JP3104419B2 - カードの穿穴検出ファジィ制御装置 - Google Patents
カードの穿穴検出ファジィ制御装置Info
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- JP3104419B2 JP3104419B2 JP04200461A JP20046192A JP3104419B2 JP 3104419 B2 JP3104419 B2 JP 3104419B2 JP 04200461 A JP04200461 A JP 04200461A JP 20046192 A JP20046192 A JP 20046192A JP 3104419 B2 JP3104419 B2 JP 3104419B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば、テレホンカ
ードやプリペイドカードを使用したとき、その使用に応
じてカードに穿穴された穴を、爾後のカードの使用時に
検出するようなカードの穿穴検出ファジィ制御装置に関
する。
ードやプリペイドカードを使用したとき、その使用に応
じてカードに穿穴された穴を、爾後のカードの使用時に
検出するようなカードの穿穴検出ファジィ制御装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】上述のカードは設定した穿穴ライン上に
所定の間隔で磁性体バーが印刷されていて、穿穴される
穴は上述の磁性体バー上に設定され、穴検出時には穿穴
ライン上を磁気ヘッドで読取り、その読取り波形の振幅
が通常よりも小さくなるのを検出することで穴を判定し
ている。
所定の間隔で磁性体バーが印刷されていて、穿穴される
穴は上述の磁性体バー上に設定され、穴検出時には穿穴
ライン上を磁気ヘッドで読取り、その読取り波形の振幅
が通常よりも小さくなるのを検出することで穴を判定し
ている。
【０００３】この穴の判定は、上述の読取り波形のピー
クをホールドした信号の降圧値を閾値として波形の振幅
の大小を比較し、小となるもが、例えば、３波長以上と
なるときに穴として判定したいるため、波形が乱れた場
合、上述のように３波長以上を小となっても、それが穴
とは限らないこともあり、検出の誤りを起こす問題点が
ある。
クをホールドした信号の降圧値を閾値として波形の振幅
の大小を比較し、小となるもが、例えば、３波長以上と
なるときに穴として判定したいるため、波形が乱れた場
合、上述のように３波長以上を小となっても、それが穴
とは限らないこともあり、検出の誤りを起こす問題点が
ある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、カード上
において穿穴する位置が特定されているという情報を判
定要素に付加することで、穴検出の誤りを改善し、さら
に、ファジィ推論を導入することで穿穴位置の誤差を除
去することのできるカードの穿穴検出ファジィ制御装置
の提供を目的とする。
において穿穴する位置が特定されているという情報を判
定要素に付加することで、穴検出の誤りを改善し、さら
に、ファジィ推論を導入することで穿穴位置の誤差を除
去することのできるカードの穿穴検出ファジィ制御装置
の提供を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項１記載
の発明は、カードの穿穴ライン上に所定の間隔で多数形
成した磁性体バーの所定の位置の磁性体バーを穿穴し、
上記穿穴ライン上を磁気ヘッドで読取って、その出力に
基づいて穴を検出する装置であって、上記穿穴ライン上
の磁性体バーに対応するパルス周期を出力するパルス周
期出力部と、穴検出処理の現在位置を出力する現在位置
出力部と、ファジィメンバシップ関数にて、前記パルス
周期出力のパルス周期から“穴らしさ”の値を、また前
記現在位置出力部の現在位置出力から“穴位置らしさ”
の値をそれぞれ導出し、これら２つの値から真の“穴情
報らしさ”をファジィ推論にて算出するファジィ推論制
御手段とを備えたカードの穿穴検出ファジィ制御装置で
あることを特徴とする。
の発明は、カードの穿穴ライン上に所定の間隔で多数形
