JP2990458B2 - 金属検出機 - Google Patents
金属検出機Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は被検査体に含まれる金属
の有無を、被検査体が磁界に与える影響を検出して判定
する金属検出機に関する。
の有無を、被検査体が磁界に与える影響を検出して判定
する金属検出機に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の金属検出機は、コイル等に電流
を流して磁界を発生させ、この磁界の磁束を受ける位置
にコイル等の磁気センサを配置し、この磁界中を通過す
る被検査体による磁束変化を磁気センサからの信号によ
って検出し、この検出信号に基づいて被検査体の金属の
有無を判定している。
を流して磁界を発生させ、この磁界の磁束を受ける位置
にコイル等の磁気センサを配置し、この磁界中を通過す
る被検査体による磁束変化を磁気センサからの信号によ
って検出し、この検出信号に基づいて被検査体の金属の
有無を判定している。
【０００３】図４は、交番磁界によって金属の検出を行
なう従来の金属検出機の構成を示している。
なう従来の金属検出機の構成を示している。
【０００４】この金属検出機の磁界発生部１は、基準信
号発生器２から出力される所定周波数の基準パルス信号
をフィルタ３によって正弦波に変換し、この正弦波信号
を電力増幅器４によって増幅して送信コイル５に所定の
励磁電流を流し、送信コイル５から磁界を発生させる。
号発生器２から出力される所定周波数の基準パルス信号
をフィルタ３によって正弦波に変換し、この正弦波信号
を電力増幅器４によって増幅して送信コイル５に所定の
励磁電流を流し、送信コイル５から磁界を発生させる。
【０００５】この金属検出機の磁気センサは、送信コイ
ル５から発生する磁界の磁束を等量受ける位置に並んだ
１対の受信コイル６、７によって形成されている。
ル５から発生する磁界の磁束を等量受ける位置に並んだ
１対の受信コイル６、７によって形成されている。
【０００６】受信コイル６、７に誘起される等しい大き
さの電圧信号は、差動増幅器８に入力されている。した
がって、被検査体Ｗが磁界と交わらない位置にあるとき
には、差動増幅器８の出力は零となる。
さの電圧信号は、差動増幅器８に入力されている。した
がって、被検査体Ｗが磁界と交わらない位置にあるとき
には、差動増幅器８の出力は零となる。
【０００７】ここで、被検査体Ｗが送信コイル５と一方
の受信コイル６との間に移動すると、被検査体Ｗおよび
この被検査体Ｗに含まれる金属が磁界に影響を与え、２
つの受信コイル６、７に交わる磁束が不平衡となる。
の受信コイル６との間に移動すると、被検査体Ｗおよび
この被検査体Ｗに含まれる金属が磁界に影響を与え、２
つの受信コイル６、７に交わる磁束が不平衡となる。
【０００８】このため、受信コイル６、７に誘起される
電圧に差が生じ、その差動信号が差動増幅器８から検波
回路９へ出力される。
電圧に差が生じ、その差動信号が差動増幅器８から検波
回路９へ出力される。
【０００９】一方、移相回路１０からは、基準パルス信
号の位相が可変された移相基準信号が検波回路９へ入力
されている。
号の位相が可変された移相基準信号が検波回路９へ入力
されている。
【００１０】検波回路９は、差動信号を移相基準信号に
よって同期検波し、その検波出力信号をＬＰＦ（低域通
過フィルタ）１１を介して判定手段１２へ出力する。
よって同期検波し、その検波出力信号をＬＰＦ（低域通
過フィルタ）１１を介して判定手段１２へ出力する。
【００１１】判定手段１２は、入力された検波出力信号
のレベルが基準値を越えたとき、被検査体Ｗに金属が混
入していることを示す判定信号を出力する。なお、レベ
ル表示器１３は、ＬＰＦ１１の出力レベルを表示する。
のレベルが基準値を越えたとき、被検査体Ｗに金属が混
入していることを示す判定信号を出力する。なお、レベ
ル表示器１３は、ＬＰＦ１１の出力レベルを表示する。
【００１２】このように構成された金属検出機では、金
属の混入を高感度に検出するために、予め、被検査体Ｗ
自身の磁界に与える影響が最も少なくなる位相に移相回
路１０を調整する必要がある。
属の混入を高感度に検出するために、予め、被検査体Ｗ
自身の磁界に与える影響が最も少なくなる位相に移相回
路１０を調整する必要がある。
【００１３】即ち、被検査体自身による差動信号の大き
さは、図５に示すように検波位相に応じて変化してお
り、この被検査体に対して初期検波位相Ｓが始めから最
小レベルの位相Ｐに合っていることはほとんどない。
さは、図５に示すように検波位相に応じて変化してお
り、この被検査体に対して初期検波位相Ｓが始めから最
小レベルの位相Ｐに合っていることはほとんどない。
【００１４】このため、従来の金属検出機では、混入金
属を含まない被検査体を磁界に通過させる毎にレベル表
示器１１を見て、その表示レベルが最小値になるまで移
相回路１０を所定の位相ステップΔαずつ可変させ、そ
の表示レベルが小さくなったら、より小さな位相ステッ
プΔβずつ可変して、最小レベルの位相Ｐに追い込むよ
うにしている。
属を含まない被検査体を磁界に通過させる毎にレベル表
示器１１を見て、その表示レベルが最小値になるまで移
相回路１０を所定の位相ステップΔαずつ可変させ、そ
の表示レベルが小さくなったら、より小さな位相ステッ
プΔβずつ可変して、最小レベルの位相Ｐに追い込むよ
うにしている。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ような構成の金属検出機では、初期位相Ｓと最終位相Ｐ
とが大きく離れている場合、被検査体を数１０回も磁界
内に通過させなくては、最終位相まで到達せず、実際の
検査を始めるまでに多大な時間を要していた。
ような構成の金属検出機では、初期位相Ｓと最終位相Ｐ
とが大きく離れている場合、被検査体を数１０回も磁界
内に通過させなくては、最終位相まで到達せず、実際の
検査を始めるまでに多大な時間を要していた。
【００１６】このため、位相ステップΔαを大きくする
ことも考えられるが、位相ステップを大きくした場合、
目的の最終位相を飛び越える回数が増えてしまい、かえ
って最終位相に到達するまでの回数が増えることもあっ
た。本発明はこの課題を解決した金属検出機を提供する
ことを目的としている。
ことも考えられるが、位相ステップを大きくした場合、
目的の最終位相を飛び越える回数が増えてしまい、かえ
って最終位相に到達するまでの回数が増えることもあっ
た。本発明はこの課題を解決した金属検出機を提供する
ことを目的としている。
【００１７】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明の金属検出機は、所定周波数の基準信号と同一
周波数の磁界を発生する磁界発生部と、前記磁界の磁束
を等量受ける位置に配置された１対の磁気センサと、前
記１対の磁気センサの差動成分を出力する差動出力回路
と、前記基準信号を入力される位相データに応じて移相
させた第１の移相基準信号を出力する第１の移相回路
と、前記第１の移相基準信号に対して９０度位相が異な
る第２の移相基準信号を出力する第２の移相回路と、前
記差動出力回路からの差動信号を、前記第１の移相基準
信号によって同期検波する第１の検波回路と、前記差動
出力回路からの差動信号を、前記第２の移相基準信号に
よって同期検波する第２の検波回路と、混入金属を含ま
ない被検査体が前記磁界内を通過したときの前記第１の
検波回路の出力信号のピーク値と前記第２の検波回路の
出力信号のピーク値とを検出するピーク値検出手段と、
前記ピーク値検出手段によって検出された２つのピーク
値を直交辺とする三角形の正接角を、前記混入金属を含
まない被検査体の通過による前記差動信号と前記基準信
号との位相差として算出し、該位相差に応じた位相デー
タを前記第１の移相回路へ出力する位相差算出手段と、
前記位相差算出手段から前記第１の移相回路に位相デー
タが入力された後に前記磁界内を通過する被検査体の混
入金属の有無を、前記第１の検波回路または第２の検波
回路の出力信号に基づいて判定する判定手段とを備えて
いる。
に本発明の金属検出機は、所定周波数の基準信号と同一
周波数の磁界を発生する磁界発生部と、前記磁界の磁束
を等量受ける位置に配置された１対の磁気センサと、前
記１対の磁気センサの差動成分を出力する差動出力回路
