JP3210846B2 - Sheet-shaped object dent detection method and sheet-shaped object dent detection device - Google Patents

Sheet-shaped object dent detection method and sheet-shaped object dent detection device

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JP3210846B2
JP3210846B2 JP27476895A JP27476895A JP3210846B2 JP 3210846 B2 JP3210846 B2 JP 3210846B2 JP 27476895 A JP27476895 A JP 27476895A JP 27476895 A JP27476895 A JP 27476895A JP 3210846 B2 JP3210846 B2 JP 3210846B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、走行するシート状
物に含まれるくぼみを検出する方法に関し、特に人工大
理石に含まれるピッツといわれるくぼみ(凹部)を検出
する方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for detecting pits contained in a traveling sheet, and more particularly to a method for detecting pits (recesses) called artificial pits contained in artificial marble.

【0002】[0002]

【従来の技術】人工大理石の表面にはくぼみがあるが、
これは人工大理石の表面を研磨したとき、表面付近の内
部に混入していた泡が空洞、すなわちくぼみ(ピッツ)
となったものである。人工大理石に含まれるかかるピッ
ツの検査は、従来、目視により行われていた。なお、シ
ート状物の欠陥検査方法として、各種の画像処理装置を
使用した方法が発表されているが、人工大理石に含まれ
るピッツの検査を自動化した方法については、見当らな
い。また、本発明者の一部はフィルムや不織布などの薄
いシート状物の欠陥検査装置を開発し、既に特許出願し
ている(特開平5−332950号公報及び特開平6−
11458号公報参照)。
2. Description of the Related Art The surface of artificial marble has depressions,
This is because when the surface of the artificial marble is polished, the bubbles that have entered inside the vicinity of the surface become hollow, that is, pits.
It has become. Inspection of such pits contained in artificial marble has hitherto been performed visually. Although a method using various image processing devices has been disclosed as a defect inspection method for a sheet-like material, there is no method for automatically inspecting pits contained in artificial marble. In addition, some of the present inventors have developed a defect inspection apparatus for a thin sheet such as a film or a nonwoven fabric, and have already applied for a patent (Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 5-332950 and 6-332).
No. 11458).

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記の従来の人工大理
石のピッツ検査方法は、目視判定であるため、作業性が
悪く、検出精度も個人差が出て、不安定であった。ま
た、本発明者らが先発明した上記欠陥検査装置を、人工
大理石のくぼみ検出に応用した場合、次の問題があっ
た。
However, the above-mentioned conventional method for inspecting artificial marble Pits involves visual judgment, so that workability is poor, detection accuracy varies among individuals, and the method is unstable. In addition, when the above-described defect inspection apparatus invented by the present inventors is applied to the detection of depressions in artificial marble, there are the following problems.

【0004】1)照明を工夫し、人工大理石表面のくぼ
み部分によって影を作ることにより、くぼみを暗欠陥と
して検出しようとする場合は、検査対象に、各種の流れ
模様があると不具合が生じる。すなわち、反射光の強度
の大小によって検出する方法では黒い模様と、くぼみに
よる影とを区別することはできなくなり、くぼみを検出
しようとすると模様も検出されてしまう。
[0004] 1) When trying to detect a pit as a dark defect by devising a lighting and forming a shadow by a pit on the surface of the artificial marble, a problem occurs when there are various flow patterns in the inspection object. That is, in the method of detecting the intensity based on the intensity of the reflected light, it is impossible to distinguish a black pattern from a shadow caused by the depression, and the pattern is also detected when the depression is detected.

【0005】2)人工大理石の走行中に水平方向の振動
がある。特に、細長いエッジ部分の画像が、振動により
分割され、くぼみの画像と形態的な特徴からは区別が難
しい。
[0005] 2) There is horizontal vibration during the traveling of artificial marble. In particular, the image of the elongated edge portion is divided by vibration, and it is difficult to distinguish the image of the depression from the morphological features.

【0006】3)人工大理石には、各種の厚さの品種が
あり、走行中に振動による上下動もある。したがって、
検査すべき表面の上下動がかなりある。表面の上下動が
あると、センサの出力が変動し、くぼみの検出精度が低
下してしまう。
[0006] 3) There are various types of artificial marbles of various thicknesses, and there are also vertical movements due to vibration during traveling. Therefore,
There is considerable vertical movement of the surface to be inspected. If there is a vertical movement of the surface, the output of the sensor fluctuates, and the detection accuracy of the dent is reduced.

【0007】したがって本発明は、人工大理石などの流
れ模様を有するシート状物が、検査中に水平方向や上下
(垂直)方向に振動しても検査装置の配置、測定条件な
どを一々変更せずに、くぼみのみを精度良く検出するた
めの方法及び検出装置を提供することを目的とする。
Therefore, the present invention does not change the arrangement of the inspection apparatus, the measurement conditions, etc., even if the sheet-like object having a flow pattern such as artificial marble vibrates horizontally or vertically (vertically) during the inspection. Another object of the present invention is to provide a method and a detection device for accurately detecting only a depression.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は次のように構成されている。上下位置の変
範囲(L)で走行するシート状物を、入射角(45≦
α≦70゜)、照明幅W(W≧Lsin2α/cos
α)で、指向性の高いアパーチャ管を2灯近接して配置
したライン状照明装置で照明し、くぼみがあるときは、
その影を作り、その正反射光を、ラインセンサで受光す
ることで、検査面の上下動があっても、くぼみ部分で、
安定して影を作り、ラインセンサの出力の変化が明確に
生じるようにした。かかる構成に加えて、シート状物に
含まれる模様の部分に対応したラインセンサの出力低下
があっても、くぼみ部分のみを検出することができるよ
うに、ラインセンサの出力信号を微分処理することで、
出力変化が急激であるくぼみ部分の出力を大とし、出力
変化が緩やかな模様の出力を小とすることで、くぼみの
みを正確に検出できるようにした。
In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows. Change of vertical position
The sheet-like object traveling in the conversion range (L) is incident at an incident angle (45 ≦
α ≦ 70 °), illumination width W (W ≧ Lsin2α / cos)
In α), when a highly directional aperture tube is illuminated with a line-shaped illumination device that is placed in close proximity to two lamps ,
By making the shadow and receiving the specular reflection light with the line sensor, even if the inspection surface moves up and down,
Shadows were created stably so that the output of the line sensor changed clearly. In addition to such a configuration, even if the output of the line sensor corresponding to the pattern portion included in the sheet-shaped object is reduced, the output signal of the line sensor is differentiated so that only the concave portion can be detected. so,
By increasing the output of the recessed portion where the output change is abrupt and increasing the output of the pattern with a gradual output change, it is possible to accurately detect only the recessed portion.

【0009】なお、上記の構成では、シート状物のエッ
ジ部分に対応する出力が大となる。シート状物は全面検
査が必要であるため、エッジ部分も検査範囲に含めるこ
とが必要となる。通常は、エッジ全体が検出されるた
め、大きさを測定することで、くぼみと区別することが
可能である。しかし、シート状物に水平方向の振動があ
る場合は、エッジ部分の一部の画像が分離して、くぼみ
と形態的な特徴からは区別が難しくなり、誤判定を生じ
ることになる。このため、微分処理された信号を、予め
設定した値と比較して2値化し、次いで、ランレングス
符号化を行い、前記ランレングス符号に対して、所定の
値で膨張処理しながら連結性処理を行うことで、エッジ
部分の分離した画像を、エッジと判定し、くぼみと区別
できるようにしている。
In the above configuration, the output corresponding to the edge portion of the sheet is large. Since the sheet-like material needs to be inspected over its entire surface, it is necessary to include the edge portion in the inspection range. Normally, the entire edge is detected, so that it is possible to distinguish the pit from the pit by measuring the size. However, when there is horizontal vibration in the sheet-like object, a part of the image of the edge portion is separated, and it is difficult to distinguish from the dent and the morphological feature, and erroneous determination occurs. For this reason, the signal subjected to the differentiation processing is binarized by comparing it with a preset value, then run-length coding is performed, and the connection processing is performed on the run-length code while performing expansion processing with a predetermined value. Is performed, an image in which an edge portion is separated is determined as an edge, and can be distinguished from a dent.

【0010】すなわち本発明によれば、一方の表面のく
ぼみを検出すべきシート状物を走行せしめるステップ
と、前記表面に対して入射角α(45≦α≦70゜)
照明幅Wで指向性の高い光を照射するものであって、
記シート状物の品種又は規格の違いにより、又は振動に
より変化する前記表面の上下位置の変化範囲をL(L≧
10mm)とするとき、前記WがW≧Lsin2α/c
osαで与えられるライン状照明装置により光を照射
し、前記表面にくぼみがあるときは、その影を作るステ
ップと、この照射光が前記表面にて反射して得られる正
反射光をラインセンサにて受光するステップと、前記ラ
インセンサの出力信号を微分処理するステップと、前記
微分処理により得られた信号を所定値と比較して2値化
するステップと、前記2値化された信号についてランレ
ングス符号化を行うステップと、前記ランレングス符号
化により得られたランレングス符号について膨張処理を
行いながら複数のラインにまたがる連結性処理を行うス
テップとを、有するシート状物のくぼみ検出方法が提供
される。
That is, according to the present invention, a step of running a sheet-like object whose dent on one surface is to be detected is performed, and an incident angle α (45 ≦ α ≦ 70 °) with respect to the surface
It is one that irradiates a highly directional light illumination width W, before
Due to differences in the type or standard of the sheet-like material, or due to vibration
The range of variation of the vertical position of the surface L (L ≧ be more changes
10 mm) , W is W ≧ Lsin2α / c
irradiating light through a line-shaped illumination device given by osα
When there is a depression on the surface, a step of forming a shadow thereof , and a step of receiving regular reflection light obtained by reflecting the irradiation light on the surface with a line sensor, A step of differentiating the output signal of the line sensor, a step of comparing the signal obtained by the differentiating processing with a predetermined value to binarize, and a step of performing run-length encoding on the binarized signal And performing a connectivity process over a plurality of lines while performing expansion processing on the run-length code obtained by the run-length encoding.

【0011】さらに本発明によれば、一方の表面のくぼ
みを検出すべきシート状物を走行せしめる手段と、前記
表面に対して入射角α(45≦α≦70゜)、照明幅W
で光を照射するものであって、前記シート状物の品種又
は規格の違いにより、又は振動により変化する前記表面
の上下位置の変化範囲をL(L≧10mm)とすると
き、前記WがW≧Lsin2α/cosαで与えられる
光を照射し、前記表面にくぼみがあるときは、その影を
作るよう構成され、アパーチャ管2灯近接して配置
れたライン状照明装置と、前記ライン状照明装置からの
照射光が前記表面にて反射して得られる正反射光を受光
するラインセンサと、前記ラインセンサの出力信号を微
分処理する手段と、前記微分処理により得られた信号を
所定値と比較して2値化する手段と、前記2値化された
信号についてランレングス符号化を行う手段と、前記ラ
ンレングス符号化により得られたランレングス符号につ
いて膨張処理を行いながら複数のラインにまたがる連結
性処理を行う手段とを、有するシート状物のくぼみ検出
装置が提供される。
Further, according to the present invention, means for running a sheet-like object to be detected for depression on one surface, an incident angle α (45 ≦ α ≦ 70 °) with respect to the surface, and an illumination width W
And irradiates the light with the kind of the sheet-like material.
W is given by W ≧ Lsin2α / cosα, where L (L ≧ 10 mm) is the change range of the vertical position of the surface that changes due to differences in standards or due to vibration.
Irradiate light and, if there is a depression on the surface, cast the shadow
And two aperture tubes are placed in close proximity to each other.
A linear illumination device, a line sensor which irradiates light from the linear illumination device receives the specularly reflected light obtained by reflection at said surface, means for differentiating the output signal of the line sensor, Means for comparing the signal obtained by the differential processing with a predetermined value to binarize the signal; means for performing run-length encoding on the binarized signal; and run-length encoding obtained by the run-length encoding. Means for performing a connectivity process over a plurality of lines while performing an expansion process on a code.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下図面と共に、本発明のシート
状物のくぼみ検出方法及びシート状物のくぼみ検出装置
の実施の形態を好ましい実施例によって説明する。図1
の(A)は、本発明の好ましい実施例を模式的に示す図
であり図1の(B)は後述する照明幅Wを導く手法を説
明する図1(A)の部分詳細図である。複数の回転可能
なローラ1が並べて配置され、この上を検査対象2が図
中左方向へ走行するものとする。検査対象2は人工大理
石シートであり、そのサイズは例えば幅760mm、長
さ1500〜3680mm、厚さ3〜19mmである。
ここで長さと厚さに範囲があるのは、複数種類の人工大
理石シートの規格の違いによるものであり、同一規格の
シートでのバラツキではない。検査対象2はローラ1上
を走行するとき、わずかに振動する。検査対象2の上下
方向の振動の大きさは5mm以下である。検査面の上下
動(位置の変化範囲)は、(19−3)+=21であ
るので上記の例では21mm以下となる。また、検査対
象2の表面には、黒い流れ模様もある。照明装置3とし
ては、高周波点灯蛍光灯を検査対象2に対して入射角6
0゜で設置している。照明幅Wは図1の(B)に示すよ
うに照明装置3から出射される光線の光軸と直角方向に
測った実効幅であり、シート状物の幅方向の寸法のこと
ではない。照明装置3による照明幅Wは次の式で求めら
れる。W≧Lsin2α/cosα ここで、L=21
mmとするとW=21sin120゜/cos60゜=
36.4(mm)となり、照明幅Wは36.4mm以上
必要となることがわかる。そこで、照明装置3として、
蛍光管を2灯近接して配置している。また、検査対象2
のくぼみ部分に、暗い影を作るようにするため、照明装
置3には光の指向性が高いアパーチャ管を使用してい
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the method for detecting a dent of a sheet and the apparatus for detecting a dent of a sheet according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG.
(A) is a diagram schematically showing a preferred embodiment of the present invention, and (B) of FIG. 1 is a partial detailed view of FIG. 1 (A) for explaining a method of deriving an illumination width W described later. It is assumed that a plurality of rotatable rollers 1 are arranged side by side, and that the inspection target 2 travels to the left in the drawing. The inspection target 2 is an artificial marble sheet, and its size is, for example, 760 mm in width, 1500 to 3680 mm in length, and 3 to 19 mm in thickness.
Here, the range of the length and the thickness is due to the difference in the standard of a plurality of types of artificial marble sheets, and is not the variation between sheets of the same standard. The test object 2 slightly vibrates when traveling on the roller 1. The magnitude of the vertical vibration of the inspection target 2 is 5 mm or less. Since the vertical movement (position change range) of the inspection surface is (19-3) + 5 = 21, it is 21 mm or less in the above example. The surface of the inspection target 2 also has a black flowing pattern. As the illumination device 3, a high-frequency lighting fluorescent lamp is incident on the inspection object 2 at an incident angle of 6 degrees.
It is installed at 0 ゜. The illumination width W is an effective width measured in a direction perpendicular to the optical axis of the light beam emitted from the illumination device 3 as shown in FIG. 1B, and is not a dimension in the width direction of the sheet. The illumination width W of the illumination device 3 is obtained by the following equation. W ≧ Lsin2α / cosα where L = 21
mm = W = 21 sin120 ゜ / cos60 ゜ =
36.4 (mm), which indicates that the illumination width W is required to be 36.4 mm or more. Therefore, as the lighting device 3,
Two fluorescent tubes are arranged close to each other. In addition, inspection object 2
In order to create a dark shadow in the recessed portion of the light, an aperture tube having high directivity of light is used for the illumination device 3.

【0013】なお、上記幅Wは次のように導かれる。The width W is derived as follows.

【数1】C=L/cosα W=C・cosγ γ=90−(180−2α)=2α−90 W=Lcos(2α−90)/cosα=Lsin2α
/cosα
C = L / cos α W = C · cos γ γ = 90− (180−2α) = 2α−90 W = Lcos (2α−90) / cos α = Lsin2α
/ Cosα

【0014】入射角αを大きくするほど、検査対象2の
正常部とくぼみ部分の明暗差が大となるが、入射角αを
大きくするほど、照明幅Wを大きくする必要がある。入
射角αは45°〜70の範囲でくぼみを検出できるが、
照明幅Wを考慮すると、α=60゜程度にすることが望
ましい。受光素子であるラインセンサ4として三菱レイ
ヨン(株)製ラインCCDカメラ(型名 SCC−50
00)を3台使用している。このラインCCDカメラ
は、素子数 5000、クロック 20MHzである。
ラインCCDカメラ4は、受光角β=60°で設置され
ていて、検査対象2からの正反射光を受光するようにし
ている。ラインCCDカメラ4は、検査対象2の幅方向
に、3台設置し、走行する検査対象2を、分解能0.1
mm/素子で読み取っている。
As the incident angle α increases, the difference in brightness between the normal portion and the concave portion of the inspection object 2 increases, but as the incident angle α increases, the illumination width W needs to be increased. The dent can be detected in the range of the incident angle α of 45 ° to 70,
Considering the illumination width W, it is desirable to set α to about 60 °. A line CCD camera (model name: SCC-50) manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd.
00) are used. This line CCD camera has 5000 elements and a clock of 20 MHz.
The line CCD camera 4 is installed at a light receiving angle β = 60 ° so as to receive specularly reflected light from the inspection target 2. Three line CCD cameras 4 are installed in the width direction of the inspection target 2, and the traveling inspection target 2 has a resolution of 0.1.
mm / element.

【0015】ラインCCDカメラ4の出力信号は、微分
処理回路5へ送られて微分処理されることにより、検査
対象2に含まれる各種の模様の影響を防止している。微
分処理回路5の出力信号は、画像処理装置6へ送られ
る。この画像処理装置6としては三菱レイヨン(株)製
造のLSC−100型を用いることができる。微分処理
出力回路5の出力は、画像処理装置6により、8ビット
でA/D変換された後、予め設定された閾値で、2値化
され、データ圧縮のためランレングス符号化される。次
いで、連続する走査ラインに含まれるランレングス符号
の連結性をチェックしながら、くぼみの測定が行われ
る。
The output signal of the line CCD camera 4 is sent to a differentiation processing circuit 5 and subjected to differentiation processing, thereby preventing the influence of various patterns included in the inspection object 2. The output signal of the differentiation processing circuit 5 is sent to the image processing device 6. As the image processing device 6, LSC-100 manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd. can be used. The output of the differential processing output circuit 5 is A / D-converted by 8 bits by the image processing device 6, then binarized by a preset threshold value, and run-length encoded for data compression. Next, the measurement of the depression is performed while checking the connectivity of the run-length codes included in the continuous scan lines.

【0016】ホストコンピュータ7は画像処理装置6の
出力信号を受けて測定結果を基に、ディスプレイへの表
示、生産ラインへの出力などを行う。
The host computer 7 receives an output signal of the image processing device 6 and performs display on a display, output to a production line, and the like based on the measurement result.

【0017】図2は本発明における画像処理の手順を説
明するための一連の図である。(a)は検査対象2の内
容を示している。8aはピッツ、9aは黒い流れ模様、
10aはエッジ部分である。また、矢印付き横線は、ラ
インCCDカメラ4の読み取り位置を示している。
(b)はラインCCDカメラ4の出力信号のレベルを示
している。8bはピッツ部分の出力であり、照明装置3
により発生した影のため、出力が低下している。9bは
黒い流れ模様9aの部分の出力である。明暗の変化はピ
ッツ部分8aよりも緩やかであるが、ピッツ部分に近い
値まで出力が低下している。10bはエッジ部分10a
の出力であり、ピッツ部分8aと同様に出力が急激に低
下している。
FIG. 2 is a series of diagrams for explaining the procedure of image processing in the present invention. (A) shows the contents of the inspection target 2. 8a is pits, 9a is a black flowing pattern,
10a is an edge portion. A horizontal line with an arrow indicates a reading position of the line CCD camera 4.
(B) shows the level of the output signal of the line CCD camera 4. 8b is the output of the pits part, and the lighting device 3
The output has been reduced due to the shadow generated by. 9b is the output of the black flow pattern 9a. The change in lightness and darkness is more gradual than in the pits portion 8a, but the output has decreased to a value close to the pits portion. 10b is an edge portion 10a
The output sharply drops as in the case of the Pitts portion 8a.

【0018】(c)は微分処理回路5の出力信号レベル
を示している。8cはピッツ部分8aの出力である。9
cは黒い流れ模様9aの部分の出力であり、ピッツ部分
8aと比較して出力変化は少ない。10cはエッジ部分
10cの出力であり、ピッツ部分8aと同様、出力変化
が大である。(d)は、(c)の…部分で2値化された
信号を示している。ピッツ8d、エッジ10d部分のみ
が「1」となっている様子が示されている。
FIG. 3C shows the output signal level of the differential processing circuit 5. 8c is the output of the pits portion 8a. 9
c is the output of the portion of the black flow pattern 9a, and the output change is small compared to the Pitts portion 8a. Reference numeral 10c denotes an output of the edge portion 10c, and the output changes largely as in the case of the Pitt portion 8a. (D) shows a signal binarized in the part of (c). It is shown that only the Pitts 8d and the edge 10d are "1".

【0019】図3は本発明による画像処理の例を説明す
るための図である。(a)は検査対象2と検査範囲11
を示している。(b)は図2(d)の2値信号による画
像を示して、「1」の部分を黒で表示していて、黒で表
示されている部分は、ピッツ8とエッジ101、102
ある。エッジは通常101のように細長く検出されるた
め、そのサイズなどから、ピッツ8と区別することが可
能である。しかし、走行中の検査対象2の振動により、
エッジ部分の画像が一部分離し、102のように短い部
分となると、ピッツ8と区別することが難しくなる。
FIG. 3 is a diagram for explaining an example of image processing according to the present invention. (A) shows the inspection target 2 and the inspection range 11
Is shown. FIG. 2B shows an image based on the binary signal shown in FIG. 2D, in which “1” is displayed in black, and the portions displayed in black are the pits 8 and the edges 10 1 , 10 2. It is. Since the edge is usually detected to be elongated as 10 1 , it is possible to distinguish the edge from the Pitts 8 based on its size and the like. However, due to the vibration of the test object 2 during traveling,
If the image of the edge part is partially separated and becomes a short part such as 10 2 , it becomes difficult to distinguish it from the Pitts 8.

【0020】このため、連続する複数の走査ラインに含
まれるランレングス符号の連結性をチェックしながら、
欠陥の測定を行うとき、ランレングス符号を予め設定し
た値で、膨張させることにより、1個の画像として認識
することが可能となり、ピッツ8と区別することが可能
となる。
For this reason, while checking the connectivity of the run-length codes included in a plurality of continuous scanning lines,
When a defect is measured, by expanding the run length code with a preset value, it becomes possible to recognize the image as a single image and to distinguish it from the Pitts 8.

【0021】ここで、連結性をチェックする連結性処理
とランレングス符号の膨張処理について説明する。図4
は、図1の画像処理装置6の構造を示すブロック図、図
5は、くぼみのパターンを分類して示す説明図、図6
は、ランレングス符号をライン間で連結性処理する場合
のアルゴリズムを説明するためのフローチャート、図7
は、くぼみの判定処理を示す説明図である。
Here, connectivity processing for checking connectivity and expansion processing of run-length codes will be described. FIG.
FIG. 5 is a block diagram showing the structure of the image processing apparatus 6 shown in FIG. 1, and FIG.
FIG. 7 is a flow chart for explaining an algorithm in a case where a run-length code is subjected to connectivity processing between lines.
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a hollow determination process.

【0022】図4の画像処理装置6はA/Dコンバータ
23、コンパレータ24、ランレングス符号化回路2
5、メモリ26を有している。微分処理回路15の出力
信号は、A/Dコンバータ3により例えば8ビットのデ
ジタルデータに変換され、このデジタルデータは、メモ
リ26(閾値メモリ11)の画素毎の閾値に基づいてコ
ンパレータ24により2値化されてくぼみの幅が検出さ
れ、この2値化データがランレングス符号化回路25に
よりランレングス符号化される。
The image processing apparatus 6 shown in FIG. 4 includes an A / D converter 23, a comparator 24, a run-length encoding circuit 2
5. It has a memory 26. The output signal of the differentiation processing circuit 15 is converted into, for example, 8-bit digital data by the A / D converter 3, and the digital data is converted into binary data by the comparator 24 based on a threshold value for each pixel of the memory 26 (threshold memory 11). The binarized data is subjected to run-length encoding by the run-length encoding circuit 25.

【0023】メモリ26は論理指定部27と、ライン数
指定部28と、ランレングスバッファ29と、ランレン
グスバッファ系列切替指定部30と、閾値メモリ31と
基準値メモリ12を有し、CPU(中央処理装置)15
の主メモリが用いられる。論理指定部7には予め、検出
されるくぼみが白(=「0」)か黒(=「1」)かに応
じてセットされ、ライン数指定部8には予め、ランレン
グス符号化回路5の処理単位のライン数がセットされ
る。ランレングスバッファ9は、例えば128kBの容
量のものが2系統用いられ、ランレングス符号化回路5
が符号化し、CPU15が連結性処理するために各系統
が交互に用いられる。ランレングスバッファ系列切替指
定部10には、ランレングス符号化回路5が用いるラン
レングスバッファ9の系統がセットされる。
The memory 26 has a logical designation section 27, a line number designation section 28, a run length buffer 29, a run length buffer series switching designation section 30, a threshold memory 31 and a reference value memory 12, and a CPU (central memory). Processing equipment) 15
Main memory is used. The logic specifying unit 7 is set in advance according to whether the detected dent is white (= “0”) or black (= “1”), and the line number specifying unit 8 is set in advance with the run-length encoding circuit 5. Is set. As the run-length buffer 9, for example, two systems each having a capacity of 128 kB are used.
Are encoded, and the respective systems are used alternately for the CPU 15 to perform the connectivity processing. The system of the run-length buffer 9 used by the run-length encoding circuit 5 is set in the run-length buffer sequence switch designating unit 10.

【0024】[0024]

【0025】この画像処理装置6はまた、後述するよう
な連結性処理とくぼみの個数の判定を行うための検査プ
ログラムを実行するCPU15と、この検査プログラム
等が予め格納されたROM(リードオンリメモリ)14
と、CPU15の作業エリア等を有するRAM(ランダ
ムアクセスメモリ)13と、ホストコンピュータ7との
間で検査条件や検査結果等のデータを転送するためのG
PIBインタフェース16を有する。ホストコンピュー
タ7では、このくぼみ検査装置の検査条件が設定された
り、検査結果が表示等される。
The image processing apparatus 6 also includes a CPU 15 for executing an inspection program for performing connectivity processing and determination of the number of depressions as described later, and a ROM (read only memory) in which the inspection program and the like are stored in advance. ) 14
And a RAM (random access memory) 13 having a work area for the CPU 15 and a G for transferring data such as inspection conditions and inspection results between the host computer 7.
It has a PIB interface 16. In the host computer 7, the inspection conditions of the dent inspection apparatus are set, and the inspection result is displayed.

【0026】次に、検査処理について説明する。走行す
る帯状の検査対象2の表面をラインCCDカメラ4が被
検査物の幅方向に走査して一次元画像を読み取った場
合、その読み取りにより得られるアナログ信号のレベル
は、例えばくぼみの位置においてはくぼみの幅と反射レ
ベルに応じて低くなる。なお、ラインCCDカメラ4の
出力信号レベルが画素毎に異なるが、これはラインCC
Dカメラ4の素子間の感度ばらつきや、照明ムラやレン
ズの歪みに基づくものであり、微分処理回路5の出力信
号についてコンパレータ24が閾値メモリ31の各画素
毎の閾値により2値化することにより補正される。
Next, the inspection processing will be described. When the line CCD camera 4 scans the surface of the traveling belt-shaped inspection object 2 in the width direction of the inspection object and reads a one-dimensional image, the level of the analog signal obtained by the reading is, for example, at the position of the depression. It decreases depending on the width of the depression and the reflection level. The output signal level of the line CCD camera 4 differs for each pixel.
It is based on sensitivity variations among the elements of the D camera 4, illumination unevenness and lens distortion. The output signal of the differential processing circuit 5 is binarized by the comparator 24 using a threshold value for each pixel in the threshold value memory 31. Will be corrected.

【0027】コンパレータ24により2値化されたデー
タは、ランレングス符号化回路25により符号化され、
CPU15により後述するような連結性処理が行われ
る。なお連結性処理とは、複数の連続する走査ラインに
おけるデータ間で比較しつつ処理することをいう。ここ
で、記号s(=スタート)をくぼみの始点座標とし、記
号e(=エンド)を終点座標とすると、くぼみデータは
次のようなランレングス符号で表される。 ais:n−1行目のi番目のくぼみの始点座標 aie:n−1行目のi番目のくぼみの終点座標 bjs:n行目のj番目のくぼみの始点座標 bje:n行目のj番目のくぼみの終点座標
The data binarized by the comparator 24 is encoded by a run-length encoding circuit 25.
The CPU 15 performs a connectivity process as described below. Note that the connectivity processing refers to processing while comparing data on a plurality of continuous scan lines. Here, assuming that the symbol s (= start) is the coordinate of the start point of the hollow and the symbol e (= end) is the coordinate of the end point, the hollow data is represented by the following run-length code. a is : Coordinate of the starting point of the i-th hollow in the (n-1) th row a ie : Coordinate of the end point of the i-th hollow in the (n-1) th row b js : Coordinate of the starting point of the j-th hollow in the n-th row b je : n End point coordinates of the j-th hollow in the row

【0028】図5は一例として2行分(2走査ライン)
のくぼみデータを示し、このくぼみは4種類のパターン
に分類される。すなわち、連続パターンでは、1つのく
ぼみが行間で図5中に矢印で示す副走査方向に連続して
おり、収束パターンでは、前の行の複数(図では2個)
のくぼみが次の行において1つのくぼみに収束してお
り、分散パターンでは、前の行の1つのくぼみが次の行
において複数(図では2個)のくぼみに分散しており、
消滅パターンでは前の行の1つのくぼみが次の行におい
て消滅している。
FIG. 5 shows two rows (two scanning lines) as an example.
And the depression data is classified into four types of patterns. That is, in the continuous pattern, one dent is continuous between rows in the sub-scanning direction indicated by the arrow in FIG. 5, and in the convergence pattern, a plurality of (two in the figure)
Are converged to one dent in the next row, and in the distribution pattern, one dent in the previous row is dispersed in a plurality of (two in the figure) dents in the next row;
In the disappearance pattern, one dent in the previous row has disappeared in the next row.

【0029】図6は、このパターンを分類するために、
n−1行目とn行目のくぼみデータのパターンを比較
し、連続、収束、分散、消滅の4つのパターンに分類
し、消滅時にそのくぼみの測定が終了する連結性処理の
アルゴリズムを示すフローチャートである。まず、ステ
ップS1においてn−1行目のくぼみを示すカウンタi
を「0」にセットし、n行目のくぼみを示すカウンタj
を「1」にセットし、続くステップS2においてカウン
タiを1つインクリメントし、また、カウンタjを1つ
デクリメントする。
FIG. 6 shows that in order to classify this pattern,
A flowchart showing an algorithm of the connectivity process in which the patterns of the depression data in the (n-1) th row and the nth row are compared, classified into four patterns of continuous, convergence, dispersion, and disappearance, and the measurement of the depression is completed when the disappearance occurs. It is. First, in step S1, a counter i indicating the depression of the (n-1) th row
Is set to “0”, and a counter j indicating the depression of the n-th row
Is set to "1", and in the subsequent step S2, the counter i is incremented by one and the counter j is decremented by one.

【0030】そして、n−1行目のi番目のくぼみの始
点座標aisがCCDカメラ4の画素数+1でない場合に
ステップS4以下に進み、連続、収束、分散、消滅の4
つのパターンに分類する処理を実行する。なお、この処
理では上記ランレングス符号に対してくぼみの幅が中間
的に用いられる。 aia=aie−ais(n−1行目のi番目のくぼみの幅) bja=bje−bjs(n行目のj番目のくぼみの幅)
If the starting point coordinate a is of the i-th dent in the (n-1) -th row is not the number of pixels of the CCD camera 4 + 1, the process proceeds to step S4 and the following steps.
Execute the process of classifying into two patterns. In this process, the width of the depression is used intermediately for the run-length code. a ia = a ie -a is (width of the i-th depression in the (n-1) th row) b ja = b je -b js (width of the j-th depression in the n-th row)

【0031】まず、ステップS4においてn行目のj番
目のくぼみの幅bjaが「0」か否かを判別し、「0」の
場合にステップS5においてカウンタjを1つデクリメ
ントしてステップS4に戻り、カウンタjが示すくぼみ
の幅bjaが「0」でなくなるまでこの処理を繰り返す。
そして、くぼみの幅bjaが「0」でなくなると、ステッ
プS6においてbjs<aie+w、かつbje>ais−w
か、すなわちn−1行目のくぼみの幅を左右にそれぞれ
−w、+w画素分だけ膨張した後ai=bjか否かを判別
し、ai=bjの場合に ステップS7において収束パタ
ーンと判定し、ステップS13に進む。なお、このステ
ップS7では、後述するような副走査方向の膨張処理を
主走査方向と同様に共に行って判定する。
First, in step S4, it is determined whether or not the width b ja of the j-th dent of the n-th row is "0". If it is "0", the counter j is decremented by one in step S5, and step S4 is performed. The process is repeated until the width b ja of the depression indicated by the counter j is no longer “0”.
When the depression of the width b niv is not "0", b js in step S6 <a ie Tasuw,katsub je> a is -w
Or, that each width of the recess of the n-1 th row in the left-right -w, to determine a i = b j whether after expanded by + w pixels, converge at the step S7 in the case of a i = b j It is determined to be a pattern, and the process proceeds to step S13. In step S7, determination is made by performing expansion processing in the sub-scanning direction, which will be described later, in the same manner as in the main scanning direction.

【0032】ステップS6においてai=bjでない場合
には、ステップ8においてカウンタjを1つインクリメ
ントした後、ステップS9においてくぼみの幅bja
「0」か否かを判別し、「0」の場合にステップS8に
戻り、カウンタjが示すくぼみの幅bjaが「0」でなく
なるまでこの処理を繰り返す。そして、くぼみの幅bja
が「0」でなくなると、ステップS10においてステッ
プS6に示す主走査方向と副走査方向の膨張処理を行っ
た後ai=bjか否かを判別し、ai=bjでない場合にス
テップS11において消滅パターンと判定し、ステップ
S2に戻る。
If a i = b j is not satisfied in step S6, the counter j is incremented by one in step 8, and it is determined in step S9 whether or not the width b ja of the depression is “0”. In this case, the process returns to step S8, and this process is repeated until the width b ja of the depression indicated by the counter j is no longer “0”. And the width of the recess b ja
Step If but it becomes not "0", it is determined whether or not a i = b j after expansion process in the main scanning direction and the sub-scanning direction shown in step S6 in step S10, not a i = b j In S11, the pattern is determined to be the disappearance pattern, and the process returns to step S2.

【0033】ステップS10においてai=bjの場合に
は、続くステップS12において連続パターンと判定す
る。ついで、ステップS13においてカウンタjをイン
クリメントした後、ステップS14においてくぼみの幅
jaが「0」か否かを判別し、「0」の場合にステップ
S13に戻り、カウンタjが示すくぼみの幅bja
「0」でなくなるまでこの処理を繰り返す。そして、く
ぼみの幅bjaが「0」でなくなると、ステップS15に
おいて同様な膨張処理を行った後ai=bjか否かを同様
に判別し、ai=bjの場合にステップS16において分
散パターンと判定する。
[0033] In the case of a i = b j in step S10, determines that the continuous pattern in the subsequent step S12. Next, after incrementing the counter j in step S13, it is determined in step S14 whether or not the recess width b ja is “0”. If the recess width b ja is “0”, the process returns to step S13, and the recess width b indicated by the counter j is determined. This process is repeated until ja is no longer “0”. When the depression of the width b niv is not "0", similarly to determine whether a i = b j was performed similarly to expansion processing in step S15, step S16 in the case of a i = b j Is determined to be a dispersion pattern.

【0034】そして、ステップS17においてカウンタ
jをインクリメントした後ステップS15に戻り、ai
=bjでない場合にステップS15からステップS2に
戻り、ステップS2〜S17においてn行目のj番目の
くぼみについての処理を繰り返す。
After the counter j is incremented in step S17, the process returns to step S15, where a i
If not = b j , the process returns from step S15 to step S2, and repeats the processing for the j-th depression in the n-th row in steps S2 to S17.

【0035】そして、ステップS3においてn−1行目
のi番目のくぼみの始点座標aisがCCDカメラ4の画
素数+1になると、1行分の連結性処理を終了してステ
ップS3からステップS18に分岐し、n行目のランレ
ングス符号bjをn−1行目の ランレングス符号ai
移動する。図6においてai=bjは、n行目のランレン
グス符号bjとn−1行目のランレングス符号aiが連
結、すなわち1つのくぼみであることを示している。
When the starting point coordinate a is of the i-th dent of the (n-1) th row becomes equal to the number of pixels of the CCD camera 4 + 1 in step S3, the connectivity processing for one row is completed, and steps S3 to S18 are completed. And moves the run-length code b j in the n-th row to the run-length code a i in the (n−1) -th row. In FIG. 6, a i = b j indicates that the run-length code b j on the n-th row and the run-length code a i on the (n−1) -th row are connected, that is, one depression.

【0036】次に、図7を参照してくぼみの判定処理を
説明する。図7(a)において符号18、18′は実際
は1つのくぼみの2値画像を示し、2値化の結果ここで
は2つのくぼみとして2値化されている。また、符号1
8″は別のくぼみの2値画像を示す。したがって、くぼ
みデータ18、18′とくぼみデータ18″はそれぞ
れ、1つのくぼみとして判断されなければならない。
Next, explaining the BoMino determination process Teku with reference to FIG. In FIG. 7A, reference numerals 18 and 18 'actually represent a binary image of one depression, and as a result of the binarization, the image is binarized as two depressions. Also, reference numeral 1
8 "denotes a binary image of another depression. Therefore, each of the depression data 18, 18 'and the depression data 18" must be determined as one depression.

【0037】そこで、図7(a)に示すように濃く示さ
れるくぼみデータ18、18′、18″を主走査方向に
±w(=2)画素分、副走査方向にL(=3)画素分膨
張し、淡く示されるデータ19、19′とする。この処
理は、ステップS6、S10、S15においてランレン
グス符号の水平方向の連結性判定基準をbjs<aie
w、かつbje>ais−wとし、垂直方向の連結性判定基
準を、連結する画像が消滅後に消滅前画像を垂直方向に
L画素分継続することにより可能となり、ステップS
6、S10、S15においてイエスの場合にそれぞれ収
束、連続、分散の各パターンに分類される。すなわち、
画素膨張を施すことによって2つのくぼみと認識されて
いたものが1つのくぼみとして認識され、かつ他の離れ
たくぼみとは別個のものとして把えられている。よって
図7(a)の場合、くぼみの数のカウントは19と1
9′の2つということとなる。
Therefore, as shown in FIG. 7 (a), the hollow data 18, 18 ', 18 "shown in darkness are ± w (= 2) pixels in the main scanning direction and L (= 3) pixels in the sub-scanning direction. In this process, in steps S6, S10, and S15, the horizontal connectivity criterion of the run-length code is set to b js <a ie +
w, and b je > a is −w, and the connectivity criterion in the vertical direction is made possible by continuing the image before disappearance by L pixels in the vertical direction after the connected image disappears.
6. If YES in S10 and S15, they are classified into convergence, continuous and dispersion patterns, respectively. That is,
The two dimples that have been recognized by performing the pixel dilation are recognized as one dimple, and are recognized as being separate from the other separated dimples. Therefore, in the case of FIG. 7A, the count of the number of depressions is 19 and 1.
9 '.

【0038】図7(a)に示す画素19、19′は、消
滅時のランレングス符号を継続した場合を示し、図7
(b)に示す画素19、19′は、消滅時と1行前の状
態の変化を継続した場合を示す。図7(b)に示す場合
には、膨張画素19、19′がくぼみデータ18、1
8′の方向に均一に膨張されているので、斜め方向のく
ぼみを正確に判断することができる。以上のくぼみの処
理から明らかなように、対象が図3の(b)に示すよう
な分離した短いエッジ部分10 2 の場合、膨張処理と連
結性判定により長い直線、すなわちエッジ部分と判定で
きるのである。このように本発明の手法によれば、くぼ
みとエッジの相互識別が可能となる。
The pixels 19 and 19 'shown in FIG. 7A show the case where the run-length code at the time of disappearance is continued.
The pixels 19 and 19 'shown in (b) show the case where the state at the time of disappearance and the state change one row before have been continued. In the case shown in FIG. 7B, the inflated pixels 19, 19 '
Since it is uniformly inflated in the direction of 8 ', it is possible to accurately determine dimples in oblique directions. The above hollow
As is clear from the theory, the object is as shown in FIG.
For Do separate short edge portion 10 2, the expansion process and communication
A long straight line, that is, an edge portion
You can. Thus, according to the method of the present invention,
Only edges and edges can be identified.

【0039】そして、CPU15は、上記分類データに
基づいて検査対象2の判定結果をホストコンピュータ7
に伝送する。
Then, the CPU 15 determines the determination result of the inspection target 2 on the basis of
To be transmitted.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のシート状
物のくぼみ検出方法及びシート状物のくぼみ検出装置に
よれば、次の効果がある。 1)シート状物に各種の濃淡模様があっても、くぼみの
みを検出することができる。 2)シート状物の走行中に振動があり、エッジ部分の画
像の一部に分離が生じる場合でも、くぼみとエッジ部分
の区別を行うことが可能で、くぼみのみを検出できる。 3)各種の厚さの規格の品種があり、またシート状物が
走行中に上下に振動するが、かかる原因で検査面の上下
動があっても、くぼみの検出が可能である。
As described above, according to the method and the apparatus for detecting a dent of a sheet-like material according to the present invention, the following effects can be obtained. 1) Even if various shades are present on the sheet-like material, only the depression can be detected. 2) Even when vibration occurs during the running of the sheet-like object and separation occurs in a part of the image of the edge portion, it is possible to distinguish between the dent and the edge portion, and it is possible to detect only the dent. 3) There are varieties of various thickness standards, and the sheet-like object vibrates up and down during traveling. Even if the inspection surface moves up and down due to such a cause, the depression can be detected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のシート状物のくぼみ検出方法及びシー
ト状物のくぼみ検出装置の実施例を模式的に示す図
(A)と、照明幅Wを導く手法を説明する部分詳細図
(B)である。
FIG. 1A is a diagram schematically illustrating an embodiment of a sheet-shaped object dent detection method and a sheet-shaped object dent detection device according to the present invention, and FIG. 1B is a partial detailed diagram illustrating a method of deriving an illumination width W. ).

【図2】図1の実施例における画像処理の手順を説明す
るための図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining a procedure of image processing in the embodiment of FIG.

【図3】本発明における画像処理の方法を説明するため
の図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining an image processing method according to the present invention.

【図4】図1の画像処理装置の構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 4 is a block diagram illustrating a configuration of the image processing apparatus of FIG. 1;

【図5】くぼみのパターンを分類して示す説明図であ
る。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing the patterns of the depressions classified and shown;

【図6】ランレングス符号をライン間で連結性処理する
場合のアルゴリズムを説明するためのフローチャートで
ある。
FIG. 6 is a flowchart for explaining an algorithm in a case where run-length codes are connected between lines.

【図7】連結性処理で膨張されたくぼみデータを示す説
明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing hollow data expanded in the connectivity processing.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ローラ 2 検査対象 3 照明装置 4 ラインCCDカメラ 5 微分処理回路 6 画像処理装置 7 ホストコンピュータ 8 ピッツ 9 黒い流れ模様 10 エッジ部分 11 検査範囲 13 RAM(ランダムアクセスメモリ) 14 ROM(リードオンリーメモリ) 15 CPU(分類手段、判定手段) 16 GPIB 24 コンパレータ(2値化手段) 25 ランレングス(符号化回路) 26 メモリ 27 論理指定部 28 ライン数指定部 29 ランレングスバッファ 30 ランレングスバッファ系列切替指定部 31 閾値メモリ 32 基準値メモリ REFERENCE SIGNS LIST 1 roller 2 inspection object 3 lighting device 4 line CCD camera 5 differentiation processing circuit 6 image processing device 7 host computer 8 pits 9 black flow pattern 10 edge portion 11 inspection range 13 RAM (random access memory) 14 ROM (read only memory) 15 CPU (classification means, judgment means) 16 GPIB 24 comparator (binarization means) 25 run length (encoding circuit) 26 memory 27 logic designation section 28 number of lines designation section 29 run length buffer 30 run length buffer series switching designation section 31 Threshold value memory 32 Reference value memory

