JP2914586B2 - 発振器及びこの発振器を利用した光周波数測定装置 - Google Patents

発振器及びこの発振器を利用した光周波数測定装置

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JP2914586B2
JP2914586B2 JP2401551A JP40155190A JP2914586B2 JP 2914586 B2 JP2914586 B2 JP 2914586B2 JP 2401551 A JP2401551 A JP 2401551A JP 40155190 A JP40155190 A JP 40155190A JP 2914586 B2 JP2914586 B2 JP 2914586B2
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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はマイクロ波帯の基本波
の他にミリ波から光波に及ぶ高調波を同時に出力するこ
とができ例えば光周波数測定装置を構成することに適し
た発振器に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばレーザ光源から出射されるレーザ
光の周波数に関連している周波数を持つ電気信号がレー
ザ駆動回路から得られたとすると光の周波数が既知の値
として与えられるため、このレーザ光を基準にすると被
測定光の周波数を測定することができる。
【0003】またレーザ光源から出射されるレーザ光の
周波数を電気的に制御できたとすると、所望の周波数の
光を得ることができるためその利用価値は大きい。この
ような点から例えばマイクロ波発振器から出力されるマ
イクロ波を周波数てい倍器によって周波数でてい倍し、
光波の周波数を得ることが考えられる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】然し乍らマイクロ波を
周波数てい倍したところで、せいぜいミリ波帯域の高調
波が得られるのが限度で、光波の周波数に対応する高調
波を得ることはできなかった。従って単にマイクロ波を
てい倍すだけではレーザ光の周波数に関連している周
波数を持つ電気信号を得ること、及びレーザ光源から出
射されるレーザ光の周波数を電気的に制御することはで
きなかった。
【0005】この発明の目的はマイクロ波帯で発振する
基本波の他に、ミリ波から光波に及び高調波を同時に出
力することができる発振器を提供しようとするものであ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】この出願の第1発明では
マルチモードレーザ光を発光するレーザ発光素子と、こ
のレーザ発光素子が発光するレーザ光を所定の時間遅延
させて帰還させる遅延制御手段と、レーザ発光素子の駆
動電流通路に直列接続され、この直列接続部分が負性抵
抗特性を呈するマイクロ波能動素子と、このマイクロ波
能動素子を流れる電流変化を取出す電気出力端子と、レ
ーザ発光素子が発光するレーザ光を出射する光出射部と
によって発振器を構成するものである。
【0007】この第1発明の構成によればマイクロ波能
動素子がマイクロ波発振器を構成し、このマイクロ波発
振器が発振するマイクロ波帯の駆動電流がレーザ光源に
与えられる。レーザ光源はマイクロ波発振器の発振周波
数を基本波とし、この基本波に対して高調波関係にある
周波数のレーザ光を発光する。従ってマイクロ波発振器
の発振信号の周波数を計測することによりレーザ光源か
ら出射されるレーザ光の周波数を知ることができる。よ
ってレーザ光の周波数が既知であることから被測定光の
周波数を測定することに用いて好適である。
【0008】この構成において、マイクロ波能動素子に
入力端子を設けると共に、マイクロ波能動素子を流れる
電流変化を取出すために設けた電気出力端子にサンプル
ホールド回路を付加した構造を提案するものである。こ
の第発明の構成によればマイクロ波能動素子に設けた
入力端子に既知の周波数の信号を与えることにより、外
部から与えた基準信号の周波数とマイクロ波能動素子の
発振周波数との位相差に対応する信号をサンプルホール
ド回路から得ることができる。
【0009】この位相差に対応する信号は基準信号と自
己発振信号との差の周波数を具備している。従ってこの
差の周波数を測定することによりマイクロ波能動素子の
発振周波数を知ることができる。またマイクロ波素子の
発振周波数が解ることにより、レーザ光の周波数も知る
ことができる。
【0010】またサンプルホールド回路から出力される
信号の周波数は差の周波数となるから低い周波数に変換
