JP2945513B2 - 光ファイバカプラの製造方法 - Google Patents
光ファイバカプラの製造方法Info
- Publication number
- JP2945513B2 JP2945513B2 JP19452191A JP19452191A JP2945513B2 JP 2945513 B2 JP2945513 B2 JP 2945513B2 JP 19452191 A JP19452191 A JP 19452191A JP 19452191 A JP19452191 A JP 19452191A JP 2945513 B2 JP2945513 B2 JP 2945513B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- light
- coupler
- stretching
- manufacturing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Optical Communication System (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複数本の光ファイバの
一部を、加熱融着しながら延伸してカプラを形成する、
いわゆる融着延伸法による光ファイバカプラの製造方法
に関するものである。
一部を、加熱融着しながら延伸してカプラを形成する、
いわゆる融着延伸法による光ファイバカプラの製造方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光ファイバカプラは、所望の複数本の光
ファイバ間で光を分岐・結合するデバイスであり、複数
本の光ファイバの一部を密着させた後、加熱して溶融、
延伸することにより製造される。所望の分岐比の光ファ
イバカプラを得るためには、溶融、延伸の工程において
分岐比をモニタしながら製造する必要がある。
ファイバ間で光を分岐・結合するデバイスであり、複数
本の光ファイバの一部を密着させた後、加熱して溶融、
延伸することにより製造される。所望の分岐比の光ファ
イバカプラを得るためには、溶融、延伸の工程において
分岐比をモニタしながら製造する必要がある。
【0003】この分岐比をモニタする方法として、一般
的に用いられている透過モニタ法と、本出願人が先に出
願した(特願平1−275616)反射モニタ法があ
る。
的に用いられている透過モニタ法と、本出願人が先に出
願した(特願平1−275616)反射モニタ法があ
る。
【0004】図4はこの透過モニタ法を用いた光ファイ
バカプラの製造装置である。同図に示すようにボビン4
1に巻回された対象となる2本の光ファイバ40a,4
0bを用意し、そのそれぞれのカプラ形成部42に該当
する部分の被覆を除去し、互いに密着させてバーナ等で
加熱、融着、延伸して光ファイバカプラ43を形成す
る。この延伸を制御するために、一方の光ファイバ40
aの一方の端に連続光光源44が接続され、両光ファイ
バ40a,40bの他方の端にそれぞれ光接続用のV溝
接続具45,45を介して光検出器46,46が接続さ
れている。また、光検出器46,46はコンピータ47
に接続され、コンピータ47は延伸治具48を制御する
延伸制御装置49に接続されている。
バカプラの製造装置である。同図に示すようにボビン4
1に巻回された対象となる2本の光ファイバ40a,4
0bを用意し、そのそれぞれのカプラ形成部42に該当
する部分の被覆を除去し、互いに密着させてバーナ等で
加熱、融着、延伸して光ファイバカプラ43を形成す
る。この延伸を制御するために、一方の光ファイバ40
aの一方の端に連続光光源44が接続され、両光ファイ
バ40a,40bの他方の端にそれぞれ光接続用のV溝
接続具45,45を介して光検出器46,46が接続さ
れている。また、光検出器46,46はコンピータ47
に接続され、コンピータ47は延伸治具48を制御する
延伸制御装置49に接続されている。
【0005】連続光光源44から光ファイバ40a,4
0bに入射した光は、カプラ形成部42を通過した後、
両光検出器46,46で検出される。この検出結果はコ
ンピータ47に入力され、コンピータ47でこの両透過
光の光量に基づいて分岐比が計算される。分岐比が所望
の値になったところで、コンピータ47から延伸制御装
置49に制御信号が出力され、これにより延伸制御装置
49は延伸治具48の延伸を停止させる。
0bに入射した光は、カプラ形成部42を通過した後、
両光検出器46,46で検出される。この検出結果はコ
ンピータ47に入力され、コンピータ47でこの両透過
光の光量に基づいて分岐比が計算される。分岐比が所望
の値になったところで、コンピータ47から延伸制御装
置49に制御信号が出力され、これにより延伸制御装置
49は延伸治具48の延伸を停止させる。
【0006】次に、図5は反射モニタ法を用いた光ファ
イバカプラの製造装置である。この装置では、両光ファ
イバ40a,40bの一方の端にそれぞれ光検出器4
6,46が接続されており、その内の一方の光ファイバ
40aに、反射光を分岐するための測定用カプラ50を
介して連続光光源44が接続されている。そして、光検
出器46,46はコンピータ47に接続され、コンピー
タ47は延伸治具48を制御する延伸制御装置49に接
続されている。一方、両光ファイバ40a,40bの他
方の端は開放されている。なお、図中符号51,51は
反射防止用の屈折率整合油である。
イバカプラの製造装置である。この装置では、両光ファ
イバ40a,40bの一方の端にそれぞれ光検出器4
6,46が接続されており、その内の一方の光ファイバ
40aに、反射光を分岐するための測定用カプラ50を
介して連続光光源44が接続されている。そして、光検
出器46,46はコンピータ47に接続され、コンピー
タ47は延伸治具48を制御する延伸制御装置49に接
続されている。一方、両光ファイバ40a,40bの他
方の端は開放されている。なお、図中符号51,51は
反射防止用の屈折率整合油である。
【0007】連続光光源44から測定用カプラ50を介
して光ファイバ40aに入射した光は、カプラ形成部4
2を通過した後、光ファイバ40aの開放端で反射し、
再度カプラ形成部42を通過し分岐されて、両光検出器
46,46で検出される。この検出結果はコンピータ4
7に入力され、コンピータ47でこの両反射光の光量に
基づいて分岐比が計算される。そして、分岐比が所望の
値になったところで、コンピータ47から延伸制御装置
49に制御信号が出力され、これにより延伸制御装置4
9は延伸治具48の延伸を停止させる。
して光ファイバ40aに入射した光は、カプラ形成部4
2を通過した後、光ファイバ40aの開放端で反射し、
再度カプラ形成部42を通過し分岐されて、両光検出器
46,46で検出される。この検出結果はコンピータ4
7に入力され、コンピータ47でこの両反射光の光量に
基づいて分岐比が計算される。そして、分岐比が所望の
値になったところで、コンピータ47から延伸制御装置
49に制御信号が出力され、これにより延伸制御装置4
9は延伸治具48の延伸を停止させる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記前者の
製造方法では、製造した光ファイバカプラ45を随時切
り離して行かねばならないので、光源44側或いは光検
出器46側の内、どちらか一方の端は、光ファイバカプ
ラ45を一つ製造する毎に接続し直す必要がある。この
接続作業は時間がかかると共に、熟練を要し、適切な接
続が行われない場合にはそれが測定誤差に影響する可能
性があった。
製造方法では、製造した光ファイバカプラ45を随時切
り離して行かねばならないので、光源44側或いは光検
出器46側の内、どちらか一方の端は、光ファイバカプ
ラ45を一つ製造する毎に接続し直す必要がある。この
接続作業は時間がかかると共に、熟練を要し、適切な接
続が行われない場合にはそれが測定誤差に影響する可能
性があった。
【0009】また、上記後者の製造方法では、透過モニ
タ法のような接続作業の問題はないが、検出の対象とな
る光ファイバ40aの開放端からの反射光が、微弱なフ
レネル反射光であるため、特に光ファイバ40aが長尺
である場合には、検出反射光の中に光ファイバ40a,
40b内でのレーリー散乱光の影響が顕著に現れてしま
い、これが測定誤差の原因となる可能性があった。
タ法のような接続作業の問題はないが、検出の対象とな
る光ファイバ40aの開放端からの反射光が、微弱なフ
レネル反射光であるため、特に光ファイバ40aが長尺
である場合には、検出反射光の中に光ファイバ40a,
40b内でのレーリー散乱光の影響が顕著に現れてしま
い、これが測定誤差の原因となる可能性があった。
【0010】ところで、長尺の光ファイバにパルス光を
入射するとレーリー散乱は光ファイバの全長に亘って起
こるため、入射端側へ戻ってくる(反射光として検出さ
れる)レーリー散乱光は、図6に示すような時間依存性
を有する波形となる。しかし、パルス光を繰り返し光フ
ァイバに入射し、かつパルスの発信間隔を短くしてゆく
と、複数のパルスのレーリー散乱光が相互に重なり合
い、レーリー散乱光の上記時間依存性が消失してゆく。
一方、フレネル反射は光ファイバの遠端のみで生じるた
め、フレネル反射光は繰り返しのパルス光を入射しても
入射時と同じ波形を保持したまま入射端側へ戻ってく
る。したがって、時間間隔の短い、すなわち変調周波数
の高い変調光を用いると、レーリー散乱光は時間依存性
を持たない一定パワーの光として、フレネル反射光は入
射光と同様な波形、パワーの変調光として検出される。
入射するとレーリー散乱は光ファイバの全長に亘って起
こるため、入射端側へ戻ってくる(反射光として検出さ
れる)レーリー散乱光は、図6に示すような時間依存性
を有する波形となる。しかし、パルス光を繰り返し光フ
ァイバに入射し、かつパルスの発信間隔を短くしてゆく
と、複数のパルスのレーリー散乱光が相互に重なり合
い、レーリー散乱光の上記時間依存性が消失してゆく。
一方、フレネル反射は光ファイバの遠端のみで生じるた
め、フレネル反射光は繰り返しのパルス光を入射しても
入射時と同じ波形を保持したまま入射端側へ戻ってく
る。したがって、時間間隔の短い、すなわち変調周波数
の高い変調光を用いると、レーリー散乱光は時間依存性
を持たない一定パワーの光として、フレネル反射光は入
射光と同様な波形、パワーの変調光として検出される。
【0011】本発明は、かかる原理に基づいて為された
ものであり、分岐比モニタに際し、レーリー散乱光の影
響を極力排除するようにした光ファイバカプラの製造方
法を提供することをその目的としている。
ものであり、分岐比モニタに際し、レーリー散乱光の影
響を極力排除するようにした光ファイバカプラの製造方
法を提供することをその目的としている。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく本
発明は、複数本の光ファイバのカプラ形成部を、加熱・
融着しながら延伸してカプラを形成する際に、カプラ形
成部を通過する光を検出し、これに基づいて延伸の停止
を制御する光ファイバカプラの製造方法において、少な
くとも当該1の光ファイバの一方の端側から所定光量の
変調光を入射させる第1の工程と、この変調光が、カプ
ラ形成部を通過し、光ファイバの他方の端側で反射し、
再びカプラ形成部を通過してきたときに、この反射光
を、少なくとも任意の1の光ファイバの一方の端側で検
出する第2の工程と、この検出した反射光の光量と入射
した変調光の光量との比に基づいて、延伸の停止を制御
する第3の工程とから成ることを特徴とする。
発明は、複数本の光ファイバのカプラ形成部を、加熱・
融着しながら延伸してカプラを形成する際に、カプラ形
成部を通過する光を検出し、これに基づいて延伸の停止
を制御する光ファイバカプラの製造方法において、少な
くとも当該1の光ファイバの一方の端側から所定光量の
変調光を入射させる第1の工程と、この変調光が、カプ
ラ形成部を通過し、光ファイバの他方の端側で反射し、
再びカプラ形成部を通過してきたときに、この反射光
を、少なくとも任意の1の光ファイバの一方の端側で検
出する第2の工程と、この検出した反射光の光量と入射
した変調光の光量との比に基づいて、延伸の停止を制御
する第3の工程とから成ることを特徴とする。
【0013】この場合、入射した変調光に同期させて、
反射光の検出を行うこと、また、この場合、反射光を増
幅して検出すること、さらにこの場合、増幅をロックイ
ン増幅器で行うことが好ましい。
反射光の検出を行うこと、また、この場合、反射光を増
幅して検出すること、さらにこの場合、増幅をロックイ
ン増幅器で行うことが好ましい。
【0014】
【作用】光ファイバの一方の端側から変調光を入射させ
て、光ファイバの他方の端側から反射してくる反射光に
同期した変調光を一方の端側で検出するようにすれば、
光ファイバの一方の端側だけで光の入射と検出とを行う
ことができると共に、測定用に変調光を用いこの変調光
を検出することで、フレネル反射による反射光と、レー
リー散乱による光とを、区別して検出することができ
る。
て、光ファイバの他方の端側から反射してくる反射光に
同期した変調光を一方の端側で検出するようにすれば、
光ファイバの一方の端側だけで光の入射と検出とを行う
ことができると共に、測定用に変調光を用いこの変調光
を検出することで、フレネル反射による反射光と、レー
リー散乱による光とを、区別して検出することができ
る。
【0015】この場合、入射した変調光に同期させて反
射光を検出するようにすれば、フレネル反射による反射
光を選択して検出できる。また、この場合、検出した変
調光を増幅すれば、測定対象となるフレネル反射光のみ
を増幅することができ、レーリー散乱による光の影響を
小さくできる。
射光を検出するようにすれば、フレネル反射による反射
光を選択して検出できる。また、この場合、検出した変
調光を増幅すれば、測定対象となるフレネル反射光のみ
を増幅することができ、レーリー散乱による光の影響を
小さくできる。
【0016】
【実施例】先ず、第1図に基づいて、本発明の製造方法
を実施する光ファイバカプラの製造装置について説明す
る。この製造装置は、ボビン2に巻回された長尺のシン
グルモードの光ファイバ1を2本用意し、これを巻き出
しながら1:1分岐比(50%)の光ファイバカプラ3
を連続的に多数形成するものである。この実施例では2
本の光ファイバ1は全く同一のものを使用しているが、
以下の説明を分かり易くするため、便宜上、図示で上方
に位置するものを第1光ファイバ1aとし、下方に位置
するものを第2光ファイバ1bとして説明する。両光フ
ァイバ1a,1bの一方の端側には、製造される光ファ
イバカプラ3の分岐比をモニタしかつ制御する各種機器
が接続され、他方の端側は開放されている。第1光ファ
イバ1aの開放端は単に開放されているが、第2光ファ
イバ1bの開放端は反射防止用の屈折率整合油4の中に
挿入されている。そして、この両光ファイバ1a,1b
開放端側に、両光ファイバ1a、1bのカプラ形成部5
が構成されている。カプラ形成部5は、両光ファイバ1
a、1bの一部の被覆を除去された後、この部分を密着
状態でバーナなどにより加熱融着され、更に延伸して光
ファイバカプラ3が形成される。このため、このカプラ
形成部5はバーナ6および延伸台7を備えた延伸治具8
に取り付けられる。
を実施する光ファイバカプラの製造装置について説明す
る。この製造装置は、ボビン2に巻回された長尺のシン
グルモードの光ファイバ1を2本用意し、これを巻き出
しながら1:1分岐比(50%)の光ファイバカプラ3
を連続的に多数形成するものである。この実施例では2
本の光ファイバ1は全く同一のものを使用しているが、
以下の説明を分かり易くするため、便宜上、図示で上方
に位置するものを第1光ファイバ1aとし、下方に位置
するものを第2光ファイバ1bとして説明する。両光フ
ァイバ1a,1bの一方の端側には、製造される光ファ
イバカプラ3の分岐比をモニタしかつ制御する各種機器
が接続され、他方の端側は開放されている。第1光ファ
イバ1aの開放端は単に開放されているが、第2光ファ
イバ1bの開放端は反射防止用の屈折率整合油4の中に
挿入されている。そして、この両光ファイバ1a,1b
開放端側に、両光ファイバ1a、1bのカプラ形成部5
が構成されている。カプラ形成部5は、両光ファイバ1
a、1bの一部の被覆を除去された後、この部分を密着
状態でバーナなどにより加熱融着され、更に延伸して光
ファイバカプラ3が形成される。このため、このカプラ
形成部5はバーナ6および延伸台7を備えた延伸治具8
に取り付けられる。
【0017】第1光ファイバ1aの一方の端には、測定
用カプラ9を介して変調光光源10が接続されており、
また、この変調光光源10の先方には変調信号源11が
接続されている。変調光光源10は半導体レーザなどで
構成されており、変調信号源11からの信号により変調
周波数の高い変調光(パルス光)を出射する。すなわ
ち、変調信号源11からの変調信号に基づいて、変調光
光源11からの所望のパルス光が、分岐比50%の測定
用カプラ9を介して、第1光ファイバ1aの一方の端か
ら入射されるようになっている。測定用カプラ9の第1
光ファイバ1a側の分岐は、一方が上述のように第1光
ファイバ1aに接続されているが、他方は屈折率整合油
4の中に挿入されてこの部分からの反射の影響が防止さ
れている。逆に、測定用カプラ9のモニタ機器側の分岐
は、一方が上述のように変調光光源10に接続され、他
方が第1光検出器12に接続されている。一方、第2光
ファイバ1bの一方の端には、第2光検出器13が接続
されている。第1、第2両光検出器12,13は受光素
子などから構成されており、光検出器12,13に導か
れた反射光を光電変換する。すなわち、第1光ファイバ
1aの他方の端で反射した反射光は、カプラ形成部5を
通過して分岐され、それぞれの分岐光は両光ファイバ1
a、1bにそれぞれ導かれる。この分岐された反射光
は、第1光ファイバ1a側では更に測定用カプラ9で分
岐されて第1光検出器12で検出され、第2光ファイバ
1b側では第2光検出器13により検出されるようにな
っている。
用カプラ9を介して変調光光源10が接続されており、
また、この変調光光源10の先方には変調信号源11が
接続されている。変調光光源10は半導体レーザなどで
構成されており、変調信号源11からの信号により変調
周波数の高い変調光(パルス光)を出射する。すなわ
ち、変調信号源11からの変調信号に基づいて、変調光
光源11からの所望のパルス光が、分岐比50%の測定
用カプラ9を介して、第1光ファイバ1aの一方の端か
ら入射されるようになっている。測定用カプラ9の第1
光ファイバ1a側の分岐は、一方が上述のように第1光
ファイバ1aに接続されているが、他方は屈折率整合油
4の中に挿入されてこの部分からの反射の影響が防止さ
れている。逆に、測定用カプラ9のモニタ機器側の分岐
は、一方が上述のように変調光光源10に接続され、他
方が第1光検出器12に接続されている。一方、第2光
ファイバ1bの一方の端には、第2光検出器13が接続
されている。第1、第2両光検出器12,13は受光素
子などから構成されており、光検出器12,13に導か
れた反射光を光電変換する。すなわち、第1光ファイバ
1aの他方の端で反射した反射光は、カプラ形成部5を
通過して分岐され、それぞれの分岐光は両光ファイバ1
a、1bにそれぞれ導かれる。この分岐された反射光
は、第1光ファイバ1a側では更に測定用カプラ9で分
岐されて第1光検出器12で検出され、第2光ファイバ
1b側では第2光検出器13により検出されるようにな
っている。
【0018】第1光検出器12の先方には第1ロックイ
ン増幅器14が、第2光検出器13の先方には第2ロッ
クイン増幅器15がそれぞれ接続され、さらに第1、第
2両ロックイン増幅器14,15は分岐比計算用のコン
ピュータ16に接続されている。第1、第2両ロックイ
ン増幅器14,15は反射光の内のフレネル反射分を増
幅する。このため、第1、第2両ロックイン増幅器1
4,15は、変調信号源11に接続されており、この変
調信号源11からの信号により変調光光源10に同期す
るようになっている。すなわち、光検出器12,13で
検出した反射光の内、変調光光源10から光ファイバ1
に入射された変調光のみを拾ってこれを増幅する。この
増幅は、検出された光の内、フレネル反射の反射光を増
幅するもので、レーリー散乱光も検出されているがフレ
ネル反射光を拾って増幅することで、相対的にレーリー
散乱光の影響を小さくしている。コンピュータ16は、
第1、第2両ロックイン増幅器14,15で増幅された
反射光の光量に基づいて、後述する計算式により分岐比
を計算し、かつ、計算値が所望の分岐比(本実施例の場
合は50%)になったところで、これに接続された延伸
制御位置17に延伸を停止させるための制御信号を出力
する。
ン増幅器14が、第2光検出器13の先方には第2ロッ
クイン増幅器15がそれぞれ接続され、さらに第1、第
2両ロックイン増幅器14,15は分岐比計算用のコン
ピュータ16に接続されている。第1、第2両ロックイ
ン増幅器14,15は反射光の内のフレネル反射分を増
幅する。このため、第1、第2両ロックイン増幅器1
4,15は、変調信号源11に接続されており、この変
調信号源11からの信号により変調光光源10に同期す
るようになっている。すなわち、光検出器12,13で
検出した反射光の内、変調光光源10から光ファイバ1
に入射された変調光のみを拾ってこれを増幅する。この
増幅は、検出された光の内、フレネル反射の反射光を増
幅するもので、レーリー散乱光も検出されているがフレ
ネル反射光を拾って増幅することで、相対的にレーリー
散乱光の影響を小さくしている。コンピュータ16は、
第1、第2両ロックイン増幅器14,15で増幅された
反射光の光量に基づいて、後述する計算式により分岐比
を計算し、かつ、計算値が所望の分岐比(本実施例の場
合は50%)になったところで、これに接続された延伸
制御位置17に延伸を停止させるための制御信号を出力
する。
【0019】延伸制御装置17は、延伸治具8に接続さ
れており、コンピュータ16からの制御信号に基づいて
延伸治具8を駆動する。延伸治具8はカプラ形成部5を
加熱するバーナ6と延伸台7とを備えて構成されてお
り、これによりカプラ形成部5が加熱、融着、延伸され
る。停止させるための制御信号がコンピュータ16から
入力されると、延伸制御装置17はこの停止信号に基づ
いて、延伸治具8の延伸駆動を停止させる。
れており、コンピュータ16からの制御信号に基づいて
延伸治具8を駆動する。延伸治具8はカプラ形成部5を
加熱するバーナ6と延伸台7とを備えて構成されてお
り、これによりカプラ形成部5が加熱、融着、延伸され
る。停止させるための制御信号がコンピュータ16から
入力されると、延伸制御装置17はこの停止信号に基づ
いて、延伸治具8の延伸駆動を停止させる。
【0020】次に、このモニタ法の原理を簡単に説明す
る。光ファイバカプラ製造前における第1光検出器12
の検出パワー(検出光量)をP0 、光ファイバカプラ製
造中における第1、第2両光検出器12,13の検出パ
ワーをそれぞれP1 、P2 とすると、製造中にコンピュ
ータ16により計算される光ファイバカプラ3の分岐比
(支線側光パワーの割合で定義)は次式で表される。
る。光ファイバカプラ製造前における第1光検出器12
の検出パワー(検出光量)をP0 、光ファイバカプラ製
造中における第1、第2両光検出器12,13の検出パ
ワーをそれぞれP1 、P2 とすると、製造中にコンピュ
ータ16により計算される光ファイバカプラ3の分岐比
(支線側光パワーの割合で定義)は次式で表される。
【0021】分岐比=(s/t+s)×100 [%] ここで t=(P1 /P0 )1/2 s=(α1 /α2 )S0 (P2 2 /P0 P1 )1/2 なお、α1 、α2 はそれぞれ第1、第2両光ファイバ1
a,1bの透過率(出射光パワー/入射光パワー)、S
0 は測定用カプラ9の本線側透過率(本線出射光パワー
/本線入射光パワー)である。以上の計算式に基づい
て、コンピュータ16の演算処理が為され、所望の分岐
比になったところで延伸停止の信号が出力されるが、こ
の場合のP0 、P1 およびP2 は、実際には第1、第2
両ロックイン増幅器14,15で増幅された値となって
いる。
a,1bの透過率(出射光パワー/入射光パワー)、S
0 は測定用カプラ9の本線側透過率(本線出射光パワー
/本線入射光パワー)である。以上の計算式に基づい
て、コンピュータ16の演算処理が為され、所望の分岐
比になったところで延伸停止の信号が出力されるが、こ
の場合のP0 、P1 およびP2 は、実際には第1、第2
両ロックイン増幅器14,15で増幅された値となって
いる。
【0022】ここで、一連の製造工程を図2のフローチ
ャートを参照して説明する。先ず、光ファイバ1の一部
の被覆が除去されカプラ形成部5が作られる(ステップ
201)。このカプラ形成部5を両側で延伸治具8の延
伸台7,7に固定する(ステップ202)。続いて変調
光光源10をONし(ステップ203)、第1光ファイ
バ1aの他方の端から反射してくる反射光P0 を第1光
検出器12で検出する(ステップ204)。この状態で
バーナ6によりカプラ形成部5を加熱し、この部分を融
着し(ステップ205)、更に延伸する(ステップ20
6)。この延伸工程の中で第1光検出器12および第2
光検出器13により、それぞれP1 、P2 が検出される
(ステップ207)。これら検出値はコンピュータ16
に入力され、その光パワーの値に基づいて、コンピュー
タ16により分岐比が計算される(ステップ208)。
この延伸工程でのP1 、P2 の検出および分岐比の計算
は、分岐比が50%になるまで繰り返され(ステップ2
09)、分岐比が50%になったところで、コンピュー
タから延伸停止装置17に停止信号が出力される。延伸
停止装置17はこの停止信号に基づいて延伸治具8の延
伸を停止させる(ステップ210)。このようにして形
成された光ファイバカプラ3は、最後に石英のケース等
の保護部材(図示せず)にモールド或いは接着される
(ステップ211)。
ャートを参照して説明する。先ず、光ファイバ1の一部
の被覆が除去されカプラ形成部5が作られる(ステップ
201)。このカプラ形成部5を両側で延伸治具8の延
伸台7,7に固定する(ステップ202)。続いて変調
光光源10をONし(ステップ203)、第1光ファイ
バ1aの他方の端から反射してくる反射光P0 を第1光
検出器12で検出する(ステップ204)。この状態で
バーナ6によりカプラ形成部5を加熱し、この部分を融
着し(ステップ205)、更に延伸する(ステップ20
6)。この延伸工程の中で第1光検出器12および第2
光検出器13により、それぞれP1 、P2 が検出される
(ステップ207)。これら検出値はコンピュータ16
に入力され、その光パワーの値に基づいて、コンピュー
タ16により分岐比が計算される(ステップ208)。
この延伸工程でのP1 、P2 の検出および分岐比の計算
は、分岐比が50%になるまで繰り返され(ステップ2
09)、分岐比が50%になったところで、コンピュー
タから延伸停止装置17に停止信号が出力される。延伸
停止装置17はこの停止信号に基づいて延伸治具8の延
伸を停止させる(ステップ210)。このようにして形
成された光ファイバカプラ3は、最後に石英のケース等
の保護部材(図示せず)にモールド或いは接着される
(ステップ211)。
【0023】以上の工程を随時繰返すことにより、それ
ぞれボビン2に巻回された2本の長尺の光ファイバ1
a、1bから多数の光ファイバカプラ3が逐次形成され
る。この場合、測定用カプラ9と第2光検出器13と
は、1個目の光ファイバカプラ3を製作するときに、そ
れぞれ第1及び第2光ファイバ1a、1bに接続してお
けば、2個目以降の光ファイバカプラ3の製作からは接
続作業を省略できる。
ぞれボビン2に巻回された2本の長尺の光ファイバ1
a、1bから多数の光ファイバカプラ3が逐次形成され
る。この場合、測定用カプラ9と第2光検出器13と
は、1個目の光ファイバカプラ3を製作するときに、そ
れぞれ第1及び第2光ファイバ1a、1bに接続してお
けば、2個目以降の光ファイバカプラ3の製作からは接
続作業を省略できる。
【0024】以上説明した実施例の製造方法をにより、
実際に光ファイバカプラ3を製造し、分岐比のばらつき
を測定した。この製造工程では、変調光光源10として
波長0.85μmのスーパールミネッセントダイオード
を用い、変調信号源10から200kHzの矩形の変調
信号を入力することにより、周波数200kHzの矩形
パルス光を出力するようにした。第1、第2両光ファイ
バ1a,1bは、いずれもファイバ長が1kmの0.8
5μm帯シングルモードファイバとし、測定用カプラ9
も0.85μm帯シングルモードカプラとした。
実際に光ファイバカプラ3を製造し、分岐比のばらつき
を測定した。この製造工程では、変調光光源10として
波長0.85μmのスーパールミネッセントダイオード
を用い、変調信号源10から200kHzの矩形の変調
信号を入力することにより、周波数200kHzの矩形
パルス光を出力するようにした。第1、第2両光ファイ
バ1a,1bは、いずれもファイバ長が1kmの0.8
5μm帯シングルモードファイバとし、測定用カプラ9
も0.85μm帯シングルモードカプラとした。
【0025】以上の条件で、分岐比をモニタしながら種
々の分岐比の光ファイバカプラを製造し、製造した光フ
ァイバカプラについて、透過法によりその分岐比を測定
した。図3はその測定結果を表したもので、黒丸による
プロットは、本実施例の反射モニタ法で製造した光ファ
イバカプラであり、白丸によるプロットは、図5に示す
従来の反射モニタ法で製造した光ファイバカプラであ
る。この測定結果によれば、本実施例の反射モニタ法と
透過モニタ法とは完全に一致しており、本実施例の反射
モニタ法によれば、分岐比が正確な光ファイバカプラが
製造されたことが分かる。一方、従来の反射モニタ法と
透過モニタ法はずれており、従来の反射モニタ法による
光ファイバカプラは、分岐比が幾分不正確であることが
確認できる。これで本実施例の反射モニタ法が、レーリ
ー散乱光の影響を除去できたことを確認できた。
々の分岐比の光ファイバカプラを製造し、製造した光フ
ァイバカプラについて、透過法によりその分岐比を測定
した。図3はその測定結果を表したもので、黒丸による
プロットは、本実施例の反射モニタ法で製造した光ファ
イバカプラであり、白丸によるプロットは、図5に示す
従来の反射モニタ法で製造した光ファイバカプラであ
る。この測定結果によれば、本実施例の反射モニタ法と
透過モニタ法とは完全に一致しており、本実施例の反射
モニタ法によれば、分岐比が正確な光ファイバカプラが
製造されたことが分かる。一方、従来の反射モニタ法と
透過モニタ法はずれており、従来の反射モニタ法による
光ファイバカプラは、分岐比が幾分不正確であることが
確認できる。これで本実施例の反射モニタ法が、レーリ
ー散乱光の影響を除去できたことを確認できた。
【0026】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、光ファイ
バカプラを形成する光ファイバに変調光を入射させ、他
端で反射してきたその反射光を検出し、この検出した反
射光の光量と入射した変調光の光量との比に基づいてカ
プラ形成部の延伸の停止を制御するようにしているの
で、光ファイバとモニタ機器との接続作業が簡略化さ
れ、また、フレネル反射による反射光と、レーリー散乱
による光とを区別して検出することができ、その内フレ
ネル反射による反射光のみ選択的に検出すれば、レーリ
ー散乱光の影響を小さくでき、分岐比の正確な光ファイ
バカプラを製造することができる。
バカプラを形成する光ファイバに変調光を入射させ、他
端で反射してきたその反射光を検出し、この検出した反
射光の光量と入射した変調光の光量との比に基づいてカ
プラ形成部の延伸の停止を制御するようにしているの
で、光ファイバとモニタ機器との接続作業が簡略化さ
れ、また、フレネル反射による反射光と、レーリー散乱
による光とを区別して検出することができ、その内フレ
ネル反射による反射光のみ選択的に検出すれば、レーリ
ー散乱光の影響を小さくでき、分岐比の正確な光ファイ
バカプラを製造することができる。
【図1】本発明の製造方法を実施した光ファイバカプラ
製造装置の概要を示す説明図である。
製造装置の概要を示す説明図である。
【図2】光ファイバカプラの製造工程を示すフロー図で
ある。
ある。
【図3】本発明の製造方法で製造された光ファイバカプ
ラと、従来方法で製造された光ファイバカプラの比較を
示した線図である。
ラと、従来方法で製造された光ファイバカプラの比較を
示した線図である。
【図4】従来の製造方法を実施した光ファイバカプラ製
造装置の概要を示す説明図である。
造装置の概要を示す説明図である。
【図5】従来の製造方法を実施した光ファイバカプラ製
造装置の概要を示す説明図である。
造装置の概要を示す説明図である。
【図6】パルス光に対するレーリー散乱光の特性を示し
た線図である。
た線図である。
1…光ファイバ 1a…第1光ファイバ 1b…第2光ファイバ 3…光ファイバカプラ 5…カプラ形成部 10…変調光光源 12…第1検出器 13…第2検出器 14…第1ロックイン増幅器 15…第2ロックイン増幅器 16…コンピュータ 17…延伸制御装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 滝本 弘明 神奈川県横浜市栄区田谷町1番地 住友 電気工業株式会社 横浜製作所内 (72)発明者 菅沼 寛 神奈川県横浜市栄区田谷町1番地 住友 電気工業株式会社 横浜製作所内 (72)発明者 横田 弘 神奈川県横浜市栄区田谷町1番地 住友 電気工業株式会社 横浜製作所内 (72)発明者 有本 和彦 東京都大田区大森西七丁目6番31号 住 電オプコム株式会社内 (56)参考文献 特開 平3−136008(JP,A) 特開 平4−328505(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G02B 6/28
Claims (4)
- 【請求項1】 複数本の光ファイバのカプラ形成部を、
加熱・融着しながら延伸してカプラを形成する際に、当
該カプラ形成部を通過する光を検出し、これに基づいて
前記延伸の停止を制御する光ファイバカプラの製造方法
において、 少なくとも当該1の光ファイバの一方の端側から所定光
量の変調光を入射させる第1の工程と、 この変調光が、当該カプラ形成部を通過し、当該光ファ
イバの他方の端側で反射し、再び当該カプラ形成部を通
過してきたときに、この反射光を、少なくとも任意の1
の光ファイバの一方の端側で検出する第2の工程と、 この検出した反射光の光量と入射した変調光の光量との
比に基づいて、前記延伸の停止を制御する第3の工程と
から成ることを特徴とする光ファイバカプラの製造方
法。 - 【請求項2】 入射した前記変調光に同期させて、前記
反射光の検出を行うことを特徴とする請求項1に記載の
光ファイバカプラの製造方法。 - 【請求項3】 前記反射光を増幅して検出することを特
徴とする請求項2に記載の光ファイバカプラの製造方
法。 - 【請求項4】 前記増幅をロックイン増幅器で行うこと
を特徴とする請求項3に記載の光ファイバカプラの製造
方法。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19452191A JP2945513B2 (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 光ファイバカプラの製造方法 |
AU10639/92A AU643115B2 (en) | 1991-06-03 | 1992-01-30 | Method for farbicating optical fibre couplers |
CN92100774A CN1034695C (zh) | 1991-06-03 | 1992-01-31 | 光纤耦合器的制造方法 |
DE69224934T DE69224934D1 (de) | 1991-06-03 | 1992-01-31 | Methode zur Fabrikation von Glasfaserkopplern und zugehörige Vorrichtung |
EP92101630A EP0516916B1 (en) | 1991-06-03 | 1992-01-31 | Method of fabrication of optical fiber couplers and corresponding apparatus |
CA002070215A CA2070215C (en) | 1991-06-03 | 1992-06-02 | Reflection monitor optical fiber coupler manufacturing system and method |
US07/892,208 US5329600A (en) | 1991-06-03 | 1992-06-02 | Reflection monitor optical fiber coupler manufacturing system and method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19452191A JP2945513B2 (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 光ファイバカプラの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0534535A JPH0534535A (ja) | 1993-02-12 |
JP2945513B2 true JP2945513B2 (ja) | 1999-09-06 |
Family
ID=16325918
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19452191A Expired - Fee Related JP2945513B2 (ja) | 1991-06-03 | 1991-08-02 | 光ファイバカプラの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2945513B2 (ja) |
-
1991
- 1991-08-02 JP JP19452191A patent/JP2945513B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0534535A (ja) | 1993-02-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA2070215C (en) | Reflection monitor optical fiber coupler manufacturing system and method | |
Eisenmann et al. | Single-mode fused biconical coupler optimized for polarization beamsplitting | |
US9270080B1 (en) | Methods and apparatus pertaining to the use and generation of broadband light | |
JP2945513B2 (ja) | 光ファイバカプラの製造方法 | |
US5382275A (en) | Method for fusion-forming an optical signal attenuator | |
US5179275A (en) | Method for measuring light being coupled into and out of a light waveguide | |
JP2945514B2 (ja) | 光ファイバカプラの製造方法 | |
JPH0549057B2 (ja) | ||
JPS6330739A (ja) | 光フアイバの後方散乱測定方法 | |
JP2768763B2 (ja) | ファイバ形カプラの製造方法 | |
JP2980403B2 (ja) | 光ファイバカプラの製造方法 | |
JP2945517B2 (ja) | 光ファイバカプラの製造方法 | |
JP2945518B2 (ja) | 光ファイバカプラの製造方法 | |
JPS5857723B2 (ja) | シングルモ−ド光ファイバの融着接続方法 | |
JP3074495B2 (ja) | 光ファイバ型光分岐結合器の製造方法 | |
JP3160353B2 (ja) | 光ファイバ型光分岐結合器の製造方法 | |
JPS644612B2 (ja) | ||
WO1986000134A1 (en) | A method for detecting faults or breaks in optical fiber links | |
JPH05126677A (ja) | 光フアイバ接続損失の判定方法及び測定方法 | |
JPH04372910A (ja) | 光分岐比および光結合比が可変な光カプラ | |
SU1278645A1 (ru) | Способ определени потерь в многомодовом световоде | |
JPH05340824A (ja) | 温度分布測定装置 | |
JPS5872027A (ja) | 光フアイバ損失波長特性測定装置 | |
JP2674660B2 (ja) | 後方散乱光測定方法および装置 | |
JPS63197905A (ja) | 光フアイバのコア検出方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |