JP2944571B2 - 配線基板検査装置及び方法並びに点灯感光アレイ - Google Patents
配線基板検査装置及び方法並びに点灯感光アレイInfo
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、配線基板の検査装
置に関し、特に部品の実装された配線基板の検査装置及
び方法並びにこれら装置及び方法に用いられる点灯感光
アレイに関する。
置に関し、特に部品の実装された配線基板の検査装置及
び方法並びにこれら装置及び方法に用いられる点灯感光
アレイに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、コネクタや電気部品の実装された
配線基板の検査は、次に示すような検査装置を使用し実
施されていた。
配線基板の検査は、次に示すような検査装置を使用し実
施されていた。
【０００３】一つは、被検査配線基板に実装された多数
のコネクタと検査装置本体とを多数のケーブルにて接続
する検査装置である。この場合の検査装置は、被検査基
板のパターンのオープン、ショート検査、電気部品の機
能検査を行うための検査装置本体のほかに、被検査基板
上に実装されたコネクタの形状、種類、数量に合わせた
長さ数ｍの多数のケーブルが必要で、被検査基板と検査
装置間とを全て多数のケーブルにて接続してから被検査
基板の電気検査を実施し、検査終了後、接続した多数の
ケーブルを取り外していた。
のコネクタと検査装置本体とを多数のケーブルにて接続
する検査装置である。この場合の検査装置は、被検査基
板のパターンのオープン、ショート検査、電気部品の機
能検査を行うための検査装置本体のほかに、被検査基板
上に実装されたコネクタの形状、種類、数量に合わせた
長さ数ｍの多数のケーブルが必要で、被検査基板と検査
装置間とを全て多数のケーブルにて接続してから被検査
基板の電気検査を実施し、検査終了後、接続した多数の
ケーブルを取り外していた。
【０００４】他の一つには、被検査配線基板と検査装置
本体とを多数のコンタクトプローブを有するフィクスチ
ャーを介して接続する検査装置である。この場合は検査
装置本体のほかに、被検査基板の外形サイズ、実装され
たコネクタや電気部品の形状、ピンの位置に合わせて多
数のコンタクトプローブを固定させた専用のフィクスチ
ャーと、この専用のフィクスチャーの多数のコンタクト
プローブと検査装置本体を接続するための多数のケーブ
ルが必要で、被検査基板を専用のフィクスチャーにセッ
トし、バキューム等の力を利用し多数のコンタクトプロ
ーブを被検査基板に押しあててコネクタや電気部品と接
続させて電気検査を実施し、検査終了後バキューム等の
力を解除して被検査基板を専用のフィクスチャーから取
り外していた。
本体とを多数のコンタクトプローブを有するフィクスチ
ャーを介して接続する検査装置である。この場合は検査
装置本体のほかに、被検査基板の外形サイズ、実装され
たコネクタや電気部品の形状、ピンの位置に合わせて多
数のコンタクトプローブを固定させた専用のフィクスチ
ャーと、この専用のフィクスチャーの多数のコンタクト
プローブと検査装置本体を接続するための多数のケーブ
ルが必要で、被検査基板を専用のフィクスチャーにセッ
トし、バキューム等の力を利用し多数のコンタクトプロ
ーブを被検査基板に押しあててコネクタや電気部品と接
続させて電気検査を実施し、検査終了後バキューム等の
力を解除して被検査基板を専用のフィクスチャーから取
り外していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】第１の問題点は、従来
のコネクタや電気部品の実装された被検査配線基板と検
査装置本体とを多数のケーブルを使用して接続させる検
査装置では、作業性が悪く生産性が低いことである。ま
た、検査装置が大型になってしまうことである。
のコネクタや電気部品の実装された被検査配線基板と検
査装置本体とを多数のケーブルを使用して接続させる検
査装置では、作業性が悪く生産性が低いことである。ま
た、検査装置が大型になってしまうことである。
【０００６】その理由は、多数の長さ数ｍにもなるケー
ブルは重量もかなり有り、被検査基板に接続させ、検査
終了後、取り外しする作業性が悪く検査工数も大きくな
ってしまいスループットが低くなってしまっていたから
である。また、数ｍも有るケーブルが多数あったため、
検査装置が大型になってしまっていた。
ブルは重量もかなり有り、被検査基板に接続させ、検査
終了後、取り外しする作業性が悪く検査工数も大きくな
ってしまいスループットが低くなってしまっていたから
である。また、数ｍも有るケーブルが多数あったため、
検査装置が大型になってしまっていた。
【０００７】第２の問題点は、従来のコネクタや電気部
品の実装された被検査配線基板を専用のフィクスチャー
を使用して接続させる検査装置では、フィクスチャーの
構造が複雑で、また、検査装置も大型になってしまうこ
とである。
品の実装された被検査配線基板を専用のフィクスチャー
を使用して接続させる検査装置では、フィクスチャーの
構造が複雑で、また、検査装置も大型になってしまうこ
とである。
【０００８】その理由は、フィクスチャー自体が多数の
コンタクトプローブを位置精度を出して制作し、被検査
基板とコンタクトプローブを接続させる時に、バキュー
ム等の力を利用するため内部を気密にしていたため、構
造が複雑になり、制作コストも高くなってしまっていた
からである。また、フィクスチャーの多数のコンタクト
プローブと検査装置本体を多数のケーブルで接続させる
ため検査装置が大型のものになってしまっていたからで
ある。
コンタクトプローブを位置精度を出して制作し、被検査
基板とコンタクトプローブを接続させる時に、バキュー
ム等の力を利用するため内部を気密にしていたため、構
造が複雑になり、制作コストも高くなってしまっていた
からである。また、フィクスチャーの多数のコンタクト
プローブと検査装置本体を多数のケーブルで接続させる
ため検査装置が大型のものになってしまっていたからで
ある。
【０００９】本発明は、従来の検査装置のような被検査
配線基板と検査装置間を接続するための数ｍにもおよぶ
多数のケーブルを不要にし、基板検査装置の小型化、軽
量化をはかることができ、また、複雑な専用のフィクス
チャーを不要にし、配線基板検査装置の装置構成の簡易
化をはかることを目的とする。また、本発明は、被検査
配線基板に、多数のケーブルを接続させ、検査終了後、
多数のケーブルをはずす作業をなくし、検査作業を容易
にし、操作者を向上させて検査工数を低減させ、生産性
の向上を可能にした基板検査装置を提供することを目的
とする。
配線基板と検査装置間を接続するための数ｍにもおよぶ
多数のケーブルを不要にし、基板検査装置の小型化、軽
量化をはかることができ、また、複雑な専用のフィクス
チャーを不要にし、配線基板検査装置の装置構成の簡易
化をはかることを目的とする。また、本発明は、被検査
配線基板に、多数のケーブルを接続させ、検査終了後、
多数のケーブルをはずす作業をなくし、検査作業を容易
にし、操作者を向上させて検査工数を低減させ、生産性
の向上を可能にした基板検査装置を提供することを目的
とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の点灯感光アレイ
は、被検査配線基板（図１の１）に実装された部品（図
１の２，３，４）のピン（図１の４０）それぞれに対応
して接続する接続ピン（図２の１８，図３の２０）を有
し、少くとも一部の前記接続ピンそれぞれには対応して
受光により当該接続ピンを電源（図５の２７）に導通さ
せる感光素子（図２，図３の１６）と当該接続ピンが電
源に導通した時に発光する発光素子（図２，図３の１
７）とからなる発光感光ブロック（図４の２９，３０
…）とが備えられ、前記発光感光ブロックは、前記感光
素子と前記発光素子との間に前記接続ピンを接続し、前
記発光素子及び前記感光素子は前記接続ピンのうちの前
記部品の給電ピンに接続するものの間に接続されたよう
にし、例えば、前記発光素子はＬＥＤであり前記感光素
子はフォトトランジスタとすることもできる。
は、被検査配線基板（図１の１）に実装された部品（図
１の２，３，４）のピン（図１の４０）それぞれに対応
して接続する接続ピン（図２の１８，図３の２０）を有
し、少くとも一部の前記接続ピンそれぞれには対応して
受光により当該接続ピンを電源（図５の２７）に導通さ
せる感光素子（図２，図３の１６）と当該接続ピンが電
源に導通した時に発光する発光素子（図２，図３の１
７）とからなる発光感光ブロック（図４の２９，３０
…）とが備えられ、前記発光感光ブロックは、前記感光
素子と前記発光素子との間に前記接続ピンを接続し、前
記発光素子及び前記感光素子は前記接続ピンのうちの前
記部品の給電ピンに接続するものの間に接続されたよう
にし、例えば、前記発光素子はＬＥＤであり前記感光素
子はフォトトランジスタとすることもできる。
【００１１】また、この点灯感光アレイに被検査配線基
板に実装された部品をつかむ爪を設けてもよい。
板に実装された部品をつかむ爪を設けてもよい。
【００１２】本発明の配線基板検査装置は、被検査配線
基板を保持する基板保持台と、前記被検査配線基板に実
装された部品に接続された上述の点灯感光アレイの前記
