JP3218789B2 - Hollow fiber module inspection equipment - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、例えば、中空糸内を
通過する血液と前記中空糸外を通過する透析液間で物質
交換する透析器等に用いられる中空糸モジュールのため
の検査装置に関し、特に前記樹脂剤が必要な位置まで浸
透していない欠陥（以下、不浸透欠陥という。）および
前記中空糸の糸束の端部を固める樹脂剤が中空糸の端部
からその内部に入り込んでいる欠陥（以下、不通糸欠陥
という。）を検出するのに好適な中空糸モジュールの検
査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection apparatus for a hollow fiber module used in a dialyzer for exchanging a substance between blood passing through a hollow fiber and dialysate passing outside the hollow fiber. In particular, a defect in which the resin agent has not penetrated to a required position (hereinafter referred to as an impermeability defect) and a resin agent that solidifies the end of the yarn bundle of the hollow fiber enter the hollow fiber from the end thereof. The present invention relates to an apparatus for inspecting a hollow fiber module suitable for detecting a defect (hereinafter, referred to as an imperfect yarn defect).

【０００２】[0002]

【従来の技術】周知のように、血液透析器は半透膜によ
って血液と透析液を仕切ってなるもので、透析器内に導
入した血液と透析液との圧力および濃度差によって、前
記血液と透析液の間で物質交換することによって、血液
内の不純物を除去しこの血液を浄化するようにしたもの
である。2. Description of the Related Art As is well known, a hemodialyzer separates blood and dialysate by a semipermeable membrane, and the blood and dialysate are introduced into the dialyzer by a pressure and concentration difference between the blood and the dialysate. By exchanging substances between dialysates, impurities in blood are removed and the blood is purified.

【０００３】このような血液透析器として、図２５に示
すように、両端面開放でかつ左右対称形状の略円筒状の
透明容器Ａ内に、半透膜でなりかつ両端面開放の複数の
中空糸により構成される略円筒状の糸束Ｂを配設した中
空糸モジュールＭを用いたものがある。この中空糸モジ
ュールＭは、前記容器Ａの両端部に、この容器Ａの内周
面および前記糸束Ｂを構成する中空糸の外周面に密着す
るウレタン樹脂等の熱硬化性樹脂剤からなる所定厚みの
樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 を有しており、この樹脂剤層Ｃ1 ，
Ｃ2 によって、中空糸内の血液室と中空糸外の透析液室
を仕切るようにしている。すなわち、この図２５に示す
ような中空糸モジュールＭを用いた透析器では、中空糸
内を通過する血液と容器Ａ内において前記中空糸外を通
過する透析液の間で物質交換が行われる。As such a hemodialyzer, as shown in FIG. 25, a plurality of hollow semi-permeable membranes having both ends open in a substantially cylindrical transparent container A having both ends open and symmetrical. There is a type using a hollow fiber module M in which a substantially cylindrical yarn bundle B composed of yarns is disposed. The hollow fiber module M is made of a thermosetting resin material such as urethane resin which is in close contact with the inner peripheral surface of the container A and the outer peripheral surface of the hollow fiber constituting the yarn bundle B at both ends of the container A. It has resin material layers C1, C2 having a thickness.
C2 separates the blood chamber inside the hollow fiber from the dialysate chamber outside the hollow fiber. That is, in the dialyzer using the hollow fiber module M as shown in FIG. 25, a substance exchange is performed between blood passing through the hollow fiber and dialysate passing outside the hollow fiber in the container A.

【０００４】図２５に例示した血液透析器は、一般に次
のように構成される。A hemodialyzer illustrated in FIG. 25 is generally configured as follows.

【０００５】まず、多数本の中空糸を束ねた円筒状の糸
束Ｂを図２６に示すように前記容器Ａに対し、この容器
Ａを貫通した状態に配置する。次に、前記容器Ａの両端
面に樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 を形成する加工を行い、図２５
に示す中空糸モジュールＭとなし、次に容器Ａの両端部
にエンドキャップＤ1 ，Ｄ2 を装着して構成する。これ
らエンドキャップＤ1 ，Ｄ2 に予め形成したノズルｄ1
，ｄ2 は血液導入部および血液排出部であり、前記容
器Ａに予め形成したノズルｄ3 ，ｄ4 は透析液排出部お
よび透析液導入部である。[0005] First, a cylindrical yarn bundle B in which a large number of hollow fibers are bundled is placed in the container A as shown in FIG. Next, a process for forming resin agent layers C1 and C2 on both end surfaces of the container A is performed, and FIG.
And the end caps D1 and D2 are attached to both ends of the container A. A nozzle d1 previously formed on these end caps D1 and D2
, D2 are a blood introducing part and a blood discharging part, and nozzles d3, d4 formed in the container A in advance are a dialysate discharging part and a dialysate introducing part.

【０００６】図２５の中空糸モジュールは以上のように
して構成されるが、この中空糸モジュールには、前述の
樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 を形成する工程において、中空糸束
の単糸相互間に樹脂剤が十分浸透しない欠陥（以下、不
浸透欠陥という）および中空糸の中空穴が樹脂剤で閉塞
される欠陥（以下、不通糸欠陥という）が生じることが
ある。こうした不浸透欠陥や不通糸欠陥は、人工透析治
療において治療効果を低下させる等の種々の問題の原因
となるため、製造工程において各中空糸モジュールごと
に検査することが必要である。The hollow fiber module shown in FIG. 25 is constructed as described above. In this hollow fiber module, in the step of forming the resin agent layers C1 and C2, the hollow fiber module is placed between the single yarns of the hollow fiber bundle. A defect that the resin agent does not sufficiently penetrate (hereinafter referred to as impervious defect) and a defect in which the hollow hole of the hollow fiber is closed by the resin agent (hereinafter referred to as impervious yarn defect) may occur. Since such impervious defects and impervious yarn defects cause various problems such as reducing the therapeutic effect in artificial dialysis treatment, it is necessary to inspect each hollow fiber module in the manufacturing process.

【０００７】前述の不浸透欠陥は、中空糸が密集してい
る樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の端面の中央部で発生し易く、そ
の欠陥部分は比較的樹脂剤が少ないため正常部分と比べ
て白色の度合が強い。一方、不通糸欠陥による欠陥部分
は、中空糸端部が樹脂剤で固められ中空糸の開口端も閉
塞されているので、樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の端面の該欠陥
部の光沢の程度が正常部分と比べて強い。従来、こうし
た不浸透欠陥や不通糸欠陥は、前述の樹脂剤層の端面の
白色の度合いや糸束部の部分的な光沢の程度を、検査員
が目視により識別することで検査するようにしていた。
しかしながら、こうした目視による検査の精度は、検査
員の検査能力やその時の体調等により、必ずしも一定の
水準を満たしていない場合が予想される。The above impervious defects are apt to occur at the center of the end surfaces of the resin agent layers C1 and C2 where the hollow fibers are densely packed. The degree of is strong. On the other hand, in the defective portion due to the imperfect yarn defect, the end of the hollow fiber is solidified with the resin material and the open end of the hollow fiber is also closed, so that the degree of gloss of the defective portion on the end surfaces of the resin material layers C1 and C2 is normal. Stronger than part. Conventionally, such impervious defects and impervious yarn defects are inspected by an inspector visually identifying the degree of whiteness of the end surface of the resin material layer and the degree of partial gloss of the yarn bundle. Was.
However, it is expected that the accuracy of such visual inspection does not always satisfy a certain level due to the inspection ability of the inspector and the physical condition at that time.

【０００８】目視による検査において、上述のような検
査ミスを発生させないようにするため細心の注意と多大
な検査時間をかけているのであるが、大量の中空糸モジ
ュールの検査を行う場合には作業時間の短縮を図る上で
も支障となる。すなわち、製造工程を完全に自動化しコ
ストの低減を図るようにするためには、前記のような不
浸透欠陥や不通糸欠陥の検出も自動的に行えるようにす
る必要がある。In the visual inspection, a great deal of attention and a great deal of inspection time are taken to prevent the above-described inspection errors from occurring. This is a hindrance to shortening the time. That is, in order to completely automate the manufacturing process and reduce the cost, it is necessary to automatically detect the impervious defect and the non-permeability defect as described above.

【０００９】目視によらずかつ自動的に上記の中空糸モ
ジュールにおける不浸透欠陥や不通糸欠陥を検出する一
般的な方法として、光を照射した樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の
端面をテレビカメラで撮像し、その画像信号を処理して
判定する方法が考えられる。このように、光を照射した
検査対象面を撮像し、その画像信号を処理することによ
って表面状態を評価する方法として、特開昭６１―２０
１１０５号公報に開示される方法がある。この公報に開
示される方法では、検査対象面に斜めから光を照射し、
この検査対象面の画像信号を所定の閾値で２値化するこ
とで、前記検査対象面の陰影に対応する部分の面積を算
出するようにしており、この算出面積の大きさから、検
査対象面の表面状態を評価するようにしている。As a general method for automatically detecting the impervious defects and impervious yarn defects in the hollow fiber module without visual observation, the end faces of the resin material layers C1 and C2 irradiated with light are imaged by a television camera. Then, a method of processing and determining the image signal can be considered. Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-20 / 1986 discloses a method for evaluating the surface condition by imaging an inspection target surface irradiated with light and processing the image signal.
There is a method disclosed in Japanese Patent Publication No. 1105. According to the method disclosed in this publication, the surface to be inspected is irradiated with light obliquely,
By binarizing the image signal of the inspection target surface with a predetermined threshold value, the area of a portion corresponding to the shadow of the inspection target surface is calculated, and from the magnitude of the calculated area, the inspection target surface is calculated. To evaluate the surface condition.

【００１０】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
不浸透欠陥や不通糸欠陥を検出する場合、上記公報に開
示される方法では以下のような問題があった。However, the method disclosed in the above publication has the following problems when detecting the above-described impervious defects and impervious yarn defects.

【００１１】まず、不浸透欠陥の検査では、検査対象面
である樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の端面全体を均一に照明する
必要があるのに対し、前記公報に開示されるように検査
対象端面に斜めから光を照射する方法では、光源から前
記検査対象端面までの距離が一定でないために、検査対
象端面上の輝度分布が不均一になるという問題があっ
た。このように斜めから光を照射する場合、光源を検査
対象面から遠ざけることで輝度分布を均一化することが
できるが、同時に、正反射により高輝度点が発生すると
いう問題が生じる。これは、輝度分布を均一化するため
に前記検査対象端面に直交する位置に光源をおいた場合
にも同様に生じる問題である。一方、検査対象端面を斜
めから照射する方法を採用する場合、前記検査対象端面
を輝度分布が一定範囲にある複数の領域に分割し、分割
した領域毎に条件を変えて検査することも考えられる
が、このような方法は前述の条件設定が繁雑で検査時間
を要するため実用的ではない。First, in the inspection for impervious defects, it is necessary to uniformly illuminate the entire end surfaces of the resin material layers C1 and C2, which are the inspection target surfaces. The method of irradiating light obliquely has a problem that the luminance distribution on the inspection target end face becomes non-uniform because the distance from the light source to the inspection target end face is not constant. In the case of irradiating the light obliquely as described above, the luminance distribution can be made uniform by moving the light source away from the inspection target surface, but at the same time, a problem arises that a high luminance point is generated by regular reflection. This is a problem that also occurs when a light source is placed at a position orthogonal to the end face of the inspection object in order to make the luminance distribution uniform. On the other hand, when a method of obliquely irradiating the inspection target end face is adopted, it is also conceivable to divide the inspection target end face into a plurality of regions in which the luminance distribution is within a certain range, and to perform inspection by changing conditions for each of the divided regions. However, such a method is not practical because the above-mentioned condition setting is complicated and requires an examination time.

【００１２】なお、検査対象面を均一に照射し且つ局部
的な高輝度点の発生がない照射手段として、図２７に示
すような複数光源７０１と形状および特性に工夫を施し
た拡散板７０２を組合せてなる光照射手段７００が公知
であるが、このような光照射手段７００は設計が微妙且
つ複雑で高価になる欠陥がある。As an irradiating means for uniformly irradiating the surface to be inspected and generating no local high-brightness points, a plurality of light sources 701 as shown in FIG. 27 and a diffusing plate 702 whose shape and characteristics are devised are used. Although a combination of light irradiating means 700 is known, such a light irradiating means 700 has a drawback that the design is delicate, complicated, and expensive.

【００１３】ところで、一般に円形である中空糸モジュ
ールの端面を均一照射するには、光源の形は円形ないし
はリング状であることが適当であることは容易に推察さ
れる。しかしながら、円形ないしはリング照明は幾何学
的な作用効果から通常リング中心軸上の照明効果が最も
強く半径方向に弱くなる現象は避け難い。また、リング
径が小さい場合や遠く離して配置した場合は、既述の場
合と同様、正反射による高輝度点が発生する。さらに、
リング照明における半径方向の照明むらは、前方に拡散
性円筒反射板を設けても緩和されるにとどまり、前述の
ような不浸透欠陥を的確に把える照明効果は得られな
い。By the way, in order to uniformly irradiate the end face of a generally circular hollow fiber module, it is easily presumed that the shape of the light source is suitably circular or ring-shaped. However, in the case of circular or ring illumination, it is unavoidable that the illumination effect on the central axis of the ring is usually strongest and weak in the radial direction due to the geometrical effect. Further, when the ring diameter is small or when the ring is arranged far away, a high luminance point due to regular reflection occurs as in the case described above. further,
Irradiation unevenness in the radial direction in the ring illumination is alleviated even if a diffusive cylindrical reflector is provided in front of the ring illumination, and the illumination effect for accurately grasping the impervious defect as described above cannot be obtained.

【００１４】一方、既述のように、前記樹脂剤層Ｃ1 ，
Ｃ2 の端面における不通糸欠陥部分は正常部分と比較し
て光沢がある。このように、面上において光沢の程度が
強い部分の検出方法としては、斜方向照明の正反射光の
程度を検出する方法が最も一般的である。しかし、この
ような方法では、以下の（１）〜（３）の理由により不
通糸欠陥を精度よく検出することができない。 （１）中空糸の肉厚が厚いモジュールでは、正常部と不
通糸欠陥部の差が顕著でない。 （２）樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の端面を成形する工程で、端
面上における正常部と不通糸欠陥部の差が出難くなる場
合がある。 （３）不通糸欠陥が糸束部分の外周辺部に発生した場合
は、糸束部外側の樹脂剤のみの部分と全く区別がつかな
い。On the other hand, as described above, the resin agent layers C 1,
The defective portion at the end face of C2 is glossier than the normal portion. As described above, the most common method of detecting a portion having a high degree of gloss on a surface is a method of detecting the degree of specular reflection light of oblique illumination. However, with such a method, it is not possible to accurately detect a thread break defect for the following reasons (1) to (3). (1) In a module having a thick hollow fiber, the difference between the normal portion and the defective portion of the impervious yarn is not remarkable. (2) In the step of forming the end faces of the resin agent layers C1 and C2, there may be a case where it is difficult to make a difference between the normal portion and the defective yarn defect on the end faces. (3) When the non-threading defect occurs in the outer peripheral portion of the yarn bundle portion, it is indistinguishable from the portion of only the resin agent outside the yarn bundle portion.

【００１５】発明者は、前記樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の端面
における不通糸欠陥部分を観察した結果、こうした不通
糸欠陥部においては、中空糸の開口端を塞ぐ樹脂剤及び
この不通糸欠陥部の中空糸を固める樹脂剤に、極微小気
泡が密集した気泡群である白色の小塊が存在することを
見出した。この白色気泡群の小塊は、前記端面の表面だ
けでなく樹脂剤層の内部に入り込んでいる場合もある。
すなわち、このような白色気泡群を検出するには、端面
表面の気泡群を検出するとともに、樹脂剤層の内部にあ
る白色気泡群すなわち糸束周辺部分にあり且つ端面表面
下に潜っている白色気泡群をも把える必要がある。この
ため、前述した不浸透欠陥の検出の場合のように正反射
を避けてこの端面を均一に照明することを考慮するのに
加え、樹脂層内部の照明をも考慮する必要がある。The inventor of the present invention has observed the defective yarn portions at the end faces of the resin material layers C1 and C2. As a result, in the defective yarn portions, the resin material that closes the open end of the hollow fiber and the defective yarn defects The present inventors have found that a white small lump, which is a group of air bubbles in which microfine air bubbles are dense, is present in the resin agent for solidifying the hollow fibers. The small lumps of the white air bubbles may not only enter the surface of the end face but also enter the inside of the resin agent layer.
That is, in order to detect such white air bubbles, the air bubbles on the end face surface are detected, and the white air bubbles inside the resin material layer, that is, the white bubbles that are in the periphery of the yarn bundle and lie below the end face surface It is necessary to grasp the bubbles. For this reason, it is necessary to consider not only regular reflection but also uniform illumination of the end face as in the case of the above-described impervious defect detection, and also consider illumination inside the resin layer.

【００１６】[0016]

【発明の目的】本発明の第１の目的は、複数の中空糸の
端部を樹脂剤により固めた樹脂剤層を有する中空糸モジ
ュールの良否、特に不浸透欠陥の有無による良否を検査
する装置であって、簡単な方法で検査対象表面を均一に
照明することで、中空糸モジュールの樹脂剤層における
不浸透欠陥を精度よく且つ容易に検出できる中空糸モジ
ュールの検査装置を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION A first object of the present invention is to provide an apparatus for inspecting the quality of a hollow fiber module having a resin layer in which the ends of a plurality of hollow fibers are solidified with a resin, particularly the quality based on the presence or absence of impervious defects. It is an object of the present invention to provide a hollow fiber module inspection apparatus capable of accurately and easily detecting an impervious defect in a resin layer of a hollow fiber module by uniformly illuminating a surface to be inspected by a simple method. .

【００１７】本発明の第２の目的は、複数の中空糸の端
部を樹脂剤により固めた樹脂剤層を有する中空糸モジュ
ールの良否、特に不通糸欠陥の有無による良否を検査す
る装置であって、検査対象面に対する照明手段を工夫す
ることで、中空糸モジュールの樹脂剤層における不通糸
欠陥を精度よく且つ容易に検出できる中空糸モジュール
の検査装置を提供することにある。A second object of the present invention is an apparatus for inspecting the quality of a hollow fiber module having a resin material layer in which the ends of a plurality of hollow fibers are solidified with a resin material, and in particular, the quality of the hollow fiber module based on the presence or absence of a defective yarn. It is another object of the present invention to provide a hollow fiber module inspection apparatus capable of accurately and easily detecting a non-through yarn defect in a resin layer of a hollow fiber module by devising a lighting means for a surface to be inspected.

【００１８】[0018]

【課題を解決するための手段】請求項１の中空糸モジュ
ールの検査装置は、複数の中空糸の端部を樹脂剤により
固めた樹脂剤層を有する中空糸モジュールの検査装置で
あって、前記中空糸モジュールを支持する支持手段と、
前記中空糸モジュールの端面から所定距離離れた位置に
おいて該モジュールと略同軸上に配置されかつ外径が該
モジュールの外径以上であるリング状の光出射部と、前
記中空糸モジュールの端面に対向しかつ前記光出射部か
ら照射された光の前記端面での正反射光が入射しない位
置で、前記中空糸モジュールの端面の細分化された領域
ごとの光量を測定する測光手段と、前記中空糸モジュー
ルの端面における任意の１の選択点の測光量もしくは２
以上の選択点の平均測光量に任意のオフセット量を加算
して閾値を演算するとともに、前記測光手段が測定した
各領域ごとの測光量を前記閾値で２値化した２値化信号
を出力する２値化処理手段と、前記２値化処理手段の処
理結果に基づいて中空糸モジュールが不良品であるか否
かを判別する判別手段とを備える。According to a first aspect of the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a hollow fiber module having a resin material layer in which ends of a plurality of hollow fibers are solidified with a resin material. Support means for supporting the hollow fiber module;
A ring-shaped light emitting portion, which is disposed substantially coaxially with the module at a predetermined distance from the end face of the hollow fiber module and whose outer diameter is equal to or larger than the outer diameter of the module, faces the end face of the hollow fiber module; A light metering means for measuring the amount of light in each subdivided area of the end face of the hollow fiber module at a position where regular reflection light of the light emitted from the light emitting portion at the end face does not enter; and the hollow fiber Light intensity measurement at any one selected point on the end face of the module or 2
A threshold value is calculated by adding an arbitrary offset amount to the average light measurement amount at the selected point, and a binarized signal obtained by binarizing the light measurement amount of each area measured by the light measuring means with the threshold value is output. It is provided with a binarization processing means and a determination means for determining whether or not the hollow fiber module is defective based on the processing result of the binarization processing means.

【００１９】請求項２の中空糸モジュールの検査装置
は、複数の中空糸の端部を樹脂剤により固めた樹脂剤層
を有する中空糸モジュールの検査装置であって、前記中
空糸モジュールを支持する支持手段と、前記中空糸モジ
ュールの端面から所定距離離れた位置において該モジュ
ールと略同軸上に配置されかつ外径が該モジュールの外
径以上であるリング状の第１の光出射部と、前記充填樹
脂剤に対応する位置で前記中空糸モジュールに側方から
光を照射すべく前記樹脂剤層を囲繞するリング状の第２
の光出射部と、前記中空糸モジュールの端面に対向しか
つ前記第１の光出射部から照射された光の前記端面での
正反射光が入射しない位置で、前記中空糸モジュールの
端面の細分化された領域ごとの測光量を測定する測光手
段と、前記中空糸モジュールの端面における任意の１の
選択点の測光量もしくは２以上の選択点の平均測光量に
任意のオフセット量を加算して閾値を演算するととも
に、前記測光手段が測定した各領域ごとの測光量を前記
閾値で２値化した２値化信号を出力する２値化処理手段
と、前記２値化処理手段の処理結果に基づいて中空糸モ
ジュールが不良品であるか否かを判別する判別手段とを
備え、かつ、前記第１の光出射部と第２の光出射部は、
前記撮像カメラにより撮像した、中空糸の端部が樹脂剤
により目詰まりを起こしていない中空糸モジュールでの
前記測光量の分布が、少なくとも前記端面における前記
中空糸領域においてフラットとなる光を照射する。According to a second aspect of the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a hollow fiber module having a resin material layer in which ends of a plurality of hollow fibers are solidified with a resin material, the hollow fiber module being supported. A supporting means, a ring-shaped first light emitting portion that is disposed substantially coaxially with the module at a position separated from the end face of the hollow fiber module by a predetermined distance and whose outer diameter is equal to or larger than the outer diameter of the module; A second ring-shaped member surrounding the resin material layer to irradiate the hollow fiber module with light from the side at a position corresponding to the filled resin material.
And a subdivision of the end face of the hollow fiber module at a position facing the end face of the hollow fiber module and not receiving regular reflection light of the light emitted from the first light output section at the end face. A photometric means for measuring the photometric light quantity for each of the formed regions, and adding an arbitrary offset amount to the photometric light quantity at any one selected point or the average photometric light quantity at two or more selected points on the end face of the hollow fiber module. A binarization processing unit that calculates a threshold value and outputs a binarization signal obtained by binarizing the light measurement amount of each area measured by the photometry unit with the threshold value; and a processing result of the binarization processing unit. Determining means for determining whether or not the hollow fiber module is defective based on the first light emitting unit and the second light emitting unit,
The distribution of the measured light amount in the hollow fiber module in which the end of the hollow fiber is not clogged by the resin agent, which is imaged by the imaging camera, irradiates light that becomes flat at least in the hollow fiber region on the end face. .

【００２０】請求項３の中空糸モジュールの検査装置
は、請求項１又は２において、前記判別手段による判別
結果に基づいて欠陥中空糸モジュールを分別する分別手
段を備えている。A third aspect of the present invention provides the inspection apparatus for a hollow fiber module according to the first or second aspect, further comprising a classification unit for classifying the defective hollow fiber module based on a result of the determination by the determination unit.