と、前記基準信号を入力される位相データに応じて移相
させた第１の移相基準信号を出力する第１の移相回路
と、前記第１の移相基準信号に対して９０度位相が異な
る第２の移相基準信号を出力する第２の移相回路と、前
記差動出力回路からの差動信号を、前記第１の移相基準
信号によって同期検波する第１の検波回路と、前記差動
出力回路からの差動信号を、前記第２の移相基準信号に
よって同期検波する第２の検波回路と、混入金属を含ま
ない被検査体が前記磁界内を通過したときの前記第１の
検波回路の出力信号のピーク値と前記第２の検波回路の
出力信号のピーク値とを検出するピーク値検出手段と、
前記ピーク値検出手段によって検出された２つのピーク
値を直交辺とする三角形の正接角を、前記混入金属を含
まない被検査体の通過による前記差動信号と前記基準信
号との位相差として算出し、該位相差に応じた位相デー
タを前記第１の移相回路へ出力する位相差算出手段と、
前記位相差算出手段から前記第１の移相回路に位相デー
タが入力された後に前記磁界内を通過する被検査体の混
入金属の有無を、前記第１の検波回路または第２の検波
回路の出力信号に基づいて判定する判定手段とを備えて
いる。
【００１８】
【作用】このように構成された金属検出機では、混入金
属を含まない被検査体を磁界内に１回通過させると、そ
の差動信号は第１の検波回路と第２の検波回路によっ
て、互いに９０°異なる位相で検波され、それぞれの検
波出力信号のピーク値が検出され、その２つのピーク値
を直交辺とする三角形の正接角が、混入金属を含まない
被検査体の通過による差動信号と基準信号との位相差と
して算出され、この差に応じた位相データが第１の移相
回路に入力される。このため、次の被検査体が磁界内を
通過したときの第１の検波回路または第２の検波回路の
検波出力は、被検査体自体の影響による成分が最小レベ
ルに近いレベルまで低下しており、この検波出力のレベ
ルに基づいて、検被検査体に含まれる混入金属の有無が
判定される。
属を含まない被検査体を磁界内に１回通過させると、そ
の差動信号は第１の検波回路と第２の検波回路によっ
て、互いに９０°異なる位相で検波され、それぞれの検
波出力信号のピーク値が検出され、その２つのピーク値
を直交辺とする三角形の正接角が、混入金属を含まない
被検査体の通過による差動信号と基準信号との位相差と
して算出され、この差に応じた位相データが第１の移相
回路に入力される。このため、次の被検査体が磁界内を
通過したときの第１の検波回路または第２の検波回路の
検波出力は、被検査体自体の影響による成分が最小レベ
ルに近いレベルまで低下しており、この検波出力のレベ
ルに基づいて、検被検査体に含まれる混入金属の有無が
判定される。
【００１９】位相差算出手段は、検波出力信号に基づい
て基準信号と差動信号の位相差を算出し、その差に応じ
た位相データを第１の移相回路へ入力する。このため、
次にに磁界内を通過する被検査体による差動信号成分の
出力は、最小レベルに近いレベルまで低下し、被検査体
に含まれる混入金属の影響による差動信号成分のみが、
第１の検波回路または第２の検波回路によって検波さ
れ、その検波出力信号のレベルに基づいて、混入金属の
有無が判定される。
て基準信号と差動信号の位相差を算出し、その差に応じ
た位相データを第１の移相回路へ入力する。このため、
次にに磁界内を通過する被検査体による差動信号成分の
出力は、最小レベルに近いレベルまで低下し、被検査体
に含まれる混入金属の影響による差動信号成分のみが、
第１の検波回路または第２の検波回路によって検波さ
れ、その検波出力信号のレベルに基づいて、混入金属の
有無が判定される。
【００２０】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。
明する。
【００２１】図１は、本発明の一実施例の金属検出機の
構成を示すブロック図であり、磁界発生部１は、図４に
示した金属検出機と同様に、基準信号発生器２からの基
準パルス信号をフィルタ３によって正弦波に変換し、こ
の正弦波信号を電力増幅器４によって増幅して、送信コ
イル５から磁界を発生させている。また、受信コイル
６、７の誘起電圧は、差動増幅器８によって差動増幅さ
れる。
構成を示すブロック図であり、磁界発生部１は、図４に
示した金属検出機と同様に、基準信号発生器２からの基
準パルス信号をフィルタ３によって正弦波に変換し、こ
の正弦波信号を電力増幅器４によって増幅して、送信コ
イル５から磁界を発生させている。また、受信コイル
６、７の誘起電圧は、差動増幅器８によって差動増幅さ
れる。
【００２２】一方、基準信号発生器２からの基準パルス
信号は、第１の移相回路２０へ入力されている。この第
１の移相回路２０は、基準パルス信号を、後述する位相
設定部３０からの位相データΦに応じた位相角だけ遅延
した第１の移相基準信号を出力する。
信号は、第１の移相回路２０へ入力されている。この第
１の移相回路２０は、基準パルス信号を、後述する位相
設定部３０からの位相データΦに応じた位相角だけ遅延
した第１の移相基準信号を出力する。
【００２３】この第１の移相基準信号は、第２の移相回
路２１に入力されている。第２の移相回路２１は、第１
の移相基準信号を９０度遅延させた第２の移相基準信号
を出力する。
路２１に入力されている。第２の移相回路２１は、第１
の移相基準信号を９０度遅延させた第２の移相基準信号
を出力する。
【００２４】差動増幅器８からの差動信号は、第１の検
波回路２３および第２の検波回路２６に入力されてい
る。
波回路２３および第２の検波回路２６に入力されてい
る。
【００２５】第１の検波回路２３は差動信号を第１の移
相基準信号によって同期検波し、その検波出力信号をＬ
ＰＦ２４を介してＡ／Ｄ変換器２５へ出力する。
相基準信号によって同期検波し、その検波出力信号をＬ
ＰＦ２４を介してＡ／Ｄ変換器２５へ出力する。
【００２６】第２の検波回路２６は差動信号を第２の移
相基準信号によって同期検波し、その検波出力信号をＬ
ＰＦ２７を介してＡ／Ｄ変換器２８へ出力する。
相基準信号によって同期検波し、その検波出力信号をＬ
ＰＦ２７を介してＡ／Ｄ変換器２８へ出力する。
【００２７】Ａ／Ｄ変換器２５、２８の出力は、判定手
段２９へ入力されている。判定手段２９は、後述するモ
ード切り替え手段４０からの判定開始信号を受けると、
Ａ／Ｄ変換器２５、２８の出力値に基づいて被検査体に
含まれる金属の有無を判定する。
段２９へ入力されている。判定手段２９は、後述するモ
ード切り替え手段４０からの判定開始信号を受けると、
Ａ／Ｄ変換器２５、２８の出力値に基づいて被検査体に
含まれる金属の有無を判定する。
【００２８】また、Ａ／Ｄ変換器２５、２８の出力は、
位相設定部３０のピーク値検出手段３１に入力されてい
る。
位相設定部３０のピーク値検出手段３１に入力されてい
る。
【００２９】ピーク値検出手段３１は、被検査体が磁界
内を通過する毎に、Ａ／Ｄ変換器２５、２８の出力のピ
ーク値Ａ、Ｂを検出して出力する。
内を通過する毎に、Ａ／Ｄ変換器２５、２８の出力のピ
ーク値Ａ、Ｂを検出して出力する。
【００３０】位相差算出手段３２は、モード切り替え手
段４０からのリセット信号を受けた後に最初に入力され
たピーク値Ａ0 、Ｂ0 を直交辺とする三角形の正接角を
初期位相データθとして算出して出力する。
段４０からのリセット信号を受けた後に最初に入力され
たピーク値Ａ0 、Ｂ0 を直交辺とする三角形の正接角を
初期位相データθとして算出して出力する。
【００３１】微調整手段３３は、モード切り替え信号を
受けた後、２回目以後のピーク値が入力される毎に、そ
のピーク値のうち例えばＡが最小となるように、所定の
位相ステップΔγで微調整データＫ（＝±ＮΔγ Ｎは
整数）を可変出力し、ピーク値が最小になったとき、設
定完了信号を出力する。
受けた後、２回目以後のピーク値が入力される毎に、そ
のピーク値のうち例えばＡが最小となるように、所定の
位相ステップΔγで微調整データＫ（＝±ＮΔγ Ｎは
整数）を可変出力し、ピーク値が最小になったとき、設
定完了信号を出力する。
【００３２】加算器３４は、初期位相データθと微調整
データＫの加算値を位相データΦとして第１の移相回路
２０へ出力する。
データＫの加算値を位相データΦとして第１の移相回路
２０へ出力する。
【００３３】モード切り替え手段４０は、位相設定スイ
ッチ４１がオン操作されると、位相差算出手段３２およ
び微調整手段３３にリセット信号を出力するとともに、
