JP3207323B2 - 光ファイバの試験方法 - Google Patents
光ファイバの試験方法Info
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- JP3207323B2 JP3207323B2 JP21687694A JP21687694A JP3207323B2 JP 3207323 B2 JP3207323 B2 JP 3207323B2 JP 21687694 A JP21687694 A JP 21687694A JP 21687694 A JP21687694 A JP 21687694A JP 3207323 B2 JP3207323 B2 JP 3207323B2
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- light
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、オプティカル・タイム
ドメイン・リフレクトメータ（以下、ＯＴＤＲ）による
光ファイバの試験方法、特に、通信手段として利用され
る光ファイバの伝送損失やレーリー散乱係数、後方散乱
捕集率の変動といった特性を試験する方法に関するもの
である。
ドメイン・リフレクトメータ（以下、ＯＴＤＲ）による
光ファイバの試験方法、特に、通信手段として利用され
る光ファイバの伝送損失やレーリー散乱係数、後方散乱
捕集率の変動といった特性を試験する方法に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバの特定の波長での伝送損失を
測定する手段のひとつに、ＯＴＤＲで光ファイバに入射
した光パルスの光強度波形を表示する方法がある。図６
に示されるように、光ファイバ２０の一端から光パルス
２１ａを入射させ、光パルス２１ａはファイバ２０内を
伝達する途中でレーリー散乱する。この散乱光の一部が
戻ってきて、光パルス２１ａの入射端から後方散乱光２
１ｂとして出射する。ＯＴＤＲは、光パルス２１ａが光
ファイバ２０に入射してから後方散乱光２１ｂが出射す
るまでの時間と、後方散乱光２１ｂの強度とを測定する
ものである。測定した時間を光速で割ると光パルス２１
ａの散乱位置３０が算出できる。後方散乱光２１ｂの強
度から光ファイバ２０の特性、特に伝送損失が評価でき
る。
測定する手段のひとつに、ＯＴＤＲで光ファイバに入射
した光パルスの光強度波形を表示する方法がある。図６
に示されるように、光ファイバ２０の一端から光パルス
２１ａを入射させ、光パルス２１ａはファイバ２０内を
伝達する途中でレーリー散乱する。この散乱光の一部が
戻ってきて、光パルス２１ａの入射端から後方散乱光２
１ｂとして出射する。ＯＴＤＲは、光パルス２１ａが光
ファイバ２０に入射してから後方散乱光２１ｂが出射す
るまでの時間と、後方散乱光２１ｂの強度とを測定する
ものである。測定した時間を光速で割ると光パルス２１
ａの散乱位置３０が算出できる。後方散乱光２１ｂの強
度から光ファイバ２０の特性、特に伝送損失が評価でき
る。
【０００３】P.Di Vita and U.Rossi:"Backscattering
Measurements in Optical Fibers:Separation of Power
Decay from Imperfection Contribution",Electron.Le
tt.,1979,15,pp.467〜469 によると、後方散乱光の強度
は下記式（１）のように表される。
Measurements in Optical Fibers:Separation of Power
Decay from Imperfection Contribution",Electron.Le
tt.,1979,15,pp.467〜469 によると、後方散乱光の強度
は下記式（１）のように表される。
【０００４】
【数１】
【０００５】式中、ｚはファイバの長手方向の位置、Ｐ
0 は入射光の強度、αs (z) はレーリー散乱係数、Ｂ
(z) はバックスキャッターキャプチャーフラクション
（後方散乱捕集率）、γ(x) はファイバ位置ｘにおける
損失を示す。
0 は入射光の強度、αs (z) はレーリー散乱係数、Ｂ
(z) はバックスキャッターキャプチャーフラクション
（後方散乱捕集率）、γ(x) はファイバ位置ｘにおける
損失を示す。
【０００６】ＯＴＤＲによって示される光強度波形は、
光の強度をｄＢスケールで表示したものである。この波
形をＳ(z) とすると、Ｓ(z) は下記式（２）で表され
る。
光の強度をｄＢスケールで表示したものである。この波