感光素子に選択的に光を照射する光源とを備えている。
基板を保持する基板保持台と、前記被検査配線基板に実
装された部品に接続された上述の点灯感光アレイの前記
感光素子に選択的に光を照射する光源とを備えている。
【００１３】本発明の配線基板検査装置は、被検査配線
基板を保持する基板保持台と前記被検査配線基板に実装
された部品に接続された上述の点灯感光アレイの前記感
光素子に選択的に光を照射する光源と、前記被検査配線
基板上の前記感光素子の点灯状態を撮像して前記被検査
配線基板上の配線を検査する画像処理部とを備えてい
る。
基板を保持する基板保持台と前記被検査配線基板に実装
された部品に接続された上述の点灯感光アレイの前記感
光素子に選択的に光を照射する光源と、前記被検査配線
基板上の前記感光素子の点灯状態を撮像して前記被検査
配線基板上の配線を検査する画像処理部とを備えてい
る。
【００１４】上述の配線基板検査装置の光源は光の方向
を変化させて前記感光素子を選択的に照射することも、
前記被検査配線基板との相対的位置を変化させて前記感
光素子を選択的に照射するようにすることもでき、さら
にこの光源はレーザ光を照射しても、光ファイバーを用
いて光を照射するようにしてもよい。
を変化させて前記感光素子を選択的に照射することも、
前記被検査配線基板との相対的位置を変化させて前記感
光素子を選択的に照射するようにすることもでき、さら
にこの光源はレーザ光を照射しても、光ファイバーを用
いて光を照射するようにしてもよい。
【００１５】本発明の配線基板検査方法は、被検査配線
基板に実装された部品に上述の点灯感光アレイを取り付
け、前記感光素子に選択的に光を照射した時の前記発光
素子の点灯，非点灯により前記被検査配線基板の配線を
検査することを特徴とする。
基板に実装された部品に上述の点灯感光アレイを取り付
け、前記感光素子に選択的に光を照射した時の前記発光
素子の点灯，非点灯により前記被検査配線基板の配線を
検査することを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して詳細に説明する。
して詳細に説明する。
【００１７】図１は、本発明の実施の形態の配線基板の
検査装置の構成図である。
検査装置の構成図である。
【００１８】被検査配線基板１に実装されたコネクタ２
にＬＥＤフォトトランジスタアレイ５を接続し、コネク
タ３にＬＥＤフォトトランジスタアレイ６を接続し、Ｉ
Ｃ４の上部にＬＥＤフォトトランジスタアレイ７を搭載
しＩＣ４のピン４０にＬＥＤフォトトランジスタアレイ
７の接続ピン２０を接触させ被検査配線基板１を基板保
持台８に搭載して固定する。次に、電源１５を被検査配
線基板１に接続し、基板１，コネクタ２，３，ＩＣ４の
ピン４０を介してＬＥＤフォトトランジスタアレイ５，
ＬＥＤフォトトランジスタアレイ６，ＬＥＤフォトトラ
ンジスタアレイ７に給電する。
にＬＥＤフォトトランジスタアレイ５を接続し、コネク
タ３にＬＥＤフォトトランジスタアレイ６を接続し、Ｉ
Ｃ４の上部にＬＥＤフォトトランジスタアレイ７を搭載
しＩＣ４のピン４０にＬＥＤフォトトランジスタアレイ
７の接続ピン２０を接触させ被検査配線基板１を基板保
持台８に搭載して固定する。次に、電源１５を被検査配
線基板１に接続し、基板１，コネクタ２，３，ＩＣ４の
ピン４０を介してＬＥＤフォトトランジスタアレイ５，
ＬＥＤフォトトランジスタアレイ６，ＬＥＤフォトトラ
ンジスタアレイ７に給電する。
【００１９】図２に、ＬＥＤフォトトランジスタアレイ
５，ＬＥＤフォトトランジスタアレイ６の斜視図を示
す。ＬＥＤフォトトランジスタアレイ５，６の下面には
コネクタ２，３のコンタクトに接触させるコネクタ接続
ピン１８が植設され、コネクタ２，３の配線基板１の配
線に接続される被検査ピンに対し、１対１対応でコネク
タ接続ピン１８を接続させる。コネクタ２，３は被検査
ピンのほかに配線基板１上の電源パターンに接続される
給電ピンを有し、コネクタ接続ピン１８の中の一部は給
電ピンに接触し、ＬＥＤフォトトランジスタアレイ５，
ＬＥＤフォトトランジスタアレイ６に給電させる。
５，ＬＥＤフォトトランジスタアレイ６の斜視図を示
す。ＬＥＤフォトトランジスタアレイ５，６の下面には
コネクタ２，３のコンタクトに接触させるコネクタ接続
ピン１８が植設され、コネクタ２，３の配線基板１の配
線に接続される被検査ピンに対し、１対１対応でコネク
タ接続ピン１８を接続させる。コネクタ２，３は被検査
ピンのほかに配線基板１上の電源パターンに接続される
給電ピンを有し、コネクタ接続ピン１８の中の一部は給
電ピンに接触し、ＬＥＤフォトトランジスタアレイ５，
ＬＥＤフォトトランジスタアレイ６に給電させる。
【００２０】図３に、ＬＥＤフォトトランジスタアレイ
７の斜視図を示す。ＬＥＤフォトトランジスタアレイ７
の両側部にはＩＣ接続ピン２０が植設されている。ＩＣ
４のピン４０に対し、ＩＣ接続ピン２０を接触させ、Ｉ
Ｃ４の被検査ピンに対し、１対１対応でＩＣ接続ピン２
１を接続させる。ピン４０の一部は配線基板１上の電源
パターンに接続される給電ピンで、ＩＣ接続ピン２０の
一部を給電ピンに接触させてＬＥＤフォトトランジスタ
アレイ７に給電させる。また、ＩＣ４とＬＥＤフォトト
ランジスタアレイ７の各被検査ピンが安定して接触する
ように、ＬＥＤフォトトランジスタアレイ７の両端に設
けられた弾性を有するＩＣクランプ用爪２１でＬＥＤフ
ォトトランジスタアレイ７の両端をつかむようにしてＬ
ＥＤフォトトランジスタアレイ７をＩＣ４上に固定させ
る。
７の斜視図を示す。ＬＥＤフォトトランジスタアレイ７
の両側部にはＩＣ接続ピン２０が植設されている。ＩＣ
４のピン４０に対し、ＩＣ接続ピン２０を接触させ、Ｉ
Ｃ４の被検査ピンに対し、１対１対応でＩＣ接続ピン２
１を接続させる。ピン４０の一部は配線基板１上の電源
パターンに接続される給電ピンで、ＩＣ接続ピン２０の
一部を給電ピンに接触させてＬＥＤフォトトランジスタ
アレイ７に給電させる。また、ＩＣ４とＬＥＤフォトト
ランジスタアレイ７の各被検査ピンが安定して接触する
ように、ＬＥＤフォトトランジスタアレイ７の両端に設
けられた弾性を有するＩＣクランプ用爪２１でＬＥＤフ
ォトトランジスタアレイ７の両端をつかむようにしてＬ
ＥＤフォトトランジスタアレイ７をＩＣ４上に固定させ
る。
【００２１】ＬＥＤフォトトランジスタアレイ５，６，
７において、コネクタ２，３又はＩＣ４の被検査ピンに
接続するコネクタ接続ピン１８又はＩＣ接続ピン２０に
対応してＬＥＤ１７及びフォトトランジスタ１６が一つ
ずつからなるＬＥＤフォトトランジスタブロック１９が
設けられ、これらの回路図を図５に示す。
７において、コネクタ２，３又はＩＣ４の被検査ピンに
接続するコネクタ接続ピン１８又はＩＣ接続ピン２０に
対応してＬＥＤ１７及びフォトトランジスタ１６が一つ
ずつからなるＬＥＤフォトトランジスタブロック１９が
設けられ、これらの回路図を図５に示す。
【００２２】図５において、配線基板１上の配線２４が
接続ピン２６，４１に接続されている。接続ピン２６，
４１に対応してＬＥＤフォトトランジスタブロック２
９，３０が設けられ、ブロック２９，３０それぞれはＬ
ＥＤ３６及びフォトトランジスタ３２，ＬＥＤ３７及び
フォトトランジスタ３３を備えている。
接続ピン２６，４１に接続されている。接続ピン２６，
４１に対応してＬＥＤフォトトランジスタブロック２
９，３０が設けられ、ブロック２９，３０それぞれはＬ
ＥＤ３６及びフォトトランジスタ３２，ＬＥＤ３７及び
フォトトランジスタ３３を備えている。
【００２３】ＬＥＤフォトトランジスタブロック２９に
おいて、ＬＥＤ３６は２つの抵抗２５を介してフォトト
ランジスタ３２と接続され、これらの直列接続が接続ピ
ン（図５には図示略）及び配線基板１上の導体パターン
を介して電源２７，接地パターン２８に接続されてい
る。ＬＥＤフォトトランジスタブロック３０におけるＬ
ＥＤ３７及びフォトトランジスタ３３も同様に接続され
ている。
おいて、ＬＥＤ３６は２つの抵抗２５を介してフォトト
ランジスタ３２と接続され、これらの直列接続が接続ピ
ン（図５には図示略）及び配線基板１上の導体パターン
を介して電源２７，接地パターン２８に接続されてい
る。ＬＥＤフォトトランジスタブロック３０におけるＬ
ＥＤ３７及びフォトトランジスタ３３も同様に接続され
ている。
【００２４】レーザ光がフォトトランジスタ３２に照射
された場合、ＬＥＤ３６がドライブされ点灯する。この
時に、配線２４が正常であれば、同時に配線２４と接続
ピン２６にて接続された、ＬＥＤ３７も点灯する。配線
２４がオープンしている場合には、ＬＥＤ３７は点灯し
ない。同様に、フォトトランジスタ３３にレーザ光を照
射した場合、配線２４が正常であればＬＥＤ３６が点灯
する。
された場合、ＬＥＤ３６がドライブされ点灯する。この
時に、配線２４が正常であれば、同時に配線２４と接続
ピン２６にて接続された、ＬＥＤ３７も点灯する。配線
２４がオープンしている場合には、ＬＥＤ３７は点灯し
ない。同様に、フォトトランジスタ３３にレーザ光を照
射した場合、配線２４が正常であればＬＥＤ３６が点灯
する。
【００２５】図１について説明を続ける。被検査基板１
上のＬＥＤフォトトランジスタアレイ５，６，７の全て
のフォトトランジスタ及びＬＥＤの位置情報を予め制御
