JP3215774B2 - Optical line identification method - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は光通信に用いられる光線
路を識別する、光線路の識別方法及び光干渉計に関する
ものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical line identification method and an optical interferometer for identifying an optical line used for optical communication.

【０００２】[0002]

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】光線路
の識別方法として、光線路のコアの屈折率を部分的に変
化させ、この変化位置をＯＴＤＲ測定法を用いて線路端
部で検出する方法が知られている（１９９１年電子情報
通信学会秋季大会 文献Ｂ−５９１「光線路データベー
スのための遠隔ファイバ識別法」）。2. Description of the Related Art As a method for identifying an optical line, the refractive index of a core of the optical line is partially changed, and the position of this change is detected at the end of the line using an OTDR measurement method. A method is known (the 1991 Autumn Meeting of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers, Document B-591, "Remote fiber identification method for optical line database").

【０００３】しかし、この方法によれば、光線路に設け
る識別符号部が数百メートルにわたってしまう。たとえ
ば、上述した文献中の例では、８ビットの識別符号を光
線路に記録するのに１ビット当たり５０ｍ、全体で４０
０ｍの長さを要している。したがって、もともと短い長
さの光線路に対して識別符号を付けることは困難であ
る。また、数百メートルにわたる識別符号を光線路に記
録するには、光線路の製造過程でこれを行う必要があ
り、実用的ではない。However, according to this method, the identification code portion provided on the optical line extends over several hundred meters. For example, in the example of the above-mentioned document, an 8-bit identification code is recorded on an optical line at a distance of 50 m per bit and a total of 40 m.
It requires a length of 0 m. Therefore, it is difficult to attach an identification code to an optical line having a short length. Also, in order to record an identification code over several hundred meters on an optical line, this must be performed during the manufacturing process of the optical line, which is not practical.

【０００４】一方、異なる部位から戻る反射光の光路差
は、マイケルソン干渉計によって測定し得るが、このタ
イプの干渉計は、この反射光の分岐、合波を行って干渉
光を形成するためにビームスプリッタを用いているが、
より一層の小形化が望まれている。また、干渉計を構成
する各光学計の光軸調整に、手間がかかるなどの課題が
あった。On the other hand, the optical path difference of reflected light returning from different parts can be measured by a Michelson interferometer. This type of interferometer branches and combines the reflected light to form interference light. Uses a beam splitter for
Further miniaturization is desired. Further, there is a problem that it takes time and effort to adjust the optical axis of each optical meter constituting the interferometer.

【０００５】[0005]

【課題を解決するための手段】このような問題点を解決
するために、本発明かかる光線路の識別方法は、光線路
毎に、複数個の反射部で構成される標識群と、この標識
群の全長に比べて大なる距離だけこの標識群から離間し
て配置される基準反射部とを設け、これら各光線路毎に
標識群における各反射部の相対位置の組み合わせを変え
て、各光線路を識別する識別標識とする。そして、これ
らの光線路に対して検査光を入射してその反射光を検出
することにより、基準反射部と標識群における各反射部
との相対位置を検出し、その検出結果に基づいて各光線
路を識別する。この場合、反射部同士の間隔の基準とな
る長さを基準長として定め、この標識群を構成する隣り
合う各反射部を、この基準長の整数倍の距離だけ離間し
てそれぞれ配置しておく。In order to solve such a problem, a method for identifying an optical line according to the present invention comprises: A reference reflector disposed at a distance from the marker group which is larger than the total length of the group, and a combination of relative positions of the reflectors in the marker group is changed for each of these optical paths, and each light beam is changed. An identification sign that identifies the road. Then, the inspection light is incident on these optical lines and the reflected light is detected, thereby detecting the relative position between the reference reflection part and each reflection part in the marker group, and based on the detection result, each light ray. Identify the road. In this case, the reference length of the interval between the reflection portions is determined as a reference length, and the adjacent reflection portions constituting the marker group are arranged at a distance of an integral multiple of the reference length. .

【０００６】また、この識別標識を光線路中に直接設け
る代わりに、光線路に識別標識を有する分岐線路を付加
してもよい。[0006] Instead of providing the identification mark directly in the optical line, a branch line having the identification mark may be added to the optical line.

【０００７】一方、本発明にかかる光干渉計は、光線路
毎に、複数個の反射部で構成される標識群と、この標識
群の全長に比べて大なる距離だけこの標識群から離間し
て配置される基準反射部とが設けられており、この光線
路に検査光が入射された際、基準反射部及び各反射部か
ら戻る各反射光の干渉光を形成する光干渉計であって、
入射されるべき反射光の入射方向に対して変位可能に配
設された移動鏡体と、所定の位置に固定的に配設された
固定鏡体と、光線路から戻る反射光を分岐し、一方の分
岐光を移動鏡体に出射し、他方の分岐光を固定鏡体に出
射すると共に、この移動鏡体及び固定鏡体からの反射戻
り光を合波して干渉光として出射する光分岐結合器と、
前述した干渉光を受光すると共に、この干渉光の受光レ
ベルに対応する電気信号を出力する受光器とを備えて構
成する。On the other hand, the optical interferometer according to the present invention is arranged such that, for each optical path, a sign group composed of a plurality of reflecting portions is separated from the sign group by a distance larger than the entire length of the sign group. And a reference reflector disposed in the optical path, and when the inspection light is incident on the optical path, the optical interferometer forms interference light of each reflected light returning from the reference reflector and each reflector. ,
A movable mirror body disposed so as to be displaceable with respect to the incident direction of the reflected light to be incident, a fixed mirror body fixedly arranged at a predetermined position, and the reflected light returning from the optical path is branched, A light splitter that emits one split light to a movable mirror, emits the other split light to a fixed mirror, and combines reflected return light from the movable mirror and the fixed mirror to emit as interference light. A combiner,
A light receiver that receives the above-mentioned interference light and outputs an electric signal corresponding to the light reception level of the interference light is provided.

【０００８】[0008]

【作用】光線路の一端から検査光を入射すると、その光
は、標識群を構成する各反射部及び基準反射部において
反射されて、入射端に戻ってくる。この戻ってくる各反
射部及び基準反射部からの反射光について、その光路差
を干渉計で測定し、或いは、各反射部等からの反射光が
戻るまでの時間差を測定する。この測定結果に基づき、
基準反射部に対する標識群の各反射部の相対位置を検出
すれば、その検出結果に基づいて光線路を識別できる。When the inspection light is incident from one end of the optical line, the light is reflected by each of the reflecting portions and the reference reflecting portion constituting the marker group, and returns to the incident end. With respect to the reflected light from each of the returning reflecting portions and the reference reflecting portion, an optical path difference is measured by an interferometer, or a time difference until the reflected light from each of the reflecting portions returns is measured. Based on this measurement,
If the relative position of each reflection part of the marker group with respect to the reference reflection part is detected, the optical path can be identified based on the detection result.

【０００９】この際、光干渉計等を用いて反射部同士の
間隔を測定すると、標識群内で構成される、全ての反射
部同士の組みについて、その間隔が測定されることとな
り、標識群を構成する反射部の配列順までを直接検出で
きない。At this time, when the distance between the reflecting portions is measured using an optical interferometer or the like, the distance is measured for all the sets of the reflecting portions formed in the marker group, and the marker group is measured. Cannot be directly detected up to the order of arrangement of the reflecting portions constituting the above.

【００１０】そこで、本発明のように、基準反射部を、
標識群の全長に比べて大なる距離Ｌだけこの標識群から
離間して配置することで、基準反射部と標識群との距離
は、標識群から得られる２つの反射部の間隔よりも、常
に、大となる。換言すれば、基準反射部を設けること
で、基準反射部から標識群を構成する各反射部までの距
離は全て異なるため、基準反射部からの距離として各反
射部の位置を検出すれば、各反射部を全て検出できる。
しかも、標識群として配列された各反射部は、この配列
順に基準反射部からの距離が長く（或いは短く）なるた
め、基準反射部の検出位置を基準として、各反射部は配
列された順に検出できる。Therefore, as in the present invention, the reference reflecting portion is
By arranging the marker group apart from the marker group by a distance L larger than the total length of the marker group, the distance between the reference reflector and the marker group is always larger than the distance between the two reflectors obtained from the marker group. , Will be great. In other words, by providing the reference reflector, the distances from the reference reflector to each reflector constituting the sign group are all different, so if the position of each reflector is detected as the distance from the reference reflector, each All reflection parts can be detected.
In addition, since the reflecting portions arranged as a marker group have a longer (or shorter) distance from the reference reflecting portion in this arrangement order, the reflecting portions are detected in the order in which they are arranged based on the detection position of the reference reflecting portion. it can.

