JP3188019U - 基準点を有した試料スライドとサンプル調査システム - Google Patents

Abstract

【課題】顕微鏡を用いて検証可能なサンプルをサンプル領域に載置可能な試料スライドであって、少なくともサンプル領域に複数の基準点を備える試料スライド、および対応する試料スライド上の位置を決定し及び／又は検索するためのサンプル調査システムを提供する。【解決手段】サンプル領域１０１の任意の部分領域１０２における少なくとも規定された数の基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）の認識に基づいて、試料スライド１００上の任意の部分領域位置、及び／又はその任意の部分領域における少なくとも一つの位置が曖昧でなく決定可能であるように基準点が具現化される。【選択図】図１

Description

本考案は、基準点を有した試料スライド、そのような試料スライド上の位置を決定し及び／又は検索するためのサンプル調査システムに関する。

極めて稀な場合においてのみ、光学顕微鏡や電子顕微鏡顕微鏡において顕微鏡サンプルが直接、且つ更なる処理なしに調査される。多くの顕微鏡検査の研究や試料が多少とも広範囲にわたる準備（preparation）を必要とする。

検査材料は、通常、顕微鏡的に固定され、埋め込まれる。サンプル区画は、例えばミクロトームを用いて、埋め込まれた材料から生み出され得る。これらは色づけ可能で、試料スライド上に載置した後、視覚的に調査され、及び／又はデジタル化される。対応する技術の概観は、例えば非特許文献１によって与えられる。

顕微鏡は一般に、肉眼で検知可能でない小さな構造を検知するため、及びそのような構造における典型的な特徴の位置を突き止めるために用いられる。細胞学、組織学及び病理学における基本的な顕微鏡検査タスクは、準備された試料を走査し、関係した構造、細胞、細胞群等のためにそれを検査することである。準備された試料のそのような構造の位置が見出されたならば、多くの理由のため、それらを記憶にとどめておくことが望ましい。例えば、構造はチェックや更なる点検のため、或いは品質保証の理由のため、同じユーザ或いは別のユーザによって後の時点で再び突き止められなければならない。

多くの顕微鏡はこのために、装置に依存した座標系における点の位置座標を確認するユニットを有する。突き止められた位置はそれら座標を電気機械的に確認することによって後に辿ることができる。

座標は従来、装置に依存し、即ち、顕微鏡アライメントで変更がなされず、公差が存在しない場合にだけ、座標はその装置にとって正確に再現可能である。しかしながら、顕微鏡の載物台が例えば修理・再取り付けのために取り外されたならば、その載物台は、おそらく同じ位置のために当初決定されたのと相違して準備された試料の座標上に備え付けられる。異なる顕微鏡の座標系もまた、同じ型や同じシリーズであっても（正確には）同じでない。

対応する座標が顕微鏡でなく例えば（レーザ）顕微解剖ユニットのようなサンプル処理装置において再現されるものであるならば、或いは顕微鏡でなくむしろ例えばスライダスキャナにおいて座標が決定されるのであれば、これはなお一層関係がある。関わる夫々の装置の構成が異なれば異なるほど、交換は一般的にますます複雑になる。

特許文献１は、顕微鏡により画像形成された点の座標の、装置に依存した決定のための装置とシステムを開示する。ここで先ず、ＤＩＣＯＭ（Digital Imaging and Communications in Medicine）座標系における少なくとも一つの基準点の予め決められた試料関連の基準座標のために、上記少なくとも一つの画像形成された基準点の関連の装置座標が装置に依存した座標系において決定され、装置に依存した座標をＤＩＣＯＭ座標系に転換するための変換ルールが確認されることがもたらされる。そして、画像形成された点の装置座標は、見出された変換ルールによって、ＤＩＣＯＭ座標系の装置に依存した座標に転換可能である。

しかしながら、この方法とシステムは実際には複雑であることが判明している。なぜならば、関わる装置全てが各々、必要なステップを実行するためにセットアップされなければならず、例えば変換ルールを確認するために相応する計算ユニットを有さなければならないからである。

したがって、特に上に説明した異なる構成要素から作られたサンプル調査システムにおいて、試料スライド上の位置を決定し及び／又は検索するための特に単純化された性能のために要求が存続し続けている。

DE 193 36 803 A1

Mulisch, M.とWelsch, U.（編集者）：Romeis - Microskopische Technik（Romeis顕微鏡検査技術）、第１０編、ハイデルベルグ：Spektrum Akademischer出版、２０１０

これを考慮して、本考案は基準点を有した試料スライド、そのような試料スライド上の位置を決定し及び／又は検索するためのサンプル調査システムを、独立請求項の特徴を有して、提案する。好ましい実施形態は、実用新案登録請求の範囲のサブジェクトマター及び以下に記載する内容のサブジェクトマターである。

本考案は、顕微鏡を用いて検証可能なサンプルをサンプル領域に載置可能な試料スライドであって、少なくともサンプル領域に複数の基準点を備える試料スライドを提案する。サンプル領域の任意の部分領域（sub-region、即ち、サンプル領域の範囲内での位置に関し自由に選択可能な領域）における少なくとも規定された数の基準点の認識／確認／識別に基づいて、試料スライド上の、任意の部分領域の位置及び／又はその任意の部分領域における少なくとも一つの位置が曖昧でなく決定可能であるように、基準点は具現化される。

以下でより詳細に説明するように、サンプル領域の任意の部分領域は、顕微鏡やその他の評価装置での視界や評価範囲において見ることができる夫々の領域であることが好都合である。これは当然ながら、視倍率に依存し、その結果、異なるサイズである、サンプル領域の部分領域は異なる視倍率で見られることが可能である。

この文書中で用いられる「任意の」の意味によれば、異なるサイズのそれら部分領域は各々、サンプル領域の範囲内において自由に選択可能である。これは、例えば横スライドステージを用いて試料スライドを変位させて、部分領域をサンプル領域に対して変位することによって果たされ得る。そのために、夫々対応する部分領域が少なくとも規定された数の基準点を備えるならば、位置決定が可能である。

本考案は、例えばパターン認識による試料スライド自体の相応する基準点の認識或いは確認に基づいて、信頼性高く、且つ複雑でなく、位置の正確な決定及び／又は検索が実行可能であるという、従来技術と比べて根本的な利点を有する。最も単純な場合、即ち、視覚的に感知可能である複数の基準点が設けられる場合、相応する部分領域を、或いはその中の相応する位置を曖昧でなく位置限定するのに、顕微鏡を通して一目見るだけで十分である。これはまた、自動感知或いは認識について対応して当てはまる。特に夫々存在しているマーキングは、装置に依存した座標系或いは装置に独立した座標系に、手間をかけて組み入れたり転換する必要がもはやない。試料スライド自体は既に、正確な位置決定を実行するための手段全てを有している。

決定されるべき及び／又は検索されるべき位置は例えば、相応する色づけ後に顕微鏡を用いてさらに調査されるべきサンプル領域の位置、或いはサンプル処理法を受けるべきサンプル領域の位置である。その方法は特にレーザ顕微解剖によるサンプル処理に適している。

本考案はまた、例えば顕微鏡システム或いはスライドスキャナからサンプル処理装置への、相応する位置データの簡単で信頼性の高い移送を可能にする。このため、サンプルは例えば見る人によって、或いは自動的に例えば相応する評価システムによって、視覚的に感知可能である。この感知に関連して認識された基準点は書き留められ及び／又は記録され得る。認識された基準点は唯一つの点を画定するのに用いることができるが、例えば範囲を画定するのにも用いることができる。個々の点は例えば基準点と一致可能であり、及び／又は複数の基準点によって決められた十字線によって画定可能である。範囲は部分領域よりも大きくても小さくてもよく、例えば複数の基準点の間にレイアウトされた多角形によって画定可能である。そのために、それは任意の部分領域における複数の位置によって画定される。そして、それらの位置は、試料スライドの基準点の本考案に係る実施形態に基づいて、曖昧でなく空間的に決定可能である。

夫々に関連のある基準点、並びに適用可能であるならばリンケージ指示（例えば「基準点間の十字線」や「多角形」）はサンプル処理装置に伝達可能である。これは、例えば手を使った入力によって及び／又は有線若しくは無線の通信システムを用いてなされ得る。そしてサンプル処理装置は夫々に関連のある基準点から、また適用可能であればリンケージ指示から処理指示を引き出すように調整されるのが有利である。例えばレーザ顕微解剖ユニットとして具現化されたサンプル処理装置は、十字線の交差点での関与の構造、細胞、細胞群を取り出すように、及び／又は多角形によって画定されたサンプル領域をレーザビームによって切り出すように、調整可能である。