部１４に記憶しておく。被検査配線基板１の上側に極細
レーザ光照射部９及びカメラ部１２を配置し、極細レー
ザ光照射部９からの極細レーザ光１０の照射方向は駆動
部１１により変化させることができる。
上のＬＥＤフォトトランジスタアレイ５，６，７の全て
のフォトトランジスタ及びＬＥＤの位置情報を予め制御
部１４に記憶しておく。被検査配線基板１の上側に極細
レーザ光照射部９及びカメラ部１２を配置し、極細レー
ザ光照射部９からの極細レーザ光１０の照射方向は駆動
部１１により変化させることができる。
【００２６】制御部１４より、基板１上の被検査配線と
接続されたＬＥＤフォトトランジスタアレイ５，ＬＥＤ
フォトトランジスタアレイ６，ＬＥＤフォトトランジス
タアレイ７の中の１個のフォトトランジスタの位置デー
タを駆動部１１に送り、このフォトトランジスタに極細
レーザ光照射部９の方向を変えて極細レーザ光１０の照
射方向を合わせる。そして、制御部１４により極細レー
ザ光照射ＯＮ信号を極細レーザ光照射部９に送り、極細
レーザ光１０を被検査配線と接続されたその１個のフォ
トトランジスタに照射する。この時、被検査配線が正常
であれば、極細レーザ光１０を照射されたフォトトラン
ジスタと同じＬＥＤフォトトランジスタブロックのＬＥ
Ｄと、このＬＥＤフォトトランジスタブロックと被検査
基板１上の被検査配線でつながっている他のＬＥＤフォ
トトランジスタブロックのＬＥＤのみが点灯する。被検
査配線がオープンしていた場合には、他方のＬＥＤは点
灯しない。また、被検査配線が他の配線とショートして
いた場合には、他の配線と接続されているＬＥＤフォト
トランジスタブロックのＬＥＤも点灯する。
接続されたＬＥＤフォトトランジスタアレイ５，ＬＥＤ
フォトトランジスタアレイ６，ＬＥＤフォトトランジス
タアレイ７の中の１個のフォトトランジスタの位置デー
タを駆動部１１に送り、このフォトトランジスタに極細
レーザ光照射部９の方向を変えて極細レーザ光１０の照
射方向を合わせる。そして、制御部１４により極細レー
ザ光照射ＯＮ信号を極細レーザ光照射部９に送り、極細
レーザ光１０を被検査配線と接続されたその１個のフォ
トトランジスタに照射する。この時、被検査配線が正常
であれば、極細レーザ光１０を照射されたフォトトラン
ジスタと同じＬＥＤフォトトランジスタブロックのＬＥ
Ｄと、このＬＥＤフォトトランジスタブロックと被検査
基板１上の被検査配線でつながっている他のＬＥＤフォ
トトランジスタブロックのＬＥＤのみが点灯する。被検
査配線がオープンしていた場合には、他方のＬＥＤは点
灯しない。また、被検査配線が他の配線とショートして
いた場合には、他の配線と接続されているＬＥＤフォト
トランジスタブロックのＬＥＤも点灯する。
【００２７】このＬＥＤの画像をカメラ部１２で取り込
み、ＬＥＤの点灯の有無を画像処理部１３で検出する。
検出されたＬＥＤの点灯の有無データと予め記憶してお
いた被検査基板１の良品データとを制御部１４で比較
し、被検査基板１の不良の有無を判断する。
み、ＬＥＤの点灯の有無を画像処理部１３で検出する。
検出されたＬＥＤの点灯の有無データと予め記憶してお
いた被検査基板１の良品データとを制御部１４で比較
し、被検査基板１の不良の有無を判断する。
【００２８】図４は、本実施の形態での検査原理を説明
するために示す被検査基板１の平面図である。
するために示す被検査基板１の平面図である。
【００２９】ＬＥＤフォントトランジスタアレイ５に配
置されたＬＥＤフォントトランジスタブロック２９と、
ＬＥＤフォンとトランジスタアレイ６に配置されたＬＥ
Ｄフォトトランジスタブロック３０とが被検査配線基板
１上の配線２２によって接続されている。また、ＬＥＤ
フォトトランジスタブロック２９に隣接するフォトトラ
ンジスタブロック４６及び４７それぞれとフォトトラン
ジスタブロック３０に隣接するフォトトランジスタブロ
ック４８及び４９それぞれとが配線２２に隣接する配線
４２及び４３それぞれにより接続されている。
置されたＬＥＤフォントトランジスタブロック２９と、
ＬＥＤフォンとトランジスタアレイ６に配置されたＬＥ
Ｄフォトトランジスタブロック３０とが被検査配線基板
１上の配線２２によって接続されている。また、ＬＥＤ
フォトトランジスタブロック２９に隣接するフォトトラ
ンジスタブロック４６及び４７それぞれとフォトトラン
ジスタブロック３０に隣接するフォトトランジスタブロ
ック４８及び４９それぞれとが配線２２に隣接する配線
４２及び４３それぞれにより接続されている。
【００３０】また、ＬＥＤフォトトランジスタアレイ５
に配置されたＬＥＤフォトトランジスタブロック４１
と、ＬＥＤフォトトランジスタアレイ７に配置されたフ
ォトトランジスタブロック３１とが被検査配線基板１上
の配線２３によって接続されている。また、ＬＥＤフォ
トトランジスタブロック４１に隣接するフォトトランジ
スタブロック５０及び５１それぞれとＬＥＤフォトトラ
ンジスタブロック３１に隣接するフォトトランジスタブ
ロック５２，５３それぞれとが配線２３に隣接する配線
４４及び４５それぞれにより接続されている。
に配置されたＬＥＤフォトトランジスタブロック４１
と、ＬＥＤフォトトランジスタアレイ７に配置されたフ
ォトトランジスタブロック３１とが被検査配線基板１上
の配線２３によって接続されている。また、ＬＥＤフォ
トトランジスタブロック４１に隣接するフォトトランジ
スタブロック５０及び５１それぞれとＬＥＤフォトトラ
ンジスタブロック３１に隣接するフォトトランジスタブ
ロック５２，５３それぞれとが配線２３に隣接する配線
４４及び４５それぞれにより接続されている。
【００３１】配線２２のオープン、ショート検査をする
場合は、ＬＥＤフォトトランジスタブロック２９のフォ
トトランジスタ３２に、極細レーザ光１０を照射させ
る。配線２２が正常であれば、ＬＥＤフォトトランジス
タブロック２９のＬＥＤ３６とＬＥＤフォトトランジス
タブロック３０のＬＥＤ３７のみが点灯する。配線２２
がオープンしている場合には、ＬＥＤ３６のみが点灯
し、ＬＥＤ３７は点灯しない。また、配線２２が隣りの
配線４２，４３のいずれかとショートしている場合、Ｌ
ＥＤ３６とＬＥＤ３７とこれらと隣接するＬＥＤフォト
トランジスタブロック４６〜４９のうち配線２２とショ
ートしている配線と接続している方のＬＥＤフォトトラ
ンジスタブロックのＬＥＤが点灯する。同様にして、コ
ネクタ２とＩＣ４間の配線２３の検査を実施する場合
は、ＬＥＤフォトトランジスタブロック４１のフォトト
ランジスタ３５に、極細レーザ光１０を照射させる。配
線２３が正常であれば、ＬＥＤフォトトランジスタブロ
ック４１のＬＥＤ３９とＬＥＤフォトトランジスタブロ
ック３１のＬＥＤ３８のみが点灯する。配線２３がオー
プンしている場合には、ＬＥＤ３９のみが点灯し、ＬＥ
Ｄ３８は点灯しない。また、配線２３が隣りの配線４
４，４５のいずれかとショートしている場合、ＬＥＤ３
９とＬＥＤ３８とこれらと隣接するＬＥＤフォトトラン
ジスタブロック５１〜５３のうち、配線２３とショート
している配線と接続している方のＬＥＤフォトトランジ
スタブロックのＬＥＤが点灯する。
場合は、ＬＥＤフォトトランジスタブロック２９のフォ
トトランジスタ３２に、極細レーザ光１０を照射させ
る。配線２２が正常であれば、ＬＥＤフォトトランジス
タブロック２９のＬＥＤ３６とＬＥＤフォトトランジス
タブロック３０のＬＥＤ３７のみが点灯する。配線２２
がオープンしている場合には、ＬＥＤ３６のみが点灯
し、ＬＥＤ３７は点灯しない。また、配線２２が隣りの
配線４２，４３のいずれかとショートしている場合、Ｌ
ＥＤ３６とＬＥＤ３７とこれらと隣接するＬＥＤフォト
トランジスタブロック４６〜４９のうち配線２２とショ
ートしている配線と接続している方のＬＥＤフォトトラ
ンジスタブロックのＬＥＤが点灯する。同様にして、コ
ネクタ２とＩＣ４間の配線２３の検査を実施する場合
は、ＬＥＤフォトトランジスタブロック４１のフォトト
ランジスタ３５に、極細レーザ光１０を照射させる。配
線２３が正常であれば、ＬＥＤフォトトランジスタブロ
ック４１のＬＥＤ３９とＬＥＤフォトトランジスタブロ
ック３１のＬＥＤ３８のみが点灯する。配線２３がオー
プンしている場合には、ＬＥＤ３９のみが点灯し、ＬＥ
Ｄ３８は点灯しない。また、配線２３が隣りの配線４
４，４５のいずれかとショートしている場合、ＬＥＤ３
９とＬＥＤ３８とこれらと隣接するＬＥＤフォトトラン
ジスタブロック５１〜５３のうち、配線２３とショート
している配線と接続している方のＬＥＤフォトトランジ
スタブロックのＬＥＤが点灯する。
【００３２】なお、本願発明の点灯感光アレイは、点灯
素子としてはＬＥＤに限らず白熱ランプなどでもよい。
発光素子もフォトトランジスタに限られない。
素子としてはＬＥＤに限らず白熱ランプなどでもよい。
発光素子もフォトトランジスタに限られない。
【００３３】また、本願発明の配線基板検査装置は、光
源としてレーザではなく白熱ランプなども用いることが
できる。また、感光素子に光を照射した時の発光素子の
点灯状態を目視で観察して検査するようにすれば画像処
理部が不要となる。
源としてレーザではなく白熱ランプなども用いることが
できる。また、感光素子に光を照射した時の発光素子の
点灯状態を目視で観察して検査するようにすれば画像処
理部が不要となる。
【００３４】また、図１に示すようにレーザ光等の方向
を変化させる代わりに、光源と被検査配線基板の相対的
な位置を変化させて感光素子に選択的に光を照射するこ
ともできる。
を変化させる代わりに、光源と被検査配線基板の相対的
な位置を変化させて感光素子に選択的に光を照射するこ
ともできる。
【００３５】また、光ファイバーから光を出射させて感
光素子に光を照射することもできる。
光素子に光を照射することもできる。
【００３６】さらに、複数の光源を設けて複数の感光素
子を同時に照射して検査時間を短縮することもできる。
子を同時に照射して検査時間を短縮することもできる。
【００３７】
【発明の効果】第一の効果は、配線基板検査装置の小型
化、軽量化、構成の簡易化ができるという効果がある。
化、軽量化、構成の簡易化ができるという効果がある。
【００３８】その理由は、従来の検査装置では被検査配
線基板と検査装置とを接続するためには、被検査配線基
板と検査装置間を接続させるために多数の数ｍにもおよ
ぶケーブルを使用するか、多数のコンタクトプローブを
取り付けた専用のフィクスチャーを使用していたが、本
発明の配線基板検査装置では、発光感光ブロックの感光
素子をレーザ光等で照射して、これと導通する発光感光
ブロックの発光素子を点灯させることによって、被検査
配線基板と検査装置とを接続させるための多数のケーブ
ルや専用のフィクスチャーの製作が必要ないためであ
る。
線基板と検査装置とを接続するためには、被検査配線基
板と検査装置間を接続させるために多数の数ｍにもおよ
ぶケーブルを使用するか、多数のコンタクトプローブを
取り付けた専用のフィクスチャーを使用していたが、本
発明の配線基板検査装置では、発光感光ブロックの感光
素子をレーザ光等で照射して、これと導通する発光感光
ブロックの発光素子を点灯させることによって、被検査
配線基板と検査装置とを接続させるための多数のケーブ
ルや専用のフィクスチャーの製作が必要ないためであ
る。
【００３９】第２の効果は、操作性が向上し検査工数の
低減ができ生産性の向上をはかることができるという効
果がある。
低減ができ生産性の向上をはかることができるという効
果がある。
【００４０】その理由は、従来の検査装置のように、被
検査配線基板と検査装置間とを接続させるための多数の
数ｍにもおよぶケーブルの接続及び検査終了後の取り外
しのための膨大な工数が不要となるためである。
検査配線基板と検査装置間とを接続させるための多数の
数ｍにもおよぶケーブルの接続及び検査終了後の取り外
しのための膨大な工数が不要となるためである。
【図１】本発明の実施の形態の配線基板検査装置の構成
図である。
図である。
【図２】図１中のＬＥＤフォトトランジスタアレイ５，
６の斜視図である。
６の斜視図である。
【図３】図１中のＬＥＤフォトトランジスタアレイ７の
斜視図である。
斜視図である。
【図４】図１中の配線基板１の平面図である。
【図５】図４中のＬＥＤフォトトランジスタブロック２
９，３０の回路図である。
９，３０の回路図である。
１ 被検査配線基板 ２ コネクタ ３ コネクタ ４ ＩＣ ５ ＬＥＤフォトトランジスタアレイ ６ ＬＥＤフォトトランジスタアレイ ７ ＬＥＤフォトトランジスタアレイ ８ 基板保持台 ９ 極細レーザ光照射部 １０ 極細レーザ光 １１ 駆動部 １２ カメラ部 １３ 画像処理部 １４ 制御部 １５ 電源 １６ フォトトランジスタ １７ ＬＥＤ １８ コネクタ接続ピン １９ ＬＥＤフォトトランジスタブロック ２０ ＩＣ接続ピン ２１ ＩＣクランプ用爪 ２２ 配線 ２３ 配線 ２４ 配線 ２５ 抵抗 ２６ 接続ピン ２７ 電源 ２８ 接地パターン ２９ ＬＥＤフォトトランジスタブロック ３０ ＬＥＤフォトトランジスタブロック ３１ ＬＥＤフォトトランジスタブロック ３２ フォトトランジスタ ３３ フォトトランジスタ ３５ フォトトランジスタ ３６ ＬＥＤ ３７ ＬＥＤ ３８ ＬＥＤ ３９ ＬＥＤ ４０ ピン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 31/00 - 31/04 H05K 13/00 - 13/08
Claims (11)
- 【請求項１】 被検査配線基板に実装された部品のピン
それぞれに対応して接触する接触ピンを有し、少くとも
一部の前記接続ピンそれぞれには対応して受光により当
該接続ピンを電源に導通させる感光素子と当該接続ピン
が電源に導通した時に発光する発光素子とからなる発光
感光ブロックとが備えられたことを特徴とする点灯感光
アレイ。 - 【請求項２】 前記発光感光ブロックは、前記感光素子
と前記発光素子との間に前記接続ピンを接続し、前記発
光素子及び前記感光素子は前記接続ピンのうちの前記部
品の給電ピンに接続するものの間に接続されたことを特
徴とする請求項１記載の点灯感光アレイ。 - 【請求項３】 前記発光素子はＬＥＤであり前記感光素
子はフォトトランジスタである請求項１又は２記載の点
灯感光アレイ。 - 【請求項４】 被検査配線基板に実装された部品をつか
む爪を設けたことを特徴とする請求項１，２又は３記載
の点灯感光アレイ。 - 【請求項５】 被検査配線基板を保持する基板保持台
と、前記被検査配線基板に実装された部品に接続された
前記点灯感光アレイの前記感光素子に選択的に光を照射
する光源とを含むことを特徴とする請求項１〜４のいず
れかに記載された点灯感光アレイを用いた配線基板検査
装置。 - 【請求項６】 被検査配線基板を保持する基板保持台
と、前記被検査配線基板に実装された部品に接続された
前記点灯感光アレイの前記感光素子に選択的に光を照射
する光源と、前記被検査配線基板上の前記感光素子の点
灯状態を撮像して前記被検査配線基板上の配線を検査す
る画像処理部とを含むことを特徴とする請求項１〜４の
いずれかに記載の点灯感光アレイを用いた配線基板検査
装置。 - 【請求項７】 前記光源は光の方向を変化させて前記感
光素子を選択的に照射することを特徴とする請求項５又
は６記載の配線基板検査装置。 - 【請求項８】 前記光源は前記被検査配線基板との相対
的位置を変化させて前記感光素子を選択的に照射するこ
とを特徴とする請求項５，６又は７記載の配線基板検査
装置。 - 【請求項９】 前記光源はレーザ光を照射することを特
徴とする請求項５〜８のいずれかに記載の配線基板検査
装置。 - 【請求項１０】 前記光源は光ファイバーを用いて光を
照射することを特徴とする請求項５〜９のいずれかに記
載の配線基板検査装置。 - 【請求項１１】 被検査配線基板に実装された部品に前
記点灯感光アレイを取り付け、前記感光素子に選択的に
光を照射した時の前記発光素子の点灯，非点灯により前
記被検査配線基板の配線を検査することを特徴とする請
求項１〜４のいずれかに記載の点灯感光アレイを用いた
配線基板検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13513497A JP2944571B2 (ja) | 1997-05-26 | 1997-05-26 | 配線基板検査装置及び方法並びに点灯感光アレイ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13513497A JP2944571B2 (ja) | 1997-05-26 | 1997-05-26 | 配線基板検査装置及び方法並びに点灯感光アレイ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10325849A JPH10325849A (ja) | 1998-12-08 |
| JP2944571B2 true JP2944571B2 (ja) | 1999-09-06 |
Family
ID=15144608
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13513497A Expired - Fee Related JP2944571B2 (ja) | 1997-05-26 | 1997-05-26 | 配線基板検査装置及び方法並びに点灯感光アレイ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2944571B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2840410B1 (fr) * | 2002-05-30 | 2004-08-13 | Bruno Coissac | Dispositif permettant de tester et analyser rapidement des cables equipes de connecteurs sous des environnements lumineux differents |
-
1997
- 1997-05-26 JP JP13513497A patent/JP2944571B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10325849A (ja) | 1998-12-08 |
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