JP3034940B2 - 顕微鏡写真撮影装置 - Google Patents

顕微鏡写真撮影装置

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JP3034940B2
JP3034940B2 JP2298989A JP29898990A JP3034940B2 JP 3034940 B2 JP3034940 B2 JP 3034940B2 JP 2298989 A JP2298989 A JP 2298989A JP 29898990 A JP29898990 A JP 29898990A JP 3034940 B2 JP3034940 B2 JP 3034940B2
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light
area sensor
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修二 中川
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Olympus Optic Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は対象物の明るさを測定し撮影露出時間を決定
する手段を具えた顕微鏡写真撮影装置に関するものであ
る。
(従来の技術) この種の顕微鏡写真撮影装置は従来より既知であり、
例えば特開昭58−214121号公報及び特公平1−39082号
公報に開示されている。特開昭58−214121号に開示され
ている装置では、物体上の測光部分の位置確認のために
観察視野と同一視野内で測光部分のみが暗く観察できる
ようにしている。この目的のために、物体からの光束を
光束分割器で分割してレチクル板上に物体像を形成し、
このレチクル板に隣接して測光用プリズムを設けてい
る。このプリズムは内部に斜設された半透過面を有して
おり、この半透過面で反射された光束が受光素子に入射
し、その光強度が測定されると共に、このプリズムを透
過した光束が接眼鏡に入射する。そして、このプリズム
内に斜設された半透過面は光軸方向に見た場合円形とな
るよう斜面上にだ円形状に蒸着された半透過膜からな
る。このため、接眼鏡を通して観察される視野には物体
像と共に円形の半透過面像が観察できる。この半透過面
像は測光部分であって、この像は測光用に反射された光
量の分だけ周囲より若干暗く見えるので、測光部分の位
置を観察視野と同一視野内で確認することができる。
特公平1−39082号公報に開示されている装置では測
光部分の位置確認のために観察視野と同一視野で測光部
分のみが明るく観察できるようにしている。この目的の
ために付加的な照明を用いている。この付加的な照明に
より第1の反射鏡を介して測定視野絞りを照明し、更に
第2の反射鏡(ここでは方向変換反射鏡)を介して接眼
鏡に入射させて接眼鏡の視野に、物体像中に測光部分が
明るく観察できるようにしていると共に第2の反射鏡を
傾けることにより測光位置の移動を可能にしている。露
出測定のためには第1の反射鏡を旋回してこれ測定光路
から除外する必要がある。
(発明が解決しようとする課題) しかし、これらの既知の装置には重大な欠点がある。
先ず前者の装置では半透過面で反射した光を測光に用
い、透過した光を観察光学系にもどしている。このため
測光部分が測光用に反射された光量だけ減衰し周囲より
若干暗く見えるが、狭い範囲を測光する部分測光を行な
う場合測光部分と周囲との明るさの差が小さくなるた
め、測光位置を明瞭に観察できなくなるという欠点があ
る。また、受光素子に入射する光量が少ないため低照度
まで測光できないという欠点もある。
次に、後者の装置では付加的照明によって観察視野と
同一視野で測光部分を明るく際立たせることができる
が、露出測定に際しては反射鏡を旋回して光路から除外
し、かつ照明光源を移動部材により覆い、受光素子にい
かなる光も到達しないようにする必要がある。このため
露出測定のための構成が複雑になると共に操作も複雑に
なり、測定を高速に行なえないという欠点がある。
以上のような欠点を解消するために、本発明は顕微鏡
写真撮影において測光位置の確認を観察視野で明瞭に行
なうことができ、更に露出測定を簡単な操作で高速に行
なえる顕微鏡写真撮影装置を提供することを目的とす
る。
(課題を解決するための手段) 上述した目的を達成するために、本発明顕微鏡写真撮
影装置は測定位置決定用のオン/オフ可能な付加的照明
手段と、付加的照明手段を標本像と平行な方向に移動さ
せる手段と、付加的照明手段からの測定位置を表わす光
を標本像とともに接眼に投影する第1の光束分割器と、
標本像をカメラとエリアセンサに分ける第2の光束分割
器と、付加的照明手段の移動量の検出により測光位置を
検出する手段と、測光位置情報に基づいてエリアセンサ
の当該測光位置に対応する位置の受光情報を取り出し、
これを処理する処理部とを具えたことを特徴とする。
(作 用) 本発明装置においては、測光位置を決定する時は付加
的照明手段をオンさせ、接眼鏡で標本像を観察しながら
この照明手段を移動させて所望の測光位置を決定する。
次いで測光する際にはこの照明手段をオフさせる。この
とき測光位置検出手段からの決定された測定位置情報に
基づいて、標本像が投影されているエリアセンサの対応
する位置の受光情報が取り出され、これに基づいて最適
露出時間が計算される。
(実施例) 第1図は本発明顕微鏡写真撮影装置の第1の実施例の
構成を略図示したものである。第1図において、1は標
本、2は対物レンズ、7はカメラであり、対物レンズ2
とカメラ7との間の光路内に第1及び第2の光束分割器
3及び5を設け、第1の光束分割器3で分割した光路内
に接眼鏡4を設けると共に、第2の光束分割器5で分割
した光路内に、カメラ7と同じ光学位置すなわち共役な
位置にエリアセンサ8を設ける。更に、オン/オフ可能
な付加的照明手段、例えばLED10を第1の光束分割器3
の接眼鏡4とは反対側に設け、このLED10からの光をそ
の直前に設けられたピンホール11を通して第1の光束分
割器3に入射させ、標本像とともに接眼鏡4へ投影す
る。このLED10は、その照明光軸に対し交差するととも
に互いに直交する2方向X及びYに移動可能であり、こ
の移動量をX方向及びY方向リニアエンコーダ9により
測定する。更に、この移動量、すなわち測光ポイントの
位置情報を記憶するための第1メモリ13と、エリアセン
サ8からの像情報を記憶する第2メモリ14と、露出時間
を計算する演算回路15とを具えた処理部12を設ける。
尚、6は演算回路15に接続されたシャッタ制御部16によ
り開閉されるカメラシャッタで、第2の光束分割器5と
カメラ7との間の光路内に設ける。
この装置の使用に当っては、最初にLED10の位置がエ
リアセンサ8のどの番地に対応するのか位置出しを行な
う必要があり、これは一般に工場で行なわれる。まずLE
D10をオンし、これを移動させて標本像画面全体をくま
なくスキャンさせる。最初にLED10を基準位置(0,0)に
位置させ、この基準位置がエリアセンサ8のどの画素座
標に対応するかをその受光情報が記憶される第2メモリ
14上の記憶位置から判断する。このエリアセンサ8の画
素座標は光径により異なるため複数の画素より成る場合
もある。このエリアセンサ8の画素座標、即ち第2メモ
リ14上の対応する記憶位置情報をX及びYリニアエンコ
ーダ9によりアドレスされた第1メモリ13の記憶位置
(0,0)に記憶させる。次にLED10の位置を基準位置から
X方向に1位置移動させて位置(1,0)に位置させ、こ
の位置座標がエリアセンサ8のどの画素座標に対応する
かを決定し、その位置情報をX及びYリニアエンコーダ
9によりアドレスされた第1メモリ13の記憶位置(1,
0)に記憶させる。この動作をX方向に繰返し、LED10の
位置(m,0)に対応するエリアセンサ8の画素座標を第
1メモリ13の記憶位置(m,0)に記憶させた後、Y方向
にも同様の動作を行ない、最終的に位置(m,n)までの
エリアセンサ8上の対応する画素座標を第1メモリ13に
記憶させる。このようにLED10を順次移動させ、X及び
Yリニアエンコーダ9によりアドレスされる第1メモリ
13の各記憶位置にLEDの各位置に対応するエリアセンサ
8の位置情報をマッピングし、LEDの位置座標とエリア
センサ8の画素座標を1対1に対応させる。斯る後に第
2メモリ14から第1メモリ13への位置情報の伝送路を遮
断する。
実際の測光は次のようにして行なう。LED10をオンし
た状態で移動させ、標本を接眼で観察しながら測光位置
を決定する。このときX及びYリニアエンコーダ9によ
りLED10の移動量が検出され、目的の測光位置にあるLED
の位置座標が決定される。この測光位置の決定後、LED1
0をオフする。このときエリアセンサ8は標本像のみを
受光し、その受光情報が第2メモリ14に格納されると共
に、X及びYリニアエンコーダ9により目的の測光位置
に対応するエリアセンサ8の画素座標が第1メモリ13か
ら読出され、これが第2メモリ14のアドレス情報として
供給され、第2メモリ14から測光位置に対応するエリア
センサ8の画素の受光情報が読出され、演算回路15に供
給され、この演算回路がこの受光情報に基づいて写真撮
影のための最適露出時間を算出する。
実際の写真撮像はこの露出時間に基づきシャッタ制御
部16によりシャッタ6を開閉して行なわれる。
第2図は本発明装置の第2の実施例を示すものであ
る。本例は第1図に示す第1及び第2の光束分割器3及
び5を1つの光束分割器3′に結合したものであり、そ
の他の構成は第1図に示す第1の実施例と同一であり、
同様に動作する。本例によれば光学系がさらに簡単にな
る。
(発明の効果) 本発明装置によれば、付加的照明手段(LED10)によ
り接眼で標本を観察しながら同一視野で測光位置を明瞭
に確認することができる。更に、測光位置の確認後照明
手段をオフするだけで測光が電子的に行なわれるので、
簡単な構成並びに操作で露出測定を迅速に行なうことが
できる。また、工場調整でLED10の位置座標とエリアセ
ンサ8の画素座標とを電子的に1対1に対応させること
ができるので、エリアセンサの厳しい取付け位置精度が
必要なくなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明顕微鏡写真撮影装置の第1の実施例の概
略構成図、 第2図は本発明顕微鏡写真撮影装置の第2の実施例の概
略構成図である。 1……標本、2……対物レンズ 3……第1光束分割器、4……接眼鏡 5……第2光束分割器、6……シャッタ 7……カメラ、8……エリアセンサ 9……X及びYリニアエンコーダ 10……付加的照明手段(LED) 11……ピンホール、12……処理部 13……第1メモリ、14……第2メモリ 15……演算回路、16……シャッタ制御部

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】測定位置決定用のオン/オフ可能な付加的
    照明手段と、付加的照明手段を、その照明光軸に対し交
    差する方向に移動させる手段と、付加的照明手段からの
    測定位置を表わす光を標本像とともに接眼に投影する第
    1の光束分割器と、標本像をカメラとエリアセンサに分
    ける第2の光束分割器と、付加的照明手段の移動量の検
    出により測光位置を検出する手段と、測光位置情報に基
    づいてエリアセンサの当該測光位置に対応する位置の受
    光情報を取り出し、これを処理する処理部とを具えたこ
    とを特徴とする顕微鏡写真撮影装置。
JP2298989A 1990-11-06 1990-11-06 顕微鏡写真撮影装置 Expired - Lifetime JP3034940B2 (ja)

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