JP3082713B2 - Thermal head drive controller - Google Patents
Thermal head drive controllerInfo
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Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明はサーマルプリンタ等
に用いられるサーマルヘッドの駆動制御装置に関し、特
に、発熱素子の異常を検出することができるサーマルヘ
ッド駆動制御装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a drive control device for a thermal head used in a thermal printer or the like, and more particularly to a drive control device for a thermal head capable of detecting an abnormality of a heating element.
【０００２】[0002]
【従来の技術】感熱紙を用いた感熱記録式あるいは感熱
層を有するインクリボンを用いた熱転写式のサーマルプ
リンタでは、複数の発熱素子を備えたサーマルヘッドが
用いられている。サーマルヘッドの発熱素子に断線等の
異常が発生すると、印刷結果にドット抜けが発生するの
で、発熱素子の異常を検出する必要がある。2. Description of the Related Art In a thermal recording type thermal printer using thermal paper or a thermal transfer thermal printer using an ink ribbon having a thermal layer, a thermal head having a plurality of heating elements is used. If an abnormality such as a disconnection occurs in the heating element of the thermal head, a missing dot occurs in the print result, so that it is necessary to detect the abnormality of the heating element.
【０００３】従来のサーマルヘッドの発熱素子の異常を
検出する方法としては、例えば、図５に示すように、発
熱素子６１を温度に応じて電気抵抗値が変化する材料か
ら形成し、印字動作時（通電時）の温度変化を抵抗値か
ら検出して、発熱素子６１の異常を検出する方法があ
る。また、図６に示すように、発熱素子７１を順番に通
電し、検出抵抗７２における電位差を検出して基準値と
比較を行い、発熱素子７１の異常を検出していた。（こ
れら従来技術の詳細については、特開平８−１６９１３
２号公報、特開平６−２２７０１８号公報等参照）As a method for detecting an abnormality of a heating element of a conventional thermal head, for example, as shown in FIG. 5, a heating element 61 is formed from a material whose electric resistance changes according to temperature, and is used in a printing operation. There is a method of detecting an abnormality of the heating element 61 by detecting a temperature change (at the time of energization) from a resistance value. Also, as shown in FIG. 6, the heating elements 71 are sequentially energized, the potential difference in the detection resistor 72 is detected and compared with a reference value, and an abnormality of the heating element 71 is detected. (For details of these prior arts, see JP-A-8-16913.
No. 2, JP-A-6-227018, etc.)
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、サ
ーマルヘッドの発熱素子の異常は検出できるが、異常が
発生している発熱素子は特定することができなかった。
このため、異常が発生している発熱素子を特定して修
理、点検あるいは調整等を行うには、専用の印字パター
ンで印字を行い、目視により発熱素子を特定しなけらば
ならず、多大な時間と労力を必要とする問題がある。In the above-mentioned prior art, the abnormality of the heating element of the thermal head can be detected, but the heating element in which the abnormality has occurred cannot be specified.
For this reason, in order to identify the heating element in which an abnormality has occurred and to perform repair, inspection, adjustment, or the like, it is necessary to perform printing using a special print pattern and visually identify the heating element, which is a huge problem. There are problems that require time and effort.
【０００５】本発明は、サーマルヘッドの発熱素子に異
常が発生した場合に異常が発生している発熱素子の特定
を容易に行えるようにすることを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to make it possible to easily identify a heating element in which an abnormality has occurred when the heating element of the thermal head has an abnormality.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１にかかる発明は、複数の発熱素子と、これ
ら発熱素子の異常を検出する異常検出手段とを有するサ
ーマルヘッドの駆動制御装置において、前記異常検出手
段が、発熱素子に順次通電を行う発熱素子駆動手段と、
通電された発熱素子の抵抗値に対応するパラメータを順
次検出する抵抗値検出手段と、この抵抗値検出手段で検
出された発熱素子の抵抗値に対応するパラメータを基準
値と比較し、すべての発熱素子の抵抗値に対応するパラ
メータが上限基準値と下限基準値の範囲内にあるか否か
を判断する比較判断手段と、この比較判断手段によっ
て、少なくともひとつの発熱素子の抵抗値に対応するパ
ラメータが上限基準値と下限基準値の範囲内にないと判
断されたときに、許容上限値と許容下限値の範囲内にお
いて上限基準値と下限基準値を変更する基準値変更手段
とを備え、この基準値変更手段によって上限基準値と下
限基準値を変更してもすべての発熱素子の抵抗値に対応
するパラメータが上限基準値と下限基準値の範囲内にな
いときには、上限基準値と下限基準値の範囲内にない発
熱素子が異常であるとする構成としてある。In order to achieve the above object, the present invention according to claim 1 comprises a plurality of heating elements,
Abnormality detecting means for detecting an abnormality of the heating element from the
In the drive control device for a thermal head, the abnormality detection means
A heating element driving means for sequentially energizing the heating element;
The parameter corresponding to the resistance value of the energized heating element is
Next, the resistance value detection means and the resistance value detection means
Based on the parameter corresponding to the resistance value of the generated heating element
Parameters corresponding to the resistance values of all the heating elements.
Whether the meter is between the upper reference value and the lower reference value
Means for judging the
The resistance corresponding to the resistance value of at least one heating element.
Parameter is not within the range of the upper and lower reference values.
Is rejected within the range of the allowable upper and lower limits.
Reference value changing means for changing the upper reference value and lower reference value
And the upper limit reference value and the lower
Supports resistance values of all heating elements even when the reference value is changed
Parameter is within the range between the upper reference value and the lower reference value.
Is not within the range between the upper reference value and the lower reference value.
The configuration is such that the thermal element is abnormal .
【０００７】異常検出手段においては、発熱素子駆動手
段によって発熱素子に順次通電が行われ、抵抗値検出手
段は通電された発熱素子の抵抗値に対応するパラメータ
を順次検出する。そして、発熱素子の抵抗値に対応する
パラメータが基準値と比較されることにより、発熱素子
の異常が検出される。 In the abnormality detecting means, the heating element driver
The heating elements are successively energized by the steps, and the resistance value is detected.
The stage is a parameter corresponding to the resistance of the energized heating element.
Are sequentially detected. And, it corresponds to the resistance value of the heating element.
By comparing the parameters with the reference value, the heating element
Is detected.
【０００８】比較判断手段は、すべての発熱素子の抵抗
値に対応するパラメータが上限基準値と下限基準値の範
囲内にあるか否かの判断を行い、少なくともひとつの発
熱素子の抵抗値に対応するパラメータが上限基準値と下
限基準値の範囲内にないと判断されたときには、基準値
変更手段によって、許容上限値と許容下限値の範囲内に
おいて上限基準値と下限基準値を変更する。 そして、基
準値変更手段によって上限基準値と下限基準値を変更し
てもすべての発熱素子の抵抗値に対応するパラメータが
上限基準値と下限基準値の範囲内にないときには、上限
基準値と下限基準値の範囲内にない発熱素子が異常であ
るとして、発熱素子の異常を検出する。 [0008] The comparing and judging means determines the resistance of all the heating elements.
The parameter corresponding to the value is within the range of the upper reference value and the lower reference value.
Judge whether it is within the enclosure or not, and at least one
The parameter corresponding to the resistance value of the thermal element is
If it is determined that the value is not within the
Within the range of the allowable upper limit value and the allowable lower limit value,
In this case, the upper reference value and the lower reference value are changed. And the base
Change the upper reference value and lower reference value using the reference value changing means.
Even if the parameters corresponding to the resistance values of all the heating elements
If not within the range between the upper reference value and the lower reference value, the upper limit
Heating elements not within the range between the reference value and the lower reference value are abnormal.
Is detected, the abnormality of the heating element is detected.
【０００９】この構成によれば、複数の発熱素子に順次
通電を行い、発熱素子の抵抗値に対応するパラメータを
順次検出する構成なので、発熱素子の抵抗値に対応する
パラメータを基準値と比較するための回路あるいは装置
等を複数の発熱素子で共有することが可能になる。 According to this structure, a plurality of heating elements are sequentially arranged.
Energize and set the parameter corresponding to the resistance value of the heating element.
Because it is a configuration that detects sequentially, it corresponds to the resistance value of the heating element
Circuit or device for comparing parameters with reference values
Can be shared by a plurality of heating elements.
【００１０】また、発熱素子の抵抗値に対応するパラメ
ータが上限基準値と下限基準値の範囲内に存在すれば、
その発熱素子は正常であると判断される。したがって、
各々の発熱素子の抵抗値が多少ばらついても、発熱素子
の異常を誤判断することを防止できる。 Also, a parameter corresponding to the resistance value of the heating element is used.
If the data is within the range between the upper reference value and the lower reference value,
The heating element is determined to be normal. Therefore,
Even if the resistance of each heating element varies slightly,
It is possible to prevent erroneous judgment of the abnormality of.
【００１１】請求項２の発明では、請求項１に記載のサ
ーマルヘッド駆動制御装置において、すべての発熱素子
の抵抗値に対応するパラメータが上限基準値と下限基準
値の範囲内にあるか否かを判断する比較判断手段を備
え、比較判断手段によって、すべての発熱素子の抵抗値
に対応するパラメータが上限基準値と下限基準値の範囲
内にあると判断されたときには、上限基準値と下限基準
値に基づいて発熱素子の平均抵抗値を求める構成として
ある。 [0011] According to the second aspect of the present invention, the support according to the first aspect is provided.
In the thermal head drive controller, all the heating elements
The parameters corresponding to the resistance values are the upper reference value and the lower reference value.
A comparison judgment means for judging whether the value is within the value range is provided.
The resistance value of all the heating elements
The parameter corresponding to the range between the upper reference value and the lower reference value
If it is determined that
To calculate the average resistance of the heating element based on the value
is there.
【００１２】比較判断手段はすべての発熱素子の抵抗値
に対応するパラメータが上限基準値と下限基準値の範囲
内にあるか否かの判断を行う。そして、すべての発熱素
子の抵抗値に対応するパラメータが上限基準値と下限基
準値の範囲内にあると判断されたときには、上限基準値
と下限基準値に基づいて発熱素子の平均抵抗値を求め
る。 この構成によれば、すべての発熱素子の抵抗値が正
常である場合に、その正常な抵抗値範囲を表わす上限基
準値と下限基準値から発熱素子の平均抵抗値を求めるこ
とができ、発熱素子に印加すべき最適な印加パルス幅を
決定することができる。 The means for comparing and judging the resistance values of all the heating elements
The parameter corresponding to the range between the upper reference value and the lower reference value
It is determined whether it is within. And all the heating elements
The parameter corresponding to the resistance value of the
When it is determined that the value is within the reference value range, the upper reference value
The average resistance value of the heating element based on
You. According to this configuration, the resistance values of all the heating elements are positive.
If it is normal, the upper limit value that indicates the normal resistance value range
Calculate the average resistance value of the heating element from the reference value and the lower reference value.
And the optimal applied pulse width to be applied to the heating element
Can be determined.
【００１３】請求項３の発明では、請求項１又は２に記
載のサーマルヘッド駆動制御装置において、異常検出手
段により異常が検出された発熱素子を記憶する構成とし
てある。 According to the third aspect of the present invention, the first or second aspect is provided.
The thermal head drive control device
The heater element whose abnormality is detected by the step is stored.
It is.
【００１４】この構成によれば、異常検出手段によって
発熱素子の異常が検出されると、記憶手段は異常が検出
された発熱素子を記憶する。したがって、サーマルヘッ
ドの修理、点検あるいは調整等を行う際には、記憶手段
に記憶されている発熱素子を読み出すことにより、異常
が発生している発熱素子を容易に特定することが可能に
なる。 According to this structure, the abnormality detecting means
When an abnormality of the heating element is detected, the storage unit detects the abnormality.
The generated heating element is stored. Therefore, thermal head
When performing repairs, inspections, adjustments, etc.
Reading the heating element stored in the
Can easily identify heat generating elements where
Become.
【００１５】[0015]
【発明の実施の形態】以下、図面にもとづいて本発明の
実施の形態を説明する。図１は本発明の実施の形態を表
わすブロック図であり、感熱記録式サーマルプリンタに
用いられるサーマルヘッド駆動制御装置を示している。
サーマルヘッドの発熱素子群１は、発熱素子２、検出抵
抗３、駆動トランジスタ４及びゲート素子５からなる発
熱装置６を複数個備えている。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and shows a thermal head drive control device used in a thermal recording type thermal printer.
The heating element group 1 of the thermal head includes a plurality of heating devices 6 including a heating element 2, a detection resistor 3, a driving transistor 4, and a gate element 5.
【００１６】ＣＰＵ（中央処理装置）７は、各回路及び
装置を制御して発熱素子２の通電制御や異常検出の実行
を行う。記憶手段としてのメモリ８は、上限基準値ｕ及
び下限基準値ｄの初期値、異常の発生した発熱素子２の
番号、発熱素子２の平均抵抗値等の値を記憶する。切換
信号生成回路９は、通電されている発熱素子２の抵抗値
の電圧換算値を増幅回路１０に入力するよう切換回路１
１を切り換える。増幅回路１０で増幅された発熱素子２
の抵抗値の電圧換算値は、上限用比較回路１２及び下限
用比較回路１３に入力され、上限用基準設定回路１４か
ら出力される上限基準値ｕ及び下限用基準設定回路１５
から出力される下限基準値ｄと比較される。計数回路１
６は、発熱素子２の抵抗値の電圧換算値が上限基準値ｕ
を超えている場合あるいは下限基準値ｄ未満の場合にカ
ウントアップを行う。印字制御回路１７はＣＰＵ７の司
令を受けて発熱素子２の通電を制御する。A CPU (Central Processing Unit) 7 controls each circuit and device to control the energization of the heating element 2 and execute abnormality detection. The memory 8 as a storage unit stores values such as initial values of the upper reference value u and the lower reference value d, the number of the heating element 2 in which an abnormality has occurred, the average resistance value of the heating element 2, and the like. The switching signal generating circuit 9 switches the switching circuit 1 so that the voltage conversion value of the resistance value of the energized heating element 2 is input to the amplifier circuit 10.
Switch 1. Heating element 2 amplified by amplifier circuit 10
Are input to the upper limit comparator circuit 12 and the lower limit comparator circuit 13 and output from the upper limit reference setting circuit 14 to the upper limit reference value u and the lower limit reference setting circuit 15.
Is compared with the lower limit reference value d output from. Counting circuit 1
6, a voltage conversion value of the resistance value of the heating element 2 is an upper limit reference value u.
Is counted up, or when it is less than the lower limit reference value d. The print control circuit 17 controls energization of the heating element 2 under the command of the CPU 7.
【００１７】次に、図２を用いて本実施の形態の動作を
説明する。図２は本実施の形態の動作を表わすフローチ
ャートであり、サーマルプリンタが異常検出・調整モー
ドになると、このルーチンが起動される。最初に、ステ
ップ２０１において、ＣＰＵ７はメモリ８に記憶されて
いる上限基準値ｕの初期値を読み出すとともに、上限基
準値ｕを上限用基準設定回路１４に出力し設定する。ま
た、同様に下限基準値ｄの初期値を下限用基準設定回路
１５に出力して設定する。Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the present embodiment. When the thermal printer enters the abnormality detection / adjustment mode, this routine is started. First, in step 201, the CPU 7 reads the initial value of the upper limit reference value u stored in the memory 8, and outputs the upper limit reference value u to the upper limit reference setting circuit 14 to set it. Similarly, the initial value of the lower limit reference value d is output to the lower limit reference setting circuit 15 and set.
【００１８】ステップ２０２では、上限用基準設定回路
１４に設定した上限基準値ｕが許容上限値Ｕを超えてい
るか否か、及び下限用基準設定回路１５に設定した下限
基準値ｄが許容下限値Ｄを下回っているか否かが判断さ
れる。なお、上限基準値ｕと下限基準値ｄの範囲（幅）
は、許容上限値Ｕと許容下限値Ｄの範囲（幅）より狭く
設定されている。最初にこのステップを通過するときに
は、上限基準値ｕの初期値は許容下限値Ｕと同じ値に設
定されており、下限基準値ｄの初期値は上限基準値ｕか
ら所定量だけ小さい値に設定されているので、許容上限
値Ｕと許容下限値Ｄの範囲内に上限基準値ｕと下限基準
値ｄの範囲が設定され、肯定判定されてステップ２０３
へ進む。In step 202, it is determined whether the upper limit reference value u set in the upper limit reference setting circuit 14 exceeds the allowable upper limit value U, and whether the lower limit reference value d set in the lower limit reference setting circuit 15 is equal to the allowable lower limit value. It is determined whether it is less than D. The range (width) between the upper limit reference value u and the lower limit reference value d
Is set to be narrower than the range (width) of the allowable upper limit U and the allowable lower limit D. When passing through this step for the first time, the initial value of the upper limit reference value u is set to the same value as the allowable lower limit value U, and the initial value of the lower limit reference value d is set to a value smaller by a predetermined amount from the upper limit reference value u. Therefore, the range between the upper limit reference value u and the lower limit reference value d is set within the range between the allowable upper limit value U and the allowable lower limit value D.
Proceed to.
【００１９】ステップ２０３では、ＣＰＵ７はサーマル
ヘッドの発熱素子群１のうちひとつの発熱素子２を選択
し、この選択結果を受けて切換信号生成回路９は、選択
された発熱素子２を含む発熱装置６が増幅回路１０に入
力されるよう切換回路１１を切り換える。In step 203, the CPU 7 selects one of the heating elements 2 from the heating element group 1 of the thermal head, and upon receiving the selection result, the switching signal generating circuit 9 causes the heating apparatus including the selected heating element 2 The switching circuit 11 is switched so that 6 is input to the amplification circuit 10.
【００２０】ステップ２０４では、印字制御回路１７に
よって、選択された発熱素子２を含む発熱装置６のゲー
ト素子５を介して駆動トランジスタ４を駆動し、選択さ
れた発熱素子２に通電を行う。発熱素子２に通電を行う
と、検出抵抗３に電位が発生し、この電位（発熱素子２
の抵抗値の電圧換算値）が切換回路１１を介して増幅回
路１０に入力されて増幅された後、上限用比較回路１２
及び下限用比較回路１３に入力される。すなわち、上限
用比較回路１２及び下限用比較回路１３には、発熱素子
２の抵抗値の電圧換算値が入力されることになる。In step 204, the drive transistor 4 is driven by the print control circuit 17 via the gate element 5 of the heating device 6 including the selected heating element 2, and the selected heating element 2 is energized. When the heating element 2 is energized, a potential is generated at the detection resistor 3 and this potential (heating element 2
Is converted into a voltage by converting the resistance value into a voltage through the switching circuit 11 and amplified.
And the lower limit comparison circuit 13. That is, the voltage conversion value of the resistance value of the heating element 2 is input to the upper limit comparison circuit 12 and the lower limit comparison circuit 13.
【００２１】ステップ２０５では、上限用比較回路１２
において発熱素子２の抵抗値の電圧換算値と上限用基準
設定回路１４に設定されている上限基準値ｕが比較さ
れ、発熱素子２の抵抗値の電圧換算値が上限基準値ｕを
超えていると、カウントアップ信号が計数回路１６に出
力される。また、同様に、下限用比較回路１３において
発熱素子２の抵抗値の電圧換算値と下限用基準設定回路
１５に設定されている下限基準値ｄが比較され、発熱素
子２の抵抗値の電圧換算値が下限基準値ｄを下回ってい
ると、カウントアップ信号が計数回路１６に出力され
る。In step 205, the upper limit comparison circuit 12
Is compared with the upper-limit reference value u set in the upper-limit reference setting circuit 14, and the voltage-converted value of the resistance value of the heater element 2 exceeds the upper-limit reference value u. Then, a count-up signal is output to the counting circuit 16. Similarly, the lower-limit comparison circuit 13 compares the voltage conversion value of the resistance value of the heating element 2 with the lower-limit reference value d set in the lower-limit reference setting circuit 15, and converts the resistance value of the heating element 2 into a voltage conversion. If the value is below the lower limit reference value d, a count-up signal is output to the counting circuit 16.
【００２２】ステップ２０６では、上限用比較回路１２
あるいは下限用比較回路１３からカウントアップ信号が
計数回路１６に入力されると、計数回路１６はカウント
値Ｎを１だけインクリメントする。なお、カウント値Ｎ
の初期値は０である。In step 206, the upper limit comparison circuit 12
Alternatively, when a count-up signal is input from the lower limit comparison circuit 13 to the counting circuit 16, the counting circuit 16 increments the count value N by one. Note that the count value N
Is 0.
【００２３】続いて、ステップ２０７では、計数回路１
６においてカウントアップが行われたか否か、すなわ
ち、計数回路１６のカウント値Ｎがインクリメントされ
たか否かが判断され、肯定判断されたときにはステップ
２０８に進む。ステップ２０８では、今回通電された
（すなわち、今回選択された）発熱素子２の番号を切換
信号生成回路９のステータス等から読み取ってメモリ８
に記憶し、ステップ２０９に進む。これにより、抵抗値
の電圧換算値が上限基準値ｕと下限基準値ｄの範囲外で
ある発熱素子２の番号がメモリ８に記憶される。Subsequently, at step 207, the counting circuit 1
It is determined whether or not the count-up has been performed in 6, that is, whether or not the count value N of the counting circuit 16 has been incremented. When the determination is affirmative, the process proceeds to step 208. In step 208, the number of the heating element 2 that has been energized this time (that is, selected this time) is read from the status of the switching signal generation circuit 9 and the like, and
And the process proceeds to step 209. Thus, the number of the heating element 2 whose voltage conversion value of the resistance value is out of the range between the upper reference value u and the lower reference value d is stored in the memory 8.
【００２４】ステップ２０７で否定判断されたときに
は、直接ステップ２０９に進み、すべての発熱素子２が
選択され通電を終了したか否かが判断され、すべての発
熱素子２が選択されていなければ、ステップ２０３に進
んで、ステップ２０３からステップ２０８を繰り返し実
行する。すべての発熱素子２が選択され順次通電が終了
すると、ステップ２０９で肯定判断されるので、ステッ
プ２１０へ進む。When a negative determination is made in step 207, the process directly proceeds to step 209, in which it is determined whether all the heating elements 2 have been selected and the energization has been completed. Proceeding to step 203, steps 203 to 208 are repeatedly executed. When all the heating elements 2 are selected and the energization is sequentially terminated, an affirmative determination is made in step 209, and the process proceeds to step 210.