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−11458(JP,A) 特開 平7−61699(JP,A) 特開 平7−192134(JP,A) 特開 平2−36339(JP,A) 特開 平6−34571(JP,A) 特開 平7−71935(JP,A) 特開 平5−180782(JP,A) 特開 昭59−141159(JP,A) 米国特許4914308(US,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/892 G01B 11/30 G06T 1/00 400 G06T 1/00 420 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-6-11458 (JP, A) JP-A-7-61699 (JP, A) JP-A-7-192134 (JP, A) JP-A-2- 36339 (JP, A) JP-A-6-34571 (JP, A) JP-A-7-71935 (JP, A) JP-A-5-180782 (JP, A) JP-A-59-141159 (JP, A) US Patent 4,914,308 (US, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01N 21/892 G01B 11/30 G06T 1/00 400 G06T 1/00 420

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 一方の表面のくぼみを検出すべきシート
状物を走行せしめるステップと、 前記表面に対して入射角α(45≦α≦70゜)、照明
幅Wで指向性の高い光を照射するものであって、前記シ
ート状物の品種又は規格の違いにより、又は振動により
変化する前記表面の上下位置の変化範囲をL(L≧10
mm)とするとき、前記WがW≧Lsin2α/cos
αで与えられるライン状照明装置により光を照射し、前
記表面にくぼみがあるときは、その影を作るステップ
と、 この照射光が前記表面にて反射して得られる正反射光を
ラインセンサにて受光するステップと、 前記ラインセンサの出力信号を微分処理するステップ
と、 前記微分処理により得られた信号を所定値と比較して2
値化するステップと、 前記2値化された信号についてランレングス符号化を行
うステップと、 前記ランレングス符号化により得られたランレングス符
号について膨張処理を行いながら複数のラインにまたが
る連結性処理を行うステップとを、 有するシート状物のくぼみ検出方法。
1. A step of running a sheet-like object for which a dent on one surface is to be detected, and light having a high directivity with an incident angle α (45 ≦ α ≦ 70 °) and an illumination width W with respect to the surface. Irradiating, wherein
Due to differences in the type of product or standard, or due to vibration
The range of variation of the vertical position of the surface varying L (L ≧ 10
mm) , W is W ≧ Lsin2α / cos
Light is illuminated by the linear illumination device given by α,
When there is a depression on the surface, a step of forming a shadow thereof; a step of receiving regular reflection light obtained by reflecting the irradiation light on the surface by a line sensor; and differentiating an output signal of the line sensor. Processing, and comparing the signal obtained by the differentiation processing with a predetermined value,
Performing a value conversion; performing a run-length encoding on the binarized signal; and performing a connectivity process over a plurality of lines while performing an expansion process on the run-length code obtained by the run-length encoding. Performing a depression in the sheet-like object.
【請求項2】 一方の表面のくぼみを検出すべきシート
状物を走行せしめる手段と、 前記表面に対して入射角α(45≦α≦70゜)、照明
幅Wで光を照射するものであって、前記シート状物の品
種又は規格の違いにより、又は振動により変化する前記
表面の上下位置の変化範囲をL(L≧10mm)とする
とき、前記WがW≧Lsin2α/cosαで与えられ
光を照射し、前記表面にくぼみがあるときは、その影
を作るよう構成され、アパーチャ管2灯近接して配置
されたライン状照明装置と、 前記ライン状照明装置からの照射光が前記表面にて反射
して得られる正反射光を受光するラインセンサと、 前記ラインセンサの出力信号を微分処理する手段と、 前記微分処理により得られた信号を所定値と比較して2
値化する手段と、 前記2値化された信号についてランレングス符号化を行
う手段と、 前記ランレングス符号化により得られたランレングス符
号について膨張処理を行いながら複数のラインにまたが
る連結性処理を行う手段とを、 有するシート状物のくぼみ検出装置。
2. A means for running a sheet-like object to detect a depression on one surface, and irradiating the surface with light at an incident angle α (45 ≦ α ≦ 70 °) and an illumination width W. And the sheet-like article
When the change range of the vertical position of the surface that changes due to a difference in species or standard or due to vibration is L (L ≧ 10 mm) , the W is irradiated with light given by W ≧ Lsin2α / cosα , and the surface is irradiated. If there is a hollow, its shadow
The aperture tube is arranged in close proximity to two lamps
A linear illumination device, and a line sensor that receives regular reflection light obtained by reflecting the irradiation light from the linear illumination device on the surface, and a unit that differentiates an output signal of the line sensor, The signal obtained by the differential processing is compared with a predetermined value, and 2
Means for performing value conversion; means for performing run-length encoding on the binarized signal; and performing connectivity processing over a plurality of lines while performing expansion processing for the run-length code obtained by the run-length encoding. Means for detecting a depression of a sheet-like material.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5702639B2 (en) * 2011-03-25 2015-04-15 株式会社Screenホールディングス Image acquisition device for unevenness inspection, unevenness inspection device, and position determination method of irradiation unit
JP2015232472A (en) * 2014-06-09 2015-12-24 リコーエレメックス株式会社 Image inspection device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59141159A (en) * 1983-02-01 1984-08-13 Seiko Epson Corp Fluorescent lamp
JP2873450B2 (en) * 1988-07-27 1999-03-24 三菱化学株式会社 Defect inspection device using light
US4914308A (en) * 1988-12-27 1990-04-03 Eastman Kodak Company Web defect scanning apparatus with incandescent illumination means
JP3144012B2 (en) * 1992-01-07 2001-03-07 日産自動車株式会社 Work surface inspection device
US5274243A (en) * 1992-05-29 1993-12-28 Eastman Kodak Company Cylindrical allumination system for inspection of sheet material
JP3234636B2 (en) * 1992-06-25 2001-12-04 三菱レイヨン株式会社 Defect inspection equipment
JP3016687B2 (en) * 1993-07-06 2000-03-06 シチズン時計株式会社 Image processing device
JPH0761699A (en) * 1993-08-31 1995-03-07 Jieneshisu:Kk Sheet material surface inspecting device
JP2825422B2 (en) * 1993-09-07 1998-11-18 塩野義製薬株式会社 Ampoule appearance inspection apparatus and inspection method

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