JP2914217B2 - 光線路試験装置およびその方法 - Google Patents
光線路試験装置およびその方法Info
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバケーブル、
該光ファイバケーブルを相互に接続する接続コネクタ等
によって形成された光線路の特性を測定する光線路試験
装置およびその方法に関するものである。
該光ファイバケーブルを相互に接続する接続コネクタ等
によって形成された光線路の特性を測定する光線路試験
装置およびその方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図12は、従来の光線路試験装置の構成
を示すブロック図である。この図において、符号Aは測
定対象物である光線路、1は光パルス試験器、2a〜2
dは光ファイバケーブル、3a〜3cは各光ファイバケ
ーブル2a〜2dをそれぞれ接続する接続コネクタ、4
はケーブル端末器である。光パルス試験器1は、試験光
となる光パルスを発生して光線路Aに照射すると共に、
この光パルスが光ファイバケーブル2a〜2dおよび接
続コネクタ3a〜3c内を伝搬してケーブル端末器4に
て反射され、再び光ファイバケーブル2a〜2dおよび
接続コネクタ3a〜3c内を伝搬して得られる反射光
(応答光)の光強度を検出する。
を示すブロック図である。この図において、符号Aは測
定対象物である光線路、1は光パルス試験器、2a〜2
dは光ファイバケーブル、3a〜3cは各光ファイバケ
ーブル2a〜2dをそれぞれ接続する接続コネクタ、4
はケーブル端末器である。光パルス試験器1は、試験光
となる光パルスを発生して光線路Aに照射すると共に、
この光パルスが光ファイバケーブル2a〜2dおよび接
続コネクタ3a〜3c内を伝搬してケーブル端末器4に
て反射され、再び光ファイバケーブル2a〜2dおよび
接続コネクタ3a〜3c内を伝搬して得られる反射光
(応答光)の光強度を検出する。
【0003】また、図13は、この光線路試験装置にお
いて、表示部(図示略)に表示される応答光の波形図で
ある。この波形図において、波形部5a〜5dは、それ
ぞれ光ファイバケーブル空間に存在する後方散乱光を示
し、その傾きから各ファイバケーブル2a〜2dの損失
が求められる。波形部6a〜6cは、コネクタ3a〜3
cの各々におけるフレネル反射を、また波形部7はケー
ブル端末器4のフレネル反射光を表している。このよう
に応答光の波形は、光パルス試験器1から照射された光
パルスが上述した各部において散乱および反射され、こ
れら散乱光と反射光との和を示す波形として表示部に表
示される。
いて、表示部(図示略)に表示される応答光の波形図で
ある。この波形図において、波形部5a〜5dは、それ
ぞれ光ファイバケーブル空間に存在する後方散乱光を示
し、その傾きから各ファイバケーブル2a〜2dの損失
が求められる。波形部6a〜6cは、コネクタ3a〜3
cの各々におけるフレネル反射を、また波形部7はケー
ブル端末器4のフレネル反射光を表している。このよう
に応答光の波形は、光パルス試験器1から照射された光
パルスが上述した各部において散乱および反射され、こ
れら散乱光と反射光との和を示す波形として表示部に表
示される。
【0004】このような光線路試験装置では、従来、図
示しない操作部に設けられた各種操作キーを操作し、上
述した応答光の波形の各波形部5a〜5d、6a〜6
c、7について所定事項を計測することにより、各ファ
イバケーブル2a〜2dの長さ、各接続コネクタ3a〜
3cの位置およびその接続損失等の測定を行っていた。
そして、このような測定作業においては、単純なキー操
作繰り返しが多い。例えば、上述した光伝送路の接続損
失を測定する場合、従来の光パルス試験器では、まずLD
キーを操作することにより光パルス試験器1を動作させ
て光パルスを光線路Aに照射し、続いてAVERAGEキーを
操作することにより一定期間に受光される応答光を平均
化する。この平均化が終了すると、LDキーで光パルス試
験器1の動作を停止させる。
示しない操作部に設けられた各種操作キーを操作し、上
述した応答光の波形の各波形部5a〜5d、6a〜6
c、7について所定事項を計測することにより、各ファ
イバケーブル2a〜2dの長さ、各接続コネクタ3a〜
3cの位置およびその接続損失等の測定を行っていた。
そして、このような測定作業においては、単純なキー操
作繰り返しが多い。例えば、上述した光伝送路の接続損
失を測定する場合、従来の光パルス試験器では、まずLD
キーを操作することにより光パルス試験器1を動作させ
て光パルスを光線路Aに照射し、続いてAVERAGEキーを
操作することにより一定期間に受光される応答光を平均
化する。この平均化が終了すると、LDキーで光パルス試
験器1の動作を停止させる。
【0005】そして、図14に示すように、測定点の位
置を設定するためにSHIFTキーを用いて応答波形の表示
位置を移動させ、ロータリノブを操作してカーソル9を
移動させることにより該カーソル9を測定点を示すマー
カ8aに合わせる。MARKERキーを用いてマーカ8b〜8
dのうち何れか1つを選択する。例えばマーカ8bが選
択されると、この状態でマーカ8aで指定された測定点
のレベルとマーカ8bの点の各々のレベルが表示される
ので、この値を読み取って記入作業を行う。これら一連
の測定作業は、MARKERキーとロータリノブの操作によ
り、各フレネル反射点毎に繰り返し行われる。そして、
このような測定作業を終了すると、SAVEキーを操作する
ことにより全ての測定した結果を記憶させることもでき
る。
置を設定するためにSHIFTキーを用いて応答波形の表示
位置を移動させ、ロータリノブを操作してカーソル9を
移動させることにより該カーソル9を測定点を示すマー
カ8aに合わせる。MARKERキーを用いてマーカ8b〜8
dのうち何れか1つを選択する。例えばマーカ8bが選
択されると、この状態でマーカ8aで指定された測定点
のレベルとマーカ8bの点の各々のレベルが表示される
ので、この値を読み取って記入作業を行う。これら一連
の測定作業は、MARKERキーとロータリノブの操作によ
り、各フレネル反射点毎に繰り返し行われる。そして、
このような測定作業を終了すると、SAVEキーを操作する
ことにより全ての測定した結果を記憶させることもでき
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した光
線路試験装置では、1つの光伝送路を測定する度に特定
のフレネル反射点について上述した各種キーを操作して
カーソルおよび各マーカを設定し、フレネル反射の位置
や接続損失を読み取らなければならず、他のフレネル反
射点についても同様の操作を繰り返さなければならな
い。すなわち、複数の測定点のレベルを同時に測定する
ことができないという問題点があった。また、レベルの
測定よりもカーソルおよび各マーカの設定に時間を要す
るという問題もあった。
線路試験装置では、1つの光伝送路を測定する度に特定
のフレネル反射点について上述した各種キーを操作して
カーソルおよび各マーカを設定し、フレネル反射の位置
や接続損失を読み取らなければならず、他のフレネル反
射点についても同様の操作を繰り返さなければならな
い。すなわち、複数の測定点のレベルを同時に測定する
ことができないという問題点があった。また、レベルの
測定よりもカーソルおよび各マーカの設定に時間を要す
るという問題もあった。
【0007】さらに、上述した光線路試験装置とは別
に、イベント機能と称して同時に複数の測定点を測定す
る装置も提案されているが、このような装置では応答波
形から予め指定したレベル以下のリターンロスを自動検
出し、その検出した点の測定結果を一覧表にして表示す
るものである。したがって、この装置では指定したレベ
ル以下のリターンロスのフレネル反射点が自動的に検出
されるために応答波形により測定点が移動するので、必
ずしも測定したい点を測定できるとは限らず、作業者が
希望する測定点とは異なる点が測定されるという問題が
あった。また、曲がっている波形あるいはノイズレベル
の大きい応答波形の場合、測定精度が低下するという問
題点もあった。また、測定点が複数ある場合でも、上述
したようなマニュアル操作による同一作業を繰り返すこ
となく、自動的に各点のレベルを測定することのできる
測定機能が要望されていた。
に、イベント機能と称して同時に複数の測定点を測定す
る装置も提案されているが、このような装置では応答波
形から予め指定したレベル以下のリターンロスを自動検
出し、その検出した点の測定結果を一覧表にして表示す
るものである。したがって、この装置では指定したレベ
ル以下のリターンロスのフレネル反射点が自動的に検出
されるために応答波形により測定点が移動するので、必
ずしも測定したい点を測定できるとは限らず、作業者が
希望する測定点とは異なる点が測定されるという問題が
あった。また、曲がっている波形あるいはノイズレベル
の大きい応答波形の場合、測定精度が低下するという問
題点もあった。また、測定点が複数ある場合でも、上述
したようなマニュアル操作による同一作業を繰り返すこ
となく、自動的に各点のレベルを測定することのできる
測定機能が要望されていた。
【0008】本発明は、上述する問題点に鑑みてなされ
たもので、光線路の特性を自動的に高精度で測定するこ
とが可能な光線路試験装置およびその方法を提供するこ
とを目的としている。
たもので、光線路の特性を自動的に高精度で測定するこ
とが可能な光線路試験装置およびその方法を提供するこ
とを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の光線路試
験装置は、上述した目的を達成するために、光パルスを
光線路に照射し、該光線路の近端から終端までの各部に
おいて前記光パルスが反射されて得られる反射光に基づ
いて、該光線路の特性を計測する光線路試験装置であっ
て、前記光パルスを発生する発光手段と、所定期間に亘
って受光した前記反射光を電気信号に変換して順次出力
する受光手段と、該電気信号に平均化処理を施して平均
化データを生成する波形処理手段と、前記平均化データ
に基づいて反射光の波形を表示する表示手段と、前記平
均化データを1つまたは複数のデータ群に分割し、前記
各データ群に含まれる平均化データに基づいて、該各デ
ータ群に対応する前記反射光の波形部分の近似直線をそ
れぞれ算出し、所定数連続する平均化データを所定の閾
値と比較し、該閾値よりも大きいと判断される最も終端
側の平均化データに基づいて光線路の終端を検出すると
共に、前記近似直線に所定の定数を加えた直線と各平均
化データとを比較し、該直線よりも大きな平均化データ
に基づいてフレネル反射位置を検出し、該フレネル反射
位置の前後の波形部分の近似直線の差に基づいて伝搬損
失を計測するデータ処理手段とを具備することを特徴と
する。
験装置は、上述した目的を達成するために、光パルスを
光線路に照射し、該光線路の近端から終端までの各部に
おいて前記光パルスが反射されて得られる反射光に基づ
いて、該光線路の特性を計測する光線路試験装置であっ
て、前記光パルスを発生する発光手段と、所定期間に亘
って受光した前記反射光を電気信号に変換して順次出力
する受光手段と、該電気信号に平均化処理を施して平均
化データを生成する波形処理手段と、前記平均化データ
に基づいて反射光の波形を表示する表示手段と、前記平
均化データを1つまたは複数のデータ群に分割し、前記
各データ群に含まれる平均化データに基づいて、該各デ
ータ群に対応する前記反射光の波形部分の近似直線をそ
れぞれ算出し、所定数連続する平均化データを所定の閾
値と比較し、該閾値よりも大きいと判断される最も終端
側の平均化データに基づいて光線路の終端を検出すると
共に、前記近似直線に所定の定数を加えた直線と各平均
化データとを比較し、該直線よりも大きな平均化データ
に基づいてフレネル反射位置を検出し、該フレネル反射
位置の前後の波形部分の近似直線の差に基づいて伝搬損
失を計測するデータ処理手段とを具備することを特徴と
する。
【0010】請求項2記載の光線路試験装置は、請求項
1記載の発明において、データ処理手段は、検出された
フレネル反射の位置における複数のフレネル反射の存在
を所定の判定基準値と平均化データとを比較して判定す
ることを特徴としている。
1記載の発明において、データ処理手段は、検出された
フレネル反射の位置における複数のフレネル反射の存在
を所定の判定基準値と平均化データとを比較して判定す
ることを特徴としている。
【0011】請求項3記載の光線路試験方法は、光パル
スを光線路に照射し、該光線路の近端から終端までの各
部において前記光パルスが反射されて得られる反射光に
基づいて、該光線路の特性を計測する光線路試験方法で
あって、前記反射光を電気信号に変換すると共に、該電
気信号を平均化して平均化データに順次変換するステッ
プと、該平均化データ1つまたは複数のデータ群に分割
するステップと、前記各データ群に含まれる平均化デー
タに基づいて、該各データ群に対応する前記反射光の波
形部分の近似直線をそれぞれ算出するステップと、所定
数連続する平均化データを所定の閾値と比較し、該閾値
よりも大きいと判断される最も終端側の平均化データに
基づいて光線路の終端を検出するステップと、前記近似
直線に所定の定数を加えた直線と各平均化データとを比
較し、該直線よりも大きな平均化データに基づいてフレ
ネル反射位置を検出するステップと、該フレネル反射位
置の前後の波形部分の近似直線の差に基づいて伝搬損失
を計測するステップとからなることを特徴としている。
スを光線路に照射し、該光線路の近端から終端までの各
部において前記光パルスが反射されて得られる反射光に
基づいて、該光線路の特性を計測する光線路試験方法で
あって、前記反射光を電気信号に変換すると共に、該電
気信号を平均化して平均化データに順次変換するステッ
プと、該平均化データ1つまたは複数のデータ群に分割
するステップと、前記各データ群に含まれる平均化デー
タに基づいて、該各データ群に対応する前記反射光の波
形部分の近似直線をそれぞれ算出するステップと、所定
数連続する平均化データを所定の閾値と比較し、該閾値
よりも大きいと判断される最も終端側の平均化データに
基づいて光線路の終端を検出するステップと、前記近似
直線に所定の定数を加えた直線と各平均化データとを比
較し、該直線よりも大きな平均化データに基づいてフレ
ネル反射位置を検出するステップと、該フレネル反射位
置の前後の波形部分の近似直線の差に基づいて伝搬損失
を計測するステップとからなることを特徴としている。
【0012】請求項4記載の光線路試験方法は、請求項
3記載の発明において、検出された前記フレネル反射の
位置において、複数のフレネル反射が存在するか否かを
所定の判定基準値と平均化データとを比較して判定する
ステップを有することを特徴としている。
3記載の発明において、検出された前記フレネル反射の
位置において、複数のフレネル反射が存在するか否かを
所定の判定基準値と平均化データとを比較して判定する
ステップを有することを特徴としている。
【0013】
【作用】本発明の光線路試験装置およびその方法によれ
ば、光線路の各部からの反射光の平均化データに上述し
た各処理を施すことによりフレネル反射点の位置及び伝
搬損失が自動的に測定される。
ば、光線路の各部からの反射光の平均化データに上述し
た各処理を施すことによりフレネル反射点の位置及び伝
搬損失が自動的に測定される。
【0014】請求項2および請求項4記載の光線路試験
装置およびその方法によれば、隣接して重なり合った複
数のフレネル反射の位置を個別に検出することができ
る。
装置およびその方法によれば、隣接して重なり合った複
数のフレネル反射の位置を個別に検出することができ
る。
【0015】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例につ
いて説明する。図1は、この実施例の光線路試験装置の
構成を示すブロック図である。符号10は発光部、11
は方向性結合器、12は光線路、13は受光部、14は
A/D(アナログ/デジタル)変換部、15は波形処理
部、16は表示部、17は操作パネル、18はCPU
(中央演算装置)、19はROM(読み出し専用メモ
リ)、20はRAM(書き込み/読み出しメモリ)、2
1はフロッピーディスク装置である。
いて説明する。図1は、この実施例の光線路試験装置の
構成を示すブロック図である。符号10は発光部、11
は方向性結合器、12は光線路、13は受光部、14は
A/D(アナログ/デジタル)変換部、15は波形処理
部、16は表示部、17は操作パネル、18はCPU
(中央演算装置)、19はROM(読み出し専用メモ
リ)、20はRAM(書き込み/読み出しメモリ)、2
1はフロッピーディスク装置である。
【0016】発光部10は、CPU18の制御の下に所
定の光パルスを方向性結合器11に向けて出射する。方
向性結合器11は、発光部10より入射された光パルス
を光線路12に向けて出射すると共に、光線路12から
入射される反射光を受光部13に向けて出射する。受光
部13は、方向性結合器11から入射された該反射光を
受光して電気信号に変換してA/D変換部14に出力す
る。A/D変換部14は、この電気信号(アナログ信
号)を特定の増幅率に基づいて増幅した後、デジタル信
号に変換(A/D変換)して波形処理部15に出力す
る。
定の光パルスを方向性結合器11に向けて出射する。方
向性結合器11は、発光部10より入射された光パルス
を光線路12に向けて出射すると共に、光線路12から
入射される反射光を受光部13に向けて出射する。受光
部13は、方向性結合器11から入射された該反射光を
受光して電気信号に変換してA/D変換部14に出力す
る。A/D変換部14は、この電気信号(アナログ信
号)を特定の増幅率に基づいて増幅した後、デジタル信
号に変換(A/D変換)して波形処理部15に出力す
る。
【0017】波形処理部15は、発光部10が一定時間
内に出射する光パルスに対して得られる各反射光に対応
するデジタル信号(応答波形データ)を平均化処理する
と共に、この平均化処理後の平均化データを対数値に変
換して表示部16に出力する。表示部16は、平均化処
理された反射光の波形を平均化データに基づいて表示す
ると共に、この平均化データに基づいて反射フレネル位
置および接続点毎の接続損失を一覧表として表示する。
内に出射する光パルスに対して得られる各反射光に対応
するデジタル信号(応答波形データ)を平均化処理する
と共に、この平均化処理後の平均化データを対数値に変
換して表示部16に出力する。表示部16は、平均化処
理された反射光の波形を平均化データに基づいて表示す
ると共に、この平均化データに基づいて反射フレネル位
置および接続点毎の接続損失を一覧表として表示する。
【0018】操作パネル17は、この光線路試験装置の
筺体の前面に配設されており、複数の操作キーによって
形成される。これら各操作キーを操作することにより、
応答波形の測定作業時の各種測定条件が設定される。例
えば、発光部10のオン/オフ操作、オートスプライス
操作(波形のフレネル反射位置及び接続点自動測定)、
測定結果記憶操作等が操作パネル17の各種操作キーの
操作によって設定される。
筺体の前面に配設されており、複数の操作キーによって
形成される。これら各操作キーを操作することにより、
応答波形の測定作業時の各種測定条件が設定される。例
えば、発光部10のオン/オフ操作、オートスプライス
操作(波形のフレネル反射位置及び接続点自動測定)、
測定結果記憶操作等が操作パネル17の各種操作キーの
操作によって設定される。
【0019】CPU18は、ROM19に記憶された制
御プログラムに従って当該光線路試験装置の動作を制御
する。このCPU18の制御動作の詳細については後述
する。ROM19は、上記制御プログラムおよび該制御
プログラムを実行するときに必要となる制御データ、さ
らには操作パネル17の操作等に応じて表示部16に表
示される文字の表示データ等が記憶されている。RAM
20には、ワーキング・エリアが設定されており、上述
した制御プログラムの実行際に、一次的に演算データを
記憶するレジスタ等が設けられる。また、このRAM2
0には、波形処理部15で処理された波形データが記憶
される。フロッピーディスク装置21は、上記波形デー
タのフロッピーディスクへの書き込みあるいは読み出し
を行う。
御プログラムに従って当該光線路試験装置の動作を制御
する。このCPU18の制御動作の詳細については後述
する。ROM19は、上記制御プログラムおよび該制御
プログラムを実行するときに必要となる制御データ、さ
らには操作パネル17の操作等に応じて表示部16に表
示される文字の表示データ等が記憶されている。RAM
20には、ワーキング・エリアが設定されており、上述
した制御プログラムの実行際に、一次的に演算データを
記憶するレジスタ等が設けられる。また、このRAM2
0には、波形処理部15で処理された波形データが記憶
される。フロッピーディスク装置21は、上記波形デー
タのフロッピーディスクへの書き込みあるいは読み出し
を行う。
【0020】次に、このように構成された当該光線路試
験装置の動作について説明する。まず、操作パネル17
から測定条件が入力されて試験開始キーが押されると、
光線路12に係わる試験が開始される。CPU18はR
OM19に記憶された制御プログラムに従って発光部1
0を制御し、方向性結合機11に一定周期の光パルスを
発射させる。この光パルスは、試験光として方向性結合
器11を通過して試験対象物である光線路12の端面に
入射される。さらに、この光パルスは、光線路12内を
伝搬する。そして、この伝搬の過程で発生する後方散乱
光およびフレネル反射光からなる光が応答光として、光
線路12の上記光パルスが入射された端面から出射され
る。
験装置の動作について説明する。まず、操作パネル17
から測定条件が入力されて試験開始キーが押されると、
光線路12に係わる試験が開始される。CPU18はR
OM19に記憶された制御プログラムに従って発光部1
0を制御し、方向性結合機11に一定周期の光パルスを
発射させる。この光パルスは、試験光として方向性結合
器11を通過して試験対象物である光線路12の端面に
入射される。さらに、この光パルスは、光線路12内を
伝搬する。そして、この伝搬の過程で発生する後方散乱
光およびフレネル反射光からなる光が応答光として、光
線路12の上記光パルスが入射された端面から出射され
る。
【0021】この応答光は、方向性結合器11内を通過
して受光部13に入射される。すなわち、この方向性結
合器11は、発光部10側から入射された光に対しては
光線路12の方向に出射し、光線路12側から入射され
た光に対しては受光部13の方向に出射する。受光部1
3は、方向性結合器11から一定期間の間に入射された
応答光を受光し、応答光の受光レベルに応じた電気信号
に変換してA/D変換部14に出力する。この電気信号
は、A/D変換部14において増幅され、さらにデジタ
ル信号(応答波形データ)に変換されて波形処理部15
に出力される。
して受光部13に入射される。すなわち、この方向性結
合器11は、発光部10側から入射された光に対しては
光線路12の方向に出射し、光線路12側から入射され
た光に対しては受光部13の方向に出射する。受光部1
3は、方向性結合器11から一定期間の間に入射された
応答光を受光し、応答光の受光レベルに応じた電気信号
に変換してA/D変換部14に出力する。この電気信号
は、A/D変換部14において増幅され、さらにデジタ
ル信号(応答波形データ)に変換されて波形処理部15
に出力される。
【0022】ここで、A/D変換部14は、受光部13
から入力され、上述した一定期間に発光部10が出射し
た各光パルスに対応した応答光を最大20000ポイン
トについて順次サンプリングしてA/D変換する。すな
わち、光線路12の長さに応じて各応答光は、A/D変
換部14において最大で20000個のデータ群からな
る応答波形データに変換される。
から入力され、上述した一定期間に発光部10が出射し
た各光パルスに対応した応答光を最大20000ポイン
トについて順次サンプリングしてA/D変換する。すな
わち、光線路12の長さに応じて各応答光は、A/D変
換部14において最大で20000個のデータ群からな
る応答波形データに変換される。
【0023】波形処理部15は、この応答光の応答波形
データを平均化する。例えば、一定期間に10個の光パ
ルスが出射された場合、波形処理部15は、この期間に
入力された波形データx1(データx1(1)〜データx1(2
0000)からなる)から10番目に入力された波形データ
x10(データx10(1)〜データx10(20000)からなる)を
全て加算し、波形データの個数10で除算する。そし
て、この平均化処理によって得られたデータをデシベル
値のレベルを示すデータ(平均化データ)に対数変換す
る。
データを平均化する。例えば、一定期間に10個の光パ
ルスが出射された場合、波形処理部15は、この期間に
入力された波形データx1(データx1(1)〜データx1(2
0000)からなる)から10番目に入力された波形データ
x10(データx10(1)〜データx10(20000)からなる)を
全て加算し、波形データの個数10で除算する。そし
て、この平均化処理によって得られたデータをデシベル
値のレベルを示すデータ(平均化データ)に対数変換す
る。
【0024】この平均化データは、データx(1)からデ
ータx(20000)によって形成されデータ群であり、RA
M20に記憶される。そして、操作パネル17の表示指
示操作によって、当該平均化データ(データx(1)〜デ
ータx(20000))に基づいて、応答光の波形が表示部1
6に表示される。図2(a)は、表示部16に表示され
る応答光の波形の一例であり、この波形は、平均化デー
タx(1)〜x(20000)に基づいて、応答波形の1から20
000の各ポイントの受光レベルをデシベル値として表
