JP3058274B1 - 平面研磨装置 - Google Patents

平面研磨装置

Info

Publication number
JP3058274B1
JP3058274B1 JP5019299A JP5019299A JP3058274B1 JP 3058274 B1 JP3058274 B1 JP 3058274B1 JP 5019299 A JP5019299 A JP 5019299A JP 5019299 A JP5019299 A JP 5019299A JP 3058274 B1 JP3058274 B1 JP 3058274B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polishing
polishing tool
annular
workpiece
tool
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP5019299A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000246625A (ja
Inventor
眞成 三橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP5019299A priority Critical patent/JP3058274B1/ja
Priority to US09/340,184 priority patent/US6093088A/en
Priority to CN99109433A priority patent/CN1128695C/zh
Priority to KR1019990025704A priority patent/KR100336933B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of JP3058274B1 publication Critical patent/JP3058274B1/ja
Publication of JP2000246625A publication Critical patent/JP2000246625A/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

【要約】 【課題】 平面研磨加工の高精度を維持しつつ装置全体
を更に確実に小型化し得る平面研磨装置を提供するこ
と。 【解決手段】 環状研磨工具2と、この環状研磨工具2
A上に載置される被加工物10を環状研磨工具2側に加
圧すると共に当該被加工物10と一体的に移動する円盤
状加圧部材11と、環状研磨工具2が回転した場合に被
加工物10および加圧部材11が回転するのを許容する
と共に被加工物10および円盤状加圧部材11が環状研
磨工具2と共に移動するのを阻止して所定の被研磨位置
を保持する研磨位置保持機構13とを備えている。そし
て、環状研磨工具2の外径を、被加工物10の外接円の
直径より大きく且つ当該被加工物10の外接円の直径の
二倍より小さい値に設定したこと。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平面研磨装置に係
り、特に、半導体ウエハ,半導体回路を付したウエハ,
磁気ディスク等の円板状の被加工物を、或いはガラス基
板等の板状の被加工物を、それぞれ高度の平滑度をもっ
て平面加工するための平面研磨装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、環状の研磨加工面を有する環状研
磨工具を用いた平面研磨では、環状研磨工具を回転させ
て平面研磨する性質上より、加工対象物の大きさに制限
があった。即ち、環状研磨工具の回転中心から一方の側
(半径方向の側)に位置する研磨工具面の幅を基準と
し、それより小さい直径の被加工物に限定して、平面研
磨が行われていた。
【0003】図6(a)(b)に従来例を示す。この図
6(a)(b)に示す従来例では、ターンテーブル10
1上に一定厚さの環状研磨工具102が装備されてい
る。この環状研磨工具102の直径D0は、ターンテー
ブル101と同一直径D0のものが使用されている。記
号d0は、環状研磨工具102の内径(中央部の貫通
穴)部分の直径を示す。又、記号wは、環状研磨工具1
02の半径方向における研磨工具面102Aの幅を示
す。この図4の場合には、研磨工具面の幅wは、w=
(D0 ―d0)/2となっている。
【0004】符号100は、研磨工具面102A上に載
置された円盤状の被加工物を示す。この被加工物100
は、その直径K0が環状研磨工具102の研磨工具面の
幅wより小さいものが研磨加工の対象とされている。
【0005】そして、この被加工物100は、同一直径
の円板状の加圧保持板201によって前述した環状研磨
工具102側に常時押圧された状態(適度の研磨用加圧
力が印加された状態)となっている。又、この図6に示
す従来例では、被加工物100と同一の直径K0を有す
る加圧保持板201が使用されている。
【0006】この加圧保持板201は、前述した被加工
物100を環状研磨工具102側に押圧すると同時に当
該環状研磨工具102にて被加工物100と一体的に回
転し且つ移動可能となっている。また、符号202は、
加圧保持板201および被加工物100を研磨工具面1
02A上の所定位置に位置するように設定し保持する研
磨位置保持機構を示す。
【0007】そして、被加工物100の研磨加工に際
し、まず、ターンテーブル101が図示しない駆動モー
タに付勢されて矢印Rの方向に回転すると、研磨工具面
102A上に載置された被加工物100は、環状研磨工
具102と共に回転移動しようとするが、研磨位置保持
機構202に阻止されて図に示す位置に留め置きされ
る。
【0008】同時に、環状研磨工具102の中心軸側と
外径側との周速度の相違から図6(b)に示すように、
研磨工具面102A上で且つ加圧保持板201に加圧さ
れた状態で矢印C方向に回転する。このため、当該研磨
工具面102Aとの間で擦り合わせ状態が生じ、これに
よって、被加工物100は環状研磨工具102により高
精度に且つ一様に研磨されることとなる。
【0009】又、研磨工具は、使用回数が増えるにつれ
て摩耗し、凹凸又は表面荒れを生ずる。そこで、近年、
ドレッサにより目出しを行い、研磨工具面を削りとるこ
とによって、平滑な研磨工具面を作成して高度に平滑な
研磨を行うという試みがなされている。一方、特開平7
−130688号公報では、常に清浄な状態で研磨を行
うために、研磨工程と洗浄工程を交互に繰り返し行うと
いう試みがなされている。そして、研磨に用いる研磨液
は、通常、研磨工具面の一部に滴らすか、スプレー等で
研磨工具面全体に吹き付ける等の操作を行うのが通例と
なっている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来例では、環状研磨工具102の半径方向における
研磨工具面102Aの幅wより小さい直径K0の被加工
物100を対象として加工していたことから、当該円板
状被加工物100の直径が大きくなるにしたがって、環
状研磨工具102の大きさも巨大化せざるをえないとい
う不都合が生じていた。
【0011】また、一個所に円板状被加工物100が固
定されて研磨されると、接触する研磨工具面が繰り返し
使われることになり、傷などが入ることが多かった。更
に、高度に平滑な平面研磨を行うために円板状ドレッサ
を用いて平坦な研磨工具面を作り出す場合、円板状ドレ
ッサの直径は、多くは研磨工具面102Aの幅より小さ
いことから、研磨工具面102Aの一部だけが削り取ら
れてしまうという不都合があった。
【0012】更に、常に清浄な状態で研磨を行うことを
意図して、円板状被加工物100に研磨工程と洗浄工程
を繰り返し交互に行う場合があるが、かかる場合には工
程が増え、時間がかかるという不都合が生じていた。
【0013】また、研磨工具面102Aの一部に研磨液
を滴らすか又は全体に研磨液をスプレーする場合には、
