JP3227467B2 - 光検出装置 - Google Patents
光検出装置Info
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Description
レベルを検出するための装置に関する。
外れ判定回路を、図3に基づいて説明する。
D)を光源とする光機器、301は光カプラ、302は
光電気変換部、303は第1の主光伝送路、304は第
2の主光伝送路、305は第1の副光伝送路、306は
第2の副光伝送路、307は第1の光コネクタ、308
は第2の光コネクタ、309は比較判定部である。以上
のように構成された従来のコネクタ外れ判定回路につい
て、以下その動作を説明する。
れた光信号は、第1の主光伝送路303を伝幡し、光カ
プラ301を通過し、第2の主光伝送路304を伝播し
て、第1の光コネクタ307に接続された他の光機器に
入力する。また、この光信号は光カプラ301によって
光信号の一部が分岐され、第1の副光伝送路305を伝
幡する。この光信号のレベルを、第2の光コネクタ30
8に接続した光機器で監視することにより、主光伝送路
を伝播する光信号の大小をモニタすることができる。
れ、または第1の光コネクタ307に接続された他の光
機器の異常により、反射戻り光が増大した場合、この反
射戻り光は第2の主光伝送路304を伝幡して光カプラ
301に入力し、光カプラ301によって反射戻り光の
パワーの一部が分岐され、第2の副光伝送路306を伝
幡し、光電気変換部302によって電気信号に変換され
る。この電気信号レベルは、第2の光主伝送路304を
伝搬する反射戻り光量によって変動する。従って、比較
判定部309は、この電気信号レベルが所定の閾値を越
えたことを判定することによって、反射戻り光量の増
大、即ち、第1の光コネクタ307の接続外れ、あるい
は第1の光コネクタ307に接続された他の光機器の異
常等を検出することができる。
ようなコネクタ外れ検出回路では、当該光コネクタから
の反射戻り光だけではなく、当該光コネクタ307以外
の、例えば、第2の光コネクタ308からの反射戻り光
も光カプラを通じて光電気変換部302に入力する。こ
の光コネクタ307以外の光コネクタからの反射戻り光
により検出誤りが生じる。
狭いもの(例えば分布帰還型半導体レーザ:DFB−L
D)を用いる場合、光の可干渉性が大きいため、複数の
光信号が合成されると、相互干渉による光電力の変化が
生じる。従って、光電気変換部が出力する電気信号にお
いても、複数の反射戻り光による電力の変化が発生し、
コネクタ外れの判定精度が低くなる。
置では、光カプラで分岐された光が、異なる複数箇所で
反射し、光カプラで再び合波される事により、誤検出が
生じる。
で、DFB−LDのような光波長のスペクトルが狭い光
源を用いる光機器について、検出対象外の反射戻り光が
存在する場合においても、検出精度の低下のない光検出
装置を提供することを目的とする。
より入力された光電力を第2の入出口と第3の入出口よ
り出力し、第2の入出口より入力された光電力を第4の
入出口より出力する光カプラと、光信号を電気信号に変
換する光電気変換部と、前記光カプラの第1の入出口に
一端を接続する第1の主光伝送路と、前記光カプラの第
2の入出口に一端を接続する第2の主光伝送路と、前記
光カプラの第3の入出口と他の光機器との光路上に設け
られた光減衰器と、前記光カプラの第4の入出口と前記
光電気変換部を接続する副光伝送路と、前記光電気変換
部から出力される電気信号レベルと所定の閾値との大小
比較を行う比較判定部とを備えている光検出装置であ
る。
射戻り光が伝播する光伝送路に光電力を減衰する光減衰
器を付加する事により、検出対象外の反射戻り光が光電
気変換部に入射する光量を減衰し、光電気変換部におけ
る信号干渉を軽減している。
光検出装置の構成を示すブロック図である。
−LD)を光源とする光機器、101は4つの入出口を
有する12dB光カプラであり、第1の入出口より入力
された光電力を第2の入出口と第3の入出口より出力
し、第2の入出口より入力された光電力を第4の入出口
より出力する。102は光カプラ101の第4の入出口
より出力された光信号を電気信号に変換する光電気変換
部である。103は光カプラ101の第1の入出口と光
機器100とを接続する第1の主光伝送路、104は光
カプラ101の第2の入出口と一端が接続された第2の
主光伝送路、107は第2の主光伝送路の他端に接続さ
れる第1の光コネクタ、108は第2の光コネクタ、1
05は光カプラ101の第3の入出口と第2の光コネク
タ108ととの光路上に設けられた10db光減衰器で
ある。106は光カプラ101の第4の入出口と光電気
変換部102を接続する副光伝送路、109は光電気変
換部102から出力される電気信号レベルと、所定の閾
値との大小比較を行う比較判定部である。
装置について、以下その動作を説明する。
ら出力された光信号は、第1の主光伝送路103を伝幡
し、12dB光カプラ101を通過し、第2の主光伝送
路104を伝幡して、第1の光コネクタ107に接続さ
れた他の光機器に入力する。また、この光信号は12d
B光カプラ101によって一部が分岐され、12dB減
衰したパワーの光信号が、光減衰器105を透過して1
0dB減衰される。この光信号のレベルを、第2の光コ
ネクタ108に接続したモニター用の光機器で監視する
ことにより、主光伝送路103、104を伝播する光信
号の大小をモニタすることができる。
合、あるいは第1の光コネクタ107に接続された他の
光機器に異常が発生した場合、反射戻り光が増大する。
この反射戻り光は第2の主光伝送路104を伝播し、1
2dB光カプラ101により12dB減衰した光パワー
が分岐され、副光伝送路106を伝幡し、光電気変換部
102によって電気信号に変換される。比較判定部10
9は、この電気信号のレベルと所定の閾値との大小を判
定する。
07からの反射戻り光を検出し、そのレベルを判定する
事により、第1の光コネクタ107の接続外れ等の異常
を検出する。
岐された後、光減衰器105により10dB減衰した光
信号は、第2の光コネクタ108が外れた場合、あるい
は第2の光コネクタ108に接続された他の光機器の異
常時において、その光パワーの一部が反射される。しか
し、この反射戻り光は、再度光減衰器105を通過する
ことによって更に10dB減衰された後、12dB光カ
プラ101等を介して光電気変換部102に入力され
る。即ち、本実施例の場合、第2の光コネクタ108と
12dB光カプラ101の間に10dBの光減衰器10
5を挿入することによって、第2のコネクタ108や、
第2の光コネクタ108に接続された他の光機器の異常
により発生した反射戻り光は、大きく減衰される。従っ
て、上記2つの反射戻り光相互の干渉効果は小さく、干
渉による光電力の変化は生じない。
おいて電気信号レベルは安定し、比較判定部109によ
り、第1の光コネクタ107の接続状態等を正確に判別
することが可能となる。
反射戻り光のレベルに応じて選ぶ必要がある。仮に、A
(dBm)の光とA−B(dBm)の光が干渉を起こし
たとすると、この干渉の変動幅(最悪値)は次式で表さ
れる。
1dB以内とするためには、B=10dBとする必要が
ある。
のような光波長スペクトルが狭い光源を用いる光機器に
ついて、検出対象外の反射戻り光が存在する場合におい
ても、検出精度の低下のない光検出装置を提供すること
を可能とする。
Claims (1)
- 【請求項1】 第1の入出口より入力された光電力を第
2の入出口と第3の入出口より出力し、第2の入出口よ
り入力された光電力を第4の入出口より出力する光カプ
ラと、 光信号を電気信号に変換する光電気変換部と、 前記光カプラの第1の入出口に一端を接続する第1の主
光伝送路と、 前記光カプラの第2の入出口に一端を接続する第2の主
光伝送路と、 前記光カプラの第3の入出口と他の光機器との光路上に
設けられた光減衰器と、 前記光カプラの第4の入出口と前記光電気変換部を接続
する副光伝送路と、 前記光電気変換部から出力される電気信号レベルと所定
の閾値との大小比較を行う比較判定部とを備えることを
特徴とする光検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05231193A JP3227467B2 (ja) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | 光検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05231193A JP3227467B2 (ja) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | 光検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06268596A JPH06268596A (ja) | 1994-09-22 |
JP3227467B2 true JP3227467B2 (ja) | 2001-11-12 |
Family
ID=12911242
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP05231193A Expired - Lifetime JP3227467B2 (ja) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | 光検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3227467B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101834660B (zh) * | 2010-04-15 | 2015-06-10 | 中兴通讯股份有限公司 | 光模块的控制装置、方法及光发射装置 |
-
1993
- 1993-03-12 JP JP05231193A patent/JP3227467B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06268596A (ja) | 1994-09-22 |
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