JP3142662B2 - Magneto-optical disk trial recording device - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はエッジ記録再生方式にお
いて適正な長さのマークを記録するための試行記録を行
う光磁気ディスク試行記録装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a magneto-optical disk trial recording apparatus for performing trial recording for recording marks of an appropriate length in an edge recording / reproducing system.

【０００２】光磁気ディスクは、近年急速に発展するマ
ルチメディア化の中で、中核となるメモリ装置として脚
光を浴びており、更に大容量化が要望されるようになっ
てきた。2. Description of the Related Art A magneto-optical disk has been spotlighted as a core memory device in recent years as multimedia has been rapidly developed, and a further increase in capacity has been demanded.

【０００３】このため、記録の高密度化の一つの手段と
してエッジ記録再生方式の実用化が急務となっている。For this reason, there is an urgent need to put the edge recording / reproducing system to practical use as one means for increasing the recording density.

【０００４】[0004]

【従来の技術】光磁気ディスクは、初期状態において磁
化の向きが一方向（消去方向）にそろっているが、
「０」と「１」が任意に配列された記録データを書き込
む際には、記録データに応じて発光／消光する記録用レ
ーザビームで光磁気ディスクをキュリー点まで加熱し、
この加熱部分に外部磁界を加えることによって磁化の方
向が消去方向と反対方向に向く概略楕円形状のマーク列
を形成している。2. Description of the Related Art In a magneto-optical disk, the direction of magnetization is aligned in one direction (erasing direction) in an initial state.
When writing recording data in which “0” and “1” are arbitrarily arranged, the magneto-optical disk is heated to the Curie point by a recording laser beam that emits / quenches light according to the recording data,
By applying an external magnetic field to the heated portion, a substantially elliptical mark row whose magnetization direction is opposite to the erasing direction is formed.

【０００５】このマークの記録方法には、記録データの
「１」に対応してマークを記録するマークポジション方
式と、記録データの「１」に対応してマークの前エッジ
又は後エッジが位置するようにマークを形成するエッジ
記録方式（マーク長記録方式）とがある。[0005] In this mark recording method, a mark position method for recording a mark corresponding to recording data "1" and a front edge or a rear edge of the mark corresponding to recording data "1" are located. There is an edge recording method (mark length recording method) in which marks are formed as described above.

【０００６】マークポジション方式は、記録データをそ
のまま磁化の向きに対応させた記録方式であるので、高
密度化という要請には対応しがたい面があるが、エッジ
記録方式は、記録データの「１」をマークのエッジに対
応させるといった圧縮方式なので、記録密度が大幅に向
上する利点がある。The mark position method is a recording method in which recording data is directly matched to the direction of magnetization. Therefore, there is a face that it is difficult to cope with a demand for higher density. Since the compression method is such that "1" corresponds to the edge of the mark, there is an advantage that the recording density is greatly improved.

【０００７】図１１を参照してエッジ記録再生方式を説
明する。エッジ記録は、図１１（Ａ）に示す２／７方式
による記録データの「１」に対応して得られる図１１
（Ｂ）に示すパルス信号に応じてレーザーダイオード
（ＬＤ）を発光／消光させる。これによって、図１１
（Ｃ）に示すように記録トラックＴ上に記録データの
「１」と対応する位置がエッジとなるようにマークＭを
記録するものである。The edge recording / reproducing method will be described with reference to FIG. The edge recording corresponds to FIG. 11 obtained corresponding to “1” of the recording data according to the 2/7 system shown in FIG.
The laser diode (LD) emits light / quenches in response to the pulse signal shown in FIG. As a result, FIG.
As shown in (C), a mark M is recorded on a recording track T such that a position corresponding to “1” of recording data becomes an edge.

【０００８】このようにして記録されたマークＭのエッ
ジを再生する場合は、再生用レーザビームのスポットを
光磁気ディスクのトラックＴに照射し、磁気光学的効果
により図１１（Ｄ）に示すように磁化の向きに応じた波
形の再生信号Ｓ１を得る。When reproducing the edge of the mark M recorded in this manner, a spot of a reproducing laser beam is irradiated on the track T of the magneto-optical disk, and a magneto-optical effect is used as shown in FIG. Then, a reproduced signal S1 having a waveform corresponding to the direction of magnetization is obtained.

【０００９】そして、再生信号Ｓ１のピークとボトムと
の中点を閾値Ｌとし、この閾値Ｌと再生信号Ｓ１との交
点からマークＭの前エッジと後エッジとを検出し、この
前後エッジに基づいて図１１（Ｅ）に示す再生データを
得る。A middle point between the peak and the bottom of the reproduction signal S1 is defined as a threshold value L. A front edge and a rear edge of the mark M are detected from the intersection of the threshold value L and the reproduction signal S1, and based on the front and rear edges. Thus, the reproduction data shown in FIG.

【００１０】ところで、このようなエッジ記録再生方式
では、光磁気ディスクが熱磁気記録媒体であるために、
記録データ通りにＬＤを発光させて記録マークを形成し
ても、必ずしも正しい位置にマークのエッジが形成され
ないことがある。これをエッジシフトと呼んでいる。In such an edge recording / reproducing method, since the magneto-optical disk is a thermomagnetic recording medium,
Even when a recording mark is formed by causing the LD to emit light in accordance with recording data, an edge of the mark may not always be formed at a correct position. This is called an edge shift.

【００１１】エッジシフトが生じた場合、即ち、マーク
が正確に所定長で記録されていない場合は、復調された
再生データと記録データとが一致しなくなる。エッジシ
フトには、パターンシフト、サーマルシフト、及び定常
シフトがある。When an edge shift occurs, that is, when a mark is not recorded with a predetermined length, demodulated reproduced data and recorded data do not match. The edge shift includes a pattern shift, a thermal shift, and a steady shift.