される。従ってオシログラフのような簡単な測定器で波
形を見ることができる。また周波数の測定も比較的簡単
に行なうことができる。この出願の第発明では第
明で提案したサンプルホールド回路付の発振器におい
て、レーザ発光素子に遅延制御手段を設け、この遅延制
御手段にサンプルホールド回路から出力される位相差に
対応した信号を与え、遅延制御手段の遅延時間を位相差
に対応した信号によって制御する構造としたものであ
る。
【0011】レーザ発光素子に設けた遅延制御手段に差
の周波数の信号を与え遅延制御手段の遅延時間を制御す
ることによりレーザ発光素子が発光するレーザ光の周波
数を変化させることができる。レーザ光の周波数が変化
することによりマイクロ波能動素子の発振周波数も変化
し、結果的にマイクロ波能動素子の発振周波数は外部か
ら与えた基準信号の周波数に一致し、同期発振動作を行
なう。
【0012】従って第発明によれば、マイクロ波能動
素子に与える基準信号の周波数を適宜に選定することに
より任意の周波数のレーザ光を発光させることができ
る。またレーザ光の周波数を周波数掃引させることがで
きる。またこの出願の第発明乃至第発明では周波数
掃引制御回路を設け、この周波数掃引回路によってマイ
クロ波能動素子の自己発振周波数及びレーザ発光素子と
遅延制御手段とによって構成されるマイクロ波共振器の
共振周波数が周波数掃引される。
【0013】よってこの周波数掃引によりレーザ発光素
子が出射するレーザ光の周波数が周波数掃引される。こ
のレーザ光と被測定光を合波器で合波し、その合波した
光を光−電気変換器にて電気信号に変換することによ
り、レーザ光が持つ複数のスペクトラムと被測定光との
ゼロビートがスペクトラムの周波数間隔毎に発生する。
よってこのゼロビートの発生回数と周波数掃引開始点の
マイクロ波能動素子の自己発振周波数及び周波数掃引終
了時の自己発振周波数とによって被測定光の周波数を知
ることができる。
【0014】
【実施例】図1にこの出願の第1発明の実施例の部分図
を示す。図1において、1はレーザ発光素子を示す。こ
のレーザ発光素子1は図4に示すように複数のスペクト
ラムS1 ,S2 ,S3 ,S4 …含むレーザ光を発光する
マルチモードレーザ光を発光するレーザ発光素子を用い
る。
【0015】2はマイクロ波能動素子を示す。このマイ
クロ波能動素子2はレーザ発光素子1の駆動電流通路に
直列接続される。つまりこの例ではレーザ発光素子1と
して半導体レーザ発光素子を用いた場合を示す。レーザ
発光素子1の一方の電極1Aを共通電位点3に接続する
と共に、他方の電極1Bをマイクロ波能動素子2と抵抗
器4を通じて負電源−Vに接続する。これと共にマイク
ロ波能動素子2と抵抗器4との接続点から出力端子5を
導出する。
【0016】マイクロ波能動素子2はこの例では電界効
果トランジスタを用いると共にゲートを共通電位点3に
接続した場合を示す。レーザ発光素子1は光出射部1C
を有し、この光出射部1Cに遅延制御手段6を光学的に
結合する。遅延制御手段6は集光レンズ6Aと、反射鏡
6Bと、この反射鏡6Bの位置を移動させる駆動素子6
Cと、この駆動素子6Cを制御する制御電源6Dとによ
って構成することができる。
【0017】つまり制御電源6Dの電圧V0 を制御する
ことにより反射鏡6Bの位置を変化させ、この位置の変
化によって光路長Lを変化させ光路長Lにおける光の往
復の伝播時間τを変化させて共振周波数を調整できる構
造とした場合に示す。このため駆動素子6Cは例えばピ
エゾ素子を用いることができる。図1の回路構造によれ
ば光路長Lを往復する光の伝播時間をτとした場合、マ
イクロ波能動素子2から見てレーザ発振素子1は共振周
波数F0 がF0 =1/τのマイクロ波共振器として動作
する。
【0018】またマイクロ波能動素子2はレーザ発光素
子1から見ると周波数F0 付近で負性抵抗特性を呈す
る。従ってマイクロ波能動素子2は周波数F0 で発振
し、レーザ発光素子1が出射するレーザ光は図4に示す
ように各スペクトラムS1 ,S2 ,S3 ,S4 …が周波
数F0 の間隔で配列された状態にロックされる。この状
態を周波数F0 でモードロックされていると称してい
る。
【0019】図2に出力端子5に出力される発振信号の
波形の一例を示す。発振信号SFは1/F0 の周期でパ
ルス状に電流が流れ、図3に示すように周波数F0 を基
本波とする高調波F1 ,F2 ,F3 ,F4 …が出力され
る。図3に示す曲線G1 はマイクロ波能動素子2の利得
特性を示す。マイクロ波能動素子2を流れるパルス状の
電流によりレーザ発光素子1が駆動されレーザ発光素子
1はN・F0 の周波数の光を発光し、光のスペクトラム
は周波数F0 でモードロックされる。
【0020】ここでレーザ発光素子1の発光可能な波長
領域が1.5μm〜1.6μm(周波数で200テラヘ
ルツ〜187.5テラヘルツのレーザ発光素子を用い、
またマイクロ波能動素子2の発振周波数F0 がF0 =1
0GHzであったとすると、NはN=2×104 とした
場合、レーザ発光素子1は1.5μm(200テラヘル
ツ)の光を発光する。
【0021】図4にモードロック状態にあるレーザ光の
スペクトラムを示す。つまりモードロックされることに
よりレーザ光のスペクトラムS1 ,S2 ,S3 ,S4
は周波数F0 の間隔で配列される。図4においてG2
レーザ発光素子1の利得特性を示す。ここで制御電源6
Dの電圧V0 を変化させることによりマイクロ波能動素
子2の発振周波数及びレーザ発光素子1の発光周波数を
制御することができる。つまり制御電源6Dの電圧V0
を変化させることにより反射鏡6Cがレーザ発光素子1
の光出射部1Cに対する位置が変化し、光路長Lを変化
させることができる。
【0022】この結果、光が反射鏡6Bとレーザ発光素
子1との間を往復する時間τを変化させることができる
からマイクロ波能動素子2から見てレーザ発光素子1と
遅延制御手段6とによって構成されるマイクロ波共振器
の共振周波数が変化し、マイクロ波能動素子2の発振周
波数F0 が変化する。マイクロ波能動素子2の発振周波
数F0 が変化することにより、レーザ発光素子1の発光
周波数N・F0 も変化する。
【0023】よってマイクロ波信号を電気出力端子5か
ら得ることができ、更にこのマイクロ波と高調波の関係
にある周波数のマイクロ波を同時に得ることができる。
然も制御電源6Dの電圧V0 を制御することによりマイ
クロ波の周波数F0 と、レーザ光の周波数N・F0 を変
化させることができる。よってレーザ発光素子1の発光
可能な波長領域内であれば任意の周波数のレーザ光を発
光させることができる。
【0024】図5はこの出願の第発明の実施例を示
す。この出願の第2発明ではマイクロ波能動素子2に入
力端子7を設けると共に、電気出力端子5にサンプルホ
ールド回路8を接続し、サンプルホールド回路8の出力
端子9からサンプルホールド信号を取出す構成としたも
のである。入力端子7にはマイクロ波能動素子2の発振
周波数F0 に近い周波数FR を持つ基準信号Rf を与え
る。
【0025】サンプルホールド回路8はこの例ではダイ
オード8Aと、コンデンサ8Bとによって構成した場合
を示す。つまりダイオード8Aにより図6Bに示す発振
信号SFのピーク値をコンデンサ8Bにホールドするこ
とにより出力端子9には図6Cに示す信号SLが得られ
る。この信号SLは基準信号Rf と自己発振信号SFと
の位相差に対応した電圧値を持ち、その周波数FLはF
L =F0 −FR となる。
【0026】このようにマイクロ波能動素子2に入力端
子7を設けると共に、電気出力端子5にサンプルホール
ド回路8を設けることにより、サンプルホールド回路8
の出力端子9には入力端子7から入力した基準信号Rf
の周波数FR と、マイクロ波能動素子2の自己発振周波
数F0 との差の周波数FL を持つ信号SL を得ることが
できる。
【0027】よって基準信号Rf の周波数FR 既知
あれば信号SL の周波数FL を測定することによりマイ
クロ波能動素子2の自己発振周波数F0 を知ることがで
きる。またマイクロ波能動素子2の自己発振周波数F0
が求められることによりレーザ発光素子1から出射され
るレーザ光の周波数N・F0 を求めることができる。よ
てマイクロ波能動素子2の自己発振周波数F0 より周
波数が低い信号SLを得ることができ、この信号SLの
周波数FL を測定することによりマイクロ波能動素子2
の自己発振周波数F0 とレーザ発光素子1のレーザ光の
周波数N・F0 を求めることができる。よって光の周波
数を測定する測定器を用いなくともレーザ光の周波数を
知ることができる利点が得られる。
【0028】図7はこの出願の第発明の実施例を示
す。この出願の第発明では第発明で提案したサンプ
ルホールド回路8の出力を遅延制御手段6に帰還させる
帰還回路11を設けたことを特徴とするものである。帰
還回路11は偏差増幅器11Aによって構成することが
でき、サンプルホールド回路8の出力電圧を基準電圧V
R と比較し、この偏差電圧を偏差増幅器11Aで増幅
し、その増幅出力電圧を遅延制御手段に設けた駆動素子
6Cに与える。
【0029】これと共にマイクロ波能動素子2に設けた
入力端子7に基準信号Rf を与えることによりサンプル
ホールド回路8の出力に基準信号Rf と自己発振信号S
Fとの位相差に対応した信号SL(図6C)が得られ
る。この信号SLを偏差増幅器11Aで基準電圧VR
比較し、その偏差信号ΔSLを与えることにより、駆動
素子6Cは偏差信号ΔSLに応じて反射鏡6Bを移動さ
せ、光路長Lを制御する。光路長Lの制御によって光が
往復する時間τが制御され、マイクロ波能動素子2から
見たマイクロ波共振器の共振周波数が制御される。この
共振周波数の制御によってマイクロ波能動素子2の自己
発振周波数F 0 が制御され、信号SLが基準電圧VR
対してSL=VR の状態に制御される。
【0030】SL=VR の状態では基準信号Rf と自己
発振信号SFの周波数FR とF0 がFR =F0 の状態に
安定する。従ってこの第発明によればマイクロ波能動
素子2の自己発振周波数F0 は外部から与えた基準信号
f の周波数FR に同期して動作させることができる。
よって基準信号Rf の周波数FR を自由に設定すること
によりマイクロ波能動素子2の自己発振周波数F0 を外
部から制御することができる。
【0031】この結果レーザ発光素子1の発光周波数
を、このレーザ発光素子1の発光可能な波長領域内にお
いて自由に設定することができる。図8はこの出願の第
発明の実施例を示す。この出願の第発明では先に説
明した第1発明乃至第発明で提案した発振器を利用し
て光周波数測定装置を構成したものである。
【0032】図8に示す12は上述した発振器を示す。
この発振器12は先に説明したように、レーザ発光素子
1と、マイクロ波能動素子2と、レーザ発光素子1に付
加した遅延制御器6と、マイクロ波能動素子2を流れる
電流の変化を取出す電気出力端子5とによって構成され
る。この例では第1発明で提案した発振器のようにマイ
クロ波能動素子2を構成する電界効果トランジスタのゲ
ートを共通電位点3に接続した構造の場合を示す。
【0033】この第発明においては電気出力端子5に
周波数測定手段13を接続し、この周波数測定手段13
によってマイクロ波能動素子2の発振周波数F0 を測定
するように構成すると共に、遅延制御手段6に周波数掃
引制御回路14から鋸歯状のランプ電圧VSWを与える。
このランプVSWを遅延制御手段6の駆動素子6Cに与え
ることによって反射鏡6Bを一定速度で移動させる。
【0034】反射鏡6Bが一定速度で例えばレーザ発光
素子1に近づく方向に移動することにより、レーザ発光
素子1と遅延制御手段6とによって構成されるマイクロ
波共振器の共振周波数が高くなる方向に変化し、この共
振周波数の変化によってマイクロ波能動素子2の発振周
波数F0 は図9に示すように直線的に高くなる方向に周
波数掃引する。
【0035】マイクロ波能動素子2の発振周波数F0
周波数掃引されることにより、レーザ発光素子1から出
射されるレーザ光の周波数N・F0 も周波数掃引され
る。レーザ発光素子1から出射されるレーザ光は合波器
15に与えられる。合波器15には光入力端子から被測
定光PX が与えられる。この被測定光PX の周波数をF
X とする。
【0036】レーザ発光素子1から出射されたレーザ光
と被測定光PX は合波器15で合波され、その合波光が
光−電気変換器16に入力され、電気信号に変換され
る。光−電気変換器16から出力される電気信号は二つ
の光の周波数の和と差の周波数を持つ信号として出力さ
れる。ここではローパスフィルタ17を設け、差の周波
数成分、つまり差のビート周波数成分を取出す。
【0037】ローパスフィルタ17から出力される差の
ビート周波数成分はゼロビート計数手段19に与えられ
る。ゼロビート計数手段19は例えばビート周波数がゼ
ロに近づいたことを検出するローパスフィルタ19A
と、ローパスフィルタ19Aが信号を検出したとき、そ
の検出信号を整流検波してパルス信号(図9B参照)を
出力する検波器19Bと、この検波器19Bが出力する
パルス信号を計数して周波数掃引期間中にレーザ光と被
測定光PX との周波数が一致する回数を計数する。つま
りレーザ光の周波数が周波数掃引されることにより図4
に示したスペクトラムS1 ,S2 ,S3 …が順次被測定
光PX の周波数FX と一致し、ゼロビート状態となる。
よってこのゼロビート状態を計数するゼロビートカウン
タ19Cとによって構成することができる。
【0038】ゼロビート計数手段19で計数したゼロビ
ート回数nは周波数掃引制御回路14に与えられる。つ
まり周波数掃引制御回路14はゼロビート計数手段19
の計数値nがn=0のときランプ電圧VSWの掃引を開始
させ、計数値nが予め設定した回数例えば100回に達
すると、ランプ電圧VSWの掃引を停止させる。演算手段
21は周波数掃引開始時点の周波数測定手段13の周波
数計測値F01と、周波数掃引終了時点の周波数計測値F
02を取込む。
【0039】この計測値F01とF02及びゼロビート計数
値nが計測できることにより被測定光PX の周波数FX
を求めることができる。つまり被測定光PX の周波数F
