JP3007290B2 - Assembling type line type environmental test apparatus and assembling method thereof - Google Patents
Assembling type line type environmental test apparatus and assembling method thereofInfo
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、半導体等の電子部品に
対して温度・湿度等の環境を変えながら通電試験を行う
ための装置において特にライン型のものに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for conducting an electric current test on an electronic component such as a semiconductor while changing the environment such as temperature and humidity.
【0002】[0002]
【従来技術】従来実施されているライン型の環境試験装
置としては、環境試験装置を縦長に連結したものに、一
対の案内レールを敷設すると共に該案内レールと平行に
軸方向に摺動自在で円周方向に回動自在に支持されたシ
ャフトを設け、該シャフトの軸方向に所定間隔で突出片
を配置したものにおいて、電子部品等が載せられたパレ
ットを所定時間毎に軸方向に移動させる方式のものが知
られている(実公平5−22868号、実開昭59−1
76950号)。2. Description of the Related Art As a conventional line type environmental test device, a pair of guide rails is laid on a vertically connected environmental test device and slidable in the axial direction in parallel with the guide rails. A pallet on which electronic components and the like are placed is axially moved at predetermined intervals in a shaft provided with a shaft rotatably supported in a circumferential direction, and protruding pieces arranged at predetermined intervals in the axial direction of the shaft. A system of which type is known (Japanese Utility Model Publication No. 5-228868, Japanese Utility Model Application Publication No. 59-1)
No. 76950).
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながらかかる従
来のライン型の環境試験装置は、一般に大量生産される
ものではなく、依頼者のニーズに合わせた仕様で個々に
注文生産するものがほとんどである。そのために個々の
ニーズに併せて設計したり製造したりすることは非能率
的であると共に受注から納品までに多数の時間要してし
まう不都合がある。そこで本発明はかかる従来技術の欠
点に鑑み、標準化を図り依頼があればすぐにでも組立が
可能な装置を提供することを目的とする。However, such conventional line-type environmental test apparatuses are not generally mass-produced, but are mostly individually produced in order to meet the requirements of the client. Therefore, it is inefficient to design and manufacture according to individual needs, and there is a disadvantage that a lot of time is required from order receipt to delivery. Therefore, an object of the present invention is to provide a device which can be standardized and can be assembled immediately upon request, in view of the drawbacks of the conventional technology.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、断熱
材で覆われた環境試験室と、該環境試験室内に設置され
た電子部品等を搬送するための搬送手段と、環境試験室
内に配置した電子部品等の通電試験を行うための試験装
置と、前記環境試験室とは別個の位置に設置された電子
部品等を回送するための回送手段と、前記環境試験室に
対して所定温度の空気を供給する恒温空気供給手段とか
らなる低温用、高温用及び/又は常温用の試験モジュー
ルと、環境試験装置の電子部品挿入口に設置される入口
リフターと、環境試験装置の末端に接続される搬送手段
から回送手段へ電子部品等を折り返す出口リフターとか
らなり、前記各試験モジュールの搬送手段がモジュール
の幅方向に渡した一対の案内レールと該案内レールの下
方に摺動・回転自在に支持され所定間隔で突出片を有す
るシャフトで構成され、前記入口リフター内にモジュー
ルに設けた搬送手段と同様に一対の案内レールと該案内
レールの下方に摺動・回転自在に支持された所定間隔で
突出片を有するシャフトと該シャフトを長手方向に摺動
させる水平方向駆動手段と前記シャフトを回転させる回
転駆動手段が設置され、前記各モジュール及び入口リフ
ターの案内レールとシャフトが互いに連結できるように
構成された組立式ライン型環境試験装置である。請求項
2の発明は、前記回送手段が、試験モジュールの幅方向
に渡した一対の案内レールと、前記出口リフター内にモ
ジュールに設けた回送手段と同様に一対の案内レールと
該案内レールの下方に摺動・回転自在に支持された所定
間隔で突出片を有するシャフトと該シャフトを長手方向
に摺動させる水平方向駆動手段と前記シャフトを回転さ
せる回転駆動手段が設置され、前記各モジュール及び入
口リフターの案内レールが互いに連結できるように構成
された組立式ライン型環境試験装置である。請求項3の
発明は、環境試験装置の組立方法に関するもので断熱材
で覆われた環境試験室と、該環境試験室内に設置された
電子部品等を搬送するための搬送手段と、環境試験室内
に配置した電子部品等の通電試験を行うための試験装置
と、前記環境試験室とは別個の位置に設置された電子部
品等を回送するための回送手段と、前記環境試験室に対
して所定温度の空気を供給する恒温空気供給手段とから
なる低温用、高温用及び/又は常温用の試験モジュール
と、環境試験装置の電子部品挿入口に設置される入口リ
フターと、環境試験装置の末端に接続される搬送手段か
ら回送手段へ電子部品等を折り返す出口リフターとから
なり、前記各試験モジュールの搬送手段がモジュールの
幅方向に渡した一対の案内レールと該案内レールの下方
に摺動・回転自在に支持された所定間隔で突出片を有す
るシャフトで構成され、前記入口リフター内にモジュー
ルに設けた搬送手段と同様に一対の案内レールと該案内
レールの下方に摺動・回転自在に支持された所定間隔で
突出片を有するシャフトと該シャフトを長手方向に摺動
させる水平方向駆動手段と前記シャフトを回転させる回
転駆動手段が設置され、前記各モジュール及び入口リフ
ターの案内レールとシャフトが互いに連結できるように
構成された組立式ライン型環境試験装置において仕様に
併せて適宜低温用、常温用又は高温用のモジュールを直
列に連結する工程と各モジュールの搬送手段及び回送手
段を連結することによりシャフトが連動するようにする
工程と、結合したモジュールの前端・後端にそれぞれ入
口リフター及び出口リフターを連結し、さらに各リフタ
ーの案内レール及びシャフトを連結する工程、とからな
る組立方法である。That is, the present invention provides an environmental test chamber covered with a heat insulating material, a transport means for transporting electronic components and the like installed in the environmental test chamber, and an environmental test chamber. A test device for conducting a conduction test of the electronic components and the like, a forwarding unit for forwarding the electronic components and the like installed at a position separate from the environmental test chamber, and a predetermined temperature with respect to the environmental test chamber. A test module for low-temperature, high-temperature and / or normal temperature, which is composed of a constant-temperature air supply means for supplying air, an inlet lifter installed at an electronic component insertion port of the environmental test device, and a terminal connected to the end of the environmental test device. And an exit lifter that turns electronic components and the like from the transporting means to the forwarding means. The transporting means of each of the test modules has a pair of guide rails extending in the width direction of the module, and slides and rotates below the guide rails. And a pair of guide rails and a predetermined slide slidably and rotatably supported below the guide rails, similarly to the conveying means provided in the module in the entrance lifter. A shaft having protruding pieces at intervals, a horizontal driving means for sliding the shaft in the longitudinal direction, and a rotation driving means for rotating the shaft are installed so that the guide rails and shafts of each module and the entrance lifter can be connected to each other. Is an assembled line type environmental test apparatus. The invention according to claim 2 is characterized in that the forwarding means has a pair of guide rails extending in the width direction of the test module, a pair of guide rails similar to the forwarding means provided on the module in the outlet lifter, and a lower portion of the guide rails. A shaft having projecting pieces that are slidably and rotatably supported at predetermined intervals, a horizontal drive unit that slides the shaft in the longitudinal direction, and a rotation drive unit that rotates the shaft are installed, and each of the modules and the entrance is installed. This is an assembled line type environmental test apparatus configured so that guide rails of a lifter can be connected to each other. The invention according to claim 3 relates to an assembling method of an environmental test apparatus, wherein the environmental test chamber is covered with a heat insulating material, a transport means for transporting electronic components and the like installed in the environmental test chamber, and an environmental test chamber. A test device for conducting an electrical current test of electronic components and the like disposed in the test chamber; a forwarding unit for forwarding an electronic component and the like installed at a position separate from the environmental test chamber; A test module for low temperature, high temperature and / or room temperature, comprising constant temperature air supply means for supplying air at a temperature, an inlet lifter installed at an electronic component insertion port of an environmental test device, and An outlet lifter that folds electronic components and the like from the connected transporting means to the forwarding means, wherein the transporting means of each of the test modules slides below the guide rails with a pair of guide rails extending in the width direction of the module. It is constituted by a shaft rotatably supported and having protruding pieces at predetermined intervals, and is slidably and rotatably supported below the pair of guide rails and the guide rails similarly to the transport means provided in the module in the entrance lifter. A shaft having protruding pieces at predetermined intervals, a horizontal driving means for sliding the shaft in the longitudinal direction, and a rotation driving means for rotating the shaft are provided, and the guide rails and shafts of each module and the entrance lifter are mutually connected. By connecting the modules for low temperature, normal temperature or high temperature as needed according to the specifications in the assembly type line type environmental test device configured to be connectable, and by connecting the transport means and the forwarding means of each module The step of making the shafts interlock, and the entrance lifter and the exit lift at the front end and the rear end of the combined module, respectively. Connecting the over, a further step of connecting the guide rail and the shaft of each lifter, assembling method comprising city.
【0005】[0005]
【作用】本発明にかかる装置では、試験装置モジュール
が低温用、常温用、高温用とあるので、依頼者の注文に
併せてモジュールを選択し、各モジュール同士を直列に
連結する。各モジュールの案内レール及びシャフトは、
各独立に製造されているので、これらを連動させること
はできない。そこで、まず案内レール同士を連結すると
共にシャフト同士を連結する。しかし、各モジュールに
はシャフトの駆動手段が設置されていないので、入口リ
フター及び出口リフターをそれぞれ直列に連結されたモ
ジュールの先端部と後端部に接続すると共に各リフター
の案内レールを隣接するモジュールの案内レールと連結
すると共にシャフトも連結する。これにより案内レール
は固定された状態で一連のものとなり、またシャフトは
入口リフターの水平・回転駆動手段と連結されることに
なるので、軸方向に摺動可能となると共に円周方向に回
転可能となる。かかる状態で各モジュールを駆動させ、
試験室内を所定の温度にした後に入口リフターに半導体
等の電子部品が載置されたパレットをセットする。次に
突出片を立てた状態でシャフトを前方向に摺動するとパ
レットは所定の位置に保持され、突出片を下方に引っ込
めた状態で後方向に摺動させるとパレットは移動するこ
となくシャフトははじめの位置に戻る。次のパレットを
入口リフターに設置した後にシャフトを回転させ突出片
を立てた状態としたとき、前のパレット付近にも突出片
が存在するためにパレットは再び移動することが可能な
状態となる。かかるシャフトの摺動・回転動作を繰り返
すことによりパレットに載置された電子部品は、各モジ
ュールの温度・湿度条件下において通電試験を受けるこ
とができることになる。通電試験を終えたパレットは出
口リフターにおいて別個の位置(例えば左右方向若しく
は上方又は下方)に移動され、回送手段を介して入口リ
フターまで戻される。In the apparatus according to the present invention, since the test equipment modules are for low temperature, normal temperature, and high temperature, the modules are selected according to the order of the client and the modules are connected in series. The guide rail and shaft of each module are
These cannot be linked because they are manufactured independently. Therefore, first, the guide rails are connected together, and the shafts are connected together. However, since the shaft driving means is not installed in each module, the inlet lifter and the outlet lifter are connected to the front end and the rear end of the module connected in series, and the guide rail of each lifter is connected to the adjacent module. As well as the shaft. As a result, the guide rails become a series in a fixed state, and the shaft is connected to the horizontal and rotary drive means of the inlet lifter, so that it can slide in the axial direction and rotate in the circumferential direction Becomes Drive each module in this state,
After the temperature of the test chamber is set to a predetermined temperature, a pallet on which electronic components such as semiconductors are placed is set on the entrance lifter. Next, when the shaft is slid forward with the protruding piece upright, the pallet is held in place.When the protruding piece is retracted downward and slid backward, the pallet does not move and the pallet moves. Return to the starting position. When the next pallet is set in the inlet lifter and the shaft is rotated to set the protruding piece upright, the pallet can be moved again because the protruding piece also exists near the previous pallet. By repeating such a sliding and rotating operation of the shaft, the electronic components placed on the pallet can be subjected to an electricity test under the temperature and humidity conditions of each module. The pallet that has been subjected to the power-on test is moved to a different position (for example, in the left-right direction or upward or downward) at the exit lifter, and returned to the entrance lifter via the circulating means.
【0006】[0006]
【発明の実施の形態】以下に本発明を図示された実施例
に従って詳細に説明する。図1において1a,1b,1
cは、それぞれ高温用(50〜90℃)、常温用(25
℃)、低温用(−35〜30℃)の環境試験モジュール
であり、2は入口リフター、3は出口リフターである。
各試験モジュール1a,1b,1c内は図3に示すよう
に断熱材4及び扉5で覆われた環境試験室6とその下方
に位置する機械室7とからなり、該環境試験室6内は仕
切り板8を介して環境試験槽9と恒温空気供給槽10と
に仕切られている。環境試験槽9を形成する両側壁1
2,12には、各試験モジュールを連通するための開口
13,13が設けられている。環境試験槽9内には一対
の平行に敷設された案内レール14,14と、該レール
14,14上に電子部品を搬送するためのパレット15
と、該パレット15を所定間隔で移送するための突出片
17を有するシャフト16とからなる搬送手段が設置さ
れている。恒温空気供給槽10内には、冷凍サイクルの
蒸発器18と、加熱手段20及び送風ファン22とが直
列に配置されており、前記仕切り板8の上下の位置に連
通口23,24があけられている関係で所定温度の空気
が環境試験槽9の上から送風され、下から吸引されるよ
うになっている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to the illustrated embodiments. In FIG. 1, 1a, 1b, 1
c is for high temperature (50-90 ° C.) and normal temperature (25
C), low-temperature (-35 to 30 C) environmental test module, 2 is an inlet lifter, and 3 is an outlet lifter.
As shown in FIG. 3, each test module 1a, 1b, 1c includes an environmental test room 6 covered with a heat insulating material 4 and a door 5, and a machine room 7 located thereunder. It is partitioned into an environmental test tank 9 and a constant temperature air supply tank 10 via a partition plate 8. Side walls 1 forming environmental test tank 9
Openings 13, 13 for communicating the respective test modules are provided in 2, 2. A pair of parallel guide rails 14, 14, and a pallet 15 for transporting electronic components on the rails 14, 14 are installed in the environmental test tank 9.
And a shaft 16 having a protruding piece 17 for transferring the pallet 15 at a predetermined interval. In the constant temperature air supply tank 10, an evaporator 18 of a refrigeration cycle, a heating means 20 and a blower fan 22 are arranged in series, and communication ports 23 and 24 are opened at positions above and below the partition plate 8. Therefore, air at a predetermined temperature is blown from above the environmental test tank 9 and sucked from below.
【0007】環境試験室6の下方の機械室7には、冷凍
サイクルの圧縮機25、凝縮器26等が配置されている
と共に、前記搬送手段と平行に回送手段としての案内レ
ール27,28が敷設されている。[0007] In the machine room 7 below the environmental test chamber 6, a compressor 25, a condenser 26 and the like of the refrigeration cycle are arranged, and guide rails 27 and 28 as recirculating means are provided in parallel with the conveying means. Has been laid.
【0008】前記搬送手段の駆動は先に特許出願人が発
明した自動搬送装置(実開昭59−176950号)と
同様で軸受30により摺動自在及び回動自在に支持され
たシャフト16と、該シャフト16上に所定間隔で接合
された突出片17とからなり、該シャフト16の摺動は
入口リフター2内に設置された水平方向エアーシリンダ
32と該シリンダ32のピストン先端に接続され、かつ
前記シャフト16を回転自在に支持する支持部材34と
により水平方向に移動できるように構成されている。ま
たシャフト16の円周方向の回転は、前記支持部材34
に軸支されたエアーシリンダ36と、該エアーシリンダ
36のピストン先端がシャフト16から直角に突出した
部材38に軸支されたもので構成されている。尚、出口
リフター3内も前述入口リフター2と同様のエアーシリ
ンダ及びシャフトからなる回送手段が設置されており、
該回送手段ではパレット15を直列に連結した状態で順
送りに入口リフター2側へ回送することになるために各
試験モジュール内の機械室7内にはシャフトは設置され
ていない。The driving of the transfer means is the same as that of the automatic transfer apparatus (Japanese Utility Model Application Laid-Open No. 59-176950) invented by the applicant of the present invention, and the shaft 16 slidably and rotatably supported by the bearing 30; The shaft 16 is connected to a horizontal air cylinder 32 installed in the inlet lifter 2 and a tip end of a piston of the cylinder 32, and the projecting pieces 17 are joined to the shaft 16 at predetermined intervals. It is configured to be able to move in the horizontal direction by a support member 34 that rotatably supports the shaft 16. Further, the rotation of the shaft 16 in the circumferential direction is performed by the support member 34.
The air cylinder 36 is rotatably supported by a member 38, and the tip of the piston of the air cylinder 36 is rotatably supported by a member 38 projecting at right angles from the shaft 16. The outlet lifter 3 is also provided with the same air cylinder and shaft as the above-described inlet lifter 2.
In the forwarding means, the pallets 15 are forwarded to the inlet lifter 2 side sequentially in a state of being connected in series. Therefore, no shaft is provided in the machine room 7 in each test module.
【0009】また各試験モジュール1a,1b,1c内
の案内レール14,14は図6に示すような凹凸係合に
より位置合わせ可能に連結され、各試験モジュール及び
リフターのシャフト16は、軸方向に摺動すると共に円
周方向に回動する関係から、それぞれの端部にフランジ
部39を形成しておき、それぞれ当接させた後ねじ止め
等により結合される。The guide rails 14 in each of the test modules 1a, 1b, 1c are connected so as to be aligned by the concave and convex engagement as shown in FIG. 6, and the shaft 16 of each test module and the lifter is axially moved. Flanges 39 are formed at the respective ends in order to slide and rotate in the circumferential direction.
【0010】以上述べたように本実施例にかかる環境試
験装置では、以下の手順にて組み立てる。すなわち、例
えば図1に示すように依頼者の要望に併せて試験モジュ
ールの組合せを決め、これに従い試験モジュール同士を
結合する。各試験モジュールの案内レール14,14と
シャフト16は独立しているので、図6に示すように案
内レール14,14同士を凹凸係合させると共にシャフ
ト16,16同士を結合しこれらが連動するように構成
する。さらに直列に連結した試験モジュール1a,1
b,1cの先端部の電子部品挿入口(開口13)及び後
端部にそれぞれ入口リフター2と出口リフター3を連結
する。また入口リフター2及び出口リフター3の案内レ
ール14,14及びシャフト16がそれぞれ他の試験モ
ジュールのものと連動するように接合する。これにより
各リフター及び各試験モジュールは直列に接続された一
体のものとなる。As described above, the environmental test apparatus according to the present embodiment is assembled in the following procedure. That is, for example, as shown in FIG. 1, a combination of test modules is determined in accordance with the request of the client, and the test modules are connected in accordance with the combination. Since the guide rails 14 and 14 and the shaft 16 of each test module are independent, as shown in FIG. 6, the guide rails 14 and 14 are engaged with each other in a concave and convex manner, and the shafts 16 and 16 are connected and linked. To be configured. Further, the test modules 1a, 1 connected in series
An inlet lifter 2 and an outlet lifter 3 are connected to the electronic component insertion opening (opening 13) and the rear end at the front end of b and 1c, respectively. Also, the guide rails 14, 14 and the shaft 16 of the inlet lifter 2 and the outlet lifter 3 are joined so as to interlock with those of the other test modules. As a result, each lifter and each test module are integrated and connected in series.
【0011】かかる状態において各試験モジュール1
a,1b,1cのスイッチを入れ、モジュールの環境試
験槽内を所定の温度に設定した後に入口リフター2から
電子部品が搭載されたパレット15を案内レール14,
14上に載置するとリフター2内の水平方向エアーシリ
ンダ32がシャフトの軸方向に前進し、シャフト16か
ら直立に突出した突出片17がパレット15を押送す
る。所定のストロークだけ前進した後にエアーシリンダ
36が駆動してシャフト16を円周方向に回転させ、突
出片17とパレット15との係止を解き、かかる状態で
シリンダ32を駆動させてシャフト16を後進させ、さ
らにエアーシリンダ36を駆動させて突出片17を直立
した状態に戻すことにより元の状態となる。そして新た
なパレット15をリフター2内にセットし、再び同様の
動きをシャフト16に行わせ、パレット16を順送りに
移動させる。これはシャフト16に所定間隔で突出片1
7が設けられているために、各試験モジュール1a,1
b,1c内のシャフト16が連結されている関係から同
期して動くために各シャフト16に接合された突出片1
7がパレット15と当接してパレット15を前進方向に
所定間隔だけ進める。その結果、各パレット15は、順
送りに低温用のモジュール、常温用のモジュール及び高
温のモジュールを通過し、各試験モジュール内において
通電試験を行うことが可能となる。In this state, each test module 1
After turning on the switches a, 1b, and 1c and setting the temperature of the environmental test chamber of the module to a predetermined temperature, the pallet 15 on which the electronic components are mounted is guided from the inlet lifter 2 to the guide rails 14,
When the pallet 15 is placed on the pallet 15, the horizontal air cylinder 32 in the lifter 2 moves forward in the axial direction of the shaft, and the projecting piece 17 that projects upright from the shaft 16. After moving forward by a predetermined stroke, the air cylinder 36 is driven to rotate the shaft 16 in the circumferential direction to release the engagement between the projecting piece 17 and the pallet 15, and in this state, the cylinder 32 is driven to move the shaft 16 backward. Then, the air cylinder 36 is further driven to return the protruding piece 17 to the upright state, thereby returning to the original state. Then, a new pallet 15 is set in the lifter 2, the same movement is performed on the shaft 16 again, and the pallet 16 is moved forward. This is because the projecting pieces 1 are
7, each test module 1a, 1
b, 1c projecting piece 1 joined to each shaft 16 to move synchronously from the connected relationship
7 comes into contact with the pallet 15 and advances the pallet 15 by a predetermined distance in the forward direction. As a result, each pallet 15 sequentially passes through the low-temperature module, the normal-temperature module, and the high-temperature module, and it is possible to perform an energization test in each test module.
【0012】最終モジュールである高温用モジュールに
おける通電試験を終えたパレット15は出口リフター3
において方向転換(上方から下方に移動)され、各試験
モジュール1a,1b,1c内の機械室7に敷設された
案内レール27,28を介して、入口方向に間歇的に後
進運動が与えられ、入口リフター2から回収可能な状態
となる。尚、本実施例では、モジュールの種類を高温、
低温、常温の3種類のもので構成したがこれに限定され
るものではなく、目的に併せて超低温、低温、常温、高
温、超高温の5種類のもので構成したり、高温用と低温
用の二種類の組合せのもので構成することも可能であ
る。また各試験モジュールの接続は任意に接続すること
が可能で、低温、常温、高温、常温、低温、常温、高温
というように接続することも可能である。また本実施例
では、機械室を環境試験室の下方に配置したもので構成
したがこれに限定されるものではなく、機械室の環境試
験室の上方や左右方向の環境試験室とは別個の位置に設
置したもので構成しても良い。The pallet 15 which has been subjected to the energization test in the high-temperature module which is the final module is placed on the exit lifter 3.
, And a backward movement is given intermittently in the direction of the inlet via guide rails 27 and 28 laid in the machine room 7 in each of the test modules 1a, 1b and 1c. It can be recovered from the inlet lifter 2. In this embodiment, the type of module is set to high temperature,
It is composed of three kinds of low temperature and normal temperature, but it is not limited to this. It can be composed of five kinds of ultra low temperature, low temperature, normal temperature, high temperature and ultra high temperature according to the purpose, or for high temperature and low temperature It is also possible to use a combination of the two types. In addition, the connection of each test module can be arbitrarily connected, and it is also possible to connect such as low temperature, normal temperature, high temperature, normal temperature, low temperature, normal temperature, and high temperature. Further, in the present embodiment, the machine room is configured to be disposed below the environmental test room. However, the present invention is not limited to this. It may be constituted by one installed at a position.
【0013】[0013]
【発明の効果】以上述べたように本発明にかかる組立式
環境試験装置及びその組立方法は、従来の装置のように
注文生産により個々の仕様に併せて作成する場合に比較
してモジュールを標準化して大量生産することが可能な
ので、依頼者のあらゆる仕様に対応させることができる
と共に、環境試験室を作成してから案内レールを敷設し
たり、駆動シャフトを配置したりする必要がなく、効率
良く環境試験装置を提供することができる。As described above, the assembling type environmental test apparatus and the assembling method according to the present invention standardize the module as compared with the case where the module is made to order according to individual specifications as in the conventional apparatus. It can be mass-produced, and it can correspond to all specifications of the client.In addition, it is not necessary to lay guide rails and arrange drive shafts after creating an environmental test room, An environmental test device can be provided well.
【図1】 各環境試験モジュールを任意に直列接続した
状態を示す正面図である。FIG. 1 is a front view showing a state in which environmental test modules are arbitrarily connected in series.
【図2】 図1の装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the apparatus of FIG.
【図3】 図1のA−A断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along line AA of FIG.
【図4】 搬送装置の機構を示す概略図である。FIG. 4 is a schematic view showing a mechanism of the transfer device.
【図5】 搬送装置の斜視図である。FIG. 5 is a perspective view of a transfer device.
【図6】 案内レールとシャフトの接続関係を示す透視
正面図である。FIG. 6 is a transparent front view showing a connection relationship between a guide rail and a shaft.
1a,1b,1c 環境試験モジュール 2 入口リフター 3 出口リフター 4 断熱材 5 扉 6 環境試験室 7 機械室 8 仕切り板 9 環境試験槽 10 恒温空気供給槽 12 側壁 13 開口 14 案内レール 15 パレット 16 シャフト 17 突出片 18 蒸発器 20 加熱手段 22 送風ファン 23,24 連通口 25 圧縮機 26 凝縮器 27,28 案内レール 30 軸受 32 エアーシリンダ 34 支持部材 36 エアーシリンダ 38 部材 1a, 1b, 1c Environmental test module 2 Inlet lifter 3 Outlet lifter 4 Insulation material 5 Door 6 Environmental test room 7 Machine room 8 Partition plate 9 Environmental test tank 10 Constant temperature air supply tank 12 Side wall 13 Opening 14 Guide rail 15 Pallet 16 Shaft 17 Projecting piece 18 Evaporator 20 Heating means 22 Blowing fan 23, 24 Communication port 25 Compressor 26 Condenser 27, 28 Guide rail 30 Bearing 32 Air cylinder 34 Support member 36 Air cylinder 38 Member
Claims (3)
試験室内に設置された電子部品等を搬送するための搬送
手段と、環境試験室内に配置した電子部品等の通電試験
を行うための試験装置と、前記環境試験室とは別個の位
置に設置された電子部品等を回送するための回送手段
と、前記環境試験室に対して所定温度の空気を供給する
恒温空気供給手段とからなる低温用、高温用及び/又は
常温用の試験モジュールと、環境試験装置の電子部品挿
入口に設置される入口リフターと、環境試験装置の末端
に接続される搬送手段から回送手段へ電子部品等を折り
返す出口リフターとからなり、前記各試験モジュールの
搬送手段がモジュールの幅方向に渡した一対の案内レー
ルと該案内レールの下方に摺動・回転自在に支持され所
定間隔で突出片を有するシャフトで構成され、前記入口
リフター内にモジュールに設けた搬送手段と同様に一対
の案内レールと該案内レールの下方に摺動・回転自在に
支持された所定間隔で突出片を有するシャフトと該シャ
フトを長手方向に摺動させる水平方向駆動手段と前記シ
ャフトを回転させる回転駆動手段が設置され、前記各モ
ジュール及び入口リフターの案内レールとシャフトが互
いに連結できるように構成されていることを特徴とする
組立式ライン型環境試験装置。1. An environment test chamber covered with a heat insulating material, a transport means for transporting electronic components and the like installed in the environmental test chamber, and a conduction test of the electronic components and the like arranged in the environmental test chamber. A testing device for, a recirculation means for recirculating electronic components and the like installed at a position separate from the environmental test chamber, and a constant temperature air supply means for supplying air at a predetermined temperature to the environmental test chamber. A test module for low temperature, high temperature and / or room temperature, an inlet lifter installed at an electronic component insertion port of an environmental test device, and electronic components from a transport means connected to a terminal of the environmental test device to a forwarding means. And a pair of guide rails extending in the width direction of the module, and slidably and rotatably supported below the guide rails and having projecting pieces at predetermined intervals. You A shaft having a pair of guide rails and a protruding piece at a predetermined interval slidably and rotatably supported below the guide rails, similarly to the conveying means provided in the module in the entrance lifter. Horizontal drive means for sliding the shaft in the longitudinal direction and rotary drive means for rotating the shaft are provided, and the guide rails of the modules and the inlet lifter and the shaft can be connected to each other. Assembling line type environmental test equipment.
向に渡した一対の案内レールと、前記出口リフター内に
モジュールに設けた回送手段と同様に一対の案内レール
と該案内レールの下方に摺動・回転自在に支持された所
定間隔で突出片を有するシャフトと該シャフトを長手方
向に摺動させる水平方向駆動手段と前記シャフトを回転
させる回転駆動手段が設置され、前記各モジュール及び
入口リフターの案内レールが互いに連結できるように構
成されていることを特徴とする請求項1記載の組立式ラ
イン型環境試験装置。2. A pair of guide rails extending in the width direction of the test module, and a pair of guide rails and a slide below the guide rails as in the case of the transfer unit provided in the module in the outlet lifter. A shaft having protruding pieces that are movably and rotatably supported at predetermined intervals, a horizontal driving unit that slides the shaft in the longitudinal direction, and a rotation driving unit that rotates the shaft are installed. The assembly line type environmental test apparatus according to claim 1, wherein the guide rails are configured to be connected to each other.
試験室内に設置された電子部品等を搬送するための搬送
手段と、環境試験室内に配置した電子部品等の通電試験
を行うための試験装置と、前記環境試験室とは別個の位
置に設置された電子部品等を回送するための回送手段
と、前記環境試験室に対して所定温度の空気を供給する
恒温空気供給手段とからなる低温用、高温用及び/又は
常温用の試験モジュールと、環境試験装置の電子部品挿
入口に設置される入口リフターと、環境試験装置の末端
に接続される搬送手段から回送手段へ電子部品等を折り
返す出口リフターとからなり、前記各試験モジュールの
搬送手段がモジュールの幅方向に渡した一対の案内レー
ルと該案内レールの下方に摺動・回転自在に支持された
所定間隔で突出片を有するシャフトで構成され、前記入
口リフター内にモジュールに設けた搬送手段と同様に一
対の案内レールと該案内レールの下方に摺動・回転自在
に支持された所定間隔で突出片を有するシャフトと該シ
ャフトを長手方向に摺動させる水平方向駆動手段と前記
シャフトを回転させる回転駆動手段が設置され、前記各
モジュール及び入口リフターの案内レールとシャフトが
互いに連結できるように構成された組立式ライン型環境
試験装置において仕様に併せて適宜低温用、常温用又は
高温用のモジュールを直列に連結する工程と各モジュー
ルの搬送手段及び回送手段を連結することによりシャフ
トが連動するようにする工程と、 結合したモジュールの前端・後端にそれぞれ入口リフタ
ー及び出口リフターを連結し、さらに各リフターの案内
レール及びシャフトを連結する工程、とからなるライン
型環境試験装置の組立方法。3. An environment test chamber covered with a heat insulating material, a transport means for transporting electronic components and the like installed in the environment test chamber, and a conduction test of the electronic components and the like arranged in the environment test chamber. A testing device for, a recirculation means for recirculating electronic components and the like installed at a position separate from the environmental test chamber, and a constant temperature air supply means for supplying air at a predetermined temperature to the environmental test chamber. A test module for low temperature, high temperature and / or room temperature, an inlet lifter installed at an electronic component insertion port of an environmental test device, and electronic components from a transport means connected to a terminal of the environmental test device to a forwarding means. And a pair of guide rails, each of which is transported in the width direction of the module, and a protruding piece that is slidably and rotatably supported below the guide rails. Yes A shaft having a pair of guide rails and a protruding piece at a predetermined interval slidably and rotatably supported below the guide rails similarly to the conveying means provided in the module in the entrance lifter. An assembly line type environment in which a horizontal driving means for sliding the shaft in the longitudinal direction and a rotation driving means for rotating the shaft are installed, and the guide rails of the modules and the inlet lifter and the shaft can be connected to each other. In the test apparatus, the steps of connecting the modules for low temperature, normal temperature, or high temperature as appropriate according to the specifications in series and the step of connecting the conveying means and the forwarding means of each module so that the shafts are linked to each other are combined. An inlet lifter and an outlet lifter are connected to the front and rear ends of the module, respectively, and a guide rail for each lifter And a step of connecting the shafts.
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JP8026107A JP3007290B2 (en) | 1996-01-19 | 1996-01-19 | Assembling type line type environmental test apparatus and assembling method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
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