【００１２】パターンシフトは、長いマークを形成しよ
うとするほど熱がマークの後方に溜まりマークの後エッ
ジが後方にシフトする現象であり、その特性例を図１２
に示す。The pattern shift is a phenomenon in which heat accumulates behind the mark as the longer mark is formed, and the trailing edge of the mark shifts backward.
Shown in

【００１３】図１２は５．５ｍＷ、６．５ｍＷ、７．５
ｍＷ、８．５ｍＷの４種類のライトパワーのレーザ光で
マークを記録した場合に生じる後エッジのシフトを示す
ものである。FIG. 12 shows 5.5 mW, 6.5 mW, and 7.5 mW.
This shows the shift of the trailing edge that occurs when a mark is recorded with laser light of four types of write powers of mW and 8.5 mW.

【００１４】例えば□で示すライトパワーが６．５ｍＷ
の場合では、マーク長が長くなる程に、即ち、ＬＤを発
光させるための記録パルス長（μｍ）が１．０μｍ、
１．５μｍ、…、２．５μｍと長くなる程に後エッジの
シフト量（μｍ）が増加していることが分かる。これ
は、他のライトパワーの場合も同様である。For example, the write power indicated by □ is 6.5 mW
In the case of (1), as the mark length becomes longer, that is, the recording pulse length (μm) for causing the LD to emit light becomes 1.0 μm,
It can be seen that the shift amount (μm) of the trailing edge increases as the length increases to 1.5 μm,..., 2.5 μm. This is the same for other write powers.

【００１５】サーマルシフトは、直前のマークを形成し
たときの熱が伝わり次のマークの前エッジが前方にシフ
トする現象であり、その特性例を図１３に示す。図１３
は５．５ｍＷ〜８．５ｍＷの４種類のライトパワーのレ
ーザ光でマークを記録した場合に生じる前エッジのシフ
トを示すものである。The thermal shift is a phenomenon in which heat generated when the immediately preceding mark is formed is transmitted and the leading edge of the next mark shifts forward. FIG. 13 shows an example of the characteristic. FIG.
Shows the shift of the leading edge that occurs when a mark is recorded with laser beams of four types of write powers of 5.5 mW to 8.5 mW.

【００１６】例えば□で示すライトパワーが６．５ｍＷ
の場合では、マークとマークとの間隔が短くなる程に、
即ち、ＬＤを発光させるための記録パルス間隔（μｍ）
が２．５μｍ、２．０μｍ、…、１．０μｍと短くなる
程に前エッジのシフト量（μｍ）が増加していることが
分かる。これは、他のライトパワーの場合も同様であ
る。For example, the write power indicated by □ is 6.5 mW
In the case of, as the distance between marks becomes shorter,
That is, a recording pulse interval (μm) for causing the LD to emit light.
.., 1.0 μm, the front edge shift amount (μm) increases. This is the same for other write powers.

【００１７】定常シフトは、レーザ光のライトパワーが
変わることによってエッジ位置がシフトする現象であ
る。ライトパワーが変わることは、環境温度が変化した
り、光磁気記録媒体の感度が変わることと同等と見なせ
る。The stationary shift is a phenomenon in which the edge position shifts due to a change in the write power of the laser beam. A change in write power can be considered equivalent to a change in environmental temperature or a change in sensitivity of the magneto-optical recording medium.

【００１８】図１２に示す０からパターンシフトの最低
値の幅Ｃ１が定常シフト量である。これらのエッジシフ
トに対しては、記録データのパターンに応じてＬＤの発
光タイミング、消光タイミングを変えて正しく再生でき
るように記録を行う記録補償が行われている。The width C1 of the minimum value of the pattern shift from 0 shown in FIG. 12 is the steady shift amount. With respect to these edge shifts, recording compensation is performed to change the light emission timing and the extinction timing of the LD according to the pattern of the recording data so as to perform recording so that the data can be correctly reproduced.

【００１９】これは、サーマルシフトに対しては発光タ
イミングを補償し、パターンシフトに対しては消光タイ
ミングを補償すれば良いことが既に電子情報通信学会に
おいて報告されている。It has already been reported by the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers that emission timing should be compensated for thermal shift and extinction timing should be compensated for pattern shift.

【００２０】また、媒体間感度バラツキに対しては、デ
ィスクの半径方向の複数のテスト領域に対して、消去、
記録、再生の光パワーをパラメータとして試行記録を行
い、再生したときのエラー個数が最も少ない光パワーの
組み合わせを用いて以後の記録再生を行うことが提案さ
れている。In addition, with respect to variations in sensitivity between media, erasing, erasing, and the like are performed for a plurality of test areas in the radial direction of the disk.
It has been proposed to perform trial recording using the optical power of recording and reproduction as a parameter, and to perform subsequent recording and reproduction using a combination of optical powers with the smallest number of errors during reproduction.

【００２１】[0021]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したエ
ッジ記録再生方式においては、単に媒体間感度バラツキ
だけでなく、媒体のエッジシフト特性のバラツキないし
は、異なるエッジシフト特性の媒体との互換性をも考慮
しなければならない。In the above-described edge recording / reproducing method, not only the sensitivity variation between the media but also the variation in the edge shift characteristics of the media or the compatibility with the media having different edge shift characteristics is required. Must be taken into account.

【００２２】しかし、上述した従来の試行記録では３つ
のエッジシフト特性に対する記録補償量の試行決定が成
されていないため、適正なマークを記録することができ
ないといった問題がある。However, in the conventional trial recording described above, a trial determination of the recording compensation amount for the three edge shift characteristics is not made, so that there is a problem that an appropriate mark cannot be recorded.

【００２３】本発明は、このような点に鑑みてなされた
ものであり、エッジ記録再生方式により光磁気ディスク
にマークを記録する際に、パターンシフト、サーマルシ
フト、及び定常シフトの３つのエッジシフト特性に対す
る記録補償量の試行決定を行い、適正なマークを記録す
ることができる光磁気ディスク試行記録装置を提供する
ことを目的としている。The present invention has been made in view of such a point, and when a mark is recorded on a magneto-optical disk by an edge recording / reproducing method, three edge shifts of a pattern shift, a thermal shift, and a steady shift are performed. An object of the present invention is to provide a trial recording apparatus for a magneto-optical disk capable of performing trial determination of a recording compensation amount for characteristics and recording an appropriate mark.

