JP3104419B2 - カードの穿穴検出ファジィ制御装置 - Google Patents
カードの穿穴検出ファジィ制御装置Info
- Publication number
- JP3104419B2 JP3104419B2 JP04200461A JP20046192A JP3104419B2 JP 3104419 B2 JP3104419 B2 JP 3104419B2 JP 04200461 A JP04200461 A JP 04200461A JP 20046192 A JP20046192 A JP 20046192A JP 3104419 B2 JP3104419 B2 JP 3104419B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hole
- fuzzy
- output
- value
- current position
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Feedback Control In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば、テレホンカ
ードやプリペイドカードを使用したとき、その使用に応
じてカードに穿穴された穴を、爾後のカードの使用時に
検出するようなカードの穿穴検出ファジィ制御装置に関
する。
ードやプリペイドカードを使用したとき、その使用に応
じてカードに穿穴された穴を、爾後のカードの使用時に
検出するようなカードの穿穴検出ファジィ制御装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】上述のカードは設定した穿穴ライン上に
所定の間隔で磁性体バーが印刷されていて、穿穴される
穴は上述の磁性体バー上に設定され、穴検出時には穿穴
ライン上を磁気ヘッドで読取り、その読取り波形の振幅
が通常よりも小さくなるのを検出することで穴を判定し
ている。
所定の間隔で磁性体バーが印刷されていて、穿穴される
穴は上述の磁性体バー上に設定され、穴検出時には穿穴
ライン上を磁気ヘッドで読取り、その読取り波形の振幅
が通常よりも小さくなるのを検出することで穴を判定し
ている。
【0003】この穴の判定は、上述の読取り波形のピー
クをホールドした信号の降圧値を閾値として波形の振幅
の大小を比較し、小となるもが、例えば、3波長以上と
なるときに穴として判定したいるため、波形が乱れた場
合、上述のように3波長以上を小となっても、それが穴
とは限らないこともあり、検出の誤りを起こす問題点が
ある。
クをホールドした信号の降圧値を閾値として波形の振幅
の大小を比較し、小となるもが、例えば、3波長以上と
なるときに穴として判定したいるため、波形が乱れた場
合、上述のように3波長以上を小となっても、それが穴
とは限らないこともあり、検出の誤りを起こす問題点が
ある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、カード上
において穿穴する位置が特定されているという情報を判
定要素に付加することで、穴検出の誤りを改善し、さら
に、ファジィ推論を導入することで穿穴位置の誤差を除
去することのできるカードの穿穴検出ファジィ制御装置
の提供を目的とする。
において穿穴する位置が特定されているという情報を判
定要素に付加することで、穴検出の誤りを改善し、さら
に、ファジィ推論を導入することで穿穴位置の誤差を除
去することのできるカードの穿穴検出ファジィ制御装置
の提供を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項1記載
の発明は、カードの穿穴ライン上に所定の間隔で多数形
成した磁性体バーの所定の位置の磁性体バーを穿穴し、
上記穿穴ライン上を磁気ヘッドで読取って、その出力に
基づいて穴を検出する装置であって、上記穿穴ライン上
の磁性体バーに対応するパルス周期を出力するパルス周
期出力部と、穴検出処理の現在位置を出力する現在位置
出力部と、ファジィメンバシップ関数にて、前記パルス
周期出力のパルス周期から“穴らしさ”の値を、また前
記現在位置出力部の現在位置出力から“穴位置らしさ”
の値をそれぞれ導出し、これら2つの値から真の“穴情
報らしさ”をファジィ推論にて算出するファジィ推論制
御手段とを備えたカードの穿穴検出ファジィ制御装置で
あることを特徴とする。
の発明は、カードの穿穴ライン上に所定の間隔で多数形
成した磁性体バーの所定の位置の磁性体バーを穿穴し、
上記穿穴ライン上を磁気ヘッドで読取って、その出力に
基づいて穴を検出する装置であって、上記穿穴ライン上
の磁性体バーに対応するパルス周期を出力するパルス周
期出力部と、穴検出処理の現在位置を出力する現在位置
出力部と、ファジィメンバシップ関数にて、前記パルス
周期出力のパルス周期から“穴らしさ”の値を、また前
記現在位置出力部の現在位置出力から“穴位置らしさ”
の値をそれぞれ導出し、これら2つの値から真の“穴情
報らしさ”をファジィ推論にて算出するファジィ推論制
御手段とを備えたカードの穿穴検出ファジィ制御装置で
あることを特徴とする。
【0006】この発明の請求項2記載の発明は、上記請
求項1記載の発明の構成と併せて、前記現在位置出力部
の穴検出処理の現在位置の出力を該処理時点の前回に出
力された前回出力パルスから1パルス周期内の処理時点
を求め、前記ファジィ推論制御手段は、上記1パルス周
期内の処理時点の値でメンバシップ関数から“穴らし
さ”の値を導出するカードの穿穴検出ファジィ制御装置
であることを特徴とする。
求項1記載の発明の構成と併せて、前記現在位置出力部
の穴検出処理の現在位置の出力を該処理時点の前回に出
力された前回出力パルスから1パルス周期内の処理時点
を求め、前記ファジィ推論制御手段は、上記1パルス周
期内の処理時点の値でメンバシップ関数から“穴らし
さ”の値を導出するカードの穿穴検出ファジィ制御装置
であることを特徴とする。
【0007】この発明の請求項3記載の発明は、上記請
求項1記載の発明の構成と併せて、前記穿穴ライン上の
磁性体バーに対応する波形毎にピークホールドを行なっ
て包絡線波形を取出し、該包絡線波形を所定のサンプリ
ング周期でサンプリングを行なって、このサンプリング
出力と予め設定した穴と判定する教師波形とのパターン
マッチングを取ってその適合度を求めて、前記ファジィ
推論制御手段は、上記適合度の値でメンバシップ関数か
ら“穴らしさ”の値を導出するカードの穿穴検出ファジ
ィ制御装置であることを特徴とする。
求項1記載の発明の構成と併せて、前記穿穴ライン上の
磁性体バーに対応する波形毎にピークホールドを行なっ
て包絡線波形を取出し、該包絡線波形を所定のサンプリ
ング周期でサンプリングを行なって、このサンプリング
出力と予め設定した穴と判定する教師波形とのパターン
マッチングを取ってその適合度を求めて、前記ファジィ
推論制御手段は、上記適合度の値でメンバシップ関数か
ら“穴らしさ”の値を導出するカードの穿穴検出ファジ
ィ制御装置であることを特徴とする。
【0008】
【作用】この発明の請求項1記載の発明のカードの穿穴
検出ファジィ制御装置は、パルス周期出力部が出力する
カード穿穴ライン上の磁性体バーに対応するパルス周期
からファジィメンバシップ関数にて、“穴らしさ”の値
を導出し、さらに、現在位置出力部が出力する穴検出処
理の現在位置からファジィメンバシップ関数にて“穴位
置らしさ”の値を導出し、これら2つの値からファジィ
推論制御手段が真の“穴情報らしさ”をファジィ推論に
て算出する。
検出ファジィ制御装置は、パルス周期出力部が出力する
カード穿穴ライン上の磁性体バーに対応するパルス周期
からファジィメンバシップ関数にて、“穴らしさ”の値
を導出し、さらに、現在位置出力部が出力する穴検出処
理の現在位置からファジィメンバシップ関数にて“穴位
置らしさ”の値を導出し、これら2つの値からファジィ
推論制御手段が真の“穴情報らしさ”をファジィ推論に
て算出する。
【0009】この発明の請求項2記載の発明のカードの
穿穴検出ファジィ制御装置は、上述の請求項1記載の発
明の作用と併せて、前記現在位置出力部の穴検出処理の
現在位置の出力を該処理時点の前回に出力された前回出
力パルスから1パルス周期内の処理時点を求め、前記フ
ァジィ推論制御手段は、上記1パルス周期内の処理時点
の値でメンバシップ関数から“穴らしさ”の値を導出す
る。
穿穴検出ファジィ制御装置は、上述の請求項1記載の発
明の作用と併せて、前記現在位置出力部の穴検出処理の
現在位置の出力を該処理時点の前回に出力された前回出
力パルスから1パルス周期内の処理時点を求め、前記フ
ァジィ推論制御手段は、上記1パルス周期内の処理時点
の値でメンバシップ関数から“穴らしさ”の値を導出す
る。
【0010】この発明の請求項3記載の発明のカードの
穿穴検出ファジィ制御装置は、前述の請求項1記載の発
明の作用と併せて、前記穿穴ライン上の磁性体バーに対
応する波形毎にピークホールドを行なって包絡線波形を
取出し、該包絡線波形を所定のサンプリング周期でサン
プリングを行なって、このサンプリング出力と予め設定
した穴と判定する教師波形とのパターンマッチングを取
ってその適合度を求めて、前記ファジィ推論制御手段
は、上記適合度の値でメンバシップ関数から“穴らし
さ”の値を導出する。
穿穴検出ファジィ制御装置は、前述の請求項1記載の発
明の作用と併せて、前記穿穴ライン上の磁性体バーに対
応する波形毎にピークホールドを行なって包絡線波形を
取出し、該包絡線波形を所定のサンプリング周期でサン
プリングを行なって、このサンプリング出力と予め設定
した穴と判定する教師波形とのパターンマッチングを取
ってその適合度を求めて、前記ファジィ推論制御手段
は、上記適合度の値でメンバシップ関数から“穴らし
さ”の値を導出する。
【0011】
【発明の効果】この発明によれば、カード上において穿
穴する位置が特定されているという情報を用いて、ファ
ジィ推論で“穴らしさ”と“穴位置らしさ”とで、真の
“穴情報らしさ”を算出するので、従来の方法と比べ、
“穴位置らしさ”の情報が判定要素の付加され、穴検出
の誤りを著しく改善することができ、さらに、ファジィ
推論を導入することで穿穴位置の誤差を除去することの
できる効果を有する。
穴する位置が特定されているという情報を用いて、ファ
ジィ推論で“穴らしさ”と“穴位置らしさ”とで、真の
“穴情報らしさ”を算出するので、従来の方法と比べ、
“穴位置らしさ”の情報が判定要素の付加され、穴検出
の誤りを著しく改善することができ、さらに、ファジィ
推論を導入することで穿穴位置の誤差を除去することの
できる効果を有する。
【0012】
【実施例】この発明の一実施例を以下図面に基づいて詳
述する。図面はカードの穿穴検出ファジィ制御装置を示
し、図1はプリペイドカードのようなカードを示し、該
カード10はその使用に応じてカード10に穿穴され、
この穿穴された穴11は爾後のカード10の使用時に検
出される。上述の穴11は設定された穿穴ライン12上
に形成され、しかも、カード10の裏面側には所定の間
隔で多数の磁性体バー(図示省略)を形成し、この磁性
体バー上に上述の穴11は穿穴される。
述する。図面はカードの穿穴検出ファジィ制御装置を示
し、図1はプリペイドカードのようなカードを示し、該
カード10はその使用に応じてカード10に穿穴され、
この穿穴された穴11は爾後のカード10の使用時に検
出される。上述の穴11は設定された穿穴ライン12上
に形成され、しかも、カード10の裏面側には所定の間
隔で多数の磁性体バー(図示省略)を形成し、この磁性
体バー上に上述の穴11は穿穴される。
【0013】また、上述の穴11の位置は、カード10
の窪み13を形成した側(図中右側)の端縁から周期的
な位置に設定している。なお、カード10は窪み13を
形成していない側(図中左側)から装置に挿入する(図
中矢印IN側)のを順方向に設定しており、この順方向
側の端縁(図中左側)はカード寸法として、上述の周期
で完了することなく周期の余りを有する。
の窪み13を形成した側(図中右側)の端縁から周期的
な位置に設定している。なお、カード10は窪み13を
形成していない側(図中左側)から装置に挿入する(図
中矢印IN側)のを順方向に設定しており、この順方向
側の端縁(図中左側)はカード寸法として、上述の周期
で完了することなく周期の余りを有する。
【0014】上述の穴11の“穴位置らしさ”を求める
場合、穴検出処理の現在位置を推定する。まず、カード
10上のある基準点、例えば、順方向側の端縁(図中左
側)から処理現在位置までの処理時間Tを測定する。
今、カード10全長の処理時間をTMAX 、穴11の周期
をTcycle としたとき、上述の処理時間Tは T=Tc +mTcycle +C で表すことができる。ここで、Tc は全長処理時間TMA
x を周期Tcycle で割った剰余、mは処理時間Tを周期
Tcycle で割った商、Cは穴位置の判定のための変数。
場合、穴検出処理の現在位置を推定する。まず、カード
10上のある基準点、例えば、順方向側の端縁(図中左
側)から処理現在位置までの処理時間Tを測定する。
今、カード10全長の処理時間をTMAX 、穴11の周期
をTcycle としたとき、上述の処理時間Tは T=Tc +mTcycle +C で表すことができる。ここで、Tc は全長処理時間TMA
x を周期Tcycle で割った剰余、mは処理時間Tを周期
Tcycle で割った商、Cは穴位置の判定のための変数。
【0015】したがって、上述の式より穴位置の判定の
ための変数Cを求め、これを図2のメンバシップ関数に
代入することで、“穴位置らしさ”の度合い(グレー
ド)を導出することができる。上述のメンバシップ関数
は周期の始めと終り側でグレードが高く中間部でグレー
ドが低くなるように設定している。
ための変数Cを求め、これを図2のメンバシップ関数に
代入することで、“穴位置らしさ”の度合い(グレー
ド)を導出することができる。上述のメンバシップ関数
は周期の始めと終り側でグレードが高く中間部でグレー
ドが低くなるように設定している。
【0016】なお、カード10を逆方向に挿入した場合
は、窪み13のある端縁(図中右側)が基準点となるの
で、処理時間Tは T=mTcycle +C で表すことができる。
は、窪み13のある端縁(図中右側)が基準点となるの
で、処理時間Tは T=mTcycle +C で表すことができる。
【0017】また、前述の穴11の“穴らしさ”を求め
る場合、上述の穴11が多数ある磁性体バーの内の所定
の磁性体バー上に穿穴されることから、この磁性体バー
に対応するパルス周期Tpls を求め、これを図3のメン
バシップ関数に代入することで“穴らしさ”の度合い
(グレード)を導出することができる。
る場合、上述の穴11が多数ある磁性体バーの内の所定
の磁性体バー上に穿穴されることから、この磁性体バー
に対応するパルス周期Tpls を求め、これを図3のメン
バシップ関数に代入することで“穴らしさ”の度合い
(グレード)を導出することができる。
【0018】図4は上述の磁性体バーを磁気ヘッドで読
取った波形信号の半波整流した信号イと、該信号イのピ
ークホールドした包絡線aと、これを降圧した閾値bで
信号イを比較した比較信号ロを示し、比較信号ロのパル
スは磁性体バーに対応するパルスであり、穴11の読取
ったときのパルス数が4パルスであって、パルス周期
が、例えば、約150μsであるとすると、パルス間隔
の時間幅が約750μsであるとき穴11であると従来
は判定している。したがって、前述の図3のメンバシッ
プ関数はパルス間隔の時間幅が約750μsを中心とし
てその前後でグレードを高くその他を低く設定してい
る。
取った波形信号の半波整流した信号イと、該信号イのピ
ークホールドした包絡線aと、これを降圧した閾値bで
信号イを比較した比較信号ロを示し、比較信号ロのパル
スは磁性体バーに対応するパルスであり、穴11の読取
ったときのパルス数が4パルスであって、パルス周期
が、例えば、約150μsであるとすると、パルス間隔
の時間幅が約750μsであるとき穴11であると従来
は判定している。したがって、前述の図3のメンバシッ
プ関数はパルス間隔の時間幅が約750μsを中心とし
てその前後でグレードを高くその他を低く設定してい
る。
【0019】図5は穿穴検出ファジィ制御装置を示し、
読取り部14は、例えば、磁気ヘッドで構成し、カード
10の穿穴ライン12上の磁性体バーを読取る。整流部
15は読取り波形を半波整流し(全波整流も可)、第1
ピークホールド部16は半波整流波のピークをホールド
し、降圧部17はピークホールド信号を降圧して閾値を
出力する。比較部18は整流部15からの半波整流波信
号と、降圧部17の閾値とを比較し、メモリ部19はこ
の比較信号(図4のロに対応)のパルス列を記憶する。
第1立上りメモリ部20は時間の基準点を作るために、
例えば、最初の半波整流波の立上りTo を記憶し、第2
立上りメモリ部21はメモリ部19から出力される各パ
ルスの立上りTk を記憶する。
読取り部14は、例えば、磁気ヘッドで構成し、カード
10の穿穴ライン12上の磁性体バーを読取る。整流部
15は読取り波形を半波整流し(全波整流も可)、第1
ピークホールド部16は半波整流波のピークをホールド
し、降圧部17はピークホールド信号を降圧して閾値を
出力する。比較部18は整流部15からの半波整流波信
号と、降圧部17の閾値とを比較し、メモリ部19はこ
の比較信号(図4のロに対応)のパルス列を記憶する。
第1立上りメモリ部20は時間の基準点を作るために、
例えば、最初の半波整流波の立上りTo を記憶し、第2
立上りメモリ部21はメモリ部19から出力される各パ
ルスの立上りTk を記憶する。
【0020】現在位置算出部22は前段の第2立上りメ
モリ部21からのパルスの立上りTk の信号からパスル
周期Tpls を算出する。すなわち、 Tpls =Tk −Tk-1 を算出する。
モリ部21からのパルスの立上りTk の信号からパスル
周期Tpls を算出する。すなわち、 Tpls =Tk −Tk-1 を算出する。
【0021】また、時間基準点の立上りTo の信号から
現在処理時間(トータル時間)Tを算出して変数Cを算
出する。すなわち、前述した式 T=Tc +mTcycle +C または、 T=mTcycle +C に基づいて、穴位置の判定のための変数Cを算出し、前
述のパルス周期Tpls と、上述の変数Cとによって、フ
ァジィ推論を行なうことになる。
現在処理時間(トータル時間)Tを算出して変数Cを算
出する。すなわち、前述した式 T=Tc +mTcycle +C または、 T=mTcycle +C に基づいて、穴位置の判定のための変数Cを算出し、前
述のパルス周期Tpls と、上述の変数Cとによって、フ
ァジィ推論を行なうことになる。
【0022】判定部23は前段のパルス周期Tpls から
穴11を判定し、例えば、穴の判定時間を3パルス分、
すなわち、磁性体バーの周期が約150μsとすると、 150μs×3=450μs であって、パルス周期がTpls >450μsであるとき
穴11の検出として第1の穴判定信号を出力する。但
し、この判定部23による判定は従来方法である。
穴11を判定し、例えば、穴の判定時間を3パルス分、
すなわち、磁性体バーの周期が約150μsとすると、 150μs×3=450μs であって、パルス周期がTpls >450μsであるとき
穴11の検出として第1の穴判定信号を出力する。但
し、この判定部23による判定は従来方法である。
【0023】次に、第1ファジィ制御部24は、前述の
パルス周期Tpla の値を図3のメンバシップ関数に代入
することで“穴らしさ”の度合いを導出し、さらに、前
述の変数Cの値を図2のメンバシップ関数に代入するこ
とで、“穴位置らしさ”の度合いを導出して、これら
“穴らしさ”および“穴位置らしさ”の度合い、すなわ
ちグレードで、ミニマム演算、ファジィ論理和、ファジ
ィ論理積のファジィ推論を実行して、真の“穴情報らし
さ”を算出し、さらに、この“穴情報らしさ”の値を設
定した閾値と比較して、この閾値を越えたとき“穴であ
る”と判定する第2の穴判定信号を出力する。
パルス周期Tpla の値を図3のメンバシップ関数に代入
することで“穴らしさ”の度合いを導出し、さらに、前
述の変数Cの値を図2のメンバシップ関数に代入するこ
とで、“穴位置らしさ”の度合いを導出して、これら
“穴らしさ”および“穴位置らしさ”の度合い、すなわ
ちグレードで、ミニマム演算、ファジィ論理和、ファジ
ィ論理積のファジィ推論を実行して、真の“穴情報らし
さ”を算出し、さらに、この“穴情報らしさ”の値を設
定した閾値と比較して、この閾値を越えたとき“穴であ
る”と判定する第2の穴判定信号を出力する。
【0024】このようにファジィ推論を実行すると、従
来の方法(判定部23の判定方法)と比べ、“穴位置ら
しさ”の情報が判定要素の付加され、穴検出の誤りを著
しく改善することができ、さらに、ファジィ推論を導入
することで穿穴位置の誤差を除去することのできる効果
を有する。
来の方法(判定部23の判定方法)と比べ、“穴位置ら
しさ”の情報が判定要素の付加され、穴検出の誤りを著
しく改善することができ、さらに、ファジィ推論を導入
することで穿穴位置の誤差を除去することのできる効果
を有する。
【0025】さらに、第2ファジィ制御部25および第
2ピークホールド部26は他の実施例を示し、この実施
例を使用するときは、第1ファジィ制御部24を使用す
る必要はない。上述の第2ピークホールド部26はPL
L回路を備え、図6に示すように、半波整流波の各周期
毎にピークホールドを行なって包絡線波形を取出し、第
2ファジィ制御部25は上述の包絡線波形を所定のサン
プリング周期TSMP にて所定の回数nだけ記憶し、これ
とは別に、図7で示すように、予め穴11と判定するた
めの教師波形を記憶しておき、前述の包絡線波形のサン
プリング情報DSMP と上述のの教師波形の情報DTCH と
のパターンマッチングを取って、その適合度μを求め
る。この適合度μは次の関数式[数1]で算出すること
ができる。
2ピークホールド部26は他の実施例を示し、この実施
例を使用するときは、第1ファジィ制御部24を使用す
る必要はない。上述の第2ピークホールド部26はPL
L回路を備え、図6に示すように、半波整流波の各周期
毎にピークホールドを行なって包絡線波形を取出し、第
2ファジィ制御部25は上述の包絡線波形を所定のサン
プリング周期TSMP にて所定の回数nだけ記憶し、これ
とは別に、図7で示すように、予め穴11と判定するた
めの教師波形を記憶しておき、前述の包絡線波形のサン
プリング情報DSMP と上述のの教師波形の情報DTCH と
のパターンマッチングを取って、その適合度μを求め
る。この適合度μは次の関数式[数1]で算出すること
ができる。
【0026】
【数1】
【0027】第2ファジィ制御部25は上述のようにし
て算出した適合度μを、図8のメンバシップ関数に代入
して、“穴らしさ”の度合いの値を導出し、さらに、前
述の現在位置算出部22からの変数Cの値を、前述と同
様にして図2のメンバシップ関数に代入することで、
“穴位置らしさ”の度合いを導出して、これら“穴らし
さ”および“穴位置らしさ”の度合い、すなわちグレー
ドで、ミニマム演算、ファジィ論理和、ファジィ論理積
のファジィ推論を実行して、真の“穴情報らしさ”を算
出し、さらに、この“穴情報らしさ”の値を設定した閾
値と比較して、この閾値を越えたとき“穴である”と判
定する第3の穴判定信号を出力する。このようにしても
穴検出のファジィ推論が実行でき、前述の第1のファジ
ィ制御部24による作用効果と等価な効果を得ることが
できる。
て算出した適合度μを、図8のメンバシップ関数に代入
して、“穴らしさ”の度合いの値を導出し、さらに、前
述の現在位置算出部22からの変数Cの値を、前述と同
様にして図2のメンバシップ関数に代入することで、
“穴位置らしさ”の度合いを導出して、これら“穴らし
さ”および“穴位置らしさ”の度合い、すなわちグレー
ドで、ミニマム演算、ファジィ論理和、ファジィ論理積
のファジィ推論を実行して、真の“穴情報らしさ”を算
出し、さらに、この“穴情報らしさ”の値を設定した閾
値と比較して、この閾値を越えたとき“穴である”と判
定する第3の穴判定信号を出力する。このようにしても
穴検出のファジィ推論が実行でき、前述の第1のファジ
ィ制御部24による作用効果と等価な効果を得ることが
できる。
【0028】この発明の構成と、上述の実施例との対応
において、この発明のパルス周期出力部と現在位置出力
部は、実施例の現在位置算出部22に対応し、さらに、
この発明のファジィ推論制御手段は、実施例の第1ファ
ジィ制御部24、第2ファジィ制御部25に対応する
も、この発明は実施例の構成のみに限定されるものでは
ない。
において、この発明のパルス周期出力部と現在位置出力
部は、実施例の現在位置算出部22に対応し、さらに、
この発明のファジィ推論制御手段は、実施例の第1ファ
ジィ制御部24、第2ファジィ制御部25に対応する
も、この発明は実施例の構成のみに限定されるものでは
ない。
【図1】カードの平面図。
【図2】穴位置らしさのメンバシップ関数説明図。
【図3】穴らしさのメンバシップ関数説明図。
【図4】波形のタイムチャート。
【図5】穿穴検出ファジィ制御装置の回路ブロック図。
【図6】他の実施例のピークホールドを示すタイムチャ
ート。
ート。
【図7】教師波形のタイムチャート。
【図8】他の実施例の穴らしさのメンバシップ関数説明
図。
図。
10…カード 20…第1立上りメモリ部 21…第2立上りメモリ部 22…現在位置算出部 24…第1ファジィ制御部 25…第2ファジィ制御部 26…第2ピークホールド部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06K 7/10 G06K 7/12 G06K 17/00 G05B 13/02
Claims (3)
- 【請求項1】カードの穿穴ライン上に所定の間隔で多数
形成した磁性体バーの所定の位置の磁性体バーを穿穴
し、上記穿穴ライン上を磁気ヘッドで読取って、その出
力に基づいて穴を検出する装置であって、上記穿穴ライ
ン上の磁性体バーに対応するパルス周期を出力するパル
ス周期出力部と、穴検出処理の現在位置を出力する現在
位置出力部と、ファジィメンバシップ関数にて、前記パ
ルス周期出力のパルス周期から“穴らしさ”の値を、ま
た前記現在位置出力部の現在位置出力から“穴位置らし
さ”の値をそれぞれ導出し、これら2つの値から真の
“穴情報らしさ”をファジィ推論にて算出するファジィ
推論制御手段とを備えたカードの穿穴検出ファジィ制御
装置。 - 【請求項2】前記現在位置出力部の穴検出処理の現在位
置の出力を該処理時点の前回に出力された前回出力パル
スから1パルス周期内の処理時点を求め、前記ファジィ
推論制御手段は、上記1パルス周期内の処理時点の値で
メンバシップ関数から“穴らしさ”の値を導出する請求
項1記載のカードの穿穴検出ファジィ制御装置。 - 【請求項3】前記穿穴ライン上の磁性体バーに対応する
波形毎にピークホールドを行なって包絡線波形を取出
し、該包絡線波形を所定のサンプリング周期でサンプリ
ングを行なって、このサンプリング出力と予め設定した
穴と判定する教師波形とのパターンマッチングを取って
その適合度を求めて、前記ファジィ推論制御手段は、上
記適合度の値でメンバシップ関数から“穴らしさ”の値
を導出する請求項1記載のカードの穿穴検出ファジィ制
御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04200461A JP3104419B2 (ja) | 1992-07-02 | 1992-07-02 | カードの穿穴検出ファジィ制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04200461A JP3104419B2 (ja) | 1992-07-02 | 1992-07-02 | カードの穿穴検出ファジィ制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0620082A JPH0620082A (ja) | 1994-01-28 |
JP3104419B2 true JP3104419B2 (ja) | 2000-10-30 |
Family
ID=16424696
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04200461A Expired - Fee Related JP3104419B2 (ja) | 1992-07-02 | 1992-07-02 | カードの穿穴検出ファジィ制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3104419B2 (ja) |
-
1992
- 1992-07-02 JP JP04200461A patent/JP3104419B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0620082A (ja) | 1994-01-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4797938A (en) | Method of identifying magnetic ink (MICR) characters | |
RU2001107822A (ru) | Распознавание знаков | |
JPH08507398A (ja) | 高精度オンラインダイナミック署名照合システム | |
US5285328A (en) | Process for evaluating binary data of a magnetic storage card using curve patterns | |
US6718306B1 (en) | Speech collating apparatus and speech collating method | |
US3818443A (en) | Signature verification by zero-crossing characterization | |
US20060088194A1 (en) | Apparatus for online signature verification using pattern transform technique and method therefor | |
US5887075A (en) | Method, and apparatus and article of manufacture for filtering periodic noise from a magnetic read head | |
JP3104419B2 (ja) | カードの穿穴検出ファジィ制御装置 | |
EP0024156B1 (en) | Method and apparatus for detecting the multiple feeding of documents | |
US4845348A (en) | Method and apparatus for reading bar code magnetic ink characters | |
US3879707A (en) | Character recognition system for bar coded characters | |
EP0774728A2 (en) | Magnetic ink character detection apparatus and method | |
JP5850260B2 (ja) | 信号処理装置、信号処理方法、並びに記録媒体 | |
CA1175147A (en) | Matrix character reading system | |
CN110163032A (zh) | 一种人脸检测方法及装置 | |
EP0451252B1 (en) | Ratio detection character recognition apparatus | |
US6621920B1 (en) | Print pattern recognition apparatus, recognition method, and information storage medium | |
JP3940612B6 (ja) | 磁気カード分析装置及び分析方法 | |
JP3940612B2 (ja) | 磁気カード分析装置及び分析方法 | |
JP2007233598A (ja) | 磁気インク文字読取装置及びその制御方法 | |
JP2002032753A (ja) | 画像認識方法 | |
JPH0313628B2 (ja) | ||
JPH05877B2 (ja) | ||
JPH0531087A (ja) | Vpc波形検出方式 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |