JP2941033B2 - 回路情報表示装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、論理回路図、ネットリスト等の論理情報お
よび、部品配置図、プリントパターン図、スルーホール
配置図、テストパッド配置図等の実装情報および、テス
ト端子の位置／識別子等のテスト情報（これらを回路情
報と呼ぶ）をディスプレイ等の表示手段に表示する回路
情報表示装置に関わり、特に、基板や素子の設計／製造
時および動作テストの実施時の故障解析補助装置、また
は、設計変更発生時のプリントパターンカット位置やジ
ャンパー線を張る位置等の回路変更情報の確認に好適な
回路情報表示装置に関する。

〔従来の技術〕

図形を管面上に表示し、編集する技術としては、特開
平１−232487号公報「図形表示システムと図形表示方
法」に記載されている技術のように、あらかじめ決めら
れた図面単位で表示更新処理の最適化や、表示更新に関
する良好なユーザインタフェースを実現する方法につい
ての技術がある。

また、特開昭63−140594号公報「プリント基板パター
ン表示装置」に記載されている技術においては、プリン
ト基板の貫通穴でない、層間をつなぐ層間穴が同一位置
にあるときの表示方法について述べられている。

しかし、これらの技術においては表示する範囲を、素
子の接続関係にしたがって、指定した素子から、指定さ
れた段数まで表示する手段については配慮がされていな
い。

また、テスト情報を他の回路情報と組み合わせて表示
する手段についても配慮されていない。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術は、図面単位で表示を行うため、管面上
に表示する論理回路図や部品配置図を、ユーザの指定に
従い、回路の接続関係を考慮して編集し、表示する手段
について配慮されていない。

また、論理回路図、部品配置図またはプリントパター
ン図上にテスタのプローブピン情報等のテスト情報を表
示する手段についても考慮されていなかった。

このため、テストデバッグ時やテスト実施時に、異常
現象が発生した場合、テスト対象プリント基板に関す
る、全ての論理回路図や部品配置図をテスタの側にお
き、テスタが指摘した故障位置から、その原因となる部
品やプリントパターンの異常部位を捜し出すことを行な
った。

しかし、関係する部品が何枚もの図面に分かれている
ことが多いため、何枚にも渡る論理回路図上で論理の追
跡を行なったり、プリントパターン図でパターンのオー
プン、ショート位置を追跡する必要が有った。

このため、テストエンジニアは、解析のために多くの
時間と労力が必要であった。

この様に、従来技術は、プリント基板のテスト時およ
び設計時のデバッグの容易性については考慮されておら
ず、プリント基板テストおよびデバッグに長時間を要
し、テストエンジニアにとっては、大きな負担になって
いた。

本発明の第一の目的は、論理情報、実装情報と同時
に、テスト情報を表示できる回路情報表示装置を提供す
ることである。

〔課題を解決するための手段〕

上記課題を解決するため、本発明は、 論理情報と実装情報の作成指示を指定する指定情報を
受け付けるための指定手段と、 上記指定手段が受け付けた情報に従って、論理情報お
よび実装情報を作成するための回路情報を編集する編集
手段と、 上記編集手段によって編集された回路情報に基づき作
成された論理情報および実装情報を表示する表示手段と
を有する回路情報表示装置において、 上記指定手段は、上記論理情報および実装情報の回路
情報の表示開始位置情報と、上記回路情報の表示開始位
置情報と接続関係にある他の位置情報を接続関係の何段
階まで表示するかという段数指示手段とを含む前記指定
情報を受け付けるものであり、 上記編集手段は、回路の論理情報、実装情報およびテ
スト情報を記憶しており、当該論理情報、実装情報およ
びテスト情報のうちの少なくとも２種類の情報を、上記
回路情報の構成情報に関して、上記回路情報の段数指示
情報による段数まで関係付けて編集するものであり、 上記表示手段は、上記回路情報の構成情報と上記回路
情報の段数指示情報とによって編集された論理情報およ
び実装情報を表示する、 ことを特徴とする回路情報表示装置を提供する。

〔作用〕

指定手段は、表示情報を指定し、編集手段は、指定情
報に従って回路情報を編集し、表示手段へ出力し、表示
手段は、編集された情報を表示する。

そして、上記編集手段は、回路の論理情報、実装情報
およびテスト情報の内、いずれか少なくとも１種につい
て、それらを構成する情報の１部または全部を表示手段
に表示するように編集し、これらの情報を回路の接続関
係に基づいて表示編集する。

また、編集手段が、論理情報とテスト情報、または、
実装情報とテスト情報を同一表示画面に重ね合わせて編
集する場合は、表示手段内にテスト情報と他の情報を重
ねて表示するため、テスト箇所の検索が容易である。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。

第１図（ａ）は、本発明を構成する回路情報表示装置
のブロック図である。

本発明に係る回路情報表示装置であるワークステーシ
ョン４は、指定手段であるキーボード（KB）またはポイ
ンテイングデバイス（MUS）と、編集手段である演算部4
2と、表示手段である表示部（VDT）45と、論理情報、実
装情報、テスト情報およびプログラムを記憶しておく外
部記憶部44と、演算部で実行されるプログラムが記憶さ
れる内部メモリ43とを有する。

第１図（ｂ）は、回路の設計およびテストにおいて使
われる、ワークステーション４を含めた全体システムの
説明図である。

このシステムは、ワークステーション４で使用する上
記の情報を設計者が作成するための回路設計用のホスト
コンピュータ２と、ホストコンピュータが作成した上記
の情報を記憶する設計データベース３と、ホストコンピ
ュータ２と通信回線等で接続されたワークステーション
４と、製造されたテスト対象のプリント基板30をテスト
するインサーキットテスタ23とを有する。

この図では、テストエンジニア24がテスト対象のプリ
ント基板30をテスト治具22に乗せて、ディスプレイ21を
見ながら作業している所を示す。

このシステムについて、回路設計の手順、論理情報／
実装情報の作成手順、テストの手順を述べる。

ホストコンピュータ２は、テスト対象基板の論理回路
図１を外部より入力し、これに対し論理シミュレーショ
ンを行ない、論理の正当性確認を行なう。

次に、この確認済みの論理回路に従い、プリント基板
30上に搭載する部品310,311,360,361,370の位置を決定
し、これらの部品間を接続するプリントパターン340〜3
43,350〜352やスルーホール320〜323、テストパッド38
の位置を決定する。

この決定後の図を第２図（ａ），（ｂ）に示す。

第２図（ａ）は、プリント基板30の平面図であり、第
２図（ｂ）は、プリント基板30の断面を示す説明図であ
る。

ここで部品310,311は、プリント基板30の表面に搭載
している部品ピン挿入型の部品であり、部品360,361
は、プリント基板30の表面に搭載している表面実装部
品、部品370は、プリント基板30の裏面へ搭載している
表面実装部品である。テストパッド380は、表面実装部
品間をプリントパターンで互いに接続する際に、部品の
ピンに直接テスタのプローブピンが接触不可能な場合、
特別に設けるテストパッドである。

このようにして決定されたテスト対象のプリント基板
30の論理情報、実装情報はホストコンピュータ２の設計
データベース３上に保存される。

次に、このテスト対象のプリント基板30のテストをイ
ンサーキットテスタ23で行なう。

テスト実施前に、テストエンジニア24は、インサーキ
ットテスタ23の近くに配置してあるワークステーション
４のVDT45からテスト対象のプリント基板30のデータを
取り出すための操作を行なう。

この操作を行なうことによりホストコンピュータ２の
設計データベース３上に登録していたテスト対象のプリ
ント基板30の、論理情報、実装情報をオンラインにより
ワークステーション４へ転送する。

この時、ホストコンピュータ２の設計データベース３
に登録されている情報を、そのままワークステーション
４へ転送したのでは、故障解析に不要な情報も多々ある
ため、ワークステーション４のメモリ容量削減、アクセ
ス速度向上のため、ホストコンピュータ２は、第４図に
示すテーブル構造に変換し、ワークステーション４に転
送する。

ここで、素子形状テーブル520、IC形状テーブル525
は、ワークステーション４上のライブラリ情報として常
駐させてある。

ここで、論理接続情報テーブル500のピン番号501は、
プリントパターン340〜343,350〜352で同電位に接続さ
れるICのピン番号を記録する。また、入出力区分502
は、該ピンの信号が、入力であるか、出力であるかの区
別を表す物であり、ネット番号503は、同電位系列の区
別を表すためのものであり、ICテーブルポインタ504
は、IC情報テーブル510を指し示すポインタである。

このIC情報テーブル510には、プリント基板30上に搭
載されている部品の詳細情報を知るために、実装位置51
1及びIC名称512、その他が記述されている。

また、プリントパターンの走行状態を正確に表現する
ため、パターンテーブル530を設計した。

これはプリント基板30上のどの座標531,532のどの層5
34を、どのプリントパターン340〜343,350〜352が走行
するかという情報と、その端点は、スルーホールか、テ
ストパッドが、あるいは、単なる曲がり点かを判断する
穴種535の情報とを持たせたものである。

この時、テスト対象のプリント基板30は、テスト治具
22の上にセットされ、テストエンジニア24によりプリン
ト基板30のテストおよびデバッグが実施される。

そして、プリント基板30のテストおよびデバッグ時に
異常現象を検出すると、インサーキットテスタ23のディ
スプレイ21上には、異常現象内容に従い、その異常内容
メッセージおよびプリント基板30上の位置、例えば、XY
座標、ICの実装位置を表示する。

つぎに、本発明に係るワークステーション４の動作を
上記の異常現象があった場合について説明する。

テストエンジニア24は、異常現象の発生原因を追及す
るため、テスタ23上に表示された情報を、ワークステー
ション４のKBからキー入力する。

キー入力について、第３図を用いて説明する。

初期状態の画面には、論理回路図400、実装図401、ネ
ットリスト402は表示されていない。画面上表示されて
いるのは、表示する情報を選択するメニュー413、素子
を何段階まで表示するかを示す表示レベル423、画面に
対して消去、縮小、拡大等の指示を行うモード426、表
示の中心となる素子を指示する欄である指示内容414、
素子位置、XY座標、ノード番号を選択する表示欄434で
ある。

テストエンジニア24は、この初期状態を有するVDT45
に必要情報をキー入力する。

テスタ23のディスプレイ21に部品I10の１ピンの動作
が、正常動作と異なると表示されたと仮定すると、テス
トエンジニア24はVDT45に向い、選択表示欄434で素子位
置をマウス８でピックアップし、指示内容424に‘I10.
1'とキー入力する。

次に、指示内容424で指示した‘I10'の素子を中心に
して、何階層まで表示するかを示す表示レベルを、表示
レベル423の階層指示欄421にキー入力する。

この初期入力時には、メニュー413とモード426は操作
不要である。初期入力時には、メニュー413は、論理回
路図、実装図、ネットリストの３種類を指示されたと仮
定して動作する。指示が有れば、指示されたもののみ表
示する。

モード426については、初期入力時で消去ということ
は有りえないので、これが指示された場合は、他の項目
との選択ミスが考えられるため、警告メッセージを出力
する。

第６図、第７図より、ワークステーション４で行なわ
れる処理の流れを説明する。

第６図に全体フローを示す。

ワークステーション４のVDT45から、本発明によるプ
ログラムを起動する（S700）と、初期設定モードモジュ
ールに制御が移り（S701）、メニュー画面を表示する。

S701について第７図（ａ）により説明する。

まず、第３図に示す403,404のフイールドを表示する
（S810）。

また、この状態でキー入力された情報は、第５図
（ａ）に示すコマンドメニューテーブル610の、現状の
表示レベルを示すレベル614および現状の表示モードを
示すモード615と、第５図（ｂ）に示す指示内容テーブ
ル650の指示基準名630,指示内容640とへセットされる
（S811）。

表示モードが消去以外ならS702へ移り、消去ならばキ
ー入力ミスを表示して（S803）、初期設定モード（S70
1）の始めにもどる。

ここまでの処理を初期設定モードモジュールで行な
う。

次に、表示モードモジュールに制御を移す（S702）。

この処理概要を第７図（ｂ）に示す。

まず、コマンドメニューテーブル610の論理回路図611
のモード615欄で、論理回路図表示指示が有るか否かチ
ュックし、指示が有れば、論理回路図の内容をレベル61
4に従い、論理図仮想空間作成モジュールにより、論理
回路図をワークステーションの仮想空間に作成する（S8
01）。指示が無ければ指示なしの処理へ進む（S806）。

論理回路図編集に当っては、ホストコンピュータ２で
入力した論理回路図１の図面上での論理回路シンボルの
位置は全く無視し、外部から与えられた素子の情報や座
標情報、ノード情報に従い、可能な限り１画面上で確認
できる情報に編集して出力する。

１画面上で表示出来ない場合には、画面をスクロール
することにより、画面に隠れた部分を表示する機能も、
この作成モジュールの中に持つ。

次に、実装情報の表示処理を行なう（S802）。

この時にも、論理回路図表示と同様に、コマンドメニ
ューテーブル610の実装図612欄に書かれたレベル614、
モード615を参照し、論理接続情報テーブル500、IC情報
テーブル510、パターンテーブル530の内容を編集し、表
示する。

この時には、論理回路図仮想空間作成モジュールが論
理回路図１のシンボル配置を無視して表示画面を作成す
る事とは異なり、相対的な配置状態は基本的には実寸法
で表示する。

この場合画面に入り切れない場合は、画面編集のため
のモード426で縮小拡大機能を用いて、最適表示サイズ
を、画面表示仮想空間へ作成する。

ネットリスト表示モジュールもまた、表示指示があれ
ば、メニューテーブル610、指示内容テーブル650の指示
基準名630,指示内容640の内容に従い、論理接続情報テ
ーブル500の内容に従い、ネットを画面仮想空間へ編集
し出力する（S804）。

この一連の処理により、論理回路図仮想空間、実装情
報仮想空間、ネットリスト仮想空間が完成するため、こ
れらの仮想空間画面情報をディスプレイ表示モジュール
でワークステーション４のVDT45上に表示する（S80
5）。

このようにして表示した画面の情報を、第３図に示
す。

I10を中心にして一階層展開した論理回路図400と実装
情報401、ネットリスト402を一つの画面上に表示してい
る。

以上で第７図の説明を終わって、次に、第６図の編集
指示取り込みモジュールについて説明する。

これは、第３図に表示されている論理回路図400、実
装情報401、ネットリスト402に対して表示内容に変更を
加えたい場合、ユーザ指示コマンド領域403,404に拡
大、縮小、消去、表示レベル変更等の指示を行なう。

このような指示を、コマンドメニューテーブル610の
編集要求のレベル、モードを示す欄であるレベル621、
モード622へ取り込む（S703）。

次に、現状の表示のレベル614、モード615の情報と今
回の編集情報に変化が有るかチェックする。また、指示
基準名630、指示内容640も変化が無いかを調べるため
に、631,641と比較される。

この結果、変化が無ければ（S707）、テストエンジニ
ア24の指示ミスの疑いが考えられるため、第６図の変化
なしへ進み、指示ミスメッセージを出力する出力モジュ
ールをコールし（S708）、再度、編集指示取り込みモジ
ュールへ戻る。

以前の指示状態から変化した場合（S706）には、終了
指示か（S710），別指示有りか（S709）を判断する。終
了指示の場合には、本発明による全ての処理を終了す
る。

別指示有りの場合には、コマンドメニューテーブル61
0の現状の表示のレベル614、モード615へ、編集内容の
レベル621、モード622を移し変える。

また、第５図（ｂ）の指示内容テーブル650の現状の
指示基準名630、指示内容640の631,641欄も書き換え
る。

これらの処理が終了すると、再度、表示モードモジュ
ールの処理に戻る（S702）。

他の実施例を第８図、第９図を用いて説明する。

この実施例は、１台のワークステーション４に、複数
の表示機器であるVDT、例えば３台のVDT45を接続したも
のである。

第８図に示す機器構成を採用した場合、１つのVDTで
１種類の図を表示する、或いは、テスト対象プリント基
板の別の回路位置を、別々の画面に表示する事が可能に
なる。

これを実現するためには、第９図に示すテーブル構成
を取ればよく、この場合のVDT45上に表示する編集、指
示情報は第10図に示すようになる。

この図が第３図と事なる点は、第10図のVDT番号101が
ユーザ指示エリアに存在する点である。

また、第６図の処理フロー上では、初期設定モードモ
ジュールでの表示端末番号の考慮および編集指示取り込
み時のVDT番号の取り込みの考慮を行なう以外には、何
ら特別な処理は必要としない。

このように本発明は構成されているために、以下のこ
とが実現できる。

対象プリント基板の論理設計情報、実装設計情報をコ
ンピュータ（またはワークステーション）のメモリ上に
展開し、外部のキーボードまたはマウス等により指示さ
れた実装位置や部品情報をコンピュータ中に取り込み、
この外部より指示された部品に関係する論理を追跡す
る。さらに、これに関係するプリントパターン情報、部
品配置情報、論理回路図情報、論理接続情報をコンピュ
ータのVDT管面上に表示できる。

このため、回路図、部品配置図、またはプリントパタ
ーン図のような論理動作確認用の論理情報や製造用図面
等の実装情報をそのまま用いるのではなく、必要な情報
のみを編集して、表示できる回路情報表示装置を提供す
ることができる。

論理回路図中には、部品の名称、機能、部品ピン番
号、実装位置を表示できる。

また、設計変更で用いるものであれば、変更後の論理
回路図と変更前の論理回路図を対比できるよう並べて表
示できる。

また、プリント基板の論理変更処理に用いる場合の論
理回路図や部品配置図、ネットリストを表示する場合、
プリントパターンカット位置、ジャンパー線接続位置を
この図面情報中に表示することもできる。

尚、追跡して、得られた論理情報はネットリストとし
て出力できる。

また、部品配置図とプリントパターン図は、部品のIC
の名称、実装位置、XY座標、搭載方向等を含む実装情報
と、プリントパターンがプリント基板上のどこをどの方
向に走っているか示すXY座標情報およびそのプリントパ
ターン上に存在するスルーホール、テストパッドの位置
を示すXY座標情報とを編集することにより出力すること
ができる。

この時、故障解析や設計変更を行なう作業者の操作を
簡単にするため、表示する情報は複数の画面情報を同時
表示（以下、マルチスクリーンと表現する）し、任意の
図面を拡大または縮小し、表示する機能や、その中から
指定された１または２以上の情報の画面のみを拡大また
は縮小して表示する機能や、指定された１または２以上
の情報をスクロールさせる機能を持たせることもでき
る。

図面の拡大または縮小は、各倍率に応じた仮想空間図
面を準備して置くことにより、外部から指示された階層
に合った図面を選択し、表示することができる。

また、複数の情報のすべてを表示することができない
ときは、ユーザが、これらの情報の中から表示するもの
を指定し、指定されたものを表示することもできる。

また、論理回路図を表示する場合、故障原因追及をよ
りスムーズに行なうため、外部より指示された部品を中
心とし、これに接続する論理回路情報を使用者が指示す
る任意の階層で表示できるようにすることもできる。

表示階層が深くなるに従い１画面内に表示するシンボ
ルの数が増加し、また、１画面に表示可能な面積は一定
であることより表示階層が深くなるに従い仮想図面領域
の図面表示倍率を小さくし１画面に収まるようにするこ
ともできる。

部品配置図とプリントパターン図も論理回路図と同様
に、外部より指示された階層に従い図面表示することも
できる。

また、この際に、実際の位置関係を維持して、表示す
るように編集することもできる。

さらに、両面に部品を搭載した基板の故障解析をより
容易に行なうため、部品配置図や論理回路図、プリント
パターン図を表示する際に、テスト対象のプリント基板
の表面側に搭載されている部品やプリントパターンは、
裏面側に搭載されているものとはディスプレイ管面上で
表示態様を変えて表示することもできる。

ここで表示態様を変えるとは、色、形または輝度を変
えること、または点滅させること等をいう。

論理回路ネットリストについても、表面側の回路と裏
面側のネットの表示態様を変えるようにできる。

また、表示対象である素子、プリントパターン、テス
トプローブ等の種別に応じて、表示態様を変えて表示す
ることもできる。

また、ネットリスト上で特定のネットを選択した場
合、論理回路図上または実装図上で当該ネットに関係す
る素子、プリントパターンを強調表示するために、それ
らの輝度を他の部分と変えて表示する、点滅表示する、
または、輝度を変え点滅表示するかのいづれかを選択で
きるようにすることもできる。さらに、その他の表示機
能を選んでも良い。

また、ネットリスト表示欄で選択したネットについて
は、論理回路図上の対応する部品およびプリントパター
ン、スルーホール、テストパッドからなる一連の接続の
輝度、その他の表示態様を、他と変えて表示することも
できる。

また、操作性を一層向上させるため、マルチスクリー
ン上に表示されている、種類の異なる図面の階層表示を
変化させると、これに同期し、他の図面の階層もまた変
化するようにできる。

また、インサーキットテスタを用いたテスト時におい
ては、プリントパターン上にテスト信号を送り込むプロ
ーブピンが立っている位置をテスト中に確認するため、
多くの時間を費やす。

このため、VDT画面上の素子、そしのピン、テストパ
ッド、スルーホールの位置を示す部品配置図およびプリ
ントパターン図等の実装情報と、プローブピンのピン立
て位置等のテスト情報を重ね合わせて表示することもで
きる。

また、論理情報とテスト情報とを重ね合わせて表示す
ることもできる。

このため、論理情報、実装情報と同時に、テスト情報
を表示できる回路情報表示装置を提供することができ
る。

ピン立て位置としては、テストパッドもある。

テストパッドが使われるのは、高密度基板での表面実
装部品を多用した場合やプリント基板への両面実装を行
なった場合、部品ピンに直接プローブピンが立てられな
いことがあるためであり、プリントパターンの途中にテ
ストパッドを設け、これに対しプローブピンを立てテス
ト信号を供給することを行なう。これらのピン立て位置
を確認する際に、位置情報は大きな効果を発揮する。

この際に、位置の確認をしやすくするためにテストパ
ッドの形状または色等の表示態様を他のものと変えて表
示することができる。

スルーホールについても同様に、他のものと形状また
は色等の表示態様を変えることにより識別を容易にする
ことができる。

ここで使用するプローブピンにも用途や形状が異なる
ものがあるため、これをVDT画面上で容易に認識出来る
ように、例えば、電源ピン、アースピン、信号ピンを形
状、色または輝度等の表示態様を変えて表示することも
できる。

また、この際に、プローブピンの識別子の１種である
プローブピン番号等も同時に表示すると作業の効率がさ
らに上がる。

また、プリント基板の故障解析に用いる場合の論理回
路図表示の際、プローブピンが論理回路図のネットを表
わす線分上に表示し、この時、実際のプローブピンが立
っている箇所にもっとも近い素子の近傍に表示すること
もできる。

また、VDT表示画面が小さく、マルチスクリーンでは
見にくい場合には、ワークステーションに複数のディス
プレイを準備し、その一つづつに論理回路図や部品配置
図、プリントパターン図の中から異なった情報を表示さ
せることができる。

なお、プリントパターンの接続状況を容易に調べるた
めに、部品配置図上には、外部から指示した素子または
部品に関係するプリントパターン、テストパッド、スル
ーホールのみを表示することもできる。

以上の機能を持たせることができるために、本発明
は、故障解析を行なう場合、テスタが指摘した異常現象
に関係する回路や部品、プリントパターンの関係を短時
間で容易に観測できるため、テストエンジニアの不良解
析時間を短縮することが可能である。

また、論理回路図や実装図、プリントパターン図を図
面用紙として準備する必要が無いため、テストデバッグ
時や故障解析時にテストステーションを広く使うことが
できる。

なお、本発明においては、第３図に示すように、指定
された素子は画面の中央に表示しているが、指定された
素子は、画面の右端に配置すること（この時は、素子の
入力側に接続される素子を表示することを目的とす
る）、または、指定された素子を画面の左端に表示する
こと（この時は、素子の出力側に接続される素子を表示
することを目的とする）を、指定手段により選べるよう
にしても良い。

また、素子と素子を指定して、その間にあって接続関
係を有する素子またはプリントパターン等のみを表示す
るようにしても良い。

さらに、素子と特定の場所（例えば、外部入出力ピン
等）を指定して、その間にあって接続関係を有する素子
またはプリントパターン等のみを表示するようにしても
良い。

〔発明の効果〕

以上のように構成されているので、本発明によれば、
回路図、部品配置図、またはプリントパターン図のよう
な論理操作確認用の論理情報や製造用図面等の実装情報
をそのまま用いるのではなく、必要な情報のみを編集し
て、表示できる回路情報表示装置を提供することができ
る。

また、論理情報、実装情報と同時に、テスト情報を表
示できる回路情報表示装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図（ａ）
は本発明を適用する対象であるプリント基板の平面図、
第２図（ｂ）は第２図（ａ）Ｉ−Ｉ線断面で、プリント
基板のみを破断して示した説明図、第３図は本発明に係
るワークステーションのVDT画面の説明図、第４図は本
発明を実施するために、ワークステーション上に記憶さ
れたプリント基板の論理、実装情報テーブルの説明図、
第５図（ａ）はユーザがワークステーションのVDTから
入力する情報を記憶するテーブルの１つであるコマンド
メニューテーブルの説明図、第５図（ｂ）はユーザがワ
ークステーションのVDTから入力する情報を記憶するテ
ーブルの１つである指示内容テーブルの説明図、第６図
は本発明のソフトウェア処理の説明図、第７図は本発明
で表示画面を編集するための処理の説明図、第８図は１
台のワークステーションに３台のVDTを接続した実施例
のブロック図、第９図は第８図の機器構成で画面表示を
行なうための、ユーザ指示情報のテーブルの説明図、第
10図は第８図の機器構成時のユーザ指示情報画面の説明
図である。 〔符号の説明〕 １……論理回路図、２……ホストコンピュータ、３……
設計データベース、４……ワークステーション、23……
インサーキットテスタ、30……プリント基板、320……
スルーホール、340……プリントパターン、360……部
品、400……論理回路図、401……実装図、402……ネッ
トリスト、403……ユーザ指示コマンド領域。

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−202675（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−292578（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−255969（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−28882（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−125368（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−10311（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−77834（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−253025（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−140194（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−146619（ＪＰ，Ａ) 実開 昭63−126956（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G06F 17/50

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】論理情報と実装情報の作成指示を指定する
   指定情報を受け付けるための指定手段と、 上記指定手段が受け付けた情報に従って、論理情報およ
   び実装情報を作成するための回路情報を編集する編集手
   段と、 上記編集手段によって編集された回路情報に基づき作成
   された論理情報および実装情報を表示する表示手段とを
   有し、 上記指定手段は、上記論理情報および実装情報の回路情
   報の表示開始位置情報と、上記回路情報の表示開始位置
   情報と接続関係にある他の位置情報を接続関係の何段階
   まで表示するかという段数指示手段とを含む前記指定情
   報を受け付けるものであり、 上記編集手段は、回路の論理情報、実装情報およびテス
   ト情報を記憶しており、当該論理情報、実装情報および
   テスト情報のうちの少なくとも２種類の情報を、上記回
   路情報の構成情報に関して、上記回路情報の段数指示情
   報による段数まで関係付けて編集するものであり、 上記表示手段は、上記回路情報の構成情報と上記回路情
   報の段数指示情報とによって編集された論理情報および
   実装情報を表示する、 ことを特徴とする回路情報表示装置。
2. 【請求項２】請求項１記載の回路情報表示装置におい
   て、 上記構成情報が、上記論理情報の素子を指定する情報、
   上記実装情報の実装位置を指定する情報、上記両情報の
   テスト位置を指定する情報を含む、 ことを特徴とする回路情報表示装置。
3. 【請求項３】請求項１または２記載の回路情報表示装置
   において、 上記編集手段は、実装情報の実際の位置を維持して、編
   集することを特徴とする回路情報表示装置。
4. 【請求項４】請求項１、２および３の何れか１項記載の
   回路情報表示装置において、 上記編集手段は、論理情報および実装情報のうちの何れ
   か一方とテスト情報とを同一表示画面に重ね合わせて表
   示するように編集する、 ことを特徴とする回路情報表示装置。
5. 【請求項５】請求項１記載の回路情報表示装置におい
   て、 上記指定手段は、表示されている複数の画面の１つに対
   して、表示する段階の変更の指定を含む前記指定情報を
   受け付け、 上記編集手段は、指定されなかった画面についても、同
   一の段階まで関係付けるように編集する、 ことを特徴とする回路情報表示装置。