【００２１】[0021]

【作用】請求項１の中空糸モジュールの検査装置による
と、リング状の光出射部によって、支持手段に支持され
た中空糸モジュールの端面を、その中央部の光量が周辺
部の光量とほぼ等しいかもしくは周辺部の光量よりも大
である光量分布で照射する。２値化処理手段は、検査す
る中空糸モジュールごとに個別に閾値を演算するととも
に、検査対象の中空糸モジュールに関する端面の光量を
細分化された領域ごとに２値化し、判別手段は、前記２
値化処理手段が出力する２値化信号に基いて中空糸モジ
ュールが不良品か否かを判別する。According to the hollow fiber module inspection device of the present invention, the end face of the hollow fiber module supported by the support means is substantially equal to the light quantity of the peripheral part by the ring-shaped light emitting part. Alternatively, irradiation is performed with a light amount distribution that is larger than the light amount in the peripheral portion. The binarization processing means calculates a threshold value individually for each hollow fiber module to be inspected, and binarizes the light amount on the end face of the hollow fiber module to be inspected for each subdivided area.
It is determined whether or not the hollow fiber module is defective based on the binarized signal output from the binarization processing means.

【００２２】請求項２の中空糸モジュールの検査装置に
よると、第１および第２の光出射部から光を照射するこ
とで、中空糸の端部が樹脂剤により目詰まりを起こして
いない中空糸モジュールの端面における光量分布をほぼ
フラットにしている。２値化処理手段は、検査する中空
糸モジュールごとに個別に閾値を演算するとともに、検
査対象の中空糸モジュールに関する端面の光量を細分化
された領域ごとに２値化し、判別手段は、前記２値化信
号に基づいて中空糸モジュールが不良品であるか否かを
判別する。According to the hollow fiber module inspection apparatus of the present invention, the end of the hollow fiber is not clogged with the resin agent by irradiating light from the first and second light emitting portions. The light amount distribution on the end face of the module is made substantially flat. The binarization processing means calculates a threshold value individually for each hollow fiber module to be inspected, and binarizes the light amount on the end face of the hollow fiber module to be inspected for each subdivided area. It is determined whether or not the hollow fiber module is defective based on the value signal.

【００２３】請求項３の中空糸モジュールの検査装置に
よると、前記判別手段による判別結果に基づき、欠陥中
空糸モジュールを自動的に生産ラインから取り除くこと
ができる。According to the hollow fiber module inspection apparatus of the third aspect, the defective hollow fiber module can be automatically removed from the production line based on the determination result by the determination means.

【００２４】[0024]

【実施例】本発明による中空糸モジュールの検査装置
（以下、単に検査装置という。）の実施例を図１に示
す。この図１の検査装置は、中空糸モジュールＭの支持
装置１、第１の光照射装置２Ａ、第２の光照射手段２
Ｂ、第３の光照射手段２Ｄ、第４の光照射手段２Ｅ、第
１の測光装置３Ａ、第２の測光装置３Ｄ、第３の測光装
置３Ｅ、異常検出用信号形成部４、判別装置５、表示部
６および操作指令部７を備えている。FIG. 1 shows an embodiment of a hollow fiber module inspection apparatus (hereinafter simply referred to as an inspection apparatus) according to the present invention. The inspection device in FIG. 1 includes a support device 1 for a hollow fiber module M, a first light irradiation device 2A, and a second light irradiation device 2A.
B, third light irradiating means 2D, fourth light irradiating means 2E, first light measuring device 3A, second light measuring device 3D, third light measuring device 3E, abnormality detection signal forming section 4, discriminating device 5 , Display unit 6 and operation command unit 7.

【００２５】以上のようしてなる検査装置は、中空糸モ
ジュールＭに発生する、Ｉ．不浸透欠陥、II．糸乱れ欠
陥、III.不通糸欠陥、IV. 剥離欠陥、Ｖ．発泡欠陥を検
査する。以下に、これらの検査項目別に各部の構成と動
作を説明する。The inspection apparatus constructed as described above is used for the I.P. Impervious defects, II. Y. yarn defect, III. Imperfect yarn defect, IV. Peeling defect, V. Inspect for foam defects. The configuration and operation of each unit will be described below for each of these inspection items.

【００２６】Ｉ．＜不浸透欠陥の検査＞ 不浸透欠陥については既述しているのでここでの説明は
省略する。I. <Inspection of Impervious Defect> Since the impervious defect has already been described, a description thereof will be omitted.

【００２７】支持装置１は、図２に示すように、中空糸
モジュールＭを搭載するもので、且つ、この中空糸モジ
ュールＭの軸心Ｃ0 が後述する集光レンズ３２Ａとテレ
ビカメラ３１Ａの光学中心軸３２Ａａと平行になるよう
にこの中空糸モジュールＭの傾きを調整することができ
るとともに、この中空糸モジュールＭをその品種毎に異
なる外径に適応して上下左右に移動させることで、前記
軸心Ｃ0 を前記光学中心軸３２Ａａに合致させることが
できる。As shown in FIG. 2, the support device 1 has a hollow fiber module M mounted thereon, and the axis C0 of the hollow fiber module M is the optical center of the condenser lens 32A and the television camera 31A to be described later. The inclination of the hollow fiber module M can be adjusted so as to be parallel to the axis 32Aa, and the hollow fiber module M is moved up, down, left, and right in accordance with the outer diameter that is different for each product type. The center C0 can be aligned with the optical center axis 32Aa.

【００２８】この不浸透欠陥の検査では、光照射装置と
して、第１の光照射装置２Ａを用いる。図２に示すよう
に、この第１の光照射装置２Ａは、第１の光源２０１Ａ
および第１のリング状出射部２０２Ａを備えている。In the inspection for the impervious defect, a first light irradiation device 2A is used as a light irradiation device. As shown in FIG. 2, the first light irradiation device 2A includes a first light source 201A.
And a first ring-shaped emission section 202A.

【００２９】第１の光源２０１Ａは、後述する操作指令
部７より与えられた指令に基づいて、リング状出射部２
０２Ａからの光の出射のオン・オフおよび光強度の調整
を行う。The first light source 201A is controlled by a ring-shaped light emitting section 2 based on a command given by an operation command section 7 described later.
On / off of emission of light from 02A and adjustment of light intensity are performed.

【００３０】図３に示すように、リング状出射部２０２
Ａは、拡散性で発光面積の広いタイプが好ましく、この
実施例では市販の環状螢光灯を用いている。また、この
リング状出射部２０２Ａは、中空糸モジュールＭの端面
を均一に照射するとともに後述するＣＣＤカメラ３１で
取り込む前記中空糸モジュールＭの端面の画像に高光量
点が発生しないように、数１を満足する位置に設けられ
ている。As shown in FIG.
A is preferably a type having a large light emitting area with diffusibility. In this embodiment, a commercially available annular fluorescent lamp is used. The ring-shaped emission section 202A uniformly irradiates the end face of the hollow fiber module M, and prevents the high-intensity point from being generated in an image of the end face of the hollow fiber module M captured by the CCD camera 31 described later. Is provided at a position that satisfies the following conditions.

【００３１】[0031]

【数１】ｄ＞（１＋Ｌ／Ｌ0 ）・ＤD> (1 + L / L0) .D

【００３２】ここでｄはリング状出射部２０２Ａの内径
（リング状出射部２０２Ａが多角形である場合は、内接
円の径）、Ｌは中空糸モジュールＭの端面からリング状
出射部２０２Ａまでの距離、Ｌ0 は前記端面とＣＣＤカ
メラ３１間の距離、Ｄは中空糸モジュールＭの端面の直
径である。内径ｄ、距離Ｌ0 および直径Ｄが一定である
場合、上記数１を満足する中空糸モジュールＭの端面か
らリング状出射部２０２Ａまでの距離Ｌの最大値Ｌ1
は、Here, d is the inner diameter of the ring-shaped emitting portion 202A (the diameter of the inscribed circle when the ring-shaped emitting portion 202A is polygonal), and L is from the end face of the hollow fiber module M to the ring-shaped emitting portion 202A. , L0 is the distance between the end face and the CCD camera 31, and D is the diameter of the end face of the hollow fiber module M. When the inner diameter d, the distance L0 and the diameter D are constant, the maximum value L1 of the distance L from the end face of the hollow fiber module M to the ring-shaped emission part 202A that satisfies the above equation (1).
Is

【００３３】[0033]

【数２】Ｌ1 ＝（ｄ−Ｄ）・Ｌ0 ／ＤL1 = (d-D) .L0 / D

【００３４】となる。断面円形の中空糸モジュールＭで
は、前記リング状出射部２０２Ａと中空糸モジュールＭ
の端面の距離Ｌを数２で得た最大値Ｌ1 とすると、図４
（ａ）に示すように、前記端面における直径方向の光量
分布が、端面の中心Ｏの近傍において高い山状となる。
前記距離Ｌを最大値Ｌ1 よりも小さくすると、図４
（ｂ），（ｃ）に示すように、中心Ｏ近傍の山のピーク
値が下がり、距離Ｌをさらに小さくすると、図４（ｄ）
に示すように、光量分布は端面の中心Ｏにおいて逆に下
がるようになる。## EQU1 ## In the hollow fiber module M having a circular cross section, the ring-shaped emission section 202A and the hollow fiber module M
Assuming that the distance L between the end faces is the maximum value L1 obtained by Equation 2, FIG.
As shown in (a), the light amount distribution in the diameter direction at the end face has a high mountain shape near the center O of the end face.
When the distance L is smaller than the maximum value L1, FIG.
As shown in (b) and (c), when the peak value of the peak near the center O decreases and the distance L is further reduced, FIG.
As shown in (1), the distribution of the light amount decreases at the center O of the end face.

【００３５】図４（ａ）に示すような光量分布は、前記
端面における中空糸の糸束の中心部とこの糸束の周辺部
との間で、光量に比較的大きな差が生じるため、糸束の
中央部と周辺部とで検出精度が不均一になるという問題
がある。すなわち、図４（ａ）に示すような光量分布は
端面全域における照明の均一性が不足しており、不浸透
欠陥の検出に用いるのは好ましくない。また、図４
（ｄ）に示すように、端面の中心Ｏにおいて下がってい
る光量分布も、肝心の端面中央の糸束部分の光量分布が
著しく低いため、不浸透欠陥の検出には適さない。In the light quantity distribution as shown in FIG. 4A, a relatively large difference in light quantity occurs between the center of the yarn bundle of the hollow fibers at the end face and the periphery of the yarn bundle. There is a problem that the detection accuracy is not uniform between the central portion and the peripheral portion of the bundle. That is, the light quantity distribution shown in FIG. 4A lacks uniformity of illumination over the entire end face, and is not preferably used for detecting impervious defects. FIG.
As shown in (d), the light quantity distribution falling at the center O of the end face is not suitable for detecting impervious defects because the light quantity distribution at the center of the end face at the center is extremely low.

【００３６】軸心Ｃ0 に対して垂直な理想的な端面を持
つ中空糸モジュールにおける不浸透欠陥の検出には、端
面の中央部分がほぼフラットである図４（ｃ）に示すよ
うな光量分布が好ましい。しかし、現実には、中空糸モ
ジュールによっては前記端面が歪んでいる場合があり、
このような中空糸モジュールＭの不浸透欠陥を検出する
には、光量分布の落込みを確実に避けるために、端面の
中心部に対応する位置で僅かに分布が高くなる図４
（ｂ）の光量分布であってもよい。For the detection of impervious defects in a hollow fiber module having an ideal end face perpendicular to the axis C0, a light quantity distribution as shown in FIG. preferable. However, in reality, the end face may be distorted depending on the hollow fiber module,
In order to detect such impervious defects in the hollow fiber module M, the distribution is slightly increased at a position corresponding to the center of the end face in order to reliably avoid a drop in the light amount distribution.
The light quantity distribution shown in FIG.

【００３７】既述のように、リング状出射部２０２Ａ
は、端面Ｃ1 を均一に照明するため、指向性の有る発光
面よりも拡散性で発光面積の広いタイプが必要である。
このため、実施例のような環状の螢光灯を使うことで所
定の目的を達成することができる。しかし、螢光灯は、
強度の調節に適さず、また検査項目切替のため点滅を繰
返す場合に適さない。このため、蛍光灯に代えて、図５
に示す如く、内径が中空糸モジュールＭの端部の外径よ
り大きいリング状の本体２０２Ａａとこの本体２０２Ａ
ａ内に収容された複数の光ファイバー２０２Ａｂとから
なるリング状ファイバーライトガイドを用いてもよい。
この図５の場合、第１の光源２０１Ａとしてランプを用
いるとともに、この第１の光源２０１Ａの発光光束を光
ファイバー束２０３Ａによってリング状出射部２０２Ａ
の光ファイバー２０２Ａｂに導くことで、本体２０２Ａ
ａの端面から中空糸モジュールＭの端面に光を照射する
ことができる。As described above, the ring-shaped emission section 202A
In order to uniformly illuminate the end face C1, it is necessary to use a type having a light-emitting surface that is more diffusive and has a larger light-emitting area than a light-emitting surface having directivity.
For this reason, a predetermined object can be achieved by using an annular fluorescent lamp as in the embodiment. However, fluorescent lights
It is not suitable for adjusting the intensity, and is not suitable for repeated blinking for switching inspection items. For this reason, instead of the fluorescent lamp, FIG.
As shown in the figure, a ring-shaped main body 202Aa whose inner diameter is larger than the outer diameter of the end of the hollow fiber module M, and the main body 202A
A ring-shaped fiber light guide composed of a plurality of optical fibers 202Ab accommodated in a may be used.
In the case of FIG. 5, a lamp is used as the first light source 201A, and a light beam emitted from the first light source 201A is transmitted by the optical fiber bundle 203A to the ring-shaped emission portion 202A.
Lead to the optical fiber 202Ab of the main body 202A.
Light can be applied to the end face of the hollow fiber module M from the end face a.

【００３８】前記リング状ファイバーライトガイドの各
光ファイバー２０２Ａｂの先端面は、本体２０２Ａａの
一方の端面においてこの本体２０２Ａａの外周縁に沿っ
て環状に配置されている。この場合に、出射方向すなわ
ち光ファイバー２０２Ａｂの先端を、中空糸モジュール
Ｍの端面に対し垂直な方向に配列したものでは、正反射
を避けるために数１の式関係を満足する位置にリング状
出射部２０２Ａを置くと、中空糸モジュールＭの端面に
入射する光量が弱くなる。このため、この図５に示すよ
うなファイバーライトガイドをリング状出射部２０２Ａ
として採用する場合には、光ファイバー２０２Ａｂの先
端を中空糸モジュールＭの端面の中心Ｏ点方向へ、たと
えば４５°程度傾けるのがよい。The distal end face of each optical fiber 202Ab of the ring-shaped fiber light guide is annularly arranged on one end face of the main body 202Aa along the outer peripheral edge of the main body 202Aa. In this case, in the case where the emission direction, that is, the tip of the optical fiber 202Ab is arranged in the direction perpendicular to the end face of the hollow fiber module M, the ring-shaped emission section is located at a position satisfying the expression 1 in order to avoid regular reflection. When 202A is placed, the amount of light incident on the end face of the hollow fiber module M becomes weak. Therefore, the fiber light guide as shown in FIG.
In this case, the tip of the optical fiber 202Ab is preferably inclined at, for example, about 45 ° toward the center O of the end face of the hollow fiber module M.

【００３９】また、前記光ファイバー２０２Ａｂの出射
開口角は広いタイプが望ましいが、広角のタイプでも開
口角１２０°にすぎず、蛍光灯に比べ拡散性も不足して
いるので、図５に示した如く、リング状出射部２０２Ａ
の前面に拡散板２０４Ａを配置するのが好ましい。It is desirable that the optical fiber 202Ab has a wide exit aperture angle. However, even a wide-angle type optical fiber has an aperture angle of only 120 °, which is insufficient in diffusivity as compared with a fluorescent lamp, as shown in FIG. , Ring-shaped emitting section 202A
It is preferable to dispose the diffusing plate 204A in front of the substrate.

【００４０】この不浸透欠陥の検査では、測光装置とし
て、第１の測光装置３Ａを用いる。この第１の測光装置
３Ａは、視野内をたとえば５１２（横）×４８０（縦）
個からなる微小領域に分割してこれらの微小領域の各々
に対応するべく配列されたフォトセンサ群を有するカメ
ラ本体３１と前記フォトセンサ群上に集光する集光レン
ズ３２とを備える公知の２次元テレビカメラである（図
２参照）。既述のように、支持装置１の移動機構を作動
させることにより、中空糸モジュールＭの軸心Ｃ0 を集
光レンズ３２Ａの光学中心軸３２Ａａに合致させること
ができ、これによってこの第１の測光装置３は、前記中
空糸モジュールＭの樹脂剤層Ｃ1 の端面を撮影すること
ができる。この第１の測光装置３は、前記第１のリング
状出射部２０２Ａからの光を照射された樹脂剤層Ｃ1 の
端面を撮影し、各フォトセンサに対応する微小領域の光
量を表す第１のアナログ画像信号を出力する。この第１
のアナログ画像信号は異常検出用信号形成部４に与えら
れる。In the inspection for the impervious defect, the first photometric device 3A is used as a photometric device. The first photometric device 3A has, for example, 512 (horizontal) × 480 (vertical) in the field of view.
A known camera 2 having a camera body 31 having a photosensor group divided into minute regions each of which is arranged to correspond to each of these minute regions, and a condenser lens 32 for condensing light on the photosensor group. It is a three-dimensional television camera (see FIG. 2). As described above, by operating the moving mechanism of the supporting device 1, the axis C0 of the hollow fiber module M can be made to coincide with the optical center axis 32Aa of the condenser lens 32A. The apparatus 3 can photograph the end face of the resin layer C1 of the hollow fiber module M. The first photometric device 3 takes an image of the end face of the resin material layer C1 irradiated with the light from the first ring-shaped emission part 202A, and displays a first light quantity representing a light amount of a minute area corresponding to each photosensor. Outputs analog image signals. This first
Is supplied to the abnormality detection signal forming section 4.

【００４１】異常検出用信号形成部４は、Ａ／Ｄ変換器
４０１、画像記憶部４０２、２値化処理部４０３および
２値化画像表示部４０４を備えている。The abnormality detection signal forming section 4 includes an A / D converter 401, an image storage section 402, a binarization processing section 403, and a binarized image display section 404.

【００４２】Ａ／Ｄ変換器４０１は、前記第１の測光装
置３Ａから与えられた第１のアナログ画像信号を第１の
ディジタル画像信号に変換して画像記憶部４０２へ送
る。The A / D converter 401 converts the first analog image signal supplied from the first photometric device 3A into a first digital image signal and sends it to the image storage unit 402.

【００４３】画像記憶部４０２は、前記第１のディジタ
ル画像信号を一旦記憶する。The image storage section 402 temporarily stores the first digital image signal.

【００４４】２値化処理部４０３は、前記第１のディジ
タル画像信号を所定の閾値Ｂ1Pで２値化し、第１の２値
化画像信号を形成する。すなわち、この２値化処理部４
０３は、前記閾値Ｂ1Pよりもレベルの高い画像信号（図
７に破線で示す部分）を白色レベルに置換し、閾値Ｂ1P
よりもレベルの低い画像信号を黒色レベルに置換する
（図７参照）。The binarization processing section 403 binarizes the first digital image signal with a predetermined threshold value B1P to form a first binarized image signal. That is, this binarization processing unit 4
03 replaces the image signal (the part shown by the broken line in FIG. 7) having a higher level than the threshold value B1P with a white level,
An image signal having a lower level is replaced with a black level (see FIG. 7).

【００４５】また、２値化処理部４０３は、以下の方法
で前記閾値Ｂ1Pを設定する。Further, the binarization processing section 403 sets the threshold value B1P by the following method.

【００４６】前記リング状出射部２０２Ａによって照明
された中空糸モジュールＭの端面の光量は、樹脂剤のロ
ット間差や端面を成形する成形機の切れ味の劣化、ある
いは前記第１の光源２０１Ａとなるランプの劣化等のた
め、中空糸モジュール個別間でバラツクことが避け難
い。この現象に適応するため、この実施例の二値化処理
部４０３では、画像記憶部４０２に記憶された第１のデ
ィジタル画像信号から、図６に示した如く、端面の中心
Ｏの光量Ｂ10および半径ｋＲ上に均等配置した（ｊ−
１）個の微小領域ｐ1 〜ｐ(j-1) の光量Ｂ1i（ｉ＝１〜
ｊ−１）を計測する。ここでＲは、中空糸モジュールＭ
の本体ケースの内径である。また、ｋは１＞ｋ＞０であ
り品種に依らず任意に設定する。The amount of light at the end face of the hollow fiber module M illuminated by the ring-shaped emission section 202A is a difference between lots of the resin material, the deterioration of sharpness of a molding machine for molding the end face, or the first light source 201A. Due to the deterioration of the lamp and the like, it is difficult to avoid variations among the hollow fiber modules. In order to adapt to this phenomenon, the binarization processing unit 403 according to the present embodiment uses the first digital image signal stored in the image storage unit 402 as shown in FIG. (J-
1) The light amount B1i (i = 1 to 1) of the minute areas p1 to p (j-1)
j-1) is measured. Where R is the hollow fiber module M
Is the inner diameter of the main body case. Further, k is 1>k> 0, and is set arbitrarily regardless of the type.

【００４７】以上のようにして計測した中空糸モジュー
ルＭの端面の測光量Ｂ1i（ここでｉ＝０，１，…，ｊ−
１）は、通常、既述の図４（ｂ）の場合のように前記端
面の中心での値Ｂ0 が最大になる。また、不浸透欠陥が
端面の中央部分で発生するとこの中央部の測光量は正常
品と比べて更に高くなる。また、通常、前記図４（ｃ）
に示すように中央部の光量が若干高い光量分布の場合で
も、不浸透欠陥が生じると、その発生場所が前記端面の
周辺部分であっても、その不浸透欠陥に対応する部分の
光量は、光量分布の中央部のピークよりも高くなる。こ
の二値化処理部４０３では、不浸透欠陥により端面の光
量分布のピークが高く盛り上がること把えるために、数
３の式により、正常品の場合にはない光量の高い部分を
分別できるような２値化レベルすなわち閾値Ｂ1Pを演算
する。The measured light quantity B1i of the end face of the hollow fiber module M measured as described above (where i = 0, 1,..., J−
In the case of 1), the value B0 at the center of the end face usually becomes maximum as in the case of FIG. 4B described above. Further, when the impervious defect occurs at the center of the end face, the light intensity at the center becomes higher than that of a normal product. Also, normally, as shown in FIG.
Even in the case of a light amount distribution in which the light amount in the central portion is slightly higher as shown in the figure, if an impervious defect occurs, even if the occurrence location is the peripheral portion of the end face, the light amount of the portion corresponding to the impervious defect is It becomes higher than the central peak of the light quantity distribution. In the binarization processing unit 403, in order to understand that the peak of the light amount distribution on the end face rises high due to the impervious defect, it is possible to separate the high light amount part which is not in the case of a normal product by the equation (3). A binary level, that is, a threshold value B1P is calculated.

【００４８】[0048]

【数３】Ｂ1P＝バーＢ1 ＋ΔＢ1## EQU3 ## B1P = bar B1 + .DELTA.B1

【００４９】ここでバーＢ1 はｊ点の光量測定値の最大
値と最小値を除いた（ｊ−２）個の光量データの平均値
であり、ΔＢ1 は品種に依存する２値化レベルの定数オ
フセットである。定数オフセット量ΔＢ1 は、樹脂剤の
ロット間の色度差や光源の経時変化などに適応して正常
品の端面の光量分布を推定することによって決定するの
が基本であるが、光量計測と演算が複雑になるため、こ
こでは光量分布の傾きを品種によってほぼ一定であるも
のとして決定している。前記バーＢ1 を決定する方法
は、この他、テレビカメラで撮影した視野内の各微小領
域毎の光量値分布の範囲（最大―最小）ないしはこの分
布の標準偏差値から演算して決定するなど、一般に知ら
れた方法を採用してもよい。このように、バーＢ1 は平
均値や偏差値として求めるのが検出精度を向上させる上
で好ましいが、前記中空糸モジュールＭの端面の中心の
光量Ｂ10をそのままバーＢ1 として採用するようにして
もよい。Here, bar B1 is the average value of (j-2) light quantity data excluding the maximum and minimum values of the measured light quantity at point j, and ΔB1 is the constant of the binarization level depending on the type. Offset. The constant offset amount ΔB1 is basically determined by estimating the light amount distribution on the end face of a normal product in accordance with the chromaticity difference between lots of the resin material and the temporal change of the light source. Here, the slope of the light amount distribution is determined as being substantially constant depending on the product type. The method of determining the bar B1 may be determined by calculating from the range (maximum-minimum) of the light intensity value distribution for each minute area in the field of view photographed by the television camera or the standard deviation value of this distribution. A generally known method may be adopted. As described above, the bar B1 is preferably obtained as an average value or a deviation value from the viewpoint of improving detection accuracy. However, the light amount B10 at the center of the end face of the hollow fiber module M may be directly used as the bar B1. .