成した磁性体バーの所定の位置の磁性体バーを穿穴し、
上記穿穴ライン上を磁気ヘッドで読取って、その出力に
基づいて穴を検出する装置であって、上記穿穴ライン上
の磁性体バーに対応するパルス周期を出力するパルス周
期出力部と、穴検出処理の現在位置を出力する現在位置
出力部と、ファジィメンバシップ関数にて、前記パルス
周期出力のパルス周期から“穴らしさ”の値を、また前
記現在位置出力部の現在位置出力から“穴位置らしさ”
の値をそれぞれ導出し、これら２つの値から真の“穴情
報らしさ”をファジィ推論にて算出するファジィ推論制
御手段とを備えたカードの穿穴検出ファジィ制御装置で
あることを特徴とする。
【０００６】この発明の請求項２記載の発明は、上記請
求項１記載の発明の構成と併せて、前記現在位置出力部
の穴検出処理の現在位置の出力を該処理時点の前回に出
力された前回出力パルスから１パルス周期内の処理時点
を求め、前記ファジィ推論制御手段は、上記１パルス周
期内の処理時点の値でメンバシップ関数から“穴らし
さ”の値を導出するカードの穿穴検出ファジィ制御装置
であることを特徴とする。
求項１記載の発明の構成と併せて、前記現在位置出力部
の穴検出処理の現在位置の出力を該処理時点の前回に出
力された前回出力パルスから１パルス周期内の処理時点
を求め、前記ファジィ推論制御手段は、上記１パルス周
期内の処理時点の値でメンバシップ関数から“穴らし
さ”の値を導出するカードの穿穴検出ファジィ制御装置
であることを特徴とする。
【０００７】この発明の請求項３記載の発明は、上記請
求項１記載の発明の構成と併せて、前記穿穴ライン上の
磁性体バーに対応する波形毎にピークホールドを行なっ
て包絡線波形を取出し、該包絡線波形を所定のサンプリ
ング周期でサンプリングを行なって、このサンプリング
出力と予め設定した穴と判定する教師波形とのパターン
マッチングを取ってその適合度を求めて、前記ファジィ
推論制御手段は、上記適合度の値でメンバシップ関数か
ら“穴らしさ”の値を導出するカードの穿穴検出ファジ
ィ制御装置であることを特徴とする。
求項１記載の発明の構成と併せて、前記穿穴ライン上の
磁性体バーに対応する波形毎にピークホールドを行なっ
て包絡線波形を取出し、該包絡線波形を所定のサンプリ
ング周期でサンプリングを行なって、このサンプリング
出力と予め設定した穴と判定する教師波形とのパターン
マッチングを取ってその適合度を求めて、前記ファジィ
推論制御手段は、上記適合度の値でメンバシップ関数か
ら“穴らしさ”の値を導出するカードの穿穴検出ファジ
ィ制御装置であることを特徴とする。
【０００８】
【作用】この発明の請求項１記載の発明のカードの穿穴
検出ファジィ制御装置は、パルス周期出力部が出力する
カード穿穴ライン上の磁性体バーに対応するパルス周期
からファジィメンバシップ関数にて、“穴らしさ”の値
を導出し、さらに、現在位置出力部が出力する穴検出処
理の現在位置からファジィメンバシップ関数にて“穴位
置らしさ”の値を導出し、これら２つの値からファジィ
推論制御手段が真の“穴情報らしさ”をファジィ推論に
て算出する。
検出ファジィ制御装置は、パルス周期出力部が出力する
カード穿穴ライン上の磁性体バーに対応するパルス周期
からファジィメンバシップ関数にて、“穴らしさ”の値
を導出し、さらに、現在位置出力部が出力する穴検出処
理の現在位置からファジィメンバシップ関数にて“穴位
置らしさ”の値を導出し、これら２つの値からファジィ
推論制御手段が真の“穴情報らしさ”をファジィ推論に
て算出する。
【０００９】この発明の請求項２記載の発明のカードの
穿穴検出ファジィ制御装置は、上述の請求項１記載の発
明の作用と併せて、前記現在位置出力部の穴検出処理の
現在位置の出力を該処理時点の前回に出力された前回出
力パルスから１パルス周期内の処理時点を求め、前記フ
ァジィ推論制御手段は、上記１パルス周期内の処理時点
の値でメンバシップ関数から“穴らしさ”の値を導出す
る。
穿穴検出ファジィ制御装置は、上述の請求項１記載の発
明の作用と併せて、前記現在位置出力部の穴検出処理の
現在位置の出力を該処理時点の前回に出力された前回出