示したものとなる。
ータx(20000)によって形成されデータ群であり、RA
M20に記憶される。そして、操作パネル17の表示指
示操作によって、当該平均化データ(データx(1)〜デ
ータx(20000))に基づいて、応答光の波形が表示部1
6に表示される。図2(a)は、表示部16に表示され
る応答光の波形の一例であり、この波形は、平均化デー
タx(1)〜x(20000)に基づいて、応答波形の1から20
000の各ポイントの受光レベルをデシベル値として表
示したものとなる。
【0025】この図において、横軸は平均化データx
(1)〜x(20000)を示しており、これらの各データは一定
の長さを有した光線路12の各位置における応答光の強
度を示している。このうち平均化データx(1)は、光線
路12の近端すなわち方向性結合器11に最も近い部分
における後方散乱光の強度を示しており、平均化データ
x(20000)は、方向性結合器11から最も離れた位置に
おける後方散乱光の強度に対するデータを示している。
(1)〜x(20000)を示しており、これらの各データは一定
の長さを有した光線路12の各位置における応答光の強
度を示している。このうち平均化データx(1)は、光線
路12の近端すなわち方向性結合器11に最も近い部分
における後方散乱光の強度を示しており、平均化データ
x(20000)は、方向性結合器11から最も離れた位置に
おける後方散乱光の強度に対するデータを示している。
【0026】次に、このように処理されて得られた平均
化データからフレネル反射の位置および接続損失の算出
方法について説明する。図3は、ROM19に記憶され
たフレネル反射位置および接続損失の算出に係わる処理
プログラムのフローチャートである。CPU18は、R
AM20に記憶された平均化データx(1)〜x(20000)に
ついて、このフローチャートに沿った処理を行うことに
よりフレネル反射の位置および接続損失等を算出する。
化データからフレネル反射の位置および接続損失の算出
方法について説明する。図3は、ROM19に記憶され
たフレネル反射位置および接続損失の算出に係わる処理
プログラムのフローチャートである。CPU18は、R
AM20に記憶された平均化データx(1)〜x(20000)に
ついて、このフローチャートに沿った処理を行うことに
よりフレネル反射の位置および接続損失等を算出する。
【0027】操作パネル17に設けられた検出開始キー
が操作されると、CPU18は、ステップS1の領域分
割処理を行う。すなわち、CPU18は、図2(a)に
示した応答波形において、近端すなわち平均化データx
(1)から20個おきにデータの確認を行う。すなわち、
平均化データx(1)、平均化データx(21)、平均化デー
タx(41)、……について、各々の値を確認する。そし
て、10dB以下の受光レベルを示すデータを4個検出
すると、この4個目のデータ、例えば平均化データx(1
9000)をFIN1として規定する。
が操作されると、CPU18は、ステップS1の領域分
割処理を行う。すなわち、CPU18は、図2(a)に
示した応答波形において、近端すなわち平均化データx
(1)から20個おきにデータの確認を行う。すなわち、
平均化データx(1)、平均化データx(21)、平均化デー
タx(41)、……について、各々の値を確認する。そし
て、10dB以下の受光レベルを示すデータを4個検出
すると、この4個目のデータ、例えば平均化データx(1
9000)をFIN1として規定する。
【0028】次に、FIN1と規定された平均化データ
x(19000)から50個近端側にさかのぼったデータすな
わち平均化データx(18950)からFIN1のデータすなわ
ち平均化データx(19000)までのデータにおいて、その
値が10dB以下のデータの数をカウントし、このカウ
ント値をCT1とする。ここで、カウント値CT1が2以
上の場合、上述した10dB以下の値を有するデータの
数の検出を近端側に1データづつ順次移動して行う。
x(19000)から50個近端側にさかのぼったデータすな
わち平均化データx(18950)からFIN1のデータすなわ
ち平均化データx(19000)までのデータにおいて、その
値が10dB以下のデータの数をカウントし、このカウ
ント値をCT1とする。ここで、カウント値CT1が2以
上の場合、上述した10dB以下の値を有するデータの
数の検出を近端側に1データづつ順次移動して行う。
【0029】すなわち、平均化データx(18949)から平
均化データx(18999)までのデータ範囲について10d
B以下の値を有するデータの数の検出を行い、カウント
値CT1が2以上の場合には再度1データ移動して同様
の検出処理を行う。このような検出処理はカウント値C
T1が1になるまで繰り返され、カウント値CT1が1と
なると、このときのデータ範囲においてその値が10d
Bとなるデータ、例えば平均化データx(16000)をFI
N2と規定する。そして、近端すなわち平均化データx
(1)からFIN2と規定された平均化データx(16000)ま
での範囲をデータ数が2000以下となるように複数の
データ群に分割する(ステップS1)。
均化データx(18999)までのデータ範囲について10d
B以下の値を有するデータの数の検出を行い、カウント
値CT1が2以上の場合には再度1データ移動して同様
の検出処理を行う。このような検出処理はカウント値C
T1が1になるまで繰り返され、カウント値CT1が1と
なると、このときのデータ範囲においてその値が10d
Bとなるデータ、例えば平均化データx(16000)をFI
N2と規定する。そして、近端すなわち平均化データx
(1)からFIN2と規定された平均化データx(16000)ま
での範囲をデータ数が2000以下となるように複数の
データ群に分割する(ステップS1)。
【0030】次に、CPU18は、ステップS2におい
て近似直線の算出処理を行う。すなわち、CPU18
は、ステップS1の処理によって分割された各々の領域
に含まれるデータに基づき、最小2乗法のアルゴリズム
を用いて以下に示す近似直線ym(m:領域番号)を算
出する。 ym=am・x(i)+bm (1) 各領域1、2、……、m、……毎に各々に含まれるデー
タによって、係数amおよび定数bmが算出される。
て近似直線の算出処理を行う。すなわち、CPU18
は、ステップS1の処理によって分割された各々の領域
に含まれるデータに基づき、最小2乗法のアルゴリズム
を用いて以下に示す近似直線ym(m:領域番号)を算
出する。 ym=am・x(i)+bm (1) 各領域1、2、……、m、……毎に各々に含まれるデー
タによって、係数amおよび定数bmが算出される。
【0031】例えば、図4は、各々の領域毎に求められ
た近似直線を図式的に示したものである。この図は、平
均化データx(1)〜x(10000)すなわち近端から遠端まで
の距離が20kmの測定範囲について、光線路12の応
答光の波形を示しており、上述した方法によって5つに
分割された各領域に対して近似直線1〜5がそれぞれ算
出されている。
た近似直線を図式的に示したものである。この図は、平
均化データx(1)〜x(10000)すなわち近端から遠端まで
の距離が20kmの測定範囲について、光線路12の応
答光の波形を示しており、上述した方法によって5つに
分割された各領域に対して近似直線1〜5がそれぞれ算
出されている。
【0032】この場合、FIN2に規定されたデータは
平均化データx(9060)であり、近端からFIN2までの
データ数は、9060個である。このデータ数を200
0以下のデータ数からなる最も少ない分割数の領域に分
割しようとすると、5分割する必要がある。この結果、
近似直線1は、最小2乗法のアルゴリズムにより平均化
データx(1)〜x(1812)を処理することによって求めら
れる。また、近似直線2は平均化データx(1813)〜x(3
624)、近似直線3は平均化データx(3625)〜x(5436)、
近似直線4は平均化データx(5437)〜x(7248)、近似直
線5は平均化データx(7249)〜x(9060)をそれぞれ最小
2乗法のアルゴリズムによって処理することにより求め
られる。
平均化データx(9060)であり、近端からFIN2までの
データ数は、9060個である。このデータ数を200
0以下のデータ数からなる最も少ない分割数の領域に分
割しようとすると、5分割する必要がある。この結果、
近似直線1は、最小2乗法のアルゴリズムにより平均化
データx(1)〜x(1812)を処理することによって求めら
れる。また、近似直線2は平均化データx(1813)〜x(3
624)、近似直線3は平均化データx(3625)〜x(5436)、
近似直線4は平均化データx(5437)〜x(7248)、近似直
線5は平均化データx(7249)〜x(9060)をそれぞれ最小
2乗法のアルゴリズムによって処理することにより求め
られる。
【0033】次に、CPU18は、ステップS3におい
て仮エンド検出すなわち光線路12の終端の位置検出処
理を行う。この仮エンド検出処理については、図5に示
す仮エンド検出フローチャートに沿って詳細を説明す
る。まず、ステップSa1において、DAVA値が算出さ
れる。図2(b)は図2(a)においてFIN2近傍を
拡大した図である。この図に示すように、DAVA値は
FIN2の位置における遠端の近似直線の値HFを2/3
倍して得られる値である。また、ステップSa1において
は、データ番号すなわち何番目のデータであるかを示す
数値nが、FIN2として規定された平均化データx(16
000)のデータ番号16000(n=16000)に設定され、また
カウント値CT2がゼロに初期設定される。
て仮エンド検出すなわち光線路12の終端の位置検出処
理を行う。この仮エンド検出処理については、図5に示
す仮エンド検出フローチャートに沿って詳細を説明す
る。まず、ステップSa1において、DAVA値が算出さ
れる。図2(b)は図2(a)においてFIN2近傍を
拡大した図である。この図に示すように、DAVA値は
FIN2の位置における遠端の近似直線の値HFを2/3
倍して得られる値である。また、ステップSa1において
は、データ番号すなわち何番目のデータであるかを示す
数値nが、FIN2として規定された平均化データx(16
000)のデータ番号16000(n=16000)に設定され、また
カウント値CT2がゼロに初期設定される。
【0034】次に、データ番号nからデータ番号n−5
までの6個のデータの平均値MEDがステップSa2にお
いて求められる。そして、この平均値MEDは上述した
DAVA値と比較される(ステップSa3)。ここで、平
均値MEDがDAVA値よりも大きい場合にはステップ
Sa4の処理が次に行われ、その他の場合にはステップS
a5の処理が行われる。すなわち、平均値MEDがDAV
A値以下の場合、数値n−6が新たにデータ番号nに再
設定される(ステップSa5)。
までの6個のデータの平均値MEDがステップSa2にお
いて求められる。そして、この平均値MEDは上述した
DAVA値と比較される(ステップSa3)。ここで、平
均値MEDがDAVA値よりも大きい場合にはステップ
Sa4の処理が次に行われ、その他の場合にはステップS
a5の処理が行われる。すなわち、平均値MEDがDAV
A値以下の場合、数値n−6が新たにデータ番号nに再
設定される(ステップSa5)。
【0035】そして、データ番号n−6からデータ番号
n−11までの6個のデータの平均値MEDがステップ
Sa2において求められ、ステップSa3において平均値M
EDが上述したDAVA値と再度比較される。このよう
にして、ステップSa3における条件が満足されるまで上
述した処理が繰り返される。すなわち、これらの一連の
処理によって、FIN2として規定された平均化データ
x(16000)から近端方向に6個づつのデータの各平均値
MEDがDAVA値と比較される。
n−11までの6個のデータの平均値MEDがステップ
Sa2において求められ、ステップSa3において平均値M
EDが上述したDAVA値と再度比較される。このよう
にして、ステップSa3における条件が満足されるまで上
述した処理が繰り返される。すなわち、これらの一連の
処理によって、FIN2として規定された平均化データ
x(16000)から近端方向に6個づつのデータの各平均値
MEDがDAVA値と比較される。
【0036】一方、平均値MEDがDAVA値よりも大
きくなると、ステップSa4においてカウント値CT2に
1が加算され、さらにステップSa6においてカウント値
CT2が5になったか否かが判断される。ここで、カウ
ント値CT2が5以下の場合、ステップSa5の処理が再
度行われて上述した処理が繰り返される。すなわち、ス
テップSa6までの処理を繰り返すことにより、5回連続
して平均値MEDがDAVA値よりも大きくなるか否か
が判定される。そして、この条件が満足された場合、ス
テップSa7において、仮エンドNDを示すデータ番号が
数値nに30を加えた値、すなわち平均値MEDがDA
VA値よりも大きくなる連続した5つの範囲に含まれる
データのうち、最も遠端側(最もデータ番号の大きなデ
ータ)のデータが仮エンドNDと規定される。
きくなると、ステップSa4においてカウント値CT2に
1が加算され、さらにステップSa6においてカウント値
CT2が5になったか否かが判断される。ここで、カウ
ント値CT2が5以下の場合、ステップSa5の処理が再
度行われて上述した処理が繰り返される。すなわち、ス
テップSa6までの処理を繰り返すことにより、5回連続
して平均値MEDがDAVA値よりも大きくなるか否か
が判定される。そして、この条件が満足された場合、ス
テップSa7において、仮エンドNDを示すデータ番号が
数値nに30を加えた値、すなわち平均値MEDがDA
VA値よりも大きくなる連続した5つの範囲に含まれる
データのうち、最も遠端側(最もデータ番号の大きなデ
ータ)のデータが仮エンドNDと規定される。
【0037】次に、CPU18は、ステップS1で分割
された各領域について、次の式に基づいてノイズ量Zを
計算する(ステップS4)。 Zm=Σ|x(i+2)+x(i)−2x(i+1)|/(Nm−2) (2) ただし、数値Nmは各領域を構成するデータの数であ
る。例えば、図4において、近似直線1に該当する領域
(Nm=N1)については、平均化データx(1)から平均
化データx(1812)までの1812個のデータによって構
成されているので、変数iは1から1810までの値を
とり、数値N1=1812である。これらの数値に基づい
て領域1のノイズ量Z1が算出される。
された各領域について、次の式に基づいてノイズ量Zを
計算する(ステップS4)。 Zm=Σ|x(i+2)+x(i)−2x(i+1)|/(Nm−2) (2) ただし、数値Nmは各領域を構成するデータの数であ
る。例えば、図4において、近似直線1に該当する領域
(Nm=N1)については、平均化データx(1)から平均
化データx(1812)までの1812個のデータによって構
成されているので、変数iは1から1810までの値を
とり、数値N1=1812である。これらの数値に基づい
て領域1のノイズ量Z1が算出される。
【0038】そして、CPU18は、ステップS2にお
いて算出された近似直線と該近似直線に該当する領域に
含まれるデータの平均値との絶対偏差の平均値DLVを
求め、この偏差DLVを多くの応答波形に基づいて経験
的に求められた値ADLV(=2−1.25・DLV)
を近似直線に定数として加算することにより、仮フレネ
ル反射の位置検出用閾値を求める。例えば、領域1につ
いては、近似直線y1(=a1・x(i)+b1)に対して該
領域1に含まれる平均化データx(1)〜x(1812)の平均
値を求め、この平均値と近似直線y1との偏差DLV1を
算出する。そして、この偏差DLV1から求められる値
ADLV1を近似直線y1に加算することにより以下に示
す直線y1aが得られる。 y1a=a1・x(i)+b1+ADLV1 (3) そして、この直線y1aを仮フレネル反射点の位置検出用
閾値とする。
いて算出された近似直線と該近似直線に該当する領域に
含まれるデータの平均値との絶対偏差の平均値DLVを
求め、この偏差DLVを多くの応答波形に基づいて経験
的に求められた値ADLV(=2−1.25・DLV)
を近似直線に定数として加算することにより、仮フレネ
ル反射の位置検出用閾値を求める。例えば、領域1につ
いては、近似直線y1(=a1・x(i)+b1)に対して該
領域1に含まれる平均化データx(1)〜x(1812)の平均
値を求め、この平均値と近似直線y1との偏差DLV1を
算出する。そして、この偏差DLV1から求められる値
ADLV1を近似直線y1に加算することにより以下に示
す直線y1aが得られる。 y1a=a1・x(i)+b1+ADLV1 (3) そして、この直線y1aを仮フレネル反射点の位置検出用
閾値とする。
【0039】さらに、図6に示すように、応答波形がこ
の直線y1aと交差する交点をフレネル反射F(0)、F
(1)、……の仮立ち上がり点Pksu(0)、Pksu
(1)、……と仮立ち下がり点Pksd(0)、Pksd
(1)、……を求め、この各ポイントに該当するデータ
のデータ番号をRAM20に記憶する(ステップS
5)。
の直線y1aと交差する交点をフレネル反射F(0)、F
(1)、……の仮立ち上がり点Pksu(0)、Pksu
(1)、……と仮立ち下がり点Pksd(0)、Pksd
(1)、……を求め、この各ポイントに該当するデータ
のデータ番号をRAM20に記憶する(ステップS
5)。
【0040】次に、CPU18は、ステップS6におい
て、図6に示した各フレネル反射の立ち上がり点Pksu1
(i)および立ち下がり点Pksd1(i)を算出する。以
下に、例として、フレネル反射F(1)を例にとって、
該フレネル反射F(1)の立ち上がり点Pksu1(1)お
よび立ち下がり点Pksd1(1)の算出方法について説明
する。
て、図6に示した各フレネル反射の立ち上がり点Pksu1
(i)および立ち下がり点Pksd1(i)を算出する。以
下に、例として、フレネル反射F(1)を例にとって、
該フレネル反射F(1)の立ち上がり点Pksu1(1)お
よび立ち下がり点Pksd1(1)の算出方法について説明
する。
【0041】まず、図7に示すように、仮立ち上がり点
Pksu(1)から近端側(左側)へ連続60個のデータ
に基づく近似直線を求め、この近似直線の傾きを示す係
数が正の値の場合、60個のデータを左側へ数データづ
つ順次ずらしながら近似直線を順次計算し、係数の符号
を検出する。CPU18は、この処理を係数が負符号と
なるまで順次繰り返す。そして、この係数が負符号とな
ったとき、このときの近似直線と応答波形との交点を立
ち上がり点Pksu1(1)と規定すると共に、立ち上がり
点Pksu1(1)から左側へ10個〜70個のデータに基
づいて近似直線y20(=a20・x+b20)を求める。
Pksu(1)から近端側(左側)へ連続60個のデータ
に基づく近似直線を求め、この近似直線の傾きを示す係
数が正の値の場合、60個のデータを左側へ数データづ
つ順次ずらしながら近似直線を順次計算し、係数の符号
を検出する。CPU18は、この処理を係数が負符号と
なるまで順次繰り返す。そして、この係数が負符号とな
ったとき、このときの近似直線と応答波形との交点を立
ち上がり点Pksu1(1)と規定すると共に、立ち上がり
点Pksu1(1)から左側へ10個〜70個のデータに基
づいて近似直線y20(=a20・x+b20)を求める。
【0042】次に、立ち下がり点Pksd1(1)の検出方
法について説明する。図8に示すように、立ち下がり点
Pksd1(1)から右側(遠端側)に60個のデータに基
づく近似直線を求め、この近似直線の係数を上記近似直
線y20の係数a20と比較する。ここで、この近似直線の
係数の絶対値が係数a20の絶対値の3倍よりも大きな値
の場合、60個のデータを右側へ数データづつ順次ずら
しながら近似直線を順次計算する。
法について説明する。図8に示すように、立ち下がり点
Pksd1(1)から右側(遠端側)に60個のデータに基
づく近似直線を求め、この近似直線の係数を上記近似直
線y20の係数a20と比較する。ここで、この近似直線の
係数の絶対値が係数a20の絶対値の3倍よりも大きな値
の場合、60個のデータを右側へ数データづつ順次ずら
しながら近似直線を順次計算する。
【0043】そして、CPU18は、この処理を近似直
線の係数の絶対値が係数a20の絶対値の3倍以下になる
まで繰り返す。そして、この係数絶対値が係数a20の絶
対値の3倍以下になったとき、このときの近似直線と応
答波形との交点を立ち下がり点Pksd1(1)と規定する
と共に、立ち下がり点Pksd1(1)から右側へ10個〜
70個のデータに基づいて近似直線y30(=a30・x+
b30)を求める。
線の係数の絶対値が係数a20の絶対値の3倍以下になる
まで繰り返す。そして、この係数絶対値が係数a20の絶
対値の3倍以下になったとき、このときの近似直線と応
答波形との交点を立ち下がり点Pksd1(1)と規定する
と共に、立ち下がり点Pksd1(1)から右側へ10個〜
70個のデータに基づいて近似直線y30(=a30・x+
b30)を求める。
【0044】次に、CPU18は、立ち上がり点Pksu1
(1)と立ち下がり点Pksd1(1)との間において、最
大値を与えるデータが存在するか否かを検出する。ここ
で、図9に示すように、上述した近似直線y20=a20・
x+b20、y30=a30・x+b30とデータ番号PKMの最
大値データとの差を各々値Hu、Hdとする。また、ス
テップS4において算出したノイズ量に基づいてノイズ
量の標準的な幅を値Hとする。そして、次の条件式によ
ってステップS5においてRAM20に記憶したデータ
番号が、実際のフレネル反射点すなわち実フレネル反射
点を示しているか否かを判定する(ステップS7)。 Hu>H かつ Hd>H (4) そして、CPU18は、この条件式を満足しない仮フレ
ネル反射点をノイズと判定し、この条件式を満たすもの
のみを実フレネル反射点と判断する。
(1)と立ち下がり点Pksd1(1)との間において、最
大値を与えるデータが存在するか否かを検出する。ここ
で、図9に示すように、上述した近似直線y20=a20・
x+b20、y30=a30・x+b30とデータ番号PKMの最
大値データとの差を各々値Hu、Hdとする。また、ス
テップS4において算出したノイズ量に基づいてノイズ
量の標準的な幅を値Hとする。そして、次の条件式によ
ってステップS5においてRAM20に記憶したデータ
番号が、実際のフレネル反射点すなわち実フレネル反射
点を示しているか否かを判定する(ステップS7)。 Hu>H かつ Hd>H (4) そして、CPU18は、この条件式を満足しない仮フレ
ネル反射点をノイズと判定し、この条件式を満たすもの
のみを実フレネル反射点と判断する。
【0045】次に、CPU18は、ステップS8におい
て、光線路12内の接続コネクタによる接続損失を算出
する。例えば、図9に示したフレネル反射F(1)に該
当する接続コネクタについて、この接続コネクタによる
接続損失Dは、上述した最大値データのデータ番号PKM
の位置における近似直線y20の値と近似直線y30の値と
の差として求められる。
て、光線路12内の接続コネクタによる接続損失を算出
する。例えば、図9に示したフレネル反射F(1)に該
当する接続コネクタについて、この接続コネクタによる
接続損失Dは、上述した最大値データのデータ番号PKM
の位置における近似直線y20の値と近似直線y30の値と
の差として求められる。
【0046】次に、CPU18は、ステップS7におい
て検出した実フレネル反射が多重反射か否かを検出す
る。図10に示すように、フレネル反射が多重している
場合、1つの実フレネル反射に対して頂点が複数存在す
ることになる。ここでは、図示するように、任意の実フ
レネル反射F(i)について、立ち上がり点Pksu1
(i)から立ち下がりPksd1(i)までの範囲におい
て、最大値データから4dB下がった検出直線1(水平
直線)および8dB下がった検出直線2によって多重反
射を検出する。検出直線と応答波形は波形曲線とが2点
以上において交差わる場合は多重反射と判定し、各々の
頂点の最大値を与えるデータのデータ番号(位置)を実
フレネル反射位置として検出する(ステップS9)。
て検出した実フレネル反射が多重反射か否かを検出す
る。図10に示すように、フレネル反射が多重している
場合、1つの実フレネル反射に対して頂点が複数存在す
ることになる。ここでは、図示するように、任意の実フ
レネル反射F(i)について、立ち上がり点Pksu1
(i)から立ち下がりPksd1(i)までの範囲におい
て、最大値データから4dB下がった検出直線1(水平
直線)および8dB下がった検出直線2によって多重反
射を検出する。検出直線と応答波形は波形曲線とが2点
以上において交差わる場合は多重反射と判定し、各々の
頂点の最大値を与えるデータのデータ番号(位置)を実
フレネル反射位置として検出する(ステップS9)。
【0047】さらに、ステップ9では、実エンドすなわ
ちステップS3において検出された仮エンドに対して補
正を加え、正確な終端位置を実エンドとして検出する。
すなわち、最後のフレネル反射の立ち下がり点Pksdmと
仮エンドNDとを以下の条件式によって評価する。 ND−Pksdm≦10 (5) 10<ND−Pksdm≦300 (6) ND−Pksdm>300 (7) この結果、式(5)を満足する場合は実エンドは立ち上
がり点Pksum、式(6)を満足する場合には以下に説明
する処理によって再度検出し、式(7)を満足する場合
は実エンドは仮エンドNDとする。なお、式(5)を満
足する場合において、このフレネル反射が多重反射であ
るときには、実エンドは、立ち上がり点Pksumから多重
した2つのフレネル反射位置の差を差し引いた点とす
る。
ちステップS3において検出された仮エンドに対して補
正を加え、正確な終端位置を実エンドとして検出する。
すなわち、最後のフレネル反射の立ち下がり点Pksdmと
仮エンドNDとを以下の条件式によって評価する。 ND−Pksdm≦10 (5) 10<ND−Pksdm≦300 (6) ND−Pksdm>300 (7) この結果、式(5)を満足する場合は実エンドは立ち上
がり点Pksum、式(6)を満足する場合には以下に説明
する処理によって再度検出し、式(7)を満足する場合
は実エンドは仮エンドNDとする。なお、式(5)を満
足する場合において、このフレネル反射が多重反射であ
るときには、実エンドは、立ち上がり点Pksumから多重
した2つのフレネル反射位置の差を差し引いた点とす
る。
【0048】ここで、式(6)を満足する場合には、図
11のように、立ち下がり点Pksdmと仮エンドNDの間
に近似直線yを求め、この近似直線の係数am+1と立ち
下がり点Pksdmと対をなす立ち上がり点Pksumの左側の
近似直線の傾きamとを比較する。そして、以下の条件
式によって実エンドを判定する。 |am+1|≧5|am| :実エンド=Pksum (8) |am+1|<5|am| :実エンド=ND (9) すなわち、式(8)を満足する場合には実エンドは立ち
上がり点Pksumであり、式(9)を満足する場合には実
エンドは仮エンドNDであると判断する。
11のように、立ち下がり点Pksdmと仮エンドNDの間
に近似直線yを求め、この近似直線の係数am+1と立ち
下がり点Pksdmと対をなす立ち上がり点Pksumの左側の
近似直線の傾きamとを比較する。そして、以下の条件
式によって実エンドを判定する。 |am+1|≧5|am| :実エンド=Pksum (8) |am+1|<5|am| :実エンド=ND (9) すなわち、式(8)を満足する場合には実エンドは立ち
上がり点Pksumであり、式(9)を満足する場合には実
エンドは仮エンドNDであると判断する。
【0049】最後に、ステップS11において、上述した
処理によって求められた各実フレネル反射位置、実エン
ド、接続損失等のデータがRAM20に記憶される。そ
して、このようにして自動的に算出された各データは、
操作パネル17の操作によって表示部16に表示される
と共に、必要に応じてフロッピーディスク装置21によ
って所定の記録フォーマットでフロッピーディスクに記
憶される。
処理によって求められた各実フレネル反射位置、実エン
ド、接続損失等のデータがRAM20に記憶される。そ
して、このようにして自動的に算出された各データは、
操作パネル17の操作によって表示部16に表示される
と共に、必要に応じてフロッピーディスク装置21によ
って所定の記録フォーマットでフロッピーディスクに記
憶される。
【0050】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光線路試
験装置およびその方法によれば、光線路の近端から終端
までの間に発生するフレネル反射点の位置及び接続損失
を自動的に高精度で測定することができる。したがっ
て、従来のように、フレネル反射点の位置及び接続損失
を計測する際に、同一操作の繰り返しを行うことなく、
効率良くこれら計測作業を行うことが可能である。ま
た、この光線路試験装置においては、該装置によって同
一な計測動作が行なわれるので、人が計測を行う場合に
比較し、客観性のより高いフレネル反射点の位置及び接
続損失の計測を行うことが可能である。
験装置およびその方法によれば、光線路の近端から終端
までの間に発生するフレネル反射点の位置及び接続損失
を自動的に高精度で測定することができる。したがっ
て、従来のように、フレネル反射点の位置及び接続損失
を計測する際に、同一操作の繰り返しを行うことなく、
効率良くこれら計測作業を行うことが可能である。ま
た、この光線路試験装置においては、該装置によって同
一な計測動作が行なわれるので、人が計測を行う場合に
比較し、客観性のより高いフレネル反射点の位置及び接
続損失の計測を行うことが可能である。
【図1】本発明の光線路試験装置の構成例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図2】本発明において表示部に表示される応答波形の
一例を示す図である。
一例を示す図である。
【図3】本発明においてフレンネル反射の位置および接
続損失の検出方法を示すフローチャートである。
続損失の検出方法を示すフローチャートである。
【図4】本発明において領域分割を説明する図である。
【図5】本発明において仮エンドの算出方法を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図6】本発明のフレンネル反射の位置検出処理におい
て、仮フレネル反射点の検出を説明する図である。
て、仮フレネル反射点の検出を説明する図である。
【図7】本発明のフレンネル反射の位置検出処理におい
て、フレネル反射の立ち上がり点の検出を説明する図で
ある。
て、フレネル反射の立ち上がり点の検出を説明する図で
ある。
【図8】本発明のフレンネル反射の位置検出処理におい
て、フレネル反射の立ち下がり点の検出を説明する図で
ある。
て、フレネル反射の立ち下がり点の検出を説明する図で
ある。
【図9】本発明において接続損失の算出を説明する図で
ある。
ある。
【図10】本発明のフレンネル反射の位置検出処理にお
いて、多重フレネル反射の検出を説明する図である。
いて、多重フレネル反射の検出を説明する図である。
【図11】本発明のフレンネル反射の位置検出処理にお
いて、実エンドの判定を説明する図である。
いて、実エンドの判定を説明する図である。
【図12】従来の光線路試験装置の一例の概要を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図13】従来の光線路試験装置において、試験対象物
である光線路から得られる応答光の一例を示す第1の図
である。
である光線路から得られる応答光の一例を示す第1の図
である。
【図14】図13における要部の拡大図である。
10 発光部 11 方向性結合器 12 光線路 13 受光部 14 A/D変換部 15 波形処理部 16 表示部 17 操作パネル 18 CPU 19 ROM 20 RAM 21 フロッピーディスク装置
Claims (4)
- 【請求項1】 光パルスを光線路に照射し、該光線路の
近端から終端までの各部において前記光パルスが反射さ
れて得られる反射光に基づいて、該光線路の特性を計測
する光線路試験装置であって、 前記光パルスを発生する発光手段と、 所定期間に亘って受光した前記反射光を電気信号に変換
して順次出力する受光手段と、該電気信号に平均化処理を施して平均化データを生成す
る 波形処理手段と、前記平均化データに基づいて反射光の波形を表示する 表
示手段と、前記平均化データを1つまたは複数のデータ群に分割
し、 前記各データ群に含まれる平均化データに基づいて、該
各データ群に対応する前記反射光の波形部分の近似直線
をそれぞれ算出し、 所定数連続する平均化データを所定の閾値と比較し、該
閾値よりも大きいと判断される最も終端側の平均化デー
タに基づいて光線路の終端を検出すると共に、 前記近似直線に所定の定数を加えた直線と各平均化デー
タとを比較し、該直線よりも大きな平均化データに基づ
いてフレネル反射位置を検出し、 該フレネル反射位置の前後の波形部分の近似直線の差に
基づいて伝搬損失を計測するデータ処理手段と、 を具備する ことを特徴とする光線路試験装置。 - 【請求項2】 前記データ処理手段は、検出された前記
フレネル反射の位置における複数のフレネル反射の存在
を所定の判定基準値と平均化データとを比較して判定す
る、ことを特徴とする請求項1記載の光線路試験装置。 - 【請求項3】 光パルスを光線路に照射し、該光線路の
近端から終端までの各部において前記光パルスが反射さ
れて得られる反射光に基づいて、該光線路の特性を計測
する光線路試験方法であって、 前記反射光を電気信号に変換すると共に、該電気信号を
平均化して平均化データに順次変換するステップと、該平均化データ1つまたは複数のデータ群に分割する ス
テップと、前記各データ群に含まれる平均化データに基づいて、該
各データ群に対応する前記反射光の波形部分の近似直線
をそれぞれ算出する ステップと、所定数連続する平均化データを所定の閾値と比較し、該
閾値よりも大きいと判断される最も終端側の平均化デー
タに基づいて光線路の終端を検出する ステップと、前記近似直線に所定の定数を加えた直線と各平均化デー
タとを比較し、該直線よりも大きな平均化データに基づ
いてフレネル反射位置を検出する ステップと、 該フレネル反射位置の前後の波形部分の近似直線の差に
基づいて伝搬損失を計測するステップと、 からなることを特徴とする光線路試験方法。 - 【請求項4】 検出された前記フレネル反射の位置にお
いて、複数のフレネル反射が存在するか否かを所定の判
定基準値と平均化データとを比較して判定するステップ
を有する、 ことを特徴とする請求項3記載の光線路試験方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10666395A JP2914217B2 (ja) | 1995-04-28 | 1995-04-28 | 光線路試験装置およびその方法 |
US08/635,490 US5668627A (en) | 1995-04-28 | 1996-04-22 | Optical line testing device and method for automatically and efficiently measuring properties of the optical line |
DE19616594A DE19616594A1 (de) | 1995-04-28 | 1996-04-25 | Vorrichtung und Verfahren zum Testen einer optischen Strecke |
FR9605246A FR2733593B1 (fr) | 1995-04-28 | 1996-04-25 | Dispositif et procede de test de ligne optique |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10666395A JP2914217B2 (ja) | 1995-04-28 | 1995-04-28 | 光線路試験装置およびその方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08307370A JPH08307370A (ja) | 1996-11-22 |
JP2914217B2 true JP2914217B2 (ja) | 1999-06-28 |
Family
ID=14439329
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10666395A Expired - Fee Related JP2914217B2 (ja) | 1995-04-28 | 1995-04-28 | 光線路試験装置およびその方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5668627A (ja) |
JP (1) | JP2914217B2 (ja) |
DE (1) | DE19616594A1 (ja) |
FR (1) | FR2733593B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103808492A (zh) * | 2014-02-13 | 2014-05-21 | 上海温光自动化技术有限公司 | 一种otdr采集数据的曲线显示方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998004895A1 (fr) * | 1996-07-25 | 1998-02-05 | Anritsu Corporation | Appareil de controle de fibres optiques faisant appel a un reflectometre optique temporel et procede de controle |
JP3664914B2 (ja) * | 1999-07-12 | 2005-06-29 | アンリツ株式会社 | 光パルス試験システム |
KR100585317B1 (ko) * | 1999-12-15 | 2006-05-30 | 주식회사 케이티 | 광가입자 전송장치의 회선시험 장치 및 방법 |
US6943872B2 (en) * | 2002-03-25 | 2005-09-13 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method for selection of optical fiber and system for inspection of optical fiber |
JP2008003068A (ja) * | 2006-05-25 | 2008-01-10 | Fujikura Ltd | 光伝送線路監視装置、光伝送線路監視方法、及びコンピュータプログラム |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5961739A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-09 | Anritsu Corp | 光ケ−ブルの接続損失測定装置 |
JPH0616000B2 (ja) * | 1985-07-19 | 1994-03-02 | 日本電信電話株式会社 | 光フアイバの試験装置 |
JPH01141331A (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-02 | Anritsu Corp | 光パルス試験器 |
US5113277A (en) * | 1989-06-22 | 1992-05-12 | Hitachi Cable Limited | Fiber optic distributed temperature sensor system |
US5069544A (en) * | 1990-04-12 | 1991-12-03 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Adaptive pulse width optical fault finder |
JP2909159B2 (ja) * | 1990-07-10 | 1999-06-23 | アンリツ株式会社 | 平滑化処理方法および平滑化処理による雑音除去装置およびそれを用いる光パルス試験装置 |
US5450191A (en) * | 1993-05-06 | 1995-09-12 | Corning Incorporated | Method for testing optical waveguide fibers to detect reflection type discontinuities |
JPH07113723A (ja) * | 1993-10-13 | 1995-05-02 | Ando Electric Co Ltd | Otdrの光マスキング装置 |
-
1995
- 1995-04-28 JP JP10666395A patent/JP2914217B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-04-22 US US08/635,490 patent/US5668627A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-04-25 DE DE19616594A patent/DE19616594A1/de not_active Withdrawn
- 1996-04-25 FR FR9605246A patent/FR2733593B1/fr not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103808492A (zh) * | 2014-02-13 | 2014-05-21 | 上海温光自动化技术有限公司 | 一种otdr采集数据的曲线显示方法 |
CN103808492B (zh) * | 2014-02-13 | 2016-01-27 | 大豪信息技术(威海)有限公司 | 一种otdr采集数据的曲线显示方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5668627A (en) | 1997-09-16 |
FR2733593A1 (fr) | 1996-10-31 |
JPH08307370A (ja) | 1996-11-22 |
DE19616594A1 (de) | 1996-10-31 |
FR2733593B1 (fr) | 1999-04-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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