X はFX =N・F01 … (1) FX =(N−n)・F02 … (2) で求められる。(但しNはF0 を基本波とした場合の高
調波の次数に等しい数)(1),(2)式よりN=n・
02/(F02−F01) これにより FX =F01・F02・n/(F02−F01) により被測定光PX の周波数FX を求めることができ
る。
【0040】図8に示す22はこの演算結果を表示する
表示器を示す。図10はこの出願の第発明の実施例を
示す、この第発明では第発明及び第発明で提案し
た発振器を利用して光周波数測定装置を構成した場合を
示す。つまりマイクロ波能動素子2に入力端子7を設
け、この入力端子7に基準信号源23から基準信号Rf
を与える。基準信号源23は例えば電圧制御発振器によ
って構成することができ、この電圧制御発振器によって
構成される基準信号源23に周波数掃引制御回路14か
らランプ電圧VSWを与え、基準信号源23から出力され
る基準信号Rf の周波数FR をF01からF02(図9参
照)まで周波数掃引させる。
【0041】これと共にマイクロ波能動素子2の出力側
にサンプルホールド回路8を接続し、サンプルホールド
回路8の出力端子9の出力を帰還回路11を通じて遅延
制御手段6の駆動素子6Cに与える。この帰還回路11
の接続によって閉ループが構成されマイクロ波能動素子
2の発振周波数F0 は基準信号源23の発振周波数F 01
からF02に追従して周波数掃引する。
【0042】マイクロ波能動素子2の発振周波数F0
01からF02まで周波数掃引することによりレーザ発光
素子1から出射されるレーザ光の周波数も周波数掃引さ
れ、この周波数掃引されるレーザ光と被測定光PX とを
合波器15で合波し、光−電気変換器16で電気信号に
変換し、この電気信号をゼロビート計数手段19に入力
し、周波数掃引期間中のゼロビート回数を計数する。
【0043】このゼロビート計数値nと、周波数測定手
段13の周波数測定値F01とF02とによってレーザ光の
周波数N・F0 を決めるNを求め、これにより第4発明
と同様に被測定光PX の周波数を求めその周波数を表示
器22に表示させることができる。尚必要に応じて点線
で示すようにビート周波数Fifを利用することにより精
度の高い周波数測定結果を得ることができる。
【0044】この出願の第発明では被測定光PX の周
波数を更に正確に算出する装置の構成を提案するもので
ある。つまり第発明では周波数掃引の終了点からマイ
クロ波能動素子2の発振周波数F0 をわずかにΔFだけ
高い方にずらせる制御を行なう。このΔFの量は例えば ΔF=F02/2(N+n) で与えられる。
【0045】ΔFだけ発振周波数F0 をずらしたときの
マイクロ波能動素子2の発振周波数をF03とすると,F
X は FX =(N−n)F03+Fif により正確に求められる。ここでFifはマイクロ波能動
素子2の発振周波数がF 03のときのビート周波数であ
る。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように、この出願の第1発
明によれば、マイクロ波能動素子2の自己発振周波数F
0 を持つ電気信号SFと、この自己発振周波数F0 と高
調波の関係にある周波数N・F0 のレーザ光を同時に得
ることができる。従ってマイクロ波能動素子2の自己発
振周波数F0 を測定することによりレーザ発光素子1の
発光周波数を知ることができる。よって光の周波数を測
定する高価な測定器を用いなくともレーザ発光素子1の
発光周波数を知ることができ、光の周波数測定を簡単に
行なうことができる。
【0047】そしてサンプルホールド回路8から外部か
ら与えた基準信号の周波数FR とマイクロ波能動素子2
の自己発振周波数F0 との差の周波数F0 −FR を持つ
信号SLを得る構造としたから、基準信号Rf の周波数
R が概知であればこの差の周波数F0 −FR を測定す
ることによりマイクロ波能動素子2の自己発振周波数F
0 を求めることができる。
【0048】差の周波数F0 −FR はマイクロ波帯にあ
るF0 及びFR と比較して充分に低い周波数になるか
ら、その周波数の測定は容易である。またオシログラフ
のような簡単な測定器によって波形を観測することがで
きるし、また周波数の測定も容易に行なうことができる
利点が得られる。この出願の第発明によればマイクロ
波能動素子2の自己発振周波数を外部から与えた基準信
号の周波数に同期させることができる。よって基準信号
の周波数を適宜に選定することによりレーザ発光素子1
の発光周波数を発光可能な波長領域内で任意に設定する
ことができる利点が得られる。
【0049】またこの出願の第発明乃至第発明によ
れば光周波数を高精度に測定することができる。つまり
従来の技術でマイケルソン干渉計を使った波長計では精
度が1pp程度であったが、この発明によれば10-10
〜10-11 程度の測定精度を得ることができる。尚上述
の実施例ではレーザ発光素子1としてレーザダイオード
を用いた場合を説明したが、レーザダイオードの他にY
AGレーザのような固体レーザ或いはガスレーザ等を利
用することができる。またマイクロ波能動素子では電界
効果トランジスタの他にガンダイオード等の負性抵抗素
子を用いることもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1の発明の実施例の一部を示す接続図。
【図2】図1の発明の動作を説明するための波形図。
【図3】図1の発明の動作を説明するための波形図。
【図4】図1の発明の動作を説明するための波形図。
【図5】請求項1の発明の実施例を示す接続図。
【図6】請求項1の発明の動作を説明するための波形
図。
【図7】請求項2の発明の実施例を示す接続図。
【図8】請求項3の発明及び請求項5の発明の実施例を
示す接続図。
【図9】請求項3の発明の動作を説明するための波形
図。
【図10】請求項4の発明及び請求項5の発明の実施例
を示す接続図。
【符号の説明】
1 レーザ発光素子 2 マイクロ波能動素子 3 共通電位点 4 抵抗器 5 電気出力端子 6 遅延制御手段 7 入力端子 8 サンプルホールド回路 9 出力端子 11 帰還回路 12 発振器 13 周波数測定手段 14 周波数掃引制御回路 15 合波器 16 光−電気変換器 17 ローパスフィルタ 18 周波数測定手段 19 ゼロビート計数手段 21 演算手段 22 表示器
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01S 3/13 - 3/139 H01S 3/00 H01S 3/096 H01S 3/098 H01S 3/105

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マルチモードレーザ光を発光するレーザ
    発光素子と、 このレーザ発光素子が発光するレーザ光を所定の時間遅
    延させて帰還させる遅延制御手段と、 上記レーザ発光素子の駆動電流通路に直列接続され、こ
    の直列接続部分が負性抵抗特性を呈して発振回路を構成
    するマイクロ波能動素子と、 このマイクロ波能動素子を流れる電流変化を取出す電気
    出力端子と、 上記レーザ発光素子が発光するレーザ光を出射する光出
    射部と、 上記マイクロ波能動素子に外部から信号を与える入力端
    子と、 上記電気出力端子に接続され、上記マイクロ波能動素子
    の発振周波数と上記入力端子に与えた信号の位相差に対
    応する信号を取出すサンプルホールド回路と、によって
    構成し、上記外部から与える信号の周波数をF R 、上記マイクロ
    波能動素子の発振周波数をF O とすると、上記サンプル
    ホールド回路からF O 〜F R の周波数の信号が得られ、
    上記レーザ発光素子からNF O (Nは正の整数)の周波
    数のレーザ光が得られる 発振器。
  2. 【請求項2】 マルチモードレーザ光を発光するレーザ
    発光素子と、 このレーザ発光素子を発光するレーザ光を出射する光出
    射部と、 上記レーザ発光素子に付加され、このレーザ発光素子が
    出射するレーザ光に所定の遅延時間を与えて帰還させる
    遅延制御手段と、 上記レーザ発光素子の駆動電流通路に直列接続され、こ
    の直列接続部分が負性抵抗特性を呈するマイクロ波能動
    素子と、 このマイクロ波能動素子を流れる電流変化を取出す電気
    出力端子と、 上記マイクロ波能動素子に外部から信号を与える入力端
    子と、 上記電気出力端子に接続され、上記マイクロ波能動素子
    の発振周波数と上記入力端子に与えた信号の位相差に対
    応する信号を取出すサンプルホールド回路と、 このサンプルホールド回路のホールド出力信号を上記遅
    延制御手段に帰還させ、遅延制御手段の遅延時間を変化
    させることにより上記マイクロ波能動素子の発振周波数
    を上記入力端子に与えた外部信号の周波数に同期させる
    帰還回路と、 によって構成した発振器。
  3. 【請求項3】 発光したレーザ光が遅延制御手段によっ
    て所定の時間遅延されて帰還され、この遅延時間により
    マイクロ波共振周波数が規定されるレーザ発光素子と、 このレーザ発光素子の駆動電流通路に直列接続され、上
    記レーザ発光素子が持つマイクロ波共振周波数帯域にお
    いて負性抵抗特性を呈し、上記マイクロ波共振周波数帯
    域内の周波数で発振するマイクロ波能動素子と、 このマイクロ波能動素子を流れる電流変化を取出す電気