力パルスから１パルス周期内の処理時点を求め、前記フ
ァジィ推論制御手段は、上記１パルス周期内の処理時点
の値でメンバシップ関数から“穴らしさ”の値を導出す
る。
【００１０】この発明の請求項３記載の発明のカードの
穿穴検出ファジィ制御装置は、前述の請求項１記載の発
明の作用と併せて、前記穿穴ライン上の磁性体バーに対
応する波形毎にピークホールドを行なって包絡線波形を
取出し、該包絡線波形を所定のサンプリング周期でサン
プリングを行なって、このサンプリング出力と予め設定
した穴と判定する教師波形とのパターンマッチングを取
ってその適合度を求めて、前記ファジィ推論制御手段
は、上記適合度の値でメンバシップ関数から“穴らし
さ”の値を導出する。
穿穴検出ファジィ制御装置は、前述の請求項１記載の発
明の作用と併せて、前記穿穴ライン上の磁性体バーに対
応する波形毎にピークホールドを行なって包絡線波形を
取出し、該包絡線波形を所定のサンプリング周期でサン
プリングを行なって、このサンプリング出力と予め設定
した穴と判定する教師波形とのパターンマッチングを取
ってその適合度を求めて、前記ファジィ推論制御手段
は、上記適合度の値でメンバシップ関数から“穴らし
さ”の値を導出する。
【００１１】
【発明の効果】この発明によれば、カード上において穿
穴する位置が特定されているという情報を用いて、ファ
ジィ推論で“穴らしさ”と“穴位置らしさ”とで、真の
“穴情報らしさ”を算出するので、従来の方法と比べ、
“穴位置らしさ”の情報が判定要素の付加され、穴検出
の誤りを著しく改善することができ、さらに、ファジィ
推論を導入することで穿穴位置の誤差を除去することの
できる効果を有する。
穴する位置が特定されているという情報を用いて、ファ
ジィ推論で“穴らしさ”と“穴位置らしさ”とで、真の
“穴情報らしさ”を算出するので、従来の方法と比べ、
“穴位置らしさ”の情報が判定要素の付加され、穴検出
の誤りを著しく改善することができ、さらに、ファジィ
推論を導入することで穿穴位置の誤差を除去することの
できる効果を有する。
【００１２】
【実施例】この発明の一実施例を以下図面に基づいて詳
述する。図面はカードの穿穴検出ファジィ制御装置を示
し、図１はプリペイドカードのようなカードを示し、該
カード１０はその使用に応じてカード１０に穿穴され、
この穿穴された穴１１は爾後のカード１０の使用時に検
出される。上述の穴１１は設定された穿穴ライン１２上
に形成され、しかも、カード１０の裏面側には所定の間
隔で多数の磁性体バー（図示省略）を形成し、この磁性
体バー上に上述の穴１１は穿穴される。
述する。図面はカードの穿穴検出ファジィ制御装置を示
し、図１はプリペイドカードのようなカードを示し、該
カード１０はその使用に応じてカード１０に穿穴され、
この穿穴された穴１１は爾後のカード１０の使用時に検
出される。上述の穴１１は設定された穿穴ライン１２上
に形成され、しかも、カード１０の裏面側には所定の間
隔で多数の磁性体バー（図示省略）を形成し、この磁性
体バー上に上述の穴１１は穿穴される。
【００１３】また、上述の穴１１の位置は、カード１０
の窪み１３を形成した側（図中右側）の端縁から周期的
な位置に設定している。なお、カード１０は窪み１３を
形成していない側（図中左側）から装置に挿入する（図
中矢印ＩＮ側）のを順方向に設定しており、この順方向
側の端縁（図中左側）はカード寸法として、上述の周期
で完了することなく周期の余りを有する。
の窪み１３を形成した側（図中右側）の端縁から周期的
な位置に設定している。なお、カード１０は窪み１３を
形成していない側（図中左側）から装置に挿入する（図
中矢印ＩＮ側）のを順方向に設定しており、この順方向
側の端縁（図中左側）はカード寸法として、上述の周期
で完了することなく周期の余りを有する。
【００１４】上述の穴１１の“穴位置らしさ”を求める
場合、穴検出処理の現在位置を推定する。まず、カード
１０上のある基準点、例えば、順方向側の端縁（図中左
側）から処理現在位置までの処理時間Ｔを測定する。
今、カード１０全長の処理時間をＴMAX 、穴１１の周期
をＴcycle としたとき、上述の処理時間Ｔは Ｔ＝Ｔc ＋ｍＴcycle ＋Ｃ で表すことができる。ここで、Ｔc は全長処理時間ＴMA
x を周期Ｔcycle で割った剰余、ｍは処理時間Ｔを周期
Ｔcycle で割った商、Ｃは穴位置の判定のための変数。
場合、穴検出処理の現在位置を推定する。まず、カード
１０上のある基準点、例えば、順方向側の端縁（図中左
側）から処理現在位置までの処理時間Ｔを測定する。
今、カード１０全長の処理時間をＴMAX 、穴１１の周期
をＴcycle としたとき、上述の処理時間Ｔは Ｔ＝Ｔc ＋ｍＴcycle ＋Ｃ で表すことができる。ここで、Ｔc は全長処理時間ＴMA
x を周期Ｔcycle で割った剰余、ｍは処理時間Ｔを周期
Ｔcycle で割った商、Ｃは穴位置の判定のための変数。
【００１５】したがって、上述の式より穴位置の判定の
ための変数Ｃを求め、これを図２のメンバシップ関数に
代入することで、“穴位置らしさ”の度合い（グレー
ド）を導出することができる。上述のメンバシップ関数
は周期の始めと終り側でグレードが高く中間部でグレー
ドが低くなるように設定している。
ための変数Ｃを求め、これを図２のメンバシップ関数に
代入することで、“穴位置らしさ”の度合い（グレー
ド）を導出することができる。上述のメンバシップ関数
は周期の始めと終り側でグレードが高く中間部でグレー
ドが低くなるように設定している。
【００１６】なお、カード１０を逆方向に挿入した場合
は、窪み１３のある端縁（図中右側）が基準点となるの
で、処理時間Ｔは Ｔ＝ｍＴcycle ＋Ｃ で表すことができる。
は、窪み１３のある端縁（図中右側）が基準点となるの
で、処理時間Ｔは Ｔ＝ｍＴcycle ＋Ｃ で表すことができる。
【００１７】また、前述の穴１１の“穴らしさ”を求め
る場合、上述の穴１１が多数ある磁性体バーの内の所定
の磁性体バー上に穿穴されることから、この磁性体バー
に対応するパルス周期Ｔpls を求め、これを図３のメン
バシップ関数に代入することで“穴らしさ”の度合い
（グレード）を導出することができる。
る場合、上述の穴１１が多数ある磁性体バーの内の所定
の磁性体バー上に穿穴されることから、この磁性体バー
に対応するパルス周期Ｔpls を求め、これを図３のメン
バシップ関数に代入することで“穴らしさ”の度合い
（グレード）を導出することができる。
【００１８】図４は上述の磁性体バーを磁気ヘッドで読
取った波形信号の半波整流した信号イと、該信号イのピ
ークホールドした包絡線ａと、これを降圧した閾値ｂで
信号イを比較した比較信号ロを示し、比較信号ロのパル
スは磁性体バーに対応するパルスであり、穴１１の読取
ったときのパルス数が４パルスであって、パルス周期
が、例えば、約１５０μｓであるとすると、パルス間隔
の時間幅が約７５０μｓであるとき穴１１であると従来
は判定している。したがって、前述の図３のメンバシッ
プ関数はパルス間隔の時間幅が約７５０μｓを中心とし
てその前後でグレードを高くその他を低く設定してい
る。
取った波形信号の半波整流した信号イと、該信号イのピ
ークホールドした包絡線ａと、これを降圧した閾値ｂで
信号イを比較した比較信号ロを示し、比較信号ロのパル
スは磁性体バーに対応するパルスであり、穴１１の読取
ったときのパルス数が４パルスであって、パルス周期
が、例えば、約１５０μｓであるとすると、パルス間隔
の時間幅が約７５０μｓであるとき穴１１であると従来
は判定している。したがって、前述の図３のメンバシッ
プ関数はパルス間隔の時間幅が約７５０μｓを中心とし
てその前後でグレードを高くその他を低く設定してい
る。
【００１９】図５は穿穴検出ファジィ制御装置を示し、
読取り部１４は、例えば、磁気ヘッドで構成し、カード
１０の穿穴ライン１２上の磁性体バーを読取る。整流部
１５は読取り波形を半波整流し（全波整流も可）、第１
ピークホールド部１６は半波整流波のピークをホールド
し、降圧部１７はピークホールド信号を降圧して閾値を
出力する。比較部１８は整流部１５からの半波整流波信
号と、降圧部１７の閾値とを比較し、メモリ部１９はこ
の比較信号（図４のロに対応）のパルス列を記憶する。
第１立上りメモリ部２０は時間の基準点を作るために、
例えば、最初の半波整流波の立上りＴo を記憶し、第２
立上りメモリ部２１はメモリ部１９から出力される各パ
ルスの立上りＴk を記憶する。
読取り部１４は、例えば、磁気ヘッドで構成し、カード
１０の穿穴ライン１２上の磁性体バーを読取る。整流部
１５は読取り波形を半波整流し（全波整流も可）、第１
ピークホールド部１６は半波整流波のピークをホールド
し、降圧部１７はピークホールド信号を降圧して閾値を
出力する。比較部１８は整流部１５からの半波整流波信
号と、降圧部１７の閾値とを比較し、メモリ部１９はこ
の比較信号（図４のロに対応）のパルス列を記憶する。
第１立上りメモリ部２０は時間の基準点を作るために、
例えば、最初の半波整流波の立上りＴo を記憶し、第２
立上りメモリ部２１はメモリ部１９から出力される各パ
ルスの立上りＴk を記憶する。
【００２０】現在位置算出部２２は前段の第２立上りメ
モリ部２１からのパルスの立上りＴk の信号からパスル
周期Ｔpls を算出する。すなわち、 Ｔpls ＝Ｔk −Ｔk-1 を算出する。
モリ部２１からのパルスの立上りＴk の信号からパスル
周期Ｔpls を算出する。すなわち、 Ｔpls ＝Ｔk −Ｔk-1 を算出する。
【００２１】また、時間基準点の立上りＴo の信号から
現在処理時間（トータル時間）Ｔを算出して変数Ｃを算
出する。すなわち、前述した式 Ｔ＝Ｔc ＋ｍＴcycle ＋Ｃ または、 Ｔ＝ｍＴcycle ＋Ｃ に基づいて、穴位置の判定のための変数Ｃを算出し、前
述のパルス周期Ｔpls と、上述の変数Ｃとによって、フ
ァジィ推論を行なうことになる。
現在処理時間（トータル時間）Ｔを算出して変数Ｃを算
出する。すなわち、前述した式 Ｔ＝Ｔc ＋ｍＴcycle ＋Ｃ または、 Ｔ＝ｍＴcycle ＋Ｃ に基づいて、穴位置の判定のための変数Ｃを算出し、前
述のパルス周期Ｔpls と、上述の変数Ｃとによって、フ
ァジィ推論を行なうことになる。
【００２２】判定部２３は前段のパルス周期Ｔpls から
穴１１を判定し、例えば、穴の判定時間を３パルス分、
すなわち、磁性体バーの周期が約１５０μｓとすると、 １５０μｓ×３＝４５０μｓ であって、パルス周期がＴpls ＞４５０μｓであるとき
穴１１の検出として第１の穴判定信号を出力する。但
し、この判定部２３による判定は従来方法である。
穴１１を判定し、例えば、穴の判定時間を３パルス分、
すなわち、磁性体バーの周期が約１５０μｓとすると、 １５０μｓ×３＝４５０μｓ であって、パルス周期がＴpls ＞４５０μｓであるとき
穴１１の検出として第１の穴判定信号を出力する。但
し、この判定部２３による判定は従来方法である。
【００２３】次に、第１ファジィ制御部２４は、前述の
パルス周期Ｔpla の値を図３のメンバシップ関数に代入
することで“穴らしさ”の度合いを導出し、さらに、前
述の変数Ｃの値を図２のメンバシップ関数に代入するこ
とで、“穴位置らしさ”の度合いを導出して、これら
“穴らしさ”および“穴位置らしさ”の度合い、すなわ
ちグレードで、ミニマム演算、ファジィ論理和、ファジ
ィ論理積のファジィ推論を実行して、真の“穴情報らし
さ”を算出し、さらに、この“穴情報らしさ”の値を設
定した閾値と比較して、この閾値を越えたとき“穴であ
る”と判定する第２の穴判定信号を出力する。
パルス周期Ｔpla の値を図３のメンバシップ関数に代入
することで“穴らしさ”の度合いを導出し、さらに、前
述の変数Ｃの値を図２のメンバシップ関数に代入するこ
とで、“穴位置らしさ”の度合いを導出して、これら
“穴らしさ”および“穴位置らしさ”の度合い、すなわ
ちグレードで、ミニマム演算、ファジィ論理和、ファジ
ィ論理積のファジィ推論を実行して、真の“穴情報らし
さ”を算出し、さらに、この“穴情報らしさ”の値を設
定した閾値と比較して、この閾値を越えたとき“穴であ
る”と判定する第２の穴判定信号を出力する。
【００２４】このようにファジィ推論を実行すると、従
来の方法（判定部２３の判定方法）と比べ、“穴位置ら
しさ”の情報が判定要素の付加され、穴検出の誤りを著
しく改善することができ、さらに、ファジィ推論を導入
することで穿穴位置の誤差を除去することのできる効果
を有する。
来の方法（判定部２３の判定方法）と比べ、“穴位置ら
しさ”の情報が判定要素の付加され、穴検出の誤りを著
しく改善することができ、さらに、ファジィ推論を導入
することで穿穴位置の誤差を除去することのできる効果
を有する。
【００２５】さらに、第２ファジィ制御部２５および第
２ピークホールド部２６は他の実施例を示し、この実施
例を使用するときは、第１ファジィ制御部２４を使用す
る必要はない。上述の第２ピークホールド部２６はＰＬ
Ｌ回路を備え、図６に示すように、半波整流波の各周期
毎にピークホールドを行なって包絡線波形を取出し、第
２ファジィ制御部２５は上述の包絡線波形を所定のサン
プリング周期ＴSMP にて所定の回数ｎだけ記憶し、これ
とは別に、図７で示すように、予め穴１１と判定するた
めの教師波形を記憶しておき、前述の包絡線波形のサン
プリング情報ＤSMP と上述のの教師波形の情報ＤTCH と
のパターンマッチングを取って、その適合度μを求め
る。この適合度μは次の関数式［数１］で算出すること
ができる。
２ピークホールド部２６は他の実施例を示し、この実施
例を使用するときは、第１ファジィ制御部２４を使用す
る必要はない。上述の第２ピークホールド部２６はＰＬ
Ｌ回路を備え、図６に示すように、半波整流波の各周期
毎にピークホールドを行なって包絡線波形を取出し、第
２ファジィ制御部２５は上述の包絡線波形を所定のサン
プリング周期ＴSMP にて所定の回数ｎだけ記憶し、これ
とは別に、図７で示すように、予め穴１１と判定するた
めの教師波形を記憶しておき、前述の包絡線波形のサン
プリング情報ＤSMP と上述のの教師波形の情報ＤTCH と
のパターンマッチングを取って、その適合度μを求め
る。この適合度μは次の関数式［数１］で算出すること
ができる。
【００２６】
【数１】
【００２７】第２ファジィ制御部２５は上述のようにし
て算出した適合度μを、図８のメンバシップ関数に代入
して、“穴らしさ”の度合いの値を導出し、さらに、前
述の現在位置算出部２２からの変数Ｃの値を、前述と同
様にして図２のメンバシップ関数に代入することで、
“穴位置らしさ”の度合いを導出して、これら“穴らし
さ”および“穴位置らしさ”の度合い、すなわちグレー
ドで、ミニマム演算、ファジィ論理和、ファジィ論理積
のファジィ推論を実行して、真の“穴情報らしさ”を算
出し、さらに、この“穴情報らしさ”の値を設定した閾
値と比較して、この閾値を越えたとき“穴である”と判
定する第３の穴判定信号を出力する。このようにしても
穴検出のファジィ推論が実行でき、前述の第１のファジ
ィ制御部２４による作用効果と等価な効果を得ることが
できる。
て算出した適合度μを、図８のメンバシップ関数に代入
して、“穴らしさ”の度合いの値を導出し、さらに、前
述の現在位置算出部２２からの変数Ｃの値を、前述と同
様にして図２のメンバシップ関数に代入することで、
“穴位置らしさ”の度合いを導出して、これら“穴らし
さ”および“穴位置らしさ”の度合い、すなわちグレー
ドで、ミニマム演算、ファジィ論理和、ファジィ論理積
のファジィ推論を実行して、真の“穴情報らしさ”を算
出し、さらに、この“穴情報らしさ”の値を設定した閾
値と比較して、この閾値を越えたとき“穴である”と判
定する第３の穴判定信号を出力する。このようにしても
穴検出のファジィ推論が実行でき、前述の第１のファジ
ィ制御部２４による作用効果と等価な効果を得ることが
できる。
【００２８】この発明の構成と、上述の実施例との対応
において、この発明のパルス周期出力部と現在位置出力
部は、実施例の現在位置算出部２２に対応し、さらに、
この発明のファジィ推論制御手段は、実施例の第１ファ
ジィ制御部２４、第２ファジィ制御部２５に対応する
も、この発明は実施例の構成のみに限定されるものでは
ない。
において、この発明のパルス周期出力部と現在位置出力
部は、実施例の現在位置算出部２２に対応し、さらに、
この発明のファジィ推論制御手段は、実施例の第１ファ
ジィ制御部２４、第２ファジィ制御部２５に対応する
も、この発明は実施例の構成のみに限定されるものでは
ない。
【図１】カードの平面図。
【図２】穴位置らしさのメンバシップ関数説明図。
【図３】穴らしさのメンバシップ関数説明図。
【図４】波形のタイムチャート。
【図５】穿穴検出ファジィ制御装置の回路ブロック図。
【図６】他の実施例のピークホールドを示すタイムチャ
ート。
ート。
【図７】教師波形のタイムチャート。
【図８】他の実施例の穴らしさのメンバシップ関数説明
図。
図。
１０…カード ２０…第１立上りメモリ部 ２１…第２立上りメモリ部 ２２…現在位置算出部 ２４…第１ファジィ制御部 ２５…第２ファジィ制御部 ２６…第２ピークホールド部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G06K 7/10 G06K 7/12 G06K 17/00 G05B 13/02
Claims (3)
- 【請求項１】カードの穿穴ライン上に所定の間隔で多数
形成した磁性体バーの所定の位置の磁性体バーを穿穴
し、上記穿穴ライン上を磁気ヘッドで読取って、その出
力に基づいて穴を検出する装置であって、上記穿穴ライ
ン上の磁性体バーに対応するパルス周期を出力するパル
ス周期出力部と、穴検出処理の現在位置を出力する現在
位置出力部と、ファジィメンバシップ関数にて、前記パ
ルス周期出力のパルス周期から“穴らしさ”の値を、ま
た前記現在位置出力部の現在位置出力から“穴位置らし
さ”の値をそれぞれ導出し、これら２つの値から真の
“穴情報らしさ”をファジィ推論にて算出するファジィ
推論制御手段とを備えたカードの穿穴検出ファジィ制御
装置。 - 【請求項２】前記現在位置出力部の穴検出処理の現在位
置の出力を該処理時点の前回に出力された前回出力パル
スから１パルス周期内の処理時点を求め、前記ファジィ
推論制御手段は、上記１パルス周期内の処理時点の値で
メンバシップ関数から“穴らしさ”の値を導出する請求
項１記載のカードの穿穴検出ファジィ制御装置。 - 【請求項３】前記穿穴ライン上の磁性体バーに対応する
波形毎にピークホールドを行なって包絡線波形を取出
し、該包絡線波形を所定のサンプリング周期でサンプリ
ングを行なって、このサンプリング出力と予め設定した
穴と判定する教師波形とのパターンマッチングを取って
その適合度を求めて、前記ファジィ推論制御手段は、上
記適合度の値でメンバシップ関数から“穴らしさ”の値
を導出する請求項１記載のカードの穿穴検出ファジィ制
御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04200461A JP3104419B2 (ja) | 1992-07-02 | 1992-07-02 | カードの穿穴検出ファジィ制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04200461A JP3104419B2 (ja) | 1992-07-02 | 1992-07-02 | カードの穿穴検出ファジィ制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0620082A JPH0620082A (ja) | 1994-01-28 |
| JP3104419B2 true JP3104419B2 (ja) | 2000-10-30 |
Family
ID=16424696
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04200461A Expired - Fee Related JP3104419B2 (ja) | 1992-07-02 | 1992-07-02 | カードの穿穴検出ファジィ制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3104419B2 (ja) |
-
1992
- 1992-07-02 JP JP04200461A patent/JP3104419B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0620082A (ja) | 1994-01-28 |
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