JP3036558U - Probe device - Google Patents
Probe deviceInfo
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- plate
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 プローブを容易に交換でき、検査やメンテナ
ンスなどの作業性を向上させることのできるプローブ装
置を提供する。
【解決手段】 プローブ保持板１とプローブガイド板２
とを間隙をおいて上下方向に対向させ、これらプローブ
保持板１及びプローブガイド板２にプローブ４を摺動可
能、上下動可能に挿通し、このプローブ４の上端部に導
電ボール５を設けてプローブ保持板１から膨出させる。
また、導電ボール５に対向してこれに線接触する接触面
積増大穴９を備えた接続ピン７を接続板６に設けてプロ
ーブ保持板１に着脱自在に対向配備する。こうすれば、
プローブ保持板１に導電ワイヤ４が固定されないので、
導電ワイヤ４を簡単に交換でき、検査やメンテナンスな
どの作業性を向上させることができる。
(57) [PROBLEMS] To provide a probe device capable of easily replacing a probe and improving workability such as inspection and maintenance. SOLUTION: A probe holding plate 1 and a probe guide plate 2
Are vertically opposed to each other with a gap, and the probe 4 is slidably and vertically movably inserted through the probe holding plate 1 and the probe guide plate 2, and a conductive ball 5 is provided at the upper end of the probe 4. The probe holding plate 1 is swollen.
In addition, a connection pin 7 having a contact area increasing hole 9 that faces the conductive ball 5 and comes into line contact therewith is provided on the connection plate 6 so as to be detachably opposed to the probe holding plate 1. This way,
Since the conductive wire 4 is not fixed to the probe holding plate 1,
The conductive wire 4 can be easily replaced, and workability such as inspection and maintenance can be improved.
Description
【０００１】[0001]
本考案は、半導体、プリント基板、若しくはフレキシブル基板の検査、回路網 の断線検査、又は特定部分の抵抗値の測定などに使用されるプローブ装置に関す るものである。 The present invention relates to a probe device used for inspection of semiconductors, printed boards, or flexible boards, disconnection inspection of circuit networks, or measurement of resistance value of a specific portion.
【０００２】[0002]
従来のプローブ装置は、図４に示すように、固定板１２とプローブガイド板２ とを間隙をおいて対向させ、これら固定板１２及びプローブガイド板２に屈曲可 能な多数のプローブ１３を挿通してその上部を固定板１２の凹み部１４から、下 部をプローブガイド板２からそれぞれ露出させ、各プローブ１３の上端部にリー ド線８をはんだ付けするようにしている。固定板１２の凹み部１４には接着剤１ ５が塗布され、この接着剤１５が多数のプローブ１３を固定するよう作用する。 また、各プローブ１３は、図５に示すように、狭ピッチに対応可能なよう並べて 挿通され、下端部がプリント基板１０のパターン１１に接触するようになってい る。 As shown in FIG. 4, a conventional probe device has a fixed plate 12 and a probe guide plate 2 which are opposed to each other with a gap, and a large number of bendable probes 13 are inserted into the fixed plate 12 and the probe guide plate 2. The upper part is exposed from the recess 14 of the fixed plate 12 and the lower part is exposed from the probe guide plate 2, and the lead wire 8 is soldered to the upper end of each probe 13. An adhesive 15 is applied to the recess 14 of the fixing plate 12, and the adhesive 15 acts to fix a large number of probes 13. Further, as shown in FIG. 5, the probes 13 are inserted side by side so as to be compatible with a narrow pitch, and the lower end portions thereof come into contact with the pattern 11 of the printed circuit board 10.