【００１１】この際、標識群を構成する隣り合う各反射
部を、この基準長の整数倍の距離だけ離間して配置して
おく。そして、検出の際には、基準反射部が設けられた
位置から、基準長ｐの整数倍に相当する位置に各反射部
が存在するか否かを検知すればよい。この結果、各反射
部の存在の有無を、「１」、「０」の２進数で符号化で
きると共に、標識群を構成する各反射部を配列された順
に検出できる。At this time, adjacent reflecting portions forming the marker group are spaced apart from each other by an integer multiple of the reference length. Then, at the time of detection, it is sufficient to detect whether or not each reflecting portion exists at a position corresponding to an integral multiple of the reference length p from the position where the reference reflecting portion is provided. As a result, the presence / absence of each reflection unit can be encoded by a binary number of “1” and “0”, and each reflection unit constituting the marker group can be detected in the order in which they are arranged.

【００１２】この場合、検出される間隔が重複するのを
防止するため、基準反射部は、標識群の全長に比べて大
なる距離だけこの標識群から離間して配置することが必
要である。In this case, in order to prevent the detected intervals from overlapping, it is necessary to dispose the reference reflecting section away from the marker group by a distance larger than the entire length of the marker group.

【００１３】一方、光干渉計に光分岐結合器を利用する
ことで、従来のようにビームスムリッタを用いる構成に
比べ、干渉計の構成を小型に構成でき、また、光分岐結
合器、固定鏡体、受光器等を光ファイバなどを用いて一
体的に接続して構成すれば、少なくとも、接続された光
学系の光軸調整は不要となる。On the other hand, by using an optical splitter / coupler for the optical interferometer, the configuration of the interferometer can be reduced in size as compared with the conventional configuration using a beam splitter. If the mirror body, the light receiver, and the like are integrally connected by using an optical fiber or the like, at least the optical axis adjustment of the connected optical system becomes unnecessary.

【００１４】[0014]

【実施例】以下、添付図面を参照して本発明の各実施例
について説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

【００１５】＜実施例１＞図１は、本発明の光線路の識
別方法を適用する光線路設備管理システムを示す構成図
である。局舎１と加入者宅３との間には、光線路の接続
切り換えを行うための端子函２が設けられている。局舎
１内の伝送装置４に一端が接続されている複数の光線路
は光ファイバケーブル９として束ねられ、端子函２まで
延びている。各光線路の他端は、端子函２内において、
各加入者宅３に延びている光線路の一端と光コネクタ１
０を介して接続され、これにより、局舎１内の伝送装置
４と各加入者宅３とがそれぞれ１本の光線路で接続され
たことになる。<First Embodiment> FIG. 1 is a block diagram showing an optical line facility management system to which the optical line identification method of the present invention is applied. A terminal box 2 for switching connection of an optical line is provided between the station building 1 and the subscriber's house 3. A plurality of optical lines, one ends of which are connected to the transmission device 4 in the office 1, are bundled as an optical fiber cable 9 and extend to the terminal box 2. The other end of each optical line is in the terminal box 2,
One end of an optical line extending to each subscriber home 3 and an optical connector 1
0, whereby the transmission device 4 in the station building 1 and each subscriber home 3 are connected by one optical line.

【００１６】光コネクタ１０では、接続の切り換えを手
動で任意に行うことができる。この切り換えを行う際に
は、まず、局舎１内に置かれた識別標識読取装置（コー
ド読取装置）５で、後述する識別方法により光線路のル
ート情報を調べ、そのルート情報を制御装置６から端子
函２内のローカルコントローラ１１に伝達し、表示装置
１２で現場の作業者にその情報を知らせる。作業者はそ
のルート情報に基づいて所望のコネクタ切り換えを行
う。切り換え作業終了後、再びコード読取装置５で光線
路の識別標識を読み取って局舎１側でルート情報を確認
し、このルート情報を制御装置６からローカルコントロ
ーラ１１を介して表示装置１２に表示することで、作業
者は切り換えの良否を確認する。In the optical connector 10, the connection can be manually switched arbitrarily. When this switching is performed, first, the identification sign reader (code reader) 5 placed in the station 1 checks the route information of the optical line by an identification method described later, and the route information is checked by the controller 6. To the local controller 11 in the terminal box 2, and the display device 12 notifies the worker at the site of the information. The operator performs desired connector switching based on the route information. After the switching work is completed, the code reader 5 reads the identification mark of the optical path again, confirms the route information on the side of the station 1, and displays this route information on the display device 12 from the control device 6 via the local controller 11. Thus, the operator confirms whether or not the switching has been performed.

【００１７】図２は、コード読取装置５の内部構成およ
びその周辺装置を示すブロック図である。コード読取装
置５は発光部２０と受光部２１を備え、これらは制御回
路６を構成するコンピュータ２２およびタイミング制御
回路２３によってその動作が制御される。FIG. 2 is a block diagram showing the internal configuration of the code reading device 5 and its peripheral devices. The code reading device 5 includes a light emitting unit 20 and a light receiving unit 21. The operation of these units is controlled by a computer 22 and a timing control circuit 23 that constitute the control circuit 6.

【００１８】発光部２０は、白色光などの適当なスペク
トル幅を持つ光を発する光源２４と、光源２４から放射
される光をオン−オフ制御する音響光学素子２５と、こ
の音響光学素子２５の入出力部にそれぞれ設けられたレ
ンズ系２６、２７とで構成されており、光源２４から放
射された光はレンズ２６、音響光学素子２５、レンズ２
７を経て、光ファイバ４０の一端に検査光として入射さ
れる。光ファイバ４０は、光ファイバで構成される光線
路５０とコード読取装置５とを繋ぐ分岐光線路であり、
分岐結合器３８を介して光線路５０と接続されている。
分岐結合器３８は、光ファイバ４０を多数の光線路５０
の中のいずれかに選択的に接続するものである。したが
って、発光部２０から出射された検査光は、光ファイバ
４０及び分岐結合器３８を介して所定の光線路５０に入
射される。The light emitting section 20 includes a light source 24 that emits light having an appropriate spectral width such as white light, an acousto-optic device 25 that controls on / off of light emitted from the light source 24, and an acousto-optic device 25. The light emitted from the light source 24 is transmitted through the lens 26, the acousto-optic device 25, and the lens 2.
After that, the light enters the one end of the optical fiber 40 as inspection light. The optical fiber 40 is a branch optical line connecting the optical line 50 composed of an optical fiber and the code reader 5,
It is connected to the optical line 50 via the branch coupler 38.
The branch coupler 38 connects the optical fiber 40 to a number of optical lines 50.
Is selectively connected to any of the following. Therefore, the inspection light emitted from the light emitting unit 20 is incident on a predetermined optical line 50 via the optical fiber 40 and the branch coupler 38.

【００１９】この検査光の反射光は、分岐結合器３８に
よって分岐されて光ファイバ４０に入射する。この反射
光は、光ファイバ４０接続された光カプラ３７によって
分岐され、光ファイバ４９を介して受光部２１に入射す
る。The reflected light of the inspection light is branched by the branch coupler 38 and enters the optical fiber 40. This reflected light is branched by the optical coupler 37 connected to the optical fiber 40 and enters the light receiving section 21 via the optical fiber 49.

【００２０】受光部２１は、マイケルソン干渉計３０
と、このマイケルソン干渉計３０の出力信号をデジタル
値に変換してコンピュータ２２に供給するＡ／Ｄ変換回
路３６と、マイケルソン干渉計３０への入力光をタイミ
ング制御回路２３からの信号に基づいてオン−オフ制御
する音響光学素子３１とを主要な構成要素として備えて
いる。なお、符号３２、３３はそれぞれレンズを示し、
符号３４は光ファイバを示している。The light receiving section 21 includes a Michelson interferometer 30
An A / D conversion circuit 36 that converts the output signal of the Michelson interferometer 30 into a digital value and supplies the digital value to the computer 22; and an input light to the Michelson interferometer 30 based on a signal from the timing control circuit 23. And an acousto-optic element 31 that performs on / off control as main components. Reference numerals 32 and 33 indicate lenses, respectively.
Reference numeral 34 indicates an optical fiber.

【００２１】マイケルソン干渉計３０は、入射光の光軸
方向に移動する移動鏡３００、この移動鏡３００の変移
させる移動機構３０３、この移動機構３０３を介し、変
移した移動鏡３００の位置を検出する位置読取り装置３
０４を備える。このほか、干渉光を受光する受光器３０
５、ビームスプリッタ３０２、レンズ３０６、３０７な
どで構成する。The Michelson interferometer 30 detects a moving mirror 300 moving in the optical axis direction of the incident light, a moving mechanism 303 for moving the moving mirror 300, and a position of the moving mirror 300 shifted via the moving mechanism 303. Position reader 3
04. In addition, a light receiver 30 for receiving the interference light
5, a beam splitter 302, lenses 306 and 307, and the like.

【００２２】光ファイバ３４からマイケルソン干渉計３
０に入射した光は、ビームスプリッタ３０２で分岐さ
れ、一方は固定鏡３０１へ、他方は移動鏡３００に導か
れる。それぞれの鏡で反射された光はビームスプリッタ
３０２に戻り、重なり合って干渉が生じる。この干渉光
はレンズ３０７を介して受光器３０５に入射し、電気信
号に変換される。このとき、移動鏡３００を移動させて
干渉計内の光路長差を変化させることによりインターフ
ェログラムと呼ばれる干渉波形を得ることができる。こ
れが、マイケルソン干渉計３０の動作原理であり、この
原理を利用して、識別標識３９を構成する複数の反射部
の相対位置を検出する。From the optical fiber 34, the Michelson interferometer 3
The light incident on 0 is split by a beam splitter 302, one of which is guided to a fixed mirror 301, and the other is guided to a movable mirror 300. The light reflected by each mirror returns to the beam splitter 302 and overlaps to cause interference. This interference light enters the light receiver 305 via the lens 307 and is converted into an electric signal. At this time, an interference waveform called an interferogram can be obtained by moving the movable mirror 300 to change the optical path length difference in the interferometer. This is the principle of operation of the Michelson interferometer 30, and the relative positions of the plurality of reflectors forming the identification mark 39 are detected by using this principle.

【００２３】各光線路５０には、それぞれ固有の識別標
識（コード）３９が線路中に書き込まれている。識別標
識３９は、検査光を反射する複数の反射部で構成し、光
線路毎に各反射部の相対位置の組み合わせをかえたもの
である。なお、識別標識３９については、後に詳述す
る。このような識別標識３９は、図１における局舎１と
端子函２との間の光線路、端子函２と加入者宅３との間
の光線路のそれぞれに設けている。局舎１と加入者宅３
との間に端子函が複数個介在する場合は、端子函間の光
線路にも識別標識を設ける。Each optical line 50 has a unique identification mark (code) 39 written in the line. The identification marker 39 is composed of a plurality of reflectors that reflect the inspection light, and has different combinations of relative positions of the respective reflectors for each optical path. The identification mark 39 will be described later in detail. Such an identification mark 39 is provided on each of the optical line between the station building 1 and the terminal box 2 and the optical line between the terminal box 2 and the subscriber's house 3 in FIG. Office 1 and subscriber home 3
When a plurality of terminal boxes are interposed between the terminal boxes, an identification mark is also provided on the optical line between the terminal boxes.

【００２４】図３に識別標識３９の一例を示す。この識
別標識３９は、光線路５０を切断して微小間隙を形成す
ることで、光ファイバにおけるコア部の屈折率を変え、
屈折率の不連続点を設けたものである。FIG. 3 shows an example of the identification mark 39. This identification marker 39 changes the refractive index of the core portion of the optical fiber by cutting the optical line 50 to form a minute gap.
This is provided with a discontinuous point of the refractive index.

【００２５】この識別標識３９は、標識群５８と基準反
射部５１とで構成する。標識群５８は、光ファイバの一
部を切断して形成した、多数の反射部５２〜５６を備え
ている。この場合、隣り合う反射部の間隔の基準となる
基準長をｐと規定しており、隣り合う反射部は、この基
準長ｐの整数倍の間隔を開けて配置している。したがっ
て、図３における反射部５４と反射部５６との間隔も、
基準長ｐの整数倍の長さに設定しており、標識群５８の
全長は、図示するように、ｎ×ｐ（ｎは整数）で表され
る。The identification marker 39 is composed of a marker group 58 and a reference reflector 51. The marker group 58 includes a large number of reflecting portions 52 to 56 formed by cutting a part of an optical fiber. In this case, a reference length which is a reference for the interval between the adjacent reflecting portions is defined as p, and the adjacent reflecting portions are arranged at intervals of an integral multiple of the reference length p. Therefore, the interval between the reflection part 54 and the reflection part 56 in FIG.
The length is set to an integral multiple of the reference length p, and the total length of the marker group 58 is represented by n × p (n is an integer) as shown in the figure.

【００２６】一方、基準反射部５１は、同様に、光ファ
イバの一部を切断した微小間隙によって構成しており、
標識群５８の全長（ｎ×ｐ）に比べて大なる距離Ｌだ
け、この標識群５８から離間して配置している。On the other hand, the reference reflecting section 51 is similarly constituted by a minute gap obtained by cutting a part of an optical fiber.
The marker group 58 is spaced apart from the marker group 58 by a distance L that is larger than the entire length (n × p).

【００２７】このように構成される光線路５０に発光部
２０から検査光が入射されると、基準反射部５１及び各
反射部５２〜５６においてこの検査光が反射され、受光
部２１に戻る。この識別標識３９からの反射光は、反射
部となる切り欠き毎に光路差が生じており、この光路差
をマイケルソン干渉計３０で検出することにより、基準
反射部５１に対する各反射部５２〜５６の相対位置を検
出することができる。When inspection light is incident on the optical line 50 configured as described above from the light emitting section 20, the inspection light is reflected by the reference reflection section 51 and each of the reflection sections 52 to 56, and returns to the light receiving section 21. The reflected light from the identification mark 39 has an optical path difference for each notch serving as a reflective portion. The Michelson interferometer 30 detects the optical path difference, and thereby the respective reflective portions 52 to 56 relative positions can be detected.

【００２８】ここで、識別標識３９の読取方法を説明す
る。一例として、図３に示すように、光線路５０には、
反射部５２〜５６を有する標識群５８と基準反射部５１
とから構成される識別標識３９が付されているものとす
る。この光線路５０に検査光を入射したとすると、受光
部２１ではコンピュータ２２との同期により、図４に示
すようなインターフェログラムが得られる。つまり、ま
ず、光路差が零のところで極大が得られるが、移動鏡３
００の位置を序々に変化させて、設定する光路差を次第
に大きくすると、標識群５８を構成する各反射部の光路
差に相当する位置に副極大が得られる。図示は省略した
が、インターフェログラムにおける光路差が零の付近に
は、標識群５８を構成する各反射部５２〜５６の光路差
に相当する位置に副極大が得られる。この複数の反射部
相互の干渉は光路差（ｎ×ｐ）の間で生じる。Here, a method of reading the identification mark 39 will be described. As an example, as shown in FIG.
Marker group 58 having reflectors 52 to 56 and reference reflector 51
It is assumed that an identification mark 39 composed of Assuming that the inspection light is incident on the optical line 50, the light receiving section 21 obtains an interferogram as shown in FIG. That is, first, a local maximum is obtained when the optical path difference is zero.
When the position of 00 is gradually changed and the optical path difference to be set is gradually increased, a sub-local maximum is obtained at a position corresponding to the optical path difference of each of the reflecting portions constituting the marker group 58. Although not shown, a sub-maximum is obtained at a position corresponding to the optical path difference of each of the reflecting portions 52 to 56 constituting the marker group 58 near the optical path difference of zero in the interferogram. The interference between the plurality of reflecting portions occurs between the optical path differences (n × p).

【００２９】なお、この場合には、前述の作用で説明し
たように、全ての反射部同士の組みについて、その光路
差が測定されることとなる。例えば、図５（ａ）に示す
ように、反射部５２と反射部５３との間隔が２ｐ、反射
部５３と反射部５４との間隔がｐで標識群５８が構成さ
れる場合、得られるインターフェログラムは、図５
（ｃ）に示す結果となる。この場合、反射部５２と反射
部５４との間隔３ｐも検出されるが、この測定結果は、
図５（ｂ）に示す標識群５８を測定した場合と同じ結果
となる。このように、各反射部５２〜５６の配列順まで
を直接、検出することはできない。In this case, as described in the above operation, the optical path difference is measured for all the sets of the reflection portions. For example, as shown in FIG. 5A, when the distance between the reflecting portions 52 and 53 is 2p and the distance between the reflecting portions 53 and 54 is p and the sign group 58 is configured, the resulting interface is obtained. The ferogram is shown in FIG.
The result shown in (c) is obtained. In this case, the interval 3p between the reflection unit 52 and the reflection unit 54 is also detected.
The result is the same as when the label group 58 shown in FIG. 5B is measured. As described above, it is not possible to directly detect the arrangement order of the respective reflection units 52 to 56.

【００３０】図３、４に戻って説明を続ける。そこで、
さらに光路差を大きくとると、光路差Ｌの位置に、基準
反射部５１からの反射光と反射部５２からの反射光との
干渉による副極大が得られる。その後、次第に光路差を
大きくとると、反射部５３〜５６の配設位置に対応す
る、Ｌ＋ｐ、Ｌ＋２ｐ、…、Ｌ＋ｎ・ｐの光路差で、順
次、副極大が得られる。Returning to FIGS. 3 and 4, the description will be continued. Therefore,
If the optical path difference is further increased, a sub-maximum is obtained at the position of the optical path difference L due to the interference between the reflected light from the reference reflecting section 51 and the reflected light from the reflecting section 52. Thereafter, when the optical path difference is gradually increased, the sub-local maximum is obtained sequentially with the optical path difference of L + p, L + 2p,..., L + n · p corresponding to the arrangement position of the reflection portions 53 to 56.

【００３１】したがって、この識別方法によれば、標識
群５１を構成する各反射部５２〜５６は、予め設定され
た光路差Ｌの位置から、基準長ｐの整数倍に相当する光
路差の位置に各反射部が存在するか否かを、副極大の有
無として検知することとなる。したがって、この副極大
の有無を、「１」、「０」の２進数で符号化することに
よって、標識群５１を構成する各反射部５２〜５６を配
列された順に検出できる。例えば、設計した光路差の位
置を１２点設けたとすると、それらの反射部の有無の組
み合わせにより、４０９６本の光線路を識別できること
になる。Therefore, according to this identification method, each of the reflecting portions 52 to 56 constituting the marker group 51 is moved from the position of the optical path difference L set in advance to the position of the optical path difference corresponding to an integral multiple of the reference length p. Is detected as the presence or absence of the sub-maximum. Therefore, by encoding the presence or absence of the sub-maximum with a binary number of “1” and “0”, it is possible to detect the reflecting portions 52 to 56 constituting the marker group 51 in the order in which they are arranged. For example, assuming that 12 designed optical path difference positions are provided, 4096 optical lines can be identified by a combination of the presence or absence of the reflecting portions.

【００３２】なお、基準反射部５２及び各反射部５２〜
５６からの反射光の光路差を伝送される光は、適当なス
ペクトル幅を持っている。このため、光線路内の分散の
影響により各波長において光線路内をそれぞれ異なった
進み方をする。ところがこの反射光を干渉させるために
設けた固定鏡３０１と移動鏡３００とを空気中に配設す
ると、光線路の分散の影響を受けた光を、空気中におい
てそのまま干渉させることになり、それぞれの波長で光
路差がずれることになって、前述した極大の振幅が小さ
くなってしまう。したがって、このマイケルソン干渉計
３０を、使用する波長幅における光線路の分散値と実質
的に同じ液体、気体などの物質中に配設することが望ま
しい。The reference reflecting section 52 and each of the reflecting sections 52 to
The light transmitted through the optical path difference of the reflected light from 56 has an appropriate spectral width. Therefore, the light travels differently in the optical line at each wavelength due to the influence of dispersion in the optical line. However, if the fixed mirror 301 and the movable mirror 300 provided for causing the reflected light to interfere with each other are arranged in the air, the light affected by the dispersion of the optical path is caused to interfere as it is in the air. The optical path difference shifts at the wavelength of, and the amplitude of the maximum described above decreases. Therefore, it is desirable to dispose this Michelson interferometer 30 in a substance such as a liquid or a gas that is substantially the same as the dispersion value of the optical line in the used wavelength width.

【００３３】マイケルソン干渉計３０をこのように配設
することにより、それぞれの波長のずれをもとに戻すこ
とになり、極大の振幅を大きくすることができ、読取り
誤差の確率が小さくなる。By arranging the Michelson interferometer 30 in this manner, the wavelength deviations are restored, the maximum amplitude can be increased, and the reading error probability decreases.

【００３４】また、同様に、光線路に形成する反射部及
び基準反射部を、使用する波長幅における波長分散が実
質的に零である物質を用いて構成することが望ましい。Similarly, it is desirable that the reflecting portion and the reference reflecting portion formed on the optical line are formed of a substance whose chromatic dispersion in the used wavelength width is substantially zero.

【００３５】このようにすれば、それぞれの波長での進
み方は同じであるため極大の振幅が小さくならず、読取
り誤差の確率が小さくなる。In this case, since the way of proceeding at each wavelength is the same, the maximum amplitude does not decrease, and the probability of a reading error decreases.

【００３６】なお、本実施例によると、反射部５２〜５
６において、そのうちの１つの反射部と、他の全ての反
射部との光路差によっても副極大が得られるが、この副
極大は上述のとおり、基準反射部５１と標識群群５８と
の距離Ｌを、標識群５８の全長である（ｎ×ｐ）より大
に設定してあるので、基準反射部５１と複数の反射部５
２〜５６の光路差により生じる副極大とが重なり合うこ
とがない。したがって、本実施例では、複数の反射部５
２〜５６のうちの１つの反射部と他の反射部との光路差
により得られる副極大は無視するだけでよく、特に不具
合は生じない。According to the present embodiment, the reflecting portions 52 to 5
In FIG. 6, a sub-maximum is also obtained by the optical path difference between one of the reflecting portions and all the other reflecting portions. As described above, this sub-maximum is the distance between the reference reflecting portion 51 and the marker group 58. Since L is set to be larger than the total length of the marker group 58 (n × p), the reference reflecting portion 51 and the plurality of reflecting portions 5 are set.
There is no overlap with the sub-maximum generated by the optical path difference of 2 to 56. Therefore, in the present embodiment, the plurality of reflecting portions 5
The sub-maximum obtained by the optical path difference between one of the reflecting portions 2 to 56 and the other reflecting portion need only be ignored, and no particular problem occurs.

【００３７】本実施例では、局舎１と加入者宅３とを繋
ぐ光線路が、端子函２で接続された２本の区分光線路で
構成されている。識別標識は各区分光線路にそれぞれ設
けられているため、これらを区別して認識する必要があ
る。音響光学素子３１は、そのために用いられているも
のである。すなわち、タイミング制御回路２３によっ
て、パルス状の検査光を被測定光線路に入射し、検査光
の入射タイミングを基準にして、音響光学素子３１で識
別標識ごとの反射光を時間的に切り出す。これにより、
同一光線路上の異なる点の識別標識からの反射光をそれ
ぞれ区別することができる。コンピュータ２２は、この
識別標識ごとの反射光を区別しながら、反射光の光強度
データを取り込むことにより、識別標識毎のインターフ
ェログラムを得ることができる。なお、反射光の切り出
しは、音響光学素子３１に変えて、ゲート回路などを用
いて受光器３０５からの電気信号を読取るタイミングを
制御することでも達成できる。In this embodiment, the optical line connecting the office 1 and the subscriber's house 3 is composed of two sectioned optical lines connected by a terminal box 2. Since the identification signs are provided on each of the divided optical lines, it is necessary to distinguish and recognize these. The acousto-optic device 31 is used for that purpose. That is, the timing control circuit 23 causes the pulse-like inspection light to be incident on the optical path to be measured, and temporally cuts out the reflected light for each identification marker by the acousto-optic element 31 based on the incident timing of the inspection light. This allows
The reflected light from the identification marks at different points on the same optical path can be distinguished. The computer 22 can obtain an interferogram for each identification mark by taking in the light intensity data of the reflected light while distinguishing the reflected light for each identification mark. Note that the reflected light can be cut out by controlling the timing of reading an electric signal from the light receiver 305 using a gate circuit or the like instead of using the acousto-optic element 31.

【００３８】なお、図６に示すように、識別標識を光線
路中に直接書き込む代わりに、識別標識１００が書き込
まれた分岐光線路１０１をファイバカプラ１０２などを
用いて、光線路５０に対して分岐接続してもよい。As shown in FIG. 6, instead of directly writing the identification mark in the optical line, the branch optical line 101 on which the identification mark 100 is written is connected to the optical line 50 by using a fiber coupler 102 or the like. Branch connection may be used.

【００３９】標識群５８を構成する各反射部及び基準反
射部５１は、前述したように、光ファイバの一部を切断
して微小間隙を形成する他、光ファイバ中のクラッドの
屈折率を変えてもよい。図７（ａ），（ｂ）はこの観点
からなされた識別標識３９の他の実施例である。図７
（ａ）には、光ファイバ４１のクラッド４２に切り欠き
４３を設けて、標識群を構成する反射部及び基準反射部
を形成した例を示している。図７（ｂ）は光ファイバ４
１のクラッド４２を部分的に除去し、この部位に他の屈
折率を有する反射部材４４を張り付ける例を示してい
る。As described above, each of the reflecting portions and the reference reflecting portion 51 forming the marker group 58 cuts a part of the optical fiber to form a minute gap and changes the refractive index of the cladding in the optical fiber. You may. FIGS. 7A and 7B show another embodiment of the identification mark 39 made from this viewpoint. FIG.
(A) shows an example in which a notch 43 is provided in a cladding 42 of an optical fiber 41 to form a reflecting portion and a reference reflecting portion constituting a sign group. FIG. 7B shows an optical fiber 4.
An example is shown in which one clad 42 is partially removed, and a reflective member 44 having another refractive index is attached to this portion.

【００４０】図８（ａ）〜（ｄ）に、識別標識３９の設
置に関する他の実施例を示す。識別標識３９は光線路中
の任意の位置に設けられるものであるが、ケーブル中の
光線路に設けることは困難である。そこで、光線路同士
を縦続接続する光コネクタに対して、識別標識３９を設
けている。FIGS. 8A to 8D show another embodiment relating to the installation of the identification mark 39. FIG. The identification marker 39 is provided at an arbitrary position in the optical line, but it is difficult to provide the identification marker 39 on the optical line in the cable. Therefore, an identification mark 39 is provided for an optical connector that cascade-connects optical lines.

【００４１】図８（ａ）では、一対の光コネクタ４５，
４６のうち、一方の光コネクタ４６の内部に位置する光
ファイバ４１に対し、標識群４８を構成する各反射部５
２〜５６と基準反射部５１とを設け、識別標識３９とし
ている。また、図８（ａ）のように、光ファイバ４１に
対して基準反射部５１を設けるのではなく、光コネクタ
４５と光コネクタ４６との接続端面４７を利用して、基
準反射部５１を設けることもできる（図８（ｂ））。ま
た、一方の光コネクタ４５と他方の光コネクタ４６の間
に、識別標識３９を有した識別標識素子５９を挿入・接
続し、この識別標識素子５９に対して、標識群４８を構
成する各反射部５２〜５６及び基準反射部５１を設けて
もよい（図８（ｃ））。さらに、図８（ｃ）のタイプの
他の構成例としては、基準反射部５１は、光コネクタ４
５と識別標識素子５９との接続端面６０での反射を利用
してもよい（図８（ｄ））。In FIG. 8A, a pair of optical connectors 45,
46, the optical fiber 41 located inside one of the optical connectors 46, the reflecting portions 5 forming the marker group 48,
2 to 56 and a reference reflecting section 51 are provided as identification marks 39. In addition, as shown in FIG. 8A, the reference reflection portion 51 is provided using the connection end surface 47 between the optical connector 45 and the optical connector 46, instead of providing the reference reflection portion 51 for the optical fiber 41. (FIG. 8B). Further, an identification marker element 59 having an identification marker 39 is inserted and connected between one optical connector 45 and the other optical connector 46, and each reflection marker constituting the marker group 48 is connected to the identification marker element 59. The units 52 to 56 and the reference reflecting unit 51 may be provided (FIG. 8C). Further, as another configuration example of the type shown in FIG.
The reflection at the connection end face 60 of the identification mark element 59 and the identification mark element 59 may be used (FIG. 8D).

【００４２】また、識別標識３９を以下のように形成す
ることもできる。すなわち、光線路５０を構成する光フ
ァイバのコア５７の特定部位に、エキシマレーザ等を照
射することで、光線路５１に直接、穴開け加工を施すこ
とができる。具体的には、図１４に示すように、レーザ
によってコア５７に穴開け加工を施すことで、コア５７
の特定位置に複数の中空の領域（参照番号５１〜５６）
を形成し、これによってコア５７に対して屈折率の不連
続部部位を形成する。そして、所定の間隔でこの空穴を
形成すれば、前述した基準反射部５１、及び、標識群を
構成する各反射部５２〜５６と同じ機能を有する反射部
を形成できる。このように、反射部を形成することによ
り、光線路５０を切断して分離した後、再び接続すると
いう作業が不要となり、識別標識を効率的に、しかも小
さく形成できる。The identification mark 39 can be formed as follows. That is, by irradiating a specific portion of the core 57 of the optical fiber constituting the optical line 50 with an excimer laser or the like, the optical line 51 can be directly drilled. Specifically, as shown in FIG. 14, by drilling a hole in the core 57 with a laser,
A plurality of hollow areas at specific positions (reference numbers 51 to 56)
Is formed, thereby forming a discontinuous portion of the refractive index with respect to the core 57. Then, by forming the holes at predetermined intervals, it is possible to form a reflecting portion having the same function as the above-described reference reflecting portion 51 and the reflecting portions 52 to 56 constituting the marker group. By forming the reflecting portion in this way, the operation of cutting and separating the optical path 50 and then connecting the optical path 50 again becomes unnecessary, and the identification mark can be formed efficiently and small.

【００４３】一方、コード読取装置５は、上記実施例の
他に、次の構成としてもよい。すなわち、発光部にパル
ス幅の短いパルス光を出射できる半導体レーザとその駆
動回路を設け、一方、受光部にはメモリ付きＡ／Ｄ変換
回路と平均化回路を設けて、パルス状の検査光を光線路
５０に入射し、その反射光強度の時間的変化を測定する
ことで、各反射部の相対位置に応じたコード情報を読み
取ることができる。On the other hand, the code reading device 5 may have the following configuration in addition to the above embodiment. That is, a semiconductor laser capable of emitting pulse light with a short pulse width and a driving circuit for the semiconductor laser are provided in the light emitting unit, and an A / D conversion circuit with a memory and an averaging circuit are provided in the light receiving unit, and the pulse-like inspection light is By entering the optical path 50 and measuring the temporal change in the intensity of the reflected light, it is possible to read the code information corresponding to the relative position of each reflecting section.

【００４４】＜実施例２＞前述した実施例１における光
線路識別は、図２に示したコード読取装置５を用いて行
っていたが、このコード読取装置５のうち、受光部２１
のマイケルソン干渉計３０を、以下のように構成しても
よい。なお、図中、図２に示したコード読取装置５と同
一の構成要素には、同一の参照番号を付して示す。<Embodiment 2> Although the optical line identification in the above-described embodiment 1 is performed using the code reader 5 shown in FIG.
May be configured as follows. In the figure, the same components as those of the code reader 5 shown in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals.

【００４５】図９に、この干渉計１３０を備えたコード
読取装置５の構成を示す。この干渉計１３０は、光カプ
ラ３０９を利用して、マイケルソン干渉計を構成してい
る。FIG. 9 shows the configuration of the code reader 5 provided with the interferometer 130. The interferometer 130 constitutes a Michelson interferometer using the optical coupler 309.

【００４６】干渉計１３０の主要部を構成する光カプラ
３０９には、光ファイバ３４を介して検査光の反射光が
入射され、ここで２つに分岐される。一方の分岐光は、
光フィアバ３４、レンズ３０８を介して移動鏡３００に
出射され、他方の分岐光は、固定鏡３０１に出射され
る。なお、この固定鏡３０１と光カプラ３０９とは、光
フィアバ３４によって接続されている。それぞれ出射さ
れた分岐光は、移動鏡３００及び固定鏡３０１でそれぞ
れ反射され、反射戻り光となって光カプラ３０９に戻
る。この２つの反射戻り光は光カプラ３０９で合波さ
れ、干渉光となって受光器３０５に入射する。なお、受
光器３０５と光カプラ３０９とも、光ファイバ３４で接
続されている。その他の構成は、図２に示した受光部２
１と同様であり、同様の動作をする。The reflected light of the inspection light enters the optical coupler 309 constituting the main part of the interferometer 130 via the optical fiber 34, and is branched into two. One branch light is
The light is emitted to the movable mirror 300 via the optical fiber 34 and the lens 308, and the other branched light is emitted to the fixed mirror 301. The fixed mirror 301 and the optical coupler 309 are connected by an optical fiber 34. The emitted branched lights are reflected by the movable mirror 300 and the fixed mirror 301, respectively, and return to the optical coupler 309 as reflected return light. The two reflected return lights are multiplexed by the optical coupler 309 and become the interference light and enter the light receiver 305. The light receiver 305 and the optical coupler 309 are also connected by the optical fiber 34. Other configurations are similar to those of the light receiving unit 2 shown in FIG.
1, and performs the same operation.

【００４７】このように、光カプラ３０９を利用してマ
イケルソン干渉計を構成することで、干渉計の構成要素
間を光ファイバ３４によって接続することができ、装置
全体を小形化することが可能となる。また、図２で示し
た干渉計のようなビームスプリッタ３０２を設ける必要
がないため、干渉計を構成する各機器の光軸調整が容易
となり、しかも一端調整された光軸がずれる心配がな
い。このため、干渉計を含む装置全体の信頼性が向上
し、光線路との結合も容易となる。As described above, by configuring the Michelson interferometer using the optical coupler 309, the components of the interferometer can be connected by the optical fiber 34, and the entire device can be downsized. Becomes Further, since there is no need to provide the beam splitter 302 as in the interferometer shown in FIG. 2, it is easy to adjust the optical axis of each device constituting the interferometer, and there is no fear that the optical axis once adjusted is shifted. For this reason, the reliability of the entire device including the interferometer is improved, and the coupling with the optical line becomes easy.

【００４８】図１０は、図９の干渉計１３０に位相変調
器を設けた例を示している。この構成では、光カプラ３
０９とレンズ３０８との間に、光ファイバを巻いた円筒
状のピエゾ３１０を設けている。このピエゾ３１０を振
動させることにより、光カプラ３０９で分岐された２光
束のうち、１光束のみの位相を変調し、この振動を制御
して同期検波するロックインアンプ３７において、信号
の変化を読み取る。これによって、光源２４の中心波長
を基本波長とした干渉波形のうち、抱絡線のみを抽出す
ることができるため、基本波の極大値を求める必要がな
くなり、結果的に、光線路の認識速度が向上する。な
お、このピエゾ３１０の配設位置としては、図１１に示
すように、移動機構３０３の先端部に設けて移動鏡３０
０を微動させる構成としてもよい。FIG. 10 shows an example in which the interferometer 130 of FIG. 9 is provided with a phase modulator. In this configuration, the optical coupler 3
Between the lens 09 and the lens 308, a cylindrical piezo 310 around which an optical fiber is wound is provided. By vibrating the piezo 310, the phase of only one of the two light beams branched by the optical coupler 309 is modulated, and the lock-in amplifier 37 that controls this vibration and performs synchronous detection reads a signal change. . As a result, it is possible to extract only the enveloping line from the interference waveform having the center wavelength of the light source 24 as the fundamental wavelength, so that it is not necessary to obtain the maximum value of the fundamental wave. Is improved. As shown in FIG. 11, the position of the piezo 310 is set at the tip of the moving mechanism 303 and the moving mirror 30 is provided.
It may be configured to finely move 0.

【００４９】また、図１２に、干渉計にマッハ・ツェン
ダー干渉計を用いたコード読取装置５の構成を示す。マ
ッハ・ツェンダー干渉計１３２には、光ファイバ３４及
びレンズ３０６を介して前述した反射光が入射するが、
入射した反射光は、ビームスプリッター３０２ａで一部
が透過され、一部が反射される。透過された反射光は、
固定鏡３０１ａ、ビームスプリッター３０２ｂを経由し
て、ラインセンサ３１２に至る。一方、ビームスプリッ
ター３０２ａで反射された反射光は、楔型ガラス３１１
に到達するが、楔型ガラス３１１の裏面には固定鏡３０
１ｂが重合されており、楔型ガラス３１１で波面の光路
が連続的に変化する。このため、移動鏡を用いることな
く、光路差を発生させることができる。この楔型ガラス
３１１で反射された反射光は、ビームスプリッター３０
２ｂを透過し、ラインセンサ３１２に至る。このよう
に、ラインセンサ３１２には、２系統に分岐された反射
光が再び合波されて、干渉光として入射することにな
る。そして、ラインセンサ３１２の出力が、Ａ／Ｄ変換
回路３６に与えられる。その他の構成は、図９の装置
と、構成、動作は同様である。FIG. 12 shows a configuration of a code reader 5 using a Mach-Zehnder interferometer as an interferometer. The above-mentioned reflected light enters the Mach-Zehnder interferometer 132 via the optical fiber 34 and the lens 306,
The reflected light that has entered is partially transmitted and partially reflected by the beam splitter 302a. The transmitted reflected light is
The light reaches the line sensor 312 via the fixed mirror 301a and the beam splitter 302b. On the other hand, the reflected light reflected by the beam splitter 302 a
, But the fixed mirror 30 is provided on the back of the wedge-shaped glass 311.
1b is superimposed, and the optical path of the wavefront changes continuously with the wedge-shaped glass 311. Therefore, an optical path difference can be generated without using a movable mirror. The light reflected by the wedge-shaped glass 311 is reflected by the beam splitter 30.
2b, and reaches the line sensor 312. In this way, the reflected light branched into two systems is again multiplexed into the line sensor 312 and enters as interference light. Then, the output of the line sensor 312 is provided to the A / D conversion circuit 36. Other configurations are the same as those of the device in FIG. 9 in configuration and operation.

【００５０】このように、構成した場合、所定位置に固
定されたラインセンサ３１２の受光位置で干渉光を検出
するため、干渉計に可動部を含まない構成となり、認識
装置としての信頼性が向上する。In this case, since the interference light is detected at the light receiving position of the line sensor 312 fixed at a predetermined position, the interferometer does not include a movable portion, and the reliability as a recognition device is improved. I do.

【００５１】また、図１３に、干渉計にフィゾー干渉計
を用いた構成を示す。フィゾー干渉計１３３は、レンズ
３０６、図に示されるように拡開した状態に配設された
２枚の半透明固定鏡３１３、及び、ラインセンサ３１２
で構成される。このように構成することで、マッハ・ツ
ェンダー干渉計と同様に、移動鏡を用いることなく光路
差を発生させることができる。このため、所定位置に固
定されたラインセンサの受光位置で干渉光を検出するた
め、干渉計に可動部を含まない構成となり、認識装置と
しての信頼性が向上する。FIG. 13 shows a configuration using a Fizeau interferometer as the interferometer. The Fizeau interferometer 133 includes a lens 306, two translucent fixed mirrors 313 arranged in an expanded state as shown in the drawing, and a line sensor 312.
It consists of. With this configuration, similarly to the Mach-Zehnder interferometer, an optical path difference can be generated without using a moving mirror. For this reason, since the interference light is detected at the light receiving position of the line sensor fixed at a predetermined position, the interferometer does not include a movable portion, and the reliability as a recognition device is improved.

【００５２】以上説明した各実施例では、標識群５８を
構成する各反射部の間隔を、基準長ｐの整数倍に設定す
る例を示したが、この例に限定するものではなく、勿
論、任意に設定することも可能である。なお、この場合
にも、基準反射部５１は、標識群５８の全長に比べて大
なる距離Ｌだけ、この標識群５８から離間して配置する
ことが必要である。In each of the embodiments described above, an example is shown in which the interval between the respective reflection portions constituting the marker group 58 is set to an integral multiple of the reference length p. However, the present invention is not limited to this example. It can be set arbitrarily. In this case as well, it is necessary that the reference reflecting portion 51 be disposed apart from the marker group 58 by a distance L larger than the entire length of the marker group 58.

【００５３】[0053]

【発明の効果】以上説明したように本発明の光線路の識
別方法は、複数個の反射部及び基準反射部で構成される
識別標識を光線路ごとに異なるものとしておき、この識
別標識の相対位置を検出することにより、容易にかつ正
確に光線路を識別できる。したがって、端子函における
切り換え作業の際の接続の確認に極めて有効である。As described above, according to the optical line identification method of the present invention, the identification mark composed of a plurality of reflection portions and the reference reflection portion is set to be different for each optical line, and the By detecting the position, the optical path can be easily and accurately identified. Therefore, it is very effective for confirming the connection at the time of the switching operation in the terminal box.

【００５４】また、標識群として配列された各反射部
は、この配列順に基準反射部からの距離が長く（或いは
短く）なるため、基準反射部を基準として、各反射部は
配列された順に検出することが可能である。しかも、隣
り合う各反射部が、基準長の整数倍の距離だけ離間して
配置しているため、基準反射部が設けられた位置から、
基準長の整数倍に相当する位置に各反射部が存在するか
否かを検知すればよい。この結果、各反射部の存在の有
無を、「１」、「０」の２進数で符号化できる。Further, since the reflecting portions arranged as a marker group have a longer (or shorter) distance from the reference reflecting portion in this arrangement order, the reflecting portions are detected in the order in which they are arranged with respect to the reference reflecting portion. It is possible to In addition, since the adjacent reflecting portions are spaced apart by a distance that is an integral multiple of the reference length, from the position where the reference reflecting portion is provided,
What is necessary is just to detect whether or not each reflecting portion exists at a position corresponding to an integral multiple of the reference length. As a result, the presence / absence of each reflection unit can be encoded by a binary number of “1” and “0”.

【００５５】また、本発明にかかる光干渉計は、光分岐
結合器を利用して干渉計を構成するので、ビームスプリ
ッターを設けることは不要となり、干渉計全体を小形化
することが可能となる。また、光分岐結合器、固定鏡
体、受光器等を光ファイバなどを用いて一体的に接続し
て構成すれば、少なくとも、接続された光学性の光軸調
整は不要となり、また、これらの各光学系の配置に自由
度が増し、干渉計の小形化に寄与するものである。Further, since the optical interferometer according to the present invention uses an optical branching coupler to constitute the interferometer, it is not necessary to provide a beam splitter, and the entire interferometer can be downsized. . Further, if the optical branching coupler, the fixed mirror, the light receiver, and the like are integrally connected by using an optical fiber or the like, at least, the optical axis adjustment of the connected optical axis becomes unnecessary, and these This increases the degree of freedom in the arrangement of each optical system and contributes to downsizing of the interferometer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明の識別方法を適用する光線路設備管理シ
ステムを示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an optical line facility management system to which the identification method of the present invention is applied.

【図２】そのコード読取装置の内部構成およびその周辺
装置を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing the internal configuration of the code reading device and its peripheral devices.

【図３】識別標識の具体例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a specific example of an identification mark.

【図４】インターフェログラムによる標識の識別方法を
示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a method for identifying a label by using an interferogram.

【図５】（ａ），（ｂ）は標識群を構成する反射部の配
置を示す図であり、（ｃ）はこの識別標識が読み取られ
たインターフェログラムである。FIGS. 5 (a) and 5 (b) are diagrams showing the arrangement of the reflecting portions constituting the marker group, and FIG. 5 (c) is an interferogram obtained by reading the identification markers.

【図６】識別標識用の分岐光線路を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a branch optical path for an identification sign.

【図７】（ａ），（ｂ）は識別標識の他の具体例を示す
図である。FIGS. 7A and 7B are diagrams showing other specific examples of the identification mark.

【図８】（ａ）〜（ｄ）は識別標識の他の形成例を示す
図である。FIGS. 8A to 8D are diagrams showing another example of forming an identification mark.

【図９】コード読取装置の他の構成例を示すブロック図
である。FIG. 9 is a block diagram illustrating another configuration example of the code reading device.

【図１０】コード読取装置の他の構成例を示すブロック
図である。FIG. 10 is a block diagram illustrating another configuration example of the code reading device.

【図１１】コード読取装置の他の構成例を示すブロック
図である。FIG. 11 is a block diagram illustrating another configuration example of the code reading device.

【図１２】コード読取装置の他の構成例を示すブロック
図である。FIG. 12 is a block diagram illustrating another configuration example of the code reading device.

【図１３】コード読取装置の他の構成例を示すブロック
図である。FIG. 13 is a block diagram illustrating another configuration example of the code reading device.

【図１４】識別標識の他の形成例を示す図である。FIG. 14 is a diagram illustrating another example of forming an identification mark.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１…局舎、２…端子函、３…加入者宅、４…伝送装置、
５…コード読取装置、６…制御装置、２０…発光部、２
１…受光部、３０…マイケルソン干渉計、３９…識別標
識、４０，４１…光ファイバ、４２…クラッド、４３…
切り欠き、４４…他の部材、４５，４６…光コネクタ、
５０…光線路、５１…基準反射部、５２〜５６…反射
部、５８…標識群、５９…識別標識素子。1 ... office building, 2 ... terminal box, 3 ... subscriber home, 4 ... transmission device,
5 code reader, 6 controller, 20 light emitting unit, 2
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Light-receiving part, 30 ... Michelson interferometer, 39 ... identification mark, 40, 41 ... Optical fiber, 42 ... Cladding, 43 ...
Notch, 44: Other members, 45, 46: Optical connector,
50: optical path, 51: reference reflection section, 52 to 56: reflection section, 58: marker group, 59: identification marker element.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 蔀 龍彦 神奈川県横浜市栄区田谷町１番地 住友 電気工業株式会社 横浜製作所内 (72)発明者 服部 保次 神奈川県横浜市栄区田谷町１番地 住友 電気工業株式会社 横浜製作所内 (72)発明者 山下 克也 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 大槻 文男 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平５−307121（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G02B 6/00 G01M 11/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Tatsuhiko Shitomi 1 Tayacho, Sakae-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Sumitomo Electric Industries, Ltd. Yokohama Works (72) Inventor Yasuji Hattori 1-Tagamachi, Sakae-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Sumitomo Electric (72) Katsuya Yamashita, Inventor, 1-6-1, Uchisaiwaicho, Chiyoda-ku, Tokyo Nippon Telegraph and Telephone Corporation (72) Fumio Otsuki 1-1-6, Uchisaiwaicho, Chiyoda-ku, Tokyo Nippon Telegraph (56) References JP-A-5-307121 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. ⁷ , DB name) G02B 6/00 G01M 11/00

Claims (9)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項１】 光線路毎に、複数個の反射部で構成され
る標識群と、この標識群の全長に比べて大なる距離だけ
この標識群から離間して配置される基準反射部とを設
け、これら各光線路毎に前記標識群における各反射部の
相対位置の組み合わせを変えて、各光線路を識別する識
別標識とし、 これらの光線路に対して検査光を入射して前記基準反射
部での反射光と前記標識群における各反射部での反射光
との光路差を光干渉計を用いて検出することにより、前
記基準反射部と前記標識群における各反射部との相対位
置を検出し、その検出結果に基づいて前記各光線路を識
別する光線路の識別方法であって、 前記反射部同士の間隔の基準となる長さを基準長として
定め、前記標識群を構成する隣り合う各反射部を、この
基準長の整数倍の距離だけ離間してそれぞれ配置するこ
とを特徴とする光線路の識別方法。1. A marker group comprising a plurality of reflectors for each optical line, and a reference reflector disposed apart from the marker group by a distance larger than the entire length of the marker group. The combination of the relative positions of the reflecting portions in the marker group is changed for each of the optical lines to provide an identification marker for identifying each optical line. By detecting the optical path difference between the reflected light at the portion and the reflected light at each of the reflective portions in the marker group using an optical interferometer, the relative position between the reference reflective portion and each of the reflective portions in the marker group is determined. An optical line identification method for detecting and identifying each of the optical lines based on the detection result, wherein a reference length of an interval between the reflection portions is determined as a reference length, and a neighboring length constituting the marker group is determined. Each matching part is separated by an integer multiple of this reference length. Method of identifying an optical line, characterized in that arranged in between. 【請求項２】 光線路のそれぞれに分岐線路を付加し、
これら各分岐線路に、複数個の反射部で構成される標識
群と、この標識群の全長に比べて大なる距離だけこの標
識群から離間して配置される基準反射部とを設け、これ
ら各光線路毎に前記標識群における各反射部の相対位置
の組み合わせを変えて、各光線路を識別する識別標識と
し、 これらの光線路に対して検査光を入射して前記基準反射
部での反射光と前記標識群における各反射部での反射光
との光路差を光干渉計を用いて検出することにより、前
記基準反射部と前記標識群における各反射部との相対位
置を検出し、その検出結果に基づいて前記各光線路を識
別する光線路の識別方法であって、 前記反射部同士の間隔の基準となる長さを基準長として
定め、前記標識群を構成する隣り合う各反射部を、この
基準長の整数倍の距離だけ離間してそれぞれ配置するこ
とを特徴とする光線路の識別方法。2. A branch line is added to each of the optical lines,
Each of these branch lines is provided with a marker group composed of a plurality of reflectors, and a reference reflector disposed apart from the marker group by a distance larger than the entire length of the marker group. By changing the combination of the relative positions of the respective reflection portions in the marker group for each light line, it becomes an identification mark for identifying each light line, and inspection light is incident on these light lines and reflected by the reference reflection portion. By detecting the optical path difference between the light and the reflected light at each reflector in the marker group using an optical interferometer, the relative position between the reference reflector and each reflector in the marker group is detected, An identification method of an optical line for identifying each of the optical lines based on a detection result, wherein a length serving as a reference of an interval between the reflection portions is determined as a reference length, and each of adjacent reflection portions constituting the marker group is defined. Are separated by a distance that is an integral multiple of this reference length. Method of identifying an optical line, characterized in that arranged Te. 【請求項３】 光線路毎に、複数個の反射部で構成され
る標識群と、この標識群の全長に比べて大なる距離だけ
この標識群から離間して配置される基準反射部とを設
け、これらの光線路毎に前記標識群における各反射部の
相対位置の組み合わせを変えて、各光線路を識別する識
別標識とし、 これらの光線路に対してパルス状の検査光を入射して、
前記識別標識の配設位置に応じて時間的にずれて戻って
くる反射光毎に前記基準反射部での反射光と前記標識群
における各反射部での反射光との光路差を光干渉計を用
いて検出することにより、 時間的にずれて戻ってくる前記反射光毎に、前記基準反
射部と前記標識群における各反射部との相対位置及び前
記各光線路内での前記識別標識の位置を検出し、その検
出結果に基づいて前記各光線路を識別する光線路の識別
方法であって、 前記反射部同士の間隔の基準となる長さを基準長として
定め、前記標識群を構成する隣り合う各反射部を、この
基準長の整数倍の距離だけ離間してそれぞれ配置するこ
とを特徴とする光線路の識別方法。3. A marker group comprising a plurality of reflectors for each optical line and a reference reflector disposed at a distance greater than the entire length of the marker group from the marker group. The combination of the relative positions of the respective reflection portions in the marker group is changed for each of these optical lines to provide an identification marker for identifying each optical line, and pulsed inspection light is incident on these optical lines. ,
An optical interferometer is used to determine the optical path difference between the reflected light at the reference reflecting portion and the reflected light at each reflecting portion of the marker group for each reflected light that returns with a time lag according to the arrangement position of the identification sign. The relative position between the reference reflection unit and each reflection unit in the marker group and the identification mark in each optical line are detected for each of the reflected lights that return with a time lag. An optical line identification method for detecting a position and identifying each of the optical lines based on the detection result, wherein a reference length of an interval between the reflection portions is determined as a reference length, and the marker group is configured. A method for identifying an optical line, comprising: placing adjacent reflective portions separated by a distance that is an integral multiple of the reference length. 【請求項４】 光線路のそれぞれに分岐線路を付加し、
これら各分岐線路に、複数個の反射部で構成される標識
群と、この標識群の全長に比べて大なる距離だけこの標
識群から離間して配置される基準反射部とを設け、これ
ら各光線路毎に前記標識群における各反射部の相対位置
の組み合わせを変えて、各光線路を識別する識別標識と
し、 これらの光線路に対してパルス状の検査光を入射して、
前記識別標識の配設位置に応じて時間的にずれて戻って
くる反射光毎に前記基準反射部での反射光と前記標識群
における各反射部での反射光との光路差を光干渉計を用
いて検出することにより、 前記基準反射部と前記標識群における各反射部との相対
位置及び前記各光線路内での前記識別標識の位置を検出
し、その検出結果に基づいて前記各光線路を識別する光
線路の識別方法であって、 前記反射部同士の間隔の基準となる長さを基準長として
定め、前記標識群を構成する隣り合う各反射部を、この
基準長の整数倍の距離だけ離間してそれぞれ配置するこ
とを特徴とする光線路の識別方法。4. A branch line is added to each of the optical lines,
Each of these branch lines is provided with a marker group composed of a plurality of reflectors, and a reference reflector disposed apart from the marker group by a distance larger than the entire length of the marker group. By changing the combination of the relative positions of the respective reflection portions in the marker group for each light line, and as an identification mark for identifying each light line, a pulse-like inspection light is incident on these light lines,
An optical interferometer is used to determine the optical path difference between the reflected light at the reference reflecting portion and the reflected light at each reflecting portion of the marker group for each reflected light that returns with a time lag according to the arrangement position of the identification sign. By detecting the relative position of the reference reflection portion and each reflection portion in the marker group and the position of the identification mark in each of the optical lines, and based on the detection result, each of the light beams An identification method of an optical line for identifying a path, wherein a length serving as a reference of the interval between the reflection portions is determined as a reference length, and each of the adjacent reflection portions constituting the marker group is an integral multiple of the reference length. A method for identifying an optical line, wherein the optical lines are arranged at a distance of each other. 【請求項５】 前記基準反射部と前記各反射部との光路
差をマイケルソン干渉計を用いてそれぞれ測定し、その
測定した光路差に基づき、前記標識群を構成する各反射
部の相対位置を検出することを特徴とする請求項１から
４のいずれかに記載の光線路の識別方法。5. An optical path difference between the reference reflection section and each of the reflection sections is measured using a Michelson interferometer, and based on the measured optical path difference, a relative position of each reflection section constituting the marker group. The method for identifying an optical line according to any one of claims 1 to 4, wherein the optical path is detected. 【請求項６】 前記基準反射部と前記各反射部との光路
差をマッハ・ツェンダー干渉計を用いてそれぞれ測定
し、その測定した光路差に基づき、前記標識群を構成す
る各反射部の相対位置を検出することを特徴とする請求
項１から４のいずれかに記載の光線路の識別方法。6. An optical path difference between the reference reflection section and each of the reflection sections is measured using a Mach-Zehnder interferometer, and based on the measured optical path difference, a relative position of each reflection section constituting the marker group is measured. The method for identifying an optical line according to any one of claims 1 to 4, wherein the position is detected. 【請求項７】 前記基準反射部と前記各反射部との光路
差をフィゾー干渉計を用いてそれぞれ測定し、その測定
した光路差に基づき、前記標識群を構成する各反射部の
相対位置を検出することを特徴とする請求項１から４の
いずれかに記載の光線路の識別方法。7. An optical path difference between the reference reflecting section and each of the reflecting sections is measured using a Fizeau interferometer, and a relative position of each reflecting section constituting the marker group is determined based on the measured optical path difference. The method for identifying an optical line according to claim 1, wherein the optical line is detected. 【請求項８】 前記光線路又は前記分岐線路における信
号伝送路の一部を切断して微小間隙を形成し、この信号
伝送路中に屈折率の不連続部位を設けることで、前記基
準反射部及び前記標識群の各反射部を形成することを特
徴とする請求項５から７のいずれかに記載の光線路の識
別方法。8. The reference reflection section by cutting a part of a signal transmission line in the optical line or the branch line to form a minute gap and providing a discontinuous portion of a refractive index in the signal transmission line. The method according to any one of claims 5 to 7, wherein each reflecting portion of the marker group is formed. 【請求項９】 前記光線路又は前記分岐線路の信号伝送
路中に中空領域を形成し、この信号伝送路中に屈折率の
不連続部位を設けることで、前記基準反射部及び前記標
識群の各反射部を形成することを特徴とする請求項５か
ら７のいずれかに記載の光線路の識別方法。9. A hollow region is formed in a signal transmission line of the optical line or the branch line, and a discontinuous portion of a refractive index is provided in the signal transmission line, so that the reference reflection portion and the marker group are separated. The method for identifying an optical line according to any one of claims 5 to 7, wherein each reflecting portion is formed.