線に
よる信号をモニタすることにより、被写体自身を透過し
たX線を直接に、かつリアルタイムで得ることが可能で
ある。従って精度よく、診断用としての高エネルギーX
線照射における照射量のモニタを行うことが可能とな
る。
ある。
2…ファイバ光学プレート、23…シンチレータ、3…
被写体、51…コンパレータ、52…設定値回路、53
…X線源コントローラ、55…電流計、チャージアン
プ、6…P型半導体基板、61…N型埋め込みチャンネ
ル、63…フォトダイオード。
Claims (2)
- 【請求項1】 被写体にX線を投射するX線源と、前記
被写体を透過した前記X線源からのX線の入射により発
光するシンチレータと、前記シンチレータからの光を検
出する固体撮像素子とを備えるX線撮像装置において、 前記シンチレータは、前記被写体と前記固体撮像素子と
の間に設けられ、 前記固体撮像素子は、前記シンチレータに面する側に前
記シンチレータからの光を光電変換する受光領域が形成
され、前記シンチレータに面する側の反対面側に第1導
電型の不純物領域が形成された第2導電型の半導体基板
を有して構成され、 前記半導体基板と前記不純物領域とのPN接合により構
成されるフォトダイオードの光電流出力を検出して前記
X線源からのX線の照射量をモニタするモニタ手段を備
えることを特徴とするX線撮像装置。 - 【請求項2】 前記モニタ手段の出力により前記X線源
の出力をコントロールする制御手段を更に備えることを
特徴とする請求項1記載のX線撮像装置。
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Family Applications (1)
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JP19559992A Expired - Lifetime JP3255371B2 (ja) | 1992-07-22 | 1992-07-22 | X線撮像装置 |
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-
1992
- 1992-07-22 JP JP19559992A patent/JP3255371B2/ja not_active Expired - Lifetime
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