【０００３】 このように構成されたプローブ装置は、プリント基板１０に加圧されると、図 ５に示すように、プリント基板１０の多数のパターン１１にプローブ１３の下端 部がそれぞれ接触してプローブ１３が屈曲し、プリント基板１０の多数のパター ン１１、プローブ１３及びリード線８が導通してプリント基板１０を検査するこ とができる。When the probe device configured as described above is pressed against the printed circuit board 10, as shown in FIG. 5, the lower end portions of the probes 13 are brought into contact with the multiple patterns 11 of the printed circuit board 10, respectively. 13 is bent, a large number of patterns 11, the probe 13 and the lead wire 8 of the printed circuit board 10 are brought into conduction, so that the printed circuit board 10 can be inspected.
【０００４】[0004]
従来のプローブ装置は、以上のように固定板１２の凹み部１４に接着剤１５を 塗布して多数のプローブ１３を固定したり、或いは多数のプローブ１３をはんだ 付けして固定しているので、プローブ１３を簡単に交換することができず、検査 やメンテナンスなどの作業性が悪いという問題があった。 In the conventional probe device, as described above, the adhesive 15 is applied to the recess 14 of the fixing plate 12 to fix a large number of probes 13, or the large number of probes 13 are soldered and fixed. There is a problem that the probe 13 cannot be easily replaced, and workability such as inspection and maintenance is poor.
【０００５】 本考案は、上記問題に鑑みてなされたもので、プローブを容易に交換すること ができ、検査やメンテナンスなどの作業性を向上させることのできるプローブ装 置を提供することを目的としている。The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a probe device in which the probe can be easily replaced and the workability such as inspection and maintenance can be improved. There is.
【０００６】[0006]
上記目的を達成するため、本考案においては、プローブ保持板とプローブガイ ド板とを間隙をおいて対向させてこれらプローブ保持板及びプローブガイド板に プローブを摺動可能に挿通し、このプローブの上端部に導電ボールを設けてプロ ーブ保持板から膨出させ、導電ボールに対向してこれに線接触する穴を備えた接 続ピンを接続板に設けてプローブ保持板に対向配備するようにしている。 In order to achieve the above object, in the present invention, the probe holding plate and the probe guide plate are opposed to each other with a gap, and the probe is slidably inserted into the probe holding plate and the probe guide plate. A conductive ball is provided at the upper end to bulge out from the probe holding plate, and a connecting pin with a hole that faces the conductive ball and makes line contact with the conductive ball is provided on the connecting plate so as to face the probe holding plate. I have to.
【０００７】 請求項１記載の考案によれば、プローブ装置のプローブを交換したり、或いは 外したい場合には、接続板を取り外せば、プローブ保持板及びプローブガイド板 を貫通したプローブを引き抜くことができる。According to the first aspect of the invention, when the probe of the probe device is to be replaced or removed, the connection plate can be removed to pull out the probe penetrating the probe holding plate and the probe guide plate. it can.
【０００８】[0008]
以下、本考案の実施の形態を図面を参照して説明する。 本実施形態におけるプローブ装置は、図１ないし図３に示すように、プローブ 保持板１とプローブガイド板２とを上下に並べて間隙をおいて対向させ、これら プローブ保持板１及びプローブガイド板２に多数（図では１本のみ示す）のプロ ーブ４を摺動可能、上下動可能にそれぞれ挿通し、プローブ保持板１の表面に接 続板６を適当な間隙を介し着脱自在に取り付けるようにしている。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. As shown in FIGS. 1 to 3, the probe device according to the present embodiment is arranged such that the probe holding plate 1 and the probe guide plate 2 are arranged vertically and face each other with a gap therebetween. A large number (only one is shown in the figure) of the probe 4 is slidably and vertically movable, and the connecting plate 6 is detachably attached to the surface of the probe holding plate 1 with an appropriate gap. ing.
【０００９】 プローブ保持板１とプローブガイド板２には狭ピッチに対応可能なよう多数の 貫通孔３がそれぞれ並べて開けられ、プローブ保持板１の各貫通孔３とプローブ ガイド板２の各貫通孔３とが相互に対向するようになっている。また、各プロー ブ４は、図２に示すように、ピン形の導電ワイヤからなり、上端部に貫通孔３よ りも拡径の導電ボール５が溶接やろう付けなどにより一体的に設けられており、 この導電ボール５がプローブ保持板１の表面に位置してプローブ４の抜け落ちを 防止するようになっている。各プローブ４は、その下部がプローブガイド板２か ら露出し、下端部が先鋭端に形成されている。A large number of through holes 3 are formed side by side in the probe holding plate 1 and the probe guide plate 2 so as to correspond to a narrow pitch, and the through holes 3 of the probe holding plate 1 and the through holes of the probe guide plate 2 are formed. 3 and 3 are opposed to each other. As shown in FIG. 2, each probe 4 is made of a pin-shaped conductive wire, and a conductive ball 5 having a diameter larger than that of the through hole 3 is integrally provided at the upper end by welding or brazing. The conductive balls 5 are positioned on the surface of the probe holding plate 1 to prevent the probe 4 from falling off. The lower part of each probe 4 is exposed from the probe guide plate 2, and the lower end is formed as a sharp end.
【００１０】 さらに、接続板６には多数の接続ピン７が並べて埋設され、各接続ピン７がプ ローブ４の導電ボール５の直上に間隙をおいて位置するようになっている。各接 続ピン７は、その上端部にリード線８が接続され、拡径の下端面には接触面積増 大穴９が開けられており、この接触面積増大穴９の内面に導電ボール５の上部が 線接触するようになっている。その他の部分については、従来例と同様である。Further, a large number of connection pins 7 are embedded side by side in the connection plate 6, and each connection pin 7 is positioned directly above the conductive balls 5 of the probe 4 with a gap. A lead wire 8 is connected to the upper end of each connection pin 7, and a contact area increasing hole 9 is formed in the lower end surface of the expanded diameter. The inner surface of the contact area increasing hole 9 has an upper portion of the conductive ball 5 above it. Are in line contact. Other parts are the same as in the conventional example.
【００１１】 したがって、プリント基板（この点につき、図５参照）１０を検査するには、 プリント基板１０にプローブ装置を加圧すれば良い。すると、プリント基板１０ の多数のパターン１１にプローブ４のほぼテーパ形の下端部がそれぞれ接触し、 各プローブ４が上昇して接続ピン７の接触面積増大穴９の内面に導電ボール５が 線接触し、プローブ４とリード線８が導通してプリント基板１０を検査すること ができる。また、プローブ４を交換したい場合には、プローブ保持板１から接続 板６を取り外し、プローブ４を導電ボール５側から引っ張り上げれば、プローブ 保持板１及びプローブガイド板２の貫通孔３からプローブ４を引き抜くことがで きる。Therefore, in order to inspect the printed circuit board (see FIG. 5 in this respect) 10, it is sufficient to press the probe device on the printed circuit board 10. Then, the plurality of patterns 11 on the printed circuit board 10 are brought into contact with the substantially tapered lower ends of the probes 4, respectively, and the probes 4 are raised to cause the conductive balls 5 to come into line contact with the inner surfaces of the contact area increasing holes 9 of the connection pins 7. Then, the probe 4 and the lead wire 8 are electrically connected, and the printed circuit board 10 can be inspected. When the probe 4 is to be replaced, the connecting plate 6 is removed from the probe holding plate 1 and the probe 4 is pulled up from the conductive ball 5 side, so that the probe 4 is inserted through the through holes 3 of the probe holding plate 1 and the probe guide plate 2. Can be pulled out.
【００１２】 上記構成によれば、プローブ保持板１にプローブ４がなんら固定されていない ので、必要に応じプローブ４を極めて簡単に交換することができ、これを通じて 検査やメンテナンスなどの作業性を大幅に向上させることができる。さらに、プ ローブ４の導電ボール５が接続ピン７の接触面積増大穴９に線接触するので、導 電性の確保が期待できる。According to the above configuration, since the probe 4 is not fixed to the probe holding plate 1, it is possible to replace the probe 4 very easily if necessary, which greatly improves the workability of inspection and maintenance. Can be improved. Further, since the conductive balls 5 of the probe 4 are in line contact with the contact area increasing holes 9 of the connecting pins 7, it can be expected to ensure conductivity.
【００１３】[0013]
以上のように本考案によれば、プローブを容易に交換することができ、検査や メンテナンスなどの作業性を向上させることができるという効果がある。 As described above, according to the present invention, there is an effect that the probe can be easily replaced and the workability such as inspection and maintenance can be improved.
【図１】本考案に係るプローブ装置の実施の形態を示す
断面説明図である。FIG. 1 is an explanatory sectional view showing an embodiment of a probe device according to the present invention.
【図２】図１のプローブ及び導電ボールを示す説明図で
ある。FIG. 2 is an explanatory diagram showing a probe and conductive balls of FIG.
【図３】プローブの導電ボールと接続ピンの接触面積増
大穴の関係を示す断面説明図である。FIG. 3 is a cross-sectional explanatory view showing a relationship between a conductive ball of a probe and a contact area increasing hole of a connection pin.
【図４】従来のプローブ装置を示す断面説明図である。FIG. 4 is a cross-sectional explanatory view showing a conventional probe device.
【図５】従来のプローブ装置の使用状態を示す断面説明
図である。FIG. 5 is a cross-sectional explanatory view showing a usage state of a conventional probe device.
１…プローブ保持板 ２…プローブガイド板 ３…貫通孔 ４、１３…プローブ ５…導電ボール ６…接続板 ７…接続ピン ８…リード線 ９…接触面積増大穴（穴） １０…プリント基板 １１…パターン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Probe holding plate 2 ... Probe guide plate 3 ... Through hole 4, 13 ... Probe 5 ... Conductive ball 6 ... Connection plate 7 ... Connection pin 8 ... Lead wire 9 ... Contact area increasing hole (hole) 10 ... Printed circuit board 11 ... pattern
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 中島 悦成 長野県上田市大字前山１番地 オルガン針 株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Creator Etsushi Nakajima 1 Maeyama, Ueda City, Nagano Prefecture Organ Needle Co., Ltd.
Claims (1)
間隙をおいて対向させてこれらプローブ保持板及びプロ
ーブガイド板にプローブを摺動可能に挿通し、このプロ
ーブの上端部に導電ボールを設けてプローブ保持板から
膨出させ、導電ボールに対向してこれに線接触する穴を
備えた接続ピンを接続板に設けてプローブ保持板に対向
配備したことを特徴とするプローブ装置。1. A probe holding plate and a probe guide plate are opposed to each other with a gap, and a probe is slidably inserted into the probe holding plate and the probe guide plate, and a conductive ball is provided at an upper end portion of the probe. A probe device characterized in that a connection pin having a hole that bulges from a probe holding plate and faces a conductive ball to make line contact with the conductive ball is provided on the connection plate so as to face the probe holding plate.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1996010780U JP3036558U (en) | 1996-10-04 | 1996-10-04 | Probe device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1996010780U JP3036558U (en) | 1996-10-04 | 1996-10-04 | Probe device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP3036558U true JP3036558U (en) | 1997-04-22 |
Family
ID=43171316
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1996010780U Expired - Lifetime JP3036558U (en) | 1996-10-04 | 1996-10-04 | Probe device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3036558U (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001249167A (en) * | 2000-03-06 | 2001-09-14 | Tokyo Weld Co Ltd | Measuring probe driving device |
| JP2015004518A (en) * | 2013-06-19 | 2015-01-08 | 大西電子株式会社 | Inspection jig |
-
1996
- 1996-10-04 JP JP1996010780U patent/JP3036558U/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001249167A (en) * | 2000-03-06 | 2001-09-14 | Tokyo Weld Co Ltd | Measuring probe driving device |
| JP2015004518A (en) * | 2013-06-19 | 2015-01-08 | 大西電子株式会社 | Inspection jig |
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