JP3127017B2 - Frequency analyzer - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、周波数選択測定と周
波数依存測定パラメータの表示のための測定装置を有す
る周波数分析装置、特に回路網周波数分析装置に向けら
れており、上記測定装置は、対象とする全周波数範囲内
での周波数掃引で周波数をインクリメントしていくとき
の各ステップで周波数が同調するようになされており、
上記装置により検出された試験（測定）されたパラメー
タは、グラフ状に表示されるタイプの装置である。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is directed to a frequency analyzer having a measuring device for frequency selective measurement and displaying frequency-dependent measurement parameters, and more particularly to a network frequency analyzer. Within the entire frequency range
When the frequency is incremented by the frequency sweep in , the frequency is tuned in each step, and
The tested ( measured ) parameters detected by the device are devices of the type displayed in a graph.

【０００２】[0002]

【従来の技術】無線周波数測定の分野において、対象と
する全周波数範囲内で周波数の関数として試験（測定）
されたパラメータの周波数依存の選択的評価を可能にす
る周波数分析装置が、近年益々広く使われている。例え
ば広い周波数範囲内の周波数の関数として検出した信号
の振幅をＣＲＴフェース上にリアルタイム表示できるス
ペクトル周波数分析装置（例えば ローデ ウント シ
ユバルツ ゲーエムベーハー ウント コンパニー カ
ーゲー（以下 ローデ ウント シユバルツ社と略す）
のスペクトルアナライザＦＳＡ）が存在する。BACKGROUND OF THE INVENTION In the field of radio frequency measurement, testing ( measurement ) as a function of frequency within the entire frequency range of interest.
In recent years, frequency analyzers that allow a frequency-dependent selective evaluation of the parameters obtained have become more and more widely used. For example broad spectral frequency analyzer capable of real-time display of the amplitude of the detected signal on the CRT face as a function of frequency within the frequency range (e.g., Rohde & shea <br/> Yubarutsu GmbH und Cie Ca
-Game (hereinafter abbreviated as Rohde & Schwarz)
Spectrum analyzer FSA).

【０００３】また本来の周波数選択周波数分析装置に加
えて、それと同期して同調するようにしたトラッキング
ゼネレータを含むいわゆる回路網周波数分析装置（例え
ばローデ ウント シユバルツ社のスカラ回路網周波数
分析装置ＦＳＡＳ）が既知である。例えばそのような回
路網周波数分析装置を用いて、周波数の関数として２端
子対回路網のレベル特性を測定することができる。In addition to the original frequency selective frequency analyzer, a so-called network frequency analyzer (for example, a scalar network frequency analyzer FSAS manufactured by Rohde & Schwarz) including a tracking generator adapted to synchronize with the frequency analyzer is also provided. Is known. For example, using such a network frequency analyzer, the level characteristics of a two-port network can be measured as a function of frequency.

【０００４】またレベル検出手段の他に測定信号の位相
を測定する手段を含むいわゆる複合回路網周波数分析装
置が既知であり、それによると大きさと位相の測定が可
能である。例えば、大きさと位相に基づいて被試験物の
リアクタンスを計算することが更に可能になり、また例
えば包絡線遅延は、周波数と位相の変動に基づいて決定
できる。従ってそのような回路網周波数分析装置を使用
して被試験物の最も変動の大きい試験パラメータを決定
することが可能である。[0004] a so-called composite circuit network frequency analyzer known comprising means for measuring the phase of the measurement signal in addition to the level detection means, according to Re its is possible magnitude and phase measurements. For example, it is further possible to calculate the reactance of a device under test based on magnitude and phase, and for example, the envelope delay can be determined based on frequency and phase variations. Thus, it is possible to determine the test parameters of the device under test with the greatest variation using such a network frequency analyzer.

【０００５】[0005]

【発明が解決しようとする課題】これらの既知の周波数
分析装置は全て、それぞれの測定タスクあるいはそれぞ
れの被試験物への対応が正確で迅速な測定という点では
最適でない、という欠点を示す。例えば、上記の種類の
回路網周波数分析装置を使って帯域ろ波器を試験すると
き、僅か２〜３ｄＢの表示範囲を持つフィルタの通過帯
域においては高いレベルの分解能と同時に高い周波数分
解能が望まれる。他方フィルタの立上り端および立下り
端の範囲内およびそれに続くストップ帯域範囲内では、
低いレベルの分解能および低い周波数分解能でもかまわ
ない。同じことは、所定の測定タスクに対しユーザによ
り自由に選択できるべきである上記試験パラメータの他
のものにも言える。All [0007] These known frequency analyzer, to respond to the respective measurement task or each DUT not optimal in terms of accurate and rapid measurement, shows the disadvantage. For example, when testing band wave filter using the above type of network frequency analyzer, at the same time, a high frequency resolution and higher level resolution are desired in the passband of the filter having a display range of only 2~3dB . On the other hand, within the rising and falling edges of the filter and the subsequent stop band,
May even low-level resolution and low frequency resolution of
No. The same user by and sometimes even as the other ones of the test parameters are Rubeki free to choose for a given measurement task.

【０００６】例えば周波数の関数として２端子対回路網
の伝送特性を表示するのに以前は普通であった掃引周波
数測定装置を用いて、掃引周波数発生器により掃引され
る全周波数範囲を、複数の独立して選択可能な下位範囲
（サブレンジ）に再分割し、且つ前記下位範囲のそれぞ
れに、他の下位範囲とは独立な掃引幅を設けることは既
知である（ドイツ特許明細書1,295,0878）。全周波数範
囲が掃引される第１の掃引サイクルの間、例えばフィル
タの全通過帯域特性が表示され、続く第２の掃引サイク
ルで、上記通過帯域特性の一部のみが異なった掃引速度
で測定される。そしてつぎにこれらの異なった掃引速度
で連続して作られたこれらの下位範囲が、ユーザのため
に同時的に表示画面上に表示される。この既知のアナロ
グ測定法は、対象とする全周波数範囲のリアルタイムで
の表示を可能にはしない；と言うのは、複数の下位範囲
が順次連続で測定できるに過ぎないからである。また、
上記既知のアナログ技術を用いのでは、下位範囲（複
数）内で周波数目盛をランダム（不揃いの任意型）に選
択することは不可能である。[0006] For example prior to display the transmission characteristics of two-port network as a function of frequency using was usually swept frequency measuring device, the entire frequency range to be swept by the sweep frequency generator, a plurality of Independently selectable lower range
Subdivided into (subranges) each of and prior Symbol subrange, we are known to provide independent sweep width of the other sub-ranges (German Patent Specification 1,295,0878). During a first sweep cycle in which the entire frequency range is swept, for example, the entire passband characteristic of the filter is displayed, and in a subsequent second sweep cycle, only a portion of the passband characteristic is measured at different sweep speeds. You. And then these subranges made continuously sweep different speeds of these are displayed simultaneously displaying on the screen for the user. This known analog measurement method provides real-time coverage of the entire frequency range of interest.
It is not permit the display of; as say, because only a plurality of subranges can be measured successively in a row. Also,
Since using the known analog techniques, subranges (double
It is not possible to select the frequency scale randomly (arbitrary random type ) within ( number) .

【０００７】周波数選択レベル測定を可能にする無線周
波数測定受信機を使用して、全周波数範囲を複数の独立
して選択可能な下位範囲に分割することについては、そ
れ自体は既知である（ローデ ウント シユバルツ社の
測定受信機ＥＳＨ３）。下位範囲は、始動／ストップ周
波数を入力することによりランダム（任意）に選択でき
る。しかし、この既知の測定受信機を使った場合は、周
波数目盛が、すべての下位範囲において同様になるよう
に選択できるだけである、すなわちすべての下位範囲内
で線形目盛になるか、又はすべての下位範囲内で対数目
盛になるか、のいずれかである。さらにこの従来例では
検出レベルの振幅目盛が、すべての下位範囲内で等しく
選択できるだけである。[0007] using radio frequency measurement receiver to allow for frequency selective level measurement, for dividing the selectable subranges the entire frequency range more independently, it is known per se (Rohde Measurement receiver ESH3 from Und Schwarz. The lower range can be selected randomly ( arbitrarily ) by inputting a start / stop frequency. However, when using this known measuring receiver, frequency scale is only can be selected to be similar in all subranges, that happens to linear scale in all subranges, or all become a logarithmic scale in the lower range, it is either. Furthermore, in this conventional example
Amplitude scale of the detection level, only all possible equal rather <br/> selected within subranges.

【０００８】本発明の目的は、上述したそれぞれの測定
の課題に最適に適応できる上記型の周波数分析装置の改
良を提供することである。An object of the present invention is to measure each of the aforementioned measurements.
Reforming the type of frequency analyzer capable of challenges optimally adapted
It is to provide good .

【０００９】[0009]

【課題を解決するための手段】上記の目的は下記の構成
の分析装置により解決される。すなわち請求項１の発明
の分析装置は： 周波数選択測定及び試験信号についての周波数に依存す
る試験パラメータの表示のための分析装置であって、そ
れは 関心がある全受信周波数範囲（例えば１〜４０００
ＭＨｚ）内の試験信号の周波数選択受信のため周波数掃
引で周波数をインクリメントしていくステップのそれぞ
れで周波数が同調するようにされ、且つ、そうして測定
された試験パラメータを表示装置によって複数の下位範
囲（サブレンジ）を有するグラフ状に表示されるように
され、前記全受信周波数範囲（例えば１〜４０００ＭＨ
ｚ）のサイズが互いに他の下位範囲（サブレンジ）とは
独立に選択されることができ、間を置かずに順に連続し
た複数の下位範囲に分けられている分析装置であり、 そ
の分析装置においては それら下位範囲の各々について、
周波数掃引で周波数をインクリメントしていくステップ
の数（例えば１ＭＨｚ当たりのステップ数がある下位範
囲では０．１個、他の範囲では５個、また他の範囲では
１００個など）だけでなく周波数をインクリメントして
いくステップの周波数のある範囲当たりの分布（例えば
対数表 示などの非直線表示モードか又は直線表示モード
かと言う表示モードの選択）が、それぞれ他の下位範囲
でのステップの数及びステップの周波数のある範囲当た
りの分布とは独立して選択でき、且つ、 試験パラメータ
の表示のスケール（目盛）が他の下位範囲の表示のスケ
ールとは独立に選択でき、その結果、一回の同調操作の
中で周波数インクリメント（ステップ）の変化していく
分布を用いて試験パラメータを、間を置かずに順に連続
する複数の下位範囲において連続的に測定でき、且つ試
験パラメータの変化していくスケールを用いて表示で
き、そして各々の下位範囲について周波数をインクリメ
ントしていくステップの数とステップの周波数のある範
囲当たりの分布の両者及び関連する試験パラメータのス
ケールが表示装置の上にオーバレイ表示されうるように
した、ことを特徴とする分析装置である。請求項２の発
明の分析装置は請求項１のものにおいてさらに： 前記の各下位範囲の試験パラメータのスケールが、分析
装置の周波数を制御するマイクロプロセッサにより、周
波数インクリメントのステップの数とそれの周波数のあ
る範囲当たりの分布のモードに自動的に適合させられる
ことを特徴とする。請求項３の発明の分析装置は、請求
項１または２に記載の分析装置においてさらに相互に独
立なテストパラメータの許容ライン（トレランスライン
（１０））が、個々の下位範囲内に表示され、且つ他の
下位範囲の許容ラインとは独立に設定できるようにした
ことを特徴とする。請求項４の発明の分析装置は、請求
項１から３のいずれかに記載の分析装置においてさらに
ｎ（ｎは整数）端子回路の被試験物を測定するため、周
波数インクリメントのステップの数とそれの周波数のあ
る範囲当たりの分布のモード、および被試験物の個々の
端子についての試験パラメータのスケールが、他の端子
のそれらとは独立に選択されることができ、且つ結果が
別々の下位表示用のセグメントにおいて表示されること
を特徴とする。請求項５の発明の分析装置は、請求項４
に記載の分析装置においてさらにｎ（ ｎは整数）端子回
路の被試験物を測定するとき、個々のゲート（端子）に
ついての周波数マーカと試験パラメータマーカおよび許
容ラインが、他のゲートのそれらに無関係に選択され、
且つ別々の下位表示用のセグメントにおいて表示される
ことを特徴とする。請求項６の発明の分析装置は、請求
項１から５のいずれかに記載の分析装置を備え、受信周
波数範囲内で周波数と振幅とが調整できるトラッキング
ジェネレータ（１）を具備し、その分析装置において
は、前記トラッキングジェネレータについての振幅の設
定が、試験パラメータのスケールの選択とは独立に、ま
た前記周波数分析装置の受信周波数範囲の下位範囲の周
波数インクリメントのステップの数すなわち掃引中の試
験点の数とそれの周波数当たりの分布のモードの選択と
は独立に、選択されうることを特徴とする。The above object is solved by an analyzer having the following configuration. That is, the invention of claim 1
The analytical device: depends on the frequency of the frequency-selective measurement and test signals
An analyzer for display of that test parameters, its
This is the entire receive frequency range of interest (eg, 1-4000).
Frequency for frequency selective reception of the test signal in the MHz) sweep
Each step of incrementing the frequency by pulling
This allows the frequency to be tuned and the test parameters so measured are displayed on the display device in a plurality of sub-ranges.
To be displayed in a graph with an enclosing (subrange)
And the entire reception frequency range (for example, 1 to 4000 MHz).
The size of z) to each other and the other subrange (subrange) can be selected <br/> independently, contiguous in sequence without placing between
And a plurality of which analyzer is divided into subranges, its
In the analyzer for each of these sub-ranges,
Steps to increment frequency by frequency sweep
(For example, a lower range where the number of steps per 1 MHz is
0.1 in the box, 5 in other ranges, and in other ranges
Not only 100) but also the frequency
Distribution of frequency over a range of steps ( eg,
Non-linear display mode or linear display mode, such as logarithmic Display
Or a selection of display mode to say) is, per the number and range of frequency of step of the step in each of the other sub-ranges
Ri of independently be selected from the distribution, and the scale display of test parameters (scale) of the display of other subranges scale
It can be selected independently of the Lumpur, resulting in a single tuning operation
The frequency increment (step) changes during
Uses distributions to sequence test parameters in sequence without pauses
Can be measured continuously in multiple subranges
Display using the changing scale of the test parameters
And increment the frequency for each subrange.
Number of steps and the frequency of the steps
Both the distribution per box and the relevant test parameters
Kale can now be overlaid on the display
Was, it is an analytical device you characterized. The analysis apparatus according to the second aspect of the present invention is further provided according to the first aspect : The scale of the test parameters in each of the lower ranges is analyzed.
The microprocessor controls the frequency of the device,
Check the number of wavenumber increment steps and their frequency.
Automatically, characterized in that the al adapted to the distribution mode of per range that. The analyzer according to the third aspect of the present invention
Item 1. The analyzer according to Item 1 or 2, further mutually independent.
Permissible test parameter tolerance line (tolerance line)
(10)) are displayed within individual subranges and other
And it can be set independently of the tolerance lines of the subordinate range
It is characterized by the following. The analysis device according to the fourth aspect of the present invention
Item 4. The analyzer according to any one of Items 1 to 3, further comprising:
In order to measure the DUT of n (n is an integer) terminal circuit, the number of frequency increment steps and the frequency
Mode of distribution per range, and individual
Scale test parameters for terminals, from those of another terminal can Rukoto are independently selected, and results
Characterized in that it is displayed Oite into separate segments for the lower display. The analysis apparatus according to the fifth aspect of the present invention is directed to the fourth aspect.
And n ( n is an integer) terminal times
When measuring the DUT tracts, the individual gate (terminal)
For a frequency marker of the test parameter markers and tolerance lines, which are selected independently of their other gates,
And displayed in separate segments for the lower display characterized Rukoto. An analyzer according to a sixth aspect of the present invention includes the analyzer according to any one of the first to fifth aspects, and is capable of adjusting a frequency and an amplitude within a reception frequency range.
Equipped with a generator (1) ;
The setting of an amplitude for said tracking generator, independently of the selection of the scale of the test parameters, or
Of the lower frequency range of the reception frequency range of the frequency analyzer.
The number of steps in the wavenumber increment, i.e.
The choice of the number of test points and their mode of distribution per frequency
Characterized in that the that independently may be selected.

【００１０】[0010]

【作用】本発明によれば、全周波数範囲の中の互いに異
なる下位範囲（サブレンジ）内において、周波数のスケ
ール（目盛）、周波数ステップス（周波数掃引で周波数
をインクリメントしていくそのステップ（試験点））の
数とそのステップの周波数のある範囲当たりの分布のモ
ード、および試験パラメータのスケール（目盛）（主要
なものは振幅の目盛、位相の目盛、リアクタンスの目
盛、包絡線遅延の目盛等である）をそれぞれの測定目的
に最適にすることが可能である。例えば、ある実施で
は、低域通過フィルタ又は高域通過フィルタのレベル特
性を周波数の関数として測定するとき、回路網分析装置
の全周波数範囲が、２つの下位範囲（サブレンジ）（そ
れぞれ通過帯域とストップ帯域）に分割され、これら２
つの下位範囲では、別々の周波数スケール（目盛）（複
数）および別々の試験パラメータスケール（複数）でそ
れぞれ試験が行われる。帯域通過部分又はストップ帯域
を測定するため、全周波数範囲を３つの連続した下位範
囲に分割し、そのうち中央の下位範囲ではフィルタの通
過帯域（単数）もしくはストップ帯域（単数）と釣り合
うように隣接する両ストップ帯域よりもより高い周波数
レスポンスおよびより高いレベルのレスポンス表示をす
るようにすることが好ましい。 According to the present invention, in a mutually different <br/> made subrange within the entire frequency range (subrange), scale the frequency
Rule (scale), frequency step (frequency
Of the number of steps (test points) and the distribution of the frequency of the steps per range.
Scale over de, and test parameters (scale) (Major
Things are possible scale amplitude, scale phase, eye <br/> Sheng reactance, optimally be Rukoto a scale or the like of the envelope delay) to each measurement purposes. For example, in one embodiment, when measuring the level characteristic of the low-pass filter or high-pass filter as a function of frequency, the entire frequency range of the network analyzer, two subranges (subrange) (each passband and the stop Band), and these 2
The two subranges have separate frequency scales (scales) (multiple
Number) and separate test parameter scales (plural) . To measure the band pass portion or stop band is divided into sub-ranges consecutive three full frequency range, of which the lower range of central and pass the filter band (s) or stop band (s) balance
Higher frequency than the two stop band adjacent to Migihitsuji
It is a response Display of response and higher level
It is preferred that this be done.

【００１１】この発明による分析装置を使用すれば１つ
の下位範囲（サブレンジ）当たりの、周波数掃引で周波
数をインクリメントしていくステップ数（周波数ステッ
プ数、即ち試験点の数の分布のモード）を任意（ランダ
ム）に選択することが可能であるから、分析装置はそれ
ぞれ必要な測定速度に最適に調和することができる。
（後述の図２の実施例の高周波数側の下位範囲７につい
て説明するように、その下位範囲では下側半分（２００
０ＭＨｚ以下）と上側半分（２０００ＭＨｚ以上）とで
周波数掃引の１ＭＨｚ当たりの試験点の数を１０対１の
比に変える特別のモードとしてある。）この事は、例え
ば帯域通過フィルタ等の被試験物をバランスさせるべき
ときに非常に有利である。周波数マーカまたはレベルマ
ーカのようなパラメータマーカを同時にオーバーレイ
（画面上に重畳表示）すること、または公称レベルライ
ンのような試験パラメータの許容ラインを同時にオーバ
ーレイすることにより、本発明による分析装置は、極め
て多様な測定目的、例えば高域通過フィルタ、低域通過
フィルタ、および帯域通過フィルタまたはストップ帯域
フィルタのそれぞれの選択度特性を測定するために広く
使用できる。 If the analyzer according to the present invention is used, one
Lower range (sub-ranges) per, frequency in the frequency sweep of
Number of steps to increment the number (frequency step
Number up, ie the number distribution Mode of test points) any (random
The analyzer can be optimally matched to the required measurement speed.
(The lower range 7 on the high frequency side in the embodiment of FIG.
In the lower range, the lower half (200
0MHz or less) and the upper half (2000MHz or more)
The number of test points per MHz in the frequency sweep
There is a special mode to change the ratio. ) This is, for example, should be balanced DUT such bandpass filter
Sometimes very advantageous. Simultaneously overlay parameter markers such as frequency or level markers
(Superimposed on the screen) or simultaneously exceed the allowable line of test parameters such as the nominal level line
The analysis device according to the invention allows for a wide variety of measurement purposes, such as high-pass filters , low-pass
Filters , and bandpass filters or stopbands
It can be widely used to measure the selectivity characteristics of each of the filters .

【００１２】この発明による分析装置はまた、対応する
多重チャンネル分析装置が測定装置として使われて、例
えば低域通過部と高域通過部から成る分離フィルタなど
の多端子を有する非試験物が測定されるとき、そのフィ
ルタの種々の選択度特性を表示するためにも適してい
る。The analyzer according to the invention is also characterized in that the corresponding multi-channel analyzer is used as a measuring device, for example a separation filter comprising a low-pass part and a high- pass part, etc.
It is also suitable for displaying various selectivity characteristics of the filter when non-test specimens having multiple terminals are measured.

【００１３】多端子被試験物の単一チャンネル毎の選択
度特性は、例えば別々の下位範囲毎に同時に画面上に表
示され、他方、その他のチャンネルとは独立の周波数目
盛と試験パラメータの目盛が各チャンネルに割り当てら
れ、チャンネル毎の従ってまた個々の選択度特性毎の周
波数マーカと試験パラメータのマーカまたは許容ライン
（複数）は、他の選択度特性のそれらと独立に選択され
ている。このようにして種々の測定を、多端子被試験物
について行うことができる。[0013] multiterminal selectivity characteristics for each single channel of the DUT, for example, is simultaneously displayed on the screen for each separate subrange, while independent of frequency th and other channels
Sheng and scale test parameter is assigned to each channel, markers or permissible line of thus also the frequency marker and test parameters of the individual selectivity characteristic for each for each channel
(Plural) are selected independently of those of the other selectivity characteristics
Tei Ru. In this manner, various measurements can be performed on the multi-terminal DUT.

【００１４】[0014]

【実施例】図１に示す回路網分析装置は、例えば被試験
物２に供給されうる１ＭＨｚから４０００ＭＨｚにわた
る測定周波数範囲内でインクリメントしていくステップ
（試験点）の別々の周波数の測定信号（複数）を周波数
掃引でステップ状に順次連続的に発生させる無線周波数
信号発生器１（トラッキングジェネレータ）（以下、発
生器と略す）、および例えば被試験物の出力端でレベル
および／または位相あるいはその他の無線周波数測定パ
ラメータ（複数）を測定する周波数選択測定装置３、を
備えている。EXAMPLES network analyzer shown in FIG. 1, for example incrementing within the measuring frequency range spanning 4000MHz from the supply Sareu Ru 1MHz the DUT 2 step
Frequency separate frequency measurement signal (s) of (test points)
Radio frequency signal generator 1 for sequentially continuously generated stepwise sweep (tracking generator) (hereinafter, originating
Abbreviated as raw device), and for example, the frequency selective measuring device 3 for measuring the level at the output of the DUT and / or phase, or other radio frequency measurement parameter (s), and a.

【００１５】試験結果は、表示ユニット４の表示画面上
にグラフ状に表示される。この発生器１は、制御ユニッ
ト１１によって周波数選択測定装置３と同期させられて
いる。この制御ユニット１１は、マイクロプロセッサを
含めることができ、発生器１内で互いに異なる周波数の
測定信号を周波数掃引でステップ状にインクリメントし
ていく周波数のステップス（各試験点）（複数）で発生
させ、その周波数選択測定装置３は、同じステップス
（複数の試験点）で自動的に周波数同調する。試験結果
をアナログ分析する場合、周波数選択測定装置３の出力
は表示ユニット４に直接結合される。しかし希望すれば
その分析は、制御ユニット１１内に設けたマイクロプロ
セッサ内でディジタル的に行うこともでき、この場合表
示される結果は、マイクロプロセッサにより表示ユニッ
ト４に供給される。[0015] Test results are displayed graphically on the display screen of the display unit 4. This generator 1 is synchronized with the frequency selective measuring device 3 by a control unit 11. The control unit 11 may include a microprocessor, a measurement signal of different frequencies in the generator 1 is incremented stepwise a frequency sweep
And will be generated in Steps frequency (each test point) (s), the frequency selective measuring device 3, the same Steps
Automatically tunes frequency (at multiple test points) . For analog analysis of test results, the output of the frequency selective measurement device 3 is directly coupled to the display unit 4 . However, if desired, the analysis can also be carried out digitally in a microprocessor provided in the control unit 11, in which case the displayed result is supplied to the display unit 4 by the microprocessor.

【００１６】図２は、周波数の関数としての帯域通過部
のレベル特性の実時間表示の状態を示すものである。帯
域通過部を測定するため１ＭＨｚから４０００ＭＨｚま
での全周波数範囲は、３つの連続した下位範囲（サブレ
ンジ）５、６および７に分割されている。第１の下位範
囲５は、例えば対数目盛が選択されている１ＭＨｚから
９９０ＭＨｚまでのストップ帯域を有する。第２の下位
範囲６は好ましくは直線的周波数目盛が選択されている
９９０ＭＨｚから１０１０ＭＨｚまでの通過帯域に対応
している。そして第３の下位範囲７は１０１０ＭＨｚと
４０００ＭＨｚ間の上部ストップ帯域に対応していて、
ここで再び対数の周波数目盛が選択されている。例え
ば、もし対数目盛をもつ下位範囲５と７の中でＭＨｚあ
たりの試験点（ステップス）の数が一定であるように選
ばれていると、フィルタ回路の通過帯域部から下位範囲
（サブレンジ）５内のストップ帯域にわたる遷移領域に
おける試験点の数が増え、分析に非常に有利な試験点の
分布が結果的に生じる。その結果、測定されたフィルタ
の通過帯域特性のグラフ状表示での評価が、かなり正確
になる。FIG. 2 shows the real-time representation of the level characteristics of the bandpass section as a function of frequency. To measure the bandpass section, the entire frequency range from 1 MHz to 4000 MHz has three consecutive sub-ranges ( sub-layers).
Ru Tei is divided into Nji) 5, 6 and 7. First subrange 5 have a stop band between 990MHz from 1MHz, for example logarithmic scale is selected. Second subrange 6 preferably corresponds to the pass band from 990MHz to linear frequency scale is selected to 1010MHz. And the third lower range 7 is 1010 MHz
Corresponds to the upper stop band between 4000MHz,
Here in the frequency scale of again logarithm is selected. For example, MHz Oh if in the lower range of 5 and 7 with a logarithmic scale
When the number of test points or (Steps) is Ru Tei chosen to be constant, the lower range of the pass band of the filter circuit
(Subrange) e increasing number of test points in the transition region spanning the stop band 5, the distribution of a very advantageous test points for analysis arising as a result. As a result, the evaluation in a graphical representation of the measured passband characteristics of the filter is considerably more accurate.

【００１７】下方のストップ帯域に対応する下位範囲５
については、例えば１ＭＨｚあたり０．１の試験点が選
択される、すなわちストップ帯域の下位範囲５には全部
で約９９の試験点がある。その内８９の試験点が１００
ＭＨｚと９９０ＭＨｚの間にある。また下位範囲５に続
く直線形周波数目盛を持つ通過帯域に対応する下位範囲
６では、１ＭＨｚあたり５つの試験値が選択されるの
で、前記通過帯域下位範囲６内では全部で約１００の試
験点となる。周波数の対数目盛を有する上方のストップ
帯域に対応する下位範囲７では、通過帯域の下位範囲６
とストップ帯域の下位範囲７の間の遷移領域で再び増加
した試験点の数が選ばれる。例えば１０１０ＭＨｚと２
０００ＭＨｚとの間では１ＭＨｚあたり０．０５という
試験点の数が選択されており、この数は、この対数範囲
で約５０試験点というやや多い数に相当する。そしてそ
れに続く２０００ＭＨｚと４０００ＭＨｚ間の範囲で
は、１ＭＨｚあたり僅か０．００５の試験値が選ばれ、
これは僅かに約１０試験点に相当する。The lower range 5 corresponding to the lower stop band
To about, for example the test point of 0.1 per 1MHz is selected, i.e., the test point of about 99 there Ru total in the lower range 5 stop band. 89 test points are 100
MHz and 990 MHz. Continue to lower range 5
In the lower range 6 corresponding to a pass band having a linear frequency scale, five test values are selected per 1 MHz, so that there are about 100 test points in total in the lower range 6 of the pass band . In the lower range 7 corresponding to the upper stop band with a logarithmic scale of the frequency, the lower range 6 of the pass band
And the number of test points that have increased again in the transition region between the lower range 7 of the stop band and the stop band. For example, 1010MHz and 2
000MHz are selected number of test points of 0.05 per 1MHz is between, this number corresponds to the number slightly greater that about 50 test points in the logarithmic range. And in the subsequent range between 2000 MHz and 4000 MHz, a test value of only 0.005 per MHz is chosen,
This corresponds to only about 10 test points.

【００１８】試験点の数、従って得られた振幅値の数
は、選択した周波数目盛を十分に考慮して、それぞれの
試験目的に正確に調和させることができる。また周波数
とレベルのより高い分解能が欲しいある範囲において
は、試験点の数を任意に増加させることができる。こう
して一層正確な測定が、これらの範囲で可能になる。１
ＭＨｚあたりの試験点の数の選択は、周波数軸がそれに
より表示される選択モード（例えば線形モードまたは対
数モード）により拘束されるものではない。関心がある
周波数範囲において、周波数掃引で周波数をインクリメ
ントしていく各試験点すなわちステップの数と１ＭＨｚ
あたりの試験点の数の分布が、上述のように、種々に異
なる直線的周波数軸か、または１ＭＨｚあたりの試験点
の数が自動的に、あるいは図２の実施例の下位範囲７の
中のように一部分で特異なモードで増加する対数周波数
軸か、などの何れでも選択することが常に可能である。
所望の試験点の数と所望の分布は、制御ユニット１１内
のマイクロプロセッサにより無線周波信号発生器１内
と、周波数選択測定装置３内に設定される。The number of test points, thus the number of the obtained amplitude value can be sufficiently consider the frequency scale selected, to precisely matched to each test object. In the higher resolution is correct desire range of frequencies and levels can be arbitrarily increase the number of test points. Thus, more accurate measurements are possible in these ranges . 1
The choice of the number of test points per MHz is not a shall be more constrained in the selection mode the frequency axis is displayed by it (e.g. linear mode or the logarithmic mode). In the frequency range of interest <br/> Increase frequency with frequency sweep
Number of test points, steps, and 1MHz
The distribution of the number of test points per are, as described above, variously or different linear frequency axis, or automatically in the number of test points per 1 MHz, or subrange 7 of the embodiment of FIG. 2
Logarithmic frequency axis or to increase in a specific mode in a portion as in, is always able to select any of such possible.
The number and the desired distribution of the desired test point, the control unit 11
A radio frequency signal generator 1 by the microprocessor is set to a frequency selective measuring device 3.

【００１９】本発明において重要なことは、周波数選択
測定装置３においては、下位範囲（サブレンジ）５、６
および７の各々 についての 試験パラメータの振幅のレ
ベルの目盛もまたそれぞれ異なるように選択され、それ
ぞれの測定の目的に適合するようにされていることであ
る。例えば、図２の実施例では低周波側ストップ帯域の
下位範囲５内では、縦軸方向の１つの目盛間隔１３は１
０ｄＢに対応する。ところが、高レベルの分解能が望ま
しい通過帯域に対応する下位範囲６内では縦軸の１つの
目盛間隔１２は１ｄＢに対応している。また高周波側ス
トップ帯域７内では１つの目盛間隔１４は２０ｄＢに対
応する。それ故帯域フィルタの通過帯域に対応する下位
範囲６に関しては、測定信号の数と分布、 および振幅
とレベルの目盛が、上記の下位範囲で要求される測定目
的に最適になるようにされている。ユーザは、帯域フィ
ルタの通過帯域に対応する下位範囲６については、これ
を表示画面上でレベルと周波数についての高い分解能で
評価し且つ可能なら修正することができる。他方余り重
要でないフィルタのストップ帯域に対応する下位範囲５
および７は、周波数レベルを通過帯域６に対応する下位
範囲にくらべて低い分解能で表示される。 What is important in the present invention is that in the frequency selective measuring device 3, the lower ranges (sub-ranges) 5, 6
And 7 the amplitude of the record of the test parameters of each to the attached to the
Scale Bell also be selected to be different each is adapted to conform to the purpose of each measurement Kotodea
You. For example, in the embodiment of FIG. 2, within the lower range 5 of the low frequency side stop band, one scale interval 13 in the vertical axis direction is 1
0 dB. Where there is one scale interval 1 2 on the vertical axis in the sub-ranges within 6 resolution of high level corresponds to the desired pass band corresponds to 1 dB. In the high frequency stop band 7, one graduation interval 14 corresponds to 20 dB. For the subrange 6 corresponding to the passband of therefore the bandpass filter, the number and distribution of the measurement signal, and the amplitude
The level of scale has been designed to use the best to measure the required purpose by the lower range. The user, bandwidth for the lower range 6 corresponding to the pass band of the filter, this <br/> can be positive Fix if and possible evaluated with high resolution for levels and frequencies on the display screen a. On the other hand, the lower range 5 corresponding to the stop band of the less important filter
And 7 represent the lower frequency levels corresponding to passband 6
It is displayed with a lower resolution than the range .

【００２０】このように、無線周波数信号発生器１およ
び周波数選択測定装置３を適切に設定することにより、
任意に希望する被試験物２に対して、それぞれ最適な下
位範囲（サブレンジ）（複数）の分布と最適の周波数ス
テップス（試験点）（複数）の数と周波数の分布の割り
当て目盛（スケール）、及び試験（測定）パラメータ
（振幅の目盛（下位範囲ごとの種々な振幅のレベルの目
盛間隔）、位相の目盛、リアクタンスの目盛、包絡線遅
延の目盛など）を選択することが可能である。無線周波
信号発生器１または周波数選択測定装置３は、マイクロ
プロセッサを通じて次のように自動的に制御できる。す
なわち、例えば、下位範囲の線型の表示によって、周波
数とレベルの一層高い分解能が設定され、他方それとは
反対に、例えば対数型表示によって、周波数及び又はレ
ベルをより低い分解能で表示するよ う自動的に設定でき
る。As described above, by appropriately setting the radio frequency signal generator 1 and the frequency selective measuring device 3,
And to DUT 2 the desired optionally, distribution and optimal frequency scan optimal under <br/> position range, respectively (subrange) (s)
Teppusu number and split Ri <br/> against scale distribution of frequency (test points) (s) (scale), and test (measurement) parameter
(Amplitude scale (scale of various amplitude levels for each subrange)
Interval), phase scale, reactance scale, envelope delay
Scale, etc.) . The radio frequency signal generator 1 or the frequency selective measuring device 3 can be automatically controlled through a microprocessor as follows. That is, for example, the lower range linear display sets a higher frequency and level resolution, while
Conversely, for example, by a logarithmic display, Ru frequency and or les <br/> can set bell starts selling by displaying at a lower resolution automatically <br/>.

【００２１】更に、図２中に示すように下位範囲（サブ
レンジ）毎に周波数マーカ８またはレベルマーカ９をそ
れぞれ測定した周波数特性カーブのグラフ状表示のカー
ブに重ねてオーバーレイ（重ね）表示することが可能で
あり、またこれらのマーカ８、９などもまた、他の下位
範囲のマーカとは無関係に設定できる。同様に、試験パ
ラメータ許容ラインは、図２の通過帯域に対応する下位
範囲６用のレベル許容ライン（トレランスライン）１０
により図示するようにオーバーレイ表示することができ
る。Furthermore, the lower range (sub as shown in FIG. 2
A graph display of a frequency characteristic curve obtained by measuring the frequency marker 8 or the level marker 9 for each range).
It is possible to overlap the blanking overlay (superimposing) display, also also including these markers 8,9 and the other sub-ranges of the marker can be set independently. Similarly, test parameters permissible line is level permissible line (tolerance line) 10 for the lower range 6 corresponding to the pass band of FIG. 2
, An overlay display can be performed as shown in FIG.

【００２２】この発明の別の発展様態によれば、全周波
数範囲にわたって、例えば個々の下位範囲５、６および
７の分布と独立に、ある種の測定目的に利点を提供する
トラッキング発生器すなわち無線周波信号発生器１から
の出力について異なったレベルを選択することがまた可
能である。図２に示す下位範囲５および７では、フィル
タの選択度特性のため被試験物２の出力において測定さ
れるレベルは比較的低く、その結果Ｓ／Ｎ比が比較的小
さい。それ故、無線周波信号発生器１のレベルを例えば
被試験物２からの出力レベルの所定の値から自動的に上
げ、それによりＳ／Ｎ比を改善して表示し、他方無線周
波信号発生器１の出力レベルが、通過帯域に対応する下
位範囲６内では小さく表示され、グラフの上下に逸脱し
ないように選択できる。このようにする場合には無線周
波信号発生器１の出力レベルは、またマイクロプロセッ
サによってそれぞれの測定目的に最適に対応させること
ができる。このような適応は勿論、周波数選択測定装置
３の選択された下位範囲の制限によって拘束されない
で、上記下位範囲およびそのために選択した周波数とレ
ベルの目盛と全く独立に選択できる。According to another development of the invention, a tracking generator or radio which offers advantages for certain measurement purposes over the entire frequency range, for example independently of the distribution of the individual subranges 5, 6 and 7 it is also possible to select different levels with the output from the frequency signal generator 1. In the lower ranges 5 and 7 shown in FIG. 2, the level measured at the output of the device under test 2 is relatively low due to the selectivity characteristics of the filter, so that the S / N ratio is relatively small. Therefore, automatically raising the level of the radio frequency signal generator 1 for example from a predetermined value of the output level from the DUT 2, thereby displaying to improve the S / N ratio, while a radio frequency signal generator 1 of the output level, are displayed small in the lower range 6 corresponding to the passband deviate above and below the graph
You can choose not to. In this case, the output level of the radio-frequency signal generator 1 can also be optimally adapted to the respective measuring purpose by the microprocessor. Such adaptation of course, without being bound by the restriction of the selected subrange of the frequency selective measuring device 3 can be selected completely independently and the sub-ranges and the frequency and level of the scale chosen for its.

【００２３】私は自分の発明を、図示した特定の実施例
を参照して説明したが、この発明の多くの変型は、この
発明の精神と範囲から逸脱することなく、この技術分野
に熟練した人達には明らかであろう。それ故私は、その
ような変型が、この技術に対する私の寄与の範囲内に正
当にかつ適正に含めうるものとして、権利を与えられた
特許の範囲内に含めることを意図するものである。Although I have described my invention with reference to the specific embodiments illustrated, many modifications of the invention will become apparent to those skilled in the art without departing from the spirit and scope of the invention. It will be obvious to people. I therefore intend to include such variations within the scope of the entitled patent as may be reasonably and properly included within the scope of my contribution to the technology.

【００２４】[0024]

【発明の効果】この発明による周波数選択測定および周
波数パラメータ表示のための分析装置では、例えば、関
心のある１ＭＨｚから４０００ＭＨｚまでの間の、対象
とする全周波数範囲にわたる周波数の周波数掃引で周波
数をインクリメントしていくステップ（試験点）におい
て同調が行われ、それにより測定された試験パラメータ
は、表示ユニット上にグラフ状に表示される。この周波
数分析装置を用いると前記の全周波数範囲が、複数の独
立に選択できる下位範囲（サブレンジ）に分割され、各
下位範囲に対し周波数をインクリメントしていくステッ
プ（試験点）の数と、ステップある周波数範囲当たりの
分布が、下位範囲の周波数ステップの数と、ステップの
ある周波数範囲当たりの分布と独立に選択でき、且つ各
下位範囲について、試験パラメータ（振幅、位相、リア
クタンス、包絡線遅延などの）の表示の目盛（スケー
ル）やレベルを、他の下位範囲の目盛と独立に選択する
ことができるので、下位範囲部分の微妙な特性の評価が
正確容易にできる。 [Effect of the Invention] In the analyzer for frequency selective measurement and frequency parameter display according to the present invention, for example, Seki
From a heart 1MHz of until 4000MHz, frequency in the frequency sweep of frequency over the entire frequency range of interest
The number is incremented to go tuned in step (test point) is carried out, test parameters thereby are measured, that is displayed in the graph form on the display unit. With this frequency analyzer, the entire frequency range is divided into a plurality of independently selectable lower ranges (subranges), and the frequency is incremented for each lower range.
Flop and the number of (test points), is <br/> distribution per frequency range step, the number of frequency steps of the lower range, the step
It can be selected independently of the distribution per certain frequency range, and with each subrange, test parameters (amplitude, phase, rear
Scale ( scale , envelope delay, etc.)
Level) and level can be selected independently of the scales of the other sub-ranges.
Accurate and easy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明による回路網周波数分析装置の基本的回
路図。FIG. 1 is a basic circuit diagram of a network frequency analyzer according to the present invention.

【図２】帯域通過部分測定中の上記周波数分析装置の画
面表示を図示したもの。FIG. 2 is a diagram illustrating a screen display of the frequency analyzer during bandpass portion measurement.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１ 無線周波信号発生器 ２ 被試験物 ３ 周波数選択測定装置 ４ 表示ユニット ５、６、７ 下位範囲REFERENCE SIGNS LIST 1 radio frequency signal generator 2 device under test 3 frequency selective measuring device 4 display unit 5 , 6 and 7 lower range

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 クラウス ダンツアイゼン ドイツ連邦共和国 デー−8032 グレフ エルフイング イメルマンストラーセ ９ (56)参考文献 特開 平２−132376（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−88376（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−9371（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−145970（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01R 23/173 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Inventor Klaus Dantzeisen Germany 803-32 Greff Elfing Immelmanstrasse 9 (56) Reference JP-A-2-132376 (JP, A) JP-A-64-88376 (JP, A) JP-A-64-9371 (JP, A) JP-A-59-145970 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. ⁷ , DB name) G01R 23/173

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項１】 周波数選択測定及び試験信号についての
周波数に依存する試験パラメータの表示のための分析装
置であって、それは 関心がある全受信周波数範囲（例え
ば１〜４０００ＭＨｚ）内の前記試験信号の周波数選択
受信のため周波数掃引で周波数をインクリメントしてい
くステップのそれぞれで周波数が同調するようにされ、
且つ、そうして測定された試験パラメータを表示装置に
よって複数の下位範囲（サブレンジ）を有するグラフ状
に表示されるようにされ、前記全受信周波数範囲（例え
ば１〜４０００ＭＨｚ）のサイズが互いに他の下位範囲
（サブレンジ）とは独立に選択されることができ、間を
置かずに順に連続した複数の下位範囲に分けられている
分析装置であり、 その分析装置においては それら 下位範囲の各々につい
て、周波数掃引で周波数をインクリメントしていくステ
ップの数だけでなく周波数をインクリメントしていくス
テップの周波数のある範囲当たりの分布が、それぞれ他
の下位範囲でのステップの数及びステップの周波数のあ
る範囲当たりの分布とは独立して選択でき、且つ、 試験 パラメータの表示のスケール（目盛）が他の下位範
囲の表示のスケールとは独立に選択でき、その結果、一回の同調操作の中で周波数インクリメント
でのステップの変化していく分布を用いて試験パラメー
タを、間を置かずに順に連続する複数の下位範囲におい
て連続的に測定でき、且つ試験パラメータの変化してい
くスケールを用いて表示でき、そして 各々の下位範囲に
ついて周波数をインクリメントしていくステップの数と
ステップの周波数のある範囲当たりの分布の両者及び関
連する試験パラメータのスケールが表示装置の上にオー
バレイ表示されうるようにした、 ことを特徴とする分析装置。1. A spectrometer for the display of <br/> test parameters that depend on the frequency of the frequency-selective measurement and test signals, it is the total received frequency range (for example of interest
Frequency Selection of if 1～4000MHz) the test signal in the
Frequency is incremented by frequency sweep for reception.
The frequency is tuned in each of the steps ,
And displaying the measured test parameters in a graphical form having a plurality of lower ranges (sub-ranges) on a display device.
And the entire reception frequency range (for example,
1 to 4000 MHz) are in the lower range of each other
(Sub-range) can be selected independently of
It is divided into multiple consecutive lower ranges without placing
An analyzer, attached to each of these sub-ranges in the analysis device
And increment the frequency by frequency sweep.
Not only the number of steps but also the frequency
The distribution per step of the frequency of the step is the number of steps and the frequency of the step in the other subranges , respectively.
That the distribution per range independently be selected from, and scale display of test parameters (scale) can be selected independently of the display scale of the other subranges, as a result, in the single tuning operation With frequency increment
Test parameters using the changing distribution of steps in the
Data in successive subranges without any pause
Can be measured continuously and the test parameters change.
And the number of steps that increment the frequency for each subrange
Both the per-range distribution of the step frequency and the scale of the relevant test parameters are shown on the display.
Was set to be potato display, you wherein the analyzer. 【請求項２】 前記の各下位範囲の試験パラメータのス
ケールが、分析装置の周波数を制御するマイクロプロセ
ッサにより、周波数インクリメントのステップの数とそ
れの周波数のある範囲当たりの分布のモードに自動的に
適合させられることを特徴とする、請求項１に記載の分
析装置。2. The test parameter of each of the lower ranges .
The scale is a microprocessor that controls the frequency of the analyzer.
The number of frequency increment steps and the
Automatically into a mode of distribution per range of frequencies
Characterized in that the al adapt analyzer according to claim 1. 【請求項３】 相互に独立なテストパラメータの許容ラ
イン（トレランスライン）が、個々の下位範囲内に表示
され、且つ他の下位範囲の許容ラインとは独立に設定で
きるようにした、 こと を特徴とする請求項１または２に記載の分析装置。Wherein mutually independent test parameters permissible line (tolerance line), displayed within each subrange
In is, and independently of the setting of the other subordinate range of permissible line
And it kills manner, analyzer according to claim 1 or 2, characterized in that. 【請求項４】 ｎ（ｎは整数）端子回路の被試験物を測
定するため、周波数インクリメントのステップの数とそ
れの周波数のある範囲当たりの分布のモード、および被
試験物の個々の端子についての試験パラメータのスケー
ルが、他の端子のそれらとは独立に選択されることがで
き、且つ結果が別々の下位表示用のセグメントにおいて
表示されることを特徴とする、請求項１から３のいずれ
かに記載の分析装置。4. The number of steps of frequency increment and the number of steps for measuring the device under test in an n (n is an integer) terminal circuit.
Modes of distribution per range of these frequencies, and
Scale test parameters for individual terminals of the specimen
Le is the Rukoto is selected independently of their other terminal
Can, and the result is characterized in that it is Oite displayed in the segment for separate lower display, analyzer according to any one of claims 1 to 3. 【請求項５】 ｎ（ｎは整数）端子回路の被試験物を測
定するとき、個々のゲート（端子）についての周波数マ
ーカと試験パラメータマーカおよび許容ラインが、他の
ゲートのそれらに無関係に選択され、且つ別々の下位表
示用のセグメントにおいて表示されることを特徴とす
る、請求項４に記載の分析装置。5. When measuring a device under test in an n (n is an integer) terminal circuit, a frequency marker and a test parameter marker and an allowable line for each gate (terminal) are different from each other.
It is independently selected to their gates, and the lower table of separate
Characterized Rukoto displayed in示用segments analyzer according to claim 4. 【請求項６】 請求項１から５のいずれかに記載の分析
装置を備え、受信周波数範囲内で周波数と振幅とが調整
できるトラッキングジェネレータを具備し、その分析装
置においては前記トラッキングジェネレータについての
振幅の設定が、試験パラメータのスケールの選択とは独
立に、また前記周波数分析装置の受信周波数範囲の下位
範囲の周波数インクリメントのステップ数すなわち掃引
中の試験点の数とそれの周波数のある範囲当たりの分布
のモードの選択とは独立に、選択されうること、を特徴
とする回路網分析装置。Further comprising: a spectroscope according to any one of claims 1 to 5, comprising a tracking generator which can be adjusted frequency and the amplitude within the receive frequency range, the analysis instrumentation
In setting, setting the amplitude for the tracking generator is independent of selecting the scale of the test parameters.
The standing and the lower reception frequency range of said frequency analyzer
Steps or sweeps of frequency increments in the range
The number of test points in the distribution of their frequency per range
Independently of the mode selection, characterized by, which can be selected
Circuit network analyzer to.