JP3089572B2 - クラスタリング方法 - Google Patents

クラスタリング方法

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JP3089572B2 JP04034382A JP3438292A JP3089572B2 JP 3089572 B2 JP3089572 B2 JP 3089572B2 JP 04034382 A JP04034382 A JP 04034382A JP 3438292 A JP3438292 A JP 3438292A JP 3089572 B2 JP3089572 B2 JP 3089572B2
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、パターン認識分野にお
けるクラスタリング方法、すなわち、複数のデータにお
いて類似したものどうしを1つのクラスタとしてまとめ
る方法に関連し、たとえば、特徴データから物体の種類
や形状を識別するような場面に適用できる方法に関する
ものにある。
【0002】
【従来の技術】従来の代表的なクラスタリング方法とし
ては、融合法と再配置法とがある(画像処理ハンドブッ
ク、高木幹雄編、東京大学出版会、機能編「分類」)。
融合法は、データ間の類似度を両者の距離とし、距離が
最も近いものどうしを融合してクラスタを作っていくも
のである。再配置法は、初期状態として適当なクラスタ
を与え、そのメンバデータを組み替えて少しずつよりよ
いクラスタを求めていくものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記の両方法では、
(1)あらかじめ最終的なクラスタの数が明確な場合の
み適用できたが、一般には最適なクラスタの数を見積も
れない場合が多い、(2)データが追加された場合、再
度始めから全データを用いてクラスタリングしなおす必
要があり、処理量が多く処理時間が長くなる傾向にあっ
た等の問題があった。本発明は上記事情を鑑みて考案さ
れたもので、最適なクラスタの数を決定し、さらに、デ
ータが追加されても必要に応じてクラスタを追加、融合
し、常に最適な数のクラスタを高速に求めることのでき
る方法を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明では、クラスタ数を設定し、複数のデータを
設定されたクラスタ数にクラスタリングし、各クラスタ
のデータメンバ数とデータの分散から最適なクラスタ数
の場合に最小となるようなクラスタリング状態評価量A
を数3により求め、以下、クラスタ数を順次変更設定
し、上記のようにしてクラスタリング状態評価量Aを求
め、各クラスタ数毎に求められたクラスタリング状態評
価量Aの内の最も小さいクラスタリング状態評価量Aを
判定し、該クラスタリング状態評価量Aに対応するクラ
スタリングを最適なクラスタリングと決定する。また、
データが追加された場合、それによりクラスタが追加、
融合、または、現状維持となる状態を仮定し、それぞれ
の状態のクラスタリング状態評価量Aを求め、求められ
たクラスタリング状態評価量Aの内の最も小さいクラス
タリング状態評価量Aを判定し、該クラスタリング状態
評価量Aに対応するクラスタリングを最適なクラスタリ
ングと決定する。
【0005】
【作用】上記数3によりクラスタリング状態評価量Aを
計算し、最小のクラスタリング状態評価量Aを選択する
ことで最適なクラスタ数を決定でき、データが追加され
た場合にも全データを用いて再度クラスタリング処理を
行なうことなく、既に求められた分散値等を用いて新た
なクラスタリング状態評価量Aを求めることができるた
め、最適なクラスタリング状態をより速く得ることがで
きる。
【0006】
【実施例】以下、本発明の実施例を図1、図2、図3、
図4、図5、図6を用いて説明する。本実施例は、具体
例として例えば、ベルトコンベアにより製品を構成する
部品を搬送し、ベルトコンベアの上部に撮像管を配置
し、撮像管により撮像した部品の映像(シルエット像)
からシルエット像の輪郭線の長さ、即ち、周囲長と、シ
ルエット像の面積等の物理データを得、この物理データ
を用いて製品の種類を決定する課題に本発明を適用した
ものであり、新たな製品の分類が課された場合にも適応
的にクラスタを追加し、それぞれの分類が可能となるこ
とを説明する。図6には部品のシルエット像の例を示
す。
【0007】まず、予め与えられたデータを用いて学習
としてのクラスタリングを行ない、最適なクラスタリン
グを決定するための方法を図2を用いて説明する。この
方法は、基本的には、1個からN個にクラスタリングし
た場合それぞれのクラスタリング状態評価量A(以下、
評価量Aという)を計算し、最も小さい評価量Aの場合
のクラスタ数のクラスタリングを最良の結果とするもの
である。
【0008】ステップ9では、クラスタ数IをI=1に
設定すると共に、最大クラスタ数Nを設定する。ステッ
プ10からステップ12では最初にクラスタ数I=1に
ついて処理を行ない、ステップ13では該処理おけるク
ラスタ数が最大クラスタ数Nに達しているか否かを判定
し、達していなければIをI+1にしてステップ10に
戻り、達していればステップ14に進む。
【0009】ステップ10のクラスタリング実行部では
図3のフローで示した処理によりクラスタリングを行な
う。クラスタリングは最初クラスタ数I=1について行
ない、順次Iの値を変化させ、I=Nまで行なう。
【0010】図3のステップ15は全サンプルデータ
(メモリ内に格納されている)の分布中心付近にランダ
ムに標準データ(最初は1個)を配置するステップであ
り、配置された標準データの値はメモリに記憶される。
【0011】ステップ16は各サンプルデータとI個の
標準データ(最初はI=1であるので標準データは1
個)とのそれぞれの距離を求め、サンプルデータ毎に最
も近い距離の標準データを決定し、それによってそれぞ
れの標準データを代表とする各クラスタに属するサンプ
ルデータを求めるステップであり、メモリ中の各サンプ
ルデータ毎に対応する標準データとの関係が記憶され
る。
【0012】ステップ17は、数1で表される各標準デ
ータとそのクラスタに属するサンプルデータ(メンバ)
との誤差Eを求めるステップである。誤差E計算式であ
る数1で表される誤差Eの具体的な意味は、クラスごと
に各サンプルと標準データの距離の平均値を求め、それ
ぞれのクラスの平均値を加算したものである。従って、
各標準データの位置が良い場合には、誤差Eは小さな値
となる。
【0013】
【数1】
【0014】ステップ18は、今回の誤差を誤差E
(t)とし、既に求められ記憶されている前回の誤差を
誤差E(t−1)として、誤差E(t−1)と誤差E
(t)との差が小さな値として予め設定された一定値よ
り小さいかどうかを判定するステップである。
【0015】ステップ19は、ステップ18の判定によ
り上記の誤差の差が一定値より大きい場合に数2にした
がって各標準データを移動させ、ステップ16に戻るス
テップである。数2は標準データ変更式であり、標準デ
ータの変更の仕方を表現したものであり、右辺の第2項
が変更量である。これは誤差曲面の最急降下方向への変
更を意味しており、この変更により標準データは誤差E
が減る方向に移動することになる。
【0016】
【数2】
【0017】ステップ18の判定により上記の誤差の差
が一定値より小さくなった場合は、その時の各標準デー
タを最終の標準データ、各サンプルデータはそれに最も
近い標準データのクラスタに属しているものとして処理
を終了する。
【0018】説明を図2のフローに戻して、ステップ1
1では上述した図3の処理を行なうステップ10のクラ
スタリング実行部により得られたI個のクラスタの各ク
ラスタに属すメンバ(サンプルデータ)数とそのメンバ
の分散値を各クラスタ毎に求める。ステップ12ではス
テップ11で求めた分散値により、クラスタリング状態
評価量A計算式である数3で表される評価量Aの計算を
行なう。数3は、評価量Aの具体的な計算式を表現した
もので、4項からなる。この評価量Aが小さくなるため
に要求されることは、第1項のクラスタのメンバ数が大
きくなり、第2項の分散値が小さくなることである。こ
の要求は、一般には、相反するものであるため、両者が
バランスした点の最適ケースが求まることになる。な
お、第3項と第4項は補正項である。
【0019】
【数3】
【0020】ステップ13では、前述したようにクラス
タ数が最大クラスタ数Nに達しているか否かを判定し、
達していなければIをI+1にしてステップ10に戻
り、達していればステップ14に進む。そして、ステッ
プ14では、得られた各クラスタ対応の評価量Aの内の
最も小さい評価量Aを選択し、選択された評価量Aの場
合のクラスタ数のクラスタリングを最良の結果とするも
のである。
【0021】図4は、以上説明した方法で最適なクラス
タリングを決定する過程を実際の物理データである前述
したシルエット像の周囲長と、面積を用いて示したもの
である。図4の(a)はクラスタリングを行う2次元デ
ータ(シルエット像の周囲長と面積)の分布状態を示し
ている。図4の(b)〜(f)はクラスタリングをクラ
スタ個数(I=2〜6)に従って実行した結果とそれぞ
れの場合の評価量Aの値を示したものである。各図内の
(・)が各クラスタの中心を表す標準データである。図
から明らかのように、評価量Aを比較すると、4個のク
ラスタにクラスタリングしたものが最適であり、これは
データ分布からの人間の判断と一致している。
【0022】このようにして最適なクラスタリングが行
なわれた後、各部品を種類別に種分けを行なう場合に
は、ベルトコンベアにより部品を搬送し、ベルトコンベ
アの上部に配置した撮像管により部品を撮像し、部品の
シルエット像の周囲長と、面積の物理データを得、この
物理データと最も距離の小さな標準データを決定し、こ
の標準データに対応するクラスタに与えられた部品の種
類を撮像された部品の種類として決定する。
【0023】次に、データが追加された場合に,最適な
クラスタリングの状態に変更する方法を図1と図5を用
いて説明する。図5の(a)は、初期のクラスタリング
状態である。このクラスタリングは先に説明した方法で
得ることができる。図5の(a)の(・)は各クラスタ
の標準データを示している。ここで、n1、n2、n3
各クラスタC1、C2、C3の所属メンバ数、(V11
12)、(V21,V22)、(V31,V32)を各クラスタ
の各座標毎の分散値とする。
【0024】まず、ステップ1にて、追加された入力デ
ータpに最も近いクラスタを、各クラスタの標準データ
(・)との距離計算で求める。本例の場合は、クラスタ
C1となるので、入力データはクラスタC1に所属する
と仮定する。この場合、クラスタC1の所属メンバ数は
1+1となり、前の分散値(V11,V12)、所属メン
バ数n1、クラスタの総メンバの各座標の2乗和のみを
記憶しておけば、新分散値を求めることができる(新分
散値を求めるためには既に知られた公式を用いればよ
い)。そこで、ステップ2にて、クラスタC1の新所属
メンバ数と新分散値、他のクラスタの所属メンバ数と分
散値を数3に代入して、評価量A1を求める。図5の
(b)はこの仮定でのクラスタリング状態と評価量A1
を示したものである。
【0025】ステップ3、4では、最短クラスタC1の
メンバに入力データを追加したものを、図3で説明した
方法で2つにクラスタリングする。このときにはこれら
2つの新クラスタの所属メンバ数n1'、n1''と分散値
(V11',V12')(V11'',V12'')が求まっているの
で、それらと他のクラスタC2とC3の所属メンバ数と
分散値を利用してステップ5にて評価量A2が容易に計
算できる。図5の(c)はこの仮定でのクラスタリング
状態と評価量A2を示したものである。
【0026】ステップ6では、追加された入力データp
に最も近いクラスタ(C1)と次に近いクラスタ(C
2)を求め、それらの融合クラスタに入力データが所属
していると仮定する。この場合も、新クラスタC12の
所属メンバ数はn1+n2+1となり、前の分散値
(V11,V12)と(V21,V22)、所属メンバ数n1
2、それぞれのクラスタの総メンバの各座標の2乗和
のみを記憶しておけば、新分散値を求めることができ
る。そこで、ステップ7にて、クラスタC12の新所属
メンバ数と新分散値、他のクラスタC3の所属メンバ数
と分散値を数3に代入して、評価量A3を求める。図5
の(d)はこの場合でのクラスタリング状態と評価量A
3を示したものである。
【0027】ステップ8では、求めた評価量A1、A
2、A3の内最小のものを求め、その場合のクラスタリ
ングを最適なものとして選択する。本例の場合は、図5
の(b)のクラスタリング結果が選択される。図5の
(e)は追加データが多数になった場合の結果を示した
もので、新しいクラスタC4が追加されていることが分
かる。
【0028】以上説明した方法によれば、データが追加
された場合に、再度すべてのデータを使用したクラスタ
リングを実行しないで、追加データの周囲のデータのみ
を使用しながら最適なクラスタリング状態を得ることが
できる。次に、本発明を適用した上記実施例を実施する
システム構成について、図7を用いて説明する。1は撮
像装置、2はクラスタリング部、3は判定部、4は画像
処理部、5は記憶部、6はCPUである。記憶部5はサ
ンプルデータ、標準データを記憶し、CPU6はシステ
ム全体の制御、すなわち、画像の採り込み、クラスタリ
ング部2、判定部3、画像処理部4および記憶部5の起
動などを制御する。
【0029】予め学習用の部品のシルエット像である画
像データを撮像装置から入力し、画像処理部4でシルエ
ット像の周囲長、面積を求め、サンプルデータとして記
憶部5に格納する。クラスタリング部2では、記憶部5
に格納されたサンプルデータを用いて、図2のフローで
示されたクラスタリング処理により標準データを作成し
て記憶部5に格納する。
【0030】実際に、部品の種類を判定する判定時に
は、撮像装置1から未知種類の部品のシルエット像を採
り込み、画像処理部4でシルエット像の周囲長、面積の
データを求め、判定部で該データと記憶部5に格納され
ている各標準データとの距離を求め、最短の距離となる
標準データに対応する部品の種類を未知種類の部品の種
類として決定する。
【0031】なお、本例では、図示の都合上、3つの2
次元データのクラスタの例をあげて説明したが、より多
くの多次元データの場合にも当然適用できる。さらに、
本実施例では製品の2つの静的な物理量(周囲長と面
積)から製品の種類を判定する例で説明したが、例え
ば、データグローブ等の複数のセンサーから得られる動
的な時系列データのクラスタリングにも適用できる。こ
の場合、1センサーを1次元と考えると、各時刻の複数
センサーからのデータは多次元空間上の一点で表現され
るので、そのデータ群をクラスタリングすることで典型
的なデータ(データグローブの場合には指形状)を自動
検出することができることになる。
【0032】
【発明の効果】以上、実施例で説明したように、本発明
では、人間の最適クラスタリング結果の場合に対して最
小値をとるような、クラスタリング状態を評価する評価
量Aを定義し、その量が最小となるように常にクラスタ
数を決定するようにしている。したがって、クラスタ数
が推測できない対象にも適用できる。また、データが追
加された場合にも、再度すべてのデータを使用したクラ
スタリングを実行せずに追加データの周囲のデータのみ
を使用することによりクラスタリングを可能とすること
ができ、より少ない処理量で高速に最適なクラスタリン
グ状態を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】データが追加された場合に最適なクラスタリン
グの状態に変更する方法を説明するためのフローチャー
ト図である。
【図2】最適なクラスタリングを決定するための方法を
説明するためのフローチャート図である。
【図3】クラスタリングを行なう方法を説明するための
フローチャート図である。
【図4】最適なクラスタリングを決定する過程および各
クラスタリング状態評価量Aを実際の物理データを用い
て示した図である。
【図5】既に決定しているクラスタリングにおいて、さ
らにデータが追加された場合の最適なクラスタリングを
決定する過程および各クラスタリング状態評価量Aを実
際の物理データを用いて示した図である。
【図6】部品のシルエット像の例を示す図である。
【図7】本発明を適用した実施例を実施するためのシス
テム構成を示す図である。

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のデータをクラスタリングする方法
    において、クラスタ数を順次変更設定し、設定された各
    クラスタ数毎に、複数のデータをクラスタ数にクラスタ
    リングし、各クラスタのデータメンバ数とデータの分散
    から最適なクラスタ数の場合に最小となるようなクラス
    タリング状態評価量Aを求め、各クラスタ数毎に求めら
    れたクラスタリング状態評価量Aの内の最も小さいクラ
    スタリング状態評価量Aを判定し、該クラスタリング状
    態評価量Aに対応するクラスタリングを最適なクラスタ
    リングと決定することを特徴とするクラスタリング方
    法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のクラスタリング方法によ
    り決定されたクラスタリングの対象となつた複数のデー
    タに更にデータが追加されたときのクラスタリング方法
    であって、データの追加に対してクラスタが追加、融
    合、または、現状維持となる状態を仮定し、それぞれの
    状態のクラスタリング状態評価量Aを求め、求められた
    クラスタリング状態評価量Aの内の最も小さいクラスタ
    リング状態評価量Aを判定し、該クラスタリング状態評
    価量Aに対応するクラスタリングを最適なクラスタリン
    グと決定することを特徴とするクラスタリング方法。
  3. 【請求項3】 請求項1記載のクラスタリング方法によ
    り決定されたクラスタリングの対象となつた複数のデー
    タに更にデータが追加されたときのクラスタリング方法
    であって、追加データがそのデータの最短クラスタ内に
    所属し、そのクラスタを1つのクラスタと仮定して得た
    クラスタリング状態評価量A1と、追加データが最短ク
    ラスタに所属し、そのクラスタを2つのクラスタにクラ
    スタリングした場合のクラスタリング状態評価量A2
    と、追加データが最短クラスタと準最短クラスタを加え
    た1つのクラスタに所属していると仮定して得たクラス
    タリング状態評価量A3を求め、求められたクラスタリ
    ング状態評価量A1、A2、A3の内の最も小さいクラ
    スタリング状態評価量Aを判定し、該クラスタリング状
    態評価量Aに対応するクラスタリングを最適なクラスタ
    リングと決定することを特徴とするクラスタリング方
    法。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし請求項3記載のいずれか
    の請求項記載のクラスタリング方法において、複数のデ
    ータをクラスタ数にクラスタリングする場合、クラスタ
    数と同数の標準データを順次変更配置し、データと各標
    準データ間の距離を求め、データと最短距離にある標準
    データに該データは属するとして誤差Eを求め、前回の
    標準データの配置での誤差Eとの差が所定一定値より大
    のとき標準データの移動を行ない再度誤差Eおよび前記
    差を求め、該差が所定一定値より小のときクラスタリン
    グを決定するようにしたことを特徴とするクラスタリン
    グ方法。
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