判定手段２９による判定動作を停止させ、微調整手段３
３からの設定完了信号を受けると、判定手段２９に判定
開始信号を出力して、判定動作を開始させる。
ッチ４１がオン操作されると、位相差算出手段３２およ
び微調整手段３３にリセット信号を出力するとともに、
判定手段２９による判定動作を停止させ、微調整手段３
３からの設定完了信号を受けると、判定手段２９に判定
開始信号を出力して、判定動作を開始させる。
【００３４】なお、設定完了報知器４３は、微調整手段
３３からの設定完了信号を音あるいは光に変換して、設
定が完了したことを報知する。
３３からの設定完了信号を音あるいは光に変換して、設
定が完了したことを報知する。
【００３５】次に、この金属検出機の動作について説明
する。最適な検波位相がわかっていない被検査体を検査
する場合には、予め、位相設定スイッチ４１をオン操作
し、混入金属を含まない被検査体を磁界内に通過させ
る。
する。最適な検波位相がわかっていない被検査体を検査
する場合には、予め、位相設定スイッチ４１をオン操作
し、混入金属を含まない被検査体を磁界内に通過させ
る。
【００３６】このとき、第１の移相回路２０の位相デー
タΦは零で、基準パルス信号がそのまま第１の移相基準
信号として、第１の検波回路２３へ入力され、この第１
の移相基準信号に対して９０度移相された第２の移相基
準信号が第２の検波回路２４へ入力される。
タΦは零で、基準パルス信号がそのまま第１の移相基準
信号として、第１の検波回路２３へ入力され、この第１
の移相基準信号に対して９０度移相された第２の移相基
準信号が第２の検波回路２４へ入力される。
【００３７】このとき、図２に示すように、混入金属を
含まない被検査体による差動信号は、被検査体がない状
態を基準にした受信位相のｘ−ｙ座標上でθ1 という位
相をもっており、基準パルス信号の位相を基準とする座
標Ｘ−Ｙは、ｘ−ｙ座標に対して所定の位相差を有して
いる。この座標Ｘ−Ｙ上での差動信号の位相角θは、第
１の検波回路２３の出力のピーク値Ａ0 と第２の検波回
路２４の出力のピーク値Ｂ0 による正接角に対応してい
る。
含まない被検査体による差動信号は、被検査体がない状
態を基準にした受信位相のｘ−ｙ座標上でθ1 という位
相をもっており、基準パルス信号の位相を基準とする座
標Ｘ−Ｙは、ｘ−ｙ座標に対して所定の位相差を有して
いる。この座標Ｘ−Ｙ上での差動信号の位相角θは、第
１の検波回路２３の出力のピーク値Ａ0 と第２の検波回
路２４の出力のピーク値Ｂ0 による正接角に対応してい
る。
【００３８】この１回の被検査体の通過によって、一方
のピーク値Ａを零にするための初期位相θが位相差算出
手段３２によって算出されることになり、この初期位相
θは位相データΦとして、第１の移相回路２０に出力さ
れる（このとき、微調整データＫは零である）。
のピーク値Ａを零にするための初期位相θが位相差算出
手段３２によって算出されることになり、この初期位相
θは位相データΦとして、第１の移相回路２０に出力さ
れる（このとき、微調整データＫは零である）。
【００３９】このため、このＸ−Ｙ座標は初期位相θ分
回転して、Ｘ軸が差動信号の位相とほぼ一致した状態
で、次の混入金属を含まない被検査体の差動信号が検波
されることになる。
回転して、Ｘ軸が差動信号の位相とほぼ一致した状態
で、次の混入金属を含まない被検査体の差動信号が検波
されることになる。
【００４０】したがって、図３に示すように、２回目の
検波位相は、初回の検波位相からθだけ変化し、第１の
検波回路２３の出力はほぼ最小レベルとなる。
検波位相は、初回の検波位相からθだけ変化し、第１の
検波回路２３の出力はほぼ最小レベルとなる。
【００４１】２回目の被検査体の通過以後は、微調整手
段３３によって位相データΦが微小な位相ステップΔγ
で可変されてこの被検査体自身の影響を最小にする位相
が決定されるため、混入金属を含まない被検査体を数回
磁界内を通過させるだけで、、微調整手段３３から設定
完了信号が出力されることになる。
段３３によって位相データΦが微小な位相ステップΔγ
で可変されてこの被検査体自身の影響を最小にする位相
が決定されるため、混入金属を含まない被検査体を数回
磁界内を通過させるだけで、、微調整手段３３から設定
完了信号が出力されることになる。
【００４２】微調整手段３３から設定完了信号が出力さ
れると、第１の移相回路２０に対する位相データΦはホ
ールドされ、判定手段２９は、混入金属の有無を判定で
きる状態となり、設定完了報知器４３が、この位相設定
の完了を報知する。
れると、第１の移相回路２０に対する位相データΦはホ
ールドされ、判定手段２９は、混入金属の有無を判定で
きる状態となり、設定完了報知器４３が、この位相設定
の完了を報知する。
【００４３】以後、被検査体を磁界内に順次通過させれ
ば、この被検査体自身の影響が最も少ない状態、即ち、
混入金属に対する検出感度が最も高い状態で、金属検出
が行なわれる。
ば、この被検査体自身の影響が最も少ない状態、即ち、
混入金属に対する検出感度が最も高い状態で、金属検出
が行なわれる。
【００４４】なお、前記実施例の金属検出機では、送信
コイル５に対向するように配置された１対の受信コイル
６、７によって磁気センサを構成していたが、ホール素
子等の半導体センサを磁気センサとして用いた金属検出
機についても本発明を同様に適用できる。
コイル５に対向するように配置された１対の受信コイル
６、７によって磁気センサを構成していたが、ホール素
子等の半導体センサを磁気センサとして用いた金属検出
機についても本発明を同様に適用できる。
【００４５】また、送信コイルと受信コイルとを同軸状
に配置した金属検出機や、大径の送信コイルの内側に受
信コイルを同一向きに配置した金属検出機についても本
発明を同様に適用できる。
に配置した金属検出機や、大径の送信コイルの内側に受
信コイルを同一向きに配置した金属検出機についても本
発明を同様に適用できる。
【００４６】また、前記実施例では、１回目の位相設定
の後に微調整手段によって、さらに細かく位相を調整す
るようにしていたが、微調整手段を省略して、１回の被
検査体の通過だけで、位相設定を終了させるようにして
もよい。
の後に微調整手段によって、さらに細かく位相を調整す
るようにしていたが、微調整手段を省略して、１回の被
検査体の通過だけで、位相設定を終了させるようにして
もよい。
【００４７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の金属検出
機は、混入金属を含まない被検査体を磁界内に通過させ
たときの第１の検波回路および第２の検波回路から出力
された信号のピーク値をそれぞれ検出し、この２つのピ
ーク値を直交辺とする三角形の正接角を、この被検査体
の通過による差動信号と基準信号との位相差として算出
し、この移相差に応じた位相データを第１の移相回路に
入力することによって、次の被検査体に対する検波位相
を、被検査体自身の影響が最も少なくなるように設定し
ている。
機は、混入金属を含まない被検査体を磁界内に通過させ
たときの第１の検波回路および第２の検波回路から出力
された信号のピーク値をそれぞれ検出し、この２つのピ
ーク値を直交辺とする三角形の正接角を、この被検査体
の通過による差動信号と基準信号との位相差として算出
し、この移相差に応じた位相データを第１の移相回路に
入力することによって、次の被検査体に対する検波位相
を、被検査体自身の影響が最も少なくなるように設定し
ている。
【００４８】このため、被検査体を１回あるいは数回磁
界に通過させるだけで、その被検査体に対して最も高い
検出感度で混入金属を検出できる検波位相に設定するこ
とができ、極めて短時間に検査運転を開始することがで
きる。
界に通過させるだけで、その被検査体に対して最も高い
検出感度で混入金属を検出できる検波位相に設定するこ
とができ、極めて短時間に検査運転を開始することがで
きる。
【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】一実施例の検波出力と位相との関係を説明する
ための図である。
ための図である。
【図３】一実施例の動作を説明するための図である。
【図４】従来装置の構成を示すブロック図である。
【図５】従来装置の動作を説明するための図である。
１ 磁界発生部 ２ 基準信号発生器 ５ 送信コイル ６、７ 受信コイル ８ 差動増幅器 ２０ 第１の移相回路 ２１ 第２の移相回路 ２３ 第１の検波回路 ２５ Ａ／Ｄ変換器 ２６ 第２の検波回路 ２８ Ａ／Ｄ変換器 ２９ 判定手段 ３０ 位相設定部 ３１ ピーク値検出手段 ３２ 位相差算出手段 ３３ 微調整手段 ３４ 加算器 ４０ モード切り替え手段 ４３ 設定完了報知器
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01V 3/10 G01V 3/08
Claims (1)
- 【請求項１】所定周波数の基準信号と同一周波数の磁界
を発生する磁界発生部と、 前記磁界の磁束を等量受ける位置に配置された１対の磁
気センサと、 前記１対の磁気センサの差動成分を出力する差動出力回
路と、 前記基準信号を入力される位相データに応じて移相させ
た第１の移相基準信号を出力する第１の移相回路と、 前記第１の移相基準信号に対して９０度位相が異なる第
２の移相基準信号を出力する第２の移相回路と、 前記差動出力回路からの差動信号を、前記第１の移相基
準信号によって同期検波する第１の検波回路と、 前記差動出力回路からの差動信号を、前記第２の移相基
準信号によって同期検波する第２の検波回路と、 混入金属を含まない被検査体が前記磁界内を通過したと
きの前記第１の検波回路の出力信号のピーク値と前記第
２の検波回路の出力信号のピーク値とを検出するピーク
値検出手段と、 前記ピーク値検出手段によって検出された２つのピーク
値を直交辺とする三角形の正接角を、前記混入金属を含
まない 被検査体の通過による前記差動信号と前記基準信
号との位相差として算出し、該位相差に応じた位相デー
タを前記第１の移相回路へ出力する位相差算出手段と、 前記位相差算出手段から前記第１の移相回路に位相デー
タが入力された後に前記磁界内を通過する被検査体の混
入金属の有無を、前記第１の検波回路または第２の検波
回路の出力信号に基づいて判定する判定手段とを備えた
金属検出機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29091691A JP2990458B2 (ja) | 1991-10-10 | 1991-10-10 | 金属検出機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29091691A JP2990458B2 (ja) | 1991-10-10 | 1991-10-10 | 金属検出機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05100047A JPH05100047A (ja) | 1993-04-23 |
| JP2990458B2 true JP2990458B2 (ja) | 1999-12-13 |
Family
ID=17762172
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29091691A Expired - Fee Related JP2990458B2 (ja) | 1991-10-10 | 1991-10-10 | 金属検出機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2990458B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4173470B2 (ja) * | 2004-08-30 | 2008-10-29 | アンリツ産機システム株式会社 | 金属検出装置 |
| EP2562565B1 (en) * | 2011-08-24 | 2014-03-05 | Mettler-Toledo Safeline Limited | Metal Detection Apparatus |
-
1991
- 1991-10-10 JP JP29091691A patent/JP2990458B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05100047A (ja) | 1993-04-23 |
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