    出力端子と、 上記遅延制御手段にランプ電圧を与え、レーザ発光素子
    と遅延制御手段とによって構成されるマイクロ波共振器
    の共振周波数を周波数掃引させ、上記マイクロ波能動素
    子の発振周波数を周波数掃引させる周波数掃引制御回路
    と、 上記マイクロ波能動素子が周波数掃引を開始するときの
    上記マイクロ波能動素子の発振周波数と、周波数掃引を
    終了するときのマイクロ波能動素子の発振周波数を計測
    する周波数測定手段と、 上記レーザ発光素子が出射したレーザ光と、被測定光と
    を合波する合波器と、この合波器によって合波した光を
    電気信号に変換する光−電気変換器と、 上記被測定光と上記レーザ発光素子が発光するレーザ光
    とのビートがゼロビートを通過する回数を計数するゼロ
    ビート計数手段と、 上記周波数測定手段が測定した周波数掃引前の上記マイ
    クロ波能動素子の発振周波数と、周波数掃引後の発振周
    波数及び周波数掃引中に生じたゼロビート回数とによっ
    て被測定光の周波数を算出する演算回路と、 によって構成した光周波数測定装置。
  4. 【請求項4】 発光したレーザ光が遅延制御手段によっ
    て所定の時間遅延されて帰還され、この遅延時間により
    マイクロ波共振周波数が規定されるレーザ発光素子と、 このレーザ発光素子の駆動電流通路に直列接続され、上
    記レーザ発光素子が持つマイクロ波共振周波数帯域にお
    いて負性抵抗特性を呈し、上記マイクロ波共振周波数帯
    域内の周波数で発振するマイクロ波能動素子と、 このマイクロ波能動素子を流れる電流変化を取出す電気
    出力端子と、 上記マイクロ波能動素子の制御電極に基準信号を与える
    基準信号源と、 この基準信号源にランプ電圧を与え基準信号源から出力
    される基準信号を所定の周波数範囲で周波数掃引させる
    周波数掃引制御回路と、 上記電気出力端子に接続され上記基準信号とマイクロ波
    能動素子の自己発振信号との間の位相差に対応した信号
    を出力するサンプルホールド回路と、 このサンプルホールド回路の出力を基準値と比較し、そ
    の比較結果を上記遅延制御手段に与え、上記マイクロ波
    能動素子の自己発振周波数を上記基準信号源から与えら
    れる周波数掃引信号の周波数に合致させて同様に周波数
    掃引させる帰還回路と、 上記レーザ発光素子が出射したレーザ光と、被測定光と
    を合波する合波器と、 上記被測定光と上記レーザ発光素子が発光するレーザ光
    とのビートがゼロビートを通過する回数を計数するゼロ
    ビート計数手段と、 上記マイクロ波能動素子が周波数掃引を開始するときの
    上記マイクロ波能動素子の発振周波数と、周波数掃引を
    終了するときのマイクロ波能動素子の発振周波数を計測
    する周波数測定手段と、 この周波数測定手段が測定した周波数掃引前の上記マイ
    クロ波能動素子の発振周波数と、周波数掃引後の発振周
    波数及び周波数掃引中に生じたゼロビート回数とによっ
    て被測定光の周波数を算出する演算回路と、 によって構成した光周波数測定装置。
  5. 【請求項5】上記請求項及び請求項記載の光周波数
    測定装置において、レーザ光の高調波次数とゼロビード
    回数と、周波数掃引終了時の上記マイクロ波能動素子の
    発振周波数と、合成光のビート周波数とによって被測定
    光の周波数を算出するように構成した光周波数測定装
    置。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4214766A1 (de) * 1992-05-04 1993-11-11 Sel Alcatel Ag Faseroptischer Verstärker mit rückwirkungsunempfindlichem Pumplaser
ES2147980T3 (es) 1996-03-01 2000-10-01 Agfa Gevaert Ag Procedimiento y dispositivo para el funcionamiento de un diodo laser.
US7540876B2 (en) * 2000-04-14 2009-06-02 Attenuex Technologies, Inc. Pressure attenuation device
US6804278B2 (en) * 2001-07-06 2004-10-12 Intel Corporation Evaluation and adjustment of laser losses according to voltage across gain medium
US7230959B2 (en) * 2002-02-22 2007-06-12 Intel Corporation Tunable laser with magnetically coupled filter
DE102016102818A1 (de) * 2016-02-18 2017-08-24 Technische Universität Darmstadt Vorrichtung und Verfahren zur Spektralanalyse

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3641459A (en) * 1969-06-16 1972-02-08 Bell Telephone Labor Inc Apparatus and method for narrowing the pulse width and stabilizing the repetition rate in semiconductor lasers exhibiting self-induced pulsing
US4464759A (en) * 1981-09-21 1984-08-07 Massachusetts Institute Of Technology Semiconductor diode laser system
US4667331A (en) * 1984-01-20 1987-05-19 At&T Company And At&T Bell Laboratories Composite cavity laser utilizing an intra-cavity electrooptic waveguide device
US4622672A (en) * 1984-01-20 1986-11-11 At&T Bell Laboratories Self-stabilized semiconductor lasers
WO1987004572A1 (en) * 1986-01-28 1987-07-30 British Telecommunications Public Limited Company Monitoring and controlling radiation source stability
JPH071812B2 (ja) * 1986-05-23 1995-01-11 日本電信電話株式会社 超高速光パルス発生装置
JPS6343389A (ja) * 1986-08-09 1988-02-24 Sharp Corp 外部共振器型半導体レーザ装置
US4734910A (en) * 1987-03-25 1988-03-29 Bell Communications Research, Inc. Self mode locked semiconductor laser diode
DE3943470A1 (de) * 1989-05-29 1990-12-13 Rainer Thiessen Gegenstands-naeherungs und troepfchendetektor
US5128949A (en) * 1989-05-31 1992-07-07 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Method and circuit for controlling the evolution time interval of a laser output pulse
JPH07109911B2 (ja) * 1989-06-16 1995-11-22 浜松ホトニクス株式会社 光源駆動装置
US5128950A (en) * 1989-08-02 1992-07-07 Hamamatsu Photonics K.K. Low noise pulsed light source using laser diode
US5157676A (en) * 1990-06-19 1992-10-20 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Apparatus and process for active pulse intensity control of laser beam
US5172382A (en) * 1991-02-05 1992-12-15 Cornell Research Foundation, Inc. Ultrahigh frequency optical self-modulator

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