JP3188019U - 基準点を有した試料スライドとサンプル調査システム - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本考案の特に好適な実施形態に係る、基準点を有した試料スライドを概略的に示す。試料スライド100は、顕微鏡を用いて検証可能な試料200を載置可能なサンプル領域101を備えて構成される。
図1から明らかなように、サンプル領域101の部分領域102は、基準点ネットワーク110の基準点G,4及びHによって紛らわしくなく認識可能である。それらは、試料スライド100の単独位置或いはそのサンプル領域101の単独位置でのみ、三重の組み合わせ描写において、存在している。これによって、紛らわしくない位置決定が可能である。説明されたように、基準点A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κはまた、それらが特定の視野条件のもとでのみ、例えばUV光や特定波長の光のもとでのみ目に見えるように、構成可能である。
101 サンプル領域
102 部分領域
110,120 基準点ネットワーク
200 試料
Claims (11)
- 顕微鏡を用いて調査可能なサンプル(200)を載置することができるサンプル領域(101)と、少なくともサンプル領域(101)にて配置された複数の基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)とを有する試料スライド(100)であって、サンプル領域(101)の任意の部分領域(102)における少なくとも規定された数の基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)の認識に基づいて、試料スライド(100)上の任意の部分領域(102)の位置、及び/又はその任意の部分領域(102)における少なくとも一つの位置が曖昧でなく決定可能であるように基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)が具現化される、試料スライド。
- 複数の基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)を有する少なくとも二つの基準点ネットワーク(110,120)が設けられ、それら少なくとも二つの基準点ネットワーク(110,120)の基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)がそれらの間隔に関して互いに相違する、請求項1に記載の試料スライド(100)。
- 少なくとも一つの基準点ネットワーク(110)の基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)の間隔が、別の基準点ネットワーク(120)の基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)の間隔の倍数であり、特に少なくとも2倍、10倍又は100倍である、請求項2に記載の試料スライド(100)。
- サンプル領域(101)の所定サイズの部分領域(102)のために、夫々の基準点ネットワーク(110,120)の少なくとも規定された数の基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)が夫々同時に認識可能であるように、少なくとも二つの基準点ネットワーク(110,120)における基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)の間隔が夫々具現化されている、請求項2又は3に記載の試料スライド(100)。
- 規定された数の基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)が一つ、二つ又は三つである、請求項1〜4のいずれか一項に記載の試料スライド(100)。
- 基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)が、光学的に及び/又は電磁気的に感知可能である基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)として具現化されている、請求項1〜5のいずれか一項に記載の試料スライド(100)。
- 基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)が少なくとも部分的に英数字の基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)として具現化されている、請求項1〜6のいずれか一項に記載の試料スライド(100)。
- 基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)が少なくとも部分的に機械読み取り可能な基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)として具現化されている、請求項1〜7のいずれか一項に記載の試料スライド(100)。
- 画定された観察条件の下でのみ、特に予め決められた波長領域の観察光において基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)が光学的に感知可能であるように、基準点(A〜Z、1〜24、a〜j、α〜κ)が具現化されている、請求項1〜8のいずれか一項に記載の試料スライド(100)。
- 少なくとも一つのサンプル調査装置、特に顕微鏡及び/又はスライドスキャナと、サンプル処理装置、特にレーザ顕微解剖ユニットとを備えて構成されるサンプル調査システムであって、サンプル調査装置及び/又はサンプル処理装置がサンプル(100)を備えた請求項1に記載の試料スライド(100)上の位置を決定し、及び/又は検索するようにセットアップされている、サンプル調査システム。
- サンプル調査装置が基準点データをサンプル処理装置に移すようにセットアップされ、サンプル処理装置が基準点データから処理に関する指示を引き出し、その指示にしたがって試料スライド上のサンプル(200)を処理するようにセットアップされている、請求項10に記載のサンプル調査システム。
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Cited By (2)
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JP2018521309A (ja) * | 2015-05-20 | 2018-08-02 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH | 顕微鏡検査試料を検査および処理する方法ならびに検査システム |
JP2019537075A (ja) * | 2016-11-08 | 2019-12-19 | サーモ エレクトロン サイエンティフィック インストルメンツ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 分析顕微鏡の寸法較正システムおよび方法 |
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DE10152404C5 (de) * | 2001-10-24 | 2017-06-08 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Laser-Mikrodissektionssystem |
DE10336803A1 (de) | 2003-08-11 | 2005-03-24 | Leica Microsystems Wetzlar Gmbh | Verfahren und System zur geräteunabhängigen Bestimmung von Koordinaten eines mittels eines Mikroskops abgebildeten Punktes |
DE102005036529A1 (de) * | 2005-08-03 | 2007-02-15 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren zur lagegetreuen Abbildung eines Objektes |
US20080056952A1 (en) * | 2006-08-25 | 2008-03-06 | Angros Lee H | Analytic plates with markable portions and methods of use |
JP2009036969A (ja) * | 2007-08-01 | 2009-02-19 | Nikon Corp | カバーガラス、スライドガラス、プレパラート、観察方法、及び顕微鏡装置 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018521309A (ja) * | 2015-05-20 | 2018-08-02 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH | 顕微鏡検査試料を検査および処理する方法ならびに検査システム |
JP2019537075A (ja) * | 2016-11-08 | 2019-12-19 | サーモ エレクトロン サイエンティフィック インストルメンツ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 分析顕微鏡の寸法較正システムおよび方法 |
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