JP3177423B2 - Peripheral device testing system - Google Patents
Peripheral device testing systemInfo
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Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】この発明はホスト装置に接続され
る周辺装置を試験する周辺装置の試験システムに関する
ものであり、特に、ホスト装置から周辺装置に対して、
周辺装置の装置コマンドの一部として設けられる装置試
験コマンドを転送することにより周辺装置の試験を容易
に行う。 BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a peripheral device test system for testing a peripheral device connected to a host device.
In particular, from the host device to the peripheral device,
Device test provided as part of device commands for peripheral devices
Test commands to facilitate peripheral device testing
To do.
【０００２】[0002]
【従来の技術】周辺装置における装置の試験は、これま
で周辺装置のコンソールパネルにあるスイッチ（電源ス
イッチ、リセットスイッチ、オンライン／オフラインス
イッチ等）を使用するものが知られている。図６の従来
の周辺装置５０は、試験モードへの移行、試験項目の選
択、試験項目の実行、試験モードの解除などの設定を行
うスイッチ部５１と、制御処理部５４の状態や試験項目
名などを表示する表示部５２と、ホスト側とのデータ転
送を行うインターフェース部５３と、スイッチ部５１の
状態を読み取り、その状態を表示部５２に表示し、また
スイッチ部５１の状態に対応する処理の実行を行った
り、ホスト側からインターフェース部５３を経由して転
送される装置コマンドの実行を行う制御処理部５４と、
通常印刷を行う通常印刷処理部５５と、試験印刷を行う
試験印刷処理部５６から構成される。図７は、従来の周
辺装置において、試験を行うための操作手順を示すフロ
ーチャートである。まず、試験モードへの設定を、スイ
ッチ１を押しながら、スイッチ３を２回押すことで行う
（ステップ１）。試験項目の切替えをスイッチ１とスイ
ッチ２で行い、昇順方向はスイッチ１で、降順方向はス
イッチ２で行う（ステップ２）。選択した試験項目の実
行を、スイッチ３を押すことで行う（ステップ３）。試
験モードの解除は、スイッチ１を押しながら、スイッチ
３を押すことで行う（ステップ４）。2. Description of the Related Art It has been known that a test of a device in a peripheral device uses a switch (power switch, reset switch, online / offline switch, etc.) on a console panel of the peripheral device. The conventional peripheral device 50 shown in FIG. 6 includes a switch unit 51 for setting a transition to a test mode, selecting a test item, executing a test item, canceling the test mode, and the like. Display section 52 for displaying data, etc., an interface section 53 for performing data transfer with the host side, reading the state of the switch section 51, displaying the state on the display section 52, and processing corresponding to the state of the switch section 51. And a control processing unit 54 for executing a device command transferred from the host via the interface unit 53,
A normal print processing section 55 for performing normal printing and a test print processing section 56 for performing test printing are provided. FIG. 7 is a flowchart showing an operation procedure for performing a test in a conventional peripheral device. First, the test mode is set by pressing the switch 3 twice while pressing the switch 1 (step 1). The switching of the test items is performed by the switch 1 and the switch 2, and the ascending order is performed by the switch 1 and the descending direction is performed by the switch 2 (step 2). The selected test item is executed by pressing the switch 3 (step 3). The test mode is released by pressing the switch 3 while pressing the switch 1 (step 4).
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上記のように周辺装置
のコンソールパネルのスイッチを使用した装置試験の操
作手順は、非常に複雑である。また、周辺装置のコンソ
ールパネルにあるスイッチは、コストダウンにより少な
くなっており、かつ周辺装置の機能は拡大する一方であ
る。従って、装置試験を実行させるための操作手順は複
雑になる方向にある。本発明は、ホスト側から周辺装置
の試験を行う装置コマンドを転送することにより、周辺
装置の試験を行う。これにより周辺装置の試験を実行す
るときの操作手順を簡略化する点にある。As described above, the operation procedure of the device test using the switches on the console panel of the peripheral device is very complicated. The number of switches on the console panel of the peripheral device is decreasing due to cost reduction, and the function of the peripheral device is expanding. Therefore, the operation procedure for executing the device test tends to be complicated. According to the present invention, the peripheral device is tested by transferring a device command for testing the peripheral device from the host. This simplifies the operation procedure when executing the test of the peripheral device.
【０００４】[0004]
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
装置コマンドの一部として少なくとも装置試験コマンド
を含む装置情報をホスト装置に転送する装置情報転送処
理部を周辺装置に設け、かつ周辺装置の装置情報転送処
理部より装置試験に必要な少なくとも装置試験コマンド
を含む装置情報を獲得し、その装置情報を記憶装置に格
納する装置情報格納処理部と、記憶装置に格納された装
置情報の装置試験コマンドの中から指定される装置試験
コマンドを周辺装置に転送する装置試験処理部とをホス
ト装置に設けることを特徴とする周辺装置の試験システ
ムである。According to the first aspect of the present invention,
At least the equipment test command as part of the equipment command
Device information transfer processing for transferring device information including
The processing unit is provided in the peripheral device, and the device information transfer
At least the equipment test command required for equipment testing from the control unit
Device information including the device information, and store the device information in the storage device.
Device information storage processing unit to be stored, and the device information stored in the storage device.
Device test specified from the device test command in the device information
A device test processing unit that transfers commands to peripheral devices;
This is a test system for peripheral devices, which is provided in a remote device .
【０００５】[0005]
【０００６】[0006]
【０００７】[0007]
【作用】このような特徴を有する周辺装置の試験システ
ムによれば、ホスト装置から周辺装置に対して装置コマ
ンドの一部である装置試験コマンドを転送することによ
り実施したい試験ができるので周辺装置のオペレータパ
ネルのスイッチを操作する必要がない。According to the peripheral device test system having such features, a test to be performed can be performed by transferring a device test command which is a part of the device command from the host device to the peripheral device. There is no need to operate switches on the operator panel.
【０００８】[0008]
【０００９】[0009]
【００１０】[0010]
【実施例】図２は、本発明の一実施例による周辺装置の
試験システムを示す構成図である。本図において表示装
置１０はオペレータから周辺装置の試験に必要となる各
試験パラメタ（利用者レベル、装置試験項目、装置情報
の読み取り指示、試験の実行指示、試験の終了指示）を
入力要求するため、図５のような入力要求フォーマット
を表示する表示装置である。入力装置１２はオペレータ
から利用者レベルの設定や試験項目の選択を指定するキ
ーボードやマウスなどの入力装置である。制御処理部１
３は入力装置により指定された処理の実行制御を行う。
装置試験処理部１４は周辺装置に対して装置試験コマン
ドを転送する処理を行う。装置情報格納処理部１５は周
辺装置に対して装置情報（装置名称、装置制御プログラ
ムの版数、装置試験コマンド情報）を獲得するコマンド
を転送し、獲得した装置情報を記憶装置１６に格納する
処理を行う。FIG. 2 is a block diagram showing a peripheral device test system according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the display device 10 is used to request the operator to input test parameters (user level, device test item, device information reading instruction, test execution instruction, test end instruction) required for testing peripheral devices. , A display device for displaying an input request format as shown in FIG. The input device 12 is an input device such as a keyboard and a mouse for designating a user level setting and a test item selection from an operator. Control processing unit 1
Reference numeral 3 controls execution of the process specified by the input device.
The device test processing unit 14 performs a process of transferring a device test command to a peripheral device. The device information storage processing unit 15 transfers a command for acquiring device information (device name, device control program version, device test command information) to the peripheral device, and stores the acquired device information in the storage device 16. I do.
【００１１】周辺装置５は、試験モードへの移行、試験
項目の選択、試験項目の実行、試験モードの解除などの
設定を行うスイッチ部５１と、制御処理部５４の状態や
試験項目名などを表示する表示部５２と、ホスト装置と
のデータ転送を行うインターフェース部５３と、スイッ
チ部５１の状態を読み取り、その状態を表示部５２に表
示し、またスイッチ部５１の状態に対応する処理の実行
を行ったり、ホスト装置からインターフェース部５３を
経由して転送される装置コマンドの実行を行う制御処理
部５４と、通常印刷を行う通常印刷処理部５５と、試験
印刷を行う試験印刷処理部５６と、装置情報をホスト側
へ転送する処理を行う装置情報転送処理部５７から構成
される。The peripheral device 5 includes a switch unit 51 for setting a transition to a test mode, selecting a test item, executing a test item, canceling a test mode, and the like, and a state of a control processing unit 54 and a test item name. A display unit 52 for displaying, an interface unit 53 for transferring data to and from the host device, a state of the switch unit 51 is read, the state is displayed on the display unit 52, and processing corresponding to the state of the switch unit 51 is executed. And a control processing unit 54 for executing device commands transferred from the host device via the interface unit 53, a normal printing processing unit 55 for performing normal printing, and a test printing processing unit 56 for performing test printing. And a device information transfer processing unit 57 for performing a process of transferring device information to the host.
【００１２】図３は、本発明の一実施例による周辺装置
の試験システムの動作を示すフローチャートである。以
下、このフローチャートに従って本実施例の動作を説明
する。まず、オペレータが周辺装置の試験を詳細な試験
まで実施するか、簡単な試験を実施するか、試験項目の
レベルを選択するために利用レベルの設定を行う（ステ
ップ２１）。周辺装置に対して装置情報（装置名称、装
置制御プログラムの版数）を獲得する装置コマンドを転
送して、装置情報（装置名称、装置制御プログラムの版
数）を獲得する（ステップ２２）。記憶装置１６から図
４で示されるような装置情報管理ファイルを読み込み、
利用レベルと周辺装置から獲得した装置情報（装置名
称、装置制御プログラムの版数）が装置情報管理データ
内にあるか判別する（ステップ２３）。同一のデータが
あれば、ステップ２４に進み、装置情報管理データの装
置試験コマンドの情報を獲得する。同一のデータがなけ
れば、ステップ２５へ進み、周辺装置に対して装置情報
（装置試験コマンドの情報）を獲得する装置コマンドを
転送し、装置情報を獲得する。獲得した装置情報を記憶
装置１６の装置情報管理ファイルに格納する（ステップ
２６）。獲得した装置情報（装置名称、装置制御プログ
ラムの版数、装置試験コマンドの情報）を図５で示され
るようなフォーマットでコンソールに表示する（ステッ
プ２７）。オペレータによる装置試験項目の設定を行う
（ステップ２８）。オペレータからの装置試験の実行指
示により試験を行う（ステップ２９）。オペレータから
の試験終了指示があったかを判別し、試験終了指示があ
れば処理を終了する。そうでなければ、ステップ２７に
戻る（ステップ３０）。FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the peripheral device test system according to one embodiment of the present invention. Hereinafter, the operation of this embodiment will be described with reference to this flowchart. First, the operator sets a usage level to select a level of a test item, whether to execute a test of a peripheral device up to a detailed test, a simple test, or the like (step 21). A device command for acquiring device information (device name, device control program version) is transferred to the peripheral device to acquire device information (device name, device control program version) (step 22). A device information management file as shown in FIG. 4 is read from the storage device 16,
It is determined whether or not the use level and the device information (device name, version number of the device control program) acquired from the peripheral device exist in the device information management data (step 23). If there is the same data, the process proceeds to step 24 to acquire the information of the device test command of the device information management data. If there is no identical data, the process proceeds to step 25, where a device command for acquiring device information (information of a device test command) is transferred to the peripheral device to acquire device information. The acquired device information is stored in the device information management file of the storage device 16 (step 26). The acquired device information (device name, device control program version number, device test command information) is displayed on the console in a format as shown in FIG. 5 (step 27). The operator sets the device test items (step 28). A test is performed according to an instruction to execute a device test from an operator (step 29). It is determined whether or not there has been a test termination instruction from the operator. If not, the process returns to step 27 (step 30).
【００１３】図５は装置試験の試験の入力要求フォーマ
ット例でありフィールド４１は利用レベルの設定を行う
ための入力フィールドである。出力フィールド４２は周
辺装置より獲得した装置名称を表示するための出力フィ
ールドである。出力フィールド４３は周辺装置より獲得
した装置制御プログラムの版数を表示するための出力フ
ィールドである。入力フィールド４５は周辺装置に対し
て装置情報（装置名称、装置制御プログラムの版数、装
置試験コマンド情報）の獲得を指示するための入力フィ
ールドである。入出力フィールド４４は周辺装置より獲
得した試験項目名を表示するための出力フィールドと実
行する試験項目を指定してもらうための入力フィールド
である。入力フィールド４６は試験を実行する指示を入
力するための入力フィールドである。入力フィールド４
７は装置試験の終了を指示するための入力フィールドで
ある。FIG. 5 shows an example of an input request format for an apparatus test. A field 41 is an input field for setting a use level. The output field 42 is an output field for displaying a device name obtained from a peripheral device. The output field 43 is an output field for displaying the version number of the device control program obtained from the peripheral device. The input field 45 is an input field for instructing the peripheral device to acquire device information (device name, device control program version number, device test command information). The input / output field 44 is an output field for displaying the test item name obtained from the peripheral device and an input field for having the user specify the test item to be executed. The input field 46 is an input field for inputting an instruction to execute a test. Input field 4
Reference numeral 7 denotes an input field for instructing the end of the device test.
【００１４】[0014]
【発明の効果】ホスト装置から周辺装置に対して装置コ
マンドの一部である装置試験コマンドを転送することに
より、いままで、周辺装置の種別毎に装置試験を実行す
るため、オペレータパネルのスイッチの操作を覚えてい
たが、その必要がなく操作性は非常に簡略化される。By transferring a device test command, which is a part of the device command, from the host device to the peripheral device, a device test can be executed for each type of peripheral device. I remember the operation, but there is no need to do so, and the operability is greatly simplified.
【００１５】また、装置試験を実行した装置の装置情報
をホスト装置の記憶装置に記憶しているので、次に同じ
周辺装置（装置名称と装置制御プログラムの版数）の試
験を実施する場合は、記憶してある装置情報を使用する
ことにより、新たに装置試験コマンド情報を周辺装置か
ら獲得する必要がなくなり装置情報の獲得にかかる実行
時間が短くなり操作性は更に向上する。 Also, since the device information of the device that has performed the device test is stored in the storage device of the host device, the next test of the same peripheral device (device name and version number of the device control program) is performed. By using the stored device information, it is not necessary to newly obtain the device test command information from the peripheral device, and the execution time required for obtaining the device information is shortened, and the operability is further improved.
【００１６】さらに、装置試験は実施する目的によって
異なり、周辺装置の開発元ではすべての機能を確認す
る、量産試験元では印刷機能の確認のみ実施する場合、
利用者レベルによって装置試験項目をコンソールに表示
させ、オペレータが表示された装置試験項目から選択で
きるようにしているので、オペレータは誤って不要な試
験項目を選択するようなことがないので安心して操作で
きる。Further, the device test differs depending on the purpose to be performed. When the peripheral device developer checks all functions, and when the mass production test source checks only the printing function,
The device test items are displayed on the console according to the user level, and the operator can select from the displayed device test items, so that the operator does not mistakenly select unnecessary test items and can operate with confidence. it can.
【００１７】[0017]
【図１】本発明の原理構成図FIG. 1 is a block diagram of the principle of the present invention.
【図２】実施例の構成図FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment.
【図３】実施例の動作を示すフローチャートFIG. 3 is a flowchart showing the operation of the embodiment.
【図４】実施例の装置情報管理ファイルの構成FIG. 4 is a configuration of a device information management file according to the embodiment;
【図５】実施例の入力要求フォーマットFIG. 5 is an input request format according to the embodiment.
【図６】従来の構成図FIG. 6 is a conventional configuration diagram.
【図７】従来の周辺装置の試験を行うための操作手順を
示すフローチャートFIG. 7 is a flowchart showing an operation procedure for testing a conventional peripheral device.
【符号の説明】１ ホスト装置 ５ 周辺装置 １４ 装置試験処理部 １５ 装置情報格納処理部 １６ 記憶装置 ５４ 制御処理部 ５６ 試験印刷処理部 ５７ 装置情報転送処理部[Description of Signs] 1 Host device 5 Peripheral device 14 Device test processing unit 15 Device information storage processing unit 16 Storage device 54 Control processing unit 56 Test print processing unit 57 Device information transfer processing unit
Claims (1)
置試験コマンドを含む装置情報をホスト装置に転送する
装置情報転送処理部（５７）を周辺装置（５）に設け、
かつ周辺装置（５）の装置情報転送処理部（５７）より
装置試験に必要な少なくとも装置試験コマンドを含む装
置情報を獲得し、その装置情報を記憶装置（１６）に格
納する装置情報格納処理部（１５）と、記憶装置（１
６）に格納された装置情報の装置試験コマンドの中から
指定される装置試験コマンドを周辺装置（５）に転送す
る装置試験処理部（１４）とをホスト装置（１）に設け
ることを特徴とする周辺装置の試験システム。At least a device is provided as part of a device command.
Transfer device information including the location test command to the host device
A device information transfer processor (57) provided in the peripheral device (5);
And from the device information transfer processing unit (57) of the peripheral device (5).
Equipment that contains at least the equipment test commands required for equipment testing
Device information and store the device information in the storage device (16).
Device information storage processing unit (15) to be stored, and storage device (1)
From the device test commands in the device information stored in 6)
Transfer the specified device test command to the peripheral device (5)
And a device test processing unit (14) provided in the host device (1).
Test system peripherals, characterized in that that.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25436295A JP3177423B2 (en) | 1995-10-02 | 1995-10-02 | Peripheral device testing system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25436295A JP3177423B2 (en) | 1995-10-02 | 1995-10-02 | Peripheral device testing system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0997195A JPH0997195A (en) | 1997-04-08 |
| JP3177423B2 true JP3177423B2 (en) | 2001-06-18 |
Family
ID=17263942
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25436295A Expired - Fee Related JP3177423B2 (en) | 1995-10-02 | 1995-10-02 | Peripheral device testing system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3177423B2 (en) |
-
1995
- 1995-10-02 JP JP25436295A patent/JP3177423B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0997195A (en) | 1997-04-08 |
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