JP3163497B2 - 信号解析装置 - Google Patents
信号解析装置Info
- Publication number
- JP3163497B2 JP3163497B2 JP29379599A JP29379599A JP3163497B2 JP 3163497 B2 JP3163497 B2 JP 3163497B2 JP 29379599 A JP29379599 A JP 29379599A JP 29379599 A JP29379599 A JP 29379599A JP 3163497 B2 JP3163497 B2 JP 3163497B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power
- signal
- value
- distribution
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、信号解析装置にお
いて、信号のスペクトラムと電力分布との関係を効率的
にかつ正確に把握できるようにするための技術に関す
る。
いて、信号のスペクトラムと電力分布との関係を効率的
にかつ正確に把握できるようにするための技術に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】通信機器のうち、例えば、携帯電話機で
は通信チャネルの不足を解消するために、従来のＴＤＭ
Ａ（Ｔｉｍｅ Ｄｉｖｉｓｉｏｎ Ｍｕｌｔｉｐｌｅ
Ａｃｃｅｓｓ）方式に代わってＣＤＭＡ（Ｃｏｄｅ Ｄ
ｉｖｉｓｉｏｎ Ｍｕｌｔｉｐｌｅ Ａｃｃｅｓｓ）方
式に移行することが提案されている。
は通信チャネルの不足を解消するために、従来のＴＤＭ
Ａ（Ｔｉｍｅ Ｄｉｖｉｓｉｏｎ Ｍｕｌｔｉｐｌｅ
Ａｃｃｅｓｓ）方式に代わってＣＤＭＡ（Ｃｏｄｅ Ｄ
ｉｖｉｓｉｏｎ Ｍｕｌｔｉｐｌｅ Ａｃｃｅｓｓ）方
式に移行することが提案されている。
【０００３】ＣＤＭＡ方式は、各チャネルのデータを多
重化して高周波信号を拡散変調する方式であり、その変
調信号の振幅は大きく変化するため、回路のダイナミッ
クレンジが狭いと回路が飽和して隣接チャネル、隣々接
チャネルへ妨害を与えてしまう。
重化して高周波信号を拡散変調する方式であり、その変
調信号の振幅は大きく変化するため、回路のダイナミッ
クレンジが狭いと回路が飽和して隣接チャネル、隣々接
チャネルへ妨害を与えてしまう。
【０００４】回路のダイナミックレンジの狭さによって
生じる隣接チャネル、隣々接チャネルへの妨害の度合い
は、単に信号の振幅の最大値だけでなく、その発生頻度
に大きく依存する。
生じる隣接チャネル、隣々接チャネルへの妨害の度合い
は、単に信号の振幅の最大値だけでなく、その発生頻度
に大きく依存する。
【０００５】このため、ＣＤＭＡ方式の通信機器に用い
る増幅器等の評価を行う場合、信号発生器から評価対象
回路に入力される信号の瞬時振幅（瞬時電力）の分布に
対して評価対象回路の出力がどのように変化するかを正
確に把握する必要がある。
る増幅器等の評価を行う場合、信号発生器から評価対象
回路に入力される信号の瞬時振幅（瞬時電力）の分布に
対して評価対象回路の出力がどのように変化するかを正
確に把握する必要がある。
【０００６】このような測定を行う場合、従来では、図
８に示すように、信号発生器１１から評価対象回路１に
入力される信号のクレストファクタ、即ち、信号の平均
電力と瞬時電力の比の累積確率分布を電力分布測定器１
２で測定し、評価対象回路１の出力信号のスペクトラム
をスペクトラムアナライザ１８で測定する方法がとられ
ていた。
８に示すように、信号発生器１１から評価対象回路１に
入力される信号のクレストファクタ、即ち、信号の平均
電力と瞬時電力の比の累積確率分布を電力分布測定器１
２で測定し、評価対象回路１の出力信号のスペクトラム
をスペクトラムアナライザ１８で測定する方法がとられ
ていた。
【０００７】電力分布測定器１２は、入力信号をＡ／Ｄ
変換器１３によって所定期間サンプリングしてディジタ
ル信号に変換し、そのサンプリング値を演算装置１４に
出力し、演算装置１４では各サンプリング値を信号の瞬
時電力とし、その平均値を求めてこれを所定期間におけ
る入力信号の平均電力とし、各瞬時電力のうち、算出し
た平均電力以上の瞬時電力についての累積確率分布を計
算し、その計算結果を表示装置１５に表示している。な
お、周波数の高い信号の電力分布を求める場合には、周
波数変換器によって入力信号を低い周波数に変換してか
らＡ／Ｄ変換器１３に入力する。
変換器１３によって所定期間サンプリングしてディジタ
ル信号に変換し、そのサンプリング値を演算装置１４に
出力し、演算装置１４では各サンプリング値を信号の瞬
時電力とし、その平均値を求めてこれを所定期間におけ
る入力信号の平均電力とし、各瞬時電力のうち、算出し
た平均電力以上の瞬時電力についての累積確率分布を計
算し、その計算結果を表示装置１５に表示している。な
お、周波数の高い信号の電力分布を求める場合には、周
波数変換器によって入力信号を低い周波数に変換してか
らＡ／Ｄ変換器１３に入力する。
【０００８】また、スペクトラムアナライザ１８では、
評価対象回路１の出力信号のスペクトラムをその表示部
１８ａに表示する。
評価対象回路１の出力信号のスペクトラムをその表示部
１８ａに表示する。
【０００９】したがって、測定者は、信号発生器１１の
出力電力や変調状態を可変しながら、電力分布測定器１
２に表示される累積確率分布とスペクトラムアナライザ
１８に表示されるスペクトラムとによって、回路の評価
を行う。
出力電力や変調状態を可変しながら、電力分布測定器１
２に表示される累積確率分布とスペクトラムアナライザ
１８に表示されるスペクトラムとによって、回路の評価
を行う。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
た測定系で、ＣＤＭＡ方式の評価対象回路１の評価を行
う場合、スペクトラムアナライザ１８と電力分布測定器
１２とが互いに独立しているため、同一計測期間の信号
に対する評価が困難となり、測定を効率的に行うことが
できないという問題がある。
た測定系で、ＣＤＭＡ方式の評価対象回路１の評価を行
う場合、スペクトラムアナライザ１８と電力分布測定器
１２とが互いに独立しているため、同一計測期間の信号
に対する評価が困難となり、測定を効率的に行うことが
できないという問題がある。
【００１１】また、前記したようにＡ／Ｄ変換器のサン
プリング値を入力信号の瞬時電力とし、その平均値を入
力信号の平均電力として、電力分布を求める方法では、