一部だけに研磨液が溜まるか又は研磨工具面102A以
外の例えば空気中などにも研磨液が飛び散り、研磨液の
使用効率が悪いという不都合が生じていた。
【0014】
【発明の目的】本発明は、かかる従来例の有する不都合
を改善し、特に、平面研磨加工の高精度を維持しつつ装
置全体を更に確実に小型化し得る平面研磨装置を提供す
ることを、その目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の発明では、研磨工具面が環状の環状
研磨工具と、この環状研磨工具上に載置される被加工物
を環状研磨工具側に一様に押圧(加圧)すると共に当該
被加工物と一体的に移動する円盤状加圧部材と、環状研
磨工具が回転した場合に被加工物および円盤状加圧部材
が回転するのを許容し,且つ当該被加工物および当該
盤状加圧部材が前述した環状研磨工具と共に移動するの
を阻止して所定の被研磨位置を保持する研磨位置保持機
構とを備えて成る平面研磨装置において、前述した環状
研磨工具の外径を、被加工物の外接円の直径より大きく
且つ当該被加工物の外接円の直径の二倍より小さい値に
設定する。更に、前述した研磨位置保持機構が、環状研
磨工具と被加工物との接触面積の中心位置に対して当該
被加工物の重心位置を一致させ且つ当該位置を保持する
被加工物用重心位置設定機能を備えている、という構成
を採っている。
【0016】このため、この請求項1記載の発明では、
装備全体を稼働状態に設定すと、まず、前述した従来
例の場合と同様に環状研磨工具が図1のイ方向に示す方
向に回転する。同時に研磨工具面上の被加工物および円
盤状加圧部材も同方向に回転しようとするが、研磨位置
保持機構に当該移動が阻止され、図1に図示した所定位
置に留めおかれる。この場合、被加工物と研磨工具面と
の間に、所定の摩擦が生じ、内径側と外径側との回転周
速度の相違により被加工物は、自ら回転する。回転によ
り、被加工物の直径が研磨工具面の半径方向の幅よりも
大きくても、はみ出た部分も順次研磨工具面に当接しす
り合わされることとなり、これによって被加工物は円滑
に研磨される。更に、図3に図示した通り、環状研磨工
具と被加工物との接触面積の中心位置(図心)と、当該
被加工物の重心位置を一致するようにしたので、被加工
物の被加工面が研磨工具面に、より多く当接することと
なり、これにより研磨加工を安定した状態で高精度に且
つ能率よく継続すること(つまり研磨効率をより高める
こと)ができるという利点がある。即ち、この請求項1
記載の発明では、被加工物の直径が研磨工具面の半径方
向の幅よりも大きくても、被加工物を有効に研磨加工す
ることができ、かかる点において、装置全体を確実に小
型化することができる。更に、環状研磨工具と被加工物
との接触面積の中心位置(図心)と、被加工物の重心位
置が一致している為、、環状研磨工具の直径を従来の環
状研磨工具の直径より小さくしても、研磨効率を、より
高めることができるという利点がある。
【0017】 請求項2記載の発明では、研磨工具面が環
状の環状研磨工具と、この環状研磨工具上に載置される
被加工物を環状研磨工具側に一様に加圧すると共に当該
被加工物と一体的に移動する円盤状加圧部材と、環状研
磨工具が回転した場合に被加工物および円盤状加圧部材
が回転するのを許容し,且つ当該被加工物および当該円
盤状加圧部材が前述した環状研磨工具と共に移動するの
を阻止して所定の被研磨位置を保持する研磨位置保持機
構とを備えて成る平面研磨装置において、前述した環状
研磨工具の外径を、被加工物の外接円の直径より大きく
且つ当該被加工物の外接円の直径の二倍より小さい値に
設定する。更に、前述した環状研磨工具の研磨工具面上
に当該研磨工具面の幅より大きい直径を有する円板状ド
レッサを配設すると共に、この円板状ドレッサを、環状
研磨工具の回転方向に対して被加工物の上流側に配設す
る、という構成を採っている。このため、この請求項2
記載の発明では、装備全体を稼働状態に設定すると、ま
ず、前述した従来例の場合と同様に環状研磨工具が図1
のイ方向に示す方向に回転する。同時に研磨工具面上の
被加工物および円盤状加圧部材も同方向に回転しようと
するが、研磨位置保持機構に当該移動が阻止され、図1
に図示した所定位置に留めおかれる。この場合、被加工
物と研磨工具面との間に、所定の摩擦が生じ、内径側と
外径側との回転周速度の相違により被加工物は、自ら回
転する。回転により、被加工物の直径が研磨工具面の半
径方向の幅よりも大きくても、はみ出た部分も順次研磨
工具面に当接しすり合わされることとなり、これによっ
て被加工物は円滑に研磨される。更に、環状研磨工具の
研磨工具面の目詰まりという事態を回避することがで
き、当該研磨工具面を常に新規な状態に維持し得ること
ができる。かかる点において装置全体を確実に小型化で
き,且つ被加工物の研磨作業を効率良く継続することが
できるという利点がある。
【0018】 請求項3記載の発明では、研磨工具面が環
状の環状研磨工具と、この環状研磨工具上に載置される
被加工物を環状研磨工具側に一様に加圧すると共に当該
被加工物と一体的に移動する円盤状加圧部材と、環状研
磨工具が回転した場合に被加工物および円盤状加圧部材
が回転するのを許容し,且つ当該被加工物および当該円
盤状加圧部材が前述した環状研磨工具と共に移動するの
を阻止して所定の被研磨位置を保持する研磨位置保持機
構とを備えて成る平面研磨装置において、前述した環状
研磨工具の外径を、被加工物の外接円の直径より大きく
且つ当該被加工物の外接円の直径の二倍より小さい値に
設定する。そして、前述した研磨位置保持機構が、被加
工物および円盤状加圧部材の回転中心を、環状研磨工具
の研磨工具面上の任意の位置に可変設定し保持する研磨
位置可変設定機能を備えている。更に、前述した環状研
磨工具の研磨工具面上に当該研磨工具面の幅より大きい
直径を有する円板状ドレッサを配設すると共に、この円
板状ドレッサを、環状研磨工具の回転方向に対して被加
工物の上流側に配設する、という構成を採っている。こ
のため、この請求項3記載の発明では、装備全体を稼働
状態に設定すると、まず、前述した従来例の場合と同様
に環状研磨工具が図1のイ方向に示す方向に回転する。
同時に研磨工具面上の被加工物および円盤状加圧部材も
同方向に回転しようとするが、研磨位置保持機構に当該
移動が阻止され、図1に図示した所定位置に留めおかれ
る。この場合、被加工物と研磨工具面との間に、所定の
摩擦が生じ、内径側と外径側との回転周速度の相違によ
り被加工物は、自ら回転する。回転により、被加工物の
直径が研磨工具面の半径方向の幅よりも大きくても、は
み出た部分も順次研磨工具面に当接しすり合わされるこ
ととなり、これによって被加工物は円滑に研磨される。
そして、被加工物および円盤状加圧部材を研磨工具面上
の任意の位置に可変設定し得ることから、被加工物の大
きさ等に応じた最適な研磨加工の位置を個別に選定する
ことができ、また、必要に応じて研磨工具面上を揺動さ
せることができる。更に、環状研磨工具の研磨工具面の
目詰まりという事態を回避することができ、当該研磨工
具面を常に新規な状態に維持し得ることができる。かか
る点において装置全体を確実に小型化でき,且つ被加工
物の研磨加工に際しての汎用性を高めることができ、更
に、被加工物の研磨作業を効率良く継続することができ
るという利点がある。
【0019】 請求項4記載の発明では、前述した請求項
1記載の平面研磨装置において、前述した環状研磨工具
の研磨工具面上に当該研磨工具面の幅より大きい直径を
有する円板状ドレッサを配設すると共に、この円板状ド
レッサを、環状研磨工具の回転方向に対して被加工物の
上流側に配設する、という構成を採っている。このた
め、この請求項4記載の発明では、前述した請求項1記
載の発明と同等の機能を有するほか、更に、環状研磨工
具の研磨工具面の目詰まりという事態を回避することが
でき、当該研磨工具面を常に新規な状態に維持し得るこ
とができ、これがため、被加工物の研磨作業を効率良く
継続することが可能となる。
【0020】 請求項5記載の発明では、研磨工具面が環
状の環状研磨工具と、この環状研磨工具上に載置される
被加工物を環状研磨工具側に一様に加圧すると共に当該
被加工物と一体的に移動する円盤状加圧部材と、環状研
磨工具が回転した場合に被加工物および円盤状加圧部材
が回転するのを許容し,且つ当該被加工物および当該円
盤状加圧部材が前述した環状研磨工具と共に移動するの
を阻止して所定の被研磨位置を保持する研磨位置保持機
構とを備えて成る平面研磨装置において、前述した環状
研磨工具の外径を、被加工物の外接円の直径より大きく
且つ当該被加工物の外接円の直径の二倍より小さい値に
設定する。更に、前述した環状研磨工具の研磨工具面上
に、所定間隔を隔てて当該環状研磨工具の研磨工具面上
に研磨液を供給する複数の液噴射ノズルを備えた研磨液
供給機構を装備すると共に該環状研磨工具の研磨工具面
上から使用済の研磨液を吸引し収集する研磨液吸引機構
を、それぞれ装備する。そして、研磨液供給機構を環状
研磨工具の回転方向に対し被加工物の上流側に配設する
と共に、研磨液吸引機構を環状研磨工具の回転方向に対
し前述した被加工物の下流側に配設する、という構成を
採っている。
【0021】 このため、この請求項5記載の発明では、
装備全体を稼働状態に設定すると、まず、前述した従来
例の場合と同様に環状研磨工具が図1のイ方向に示す方
向に回転する。同時に研磨工具面上の被加工物および円
盤状加圧部材も同方向に回転しようとするが、研磨位置
保持機構に当該移動が阻止され、図1に図示した所定位
置に留めおかれる。この場合、被加工物と研磨工具面と
の間に、所定の摩擦が生じ、内径側と外径側との回転周
速度の相違により被加工物は、自ら回転する。回転によ
り、被加工物の直径が研磨工具面の半径方向の幅よりも
大きくても、はみ出た部分も順次研磨工具面に当接しす
り合わされることとなり、これによって被加工物は円滑
に研磨される。更に、使用済の研磨液が研磨工具面上に
留まるという事態を回避することができ、これがため、
常に当初の研磨加工の加工条件を維持することができ
る。かかる点において装置全体を確実に小型化でき,且
つ研磨加工を長時間にわたって高精度に継続することが
できるという利点がある。
【0022】 請求項6記載の発明では、研磨工具面が環
状の環状研磨工具と、この環状研磨工具上に載置される
被加工物を環状研磨工具側に一様に加圧すると共に当該
被加工物と一体的に移動する円盤状加圧部材と、環状研
磨工具が回転した場合に被加工物および円盤状加圧部材
が回転するのを許容し,且つ当該被加工物および当該円
盤状加圧部材が前述した環状研磨工具と共に移動するの
を阻止して所定の被研磨位置を保持する研磨位置保持機
構とを備えて成る平面研磨装置において、前述した環状
研磨工具の外径を、被加工物の外接円の直径より大きく
且つ当該被加工物の外接円の直径の二倍より小さい値に
設定する。そして、前述した研磨位置保持機構が、被加
工物および円盤状加圧部材の回転中心を、環状研磨工具
の研磨工具面上の任意の位置に可変設定し保持する研磨
位置可変設定機能を備えている。更に、前述した環状研
磨工具の研磨工具面上に、所定間隔を隔てて当該環状研
磨工具の研磨工具面上に研磨液を供給する複数の液噴射
ノズルを備えた研磨液供給機構を装備すると共に該環状
研磨工具の研磨工具面上から使用済の研磨液を吸引し収
集する研磨液吸引機構を、それぞれ装備する。そして、
研磨液供給機構を環状研磨工具の回転方向に対し被加工
物の上流側に配設すると共に、研磨液吸引機構を環状研
磨工具の回転方向に対し前述した被加工物の下流側に配
設する、という構成を採っている。
【0023】 このため、この請求項6記載の発明では、
装備全体を稼働状態に設定すると、まず、前述した従来
例の場合と同様に環状研磨工具が図1のイ方向に示す方
向に回転する。同時に研磨工具面上の被加工物および円
盤状加圧部材も同方向に回転しようとするが、研磨位置
保持機構に当該移動が阻止され、図1に図示した所定位
置に留めおかれる。この場合、被加工物と研磨工具面と
の間に、所定の摩擦が生じ、内径側と外径側との回転周
速度の相違により被加工物は、自ら回転する。回転によ
り、被加工物の直径が研磨工具面の半径方向の幅よりも
大きくても、はみ出た部分も順次研磨工具面に当接しす
り合わされることとなり、これによって被加工物は円滑
に研磨される。そして、被加工物および円盤状加圧部材
を研磨工具面上の任意の位置に可変設定し得ることか
ら、被加工物の大きさ等に応じた最適な研磨加工の位置
を個別に選定することができ、また、必要に応じて研磨
工具面上を揺動させることができる。更に、使用済の研
磨液が研磨工具面上に留まるという事態を回避すること
ができ、これがため、常に当初の研磨加工の加工条件を
維持することができる。かかる点において装置全体を確
実に小型化でき,且つ被加工物の研磨加工に際しての汎
用性を高めることができ、更に、研磨加工を長時間にわ
たって高精度に継続することができるという利点があ
る。
【0024】請求項記載の発明では、前述した請求項
1記載の平面研磨装置において、環状研磨工具の研磨工
具面上に、所定間隔を隔てて当該環状研磨工具の研磨工
具面上に研磨液を供給する複数の液噴射ノズルを備えた
研磨液供給機構を装備すると共に該環状研磨工具の研磨
工具面上から使用済の研磨液を吸引し収集する研磨液吸
引機構を、それぞれ装備する。そして、研磨液供給機構
を環状研磨工具の回転方向に対し被加工物の上流側に配
設すると共に、研磨液吸引機構を環状研磨工具の回転方
向に対し前述した被加工物の下流側に配設する、という
構成を採っている。
【0025】このため、この請求項記載の発明では、
前述した請求項1記載の発明と同等の機能を有するほ
か、更に、使用済の研磨液が研磨工具面上に留まるとい
う事態を回避することができ、これがため、常に当初の
研磨加工の加工条件を維持することができ、かかる点に
おいても研磨加工を長時間にわたって高精度に継続する
ことができるという利点がある。
【0026】請求項記載の発明では、前述した請求項
2,3又は4記載の平面研磨装置において、前述した
状研磨工具の研磨工具面上に、所定間隔を隔てて当該環
状研磨工具の研磨工具面所定の研磨液を供給する液
噴射ノズルを備えた研磨液供給機構を装備すると共に、
該環状研磨工具の研磨工具面上から使用済の研磨液を吸
引し収集する研磨液吸引機構をそれぞれ装備する。そし
て、前述した研磨液供給機構を環状研磨工具の回転方向
に対し前述した被加工物の上流側に配設すると共に、研
磨液吸引機構を環状研磨工具の回転方向に対して前述し
た円板状ドレッサの下流側に配設する、という構成を採
っている。
【0027】このため、この請求項記載の発明では、
前述した請求項2,3又は4記載の発明と同等の機能を
有するほか、更に、研磨液によって円板状ドレッサが研
磨工具面の目立ても同時に行うことができ、このため、
環状研磨工具の研磨工具面の研磨能力が経時的に劣化す
るのを継続使用しながら同時に有効に抑制することがで
きるという利点がある。
【0028】請求項記載の発明では、前述した請求項
,7又は8記載の平面研磨装置において、研磨液
吸引機構(具体的には、液吸引ノズルを、環状研磨工
具の研磨工具面の幅方向に沿って配設すると共に、この
液吸引ノズルが備えている複数の研磨液吸引孔を前述し
た環状研磨工具の研磨工具面に対向した面の内径側領域
と外径側領域に多く形成する、という構成を採ってい
る。
【0029】このため、この請求項記載の発明では、
前述した請求項5,7又は8記載の発明と同等の機
能を有するほか、更に、使用済の研磨液を効率良く収集
することができ、かかる点において研磨工具面の研磨能
力を常に良好な状態に維持することができるという利点
がある。
【0030】請求項10記載の発明では、前述した請求
記載の平面研磨装置において、液吸引ノズル部の前
述した環状研磨工具の研磨工具面に対向する面の両端部
角部に、外気に通ずる複数の浅溝を設ける、という構成
を採っている。
【0031】このため、この請求項10記載の発明で
は、前述した請求項記載の発明と同等の機能を有する
ほか、更に、研磨工具面上における使用済の研磨液を更
により一層効率良く収集することができるという利点が
ある。
【0032】請求項11記載の発明では、前述した請求
項5乃至10の何れか一つに記載の平面研磨装置におい
て、前述した環状研磨工具の外周部に対向して所定間隔
を隔てて立ち上がり部を有し且つ当該環状研磨工具と一
体的に回転する断面U字状の研磨液収集槽を設ける。そ
して、この研磨液収集槽に、当該研磨液収集槽で収集さ
れた研磨液を吸引しつつ外部に送出する研磨液回収機構
を併設する、という構成を採っている。
【0033】このため、この請求項11記載の発明で
は、前述した請求項5乃至10の何れか一つに記載の発
明と同等の機能を有するほか、更に、研磨工具面から外
部に飛散する研磨液を有効に回収することができ、加工
工程における周囲の汚染を抑制することができる。
【0034】請求項12記載の発明では、前述した請求
項5乃至11の何れか一つに記載の平面研磨装置におい
て、前述した研磨液吸引機構等で吸引回収した研磨液を
再生して前述した研磨液供給機構に送給する研磨液用の
再生循環回路を備えた構成とする、という手法を採って
いる。
【0035】このため、この請求項12記載の発明で
は、前述した請求項5乃至11の何れか一つに記載の発
明と同の機能を有するほか、更に工具研磨液の再利用
が可能となり、研磨液の消費量を低減することがき、か
かる点において、研磨加工工程における生産性向上を図
ることができるという利点がある。
【0036】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を、
図1乃至図4に基づいて説明する。
【0037】図1乃至図2において、符号1はケース本
体を示し、符号1Aはケース本体1の上床部を示す。こ
の上床部1Aの中央部には、駆動モータ3によって回転
駆動されるターンテーブル4が装備されている。このタ
ーンテーブル4上には、研磨工具面2Aが環状(ドーナ
ツ状)で且つ当該研磨工具面2Aが水平面を成すように
環状研磨工具2が装備されている。
【0038】又、上記環状研磨工具2の研磨工具面2A
上には、板面を研磨加工するための円板状の被加工物1
0が載置されるようになっている。この被加工物10
は、研磨加工に際しては、加圧部材である円盤状加圧部
材11によって前述した環状研磨工具2側に一様に押圧
されるようになっている。このため、被加工物10の被
磨面が一様に且つ高精度に研磨されることとなる。
【0039】この円盤状加圧部材11については、本実
施形態では、図1乃至図2に示すように被加工物10の
直径K2と同一の直径を備えたものが使用され、自重で
被加工物10を環状研磨工具2側に押圧するようになっ
ている。このようにすると、被加工物10と円盤状加圧
部材11との一体化が容易であり、且つ着脱が容易とな
り、かかる点において作業性向上を図ることができる。
【0040】尚、この円盤状加圧部材11については、
被加工物10を環状研磨工具側に一様に押圧可能なもの
であれば、被加工物10の直径D10と異なった直径の
ものを使用してもよい。また、図1乃至図2では、自重
によって被加工物10を環状研磨工具2側に押圧する場
合の円盤状加圧部材11開示したが、同様に機能する
ものであれば他の手法による加圧部材(例えば強制的に
加圧する手法のもの)であってもよい。更に、円盤状加
圧部材11に代えて他の形状の加圧部材であってもよ
い。
【0041】環状研磨工具2の回転方向イに対して被加
工物10の下流側に、研磨位置保持機構13が装備され
ている。この研磨位置保持機構13は、前述した環状研
磨工具2を作動させて回転動作に移行した場合に、前述
した被加工物10および円盤状加圧部材11が回転する
のを許容すると共に当該被加工物10および円盤状加圧
部材11が前述した環状研磨工具2と一体的に移動する
のを阻止して所定の被研磨位置を保持する研磨位置保持
機能を備えている。
【0042】この研磨位置保持機構13は、具体的に
は、被加工物10および円盤状加圧部材11の回転を許
容し且つ所定間隔を隔てて配設された少なくとも二つの
支持ローラ13A,13Bと、この二つの支持ローラ1
3A,13Bを保持するアーム部材13Cとにより構成
されている。このアーム部材13Cの基端部は、伸縮駆
動機構部13Dを介して前述したケース本体1に保持さ
れている。
【0043】この伸縮駆動機構部13Dは、必要に応じ
て前述したアーム部材13Cをその突出方向に沿って伸
縮するが如く往復移動させるように機能を備えている。
符号13Eは、この伸縮駆動機構部13Dの動作を制御
する動作制御部を示す。これにより、前述したアーム部
材13Cと共に二つの支持ローラ13A,13Bの配設
位置を個別に若しくは一体的に変化させて、前述した被
加工物10を環状研磨工具2の研磨工具面2A上におけ
る最適研磨位置を選択することができるようになってい
る。
【0044】即ち、研磨位置保持機構13は、この伸縮
駆動機構部13Dの動作により、前述した被加工物10
および円盤状加圧部材11の回転中心P10を、環状研
磨工具2の研磨工具面2A上の任意の位置に可変設定し
保持すること(研磨位置可変設定機能の実行)が可能と
なっている。このため、研磨工具面2Aに対応した同じ
箇所を繰り返し使用することによって起こる当該研磨工
具面2Aの偏った摩耗を確実に防ぐことができる。
【0045】ここで、この研磨位置保持機構13につい
ては、更に、伸縮駆動機構部13Dを動作制御部13E
で駆動制御し、前述した環状研磨工具2と被加工物10
との接触面積の中心位置(図心)Psに対して前述した
被加工物10の重心位置P10を一致させ且つ当該位置
を保持する被加工物用重心位置設定機能を備えている。
この環状研磨工具2と被加工物10との接触面積の中心
位置(図心)Ps と被加工物10の重心位置P10とを
一致させた状態で研磨作業を実行すると、比較的安定し
た状態で、高精度に且つ能率良く研磨工程を継続し得る
ことを、実験的に確認することができた。
【0046】前述した環状研磨工具2の研磨工具面2A
上には、当該研磨工具面2Aに当接し且つ当該環状研磨
工具2の回転方向イに対して前述した被加工物10の上
流側に、前述した研磨工具面2Aの幅Wより大きい直径
を有する円板状ドレッサ14が配設されている。この円
板状ドレッサ14は、小型駆動モータ14Aによって回
転駆動されるようになっている。この円板状ドレッサ1
4及び小型駆動モータ14Aは、アーム状保持部材14
Bによって保持されている。
【0047】そして、この円板状ドレッサ14によっ
て、前述した環状研磨工具2の研磨工具面2Aは常時そ
の目詰まりが除去され、常に研磨工具面2Aを新規な状
態に維持することができ、経時的に、被加工物10の研
磨作業の能率を低下させることなく円滑に進めることが
できる。
【0048】又、前述した環状研磨工具2の研磨工具面
2A上には、当該研磨工具面2Aに対して所定間隔を隔
てて当該研磨工具面2Aの幅Wのほぼ全域に所定の研磨
液を供給する複数の液噴射ノズル15aを備えた研磨液
供給機構15が装備されている。同時に、この研磨工具
面2Aの幅W上のほぼ全域から使用済の研磨液を吸引し
収集する研磨液吸引機構16が装備されている。
【0049】そして、この研磨液供給機構15は環状研
磨工具2の回転方向イに対して前述した被加工物10の
上流側に近接して配設されている。又、研磨液吸引機構
16は前述した環状研磨工具2の回転方向イに対して円
板状ドレッサ14の下流側に近接して配設されている。
【0050】これにより、被加工物10の上流側の研磨
工具面2Aに噴射された研磨液は、被加工物10,又は
被加工物10と円板状ドレッサ14とを経た後、研磨液
吸引機構16によって吸引されるようになっている。こ
こで、円板状ドレッサ14を装備しない場合は、研磨液
吸引機構16は、前述した環状研磨工具2の回転方向イ
に対して被加工物10の下流側に配設されることとな
る。
【0051】研磨液吸引機構16は、本実施形態では、
前述した環状研磨工具2の研磨工具面2Aの幅方向に沿
って配設されている。又、この研磨液吸引機構16は図
4に示すように、環状研磨工具2の研磨工具面2Aに対
向した面の内径側領域S1と外径側領域S2に複数の研
磨液吸引孔16aがその中央領域よりも多く設けられて
いる。これにより、研磨加工時に研磨工具面2Aの内径
側領域S1と外径側領域S2にそれぞれ集まりやすい使
用済の研磨液をより効率良く吸引することができるよう
になっている。
【0052】更に、研磨液吸引機構16の前述した環状
研磨工具2の研磨工具面2Aに対向する面の両端部に
は、図4に示すように外気に通ずる複数の浅溝16bが
設けられている。これにより、使用済の研磨液が研磨液
吸引機構16によって吸引され易いようになっている。
【0053】ここで、前述した環状研磨工具2について
更に詳述する。前述した環状研磨工具2は、本実施形態
では、その外径D2が、図3に示すように被加工物10
の外接円(被加工物10が円形でない場合、その当接面
の中心点を回転中心として研磨工具面2A上で自転した
場合に想定される円)の直径K2より大きく且つ当該被
加工物10の外接円の直径K2の二倍より小さい値に設
定されている。
【0054】例えば、環状研磨工具2は、その直径(外
径)D2が480〔mm〕で,内径d2が120〔m
m〕のものが使用されているとする(図3参照)。一
方、円板状の被加工物10としては12インチウエハ
(直径300〔mm〕、厳密には直径304.8〔m
m〕)を対象としている。この場合、被加工物10の回
転中心P10は、円環状研磨工具2との接触面積の図心
(接触面積の平均的中心点)Psが、円環状研磨工具2
の中心P2から E=130〔mm〕だけ離れた位置に
配設されている。これにより、本実施形態では、被加工
物10の大きさが同一とした場合には、従来の円環状研
磨工具に対して面積比が約2分の1の円環状研磨工具2
を提供することができる。
【0055】これを従来例と比較すると、例えば図6に
示す従来では、直径K0=300〔mm〕のウエハを
平面研磨する場合には、少なくとも研磨工具面102A
の幅wが300〔mm〕以上で且つ円環状研磨工具10
2の内側の円の直径が120〔mm〕あることを要する
ため、円環状研磨工具102の直径は少なくとも720
〔mm〕以上となる。これによると、直径比だけでも、
ほぼ従来の2分の1の大きさに小型化されている。面積
比に関してはその2乗数で小型化されることとなる。
【0056】このようなもので、環状研磨工具2の外径
D2、図3に示すように被加工物10の直径K2(被
加工物10が円でない場合には、被加工物10がその当
接面の中心点を回転中心として研磨工具面2A上で自転
した場合に想定される円,即ち外接円の直径)の二倍
り僅かに小さい値とした場合について示す。
【0057】この場合、被加工物10については、環状
研磨工具2の回転と共に当該環状研磨工具2の研磨工具
面2A上の所定箇所で当該被加工物10が自転による回
転動作を行うことから、被加工物10はその全面にわた
って確実に研磨を行うことができる。
【0058】ここで、環状研磨工具2については、環状
研磨工具2の外径D2を前述した被加工物10の直径K
2より大きく設定すると共に、当該環状研磨工具2の研
磨工具面2Aの半径方向における工具幅Wを被加工物1
0の直径K2より小さく設定してもよい。このようにし
ても、前述した図1の場合と同様の機能を備えた環状研
磨工具2を得ることができる。
【0059】前述した円板状ドレッサ14について、更
に詳述する。この図1乃至図2に開示した円板状ドレッ
サ14は、研磨工具面2Aの工具幅Wを180〔mm〕
とした場合、これより大きい直径200〔mm〕のもの
が装備されている。これにより、研磨工具面2Aは、そ
の幅全体が目てされるので、常に平滑な研磨工具面2
Aで円板状被加工物10を研磨することができる。
【0060】又、この円板状ドレッサ14については、
コストを下げ且つ高効率でドレッシングを行うために、
高価で摩耗しない研磨工具面2Aをシャープに目立てす
ることを意図して、少量の天然ダイアモンド粒子(15
0ミクロン)と安価で摩耗し易くとも研磨工具面2A
目立てに寄与する多くの人工ダイヤモンド粒子(100
ミクロン)が、その研磨工具面2A側に埋設されてい
る。これにより、コストパフォーマンスがよく、目立て
効率もよい円板状ドレッサ14を得ることができる。そ
して、研磨工具面2Aは、円環状研磨工具が回転する
時には必ず目立てが継続実行されるため、常に平滑に保
たれる。
【0061】又、前述した研磨液吸引機構16は、研
吸引面の外周部に丸み(丸み半径2〔mm〕)を設け、
研磨液が溜まりやすい研磨工具面2Aの端面(外径領域
S1と内径領域S2)にはその中間領域よりも例えば三
倍多い研磨液吸引穴(直径約1〔mm〕)16aが設け
られている。
【0062】これにより、研磨工具面2A上の円板状被
加工物10には、常に清浄な研磨液が供給され、このた
め、異物がたまる等の経時的な影響を受けることなく、
常に清浄な状態で平面研磨が行われることとなる。
【0063】符号21は環状研磨工具2の周囲および下
面側を覆うようにして断面U字状に形成された研磨液収
集槽を示す。この研磨液収集槽21は、環状研磨工具2
の外周部に対向して所定間隔を隔てて環状の立ち上がり
部21Aを備え、遠心力によって外部に流出する研磨液
を回収する機能を備えている。又、この研磨液収集槽2
1は、環状研磨工具2と同軸上に一体化され当該環状研
磨工具2と共に回転駆動されるようになっている。
【0064】この研磨液収集槽21には、当該研磨液収
集槽21で収集された研磨液を吸引しつつ外部に送出す
る研磨液回収機構22が併設されている。この研磨液回
収機構22は、前述したケース本体1に保持され、その
液吸引部である先端部が前述した研磨液収集槽21の内
底部に延設された状態となっている。
【0065】このため、被加工物10の研磨加工時に
は、この研磨液収集槽21および研磨液回収機構22の
作用によって、研磨液が外部に飛散することなく円滑に
回収されることとなる。これにより、より多くの使用済
み研磨液及び削り取られた研磨工具面2Aの屑等も、
高率よく回収される。
【0066】又、前述した研磨液吸引機構16および研
磨液回収機構22で吸引回収される研磨液は、再生循環
回路31によって再生されて再び前述した研磨液供給機
構15に送給されるようになっている。
【0067】上記再生循環回路31は、図2に示すよう
に吸引側ポンプ32を備えた液回収管系33と、この液
回収管系33で回収した研磨液を三段の沈殿槽を介して
順次オーバーフローさせて濾過する研磨液再生槽34A
〜34Cと、この研磨液再生槽(研磨液タンク)34A
〜34Cの最下段に位置する研磨液再生槽34Cの上澄
みを再び供給側ポンプ35で吸い出して前述した研磨液
供給機構15に送り込む液再供給管系36とを備えた構
成となっている。この再生循環回路31は、液回収管系
33と液再供給管系36の一部を除いて前述したケース
本体1の内部下方(上床部1Aの下)に収納されてい
る。
【0068】これにより、前述した研磨液吸引機構16
及び研磨液回収機構22により回収された研磨液及び研
磨工具面2A上の屑等の異物は、研磨液再生槽34A〜
34Cにおくりこまれ、研磨液が再生される。
【0069】前述した供給側ポンプ35は、例えば供給
量100〔cc/min〕程度の能力を有し、その出力
側には50〔μm〕と5〔μm〕のメッシュのフィルタ
35Aを備え、研磨液再生槽34A〜34Cで除去でき
なかった異物を除去する機能も備えている。そして、こ
の研磨液再生槽34A〜34C再生された研磨液は、
供給側ポンプ35で更に細かい不要粒子が除去されて液
再供給管系36から再供給管36Eを介して前述した研
磨液供給機構15に送り込まれる。
【0070】次に、上記実施形態の動作を説明する。被
加工物10および円盤状加圧部材11を図1乃至図2に
示すように環状研磨工具2の研磨工具面2A上に載置し
た後、装備全体を稼働状態に設定すと、まず、環状研
磨工具2が図1のイ方向に回転する。同時に研磨工具面
2A上の被加工物10および円盤状加圧部材11も同方
向に回転しようとするが、研磨位置保持機構13に当該
移動が阻止され、図1に図示した所定位置(具体的に
は、図3に図示した環状研磨工具と被加工物との接触面
積の中心位置(図心)と、前記被加工物の重心位置が一
致した場所)に留めおかれる。
【0071】この場合、被加工物10と研磨工具面2A
との間に、所定の摩擦が生じるが、研磨工具面2Aの内
径側と外径側とでは、回転周速度の相違に起因して摩擦
力が異なり、その差によって被加工物10は研磨工具面
2A上で同図Cの方向に自ら回転する。この場合の符号
P10が被加工物10の回転中心となる。
【0072】ここで、被加工物10が回転すると、研磨
工具面2Aに当接する被加工物10の回転面は、被加工
物10の直径K2が研磨工具面2Aの半径方向の幅Wよ
りも大きくても、はみ出た部分も順次研磨工具面2Aに
当接しすり合わされることとなり、これによって被加工
物10は円滑に研磨される。即ち、本実施形態では、被
加工物10の直径K2が研磨工具面2Aの半径方向の幅
Wよりも大きくても、被加工物10を有効に研磨加工す
ることができ、かかる点において、装置全体の小型化が
可能となるという利点がある。
【0073】被加工物10の研磨位置は、前述したよう
に、研磨位置保持機構13によって規制される。同時
に、伸縮駆動機構部13Dによってその研磨位置は(揺
動的に又は定期的に往復して)移動されるようになって
いる。又、装置全体の稼働と共に、円板状ドレッサ14
及びその駆動用の小型モータ14Aも作動し、同時に研
磨液供給機構15,研磨液吸引機構16,研磨液回収機
構22及び再生循環回路31も作動する。
【0074】これにより、円板状ドレッサ14の働きで
研磨工具面2Aは常に目立てが成され、同時に研磨液
機構15,研磨液吸引機構16,研磨液回収機構22
および再生循環回路31の働きによって、常に新鮮な研
磨液が研磨工具面2Aに供給される。このため、研磨工
具面2Aは継時的に目詰まりを起こすことなく円滑に且
つ高精度に研磨作業が継続される。
【0075】次に、上記実施形態について具体的なテス
ト結果について説明する。このテストでは、円環状研磨
工具としてポリウレタン(外径480〔mm〕、内径
120〔mm〕)製のものを用い、研磨液としてコロイ
ダルシリカ(粒系は100オングストローム)を用い、
二酸化シリコン膜付きウエハ(外径300〔mm〕)を
研磨した。研磨工具回転数は24〔rpm〕、加工圧力
600〔g/平方センチメートル〕、研磨位置保持機構
13によるウエハの動幅40〔mm〕、研磨時間5分
でテストした。
【0076】この場合、12インチのウエハの研磨量は
15000±500オングストロームで研磨均一性±3
%となり、小型化(研磨工具の面積比:従来の2分の
1)された平面研磨装置で大口径ウエハを高精度に研磨
することが可能になった。
【0077】次に、他の実施形態を図5に基づいて説明
する。この図5に示す他の実施形態は、前述した図1乃
至図4の実施形態にて開示した円板状ドレッサ14およ
びその駆動機構の他の例を示すものである。この図5に
おいて、円板状ドレッサ24は、その直径が前述した研
磨工具面2Aの工具幅Wよりも小さい直径を持つ小円板
ドレッサ(例えば外径75〔mm〕)が使用されてい
る。この円板ドレッサ24は、小型駆動モータ24Aと
一体的に装備され、アーム部材24B上に装備された往
復移動移送機構(図示せず)に付勢されて、当該アーム
部材24B上を所定範囲を往復移動するように装備さ
れている。
【0078】この場合、円板ドレッサ24の反転動作
は、アーム部材24B上の両端部に装備されたマイクロ
スイッチ24a,24bによって反転信号が送出され、
図示しない制御手段によって反転移動が制御されるよう
になっている。その他の構成は前述した図1乃至図4に
示す実施形態と同一となっている。
【0079】このようにしても、前述した図1乃至図4
の実施形態と同一の作用効果を得ることができる。
【0080】次に、この図5に示す実施形態の具体的な
テスト結果について説明する。
【0081】このテストも前述した実施形態の場合と同
じ条件で行った。その結果、12インチウエハの研磨量
15000±600〔オングストローム〕で研磨均一性
±4〔%〕となり、小型化(研磨工具の面積比:従来の
2分の1)した平面研磨装置で大口径ウエハを高精度に
研磨することが可能になった。
【0082】尚、上述した各実施形態において、円環状
研磨工具2の周縁部に研磨液の流出を防ぐための起立壁
を設けてもよい。このようにすると、円環状研磨工具2
に供給される研磨液の回収効率がよくなり、より、効率
のよい平面研磨装置が提供できる。また、上記各実施形
態では、12インチウエハの平面研磨に限定して説明を
行ったが、6,8,又は14インチウエハの平面研磨装
置に本発明を適用してもよい。このようにすると、当該
平面研磨装置を確実に小型化することができる。
【0083】また、円板状被加工物10は上記実施形態
で述べた二酸化シリコン付きウエハに限定されるもの
ではなく、例えば、金属配線付きウエハ、磁気ディス
ク、ガラス基板、その他のものであってもよい。
【0084】このように、本実施形態では、円環状研磨
工具の研磨工具面2A上における半径方向の研磨工具
2Aの幅より大きな直径(円板状でない場合は外接
円の直径)を有する被加工物10を、有効に平面研磨す
ることができ、このため、装置全体をその研磨加工の性
能を維持しつつ有効に且つ確実に小型化することができ
る。
【0085】なお、上記実施形態は、円環状研磨工具2
の研磨面2Aを水平に装備した場合を例示したが、垂直
又は斜めに装備してもよい。
【0086】
【発明の効果】本発明は、以上のように構成され機能す
るので、円環状研磨工具の外半径より大きな直径を有す
る被加工物を高精度な平滑面に平面研磨することがで
き、且つ装置全体を確実に小型化できるという従来にな
い優れた平面研磨装置を提供できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一実施形態を示す概略平面図であ
る。
【図2】図1の一部省略した概略縦断面図である。
【図3】図1内に開示した円環状研磨工具と被加工物と
の大きさ及び研磨加工時の位置等を示す説明図である。
【図4】図1内に開示した研磨液吸収機構の研磨液吸引
面の例を示す説明図である。
【図5】本発明のたの実施形態を示す概略平面図であ
る。
【図6】図6(a)は従来例を示す概略側面図であり、
図6(b)は概略平面図である。
【符号の説明】
1 ケース本体 1A 上床部 2 環状研磨工具 2A 研磨工具面 3 駆動モータ 4 ターンテーブル 10 円板状被加工物 11 円盤状加圧部材 13 研磨位置保持機構 13A,13B 支持ローラ 13C アーム部材 13D 伸縮駆動機構部 13E 動作制御部 14 円板状ドレッサ 15 研磨液供給機構 15a 液噴射ノズル 16 研磨液吸引機構 21 研磨液収集槽 21A 立ち上り部 22 研磨液回収機構 31 再生循環回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 21/304 622 H01L 21/304 622M (56)参考文献 特開 平6−39705(JP,A) 特開 平7−251371(JP,A) 特開 昭50−48593(JP,A) 特開 平8−281551(JP,A) 特開 平9−36071(JP,A) 特開 平8−309659(JP,A) 特開 平4−75870(JP,A) 実開 昭58−852(JP,U) 特公 昭38−23595(JP,B1) 実公 昭48−5956(JP,Y1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B24B 37/04 B24B 37/00 H01L 21/304 622

Claims (12)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 研磨工具面が環状の環状研磨工具と、こ
