JP3118621B2 - 測温機能付きカプセル型ひずみゲージ - Google Patents
測温機能付きカプセル型ひずみゲージInfo
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Description
型ひずみゲージに関し、より詳細には、タービンブレー
ドの振動計測等の高温条件下におけるひずみ検出を高精
度に行うための測温機能付きカプセル型ひずみゲージに
関するものである。
する場合には、その高温環境下にひずみ検出器を置き、
この検出器の出力端を、常温下に置かれた各種計測機器
にケーブルを介して電気的に接続する必要がある。
ばならず、その一例としてMIケーブル(minera
l insulated metal sheathe
dcable)と称されるものがある。
ての金属管(一般には、ステンレス鋼管)の中に酸化マ
グネシウム(MgO)の粉体が固く詰められ、その心部
に信号線としての、例えば銅芯線が複数本挿入保持され
たものであり、燃焼する素材を用いていないので、炉の
近くのような数100度の高温に晒される場所に使用す
るのに頗る好適なものである。
リード線接続部を介してフレキシブルケーブルが接続さ
れた状態の溶接型高温ひずみゲージの平面図である。こ
のひずみゲージは、一般には被測定対象物にスポット溶
接によって固着され、高温下における被測定対象物に生
じるひずみをゲージ素子の抵抗値変化として検出するも
のである。
型高温ひずみゲージ(以下「カプセルゲージ」という)
2が置かれている。このカプセルゲージ2は、その詳細
な構成を図19に示してある。
ューブ3の中央には、ひずみに感応してひずみ量変化を
抵抗値変化に変換するニッケル・クロム合金線等よりな
るひずみ感応抵抗体4が、倒U字状に折曲して配置され
ている。このひずみ感応抵抗体4が配設されたチューブ
3内には、酸化マグネシウム(MgO)の粉体でなる絶
縁物5が固く充填されている。
端からはひずみ感応抵抗体4に接続された入出力端子線
であるリード線6が導出され、セラミック系の耐熱性を
有する接着剤7によって密封されている。
部2aを被測定対象物1に固定するためのベース8が固
定されている。このベース8は、図20に示すように、
カプセルゲージ2の両側方に突出したフランジ部8a,
8bを有しており、その上にはスポット溶接で強固に固
定される溶接部9を有している。
延出されるチューブ3内のリード線6の端部とMIケー
ブル11の一端とがそれぞれ溶接され、その溶接部が外
部と気密を保って封止された接続部10を形成してい
る。
体4に電気接続される2本のリード線6とMIケーブル
11の内部の2本の導線とが電気的に接続されることに
なる。
された信号線と、ポリエチレン等のフレキシブル絶縁材
でなるフレキシブルケーブル13によって被覆されたリ
ード線14の一端とを接続し、その接続部が外部と気密
を保って封止された接続部12を形成している。
ポリエチレン等のフレキシブル絶縁材で形成されている
被覆である。このリード線14は、ブリッジ回路等が形
成される図示省略のブリッジボックスを介してひずみ検
出回路に接続されるようになっている。
は、ひずみ測定点における温度を知ることが重要であ
り、その測定温度に基づいてひずみ測定データを補正す
ることによって真のひずみに対応した正確なひずみ測定
データを得ることができる。この具体例を図21に示
す。図21において、高温下に置かれた被測定対象物1
に上述のカプセルゲージ2が取付けられ、その近傍にシ
ース型熱電対20が取付けられている。
み変化に基づく抵抗値変化は、ブリッジボックス16に
よって、電圧値変化または電流値変化に変換され、次段
の増幅器17によって増幅され、データレコーダ等の記
録器18に記録されると共にデータ処理回路19でひず
みデータの処理が行われ、測定ひずみのデータが求めら
れる。
カプセルゲージ2の近傍に固定され、その基準接点部が
基準温度に保たれている。この基準接点部は、熱電対回
路を形成する2本の導線の端部を例えば氷温の0℃に保
つことによって冷接点補償器21が構成される。また
は、上述の導線の端部を任意(例えば常温)の温度環境
下に置き、この温度環境下の温度と基準温度(例えば0
℃)との差に基因する熱起電力変化を電気的に補償する
ようにして冷接点補償器21が回路構成される。
1と測温接点部との間に生じる熱電位(熱起電力)に、
上記冷接点補償器21によって補償された補償電圧を加
えた電圧を電圧計22によって検出することによって被
測定対象物1の温度(カプセルゲージ2の近傍の温度)
が検出される。この温度データは、必要に応じてデータ
処理回路19に入力され、温度に対応して検出データが
変化するのを補正できるようになっている。
みゲージは、シース型熱電対を併用することによって高
温下におけるひずみ測定において出力の温度補正を加え
ることができるものの、温度測定用の素子の位置とひず
み測定用の素子の位置とが一致していないために、両位
置に温度差が生じる場合には正確に出力の温度補正を行
うことができないという問題がある。
にひずみ測定用の素子を取付けて、所定範囲内のひずみ
の分布を測定しようとする場合には、ひずみ測定用の素
子のそれぞれの近傍に温度測定用の素子を設けることが
理想であるが、現実には寸法的な制約から取付けが困難
であったり、多数の温度測定用の素子を取付けることに
より被測定対象物の剛性等の機械的性質が変化してしま
うことがあり、これがひずみ測定の精度の低下を来たす
という問題がある。
れの近傍に温度検出用の素子を設けることは非常に作業
性が悪いものであった。このために、複数のひずみ検出
用の素子の温度分布を代表する位置に温度検出用の素子
を設けざるを得ないことから、正確に出力の温度補正を
行い得ないという問題が残存することになる。
で、高温下に置かれたひずみ検出用の素子の温度そのも
のを効率よく且つ正確に検出することができ、小型で且
つ安価であり、作業性、耐熱性、防湿性および耐久性に
優れた測温機能付きカプセル型ひずみゲージを提供する
ことを目的とするものである。
きカプセル型ひずみゲージは、上記の目的を達成するた
めに、密封されるシースチューブ内に充填された耐熱性
の絶縁材でなる粉体によってそのシースチューブ内に保
持されたひずみ感応抵抗体とこのひずみ感応抵抗体に連
設されて前記シースチューブから導出される2本のリー
ド部とからなるセンサ部と、前記シースチューブから導
出される2本のリード部とMIケーブルから導出される
異種金属からなる2本の導線の各一端をろう付けにより
接続しその周囲を金属の筒体で囲繞し、且つ前記筒体内
部で前記シースチューブの端末と前記MIケーブルの端
末とを、耐熱性を有するセラミック系の接着剤にて封止
すると共に前記筒体自体も封止してなる第1の接続部
と、前記MIケーブル内の前記2本の導線の他端と常温
型のフレキシブルケーブルの各芯線を接続しその周囲を
筒体で囲繞し且つ該筒体内部で少なくとも前記MIケー
ブルの他方の端末を樹脂にて気密に封止してなる第2の
接続部と、を有し、前記フレキシブルケーブルの各他端
をブリッジ回路の一辺に選択的に接続することによっ
て、前記ブリッジ回路の出力端から前記ひずみ感応抵抗
体が受けるひずみに対応した出力を導出し得るように構
成すると共に、前記フレキシブルケーブルを前記ブリッ
ジ回路の一辺から選択的に切り離し測温計の入力端に接
続することによって該入力端を基準接点部とし前記第1
の接続部における前記センサ部と前記耐熱型ケーブルと
の接続点を測温接点部として、該測温接点部における温
度を検出し得るように構成したことを特徴とするもので
ある。
型ひずみゲージは、ひずみ感応抵抗体を耐熱性の絶縁材
でなる粉体を充填することによってシースチューブ内の
心部に絶縁状態で保持し、このひずみ感応抵抗体に連設
する2本リード部を上記シースチューブの端部から導出
させる。
ての2本の導線の各一端を接続し、各他端を常温型のフ
レキシブルケーブルの各芯線にそれぞれ電気接続する。
この際に上記2本の導線が熱電対の形成回路の一導線と
他導線として機能し、センサ部と耐熱型ケーブルとの接
続点が熱電対の測温接点部として機能する。
をブリッジ回路の一辺に選択的に接続してセンサ部をブ
リッジ回路の一辺に回路挿入することによって、上記ブ
リッジ回路の出力端から上記センサ部に生じるひずみを
検出し得るようにしてある。
の一辺から選択的に切り離して測温計の入力端に接続す
ることによって、この入力端を基準接点部とし、上記セ
ンサ部と耐熱性ケーブルとの接続点を測温接点部として
その温度を検出し得るようにしてある。
を用いて詳細に説明する。
付きカプセル型ひずみゲージの外観構成を示す平面図で
ある。
31とシースチューブ32でなるセンサ部30と第1の
接続部33とMIケーブル34と第2の接続部35とフ
レキシブルケーブル36とから成っている。
は、図2に詳しく示すように、被測定対象物に取付けら
れる薄板で帯状のフランジ部37の長手方向に沿う中央
にシースチューブ32の大径部40が固定され、このシ
ースチューブ32内には、耐熱性の絶縁材、例えば酸化
マグネシウム(MgO)の粉体39を密に充填すること
によってひずみ感応抵抗体38が堅く保持されている。
度が550℃程度の場合には、ニッケル−クロム系や白
金タングステン系の合金が用いられ、800℃程度の場
合には鉄−クロム−アルミニウム系やニッケル−クロム
−鉄系やニッケル−クロム−アルミニウム系の合金が用
いられる。
ースチューブ32の材質は、耐食性と耐熱性に優れたN
CF600(JIS記号)を用いているので、最高使用
温度が800℃まで確保されている。
径が2段に、即ち大径部40と小径部41とに形成さ
れ、大径部40の先端部分がフランジ部37に固着さ
れ、小径部41の端部が上記のNCF600からなる第
1の接続部33に接続されている。
すように、シースチューブ32の小径部41とMIケー
ブル34とを筒体42を介して接続するものであり、詳
しくは、小径部41の先端から突出するひずみ感応抵抗
体38のリード部の根元を800℃程度の高温に充分に
耐えるセラミック系の接着剤43で端末処理する。
アルメル線45とクロメル線46の根元を800℃程度
の高温に充分耐えるセラミック系の接着剤44で端末処
理し、最高使用温度が550℃程度の場合には、「ひず
み感応抵抗体38とアルメル線45」と「ひずみ感応抵
抗体38とクロメル線46」のそれぞれを接続点aにお
いて銀ロウ接合し、最高使用温度が800℃程度の場合
には、上記両線を接続点aにおいてニッケルロウ接合す
る。
されたMIケーブル34の他端には、図4に詳しく示す
第2の接続部35を介してフレキシブルケーブル36が
接続されている。
48に支持され、その先端から突出するアルメル線45
の根元とクロメル線46の根元は、接着剤47で気密に
封止されている。フレキシブルケーブル36の端末部
は、筒体48に支持され、その突出する芯線50,52
のそれぞれは、ポリエチレン等のプラスチックでなる被
覆49,51で覆われている。
のそれぞれの先端には、半田の付きをよくするための銀
ロウコーティングが予め施され、「アルメル線45と芯
線50」および「クロメル線46と芯線52」のそれぞ
れが接続点bにおいて半田付けされることによって電気
的に接続されている。なお、筒体48の内部には、結線
作業の後に、エポキシ樹脂が充填される。
に、被測定対象物1上に点溶接で固着され、第1の接続
部33は、図6および図7に示すように金属帯53を半
周回程度巻付け、その両辺(フランジ部)を点溶接部5
4で被測定対象物1上に固定される。さらに、MIケー
ブル34の固定も金属帯55を用いて上述同様に行われ
ている。
係る測温機能付きカプセル型ひずみゲージが接続される
電気回路を、図8を用いて説明する。カプセル型ひずみ
ゲージ100は、1つの入力を2系統に切替えるスイッ
チ56の入力端に接続され、このスイッチ56の出力端
の一方の系統は、ブリッジボックス57、増幅器58、
記録器59データ処理回路60とを順次に接続して構成
されるひずみ検出系回路に接続されるようになってい
る。このスイッチ56の出力端の他方の系統は、冷接点
補償器61と電圧計62とを順次に接続して構成される
測温系回路に接続されるようになっている。
温機能付カプセル型ひずみゲージを用いて高温下におけ
る動ひずみを測定する場合、スイッチ56をひずみ検出
系回路側のブリッジボックス57側に切換える。この場
合、回路的には図9に示すようになる。
gおよびMIケーブル34、フレキシブルケーブル36
の内部抵抗成分(以下同じ)がブリッジの一辺に回路挿
入される。ブリッジ回路の他の3辺は、抵抗の温度係数
の極めて小さな固定抵抗R1,R2,R3をもって形成
される。
ーブル34,36の内部抵抗を含む)との接続点と、固
定抵抗R2,R3の接続点との間に所定の入力電圧(ブ
リッジ電圧)が供給されると、固定抵抗R1,R2の接
続点と抵抗R3、抵抗成分rgの接続点との間にひずみ
感応抵抗体38の抵抗成分rgの変化に伴った出力電圧
が生じる。この出力電圧は、ひずみ感応抵抗体38が被
測定対象物1から受けるひずみに追従したものとなる。
抵抗Rfで形成されるCR型のハイパスフィルタ回路に
よって直流成分と低周波成分がカットされた出力電圧と
なる。このカットオフ周波数の特性、即ちEout /Ein
は、図9に示す、コンデンサCfの容量をCoとすれ
ば、次式のようになる。
F、2.2μF、10μFとした場合のそれぞれのカッ
トオフ周波数は、図10に示すようにそれぞれ16H
z、7.23Hz、1.6Hzになる。このために測定
すべき動ひずみの周波数の態様に応じて容量Coを選択
すれば良い。このようにして得られるブリッジボックス
57の出力電圧は、増幅器58によって増幅され、記録
器59に記録されデータ処理回路60で所望のデータ処
理が行われる。
ると、ひずみ感応抵抗体38の抵抗成分rgが、図13
に示すようにアルメル線45とクロメル線46の各一端
間に回路挿入されて測温接点部を形成する。そして、ア
ルメル線45の他端は、接続点bにてフレキシブルケー
ブル36の一方の芯線50と接続され、冷接点補償器6
1を形成するブリッジに接続されることになる。
れぞれに抵抗温度係数の極めて小さな固定抵抗R4,R
5,R6が接続され、一辺に温度が上昇すると抵抗値が
下がる特性を有する負性抵抗R0が接続されたブリッジ
回路で構成され、このブリッジ回路における固定抵抗R
4,R5の接続点と、固定抵抗R6,負性抵抗R0の接
続点との間に一定電圧の入力電圧が供給される。
4、負性抵抗R0の接続点との間にひずみ感応抵抗体3
8の抵抗成分rgと、アルメル線45,クロメル線46
で形成される熱電対回路の熱起電力を検出する電圧計6
2が接続されることになる。
基準温度、例えば0℃の一定温度に保つものであるが、
この実施例では、基準接点部の温度が任意の温度であっ
ても、常に実質的な温度を0℃とするような電気的手段
を用いている。
れる熱電対回路の熱起電力は、基準接点部が任意の環境
下(例えば常温)に置かれているために、当然のことで
はあるが基準温度(例えば0℃)における熱起電力に対
して出力差が生じる。
すように、ブリッジの一辺に負性抵抗R0が設けられて
いる。この負性抵抗R0の温度特性は、アルメル線4
5,クロメル線46で形成される熱電対回路の熱起電力
特性に近似させている。そして、このような特性を有す
る負性抵抗R0に基づいて基準接点部の温度変化による
熱起電力変化を補償するものである。
を結合させて形成する測温接点部は、厳密に言うとショ
ート状態ではなくひずみ感応抵抗体38,アルメル線4
5,クロメル線46等の抵抗成分を有しているので、そ
の抵抗成分の影響を受けるか否かについて検討する。
うに、等価的にひずみ感応抵抗体38の抵抗成分rgと
アルメル線45の抵抗成分RLAとクロメル線46の抵
抗成分RLCが直列に接続されることになる。そして、
アルメル線45とクロメル線46による熱電対回路によ
る熱起電圧Eoが発生することになる。
おいて、C−D間をショートした状態でA,B点(冷接
点部または基準接点部)とC,D点(測温接点部)の間
に温度差を与えるとゼーベック効果によってA−B間に
熱起電圧が生じるのである。
こでELAは、抵抗成分RLAに起因して生じる電位
差、ELCは、抵抗成分RLCに起因して生じる電位
差、Egは、抵抗成分rgに起因して生じる電位差であ
る。
ひずみ感応抵抗体38の抵抗値が約120Ω、アルメル
線45、クロメル線46、フレキシブルケーブル36等
を含めたリード線の内部抵抗の抵抗値が約80Ωである
のに対し、出力電圧Eを測定するための電圧計(測温
計)の入力インピーダンスZiが100KΩ以上から1
MΩ程度になっている。従って、回路全体としての抵抗
は、抵抗成分RLA,rg,RLCとインピーダンスZ
iを加え合せたもの、即ちZi=100KΩとすれば1
00.2KΩとなる。
のそれぞれに流れる電流が非常に少なく、上述のドロッ
プ電圧ELA,Eg,ELCのそれぞれが無視できる値
となるので、真の熱起電圧Eoに実質的に等しいデータ
が得られることになる。
て、ブリッジボックス57、増幅器58、記録器59で
構成されるひずみ検出系回路で得られるひずみデータ
を、データ処理回路60で補正して真のひずみデータを
求めるのであるが、その前提としてセンサ部30の温度
を測定することによってMIケーブル34の抵抗値やセ
ンサ部30の抵抗値変化およびゲージ率等を補正する必
要がある。
1、シースチューブ32、第1の接続部33とMIケー
ブル34の一部(長さL1)が高温下に置かれ、MIケ
ーブル34の一部(長L2)と第2の接続部35、フレ
キシブルケーブル36が常温下に置かれ、かつ長さL1
が0.5mで長さL2が1.5mの場合のMIケーブル
34の抵抗値補正係数を、図15に示すグラフによって
求める。例えば、温度が800℃の場合には係数を1.
45とするのである。
温度に基づく抵抗値の補正係数を図16によって求め
る。例えば、温度800℃の場合には、係数を1.04
8とするのである。
の、温度に基づくゲージ率の補正係数を図17によって
求める。例えば、温度が800℃の場合には、抵抗値補
正係数を0.92とするのである。以上の3項目の補正
係数に基づき、ゲージ全体の最終的なゲージ率KBを下
式の通り求めるのである。
ージ率、RGOは、図16で求めた補正係数で補正した
抵抗値、rgは、図16によって求めた補正係数で補正
した抵抗値RGOと図15で求めた係数で補正した抵抗
値とを加え合せた抵抗値である。従って、本実施例にお
いては、ひずみ感応抵抗体38として、高温での安定性
に優れた合金を用いているので800℃程度の高温に充
分耐えることができる。
芯線には、高温での耐久性に優れたアルメル線45とク
ロメル線46を用いているので800℃程度の高温にも
充分に耐えることができる。
MIケーブル34とその第1の接続部33等の高温に直
接晒される表面部分の材質には、NCF600を用いて
いるので、800℃程度の高温に耐えると共に、蒸気、
酸等に晒されてもその機能が損なわれることがない。
熱電対回路を形成するアルメル線とクロメル線を、シー
スチューブ内に封入して耐熱ケーブルとして形成してあ
るので、シース型熱電対を別途用いる必要がなくなり、
その分、全体的な構成を簡略化でき、結果的にコストダ
ウンを実施することができる。
して大幅に小型化されているので、今まで取付け不可能
であった狭い場所への取付けが可能になると共に、複数
取付けることでひずみ分布を測定する際に高い密度でも
ってひずみ分布測定を行うことができる。
いて簡単に行えるために、接着剤が不要となり、取付け
の際に加熱や加圧の必要がなくなり、取付後に直ちに測
定することが可能となる。しかもセンサ部30を被測定
対象物に取付ける際にリード線の接続を行うことやコー
ティング処理が不要であるので、能率的な取付けが行え
ると共に特別な技能を要しないという利点がある。
ることなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の
変形実施をすることができることは勿論である。例え
ば、上述の実施例においては、ひずみ感応抵抗体38を
直接に第1の接続部33に接続しているが、ひずみ感応
抵抗体38をひずみ検知部分のみに設け、耐熱性を有す
る導線等のリード線を介して第1の接続部33に接続
し、このリード線をMIケーブル34に電気接続するよ
うにしても良い。
34の2本の芯線(例えば、アルメル線45とクロメル
線46)をひずみ感応抵抗体38が収納されるカプセル
部の内部に埋設するようにしてもよい。このように構成
すれば、ひずみ感応部31の外径の大径化は否めないも
のの、ひずみ感応部分と測温部分とが一致し、より高精
度なひずみ測定を実現することができる。
ューブ32、第1の接続部33、MIケーブル34の外
面被覆、MIケーブル34の芯線(アルメル線45とク
ロメル線46)等のそれぞれの材質は、実際に使用する
温度及び高圧ガス、蒸気等の特殊条件の状態に応じて変
更しても良いことは勿論である。
ひずみ感応抵抗体38のみがシースチューブ32内に粉
体39によって埋設保持された形式のカプセル型ひずみ
ゲージに適用し得るばかりでなく、上記ひずみ感応抵抗
体38のほかにこれを巻回するように絶縁状態で配設さ
れたダミー抵抗体をシースチューブ32内に共に粉体3
9によって埋設保持してなる形式のカプセル型ひずみゲ
ージにも適用することができる。
抗体38と同一材質のものを用い、そしてフランジ部3
7から受ける被測定対象物のひずみに対しては感応せ
ず、温度変化には感応してその抵抗値、ゲージ率等を変
化し得るようにひずみ感応抵抗体38の周囲を巻回させ
る構成とすればよい。
ひずみ感応抵抗体38の一端とダミー抵抗体の一端を、
第1の接続部33にて接続し、ひずみ感応抵抗体38の
他端およびダミー抵抗体の他端を、同じく第1の接続部
33にてアルメル線45およびクロメル線46の各一端
にそれぞれ接続すればよい。
係る測温機能付きカプセル型ひずみゲージは、第1に、
ひずみゲージの検出出力を測定回路に導くための耐熱ケ
ーブルとしてケーブルの2本の芯線を熱電対回路を形成
するような材質にしているために、シース型耐熱電対を
別途用いる必要がなくなり、その分、全体的な構成を簡
略化でき、結果的にコストダウンを実現することができ
る。第2に、センサが密封されるシースチューブ内に充
填された耐熱性の絶縁材でなる粉体によってそのシース
チューブ内にひずみ感応体と2本のリード部を保持する
構成としたので、従来のカプセル型ひずみゲージに比し
て大幅に小型化され、今まで取付不可能であった狭い場
所への取付けが可能になると共に、複数取付けることで
ひずみ分布を測定する際に高い密度でもってひずみ分布
測定を行うことができる。
ーブから導出される2本のリード部とM1ケーブルから
導出される異種金属からなる2本の導線の各一端を第1
の接続部でろう付けにより接続しその周囲を金属の筒体
で囲繞し、且つ前記筒体内部で前記シースチューブの端
末と前記M1ケーブルの端末とを耐熱性を有するセラミ
ック系の接着剤にて封止し、前記M1ケーブル内の前記
2本の導線の他端と常温型のフレキシブルケーブルの各
芯線を第2の接続部で接続しその周囲を筒体で囲繞し且
つ該筒体内部で少なくとも前記M1ケーブルの他方の端
末を樹脂にて気密に封止したので、第2の接続部におい
て外気がM1ケーブル内に侵入するのが阻止され、仮に
M1ケーブルからの他端から外気が僅かに侵入したとし
ても第1の接続部においてM1ケーブルの一端の端末が
耐熱性を有するセラミック系の接着剤にて封止すると共
に前記筒体自体も封止されているので、第1の接続部の
筒体内へは達せず、また、第1の接続部は筒体自体も封
止してあるので、前記筒体内への外気の侵入も阻止され
ており、さらにシースチューブの端末も第1の接続部に
おいて封止されているので、結局、シースチューブ内へ
は外気が侵入することはない。従って、外気の侵入が全
くないため、シースチューブ内のひずみゲージは、酸化
や、吸湿による絶縁低下が全く生じることがないから、
耐久性に極めて優れた測温機能付カプセル型ひずみゲー
ジを提供することができる。
型ひずみゲージの平面図である。
る。
ある。
ある。
みゲージの取付状態を示す斜視図である。
のみを破断して示す側面図である。
す斜視図である。
ゲージが接続される測定部の回路図である。
回路図である。
周波数特性図である。
である。
図である。
示す平面図である。
を示す特性図である。
係数を示す特性図である。
特性図である。
平面図である。
である。
物上に固定した状態を示す拡大平面図である。
図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 密封されるシースチューブ内に充填され
た耐熱性の絶縁材でなる粉体によってそのシースチュー
ブ内に保持されたひずみ感応抵抗体とこのひずみ感応抵
抗体に連設されて前記シースチューブから導出される2
本のリード部とからなるセンサ部と、前記シースチュー
ブから導出される2本のリード部とMIケーブルから導
出される異種金属からなる2本の導線の各一端をろう付
けにより接続しその周囲を金属の筒体で囲繞し、且つ前
記筒体内部で前記シースチューブの端末と前記MIケー
ブルの端末とを、耐熱性を有するセラミック系の接着剤
にて封止すると共に前記筒体自体も封止してなる第1の
接続部と、 前記MIケーブル内の前記2本の導線の他端と常温型の
フレキシブルケーブルの各芯線を接続しその周囲を筒体
で囲繞し且つ該筒体内部で少なくとも前記MIケーブル
の他方の端末を樹脂にて気密に封止してなる第2の接続
部と、を有し、 前記フレキシブルケーブルの各他端をブリッジ回路の一
辺に選択的に接続することによって、前記ブリッジ回路
の出力端から前記ひずみ感応抵抗体が受けるひずみに対
応した出力を導出し得るように構成すると共に、 前記フレキシブルケーブルを前記ブリッジ回路の一辺か
ら選択的に切り離し測温計の入力端に接続することによ
って該入力端を基準接点部とし前記第1の接続部におけ
る前記センサ部と前記耐熱型ケーブルとの接続点を測温
接点部として、該測温接点部における温度を検出し得る
ように構成したことを特徴とする測温機能付きカプセル
型ひずみゲージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04210693A JP3118621B2 (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | 測温機能付きカプセル型ひずみゲージ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04210693A JP3118621B2 (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | 測温機能付きカプセル型ひずみゲージ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0634310A JPH0634310A (ja) | 1994-02-08 |
JP3118621B2 true JP3118621B2 (ja) | 2000-12-18 |
Family
ID=16593543
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04210693A Expired - Lifetime JP3118621B2 (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | 測温機能付きカプセル型ひずみゲージ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3118621B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP4490979B2 (ja) * | 2007-02-07 | 2010-06-30 | 株式会社小野測器 | 歪ゲージ |
JP4869095B2 (ja) * | 2007-02-09 | 2012-02-01 | 株式会社共和電業 | カプセル型高温ひずみゲージ用のブリッジアダプタおよびカプセル型高温ひずみゲージのケーブル接続構造 |
CN104748664B (zh) * | 2015-03-13 | 2017-10-24 | 南华大学 | 一种岩土体内部位移量测量*** |
EP4063815B1 (en) * | 2021-03-23 | 2024-06-12 | ABB Schweiz AG | Temperature-measuring device |
-
1992
- 1992-07-16 JP JP04210693A patent/JP3118621B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0634310A (ja) | 1994-02-08 |
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