【００２５】ステップ２１０では、計数回路１６のカウ
ント値Ｎを読み取り、ステップ２１１でカウント値Ｎを
メモリ８に記憶する。ステップ２１２では、カウント値
Ｎが１以上であるか否かを判断し、カウント値Ｎが０で
あれば否定判断されて、ステップ２１３に進む。ステッ
プ２１３では、カウント値Ｎが０であるので、すなわ
ち、すべての発熱素子２の抵抗値の電圧換算値が上限基
準値ｕと下限基準値ｄの範囲内にあるので、すべての発
熱素子２に異常がないものと判断して、上限基準値ｕと
下限基準値ｄに基づいて発熱素子２の平均抵抗値を算出
する。例えば、発熱素子２の平均抵抗値を上限基準値ｕ
と下限基準値ｄの中央値とする。次に、ステップ２１４
に進んで、ステップ２１３で算出した発熱素子２の平均
抵抗値を用いて印字に最適な印加パルス幅を設定し、こ
のルーチンを終了する。ここで、感熱紙に与えるべき最
適な印加エネルギーは既知であるので、発熱素子２の平
均抵抗値を用いることにより、発熱素子２に加える最適
な印加パルス幅を設定することができる。In step 210, the count value N of the counting circuit 16 is read, and in step 211, the count value N is stored in the memory 8. In step 212, it is determined whether or not the count value N is 1 or more. If the count value N is 0, a negative determination is made, and the process proceeds to step 213. In step 213, since the count value N is 0, that is, since the voltage conversion values of the resistance values of all the heating elements 2 are within the range of the upper reference value u and the lower reference value d, all the heating elements 2 It is determined that there is no abnormality, and the average resistance value of the heating element 2 is calculated based on the upper reference value u and the lower reference value d. For example, the average resistance value of the heating element 2 is set to the upper limit reference value u.
And the median of the lower limit reference value d. Next, step 214
Then, the optimum pulse width for printing is set using the average resistance value of the heating element 2 calculated in step 213, and this routine ends. Here, since the optimum applied energy to be given to the thermal paper is known, the optimum applied pulse width to be applied to the heating element 2 can be set by using the average resistance value of the heating element 2.
【００２６】ステップ２１２で、カウント値Ｎが１以上
であると判断されると、いずれかの発熱素子２の抵抗値
の電圧換算値が上限基準値ｕと下限基準値ｄの範囲外で
あり、その発熱素子２が異常である可能性がある。この
ため、ステップ２１５へ進んで、上限基準値ｕ及び下限
基準値ｄから設定値を減算することにより上限基準値ｕ
と下限基準値ｄを変更するとともに計数回路１６のカウ
ント値Ｎを０にリセットして、ステップ２０２からステ
ップ２１２までの処理を繰り返し実行する。If it is determined in step 212 that the count value N is 1 or more, the voltage conversion value of the resistance value of one of the heating elements 2 is out of the range between the upper reference value u and the lower reference value d, The heating element 2 may be abnormal. Therefore, the process proceeds to step 215, in which the set value is subtracted from the upper reference value u and the lower reference value d to obtain the upper reference value u.
And the lower limit reference value d is changed, the count value N of the counting circuit 16 is reset to 0, and the processing from step 202 to step 212 is repeatedly executed.
【００２７】ステップ２０２からステップ２１２及びス
テップ２１５の繰り返し処理は、ステップ２１２で計数
回路１６のカウント値Ｎが０であり肯定判断されると、
すなわち、すべての発熱素子２の抵抗値の電圧換算値が
変更された上限基準値ｕと下限基準値ｄの範囲内に存在
すると判断されると、ステップ２１３に進んで終了す
る。また、ステップ２１２で肯定判断される前に、ステ
ップ２０２で、変更された上限基準値ｕが許容上限値Ｕ
を超えているか否かあるいは変更された下限基準値ｄが
許容下限値Ｄを下回っていると判断されると、ステップ
２１６に進む。したがって、上限基準値ｕ及び下限基準
値ｄは、許容上限値Ｕと許容下限値Ｄの範囲内において
変更されることになる。In the repetition processing of steps 202 to 212 and step 215, if the count value N of the counting circuit 16 is 0 in step 212 and the judgment is affirmative,
That is, when it is determined that the voltage conversion values of the resistance values of all the heating elements 2 are within the range between the changed upper reference value u and the changed lower reference value d, the process proceeds to step 213 and ends. In addition, before the affirmative determination is made in step 212, in step 202, the changed upper limit reference value u is set to the allowable upper limit value U.
Is determined to be less than the allowable lower limit value D, the process proceeds to step 216. Therefore, the upper limit reference value u and the lower limit reference value d are changed within the range of the allowable upper limit U and the allowable lower limit D.
【００２８】ステップ２１６では、ステップ２０２から
ステップ２１２及びステップ２１５の繰り返し処理にお
いて計数回路１６のカウント値Ｎが最も小さい処理サイ
クルにステップ２０８でメモリ６に記憶された発熱素子
２の番号を異常が発生した発熱素子２の番号としてメモ
リ６に記憶する。ステップ２１７では、いずれかの発熱
素子２に異常が発生したと判断してエラー処理（例え
ば、異常信号の出力）を行いこのルーチンを終了する。In step 216, in the processing cycle in which the count value N of the counting circuit 16 is the smallest in the repetitive processing of steps 202 to 212 and step 215, the number of the heating element 2 stored in the memory 6 in step 208 becomes abnormal. The number of the generated heating element 2 is stored in the memory 6. In step 217, it is determined that an abnormality has occurred in any one of the heating elements 2, and error processing (for example, output of an abnormality signal) is performed, and this routine ends.
【００２９】図３は基準上限値ｕ及び基準下限値ｄの変
更範囲を示す図である。許容上限値Ｕは発熱素子２の平
均抵抗値における許容上限電圧換算値であり、許容下限
値Ｄは発熱素子２の平均抵抗値における許容下限電圧換
算値である。上限基準値ｕ及び下限基準値ｄは許容上限
値Ｕと許容下限値Ｄの範囲より小さい範囲に設定されて
おり、上限基準値ｕと下限基準値ｄの範囲内にすべての
発熱素子２の抵抗値の電圧換算値が存在するか否かを、
ステップ２０２からステップ２１２を実行して判断す
る。また、ステップ２１５における上限基準値ｕ及び下
限基準値ｄの変更は、図３（ａ）に示すように、上限基
準値ｕ及び下限基準値ｄから設定値を減算することに行
われる。FIG. 3 is a diagram showing a change range of the reference upper limit value u and the reference lower limit value d. The allowable upper limit value U is an allowable upper limit voltage conversion value in the average resistance value of the heating element 2, and the allowable lower limit value D is an allowable lower limit voltage conversion value in the average resistance value of the heating element 2. The upper limit reference value u and the lower limit reference value d are set to be smaller than the range between the allowable upper limit value U and the allowable lower limit value D, and the resistances of all the heating elements 2 fall within the range between the upper limit reference value u and the lower limit reference value d. Whether the voltage conversion value of the value exists
A determination is made by executing steps 202 to 212. The change of the upper reference value u and the lower reference value d in step 215 is performed by subtracting the set values from the upper reference value u and the lower reference value d, as shown in FIG.
【００３０】許容上限値Ｕと許容下限値Ｄの範囲内で、
すべての発熱素子２の抵抗値の電圧換算値が上限基準値
ｕと下限基準値ｄの範囲内になる上限基準値ｕと下限基
準値ｄが存在すれば、その上限基準値ｕと下限基準値ｄ
に基づいて発熱素子２の平均抵抗値が算出できる。これ
により、この平均抵抗値を用いて印字に最適な印加パル
ス幅を求めることが可能になる。例えば、図３（ｂ）に
示すように、サーマルヘッド１の発熱素子２の抵抗値の
電圧換算値が実線のような場合、すべての発熱素子２の
抵抗値の電圧換算値は、上限基準値ｕ１と下限基準値ｄ
１の範囲内に存在しないが、上限基準値ｕ２と下限基準
値ｄ２の範囲内に存在するので、上限基準値ｕ２と下限
基準値ｄ２に基づいて発熱素子２の平均抵抗値を算出す
ることができる。Within the range of the allowable upper limit U and the allowable lower limit D,
If there is an upper reference value u and a lower reference value d in which the voltage conversion values of the resistance values of all the heating elements 2 fall within the range of the upper reference value u and the lower reference value d, the upper reference value u and the lower reference value d d
, The average resistance value of the heating element 2 can be calculated. As a result, it is possible to obtain an optimum applied pulse width for printing using the average resistance value. For example, as shown in FIG. 3B, when the voltage conversion value of the resistance value of the heating element 2 of the thermal head 1 is as shown by a solid line, the voltage conversion value of the resistance value of all the heating elements 2 is the upper reference value. u1 and lower limit reference value d
1, but exists within the range of the upper reference value u2 and the lower reference value d2. Therefore, it is possible to calculate the average resistance value of the heating element 2 based on the upper reference value u2 and the lower reference value d2. it can.
【００３１】また、許容上限値Ｕと許容下限値Ｄの範囲
内で、すべての発熱素子２の抵抗値の電圧換算値が上限
基準値ｕと下限基準値ｄの範囲内になる上限基準値ｕと
下限基準値ｄが存在しなければ、いずれかの発熱素子２
が異常であり、ドット抜け等の異常としてエラー処理が
行われる。この際、メモリ８には異常が発生している発
熱素子２の番号が記憶されているので、異常が発生して
いる発熱素子２を特定することが容易に行える。Further, within the range of the allowable upper limit value U and the allowable lower limit value D, the voltage conversion values of the resistance values of all the heating elements 2 fall within the range of the upper limit reference value u and the lower limit reference value d. If the lower reference value d does not exist, one of the heating elements 2
Are abnormal, and error processing is performed as abnormalities such as missing dots. At this time, since the number of the heating element 2 in which the abnormality has occurred is stored in the memory 8, the heating element 2 in which the abnormality has occurred can be easily specified.
【００３２】以上説明したように、本実施の形態によれ
ば、発熱素子２の異常が検出されると、異常が発生した
発熱素子２の番号がメモリ８に記憶される。したがっ
て、サーマルヘッド１の修理、点検あるいは調整等を行
う際には、メモリ８に記憶されている発熱素子２の番号
を読み出すことにより、異常が発生している発熱素子２
を容易に特定することが可能になる。また、複数の発熱
素子２に順次通電を行い、切換回路１１によって発熱素
子２の抵抗値の電圧換算値を上限用比較回路１２及び下
限用比較回路１３へ順次入力する構成なので、上限用比
較回路１２及び下限用比較回路１３を複数の発熱素子２
で共有することが可能になる。これによって、上限用比
較回路１２及び下限用比較回路１３の数を減らすことが
できる。As described above, according to the present embodiment, when an abnormality of the heating element 2 is detected, the number of the heating element 2 in which the abnormality has occurred is stored in the memory 8. Therefore, when the thermal head 1 is repaired, inspected, adjusted, or the like, by reading the number of the heating element 2 stored in the memory 8, the heating element 2 in which an abnormality has occurred is read.
Can be easily specified. Further, since the plurality of heating elements 2 are sequentially energized, and the voltage conversion value of the resistance value of the heating elements 2 is sequentially input to the upper limit comparison circuit 12 and the lower limit comparison circuit 13 by the switching circuit 11, the upper limit comparison circuit is provided. 12 and the lower limit comparison circuit 13 are connected to a plurality of heating elements 2.
It becomes possible to share with. As a result, the number of upper limit comparator circuits 12 and lower limit comparator circuits 13 can be reduced.
【００３３】さらに、発熱素子２の抵抗値の電圧換算値
が上限基準値ｕと下限基準値ｄの範囲内に存在すれば、
その発熱素子２は正常であると判断される。したがっ
て、各々の発熱素子２の抵抗値が多少ばらついても、発
熱素子２の異常を誤判断することを防止できる。また、
すべての発熱素子２の抵抗値が正常である場合に、その
正常な抵抗値範囲を表わす上限基準値ｕと下限基準値ｄ
から発熱素子２の平均抵抗値を求めることができ、発熱
素子２に印加すべき最適な印加パルス幅を設定すること
ができる。Further, if the voltage conversion value of the resistance value of the heating element 2 is within the range between the upper reference value u and the lower reference value d,
The heating element 2 is determined to be normal. Therefore, even if the resistance value of each heating element 2 varies to some extent, it is possible to prevent erroneous determination of an abnormality of the heating element 2. Also,
When the resistance values of all the heating elements 2 are normal, the upper reference value u and the lower reference value d representing the normal resistance value range.
Thus, the average resistance value of the heating element 2 can be determined from the above, and the optimum pulse width to be applied to the heating element 2 can be set.
【００３４】本発明は上述の実施の形態に限定されるも
のでなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形
が可能である。例えば、上述の実施の形態は感熱記録式
のサーマルヘッドについて説明したが、熱転写式のサー
マルヘッドでもよい。また、上述の実施の形態では切換
回路１１をひとつ設けすべての発熱素子２に対して上限
用比較回路１２と下限用比較回路１３を共有していた
が、図４に示すように、切換回路１１、上限用比較回路
１２及び下限用比較回路１３を発熱素子２のブロック単
位で複数設けて処理を行えば、より高速な処理が可能に
なる。The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, in the above embodiment, a thermal recording type thermal head has been described, but a thermal transfer type thermal head may be used. In the above-described embodiment, one switching circuit 11 is provided, and the upper limit comparing circuit 12 and the lower limit comparing circuit 13 are shared for all the heating elements 2. However, as shown in FIG. If a plurality of upper limit comparison circuits 12 and lower limit comparison circuits 13 are provided for each block of the heating element 2 and processing is performed, higher-speed processing can be performed.
【００３５】さらに、ステップ２０１において、メモリ
８から読み出す上限基準値ｕ及び下限基準値ｄの初期値
は、前回の異常検出・調整モード処理時の際に計数回路
１６のカウント値Ｎが０になった、すなわち、すべての
発熱素子２の抵抗値の電圧換算値が上限基準値ｕと下限
基準値ｄの範囲内になった上限基準値ｕと下限基準値ｄ
の値であってもよい。これにより、ステップ２１２で初
回に否定判断される可能性が高くなり、処理の高速化を
図れる。また、ステップ２１５における上限基準値ｕ及
び下限基準値ｄの変更は、上限基準値ｕと下限基準値ｄ
の範囲から外れた発熱素子２が存在する方向に設定値を
加減算することによっても、処理の高速化を図ることが
できる。Further, in step 201, the initial value of the upper limit reference value u and the lower limit reference value d read from the memory 8 is such that the count value N of the counting circuit 16 becomes 0 during the previous abnormality detection / adjustment mode processing. That is, the upper reference value u and the lower reference value d in which the voltage conversion values of the resistance values of all the heating elements 2 fall within the range of the upper reference value u and the lower reference value d.
May be used. As a result, the possibility that a negative determination is made for the first time in step 212 is increased, and the processing can be speeded up. The change of the upper reference value u and the lower reference value d in step 215 is performed by changing the upper reference value u and the lower reference value d.
The processing speed can also be increased by adding or subtracting the set value in the direction in which the heating element 2 is out of the range.
【００３６】なお、上述の実施の形態において、ＣＰＵ
２及び印字制御回路１７が発熱素子駆動手段に相当し、
切換回路１１及び増幅回路１０が抵抗値検出手段に相当
し、上限用比較回路１２及び下限用比較回路１３が比較
判断手段に相当する。また、図２のステップ２１５及び
２０２が基準値変更手段に相当する。In the above-described embodiment, the CPU
2 and the print control circuit 17 correspond to a heating element driving unit,
The switching circuit 11 and the amplifying circuit 10 correspond to resistance value detecting means, and the upper limit comparing circuit 12 and the lower limit comparing circuit 13 correspond to comparison determining means. Steps 215 and 202 in FIG. 2 correspond to reference value changing means.
【００３７】[0037]
【発明の効果】請求項１の発明によれば、異常検出手段
によって発熱素子の異常が検出されると、記憶手段は異
常が検出された発熱素子を記憶するので、サーマルヘッ
ドの修理、点検あるいは調整等を行う際には、記憶手段
に記憶されている発熱素子を読み出すことにより、異常
が発生している発熱素子を容易に特定することが可能に
なる。According to the first aspect of the present invention, when an abnormality of the heating element is detected by the abnormality detecting means, the storage means stores the heating element in which the abnormality has been detected. When performing adjustment or the like, by reading out the heating elements stored in the storage means, it is possible to easily identify the heating element in which an abnormality has occurred.
【００３８】請求項２の発明によれば、請求項１の発明
の効果に加えて、複数の発熱素子に順次通電を行い、発
熱素子の抵抗値に対応するパラメータを順次検出する構
成なので、発熱素子の抵抗値に対応するパラメータを基
準値と比較するための回路あるいは装置等を複数の発熱
素子で共有することが可能にり、回路あるいは装置の数
を低減することができる。請求項３の発明よれば、さら
に、発熱素子の抵抗値に対応するパラメータが上限基準
値と下限基準値の範囲内に存在すればその発熱素子は正
常であると判断されるので、各々の発熱素子の抵抗値が
多少ばらついても、発熱素子の異常を誤判断することを
防止できる。According to the second aspect of the present invention, in addition to the effect of the first aspect, since a plurality of heating elements are sequentially energized and a parameter corresponding to a resistance value of the heating element is sequentially detected, the heat generation is performed. A circuit or device for comparing a parameter corresponding to the resistance value of an element with a reference value can be shared by a plurality of heating elements, and the number of circuits or devices can be reduced. According to the third aspect of the present invention, if the parameter corresponding to the resistance value of the heating element is within the range between the upper reference value and the lower reference value, the heating element is determined to be normal. Even if the resistance values of the elements vary to some extent, it is possible to prevent erroneous determination of an abnormality of the heating element.
【００３９】請求項４の発明によれば、すべての発熱素
子の抵抗値が正常である場合に、その正常な抵抗値範囲
を表わす上限基準値と下限基準値から発熱素子の平均抵
抗値を求めることができ、発熱素子に印加すべき最適な
印加パルス幅を決定することが容易になる。According to the fourth aspect of the invention, when the resistance values of all the heating elements are normal, the average resistance value of the heating elements is determined from the upper reference value and the lower reference value representing the normal resistance value range. This makes it easy to determine the optimum applied pulse width to be applied to the heating element.
【図１】本発明の実施の形態を表わすブロック図であ
る。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
【図２】本発明の実施の形態の動作を表わすフローチャ
ートである。FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the embodiment of the present invention.
【図３】基準上限値ｕ及び基準下限値ｄの変更範囲を示
す図でる。FIG. 3 is a diagram showing a change range of a reference upper limit value u and a reference lower limit value d.
【図４】本発明の他の実施の形態を表わすブロック図で
ある。FIG. 4 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.
【図５】サーマルヘッドの発熱素子の異常を検出する従
来技術の説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a conventional technique for detecting an abnormality of a heating element of a thermal head.
【図６】サーマルヘッドの発熱素子の異常を検出する従
来技術の説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of a conventional technique for detecting an abnormality of a heating element of a thermal head.
１ 発熱素子群 ２ 発熱素子 ６ 発熱装置 ７ ＣＰＵ（中央処理装置） ８ メモリ ９ 切換信号生成回路 １１ 切換回路 １２ 上限用比較回路 １３ 下限用比較回路 １４ 上限用基準設定回路 １５ 下限用基準設定回路 １６ 計数回路 １７ 印字制御回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Heating element group 2 Heating element 6 Heating device 7 CPU (Central processing unit) 8 Memory 9 Switching signal generation circuit 11 Switching circuit 12 Upper limit comparison circuit 13 Lower limit comparison circuit 14 Upper limit reference setting circuit 15 Lower limit reference setting circuit 16 Counting circuit 17 Print control circuit
Claims (3)
常を検出する異常検出手段とを有するサーマルヘッドの
駆動制御装置において、 前記異常検出手段が、 発熱素子に順次通電を行う発熱素子駆動手段と、 通電された発熱素子の抵抗値に対応するパラメータを順
次検出する抵抗値検出手段と、 この抵抗値検出手段で検出された発熱素子の抵抗値に対
応するパラメータを基準値と比較し、すべての発熱素子
の抵抗値に対応するパラメータが上限基準値と下限基準
値の範囲内にあるか否かを判断する比較判断手段と、 この比較判断手段によって、少なくともひとつの発熱素
子の抵抗値に対応するパラメータが上限基準値と下限基
準値の範囲内にないと判断されたときに、許容上限値と
許容下限値の範囲内において上限基準値と下限基準値を
変更する基準値変更手段とを備え、 この基準値変更手段によって上限基準値と下限基準値を
変更してもすべての発熱素子の抵抗値に対応するパラメ
ータが上限基準値と下限基準値の範囲内にないときに
は、上限基準値と下限基準値の範囲内にない発熱素子が
異常であるとする ことを特徴とするサーマルヘッド駆動
制御装置。A plurality of heating elements and a difference between these heating elements.
Of a thermal head having abnormality detecting means for detecting
In the drive control device, the abnormality detecting means sequentially performs a heating element driving means for sequentially energizing the heating element and a parameter corresponding to a resistance value of the energized heating element.
The resistance value detecting means to be detected next and the resistance value of the heating element detected by the resistance value detecting means
Compare the corresponding parameter with the reference value and
The parameters corresponding to the resistance values are the upper reference value and the lower reference value.
A comparison judging means for judging whether the value is within the range of the value, and at least one heating element by the comparison judging means.
The parameter corresponding to the resistance value of the
If it is determined that the value is not within the standard value range,
Set the upper and lower reference values within the allowable lower limit.
Reference value changing means for changing the upper reference value and the lower reference value by the reference value changing means.
Even if changed, the parameters corresponding to the resistance values of all the heating elements
Data is not within the range between the upper reference value and the lower reference value.
Means that the heating elements that are not within the range between the upper reference value and the lower reference value are
A thermal head drive control device characterized as being abnormal .
装置において、 前記 比較判断手段によって、すべての発熱素子の抵抗値
に対応するパラメータが上限基準値と下限基準値の範囲
内にあると判断されたときには、上限基準値と下限基準
値に基づいて発熱素子の平均抵抗値を求めることを特徴
とするサーマルヘッド駆動制御装置。 2. The thermal head drive control according to claim 1,
In the apparatus, by the comparative determination unit, when the corresponding parameter in the resistance values of all of the heating elements is determined to be within the scope of the upper and lower reference values, based on the upper and lower reference values fever A thermal head drive control device for determining an average resistance value of an element.
駆動制御装置において、 異常検出手段により異常が検出された発熱素子を記憶す
る記憶手段とを備える ことを特徴とするサーマルヘッド
駆動制御装置。3. A thermal head according to claim 1, wherein :
In the drive control device, the heating element in which the abnormality is detected by the abnormality detecting means is stored.
The thermal head drive control apparatus characterized by comprising a storage unit that.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP15999197A JP3082713B2 (en) | 1997-06-17 | 1997-06-17 | Thermal head drive controller |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15999197A JP3082713B2 (en) | 1997-06-17 | 1997-06-17 | Thermal head drive controller |
Publications (2)
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|---|---|
| JPH115324A JPH115324A (en) | 1999-01-12 |
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ID=15705623
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| JP15999197A Expired - Fee Related JP3082713B2 (en) | 1997-06-17 | 1997-06-17 | Thermal head drive controller |
Country Status (1)
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|---|---|
| JP (1) | JP3082713B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2546722C1 (en) * | 2012-09-27 | 2015-04-10 | Рикох Компани, Лтд. | Temperature sensor malfunction identification method and imager based on it |
Families Citing this family (1)
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|---|---|---|---|---|
| US7510255B2 (en) | 2001-08-30 | 2009-03-31 | Seiko Epson Corporation | Device and method for detecting temperature of head driver IC for ink jet printer |
-
1997
- 1997-06-17 JP JP15999197A patent/JP3082713B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2546722C1 (en) * | 2012-09-27 | 2015-04-10 | Рикох Компани, Лтд. | Temperature sensor malfunction identification method and imager based on it |
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| JPH115324A (en) | 1999-01-12 |
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