上記作用は、手を使った印及び／又は仮想の印によって補足され、或いは置き換えられ得る。例えば見る者は既知の入力手段、例えばコンピュータマウス及び／又は容量性ディスプレイ（タッチスクリーン）を用いて、サンプル感知装置、例えばスライドスキャナ及び／又はビデオ顕微鏡によって生み出された試料スライドの部分領域の画像に、印を作ることができる。タッチスクリーンの場合、これはまた例えば相応する仕草を用いて成し遂げられ得る。この印はスライドスキャナ及び／又はビデオ顕微鏡を用いて認識された部分領域において試料スライドの基準点に対して関係を有する。サンプル感知装置は、見る者によって作られた印と基準点の間に空間的な関係を生み出し得る。そして、この空間的関係、及び／又は見る者によって適用可能なように特定された関連のリンケージ指示（例えば上のような「十字線」又は「多角形」）は、サンプル感知装置によって出力可能で、及び／又はサンプル感知装置へ移送可能である。

ここでまた、空間的関係、及び／又は基準点、及び／又は関連のリンケージ指示（本願の関連において「基準点データ」とも称する）は処理支持に変換され、サンプルは上に説明したような処理指示にしたがって処理される。

本考案に係る作用は、腫瘍研究のためのサンプル調査の集積システムを実行することを可能にする。このシステムは例えば、サンプル、例えば患者の組織を特定の特徴、例えば腫瘍細胞のために走査可能なスライドスキャナを含む。陽性の切片、例えば腫瘍要請の切片に関して、腫瘍組織の位置に関するデータと、任意には所望タイプの処理に関するデータとが対応するサンプル処理ユニット、例えばレーザ顕微解剖ユニットに移されることが可能である。生化学調査等を受けるべき腫瘍組織は、レーザ顕微解剖ユニットを用いて選択的に且つ高い空間的正確さをもって切り出し可能であり、対応するサンプル容器に移され得る。

関与の全ての装置に発生するに違いなく、公差も僅かな程度だけで、さらに操作エラーの影響を受け易い、従来必要とされた、対応するシステムの一定の（再）キャリブレーションと異なり、本考案は、正確で大部分はキャリブレーションに無関係な位置決定を可能とする。

おそらく本考案に係る試料スライドのための異なる装置間の位置データの単純な移送によって、調査とサンプル処理が著しくスピードアップする。夫々の印に関するデータも例えばサンプル感知装置及び／又はサンプル処理装置、例えばレーザ顕微解剖ユニットのソフトウェアに記録可能であり、容易に検索可能である。さらに試料スライド上の異なって具現化された基準点に対応する異なった基準点データも、アドレス指定された問題に応じて、記録可能である。

複数の基準点で印をつけられ任意にコード付与された試料スライドは、有利には異なる倍率レベルのために、しかし少なくとも一つの倍率レベルのために異なる基準点を含み、さらにこれら基準点は試料スライド上の倍率レベルの視野において全てのＸ，Ｙ座標にとって唯一である。これによって、例えば夫々視野において同時に感知可能である基準点に対してプロットされたマーク及び／又はサンプル領域を位置限定することが可能である。視野の外側に配置された一つ以上の基準点、例えば座標系のゼロ点を参考にすることはもはや必要ない。その結果、一つの基準点に関する試料点の相対的位置を決定することが可能なだけでなく、夫々の基準点自体がサンプルの位置を指し示すことが可能である。これに関して用いられる基準点が多ければ多いほど、そしてそれらが移送されるべき印の近くに位置していればいるほど、対応する部分領域はより正確に規定可能である。

したがって、基準点は、少なくとも基準点の間隔に関して相互に異なる少なくとも二つの基準点ネットワーク（ネットワークの節点に基準点を有する）の形で設けられるのが有利である。これは、説明したように、サンプル調査装置の一つの倍率レベルで各々感知可能な別々のマーキングの提供に対応する。

顕微鏡及び／又はスライドスキャナ、より一般的にはサンプル調査装置の通常の倍率レンジをカバーするために、少なくとも一つの基準点ネットワークの基準点の間隔は、少なくとも一つの更なる基準点ネットワークの基準点の間隔の少なくとも２倍、１０倍或いは１００倍に等しい。通常の倍率レベルの全てをカバーするために、対応する基準点ネットワークはあらゆる数で設けられ得る。これによって、例えば先ず低い倍率で関与のサンプル領域をざっと範囲を定めることが可能である。その後に高い倍率を用いて正確な位置決定を行うことができる。

それゆえ、対応する試料スライドは少なくとも二つの基準点ネットワークを備え、その少なくとも二つの基準点ネットワークにおける基準点の間隔は夫々、規定された視倍率のため、及び／又は対応する視倍率のレンジのために、少なくとも夫々の基準点ネットワークの規定された数の基準点が夫々顕微鏡や他のサンプル調査装置の視野において同時に認識可能であるように具現化される。それゆえ、記述したように、夫々で例えば顕微鏡を通して一目見ることによって正確な位置決定をすることが可能である。外部の基準点を参考にすることは、なお可能であるが、もはや必要ない。

基準点の実施形態に応じて、位置決定に用いられる規定された数は１，２又は３である。十分な数の異なる基準点（即ち、各基準点は位置に関して曖昧でなく画定される）が設けられる対応する基準点システムが用いられるならば、唯一の基準点の感知で十分であり得る。比較的低い倍率のために、例えば試料スライド上の基準点は、数に関して又は英数字に関して連続して番号付けされることができ、唯一つの基準点に基づいて、曖昧でない位置を決定することも可能である。三つの基準点の使用の例は図面において描写されている。

基準点は、光学的及び／又は電磁気的に感知可能な基準点として、例えば磁気的及び／又は静電容量的に感知可能な基準点として具現化可能である。これによって、要求されたように、一方で見る人による及び／又は自動的なサンプル調査装置及び／又はサンプル処理装置による、特に簡単な認識が可能である。

既に記述したように、基準点は少なくともある程度英数字の基準点として具現化され得る。これによって、見る人による簡単な評価と位置決定が可能である。他の場合において、例えば二次元バーコードの形で少なくともある程度機械読み取り可能に基準点を具現化して、それによって完全な自動位置決定及び／又は検索を可能にすることが有利であることも分かる。これは、例えばスライドスキャナとレーザ顕微解剖ユニットを有し自動化されたサンプル調査システムにおいて有利であり得る。

或る場合において、画定された感知状態又は観察状態においてのみ基準点が光学的及び／又は電磁気的に感知可能であるようにそれら基準点を具現化することが有利であることも分かる。例えば、相応する励起光においてのみ見ることができる蛍光基準点が設けられ得る。これによって、観察、走査及び／又は文書化の状況下（例えば白色光において）でサンプルの視覚による観察、走査及び／又は文書化が基準点による干渉なしに可能になる。そして、位置決定及び／又は検索が、基準点を感知可能な特定の検出光、例えばＵＶ光のもとで起こり得る。同様に、例えば基準点の認識／確認／識別のために用いられる画定された波長領域の検出光を有せず観察、走査及び／又は文書化光を備える帯域フィルターの使用が可能である。

既にある程度説明したように、試料スライド上の位置を決定し及び／又は検索するための方法も本考案に係る試料スライドを用いて提供される。これに関連して、試料領域の任意の部分領域における少なくとも規定された数の基準点に基づいて、試料スライド上の任意の部分領域の位置は曖昧でなく決定される。この方法や以下に記載するサンプル調査システムの特徴や利点に関して、上の説明が参照可能である。

相応するサンプル調査システムは、少なくとも一つのサンプル調査装置、特に顕微鏡及び／又はスライドスキャナと、サンプル処理装置、特にレーザ顕微解剖ユニットとを備えて構成される。サンプル調査装置とサンプル処理装置とは各々、先に説明したように、試料スライド上の位置を決定し及び／又は検索するようにセットアップされる。したがって、相応するサンプル調査システムは必要なように部分的に又は全体的に自動式で作動可能である。

サンプル調査装置が基準点データをサンプル処理装置に移送するようにセットアップされるのが好都合である。そしてサンプル処理装置は基準点データから処理に関する指示を引き出し、その処理指示にしたがって試料スライド上のサンプルを処理するようにセットアップされる。同様に、用語「基準点データ」や「処理指示（処理に関する指示）」やそれによって理解された特徴に関して、上の説明が参照可能である。

本考案の更なる利点と実施形態は明細書と図面から明らかである。上に挙げられた特徴及び以下でなお説明されるべき特徴は指摘された夫々の組み合わせにおいてのみ利用可能でなく、本考案の範囲から逸脱することなく、他の組み合わせ又は独立したものにおいても利用可能である。

本考案は、実施例に基づいて図面に概略的に描かれ、図面を参照して以下に詳細に記載される。

本考案の特に好適な実施形態に係る、基準点を有した試料スライドを概略的に示す。 図１に係る基準点を有した試料スライド上のサンプル領域の部分領域を概略的に示す。

図面において、相互に対応する要素は同じ参照符号を用いて記載されている。説明は繰り返さない。
図１は、本考案の特に好適な実施形態に係る、基準点を有した試料スライドを概略的に示す。試料スライド１００は、顕微鏡を用いて検証可能な試料２００を載置可能なサンプル領域１０１を備えて構成される。

サンプル領域１０１には、夫々基準点Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κを備える２つの基準点ネットワーク１１０，１２０が描写される。サンプル領域１０１における任意の部分領域１０２は、例えば顕微鏡を用いて観測可能である。部分領域１０２は図１の左側部分にオリジナルサイズで描かれ、図１の右側部分に拡大して描かれている。基準点ａ〜ｊとα〜κを有する基準点ネットワーク１２０は図１の右側部分において拡大描写でのみ見ることができる。

試料スライドはまた、例えば試料２００を患者に関連付けるために備えられ得るバーコード１０３のような更なる認識特徴を備えて構成される。
図１から明らかなように、サンプル領域１０１の部分領域１０２は、基準点ネットワーク１１０の基準点Ｇ，４及びＨによって紛らわしくなく認識可能である。それらは、試料スライド１００の単独位置或いはそのサンプル領域１０１の単独位置でのみ、三重の組み合わせ描写において、存在している。これによって、紛らわしくない位置決定が可能である。説明されたように、基準点Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κはまた、それらが特定の視野条件のもとでのみ、例えばＵＶ光や特定波長の光のもとでのみ目に見えるように、構成可能である。

それゆえ、全体の部分領域１０２は試料スライド１００上で曖昧でなく位置限定される。図１に描写された実施形態において、基準点Ａ〜Ｚと１〜２４は低倍率の倍率レベルと関連付けられる。対応する任意の部分領域がこの基準点ネットワーク１１０を用いて位置限定された場合、より高い解像度の位置決定が図１の右側部分に描かれたように、より高い倍率で基準点ネットワーク１２０を用いて成し遂げられ得る。星印でマークされたサンプル領域、或いは見る者によってなされた対応するマークを備えたサンプル領域は、基準点ｄ、ｅ及びδを介して基準点ネットワーク１２０において曖昧でなく位置限定され得る。

それゆえ、星印でマークされたサンプル領域、或いは見る者によってなされた対応するマークを備えたサンプル領域は、サンプル領域１０１の全体において、基準点ネットワーク１１０において曖昧でなく基準点Ｇ、４及びＨを介して、また基準点ネットワーク１２０において基準点ｄ、ｅ及びδを介して、位置限定される。二つの基準点ネットワーク１１０，１２０を介して曖昧でない認識が可能であるならば、基準点ネットワーク１２０の夫々高解像度の基準点は当然ながら、夫々低解像度の基準点ネットワーク１１０の範囲内で繰り返し可能である。

英数字の基準点システムが図１に示されているが、特定の使用において他の基準点システム、特に機械読み取り可能な基準点システムも使用可能である。光学的及び／又は電磁気的に選択的感知可能な基準点も使用可能である。

対応して、基準点システムは曖昧でない位置限定のために三つの基準点を必ず要するわけではない。適切な基準点が、例えばシーケンシャルな数字が用いられるならば、二つの基準点や唯一つの基準点も位置決定のために十分であり得る。

図２は、図２Ａ，２Ｂにおいて、部分領域１０２の範囲内でサンプル領域又はサンプル位置を画定する可能性を示す。部分領域１０２は、基準点ネットワーク１１０の基準点Ｇ、４及びＨが省かれているが、例えば図１のものに対応する。、基準点ネットワーク１２０の基準点ａ〜ｊとα〜κが明瞭さのために付加点を伴って描かれている。

図２Ａは、一点鎖線によって囲まれ時計回りに基準点γ、δ、ζ、ｉ、ζ、ｆ及びδの間に描かれた多角形によって画定された範囲１２１を示す。夫々の基準点γ、δ、ζ、ｉ、ζ、ｆ及びδは、それらを囲む基準点によって曖昧でなく画定される。例えば、左下で多角形に組み入れられた基準点ζは、基準点ｆ、ε、ｈ、ι及びｇ（時計回り）によって取り囲まれる一方、右下で多角形に組み入れられた基準点ζは、基準点ｇ、ε、ｉ、ι，ｉ及びｈ（時計回り）によって取り囲まれる。説明したように、対応する基準点データはサンプル調査システムの異なる装置間で双方的に移され得る。星印によって示された関与点又は相応するマークは範囲１２１の内側に位置している。

図２Ｂは、一点鎖線を用いて同じく示され基準点βとｉ、ｆとδによって画定された十字線１２２を示す。そして基準点βとｉ及びｆとδは、それらを取り囲む基準点によって曖昧でなく画定される。星印によって示された関与点又は相応するマークは十字線１２２によってメーキングされる。

１００ 試料スライド
１０１ サンプル領域
１０２ 部分領域
１１０，１２０ 基準点ネットワーク
２００ 試料

Claims (11)

1. 顕微鏡を用いて調査可能なサンプル（２００）を載置することができるサンプル領域（１０１）と、少なくともサンプル領域（１０１）にて配置された複数の基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）とを有する試料スライド（１００）であって、サンプル領域（１０１）の任意の部分領域（１０２）における少なくとも規定された数の基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）の認識に基づいて、試料スライド（１００）上の任意の部分領域（１０２）の位置、及び／又はその任意の部分領域（１０２）における少なくとも一つの位置が曖昧でなく決定可能であるように基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）が具現化される、試料スライド。
2. 複数の基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）を有する少なくとも二つの基準点ネットワーク（１１０，１２０）が設けられ、それら少なくとも二つの基準点ネットワーク（１１０，１２０）の基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）がそれらの間隔に関して互いに相違する、請求項１に記載の試料スライド（１００）。
3. 少なくとも一つの基準点ネットワーク（１１０）の基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）の間隔が、別の基準点ネットワーク（１２０）の基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）の間隔の倍数であり、特に少なくとも２倍、１０倍又は１００倍である、請求項２に記載の試料スライド（１００）。
4. サンプル領域（１０１）の所定サイズの部分領域（１０２）のために、夫々の基準点ネットワーク（１１０，１２０）の少なくとも規定された数の基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）が夫々同時に認識可能であるように、少なくとも二つの基準点ネットワーク（１１０，１２０）における基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）の間隔が夫々具現化されている、請求項２又は３に記載の試料スライド（１００）。
5. 規定された数の基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）が一つ、二つ又は三つである、請求項１〜４のいずれか一項に記載の試料スライド（１００）。
6. 基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）が、光学的に及び／又は電磁気的に感知可能である基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）として具現化されている、請求項１〜５のいずれか一項に記載の試料スライド（１００）。
7. 基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）が少なくとも部分的に英数字の基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）として具現化されている、請求項１〜６のいずれか一項に記載の試料スライド（１００）。
8. 基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）が少なくとも部分的に機械読み取り可能な基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）として具現化されている、請求項１〜７のいずれか一項に記載の試料スライド（１００）。
9. 画定された観察条件の下でのみ、特に予め決められた波長領域の観察光において基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）が光学的に感知可能であるように、基準点（Ａ〜Ｚ、１〜２４、ａ〜ｊ、α〜κ）が具現化されている、請求項１〜８のいずれか一項に記載の試料スライド（１００）。
10. 少なくとも一つのサンプル調査装置、特に顕微鏡及び／又はスライドスキャナと、サンプル処理装置、特にレーザ顕微解剖ユニットとを備えて構成されるサンプル調査システムであって、サンプル調査装置及び／又はサンプル処理装置がサンプル（１００）を備えた請求項１に記載の試料スライド（１００）上の位置を決定し、及び／又は検索するようにセットアップされている、サンプル調査システム。
11. サンプル調査装置が基準点データをサンプル処理装置に移すようにセットアップされ、サンプル処理装置が基準点データから処理に関する指示を引き出し、その指示にしたがって試料スライド上のサンプル（２００）を処理するようにセットアップされている、請求項１０に記載のサンプル調査システム。

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