形をＳ(z) とすると、Ｓ(z) は下記式（２）で表され
る。
【０００７】
【数２】
【０００８】後方散乱捕集率Ｂ(z) 、損失項γ(x) が長
手方向に安定している場合、Ｓ(z)は図７に示されるよ
うに、長手方向に単調減少する直線（実線部分）とな
り、この直線の傾きから単位長当たりの伝送損失を求め
ることができる。
手方向に安定している場合、Ｓ(z)は図７に示されるよ
うに、長手方向に単調減少する直線（実線部分）とな
り、この直線の傾きから単位長当たりの伝送損失を求め
ることができる。
【０００９】Ｂ(z) 、γ(x) が長手方向に変動している
場合、Ｓ(z) の長手方向に単調減少している直線（実線
部分）がうねりのある曲線（点線）となる。しかしなが
ら式（２）には、αs (z) やＢ(z) と、γ(x) とが共に
存在するため、波形のうねりがαs (z) やＢ(z) の変動
に起因するうねりであるのか、γ(x) の変動に起因する
うねりであるのか不明確であった。
場合、Ｓ(z) の長手方向に単調減少している直線（実線
部分）がうねりのある曲線（点線）となる。しかしなが
ら式（２）には、αs (z) やＢ(z) と、γ(x) とが共に
存在するため、波形のうねりがαs (z) やＢ(z) の変動
に起因するうねりであるのか、γ(x) の変動に起因する
うねりであるのか不明確であった。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】本発明は前記の課題を
解決するためなされたもので、ＯＴＤＲ（オプティカル
・タイムドメイン・リフレクトメータ）によって表示さ
れる波形のうねりがレーリー散乱係数αs (z) や後方散
乱捕集率Ｂ(z) の変動に起因しているのか、伝送損失γ
(x) の変動に起因しているのかを簡易に判別することが
できる光ファイバの試験方法を提供することが目的であ
る。
解決するためなされたもので、ＯＴＤＲ（オプティカル
・タイムドメイン・リフレクトメータ）によって表示さ
れる波形のうねりがレーリー散乱係数αs (z) や後方散
乱捕集率Ｂ(z) の変動に起因しているのか、伝送損失γ
(x) の変動に起因しているのかを簡易に判別することが
できる光ファイバの試験方法を提供することが目的であ
る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めになされた本発明の光ファイバの試験方法を図１より
説明する。光ファイバ２０の一端から光パルス２１ａを
入射させ光ファイバ２０内で散乱し、入射方向とは逆の
方向に伝搬する後方散乱光２１ｂの波形を、光パルス２
１ａが入射した一端から観測して、該後方散乱光の時間
差を光速で割って算出される散乱位置３０における強度
を算出する。前記一端とは反対側の一端から光パルス２
２ａを入射させ、散乱して戻ってきた別の後方散乱光２
２ｂの波形を前記反対側の一端から観測して、該別の後
方散乱光の時間差を光速で割って算出される散乱位置３
０における強度を算出する。前記によって算出された２
つの散乱位置３０が一致した波形の強度を計算処理する
ことによって光ファイバ２０の光学特性を求める。
めになされた本発明の光ファイバの試験方法を図１より
説明する。光ファイバ２０の一端から光パルス２１ａを
入射させ光ファイバ２０内で散乱し、入射方向とは逆の
方向に伝搬する後方散乱光２１ｂの波形を、光パルス２
１ａが入射した一端から観測して、該後方散乱光の時間
差を光速で割って算出される散乱位置３０における強度
を算出する。前記一端とは反対側の一端から光パルス２
２ａを入射させ、散乱して戻ってきた別の後方散乱光２
２ｂの波形を前記反対側の一端から観測して、該別の後
方散乱光の時間差を光速で割って算出される散乱位置３
０における強度を算出する。前記によって算出された２
つの散乱位置３０が一致した波形の強度を計算処理する
ことによって光ファイバ２０の光学特性を求める。
【００１２】さらに、この計算処理によって光ファイバ
２０の所望位置における局所的な伝送損失を求める。
２０の所望位置における局所的な伝送損失を求める。
【００１３】
【作用】光ファイバ２０の一端から光パルス２１ａを入
射させると、光パルス２１ａは光ファイバ２０内で散乱
する。散乱光の一部は入射方向とは逆の方向に伝搬し
て、光パルス２１ａが入射した一端から後方散乱光２１
ｂとして出射する。この後方散乱光２１ｂの波形を観測
して散乱位置３０および強度を算出する。
射させると、光パルス２１ａは光ファイバ２０内で散乱
する。散乱光の一部は入射方向とは逆の方向に伝搬し
て、光パルス２１ａが入射した一端から後方散乱光２１
ｂとして出射する。この後方散乱光２１ｂの波形を観測
して散乱位置３０および強度を算出する。
【００１４】前記一端とは反対側の一端から光パルス２
２ａを入射させる。同様に散乱して光パルス２２ａが入
射した一端から、後方散乱光２２ｂが出射する。後方散
乱光２２ｂの波形を観測して散乱位置３０および強度を
算出する。算出された２つの散乱位置３０を比較して、
散乱位置３０が一致した波形の強度を加減して、レーリ
ー散乱係数または後方散乱捕集率の変動に起因するうね
り成分と、伝送損失の変動に起因するうねり成分とを分
離した式を作り、光ファイバ２０の伝送損失を求める。
２ａを入射させる。同様に散乱して光パルス２２ａが入
射した一端から、後方散乱光２２ｂが出射する。後方散
乱光２２ｂの波形を観測して散乱位置３０および強度を
算出する。算出された２つの散乱位置３０を比較して、
散乱位置３０が一致した波形の強度を加減して、レーリ
ー散乱係数または後方散乱捕集率の変動に起因するうね
り成分と、伝送損失の変動に起因するうねり成分とを分
離した式を作り、光ファイバ２０の伝送損失を求める。
【００１５】光ファイバの一端からパルスを入射させ、
ＯＴＤＲによって表示された波形の強度をＳ1(z)とす
る。Ｓ1(z)は下記式（３）
ＯＴＤＲによって表示された波形の強度をＳ1(z)とす
る。Ｓ1(z)は下記式（３）
【００１６】
【数３】
【００１７】で求められる。式中、ｚはファイバの長手
方向の位置、Ｐ0 は入射光の強度、αs (z) はレーリー
散乱係数、Ｂ(z) はバックスキャッター・キャプチャー
・フラクション（後方散乱捕集率）、γ(x) はファイバ
位置ｘにおける損失を示す。
方向の位置、Ｐ0 は入射光の強度、αs (z) はレーリー
散乱係数、Ｂ(z) はバックスキャッター・キャプチャー
・フラクション（後方散乱捕集率）、γ(x) はファイバ
位置ｘにおける損失を示す。
【００１８】さらに、前記一端とは反対側の一端からパ
ルスを入射させ、ＯＴＤＲによって測定された波形の強
度をＳ2(L-Z)とする。Ｓ2(L-Z)は下記式（４）
ルスを入射させ、ＯＴＤＲによって測定された波形の強
度をＳ2(L-Z)とする。Ｓ2(L-Z)は下記式（４）
【００１９】
【数４】
【００２０】で求められる。Ｌは光ファイバの長さを示
す。
す。
【００２１】Ｓ1(z)とＳ2(L-Z)との和を２Ｉ(z) 、Ｓ
1(z)とＳ2(L-Z)との差を２Ｄ(z) とすると、Ｉ(z) は式
（３）と式（４）から式（５）で示され、Ｄ(z) は式
（３）と式（４）から式（６）で示される。
1(z)とＳ2(L-Z)との差を２Ｄ(z) とすると、Ｉ(z) は式
（３）と式（４）から式（５）で示され、Ｄ(z) は式
（３）と式（４）から式（６）で示される。
【００２２】
【数５】
【００２３】
【数６】
【００２４】式（５）はγ(x) が分離した式であり、式
（６）はαs (z) やＢ(z) が分離した式である。ｔ1 お
よびｔ2 は定数である。αs (z) やＢ(z) と、γ(x) と
を分離した式を作ることによって、波形がうねったもの
となった場合、うねりが散乱によるものか、伝送損失に
よるものかを明確にすることができる。
（６）はαs (z) やＢ(z) が分離した式である。ｔ1 お
よびｔ2 は定数である。αs (z) やＢ(z) と、γ(x) と
を分離した式を作ることによって、波形がうねったもの
となった場合、うねりが散乱によるものか、伝送損失に
よるものかを明確にすることができる。
【００２５】
【実施例】以下、本発明の実施例を詳細に説明する。図
１は本発明を適用する光ファイバの試験方法の原理を示
す概略図である。同図に示されるように、光ファイバ２
０の一端から光パルス２１ａを入射させる。光パルス２
１ａは光ファイバ２０内で散乱する。散乱光の一部は入
射方向とは逆の方向に伝搬して、光パルス２１ａが入射
した一端から後方散乱光２１ｂとして出射する。この後
方散乱光２１ｂの波形を観測して散乱位置３０および強
度を算出する。
１は本発明を適用する光ファイバの試験方法の原理を示
す概略図である。同図に示されるように、光ファイバ２
０の一端から光パルス２１ａを入射させる。光パルス２
１ａは光ファイバ２０内で散乱する。散乱光の一部は入
射方向とは逆の方向に伝搬して、光パルス２１ａが入射
した一端から後方散乱光２１ｂとして出射する。この後
方散乱光２１ｂの波形を観測して散乱位置３０および強
度を算出する。
【００２６】前記一端とは反対側の一端から光パルス２
２ａを入射させる。光パルス２２ａは、光ファイバ２０
内で散乱する。散乱光の一部は、光パルス２２ａが入射
した一端から後方散乱光２２ｂとして出射する。後方散
乱光２２ｂの波形を観測して散乱位置３０および強度を
算出する。算出された２つの散乱位置３０を比較して、
相対的に散乱位置３０が一致した波形の強度を加減して
光ファイバ２０の伝送損失を求める。
２ａを入射させる。光パルス２２ａは、光ファイバ２０
内で散乱する。散乱光の一部は、光パルス２２ａが入射
した一端から後方散乱光２２ｂとして出射する。後方散
乱光２２ｂの波形を観測して散乱位置３０および強度を
算出する。算出された２つの散乱位置３０を比較して、
相対的に散乱位置３０が一致した波形の強度を加減して
光ファイバ２０の伝送損失を求める。
【００２７】図２は、光ファイバの試験装置の概略図で
ある。同図に示されるように、制御器３にパネル２、表
示器８、ランダムアクセスメモリ７（以下、ＲＡＭ）お
よび波形測定器１０が接続されている。測定に必要なパ
ラメータは制御器３に入力されており、制御器３はこれ
らの情報をＲＡＭ７に記憶している。波形測定器１０
は、接合器１、光源４、検出器５、演算器６から構成さ
れている。接合器１には光ファイバ２０の一端が接続さ
れている。
ある。同図に示されるように、制御器３にパネル２、表
示器８、ランダムアクセスメモリ７（以下、ＲＡＭ）お
よび波形測定器１０が接続されている。測定に必要なパ
ラメータは制御器３に入力されており、制御器３はこれ
らの情報をＲＡＭ７に記憶している。波形測定器１０
は、接合器１、光源４、検出器５、演算器６から構成さ
れている。接合器１には光ファイバ２０の一端が接続さ
れている。
【００２８】試験方法を動作的に説明すると、先ず、波
形測定器１０の接合器１に光ファイバ２０の一端を接続
し、パネル２から制御器３に波形測定開始の命令を送
る。この命令に応答して制御器３は作動し、波形測定器
１０に同じ命令を送る。波形測定器１０内の光源４は制
御器３からの命令によって、接合器１に接続されている
光ファイバ２０の一端に光パルス信号を入射させる。光
パルス信号は、光ファイバ２０内で散乱し、後方散乱光
となり接合器１を介して検出器５に送られる。後方散乱
光の時間差および強度は演算器６により計算処理され、
制御器３に送られる。散乱位置は散乱光の時間差を光速
で割って算出される。制御器３は散乱位置および強度の
データをＲＡＭ７に保存し、波形を表示器８に表示す
る。
形測定器１０の接合器１に光ファイバ２０の一端を接続
し、パネル２から制御器３に波形測定開始の命令を送
る。この命令に応答して制御器３は作動し、波形測定器
１０に同じ命令を送る。波形測定器１０内の光源４は制
御器３からの命令によって、接合器１に接続されている
光ファイバ２０の一端に光パルス信号を入射させる。光
パルス信号は、光ファイバ２０内で散乱し、後方散乱光
となり接合器１を介して検出器５に送られる。後方散乱
光の時間差および強度は演算器６により計算処理され、
制御器３に送られる。散乱位置は散乱光の時間差を光速
で割って算出される。制御器３は散乱位置および強度の
データをＲＡＭ７に保存し、波形を表示器８に表示す
る。
【００２９】それぞれ別の端部から光パルスを入射させ
て測定した波形では、ファイバ２０の両端の位置関係が
互いに逆となる。制御器３はファイバ２０で生じるフレ
ネル反射によって、２つの波形の端部の位置を各々求め
る。ファイバ２０内の散乱位置３０（図１参照）が一致
した波形の強度を加減し、すでに述べてある式（５）、
式（６）を作る。式（５）、式（６）よりレーリー散乱
係数αs (z) および後方散乱捕集率Ｂ(z) と、伝送損失
γ(x) とが算出される。制御器３はγ(x) 成分を分離し
た波形であるＩ(z) と、αs (z) およびＢ(z) 成分を分
離した波形であるＤ(z) とを表示器８に表示する。
て測定した波形では、ファイバ２０の両端の位置関係が
互いに逆となる。制御器３はファイバ２０で生じるフレ
ネル反射によって、２つの波形の端部の位置を各々求め
る。ファイバ２０内の散乱位置３０（図１参照）が一致
した波形の強度を加減し、すでに述べてある式（５）、
式（６）を作る。式（５）、式（６）よりレーリー散乱
係数αs (z) および後方散乱捕集率Ｂ(z) と、伝送損失
γ(x) とが算出される。制御器３はγ(x) 成分を分離し
た波形であるＩ(z) と、αs (z) およびＢ(z) 成分を分
離した波形であるＤ(z) とを表示器８に表示する。
【００３０】長さが２０．４Ｋｍの分散シフトシングル
モード光ファイバ２０を波形測定器１０の接合器１に接
続し、波長１５５０ｎｍ、パルス幅１μｓの光パルスを
ファイバ２０に入射させ、前記の方法で波形の測定を行
った。後方散乱光のサンプリング間隔は８０ｎｓであっ
た。
モード光ファイバ２０を波形測定器１０の接合器１に接
続し、波長１５５０ｎｍ、パルス幅１μｓの光パルスを
ファイバ２０に入射させ、前記の方法で波形の測定を行
った。後方散乱光のサンプリング間隔は８０ｎｓであっ
た。
【００３１】測定された光強度波形を図３に示す。Ｓ
1(z)およびＳ2(L-Z)は、光ファイバのそれぞれ別の一端
から光パルスを入射させたときの波形の強度である。同
図に示されるように、Ｓ1 (z) とＳ2(L-Z)とではＯＴＤ
Ｒによって表示された波形のファイバの位置を示すｚの
方向が互いに逆になっている。このため、Ｓ1 (z) とＳ
2(L-Z)との一端を設定してから、それぞれの一端が一致
するように強度を互い違いの方向に計算する。それぞれ
の波形についてフレネル反射の位置に基づき、ファイバ
端を検出した。ファイバの散乱位置が同じであるＳ1
(z) とＳ2(L-Z)との和およびＳ1 (z) とＳ2(L-Z)との差
を計算した。
1(z)およびＳ2(L-Z)は、光ファイバのそれぞれ別の一端
から光パルスを入射させたときの波形の強度である。同
図に示されるように、Ｓ1 (z) とＳ2(L-Z)とではＯＴＤ
Ｒによって表示された波形のファイバの位置を示すｚの
方向が互いに逆になっている。このため、Ｓ1 (z) とＳ
2(L-Z)との一端を設定してから、それぞれの一端が一致
するように強度を互い違いの方向に計算する。それぞれ
の波形についてフレネル反射の位置に基づき、ファイバ
端を検出した。ファイバの散乱位置が同じであるＳ1
(z) とＳ2(L-Z)との和およびＳ1 (z) とＳ2(L-Z)との差
を計算した。
【００３２】強度が（ Ｓ (z) ＋Ｓ(L-Z) ）／２の波
形および（ Ｓ (z) −Ｓ(L-Z) ）／２の波形を図４に
示す。同図に示されているＩ(z) は（ Ｓ (z) ＋Ｓ(L-
Z)）／２であり、Ｄ(z) は（ Ｓ (z) −Ｓ(L-Z) ）／
２である。Ｉ(z) は伝送損失項を示す項が分離されてお
り、Ｄ(z) はレーリー散乱係数及び後方散乱捕集率が分
離されている。
形および（ Ｓ (z) −Ｓ(L-Z) ）／２の波形を図４に
示す。同図に示されているＩ(z) は（ Ｓ (z) ＋Ｓ(L-
Z)）／２であり、Ｄ(z) は（ Ｓ (z) −Ｓ(L-Z) ）／
２である。Ｉ(z) は伝送損失項を示す項が分離されてお
り、Ｄ(z) はレーリー散乱係数及び後方散乱捕集率が分
離されている。
【００３３】さらに、波形の伝送損失項の微分係数を計
算し、長手方向の局所的な伝送損失の変化を図５に示し
た。
算し、長手方向の局所的な伝送損失の変化を図５に示し
た。
【００３４】
【発明の効果】散乱位置が同一である波形の強度を加減
することによって、ＯＴＤＲ（オプティカル・タイムド
メイン・リフレクトメーター）によって表示される光強
度波形のうねりがレーリー散乱係数αs (z) および後方
散乱捕集率Ｂ(z) によるものか、伝送損失γ(x) による
ものかを判別することができる。このため光ファイバの
伝送損失を簡易に評価できるようになった。
することによって、ＯＴＤＲ（オプティカル・タイムド
メイン・リフレクトメーター）によって表示される光強
度波形のうねりがレーリー散乱係数αs (z) および後方
散乱捕集率Ｂ(z) によるものか、伝送損失γ(x) による
ものかを判別することができる。このため光ファイバの
伝送損失を簡易に評価できるようになった。
【図１】本発明を適用する光ファイバの試験方法の原理
を示す概略図である。
を示す概略図である。
【図２】光ファイバの試験装置の概略図である。
【図３】本発明を適用する試験方法によって測定された
光強度波形を示す図である。
光強度波形を示す図である。
【図４】本発明を適用する試験方法によって測定され、
相対的に散乱位置が一致した光強度波形を加減した図で
ある。
相対的に散乱位置が一致した光強度波形を加減した図で
ある。
【図５】光ファイバの長手方向の局所的な伝送損失の変
化を示した図である。
化を示した図である。
【図６】従来の光ファイバの試験方法の原理を示す概略
図である。
図である。
【図７】従来の方法によって測定された光強度波形を示
す図である。
す図である。
１は接合器、２はパネル、３は制御器、４は光源、５は
検出器、６は演算器、７はランダムアクセスメモリ、８
は表示器、１０は波形測定器、２０は光ファイバ、２１
ａ・２２ａは光パルス、２１ｂ・２２ｂは後方散乱光、
３０は散乱位置である。
検出器、６は演算器、７はランダムアクセスメモリ、８
は表示器、１０は波形測定器、２０は光ファイバ、２１
ａ・２２ａは光パルス、２１ｂ・２２ｂは後方散乱光、
３０は散乱位置である。
Claims (2)
- 【請求項１】 光ファイバの一端から光パルスを入射さ
せ該光ファイバ内で散乱し、入射方向とは逆の方向に伝
搬する後方散乱光の波形を、光パルスが入射した一端か
ら観測して、該後方散乱光の時間差を光速で割って算出
される散乱位置における強度を算出し、該一端とは反対
側の一端から光パルスを入射させ、散乱して戻ってきた
別の後方散乱光の波形を前記反対側の一端から観測し
て、該別の後方散乱光の時間差を光速で割って算出され
る散乱位置における強度を算出し、前記により算出され
た２つの散乱位置が一致した波形の強度を計算処理する
ことによって該光ファイバの光学特性を求めることを特
徴とする光ファイバの試験方法。 - 【請求項２】 光ファイバの一端から光パルスを入射さ
せ該光ファイバ内で散乱し、入射方向とは逆の方向に伝
搬する後方散乱光の波形を、光パルスが入射した一端か
ら観測して散乱位置および強度を算出し、該一端とは反
対側の一端から光パルスを入射させ、散乱して戻ってき
た別の後方散乱光の波形を前記反対側の一端から観測し
て散乱位置および強度を算出し、前記により算出された
２つの散乱位置が一致した波形の伝送損失項の微分係数
を計算処理することによって該光ファイバの所望位置に
おける局所的な伝送損失を求めることを特徴とする光フ
ァイバの試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21687694A JP3207323B2 (ja) | 1994-09-12 | 1994-09-12 | 光ファイバの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21687694A JP3207323B2 (ja) | 1994-09-12 | 1994-09-12 | 光ファイバの試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0882573A JPH0882573A (ja) | 1996-03-26 |
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Family
ID=16695304
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21687694A Expired - Lifetime JP3207323B2 (ja) | 1994-09-12 | 1994-09-12 | 光ファイバの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3207323B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6755823B2 (ja) * | 2017-03-29 | 2020-09-16 | アンリツ株式会社 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 |
| CN110110278B (zh) * | 2019-05-14 | 2022-11-11 | 桂林电子科技大学 | 光纤振动检测***中差分累加算法间隔行数的计算方法 |
-
1994
- 1994-09-12 JP JP21687694A patent/JP3207323B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US6914669B2 (en) | 2001-04-06 | 2005-07-05 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Glass base material, optical fiber, method for manufacturing thereof, and method for determining cause of defect thereof |
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| US7698908B2 (en) | 2001-04-06 | 2010-04-20 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method of manufacturing a glass based material with defect removal |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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