【００５０】以上のようにして求めた閾値Ｂ1Pは、図７
に実線と一点鎖線で示すように、中空糸モジュール個別
間の全体的な色の差に応じて若干上下する。The threshold value B1P obtained as described above is calculated as shown in FIG.
As shown by a solid line and an alternate long and short dash line, the hollow fiber module slightly rises and falls according to the overall color difference between the individual hollow fiber modules.

【００５１】２値化画像表示部４０４は、前記２値化処
理部４０３によって白色レベルと黒色レベルに置換され
た第１の２値化画像信号により得られる画像、すなわち
不浸透部の存在によって高光量となった部分のみを白色
で示した画像を表示する。The binarized image display unit 404 has an image obtained from the first binarized image signal replaced with the white level and the black level by the binarization processing unit 403, that is, a high level due to the presence of the impervious part. An image in which only the light amount is displayed in white is displayed.

【００５２】判別装置５は、記憶部５０１と演算判定部
５０２を備えている。この判別装置５は、不浸透欠陥を
検出するために以下のように動作する。The discriminating device 5 includes a storage unit 501 and an operation judging unit 502. The discriminating device 5 operates as follows to detect an impervious defect.

【００５３】演算判定部５０２は、前記２値化画像表示
部４０４において白色で表示される前記第１の２値化画
像信号による第１の高光量部分総面積を演算する。この
総面積は、前記カメラ本体３１のフォトセンサのうち、
出力した画像信号が白色レベルの画像信号に置換された
フォトセンサの数に相当する。また、演算判定部５０２
は、記憶部５０１にあらかじめ記憶された中空糸モジュ
ールＭの品番ごとの基準値の中から、記述していないデ
ータ入力装置より入力された品番の不浸透欠陥検査用面
積基準値を読み出す。The calculation judging section 502 calculates a first high light amount total area based on the first binarized image signal displayed in white on the binarized image display section 404. This total area is one of the photo sensors of the camera body 31.
The output image signal corresponds to the number of photo sensors in which the white-level image signal has been replaced. Also, the operation determination unit 502
Reads out the area reference value for the impervious defect inspection of the part number input from a data input device not described from among the reference values for each part number of the hollow fiber module M stored in the storage unit 501 in advance.

【００５４】また、演算判定部５０２は、２値化された
前記第１の高光量部分総面積を、前記不浸透欠陥検査用
面積基準値と比較し、中空糸モジュールの良否を判定す
る。ここでは、前記比較結果が基準値＞総面積であると
きその中空糸モジュールＭを不浸透欠陥検査に関して良
品と判定し、基準値≦総面積であるときその中空糸モジ
ュールＭを不良品と判定する。The operation determining unit 502 compares the binarized total area of the first high light intensity portion with the area reference value for the impervious defect inspection to determine the quality of the hollow fiber module. Here, when the comparison result satisfies the reference value> total area, the hollow fiber module M is determined to be non-defective with respect to the impervious defect inspection, and when the reference value ≦ total area, the hollow fiber module M is determined to be defective. .

【００５５】表示部６はＣＲＴディスプレイおよびプリ
ンタを備えており、中空糸モジュールの不浸透欠陥検査
に関する良否の判定結果を表示する。The display unit 6 includes a CRT display and a printer, and displays the result of the pass / fail judgment on the impervious defect inspection of the hollow fiber module.

【００５６】操作指令部７は、前記演算判定部５０２か
ら、上述の不浸透欠陥検査の判定結果に加え、後述する
糸乱れ欠陥検査、不通糸検査、剥離検査および発泡検査
の判定結果を受けた後、図８に示す中空糸モジュール移
載装置８を作動させ、支持装置１に搭載された中空糸モ
ジュールＭを取り外すとともに、この支持装置１に新規
モジュールを搭載させる。The operation instructing unit 7 receives, from the calculation judging unit 502, the judgment results of the yarn imperfection defect inspection, the non-through yarn inspection, the peeling inspection, and the foaming inspection, which will be described later, in addition to the judgment results of the impervious defect inspection described above. Thereafter, the hollow fiber module transfer device 8 shown in FIG. 8 is operated to remove the hollow fiber module M mounted on the support device 1 and mount a new module on the support device 1.

【００５７】図８において、中空糸モジュールの供給ラ
イン８１から支持装置１へそして次工程移送部８２への
着脱と、良品・不良品の判定結果に基づく次工程移送部
８２もしくは欠陥モジュール収集部８６への仕分けは、
オートハンド８０が操作指令部７の指令で自動的に行
う。このため、オートハンド８０は、ガイド８３に沿っ
て二点鎖線で示したごとく移動できる。また、この操作
指令部７は、入力装置により入力された中空糸モジュー
ルＭの品番に関する情報に基づいて、支持装置１に搭載
された中空糸モジュールの軸心Ｃ0 を前記集光レンズ３
２の光学中心軸に合致させるように、前記支持装置１の
ための図示しない移動機構を制御する。In FIG. 8, the hollow fiber module is attached to and detached from the supply line 81 from the supply line 81 to the support device 1 and then to the next step transfer section 82, and the next step transfer section 82 or the defective module collection section 86 based on the determination result of non-defective / defective products. Sorting into
The automatic hand 80 automatically performs the operation according to a command from the operation command unit 7. Therefore, the auto hand 80 can move along the guide 83 as shown by the two-dot chain line. The operation command unit 7 also determines the axis C0 of the hollow fiber module mounted on the support device 1 based on the information on the product number of the hollow fiber module M input by the input device.
A moving mechanism (not shown) for the support device 1 is controlled so as to coincide with the optical center axis 2.

【００５８】上記操作指令部７は、さらに、前記演算判
定部５０２の判定結果に基づいて、前記支持装置１から
取り外した中空糸モジュールＭを良品と不良品に分別す
る分別機能も備えている。すなわち、この操作指令部７
は、前記判定結果が支持装置１に搭載されている中空糸
モジュールＭを良品とするものである場合には、図８の
中空糸モジュール移載装置８に対し、支持装置１から取
り外した中空糸モジュールＭを次工程移送部８２に移動
させる指令を出し、前記比較結果が前記中空糸モジュー
ルＭを不良品とするものである場合には、中空糸モジュ
ール移載装置８に対し、支持装置１から取り外した中空
糸モジュールＭを欠陥中空糸モジュール収集部８６に移
動させる指令を出す。The operation command section 7 further has a separating function of separating the hollow fiber module M removed from the supporting device 1 into a non-defective product and a non-defective product based on the determination result of the calculation determining portion 502. That is, the operation command unit 7
If the determination result indicates that the hollow fiber module M mounted on the support device 1 is a non-defective product, the hollow fiber module transfer device 8 shown in FIG. A command to move the module M to the next process transfer unit 82 is issued. If the comparison result indicates that the hollow fiber module M is defective, the hollow fiber module transfer device 8 is sent from the support device 1 to the hollow fiber module transfer device 8. A command to move the detached hollow fiber module M to the defective hollow fiber module collection unit 86 is issued.

【００５９】以上のようにしてなる検査装置により、既
述のような不浸透欠陥のある中空糸モジュールを不良品
として排除することができる。With the inspection apparatus configured as described above, a hollow fiber module having an impervious defect as described above can be excluded as a defective product.

【００６０】なお、上記実施例では、演算判定部５０２
で求めた第１の高光量部分総面積が記憶部５０１から読
み出した基準値を越えているか否かのみをその中空糸モ
ジュールが良品であるか不良品であるかの判定条件とし
ている。しかしながら、この発明によるさらに他の中空
糸モジュールの検査装置では、前記面積の大小を指標と
する方法に代えて、前記２値化画像表示部４０４で白色
に表示される高光量部分の形状的な特徴すなわちこの高
光量部分の長さ等の特徴を数量化して前記特徴量を基準
量と比較するようにしてもよい。In the above-described embodiment, the operation determining unit 502
Only whether or not the total area of the first high light intensity portion calculated in step (1) exceeds the reference value read from the storage unit 501 is used as a condition for determining whether the hollow fiber module is a good product or a bad product. However, in still another inspection apparatus for a hollow fiber module according to the present invention, instead of the method using the area as an index, the shape of a high-light amount portion displayed in white on the binarized image display unit 404 is reduced. The feature, that is, the feature such as the length of the high light amount portion may be quantified and the feature amount may be compared with a reference amount.

【００６１】II. ＜糸乱れ欠陥の検査＞ 糸乱れ欠陥は、糸束Ｂを構成する中空糸の一部が、前記
樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 に密着した部分において、容器Ａの
中心部にまとまらず糸束Ｂの周辺でばらけ、折れ曲がっ
て糸束Ｂから食み出す欠陥である。図１の中空糸モジュ
ールの検査装置では、このような糸乱れ欠陥も検査する
ことができる。II. <Inspection of Yarn Defects> Yarn defect is caused by the fact that a part of the hollow fiber constituting the yarn bundle B is in close contact with the resin agent layers C1 and C2, and is gathered around the center of the container A. This is a defect that is scattered around the yarn bundle B, bent, and protrudes from the yarn bundle B. The inspection apparatus of the hollow fiber module of FIG. 1 can also inspect such a yarn disorder defect.

【００６２】糸乱れ欠陥を検査するための支持装置１の
構成と動作は、既述の不浸透欠陥の検査の場合と同様で
あるので、ここでは詳細な説明は省略する。The structure and operation of the support device 1 for inspecting a yarn disorder defect are the same as those of the above-described inspection of the impervious defect, and therefore, detailed description thereof will be omitted.

【００６３】この糸乱れ欠陥の検査では、光照射装置と
して、第２の光照射装置２Ｂを用いる。図２に示すよう
に、この第２の光照射装置２Ｂは、第２の光源２０１Ｂ
およびリング状出射部２０２Ｂを備えている。In the inspection for the yarn disorder defect, the second light irradiation device 2B is used as the light irradiation device. As shown in FIG. 2, the second light irradiation device 2B includes a second light source 201B.
And a ring-shaped emission part 202B.

【００６４】第２の光源２０１Ｂは、操作指令部７より
与えられた指令に基づいて、リング状出射部２０２Ｂか
らの光の出射のオン・オフおよび光強度の調整を行う。The second light source 201B turns on / off the emission of the light from the ring-shaped emission section 202B and adjusts the light intensity based on a command given from the operation command section 7.

【００６５】第２のリング状出射部２０２Ｂは、図９に
示すように、内径φが中空糸モジュールＭの端部の外径
より大きいリング状の本体２０２Ｂａとこの本体２０２
Ｂａ内に収容された複数の光ファイバー２０２Ｂｂとか
らなるリング状ファイバーライトガイドである。各光フ
ァイバー２０２Ｂｂの先端面は、本体２０２Ｂａの内周
面に沿って配置されており、かつそれぞれ本体２０２Ｂ
ａの中心を向いている。なお、図２では、簡便のため光
ファイバー２０２Ｂｂを周方向に間隔をおいて配置して
いるが、この光ファイバー２０２Ｂｂは、周方向にはな
るべく密集させて配置するのが好ましい。いずれにして
も、このリング状出射部２０２Ｂは、中空糸モジュール
Ｍの端部の側面を周方向において均一に照明する。前記
複数本の光ファイバー２０２Ｂｂは、光ファイバーコネ
クタ等を介して前記本体２０２Ｂａの外部に延出してお
り、それぞれ前記第２の光源２０１Ｂと光学的に接続さ
れている。As shown in FIG. 9, the second ring-shaped emitting portion 202B includes a ring-shaped main body 202Ba having an inner diameter φ larger than the outer diameter of the end portion of the hollow fiber module M, and a main body 202Ba.
This is a ring-shaped fiber light guide including a plurality of optical fibers 202Bb housed in Ba. The tip surface of each optical fiber 202Bb is arranged along the inner peripheral surface of the main body 202Ba, and
It faces the center of a. In FIG. 2, the optical fibers 202Bb are arranged at intervals in the circumferential direction for the sake of simplicity, but it is preferable that the optical fibers 202Bb are arranged as densely as possible in the circumferential direction. In any case, the ring-shaped emission section 202B uniformly illuminates the side surface of the end of the hollow fiber module M in the circumferential direction. The plurality of optical fibers 202Bb extend outside the main body 202Ba via an optical fiber connector or the like, and are each optically connected to the second light source 201B.

【００６６】前記第２のリング状出射部２０２Ｂは、中
空糸モジュールＭの軸方向に移動することでその内周側
に中空糸モジュールＭの端部を挿入することができる。
この実施例では、前記第２のリング状出射部２０２Ｂ
は、図１０に実線で示すように、光ファイバー２０２Ｂ
ｂの出射端面が中空糸モジュールＭの樹脂剤層Ｃ1 の軸
方向中央部Ｘでこの樹脂剤層Ｃ1 の側面に対向するよう
に固定される。前記本体部２０２Ｂａの内径φは、この
光ファイバー２０２Ｂｂの出射端面から出射される光が
樹脂剤層Ｃ1 の側面を軸方向全体にわたって照射するこ
とができるように光ファイバー２０２Ｂｂの出射角αに
応じて設定されている。このようにして樹脂剤層Ｃ1 の
側面を照射すると、軸心Ｃ0 とほぼ平行に樹脂剤層Ｃ1
の端面に達している中空糸は、この樹脂剤層Ｃ1 の端面
側にほとんど反射光を作らないのに対し、円柱状の糸束
Ｂから食み出して湾曲している異常中空糸は、この樹脂
剤層Ｃ1 の端面側に向かう強い反射光を作る。The end of the hollow fiber module M can be inserted into the inner peripheral side of the second ring-shaped emission part 202B by moving in the axial direction of the hollow fiber module M.
In this embodiment, the second ring-shaped emission portion 202B
Is an optical fiber 202B as shown by a solid line in FIG.
The emission end face b is fixed at the axially central portion X of the resin layer C1 of the hollow fiber module M so as to face the side surface of the resin layer C1. The inner diameter φ of the main body 202Ba is set according to the emission angle α of the optical fiber 202Bb so that the light emitted from the emission end face of the optical fiber 202Bb can irradiate the entire side surface of the resin material layer C1 in the axial direction. ing. When the side surface of the resin material layer C1 is irradiated in this manner, the resin material layer C1 is almost parallel to the axis C0.
While the hollow fiber reaching the end face of the resin layer C1 hardly generates reflected light on the end face side of the resin agent layer C1, the abnormal hollow fiber protruding from the cylindrical thread bundle B and being curved is Strong reflected light is produced toward the end face of the resin layer C1.

【００６７】なお、前記リング状出射部２０２Ｂの固定
位置は、必ずしも図１０に実線で示すような位置に限定
されるものではなく、たとえば、図１０に実線で示す位
置よりもモジュールＭの端部方向にズレた位置であって
もよい。しかし、図１０に一点鎖線で示すように、光フ
ァイバー２０２Ｂｂの先端が樹脂剤層Ｃ1 の外側端面に
一致する位置Ｙよりも先端側に位置するようになると、
光ファイバー２０２Ｂｂから出射された光が直接樹脂剤
層Ｃ1 の外側端面を照射するためこの端面で強い反射光
が発生し、この端面での反射光により前記のような異常
中空糸による反射光とのコントラストが悪化して検出エ
ラーを起こす。また、図１０に二点鎖線で示すように、
光ファイバー２０２Ｂの先端が樹脂剤層Ｃ1 の内側端面
に一致する位置Ｚからさらに内側に位置するようになる
と、光ファイバー２０２Ｂｂから出射した光が樹脂剤層
Ｃ1 内に閉じ込めた気泡を照らして強い反射光を作り、
これによる検出エラーが発生し易い。ただし、光ファイ
バー２０２Ｂｂの先端位置は、上記ＺとＸの中間位置で
あっても上記と同様の検出エラーを起こすことがあり、
上記Ｙ位置からその内側へ８ｍｍ程度の範囲内に設定す
ることが好ましい。The fixing position of the ring-shaped light emitting portion 202B is not necessarily limited to the position shown by the solid line in FIG. The position may be shifted in the direction. However, as shown by a dashed line in FIG. 10, when the tip of the optical fiber 202Bb is located closer to the tip than the position Y that coincides with the outer end face of the resin material layer C1,
Since the light emitted from the optical fiber 202Bb directly irradiates the outer end face of the resin material layer C1, strong reflected light is generated at this end face, and the reflected light at this end face causes contrast with the reflected light from the abnormal hollow fiber as described above. Deteriorates and causes a detection error. Also, as shown by a two-dot chain line in FIG.
When the tip of the optical fiber 202B is located further inward from the position Z which coincides with the inner end face of the resin material layer C1, the light emitted from the optical fiber 202Bb illuminates the bubbles trapped in the resin material layer C1 and produces strong reflected light. Make
This easily causes a detection error. However, even if the tip position of the optical fiber 202Bb is an intermediate position between Z and X, a detection error similar to the above may occur.
It is preferable to set within a range of about 8 mm inward from the Y position.

【００６８】なお、リング状出射部２０２Ｂとしては上
記のリング状ファイバーライトガイドの他にリング状螢
光灯を採用することも可能である。しかし、螢光灯は口
金具部での光強度むらを避け難い。また、蛍光灯は無指
向性であり樹脂剤層Ｃ1 の端面近傍のみでなく中空糸モ
ジュールの胴部分まで広く照明するため、前記検出エラ
ーが前記ファイバーライトガイドに比べて発生し易いた
め、前記ファイバーライトガイドを用いるのがより好ま
しい。It should be noted that a ring-shaped fluorescent lamp may be employed as the ring-shaped light emitting portion 202B in addition to the above-described ring-shaped fiber light guide. However, it is difficult for fluorescent lamps to avoid uneven light intensity at the base. Further, since the fluorescent lamp is omnidirectional and illuminates not only the vicinity of the end face of the resin agent layer C1 but also the trunk portion of the hollow fiber module, the detection error is more likely to occur as compared with the fiber light guide. More preferably, a light guide is used.

【００６９】この糸乱れ欠陥の検査において用いる測光
装置は、先の不浸透欠陥の検査の場合と同様、第１の測
光装置３Ａである。したがって、ここではこの第１の測
光装置３Ａの詳細な説明は省略する。第１の測光装置３
は、この糸乱れ欠陥の検査では、第２のリング状出射部
２０２Ｂから光が照射されている状態で前記樹脂剤層Ｃ
1 の端面を撮影し、各フォトセンサに対応する微小領域
の光量を表す第２のアナログ画像信号を出力する。この
第２のアナログ画像信号も異常検出用信号形成部４に与
えられる。The photometric device used in the inspection of the yarn disorder defect is the first photometric device 3A, as in the inspection of the impervious defect. Therefore, a detailed description of the first photometric device 3A is omitted here. First photometric device 3
In the inspection for the yarn disorder defect, the resin material layer C is irradiated with light from the second ring-shaped emission portion 202B.
1 is photographed, and a second analog image signal representing the amount of light in a minute area corresponding to each photosensor is output. This second analog image signal is also provided to the abnormality detection signal forming unit 4.

【００７０】第２のアナログ画像信号を受けた場合にお
ける異常検出用信号形成部４のＡ／Ｄ変換器４０１およ
び画像記憶部４０２の動作は、前述の不浸透欠陥の検査
の場合と同様である。The operations of the A / D converter 401 and the image storage unit 402 of the abnormality detection signal forming unit 4 when receiving the second analog image signal are the same as those in the case of the above-described inspection for impervious defects. .

【００７１】糸乱れ欠陥の検査の場合、すなわち異常検
出用信号形成部４が第２のアナログ画像信号を入力した
場合、２値化処理部４０３は、前記第２のアナログ画像
信号をＡ／Ｄ変換した第２のディジタル画像信号を所定
の閾値ＳP で２値化し、第２の２値化画像信号を形成す
る。すなわち、この２値化処理部４０３は、前記閾値Ｓ
P よりもレベルの高い画像信号を白色レベルに置換し、
閾値ＳP よりもレベルの低い画像信号を黒色レベルに置
換する。In the case of the inspection for the yarn defect, that is, when the abnormality detection signal forming unit 4 inputs the second analog image signal, the binarization processing unit 403 converts the second analog image signal into an A / D signal. The converted second digital image signal is binarized at a predetermined threshold value SP to form a second binarized image signal. That is, the binarization processing unit 403 determines whether the threshold S
Replace the image signal higher than P with white level,
An image signal whose level is lower than the threshold value SP is replaced with a black level.

【００７２】また、２値化処理部４０３は、以下の方法
で前記閾値ＳP を設定する。前記リング状出射部２０２
Ｂから出射される中心方向に向かう光により側面から樹
脂剤層Ｃ1 を照明すると、光は糸束Ｂの周縁部で散乱
し、この糸束Ｂの中心部にはほとんど到達しない。この
結果、前記リング状出射部２０２Ｂから光を出射させた
状態で、前記測光装置３により前記中空糸ｂ1 のような
異常中空糸がない中空糸モジュールＭの樹脂剤層Ｃ1 の
端面の光量を測定すると、中空糸モジュールＭの径方向
における光量分布は、図１１（ｂ）に実線で示すように
糸束Ｂの周縁部で最も高くなる。しかし、異常中空糸が
存在すると、既述のように、この異常中空糸は樹脂剤層
Ｃ1 の端面側に向かう強い反射光を作るため、図１１
（ｂ）に一点鎖線で示すように、糸束Ｂの周縁部よりも
遥かに光量が高くなる異常部分Ｅができる。前記閾値Ｓ
P は、前記異常部分Ｅを切り分けるべく設定される。前
記閾値ＳP は、図４（ｂ）に実線で示す光量分布中で最
も高い前記糸束Ｂの周縁部に対応する基準光量Ｓに所定
のオフセット量ΔＳを加算したものである。Further, the binarization processing section 403 sets the threshold value SP by the following method. The ring-shaped emitting section 202
When the resin material layer C1 is illuminated from the side surface by the light emitted from B toward the center, the light is scattered at the periphery of the yarn bundle B, and hardly reaches the center of the yarn bundle B. As a result, in a state where the light is emitted from the ring-shaped emission portion 202B, the light amount of the end surface of the resin agent layer C1 of the hollow fiber module M having no abnormal hollow fiber such as the hollow fiber b1 is measured by the photometric device 3. Then, the light quantity distribution in the radial direction of the hollow fiber module M becomes highest at the peripheral edge of the yarn bundle B as shown by a solid line in FIG. However, if an abnormal hollow fiber is present, as described above, the abnormal hollow fiber produces a strong reflected light directed toward the end face side of the resin material layer C1.
As shown by the dashed line in (b), an abnormal portion E where the amount of light is much higher than the periphery of the yarn bundle B is formed. The threshold S
P is set to isolate the abnormal part E. The threshold value SP is obtained by adding a predetermined offset amount ΔS to the reference light amount S corresponding to the peripheral portion of the yarn bundle B, which is the highest in the light amount distribution indicated by the solid line in FIG.

【００７３】[0073]

【数４】ＳP ＝Ｓ＋ΔＳ## EQU4 ## SP = S + .DELTA.S

【００７４】前記オフセット量ΔＳは、あらかじめ中空
糸モジュールＭの品種ごとに決定した定数である。The offset amount ΔS is a constant determined in advance for each type of the hollow fiber module M.

【００７５】一方、前記基準光量Ｓも、オフセット量Δ
Ｓと同様、中空糸モジュールＭの品種ごとにあらかじめ
決定しておくことができる。しかしながら、図１１
（ｂ）に実線で示す光量分布の全体的なレベルは、主に
以下の(a) 〜(c) の理由により、検査を行う各中空糸モ
ジュールＭによって異なることが避け難い。(a) 樹脂剤
層Ｃ1 を形成する樹脂剤そのものの色にロット間差があ
る。(b) 樹脂剤層Ｃ1 を形成する際の樹脂剤層Ｃ1 の端
部表面状態が、透明なものから濁り気味のものまで中空
糸モジュールＭごとに差が生じる場合がある。(c) 光源
２０１に用いているランプの劣化により出射光量が低下
する。On the other hand, the reference light amount S is also the offset amount Δ
Like S, it can be determined in advance for each type of hollow fiber module M. However, FIG.
It is unavoidable that the overall level of the light quantity distribution indicated by the solid line in (b) differs depending on each hollow fiber module M to be inspected mainly for the following reasons (a) to (c). (a) There is a lot-to-lot difference in the color of the resin itself forming the resin layer C1. (b) The surface state of the end of the resin material layer C1 when forming the resin material layer C1 may be different for each hollow fiber module M from a transparent one to a cloudy one. (c) The amount of emitted light decreases due to deterioration of the lamp used for the light source 201.

【００７６】したがって、基準光量Ｓをあらかじめ設定
する方法では、高い検査精度を得ることが難しくなる。
このため、この実施例では、図１（ａ）に示したように
直径ｍＲの円周上において等間隔で配置されるｎ個の微
小領域ｔ1 〜ｔn の光量Ｓi（ｉ＝１〜ｎ）を計測し、
これらの光量Ｓi の平均値を前記基準光量Ｓとしてい
る。ここでＲは中空糸モジュールＭの容器Ａの内径であ
る。また、ｍは１＞ｍ＞０から中空糸モジュールＭの品
種に応じて選べれる定数である。この定数ｍは、前記微
小領域ｔ1 〜ｔn を、通常の糸束Ｂ周縁部での最高光量
発生部に一致もしくは最も接近する位置に設けることが
できるように設定するのが好ましい。このような微小領
域ｔ1 〜ｔn の最適設定位置は、中空糸モジュールＭの
品種によって異なる。したがって、前記定数ｍは各中空
糸モジュールＭの品種ごとに決定する必要がある。２値
化閾値ＳP を決定する方法は、この他、テレビカメラで
撮影した視野内の各微小領域毎の光量値分布の範囲（最
大―最小）ないしはこの分布の標準偏差値から演算して
決定するなど、一般に知られた方法を採用してもよい。
前記(1) 式を用いて決定する方法は、簡便ながらよい精
度が得られるのでより好ましい。Therefore, it is difficult to obtain high inspection accuracy by the method of setting the reference light amount S in advance.
For this reason, in this embodiment, as shown in FIG. 1A, the light amounts Si (i = 1 to n) of n minute regions t1 to tn arranged at equal intervals on the circumference of the diameter mR are determined. Measure,
The average value of these light amounts Si is defined as the reference light amount S. Here, R is the inner diameter of the container A of the hollow fiber module M. M is a constant that can be selected from 1>m> 0 according to the type of the hollow fiber module M. It is preferable that the constant m is set so that the minute regions t1 to tn can be provided at a position corresponding to or closest to the maximum light amount generating portion at the periphery of the normal yarn bundle B. The optimum setting positions of such minute regions t1 to tn differ depending on the type of the hollow fiber module M. Therefore, the constant m needs to be determined for each type of the hollow fiber module M. A method of determining the binarization threshold value SP is to determine the binarization threshold value SP by calculating from the range (maximum-minimum) of the light amount value distribution for each minute area in the field of view photographed by the television camera or the standard deviation value of this distribution. For example, a generally known method may be adopted.
The method of determining using the above formula (1) is more preferable because good accuracy can be obtained while being simple.

【００７７】２値化画像表示部４０４は、前記２値化処
理部４０３によって白色レベルと黒色レベルに置換され
た第２の２値化画像信号により得られる画像、すなわち
異常中空糸による反射光によって高光量となった部分の
みを白色で示した画像を表示する。The binarized image display unit 404 uses an image obtained from the second binarized image signal replaced with the white level and the black level by the binarization processing unit 403, that is, the reflected light from the abnormal hollow fiber. An image in which only the high light intensity portion is displayed in white is displayed.

【００７８】判別装置５では、前記第２の２値化画像信
号に基づいて、演算判定部５０２が、前記２値化画像表
示部４０４において白色で表示される第２の高光量部分
総面積を演算する。前記第１の高光量部分総面積の場合
と同様、この第２の高光量部分総面積も、前記カメラ本
体３１のフォトセンサのうち、出力した画像信号が白色
レベルの画像信号に置換されたフォトセンサの数に相当
する。また、演算判定部５０２は、記憶部５０１にあら
かじめ記憶された中空糸モジュールＭの品番ごとの基準
値の中から、記述していないデータ入力装置より入力さ
れた品番の糸乱れ欠陥用面積基準値を読み出す。In the discriminating device 5, based on the second binarized image signal, the operation judging section 502 calculates the total area of the second high-light portion displayed in white on the binarized image display section 404. Calculate. As in the case of the first high-light portion total area, the second high-light portion total area also corresponds to the photo sensor of the camera body 31 in which the output image signal is replaced with a white-level image signal. It corresponds to the number of sensors. In addition, the operation determination unit 502 determines, from among the reference values for each part number of the hollow fiber module M stored in the storage unit 501 in advance, the yarn disorder defect area reference value of the part number input from a data input device not described. Is read.

【００７９】また、演算判定部５０２は、２値化された
前記第２の高光量部分総面積を、前記糸乱れ欠陥検査用
面積基準値と比較し、中空糸モジュールの良否を判定す
る。ここでは、前記比較結果が基準値＞総面積であると
きその中空糸モジュールＭを糸乱れ欠陥検査に関して良
品と判定し、基準値≦総面積であるときその中空糸モジ
ュールＭを不良品と判定する。Further, the operation judging section 502 compares the binarized total area of the second high light quantity portion with the area reference value for the yarn defect inspection, and judges the quality of the hollow fiber module. Here, when the comparison result satisfies the reference value> total area, the hollow fiber module M is determined to be non-defective with respect to the yarn disorder defect inspection, and when the reference value ≦ total area, the hollow fiber module M is determined to be defective. .

【００８０】表示部６は、不浸透検査の場合と同様にし
て、中空糸モジュールの糸乱れ欠陥検査に関する良否の
判定結果を表示する。The display unit 6 displays the result of the pass / fail judgment on the inspection of the yarn defect of the hollow fiber module in the same manner as in the case of the impermeability inspection.

【００８１】糸乱れ欠陥検査における操作指令部７の動
作は、前述の不浸透欠陥検査の場合と同様であるので、
ここではその説明を省略する。The operation of the operation command unit 7 in the yarn defect inspection is the same as that in the above-described impervious defect inspection.
Here, the description is omitted.

【００８２】以上のようにしてなる検査装置により、異
常中空糸が存在する中空糸モジュールを不良品として排
除することができる。中空糸モジュールＭの糸束Ｂの中
心は必ずしも容器Ａの中心と一致しておらず、樹脂剤層
Ｃ1 の端面からみた糸束Ｂの形状も必ずしも真円ではな
いが、上記検査装置によると、異常中空糸による反射光
で樹脂剤層Ｃの端面に高光量部分が形成されるような照
明を行い、前記高光量部分を判定することで異常中空糸
の存在を判定するようにしているので、糸束Ｂの中心と
容器Ａの中心の不一致や糸束Ｂの真円度に関係なく異常
中空糸の存在を検出し、この異常中空糸が存在する中空
糸モジュールを不良品として排除できる。With the inspection apparatus configured as described above, a hollow fiber module having an abnormal hollow fiber can be eliminated as a defective product. The center of the yarn bundle B of the hollow fiber module M does not always coincide with the center of the container A, and the shape of the yarn bundle B as viewed from the end face of the resin agent layer C1 is not necessarily a perfect circle. Since illumination is performed such that a high light amount portion is formed on the end surface of the resin agent layer C with the reflected light by the abnormal hollow fiber, and the high light amount portion is determined, the presence of the abnormal hollow fiber is determined. The presence of an abnormal hollow fiber is detected regardless of the discrepancy between the center of the yarn bundle B and the center of the container A and the roundness of the yarn bundle B, and the hollow fiber module having the abnormal hollow fiber can be excluded as a defective product.

【００８３】なお、上記実施例では、演算判定部５０２
で求めた第２の高光量部分総面積が記憶部５０１から読
み出した基準値を越えているか否かのみをその中空糸モ
ジュールが良品であるか不良品であるかの判定条件とし
ている。しかしながら、他の中空糸モジュールの検査装
置では、前記面積の大小を指標とする方法に代えて、前
記２値化画像表示部４０４で白色に表示される高光量部
分の形状的な特徴すなわちこの高光量部分の長さ等の特
徴を数量化して前記特徴量を基準量と比較するようにし
てもよい。In the above embodiment, the operation judging section 502
Only whether or not the second high light amount partial total area obtained in step (1) exceeds the reference value read from the storage unit 501 is used as a condition for determining whether the hollow fiber module is a good or defective product. However, in the other hollow fiber module inspection apparatus, instead of the method using the size of the area as an index, the shape characteristic of the high light amount portion displayed in white on the binarized image display unit 404, that is, this height A feature such as the length of the light amount portion may be quantified and the feature amount may be compared with a reference amount.

【００８４】III.＜不通糸欠陥の検査＞ 不通糸欠陥については、既に詳述しているのでここでの
説明は省略する。III. <Inspection of Non-Threading Defect> The non-threading defect has already been described in detail, and a description thereof will be omitted.

【００８５】不通糸欠陥を検査するための支持装置１の
構成と動作は、既述の不浸透欠陥および糸乱れ欠陥の検
査の場合と同様であるので、ここでは詳細な説明は省略
する。The structure and operation of the support device 1 for inspecting a non-thread defect are the same as those for the above-described inspection of a non-penetrating defect and a yarn turbulence defect, and a detailed description thereof will be omitted.

【００８６】この不通糸欠陥の検査では、光照射装置と
して、第１の光照射装置２Ａと第２の光照射装置２Ｂを
用いる。これら第１および第２の光照射装置２Ａ，２Ｂ
の構成は既述の通りであるのでここではその詳細な説明
は省略する。In the inspection for the defective yarn defect, a first light irradiation device 2A and a second light irradiation device 2B are used as light irradiation devices. These first and second light irradiation devices 2A, 2B
Is as described above, and the detailed description is omitted here.

【００８７】第１の光照射装置２Ａの第１のリング状出
射部２０２Ａは、この第１のリング状出射部２０２Ａか
ら光を照射したことによる中空糸モジュールＭの端面の
光量分布が、既述の図４（ａ）あるいは図４（ｂ）のよ
うに、前記端面の中央部で光量が高くなる光量分布とな
る位置に設ける。これによって、第１の光源２０１Ａ
は、中空糸モジュールＭの端面の中央表面付近の白色変
質ポリマのみならず、前記中央表面付近において若干樹
脂剤層の内部に潜った微小気泡群をも照明する。The first ring-shaped light emitting portion 202A of the first light irradiation device 2A has the light amount distribution on the end face of the hollow fiber module M due to the light irradiation from the first ring-shaped light emitting portion 202A. As shown in FIG. 4 (a) or 4 (b), it is provided at a position where the light amount distribution becomes high at the center of the end face. Thereby, the first light source 201A
Illuminates not only the white deteriorated polymer near the center surface of the end surface of the hollow fiber module M, but also a group of microbubbles slightly buried inside the resin agent layer near the center surface.

【００８８】一方、第２の光照射装置２Ｂの第２のリン
グ状出射部２０２Ｂは、図１０に示した場合と同様の環
状のファイバーライトガイトである。しかし、この第２
のリング状出射部２０２Ｂは、不通糸欠陥の検査におい
ては、既述の糸乱れ欠陥の検査の時とは若干異なる位置
に固定される。すなわち、この糸乱れ欠陥の検査におけ
る第２のリング状出射部２０２Ｂの位置は、図１０にお
いて一点鎖線で示すような、中空糸モジュールＭの端面
近傍の糸束周辺を照射するこの端面の前方位置であって
もよく、同じく図１０に実線で示すような前記端面から
後退した位置であってもよい。図１０に実線で示すよう
な端面から後退した位置では、不通糸欠陥部分の白色微
小気泡群を背後から照明するため、中空糸が密集してい
る中空糸モジュールＭの端面近傍においては効果的に光
拡散作用を得られて好ましい。しかし、図１０に二点鎖
線で示すように実線で示す位置よりもさらに前記端面か
ら後退した位置（端面から約１０ｍｍ以上後退した位
置）では、バックライトの如き効果が強く、中空糸モジ
ュールの端面の画像のコントラストが低下して使えな
い。On the other hand, the second ring-shaped emitting portion 202B of the second light irradiation device 2B is an annular fiber light guide similar to the case shown in FIG. However, this second
The ring-shaped emitting portion 202B is fixed at a position slightly different from that at the time of the inspection of the yarn disorder described above in the inspection of the non-through yarn defect. That is, the position of the second ring-shaped emission part 202B in the inspection of the yarn disorder defect is a position in front of the end face which irradiates the periphery of the yarn bundle near the end face of the hollow fiber module M as shown by a dashed line in FIG. And a position retracted from the end face as shown by a solid line in FIG. At the position retreated from the end face as shown by the solid line in FIG. 10, the white microbubbles at the defective portion of the impervious yarn are illuminated from behind, so that the vicinity of the end face of the hollow fiber module M where the hollow fibers are densely arranged is effectively formed. It is preferable because a light diffusion action can be obtained. However, as shown by a two-dot chain line in FIG. 10, at a position further receded from the end face than the position indicated by the solid line (a position receded by about 10 mm or more from the end face), an effect like a backlight is strong, and the end face of the hollow fiber module is The image contrast is too low to use.

【００８９】以上のように設定した第２のリング状出射
部２０２Ｂから光を照射したことによる光量分布は、図
１１（ｂ）に示した糸乱れ欠陥の場合の光量分布と同
様、中空糸モジュールの端面の周辺部で光量が大きく、
中央部で光量が小さい光量分布となる。これによって、
第２のリング状出射部２０２Ｂから照射された光は、中
空糸モジュールＭの端面における糸束周辺近くにある白
色微小気泡群を照明する。The light amount distribution by irradiating light from the second ring-shaped emitting portion 202B set as described above is similar to the light amount distribution in the case of a yarn disorder defect shown in FIG. The amount of light is large around the end face of
The light intensity distribution is small at the center. by this,
The light emitted from the second ring-shaped emission section 202B illuminates a group of white microbubbles near the periphery of the yarn bundle on the end face of the hollow fiber module M.

【００９０】なお、この不通糸欠陥の検査においては、
第２のリング状出射部２０２Ｂとして環状の螢光灯を用
いてもよい。しかし、螢光灯は、口金具部での光強度む
らを避け難くまた無指向性のためカット面近傍の端部の
みでなく透析器の胴部分まで広く照明するため、検査対
象面である端面画像のコントラストが悪い。したがっ
て、第２のリング状出射部２０２Ｂとしては前述のファ
イバーライトガイトがより好ましい。In the inspection for the defective yarn defect,
An annular fluorescent lamp may be used as the second ring-shaped emission part 202B. However, fluorescent lamps are difficult to avoid uneven light intensity at the base, and because they are omnidirectional, they illuminate not only the end near the cut surface but also the body of the dialyzer widely, so the end surface to be inspected is Image contrast is poor. Therefore, the above-mentioned fiber light guide is more preferable as the second ring-shaped emission part 202B.

【００９１】この不通糸欠陥の検査においては、操作指
令部７より与えられた指令に基づいて、図１２に示すよ
うに、前記第１の光照射手段２Ａの照射による中空糸モ
ジュールＭの端面の光量分布Ｍ1 と第２の光照射手段２
Ｂの照射による前記端面の光量分布Ｍ2 とによって、前
記端面の径方向における光量分布がこの端面の全域にわ
たってほぼフラットな光量分布Ｍ0 となるように、第１
および第２の光源２０１Ａ，２０１Ｂの強度の調整およ
び第１および第２のリング状出射部２０２Ａ，２０２Ｂ
の位置の調整を行う。また、第１および第２の光源２０
１Ａ，２０１Ｂのオン・オフは同時に行われる。In the inspection for the defective yarn defect, based on the command given from the operation command unit 7, as shown in FIG. 12, the end face of the hollow fiber module M is irradiated by the first light irradiation means 2A. Light intensity distribution M1 and second light irradiation means 2
The first light quantity distribution M2 in the radial direction of the end face by the irradiation of B gives a substantially flat light quantity distribution M0 over the entire area of the end face.
And intensity adjustment of the second light sources 201A and 201B, and the first and second ring-shaped emission portions 202A and 202B.
Adjust the position of. Also, the first and second light sources 20
ON and OFF of 1A and 201B are performed simultaneously.

【００９２】この不通糸欠陥の検査において用いる測光
装置は、先の不浸透欠陥および糸乱れ欠陥の検査の場合
と同様、第１の測光装置３Ａである。したがって、ここ
ではこの第１の測光装置３Ａの詳細な説明は省略する。
第１の測光装置３は、この不通糸欠陥の検査では、第１
のリング状出射部２０２Ａおよび第２のリング状出射部
２０２Ｂの両方から光が照射されている状態で前記樹脂
剤層Ｃ1 の端面を撮影し、各フォトセンサに対応する微
小領域の光量を表す第３のアナログ画像信号を出力す
る。この第３のアナログ画像信号も異常検出用信号形成
部４に与えられる。The photometric device used in the inspection of the imperfect yarn defect is the first photometric device 3A, as in the inspection of the impermeability defect and the yarn defect defect. Therefore, a detailed description of the first photometric device 3A is omitted here.
The first photometric device 3 performs the first
The end surface of the resin material layer C1 is photographed in a state where the light is irradiated from both the ring-shaped light emitting portion 202A and the second ring-shaped light emitting portion 202B, and the light amount of the minute region corresponding to each photo sensor is indicated. 3 is output. This third analog image signal is also provided to the abnormality detection signal forming unit 4.

【００９３】第３のアナログ画像信号を受けた場合にお
ける異常検出用信号形成部４のＡ／Ｄ変換器４０１およ
び画像記憶部４０２の動作は、前述の不浸透欠陥および
糸乱れ欠陥の検査の場合と同様である。The operation of the A / D converter 401 and the image storage unit 402 of the abnormality detection signal forming unit 4 when receiving the third analog image signal is performed in the case of the above-described inspection for the impermeability defect and the yarn disorder defect. Is the same as

【００９４】不通糸欠陥の検査の場合、すなわち異常検
出用信号形成部４が第３のアナログ画像信号を入力した
場合、２値化処理部４０３は、前記第３のアナログ画像
信号をＡ／Ｄ変換した第３のディジタル画像信号を所定
の閾値Ｂ2Pで２値化し、第２の２値化画像信号を形成す
る。すなわち、この２値化処理部４０３は、前記閾値Ｂ
2Pよりもレベルの高い画像信号を白色レベルに置換し、
閾値Ｂ2Pよりもレベルの低い画像信号を黒色レベルに置
換する。In the case of the inspection for the non-threading defect, that is, when the abnormality detection signal forming unit 4 inputs the third analog image signal, the binarization processing unit 403 converts the third analog image signal into an A / D signal. The converted third digital image signal is binarized by a predetermined threshold value B2P to form a second binarized image signal. That is, the binarization processing unit 403 performs the threshold B
Replace the image signal higher than 2P with white level,
An image signal whose level is lower than the threshold value B2P is replaced with a black level.

【００９５】２値化処理部４０３は、前記不浸透欠陥検
出において閾値Ｂ1Pを決定する場合と同様の理由によ
り、この閾値Ｂ1Pと同様の手順で不通糸欠陥検出のため
の閾値Ｂ2Pを設定する。すなわち、画像記憶部４０２に
記憶された第３のディジタル画像信号から、図６に示し
た中空糸モジュールＭの端面の中心Ｏの光量Ｂ20および
半径ｋＲ上に均等配置した（ｊ−１）個の微小領域ｐ1
〜ｐ(j-1) の光量Ｂ2i（ｉ＝１〜ｊ−１）を計測する。
前記定数ｋは、前述の不浸透欠陥の検出時のものと同値
であってもよいが、必要に応じて異なる値としていても
よい。The binarization processing section 403 sets the threshold value B2P for detecting a non-through thread defect in the same procedure as the threshold value B1P for the same reason as when the threshold value B1P is determined in the impervious defect detection. That is, from the third digital image signal stored in the image storage unit 402, (j-1) pieces of (j-1) pieces which are uniformly arranged on the light amount B20 and the radius kR of the center O of the end face of the hollow fiber module M shown in FIG. Micro area p1
The light quantity B2i (i = 1 to j-1) of .about.p (j-1) is measured.
The constant k may be the same value as that at the time of detection of the impervious defect described above, or may be a different value as needed.

【００９６】不通糸欠陥の発生位置は糸束部分の種々の
場所に出現し、また不通糸の周辺に存在する白色変質ポ
リマは照明しても輝度レベルは正常部より僅かに高くな
るにすぎない。この二値化処理部４０３では、不通糸欠
陥により中空糸モジュールＭの端面のいずれの箇所で光
量が高く盛り上がっても、正常品の場合にはない光量の
高い部分を分別できるような２値化レベルすなわち閾値
Ｂ1Pを数５の式により演算する。The locations of the defective yarns appearing at various places in the yarn bundle portion, and the white degraded polymer present around the defective yarns has a luminance level slightly higher than that of the normal portion even when illuminated. . The binarization processing unit 403 binarizes such that even if the light amount rises high at any part of the end face of the hollow fiber module M due to the imperfect yarn defect, a portion having a high light amount which is not a normal product can be separated. The level, that is, the threshold value B1P is calculated by the equation (5).

【００９７】[0097]

【数５】Ｂ2P＝バーＢ2 ＋ΔＢ2## EQU5 ## B2P = bar B2 + .DELTA.B2

【００９８】ここでバーＢ2 はｊ点の光量測定値の最大
値と最小値を除いた（ｊ−２）個の光量データの平均値
であり、ΔＢ2 は品種に依存する２値化レベルの定数オ
フセットである。定数オフセット量ΔＢ2 は、前記オフ
セット量ΔＢ1 と同様、樹脂剤のロット間の色度差や光
源の経時変化などに適応して正常品の端面の光量分布を
推定することによって決定する。Here, bar B2 is the average value of (j-2) light quantity data excluding the maximum value and the minimum value of the light quantity measurement values at point j, and ΔB2 is the constant of the binarization level depending on the type. Offset. Similar to the offset amount ΔB1, the constant offset amount ΔB2 is determined by estimating the light amount distribution on the end face of the normal product by adapting to the chromaticity difference between the lots of the resin agent and the aging of the light source.

【００９９】前記不浸透欠陥の検査の場合のバーＢ1 と
同様、前記バーＢ2 を決定する方法は、この他、テレビ
カメラで撮影した視野内の各微小領域毎の光量値分布の
範囲（最大―最小）ないしはこの分布の標準偏差値から
演算して決定するなど、一般に知られた方法を採用して
もよい。このように、バーＢ2 は平均値や偏差値として
求めるのが検出精度を向上させる上で好ましいが、前記
中空糸モジュールＭの端面の中心の光量Ｂ20をそのまま
バーＢ2 として採用するようにしてもよい。As with the bar B1 in the case of the above-described impervious defect inspection, the method of determining the bar B2 is, in addition, to the range of the light amount distribution (maximum- A generally known method, such as determining from the minimum) or the standard deviation value of this distribution, may be employed. As described above, it is preferable to obtain the bar B2 as an average value or a deviation value from the viewpoint of improving the detection accuracy. However, the light amount B20 at the center of the end face of the hollow fiber module M may be directly used as the bar B2. .

【０１００】２値化画像表示部４０４は、前記２値化処
理部４０３によって白色レベルと黒色レベルに置換され
た第３の２値化画像信号により得られる画像、すなわち
前記不通糸の存在によって高光量となった部分のみを白
色で示した画像を表示する。The binarized image display unit 404 displays an image obtained from the third binarized image signal that has been replaced with a white level and a black level by the binarization processing unit 403, that is, a high level due to the presence of the impervious yarn. An image in which only the light amount is displayed in white is displayed.

【０１０１】判別装置５では、２値化処理部４０３で求
めた第３の２値化画像信号に基づいて、演算判定部５０
２が、前記２値化画像表示部４０４において白色で表示
される第３の高光量部分総面積を演算する。前記第１お
よび第２の高光量部分総面積の場合と同様、この第３の
高光量部分総面積も、前記カメラ本体３１のフォトセン
サのうち、出力した画像信号が白色レベルの画像信号に
置換されたフォトセンサの数に相当する。また、演算判
定部５０２は、記憶部５０１にあらかじめ記憶された中
空糸モジュールＭの品番ごとの基準値の中から、記述し
ていないデータ入力装置より入力された品番の不通糸欠
陥用面積基準値を読み出す。In the discriminating device 5, based on the third binarized image signal obtained by the binarizing processing unit 403, the arithmetic judging unit 50
2 calculates a third high light amount partial total area displayed in white on the binarized image display unit 404. As in the case of the first and second high light quantity partial total areas, the third high light quantity partial total area is also replaced by a white-level image signal in the photo sensor of the camera body 31. The number of photo sensors performed. In addition, the operation determination unit 502 determines, from among the reference values for each part number of the hollow fiber module M stored in the storage unit 501 in advance, the area reference value for the broken yarn defect of the part number input from a data input device not described. Is read.

【０１０２】また、演算判定部５０２は、２値化された
前記第３の高光量部分総面積を、前記不通糸欠陥用面積
基準値と比較し、中空糸モジュールの良否を判定する。
ここでは、前記比較結果が基準値＞総面積であるときそ
の中空糸モジュールＭを不通糸欠陥の検査に関して良品
と判定し、基準値≦総面積であるときその中空糸モジュ
ールＭを不良品と判定する。Further, the operation determining section 502 compares the binarized total area of the third high light quantity portion with the area reference value for non-through yarn defect to determine the quality of the hollow fiber module.
Here, when the comparison result satisfies the reference value> total area, the hollow fiber module M is determined to be non-defective with respect to the inspection of the defective thread, and when the reference value ≦ total area, the hollow fiber module M is determined to be defective. I do.

【０１０３】表示部６は、不浸透欠陥検査および糸乱れ
欠陥の場合と同様にして、中空糸モジュールの不通糸欠
陥の検査に関する良否の判定結果を表示する。The display unit 6 displays the result of the pass / fail judgment on the inspection for the imperfect yarn defect of the hollow fiber module in the same manner as in the case of the impermeability defect inspection and the yarn disorder defect.

【０１０４】不通糸欠陥検査における操作指令部７の動
作は、前述の不浸透欠陥検査および糸乱れ欠陥検査の場
合と同様であるので、ここではその説明を省略する。The operation of the operation command section 7 in the non-thread defect inspection is the same as that in the above-described non-penetration defect inspection and yarn disorder defect inspection, and the description thereof is omitted here.

【０１０５】以上のようにしてなる検査装置により、既
述のような不通糸欠陥のある中空糸モジュールを不良品
として排除することができる。With the inspection apparatus configured as described above, the hollow fiber module having the defective yarn defect as described above can be excluded as a defective product.

【０１０６】なお、上記実施例では、演算判定部５０３
で求めた第３の高光量部分総面積が記憶部５０２から読
み出した基準値を越えているか否かのみをその中空糸モ
ジュールが良品であるか不良品であるかの判定条件とし
ている。しかしながら、この発明によるさらに他の中空
糸モジュールの検査装置では、前記面積の大小を指標と
する方法に代えて、前記２値化画像表示部４０５で白色
に表示される第３の高光量部分の形状的な特徴すなわち
この第３の高光量部分の長さ等の特徴を数量化して前記
特徴量を基準量と比較するようにしてもよい。In the above-described embodiment, the operation determining unit 503
Only whether or not the third total area of the high light quantity obtained in Step 3 exceeds the reference value read from the storage unit 502 is used as a condition for determining whether the hollow fiber module is a good product or a bad product. However, in still another inspection apparatus for a hollow fiber module according to the present invention, instead of the method using the size of the area as an index, the third high light intensity portion displayed in white on the binarized image display unit 405 is used. A shape feature, that is, a feature such as a length of the third high light amount portion may be quantified and the feature amount may be compared with a reference amount.

【０１０７】IV．＜剥離欠陥の検査＞ 剥離欠陥は、図２１における中空糸モジュールＭの容器
Ａと樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 が剥離するという欠陥である。
この剥離欠陥を、図１に示す中空糸モジュールの検査装
置は以下の構成と動作により検査する。IV. <Examination of Peeling Defect> The peeling defect is a defect in which the container A of the hollow fiber module M and the resin agent layers C1 and C2 in FIG.
The inspection apparatus for the hollow fiber module shown in FIG. 1 inspects this peeling defect by the following configuration and operation.

【０１０８】図１３に示すように、図１に示す前記支持
装置１は、前記剥離欠陥を検査するために、支持台１０
１、駆動モータ１０２、駆動ローラ１０３、モジュール
支持ローラ１０４，１０５、従動ローラ１０６およびベ
ルト１０７を備えている。前記駆動モータ１０２および
各ローラ１０３〜１０６は支持台１０１に取り付けられ
ている。また、駆動ローラ１０３は、前記従動ローラ１
０６の直下に配置されており、駆動モータ１０２によっ
て回転駆動される。As shown in FIG. 13, the support device 1 shown in FIG.
1, a drive motor 102, a drive roller 103, module support rollers 104 and 105, a driven roller 106, and a belt 107. The drive motor 102 and each of the rollers 103 to 106 are mounted on a support 101. The driving roller 103 is provided with the driven roller 1.
06 and is rotationally driven by the drive motor 102.

【０１０９】以上のようにしてなる支持装置１は、既述
したように、中空糸モジュールＭをその軸芯Ｃ0 を水平
に維持した状態で搭載することができる。また、この支
持装置１に搭載された中空糸モジュールＭは、駆動モー
タ１０２を作動させることにより、前記軸芯Ｃ0 を回転
中心として回転する。前記駆動モータ１０２の回転速度
の設定、起動および停止は、駆動制御部１０８によって
制御され、この駆動制御部１０８は後述する操作指令部
７により与えられる指令信号に基づいて動作する。前記
駆動モータ１０２によって回転駆動される前記駆動ロー
ラ１０３の回転角は、公知の光学式エンコーダ等の回転
角検出器１０９によって検出され、後述する操作指令部
７に与えられるようになっている。As described above, the supporting apparatus 1 having the above-described configuration can mount the hollow fiber module M with its axis C0 kept horizontal. The hollow fiber module M mounted on the support device 1 is rotated about the axis C0 by operating the drive motor 102. The setting, starting, and stopping of the rotation speed of the drive motor 102 are controlled by a drive control unit 108, and the drive control unit 108 operates based on a command signal given by an operation command unit 7 described later. The rotation angle of the drive roller 103, which is rotationally driven by the drive motor 102, is detected by a rotation angle detector 109 such as a known optical encoder and is given to an operation command unit 7 described later.

【０１１０】また、既述のように、前記支持装置１は、
図示しない上下動機構により、搭載した中空糸モジュー
ルＭを軸芯Ｃ0 を水平に維持したまま上下動させること
ができる。これによって、中空糸モジュールＭの検出位
置Ｍ0 を上下に移動させることができる。前記検出位置
Ｍ0 は、前記中空糸モジュールＭにおいて樹脂剤層Ｃ1
もしくはＣ2 と容器Ａの界面Ｋのうち、最も上位に位置
している界面Ｋの位置である。As described above, the supporting device 1 is
The mounted hollow fiber module M can be moved up and down by a vertical movement mechanism (not shown) while keeping the axis C0 horizontal. Thus, the detection position M0 of the hollow fiber module M can be moved up and down. In the hollow fiber module M, the detection position M0 is the resin material layer C1.
Alternatively, it is the position of the interface K located at the highest position among the interfaces K between C2 and the container A.

【０１１１】なお、この支持装置１に対する中空糸モジ
ュールＭの着脱は、図８に概略構成を示した既述の中空
糸モジュール移載機構８によって自動的に行うことがで
きるようになっている。The attachment / detachment of the hollow fiber module M to / from the support device 1 can be automatically performed by the above-described hollow fiber module transfer mechanism 8, which is schematically shown in FIG.

【０１１２】この剥離欠陥の検査では、光照射装置とし
て、図１における第３の光照射装置２Ｄを用いる。図１
３に示すように、この第３の光照射装置２Ｄは、第３の
光源２０１Ｄおよびスリット光発光部２０２Ｄを備えて
いる。In the inspection for the peeling defect, the third light irradiation device 2D in FIG. 1 is used as the light irradiation device. FIG.
As shown in FIG. 3, the third light irradiation device 2D includes a third light source 201D and a slit light emitting unit 202D.

【０１１３】第３の光源２０１Ｄは、操作指令部７より
与えられた指令に基づいて、発光のオン・オフおよび光
強度の調整を行う。The third light source 201D turns on / off the light emission and adjusts the light intensity based on a command given from the operation command unit 7.

【０１１４】スリット光発光部２０２Ｄは、たとえば複
数本の光ファイバー２０３Ｄによって前記第３の光源２
０１Ｄと接続されており、これらの光ファイバー２０３
Ｄを横一列に配列した後、これらの光ファイバー２０３
Ｄの端末から照射された光をシリンドリカルレンズ２０
４Ｄでスリット状に集光し、このスリット状の光を出射
する。図１４および図１５に示すように、前記スリット
光Ｈは、前記検出位置Ｍ0 で、界面Ｋを周方向に細分化
することで形成されるスリット幅ｄs の微小領域Ｐに入
射角α0 で入射する。既述のように、前記駆動モータ１
０２を作動させて前記中空糸モジュールＭを回転させる
ことにより、スリット光発光部２０２Ｄが出射するスリ
ット光Ｈは、前記検出位置Ｍ0 において、前記容器Ａと
樹脂剤層Ｃ1 もしくはＣ2 の界面Ｋを全周すなわち全域
にわたって照射することができる。The slit light emitting section 202D is connected to the third light source 2 by a plurality of optical fibers 203D, for example.
01D and these optical fibers 203
After arranging D in a horizontal line, these optical fibers 203
The light emitted from the terminal of D is
The light is condensed in a slit shape in 4D, and this slit light is emitted. As shown in FIGS. 14 and 15, at the detection position M0, the slit light H is incident at an incidence angle α0 on a minute region P having a slit width ds formed by subdividing the interface K in the circumferential direction. . As described above, the drive motor 1
02 to rotate the hollow fiber module M, the slit light H emitted from the slit light emitting section 202D completely passes through the interface K between the container A and the resin material layer C1 or C2 at the detection position M0. Irradiation can be performed around the circumference, that is, over the entire area.

【０１１５】このスリット光発光部２０２から出射され
たスリット光Ｈは、図１４に示すように、その一部が容
器Ａの表面で反射し反射光Ｒ11となるとともに、他の一
部が容器Ａ内に侵入する。容器Ａ内に侵入したスリット
光Ｈは前記検出位置Ｍ0 に到達する。この検出位置Ｍ0
に位置している界面Ｋで容器Ａと樹脂剤層Ｃ1 もしくは
Ｃ2 とが剥離していれば、スリット光Ｈはこの界面で垂
線CLに対し反射角β0で反射し反射光Ｒ12となる。前記
反射角β0 は、前記入射角α0 で前記容器Ａと空気層の
界面に到達したスリット光Ｈがこの界面で反射する場合
の反射角である。前記検出位置Ｍ0 に位置している界面
Ｋで容器Ａと樹脂剤層Ｃ1 もしくはＣ2が正常に接着さ
れており両者が剥離していなければ、スリット光Ｈは大
部分がこの界面を介して樹脂材層Ｃ1 もしくはＣ2 に侵
入する。この樹脂材層Ｃ1 もしくはＣ2 に侵入したスリ
ット光Ｈは、中空糸モジュールＭの糸束Ｂを構成する中
空糸の表面で反射し反射光Ｒ13となる。As shown in FIG. 14, a part of the slit light H emitted from the slit light emitting section 202 is reflected on the surface of the container A to become reflected light R11, and the other part is the reflected light R11. Invade. The slit light H that has entered the container A reaches the detection position M0. This detection position M0
If the container A and the resin agent layer C1 or C2 are separated at the interface K located at the position (2), the slit light H is reflected at this interface at a reflection angle β0 with respect to the perpendicular CL and becomes reflected light R12. The reflection angle β0 is a reflection angle when the slit light H arriving at the interface between the container A and the air layer at the incident angle α0 is reflected at this interface. If the container A and the resin material layer C1 or C2 are normally adhered at the interface K located at the detection position M0 and the two are not separated, the slit light H is mostly transmitted through the resin material through this interface. It penetrates the layer C1 or C2. The slit light H that has entered the resin material layer C1 or C2 is reflected on the surface of the hollow fiber constituting the yarn bundle B of the hollow fiber module M to become reflected light R13.

【０１１６】前記図１４から容易に類推できるように、
スリット幅ｄs が広いと、反射光Ｒ11とＲ12が重なる不
都合が生じる。スリット幅ｄs はこのような不都合が生
じないように設定する必要がある。たとえば、前記容器
Ａの端部における径Ｄ（図１４参照）は通常２８mm以上
であるが、いずれの場合であっても、前記スリット幅ｄ
s は１〜２mm程度とするのが好ましい。また、前記スリ
ット光Ｈが照射する微小領域Ｐの幅方向の中心と前記検
出位置Ｍ0 は完全に一致していることが好ましく、誤差
は１mm以内に止めると好ましい。この誤差が大きくなる
と、前記反射光Ｒ12の強度と角度が変動し、精度の高い
検出結果を得ることができなくなる。さらに、前記入射
角α0 と反射角β0 は、前記反射光Ｒ2 が最も強くなる
ように設定するか、あるいは、反射光Ｒ12，Ｒ13が十分
離れて障害にならないように設定するのがよい。入射角
α0 は２０°〜５０°の範囲に設定するのがよい。As can be easily analogized from FIG.
If the slit width ds is large, there is a disadvantage that the reflected lights R11 and R12 overlap. The slit width ds needs to be set so that such inconvenience does not occur. For example, the diameter D (see FIG. 14) at the end of the container A is usually 28 mm or more, but in any case, the slit width d
s is preferably about 1 to 2 mm. Further, it is preferable that the center in the width direction of the minute area P irradiated by the slit light H completely coincides with the detection position M0, and it is preferable that the error be kept within 1 mm. When this error increases, the intensity and angle of the reflected light R12 fluctuate, and it becomes impossible to obtain a highly accurate detection result. Further, the incident angle α0 and the reflection angle β0 are preferably set so that the reflected light R2 is the strongest, or set so that the reflected lights R12 and R13 are sufficiently separated from each other so as not to interfere. The incident angle α0 is preferably set in the range of 20 ° to 50 °.

【０１１７】図１５は、検出位置Ｍ0 に位置している界
面Ｋの微小領域Ｐを軸方向に６分割して示している。こ
の図１５における微小領域Ｐでは、中空糸モジュールＭ
先端側の３つの分割領域ａ，ｂ，ｃ（網線で表示した部
分）が剥離部、他の３つの分割領域ｄ，ｅ，ｆが正常接
着部である。この図１５に示す微小領域Ｐに前記スリッ
ト光発光部２０２が出射するスリット光Ｈを照射する
と、分割領域ａ，ｂ，ｃを照射したスリット光Ｈは界面
Ｋで強く反射して前記反射光Ｒ12となる。一方、分割領
域ｄ，ｅ，ｆを照射したスリット光Ｈはほとんど界面Ｋ
を通過して樹脂剤層Ｃ1 もしくはＣ2 に入り込み、糸束
Ｂを照射することで前記反射光Ｒ13となる。FIG. 15 shows the minute region P of the interface K located at the detection position M0 divided into six in the axial direction. In the micro area P in FIG. 15, the hollow fiber module M
The three divided regions a, b, and c (the portions indicated by the hatched lines) on the distal end side are the peeled portions, and the other three divided regions d, e, and f are the normal bonded portions. When the slit area H shown in FIG. 15 is irradiated with the slit light H emitted from the slit light emitting section 202, the slit area H illuminating the divided areas a, b, and c is strongly reflected at the interface K and the reflected light R12 is reflected. Becomes On the other hand, the slit light H irradiating the divided areas d, e, and f almost has the interface K
And enters the resin agent layer C1 or C2, and irradiates the yarn bundle B to become the reflected light R13.

【０１１８】この剥離欠陥の検査では、測光装置とし
て、第２の測光装置３Ｄを用いる。この第２の測光装置
３Ｄは公知の２次元ＣＣＤカメラである。この第２の測
光装置３Ｄは、前記スリット光発光部２０２Ｄから出射
された光による前記反射光Ｒ11〜Ｒ13を２次元で受光
し、この２次元上の各画素の光の輝度を表す画像データ
を第４のアナログ画像信号として出力する。この第２の
測光装置３Ｄは、少なくとも前記検出位置Ｍ0 に位置す
る界面Ｋの微小領域Ｐで垂線CLに対し反射角β0 で反射
する反射光Ｒ12を受光できる位置に設けられている必要
があり、前記反射角β0 は１５°〜７０°の範囲の反射
光を受講する位置に設けるのがよい。この第２の測光装
置３Ｄが出力する前記第４のアナログ画像信号も、先の
第１〜第３のアナログ画像信号と同様、異常検出用信号
形成部４に与えられる。In the inspection for the peeling defect, a second photometric device 3D is used as a photometric device. The second photometer 3D is a known two-dimensional CCD camera. The second photometric device 3D receives the reflected lights R11 to R13 by the light emitted from the slit light emitting unit 202D in two dimensions, and converts the image data representing the luminance of the light of each pixel on the two dimensions. Output as a fourth analog image signal. The second photometric device 3D needs to be provided at least at a position capable of receiving the reflected light R12 reflected at the reflection angle β0 with respect to the perpendicular CL in the minute region P of the interface K located at the detection position M0, The reflection angle β0 is preferably provided at a position where the reflected light in the range of 15 ° to 70 ° is received. The fourth analog image signal output from the second photometric device 3D is also supplied to the abnormality detection signal forming unit 4 in the same manner as the first to third analog image signals.

【０１１９】第４のアナログ画像信号を受けた場合にお
ける、異常検出用信号形成装置４のＡ／Ｄ変換器４０１
および画像記憶部４０２の動作は、前述の不浸透欠陥、
糸乱れ欠陥および不通糸欠陥の場合と同様である。A / D converter 401 of abnormality detection signal forming device 4 when receiving the fourth analog image signal
The operation of the image storage unit 402 is based on the aforementioned impermeability defect,
This is similar to the case of the yarn disorder defect and the non-thread defect.

【０１２０】剥離欠陥の検査の場合、すなわち異常検出
用信号形成部４が第４のアナログ画像信号を入力した場
合、２値化処理部４０３は、後述する演算判定部５０２
から２値化指令信号を受けるごとに、第４のアナログ画
像信号をＡ／Ｄ変換した各画素に関する第４のディジタ
ル画像信号を所定の閾値で２値化し、白色レベルと黒色
レベルに置換した第４の２値化画像信号を形成する。前
記２値化指令信号は、前記界面Ｋが周方向にスリット幅
ｄs だけ回転するごとに出力される。界面Ｋが周方向に
スリット幅ｄs だけ回転したことは前記回転角検出器１
０９の検出結果に基づいて前記操作指令部７が出力す
る。また、２値化のための閾値は、前記微小領域Ｐにお
ける剥離部を写す画像の画素のデータのみがこの閾値よ
りも大きくなるように、前記光源２０１Ｄの光強度およ
び迷光等によるノイズを考慮して設定する。In the case of the inspection for the peeling defect, that is, when the abnormality detection signal forming unit 4 inputs the fourth analog image signal, the binarization processing unit 403 executes the operation determining unit 502 described later.
Every time a binary command signal is received from the fourth analog image signal, the fourth digital image signal for each pixel obtained by A / D conversion of the fourth analog image signal is binarized by a predetermined threshold value and replaced with a white level and a black level. 4 to form a binary image signal. The binarization command signal is output each time the interface K rotates in the circumferential direction by the slit width ds. The rotation of the interface K by the slit width ds in the circumferential direction is based on the rotation angle detector 1.
The operation command section 7 outputs based on the detection result of the step 09. Further, the threshold value for binarization is determined in consideration of the light intensity of the light source 201D and noise due to stray light or the like such that only the pixel data of the image of the peeled portion in the minute area P is larger than the threshold value. To set.

【０１２１】前記反射光Ｒ12は、容器Ａと樹脂剤層Ｃ1
，Ｃ2 が剥離している場合には、正常な場合に比べ比
較的強いので、２値化閾値は経験的に決めた固定値を使
用できるが、光量測光装置３Ｄの測光量分布から演算し
て決定するなど一般に知られた方法を適用しても良い。
前記のような経験的に決めた固定値を用いる方法は、簡
便ながら良い精度が得られるので、より好ましい。The reflected light R12 is reflected on the container A and the resin material layer C1.
, C2 are relatively strong as compared to the normal case, so that the binarization threshold can be a fixed value determined empirically, but is calculated from the light intensity distribution of the light intensity meter 3D. A generally known method such as determination may be applied.
The method using the fixed value determined empirically as described above is more preferable because good accuracy can be obtained easily.

【０１２２】２値化画像表示部４０４は、剥離欠陥の検
査では、図１６に示すように、前記２値化処理部４０３
によって反射光受光部Ｒ11′〜Ｒ13′と反射光非受光部
Ｎの２値化された画像を、反射光受光部Ｒ11′〜Ｒ13′
を白色で、また、反射光非受光部Ｎを黒色で表示する。
ここで、反射光受光部Ｒ11′は前記反射光Ｒ11の受光
部、反射光受光部Ｒ12′は前記反射光Ｒ12の受光部、ま
た反射光受光部Ｒ13′は前記反射光Ｒ13の受光部であ
る。図１６にも示すように、反射光受光部Ｒ11′〜Ｒ1
3′は、２値化画像表示部４０４の画面４０４ａ上で界
面Ｋの周方向に対応する一方向に関して互いに間隔をあ
けた状態で表れる。また、同一形状の中空糸モジュール
Ｍでは、各中空糸モジュールＭ間において各受光部Ｒ1
1′，Ｒ12′，Ｒ13の位置はそれぞれ前記画面４０４ａ
上のほぼ同一位置に表れる。特に、受光部Ｒ12′は前記
容器Ａの内径がほぼ真円に形成されているため、精度よ
く所定位置に表れる。In the inspection of the peeling defect, the binarized image display unit 404, as shown in FIG.
The binarized images of the reflected light receiving portions R11 'to R13' and the reflected light non-receiving portion N are reflected by the reflected light receiving portions R11 'to R13'.
Are displayed in white, and the reflected light non-light receiving portion N is displayed in black.
Here, the reflected light receiving portion R11 'is a light receiving portion for the reflected light R11, the reflected light receiving portion R12' is a light receiving portion for the reflected light R12, and the reflected light receiving portion R13 'is a light receiving portion for the reflected light R13. . As shown in FIG. 16, the reflected light receiving portions R11 'to R1
3 'appears on the screen 404a of the binarized image display unit 404 in a state where there is an interval in one direction corresponding to the circumferential direction of the interface K. Further, in the hollow fiber modules M having the same shape, each light receiving portion R1 is provided between the hollow fiber modules M.
The positions of 1 ', R12', and R13 are respectively displayed on the screen 404a.
Appears in almost the same position above. In particular, since the inside diameter of the container A is formed in a substantially perfect circle, the light receiving portion R12 'appears at a predetermined position with high accuracy.

【０１２３】上記のように、図１６は、前記図１５に示
す微小領域Ｐに前記スリット光Ｈを照射させた場合に、
前記２値化画像表示部４０４に表示される２値化画像を
示している。したがって、この図１６では、反射光受光
部Ｒ12′は前記微小領域Ｐの分割領域ａ，ｂ，ｃに対応
する領域ａ′，ｂ′，ｃ′で構成されている。また、反
射光受光部Ｒ13′は前記微小領域Ｐの分割領域ｄ，ｅ，
ｆに対応する領域ｄ′，ｅ′，ｆ′で構成されている。As described above, FIG. 16 shows the case where the microscopic region P shown in FIG.
The binarized image displayed on the binarized image display unit 404 is shown. Therefore, in FIG. 16, the reflected light receiving portion R12 'is composed of regions a', b ', and c' corresponding to the divided regions a, b, and c of the minute region P. Further, the reflected light receiving portion R13 'is provided with divided areas d, e,
It is composed of areas d ', e', f 'corresponding to f.

【０１２４】判別装置５では、演算判定部５０２が２値
化画像表示部４で白色で表示される部分の面積を演算す
る。In the discriminating device 5, the calculation judging section 502 calculates the area of the portion displayed in white on the binarized image display section 4.

【０１２５】演算判定部５０２は、前記画面４０４ａ上
において前記受光部Ｒ12′が表れる位置を含む所定幅の
領域ｍにおいて、前記２値化処理部４０３の閾値よりも
大きな２値化画像信号である白色レベルの信号に対応す
る画素が形成する部分、すなわち前記受光部Ｒ12′の面
積を演算する。ここで演算される受光部Ｒ12′の面積
は、前記スリット光発光部２０２Ｄから出たスリット状
の光が照射する、前記界面Ｋにおけるスリット幅ｄs の
微小領域Ｐ中の剥離面積に比例する剥離面積の指数値で
ある。図１６に示す２値化画像では前記受光部Ｒ12′の
面積は、前記領域ａ′，ｂ′，ｃ′の面積の和に比例す
る。The calculation judging section 502 is a binarized image signal larger than the threshold value of the binarizing section 403 in a region m of a predetermined width including the position where the light receiving section R12 'appears on the screen 404a. The area formed by the pixel corresponding to the white level signal, that is, the area of the light receiving section R12 'is calculated. The area of the light receiving portion R12 'calculated here is a peeling area proportional to the peeling area in the minute area P with the slit width ds at the interface K, which is irradiated with the slit light emitted from the slit light emitting section 202D. Is the exponent value of. In the binarized image shown in FIG. 16, the area of the light receiving portion R12 'is proportional to the sum of the areas of the regions a', b ', and c'.

【０１２６】なお、前記受光部Ｒ13′の面積は、糸束Ｂ
が正しく真円の円筒形状に仕上がっている場合は、前記
微小領域Ｐ中の正常接着部の面積（図１５の分割領域
ｄ，ｅ，ｆの面積の和）に比例する。しかし、通常、糸
束Ｂは変形しており、界面Ｋを透過した反射光Ｒ13の受
光部Ｒ13′は位置ずれが多く、この受光部Ｒ13′は単に
正常であることの定性情報に止まる。The area of the light receiving portion R13 'is
Is correctly finished in a perfect circular cylindrical shape, it is proportional to the area of the normal bonding portion in the minute area P (the sum of the areas of the divided areas d, e, and f in FIG. 15). However, usually, the yarn bundle B is deformed, and the light receiving portion R13 'of the reflected light R13 transmitted through the interface K has many positional shifts, so that the light receiving portion R13' is merely qualitative information indicating that it is normal.

【０１２７】また、演算判定部５０２は、前記各微小領
域Ｐの受光部Ｒ12′の面積を順次積算する。演算判定部
５０２は、前記駆動モータ１０２により中空糸モジュー
ルＭが３６０度回転した時点で、界面Ｋ全周にわたる受
光部Ｒ12′の面積すなわち界面Ｋ全域における剥離面積
に相当する積算値を演算し、この積算値すなわち面積演
算値を、記憶部５０１から記述していないキーボード等
のデータ入力装置によって予め入力してある品番毎の剥
離欠陥検査用面積基準値と比較し、その大小に基づいて
中空糸モジュールＭの良否を判定する。すなわち、前記
の面積演算値≧面積基準値であるときその中空糸モジュ
ールＭを剥離欠陥検査に関して不良品と判定し、面積演
算値＜面積基準値であるとき中空糸モジュールＭを良品
と判定する。前記面積基準値は経験的に定めることがで
きる。The calculation judging section 502 sequentially sums up the areas of the light receiving sections R12 'of the respective minute areas P. When the hollow fiber module M is rotated by 360 degrees by the drive motor 102, the calculation determining unit 502 calculates the integrated value corresponding to the area of the light receiving unit R12 'over the entire circumference of the interface K, that is, the peeling area in the entire area of the interface K, This integrated value, that is, the area calculation value, is compared with a peel defect inspection area reference value for each product number previously input by a data input device such as a keyboard not described from the storage unit 501, and based on the magnitude, the hollow fiber is determined. The quality of the module M is determined. That is, when the area calculation value ≧ the area reference value, the hollow fiber module M is determined to be defective with respect to the peeling defect inspection, and when the area calculation value <the area reference value, the hollow fiber module M is determined to be good. The area reference value can be determined empirically.

【０１２８】表示部６は、中空糸モジュールごとに前記
演算判定部５０２が出力する比較結果、すなわち中空糸
モジュールの剥離欠陥に関する良否の判別結果を表示す
る。The display unit 6 displays the comparison result output by the calculation judging unit 502 for each hollow fiber module, that is, the result of judging pass / fail of the hollow fiber module regarding the peeling defect.

【０１２９】操作指令部７は、既述の不浸透欠陥の検査
等の説明において記載したようにして図８に示す中空糸
モジュール移載機構８を作動させる。また、この操作指
令部７は、駆動制御部１０８に指令して駆動モータ１０
２を作動させ、中空糸モジュールＭを、前記界面Ｋが周
方向にスリット幅ｄs ずつ移動するように、連続的又は
間欠的に３６０度回転移動させる。また、この操作指令
部７は、前記記憶部５０１に与えた中空糸モジュールＭ
の品番に関する情報に基づいて、前記品番の中空糸モジ
ュールの界面Ｋの最上位が前記検出位置Ｍ0 と一致する
ように、前記支持装置１のための図示しない上下動機構
を制御する。The operation command section 7 operates the hollow fiber module transfer mechanism 8 shown in FIG. 8 as described in the above description of the inspection for impervious defects and the like. The operation command unit 7 issues a command to the drive control unit 108 to drive the drive motor 10.
2 is operated to rotate the hollow fiber module M continuously or intermittently by 360 degrees so that the interface K moves in the circumferential direction by the slit width ds. The operation command unit 7 is provided with the hollow fiber module M provided to the storage unit 501.
The vertical movement mechanism (not shown) for the support device 1 is controlled based on the information on the part number so that the highest position of the interface K of the hollow fiber module of the part number coincides with the detection position M0.

【０１３０】以上のようにしてなる検査装置により、中
空糸モジュールの容器Ａと樹脂剤層Ｃ1 もしくはＣ2 間
に生じている剥離部の総面積を求め、この剥離部の総面
積が所定値以上である場合にその中空糸モジュールを不
良品として排除することができる。With the inspection apparatus constructed as described above, the total area of the peeled portion formed between the container A of the hollow fiber module and the resin agent layer C1 or C2 is determined. In some cases, the hollow fiber module can be rejected as a defective product.

【０１３１】なお、上記実施例では、光源２０１Ｄから
光ファイバーによって導いた光を、スリット光照射部２
０２Ｄでスリット状に集光し、このスリット光を中空糸
モジュールＭの最上端位置Ｍ0 に照射するようにしてい
るが、スリット光照射部２０２Ｄは、光源２０１Ｄをレ
ーザ光源とし、レーザ光をシリンドリカルレンズ等でス
リット状に拡げ、中空糸モジュールＭの最上端位置Ｍ0
に照射するようにしたものであってもよい。In the above embodiment, the light guided from the light source 201D by the optical fiber is transmitted to the slit light irradiating section 2D.
02D is condensed in a slit shape, and this slit light is irradiated to the uppermost end position M0 of the hollow fiber module M. The slit light irradiation unit 202D uses the light source 201D as a laser light source and uses the laser light as a cylindrical lens. And the like, and the top end position M0 of the hollow fiber module M
May be applied.

【０１３２】また、上記実施例では、第２の測光装置３
Ｄとして２次元ＣＣＤカメラを用いているが、発明によ
る他の検査装置では、第２の測光装置３Ｄとして１次元
ＣＣＤカメラ等のラインセンサを採用することもでき
る。この場合、第２の測光装置３Ｄは、検出位置Ｍ0 で
反射する反射光すなわち図１４における反射光Ｒ12のみ
をとらえる位置に設ける。一方、２値化処理部４０３で
は、前記走査によって第２の測光装置３Ｄがとらえる各
画素の輝度を所定の閾値で２値化し、演算判定部５０２
は前記閾値を越える画素の数をカウントする。この演算
判定部５０２でカウントされた画素の総数は、前記微小
領域Ｐにおける剥離部の面積に比例する剥離指数とな
る。この場合、２値化のための閾値は、先の実施例の場
合の光源２０１Ｄの光強度と迷光等によるノイズに加
え、ラインセンサの走査時間も考慮する。このように第
２の測光装置３Ｄとしてラインセンサを用いた場合で
も、上記した部位以外の他の部位の構成および機能は、
２値化画像表示部４０４を除き、先の実施例の場合と同
様である。したがって、この検査装置における他の部位
の説明はここでは省略する。In the above embodiment, the second photometric device 3
Although a two-dimensional CCD camera is used as D, other inspection devices according to the invention may employ a line sensor such as a one-dimensional CCD camera as the second photometric device 3D. In this case, the second photometric device 3D is provided at a position where only the reflected light reflected at the detection position M0, that is, the reflected light R12 in FIG. 14, is captured. On the other hand, the binarization processing unit 403 binarizes the brightness of each pixel captured by the second photometric device 3D by the scanning with a predetermined threshold value, and
Counts the number of pixels exceeding the threshold. The total number of pixels counted by the operation determining unit 502 is a peeling index that is proportional to the area of the peeled portion in the minute region P. In this case, the threshold value for binarization considers the scanning time of the line sensor in addition to the noise due to the light intensity of the light source 201D and stray light in the case of the previous embodiment. As described above, even when the line sensor is used as the second photometric device 3D, the configuration and function of the other parts than the above-described parts are as follows.
Except for the binarized image display unit 404, the configuration is the same as that of the previous embodiment. Therefore, description of other parts in this inspection apparatus is omitted here.

【０１３３】この剥離欠陥の検査においては、第２の測
光装置３Ｄとして単一の受光素子を用いることもでき
る。このように第２の測光装置３Ｄとして単一の受光素
子を用いる場合は、この受光素子が図１４に示す反射光
Ｒ11，Ｒ13をとらえることがないように、中空糸モジュ
ールＭの近傍に、前記反射光Ｒ11，Ｒ13を遮蔽する一点
鎖線で示すようなウィンド９（図１４参照）を設ける。
この場合、図１７に示すように、第２の測光装置３Ｄ´
である単一受光素子の出力信号は、２値化処理されるこ
となく異常検出用信号形成部４´に送られる。異常検出
用信号形成部４´は、前記第２の測光装置３Ｄ´の出力
信号のレベルから、迷光および正常接着部で生じる僅か
の反射光等を考慮してあらかじめ設定したノイズ分を差
し引くことによって、前記微小領域Ｐにおける剥離面積
に比例して変化する剥離指数を求め、この剥離指数を信
号化した剥離信号すなわち異常検出用信号を出力する。In the inspection for the peeling defect, a single light receiving element can be used as the second photometric device 3D. When a single light receiving element is used as the second photometric device 3D as described above, the light receiving element is disposed near the hollow fiber module M so that the light receiving element does not capture the reflected lights R11 and R13 shown in FIG. A window 9 (see FIG. 14) as shown by a dashed line for shielding the reflected lights R11 and R13 is provided.
In this case, as shown in FIG. 17, the second photometric device 3D '
The output signal of the single light receiving element is sent to the abnormality detection signal forming unit 4 'without being subjected to the binarization processing. The abnormality detection signal forming section 4 'subtracts a noise component set in advance in consideration of stray light and slight reflected light generated at the normal bonding portion from the output signal level of the second photometric device 3D'. Then, a peeling index that changes in proportion to the peeling area in the minute region P is obtained, and a peeling signal that is a signal of the peeling index, that is, an abnormality detection signal is output.

【０１３４】このように第２の測光装置として単一の受
光素子を用いる場合も、図１における第２の測光装置３
Ｄと異常検出用信号形成部４に代えて前記第２の測光装
置３Ｄ´と異常検出用信号形成部４´を用いること、お
よび新たに前記ウィンド９を設けること以外は、前記図
１の実施例の検査装置とほぼ同様である。したがって、
ここではこの検査装置の動作に関する詳細な説明は省略
する。As described above, even when a single light receiving element is used as the second photometric device, the second photometric device 3 shown in FIG.
1 except that the second photometric device 3D ′ and the abnormality detection signal forming unit 4 ′ are used in place of D and the abnormality detection signal forming unit 4 and that the window 9 is newly provided. It is almost the same as the inspection apparatus of the example. Therefore,
Here, a detailed description of the operation of the inspection apparatus is omitted.

【０１３５】次に、上記実施例では、演算判定部５０２
で求めた、前記界面Ｋにおける剥離部の面積に相当する
積算値が記憶部５０１で読み出した閾値を越えているか
否かのみをその中空糸モジュールが良品であるか不良品
であるかの判別条件としている。しかしながら、他の中
空糸モジュールの検査装置では、図１における剥離信号
形成部４に加えて、前記分割領域ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，
ｆごとの剥離の有無を示す剥離信号を形成する第２の剥
離信号形成部を設け、判別装置５では、連続する所定数
の微小領域Ｐの各分割領域ａ，ｂ，ｃあるいはａ，ｂ，
ｃ，ｄ，ｅ，ｆが全て剥離信号を検出しているような場
合には、たとえ前記積算値が閾値を越えていない場合で
も、その中空糸モジュールを不良品とするようにするこ
ともできる。Next, in the above-described embodiment, the operation determining section 502
Whether the hollow fiber module is a non-defective product or a defective product is determined only by determining whether or not the integrated value corresponding to the area of the peeled portion at the interface K exceeds the threshold value read out by the storage unit 501. And However, in the inspection apparatus of another hollow fiber module, in addition to the peeling signal forming unit 4 in FIG. 1, the divided areas a, b, c, d, e, and
A second peeling signal forming unit for forming a peeling signal indicating the presence or absence of peeling for each f is provided. In the discriminating device 5, each of the divided areas a, b, c or a, b, c of a predetermined number of continuous minute areas P is provided.
When c, d, e, and f all detect a peeling signal, the hollow fiber module can be regarded as a defective product even if the integrated value does not exceed the threshold value. .

【０１３６】このようにすると、分割領域ａ，ｂ，ｃの
剥離が連続する所定数の微小領域Ｐにわたっていること
により、樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の経年変化で、前記分割領
域ａ，ｂ，ｃの剥離が拡散する虞がある中空糸モジュー
ルＭを不良品として判別することができる。また、上記
のような第２の剥離信号形成部を備える場合、微小領域
Ｐのいずれか一つでも前記分割領域ａ，ｂ，ｃ，ｄ，
ｅ，ｆの全てにおいて剥離信号が検出されているような
場合は、他の判定条件に関係なくその中空糸モジュール
を不良品とするようにしていてもよい。これはたとえ一
つの微小領域Ｐであってもその分割領域ａ，ｂ，ｃ，
ｄ，ｅ，ｆ全てで剥離が生じていればそこから血液の漏
れ等を起こす可能性があるからである。In this manner, since the separation of the divided areas a, b, and c extends over a predetermined number of continuous small areas P, the aging of the resin agent layers C1, C2 causes the divided areas a, b, and c to change. The hollow fiber module M in which there is a risk that the peeling of the fiber is diffused can be determined as a defective product. In the case where the second peeling signal forming section as described above is provided, any one of the minute areas P is divided into the divided areas a, b, c, d, and
In the case where the peeling signal is detected in all of e and f, the hollow fiber module may be determined to be defective regardless of other determination conditions. This means that even if one micro area P, the divided areas a, b, c,
This is because if peeling occurs in all of d, e, and f, blood leakage or the like may occur therefrom.

【０１３７】どのような剥離状態が検出された場合にそ
の中空糸モジュールＭを不良品とするか否かは、中空糸
モジュールの特性と工程の解析結果に基づいて決定す
る。[0137] What kind of peeling state is detected and whether or not the hollow fiber module M is determined to be defective is determined based on the characteristics of the hollow fiber module and the results of the process analysis.

【０１３８】Ｖ．＜発泡欠陥の検査＞ 発泡欠陥は、容器Ａの端面に合わせて切断した樹脂材層
Ｃ1 ，Ｃ2 の端面に、気泡跡等の微小な凹部が形成され
ている欠陥である。この発泡欠陥を、図１に示す中空糸
モジュールの検査装置は以下の構成と動作により検査す
る。V. <Inspection of Bubble Defect> The foam defect is a defect in which a minute concave portion such as a bubble mark is formed on the end surfaces of the resin material layers C1 and C2 cut along the end surface of the container A. The inspection apparatus for the hollow fiber module shown in FIG. 1 inspects this foaming defect by the following configuration and operation.

【０１３９】発泡欠陥を検査するための支持装置１の構
成は、図１３に示した剥離欠陥の検査の場合と同様であ
る。したがって、ここでは図１８に符号を付すのみと
し、支持装置１の詳細な説明は省略する。The structure of the supporting device 1 for inspecting a foaming defect is the same as that of the inspection for the peeling defect shown in FIG. Therefore, only the reference numerals in FIG. 18 are used here, and the detailed description of the support device 1 is omitted.

【０１４０】この発泡欠陥の検査では、光照射装置とし
て、図１における第４の光照射装置２Ｅを用いる。図１
８に示すように、第４の光照射装置２Ｅは、第４の光源
２０１Ｅおよびスリット光照射部２０２Ｅを備えてい
る。In the inspection for the foaming defect, the fourth light irradiation device 2E in FIG. 1 is used as the light irradiation device. FIG.
As shown in FIG. 8, the fourth light irradiation device 2E includes a fourth light source 201E and a slit light irradiation unit 202E.

【０１４１】第４の光源２０１Ｅは、ハロゲンランプ等
によってなり、操作指令部７より与えられた指令に基づ
いて、発光のオン・オフおよび光強度の調整を行う。こ
の第４の光源２０１Ｅは、前記光強度を後述する第３の
測光装置３Ｅが測定する輝度がいずれかの画素において
飽和する光強度となるように調整する。この光強度の調
整については後述する。The fourth light source 201E is formed of a halogen lamp or the like, and performs on / off of light emission and adjustment of light intensity based on a command given from the operation command unit 7. The fourth light source 201E adjusts the light intensity so that the luminance measured by a third photometry device 3E described later becomes a light intensity that is saturated in any of the pixels. The adjustment of the light intensity will be described later.

【０１４２】スリット光照射部２０２Ｅは、たとえば複
数本の光ファイバー２０３Ｅによって前記光源２０１Ｅ
と接続されており、これらの光ファイバー２０３Ｅを横
一列に配列した後、これらの光ファイバー２０３Ｅの端
末から照射された光をシリンドリカルレンズ（不図示）
でスリット状に集光し、このスリット状の光を出射す
る。図１９に示すように、前記スリット状の光は、前記
中空糸モジュールＭの樹脂剤層Ｃ1 の端面Ｃ11がこの端
面全域において前記軸芯Ｃ0 と直角である理想的に形成
された面である場合には、この端面Ｃ11の直径上に入射
角α1 で入射し、この端面Ｃ11の直径を含む幅ｈのスリ
ット状被照射領域Ｈを照射する。以下においては、前記
端面が理想形成面である場合にこの端面Ｃ11に照射され
るスリット光の被照射領域Ｈを、任意の端面Ｃ11に関す
る被照射領域Ｈとして説明する。The slit light irradiating section 202E is connected to the light source 201E by a plurality of optical fibers 203E, for example.
After arranging these optical fibers 203E in a horizontal line, the light emitted from the terminals of these optical fibers 203E is transmitted to a cylindrical lens (not shown).
The light is condensed in a slit shape, and this slit light is emitted. As shown in FIG. 19, the slit-shaped light is generated when the end surface C11 of the resin agent layer C1 of the hollow fiber module M is an ideally formed surface that is perpendicular to the axis C0 over the entire end surface. Is incident on the diameter of the end face C11 at an incident angle α1, and irradiates a slit-shaped irradiation area H having a width h including the diameter of the end face C11. In the following, the irradiation area H of the slit light applied to the end face C11 when the end face is the ideal forming face will be described as the irradiation area H for an arbitrary end face C11.

【０１４３】端面Ｃ11が前記理想端面であるとき、この
スリット光発光部２０２Ｅから出射されたスリット光Ｌ
は、図４に実線で示すように、前記スリット状被照射領
域Ｈで反射角β21で反射し正反射光Ｒ21となる。When the end face C11 is the ideal end face, the slit light L emitted from the slit light emitting portion 202E
As shown by a solid line in FIG. 4, the light is reflected at the reflection angle β21 in the slit-shaped irradiated area H and becomes regular reflection light R21.

【０１４４】前記端面Ｃ11に気泡跡等による凹部DPが存
在すると、前記スリット光Ｌの正反射光Ｒ22は、図２０
に仮想線で示すように、凹部DP部分で前記反射角β21と
異なる反射角β22で反射する。反射光は、乱反射光を受
光せず、正反射光を受光するのが好ましい。If there is a concave portion DP due to a bubble mark or the like on the end face C11, the regular reflection light R22 of the slit light L is generated as shown in FIG.
As shown by an imaginary line, the light is reflected at the concave portion DP at a reflection angle β22 different from the reflection angle β21. It is preferable that the reflected light does not receive irregularly reflected light but receives specularly reflected light.

【０１４５】また、前記端面Ｃ11が理想端面に対し傾斜
してカットされていたり、歪みを有する端面であったり
する場合も、前記スリット光Ｌの正反射光Ｒ21′は前記
反射角β21と異なる反射角β21′で反射する。しかし、
この場合、被照射領域Ｈにおける端面Ｃ11の傾斜は、前
記凹部DPの場合に比べて小さく、したがって、正反射光
Ｒ21′の反射角β21′は前記正反射光Ｒ22の反射角β22
に比べて理想端面での反射角β21に近似している。Also, when the end face C11 is cut obliquely with respect to the ideal end face or is an end face having distortion, the regular reflection light R21 'of the slit light L has a reflection angle different from the reflection angle β21. It reflects at the angle β21 ′. But,
In this case, the inclination of the end surface C11 in the irradiation area H is smaller than that in the case of the concave portion DP, and therefore, the reflection angle β21 ′ of the regular reflection light R21 ′ is larger than the reflection angle β22 of the regular reflection light R22.
Is closer to the reflection angle β21 at the ideal end face.

【０１４６】なお、前記スリット状被照射領域Ｈの幅ｈ
の設定方法については後述する。The width h of the slit-shaped irradiated area H
The setting method of will be described later.

【０１４７】この発泡欠陥の検査では、測光装置とし
て、第３の測光装置３Ｅを用いる。この第３の測光装置
３Ｅは公知の２次元テレビカメラを主体とするものであ
る。この第３の測光装置３Ｅは、前記端面Ｃ11の画像を
２次元で撮像する。また、この第３の測光装置３Ｅは、
前記端面Ｃ11の直径上に対応する、図１９に仮想線で示
すようなウィンドＷ内の画像の画素ごとの光の輝度を表
すアナログの画像信号を出力する。In the inspection for the foaming defect, a third photometer 3E is used as a photometer. The third photometric device 3E is mainly composed of a known two-dimensional television camera. The third photometric device 3E captures an image of the end face C11 two-dimensionally. In addition, the third photometric device 3E
An analog image signal representing the luminance of light of each pixel of the image in the window W corresponding to the diameter of the end face C11 as indicated by a virtual line in FIG. 19 is output.

【０１４８】前記ウィンドＷの幅ｗは、たとえば画素の
幅σの５倍以上に設定している。前記画素は、前記２次
元テレビカメラがＣＣＤ素子を使用する機種である場合
には、カメラの各ＣＣＤ素子、レンズの焦点距離および
テレビカメラと前記端面Ｃ11間の距離等を条件として決
定される寸法分解能であって、画像上での前記端面Ｃ11
の最小構成単位である。すなわち、測光装置３が２次元
ＣＣＤカメラの場合、２次元に配列された多数のＣＣＤ
素子上に端面画像を結像させ、各ＣＣＤ素子出力より画
像を形成する関係にあるので、画像上の各画素とＣＣＤ
素子の最小単位とは、それぞれ１対１に対応する関係に
ある。前記画素の幅σは、好ましくは検出対象となる凹
部DPのうち最も小さな凹部DPの幅ｄの１／３以下、さら
に好ましくは１／４以下とするのがよい。画素の幅σを
大きくして、凹部DPの画像に完全に含まれる画素が発生
しないようになると検出精度が低下する。図２２では、
画素の幅σを検出すべき最も小さな凹部DPの幅ｄの１／
４としている。なお、図２２では、画素を正方形として
いるが、長方形であってもよい。The width w of the window W is set to, for example, five times or more the pixel width σ. In the case where the two-dimensional television camera is a model using a CCD element, the pixel is a dimension determined on condition of each CCD element of the camera, a focal length of a lens, a distance between the television camera and the end face C11, and the like. Resolution and the end face C11 on the image
Is the minimum structural unit. That is, when the photometric device 3 is a two-dimensional CCD camera, a large number of two-dimensional CCDs are arranged.
Since the end face image is formed on the element and an image is formed from the output of each CCD element, each pixel on the image and the CCD
The minimum units of the elements are in a one-to-one correspondence. The width σ of the pixel is preferably １ ／ or less, more preferably 以下 or less, of the width d of the smallest recess DP among the recesses DP to be detected. If the pixel width σ is increased so that no pixel is completely included in the image of the concave portion DP, the detection accuracy decreases. In FIG.
1 / the width d of the smallest concave portion DP where the width σ of the pixel is to be detected.
It is set to 4. In FIG. 22, the pixels are square, but may be rectangular.

【０１４９】前記ウィンドＷの幅ｗは、この検査装置の
処理スピードに大きな影響を与える。前記処理スピード
を向上させるためには、前記ウィンドＷの幅ｗを大きく
するのがよい。しかしながら、後述するように、ウィン
ドＷの幅ｗを大きくし過ぎると、端面Ｃ11の傾斜や歪み
が大きい場合にこのウィンドＷの一部が均一に照射され
ない場合が生じる問題が生じる。このため、ウィンドＷ
の幅ｗは、後述する被照射領域Ｈの幅ｈの１／２以下と
することが好ましい。The width w of the window W has a great influence on the processing speed of the inspection apparatus. In order to improve the processing speed, it is preferable to increase the width w of the window W. However, as described later, if the width w of the window W is too large, there is a problem that a part of the window W may not be uniformly irradiated when the end face C11 has a large inclination or distortion. Therefore, window W
Is preferably equal to or less than 幅 of a width h of a region to be irradiated H described later.

【０１５０】なお、前記ウィンドＷの幅は、中空糸モジ
ュールＭの品種に応じて切り替えるようにしてもよい。The width of the window W may be changed according to the type of the hollow fiber module M.

【０１５１】前記スリット状被照射領域Ｈの幅ｈは、こ
の第３の測光装置３Ｅが受光する反射光が前記図２０に
示す正反射光Ｒ21若しくはＲ21′であるときには、前記
ウィンドＷが前記正反射光Ｒ21若しくはＲ21′の受光範
囲に位置することができる幅に設定する。この実施例で
は、図２２に示すように、前記最小凹部DPの幅ｄの２倍
の幅（２ｄ）の両側にそれぞれ画素の幅σを補充した幅
（２ｄ＋２σ）を被照射領域Ｈの幅ｈとしている。既述
のように、前記最小凹部DPの幅ｄは画素の幅σの４倍で
あるから、前記被照射領域Ｈの幅ｈは、１０σすなわち
画素の幅σの１０倍の幅に設定されていることになる。The width h of the slit-shaped irradiated area H is such that when the reflected light received by the third photometric device 3E is the regular reflected light R21 or R21 'shown in FIG. The width is set such that it can be positioned in the light receiving range of the reflected light R21 or R21 '. In this embodiment, as shown in FIG. 22, the width (2d + 2σ) obtained by supplementing the width σ of the pixel on both sides of the width (2d) that is twice the width d of the minimum recess DP is the width h of the irradiation region H. And As described above, since the width d of the minimum concave portion DP is four times the pixel width σ, the width h of the irradiated region H is set to 10σ, that is, 10 times the pixel width σ. Will be.

【０１５２】前記被照射領域Ｈの幅ｈは、好ましくは、
画素の幅σの１０倍（図２２の場合）、若しくはそれ以
上になるように設定するのがよい。実験によれば、被照
射領域Ｈの幅ｈが画素の幅σの１０倍よりも小さいと、
端面Ｃ11が傾斜カットされていたり端面Ｃ11に歪みがあ
る場合に、こうした歪み等が許容範囲であっても、前記
ウィンドＷの一部から前記正反射光Ｒ21若しくはＲ21′
がズレる場合が生じる。このような場合、検出対象とな
る凹部DPが存在しないにも拘らず、正反射光Ｒ1 若しく
はＲ21′がズレて照射されない部分の画素の輝度が、凹
部DPに対応する部分と同程度のレベルに下がる問題が発
生する。The width h of the irradiation area H is preferably
It is preferable to set the width to be 10 times the pixel width σ (in the case of FIG. 22) or more. According to the experiment, when the width h of the irradiation region H is smaller than 10 times the width σ of the pixel,
When the end face C11 is obliquely cut or the end face C11 is distorted, even if such a distortion or the like is within an allowable range, the specularly reflected light R21 or R21 'from a part of the window W.
May shift. In such a case, although there is no concave portion DP to be detected, the luminance of the pixel in the portion where the regular reflection light R1 or R21 'is not irradiated due to the deviation is set to the same level as that of the portion corresponding to the concave portion DP. A down problem occurs.

【０１５３】また、既述のように、前記被照射領域Ｈの
幅ｈは前記ウィンドＷの幅ｗの２倍以上とするのが好ま
しい。これによって、中空糸モジュールＭの端面Ｃ11の
傾斜やこの中空糸モジュールＭの支持装置１に対する取
付誤差によって前記ウィンドＷに正反射光Ｒ21もしくは
Ｒ21′に照射されない画素部分が生じることを防止でき
る。As described above, it is preferable that the width h of the irradiation area H be at least twice the width w of the window W. Accordingly, it is possible to prevent a pixel portion that is not irradiated with the regular reflection light R21 or R21 'from being generated in the window W due to an inclination of the end face C11 of the hollow fiber module M or an error in mounting the hollow fiber module M to the support device 1.

【０１５４】以上のようにして前記スリット状被照射領
域Ｈを設定すると、前記端面Ｃ11が理想端面であれば、
前記ウィンドＷは、図２１（ａ）に示すように、前記ス
リット状被照射領域Ｈで反射した正反射光Ｒ21の受光領
域Ｈ1 の中央に設定される。すなわち、ウィンドＷはそ
の全域が正反射光Ｒ21によって照明される。When the slit-shaped irradiation area H is set as described above, if the end face C11 is an ideal end face,
As shown in FIG. 21A, the window W is set at the center of the light receiving region H1 of the regular reflection light R21 reflected by the slit-shaped irradiation region H. That is, the entire area of the window W is illuminated by the regular reflection light R21.

【０１５５】また、前記端面Ｃ11が傾斜カットされてい
る場合、その傾斜が許容範囲であれば、前記ウィンドＷ
は、図２１（ｂ）に示すように、前記スリット状被照射
領域Ｈで反射した正反射光Ｒ21′の受光領域Ｈ1 の幅方
向に偏った位置Ｈ1 ′に設定されたり、図２１（ｃ）に
示すごとく傾いた位置に設定される。しかし、この場合
も、前記傾斜が許容範囲であるため、前記ウィンドＷは
正反射光Ｒ21′によってその全域が照明される。When the end face C11 is cut with an inclination, if the inclination is within an allowable range, the window W11 is cut.
As shown in FIG. 21 (b), the regular reflection light R21 'reflected at the slit-shaped irradiation region H is set at a position H1' which is deviated in the width direction of the light receiving region H1 or as shown in FIG. 21 (c). The position is set as shown in FIG. However, also in this case, since the inclination is within the allowable range, the entire area of the window W is illuminated by the regular reflection light R21 '.

【０１５６】さらに、前記端面Ｃ11が歪んでいる場合、
前記スリット状被照射領域Ｈで反射した正反射光Ｒ21′
の受光領域Ｈ21′は、たとえば図２１（ｄ）に示すよう
に湾曲した形状となる。しかし、その歪みが許容範囲で
あれば、前記ウィンドＷは、前記受光領域Ｈ1 ′内に設
定され、前記ウィンドＷは正反射光Ｒ21′によってその
全域が照明される。Further, when the end face C11 is distorted,
Specularly reflected light R21 'reflected by the slit-shaped irradiated area H
Has a curved shape as shown in FIG. 21D, for example. However, if the distortion is within an allowable range, the window W is set within the light receiving region H1 ', and the entire window W is illuminated by the regular reflection light R21'.

【０１５７】前記端面Ｃ11に気泡跡等による凹部DPが存
在すると、この凹部DPにおいて反射した前記反射光Ｒ2
は、前記ウィンドＷから外れた位置で受光される。した
がって、前記ウィンドＷに対応する位置に凹部DPが存在
すると、その位置の輝度が低下する。When there is a concave portion DP due to a bubble mark or the like on the end face C11, the reflected light R2 reflected at the concave portion DP is formed.
Are received at positions off the window W. Therefore, when the concave portion DP exists at a position corresponding to the window W, the luminance at that position decreases.

【０１５８】前記第３の測光装置３Ｅは、前記ウィンド
Ｗ内の全ての画素についての輝度レベルを測定し、この
輝度レベルを第５のアナログ画像信号として異常検出信
号形成装置４に与える。The third photometric device 3E measures the luminance level of all the pixels in the window W, and supplies the luminance level to the abnormality detection signal forming device 4 as a fifth analog image signal.

【０１５９】第５のアナログ画像信号を受けた場合にお
ける異常検出用信号形成装置４のＡ／Ｄ変換器４０１お
よび画像記憶部４０２の動作は、前述の不浸透欠陥、糸
乱れ欠陥、不通糸欠陥および剥離欠陥の検査の場合と同
様である。The operation of the A / D converter 401 and the image storage section 402 of the abnormality detecting signal forming device 4 when the fifth analog image signal is received is based on the above-described impermeability defect, thread disorder defect, and thread defect. This is the same as the case of the inspection for the peeling defect.

【０１６０】発泡欠陥の検査の場合、すなわち異常検出
用信号形成部４が第４のアナログ画像信号を入力した場
合、２値化処理部４０３は、演算判定部５０２からの指
令により、前記画像記憶部４０２から前記ディジタル画
像信号すなわち図２３（ａ）に示すもウィンドＷの領域
のディジタル画像信号を読み出す。そして、このディジ
タル画像信号を所定の閾値Ｓ1Pで２値化して、第５の２
値化画像信号を形成する。すなわち、この２値化処理部
４０３は、前記閾値Ｓ1Pよりもレベルの高い画像信号を
白色レベルに置換し、前記閾値Ｓ1Pよりもレベルの低い
画像信号を黒色レベルに置換する。In the case of inspection for a foam defect, that is, when the abnormality detection signal forming unit 4 inputs the fourth analog image signal, the binarization processing unit 403 receives the image storage The digital image signal in the area of the window W shown in FIG. Then, this digital image signal is binarized by a predetermined threshold value S1P to obtain a fifth binary image signal.
Form a digitized image signal. That is, the binarization processing unit 403 replaces an image signal whose level is higher than the threshold S1P with a white level, and replaces an image signal whose level is lower than the threshold S1P with a black level.

【０１６１】ところで、従来知られている光による一般
的な凹部の検出方法では、光照射装置が照射する光の強
度を、その反射光の測光量である輝度が、前記第３の測
光装置３Ｅによる測光輝度レベルにおいて部分的に飽和
することがないように設定している。このように、従来
の方法による光強度のスリット光を照射した場合、前記
ウィンドＷ内の輝度レベルは、端面Ｃ11に露出している
多数の中空糸の端部による凹凸により、図２３（ｂ）に
示すように起伏の激しいプロフィールとなる。また、検
査する中空糸モジュールＭを取り替えるごとに、端面Ｃ
11の微小な凹凸形状が変化し、それに伴って輝度レベル
も上下動する。このため、凹部DPと正常部分の輝度レベ
ル差が小さく、前記２値化処理部４０３において画像信
号を２値化する場合に、検出対象となる凹部DP以外の箇
所を黒色レベルに置換してしまう検出エラーが発生する
可能性が高い。In the conventional method of detecting a concave portion using light, the intensity of the light irradiated by the light irradiating device and the luminance, which is the amount of reflected light, are measured by the third light measuring device 3E. Is set so as not to be partially saturated at the photometric luminance level by the above. As described above, when the slit light having the light intensity according to the conventional method is applied, the brightness level in the window W is increased and decreased due to the unevenness due to the end portions of the many hollow fibers exposed on the end face C11 in FIG. As shown in FIG. Each time the hollow fiber module M to be inspected is replaced, the end face C
The eleven minute irregularities change, and the luminance level moves up and down accordingly. For this reason, the luminance level difference between the concave portion DP and the normal portion is small, and when the image signal is binarized by the binarization processing section 403, a portion other than the concave portion DP to be detected is replaced with a black level. Detection error is likely to occur.

【０１６２】上記のような検出エラーを防止するため、
この発明では、前記第４の光照射装置２Ｅが照射するス
リット光の光強度を、画素ごとの輝度が一部の画素にお
いて飽和し始める時点の光強度より大きな光強度に設定
している。図２３（ｃ）は、スリット光の光強度を最初
に端面Ｃ11の一部が飽和し始めた時点の２倍程度に設定
したときの前記図２３（ａ）に対応する位置の輝度レベ
ルを示している。この図２３（ｃ）からも分かるよう
に、前記端面Ｃ11に露出している糸束Ｂの先端の光拡散
性が強いため、スリット光の光強度を大きくしてゆく
と、端面Ｃ11の輝度はまず前記糸束Ｂがある中央部から
飽和し始める。In order to prevent the above detection error,
In the present invention, the light intensity of the slit light irradiated by the fourth light irradiation device 2E is set to be higher than the light intensity at the time when the luminance of each pixel starts to saturate in some pixels. FIG. 23 (c) shows the luminance level at the position corresponding to FIG. 23 (a) when the light intensity of the slit light is set to be about twice that at the time when a part of the end face C11 starts to be saturated at first. ing. As can be seen from FIG. 23 (c), since the light diffusing property of the end of the yarn bundle B exposed on the end face C11 is strong, the luminance of the end face C11 becomes higher as the light intensity of the slit light is increased. First, the yarn bundle B starts to be saturated from a certain central portion.

【０１６３】図２３（ｄ）は、スリット光の光強度を最
初に端面Ｃ11の一部が飽和し始めた時点の４倍に設定し
たときの前記図２３（ａ）に対応する位置の輝度レベル
を示している。この図２３（ｄ）では、凹部DPに対応す
る位置以外の輝度レベルは全て飽和値に達している。ス
リット光の光強度を最初に端面Ｃ11の一部が飽和し始め
た時点の何倍にするかは、端面Ｃ11の成形精度や端面Ｃ
11と測光装置３の位置関係に依存するが、４倍を越える
値に設定すると、検出対象となる凹部DPに対応する部分
の輝度レベルが飽和値に接近するか若しくは飽和値に達
してしまう上、ＣＣＤカメラを用いている場合には、ス
ミア現象やブルーミング現象といったＣＣＤカメラ特有
の異常現象が強く発生する虞があるため、この発明で
は、スリット光の光強度を最初に端面Ｃ11の一部が飽和
し始めた時点の４倍以内に規定している。FIG. 23 (d) shows the luminance level at the position corresponding to FIG. 23 (a) when the light intensity of the slit light is set to be four times that at the time when the part of the end face C11 first begins to saturate. Is shown. In FIG. 23D, all the luminance levels other than the position corresponding to the concave portion DP have reached the saturation value. The number of times that the light intensity of the slit light is initially increased when a part of the end face C11 begins to saturate depends on the molding accuracy of the end face C11 and the end face C
If it is set to a value exceeding 4 times, the luminance level of the portion corresponding to the concave portion DP to be detected approaches the saturation value or reaches the saturation value, though it depends on the positional relationship between 11 and the photometric device 3. When a CCD camera is used, an abnormal phenomenon peculiar to the CCD camera, such as a smear phenomenon or a blooming phenomenon, may strongly occur. Therefore, according to the present invention, the light intensity of the slit light is first reduced by a part of the end face C11. It is specified within four times of the time when saturation starts.

【０１６４】一方、光強度は、図２４を用いて説明する
以下の理由により、なるべく大きく取ることが有効であ
る。On the other hand, it is effective to increase the light intensity as much as possible for the following reason described with reference to FIG.

【０１６５】図２４は、ほぼ理想的な端面Ｃ11内に検出
対象となる径０．８ｍｍの凹部DPのある中空糸モジュー
ルＭと、欠陥となる凹部DPはないが面ゆがみの大きい中
空糸モジュールＭについて、ランプ電圧と閾値Ｓ1Pによ
る２値化画像の変化を説明するためのものである。FIG. 24 shows a hollow fiber module M having a concave portion DP having a diameter of 0.8 mm to be detected within a substantially ideal end face C11 and a hollow fiber module M having no concave portion DP serving as a defect but having a large surface distortion. Is for explaining the change of the binarized image due to the lamp voltage and the threshold value S1P.

【０１６６】図２４に示す特性曲線Ｋ1 は、径０．８ｍ
ｍの凹部DPのみを単独に、前記２値化処理部４０３にお
いて検出するための限界閾値Ｓ1Pのランプ電圧に対する
変化を示している。すなわち、端面Ｃ11が理想的な面で
あれば、特性曲線Ｋ1 よりも上の任意の閾値Ｓ1Pを採用
することができる。一方、特性曲線Ｋ1 よりも下の閾値
を採用すると、凹部DP以外の低輝度部を誤検出する。し
かし、端面Ｃ11がゆがみの強い端面であると、閾値Ｓ1P
を高くするにつれて、検出対象となる凹部DP以外のゆが
み箇所を検出するようになり、検出エラーが発生し始め
る。A characteristic curve K1 shown in FIG.
The change of the limit threshold value S1P with respect to the lamp voltage for the binarization processing unit 403 to detect only the m concave portion DP alone is shown. That is, if the end surface C11 is an ideal surface, an arbitrary threshold value S1P above the characteristic curve K1 can be adopted. On the other hand, if a threshold value lower than the characteristic curve K1 is adopted, a low-luminance portion other than the concave portion DP is erroneously detected. However, if the end face C11 is an end face with strong distortion, the threshold value S1P
As the height is increased, a distorted portion other than the concave portion DP to be detected is detected, and a detection error starts to occur.

【０１６７】図２４の特性曲線Ｋ2 は、特にゆがみの強
い中空糸モジュールについて、検出エラーが発生し始め
る閾値Ｓ1Pのランプ電圧に対する変化を示しており、こ
の特性曲線Ｋ2 より下側の閾値Ｓ1Pを用いることによ
り、検出エラーの発生を回避できることがわかる。すな
わち、前述の径０．８ｍｍおよびこれ相当の凹部DPをエ
ラーなく検出するためには、特性曲線Ｋ1 ，Ｋ2 に挟ま
れた領域（図２４における斜線部）Ｅを用いることが好
ましい。そして、図２４から明らかなように、領域Ｅは
光強度が大きくなるほど、使用できる閾値Ｓ1Pの幅が広
くなっている。したがって、閾値Ｓ1Pの選択幅を広げる
ためには、前述したスリット光の光強度を最初に端面Ｃ
11の一部が飽和し始めた時点の４倍以内の光強度で、か
つ、大きな光強度とするのが好ましいといえる。光強度
を強くする程、２値化された凹部DPの画像径が小さくな
るので、最も強い光強度とすることは好ましくないが、
光強度を強くすることで上記のごとく凹部DPを検出し易
くなり、検出精度が向上する。The characteristic curve K2 in FIG. 24 shows the change of the threshold value S1P at which the detection error starts to occur with respect to the lamp voltage, particularly for the hollow fiber module having a strong distortion. The threshold value S1P lower than the characteristic curve K2 is used. This indicates that the occurrence of the detection error can be avoided. That is, in order to detect the above-mentioned diameter 0.8 mm and the corresponding concave portion DP without error, it is preferable to use the region (hatched portion in FIG. 24) E sandwiched between the characteristic curves K1 and K2. Then, as is clear from FIG. 24, in the region E, as the light intensity increases, the width of the usable threshold value S1P increases. Therefore, in order to widen the selection range of the threshold value S1P, the light intensity of the slit
It can be said that it is preferable to set the light intensity to a light intensity within four times that at the time when a part of 11 starts to be saturated and to be large. As the light intensity increases, the image diameter of the binarized concave portion DP decreases, so it is not preferable to set the highest light intensity,
Increasing the light intensity makes it easier to detect the concave portion DP as described above, and improves the detection accuracy.

【０１６８】２値化閾値Ｓ1Pを決定する方法は、図２４
のデータに基づく一定値（品種、ランプ電圧で変えてよ
い）を予め記憶部５０１に入力しておいて読み出す方法
の他、テレビカメラで撮像したウィンドウ内の輝度分布
の標準偏差ないしは範囲から演算して決定するなど一般
に知られた各方法を適用してもよい。The method for determining the binarization threshold S1P is shown in FIG.
In addition to the method of inputting and reading out a constant value (may be changed depending on the type and lamp voltage) based on the above data, the standard value or range of the luminance distribution in the window imaged by the television camera is calculated. Alternatively, generally known methods such as determination may be applied.

【０１６９】２値化画像表示部４０４は、この発泡欠陥
の検査では、前記２値化処理部４０３によって白色レベ
ルと黒色レベルに置換された画像信号により得られる画
像、すなわち前記凹部DPのみを黒色で示したウィンドＷ
内の画像を表示する。In the inspection of the foaming defect, the binarized image display unit 404 displays only the image obtained by the image signal replaced with the white level and the black level by the binarization processing unit 403, that is, only the concave portion DP in black. Wind W indicated by
Display the image in.

【０１７０】判別装置５では、演算判定部５０２が以下
のようにして前記２値化画像表示部４で白色で表示され
る部分の面積を演算する。In the discriminating device 5, the calculation judging section 502 calculates the area of the portion displayed in white on the binarized image display section 4 as follows.

【０１７１】演算判定部５０２は、前記２値化処理部４
０３において黒色レベルに置換した画素を検出し、ここ
の凹部DPを構成する画素の数、位置関係等に基づいて、
これらの画素が構成する凹部DPの寸法、面積等の特徴量
を演算する。The operation judging section 502 includes the binarizing section 4
03, the pixel replaced with the black level is detected, and based on the number of pixels constituting the concave portion DP here, the positional relationship, and the like,
The feature amounts such as the size and area of the concave portion DP formed by these pixels are calculated.

【０１７２】記憶部５０１は、演算判定部５０２の指令
を受けてあらかじめ記憶された中空糸モジュールＭの品
番ごとの前記特徴量に関する基準値の中から、キーボー
ド等の記述していないデータ入力装置により入力された
品番の発泡欠陥検査用基準値を読み出し、演算判定部５
０２に与える。前記発泡欠陥検査用基準値は経験的に定
めることができる。The storage unit 501 receives a command from the operation determination unit 502 and selects a reference value relating to the feature value for each product number of the hollow fiber module M from a reference value relating to the feature quantity by a data input device such as a keyboard. The reference value for foam defect inspection of the input product number is read out,
Give to 02. The reference value for foam defect inspection can be determined empirically.

【０１７３】演算判定部５０２は、また前記凹部DPの寸
法、面積等の特徴量を、記憶部５０１が出力する発泡欠
陥検査用基準値と比較し、中空糸モジュールＭの良否を
判定し、この判定結果に基いて前記支持装置１から取り
外した中空糸モジュールＭと不良品に分別する分別機能
を備えている。すなわち、前記比較結果が基準値＞演算
特徴量値であるときは良品と判定し、基準値≦演算特徴
量値であるときは不良品と判定し、比較判定結果を表示
部６および操作指令部７に与える。The calculation judging section 502 also compares the characteristic quantities such as the size and area of the concave portion DP with the reference values for foam defect inspection output from the storage section 501 to judge the quality of the hollow fiber module M. A separating function is provided for separating the hollow fiber module M detached from the support device 1 and defective products based on the determination result. That is, when the comparison result satisfies the reference value> calculated feature value, it is determined to be non-defective, and when the reference value ≦ calculated feature value, the product is determined to be defective. Give 7

【０１７４】表示部６は、中空糸モジュールごとに前記
演算判定部５０２が出力する比較結果、すなわち中空糸
モジュールの発泡欠陥に関する良否の判別結果を表示す
る。The display unit 6 displays the comparison result output by the calculation judging unit 502 for each hollow fiber module, that is, the result of judging the quality of the hollow fiber module with respect to the foaming defect.

【０１７５】操作指令部７は、既述の不浸透欠陥の検査
等の説明において記載したようにして図８に示す中空糸
モジュール移載機構８を作動させる。また、操作指令部
７は、この発泡欠陥の検査においては、演算判定部５０
２からのタイミング指令を受けて、駆動制御部１０８に
指令信号を与える。既述のように、この指令信号を受け
た駆動制御部１０８は、前記駆動モータ１０２を、前記
軸心Ｃ0 を中心として所定時間ないしは所定角度だけ一
定スピードで回転するように駆動し、停止させる。そし
て、前記検出器１０９が検出する中空糸モジュールＭの
回転角が１８０度以上に達するごとに既述の中空糸モジ
ュール移載機構８を作動させ、支持装置１上に搭載され
た中空糸モジュールＭを取り外すとともにこの支持装置
１に新たな中空糸モジュールＭを搭載させる。The operation command unit 7 operates the hollow fiber module transfer mechanism 8 shown in FIG. 8 as described in the above description of the inspection for impervious defects and the like. In the inspection of the foaming defect, the operation instructing unit 7 determines whether the calculation
In response to the timing command from the second, a command signal is given to the drive control unit 108. As described above, upon receiving this command signal, the drive control unit 108 drives the drive motor 102 to rotate at a constant speed for a predetermined time or a predetermined angle about the axis C0, and then stops. Each time the rotation angle of the hollow fiber module M detected by the detector 109 reaches 180 degrees or more, the hollow fiber module transfer mechanism 8 described above is operated, and the hollow fiber module M mounted on the support device 1 is operated. Is removed, and a new hollow fiber module M is mounted on the support device 1.

【０１７６】また、この操作指令部７は、前記基準値読
出部５０２に与えた中空糸モジュールＭの品番に関する
情報に基いて、前記品番の中空糸モジュールＭの軸心Ｃ
0 が前記ウィンドＷに対応する位置と一致するように、
前記支持装置１のための図示しない上下動機構を制御す
る。The operation command section 7 determines the axis C of the hollow fiber module M of the product number based on the information on the product number of the hollow fiber module M given to the reference value reading section 502.
0 is coincident with the position corresponding to the window W,
A vertical movement mechanism (not shown) for the support device 1 is controlled.

【０１７７】以上のようにしてなる検査装置により、中
空糸モジュールＭの樹脂剤層Ｃ1 もしくはＣ2 の端面に
発生した気泡跡等による凹部DPを検出し、この凹部DP部
が存在する中空糸モジュールを不良品として排除するこ
とができる。The inspection apparatus configured as described above detects a concave portion DP due to a bubble mark or the like generated on the end surface of the resin agent layer C1 or C2 of the hollow fiber module M, and detects the hollow fiber module having the concave portion DP. It can be eliminated as defective.

【０１７８】以上の装置により、表１に示す条件Ａ〜Ｃ
で凹部DPの検出を行う検査を行ったところ、以下のよう
な検出結果が得られた。With the above-described apparatus, the conditions A to C shown in Table 1 were used.
Inspection was performed to detect the concave portion DP in the above, and the following detection results were obtained.

【０１７９】[0179]

【表１】 [Table 1]

【０１８０】条件Ａは被照射領域Ｈの幅ｈ／画素の幅σ
を「７」に設定している。この条件Ａでは、端面Ｃ11の
仕上がりが比較的良好な中空糸モジュールＭについては
直径１mm以下の凹部DPを検出することができたが、端面
Ｃ11が傾斜カットされていたり端面Ｃ11に歪みがある場
合には、その程度が大きくなるとウィンドＷの一部が正
反射光に照射されないために検出エラーが発生した。し
かし、この検出エラーは、被照射領域Ｈの幅ｈおよびウ
ィンドＷの幅ｗの設定に問題があることによる。Condition A is the width h of the irradiated area H / the width σ of the pixel.
Is set to “7”. Under this condition A, a concave portion DP having a diameter of 1 mm or less could be detected in the hollow fiber module M having a relatively good finish of the end face C11. However, when the end face C11 is cut obliquely or the end face C11 is distorted. In this case, when the degree became large, a detection error occurred because a part of the window W was not irradiated with the regular reflection light. However, this detection error is due to a problem in setting the width h of the irradiation area H and the width w of the window W.

【０１８１】このような検出エラーを抑制するために
は、被照射領域Ｈの幅ｈおよびウィンドＷの幅ｗを、関
係を保って拡げることが考えられる。ただし、被照射領
域Ｈの幅ｈを広げるに当たっては、端面Ｃ11の光拡散効
果が強いことにより、欠点像である凹部DPの像のコント
ラストが悪化する可能性が高いことに留意する必要があ
る。一方、ウィンドＷの幅ｗは、既述のように、検査エ
ラーの発生を抑制するために被照射領域Ｈの幅ｈの１／
２以下とする一方、端面Ｃ11全域を検査するための処理
スピードを考慮してなるべく大きめに設定する。In order to suppress such a detection error, it is conceivable to increase the width h of the irradiation area H and the width w of the window W while maintaining the relationship. However, in increasing the width h of the irradiation area H, it is necessary to note that the contrast of the image of the concave portion DP which is a defect image is likely to be deteriorated due to the strong light diffusion effect of the end face C11. On the other hand, as described above, the width w of the window W is set to be 1 / the width h of the irradiation region H in order to suppress the occurrence of the inspection error.
On the other hand, it is set to be as large as possible in consideration of the processing speed for inspecting the entire end face C11.

【０１８２】条件Ｂは上のこと考慮して被照射領域Ｈの
幅ｈ／画素の幅σを５０に設定している。実験の装置で
は、この条件Ｂでは、前記端面Ｃ11の傾斜カットや中空
糸モジュールＭの支持装置１に対する取付位置のずれに
対しては問題なく検出すべき径１mm以下の凹部DPを検出
できたが、面ゆがみの強い一部のワークで検出エラーが
発生した。In the condition B, the width h of the irradiated area H / the width σ of the pixel is set to 50 in consideration of the above. In the experimental device, under this condition B, the concave portion DP having a diameter of 1 mm or less, which should be detected without any problem, was detected without any problem with respect to the inclined cut of the end face C11 or the displacement of the mounting position of the hollow fiber module M with respect to the support device 1. , A detection error occurred in some workpieces with strong surface distortion.

【０１８３】条件Ｃは、条件Ｂに比べ、被照射領域Ｈの
幅ｈを大きくするとともにウィンドＷの幅ｗを小さくし
ている。これによって、条件Ｂで検出エラーが生じた面
ゆがみの強い中空糸モジュールＭについても確実に凹部
DPを検出することができた。In condition C, the width h of the irradiation region H is increased and the width w of the window W is reduced as compared with the condition B. As a result, even in the hollow fiber module M having strong surface distortion in which a detection error has occurred in the condition B, the concave portion can be surely formed.
DP could be detected.

【０１８４】なお、この発泡欠陥の検査の場合、上記の
では、第３の測光装置Ｅ３が、駆動モータ１０２を駆動
させて中空糸モジュールＭを所定量回転させることによ
って、端面Ｃ11全面の輝度レベルを測定するようにして
いるが、図示しない上下動機構により前記中空糸モジュ
ールＭをウィンドＷの幅ｈづつ上方または下方に移動さ
せることで、端面Ｃ11全面の輝度レベルを測定するよう
にしてもよい。In the inspection of the foaming defect, in the above case, the third photometric device E3 drives the drive motor 102 to rotate the hollow fiber module M by a predetermined amount, whereby the brightness level of the entire end face C11 is obtained. The brightness level of the entire end face C11 may be measured by moving the hollow fiber module M upward or downward by the width h of the window W by a vertical movement mechanism (not shown). .

【０１８５】また、上記の例では、第３の測光装置３Ｅ
の画素ごとの測光量を高くする等の検出精度向上手段と
して、スリット光の強度を強くする方法を例示している
が、第３の測光装置３Ｅに取り付けるカメラ用レンズの
絞りを開放していくとか、明るいレンズと交換するよう
にしてもよい。また、第３の測光装置３Ｅが包含する信
号増幅器による、増幅と飽和特性機能による方法であっ
てもよい。しかし、スリット光の強度を強くする方法が
使い易くより好ましい。In the above example, the third photometric device 3E
The method of increasing the intensity of slit light is exemplified as a means for improving the detection accuracy such as increasing the amount of light measurement for each pixel, but the aperture of the camera lens attached to the third photometric device 3E is opened. Or you may replace it with a bright lens. Further, a method using amplification and a saturation characteristic function by a signal amplifier included in the third photometry device 3E may be used. However, a method of increasing the intensity of the slit light is more preferable because it is easy to use.

【０１８６】また、上記の例では、第３の測光装置３Ｅ
として、ウィンドＷ内の画素の輝度レベルに関する情報
を一時に得ることができる２次元テレビカメラを用いて
いるが、他の検査装置では、第３の測光装置３Ｅとし
て、ＣＣＤ素子を１次元に並べた１次元ＣＣＤカメラ等
のラインセンサを採用することもできる。In the above example, the third photometric device 3E
Although a two-dimensional television camera that can obtain information on the luminance level of the pixels in the window W at one time is used, in other inspection devices, CCD elements are arranged one-dimensionally as a third photometric device 3E. Alternatively, a line sensor such as a one-dimensional CCD camera may be employed.

【０１８７】また、第４の光照射装置２Ｅとして、レー
ザー光を光学素子でスリット光に変換するようした光照
射装置を用いてもよい。しかし、光強度が低下してもラ
ンプ電圧によって定期的に光強度を管理して調節できる
ので、実施例で用いたタイプの光照射装置を用いる方が
より好ましい。As the fourth light irradiation device 2E, a light irradiation device configured to convert laser light into slit light using an optical element may be used. However, even if the light intensity decreases, the light intensity can be periodically managed and adjusted by the lamp voltage. Therefore, it is more preferable to use the light irradiation device of the type used in the embodiment.

【０１８８】なお、図１の検査装置では、中空糸モジュ
ールＭの一端側のみの検査を行うようにしている。しか
しながら、発明による中空糸モジュールの検査装置は、
両端を同時に検査できる装置を含むことはもちろんであ
る。In the inspection apparatus shown in FIG. 1, only one end of the hollow fiber module M is inspected. However, the inspection apparatus for the hollow fiber module according to the invention is:
Needless to say, a device capable of inspecting both ends simultaneously is included.

【０１８９】なお、本実施例では、中空糸モジュールを
透析器に用いた例を示したが、これは一例であって、本
発明の検査装置は、同様に中空糸モジュールを用いる水
処理モジュール、浄水器モジュール等の発泡検査に対し
ても好適に適用することができる。In this embodiment, an example is shown in which a hollow fiber module is used for a dialyzer. However, this is merely an example. The present invention can be suitably applied to a foaming test of a water purifier module or the like.

【０１９０】[0190]

【発明の効果】請求項１の中空糸モジュールの検査装置
によると、正常なものに比べ白っぽくなった中空糸モジ
ュールの端面の色変化を、この端面の画像信号を２値化
する方法で確実にとらえることができることにより、不
浸透欠陥を簡単且つ確実に検査することができる。According to the hollow fiber module inspection apparatus of the first aspect, the color change of the end face of the hollow fiber module which has become whitish as compared with the normal one can be surely performed by the method of binarizing the image signal of this end face. By being able to capture, impervious defects can be easily and reliably inspected.

【０１９１】請求項２の中空糸モジュールの検査装置に
よると、第１および第２の光出射部によって中空糸モジ
ュールの端面を照射することで、この中空糸モジュール
の端面の光量分布をフラットにしたことにより、この端
面の画像信号をこの画像信号を補正することなく２値化
しても、不通糸部に生成する白色微小気泡群を確実にと
らえることができ、中空糸モジュールにおける不通糸欠
陥の自動検査が可能になるという効果を奏する。また、
第１の光出射部により中空糸モジュールの端面の照明効
果を均一にすることができ、第１および第２の光出射部
の組合わせにより前記端面から少し潜った部分の照明効
果を均一にすることができるので、局部的な斑検出（白
黒では濃淡検出、カラーでは色斑検出）での照明効果補
正が不要であり、比較的簡単な装置で不通糸欠陥を検査
することができる。According to the hollow fiber module inspection apparatus of the second aspect, the end face of the hollow fiber module is illuminated by the first and second light emitting portions to flatten the light quantity distribution on the end face of the hollow fiber module. Thus, even if the image signal of the end face is binarized without correcting the image signal, the white microbubbles generated in the non-threaded portion can be reliably detected, and the automatic detection of the non-threaded defect in the hollow fiber module can be performed. This has the effect of enabling inspection. Also,
The first light emitting portion can make the lighting effect of the end face of the hollow fiber module uniform, and the combination of the first and second light emitting portions makes the lighting effect of a part slightly dived from the end face uniform. Therefore, it is not necessary to correct the illumination effect in local spot detection (shade detection in black and white, and color spot detection in color), and a broken thread defect can be inspected with a relatively simple device.

【０１９２】請求項３による中空糸モジュールの検査装
置によると、不良中空糸モジュールを分別することによ
り、後工程でこうした不良中空糸モジュールに加工作業
を行うような不合理を解消することができる。According to the inspection apparatus for the hollow fiber module according to the third aspect, by separating the defective hollow fiber module, it is possible to eliminate the irrationality of processing such a defective hollow fiber module in a later step.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】発明の実施例による中空糸モジュールの検査装
置の概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an inspection apparatus for a hollow fiber module according to an embodiment of the present invention.

【図２】第１および第２の光照射装置を説明する図であ
る。FIG. 2 is a diagram illustrating first and second light irradiation devices.

【図３】第１のリング状出射部による照明状態を説明す
る図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an illumination state by a first ring-shaped emission unit.

【図４】第１のリング状出射部による照明時の光量分布
を説明する図である。FIG. 4 is a diagram illustrating a light amount distribution during illumination by a first ring-shaped emission unit.

【図５】第１のリング状出射部の変形例を示す図であ
る。FIG. 5 is a view showing a modification of the first ring-shaped emission section.

【図６】中空糸モジュールの端面における光量検出部を
説明する図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a light amount detection unit on an end face of the hollow fiber module.

【図７】不浸透欠陥がある場合の光量分布を示する図で
ある。FIG. 7 is a diagram showing a light amount distribution when there is an impervious defect.

【図８】中空糸モジュールの移載機構を示す平面概略図
である。FIG. 8 is a schematic plan view showing a transfer mechanism of the hollow fiber module.

【図９】リング状出射部を説明する図である。FIG. 9 is a view for explaining a ring-shaped emission section.

【図１０】リング状出射部による照射状態を説明する断
面説明図である。FIG. 10 is an explanatory cross-sectional view illustrating an irradiation state by a ring-shaped emission unit.

【図１１】糸乱れ欠陥の検査における光量分布を説明す
る図である。FIG. 11 is a diagram illustrating a light amount distribution in the inspection of a yarn disorder defect.

【図１２】不通糸欠陥の検査における光量分布を説明す
る図である。FIG. 12 is a diagram illustrating a light amount distribution in an inspection for a non-threading defect.

【図１３】図１の検査装置における剥離欠陥の検査に用
いる部分の詳細図である。FIG. 13 is a detailed view of a portion used for inspecting a peeling defect in the inspection device of FIG. 1;

【図１４】剥離部での反射状態を示す説明図である。FIG. 14 is an explanatory diagram showing a reflection state at a peeling portion.

【図１５】スリット光が照射する微小領域を説明する図
である。FIG. 15 is a diagram illustrating a minute region irradiated with slit light.

【図１６】反射光の２値化画像を示す図である。FIG. 16 is a diagram showing a binarized image of reflected light.

【図１７】剥離欠陥の検査のための他の中空糸モジュー
ル検査装置の要部の構成を示す図である。FIG. 17 is a diagram showing a configuration of a main part of another hollow fiber module inspection device for inspecting a peeling defect.

【図１８】図１の検査装置における発泡欠陥の検査に用
いる部分の詳細図である。FIG. 18 is a detailed view of a portion used for inspection of a foaming defect in the inspection device of FIG. 1;

【図１９】端面に対するスリット光の照射状態を示す図
である。FIG. 19 is a diagram showing an irradiation state of slit light on an end face.

【図２０】端面での反射状態を示す図である。FIG. 20 is a diagram illustrating a reflection state at an end face.

【図２１】被照射部とウィンドの関係を説明する図であ
る。FIG. 21 is a diagram illustrating a relationship between an irradiated portion and a window.

【図２２】凹部と画素の関係を示す図である。FIG. 22 is a diagram showing a relationship between a concave portion and a pixel.

【図２３】光強度に対応する測定輝度レベルを示す図で
ある。FIG. 23 is a diagram showing a measured luminance level corresponding to light intensity.

【図２４】光強度と２値化のための閾値の関係を示すグ
ラフである。FIG. 24 is a graph showing a relationship between light intensity and a threshold value for binarization.

【図２５】中空糸モジュールの断面図である。FIG. 25 is a sectional view of a hollow fiber module.

【図２６】中空糸モジュールの使用状態を説明する図で
ある。FIG. 26 is a diagram illustrating a use state of a hollow fiber module.

【図２７】公知の照明方法を説明する図である。FIG. 27 is a diagram illustrating a known illumination method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１ 支持装置 ２Ａ 第１の光照射装置 ２Ｂ 第２の光照射装置 ２０２Ａ 第１のリング状出射部 ２０２Ｂ 第２のリング状出射部 ３Ａ 第１の測光装置 ４０３ ２値化処理部 ５０２ 演算判定部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Support device 2A 1st light irradiation device 2B 2nd light irradiation device 202A 1st ring-shaped light-emitting part 202B 2nd ring-shaped light-emitting part 3A 1st photometric device 403 Binarization processing part 502 Calculation determination part

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平６−273126（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/958 B01D 61/00 - 71/82 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-6-273126 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. ⁷ , DB name) G01N 21/84-21/958 B01D 61 / 00-71/82

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項１】 複数の中空糸の端部を樹脂剤により固め
た樹脂剤層を有する中空糸モジュールの検査装置であっ
て、 前記中空糸モジュールを支持する支持手段と、 前記中空糸モジュールの端面から所定距離離れた位置に
おいて該モジュールと略同軸上に配置されかつ外径が該
モジュールの外径以上であるリング状の光出射部と、 前記中空糸モジュールの端面に対向しかつ前記光出射部
から照射された光の前記端面での正反射光が入射しない
位置で、前記中空糸モジュールの端面の細分化された領
域ごとの光量を測定する測光手段と、 前記中空糸モジュールの端面における任意の１の選択点
の測光量もしくは２以上の選択点の平均測光量に任意の
オフセット量を加算して閾値を演算するとともに、前記
測光手段が測定した各領域ごとの測光量を前記閾値で２
値化した２値化信号を出力する２値化処理手段と、 前記２値化処理手段の処理結果に基づいて中空糸モジュ
ールが不良品であるか否かを判別する判別手段と、を備
えることを特徴とする中空糸モジュールの検査装置。1. An apparatus for inspecting a hollow fiber module having a resin material layer in which ends of a plurality of hollow fibers are solidified with a resin material, comprising: a support means for supporting the hollow fiber module; and an end face of the hollow fiber module. A ring-shaped light emitting portion that is disposed substantially coaxially with the module at a position separated by a predetermined distance from the outer diameter of the module and has an outer diameter equal to or greater than the outer diameter of the module; At a position where the regular reflection light of the light irradiated from the end face of the hollow fiber module is not incident, and a photometric means for measuring the amount of light for each subdivided region of the end face of the hollow fiber module; and A threshold value is calculated by adding an arbitrary offset amount to the light measuring amount of one selected point or the average light measuring amount of two or more selected points, and the light measuring amount of each area measured by the light measuring unit is calculated. 2 in the threshold value
A binarization processing unit that outputs a binarized binarized signal; and a determination unit that determines whether or not the hollow fiber module is defective based on a processing result of the binarization processing unit. An inspection apparatus for a hollow fiber module. 【請求項２】 複数の中空糸の端部を樹脂剤により固め
た樹脂剤層を有する中空糸モジュールの検査装置であっ
て、 前記中空糸モジュールを支持する支持手段と、 前記中空糸モジュールの端面から所定距離離れた位置に
おいて該モジュールと略同軸上に配置されかつ外径が該
モジュールの外径以上であるリング状の第１の光出射部
と、 前記充填樹脂剤に対応する位置で前記中空糸モジュール
に側方から光を照射すべく前記樹脂剤層を囲繞するリン
グ状の第２の光出射部と、 前記中空糸モジュールの端面に対向しかつ前記第１の光
出射部から照射された光の前記端面での正反射光が入射
しない位置で、前記中空糸モジュールの端面の細分化さ
れた領域ごとの光量を測定する測光手段と、 前記中空糸モジュールの端面における任意の１の選択点
の測光量もしくは２以上の選択点の平均測光量に任意の
オフセット量を加算して閾値を演算するとともに、前記
測光手段が測定した各領域ごとの測光量を前記閾値で２
値化した２値化信号を出力する２値化処理手段と、 前記２値化処理手段の処理結果に基づいて中空糸モジュ
ールが不良品であるか否かを判別する判別手段と、を備
え、かつ、 前記第１の光出射部と第２の光出射部は、前記撮像カメ
ラにより撮像した、中空糸の端部が樹脂剤により目詰ま
りを起こしていない中空糸モジュールでの前記測光量の
分布が、少なくとも前記端面における前記中空糸領域に
おいてフラットとなる光を照射すること、を特徴とする
中空糸モジュールの検査装置。2. An inspection apparatus for a hollow fiber module having a resin material layer in which ends of a plurality of hollow fibers are solidified with a resin material, wherein a supporting means for supporting the hollow fiber module, and an end face of the hollow fiber module A ring-shaped first light-emitting portion, which is disposed substantially coaxially with the module at a predetermined distance from and has an outer diameter equal to or greater than the outer diameter of the module, and the hollow at a position corresponding to the filling resin agent A ring-shaped second light emitting portion surrounding the resin material layer to irradiate the yarn module with light from the side; and an end face of the hollow fiber module and irradiated from the first light emitting portion. A photometer for measuring the amount of light in each of the subdivided areas of the end face of the hollow fiber module at a position where the regular reflection light of the light at the end face does not enter; and any one selected point on the end face of the hollow fiber module Thereby calculating the threshold value by adding an arbitrary offset amount to an average photometric quantity of photometric or 2 or more selected points, a metering of each region in which the photometric means is determined by the threshold value 2
A binarization processing unit that outputs a binarized binarized signal; and a determination unit that determines whether the hollow fiber module is defective based on a processing result of the binarization processing unit. In addition, the first light emitting unit and the second light emitting unit are arranged so that the end portion of the hollow fiber is not clogged with the resin agent and the distribution of the measured light amount is obtained by the imaging camera. Irradiates light that becomes flat in at least the hollow fiber region on the end face. 【請求項３】 前記判別手段による判別結果に基づいて
欠陥中空糸モジュールを分別する分別手段を備えること
を特徴とする請求項１又は２の中空糸モジュールの検査
装置。3. The hollow fiber module inspection apparatus according to claim 1, further comprising a classification unit that classifies the defective hollow fiber module based on a result of the determination by the determination unit.