    の環状研磨工具上に載置される被加工物を前記環状研磨
    工具側に一様に加圧すると共に当該被加工物と一体的に
    移動する円盤状加圧部材と、前記環状研磨工具が回転し
    た場合に前記被加工物および前記円盤状加圧部材が回転
    するのを許容し,且つ当該被加工物および当該円盤状加
    圧部材が前記環状研磨工具と共に移動するのを阻止して
    所定の被研磨位置を保持する研磨位置保持機構とを備え
    て成る平面研磨装置において、 前記環状研磨工具の外径を、前記被加工物の外接円の直
    径より大きく且つ当該被加工物の外接円の直径の二倍よ
    り小さい値に設定し、前記研磨位置保持機構が、前記環状研磨工具と前記被加
    工物との接触面積の中心位置に対して前記被加工物の重
    心位置を一致させ且つ当該位置を保持する被加工物用重
    心位置設定機能を備え たことを特徴とする平面研磨装
    置。
  2. 【請求項2】 研磨工具面が環状の環状研磨工具と、こ
    の環状研磨工具上に載置される被加工物を前記環状研磨
    工具側に一様に加圧すると共に当該被加工物と一体的に
    移動する円盤状加圧部材と、前記環状研磨工具が回転し
    た場合に前記被加工物および前記円盤状加圧部材が回転
    するのを許容し,且つ当該被加工物および当該円盤状加
    圧部材が前記環状研磨工具と共に移動するのを阻止して
    所定の被研磨位置を保持する研磨位置保持機構とを備え
    て成る平面研磨装置において、前記環状研磨工具の外径
    を、前記被加工物の外接円の直径より大きく且つ当該被
    加工物の外接円の直径の二倍より小さい値に設定し、 前記環状研磨工具の研磨工具面上に当該研磨工具面の幅
    より大きい直径を有する円板状ドレッサを配設すると共
    に、この円板状ドレッサを、前記環状研磨工具の回転方
    向に対して前記被加工物の上流側に配設したことを特徴
    とする 平面研磨装置。
  3. 【請求項3】 研磨工具面が環状の環状研磨工具と、こ
    の環状研磨工具上に載置される被加工物を前記環状研磨
    工具側に一様に加圧すると共に当該被 加工物と一体的に
    移動する円盤状加圧部材と、前記環状研磨工具が回転し
    た場合に前記被加工物および前記円盤状加圧部材が回転
    するのを許容し,且つ当該被加工物および当該円盤状加
    圧部材が前記環状研磨工具と共に移動するのを阻止して
    所定の被研磨位置を保持する研磨位置保持機構とを備え
    て成る平面研磨装置において、前記環状研磨工具の外径
    を、前記被加工物の外接円の直径より大きく且つ当該被
    加工物の外接円の直径の二倍より小さい値に設定し、 前記研磨位置保持機構が、前記被加工物および前記円盤
    状加圧部材の回転中心を、前記環状研磨工具の研磨工具
    面上の任意の位置に可変設定し保持する研磨位置可変設
    定機能を備え、 更に、前記環状研磨工具の研磨工具面上に当該研磨工具
    面の幅より大きい直径を有する円板状ドレッサを配設す
    ると共に、この円板状ドレッサを、前記環状研磨工具の
    回転方向に対して前記被加工物の上流側に配設したこと
    を特徴とする 平面研磨装置。
  4. 【請求項4】 前記環状研磨工具の研磨工具面上に当該
    研磨工具面の幅より大きい直径を有する円板状ドレッサ
    を配設すると共に、この円板状ドレッサを、前記環状研
    磨工具の回転方向に対して前記被加工物の上流側に配設
    したことを特徴とする請求項1記載の平面研磨装置。
  5. 【請求項5】 研磨工具面が環状の環状研磨工具と、こ
    の環状研磨工具上に載置される被加工物を前記環状研磨
    工具側に一様に加圧すると共に当該被加工物と一体的に
    移動する円盤状加圧部材と、前記環状研磨工具が回転し
    た場合に前記被加工物および前記円盤状加圧部材が回転
    するのを許容し,且つ当該被加工物および当該円盤状加
    圧部材が前記環状研磨工具と共に移動するのを阻止して
    所定の被研磨位置を保持する研磨位置保持機構とを備え
    て成る平面研磨装置において、前記環状研磨工具の外径
    を、前記被加工物の外接円の直径より大きく且つ当該被
    加工物の外接円の直径の二倍より小さい値に設定し、 前記環状研磨工具の研磨工具面上に、所定間隔を隔てて
    当該環状研磨工具の研磨工具面に所定の研磨液を供給す
    る複数の液噴射ノズルを備えた研磨液供給機構を装備す
    ると共に前記環状研磨工具の研磨工具面上から使用済の
    研磨液を吸引し収集する研磨液吸引機構をそれぞれ装備
    し、 前記研磨液供給機構を前記環状研磨工具の回転方向に対
    し前記被加工物の上流側に配設すると共に、前記研磨液
    吸引機構を前記環状研磨工具の回転方向に対し前記被加
    工物の下流側に配設したことを特徴とする平面研磨装
    置。
  6. 【請求項6】 研磨工具面が環状の環状研磨工具と、こ
    の環状研磨工具上に載置される被加工物を前記環状研磨
    工具側に一様に加圧すると共に当該被加工物と一体的に
    移動する円盤状加圧部材と、前記環状研磨工具が回転し
    た場合に前記被加工物および前記円盤状加圧部材が回転
    するのを許容し,且つ当該被加工物および当該円盤状加
    圧部材が前記環状研磨工具と共に移動するのを阻止して
    所定の被研磨位置を保持する研磨位置保持機構とを備え
    て成る平面研磨装置において、前記環状研磨工具の外径
    を、前記被加工物の外接円の直径より大きく且つ当該被
    加工物の外接円の直径の二倍より小さい値に設定し、 前記研磨位置保持機構が、前記被加工物および前記円盤
    状加圧部材の回転中心を、前記環状研磨工具の研磨工具
    面上の任意の位置に可変設定し保持する研磨位置可変設
    定機能を備え、 前記環状研磨工具の研磨工具面上に、所定間隔を隔てて
    当該環状研磨工具の研磨工具面に所定の研磨液を供給す
    る研磨液供給機構を装備すると共に前記環状研磨工具の
    研磨工具面上から使用済の研磨液を吸引し収集する研磨
    液吸引機構をそれぞれ装備し、 前記研磨液供給機構を前記環状研磨工具の回転方向に対
    し前記被加工物の上流側に配設すると共に、前記研磨液
    吸引機構を前記環状研磨工具の回転方向に対し前記被加
    工物の下流側に配設したことを特徴とする平面研磨装
    置。
  7. 【請求項7】 前記環状研磨工具の研磨工具面上に、所
    定間隔を隔てて当該環状研磨工具の研磨工具面に所定の
    研磨液を供給する研磨液供給機構を装備すると共に前記
    環状研磨工具の研磨工具面上から使用済の研磨液を吸引
    し収集する研磨液吸引機構をそれぞれ装備し、 前記研磨液供給機構を前記環状研磨工具の回転方向に対
    し前記被加工物の上流側に配設すると共に、前記研磨液
    吸引機構を前記環状研磨工具の回転方向に対し前記被加
    工物の下流側に配設 したことを特徴とする請求項記載
    の平面研磨装置。
  8. 【請求項8】 前記環状研磨工具の研磨工具面上に、所
    定間隔を隔てて当該環状研磨工具の研磨工具面に所定の
    研磨液を供給する研磨液供給機構を装備すると共に前記
    環状研磨工具の研磨工具面上から使用済の研磨液を吸引
    し収集する研磨液吸引機構をそれぞれ装備し、 前記研磨液供給機構を前記環状研磨工具の回転方向に対
    し前記被加工物の上流側に配設すると共に、前記研磨液
    吸引機構を前記環状研磨工具の回転方向に対して前記円
    板状ドレッサの下流側に配設し たことを特徴とする請求
    2,3又は4記載の平面研磨装置。
  9. 【請求項9】 前記研磨液吸引機構を、前記環状研磨工
    具の研磨工具面の幅方向に沿って配設すると共に、この
    研磨液吸引機構が備えている複数の研磨液吸引孔を、前
    記環状研磨工具の研磨工具面に対向した面の内径側領域
    と外径側領域に集中的に形成したことを特徴とする請求
    項5,6,7又は8記載の平面研磨装置。
  10. 【請求項10】 前記研磨液吸引機構の前記環状研磨工
    具の研磨工具面に対向する面の両端部に、外気に通ずる
    複数の浅溝を設けたことを特徴とする請求項9記載の平
    面研磨装置。
  11. 【請求項11】 前記環状研磨工具の外周部に対向して
    所定間隔を隔てて立ち上がり部を有し且つ当該環状研磨
    工具と一体的に回転する断面U字状の研磨液収集槽を設
    け、この研磨液収集槽に、当該研磨液収集槽で収集され
    た研磨液を吸引しつつ外部に送出する研磨液回収機構を
    併設したことを特徴とする請求項5乃至10の何れか一
    つに記載の平面研磨装置。
  12. 【請求項12】 前記研磨液吸引機構等で吸引回収した
    研磨液を再生して前記研磨液供給機構に送給する研磨液
    用の再生循環回路を備えたことを特徴とする請求項5乃
    至11の何れか一つに記載の平面研磨装置。
JP5019299A 1998-06-30 1999-02-26 平面研磨装置 Expired - Fee Related JP3058274B1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5019299A JP3058274B1 (ja) 1999-02-26 1999-02-26 平面研磨装置
US09/340,184 US6093088A (en) 1998-06-30 1999-06-28 Surface polishing machine
CN99109433A CN1128695C (zh) 1998-06-30 1999-06-30 表面抛光机械
KR1019990025704A KR100336933B1 (ko) 1998-06-30 1999-06-30 표면 연마기

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5019299A JP3058274B1 (ja) 1999-02-26 1999-02-26 平面研磨装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP3058274B1 true JP3058274B1 (ja) 2000-07-04
JP2000246625A JP2000246625A (ja) 2000-09-12

Family

ID=12852305

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5019299A Expired - Fee Related JP3058274B1 (ja) 1998-06-30 1999-02-26 平面研磨装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3058274B1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110026881A (zh) * 2018-01-09 2019-07-19 信越半导体株式会社 研磨装置及研磨方法

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3852758B2 (ja) 2002-03-01 2006-12-06 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション スラリー回収装置及びその方法
JP2008279539A (ja) * 2007-05-10 2008-11-20 Nomura Micro Sci Co Ltd 研磨液の回収方法、及び研磨液の回収装置
JP5248209B2 (ja) * 2008-05-30 2013-07-31 野村マイクロ・サイエンス株式会社 薬液回収装置及び薬液回収方法
JP5479781B2 (ja) * 2009-05-29 2014-04-23 野村マイクロ・サイエンス株式会社 スラリーの回収方法及び回収装置
CN102240965B (zh) * 2011-07-08 2013-08-14 无锡市锡斌光电设备有限公司 一种环形研磨抛光机
KR101429949B1 (ko) * 2013-11-29 2014-08-14 엘오엘 주식회사 다이캐스팅 부재 가공장치
CN109732438A (zh) * 2019-01-24 2019-05-10 泉州市友腾光电科技有限公司 一种抛光效果好的微型棒镜平面环抛装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110026881A (zh) * 2018-01-09 2019-07-19 信越半导体株式会社 研磨装置及研磨方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000246625A (ja) 2000-09-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100336933B1 (ko) 표면 연마기
JP3111892B2 (ja) 研磨装置
KR100398957B1 (ko) 연마장치및연마방법
JP2581478B2 (ja) 平面研磨装置
EP0887153B1 (en) Combined slurry dispenser and rinse arm
US7708622B2 (en) Apparatuses and methods for conditioning polishing pads used in polishing micro-device workpieces
KR19980086907A (ko) 연마 패드 상태 조절 장치
KR100474365B1 (ko) 웨이퍼연마장치 및 그 연마방법
JP2000015557A (ja) 研磨装置
TW201620627A (zh) 用於在化學機械研磨期間進行原位副產物移除及壓盤冷卻的系統及處理
US20110065365A1 (en) Grinding method and grinding apparatus for polishing pad for use in double-side polishing device
JP2845238B1 (ja) 平面研磨装置
JP3058274B1 (ja) 平面研磨装置
WO2001043178A1 (fr) Dispositif distribuant du produit de polissage et dispositif de polissage
JP2004167605A (ja) 研磨パッドおよび研磨装置
JPH07299738A (ja) ウエハ研磨装置
JP2833549B2 (ja) 研磨布の表面調整方法及び機構
JP2023517453A (ja) 第2の流体の分配を用いた基板研磨エッジの均一性の制御
JP3159177B2 (ja) 平面研磨装置
JP2002200552A (ja) ポリッシング装置
KR100826590B1 (ko) 화학적 기계적 연마장치
JP2000326209A (ja) 平面研磨装置
WO2000024548A1 (fr) Dispositif de polissage et procede de fabrication de semi-conducteurs au moyen dudit dispositif
KR200419418Y1 (ko) 연마 패턴 및 채널이 형성된 폴리싱 패드 컨디셔너
JPH11347938A (ja) 研磨生成物の排出機構及び研磨装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20000322

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees