JP2944571B2 - 配線基板検査装置及び方法並びに点灯感光アレイ - Google Patents
配線基板検査装置及び方法並びに点灯感光アレイInfo
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- JP2944571B2 JP2944571B2 JP13513497A JP13513497A JP2944571B2 JP 2944571 B2 JP2944571 B2 JP 2944571B2 JP 13513497 A JP13513497 A JP 13513497A JP 13513497 A JP13513497 A JP 13513497A JP 2944571 B2 JP2944571 B2 JP 2944571B2
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、配線基板の検査装
置に関し、特に部品の実装された配線基板の検査装置及
び方法並びにこれら装置及び方法に用いられる点灯感光
アレイに関する。
置に関し、特に部品の実装された配線基板の検査装置及
び方法並びにこれら装置及び方法に用いられる点灯感光
アレイに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、コネクタや電気部品の実装された
配線基板の検査は、次に示すような検査装置を使用し実
施されていた。
配線基板の検査は、次に示すような検査装置を使用し実
施されていた。
【0003】一つは、被検査配線基板に実装された多数
のコネクタと検査装置本体とを多数のケーブルにて接続
する検査装置である。この場合の検査装置は、被検査基
板のパターンのオープン、ショート検査、電気部品の機
能検査を行うための検査装置本体のほかに、被検査基板
上に実装されたコネクタの形状、種類、数量に合わせた
長さ数mの多数のケーブルが必要で、被検査基板と検査
装置間とを全て多数のケーブルにて接続してから被検査
基板の電気検査を実施し、検査終了後、接続した多数の
ケーブルを取り外していた。
のコネクタと検査装置本体とを多数のケーブルにて接続
する検査装置である。この場合の検査装置は、被検査基
板のパターンのオープン、ショート検査、電気部品の機
能検査を行うための検査装置本体のほかに、被検査基板
上に実装されたコネクタの形状、種類、数量に合わせた
長さ数mの多数のケーブルが必要で、被検査基板と検査
装置間とを全て多数のケーブルにて接続してから被検査
基板の電気検査を実施し、検査終了後、接続した多数の
ケーブルを取り外していた。
【0004】他の一つには、被検査配線基板と検査装置
本体とを多数のコンタクトプローブを有するフィクスチ
ャーを介して接続する検査装置である。この場合は検査
装置本体のほかに、被検査基板の外形サイズ、実装され
たコネクタや電気部品の形状、ピンの位置に合わせて多
数のコンタクトプローブを固定させた専用のフィクスチ
ャーと、この専用のフィクスチャーの多数のコンタクト
プローブと検査装置本体を接続するための多数のケーブ
ルが必要で、被検査基板を専用のフィクスチャーにセッ
トし、バキューム等の力を利用し多数のコンタクトプロ
ーブを被検査基板に押しあててコネクタや電気部品と接
続させて電気検査を実施し、検査終了後バキューム等の
力を解除して被検査基板を専用のフィクスチャーから取
り外していた。
本体とを多数のコンタクトプローブを有するフィクスチ
ャーを介して接続する検査装置である。この場合は検査
装置本体のほかに、被検査基板の外形サイズ、実装され
たコネクタや電気部品の形状、ピンの位置に合わせて多
数のコンタクトプローブを固定させた専用のフィクスチ
ャーと、この専用のフィクスチャーの多数のコンタクト
プローブと検査装置本体を接続するための多数のケーブ
ルが必要で、被検査基板を専用のフィクスチャーにセッ
トし、バキューム等の力を利用し多数のコンタクトプロ
ーブを被検査基板に押しあててコネクタや電気部品と接
続させて電気検査を実施し、検査終了後バキューム等の
力を解除して被検査基板を専用のフィクスチャーから取
り外していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】第1の問題点は、従来
のコネクタや電気部品の実装された被検査配線基板と検
査装置本体とを多数のケーブルを使用して接続させる検
査装置では、作業性が悪く生産性が低いことである。ま
た、検査装置が大型になってしまうことである。
のコネクタや電気部品の実装された被検査配線基板と検
査装置本体とを多数のケーブルを使用して接続させる検
査装置では、作業性が悪く生産性が低いことである。ま
た、検査装置が大型になってしまうことである。
【0006】その理由は、多数の長さ数mにもなるケー
ブルは重量もかなり有り、被検査基板に接続させ、検査
終了後、取り外しする作業性が悪く検査工数も大きくな
ってしまいスループットが低くなってしまっていたから
である。また、数mも有るケーブルが多数あったため、
検査装置が大型になってしまっていた。
ブルは重量もかなり有り、被検査基板に接続させ、検査
終了後、取り外しする作業性が悪く検査工数も大きくな
ってしまいスループットが低くなってしまっていたから
である。また、数mも有るケーブルが多数あったため、
検査装置が大型になってしまっていた。
【0007】第2の問題点は、従来のコネクタや電気部
品の実装された被検査配線基板を専用のフィクスチャー
を使用して接続させる検査装置では、フィクスチャーの
構造が複雑で、また、検査装置も大型になってしまうこ
とである。
品の実装された被検査配線基板を専用のフィクスチャー
を使用して接続させる検査装置では、フィクスチャーの
構造が複雑で、また、検査装置も大型になってしまうこ
とである。
【0008】その理由は、フィクスチャー自体が多数の
コンタクトプローブを位置精度を出して制作し、被検査
基板とコンタクトプローブを接続させる時に、バキュー
ム等の力を利用するため内部を気密にしていたため、構
造が複雑になり、制作コストも高くなってしまっていた
からである。また、フィクスチャーの多数のコンタクト
プローブと検査装置本体を多数のケーブルで接続させる
ため検査装置が大型のものになってしまっていたからで
ある。
コンタクトプローブを位置精度を出して制作し、被検査
基板とコンタクトプローブを接続させる時に、バキュー
ム等の力を利用するため内部を気密にしていたため、構
造が複雑になり、制作コストも高くなってしまっていた
からである。また、フィクスチャーの多数のコンタクト
プローブと検査装置本体を多数のケーブルで接続させる
ため検査装置が大型のものになってしまっていたからで
ある。
【0009】本発明は、従来の検査装置のような被検査
配線基板と検査装置間を接続するための数mにもおよぶ
多数のケーブルを不要にし、基板検査装置の小型化、軽
量化をはかることができ、また、複雑な専用のフィクス
チャーを不要にし、配線基板検査装置の装置構成の簡易
化をはかることを目的とする。また、本発明は、被検査
配線基板に、多数のケーブルを接続させ、検査終了後、
多数のケーブルをはずす作業をなくし、検査作業を容易
にし、操作者を向上させて検査工数を低減させ、生産性
の向上を可能にした基板検査装置を提供することを目的
とする。
配線基板と検査装置間を接続するための数mにもおよぶ
多数のケーブルを不要にし、基板検査装置の小型化、軽
量化をはかることができ、また、複雑な専用のフィクス
チャーを不要にし、配線基板検査装置の装置構成の簡易
化をはかることを目的とする。また、本発明は、被検査
配線基板に、多数のケーブルを接続させ、検査終了後、
多数のケーブルをはずす作業をなくし、検査作業を容易
にし、操作者を向上させて検査工数を低減させ、生産性
の向上を可能にした基板検査装置を提供することを目的
とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の点灯感光アレイ
は、被検査配線基板(図1の1)に実装された部品(図
1の2,3,4)のピン(図1の40)それぞれに対応
して接続する接続ピン(図2の18,図3の20)を有
し、少くとも一部の前記接続ピンそれぞれには対応して
受光により当該接続ピンを電源(図5の27)に導通さ
せる感光素子(図2,図3の16)と当該接続ピンが電
源に導通した時に発光する発光素子(図2,図3の1
7)とからなる発光感光ブロック(図4の29,30
…)とが備えられ、前記発光感光ブロックは、前記感光
素子と前記発光素子との間に前記接続ピンを接続し、前
記発光素子及び前記感光素子は前記接続ピンのうちの前
記部品の給電ピンに接続するものの間に接続されたよう
にし、例えば、前記発光素子はLEDであり前記感光素
子はフォトトランジスタとすることもできる。
は、被検査配線基板(図1の1)に実装された部品(図
1の2,3,4)のピン(図1の40)それぞれに対応
して接続する接続ピン(図2の18,図3の20)を有
し、少くとも一部の前記接続ピンそれぞれには対応して
受光により当該接続ピンを電源(図5の27)に導通さ
せる感光素子(図2,図3の16)と当該接続ピンが電
源に導通した時に発光する発光素子(図2,図3の1
7)とからなる発光感光ブロック(図4の29,30
…)とが備えられ、前記発光感光ブロックは、前記感光
素子と前記発光素子との間に前記接続ピンを接続し、前
記発光素子及び前記感光素子は前記接続ピンのうちの前
記部品の給電ピンに接続するものの間に接続されたよう
にし、例えば、前記発光素子はLEDであり前記感光素
子はフォトトランジスタとすることもできる。
【0011】また、この点灯感光アレイに被検査配線基
板に実装された部品をつかむ爪を設けてもよい。
板に実装された部品をつかむ爪を設けてもよい。
【0012】本発明の配線基板検査装置は、被検査配線
基板を保持する基板保持台と、前記被検査配線基板に実
装された部品に接続された上述の点灯感光アレイの前記
感光素子に選択的に光を照射する光源とを備えている。
基板を保持する基板保持台と、前記被検査配線基板に実
装された部品に接続された上述の点灯感光アレイの前記
感光素子に選択的に光を照射する光源とを備えている。
【0013】本発明の配線基板検査装置は、被検査配線
基板を保持する基板保持台と前記被検査配線基板に実装
された部品に接続された上述の点灯感光アレイの前記感
光素子に選択的に光を照射する光源と、前記被検査配線
基板上の前記感光素子の点灯状態を撮像して前記被検査
配線基板上の配線を検査する画像処理部とを備えてい
る。
基板を保持する基板保持台と前記被検査配線基板に実装
された部品に接続された上述の点灯感光アレイの前記感
光素子に選択的に光を照射する光源と、前記被検査配線
基板上の前記感光素子の点灯状態を撮像して前記被検査
配線基板上の配線を検査する画像処理部とを備えてい
る。
【0014】上述の配線基板検査装置の光源は光の方向
を変化させて前記感光素子を選択的に照射することも、
前記被検査配線基板との相対的位置を変化させて前記感
光素子を選択的に照射するようにすることもでき、さら
にこの光源はレーザ光を照射しても、光ファイバーを用
いて光を照射するようにしてもよい。
を変化させて前記感光素子を選択的に照射することも、
前記被検査配線基板との相対的位置を変化させて前記感
光素子を選択的に照射するようにすることもでき、さら
にこの光源はレーザ光を照射しても、光ファイバーを用
いて光を照射するようにしてもよい。
【0015】本発明の配線基板検査方法は、被検査配線
基板に実装された部品に上述の点灯感光アレイを取り付
け、前記感光素子に選択的に光を照射した時の前記発光
素子の点灯,非点灯により前記被検査配線基板の配線を
検査することを特徴とする。
基板に実装された部品に上述の点灯感光アレイを取り付
け、前記感光素子に選択的に光を照射した時の前記発光
素子の点灯,非点灯により前記被検査配線基板の配線を
検査することを特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して詳細に説明する。
して詳細に説明する。
【0017】図1は、本発明の実施の形態の配線基板の
検査装置の構成図である。
検査装置の構成図である。
【0018】被検査配線基板1に実装されたコネクタ2
にLEDフォトトランジスタアレイ5を接続し、コネク
タ3にLEDフォトトランジスタアレイ6を接続し、I
C4の上部にLEDフォトトランジスタアレイ7を搭載
しIC4のピン40にLEDフォトトランジスタアレイ
7の接続ピン20を接触させ被検査配線基板1を基板保
持台8に搭載して固定する。次に、電源15を被検査配
線基板1に接続し、基板1,コネクタ2,3,IC4の
ピン40を介してLEDフォトトランジスタアレイ5,
LEDフォトトランジスタアレイ6,LEDフォトトラ
ンジスタアレイ7に給電する。
にLEDフォトトランジスタアレイ5を接続し、コネク
タ3にLEDフォトトランジスタアレイ6を接続し、I
C4の上部にLEDフォトトランジスタアレイ7を搭載
しIC4のピン40にLEDフォトトランジスタアレイ
7の接続ピン20を接触させ被検査配線基板1を基板保
持台8に搭載して固定する。次に、電源15を被検査配
線基板1に接続し、基板1,コネクタ2,3,IC4の
ピン40を介してLEDフォトトランジスタアレイ5,
LEDフォトトランジスタアレイ6,LEDフォトトラ
ンジスタアレイ7に給電する。
【0019】図2に、LEDフォトトランジスタアレイ
5,LEDフォトトランジスタアレイ6の斜視図を示
す。LEDフォトトランジスタアレイ5,6の下面には
コネクタ2,3のコンタクトに接触させるコネクタ接続
ピン18が植設され、コネクタ2,3の配線基板1の配
線に接続される被検査ピンに対し、1対1対応でコネク
タ接続ピン18を接続させる。コネクタ2,3は被検査
ピンのほかに配線基板1上の電源パターンに接続される
給電ピンを有し、コネクタ接続ピン18の中の一部は給
電ピンに接触し、LEDフォトトランジスタアレイ5,
LEDフォトトランジスタアレイ6に給電させる。
5,LEDフォトトランジスタアレイ6の斜視図を示
す。LEDフォトトランジスタアレイ5,6の下面には
コネクタ2,3のコンタクトに接触させるコネクタ接続
ピン18が植設され、コネクタ2,3の配線基板1の配
線に接続される被検査ピンに対し、1対1対応でコネク
タ接続ピン18を接続させる。コネクタ2,3は被検査
ピンのほかに配線基板1上の電源パターンに接続される
給電ピンを有し、コネクタ接続ピン18の中の一部は給
電ピンに接触し、LEDフォトトランジスタアレイ5,
LEDフォトトランジスタアレイ6に給電させる。
【0020】図3に、LEDフォトトランジスタアレイ
7の斜視図を示す。LEDフォトトランジスタアレイ7
の両側部にはIC接続ピン20が植設されている。IC
4のピン40に対し、IC接続ピン20を接触させ、I
C4の被検査ピンに対し、1対1対応でIC接続ピン2
1を接続させる。ピン40の一部は配線基板1上の電源
パターンに接続される給電ピンで、IC接続ピン20の
一部を給電ピンに接触させてLEDフォトトランジスタ
アレイ7に給電させる。また、IC4とLEDフォトト
ランジスタアレイ7の各被検査ピンが安定して接触する
ように、LEDフォトトランジスタアレイ7の両端に設
けられた弾性を有するICクランプ用爪21でLEDフ
ォトトランジスタアレイ7の両端をつかむようにしてL
EDフォトトランジスタアレイ7をIC4上に固定させ
る。
7の斜視図を示す。LEDフォトトランジスタアレイ7
の両側部にはIC接続ピン20が植設されている。IC
4のピン40に対し、IC接続ピン20を接触させ、I
C4の被検査ピンに対し、1対1対応でIC接続ピン2
1を接続させる。ピン40の一部は配線基板1上の電源
パターンに接続される給電ピンで、IC接続ピン20の
一部を給電ピンに接触させてLEDフォトトランジスタ
アレイ7に給電させる。また、IC4とLEDフォトト
ランジスタアレイ7の各被検査ピンが安定して接触する
ように、LEDフォトトランジスタアレイ7の両端に設
けられた弾性を有するICクランプ用爪21でLEDフ
ォトトランジスタアレイ7の両端をつかむようにしてL
EDフォトトランジスタアレイ7をIC4上に固定させ
る。
【0021】LEDフォトトランジスタアレイ5,6,
7において、コネクタ2,3又はIC4の被検査ピンに
接続するコネクタ接続ピン18又はIC接続ピン20に
対応してLED17及びフォトトランジスタ16が一つ
ずつからなるLEDフォトトランジスタブロック19が
設けられ、これらの回路図を図5に示す。
7において、コネクタ2,3又はIC4の被検査ピンに
接続するコネクタ接続ピン18又はIC接続ピン20に
対応してLED17及びフォトトランジスタ16が一つ
ずつからなるLEDフォトトランジスタブロック19が
設けられ、これらの回路図を図5に示す。
【0022】図5において、配線基板1上の配線24が
接続ピン26,41に接続されている。接続ピン26,
41に対応してLEDフォトトランジスタブロック2
9,30が設けられ、ブロック29,30それぞれはL
ED36及びフォトトランジスタ32,LED37及び
フォトトランジスタ33を備えている。
接続ピン26,41に接続されている。接続ピン26,
41に対応してLEDフォトトランジスタブロック2
9,30が設けられ、ブロック29,30それぞれはL
ED36及びフォトトランジスタ32,LED37及び
フォトトランジスタ33を備えている。
【0023】LEDフォトトランジスタブロック29に
おいて、LED36は2つの抵抗25を介してフォトト
ランジスタ32と接続され、これらの直列接続が接続ピ
ン(図5には図示略)及び配線基板1上の導体パターン
を介して電源27,接地パターン28に接続されてい
る。LEDフォトトランジスタブロック30におけるL
ED37及びフォトトランジスタ33も同様に接続され
ている。
おいて、LED36は2つの抵抗25を介してフォトト
ランジスタ32と接続され、これらの直列接続が接続ピ
ン(図5には図示略)及び配線基板1上の導体パターン
を介して電源27,接地パターン28に接続されてい
る。LEDフォトトランジスタブロック30におけるL
ED37及びフォトトランジスタ33も同様に接続され
ている。
【0024】レーザ光がフォトトランジスタ32に照射
された場合、LED36がドライブされ点灯する。この
時に、配線24が正常であれば、同時に配線24と接続
ピン26にて接続された、LED37も点灯する。配線
24がオープンしている場合には、LED37は点灯し
ない。同様に、フォトトランジスタ33にレーザ光を照
射した場合、配線24が正常であればLED36が点灯
する。
された場合、LED36がドライブされ点灯する。この
時に、配線24が正常であれば、同時に配線24と接続
ピン26にて接続された、LED37も点灯する。配線
24がオープンしている場合には、LED37は点灯し
ない。同様に、フォトトランジスタ33にレーザ光を照
射した場合、配線24が正常であればLED36が点灯
する。
【0025】図1について説明を続ける。被検査基板1
上のLEDフォトトランジスタアレイ5,6,7の全て
のフォトトランジスタ及びLEDの位置情報を予め制御
部14に記憶しておく。被検査配線基板1の上側に極細
レーザ光照射部9及びカメラ部12を配置し、極細レー
ザ光照射部9からの極細レーザ光10の照射方向は駆動
部11により変化させることができる。
上のLEDフォトトランジスタアレイ5,6,7の全て
のフォトトランジスタ及びLEDの位置情報を予め制御
部14に記憶しておく。被検査配線基板1の上側に極細
レーザ光照射部9及びカメラ部12を配置し、極細レー
ザ光照射部9からの極細レーザ光10の照射方向は駆動
部11により変化させることができる。
【0026】制御部14より、基板1上の被検査配線と
接続されたLEDフォトトランジスタアレイ5,LED
フォトトランジスタアレイ6,LEDフォトトランジス
タアレイ7の中の1個のフォトトランジスタの位置デー
タを駆動部11に送り、このフォトトランジスタに極細
レーザ光照射部9の方向を変えて極細レーザ光10の照
射方向を合わせる。そして、制御部14により極細レー
ザ光照射ON信号を極細レーザ光照射部9に送り、極細
レーザ光10を被検査配線と接続されたその1個のフォ
トトランジスタに照射する。この時、被検査配線が正常
であれば、極細レーザ光10を照射されたフォトトラン
ジスタと同じLEDフォトトランジスタブロックのLE
Dと、このLEDフォトトランジスタブロックと被検査
基板1上の被検査配線でつながっている他のLEDフォ
トトランジスタブロックのLEDのみが点灯する。被検
査配線がオープンしていた場合には、他方のLEDは点
灯しない。また、被検査配線が他の配線とショートして
いた場合には、他の配線と接続されているLEDフォト
トランジスタブロックのLEDも点灯する。
接続されたLEDフォトトランジスタアレイ5,LED
フォトトランジスタアレイ6,LEDフォトトランジス
タアレイ7の中の1個のフォトトランジスタの位置デー
タを駆動部11に送り、このフォトトランジスタに極細
レーザ光照射部9の方向を変えて極細レーザ光10の照
射方向を合わせる。そして、制御部14により極細レー
ザ光照射ON信号を極細レーザ光照射部9に送り、極細
レーザ光10を被検査配線と接続されたその1個のフォ
トトランジスタに照射する。この時、被検査配線が正常
であれば、極細レーザ光10を照射されたフォトトラン
ジスタと同じLEDフォトトランジスタブロックのLE
Dと、このLEDフォトトランジスタブロックと被検査
基板1上の被検査配線でつながっている他のLEDフォ
トトランジスタブロックのLEDのみが点灯する。被検
査配線がオープンしていた場合には、他方のLEDは点
灯しない。また、被検査配線が他の配線とショートして
いた場合には、他の配線と接続されているLEDフォト
トランジスタブロックのLEDも点灯する。
【0027】このLEDの画像をカメラ部12で取り込
み、LEDの点灯の有無を画像処理部13で検出する。
検出されたLEDの点灯の有無データと予め記憶してお
いた被検査基板1の良品データとを制御部14で比較
し、被検査基板1の不良の有無を判断する。
み、LEDの点灯の有無を画像処理部13で検出する。
検出されたLEDの点灯の有無データと予め記憶してお
いた被検査基板1の良品データとを制御部14で比較
し、被検査基板1の不良の有無を判断する。
【0028】図4は、本実施の形態での検査原理を説明
するために示す被検査基板1の平面図である。
するために示す被検査基板1の平面図である。
【0029】LEDフォントトランジスタアレイ5に配
置されたLEDフォントトランジスタブロック29と、
LEDフォンとトランジスタアレイ6に配置されたLE
Dフォトトランジスタブロック30とが被検査配線基板
1上の配線22によって接続されている。また、LED
フォトトランジスタブロック29に隣接するフォトトラ
ンジスタブロック46及び47それぞれとフォトトラン
ジスタブロック30に隣接するフォトトランジスタブロ
ック48及び49それぞれとが配線22に隣接する配線
42及び43それぞれにより接続されている。
置されたLEDフォントトランジスタブロック29と、
LEDフォンとトランジスタアレイ6に配置されたLE
Dフォトトランジスタブロック30とが被検査配線基板
1上の配線22によって接続されている。また、LED
フォトトランジスタブロック29に隣接するフォトトラ
ンジスタブロック46及び47それぞれとフォトトラン
ジスタブロック30に隣接するフォトトランジスタブロ
ック48及び49それぞれとが配線22に隣接する配線
42及び43それぞれにより接続されている。
【0030】また、LEDフォトトランジスタアレイ5
に配置されたLEDフォトトランジスタブロック41
と、LEDフォトトランジスタアレイ7に配置されたフ
ォトトランジスタブロック31とが被検査配線基板1上
の配線23によって接続されている。また、LEDフォ
トトランジスタブロック41に隣接するフォトトランジ
スタブロック50及び51それぞれとLEDフォトトラ
ンジスタブロック31に隣接するフォトトランジスタブ
ロック52,53それぞれとが配線23に隣接する配線
44及び45それぞれにより接続されている。
に配置されたLEDフォトトランジスタブロック41
と、LEDフォトトランジスタアレイ7に配置されたフ
ォトトランジスタブロック31とが被検査配線基板1上
の配線23によって接続されている。また、LEDフォ
トトランジスタブロック41に隣接するフォトトランジ
スタブロック50及び51それぞれとLEDフォトトラ
ンジスタブロック31に隣接するフォトトランジスタブ
ロック52,53それぞれとが配線23に隣接する配線
44及び45それぞれにより接続されている。
【0031】配線22のオープン、ショート検査をする
場合は、LEDフォトトランジスタブロック29のフォ
トトランジスタ32に、極細レーザ光10を照射させ
る。配線22が正常であれば、LEDフォトトランジス
タブロック29のLED36とLEDフォトトランジス
タブロック30のLED37のみが点灯する。配線22
がオープンしている場合には、LED36のみが点灯
し、LED37は点灯しない。また、配線22が隣りの
配線42,43のいずれかとショートしている場合、L
ED36とLED37とこれらと隣接するLEDフォト
トランジスタブロック46〜49のうち配線22とショ
ートしている配線と接続している方のLEDフォトトラ
ンジスタブロックのLEDが点灯する。同様にして、コ
ネクタ2とIC4間の配線23の検査を実施する場合
は、LEDフォトトランジスタブロック41のフォトト
ランジスタ35に、極細レーザ光10を照射させる。配
線23が正常であれば、LEDフォトトランジスタブロ
ック41のLED39とLEDフォトトランジスタブロ
ック31のLED38のみが点灯する。配線23がオー
プンしている場合には、LED39のみが点灯し、LE
D38は点灯しない。また、配線23が隣りの配線4
4,45のいずれかとショートしている場合、LED3
9とLED38とこれらと隣接するLEDフォトトラン
ジスタブロック51〜53のうち、配線23とショート
している配線と接続している方のLEDフォトトランジ
スタブロックのLEDが点灯する。
場合は、LEDフォトトランジスタブロック29のフォ
トトランジスタ32に、極細レーザ光10を照射させ
る。配線22が正常であれば、LEDフォトトランジス
タブロック29のLED36とLEDフォトトランジス
タブロック30のLED37のみが点灯する。配線22
がオープンしている場合には、LED36のみが点灯
し、LED37は点灯しない。また、配線22が隣りの
配線42,43のいずれかとショートしている場合、L
ED36とLED37とこれらと隣接するLEDフォト
トランジスタブロック46〜49のうち配線22とショ
ートしている配線と接続している方のLEDフォトトラ
ンジスタブロックのLEDが点灯する。同様にして、コ
ネクタ2とIC4間の配線23の検査を実施する場合
は、LEDフォトトランジスタブロック41のフォトト
ランジスタ35に、極細レーザ光10を照射させる。配
線23が正常であれば、LEDフォトトランジスタブロ
ック41のLED39とLEDフォトトランジスタブロ
ック31のLED38のみが点灯する。配線23がオー
プンしている場合には、LED39のみが点灯し、LE
D38は点灯しない。また、配線23が隣りの配線4
4,45のいずれかとショートしている場合、LED3
9とLED38とこれらと隣接するLEDフォトトラン
ジスタブロック51〜53のうち、配線23とショート
している配線と接続している方のLEDフォトトランジ
スタブロックのLEDが点灯する。
【0032】なお、本願発明の点灯感光アレイは、点灯
素子としてはLEDに限らず白熱ランプなどでもよい。
発光素子もフォトトランジスタに限られない。
素子としてはLEDに限らず白熱ランプなどでもよい。
発光素子もフォトトランジスタに限られない。
【0033】また、本願発明の配線基板検査装置は、光
源としてレーザではなく白熱ランプなども用いることが
できる。また、感光素子に光を照射した時の発光素子の
点灯状態を目視で観察して検査するようにすれば画像処
理部が不要となる。
源としてレーザではなく白熱ランプなども用いることが
できる。また、感光素子に光を照射した時の発光素子の
点灯状態を目視で観察して検査するようにすれば画像処
理部が不要となる。
【0034】また、図1に示すようにレーザ光等の方向
を変化させる代わりに、光源と被検査配線基板の相対的
な位置を変化させて感光素子に選択的に光を照射するこ
ともできる。
を変化させる代わりに、光源と被検査配線基板の相対的
な位置を変化させて感光素子に選択的に光を照射するこ
ともできる。
【0035】また、光ファイバーから光を出射させて感
光素子に光を照射することもできる。
光素子に光を照射することもできる。
【0036】さらに、複数の光源を設けて複数の感光素
子を同時に照射して検査時間を短縮することもできる。
子を同時に照射して検査時間を短縮することもできる。
【0037】
【発明の効果】第一の効果は、配線基板検査装置の小型
化、軽量化、構成の簡易化ができるという効果がある。
化、軽量化、構成の簡易化ができるという効果がある。
【0038】その理由は、従来の検査装置では被検査配
線基板と検査装置とを接続するためには、被検査配線基
板と検査装置間を接続させるために多数の数mにもおよ
ぶケーブルを使用するか、多数のコンタクトプローブを
取り付けた専用のフィクスチャーを使用していたが、本
発明の配線基板検査装置では、発光感光ブロックの感光
素子をレーザ光等で照射して、これと導通する発光感光
ブロックの発光素子を点灯させることによって、被検査
配線基板と検査装置とを接続させるための多数のケーブ
ルや専用のフィクスチャーの製作が必要ないためであ
る。
線基板と検査装置とを接続するためには、被検査配線基
板と検査装置間を接続させるために多数の数mにもおよ
ぶケーブルを使用するか、多数のコンタクトプローブを
取り付けた専用のフィクスチャーを使用していたが、本
発明の配線基板検査装置では、発光感光ブロックの感光
素子をレーザ光等で照射して、これと導通する発光感光
ブロックの発光素子を点灯させることによって、被検査
配線基板と検査装置とを接続させるための多数のケーブ
ルや専用のフィクスチャーの製作が必要ないためであ
る。
【0039】第2の効果は、操作性が向上し検査工数の
低減ができ生産性の向上をはかることができるという効
果がある。
低減ができ生産性の向上をはかることができるという効
果がある。
【0040】その理由は、従来の検査装置のように、被
検査配線基板と検査装置間とを接続させるための多数の
数mにもおよぶケーブルの接続及び検査終了後の取り外
しのための膨大な工数が不要となるためである。
検査配線基板と検査装置間とを接続させるための多数の
数mにもおよぶケーブルの接続及び検査終了後の取り外
しのための膨大な工数が不要となるためである。
【図1】本発明の実施の形態の配線基板検査装置の構成
図である。
図である。
【図2】図1中のLEDフォトトランジスタアレイ5,
6の斜視図である。
6の斜視図である。
【図3】図1中のLEDフォトトランジスタアレイ7の
斜視図である。
斜視図である。
【図4】図1中の配線基板1の平面図である。
【図5】図4中のLEDフォトトランジスタブロック2
9,30の回路図である。
9,30の回路図である。
1 被検査配線基板 2 コネクタ 3 コネクタ 4 IC 5 LEDフォトトランジスタアレイ 6 LEDフォトトランジスタアレイ 7 LEDフォトトランジスタアレイ 8 基板保持台 9 極細レーザ光照射部 10 極細レーザ光 11 駆動部 12 カメラ部 13 画像処理部 14 制御部 15 電源 16 フォトトランジスタ 17 LED 18 コネクタ接続ピン 19 LEDフォトトランジスタブロック 20 IC接続ピン 21 ICクランプ用爪 22 配線 23 配線 24 配線 25 抵抗 26 接続ピン 27 電源 28 接地パターン 29 LEDフォトトランジスタブロック 30 LEDフォトトランジスタブロック 31 LEDフォトトランジスタブロック 32 フォトトランジスタ 33 フォトトランジスタ 35 フォトトランジスタ 36 LED 37 LED 38 LED 39 LED 40 ピン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 31/00 - 31/04 H05K 13/00 - 13/08
Claims (11)
- 【請求項1】 被検査配線基板に実装された部品のピン
それぞれに対応して接触する接触ピンを有し、少くとも
一部の前記接続ピンそれぞれには対応して受光により当
該接続ピンを電源に導通させる感光素子と当該接続ピン
が電源に導通した時に発光する発光素子とからなる発光
感光ブロックとが備えられたことを特徴とする点灯感光
アレイ。 - 【請求項2】 前記発光感光ブロックは、前記感光素子
と前記発光素子との間に前記接続ピンを接続し、前記発
光素子及び前記感光素子は前記接続ピンのうちの前記部
品の給電ピンに接続するものの間に接続されたことを特
徴とする請求項1記載の点灯感光アレイ。 - 【請求項3】 前記発光素子はLEDであり前記感光素
子はフォトトランジスタである請求項1又は2記載の点
灯感光アレイ。 - 【請求項4】 被検査配線基板に実装された部品をつか
む爪を設けたことを特徴とする請求項1,2又は3記載
の点灯感光アレイ。 - 【請求項5】 被検査配線基板を保持する基板保持台
と、前記被検査配線基板に実装された部品に接続された
前記点灯感光アレイの前記感光素子に選択的に光を照射
する光源とを含むことを特徴とする請求項1〜4のいず
れかに記載された点灯感光アレイを用いた配線基板検査
装置。 - 【請求項6】 被検査配線基板を保持する基板保持台
と、前記被検査配線基板に実装された部品に接続された
前記点灯感光アレイの前記感光素子に選択的に光を照射
する光源と、前記被検査配線基板上の前記感光素子の点
灯状態を撮像して前記被検査配線基板上の配線を検査す
る画像処理部とを含むことを特徴とする請求項1〜4の
いずれかに記載の点灯感光アレイを用いた配線基板検査
装置。 - 【請求項7】 前記光源は光の方向を変化させて前記感
光素子を選択的に照射することを特徴とする請求項5又
は6記載の配線基板検査装置。 - 【請求項8】 前記光源は前記被検査配線基板との相対
的位置を変化させて前記感光素子を選択的に照射するこ
とを特徴とする請求項5,6又は7記載の配線基板検査
装置。 - 【請求項9】 前記光源はレーザ光を照射することを特
徴とする請求項5〜8のいずれかに記載の配線基板検査
装置。 - 【請求項10】 前記光源は光ファイバーを用いて光を
照射することを特徴とする請求項5〜9のいずれかに記
載の配線基板検査装置。 - 【請求項11】 被検査配線基板に実装された部品に前
記点灯感光アレイを取り付け、前記感光素子に選択的に
光を照射した時の前記発光素子の点灯,非点灯により前
記被検査配線基板の配線を検査することを特徴とする請
求項1〜4のいずれかに記載の点灯感光アレイを用いた
配線基板検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13513497A JP2944571B2 (ja) | 1997-05-26 | 1997-05-26 | 配線基板検査装置及び方法並びに点灯感光アレイ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13513497A JP2944571B2 (ja) | 1997-05-26 | 1997-05-26 | 配線基板検査装置及び方法並びに点灯感光アレイ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10325849A JPH10325849A (ja) | 1998-12-08 |
JP2944571B2 true JP2944571B2 (ja) | 1999-09-06 |
Family
ID=15144608
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13513497A Expired - Fee Related JP2944571B2 (ja) | 1997-05-26 | 1997-05-26 | 配線基板検査装置及び方法並びに点灯感光アレイ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2944571B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2840410B1 (fr) * | 2002-05-30 | 2004-08-13 | Bruno Coissac | Dispositif permettant de tester et analyser rapidement des cables equipes de connecteurs sous des environnements lumineux differents |
-
1997
- 1997-05-26 JP JP13513497A patent/JP2944571B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH10325849A (ja) | 1998-12-08 |
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