【００２４】[0024]

【課題を解決するための手段】図１に本発明の原理図を
示す。この図に示す光磁気ディスク試行記録装置は、光
磁気ディスク上に、記録データに応じた光ビームにより
記録されるマークのエッジが、記録データと対応するよ
うに、データの記録に先立って試行記録を行い記録補償
量を決定するものである。FIG. 1 shows the principle of the present invention. The magneto-optical disk trial recording apparatus shown in this figure performs trial recording prior to data recording so that the edge of a mark recorded by a light beam corresponding to recording data on the magneto-optical disk corresponds to the recording data. Is performed to determine the recording compensation amount.

【００２５】図中、１１は２値化手段であり、マークの
再生信号Ｓ１１を２値化信号Ｓ１２に変換するものであ
る。１５は積分手段であり、２値化信号Ｓ１２を積分し
て積分信号Ｓ１３を出力するものである。In the figure, reference numeral 11 denotes a binarizing means for converting a reproduced signal S11 of a mark into a binarized signal S12. Reference numeral 15 denotes an integrating means for integrating the binarized signal S12 and outputting an integrated signal S13.

【００２６】１９はシフト量演算手段であり、積分信号
Ｓ１３よりパターンシフト量Ｄａ、サーマルシフト量Ｄ
ｂ、及び定常シフト量Ｄｃを求めるものである。２１は
第１乗算手段であり、エッジシフト量Ｄａとパターンシ
フト補間関数ｘ１とを乗算することにより、パターンシ
フトの大きさと傾きを示す補間パターンシフトデータＤ
ａ１を出力するものである。Reference numeral 19 denotes a shift amount calculating means, which calculates a pattern shift amount Da and a thermal shift amount D based on the integration signal S13.
b and the steady-state shift amount Dc. Reference numeral 21 denotes a first multiplying means, which multiplies the edge shift amount Da by the pattern shift interpolation function x1 to obtain interpolation pattern shift data D indicating the magnitude and inclination of the pattern shift.
a1 is output.

【００２７】２２はパターンシフト補償量演算手段であ
り、補間パターンシフトデータＤａ１よりパターンシフ
トを打ち消す補償量を求め、これをパターンシフト補償
信号Ｓａとして出力するものである。Numeral 22 denotes a pattern shift compensation amount calculating means for obtaining a compensation amount for canceling the pattern shift from the interpolation pattern shift data Da1, and outputting this as a pattern shift compensation signal Sa.

【００２８】２４は第２乗算手段であり、サーマルシフ
ト量Ｄｂとサーマルシフト補間関数ｘ２とを乗算するこ
とにより、サーマルシフトによるエッジシフトの大きさ
と傾きを示す補間サーマルシフトデータＤｂ１を出力す
るものである。Numeral 24 denotes second multiplying means for multiplying the thermal shift amount Db by the thermal shift interpolation function x2 to output interpolation thermal shift data Db1 indicating the magnitude and inclination of the edge shift due to the thermal shift. is there.

【００２９】２５はサーマルシフト補償量演算手段であ
り、補間サーマルシフトデータＤｂ１より該サーマルシ
フトを打ち消す補償量を求め、これをサーマルシフト補
償信号Ｓｂとして出力するものである。Numeral 25 denotes a thermal shift compensation amount calculating means for obtaining a compensation amount for canceling out the thermal shift from the interpolated thermal shift data Db1, and outputting this as a thermal shift compensation signal Sb.

【００３０】また、前記した試行記録を行うための記録
データのパターンに、最長マーク長と最長マーク間隔の
繰り返しパターンと、最長マーク長と最短マーク間隔と
の繰り返しパターンと、最短マーク長と最長マーク間隔
との繰り返しパターンが含まれるようにすることが好ま
しい。The pattern of the recording data for performing the trial recording includes a repetition pattern of the longest mark length and the longest mark interval, a repetition pattern of the longest mark length and the shortest mark interval, and a shortest mark length and the longest mark. It is preferable to include a repetition pattern with intervals.

【００３１】[0031]

【作用】試行記録を行うためのデータのパターンのＤＣ
成分Ｓ₀ と、そのパターンから得られる再生信号を２値
化し、更に積分して得られる積分値Ｓ_m との差は、エッ
ジシフトの大きさΔｌに比例して次式のようになる。[Function] DC of data pattern for trial recording
The difference between the component S ₀ and the integrated value S _m obtained by binarizing and further integrating the reproduced signal obtained from the pattern is expressed by the following equation in proportion to the magnitude Δl of the edge shift.

【００３２】 Δｌ＝ＫＴ（Ｓ_m −Ｓ₀ ）／２ 式 但し、Ｔはデータパターンの周期、Ｋは積分器（積分手
段１５）の検出感度を表す。Δl = KT (S _m −S ₀ ) / 2 where T represents the period of the data pattern, and K represents the detection sensitivity of the integrator (integrating means 15).

【００３３】従って、最低３種類のデータパターンにつ
いて試行記録を行い積分出力を比較すれば、定常シフ
ト、パターンシフト、及びサーマルシフトの大きさを知
ることが出来る。Therefore, when trial recording is performed for at least three types of data patterns and the integrated outputs are compared, the magnitudes of the steady shift, the pattern shift, and the thermal shift can be known.

【００３４】他のパターンについては補間関数を仮定し
て大きさを決めることにすればエッジシフト特性を知る
ことができる。記録光パワー、記録光の発光／消光タイ
ミング補償量は、エッジシフト特性から次のようにして
求まる。For other patterns, the edge shift characteristics can be known by determining the size assuming an interpolation function. The recording light power and the compensation amount of the light emission / extinction timing of the recording light are obtained from the edge shift characteristics as follows.

【００３５】まず、定常シフトの大きさから記録光パワ
ーが求まる。次に、サーマルシフトは発光タイミング、
パターンシフトは消光タイミングで補償できるので、図
２（Ａ）に示すように、本来のデータの記録パルス間隔
をｌｇ、記録パルス長をｌｍとし、（Ｃ）に示すよう
に、発光タイミング補償量をΔｌｇ、消光タイミング補
償量をΔｌｍとし、（Ｂ）に示すように、前エッジの伸
び（シフト量）をａ（ｌｇ）、後エッジの伸びをｂ（ｌ
ｍ）とする。First, the recording light power is determined from the magnitude of the steady shift. Next, the thermal shift is the light emission timing,
Since the pattern shift can be compensated by the extinction timing, as shown in FIG. 2A, the recording pulse interval of the original data is lg, the recording pulse length is lm, and as shown in FIG. Δlg, the extinction timing compensation amount is Δlm, and as shown in (B), the front edge elongation (shift amount) is a (lg), and the rear edge elongation is b (l).
m).

【００３６】データパターンのうち最短のｌｇと最長の
ｌｇに対応するａ（ｌｇ）の差が図１３に示すサーマル
シフト、最短のｌｍと最長のｌｍに対応するｂ（ｌｍ）
の差が図１２に示すパターンシフトである。The difference between a (lg) corresponding to the shortest lg and the longest lg of the data pattern is the thermal shift shown in FIG. 13, and b (lm) corresponding to the shortest lm and the longest lm.
Is the pattern shift shown in FIG.

【００３７】発光／消光タイミングの補償があるときは
図２（Ｄ）に示すように、補償量Δｌｇ，Δｌｍと、シ
フト量ａ（ｌｇ），ｂ（ｌｍ）との合計ａ（ｌｇ＋Δｌ
ｇ），ｂ（ｌｍ＋Δｌｍ）になるので、これが零となる
ように補償量Δｌｇ，Δｌｍを決めればよい。When the emission / extinction timing is compensated, as shown in FIG. 2D, the sum a (lg + Δl) of the compensation amounts Δlg, Δlm and the shift amounts a (lg), b (lm) is obtained.
g) and b (lm + Δlm), so that the compensation amounts Δlg and Δlm may be determined so as to become zero.

【００３８】前エッジのシフト量ａ（ｌｇ）の補償量Δ
ｌｇは、ａ（ｌｇ）を次のように線型近似することによ
り、 ａ（ｌｇ＋Δｌｇ）＝ａ（ｌｇ）＋ａ′（ｌｇ）・Δｌｇ＝Δｌｇ 式 Δｌｇ＝ａ（ｌｇ）／〔１−ａ′（ｌｇ）〕 式 で求まる。Compensation amount Δ of shift amount a (lg) of front edge
Ig is obtained by linearly approximating a (lg) as follows: a (lg + Δlg) = a (lg) + a ′ (lg) · Δlg = Δlg Equation Δlg = a (lg) / [1-a ′ ( lg)].

【００３９】同様に、後エッジのシフト量ｂ（ｌｍ）の
補償量Δｌｍは、 Δｌｍ＝−ｂ（ｌｍ）／〔１−ｂ′（ｌｍ）〕 式 である。Similarly, the compensation amount Δlm of the shift amount b (lm) of the trailing edge is represented by the following equation: Δlm = −b (lm) / [1-b ′ (lm)]

【００４０】[0040]

【実施例】以下、図面を参照して本発明について説明す
る。図３は本発明の一実施例による光磁気ディスク試行
記録装置の主要部分のブロック構成図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 3 is a block diagram of a main part of a trial recording apparatus for a magneto-optical disk according to an embodiment of the present invention.

【００４１】図３に示す再生信号Ｓ１１は、図示せぬ光
磁気ディスクに記録されたマーク列に、図示せぬＬＤか
らの再生用レーザ光を照射して得られるものであり、そ
の波形の一例を図４（Ａ）に示す。The reproduction signal S11 shown in FIG. 3 is obtained by irradiating a laser beam for reproduction from an LD (not shown) to a mark array recorded on a magneto-optical disk (not shown). Is shown in FIG.

【００４２】試行記録において、マークを記録する場合
にＬＤを発光させるための試行記録データのパターン
は、そのデータパターンに応じたレーザ光でマークを記
録した場合に、パターンシフト、サーマルシフト、及び
定常シフトが典型的に現れるものが望ましい。In the trial recording, the pattern of the trial recording data for causing the LD to emit light when recording the mark includes a pattern shift, a thermal shift, and a steady shift when the mark is recorded with a laser beam corresponding to the data pattern. It is desirable that the shift typically appears.

【００４３】例えば、２／７変調符号の場合には、図５
（Ａ）に示すように最長マーク長４τと最長マーク間隔
４τの繰り返し、（Ｂ）に示すように最長マーク長４τ
と最短マーク間隔１．５τの繰り返し、（Ｃ）に示すよ
うに最短マーク長１．５τと最長マーク間隔４τの繰り
返しとなるように記録されるのがよい。For example, in the case of the 2/7 modulation code, FIG.
(A) repeating the longest mark length 4τ and the longest mark interval 4τ, and (B) the longest mark length 4τ
And the shortest mark interval 1.5τ is repeated, and as shown in (C), the shortest mark length 1.5τ and the longest mark interval 4τ are preferably repeated.

【００４４】図５（Ｃ）のマークパターンは、マーク長
が最短なので最もパターンシフトが起こりにくく、ま
た、マーク間隔が最長なので最もサーマルシフトが起こ
りにくいケースである。従って、このパターンから得ら
れる基準値の０からのエッジシフト量をΔｃとすると、
このΔｃは、レーザ光のパワー変化による典型的な定常
シフトによるものとなる。In the mark pattern of FIG. 5C, the pattern shift is the least likely to occur because the mark length is the shortest, and the thermal shift is the least likely to occur because the mark interval is the longest. Therefore, when the amount of edge shift from the reference value obtained from this pattern from 0 is Δc,
This Δc is due to a typical steady shift due to a change in power of the laser light.

【００４５】図５（Ａ）のマークパターンは、マーク長
が最長なのでマーク記録時の熱が最も後方に溜まるケー
スであり、マークの後エッジが最も後方にシフトする。
また、マーク間隔は最も長いので、直前のマーク記録に
よる熱が次のマークには影響しない。ここではレーザ光
のパワー変化による定常シフトも含まれるので、このパ
ターンで得られるシフト量をΔａとして、ΔａからΔｃ
を引くことによって、典型的なパターンシフトが得られ
る。In the mark pattern of FIG. 5A, the mark length is the longest, so that the heat at the time of mark recording accumulates most rearward, and the trailing edge of the mark shifts most rearward.
Further, since the mark interval is the longest, the heat from the previous mark recording does not affect the next mark. Here, since a steady shift due to a change in the power of the laser light is also included, the shift amount obtained by this pattern is defined as Δa, and Δc is calculated from Δa to Δc.
Subtraction gives a typical pattern shift.

【００４６】図５（Ｂ）のマークパターンは、マーク長
が最長であり、しかもマーク間隔が最短であることか
ら、直前のマーク記録時の熱が次のマークに最も影響す
るケースである。ここでは、マーク長が最長であること
からパターンシフトも含まれ、かつ定常シフトも含まれ
るので、このパターンで得られるシフト量をΔｂとし
て、ΔｂからΔａとΔｃを引くことによって、マークの
前エッジが最も前方にシフトする典型的なサーマルシフ
トが得られる。In the mark pattern shown in FIG. 5B, the mark length is the longest, and the mark interval is the shortest, so that the heat at the time of recording the previous mark has the greatest influence on the next mark. Here, since the mark length is the longest, the pattern shift is also included, and the steady shift is also included. Therefore, by subtracting Δa and Δc from Δb as the shift amount obtained by this pattern, the leading edge of the mark is obtained. Is obtained, a typical thermal shift in which is shifted most forward.

【００４７】このような図５（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）に示す
３つのパターンのマーク列を連続して記録し、この再生
信号Ｓ１１を図３の回路に入力する。図３において、１
１は２値化部であり、ピークボトム検出部１２と、閾値
検出部１３と、２値化処理部１４とを有して構成されて
いる。The mark strings of the three patterns shown in FIGS. 5A, 5B, and 5C are continuously recorded, and the reproduced signal S11 is input to the circuit of FIG. In FIG. 3, 1
Reference numeral 1 denotes a binarizing unit, which includes a peak / bottom detecting unit 12, a threshold detecting unit 13, and a binarizing processing unit 14.

【００４８】１５は積分部であり、積分回路１６と、収
束判断部１７と、サンプルホールド部１８とを有して構
成されている。１９はシフト量演算部、２０は第１メモ
リ部であり、パターンシフト補間関数が記憶されてい
る。２１は第１乗算部、２２はパターンシフト補償量演
算部である。Reference numeral 15 denotes an integrating section, which includes an integrating circuit 16, a convergence determining section 17, and a sample and hold section 18. Reference numeral 19 denotes a shift amount calculation unit, and reference numeral 20 denotes a first memory unit, which stores a pattern shift interpolation function. 21 is a first multiplier, and 22 is a pattern shift compensation amount calculator.

【００４９】２３は第２メモリ部であり、サーマルシフ
ト補間関数が記憶されている。２４は第２乗算部、２５
はサーマルシフト補償量演算部である。２６は第３メモ
リ部であり、定常シフト上限・下限基準値が記憶されて
いる。２７は比較判定部である。Reference numeral 23 denotes a second memory unit which stores a thermal shift interpolation function. 24 is a second multiplier, 25
Denotes a thermal shift compensation amount calculation unit. Reference numeral 26 denotes a third memory unit which stores steady-state upper and lower limit reference values. 27 is a comparison determination unit.

【００５０】まず、ピークボトム検出部１２によって再
生信号Ｓ１１の振幅レベルのピークとボトムを検出し、
その中点を閾値検出部１３で求めることにより図４
（Ａ）に示す閾値Ｌ１を検出する。First, the peak and bottom detector 12 detects the peak and bottom of the amplitude level of the reproduced signal S11,
The midpoint is obtained by the threshold detection unit 13 to obtain FIG.
A threshold L1 shown in FIG.

【００５１】そして、２値化処理部１４により再生信号
Ｓ１１と閾値Ｌ１との交点を検出すると共に、再生信号
Ｓ１１の閾値Ｌ１よりも大きいレベル部分／小さいレベ
ル部分を検出することによって、図４（Ｂ）に示すよう
に、交点を立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジと
し、かつ閾値Ｌ１よりも大きいレベルを「Ｈ」レベル、
小さいレベルを「Ｌ」レベルとする矩形波の２値化信号
Ｓ１２を出力する。By detecting the intersection of the reproduction signal S11 and the threshold value L1 with the binarization processing unit 14 and detecting a level portion that is higher / lower than the threshold value L1 of the reproduction signal S11, FIG. As shown in B), a point of intersection is a rising edge or a falling edge, and a level larger than the threshold L1 is an “H” level,
A rectangular wave binarized signal S12 having a low level as the “L” level is output.

【００５２】積分回路１６は、２値化信号Ｓ１２を積分
して出力するが、回路自体が時定数を持っており、ある
時間経過しないと求める積分値に収束しないので、収束
判断部１７でその積分値に収束したかどうかを判断し、
サンプルホールド部１８で、収束したと判断された積分
値をサンプリングし、かつホールドして出力する。この
結果、図４（Ｃ）に示す波形の積分信号Ｓ１３が出力さ
れる。The integration circuit 16 integrates and outputs the binarized signal S12. However, since the circuit itself has a time constant and does not converge on the integrated value to be obtained until a certain time elapses, the convergence judging unit 17 determines the integration value. Judge whether it has converged to the integral value,
The sample and hold unit 18 samples the integrated value determined to have converged, holds the sampled value, and outputs it. As a result, an integration signal S13 having the waveform shown in FIG.

【００５３】シフト量演算部１９は、積分信号Ｓ１３を
前述の〔作用〕の所で説明した式に応じて演算処理す
ることによりエッジシフトの大きさ、即ち上述したシフ
ト量Δａ、Δｂ、Δｃを求め、更に、Δｃから定常シフ
トデータＤｃを求め、Δａ−Δｃからパターンシフトデ
ータＤａを求め、Δｂ−（Δａ＋Δｃ）からサーマルシ
フトデータＤｃを求めて出力する。The shift amount calculator 19 calculates the magnitude of the edge shift, that is, the shift amounts Δa, Δb, and Δc by performing an arithmetic process on the integrated signal S13 according to the equation described in the above section. Then, steady shift data Dc is obtained from Δc, pattern shift data Da is obtained from Δa−Δc, and thermal shift data Dc is obtained and output from Δb− (Δa + Δc).

【００５４】第１メモリ部２０に記憶されたパターンシ
フト補間関数ｘ１は、図６に符号３１及び３２で示すマ
ーク長が最短及び最長の場合のパターンシフトの大きさ
からその傾きを求めるためのものである。但し、補間関
数ｘ１は、予め基準となる光磁気ディスク媒体でシフト
特性を測定することにより求めておく。The pattern shift interpolation function x1 stored in the first memory unit 20 is used for obtaining the inclination of the pattern shift indicated by reference numerals 31 and 32 in FIG. 6 from the magnitude of the pattern shift when the mark length is the shortest and the longest. It is. However, the interpolation function x1 is obtained in advance by measuring the shift characteristics of a reference magneto-optical disk medium.

【００５５】即ち、第１乗算部２１でパターンシフト補
間関数ｘ１とパターンシフトデータＤａとが乗算される
ことにより、マーク長が最短及び最長の場合のパターン
シフトの大きさ〔図２（Ｂ）に示すｂ（ｌｍ）〕及び傾
きが求められて出力されることになる。この出力データ
を補間パターンシフトデータＤａ１とする。That is, by multiplying the pattern shift interpolation function x1 and the pattern shift data Da by the first multiplying unit 21, the magnitude of the pattern shift when the mark length is the shortest and the longest [see FIG. B (lm)] and the slope are obtained and output. This output data is referred to as interpolation pattern shift data Da1.

【００５６】パターンシフト補償量演算部２２は、補完
パターンシフトデータＤａ１を前述の〔作用〕の所で説
明した式に応じて演算処理することにより、補償量Δ
ｌｍを求めるものである。この補償量Δｌｍをパターン
シフト補償信号Ｓａとする。The pattern shift compensation amount computing section 22 computes the complementary pattern shift data Da1 in accordance with the equation described in the above section of the operation to obtain the compensation amount Δ
lm is obtained. This compensation amount Δlm is used as a pattern shift compensation signal Sa.

【００５７】このパターンシフト補償信号Ｓａに応じ
て、後エッジシフトが生じないようにレーザ光を出力す
るＬＤの消光タイミングが調整される。第２メモリ部２
３に記憶されたサーマルシフト補間関数ｘ２は、図７に
符号３３及び３４で示すマーク間隔が最短及び最長の場
合のサーマルシフトの大きさからその傾きを求めるため
のものである。但し、補間関数ｘ２は、予め基準となる
光磁気ディスク媒体でシフト特性を測定することにより
求めておく。In accordance with the pattern shift compensation signal Sa, the extinction timing of the LD for outputting the laser beam is adjusted so that the trailing edge shift does not occur. Second memory unit 2
The thermal shift interpolation function x2 stored in 3 is used to determine the slope of the thermal shift from the magnitude of the thermal shift when the mark intervals indicated by reference numerals 33 and 34 in FIG. 7 are the shortest and the longest. However, the interpolation function x2 is obtained in advance by measuring the shift characteristics with a reference magneto-optical disk medium.

【００５８】即ち、第２乗算部２４でサーマルシフト補
間関数ｘ２とサーマルシフトデータＤｂとが乗算される
ことにより、マーク間隔が最短及び最長の場合のサーマ
ルシフトの大きさ〔図２（Ｂ）に示すａ（ｌｇ）〕及び
傾きが求められて出力されることになる。この出力デー
タを補間サーマルシフトデータＳｂとする。That is, the thermal shift interpolation function x2 is multiplied by the thermal shift data Db in the second multiplying section 24, so that the magnitude of the thermal shift when the mark interval is the shortest and the longest [see FIG. A (lg)] and the inclination are obtained and output. This output data is used as interpolation thermal shift data Sb.

【００５９】サーマルシフト補償量演算部２５は、補完
サーマルシフトデータＤｂ１を前述の〔作用〕の所で説
明した式に応じて演算処理することにより、補償量Δ
ｌｇを求めるものである。この補償量Δｌｇをサーマル
シフト補償信号Ｄｂ２とする。The thermal shift compensation amount calculating section 25 performs an arithmetic operation on the complementary thermal shift data Db1 in accordance with the equation described in the section of [Operation] to obtain the compensation amount Δ.
lg. This compensation amount Δlg is defined as a thermal shift compensation signal Db2.

【００６０】このサーマルシフト補償信号Ｓｂに応じ
て、前エッジシフトが生じないようにレーザ光を出力す
るＬＤの発光タイミングが調整される。第３メモリ部２
６に記憶された定常シフト上限・下限基準値ｘ３，ｘ４
は、定常シフトによるエッジシフトの大きさが適正かど
うかを判定するためのものである。In accordance with the thermal shift compensation signal Sb, the light emission timing of the LD that outputs the laser light is adjusted so that the leading edge shift does not occur. Third memory unit 2
6 upper and lower limit shift values x3, x4
Is to determine whether the magnitude of the edge shift due to the steady shift is appropriate.

【００６１】即ち、比較判定部２７で、定常シフトデー
タＤｃの大きさと上限・下限基準値ｘ３，ｘ４とが比較
され、その大きさが上限・下限基準値ｘ３，ｘ４の間に
入っているかどうかが判定され、この判定結果に応じた
発光パワー変更信号Ｓｃが出力される。That is, the comparison / determination unit 27 compares the magnitude of the steady-state shift data Dc with the upper and lower reference values x3 and x4, and determines whether the magnitude falls between the upper and lower reference values x3 and x4. Is determined, and a light emission power change signal Sc corresponding to the determination result is output.

【００６２】判定において、定常シフトデータＤｃの大
きさが上限基準値ｘ３よりも大きい場合は、マーク記録
レーザ光のパワーを小さくする発光パワー変更信号Ｓｃ
が出力され、下限基準値ｘ４よりも小さい場合は、レー
ザ光のパワーを大きくする信号Ｓｃが出力される。In the determination, when the size of the steady shift data Dc is larger than the upper limit reference value x3, the light emission power change signal Sc for reducing the power of the mark recording laser light is used.
Is output, and when it is smaller than the lower limit reference value x4, a signal Sc for increasing the power of the laser beam is output.

【００６３】即ち、発光パワー変更信号Ｓｃに応じて定
常シフトが生じないようにレーザ光のパワーが調整され
る。また、補間の精度を良くするには、例えば図８
（Ａ）に示すようなマーク長２τとマーク間隔４τの繰
り返しパターン、（Ｂ）に示すマーク長４τとマーク間
隔２τの繰り返しパターンを図５（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）に
示すパターン以外に加えて記録する。That is, the power of the laser beam is adjusted according to the emission power change signal Sc so that a steady shift does not occur. To improve the accuracy of interpolation, for example, FIG.
The repetition pattern of the mark length 2τ and the mark interval 4τ shown in FIG. 5A and the repetition pattern of the mark length 4τ and the mark interval 2τ shown in FIG. 5B are not limited to the patterns shown in FIGS. 5A, 5B, and 5C. Record additionally.

【００６４】そして、図９に符号３６、図１０に符号３
７で示すように、パターンシフト及びサーマルシフトに
よるエッジシフト量の点数を増やし、即ち補間関数ｘ
１，ｘ２にフィッティングさせるためのデータ数を増や
すようにすればよい。FIG. 9 shows reference numeral 36, and FIG.
As shown by 7, the point of the edge shift amount due to the pattern shift and the thermal shift is increased, that is, the interpolation function x
What is necessary is just to increase the number of data for fitting to 1, x2.

【００６５】このようにすれば、より正確なシフト特性
を得ることができるので、単にパターンシフト、サーマ
ルシフトの大きさの違いだけでなくシフト特性の形その
ものが異なる光磁気ディスク媒体に対しても互換性のあ
るものとなる。In this way, a more accurate shift characteristic can be obtained, so that not only the difference in the magnitude of the pattern shift and the thermal shift but also the magneto-optical disk medium in which the shape of the shift characteristic itself is different. Be compatible.

【００６６】[0066]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
エッジ記録再生方式により光磁気ディスクにマークを記
録する際に、パターンシフト、サーマルシフト、及び定
常シフトの３つのエッジシフト特性に対する記録補償量
の試行決定を行うことができるので、光磁気ディスク媒
体間のエッジシフト特性のバラツキ、及び異なるエッジ
シフト特性の媒体との互換が可能となり、適正なマーク
を記録することができる効果がある。As described above, according to the present invention,
When a mark is recorded on a magneto-optical disk by the edge recording / reproducing method, a trial determination of a recording compensation amount for three edge shift characteristics of a pattern shift, a thermal shift, and a steady shift can be performed. Of the edge shift characteristics, and compatibility with a medium having a different edge shift characteristic can be achieved, so that there is an effect that an appropriate mark can be recorded.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明の原理図である。FIG. 1 is a principle diagram of the present invention.

【図２】記録補償量説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a recording compensation amount.

【図３】本発明の一実施例による光磁気ディスク試行記
録装置の主要回路のブロック構成図である。FIG. 3 is a block diagram showing a main circuit of a magneto-optical disk trial recording apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図４】図３に示す回路で得られる再生信号、２値化信
号、積分信号の波形の一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing an example of waveforms of a reproduction signal, a binary signal, and an integration signal obtained by the circuit shown in FIG.

【図５】試行記録パターンの例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing an example of a trial recording pattern.

【図６】パターンシフト補間の説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of pattern shift interpolation.

【図７】サーマルシフト補間の説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram of thermal shift interpolation.

【図８】他の試行記録パターンの一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an example of another trial recording pattern.

【図９】他のパターンシフト補間の説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram of another pattern shift interpolation.

【図１０】他のサーマルシフト補間の説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram of another thermal shift interpolation.

【図１１】エッジ記録再生方式の説明図である。FIG. 11 is an explanatory diagram of an edge recording / reproducing method.

【図１２】パターンシフト特性図である。FIG. 12 is a pattern shift characteristic diagram.

【図１３】サーマルシフト特性図である。FIG. 13 is a thermal shift characteristic diagram.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１１ ２値化手段 １５ 積分手段 １９ シフト量演算手段 ２１ 第１乗算手段 ２２ パターンシフト補償量演算手段 ２４ 第２乗算手段 ２５ サーマルシフト補償量演算手段 Ｓ１１ 再生信号 Ｓ１２ ２値化信号 Ｓ１３ 積分信号 Ｄａ パターンシフト量 Ｄｂ サーマルシフト量 Ｄｃ 定常シフト量 ｘ１ パターンシフト補間関数 ｘ２ サーマルシフト補間関数 Ｄａ１ 補間パターンシフトデータ Ｄｂ１ 補間サーマルシフトデータ Ｓａ パターンシフト補償信号 Ｓｂ サーマルシフト補償信号 Reference Signs List 11 binarization means 15 integration means 19 shift amount calculation means 21 first multiplication means 22 pattern shift compensation amount calculation means 24 second multiplication means 25 thermal shift compensation amount calculation means S11 reproduction signal S12 binarization signal S13 integration signal Da pattern Shift amount Db Thermal shift amount Dc Steady shift amount x1 Pattern shift interpolation function x2 Thermal shift interpolation function Da1 Interpolation pattern shift data Db1 Interpolation thermal shift data Sa Pattern shift compensation signal Sb Thermal shift compensation signal

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−290437（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−120682（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−52547（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−76401（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−266481（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−310649（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 11/105 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-5-290437 (JP, A) JP-A-5-120682 (JP, A) JP-A-6-52547 (JP, A) JP-A-6-52547 76401 (JP, A) JP-A-5-266481 (JP, A) JP-A-4-310649 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. ⁷ , DB name) G11B 11/105

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項１】 光磁気ディスク上に、記録データに応じ
た光ビームにより記録されるマークのエッジが、該記録
データと対応するように、データの記録に先立って試行
記録を行い記録補償量を決定する光磁気ディスク試行記
録装置において、 前記マークの再生信号(S11) を２値化信号(S12) に変換
する２値化手段(11)と、 該２値化信号(S12) を積分して積分信号(S13) を出力す
る積分手段(15)と、 該積分信号(S13) よりパターンシフト量(Da)、サーマル
シフト量(Db)、及び定常シフト量(Dc)を求めるシフト量
演算手段(19)と、 該エッジシフト量(Da)とパターンシフト補間関数(x1)と
を乗算することにより、パターンシフトの大きさと傾き
を示す補間パターンシフトデータ(Da1) を出力する第１
乗算手段(21)と、 該補間パターンシフトデータ(Da1) より該パターンシフ
トを打ち消す補償量を求め、これをパターンシフト補償
信号(Sa)として出力するパターンシフト補償量演算手段
(22)と、 該サーマルシフト量(Db)とサーマルシフト補間関数(x2)
とを乗算することにより、サーマルシフトによるエッジ
シフトの大きさと傾きを示す補間サーマルシフトデータ
(Db1) を出力する第２乗算手段(24)と、 該補間サーマルシフトデータ(Db1) より該サーマルシフ
トを打ち消す補償量を求め、これをサーマルシフト補償
信号(Sb)として出力するサーマルシフト補償量演算手段
(25)とを具備して構成されることを特徴とする光磁気デ
ィスク試行記録装置。1. Trial recording is performed prior to data recording so that an edge of a mark recorded on a magneto-optical disk by a light beam corresponding to recording data corresponds to the recording data, and a recording compensation amount is reduced. In the magneto-optical disk trial recording device to be determined, a binarizing means (11) for converting the reproduction signal (S11) of the mark into a binarized signal (S12), and integrating the binarized signal (S12) An integrating means (15) for outputting an integrated signal (S13); and a shift amount calculating means for obtaining a pattern shift amount (Da), a thermal shift amount (Db), and a steady shift amount (Dc) from the integrated signal (S13). 19), and multiplying the edge shift amount (Da) by the pattern shift interpolation function (x1) to output the first and second interpolation pattern shift data (Da1) indicating the magnitude and inclination of the pattern shift.
Multiplying means (21); and a pattern shift compensation amount calculating means for obtaining a compensation amount for canceling the pattern shift from the interpolation pattern shift data (Da1) and outputting this as a pattern shift compensation signal (Sa).
(22), the thermal shift amount (Db) and the thermal shift interpolation function (x2)
And the interpolation thermal shift data indicating the magnitude and inclination of the edge shift due to the thermal shift.
A second multiplication means (24) for outputting (Db1) and a compensation amount for canceling the thermal shift from the interpolated thermal shift data (Db1), and outputting the compensation amount as a thermal shift compensation signal (Sb). Arithmetic means
(25) A trial recording apparatus for a magneto-optical disk, comprising: 【請求項２】 前記試行記録を行うための前記記録デー
タのパターンが、最長マーク長と最長マーク間隔の繰り
返しパターンと、最長マーク長と最短マーク間隔との繰
り返しパターンと、最短マーク長と最長マーク間隔との
繰り返しパターンを含むことを特徴とする請求項１記載
の光磁気ディスク試行記録装置。2. A pattern of the recording data for performing the trial recording includes a repeating pattern of a longest mark length and a longest mark interval, a repeating pattern of a longest mark length and a shortest mark interval, and a shortest mark length and a longest mark. 2. The magneto-optical disk trial recording apparatus according to claim 1, further comprising a repetition pattern with intervals. 【請求項３】 前記定常シフト量(Dc)と定常シフト上限
・下限基準値とを比較し、該定常シフト量(Dc)が、該定
常シフト上限基準値よりも大きい場合は前記光ビームの
パワーを小さくする信号を出力し、該定常シフト下限基
準値よりも小さい場合は該レーザ光のパワーを大きくす
る発光パワー変更信号を出力する比較判定手段(27)を設
けたことを特徴とする請求項１又は２記載の光磁気ディ
スク試行記録装置。3. The method according to claim 1, wherein the steady-state shift amount (Dc) is compared with a steady-state upper-limit / lower-limit reference value, and when the steady-state shift amount (Dc) is larger than the steady-state shift upper-limit reference value, the power of the light beam is increased. A comparison determination means (27) for outputting a signal for reducing the power of the laser beam, and outputting a light emission power change signal for increasing the power of the laser light when the signal is smaller than the steady-state lower limit reference value. 3. The magneto-optical disk trial recording device according to 1 or 2.