入力信号の絶対的な電力分布を正確に把握することはで
きない。
プリング値を入力信号の瞬時電力とし、その平均値を入
力信号の平均電力として、電力分布を求める方法では、
入力信号の絶対的な電力分布を正確に把握することはで
きない。
【００１２】即ち、一般にＡ／Ｄ変換器は、入力信号に
対してサンプリングした電圧が内部の基準電圧の何倍に
相当するかを求め、これを２進化して出力しているた
め、基準電圧の誤差により絶対誤差が発生する。
対してサンプリングした電圧が内部の基準電圧の何倍に
相当するかを求め、これを２進化して出力しているた
め、基準電圧の誤差により絶対誤差が発生する。
【００１３】また、入力信号を低い周波数に変換してか
らＡ／Ｄ変換器に入力する場合には、周波数変換器の周
波数特性や変換利得の変動等によって入力信号のレベル
に対してＡ／Ｄ変換器に入力される信号のレベルが変動
してしまう。
らＡ／Ｄ変換器に入力する場合には、周波数変換器の周
波数特性や変換利得の変動等によって入力信号のレベル
に対してＡ／Ｄ変換器に入力される信号のレベルが変動
してしまう。
【００１４】したがって、前記のようにＡ／Ｄ変換器の
サンプリング値を入力信号の瞬時電力とし、その平均値
を入力信号の平均電力としてとして求めた電力分布は、
絶対電力について正確に表しておらず、電力分布に対す
るスペクトラムの関係を正確に把握できない。
サンプリング値を入力信号の瞬時電力とし、その平均値
を入力信号の平均電力としてとして求めた電力分布は、
絶対電力について正確に表しておらず、電力分布に対す
るスペクトラムの関係を正確に把握できない。
【００１５】本発明は、この問題を解決し、同一計測期
間の信号のスペクトラムと電力分布との関係を効率的に
かつ正確に把握できる信号解析装置を提供することを目
的としている。
間の信号のスペクトラムと電力分布との関係を効率的に
かつ正確に把握できる信号解析装置を提供することを目
的としている。
【００１６】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の信号解析装置は、信号を入力するための入
力端子（２４、２５）と、前記入力端子に入力された信
号のスペクトラム測定を行うスペクトラム測定部（３
０）と、前記入力端子に所定期間に入力された信号の瞬
時電力の分布を測定する電力分布測定部（４０）と、表
示器（２２）と、前記スペクトラム測定部によって測定
されたスペクトラムと、前記電力分布測定部によって測
定された瞬時電力の分布とを前記表示器の同一画面上に
表示する表示制御手段（６０）とを備えた信号解析装置
であって、 前記電力分布測定部は、 前記入力端子に入力
された信号を分岐する分岐回路（４１）と、 前記分岐回
路の一方の分岐出力をサンプリングしディジタルの値に
変換するＡ／Ｄ変換器（４５）と、 前記Ａ／Ｄ変換器か
ら出力されるサンプリング値を記憶する記憶手段（４
６、４７）と、 所定期間に前記記憶手段に記憶されたサ
ンプリング値の平均値を算出する平均演算手段（４８）
と、 前記平均値に対する前記所定期間の前記各サンプリ
ング値の電力の相対値をそれぞれ算出する相対値演算手
段（４９）と、 前記分岐回路の他方の分岐出力を受け
て、前記所定期間に前記入力端子に入力された信号の平
均電力を測定する平均電力測定手段（５０）と、 前記相
対値演算手段によって算出された各相対値に前記平均電
力測定手段によって測定された平均電力をそれぞれ加え
た値を前記所定期間に入力された信号の各瞬時電力とし
て該瞬時電力の度数分布、累積度数分布、累積確率分布
のいずれかを算出し、該算出結果を前記表示制御手段に
出力する電力分布演算手段（５５）とを備えている。
に、本発明の信号解析装置は、信号を入力するための入
力端子（２４、２５）と、前記入力端子に入力された信
号のスペクトラム測定を行うスペクトラム測定部（３
０）と、前記入力端子に所定期間に入力された信号の瞬
時電力の分布を測定する電力分布測定部（４０）と、表
示器（２２）と、前記スペクトラム測定部によって測定
されたスペクトラムと、前記電力分布測定部によって測
定された瞬時電力の分布とを前記表示器の同一画面上に
表示する表示制御手段（６０）とを備えた信号解析装置
であって、 前記電力分布測定部は、 前記入力端子に入力
された信号を分岐する分岐回路（４１）と、 前記分岐回
路の一方の分岐出力をサンプリングしディジタルの値に
変換するＡ／Ｄ変換器（４５）と、 前記Ａ／Ｄ変換器か
ら出力されるサンプリング値を記憶する記憶手段（４
６、４７）と、 所定期間に前記記憶手段に記憶されたサ
ンプリング値の平均値を算出する平均演算手段（４８）
と、 前記平均値に対する前記所定期間の前記各サンプリ
ング値の電力の相対値をそれぞれ算出する相対値演算手
段（４９）と、 前記分岐回路の他方の分岐出力を受け
て、前記所定期間に前記入力端子に入力された信号の平
均電力を測定する平均電力測定手段（５０）と、 前記相
対値演算手段によって算出された各相対値に前記平均電
力測定手段によって測定された平均電力をそれぞれ加え
た値を前記所定期間に入力された信号の各瞬時電力とし
て該瞬時電力の度数分布、累積度数分布、累積確率分布
のいずれかを算出し、該算出結果を前記表示制御手段に
出力する電力分布演算手段（５５）とを備えている。
【００１７】
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施形態を説明する。図１は、実施形態の信号解析装置２
０の外観を示し、図２はその内部構成と評価対象回路１
を測定するときの接続状態を示している。
施形態を説明する。図１は、実施形態の信号解析装置２
０の外観を示し、図２はその内部構成と評価対象回路１
を測定するときの接続状態を示している。
【００１９】図１において、この信号解析装置２０の筐
体２１の前面側には、スペクトラム波形および電力分布
のグラフを表示するための表示器２２、測定条件等を指
定するための操作部２３および信号を入力するための第
１の入力端子２４、第２の入力端子２５が設けられてい
る。
体２１の前面側には、スペクトラム波形および電力分布
のグラフを表示するための表示器２２、測定条件等を指
定するための操作部２３および信号を入力するための第
１の入力端子２４、第２の入力端子２５が設けられてい
る。
【００２０】第１の入力端子２４はスペクトラム測定用
の端子であり、図２に示しているように、信号発生器１
１から出力される信号が分岐回路１９を介して入力され
る。また、第２の入力端子２５は電力分布測定用の端子
であり、信号発生器１１からの信号を分岐回路１９を介
して受けた評価対象回路１から出力される信号が入力さ
れる。
の端子であり、図２に示しているように、信号発生器１
１から出力される信号が分岐回路１９を介して入力され
る。また、第２の入力端子２５は電力分布測定用の端子
であり、信号発生器１１からの信号を分岐回路１９を介
して受けた評価対象回路１から出力される信号が入力さ
れる。
【００２１】図２に示しているように、この信号解析装
置２０はスペクトラム測定部３０と電力分布測定部４０
とを有しており、これらの測定条件は制御部２８によっ
て設定される。
置２０はスペクトラム測定部３０と電力分布測定部４０
とを有しており、これらの測定条件は制御部２８によっ
て設定される。
【００２２】制御部２８は、測定中心周波数情報ｆｃ、
周波数幅情報ｆｗ、スイッチ切換信号Ｈ、計測信号Ｍ等
を出力する。なお、計測信号Ｍは、例えば「１」（ハイ
レベル）と「０」（ローレベル）が一定時間ずつ交互に
繰り返されるものであり、「１」の期間を計測期間とし
て電力分布測定部４０に出力する。制御部２８が出力す
る周波数情報および計測信号Ｍのパルス幅や周期は、操
作部２３の操作によって可変できるようになっている。
周波数幅情報ｆｗ、スイッチ切換信号Ｈ、計測信号Ｍ等
を出力する。なお、計測信号Ｍは、例えば「１」（ハイ
レベル）と「０」（ローレベル）が一定時間ずつ交互に
繰り返されるものであり、「１」の期間を計測期間とし
て電力分布測定部４０に出力する。制御部２８が出力す
る周波数情報および計測信号Ｍのパルス幅や周期は、操
作部２３の操作によって可変できるようになっている。
【００２３】第１の入力端子２４はスペクトラム測定部
３０に接続されている。スペクトラム測定部３０は、図
３に示すように、掃引信号発生器３１からの掃引信号の
電圧に対応した周波数の局発信号を電圧制御発振器３２
からミキサ３３に入力して第１の入力端子２４に入力さ
れた入力信号Ｊと混合し、その混合成分のうち所定の通
過中心周波数を有する中間周波フィルタ３４を通過した
信号を対数増幅器３５によって対数増幅して検波回路３
６で検波し、この検波出力をＡ／Ｄ変換器３７によって
ディジタルのスペクトラムデータに変換してメモリ３８
に記憶する。
３０に接続されている。スペクトラム測定部３０は、図
３に示すように、掃引信号発生器３１からの掃引信号の
電圧に対応した周波数の局発信号を電圧制御発振器３２
からミキサ３３に入力して第１の入力端子２４に入力さ
れた入力信号Ｊと混合し、その混合成分のうち所定の通
過中心周波数を有する中間周波フィルタ３４を通過した
信号を対数増幅器３５によって対数増幅して検波回路３
６で検波し、この検波出力をＡ／Ｄ変換器３７によって
ディジタルのスペクトラムデータに変換してメモリ３８
に記憶する。
【００２４】掃引信号発生器３１は、制御部２８から指
定された測定中心周波数情報ｆｃ、周波数幅情報ｆｗを
受けて、周波数（ｆｃ−ｆｗ）から周波数（ｆｃ＋ｆ
ｗ）の範囲の信号が中間周波フィルタの通過中心周波数
に変換されるように、掃引信号を電圧制御発振器３２に
出力する。
定された測定中心周波数情報ｆｃ、周波数幅情報ｆｗを
受けて、周波数（ｆｃ−ｆｗ）から周波数（ｆｃ＋ｆ
ｗ）の範囲の信号が中間周波フィルタの通過中心周波数
に変換されるように、掃引信号を電圧制御発振器３２に
出力する。
【００２５】一方、第２の入力端子２５は、電力分布測
定部４０に接続されている。電力分布測定部４０は、図
４に示すように、第２の入力端子２５から入力される入
力信号Ｓを分岐回路４１によって２系統に分岐出力す
る。なお、分岐回路４１の分岐損失は既知とする。
定部４０に接続されている。電力分布測定部４０は、図
４に示すように、第２の入力端子２５から入力される入
力信号Ｓを分岐回路４１によって２系統に分岐出力す
る。なお、分岐回路４１の分岐損失は既知とする。
【００２６】分岐回路４１の一方の分岐信号Ｕはスイッ
チ４２に入力されている。スイッチ４２は、分岐信号Ｕ
を周波数変換回路４３またはスイッチ４４のいずれか一
方へ選択的に入力する。
チ４２に入力されている。スイッチ４２は、分岐信号Ｕ
を周波数変換回路４３またはスイッチ４４のいずれか一
方へ選択的に入力する。
【００２７】周波数変換回路４３は、スイッチ４２を介
して入力された分岐信号Ｕを内部の局発信号と混合し
て、後述するＡ／Ｄ変換器４５が扱える比較的低い所定
周波数帯に周波数変換してスイッチ４４に出力する。こ
の周波数変換回路４３は、制御部２８からの測定中心周
波数情報ｆｃを受けて、入力信号Ｓのうち周波数ｆｃの
信号が所定周波数に変換されてＡ／Ｄ変換器４５に入力
されるように局発信号の周波数を設定する。
して入力された分岐信号Ｕを内部の局発信号と混合し
て、後述するＡ／Ｄ変換器４５が扱える比較的低い所定
周波数帯に周波数変換してスイッチ４４に出力する。こ
の周波数変換回路４３は、制御部２８からの測定中心周
波数情報ｆｃを受けて、入力信号Ｓのうち周波数ｆｃの
信号が所定周波数に変換されてＡ／Ｄ変換器４５に入力
されるように局発信号の周波数を設定する。
【００２８】スイッチ４４はスイッチ４２と連動して切
り換わるものであり、スイッチ４２からの分岐信号Ｕま
たは周波数変換回路４３からの変換信号Ｕ′をＡ／Ｄ変
換器４５に入力する。
り換わるものであり、スイッチ４２からの分岐信号Ｕま
たは周波数変換回路４３からの変換信号Ｕ′をＡ／Ｄ変
換器４５に入力する。
【００２９】この切り換えは、制御部２８からのスイッ
チ切換信号Ｈによって行われる。即ち、測定周波数が所
定周波数以下の場合には、スイッチ４２、４４は分岐信
号Ｕが直接Ａ／Ｄ変換器４５に入力されるように切り換
わり、測定周波数が所定周波数より高い場合には、スイ
ッチ４２、４４は分岐信号Ｕが周波数変換回路４３に入
力され、周波数変換回路４３からの変換信号Ｕ′がＡ／
Ｄ変換器４５に入力されるように切り換わる。
チ切換信号Ｈによって行われる。即ち、測定周波数が所
定周波数以下の場合には、スイッチ４２、４４は分岐信
号Ｕが直接Ａ／Ｄ変換器４５に入力されるように切り換
わり、測定周波数が所定周波数より高い場合には、スイ
ッチ４２、４４は分岐信号Ｕが周波数変換回路４３に入
力され、周波数変換回路４３からの変換信号Ｕ′がＡ／
Ｄ変換器４５に入力されるように切り換わる。
【００３０】Ａ／Ｄ変換器４５は、スイッチ４４を介し
て入力される分岐信号Ｕまたは変換信号Ｕ′を所定のサ
ンプリング周期でサンプリングして所定ビット数のディ
ジタルの値に変換してメモリ４６に出力する。ここで、
Ａ／Ｄ変換器４５のサンプリング周期は入力される信号
の周期に対して十分短いものとし、また、サンプリング
値は絶対値で出力するものとする。
て入力される分岐信号Ｕまたは変換信号Ｕ′を所定のサ
ンプリング周期でサンプリングして所定ビット数のディ
ジタルの値に変換してメモリ４６に出力する。ここで、
Ａ／Ｄ変換器４５のサンプリング周期は入力される信号
の周期に対して十分短いものとし、また、サンプリング
値は絶対値で出力するものとする。
【００３１】データ書込手段４７は、メモリ４６ととも
に記憶手段を構成するものであり、制御部２８からの計
測信号Ｍが「１」の計測期間にＡ／Ｄ変換器４５から出
力されるサンプリング値Ａ１〜ＡＮをメモリ４６に記憶
させる。
に記憶手段を構成するものであり、制御部２８からの計
測信号Ｍが「１」の計測期間にＡ／Ｄ変換器４５から出
力されるサンプリング値Ａ１〜ＡＮをメモリ４６に記憶
させる。
【００３２】平均演算手段４８は、計測期間が終了する
毎、即ち、計測信号Ｍが「１」から「０」に切り換わる
毎にメモリ４６に記憶されたサンプリング値Ａ１〜ＡＮ
を読み出してその平均値Ｂを算出し、相対値演算手段４
９に出力する。
毎、即ち、計測信号Ｍが「１」から「０」に切り換わる
毎にメモリ４６に記憶されたサンプリング値Ａ１〜ＡＮ
を読み出してその平均値Ｂを算出し、相対値演算手段４
９に出力する。
【００３３】相対値演算手段４９は、メモリ４６に記憶
された各サンプリング値Ａ１〜ＡＮと平均演算手段４８
によって算出された平均値Ｂとを用いて、次の演算 Ｃ１＝２０・ｌｏｇ（Ａ１／Ｂ） Ｃ２＝２０・ｌｏｇ（Ａ２／Ｂ） ……… ＣＮ＝２０・ｌｏｇ（ＡＮ／Ｂ） を行い、平均値Ｂに対する各サンプリング値Ａ１〜ＡＮ
の相対値Ｃ１〜ＣＮをｄＢ換算して求める。
された各サンプリング値Ａ１〜ＡＮと平均演算手段４８
によって算出された平均値Ｂとを用いて、次の演算 Ｃ１＝２０・ｌｏｇ（Ａ１／Ｂ） Ｃ２＝２０・ｌｏｇ（Ａ２／Ｂ） ……… ＣＮ＝２０・ｌｏｇ（ＡＮ／Ｂ） を行い、平均値Ｂに対する各サンプリング値Ａ１〜ＡＮ
の相対値Ｃ１〜ＣＮをｄＢ換算して求める。
【００３４】なお、上記相対値は、各サンプリング値を
ｄＢ換算した電力と平均値ＢをｄＢ換算した電力との差
を表しているが、これらの相対値をリニアで求めること
もできる。
ｄＢ換算した電力と平均値ＢをｄＢ換算した電力との差
を表しているが、これらの相対値をリニアで求めること
もできる。
【００３５】この相対値Ｃ１〜ＣＮは、計測期間に第２
の入力端子２５に入力された入力信号Ｓの平均電力に対
する各瞬時電力の相対量を正確に示している。
の入力端子２５に入力された入力信号Ｓの平均電力に対
する各瞬時電力の相対量を正確に示している。
【００３６】即ち、Ａ／Ｄ変換器４５のサンプリング値
Ａ１〜ＡＮは、前記したように、温度変化をはじめとす
る諸条件の変化の影響を受け、真の値に対して誤差が発
生する。さらに、入力信号を周波数変換回路４３で周波
数変換する場合には、その周波数特性や変換利得の変動
等による誤差が上乗せされる。よって、サンプリング値
Ａ１〜ＡＮの平均演算によって求めた平均値Ｂも真の平
均値に対して誤差が発生するが、上記相対値をとること
によって、互いの誤差が相殺あるいは圧縮される。
Ａ１〜ＡＮは、前記したように、温度変化をはじめとす
る諸条件の変化の影響を受け、真の値に対して誤差が発
生する。さらに、入力信号を周波数変換回路４３で周波
数変換する場合には、その周波数特性や変換利得の変動
等による誤差が上乗せされる。よって、サンプリング値
Ａ１〜ＡＮの平均演算によって求めた平均値Ｂも真の平
均値に対して誤差が発生するが、上記相対値をとること
によって、互いの誤差が相殺あるいは圧縮される。
【００３７】一方、分岐回路４１の他方の分岐信号Ｖ
は、平均電力測定器５０に入力されている。平均電力測
定器５０は、計測期間に第２の入力端子２５に入力され
た入力信号Ｓの平均電力Ｄを、Ａ／Ｄ変換器のような間
欠的なサンプリングを行うことなく、連続的に測定す
る。
は、平均電力測定器５０に入力されている。平均電力測
定器５０は、計測期間に第２の入力端子２５に入力され
た入力信号Ｓの平均電力Ｄを、Ａ／Ｄ変換器のような間
欠的なサンプリングを行うことなく、連続的に測定す
る。
【００３８】ここで、平均電力測定器５０は、信号を抵
抗体に連続的に吸収させその温度上昇を電気的に検出す
る熱電対型の電力計である。この方式の電力測定器は原
理的に周囲温度の影響を受けにくく、広帯域にわたって
整合がとれ、周波数、信号波形及び周囲温度の変化等の
条件によらず平均電力を高精度に検出できる。
抗体に連続的に吸収させその温度上昇を電気的に検出す
る熱電対型の電力計である。この方式の電力測定器は原
理的に周囲温度の影響を受けにくく、広帯域にわたって
整合がとれ、周波数、信号波形及び周囲温度の変化等の
条件によらず平均電力を高精度に検出できる。
【００３９】平均電力測定器５０は、例えば図５に示す
ように、分岐信号Ｖを終端するための複数（図では４
個）の抵抗体５１ａ〜５１ｄと、その一つの抵抗体５１
ａに直列に接続され抵抗体５１ａに流れる電流によって
生じた熱に応じた起電力を発生する熱電対５２と、計測
期間に熱電対５２が発生する起電力に基づいて分岐信号
Ｖの平均電力を検出する平均電力検出回路５３と、平均
電力検出回路５３で検出した分岐信号Ｖの平均電力を分
岐回路４１の分岐損失で補正して計測期間に第２の入力
端子２５に入力された入力信号Ｓの平均電力Ｄを出力す
る補正回路５４とを有しており、前記したように、周波
数、信号波形及び周囲温度の変化等の条件によらず、入
力信号Ｓの平均電力を高精度に検出できる。
ように、分岐信号Ｖを終端するための複数（図では４
個）の抵抗体５１ａ〜５１ｄと、その一つの抵抗体５１
ａに直列に接続され抵抗体５１ａに流れる電流によって
生じた熱に応じた起電力を発生する熱電対５２と、計測
期間に熱電対５２が発生する起電力に基づいて分岐信号
Ｖの平均電力を検出する平均電力検出回路５３と、平均
電力検出回路５３で検出した分岐信号Ｖの平均電力を分
岐回路４１の分岐損失で補正して計測期間に第２の入力
端子２５に入力された入力信号Ｓの平均電力Ｄを出力す
る補正回路５４とを有しており、前記したように、周波
数、信号波形及び周囲温度の変化等の条件によらず、入
力信号Ｓの平均電力を高精度に検出できる。
【００４０】なお、この平均電力測定器５０は、検出し
た平均電力Ｄ（ｄＢｍ値）をディジタル値で出力する手
段を内部に有している。
た平均電力Ｄ（ｄＢｍ値）をディジタル値で出力する手
段を内部に有している。
【００４１】相対値演算手段４９によって算出された各
相対値Ｃ１〜ＣＮおよび平均電力測定器５０によって測
定された入力信号Ｓの平均電力Ｄは、電力分布演算手段
５５に入力される。
相対値Ｃ１〜ＣＮおよび平均電力測定器５０によって測
定された入力信号Ｓの平均電力Ｄは、電力分布演算手段
５５に入力される。
【００４２】電力分布演算手段５５は、入力信号Ｓの瞬
時電力についての電力分布を算出する。ここで、電力分
布には、瞬時電力のみの度数分布、累積度数分布、累積
確率分布のほかに、平均電力を基準とする瞬時電力の度
数分布、累積度数分布、累積確率分布があるが、ここで
は、クレストファクタ、即ち、入力信号Ｓの計測期間に
おける平均電力に対する瞬時電力の累積確率分布を求め
る場合について説明する。
時電力についての電力分布を算出する。ここで、電力分
布には、瞬時電力のみの度数分布、累積度数分布、累積
確率分布のほかに、平均電力を基準とする瞬時電力の度
数分布、累積度数分布、累積確率分布があるが、ここで
は、クレストファクタ、即ち、入力信号Ｓの計測期間に
おける平均電力に対する瞬時電力の累積確率分布を求め
る場合について説明する。
【００４３】始めに、計測期間における入力信号Ｓのサ
ンプリング毎の瞬時電力Ｅ１〜ＥＮを次の演算によって
求める。 Ｅ１＝Ｄ＋Ｃ１ Ｅ２＝Ｄ＋Ｃ２ Ｅ３＝Ｄ＋Ｃ３ …… ＥＮ＝Ｄ＋ＣＮ
ンプリング毎の瞬時電力Ｅ１〜ＥＮを次の演算によって
求める。 Ｅ１＝Ｄ＋Ｃ１ Ｅ２＝Ｄ＋Ｃ２ Ｅ３＝Ｄ＋Ｃ３ …… ＥＮ＝Ｄ＋ＣＮ
【００４４】これらの瞬時電力値は、前記したように計
測期間に入力された入力信号Ｓの正確な平均電力Ｄに、
相対値演算手段４９によって算出された正確な相対値Ｃ
１〜ＣＮを加えたものであるから、入力信号Ｓの各サン
プリングタイミングにおける瞬時電力を正確に表してい
る。なお、前記したように、瞬時電力のみの度数分布、
累積度数分布あるいは累積確率分布を表示したい場合に
は、この各瞬時電力Ｅ １〜ＥＮの度数分布、累積度数分
布あるいは累積確率分布を算出すればよい。
測期間に入力された入力信号Ｓの正確な平均電力Ｄに、
相対値演算手段４９によって算出された正確な相対値Ｃ
１〜ＣＮを加えたものであるから、入力信号Ｓの各サン
プリングタイミングにおける瞬時電力を正確に表してい
る。なお、前記したように、瞬時電力のみの度数分布、
累積度数分布あるいは累積確率分布を表示したい場合に
は、この各瞬時電力Ｅ １〜ＥＮの度数分布、累積度数分
布あるいは累積確率分布を算出すればよい。
【００４５】例えば、瞬時電力の度数分布を求める場
合、Δｄを測定に要求される電力の分解能とし、Ｎ個の
瞬時電力Ｅ１〜ＥＮの最小値をＸ、最大値をＹとする
と、 瞬時電力がＸの総数Ｉ０、 瞬時電力がＸ＋Δｄの総数Ｉ１、 瞬時電力がＸ＋２・Δｄの総数Ｉ２、 …… 瞬時電力がＹ−Δｄの総数Ｉｊ−１ 瞬時電力がＹの総数Ｉｊ、 を求め、この算出結果Ｉ０〜Ｉｊを瞬時電力の度数分布
として出力する。また、この度数Ｉ０〜Ｉｊから累積度
数分布や累積確率分布を求めることもできる。
合、Δｄを測定に要求される電力の分解能とし、Ｎ個の
瞬時電力Ｅ１〜ＥＮの最小値をＸ、最大値をＹとする
と、 瞬時電力がＸの総数Ｉ０、 瞬時電力がＸ＋Δｄの総数Ｉ１、 瞬時電力がＸ＋２・Δｄの総数Ｉ２、 …… 瞬時電力がＹ−Δｄの総数Ｉｊ−１ 瞬時電力がＹの総数Ｉｊ、 を求め、この算出結果Ｉ０〜Ｉｊを瞬時電力の度数分布
として出力する。また、この度数Ｉ０〜Ｉｊから累積度
数分布や累積確率分布を求めることもできる。
【００４６】次に、各瞬時電力Ｅ１〜ＥＮのうち平均電
力Ｄ以上のものについての累積度数分布を算出する。
力Ｄ以上のものについての累積度数分布を算出する。
【００４７】即ち、前記したように、Δｄを測定に要求
される電力の分解能とし、Ｎ個の瞬時電力Ｅ１〜ＥＮの
最大値をＹとすると、平均電力Ｄ以上の全て瞬時電力に
ついて、 瞬時電力が平均電力Ｄ以上の総数Ｋ０、 瞬時電力が平均電力Ｄ＋Δｄ以上の総数Ｋ１、 瞬時電力が平均電力Ｄ＋２・Δｄ以上の総数Ｋ２ …… 瞬時電力が平均電力Ｄ＋（Ｌ−１）・Δｄ（＝Ｙ−Δ
ｄ）以上の総数ＫＬ−１ 瞬時電力が平均電力Ｄ＋Ｌ・Δｄ（＝Ｙ）の総数ＫＬ を求める。
される電力の分解能とし、Ｎ個の瞬時電力Ｅ１〜ＥＮの
最大値をＹとすると、平均電力Ｄ以上の全て瞬時電力に
ついて、 瞬時電力が平均電力Ｄ以上の総数Ｋ０、 瞬時電力が平均電力Ｄ＋Δｄ以上の総数Ｋ１、 瞬時電力が平均電力Ｄ＋２・Δｄ以上の総数Ｋ２ …… 瞬時電力が平均電力Ｄ＋（Ｌ−１）・Δｄ（＝Ｙ−Δ
ｄ）以上の総数ＫＬ−１ 瞬時電力が平均電力Ｄ＋Ｌ・Δｄ（＝Ｙ）の総数ＫＬ を求める。
【００４８】この演算によって得られた各電力毎の総数
Ｋ０〜ＫＬは、平均電力に対する瞬時電力の累積度数を
示している。前記したように、平均電力を基準とする瞬
時電力の累積度数分布を表示したい場合には、この累積
度数Ｋ０〜ＫＬを出力すればよい。
Ｋ０〜ＫＬは、平均電力に対する瞬時電力の累積度数を
示している。前記したように、平均電力を基準とする瞬
時電力の累積度数分布を表示したい場合には、この累積
度数Ｋ０〜ＫＬを出力すればよい。
【００４９】次に、この累積度数Ｋ０〜ＫＬから、次の
演算、 Ｆ０＝１００・Ｋ０／Ｎ Ｆ１＝１００・Ｋ１／Ｎ Ｆ２＝１００・Ｋ２／Ｎ …… ＦＬ＝１００・ＫＬ／Ｎ によって各電力毎の累積確率Ｆ０〜ＦＬを百分率で求
め、その演算結果をメモリ５６に記憶する。なお、メモ
リ５６には累積確率Ｆ０〜ＦＬとともに平均電力Ｄも記
憶される。
演算、 Ｆ０＝１００・Ｋ０／Ｎ Ｆ１＝１００・Ｋ１／Ｎ Ｆ２＝１００・Ｋ２／Ｎ …… ＦＬ＝１００・ＫＬ／Ｎ によって各電力毎の累積確率Ｆ０〜ＦＬを百分率で求
め、その演算結果をメモリ５６に記憶する。なお、メモ
リ５６には累積確率Ｆ０〜ＦＬとともに平均電力Ｄも記
憶される。
【００５０】表示制御手段６０は、制御部２８から出力
される周波数情報を受けるとともに、スペクトラム測定
部３０のメモリ３８に記憶されたスペクトラムデータと
電力分布測定部４０のメモリ５６に記憶された累積確率
Ｆ０〜ＦＬ、平均電力Ｄとを読み出して、図６に示すよ
うに、表示器２２の表示画面の例えば上半部に、横軸が
周波数、縦軸が電力の直交座標を表示し、この直交座標
上にスペクトラムデータを表示し、下半部に横軸が電
力、縦軸が累積確率の直交座標を表示し、この直交座標
上に各電力毎の累積確率Ｆ０〜ＦＬを、平均電力Ｄに基
づく絶対電力情報とともに表示する。
される周波数情報を受けるとともに、スペクトラム測定
部３０のメモリ３８に記憶されたスペクトラムデータと
電力分布測定部４０のメモリ５６に記憶された累積確率
Ｆ０〜ＦＬ、平均電力Ｄとを読み出して、図６に示すよ
うに、表示器２２の表示画面の例えば上半部に、横軸が
周波数、縦軸が電力の直交座標を表示し、この直交座標
上にスペクトラムデータを表示し、下半部に横軸が電
力、縦軸が累積確率の直交座標を表示し、この直交座標
上に各電力毎の累積確率Ｆ０〜ＦＬを、平均電力Ｄに基
づく絶対電力情報とともに表示する。
【００５１】この絶対電力情報の表示は、少なくとも平
均電力Ｄの値が判るものであればよく、図６では、電力
軸に平均電力に対する瞬時電力の相対量の目盛（ｄＢ目
盛り）と平均電力Ｄ（図では１０ｄＢｍ）に基づく絶対
電力の目盛（ｄＢｍ）を表示している。
均電力Ｄの値が判るものであればよく、図６では、電力
軸に平均電力に対する瞬時電力の相対量の目盛（ｄＢ目
盛り）と平均電力Ｄ（図では１０ｄＢｍ）に基づく絶対
電力の目盛（ｄＢｍ）を表示している。
【００５２】このように、この信号解析装置２０では、
同一期間に入力された一方の信号に対してスペクトラム
測定部３０で測定されたスペクトラムと、他方の信号に
対して電力分布測定部４０で測定された瞬時電力の分布
とを、表示器２２の同一画面上に表示しているので、評
価対象回路１に入力される信号の電力分布に対する評価
対象回路１の出力信号の隣接チャネル、隣々接チャネル
漏洩電力等の特性をリアルタイムに対比観測できる。
同一期間に入力された一方の信号に対してスペクトラム
測定部３０で測定されたスペクトラムと、他方の信号に
対して電力分布測定部４０で測定された瞬時電力の分布
とを、表示器２２の同一画面上に表示しているので、評
価対象回路１に入力される信号の電力分布に対する評価
対象回路１の出力信号の隣接チャネル、隣々接チャネル
漏洩電力等の特性をリアルタイムに対比観測できる。
【００５３】例えば、信号発生器１１の出力電力や変調
パターンの変更操作により、図６のように累積確率分布
特性がＱ１からＱ２に変化したときに、スペクトラム特
性がＰ１からＰ２に変化する様子をリアルタイムに対比
観測でき、評価対象回路１の評価を効率よく行うことが
できる。
パターンの変更操作により、図６のように累積確率分布
特性がＱ１からＱ２に変化したときに、スペクトラム特
性がＰ１からＰ２に変化する様子をリアルタイムに対比
観測でき、評価対象回路１の評価を効率よく行うことが
できる。
【００５４】また、この電力分布測定部４０は、Ａ／Ｄ
変換器４５のサンプリング値の平均値に対する各サンプ
リング値の相対量に、平均電力測定器５０で求めた入力
信号Ｓの平均電力を加えて入力信号Ｓの各瞬時電力を求
め、この瞬時電力に基づいて電力分布を算出し、その算
出結果を絶対電力情報とともに表示出力しているので、
入力信号の電力分布を正確に把握することができ、入力
信号の電力とスペクトラムとの関係を正確に把握するこ
とができる。
変換器４５のサンプリング値の平均値に対する各サンプ
リング値の相対量に、平均電力測定器５０で求めた入力
信号Ｓの平均電力を加えて入力信号Ｓの各瞬時電力を求
め、この瞬時電力に基づいて電力分布を算出し、その算
出結果を絶対電力情報とともに表示出力しているので、
入力信号の電力分布を正確に把握することができ、入力
信号の電力とスペクトラムとの関係を正確に把握するこ
とができる。
【００５５】また、この信号解析装置２０は、入力端子
２４、２５から表示器２２までが一つの共通の筐体に収
容されているので、保守が容易で設置場所の変更等に容
易に対応することができる。
２４、２５から表示器２２までが一つの共通の筐体に収
容されているので、保守が容易で設置場所の変更等に容
易に対応することができる。
【００５６】なお、この実施形態では、第１の入力端子
２４をスペクトラム測定部３０に接続し、第２の入力端
子２５を電力分布測定部４０に接続して、２系統の信号
のスペクトラムと電力分布の同時測定を行うようにして
いたが、１つの入力端子に入力される信号を分岐してス
ペクトラム測定部３０と電力分布測定部４０に入力し
て、その信号のスペクトラムと電力分布の同時測定を行
うようにしてもよい。
２４をスペクトラム測定部３０に接続し、第２の入力端
子２５を電力分布測定部４０に接続して、２系統の信号
のスペクトラムと電力分布の同時測定を行うようにして
いたが、１つの入力端子に入力される信号を分岐してス
ペクトラム測定部３０と電力分布測定部４０に入力し
て、その信号のスペクトラムと電力分布の同時測定を行
うようにしてもよい。
【００５７】例えば図７に示す信号解析装置２０′のよ
うに、第２の入力端子２５と電力分布測定部４０の間に
分岐回路７１を挿入して、その分岐出力の一方を電力分
布測定部４０に入力し、他方をスイッチ７２を介してス
ペクトラム測定部３０に入力する。
うに、第２の入力端子２５と電力分布測定部４０の間に
分岐回路７１を挿入して、その分岐出力の一方を電力分
布測定部４０に入力し、他方をスイッチ７２を介してス
ペクトラム測定部３０に入力する。
【００５８】このようにすれば、第２の入力端子２５に
入力された信号のスペクトラムおよび電力分布の同時測
定を行うことができる。なお、スイッチ７２は例えば操
作部２３の操作によって制御部２８が切換制御する。
入力された信号のスペクトラムおよび電力分布の同時測
定を行うことができる。なお、スイッチ７２は例えば操
作部２３の操作によって制御部２８が切換制御する。
【００５９】また、分岐回路７１の分岐出力をスペクト
ラム測定部３０に入力しない場合には、この分岐出力を
抵抗７２で終端しておけばよい。ただし、この場合、電
力分布測定部４０の平均電力測定器５０において、分岐
回路７１の分岐損失分も補正する。
ラム測定部３０に入力しない場合には、この分岐出力を
抵抗７２で終端しておけばよい。ただし、この場合、電
力分布測定部４０の平均電力測定器５０において、分岐
回路７１の分岐損失分も補正する。
【００６０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の信号解析
装置は、信号を入力するための入力端子（２４、２５）
と、 前記入力端子に入力された信号のスペクトラム測定
を行うスペクトラム測定部（３０）と、 前記入力端子に
所定期間に入力された信号の瞬時電力の分布を測定する
電力分布測定部（４０）と、 表示器（２２）と、 前記ス
ペクトラム測定部によって測定されたスペクトラムと、
前記電力分布測定部によって測定された瞬時電力の分布
とを前記表示器の同一画面上に表示する表示制御手段
（６０）とを備えた信号解析装置であって、 前記電力分
布測定部は、 前記入力端子に入力された信号を分岐する
分岐回路（４１）と、 前記分岐回路の一方の分岐出力を
サンプリングしディジタルの値に変換するＡ／Ｄ変換器
（４５）と、 前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるサンプリ
ング値を記憶する記憶手段（４６、４７）と、 所定期間
に前記記憶手段に記憶されたサンプリング値の平均値を
算出する平均演算手段（４８）と、 前記平均値に対する
前記所定期間の前記各サンプリング値の電力の相対値を
それぞれ算出する相対値演算手段（４９）と、 前記分岐
回路の他方の分岐出力を受けて、前記所定期間に前記入
力端子に入力された信号の平均電力を測定する平均電力
測定手段（５０）と、 前記相対値演算手段によって算出
された各相対値に前記平均電力測定手段によって測定さ
れた平均電力をそれぞれ加えた値を前記所定期間に入力
された信号の各瞬時電力として該瞬時電力の度数分布、
累積度数分布、累積確率分布のいずれかを算出し、該算
出結果を前記表示制御手段に出力する電力分布演算手段
（５５）とを備えている。
装置は、信号を入力するための入力端子（２４、２５）
と、 前記入力端子に入力された信号のスペクトラム測定
を行うスペクトラム測定部（３０）と、 前記入力端子に
所定期間に入力された信号の瞬時電力の分布を測定する
電力分布測定部（４０）と、 表示器（２２）と、 前記ス
ペクトラム測定部によって測定されたスペクトラムと、
前記電力分布測定部によって測定された瞬時電力の分布
とを前記表示器の同一画面上に表示する表示制御手段
（６０）とを備えた信号解析装置であって、 前記電力分
布測定部は、 前記入力端子に入力された信号を分岐する
分岐回路（４１）と、 前記分岐回路の一方の分岐出力を
サンプリングしディジタルの値に変換するＡ／Ｄ変換器
（４５）と、 前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるサンプリ
ング値を記憶する記憶手段（４６、４７）と、 所定期間
に前記記憶手段に記憶されたサンプリング値の平均値を
算出する平均演算手段（４８）と、 前記平均値に対する
前記所定期間の前記各サンプリング値の電力の相対値を
それぞれ算出する相対値演算手段（４９）と、 前記分岐
回路の他方の分岐出力を受けて、前記所定期間に前記入
力端子に入力された信号の平均電力を測定する平均電力
測定手段（５０）と、 前記相対値演算手段によって算出
された各相対値に前記平均電力測定手段によって測定さ
れた平均電力をそれぞれ加えた値を前記所定期間に入力
された信号の各瞬時電力として該瞬時電力の度数分布、
累積度数分布、累積確率分布のいずれかを算出し、該算
出結果を前記表示制御手段に出力する電力分布演算手段
（５５）とを備えている。
【００６１】このため、入力信号の電力分布とスペクト
ラム特性とを同一計測期間の信号に対して対比観測する
ことができ、回路の評価を効率よく行うことができる。
特に、ＣＤＭＡ方式の機器のように入力信号の電力累積
確率分布に対する出力信号の隣接チャネル、隣々接チャ
ネル漏洩電力の変化を観測するのに最適である。また、
入力端子からＡ／Ｄ変換器までの信号経路での減衰率の
変動やＡ／Ｄ変換器の誤差に関わらず、入力信号の電力
分布を正確に把握することができ、入力信号の電力分布
とスペクトラムとの関係を正確に把握することができ
る。
ラム特性とを同一計測期間の信号に対して対比観測する
ことができ、回路の評価を効率よく行うことができる。
特に、ＣＤＭＡ方式の機器のように入力信号の電力累積
確率分布に対する出力信号の隣接チャネル、隣々接チャ
ネル漏洩電力の変化を観測するのに最適である。また、
入力端子からＡ／Ｄ変換器までの信号経路での減衰率の
変動やＡ／Ｄ変換器の誤差に関わらず、入力信号の電力
分布を正確に把握することができ、入力信号の電力分布
とスペクトラムとの関係を正確に把握することができ
る。
【図１】本発明の実施形態の外観図
【図２】実施形態の内部構成を示すブロック図
【図３】実施形態の要部の構成例を示す図
【図４】実施形態の要部の構成例を示す図
【図５】実施形態の要部の構成例を示す図
【図６】実施形態の測定結果を示す図
【図７】他の実施形態の内部構成を示すブロック図
【図８】従来の測定系を示すブロック図
２０、２０′ 信号解析装置 ２１ 筐体 ２２ 表示器 ２３ 操作部 ２４、２５ 入力端子 ２８ 制御部 ３０ スペクトラム測定部 ４０ 電力分布測定部 ４１ 分岐回路 ４２ スイッチ ４３ 周波数変換回路 ４４ スイッチ ４５ Ａ／Ｄ変換器 ４６ メモリ ４７ データ書込手段 ４８ 平均演算手段 ４９ 相対値演算手段 ５０ 平均電力測定器 ５５ 電力分布演算手段 ６０ 表示制御手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/00 G01R 23/16 - 23/20 G01R 21/00 - 21/14 H04J 13/00
Claims (1)
- 【請求項１】信号を入力するための入力端子（２４、２
５）と、 前記入力端子に入力された信号のスペクトラム測定を行
うスペクトラム測定部（３０）と、 前記入力端子に所定期間に入力された信号の瞬時電力の
分布を測定する電力分布測定部（４０）と、 表示器（２２）と、 前記スペクトラム測定部によって測定されたスペクトラ
ムと、前記電力分布測定部によって測定された瞬時電力
の分布とを前記表示器の同一画面上に表示する表示制御
手段（６０）とを備えた信号解析装置であって、 前記電力分布測定部は、 前記入力端子に入力された信号を分岐する分岐回路（４
１）と、 前記分岐回路の一方の分岐出力をサンプリングしディジ
タルの値に変換するＡ／Ｄ変換器（４５）と、 前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるサンプリング値を記憶
する記憶手段（４６、４７）と、 所定期間に前記記憶手段に記憶されたサンプリング値の
平均値を算出する平均演算手段（４８）と、 前記平均値に対する前記所定期間の前記各サンプリング
値の電力の相対値をそれぞれ算出する相対値演算手段
（４９）と、 前記分岐回路の他方の分岐出力を受けて、前記所定期間
に前記入力端子に入力された信号の平均電力を測定する
平均電力測定手段（５０）と、 前記相対値演算手段によって算出された各相対値に前記
平均電力測定手段によって測定された平均電力をそれぞ
れ加えた値を前記所定期間に入力された信号の各瞬時電
力として該瞬時電力の度数分布、累積度数分布、累積確
率分布のいずれかを算出し、該算出結果を前記表示制御
手段に出力する電力分布演算手段（５５）とを備えてい
ることを特徴とする 信号解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29379599A JP3163497B2 (ja) | 1999-10-15 | 1999-10-15 | 信号解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29379599A JP3163497B2 (ja) | 1999-10-15 | 1999-10-15 | 信号解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001116790A JP2001116790A (ja) | 2001-04-27 |
| JP3163497B2 true JP3163497B2 (ja) | 2001-05-08 |
Family
ID=17799265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29379599A Expired - Fee Related JP3163497B2 (ja) | 1999-10-15 | 1999-10-15 | 信号解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3163497B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7306477B2 (ja) | 2019-11-20 | 2023-07-11 | ヤマハ株式会社 | 演奏操作装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3375318B2 (ja) * | 2000-03-07 | 2003-02-10 | アンリツ株式会社 | クレストファクタ特性測定機能を有した信号発生装置 |
| JP2009133683A (ja) * | 2007-11-29 | 2009-06-18 | Anritsu Corp | Ａｐｄ測定装置 |
-
1999
- 1999-10-15 JP JP29379599A patent/JP3163497B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7306477B2 (ja) | 2019-11-20 | 2023-07-11 | ヤマハ株式会社 | 演奏操作装置 |
| JP7367888B2 (ja) | 2019-11-20 | 2023-10-24 | ヤマハ株式会社 | 演奏操作装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2001116790A (ja) | 2001-04-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR20000060280A (ko) | 라플라스 변환 임피던스 측정방법 및 측정장치 | |
| EP0107050A2 (en) | Signal generator for digital spectrum analyzer | |
| KR100725857B1 (ko) | 접지선 전류를 이용한 접지저항 측정 장치 | |
| US6484124B1 (en) | System for measurement of selected performance characteristics of microwave components | |
| US7359814B1 (en) | Multi-port analysis apparatus and method and calibration method thereof | |
| JP3163497B2 (ja) | 信号解析装置 | |
| US6493074B1 (en) | Method and apparatus for measuring an optical transfer characteristic | |
| JPH0394178A (ja) | 高周波信号測定装置 | |
| EP0338333B1 (en) | Spectrum analyzer having means for displaying spectrum data together with power value thereof | |
| WO2002010776A1 (en) | Signal measurement | |
| JP3252353B2 (ja) | 電力分布測定装置 | |
| CN113422621A (zh) | 一种线缆的线损测量装置和方法 | |
| JP3369651B2 (ja) | スペクトラムアナライザの電力測定装置及び方法 | |
| JP3121776B2 (ja) | 変調信号発生装置 | |
| US4138646A (en) | Wideband absolute calibration system | |
| JP3637258B2 (ja) | アンプ測定装置 | |
| JP3001508B2 (ja) | レベル測定装置 | |
| US6654700B2 (en) | Testing method of semiconductor integrated circuit and equipment thereof | |
| Arthur | The measurement of noise performance factors: A metrology guide | |
| JPH04110669A (ja) | サンプリング式測定器 | |
| RU2072522C1 (ru) | Способ измерения малых отношений сигнал/шум и устройство для его осуществления | |
| JP3751961B2 (ja) | スプリアス測定装置 | |
| Ferrero et al. | On the selection of the" best" test waveform for calibrating electrical instruments under nonsinusoidal conditions | |
| SU808984A1 (ru) | Автоматический измеритель пара-METPOB СВЕРХВыСОКОчАСТОТНыХТРАКТОВ | |
| Orlidge et al. | Measurement hardware emulator: synthetic instrumentation and CASS |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080302 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090302 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |